自动折射视力测量仪

在PA系类设备的基础上，加装晶圆专用的装置，可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。 更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

完美融和创新设计及先进技术，Prism Pro - IR是艺术级红外折射率测量仪，用于测量中波红外成像组件/系统及光材料均匀性的理想仪器。规格参数*精确度 (已校准)+- 0.00005*重复性+- 0.00002波长范围350nm- 14um温度范围（可选）77-373K波长精度+- 0.05%波长分辨率1nm仪器测试孔径25 mm 直径旋转平台分辨率.008 角秒双RTD(电阻热装置)+-0.3 摄氏度探测器MCTDSP锁相放大器SRS 830源类型：150 W石英卤素灯(0.25 - 3.5 um)、陶瓷发光体 (2.0 - 30 um)单色仪：自动三光栅塔轮、自动11位二级截止滤光片转轮、变速光学斩波器 (10 – 350Hz)、(6) 套用户可切换狭缝尺寸： 6ft x 4ft x 3ft重量： 1100lbs (包括桌子)分析软件/ M3自动化、折射率索引包&bull 准确性和重复性通过60度CaF2棱镜@3.39um验证&bull dn/dT：折射率系数随温度变化&bull 色散：折射率系数随波长变化色散方程拟合: Sellmeier、Cauchy等样品制备色散曲线dn/dT曲线

主要简介： 汽车车窗玻璃幅面很大，一般桌面式测量双折射/残余应力测量仪无法测量，扫描测量由非常慢，无法满足实际使用，因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA双折射测量仪，会根据客户样品定制大型圆偏振光光源系统，实现大幅面样品的高速测量。设备在日本的汽车厂商得到广泛应用。主要特点： 解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。测量速度快，可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。采用523nm,543nm,575nm三种波长，相位差测量范围高达3000nm。采用广角偏振面阵传感器，一次得到测量结果。专用操作软件，功能强大，操作简单，便于做分析比较和品质判断。 主要参数：测量案例：

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数： 项次项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm 3双折射测量范围0-130nm4 测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度 1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准） 7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8 选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

PA-300-L主要简介 PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板A4纸尺寸的样品技术参数： 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

KAMAKIRI-WM Photonic Lattice online双折射测量仪产品简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域 Photonic Lattice online双折射测量仪主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量。 LIVE实时输出双折射的信息。 OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 Photonic Lattice online双折射测量仪应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 Photonic Lattice online双折射测量仪技术参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸 350mm7宽度方向测量点2560

主要简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量LIVE实时输出双折射的信息OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 技术参数: 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

主要简介：Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。 主要特点：可用来评估高相位差产品，PET薄膜和树脂成品三波长测定双折射范围可达3000nm可选配高相位差配件，满足10000nm的超过相位差测定需求应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃主要参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长523nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3000nm4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm6测量尺寸97×77mm ～ 2900×2310mm7定制选项光学配件，可测量超过10000nm的高相位差

本系统根据最小保护角度法(散荷法)，在采用棱镜形状的样本中使用任波长为(1~14微米)的中色光，通过测量透过入射光的角度来测量样品的透射率的的装置。能够测定在以往的测定法的折射率精度为0.0001。用于红外窗口及红外镜头的Ge, Si, ZnSe, KRS-5。最适合评估玻璃和红外光学薄膜。特点：可以在波长范围1~14um中测量折射率，可以达到(0.0001)的高精度；配备温度调控功能，可以测量不同温度下的折射率的差异。

本系统根据最小保护角度法(散荷法)，在采用棱镜形状的样本中使用任波长为(1~14微米)的中色光，通过测量透过入射光的角度来测量样品的透射率的的装置。能够测定在以往的测定法的折射率精度为0.0001。用于红外窗口及红外镜头的Ge, Si, ZnSe, KRS-5。最适合评估玻璃和红外光学薄膜。特点：可以在波长范围1~14um中测量折射率，可以达到(0.0001)的高精度；配备温度调控功能，可以测量不同温度下的折射率的差异。

产品详细说明 PR-32&alpha PALETTE系列数显折射计新型 Palette&alpha (alpha) 系列实现精度改良为 Brix ± 0.1%! Palette&alpha (alpha) 系列既可测量果汁&bull 食品&bull 饮料等Brix，又可测量化工液体浓度如切削油&bull 清洗液&bull 不冻液等。Palette&alpha (alpha) 系列可设置客户专用刻度，客户自己预设系数 [浓度=Brix x 系数 ]就可直读此样品的浓度。另外，Palette&alpha (alpha) 系列采用新功能 "External-Light-Interference" (ELI) *，可防止强烈外光下的误测量，可在外边· 窗边时的测量也得到稳定测量结果。 型号PR-32&alpha 货号3405测量范围糖度(Brix) 0.0 至 32.0%最小显示单位糖度(Brix) 0.1%测量准确度糖度(Brix) ± 0.1%测量温度5 至 40° C(自动温度补偿)环境温度5 至 40° C电源006P 蓄电池 ( 9V )国际保护等级IP64 无尘且对泼溅的水具防护作用尺寸重量17× 9× 4公分, 300公克(不含零件的重量)选件&bull EXTRACTOR : RE-29401&bull 10% 蔗糖溶液 (± 0.03%) : RE-110010&bull 20% 蔗糖溶液 (± 0.03%) : RE-110020&bull 30% 蔗糖溶液 (± 0.03%) : RE-110030ATAGO爱拓 中文官网：ATAGO 日本总部官网： 关于爱拓(日本ATAGO)成立于1940年的日本ATAGO（爱拓），半个多世纪以来不断地致力于研究和开发多样化的，应用广泛的光电测试仪器，其主要产品为折射仪，旋光仪及基于折射仪测定各种物质浓度的衍生产品浓度计。ATAGO（爱拓）产品的应用涵盖食品饮料，果蔬加工，糖业，日用化工，生物制药，临床检验，石油化学到金属制造等许多领域，在世界处于领先地位并占据最大市场份额，ATAGO（爱拓）产品的设计与制造过程遵循ISO9000质量体系认证，所有ATAGO（爱拓）产品在离开厂房时均经过严格彻底的检验，产品品质卓越，耐用性超群，长久以来，凭借优秀的品牌知名度，ATAGO（爱拓）产品不断获得来自全世界一百多个国家客户的完全信赖.关于爱拓中国(ATAGO CHINA Ltd.)2011年ATAGO（爱拓）中国分公司的成立和正式运行（全称广州市爱宕科学仪器有限公司），将使广大国内用户能够快速地购买产品，获得使用指导和维修服务。 #ATAGO （爱拓）在线折光仪# ----PRM-100a"荣获&ldquo 2012年度食品工业技术创新奖仪器厂商&rdquo 称号。采用超高精度可同时显示Brix值及折射率（nD),420mA信号输出及RS-232C接口可方便的进行自动化控制，多规格安装接口能匹配各种安装管道，实时监控当前产品品质,确保工业产品品质安全、降低风险和质量控制成本

红外折射率测量仪 完美融和创新设计及尖端技术，Prism Pro - IR是艺术级红外折射率测量仪，用于测量中波红外成像组件/系统及光材料均匀性的理想仪器。规格参数*精确度 (已校准)*重复性波长范围温度范围（可选）波长精度波长分辨率仪器测试孔径 旋转平台分辨率 双RTD(电阻热装置) 探测器DSP锁相放大器 +- 0.00005 +- 0.00002350nm- 14um77-373K+- 0.05%1nm25 mm 直径.008 角秒+-0.3 摄氏度MCT SRS 830 源类型：150 W石英卤素灯(0.25 - 3.5 um)、陶瓷发光体 (2.0 - 30 um) 单色仪：自动三光栅塔轮、自动11位二级截止滤光片转轮、变速光学斩波器 (10 – 350Hz)、(6) 套用户可切换狭缝 尺寸： 6ft x 4ft x 3ft重量： 1100lbs (包括桌子)分析软件/ M3自动化、折射率索引包准确性和重复性通过60度CaF2棱镜@3.39um验证dn/dT：折射率系数随温度变化色散：折射率系数随波长变化色散方程拟合: Sellmeier、Herzberger、Cauchy等 色散曲线 dndT温度变化曲线

Photonic Lattice 红外双折射（内应力）测量仪 WPA-200-NIR 主要特点： 红外波长的双折射/相位差/内应力面分布测量硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估小型、簡単操作、高速測量 WPA-200-NIR能高速的测量/分析波长为850nm的双折射分布安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场 WPA-200-NIR的功能1. 高速测量面的双折射/相位差分布 NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息 2. 测量数据的保存/读取 全部的测量结果都可以做保存/读取。易于跟过去的测量结果做比较等3. 丰富的图形创建功能 从测量后的面信息，可以自由制作线图形和直方图。 复数的测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出主要技术参数型号WPA-200-NIR测量范围0~3500nm重复精度1.0nm测量尺寸范围3×4mm~100×133mm像素数384*288 pixels测量波长810nm，850nm 870nm尺寸270x337x631mm自身重量13kg

150AT应力双折射测量系统所属类别： ? 光学/激光测量设备 ? 应力双折射测量仪所属品牌：美国Hinds Instruments公司 产品简介150AT全自动应力双折射测量系统 全自动应力双折射测量系统 150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量，也可用作诸如玻璃面板，透镜，晶体，单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况，便于操作和日常监测。 150AT 应力双折射系统可以根据客户需求选择设置，使得测量更有针对性（高精度/大范围相位延迟量），系统有着很高的测量速度的同时也具有极高的测量分辨能力（1 mm grid spacing ），150AT应力双折射系统也提供倾斜位移平台等设计来帮助客户完成一些非常规扫描/测量需求。 产品特点自动X/Y位移平台扫描二维/三维图形/参数表格显示样品应力分布测量结果台式整机设计组装灵活位移平台设计，满足个性化定制需求强大数据拟合分析功能和友好用户界面 参数高精度测量系统选项大范围相位延迟量测量选项相位延迟量范围:0.005 to 120+ nm0.005 to 300+ nm相位延迟量测量分辨率/ 重复精度1, 2, 3:0.001 nm / ± 0.008 nm0.01 nm / ± 0.015 nm角度测量分辨率 / 重复精度1:0.01o / ± 0.05°0.01o / ± 0.07°测量速率 / 时间4:up to 100 pps / sample size dependent尺寸:910 mm (H) x 415 mm (W) x 700 mm (D)光源波长5:Various (632.8 nm standard)测量光斑6:Between 1 mm and 3 mm native (can be as low as 50 μm)内置测量调制频率:PEMLabsTM Photoelastic Modulator 50 kHz or 50/60 kHz解调分析技术:Hinds Instruments SignalocTM Lock-in Amplifier or Wave Form Capture Card测量单位:nm (retardation), ° (angle)1 Typical performance at 5 nm retardation2 Up to 0.8 nm, 1% thereafter3 Up to 1.5 nm, 1% thereafter4 Maximum data collection speed. Sample XY scan time dependent on stage movement parameters.5 Custom wavelengths available6Spot sizes of less that 1 mm native require optional high resolution detector module 选项: * Additional Polarization Parameters * 超高速扫描选项 * 光谱扫描测量和RGB测量 * 客户定制内置波长选项（紫外/红外） * 手动/自动倾斜位移平台装置 * 定制样品平台加持谁记 * 定制化显示界面 (UI or DLL) * 应力计算评估软件 相关产品 光弹调制器

PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述： 日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

双折射应力测量仪PA-110-T大面积应力双折射应力测量仪概述：日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的最大面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量LIVE实时输出双折射的信息OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃技术参数: 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

NAR-1T LIQUID液体柴油折射率浓度阿贝折射仪【详细说明】NAR-1T LIQUID阿贝折光仪这是液体专用的阿贝式折射仪。型号 NAR-1T LIQUID 货号 1211测量范围:折射指数 (nD)1.3000 至 1.7000糖度(Brix):0.0 至 95.0% 最小显示单位 折射指数 (nD) 0.001糖度(Brix) 0.5%测量准确度 折射指数(nD) ± 0.0002糖度(Brix) ± 0.1% 测量温度范围 5 至 50° C数字式温度计 显示范围 0.0 至 50.0° C( 精度± 0.2° C最小显示0.1° C )电源 115V, 220V, 240V ( 请您选择电源 ) 50/60Hz光源 LED 电力损耗 5VA尺寸重量:13× 18× 23公分, 2.5千克 (折射仪) 10× 11× 7公分, 0.5千克 (温度计) 我公司主要专业生产固形物测量仪、折光率分析仪、糖度分析仪、盐度分析仪、蜂蜜水分计、阿贝折光仪、海水盐度测量仪、BRIX分析仪、麦芽浓度分析仪、乙醇浓度计、丙二醇测量仪、旋光仪、尿比重计、葡萄酒酸度检测仪、切削油测量仪、防冻液冰点测量、电池液测量、碱液浓度传感器、DMF浓度传感器、双氧水浓度传感器、牛奶浓度计、豆浆测量仪等产品。日本atago(爱拓)简称：爱拓

PA-300-XL SIC主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域: SIC 蓝宝石技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

ATAGO（爱拓）手持折射仪 MASTER-53α ATAGO（爱拓）刻度式手持折射计 MASTER-53α/53Pα测量范围 Brix 0.0 至 53.0%，具备防水及自动温度补偿功能。日本ATAGO爱拓公司主要生产：可溶性固形物测量仪、折光率分析仪、糖度分析仪、盐度分析仪、蜂蜜水分计、阿贝折光仪、海水盐度测量仪、白利度Brix分析仪、麦芽汁浓度分析仪、乙醇浓度计、丙二醇浓度计、旋光仪、尿比重折光仪、葡萄酒酸度检测仪、切削液浓度计、防冻液冰点仪、电池液测量仪、碱液浓度传感器、DMF浓度传感器、双氧水浓度计、牛奶测量仪、豆浆浓度计等产品。

辽宁辽阳营口鞍山阿贝折射仪全自动折光仪糖量度盐度计——崔经理 辽宁辰硕实业有限公司是一家从事理化仪器、实验室设备、试验仪器、环境监测仪器等仪器设备销售、维修及技术开发、技术咨询、技术服务为一体的综合性公司。致力于把国内外更好仪器设备推荐给客户，涉及仪器方面的咨询、售后、维修、改装等业务都可以通过我们来提供更好的解决方案。为用户提供的不仅仅是产品，而是我们多年积累的能力和信誉。辽宁辰硕实业有限公司本着“服务至上、信誉为重”的企业精神，为科研院所、质检实验室、大专院校、冶金、机械、食品、环保、能源等行业提供各种进口、国产的仪器设备，凭借过硬的技术、快捷的服务和经济的价格，真正帮助客户节约成本、提高技术、提升收益，受到广大用户的一致好评，赢得了良好的商业信誉。选择辰硕，选择放心仪器与服务。辰硕期待与您的合作！辽宁辰硕实业有限公司地址：辽宁省鞍山市铁西区九道街 崔经理 一、光谱分析1、721型可见分光光度计2、紫外可见分光光度计、紫外分光光度计3、原子吸收分光光度计、原子荧光光度计、火焰光度计4、红外光谱仪、红外分光光度计、近红外分光光度计5、原子吸收光谱仪6、荧光分光光度计、荧光光度计、原子荧光光谱仪、形态分析仪7、直读光谱仪、光电直读光谱仪，ICP-AES，拉曼光谱仪8、X荧光光谱仪、等离子光谱仪9、光谱仪配件：比色皿、吸收池、样品池、钨灯、氘灯、空心阴级灯二、试验机硬度计1、液压试验机、电子试验机、冲击试验机2、拉力试验机、拉伸试验机、压力试验机、拉力机、疲劳试验机3、弯曲弯折摇摆试验机、扭转试验机、拉弯试验机4、试验机配件、试验机夹具5、布氏硬度计、洛氏硬度计、维氏硬度计、布洛维氏硬度计标准试块6、里氏硬度计、肖氏硬度计7、韦氏硬度计 、巴氏硬度计、邵氏硬度计8、硬度计、显微硬度计、超声波硬度计9、制样设备：金相磨抛机、金相切割机、全自动镶嵌机、金相预磨机、金相抛光机三、无损检测1、超声波探伤仪2、便携式磁粉探伤仪、磁粉探伤机(卧式大型机)3、X射线探伤仪、涡流探伤仪4、探伤机试块、测厚/焊缝/标准/对比/TOFD试块、X射线胶片、着色渗透探伤剂5、探伤灯、黑光灯、荧光探伤灯、观片灯、黑白密度计、密度片6、超声波测厚仪探头、近场/远场/漏磁/涡流探头7、工业内窥镜8、超声波测厚仪9、涂层测厚仪、覆层测厚仪10、薄膜测厚仪、橡胶测厚仪11、表面粗糙度仪、粗糙度轮廓仪12、冷媒/卤素检漏仪四、实验室设备1、pH计、pH/离子计电极2、电导率仪、电导仪3、酸度计、离子计、钠度计4、滴定仪、电位滴定仪、水份滴定仪、水分滴定仪测定仪5、溶解氧测定仪/DO测定仪6、浊度仪、浓度计7、色度仪、比色计、酶标仪、洗板机8、多参数水质分析仪、在线多参数监测仪9、水质分析仪/检测仪/监测仪、库伦法水分测定仪、微量水分测定仪、PH/ORP测量仪、卡氏水分测定仪10、运动粘度测定仪、蛋白质测定仪、凯氏定氮仪11、水中油份测定仪、红外测油仪、露点仪12、水质BOD测定仪、COD测定仪13、氨氮总氮检测仪在线监测仪、在线总磷分析仪监测仪14、ORP测定仪、氧化还原测定仪15、碳氢氮元素分析仪、硫氮测定仪、定碳定硫仪、紫外荧光测硫仪、碳氢氧元素分析仪、发光定氮仪16、γ能谱仪、测氡仪、αβ测量仪17、氧弹量热仪、热量计、灰熔点测定仪、灰熔融性测定仪18、微波/固相萃取仪、COD萃取仪、COD消解器、石墨消解仪19、真空/电热/鼓风干燥箱、烘箱20、低温/生化/振荡培养箱、恒温恒湿箱21、老化实验箱、试验箱22、电炉、箱式电阻炉、马弗炉23、恒温水浴箱/锅/槽、低温/循环/恒温槽24、超低温冰箱、低温保存箱、冷藏箱25、生物安全柜、实验室通风柜、实验室通风橱26、超纯水机、纯水器、蒸馏水器27、蒸汽/真空/低温/高压灭菌器、灭菌锅、清洗消毒机、超声波清洗器28、移液枪、移液器29、超净工作台、净化工作台、洁净工作台30、标准筛、分样筛、试验筛31、离心机、振荡器、震荡器、摇床32、旋转粘度计、在线/数字/落球/毛细管/平氏粘度计33、真空泵、蒸发器、蒸发仪、玻璃烘干器34、漩涡混合器、混匀仪、磁力搅拌器、电动搅拌机、恒温加热板五、电子天平1、精密电子天平、赛多利斯电子天平、精密电子天平、电子天平、分析天平、比重天平2、电子秤、电子称、电子台秤、磅秤、料斗秤称重控制器显示仪3、电子汽车衡、电子地磅、称重传感器、砝码六、光学仪器 1、照度计、紫外辐照计、亮度计、光泽度计仪、白度计仪、雾度计2、测色仪、色度仪、色度计、色差计仪、色度仪、比色计3、阿贝折射仪、全自动折光仪、糖量计糖度折射测试仪、盐度计、酸度计4、旋光仪、显微熔点仪5、光源箱、对色灯箱、比色灯箱七、色谱分析1、气相色谱仪2、液相色谱仪、凝胶色谱仪3、离子色谱仪、便携式色谱仪4、液相/气相色谱质谱联用仪、等离子体质谱联用仪、生物/气体质谱联用仪、有机质/无机质谱联用仪、同位素质谱联用仪、核磁共振波谱仪5、色谱检测器：热导、火焰光度、电子捕获、氮磷、荧光6、气相/液相色谱仪耗材配件、色谱柱、填充柱、毛细柱、极性柱7、色谱进样:顶空进样器、顶空瓶、液体进样器、色谱进样针8、氮吹仪、吹氮仪、浓缩仪、氮气吹扫仪、氮气浓缩器9、氢气/氮气/空气/气体发生器、色谱工作站 八、显微镜1、光学显微镜、金相显微镜、偏光显微镜、正置显微镜、倒置显微镜、体视显微镜、工具测量显微镜2、材料显微镜、生物显微镜3、显微镜配件/组件九、测量仪器1、 桥式三坐标测量机、龙门式三坐标测量机、复合式三坐标测量机、关节臂式三坐标测量机、三坐标划线机、三坐标夹具2、齿轮测量中心、光学影像测量仪、测量投影仪、表面轮廓测量投影仪3、测长仪、测长机、圆度仪、圆柱度测量仪4、量规、测厚规、对表环规、螺纹塞规、螺纹环规、带表内外卡规5、百分表、内径/外径千分尺、游标卡尺、角度尺、宽座角尺6、立式光学计、光学比较仪、7、千分尺检定校准专用量块（20块）、游标卡尺检定校准专用量块(12块)、表面粗糙度比较样块、陶瓷量块、角度量块十、气体检测仪1、固定便携式可燃气体检测仪、可燃气体探测仪2、固定便携式CO一氧化碳检测仪、二氧化碳CO2检测仪、固定便携式煤气检测仪3、NO检测仪、固定便携式一氧化氮检测仪、有毒有害气体检测探测仪4、氧气检测仪、微量氧分析仪、测氧仪5、气体检测仪、在线气体监测仪6、复合气体检测仪、多气体检测仪器、四合一气体检测仪、7、H2氢气检测仪、氨气气体检测仪、硫化氢气体检测仪、苯检测仪 十一、环境检测1、声级计、噪音计、个人声暴露计、音频分析仪、噪声分析仪、测振仪振动计、振动测量信号分析仪2、风速计、风量仪3、大气采样器、烟尘采样器、总悬浮微粒采样器、综合智能大气采样器、防爆粉尘采样器、环境空气颗粒物采样器4、 大流量低浓度烟尘/烟气测试分析仪、自动烟尘烟气测试仪分析仪、智能双路烟气采样器、综合烟气分析仪5、手持式烟气分析仪、便携式烟气分析仪6、尘埃粒子计数器 7、皂膜流量计、孔口流量校准仪、皮托管、取样管十二、测绘仪器1、 全站仪2、 水准仪、电子水准仪、激光水准仪3、 红外测距仪、激光测距仪4、 经纬仪、电子经纬仪5、 垂准仪、激光垂准仪6、 水平仪、标线仪、投线仪、水平尺7、 求积仪、面积仪8、 地质罗盘仪、森林罗盘仪、指北针、激光指向仪、激光电子测高测角仪十三、电学仪器1、 绝缘耐压测试仪、数字万用表、钳形电流表2、 绝缘电阻测试仪、数字兆欧表3、 接地电阻测试仪、接地电阻表十四、化玻仪器1、刻度移液管、单标移液管、移液管架2、多刻度容量瓶、梯形容量瓶、刻度量筒、烧杯3、滴定管、微量滴定管、全自动滴定管、全自动碱式滴定管4、三角锥形瓶、蓝盖试剂瓶、棕色试剂瓶、5、微量毛细管、血球容积计毛细管、熔点毛细管、微量采血毛细管、毛细管移液器、巴斯吸管6、刻度离心管、刻度试管十五、工控仪表1、 压力变送器、温度变送器、差压变送器、液位变送器、压力传感器、温度传感器、位移传感器2、 二次仪表:温度巡检仪、智能单通道/多通道数字显示仪表、流量积算仪、无纸记录仪、温度控制器/调节器3、 浮子浮球液位计、超声波液位计、磁翻板液位计、雷达物位计4、 电磁流量计、涡街流量计、涡轮流量计、孔板流量计、质量流量计、超声波流量、气体流量计、液体流量计、靶式流量计、塑料玻璃转子流量计、明渠流量计、金属管浮子流量计、椭圆齿轮流量计、旋进旋涡流量计5、双金属温度计、温度补偿导线、数显温度控制器6、红外测温仪崔经理

阿贝折射仪检定装置1、阿贝折射仪检定装置的折射率测量范围为1.47 ～1.68，分别由QK1 、K9 、F2 、ZF2 阿贝折射仪标准块标称名义值约为 1.47 、1.51 、 1.61 、1.68 。 2、经计量部门采用 V 棱镜折射法校准，阿折射仪标准块的折射率（nD）测量扩展不确定度优于 5x10 - 5 ( k=3) ，平均色散（nF -nC）测量扩展不确定度优于7x10 -5 ( k=3) 。 3、三种溶液。 4、钠光源灯（选配） 符合JJG625 -2001 阿贝折射仪国家计量检定规程的要求，可以作为计量技术机构对阿贝折射仪校准用的计量标准器。上海标卓科学仪器有限公司是仪器仪表行业的新锐企业，检测仪器设备的生产、销售、维修、计量管理于一体的综合型公司。公司生产整套完整的精密测量仪器及相关解决方案，并代理、经销国内外几百家的检测仪器和机械设备。主要涉及：机械设备检测仪器、长度类、力学类、电学类、试验类、光学类、精密量仪类、无损测试、理化分析、教学仪器、专用量仪及环境试验设备仪器等等系列，销售产品达成千上万多种，为企业质量管理及企业认证提供完善硬件设备的服务。

主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现全长全款的双折射测量。 LIVE实时输出双折射的信息。 OK/NG 可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。 可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 应用领域： 相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃技术参数： 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长 543nm（支持客制化）3双折射测量范围0-260nm4对应传送速度约30m/min(支持客制化)5测量重复精度1nm6视野尺寸全宽全长7选配镜头视野可扩展8选配功能可定制膜宽超过5m的系统

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片、手机镜头智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

NAR-1T-LO 阿贝折光仪(低折射指数测量使用)测量低折射指数的阿贝折光仪,除了ATAGO爱拓标准型阿贝折射仪NAR-1T, NAR-2T, NAR-3T, NAR-4T 与 DR-A1-plus，我们亦提供以下阿贝折光仪。*ATAGO爱拓折射率测量范围：1.7000 至 2.0800，温度：0至50℃ 或 0至120℃的阿贝折光仪。*以上阿贝折光仪具有与ATAGO爱拓标准型阿贝折光仪NAR-1T/NAR-2T 的相同标度，可参考附有转换表。 型号NAR-1T LO货号1217测量范围折射率(nD)1.1500 至 1.4800分辨率折射率 (nD) 0.001测量精度折射指数(nD) ± 0.0002测量温度范围5 至 50℃测量温度显示范围 0.0 至 50.0℃电源AC 100 至240 V ,50/60Hz光源LED电力损耗5VA尺寸重量13*18*23cm（主机） 10*11*7cm（温度显示器）ATAGO爱拓源自日本 ，专注折光仪超过80年，专业生产固形物测量仪、折光率分析仪、糖度分析仪、盐度分析仪、蜂蜜水分计、阿贝折光仪、海水盐度测量仪、BRIX分析仪、麦芽浓度分析仪、乙醇浓度计、丙二醇测量仪、旋光仪、尿比重计、葡萄酒酸度检测仪、切削油测量仪、防冻液冰点测量、电池液测量、碱液浓度传感器、DMF浓度传感器、双氧水浓度传感器、牛奶浓度计、豆浆测量仪等产品。

光弹性系数测量仪姓名：田工(Allen)电话：（微信同号）邮箱：光弹性系数是材料的特性常数 主要是透明材料在受力后，会出现各项异性产生双折射现象。通过光弹性系数以及双折射测量，可以获得材料内部残余应力(Mpa)的值昊量光电提供的设备通过高精密应力双折射测量，可以实现对设备实时应力双折射值（nm）观测采集。于此同时，光弹性系数测量仪 通过高精度加压加力装置，同时获得外部压力（Mpa), 从而获得材料在一定压力下，对应光程差转换常数(nm/Mpa）光弹性系数测量仪产品通过共径干涉仪和基于傅立叶分析法，实现以速度快，精度高，不受振动和空气波动等干扰等特点的双折射测量，系统采用高稳定激光光源（2mw），实现优化化光学元件配置，实现长期几乎免维护时间光弹性系数测量仪参数:变形方式：拉伸/压缩测量样品尺寸：用于拉伸试验：10 x 80 mm用于压缩测试：Φ20mm，薄15mm厚度：0.3 至 15 毫米驱动系统：步进电机左右螺杆同时驱动拉伸压缩距离：100 毫米称重传感器：额定 50 N（可更换为 200 N、1000 N）恒温层控温：室温-200℃温控精度：±1℃光弹性系数测量仪可测量内容：光学特性 光弹性常数、双折射机械性能弹性模量（杨氏模量）、断裂强度通过这些测量，可以进行弹性区域的形态分析以及拉伸特性和取向特性的分析。 光弹性系数测量仪补充基本原理:让具有双折射的样品通过两频正交线偏振光（STZL 振荡光），使其主轴与偏振面重合。每个偏振分量通过样品的速度在样品的“双折射快轴”和“慢相”方向之间不同。因此，通过样品后，会出现“相位差”。通过使用光学外差干涉法检测相位差，可以高精度地定量测量样品的双折射量。外差干涉法测量双折射：通过叠加两个频率略有不同的波，可以观察到等于频率差异的“拍频”。从这个拍品中提取必要的信息称为外差法。由于光也是一种波，它自然会产生“频率“从“光学节拍”中提取信息称为光学外差干涉法。在调音中，我们经常使用音叉。考虑用它来调整你的吉他。一开始，如果在琴弦松动的情况下拨动琴弦同时使音叉发出声音，将分别听到琴弦的声音和音叉的声音。当琴弦逐渐拉紧时，整体听起来像是一个声音，但如果仔细聆听，您会发现声音以非常快的周期重复强弱（状态 1）。随着琴弦进一步拉紧，声音强度的周期逐渐变长（状态 2），最终声音的强度完全消失（状态 3）。这种声音的强度称为“节拍”。当两种声音（波）的频率不同时，感觉节拍就是不同的频率。当音叉音与弦音的频差较大时（状态1），节拍周期快（节拍频率大）。随着两个声音之间的频率差变小（状态 2），节拍周期变慢（节拍频率变小）。这样，两波重叠就产生了“拍”，拍的频率就等于两波的频率差。在这种情况下，音叉的频率是恒定的，因此如果将其视为参考信号，则可以通过拍频来区分（=检测）琴弦的频率，即声音的周期强度。在光的情况下，会发生与声音相同的现象。也就是说，当两种频率略有不同的光叠加时，就会产生与不同频率相等的光拍。这种称为“光节拍”，而光节拍的频率有时简称为“节拍频率”。光节拍被检测为光强度的周期性变化（明暗变化）。如果您向两个光之一提供一些信息，该信息将相应地出现在光学节拍中。这里的信息意味着为光的振幅、相位和频率提供某种信号。换句话说，当一个光具有某些信息时，可以在该光上叠加另一个“参考”光（这称为参考光）并从光拍频信号中提取信息。这种信号检测方法称为“光外差干涉法”。光学外差干涉测量具有以下特点。通过使用锁定放大器等检测信号，可以进行高精度、高灵敏度的测量。当信号信息仅为相位信息时，不受干扰引起的信号光强度波动的影响。它不受不同频率的信号分量（一般是噪声）的影响。通过增加参考光的强度，可以检测到微弱的信号。等等通过相关计算公式最终可以获得待测双折射：主轴方向的同时测量：但是，在上述方法中，（1）必须事先获得样品的双折射主轴方向，（2）主轴方向必须与振荡STZL 的偏振面... 因此，在围绕光轴旋转STZL振荡光的偏振面的同时检测相位差，同时获得双折射量及其主轴方向。为了使偏振面绕光轴旋转，我们利用了半波片的“将发射偏振面旋转了入射偏振面与波片主轴夹角的两倍”的特性。该图显示了使用光学外差法同时测量双折射量及其主轴方向的光学系统。在这种光学外差干涉仪中，STZL 振荡光的两个偏振分量通过完全相同的光路，从光源到光电探测器。因此，扰动的影响——例如振动和空气波动——将影响完全相同的两个极化分量。结果，由这些干扰引起的所有噪声分量都被抵消了，而光差拍信号根本不受影响。一般的光学干涉仪都需要实验设备来去除振动和空气波动，但根据这种测量方法，这种设备是不需要的。这是进行光学测量的一大优势。辅助信息：双折射当光从空气进入透明材料时，光在边界处发生弯曲。换句话说，行进方向发生了变化。这是由于空气和透明材料的不同特性。在我们周围的环境中，当我们进入浴缸或游泳池时，我们可以通过让我们的手臂看起来弯曲在水面上来体验它，水中的东西看起来比实际更近或更大。当光以这种方式进入不同的物质（例如，从空气到水）时，光传播的方向发生弯曲，称为“光的折射”。那么光为什么会折射呢？原因是光通过材料时，其通过的速度不同。从感官上来说，我们可以理解，在水中行走和在陆地上行走，在陆地上的速度要快得多。由于水的密度比空气大，阻力相应增加，所以你不能走得快。粗略地说，你可以用同样的方式来思考光。“当光线穿过致密的材料时，通过的速度会变慢。”如下图A所示，尝试将手腕浸入水中。然后，如果像 b 一样将手移向黄色箭头，由于水的阻力，手会自然弯曲。那时，手背会略微朝下。其实光行进的方向可以用这种方向来表示。在光的情况下，手背的方向称为“波前”。换句话说，当光线进入折射率高的地方时，光线的波阵面由于其电阻而弯曲，结果光线的行进方向发生弯曲。这就是光的折射。折射度因物质而异，每一种都有唯yi的值。

PHL应力仪PHL应力双折射仪PHL WPA-100应力双折射测试仪器PHL应力双折射测试仪简介：PHL应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice 公司成立于1996 年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。Photonic Lattice主要产品分四部分：Photonic Lattice光子晶体光学元件；Photonic Lattice双折射和相位差评价系统；Photonic Lattice膜厚测试仪；Photonic Lattice偏振成像相机。Photonic Lattice双折射测量系统 WPA-100，WPA-100-LPhotonic Lattice WPA-100 系列产品可以测量的相位差达几千纳米的样品。Photonic Lattice WPA-100-L 可观察更大视野范围PHL WPA-100应力双折射测试仪主要参数表：型号 WPA-100 WPA-100-L测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 310x466x605.5mm 450x593x915.5mm观测到的最大区域 100x136mm 250x340mm重量 20kg 26kg数据接口 GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View适合树脂成型镜片检测系统WPA-100-S专为小镜头（10mm）双折射测量而设计配备自动选择圆形区域，相位差值传递失败判断功能，特别适合树脂镜片成型的质量控制。主要参数表型号 WPA-100-S测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 200x275x309.5mm观测到的最大面积 11.6x15.8mm自身重量和电源重量 4kg 和9kg电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View

PHL应力双折射仪器PHL PA-micro显微型应力双折射仪PHL应力双折射仪器简介：应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。 PHL应力双折射仪在显微镜下快速测量PA-Micro：型号PA-Micro测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸250x487x690mm观测到的最大面积5倍物镜：1.1x0.8mm 10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um 50倍物镜：110x80um 100倍物镜：55x40um.自身重量11kg数据接口千兆以太网（摄像机信号）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View（for Micro）

厂家授权代理商——岱美仪器技术服务（上海）有限公司岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内于16年已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量 轻轻一按即可实现测量！ 请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！ 优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。