脉冲工作寿命试验箱

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2… 和三重态T1… ，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的第一个( 也是*一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合最终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的最高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。显微荧光寿命成像系统FLIM参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），最小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，最高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中最多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：1.通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。2.对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：

买家必读：厂家自销，支持非标定制，欢迎来电~MC-5021B内胆脉冲寿命试验机（设备参考图）仪器介绍：本测试台是对内胆进行脉冲试验，设备采用变频器+不锈钢增压水泵控制，压力传感器记录压力值，对内胆进行脉冲寿命测试，设备主体采用工业铝型材为框架，冷板喷涂机箱，触摸屏+PLC控制操作。设备操作简单方便，外观简洁大方。功能要求及性能指标1. 脉冲冲击次数可自由设置，启动、停止时间：0-99H99M99S2. 系统配备7寸工业触摸屏，可以实时查看测试数据。3.配置多级不锈钢增压水泵4. 测试水压可设定。

hast老化试验箱 加速寿命测试箱供应技术参数1.1 设定温度: +100 ℃ ～ +147 ℃( 蒸气温度 )1.2 湿度范围: 60~100 % 蒸气湿度1.3湿度控制稳定度：±3%RH1.3 使用压力: 1.2~2.89kg(含1atm)1.4 时间范围: 0 Hr ～ 999 Hr1.5 加压时间: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 约 45 分1.6 温度波动均匀度 : ±0.5℃1.7 温度显示精度：0.1℃1.8 压力波动均匀度 : ±0.1Kg1.9 湿度分布均度：±3%RHhast老化试验箱 加速寿命测试箱供应特点：1．具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。2．试验过程自动运转至完成结束，使用简便。3．温度控制：LED数字型温度控制器可作准确试验温度之设定、控制及显示。4．箱定时器：LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验*。5．准确的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。6．运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到佳蒸气品质。7．一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。8．内经抛光处理经久耐用美观不沾污。hast老化试验箱 加速寿命测试箱-保护装置误操作安全装置：hast老化测试箱厂家锅门若未关紧则机器无法启动；超压安全保护：当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压；超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源；防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤；手动安全保护排压伐

半导体封装测试 饱和加速寿命试验箱概要：主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障半导体封装测试 饱和加速寿命试验箱特点：1.内箱材料采用SUS304不锈钢 外箱材料采用双面镀锌钢板表面静电喷塑处理。外观采用简约实用设计风格，具有耐用性和抗磨损性等特点2.跨平台控制系统可实现远程监控、数据上抛,异常推送，手机程序监管及兼容MES数据交互3.智慧型饱和蒸汽温度值，人力控制装置于饱和蒸汽压力检知4.白金温度传感（PT-1OO型）感知精确温度4.棋置形圆形内箱结构设计，方便待测样品取置与蒸汽冲击隔离装置5.全自动真空清洁程序，减低试品污染半导体封装测试 饱和加速寿命试验箱规格参数：型号J-PCT-40J-PCT-60J-PCT-80容积/L406080整体尺寸（W*H*D） cm900x1800x1120 以图纸为准 以图纸为准 温度范围（RT+20）℃~250℃温度控制范围105～℃+150℃湿度范围100%RH温度上升时间100min （从常温到120C且温度到达85%RH的时间）温度偏差≤±1.5℃（空载）温度均匀度≤±1.5℃（空载）压力波动均匀度±0.1kg电源AC220V或AC380V

一、PCT高压加速寿命老化试验箱产品简介：PCT 高温高压加速老化试验箱(又称“PCT试验箱”):是由一个圆形的压力容器及水加热系统组成。主要用于测试产品在高温、高湿及高压的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，用于对电工、电子产品、元器件、零部件、IC 半导体、磁性材料、高分子材料、金属材料、EVA 材料、连接器、光伏组件及其材料在模拟高温、高湿及压力的气候条件下，对产品的物理以及其它相关性能进行测试，测试后通过检定来判断产品的性能是否能够达到要求,以便供产品的设计、改进检定及出厂检验使用。二、PCT高压加速寿命老化试验箱技术参数：1、外形尺寸：1920*1920*950mm2、内箱尺寸：φ400*475mm3、温度范围：+105℃～+132℃4、温度波动度：土0.5℃5、温度均匀度：±2℃6、安全压力容量:4kg/cm₂ =1个环境大气压+3kg/cm₂ 7、循环方式：水蒸气自然对流循环8、测时间设置：0～999Hr9、加压时间：0.00kg/cm₂ ～2.00kg/cm₂ 约45分钟10、升温时间：由常温升至+132℃约35分钟内非线性空载11、温度变化速率：空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率三、PCT高压加速寿命老化试验箱产品特点：1.圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准可防止试验中结露滴水设计。2.圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。3.精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200H4.自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，高压蒸煮老化试验机，安全门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护5.箱内压力愈大时，PACKING会有反压会使其与箱体更紧密结合，高压蒸煮老化试验机与传统挤压式完全不同，可延长PACK-ING寿命。6.实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(PARTICAL1MICORN)。以确保箱内之纯净度7.临界点LIMIT方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示，PCT试验箱可以加速试验，缩短试验时间

HAST寿命试验箱 DR-HAST450B技术参数：1.1. 产品型号：DR-HAST4501.2. 内箱尺寸：Φ400×D 550 （mm）1.3. 外箱尺寸约：W600XH920XD690（mm）1.4. 温度范围：105℃ → +135℃.1.5. 温度波动度：≤±0.5℃.1.6. 温度均匀度：≤±2.0℃.1.7. 湿度范围：75% ～ 100 %R.H .1.8. 湿度波动度：≤±2.5 %R.H.1.9. 压力范围 ：0.2～2㎏/㎝2 （箱内压力）1.10. 升温时间：常温 → + 135℃ 约50 min 1.11. 升压时间：常压 → + 2㎏/㎝2 约45 min. 外部气源加压：约5 min　HAST寿命试验箱 DR-HAST450B控制系统机械结构 :1、圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全压力容器标准,可防止试验中结露滴水设计。2、圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品。3、精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 400Hrs 运转。4、专利型外观设计使门与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长使用寿命。5、临界点极限方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。HAST寿命试验箱 DR-HAST450B满足测试标准：GB-T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx: 未饱和高压蒸汽恒定湿热IEC 60068-2-66-1994 环境试验 第2-66部分:试验方法 试验Cx:稳态湿热(不饱合加压蒸汽)JESD22-A100 循环温度偏置寿命JESD22-A101 THB加速式温湿度及偏压测试JESD22-A102 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮JESD22-A108 温度，偏置电压，以及工作寿命 (IC寿命试验)JESD22-A110 高加速温湿度应力试验 (HAST)JESD22-A118 加速水汽抵抗性--无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)

hast试验箱 高加速寿命试验机技术参数不饱和控制温度控制范围+105~+142.9℃+105~+162.2℃湿度控制范围%RH75%~100%RH75%~100%RH压力范围0.020~0.196Mpa（表压力)0.020~0.392Mpa（表压力)温湿度波动＋0.3℃/士2.5%RH士0.3℃/士2.5%RH空间的温度变化3.0℃3.0℃升温增压时间0.196Mpa（表压力）约45分钟0.392Mpa（表压力）约60分钟湿饱和控制温度控制范围+105.0~+132.9℃+105.0~+151.1℃压力范围0.020~0.196Mpa（表压力)0.020~0.392Mpa（表压力)压力范围士0.3℃士0.3℃温度波动3.0℃3.0℃空间的温度变化0.196Mpa（表压力)约45分钟0.392Mpa（表压力）约60分钟升温增压时间0.196Mpa（表压力）约45分钟0.392Mpa（表压力）约60分钟+105~+162.2℃干湿球温度控制升温时温度控制范围+105.6~+142.9℃+105.6~+162.2℃湿度控制范围75%~98%RH75%~98%RH升温增压时间0.196Mpa（表压力)约45分钟0.392Mpa（表压力）约60分钟试验时温度控制范围+105.6~+142.9℃+105.6~+162.2℃湿度控制范围75%~98%RH75%~98%RH压力范围0.020~0.196Mpa（表压力)0.020~0.392Mpa（表压力)温湿度波动士0.3℃/士2.5%RH±0.3℃/士2.5%RH空间的温度变化3.0℃3.0℃降温时温度控制范围+50~+95.0℃+50~+95.0℃温度下降时间+142.9℃/ 75%RH~+85℃/85%RH约120分钟保存时温度控制范围+50~+95.0℃+50~+95.0℃湿度控制范围75%~95%RH75%~95%RH尺寸重量以实际规格重量为冷供电供水 220V交流1 550/60Hz,纯水︰电阻率0.5MQ.cm,PH值应在6.0~7.2。hast试验箱 高加速寿命试验机Hast试验箱是一种高加速应力测试设备，可用于评估电子元器件和材料的可靠性。它利用高温、高湿度和高压环境下的氢气侵蚀作用，模拟出真实环境下元器件长时间使用时受到的应力。　　Hast试验箱应用域：　　1.电子元器件制造：它可用于测试电子元器件的可靠性，如半导体芯片、LED 和 LCD 显示器件、集成电路等。通过将这些元器件置于高压、高温、高湿度的氢气环境中，可以模拟它们在长时间使用过程中所承受的应力，从而评估其可靠性和预测寿命。　　2.汽车工业：它也可用于汽车行业。例如，它可以用于测试汽车电子控制单元(ECU)、传感器和其他电子元器件的可靠性。这些元器件在汽车中经常遭受高温、高湿度和振动等特殊条件的影响，因此进行Hast测试可以帮助汽车制造商确保其产品的可靠性和安全性。　　3.航空航天工业：在航空航天工业中，元器件的可靠性尤为重要。它可以用于测试航空航天电子设备、卫星和其他航空航天器件的可靠性，以确保其在特殊条件下的运行稳定性。　　4.军事工业：军事设备通常在恶劣的环境下使用，因此必须经过严格的可靠性测试。它可以用于测试军事装备中使用的各种电子元器件的可靠性，以确保其满足军事标准和规范。　　5.化学工业：化学反应通常在高温高压的环境下进行。因此，它可以用于评估化学反应器等化学设备在高温高湿度的环境中的耐久性和可靠性。

一、高压加速寿命试验箱hast未饱和高压蒸汽试验箱产品用途：HAST高压加速老化试验箱主要用于模拟材料在高温、高压、高湿环境下性能运行可靠性的专用试验箱，老化箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,适用于国防材料、航天材料、电子零配件、半导体、线路板等行业。二、高压加速寿命试验箱hast未饱和高压蒸汽试验箱执行试标准：GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）三、高压加速寿命试验箱hast未饱和高压蒸汽试验箱主要参数：箱内尺寸（mm）Φ350×480φ400×550Φ500×650Φ800×1000外形尺寸（mm）720×920×1600700x1000x1710850x1150x17601100x1750x1750温度范围100℃～145℃（饱和蒸气温度）温度波动度±0.5℃温度均匀度2℃湿度范围80%R.H～100%R.H湿度波动度±1.5%R.H湿度均匀度3.0%R.H压力范围0.2～3kg/cm² (0.05～0.294MPa)升温时间由常温升至145°C约:40分钟控制器7寸彩色触摸屏智能模糊控制器操作系统内箱材料SUS304不锈钢板:内胆整体全满焊焊接而成外箱材料优质防腐电解板，表面静电粉体烤漆保温层超细玻璃棉保温层，阻燃等级A1噪音≤60分贝(dB) (噪音检测装置距离设备大门1m处测量)四、高压加速寿命试验箱hast未饱和高压蒸汽试验箱产品特点：外箱材料：优质防腐电解板，表面静电粉体烤漆，颜色为荣计达标准色内箱材料：SUS304不锈钢板:内胆整体全满焊焊接而成保温层：超细玻璃棉保温层，阻燃等级A1控制器：7寸彩色触摸屏智能模糊控制器操作系统噪音：≤60分贝(dB) (噪音检测装置距离设备大门1m处测量)圆型不锈钢内箱结构，可防止试验中结露滴水，符合工业安全容器标准。压力调节门锁，密封性好。精密结构设计，耗水量少，每次加水可连续200小时。安全门设计，不关门无法试验。超压保护：超压自动排气泄压。超温保护：温度过高时，指示灯蜂鸣报警，并停止试验。

HAST高压加速老化试验箱加速寿命高温蒸煮仪技术参数1.1 设定温度: +100 ℃ ～ +147 ℃( 蒸气温度 )1.2 湿度范围: 60~100 % 蒸气湿度1.3湿度控制稳定度：±3%RH1.3 使用压力: 1.2~2.89kg(含1atm)1.4 时间范围: 0 Hr ～ 999 Hr1.5 加压时间: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 约 45 分1.6 温度波动均匀度 : ±0.5℃1.7 温度显示精度：0.1℃1.8 压力波动均匀度 : ±0.1Kg1.9 湿度分布均度：±3%RHHAST高压加速老化试验箱加速寿命高温蒸煮仪供应特点：1．具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。2．试验过程自动运转至完成结束，使用简便。3．温度控制：LED数字型温度控制器可作准确试验温度之设定、控制及显示。4．箱定时器：LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验*。5．准确的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。6．运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到佳蒸气品质。7．一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。8．内经抛光处理经久耐用美观不沾污。HAST高压加速老化试验箱加速寿命高温蒸煮仪-保护装置误操作安全装置：hast老化测试箱厂家锅门若未关紧则机器无法启动；超压安全保护：当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压；超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源；防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤；手动安全保护排压伐HAST高压加速老化试验箱加速寿命高温蒸煮仪安装条件HAST（Highly Accelerated Stress Test）高压加速老化试验箱是用于对产品进行加速老化测试的设备。安装HAST试验箱需要满足以下条件：电源条件：HAST试验箱通常需要接入稳定可靠的电源，并确保电源符合设备的额定电压和频率要求。空气条件：试验箱需要安装在通风良好的环境中，避免周围空气中有害气体对试验箱和样品产生影响。空间条件：安装HAST试验箱需要考虑到设备的尺寸和通风要求，确保有足够的空间放置和维护设备。环境条件：试验箱应当安装在干燥、无尘、温度适宜的环境中，以确保设备正常运行和测试结果的准确性。安全条件：在安装HAST试验箱时，需要考虑到设备的安全问题，确保设备周围没有易燃易爆物品，设备本身也需要符合相关的安全标准。在安装HAST试验箱时，最好按照制造商提供的安装手册和指导进行操作，以确保设备可以正常运行并达到预期的测试效果。

hast老化寿命试验箱DR-HAST350C 技术参数型号DR-HAST-350DR-HAST-450DR-HAST-550工作室尺寸(ΦxD)直径x深350x450mm400x500mm550x650mm外箱尺寸(WxDxH)宽深高750x900x1700mm750x900x1700mm850x1050x1800mm功率4KW5.5KW6.5KW电源220V/50HZ~60HZ温度范围A.+100℃～+133℃ B.+100℃～+142℃ C.+100℃～+155℃ 温度波动度≤±0.5℃.温度均匀度≤±0.5℃.湿度范围65%～100 %R.H .湿度波动度≤±2 %R.H.湿度均匀度≤±3 % R.H.压力范围0.2～2㎏/㎝2 (0.05～0.196 MPa) （箱内压力）；0.2～3㎏/㎝2 (0.05～0.294 MPa) （箱内压力）；升温时间常温～+ 133℃ 约40 min .升压时间常压～+ 2㎏/㎝2 约20 min. 外部气源加压：约5 min偏压端子含偏压端子（选配订购时需注明）压力偏差≤±2Kpa保温围护结构外壁材料：高级钢板喷塑。内壁材料：不锈钢板SUS316 。箱体保温材料：超细玻璃棉。燥音≤60分贝（dB）(噪音检测装置距离设备大门1m处测量)控制器7寸彩色触摸屏智能模糊控制器，搭载压力温湿度版操作系统使用条件1.+5℃~+35℃ 2.相对湿度：不大于85%R.H3.大气压力：80kpa~106 kpa 4 .平坦无振动的地面保护装置1.加热器空焚防止保护开关2.加热器过电流断路器3.循环风扇过电流超载保护4.带压力门打不开保护5.泄压完成提升6.过电压欠逆相保护开关7.线路断路器8.漏电开关9.过零点闸流体功率控制器10.缺水保护 hast老化寿命试验箱DR-HAST350C 详情介绍

HAST高压加速寿命试验箱DR-HAST450A技术参数：1.1. 产品型号：DR-HAST4501.2. 内箱尺寸：Φ400×D 550 （mm）1.3. 外箱尺寸约：W600XH920XD690（mm）1.4. 温度范围：105℃ → +135℃.1.5. 温度波动度：≤±0.5℃.1.6. 温度均匀度：≤±2.0℃.1.7. 湿度范围：75% ～ 100 %R.H .1.8. 湿度波动度：≤±2.5 %R.H.1.9. 湿度均匀度：≤±3.0% R.H.1.10. 压力范围 ：0.2～2㎏/㎝2 （箱内压力）1.11. 升温时间：常温 → + 135℃ 约50 min 1.12. 升压时间：常压 → + 2㎏/㎝2 约45 min. 外部气源加压：约5 minHAST高压加速寿命试验箱DR-HAST450A控制系统：1、采用彩色触控式PLC控制湿度和蒸汽温度(采用PT-100白金感温体)2、采用指针显示压力表3、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度和蒸汽湿度4、手动入水阀(自动补水功能，可不停机连续试验)5、试验数据记录U盘导出，曲线查询

温度冲击试验箱/冷热冲击试验箱 产品用途温度冲击试验箱分为二箱式吊篮式冷热冲击试验箱和三箱气体式冷热冲击试验箱，适用于电工、电子产品整机及零部件进行耐寒试验、温度快速变化或渐变条件下的适应性试验箱，特别适用于进行电工、电子产品的环境应力筛选（ESS）试验。 技术参数1. 温度范围：-20℃～200℃（A）、-40℃～200℃(B)、-60℃～200℃(C)、-70℃～200℃(D)；2. 温度冲击范围：0℃～150℃（A）,-20℃～150℃（B）、-40℃～150℃(C)、-60℃～150℃(D)；3. 试样篮：350×350×380、520 ×520×580；4. 试样篮：15Kg；5. 试验区：①温度波动度±0.5℃（温度恒定后），②温度偏差≤3℃；6. 低温区：温度波动度≤±2.0℃；7. 升温速率：1.0～3.0℃/min；8. 降温速度：0.7～1.0℃/min； 三箱式温度冲击试验箱9. 温度转换时间：≤15s（样品从高温区到低温区或从低温区到高温区）；10.温度恢复时间：≤15min；11.电源电压：AC380±10%V 50Hz； 制冷系统制冷系统及压缩机：为保证试验箱对降温速率和低温度的要求, 本试验箱的制冷系统采用二台德国COPELAND半封闭压缩机所组成的复叠式制冷系统或原装法国“泰康”全封闭压缩机组，该制冷系统具有匹配合理、可靠性高、使用维护方便等优点； 加热、加湿系统1. 加热器采用瓷架镍铬丝电加热器，此加热器热惰性小，寿命长。由仪表输出可 两箱式温度冲击试验箱控脉冲占空比PID信号，通过固态继电器来控制，控制平稳、可靠；2. 蒸汽锅炉电加热加湿方法，铠装电加热管，PID控制方式，使用无触点周期脉冲调宽SSR（固态继电器）控制，设有水位控制装置，加热器防干烧装置； 控制系统1. 控制装置：主控制器采用进口德国SIEMENS公司产S7系列逻辑控制器作为中央处理器，配备数字I/O模块和模拟I/O模块，内部具有PID运算控制器功能，人机界面（HMI）采用进口彩色大屏幕（5.7英寸）液晶触摸显示屛，控制界面采用全中文显示，具备开机显示LOGO及简短、清晰的实验箱保养注意事项显示，可显示、设定试验参数、曲线、总运行时间、段总运行时间、加热器工作状态及时间等。控制程序的编制采用人机对话方式，界面友好，仅需设定温度就可实现制冷机的自动运行功能；2. 控制系统使用智能化控制软件系统，具备自动组合制冷、加热等子系统的工况，从而保证在整个温度范围内的高精度控制，同时达到节能、降耗的目的，完善的检测装置能自动进行详细的故障显示、报警，如当试验箱发生异常时，控制器用中文汉字显示故障状态。同时具备历史数据表趋势图及历史故障记录的储存功能；3. 温度测量：Pt100铂电阻温度传感器； 执行标准1. GB10589-2008；2. GB2423.1-2008；3. GB2423.2-2008；4. GJB150.3-86；5. GJB150.4-86；6. GJB150.5-86；7. 适用满足试验条件的其它标准； 产品规格两箱式三箱式型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)WDCJ-50320×350×4501200×2500×1800WDCJ-50320×350×4501500×1600×2020WDCJ-100400×500×5001400×2500×1800WDCJ-100400×500×5001500×1700×2020WDCJ-150500×500×6001500×2600×1850WDCJ-150500×500×6001600×1700×2100WDCJ-225750×600×5001700×2650×1900WDCJ-225750×600×5002000×1800×2100WDCJ-250700×650×5501900×2700×1950WDCJ-250700×650×5502000×2000×2100WDCJ-500800×800×8002500×3200×2100WDCJ-500800×800×8002500×2500×2100WDCJ-0101000×1000×10003000×3500×2100WDCJ-0101000×1000×10003500×3500×2200WDCJ-0151500×1000×10004000×4200×2200WDCJ-0151500×1000×10004200×3800×3800

温度冲击试验箱/冷热冲击试验箱 产品用途温度冲击试验箱分为二箱式吊篮式冷热冲击试验箱和三箱气体式冷热冲击试验箱，适用于电工、电子产品整机及零部件进行耐寒试验、温度快速变化或渐变条件下的适应性试验箱，特别适用于进行电工、电子产品的环境应力筛选（ESS）试验。 技术参数1. 温度范围：-20℃～200℃（A）、-40℃～200℃(B)、-60℃～200℃(C)、-70℃～200℃(D)；2. 温度冲击范围：0℃～150℃（A）,-20℃～150℃（B）、-40℃～150℃(C)、-60℃～150℃(D)；3. 试样篮：350×350×380、520 ×520×580；4. 试样篮：15Kg；5. 试验区：①温度波动度±0.5℃（温度恒定后），②温度偏差≤3℃；6. 低温区：温度波动度≤±2.0℃；7. 升温速率：1.0～3.0℃/min；8. 降温速度：0.7～1.0℃/min； 三箱式温度冲击试验箱9. 温度转换时间：≤15s（样品从高温区到低温区或从低温区到高温区）；10.温度恢复时间：≤15min；11.电源电压：AC380±10%V 50Hz； 制冷系统制冷系统及压缩机：为保证试验箱对降温速率和低温度的要求, 本试验箱的制冷系统采用二台德国COPELAND半封闭压缩机所组成的复叠式制冷系统或原装法国“泰康”全封闭压缩机组，该制冷系统具有匹配合理、可靠性高、使用维护方便等优点； 加热、加湿系统1. 加热器采用瓷架镍铬丝电加热器，此加热器热惰性小，寿命长。由仪表输出可 两箱式温度冲击试验箱控脉冲占空比PID信号，通过固态继电器来控制，控制平稳、可靠；2. 蒸汽锅炉电加热加湿方法，铠装电加热管，PID控制方式，使用无触点周期脉冲调宽SSR（固态继电器）控制，设有水位控制装置，加热器防干烧装置； 控制系统1. 控制装置：主控制器采用进口德国SIEMENS公司产S7系列逻辑控制器作为中央处理器，配备数字I/O模块和模拟I/O模块，内部具有PID运算控制器功能，人机界面（HMI）采用进口彩色大屏幕（5.7英寸）液晶触摸显示屛，控制界面采用全中文显示，具备开机显示LOGO及简短、清晰的实验箱保养注意事项显示，可显示、设定试验参数、曲线、总运行时间、段总运行时间、加热器工作状态及时间等。控制程序的编制采用人机对话方式，界面友好，仅需设定温度就可实现制冷机的自动运行功能；2. 控制系统使用智能化控制软件系统，具备自动组合制冷、加热等子系统的工况，从而保证在整个温度范围内的高精度控制，同时达到节能、降耗的目的，完善的检测装置能自动进行详细的故障显示、报警，如当试验箱发生异常时，控制器用中文汉字显示故障状态。同时具备历史数据表趋势图及历史故障记录的储存功能；3. 温度测量：Pt100铂电阻温度传感器； 执行标准1. GB10589-2008；2. GB2423.1-2008；3. GB2423.2-2008；4. GJB150.3-86；5. GJB150.4-86；6. GJB150.5-86；7. 适用满足试验条件的其它标准； 产品规格两箱式三箱式型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)WDCJ-50320×350×4501200×2500×1800WDCJ-50320×350×4501500×1600×2020WDCJ-100400×500×5001400×2500×1800WDCJ-100400×500×5001500×1700×2020WDCJ-150500×500×6001500×2600×1850WDCJ-150500×500×6001600×1700×2100WDCJ-225750×600×5001700×2650×1900WDCJ-225750×600×5002000×1800×2100WDCJ-250700×650×5501900×2700×1950WDCJ-250700×650×5502000×2000×2100WDCJ-500800×800×8002500×3200×2100WDCJ-500800×800×8002500×2500×2100WDCJ-0101000×1000×10003000×3500×2100WDCJ-0101000×1000×10003500×3500×2200WDCJ-0151500×1000×10004000×4200×2200WDCJ-0151500×1000×10004200×3800×3800

温度冲击试验箱/冷热冲击试验箱 产品用途温度冲击试验箱分为二箱式吊篮式冷热冲击试验箱和三箱气体式冷热冲击试验箱，适用于电工、电子产品整机及零部件进行耐寒试验、温度快速变化或渐变条件下的适应性试验箱，特别适用于进行电工、电子产品的环境应力筛选（ESS）试验。 技术参数1. 温度范围：-20℃～200℃（A）、-40℃～200℃(B)、-60℃～200℃(C)、-70℃～200℃(D)；2. 温度冲击范围：0℃～150℃（A）,-20℃～150℃（B）、-40℃～150℃(C)、-60℃～150℃(D)；3. 试样篮：350×350×380、520 ×520×580；4. 试样篮：15Kg；5. 试验区：①温度波动度±0.5℃（温度恒定后），②温度偏差≤3℃；6. 低温区：温度波动度≤±2.0℃；7. 升温速率：1.0～3.0℃/min；8. 降温速度：0.7～1.0℃/min； 三箱式温度冲击试验箱9. 温度转换时间：≤15s（样品从高温区到低温区或从低温区到高温区）；10.温度恢复时间：≤15min；11.电源电压：AC380±10%V 50Hz； 制冷系统制冷系统及压缩机：为保证试验箱对降温速率和低温度的要求, 本试验箱的制冷系统采用二台德国COPELAND半封闭压缩机所组成的复叠式制冷系统或原装法国“泰康”全封闭压缩机组，该制冷系统具有匹配合理、可靠性高、使用维护方便等优点； 加热、加湿系统1. 加热器采用瓷架镍铬丝电加热器，此加热器热惰性小，寿命长。由仪表输出可 两箱式温度冲击试验箱控脉冲占空比PID信号，通过固态继电器来控制，控制平稳、可靠；2. 蒸汽锅炉电加热加湿方法，铠装电加热管，PID控制方式，使用无触点周期脉冲调宽SSR（固态继电器）控制，设有水位控制装置，加热器防干烧装置； 控制系统1. 控制装置：主控制器采用进口德国SIEMENS公司产S7系列逻辑控制器作为中央处理器，配备数字I/O模块和模拟I/O模块，内部具有PID运算控制器功能，人机界面（HMI）采用进口彩色大屏幕（5.7英寸）液晶触摸显示屛，控制界面采用全中文显示，具备开机显示LOGO及简短、清晰的实验箱保养注意事项显示，可显示、设定试验参数、曲线、总运行时间、段总运行时间、加热器工作状态及时间等。控制程序的编制采用人机对话方式，界面友好，仅需设定温度就可实现制冷机的自动运行功能；2. 控制系统使用智能化控制软件系统，具备自动组合制冷、加热等子系统的工况，从而保证在整个温度范围内的高精度控制，同时达到节能、降耗的目的，完善的检测装置能自动进行详细的故障显示、报警，如当试验箱发生异常时，控制器用中文汉字显示故障状态。同时具备历史数据表趋势图及历史故障记录的储存功能；3. 温度测量：Pt100铂电阻温度传感器； 执行标准1. GB10589-2008；2. GB2423.1-2008；3. GB2423.2-2008；4. GJB150.3-86；5. GJB150.4-86；6. GJB150.5-86；7. 适用满足试验条件的其它标准； 产品规格两箱式三箱式型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)WDCJ-50320×350×4501200×2500×1800WDCJ-50320×350×4501500×1600×2020WDCJ-100400×500×5001400×2500×1800WDCJ-100400×500×5001500×1700×2020WDCJ-150500×500×6001500×2600×1850WDCJ-150500×500×6001600×1700×2100WDCJ-225750×600×5001700×2650×1900WDCJ-225750×600×5002000×1800×2100WDCJ-250700×650×5501900×2700×1950WDCJ-250700×650×5502000×2000×2100WDCJ-500800×800×8002500×3200×2100WDCJ-500800×800×8002500×2500×2100WDCJ-0101000×1000×10003000×3500×2100WDCJ-0101000×1000×10003500×3500×2200WDCJ-0151500×1000×10004000×4200×2200WDCJ-0151500×1000×10004200×3800×3800

温度冲击试验箱/冷热冲击试验箱 产品用途温度冲击试验箱分为二箱式吊篮式冷热冲击试验箱和三箱气体式冷热冲击试验箱，适用于电工、电子产品整机及零部件进行耐寒试验、温度快速变化或渐变条件下的适应性试验箱，特别适用于进行电工、电子产品的环境应力筛选（ESS）试验。 技术参数1. 温度范围：-20℃～200℃（A）、-40℃～200℃(B)、-60℃～200℃(C)、-70℃～200℃(D)；2. 温度冲击范围：0℃～150℃（A）,-20℃～150℃（B）、-40℃～150℃(C)、-60℃～150℃(D)；3. 试样篮：350×350×380、520 ×520×580；4. 试样篮：15Kg；5. 试验区：①温度波动度±0.5℃（温度恒定后），②温度偏差≤3℃；6. 低温区：温度波动度≤±2.0℃；7. 升温速率：1.0～3.0℃/min；8. 降温速度：0.7～1.0℃/min； 9. 温度转换时间：≤15s（样品从高温区到低温区或从低温区到高温区）；10.温度恢复时间：≤15min；11.电源电压：AC380±10%V 50Hz； 制冷系统制冷系统及压缩机：为保证试验箱对降温速率和低温度的要求, 本试验箱的制冷系统采用二台德国COPELAND半封闭压缩机所组成的复叠式制冷系统或原装法国“泰康”全封闭压缩机组，该制冷系统具有匹配合理、可靠性高、使用维护方便等优点； 加热、加湿系统1. 加热器采用瓷架镍铬丝电加热器，此加热器热惰性小，寿命长。由仪表输出可 控脉冲占空比PID信号，通过固态继电器来控制，控制平稳、可靠；2. 蒸汽锅炉电加热加湿方法，铠装电加热管，PID控制方式，使用无触点周期脉冲调宽SSR（固态继电器）控制，设有水位控制装置，加热器防干烧装置； 控制系统1. 控制装置：主控制器采用进口德国SIEMENS公司产S7系列逻辑控制器作为中央处理器，配备数字I/O模块和模拟I/O模块，内部具有PID运算控制器功能，人机界面（HMI）采用进口彩色大屏幕（5.7英寸）液晶触摸显示屛，控制界面采用全中文显示，具备开机显示LOGO及简短、清晰的实验箱保养注意事项显示，可显示、设定试验参数、曲线、总运行时间、段总运行时间、加热器工作状态及时间等。控制程序的编制采用人机对话方式，界面友好，仅需设定温度就可实现制冷机的自动运行功能；2. 控制系统使用智能化控制软件系统，具备自动组合制冷、加热等子系统的工况，从而保证在整个温度范围内的高精度控制，同时达到节能、降耗的目的，完善的检测装置能自动进行详细的故障显示、报警，如当试验箱发生异常时，控制器用中文汉字显示故障状态。同时具备历史数据表趋势图及历史故障记录的储存功能；3. 温度测量：Pt100铂电阻温度传感器； 执行标准1. GB10589-2008；2. GB2423.1-2008；3. GB2423.2-2008；4. GJB150.3-86；5. GJB150.4-86；6. GJB150.5-86；7. 适用满足试验条件的其它标准； 产品规格两箱式三箱式型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)WDCJ-50320×350×4501200×2500×1800WDCJ-50320×350×4501500×1600×2020WDCJ-100400×500×5001400×2500×1800WDCJ-100400×500×5001500×1700×2020WDCJ-150500×500×6001500×2600×1850WDCJ-150500×500×6001600×1700×2100WDCJ-225750×600×5001700×2650×1900WDCJ-225750×600×5002000×1800×2100WDCJ-250700×650×5501900×2700×1950WDCJ-250700×650×5502000×2000×2100WDCJ-500800×800×8002500×3200×2100WDCJ-500800×800×8002500×2500×2100WDCJ-0101000×1000×10003000×3500×2100WDCJ-0101000×1000×10003500×3500×2200WDCJ-0151500×1000×10004000×4200×2200WDCJ-0151500×1000×10004200×3800×3800

品牌：久滨型号：JB-JM8名称：胶管水压脉冲试验台爆破试验台一、产品概述：　　设备用于各类产品的压力脉冲/寿命/疲劳等方面的试验与测试，适用于各类型管材、压力容器、气瓶、阀门、压力仪表传感器等需要进行压力脉冲试验的产品。二、技术参数：1、试验压力：0～100MPA（可定制）；2、脉冲频率：0～2Hz（可定制）；3、试验介质：水、制动液、液压油等；4、介质温度：-40～150℃（可定制）；5、循环次数：＞1000万次（任意设定）；6、试验路数：1路（可扩充）；7、试验波形：基本方波、T形波、三角波、正弦波（任选）；8、控制方式：自动控制。三、功能特点1、由计算机与PC上下两极控制系统组成，控制原理先进，采用独立的控制单元，实现了模块化控制。采用电液伺服控制，控制高；2、多路多工位，可同时进行多路试验而互不影响，实验数据和图形自动记录并保存在计算机中；3、电气元件采用进口元件，保证试验机的精度和稳定性；4、专用测试软件成熟稳定，可设定试验参数和客户信息，实时显示压力-时间曲线、环境/介质温度、脉冲次数、压力值等，并可打印输出；5、借鉴丹麦技术采用蓄能器补压，实现了无源控制，减少了电机和加压系统的工作时间，提高加压系统的可靠性、稳定性和使用寿命，同时保证了压力精度；6、本机具有超压，过载保护功能，并具有设备压力标定功能；7、试样破裂后压力迅速下降，自动停止加压，限度保证人身；8、试验开始时能自动排除试样内的气体，达到试验脉冲次数或试样破损后，自动停机，并具有拆卸被试管路后的泄漏介质自动功能；

品牌：久滨型号：JB-JM8名称：气瓶双脉冲测试设备液压脉冲试验台一、产品概述：　　气瓶双脉冲测试设备液压脉冲试验台主要用于产品的压力疲劳试验。汽车软管转向管、刹车管、空调管、燃油管、冷却水管、散热软管、暖风软管、空气滤芯器软管、蜗轮、增压系统软管、工程液压软管、航空软管和管汇、其他硬管或接头、换热器、空调器、过滤器等的脉冲试验。二、技术参数：1、试验介质：液压油或乙二醇混合液2、试验压力：0-5Mpa（可以调节）3、压力控制精度：0.01Mpa（根据量程）4、脉冲频率：5~120次/分（可调）5、脉冲压力波形：基本方波（或梯形波），脉宽调节可以按照贵公司要求进行6、试验介质温度：室温~160℃（根据客户要求）7、试验次数打到100万以上（连续一次）以上，进行密封性能试验，不得出现泄漏或变形情况8、控制方式：计算机自动控制，伺服或比例技术9、环境温度：-30~250℃可调三、功能特点：◎所有承压零件都采用国际 zhī 名品的标准零件，无任何焊接连接，方便拆卸，安全系数高，寿命长、便于维护。◎技术先进，结构设计合理，外型美观大方的特点。◎可以计算机控制升压速率，实时显示压力曲线，试验完毕后可以打印试验报告。◎存储器有USB接口，可打印实验压力曲线。◎试验压力-时间曲线能够在屏幕上显示并能打印或存储在存储器内，计算机控制，试验时可以自由设定运行周期次数要求，当达到要求时可以自动停止试验◎可进行各种异常状况的处理，包括温度，压力，电等异常情况◎内部采用保温层，可以控制环境温度与液体温度◎计算机数据采集处理，打印输出环境温度、脉冲次数和脉冲压力波形

设备概述：燃油压力脉脉冲试验应满足GJB1772中II类试验台要求，能产生脉冲试验所要求的交变脉冲压力，并能对脉冲试验的循环频率、脉冲峰值、升率等参数按试验要求进行调试。应具有自动测试、采集功能，试验完成后自动形成试验报表，燃油压力脉冲试验台主要用于管件等的疲劳试验，具备长期寿命可靠性研究能力，具备先进的寿命研发技术，设备操作简单、性能稳定、性价比高。并广泛用于工厂、产品质量检测所、科研院校等的生产检验、开发研究等方向。设备用途：燃油压力脉冲试验台主要用于工作液介质为3号喷气燃料(俗称:煤油)的液压产品的压力脉冲试验，可满足不同液压产品多种脉冲波形的压力脉冲试验要求。采用规范、标准及引用文件：（1）HB6090-86飞机I、II型液压系统直线式作动筒通用技术条件；（2）GJB3849-99飞机液压作动筒、阀、压力容器脉冲试验要求和方法；（3）ARP1383-C版本中有关压力脉冲循环试验所需要的交变脉冲试验。

仪器简介：LifeSpecII系列超快荧光寿命光谱仪专门为超快荧光寿命的测量而设计。在设计过程中，LifeSpecII系列超快荧光寿命光谱仪着重解决了传统光路的构架对待测超快信号的脉冲展宽效应，从而大幅度提高了荧光寿命测量的精度。 LifeSpecII系列超快荧光寿命光谱仪可以搭配不同的激发光源和探测器，以保证用户获得不同的荧光寿命测量范围。技术参数：主要技术指标： - 光学结构: 激发光路与发射光路垂直 - 工作原理: 时间相关单光子探测 - 寿命范围: ~5ps-50us - 光谱带宽: 1nm~40nm - 时间色散: 零（运用双减单色仪） - 光衰减器: 电脑控制连续可调衰减率 - 可选激发光源 皮秒脉冲半导体激光器 (多种波长可选) 皮秒脉冲LEDs (多种波长可选) 皮秒脉冲固体激光器 飞秒脉冲激光器 (可选配多种品牌和型号) - 可选探测器 蓝敏PMT 185~650nm 红敏PMT 185~870nm 带有微通道板PMT 200~850nm 近红外PMT 300nm-1400/1700nm主要特点：主要技术特点： - 荧光寿命测试范围5ps至ms范围（由激发光源与探测器决定） - 采用最先进的时间相关单光子计数技术（TCSPC）进行荧光寿命测量,具有最高的测量精度 - 采用大尺寸样品室，更便于对样品的操作 - 运用独特的光路设计,防止脉冲展宽并消除色散，使短寿命测试结果更加精准 - 光谱测量范围可覆盖紫外-可见-近红外 - 可以与多种高重复频率的飞秒或皮秒脉冲激光器配合使用,提高实验室已有设备的利用率 - 紧凑型一体化设计,占用空间更小 - 便于操作的荧光寿命分析软件 主要测量功能： - 荧光寿命/瞬态光谱测试 - 时间分辨荧光光谱 - 准稳态光谱测试 - 全自动时间分辨各项异性光谱测量（需要电动偏振器选件） - 温度扫描过程中的荧光寿命及时间分辨荧光光谱测量（需选择制冷机或TE制冷样品架选件）

氙气灯箱 皓天氙灯老化寿命试验机所属分类：氙灯耐气候试验箱 产品简介： 氙气灯箱 皓天氙灯老化寿命试验机型号与参数 型号：HT-XD-150；HT-XD-200 单位： MM &nb sp HT-XD-800 工作室尺寸： D500*W600*H500 D500*W760*H500 D950*W950*H850 外型尺寸： D1200*W1050*H1480 D1200*W1150*H1480 D1280*W1320*H1980 功率：11KW 样品托盘尺寸：450*720mm（适合任何形状试件） 温度范围：RT～80℃可调 湿度范围：45～90% R?H可调 黑板温度：63℃、100℃ ±3℃ 温度波动度：±0.5℃ 温度偏差度： ±2.0℃ 湿度偏差： ≤±2% 玻璃窗滤光片：3片 氙灯数量：1支 降雨时间：0～9999min，连续降雨可调 降雨周期：0～240min，间隔（断）降雨可调 喷水嘴孔径：Ф0.8mm 氙灯功率：1.8 KW/每根 加热功率：3KW 加湿功率：1.5KW 样品架与灯距离：230～280mm 波长：290～800nm 辐照度：290nm—800nm波长辐照度为550W/㎡ 也可按客户需要定制非标试验箱.实验室 氙灯耐气候试验箱,氙灯老化试验箱符合标准 本产品严格按GB/T16422.2-99的技术参数设计制造。同时符合、GB/T2423.24-1995 GB/T9344 GB/T1865-97也可按客 户需要定制非标试验箱.实验室 氙灯老化试验箱哪家好？ 氙气灯箱 皓天氙灯老化寿命试验机免费送货上门，并安装调试操作介绍（直到需方员工独立操作并满意为止）氙气灯箱 皓天氙灯老化寿命试验机控制系统： 温湿度控制仪表采用（韩国）全进口高精度数显微电脑集成控制器；精度：0.1℃（显示范围）；解析度：±0.1℃；感温传感器：PT100铂 金电阻测温体； 控制方式：热平衡调温调湿方式； 温湿度控制采用P . I . D＋S.S.R系统同频道协调控制； 具有自动演算的功能，可将温湿度变化条件立即修正，使温湿度控制更为精确稳定。 制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。 干燥过滤器、冷媒流量视窗、修理阀、油分离器、电磁阀、贮液筒均采用进口原装件 冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。 采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。 风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标 准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。 升温、降温、系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。 整体设备超温；整体设备欠相/逆相；整体设备过载；制冷机组超压；整体设备定时； 其它还有漏电、运行指示，故障报警后自动停机等保护。 氙弧灯老化试验箱 皓天HT-XD-150产品用途： 氙灯耐气候试验箱采用能模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波。是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设 备，本设备可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速老化试验。适用于学校，工厂，军工，研位，等单位。 氙灯耐气候试验箱,氙灯老化试验箱箱体结构： 箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。 箱体内胆采用进口高级不锈钢（SUS304）镜面板，箱 体外胆采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。 设备主要分为主体部分、加温、加湿、制冷除湿部分、显示控制部分、空气调节部分、安全保护措施部分和其它附件部分； 全光谱氙灯； 多种供选择的过滤系统； 光感应探头辐照度控制； 水喷淋功能； 相对湿度控制； 黑板/或试验箱空气温度控制系统； 不规则形状固定架； 价格合理可更换的进口氙灯管。 配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用

温度冲击试验箱/冷热冲击试验箱 产品用途温度冲击试验箱分为二箱式吊篮式冷热冲击试验箱和三箱气体式冷热冲击试验箱，适用于电工、电子产品整机及零部件进行耐寒试验、温度快速变化或渐变条件下的适应性试验箱，特别适用于进行电工、电子产品的环境应力筛选（ESS）试验。 技术参数1. 温度范围：-20℃～200℃（A）、-40℃～200℃(B)、-60℃～200℃(C)、-70℃～200℃(D)；2. 温度冲击范围：0℃～150℃（A）,-20℃～150℃（B）、-40℃～150℃(C)、-60℃～150℃(D)；3. 试样篮：350×350×380、520 ×520×580；4. 试样篮：15Kg；5. 试验区：①温度波动度±0.5℃（温度恒定后），②温度偏差≤3℃；6. 低温区：温度波动度≤±2.0℃；7. 升温速率：1.0～3.0℃/min；8. 降温速度：0.7～1.0℃/min； 9. 温度转换时间：≤15s（样品从高温区到低温区或从低温区到高温区）；10.温度恢复时间：≤15min；11.电源电压：AC380±10%V 50Hz； 制冷系统制冷系统及压缩机：为保证试验箱对降温速率和低温度的要求, 本试验箱的制冷系统采用二台德国COPELAND半封闭压缩机所组成的复叠式制冷系统或原装法国“泰康”全封闭压缩机组，该制冷系统具有匹配合理、可靠性高、使用维护方便等优点； 加热、加湿系统1. 加热器采用瓷架镍铬丝电加热器，此加热器热惰性小，寿命长。由仪表输出可 控脉冲占空比PID信号，通过固态继电器来控制，控制平稳、可靠；2. 蒸汽锅炉电加热加湿方法，铠装电加热管，PID控制方式，使用无触点周期脉冲调宽SSR（固态继电器）控制，设有水位控制装置，加热器防干烧装置； 控制系统1. 控制装置：主控制器采用进口德国SIEMENS公司产S7系列逻辑控制器作为中央处理器，配备数字I/O模块和模拟I/O模块，内部具有PID运算控制器功能，人机界面（HMI）采用进口彩色大屏幕（5.7英寸）液晶触摸显示屛，控制界面采用全中文显示，具备开机显示LOGO及简短、清晰的实验箱保养注意事项显示，可显示、设定试验参数、曲线、总运行时间、段总运行时间、加热器工作状态及时间等。控制程序的编制采用人机对话方式，界面友好，仅需设定温度就可实现制冷机的自动运行功能；2. 控制系统使用智能化控制软件系统，具备自动组合制冷、加热等子系统的工况，从而保证在整个温度范围内的高精度控制，同时达到节能、降耗的目的，完善的检测装置能自动进行详细的故障显示、报警，如当试验箱发生异常时，控制器用中文汉字显示故障状态。同时具备历史数据表趋势图及历史故障记录的储存功能；3. 温度测量：Pt100铂电阻温度传感器； 执行标准1. GB10589-2008；2. GB2423.1-2008；3. GB2423.2-2008；4. GJB150.3-86；5. GJB150.4-86；6. GJB150.5-86；7. 适用满足试验条件的其它标准； 产品规格两箱式三箱式型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)WDCJ-50320×350×4501200×2500×1800WDCJ-50320×350×4501500×1600×2020WDCJ-100400×500×5001400×2500×1800WDCJ-100400×500×5001500×1700×2020WDCJ-150500×500×6001500×2600×1850WDCJ-150500×500×6001600×1700×2100WDCJ-225750×600×5001700×2650×1900WDCJ-225750×600×5002000×1800×2100WDCJ-250700×650×5501900×2700×1950WDCJ-250700×650×5502000×2000×2100WDCJ-500800×800×8002500×3200×2100WDCJ-500800×800×8002500×2500×2100WDCJ-0101000×1000×10003000×3500×2100WDCJ-0101000×1000×10003500×3500×2200WDCJ-0151500×1000×10004000×4200×2200WDCJ-0151500×1000×10004200×3800×3800

温度冲击试验箱/冷热冲击试验箱 产品用途温度冲击试验箱分为二箱式吊篮式冷热冲击试验箱和三箱气体式冷热冲击试验箱，适用于电工、电子产品整机及零部件进行耐寒试验、温度快速变化或渐变条件下的适应性试验箱，特别适用于进行电工、电子产品的环境应力筛选（ESS）试验。 技术参数1. 温度范围：-20℃～200℃（A）、-40℃～200℃(B)、-60℃～200℃(C)、-70℃～200℃(D)；2. 温度冲击范围：0℃～150℃（A）,-20℃～150℃（B）、-40℃～150℃(C)、-60℃～150℃(D)；3. 试样篮：350×350×380、520 ×520×580；4. 试样篮：15Kg；5. 试验区：①温度波动度±0.5℃（温度恒定后），②温度偏差≤3℃；6. 低温区：温度波动度≤±2.0℃；7. 升温速率：1.0～3.0℃/min；8. 降温速度：0.7～1.0℃/min； 9. 温度转换时间：≤15s（样品从高温区到低温区或从低温区到高温区）；10.温度恢复时间：≤15min；11.电源电压：AC380±10%V 50Hz； 制冷系统制冷系统及压缩机：为保证试验箱对降温速率和低温度的要求, 本试验箱的制冷系统采用二台德国COPELAND半封闭压缩机所组成的复叠式制冷系统或原装法国“泰康”全封闭压缩机组，该制冷系统具有匹配合理、可靠性高、使用维护方便等优点； 加热、加湿系统1. 加热器采用瓷架镍铬丝电加热器，此加热器热惰性小，寿命长。由仪表输出可 控脉冲占空比PID信号，通过固态继电器来控制，控制平稳、可靠；2. 蒸汽锅炉电加热加湿方法，铠装电加热管，PID控制方式，使用无触点周期脉冲调宽SSR（固态继电器）控制，设有水位控制装置，加热器防干烧装置； 控制系统1. 控制装置：主控制器采用进口德国SIEMENS公司产S7系列逻辑控制器作为中央处理器，配备数字I/O模块和模拟I/O模块，内部具有PID运算控制器功能，人机界面（HMI）采用进口彩色大屏幕（5.7英寸）液晶触摸显示屛，控制界面采用全中文显示，具备开机显示LOGO及简短、清晰的实验箱保养注意事项显示，可显示、设定试验参数、曲线、总运行时间、段总运行时间、加热器工作状态及时间等。控制程序的编制采用人机对话方式，界面友好，仅需设定温度就可实现制冷机的自动运行功能；2. 控制系统使用智能化控制软件系统，具备自动组合制冷、加热等子系统的工况，从而保证在整个温度范围内的高精度控制，同时达到节能、降耗的目的，完善的检测装置能自动进行详细的故障显示、报警，如当试验箱发生异常时，控制器用中文汉字显示故障状态。同时具备历史数据表趋势图及历史故障记录的储存功能；3. 温度测量：Pt100铂电阻温度传感器； 执行标准1. GB10589-2008；2. GB2423.1-2008；3. GB2423.2-2008；4. GJB150.3-86；5. GJB150.4-86；6. GJB150.5-86；7. 适用满足试验条件的其它标准； 产品规格两箱式三箱式型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)型号工作室尺寸D×W×H(mm)外形尺寸D×W×H(mm)WDCJ-50320×350×4501200×2500×1800WDCJ-50320×350×4501500×1600×2020WDCJ-100400×500×5001400×2500×1800WDCJ-100400×500×5001500×1700×2020WDCJ-150500×500×6001500×2600×1850WDCJ-150500×500×6001600×1700×2100WDCJ-225750×600×5001700×2650×1900WDCJ-225750×600×5002000×1800×2100WDCJ-250700×650×5501900×2700×1950WDCJ-250700×650×5502000×2000×2100WDCJ-500800×800×8002500×3200×2100WDCJ-500800×800×8002500×2500×2100WDCJ-0101000×1000×10003000×3500×2100WDCJ-0101000×1000×10003500×3500×2200WDCJ-0151500×1000×10004000×4200×2200WDCJ-0151500×1000×10004200×3800×3800

性能广泛应用于医疗器件消毒，工业线路板，多层线路板，IC，LCD，磁铁等产品之密封性能的检测。设定温度: +100 ℃ ～ +132 ℃(饱和蒸气温度)湿度范围: 100 % 饱和蒸气湿度使用压力: 0.5 Kg ～3.0 Kg / cm2 (内桶设计耐压 4 Kg / cm2)时间范围: 000 Hr ～ 999 Hr加压时间: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 约 45 分内测试条件: 温度121℃，100RH饱和蒸气，压力2.04Kg/c㎡，温度132℃，100RH饱和蒸气，压力3.00 Kg/c㎡结构试验箱尺寸: ∮30 cm x L50 cm，圆型试验箱全机外尺寸: 1000x 700 x 1000 mm (W * D * H)台式；1000x 700 x 1400 mm (W * D * H )落地式内桶材质: 不锈钢板材质 # SUS-3046 制外桶材质: 不锈钢或者钢板烤漆控制系统1、采用日制YOKOGAWA UT-150 微电脑控制饱和蒸气温度；2、时间控制器采 LED 显示器；3、采用指针显示压力表；4、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度；5、手动入水阀；6、预备真空功能（试验前），真空干燥功能（试验后）。机械结构1、圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计；2、圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品；3、精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续 400Hrs 运转；4、专利型packing设计使门与箱体更紧密结合，与传统挤压式完全不同，可延长packing寿命；5、临界点 LIMIT 方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示。其它附属配件1、测试置架1组2、蒸气挡片1片3、无污染清洁剂 2 包.4、OPTION选购配件:a.压力信号传输器，b.实验数据记录器供电系统系统电源波动不得大于±10电源:单相 220V 20A 50/60Hz环境&设施可容许使用工作环境温度5℃~30℃实验用水:纯水附配文件系统保固书、操作保养手册满足标准GB2423-2-1-89 、 GB2423-3-2-89 、 GB2423-3-93

☆用途 Application氙灯人工气候试验箱 旋转式氙灯老化 氙灯老化试验箱 氙灯管 氙弧灯老化箱 化试验箱 氙气灯管使用寿命是科研生产过程中节选配方、优化产品组成的重要手段，也是产品质量的一项重要内容。应用材料如：涂料、塑胶、铝塑板、油漆，以及汽车安全玻璃等产品标准要示做耐候性试验。 造成材料老化的主要因素是阳光和潮湿。耐候试验箱可以模拟由阳光、雨水和露水，被测料放置在一定温度下的光照和潮气交替的循环程序中进行测试，用数天或数周的时候即可重现户外数月乃至数年出现的危害。人工加速老化试验数据可以帮助选择新材料，改造现有材料，以及评价配方的变化是如何影响产品的耐久性的。☆氙灯人工气候试验箱 旋转式氙灯老化 氙灯老化试验箱 氙灯管 氙弧灯老化箱 化试验箱 氙气灯管使用寿命对材料的试验方法 1、黑标准温度或黑板温度：选择以下两种黑标准温度用作暴露试验时，参考：65℃±3℃或100℃±3℃ 注：较高是为特殊试验而设，它有可能便试样更加容易受热降解而影响试验结果。 以上温度并不一定是首选的试验温度，当有开方面协商一致时，也可以选择其他温度，但应在试验报告中说明，如果使用喷水，在无水周期内应保持温度恒定。如果温度计不能达到规定温度，应在试验报告中说明在无水期间所达到的最高温度。暴露装置即使以交替方式工作，黑标准温度计也就以连续方式进行测量。如果使用黑板温度计，应在试验报告中说明温度计的类型、安置方式和所选择的工作温度。 2、相对湿度：试验所用的相对湿度应由有关方面商定，所以试验箱内测得的相对湿度不一定等于度样表面邻近空气的相对湿度。 3、喷水周期：试验所用的喷水周期应由有关方面商定，但最好选用以下的喷水周期：每次喷水时间：18min±0.5min：两次喷水之间的无水时间：102min±0.5min 4、黑暗周期：试验方法1和3所规定的条件适用于连续光照的试验。黑暗周期可选用更复杂的循环周期，比如具有较高相对温度的黑暗周期，在该周期内提高试验箱温度并形成凝露。应在试验报告中说明黑暗周期循环试验的具体条件。☆执行与满足标准Standards implemented and met°美国标准 AATCC TM16 ASTM C1442°国家标准 GB/T16422.3 ☆氙灯人工气候试验箱 旋转式氙灯老化 氙灯老化试验箱 氙灯管 氙弧灯老化箱 化试验箱 氙气灯管使用寿命技术参数请参考以下AP-XD2水冷式产品型号AP-XD1(风冷式）AP-XD2（水冷式）温度范围RT+10℃~80℃RT+10℃~80℃湿度范围65~98%RH65~98%RH降雨时间0~9999分钟，可调0~9999分钟，可调降雨周期0~240分钟，间隔（断）可调0~240分钟，间隔（断）可调紫外波长290nm~800nm290nm~800nm辐照强度（290~800nm）550W/㎡（290~800nm）550W/㎡氙灯功率3KW风冷型，寿命2000H4.5KW水冷型，寿命2000H内箱尺寸（W×H×D）900×900×850mm950×950×850mm内胆材料SUS304镜面板高级不锈钢板制成SUS304镜面板高级不锈钢板制成外壳材料冷扎钢板喷塑或不锈钢冷扎钢板喷塑或不锈钢样品架平板支架试样旋转筐转速：≤3r±1/min试样灯管距离250mm有效暴晒面积2400c㎡375mm有效暴晒面积6500c㎡控制显示器触摸屏触摸屏观察窗没有滤光观察窗，气体排风口没有滤光观察窗，气体排风口黑析温度计开门、超温、过载、漏电、相序多种案例保护装置开门、超温、过载、漏电、相序多种案例保护装置内外过滤片国产美国进口氙灯人工气候试验箱 旋转式氙灯老化 氙灯老化试验箱 氙灯管 氙弧灯老化箱 化试验箱 氙气灯管的售后服务 用户的满意是我们服务的宗旨，完善的售后服务使您解除一切后顾之忧，我们坚信一个好的企业卖出去的不仅仅是一台好的产品，更重要的是良好的服务。东莞市爱佩试验设备有限公司负责对本公司产品提供以下售后服务： 1.技术培训：操作使用、日常维护保养、常见故障检测和排除 2.定期回访：设备巡检，排除故障隐患，传递最新消息 3.备品、备件专项储备支持 4.售后服务部提供维修服务的快速响应 5.专职维修人员确保及时、有效地排除故障

品牌：久滨型号：JB-JM8名称：气瓶双脉冲测试设备液压脉冲试验台一、产品概述：　　气瓶双脉冲测试设备液压脉冲试验台主要用于产品的压力疲劳试验。汽车软管转向管、刹车管、空调管、燃油管、冷却水管、散热软管、暖风软管、空气滤芯器软管、蜗轮、增压系统软管、工程液压软管、航空软管和管汇、其他硬管或接头、换热器、空调器、过滤器等的脉冲试验。二、技术参数：1、试验介质：液压油或乙二醇混合液2、试验压力：0-5Mpa（可以调节）3、压力控制精度：0.01Mpa（根据量程）4、脉冲频率：5~120次/分（可调）5、脉冲压力波形：基本方波（或梯形波），脉宽调节可以按照贵公司要求进行6、试验介质温度：室温~160℃（根据客户要求）7、试验次数打到100万以上（连续一次）以上，进行密封性能试验，不得出现泄漏或变形情况8、控制方式：计算机自动控制，伺服或比例技术9、环境温度：-30~250℃可调三、功能特点：◎所有承压零件都采用国际 zhī 名品的标准零件，无任何焊接连接，方便拆卸，安全系数高，寿命长、便于维护。◎技术先进，结构设计合理，外型美观大方的特点。◎可以计算机控制升压速率，实时显示压力曲线，试验完毕后可以打印试验报告。◎存储器有USB接口，可打印实验压力曲线。◎试验压力-时间曲线能够在屏幕上显示并能打印或存储在存储器内，计算机控制，试验时可以自由设定运行周期次数要求，当达到要求时可以自动停止试验◎可进行各种异常状况的处理，包括温度，压力，电等异常情况◎内部采用保温层，可以控制环境温度与液体温度◎计算机数据采集处理，打印输出环境温度、脉冲次数和脉冲压力波形

品牌：久滨型号：JB-JM8名称：热水器脉冲疲劳测试机一、产品概述：　　本产品主要用于测试空气能热水器、太阳能热水器、燃气热水器等各类热水器水箱内胆在一定压力范围下的进行压力交变、疲劳测试，从而测试水箱的寿命。二、主要特征；本试验机由4个主要部分组成：1、液压系统：循环泵、脉冲发生器。2、试验柜：主要用于安装样件，调压及系统压力指示。外壳烤漆处理，内胆采用不锈钢。3、温度控制系统:箱内温度控制系统，介质温度控制系统4、电器控制柜及计算机测试系统：启动按钮和仪表均安装在操纵台上，便于集中控制和监测情况，计算机系统采集试验压力波形、试验次数、脉冲频率、介质温度等参数且具备报表打印功能，并有故障通告功能三、产品参数：1、脉冲压力：0～40Mpa （可以调节）2、爆破压力：0～500Mpa(可以调节)3、脉冲频率：0～5Hz可调4、循环次数：30万次5、试验介质：水，油或乙二醇混合液6、试验波形：方波、梯形波、三角波、正弦波或按照客户要求选配7、测试件数：可以客户要求定制8、水源标准：无可见颗粒杂质能饮用水标准9、气源标准：气压0.6MPa以上，气量0.1m³ /min以上10、电源功率：380V 6KW四、适用标准:ISO 6802-1991 用金属丝增强的橡胶和塑料软管及软管总成SAEJ157-100R 橡胶或塑料软管及软管检测SAEJ2044液压管件疲劳性BS EN ISO 6803-2008橡胶或塑料软管及软管组件.无挠性液压脉冲试验.GB/ T 5568-2006 橡胶或塑料软管及软管组合件 无挠曲液压脉冲试验。GB7939-87 液压软管总成试验方法。GB/ T 12722-2008 橡胶和塑料软管组合件 液压脉冲曲挠试验（半Ω试验）。GB7939-2008-T 液压软管总成 试验方法。GB 制动软管 试验方法。GB/ T 5563-1994 橡胶、塑料软管及软管组合件液压试验方法。GB/ T10544-2003钢丝缠绕增强外覆橡胶的液压橡胶软管和软管组合件。GB/ T 流体输送用塑料管材液压瞬时爆破和耐压试验方法。

一、产品概述：　　我公司设计制造的脉冲试验台是吸取国外先进经验，并结合国内相应行业的实际需求所开发的一种高性能试验台，该设备主要部件采用进口液压元件，结合美国NI公司的(LABVIEW软件)测控软件，使得整台设备操作简单，性能稳定，可以进行各类压力脉冲测试。 　　二、适用范围：　　汽车转向管、刹车管、空调管、燃油管、冷却水管、散热软管、暖风软管、空气滤芯器软管、蜗轮、增压系统软管、工程液压软管、航空软管和管汇、硬管或接头、换热器、空调器、 过滤器等。　　参考执行标准：　　GB/T7939 GB/T5568 GB/T3683 GB/T12722 GB/T14904 GB/T12722 GB/T20461 GB16897 GB/T15908 GB/T5568 GB/T10544 GB/　　T7127.1-2000 ISO6803 ISO6802 ISO11425 ISO6772 TL82415 TL52361 ES 6G91-3A719-AA SAE J1405 SAE J343　　三、主要技术参数：　　最高脉冲压力：80MPa,压力显示精确到0.1MPa-　　脉冲频率：0.5-1.25Hz　　振动频率：10-50Hz　　曲挠频率：0.5-1.0Hz　　试验介质：液压油或制动液　　油温：环境温～150±3℃　　循环次数：1000万次　　试样件数：2- 8件(取决于试件的总容积及物理特性)　　试验波形:方波、梯形波、三角波、正弦波　　安装角度：90度或180度　　接口间距：90mm　　控制方式：工控机　　动力系统冷却方式：水冷　　四、主要功能及特点:　　由计算机与美国NI采集卡(LABVIEW软件)控制系统组成，采电液伺服控制，脉冲压力在调节范围内任意可调，控制精确高。　　多路多工位，可同时进行多路试验而互不影响，被测工件在脉冲试验过程中爆破时，不影响其它工件继续测试，实现无人值守，实验数据及图形自动记录并保存在计算机中。　　采用计算机进行数据采集、控制与管理。脉冲压力、环境温度、介质温度、试验次数、波形、均可通过人机界而设定，并可打印输出。　　采用蓄能器补压，提高加压系统的可靠性、稳定性和使用寿命，同时保证了压力精度。　　试验开始时自动排除试样内的气体(针对胶管测试)，达到试验脉冲次数，自动停机，并具有拆卸被测工件后的泄露介质自动回收功能。　　观察窗内层为防护网，外层为有机玻璃，最大限度保障人身安全。内置照明，便于光线差时，装拆工件及观测内部测试情况。　　液压油冷却方式采用油箱内液压油自循环冷却加水冷却器冷却,油箱的有效容积为泵站油泵流量的10倍，故自身散热良好 为了电机泵组能够长时间工作，在油箱箱体外侧装有水冷散热器，对油箱进行散热。　　由控制柜与试件箱两部分组成。设备布局合理，水电分离，全部管路采用不锈钢管连接。　　具有不同的工装夹具分别适合胶管和胶管总成的连接 　　可带屈挠脉冲试验和无屈挠脉冲试验。 *(任选)

一、产品概述：　　我公司设计制造的脉冲试验台，是吸取国外先进经验，并结合国内相应行业的实际需求所开发的一种高性能试验台，该设备主要部件采用进口液压元件，结合美国NI公司的(LABVIEW软件)测控软件，使得整台设备操作简单，性能稳定，可以进行各类压力脉冲测试。　　二、适用范围：　　汽车转向管、刹车管、空调管、燃油管、冷却水管、散热软管、暖风软管、空气滤芯器软管、蜗轮、增压系统软管、工程液压软管、航空软管和管汇、硬管或接头、换热器、空调器、 过滤器等。　　参考执行标准：　　GB/T7939 GB/T5568 GB/T3683 GB/T12722 GB/T14904 GB/T12722 GB/T20461 GB16897 GB/T15908 GB/T5568 GB/T10544 GB/　　T7127.1-2000 ISO6803 ISO6802 ISO11425 ISO6772 TL82415 TL52361 ES 6G91-3A719-AA SAE J1405 SAE J343　　三、主要技术参数：　　最高脉冲压力：80MPa,压力显示精确到0.1MPa-　　脉冲频率：0.5-1.25Hz　　振动频率：10-50Hz　　曲挠频率：0.5-1.0Hz　　试验介质：液压油或制动液　　油温：环境温～150±3℃　　循环次数：1000万次　　试样件数：2- 8件(取决于试件的总容积及物理特性)　　试验波形:方波、梯形波、三角波、正弦波　　安装角度：90度或180度　　接口间距：90mm　　控制方式：工控机　　动力系统冷却方式：水冷　　四、主要功能及特点:　　由计算机与美国NI采集卡(LABVIEW软件)控制系统组成，采电液伺服控制，脉冲压力在调节范围内任意可调，控制精确高。　　多路多工位，可同时进行多路试验而互不影响，被测工件在脉冲试验过程中爆破时，不影响其它工件继续测试，实现无人值守，实验数据及图形自动记录并保存在计算机中。　　采用计算机进行数据采集、控制与管理。脉冲压力、环境温度、介质温度、试验次数、波形、均可通过人机界而设定，并可打印输出。　　采用蓄能器补压，提高加压系统的可靠性、稳定性和使用寿命，同时保证了压力精度。　　试验开始时自动排除试样内的气体(针对胶管测试)，达到试验脉冲次数，自动停机，并具有拆卸被测工件后的泄露介质自动回收功能。　　观察窗内层为防护网，外层为有机玻璃，最大限度保障人身安全。内置照明，便于光线差时，装拆工件及观测内部测试情况。　　液压油冷却方式采用油箱内液压油自循环冷却加水冷却器冷却,油箱的有效容积为泵站油泵流量的10倍，故自身散热良好 为了电机泵组能够长时间工作，在油箱箱体外侧装有水冷散热器，对油箱进行散热。　　由控制柜与试件箱两部分组成。设备布局合理，水电分离，全部管路采用不锈钢管连接。　　具有不同的工装夹具分别适合胶管和胶管总成的连接 　　可带屈挠脉冲试验和无屈挠脉冲试验。 *(任选)

荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64是一款集数据采集和分析为一身的软件，它被用来控制，，及升级系统这三种显微共聚焦系统，和其他设备。该软件需要在位操作系统下工作，拥有简单易懂的用户操作界面。结构清晰，功能强大，使用户可以更高效的获取数据分析结果，并可以通过模式更加直观的管理数据。最后，通过基于语言的用户自定义编译脚本功能，用户可以任意改变分析和测量的具体步骤。特点：功能强大的64位数据采集和分析软件单点，2D，和3D的TTTR数据采集，包含有可在线预览FLIM，FCS，time trace和TCSPC数据的功能FLIM、快速FLIM和FLIM-FRETFCS、FCCS、FLCS、PIE-FCS，符合相关，总相关分析FRET、PIE-FRET荧光随时间的分析及单分子荧光爆发现象分析各向异性分析TCSPC寿命拟合，包括先进的误差分析基于"STUPSLANG"语言的用户自定义编译脚本功能应用：荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64可以被用于时间分辨共聚焦数据采集实验，如：时间分辨荧光荧光寿命成像(FLIM)磷光寿命成像(PLIM)荧光相关光谱(FCS)荧光寿命相关光谱(FLCS)荧光共振能量转移(FRET)超分辨显微(STED)双聚焦荧光相关光谱(2fFCS)脉冲交错激发(PIE)单分子探测/光谱学Pattern Matching分析时间分辨磷光(TRPL)TRPL成像镧化物上转换反聚束参数：数据采集可联用TCSPC模块HydraHarp 400, PicoHarp 300, TimeHarp 260, MultiHarp 150，TimeHarp 200 (仅数据导入)可联用荧光系统MicroTime 200 MicroTime 100激光扫描显微系统 (LSM)，支持Nikon, Olympus或 Zeiss品牌 单独的 TCSPC 模块 通过TCP/IP接口远程控制 (支持ZEN和 NIS Elements)探测通道数量1 到 8 detectors采集模式单点采集，多点采集，2D成像(XY，XZ，YZ)，3D成像(XYZ)，定时成像(XYT)，用于调节系统时使用的示波器模式采集预览FLIM, FCS, FLCS 和FCCS, Time Trace, TCSPC柱状图 最多同时在线显示4种数据自动化测量Z轴逐层成像, 定时成像, 图片缝合, 多点测量硬件控制PDL 828 "Sepia II" 激光驱动器 E-710, E-725, E-727和宽范围扫描仪控制器(Physik Instrumente)MicroTime 200的快门系统 MicroTime 200 中宽视场荧光相机IDS uEye USB3数据分析总体特点时间门控 BinningTCSPC binning TCSPC拟合(1到5多指数衰减拟合)最小平方拟合, 最大可能性估算拟合, IRF解卷积拟合，尾部拟合，自举误差分析TCSPC曲线的全局化分析图形化交互界面成像FLIM, FLIM-FRET, 荧光强度FRET, 各向异性成像, (时间门控) 荧光强度成像Pattern Matching, 快速Pattern Matching 可调寿命颜色分配及对比度 特定区域分析 (ROI)用于相位分析的 Bin输出（通过荧光动力学实验室开发的第三方软件Globals）相关分析FCS, FCCS, FLCS, PIE–FCS STED-FCS, STED-FLCS FCS 拟合 (拟合模型: 扩散常数, 三重态, 构象分析, 质子化, 高斯PSF, 用户自定义, 自举误差分析) 全局分析 FCS校准 反聚束/符合相关，总相关FRETPIE (脉冲交错激发) 渗滤校正 FLIM-FRETSTEDSTED, 门控STED, STED-FLIM, 交错脉冲 STED及共聚焦, 分辨率估计荧光强度Trace分子闪烁(On/Off 柱状图), 计数率柱状图 (PCH), 爆发量柱状图, 强度门控制TCSPC, 荧光寿命 Traces, 寿命柱状图, BIFL稳态各向异性包含物镜校正系数导出数据格式BMP, ASCII, TIFF, BIN用户自定义脚本译 (STUPSLANG)用户自定分析步骤, 拟合功能, 多条件筛选 整合控制外部其他器件