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电化学原子力显微镜

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电化学原子力显微镜相关的仪器

  • Dimension FastScan世界上扫描速度最快的原子力显微镜扫描速度的全新诠释,拥有最高的扫描分辨率,最优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨力,不增加设备复杂性,不影响仪器操作成本的前提下,帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统,即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节 和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合,大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率 Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量,保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。 Dimension Fastscan是世界上第一台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM,真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升,Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。 ■采用最低热漂移的针尖扫描AFM技术,提高了系统的固有振动频率。■应用新的NanoScope控制器,为机器提供了更高的带宽。■开发了小悬臂的生产工艺,在空气中共振频率为1.3MHz,在液体中共振频率为250KHz到500KHz。■采用了低噪音的机械和电子的主要部件,结合高共振频率X-Y-Z扫描管,在技术上获得了重大突破。■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度,结合高精度的闭环控制,在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高,即使使用更高的扫描速度100Hz,图像分辨率同样不会降低。■在ScanAsyst模式中,使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片,即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向,探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s,同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s, X-Y方向的跟踪误差1%,真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO,利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针,在不降低系统稳定性的前提下,得到最好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合,消除了样品尺寸的限制,同时维持了最低的噪音和热漂移水平。 AFM终极性能 Dimension FastScan AFM 优秀的分辨率,与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合,提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业领先的针尖扫描技术的最新革新,配置了温度补偿位置传感器,展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平,这个惊人的性能出现在大样品台,34微米和90微米的扫描范围的系统上,尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度,而不损坏图像质量,实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合,即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。 杰出的生产力 使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平,展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程,使其操作过程比以往最先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中,同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果,而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面—从完全开放式针尖样品空间,到预存软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率,全新的直观用户界面,世界闻名的Dimension AFM平台,三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能,保证您在最短时间内得到测试结果并发表出版。 世界上最灵活的平台 Dimension FastScan 展现出的无与伦比的性能,坚固性和灵活度,使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台,大型多元样品支架和许多简单易用的性能,将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前,为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升,以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。 无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要 出众的性能满足各种应用需求 Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据,获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术,模式和模式增强功能,Dimension FastScan以其独特的性能优势,帮助您完成更高水平的纳米研究。 材料成像 FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式,在使用快速扫描扫描管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术,大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。 纳米操纵 可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应,大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位,适用于任何纳米操作系统。 加热和冷却 在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。 电学表征 使用专利的模式,可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA&trade 和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法,同时还可以与样品上的力学属性相联系。 利用最短时间获得高质量可发表数据结果 无论是作为科研交流还是发表科学文章,Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。 样品筛选 利用AFM系统获取大量样品信,进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制,及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时,高精准度成为必备条件。在获取药物配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶药物成分进行筛选,这可能成为FastScan的一个新用途。 动态应用范例 另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下,随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中,对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail:
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  • 美国Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力显微功能,具有强大的分析能力,使得AFM不仅仅是一个普通的成像工具,还可以进行材料纳米级尺度的成分分析,热性能和机械性能的分析。AFM+的主要特点:简洁的安装与操作 □ AFM+为最便利的使用而设计制造。探针预装在金属圆片上,确保探针位置的准确性和装针的便捷□ 仪器集几十年AFM设计大师的经验之大成,即使初次使用也能快速获取结果完整的AFM工作模式 □ 包含所有常规成像模式:接触、轻敲、相位、侧向力、力调制、力曲线□ 独有高分辨率低噪音的闭环成像□ 基于DI传承的多功能AFM,实现纳米热学,力学,电学和磁学测量:l 纳米热分析模块(nanoTA, SThM)l 洛仑兹接触共振模块(LCR)l 导电原子力显微镜镜(CAFM)l 开尔文电势显微镜(KPFM)l 磁力显微镜(MFM)l 静电力显微镜(EFM)独有的可升级功能□ 热学性能:独有的热探针技术,提供纳米级红外分析□ 机械性能:洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析□ 化学性能:可升级具有纳米红外光谱技术,实现局部化学组分分析□ 近场成像:可升级具有散射式近场光学成像和光谱采集功能
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  • 多功能原子力显微镜,电化学测试的绝佳平台? 多功能原子力显微镜平台,满足纳米级显微镜需求 原子力显微镜(AFM)有纳米级分辨率成像以及电,磁,热和机器性能测量的能力。 纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描离子电导显微镜(SICM). 倒置光学显微镜(IOM)便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。? 通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台,Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明,不透明,或软或硬的样品。? 电化学测试的绝佳平台电池,燃料电池,传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域,然而许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计,为快速操作提供便利,从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括: 多功能易用电化学池 惰性气体和湿度的环境控制选项 双恒电位仪的兼容性? 研究人员可利用Park NX12平台实现各种电化学应用: 扫描电化学显微镜(SECM) 扫描电化学池显微镜(SECCM) 电化学原子力显微镜(EC-AFM)和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)? 考虑建立多用户设备Park NX12完全重新构建,以适应多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性,难以满足该设备中用户的多重需求,很难合理控制设备成本。然而,Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像,液体扫描探针显微镜,光学和纳米光学成像,使其成为最灵活的原子力显微镜之一。? 模块化设计Park NX12是专门针对专业电化学研究人员需求量身定制的原子力显微镜平台。它基于化学和电化学性质,气体和液体中介质的特性,为扫描探针显微镜提供了一个通用的解决方案,可用于广泛的不透明和透明材料。 Park NX12基于其广泛的可视光投置到扫描探针的扫描探针显微镜技术的纳米管,易用性强。 Park NX12准确度无与伦比,是多用户设备和职业研究人员的理想平台。? 多功能应用Park NX12功能广泛,包括液体中的PinPoint ™ 和纳米力学,倒置光学显微镜定位透明样品,离子电导显微镜超软样品成像,以及改善透明样品光学性能的可视性。? 综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整套餐,使其成为广泛应用中的理想选择.? 模块化NX12模块化设计,安装简单,兼容性强,可以满足您的多种实验需求。? 适合早期职业研究人员的有竞争力的价格和灵活性早期职业研究人员通常没有足够的预算购买价格高昂的原子力显微镜。Park NX12不仅是经济实惠的入门之选,同时还提供了可随着职业发展而不断壮大的模块化平台。它不同于其他价格相近的原子力显微镜,Park NX12配有先进的研究级精度和功能,可为在空气和液体中的透明和不透明材料提供其表面形态纳米级分辨率。这使得新的化学,材料科学或生物化学实验室的最佳投资回报成为可能。? Park SmartScan™ 自动模式下的单击成像Park NX12配备了我们的SmartScan™ 操作系统,使其成为市场上最易使用的原子力显微镜之一。其界面直观给力,即使是未经培训的用户也可以无需监控,快速扫描样品。这使得高级研究人员能够将他们的经验专注在解决更大的问题和开发更好的方案。? 易使用性共享实验室的用户通常背景各异,经验水平各异。NX12为每个用户提供简单的点击界面和自动化SmartScan™ 模式。? 功能高级,价格亲民NX12的功能和精度通常仅在较高价格的方案中可见,包括:l 电动对焦平台完全集成的原子力显微镜光学器件伴随针尖减少监管的需要。l 智能扫描使自动化的多重高质量扫描变得简单。Park的创新SmartScan™ 自动化功能允许用户点击按钮进行扫描并创建自动化脚本。NX12同样为离子电导显微镜提供SmartScan™ 。l 倒置光学显微镜(IOM)NX12的倒置光学显微镜使用户能够轻松使用纳米管技术测量透明样品。l PinPoint™ 化学品(扫描电化学显微镜)NX12的PinPoint™ 模式使用户通过高分辨率原子力显微镜针尖来操作扫描电化学显微镜,并且具有极高的精确度。l 双恒电器兼容性允许扫描隧道显微镜,原子力显微镜和离子电导显微镜之间的简单转换。l 多功能湿度和温度控制选项Park NX12能在测量之前和测量过程中控制湿度和温度。l 灯光可轻易投射到驱动聚焦平台该系统在测量期间可以从各个角度,顶部,侧面以及底部光纤接入探针。这种可以大范围投置灯光的方式与设备模块设计相结合,还可添加光学或纳米学附件。l 综合力谱方案Park NX12为液体和空气中的纳米机械表征提供完整封装,使其成为广泛应用的理想选择。? 规格l 扫描器Z扫描器AFM 扫描头柔性引导高推动力扫描器扫描范围:15μm(可选 30μm)SICM 扫描头多层压电叠层驱动器驱动的柔性引导结构扫描范围:15μm(可选 30μm)XY 扫描器闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围:100μm ×100μml 驱动台XY 驱动台行程范围: 50 mm x 50 mm Z 驱动台行程范围: 25 mm 聚焦驱动台行程范围: 15 mml 影像样品表面和悬臂的直观同轴影像视野: 840 μm × 630 μm (10倍物镜)摄像头:5 M Pixel (默认), 1M Pixel (可选)物镜10倍 (NA. 0.23) 超长工作距离镜头20倍 (NA. 0.35) 高分辨率,长工作距离镜头l 电子信号处理ADC: 18 通道 24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 扫描器位置传感器 DAC: 17 通道 20-bit DAC的 X, Y 和 Z 扫描器定位集成功能3通道数字锁相放大器弹性系数校准(热方法) 数据Q 控制l 选项/模式标准成像:真正的非接触模式, 接触模式, 侧向摩擦力显微术(LFM), 相位成像模式, 轻敲模式, Pinpoint™ 模式:Pinpoint成像化学性能:扫描电化学池显微镜(SECCM), 扫描电化学显微镜(SECM), 电化学原子力显微镜(EC-AFM)和电化学扫描隧道显微镜(EC-STM), 功能化探针的化学力显微镜介电/压电性能:静电力显微镜, 动态接触式静电力显微镜(EFM-DC), 压电力显微镜 (PFM), 高电压PFM力测量:力-距离(F-D)光谱, 力谱成像磁性能:磁力显微镜(MFM), 可调外加磁场MFM热性能:扫描热显微镜(SThM)电性能:导电AFM(CP-AFM), Pinpoint™ 导电AFM, I-V谱线, 扫描开尔文探针显微镜(SKPM/KPM), 高电压SKPM, QuickStep™ 扫描电容显微镜(SCM), 扫描电阻显微镜(SSRM), 扫描隧道显微镜(STM), 扫描隧道光谱(STS), 光电流测绘(PCM), Current-distance(I/d) Spectroscopy (with SICM)机械性能: Pinpoint™ 纳米力学模式, 力调制显微镜(FMM), 纳米压痕, 纳米刻蚀, 高电压纳米刻蚀, 纳米操纵l 软件Park SmartScan™ AFM系统控制和数据采集的专用软件自动模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制XEIAFM数据分析软件独立设计-可独立安装和分析数据能够生成采集数据的3D绘制l 配件控温台、手套箱、磁场发生器、液态选项、隔音罩
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  • 极高性能电化学原子力显微镜(EC-AFM)实时研究电化学反应—Cypher ES原子力显微镜如今支持电化学功能 牛津仪器Asylum Research Cypher ES电化学单元是用原子力显微镜原位研究电化学过程的优质解决方案。受益于简单的模块化设计,它具有强大的多功能性,能够兼容广泛的材料类别。尤为突出的是,它基于一款有着市场上极高分辨率、出众环境控制能力、超高扫描速度、简易操作性的Cypher ES原子力显微镜。 适用于电化学原子力显微镜功能的牛津仪器Asylum Research 电化学单元:牛津仪器Asylum Research全密封电化学单元套件包含独立设计的探针固定器,用于在流体中成像的液体杯,电化学样品固定器和标准电极。适用于任意一款稳压器,稳压器的选择取决于电化学应用适用于大多数常用溶剂,电解质和电极材料易于清洗和组装,即便带着手套操作可选具有局部加热和制冷功能的样品台来观察电化学热力学可选手套箱来实现最严格的环境控制,而又不会降低系统的性能电化学单元的应用电沉积 能量存储 腐蚀表征偏置电压下的储能材料,例如电池极板,薄膜和溶液-电极界面金属的电沉积和溶出腐蚀动力学研究监测附着电极的生物催化剂和微生物随着时间的形貌变化,以及其他生物物理研究纳米粒子的成核以及生长
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  • EC AFM电化学显微镜 400-860-5168转1876
    EC AFM是在原子力显微镜样品台上安装电化学池,可以在纳米尺度进行电化学性能的研究。在电化学发生的同时,进行样品表面的形貌测试。1.安装电化学池非常便捷。2.开放的设计,允许用户进行改变。3.电化学池的设计,可以用于很宽范围样品的测试,包括不同样品的厚度,形状。可以配加热台和冷却台。4.可以用绝缘的介质防止电解液被污染。5.样品跟压电陶瓷扫描管分离,避免扫描器损坏。6.很宽的电极类型。 7.高分辨率(可以达到原子级别)。
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  • Park NX12 SECCM可提供多功能原子力显微镜平台满足纳米级测量的需求- 原子力显微镜(AFM)有纳米级分辨率成像以及电,磁,热和机器性能测量的能力。- 纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描电化学池显微镜和扫描离子电导电显微镜。- 倒置光学显微镜(IOM)便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台,Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明,不透明,或软或硬的样品。电化学测试的绝佳平台电池,燃料电池,传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域,然后许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计,为快速操作提供便利,从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括:多功能易用电化学池惰性气体和湿度的环境控制选项双恒电位仪的兼容性研究人员可利用NX12平台实现各种电化学应用:扫描电化学显微镜(SECM)扫描电化学池显微镜(SECCM)电化学原子力显微镜(EC-AFM)和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)多用户设备Park NX12完全重新构建,以适应多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性,难以满足该设备中用户的多重需求,很难合理控制设备成本。然而,Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像,液体扫描探针显微镜,光学和纳米光学成像,使其成为最灵活的原子力显微镜之一。多功能应用Park NX12功能广泛,包括液体中的PinPoint &trade 和纳米力学,倒置光学显微镜定位透明样品,离子电导显微镜超软样品成像,以及改善透明样品光学性能的可视性。综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整解决方案,使其成为广泛应用中的理想选择。模块化NX12模块化设计不仅安装简单且兼容性强,可以满足研究人员的各种实验需求。Park NX12可用于任何一个项目NX系列的众多扫描模式和模块化设计使它可轻松地适应任何一个扫描探针显微镜的需求。- 标准成像非接触模式成像接触模式成像侧向力显微镜(LFM)相位成像轻敲模式成像-化学性能扫描电化学池显微镜(SECCM)扫描电化学显微镜 (SECM)电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)功能化探针的化学力显微镜扫描离子电导显微镜(SICM)-热性能扫描热感显微镜(SThM)
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  • Park NX12原子力显微镜用于分析化学的全能型原子力显微镜多功能原子力显微镜平台,满足纳米级测量的需求原子力显微镜(AFM)有纳米级分辨率成像以及电,磁,热和机器性能测量的能力。纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描离子电导显微镜(SICM).倒置光学显微镜(IOM)便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。—————————————————————————————————————————通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台,Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明,不透明,或软或硬的样品。出众的电化测试平台电池,燃料电池,传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域,然后许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计,为快速操作提供便利,从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括:多功能易用电化学池惰性气体和湿度的环境控制选项双恒电位仪的兼容性研究人员可利用Park NX12平台实现各种电化学应用:扫描电化学显微镜(SECM)扫描电化学池显微镜(SECCM)电化学原子力显微镜(EC-AFM)和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)—————————————————————————————————————————考虑建立多用户设备Park NX12力求重新构建,以适应许多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性,难以满足该设备中用户的多重需求,很难合理控制设备成本。然而,Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像,液体扫描探针显微镜,光学和纳米光学成像,使其成为灵活的原子力显微镜之一。模块化设计Park NX12是专门针对专业电化学研究人员需求量身定制的原子力显微镜平台。它基于化学和电化学性质,气体和液体中介质的特性,为扫描探针显微镜提供了一个通用的解决方案,可用于广泛的不透明和透明材料。Park NX12基于其广泛的可视光投置到扫描探针的扫描探针显微镜技术的纳米管,易用性强。Park NX12具有高精准度,是多用户设备和职业研究人员的理想平台。多功能应用Park NX12功能广泛,包括液体中的PinPoint &trade 和纳米力学,倒置光学显微镜定位透明样品,离子电导显微镜软样品成像,以及改善透明样品光学性能的可视性。—————————————————————————————————————————综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整套餐,使其成为广泛应用中的理想选择。模块化NX12模块化设计,安装简单,兼容性强,可以满足您的多种实验需求。适合早期职业研究人员的有竞争力的价格和灵活性早期职业研究人员通常没有足够的预算购买价格高昂的原子力显微镜。Park NX12不仅是经济实惠的入门之选,同时还提供了可随着职业发展而不断壮大的模块化平台。它不同于其他价格相近的原子力显微镜,Park NX12配有先进的研究级精度和功能,可为在空气和液体中的透明和不透明材料提供其表面形态纳米级分辨率。这使得新的化学,材料科学或生物化学实验室的理想投资回报成为可能。—————————————————————————————————————————Park SmartScan&trade 自动模式下的单击成像Park NX12配备了我们的SmartScan&trade 操作系统,使其成为市场上高速易使用的原子力显微镜之一。其界面直观给力,即使是未经培训的用户也可以无需监控,快速扫描样品。这使得专业研究人员能够将他们的经验专注在解决更大的问题和开发更好的方案。易使用性共享实验室的用户通常背景各异,经验水平各异。NX12为每个用户提供简单的点击界面和自动化SmartScan&trade 模式。打开原子力显微镜系统后,具体操作如下1. 点击 “设置”系统出现一个小窗口,通过动画演示指导您如何仪器设置和放置待成像的样品。一般情况下,这一步仅需几分钟。2. 点击 “定位”系统自动对悬臂进行频率扫描,让 Z 轴扫描仪向样品靠近,并自动对焦样品,使用户看到成像目标区域后进行操作,移动到目标区域。3. 点击 “成像”系统设置实现优化设置所必要的参数,然后启用悬臂,开始扫描样品。持续扫描,直至获得完整图像。结束悬臂将从样本上移开,准备进行下一次样品成像操作。—————————————————————————————————————————Park NX12 技术参数扫描器Z 扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围 : 15 µ m (可选 30 µ m)高度信号噪声等级: 30 pm0.5 kHz bandwidth, rms (typical)XY 扫描器闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围 : 100 µ m × 100 µ m驱动台Z 位移台行程范围 : 25 mm (Motorized)聚焦样品台行程范围 : 15 mm (Motorized)XY位移台行程范围 : 10 mm x 10 mm (Motorized)样品架样品尺寸 : 开放空间 up to 50 mm x 50 mm, 厚度 up to 20 mm (建议使用 SPM 模式的样品尺寸小于 40 x 40 mm)样品重量 : 500 g光学10倍 (0.23 N.A.)超长工作距离镜头 (1µ m分辨率)样品表面和悬臂的直观同轴影像视野 : 840 × 630 µ m (带10倍物镜)CCD : 500万像素。120万像素 (可选)软件SmartScan&trade AFM系统控制和数据采集的专用软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制XEIAFM数据分析软件电子集成功能4通道数字锁相放大器弹性系数校准(热方法,可选)数据Q控制AFM 模式(*可选项)标准成像真正非接触式原子力显微镜PinPoint&trade 原子力显微镜接触式原子力显微镜横向力显微镜 (LFM)相位成像轻敲式原子力显微镜力测量力-距离(F/d)光谱力谱成像 介电/压电性能*静电力显微镜 (EFM)动态接触式静电力显微镜 (EFM-DC)压电力显微镜 (PFM)高压压电力显微镜机械性能力调制显微镜 (FMM)纳米压痕*纳米刻蚀*高压纳米刻蚀*纳米操纵*磁学特性*磁力显微镜 (MFM)可调制磁力显微镜电性能导电原子力显微镜 (C-AFM)*IV 谱线*扫描开尔文探针显微镜 (KPFM)扫描电容显微镜 (SCM)*扫描电阻显微镜 (SSRM)*扫描隧道显微镜 (STM)*光电流测绘 (PCM)*化学性能*功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜 (EC-AFM)原子力显微镜选项电化学电池电化学电池通用液体电池的电化学工具包电化学选项恒电位仪双恒电位仪 温度控制温控台 1 -25 °C to +170 °C温控台 2 Ambient to +250 °C温控台 3 Ambient to +600 °C液下探针柄专为在一般液体环境中成像而设计对大多数包括酸在内的缓冲溶液具有抗腐蚀性可在液体中进行接触式和非接触式原子力显微镜成像隔音罩独立型 AE 204Z 扫描头15 μm Z Scanner AFM head30 μm Z Scanner AFM head15 μm Z Scanner SICM module30 μm Z Scanner SICM module环境控制选项手套箱活细胞室液体池通用液体池有液体/气体灌注的开放式或封闭式液体池 温度控制范围: 0 °C to +110 °C (in air), 4 °C to +70 °C (with liquid)电化学池开放式液体池磁场发生器施加平行于样品表面的外部磁场可调磁场范围 : -300 ~ 300 gauss由纯铁芯和两个电磁线圈组成高级模式的入门套件易用于包含专用探针和样品的高级模式
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  • 多功能原子力显微镜 400-860-5168转1965
    用于研发的灵活与多功能的原子力显微镜仪器简介:FlexAFM原子力显微镜是Nanosurf公司新研发的在大气环境和液体环境下都可以进行测试,并且可与倒置光学显微镜和温度样品台联用。可以满足绝大多数研究的需要。瑞士Nanosurf公司,全球知名的专业研发扫描探针显微镜制造商和技术服务供应商,在扫描探针显微镜领域有超过15年的研发经验,一直致力于新型扫描探针显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持,同时还提供纳米技术的OEM 客户定制,外包等业务。技术参数:1,FLEXAFM原子力显微镜测量模式:接触式原子力显微镜(大气和液态环境),真正非接触式原子力显微镜(大气和液态环境),横向力/摩擦力显微镜(LFM),导电原子力显微镜,磁力显微镜(MFM),开尔文探针(Kelvin Probe),扫描热原子力显微镜(SThM),电容和静电力显微镜(EFM),高级的纳米光刻和纳米操作能力,音叉原子力显微镜,三维扫描成像。2,扫描范围:100 um;10 um3,Z方向范围:10um;3 um4,XY方向驱动分辨率:0.152 nm5,Z方向驱动分辨率:0.046 nm6,最小Z方向测量噪音水平:0.15nm7,样品尺寸:直径100mm主要特点:1,FlexAFM无论是在大气环境下还是在液体环境下都可以进行测试,操作和测试的方便程度是完全一样,没有什么区别。2,灵活弯曲结构的扫描头设计,可以引用于平的或粗糙的样品表面。XY-扫描通过电磁驱动,XY平面的运动是完全线性的 。Z方向的运动是通过压电陶瓷来驱动,Z方向的运动速度很快。3,激光光束进入液体时会发生一定偏移,通常实验时需要耐心和复杂的调整。而FlexAFM 使用了专利SureAlign&trade 的激光光学系统,无论是在大气下还是在液体中根本不需要做任何调整。所以FlexAFM 的激光信号永远处于最佳状态。4,两个方向的视窗,非常方便观察和针尖逼近。并且由于特别的设计,使得无论在大气环境还是液体环境得到同样质量的视像。5,FlexAFM 使用"Liquid Ready" easyScan 2控制器, 可以扩展STM 等技术。为了材料研发上的成功,科学家们依赖专业的工具来快速地提供需要的信息,不管是否是手头的任务. 通过开发关键技术与设计, Nanosurf使得Flex-Axiom成为一款迄今为止强大多功能而且灵活的AFM, 非常方便地进行各种各样材料研发方面的应用. 配合功能强大的C3000控制器, Flex-Axiom还可以进行更多复杂的材料表征应用. 几百个研究用户,多方面应用实例Flex-Axiom是您可信赖的工具,不管是在表面形貌还是计量成像上,不管在大气中还是液体环境中. 当然Flex-Axiom不仅仅可以用于表面形貌测量, 比如还可以进行高级纳米机械性能、电学或者磁学性能表征. 该系统更能有效地用于样品的微纳米操纵功能. Topography, KPFM, and MFM images of the same area of a stainless steel sample 精确而优越的性能方便您研发上的需求Flex-Axiom使用特殊的线性电磁平板扫描器用于XY移动. 该扫描器在全范围内的平均线性度误差小于0.1%, 属于AFM市场上的顶配. Z轴由压电驱动, 带有位置传感器可以实现闭环操作. 高敏感的悬臂梁探测系统可以测量到MHz测量范围. Flex-Axiom的测量头配置的是全功能的, 带有数字反馈与两个双通道锁放的最新24位C3000控制器.Imaging of single and multiple pyrene nanosheets and height analysis with sub-nanometer accuracy. Data courtesy: Mykhailo Vybornyi, University of Berne, Switzerland 模块化设计: 让您今天的预算物有所值,让您未来有更多机会增加配置或需求Flex-Axiom带有模块化的样品台设计与各种探针底座类型, 可以满足您当前与今后的需求. 基于C3000控制器, Flex-Axiom可配置14种AFM操作功能, 甚至更多可扩展功能, 可以进行更多材料开发上面的高级测量与实验研究. ECS 204电化学样品台, 举例来说, 可以进行样品的电化学与以及样品周围的环境控制, 这样就可以开发更多新的应用. 跟一些我们的高级研发用户一起, 用于大范围纳米刻蚀、手套箱内操作、磁阻感应功能都已经被开发出来. Large-area nano-lithography (Dr. Lu Shin Wong, Manchester, UK) Flex-Axiom in glove box (Dr. Philip Kim, Harvard University, US) Magneto-resistive sensing (Dr. Jo?o Gaspar, Braga, PT) Flex-Axiom的模块化概念可以轻松地让它升级到其他FlexAFM产品线 (如用于生命科学的Flex-Bio, 用于自动纳米机械性能分析的Flex-ANA以及用于细胞与纳米操纵的Flex-FPM), 给您的Flex-Axiom系统提供了更多的升级与扩展的可能性. Flex-Bio Flex-ANA Flex-FPM 开发所有的实践细节,有益于日常操作FlexAFM视频选件集成了两个摄像头用于顶视与侧视, 可以让您快速地找到感兴趣区域并逼近针尖到样品表面位置,然后进行全自动逼近. Camera optics Top view Side view带有定位槽结构的探针底座可使用带有定位沟槽的探针. 该探针底座提供了微米级别定位精度, 更换探针无需调节激光; 可以让您更换探针后依然方便地找到样品同样的位置. Flex-Axiom 配件与附件 Flex-Axiom系统的核心是FlexAFM测量头与C3000控制器,它们由I100电气转接盒连接. 基于标准配置, Flex-Axiom具有多个选件与附件可以供选择, 专门设计用来提高更稳定与可靠的结果, 或者提供了更多新型测量功能与实验的可信性: 各种探针底座类型 FlexAFM视频选件,顶视与侧视双光学ECS 204 电化学样品台ATS 204 自动移动台Isostage主动式防震台环境控制来进行干燥或者低氧环境操作 高级隔声罩用于保护外界噪声与其他干扰
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  • 产品简介多功能原子力显微镜平台,满足纳米级测量的需求原子力显微镜(AFM)有纳米级分辨率成像以及电、磁、热和机器性能测量的能力。纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描离子电导显微镜(SICM)。倒置光学显微镜(IOM)便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台,Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明、不透明,或软或硬的样品。出众的电化测试平台电池,燃料电池,传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域,然后许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计,为快速操作提供便利,从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括:多功能易用电化学池惰性气体和湿度的环境控制选项双恒电位仪的兼容性研究人员可利用Park NX12平台实现各种电化学应用扫描电化学显微镜(SECM)扫描电化学池显微镜(SECCM)电化学原子力显微镜(EC-AFM)和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)技术信息多用户设备Park NX12完全重新构建,以适应许多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性,难以满足该设备中用户的多重需求,很难合理控制设备成本。然而,Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像,液体扫描探针显微镜,光学和纳米光学成像,使其成为灵活的原子力显微镜之一。模块化设计Park NX12是专门针对专业电化学研究人员需求量身定制的原子力显微镜平台。它基于化学和电化学性质,气体和液体中介质的特性,为扫描探针显微镜提供了一个通用的解决方案,可用于广泛的不透明和透明材料。Park NX12基于其广泛的可视光投置到扫描探针的扫描探针显微镜技术的纳米管,易用性强。Park NX12具有高精准度,是多用户设备和职业研究人员的理想平台。多功能应用Park NX12功能广泛,包括液体中的PinPointTM和纳米力学,倒置光学显微镜定位透明样品,离子电导显微镜软样品成像,以及改善透明样品光学性能的可视性。综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整解决方案,使其成为广泛应用中的理想选择。模块化NX12模块化设计,不仅安装简单且兼容性强,可以满足您的多种实验需求。Park SmartScan&trade 自动模式下的单击成像Park NX12配备了我们的SmartScan&trade 操作系统,使其成为市场上高速易使用的原子力显微镜之一。其界面直观给力,即使是未经培训的用户也可以无需监控,快速扫描样品。这使得专业研究人员能够将他们的经验专注在解决更大的问题和开发更好的方案。易使用性共享实验室的用户通常背景各异,经验水平各异。NX12为每个用户提供简单的点击界面和自动化SmartScan&trade 模式。打开原子力显微镜系统后,具体操作如下:1. 点击 “设置”系统出现一个小窗口,通过动画演示指导您如何仪器设置和放置待成像的样品。一般情况下,这一步仅需几分钟。2. 点击 “定位”系统自动对悬臂进行频率扫描,让 Z 轴扫描仪向样品靠近,并自动对焦样品,使用户看到成像目标区域后进行操作,移动到目标区域。3. 点击 “成像”系统设置实现优化设置所必要的参数,然后启用悬臂,开始扫描样品。持续扫描,直至获得完整图像。结束悬臂将从样本上移开,准备进行下一次样品成像操作。参数扫描器Z扫描器XY扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围 : 15 µ m (可选 30 µ m)高度信号噪声等级: 30 pm0.5 kHz bandwidth, rms (typical)闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围 : 100 µ m × 100 µ m驱动台Z位移台行程范围聚集样品台行程范围XY位移台行程范围25mm(Motorized)15mm(Motorized) 10mm x 10mm(Motorized)样品架样品尺寸样品重量开放空间 up to 50mm x 50mm, 厚度 up to 20 mm (建议使用 SPM 模式的样品尺寸小于 40 x 40mm) 500 g光学10倍 (0.23 N.A.)超长工作距离镜头 (1µ m分辨率)样品表面和悬臂的直观同轴影像视野CCD840 × 630µ m (带10倍物镜)500万像素 120万像素 (可选)软件SmartScanTMXEIAFM系统控制和数据采集的专用软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制AFM数据分析软件电子集成功能4通道数字锁相放大器弹性系数校准(热方法,可选)数据Q控制AFM模式(*可选项)标准成像力测量介电/压电性能*真正非接触式原子力显微镜PinPoint&trade 原子力显微镜接触式原子力显微镜横向力显微镜 (LFM)相位成像轻敲式原子力显微镜力-距离(F/d)光谱力谱成像静电力显微镜 (EFM)动态接触式静电力显微镜 (EFM-DC)压电力显微镜 (PFM)高压压电力显微镜机械性能磁学特性*电性能力调制显微镜 (FMM)纳米压痕*纳米刻蚀*高压纳米刻蚀*纳米操纵*磁力显微镜 (MFM)可调制磁力显微镜导电原子力显微镜 (C-AFM)*IV 谱线*扫描开尔文探针显微镜 (KPFM)扫描电容显微镜 (SCM)*扫描电阻显微镜 (SSRM)*扫描隧道显微镜 (STM)*光电流测绘 (PCM)*化学性能功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜 (EC-AFM)原子力显微镜选项电化学电池Z扫描头电化学选项电化学电池通用液体电池的电化学工具包15 μm Z Scanner AFM head30 μm Z Scanner AFM head15 μm Z Scanner SICM module30 μm Z Scanner SICM module恒电位仪双恒电位仪环境控制选项温度控制液体池手套箱活细胞室温控台 1 -25℃ to +170℃温控台 2 Ambient to +250℃温控台 3 Ambient to +600℃通用液体池有液体/气体灌注的开放式或封闭式液体池 温度控制范围: 0℃ to +110 ℃(in air), 4℃ to +70℃ (with liquid)电化学池开放式液体池液下探针柄磁场发生器隔音罩专为在一般液体环境中成像而设计对大多数包括酸在内的缓冲溶液具有抗腐蚀性可在液体中进行接触式和非接触式原子力显微镜成像施加平行于样品表面的外部磁场可调磁场范围 : -300 ~ 300 gauss由纯铁芯和两个电磁线圈组成独立型 AE 204高级模式的入门套件易用于包含专用探针和样品的高级模式
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  • 原子力显微镜 400-860-5168转3714
    标准成像真正的非接触模式AFM接触模式AFM侧向力显微镜(LFM)相位成像轻敲式AAFM电性能导电AFMI-V谱线扫描开尔文探针显微镜(SKPM/KPM)高电压SKPM扫描电容显微镜(SCM)扫描电阻显微镜(SSRM)扫描隧道显微镜 (STM)扫描隧道光谱 (STS)时间分辨的光电流测绘 (Tr-PCM)磁性能磁力显微镜 (MFM)可调外加磁场MFM 化学性能扫描电化学池显微镜(SECCM)扫描电化学显微镜 (SECM)电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)功能化探针的化学力显微镜热性能扫描热感显微镜(SThM)光学性能探针增强拉曼光谱 (TERS)时间分辨的光电流测绘 (Tr-PCM)介电/压电性能静电力显微镜 (EFM)动态接触式静电力显微镜(DC-EFM)压电力显微镜 (PFM)高电压PFM机械性能Pinpoint纳米力学映射力调制显微镜 (FMM)纳米压痕纳米刻蚀高电压纳米刻蚀纳米操纵压电力显微镜 (PFM)力测量力-距离(F-D)光谱力-体积成像热噪声法标定弹性系数
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  • 产品特点扫描范围为50μm×50μm的2D扫描器高速Z轴扫描器,扫描范围达15μm低噪声XYZ位置传感器驱动XY轴样品台自动步进扫描操作方便的样平台高级扫描探针显微镜模式和选项的扩展槽结合了集成LED照明的同轴高倍显微镜滑动嵌入SLD镜头的自主固定方式垂直调节驱动的Z平台和聚焦平台高速24位数字控制器技术信息Park NX10原子力显微镜的低噪声Z探测器NX系列核心技术业界引领的低噪声默认的形貌信号Z轴探测器是全新NX系列原子力显微镜的核心技术之一。它是Park的创新型应变传感器。凭借着0.2埃的低噪声一跃成为行业内噪声较低的Z轴探测器。低噪声让Z轴探测器可作为默认的形貌信号,全新的NX系列原子力显微镜与前几代的原子力显微镜的差异可轻易被观察到。如果Z轴探测器的噪声过高,用户无法观察到蓝宝石晶片的原子台阶。Park NX系列原子力显微镜的Z轴探测器所发出的高度信号,其噪声水平与Z轴电压形貌相同。通过真正的非接触TM模式进行精确的 AFM 扫描为用户提供最佳便利的设计 简单的探针和样品更换专有的设计能让您轻易地用手从侧面更换新的探针和样品。借助安装悬臂式探针夹头中预先对齐的悬臂,无需再进行繁杂的激光校准工作。闪电般快速的自动近针自动的探针样品进针功能能让用户无需进行干预操作。通过监测悬臂接近表面的反应,Park NX10能够在悬臂装载后十秒内开始并自动快速完成探针样品进针操作。高速Z轴扫描器的快速信息反馈和NX电子控制器的低噪声信号处理使得无需用户干预就能快速接触样品表面。快速精准的SLD光校准凭借领跑的预校准悬臂架,悬臂在装载时SLD光便已聚焦完毕。此外,自上而下的同轴视角可以让您轻松找到光点。由于SLD光垂直照在悬臂上,您可通过旋转两个定位按钮直观地在X轴Y轴移动光点。这样您可以在激光准直页面中轻易找到SLD光并将其定位在PSPD上。此时您只需要稍微调整信号,便可开始获取数据。参数扫描器Z扫描器XY扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围: 15 µ m (可选30 µ m)高度信号噪声等级: 30 pm0.5 kHz bandwidth, rms (typical)闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围: 50 µ m × 50 µ m(可选10 µ m × 10 µ m 或 100 µ m × 100 µ m)驱动台Z位移台行程范围 聚焦样品台行程范围 XY位移台行程范围25 mm (Motorized)15 mm (Motorized)20 mm x 20 mm (Motorized)样品架样品尺寸样品重量开放空间 up to 100 mm x 100 mm,厚度 up to 20 mm 500 g光学10倍 (0.23 N.A.)超长工作距离镜头 (1µ m分辨率)样品表面和悬臂的直观同轴影像视野CCD480 × 360 µ m (带10倍物镜)100万像素, 500万像素 (可选)软件SmartScanTMXEIAFM系统控制和数据采集的专用软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制AFM数据分析软件电子集成功能连接外部信号4通道数字锁相放大器弹性系数校准(热方法,可选)数据Q控制20个嵌入式输入/输出端口5个TTL输出 : EOF, EOL, EOP,调制和交流偏压AFM模式(*可选项)标准成像力测量介电/压电性能真正非接触式原子力显微镜PinPoint&trade 原子力显微镜接触式原子力显微镜横向力显微镜 (LFM)相位成像轻敲式原子力显微镜力-距离(F/d)光谱力谱成像静电力显微镜(EFM)动态接触式静电力显微镜(EFM-DC)压电力显微镜(PFM)高压压电力显微镜*磁学特性*机械性能电性能磁力显微镜(MFM)可调制磁力显微镜力调制显微镜(FMM)纳米压痕*纳米刻蚀*高压纳米刻蚀*纳米操纵*导电原子力显微镜(C-AFM)*IV谱线*扫描开尔文探针显微镜(KPFM)扫描电容显微镜(SCM)*扫描电阻显微镜(SSRM)*扫描隧道显微镜(STM)*光电流测绘 (PCM)*化学性能*功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜(EC-AFM)原子力显微镜选项温度控制液体池液下探针柄温控台 1 -25℃ to +170℃温控台 2 Ambient to +250℃温控台 3 Ambient to +600℃通用液体池有液体/气体灌注的开放式或封闭式液体池控温范围: 0℃ to +110 ℃ (in air), 4 ℃ to +70 ℃ (with liquid)电化学池开放式液体池专为在一般液体环境中成像而设计对大多数包括酸在内的缓冲溶液具有抗腐蚀性可在液体中进行接触式和非接触式原子力显微镜成像磁场发生器施加平行于样品表面的外部磁场可调磁场Range : -300 ~ 300 gauss由纯铁芯和两个电磁线圈组成
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  • 仪器简介:NANONICS IMAGING LTD. (以色列NANONICS有限公司)是业界将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)相技术相结合的领头羊之一。公司成立于1997年,NANONICS是业界成立最久并且对此类系列产品经验最丰富的公司之一,其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统的推动下,今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统热销市场。NANONICS凭借着实力和品质,其产品涉足的领域从科研到工业,从生物学到半导体,从化学制品到无线电通讯,应用范围极其广泛。 低温NSOM/AFM拥有先进的系统设备、环境友好的样品反应室、化学药品和气体自动传送系统;还有nano-印刷术系统,给消费者提供一个全面的系统配置选择。加上有AFM/NSOM/SEM的整合与AFM/NSOM/micro-Raman的整合系统这样强大的成象结合,可以让用户拥有一个实验平台来完成多个的材料表征应用。探针包括NSOM探针,micro-pipettes是检测热、电性能的,同时探针还可以提供气体和液体加样,这是Nanonics系列产品的特色功能,可以为提供用户在很小的范围内做原位反应等。NAONICS系统可兼容其他供应商提供的SPM探针。 Nanonics仪器设计的特点就是将不同的表征手段整合到一个平台,包括spm、微拉曼光谱、电镜、共聚焦显微镜、离子束、热分析、SHG等等都能实时或一起使用。技术参数: 系统包含了AFM反馈扫描功能? 探针使用中空玻璃纳米移液管包裹Pt纳米线电极电极尺寸50-1000nm? 分辨率形貌XY方向:250nm形貌Z方向:1-2nm? 灵敏度(Amps/V) 10-12到0.1(取决于恒电位仪的型号)? 包含样品扫描和探针扫描模式扫描范围XYZ都可达80微米? 液体样品池材料PEEK,耐受多种溶液环境Counter\reference电极, 最多可达四个。这些电极可以从样品池侧面连接。直径约2mm,长度75px。标准的微型Ag/AgCl电极可以固定在样品池上方。? 提供保护圈,防止样品飞溅到样品扫描台上? 上下都可提供完全开放的光路。? 可根据需要选配背面接线。? 可选配环境腔体,输入惰性气体等(如N2或者Ar)? 恒电压仪:-10V到10V,电流0到±0.25A,灵敏度(Amps/V) 10-12到0.1主要特点:1. Nanonics的SECM功能建立于AFM反馈的基础上,如此可以解决电化学测试中常遇到的探针撞到样品损坏的问题.探针在样品表面扫描的过程中,恒电压仪提供电压并测量电流.2. Nanonics具有专利的悬臂式弯曲玻璃探针设计.玻璃探针的设计可以提供垂直方向的开放光路,便于放置观察样品和探针位置的CCD.3. 因为光路的开放性,Nanonics的SECM功能还可以扩展到与Raman或其他光谱仪的联用.4. Nanonics的探针由玻璃包覆Pt丝组成,Pt丝尺寸约50-100nm.而常见的电化学探针的尺寸约25um. 探针越小, 探针和样品之间的距离也需要更小才能探测到反馈电流的变化,所以传统SECM测试如果用很小尺寸的探针会使探针非常容易撞倒样品表面.而Nanonics的SECM功能因为基于AFM反馈基础,可以确保探针和样品不会发生碰撞,即使在样品具有一定斜率时也可以安全的扫描.5. Nanonics提供SECM cell可以有效地防止液体喷溅,可以提供侧面四个电极和样品的背面电极接线.6. 如果测试需要在惰性气体环境下完成,Nanonics也可以提供Chamber进行环境控制.7. 设备还可以升级到与拉曼光谱仪的联用,完成AFM-SECM-Raman的联合测试功能.
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  • Park NX7原子力显微镜实惠智能理想选择灵活智能的研究级AFM,实惠来袭!Park NX7 配有Park原子力显微镜前沿技术,其设计与新型显微镜一样彰显细节品质,可以有效助您取得精准的研究成果。现在价格实惠,是您预算合理下的理想选择。——————————————————————————————————————————通过消除扫描器串扰进行准确的XY扫描√ 独立闭环XY和Z柔性扫描器√ 正交XY扫描√ 样品表面形貌信息测量精准,无需软件处理——————————————————————————————————————————全面专业的原子力显微镜解决方案√ 涵盖多种扫描探针显微镜的扫描模式√ 更智能的NX电子控制器默认启用高级纳米机械测量模式√ 拥有业界前沿的兼容性和可升级性——————————————————————————————————————————人性化设计的软件和硬件功能√ 方便样品或换针的开放式使用√ 预对准的探针夹设计,可轻易直观的进行SLD光校准√ Park SmartScanTM - 原子力显微镜操作软件可以帮助初次使用用户和专业用户进行专业的纳米级研究。——————————————————————————————————————————无扫描器弓形弯曲的平直正交XY轴扫描Park的串扰消除技术不仅改善了扫描器弓形弯曲的缺点,还能够在不同扫描位置,扫描速率和扫描尺寸条件下进行平直正交XY轴扫描。即使再平坦的样品也不会出现如光学平面,各种偏移扫描等背景曲率。因此Park能不惧艰难挑战,为您在研究中提供高精度的纳米测量。无耦合关系的XY和Z扫描器Park的核心技术在于专有的扫描器架构。基于独立XY扫描器和Z扫描器设计的挠曲结构,能让您轻松获得高精度纳米级分辨率数据。——————————————————————————————————————————行业引领的低噪声Z探测器Park AFM 配备了低噪声Z探测器,噪音水平低于0.02 nm,因而达到了样品形貌成像精准,没有边沿过冲无需校准的高效率。Park NX系列不仅为您提供高精准的数据,更为您大大节省了时间成本。由低噪声Z探测器测量准确的样品形貌√ 利用低噪声Z探测器信号进行形貌成像√ 有高宽带,Z探测器低噪声只有0.02 nm√ 边缘位置无前沿或后沿过冲现象√ 只需在原厂校准一次样品: 1.2 μm标准台阶高度(9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines) ——————————————————————————————————————————True Non-Contact&trade 模式可延长探针寿命、保护样品和精准测量True Non-Contact&trade 模式是Park原子力显微镜系统创新的扫描模式,通过在扫描过程中防止针尖和样品损坏,从而产生高分辨率和准确的数据。接触模式下,针尖在扫描过程中持续接触样品;轻敲模式下,针尖周期性地接触样品;而在非接触模式下针尖不会接触样品。因此,使用非接触模式具有几大关键优势。由于针尖锐度得以保持,在整个成像过程中会以高分辨率进行扫描。非接触模式下由于针尖和样品表面不会直接接触,从而避免损坏软样品。更快速的Z轴伺服使得真正的非接触式原子力显微镜有更精准的反馈√ 减少针尖磨损 → 长时间高分辨率扫描√ 无损式探针-样品接触 → 较大地减少样品受损度√ 可满足各种条件下,对各种样品都能够进行非接触式扫描此外,非接触模式可以感知探针与样品原子之间的作用力,甚至可以检测到探针接近样品时产生的横向力。因此,在非接触模式下使用的探针可以有效避免撞到样品表面时突然出现的高层结构。而接触模式和轻敲模式只能进行探针底端检测,很容易受到这种撞击伤害。——————————————————————————————————————————专业的 AFM 解决方案行业引领——支持多种SPM模式和选项如今,研究人员需要在不同的测量条件和样品环境下表征广泛的物理特性。 Park Systems能为您提供多种 SPM 模式、全面的 AFM 选项以及业界前沿的选项兼容性和可升级性,支持高级样品表征。——————————————————————————————————————————Park NX7 支持多种 SPM 模式形貌成像非接触模式接触模式轻巧模式介电/压电特性压电力显微镜(PFM)高压PFMPiezoresponse Spectroscopy磁学特性磁力显微镜 (MFM)电学特性导电原子力显微镜 (C-AFM)电流-电压分光镜开尔文探针力显微镜 (KPFM)高压KPFM扫描电容显微镜 (SCM)扫描扩展电阻显微镜 (SSRM)扫描隧道显微镜(STM)光电流映射 (PCM)静电力显微镜 (EFM)力学特性力调制显微镜 (FMM)纳米压痕纳米刻蚀高压纳米刻蚀纳米操纵横向力显微镜 (LFM)力距(F/d)光谱力容积成像化学特性具有功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜 (EC-AFM)——————————————————————————————————————————Park NX7 参数ScannerZ扫描器柔性引导高推动力扫描器Z扫描范围: 15 μm (30 μm可选)XY扫描器闭环控制式单模块柔性XY扫描器扫描范围: 50 µ m × 50 µ m(可选 10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm)位移台Z位移台Z位移台行程范围: 26 mmXY位移台XY位移台行程范围: 13 mm X 13 mm样品架样品大小 : up to 50 mm样品厚度: up to 20 mm软件SmartScanTMAFM系统控制和数据采集软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制SmartAnalysisTMAFM数据分析软件独立设计—可以安装和分析AFM以外的数据能够生成采集数据的3D绘制
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  • 【产品简介】  Nanofirst3600B是一款完全由苏州海兹思纳米科技有限公司自主研发、设计、生产的高性价比的原子力显微镜(AFM),本产品获得了17项国家专利,并成功省报了智能化高精度三维轮廓仪研制项目和智能化高精度原子力轮廓仪项目。   该产品具有性能稳定,操作简便和实用性强等优点,可实现高分辨纳米、亚纳米测试。适合于高校纳米科技教学、科学研究、纳米材料及粉体分析、电化学测量、生物制药和工业现场测试。作为专业AFM制造商,海兹思具有十多年的AFM技术经验和积累,能够提供及时的专业技术支持和售后服务。【实验箱配件列表】 1. 3600B型原子力显微镜,包括:(1)AFM主机;(2)控制系统;(3)防震隔音箱及外围设备。 2. 工具盒:钳子、镊子、样品基片、轻敲探针、接触探针等。 3. 软件安装盘。【特点用途】 ●为科研和教学应用设计,用于各类纳米材料样品测量表征; ●关机电一体式结构设计,使用操作更加人性化; ●集成接触模式和动态力模式原子力显微镜、摩擦力显微镜功能; ●多通道图像同步采集显示,实时观测形貌图、摩擦力图、振幅图等; ●定点实时测试F-Z曲线、f-RMS曲线、RMS-Z曲线等多种曲线功能; ●设置“扫描频率安全上限”功能,可限制最快扫描频率,保护探针; ●图像获取文件连续存盘和自定义文件名,当前全部工作环境参数同步保存功能; ●配备高精度二维纳米移动装置,可实现样品扫描区域精确定位; ●高精度探针-样品定位系统,配备可变倍光学放大CCD观测系统,直接定位到高倍CCD任意可视的微米级区域进行扫描; ●高精度和大范围的压电陶瓷扫描器,可根据不同京都和扫描范围选择; ●支持扫描器灵敏度在线校正功能,对扫描精度可实行实时校正; ●可增配模式:磁力、相位和静电力。【主要技术指标】
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  • Park NX10 为您带来纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有。 在 SmartScan Auto 有的智能模式下,系统自动执行所有必要的成像操作,同时智能选择好的图像质量和扫描速度。这是通过Park的技术才得以实现的。它不仅可以为您节省时间和金钱,还可以给您带来优质的研究结果。 Park NX10是非接触式原子力显微镜,在延长探针使用寿命的同时,还能良好地保护您的样品不受损坏。可弯曲的立 XY 扫描仪和Z扫描仪可带来良好的分辨率。 Park 原子力显微镜具有综合性的扫描模式,因此您可以有效地收集各种数据类型。从使用世界上的真非接触模式用来保持探针的尖锐度和样品的完整性,到先进的磁力显微镜, Park 在原子力显微镜领域为您提供创新模式.产品特点1)Smartscan智能扫描模式,“1,2,3”点击即可实现成像2)Pinpoint Nanomechanical力控出图模式,更优越的力学形貌成像及各种电学测试3)强大的内置集成软件系统,自带LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve软件模式 基本技术特点a) 扫描范围是 50μm x 50μm的 2D 扫描器,驱动 XY 轴样品台b) 高速Z轴扫描器,扫描范围 15μmc) 低噪声 XYZ 位置传感器(低噪声XY闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的 0.15% 以下)d) 自动步进扫描,滑动嵌入 SLD 镜头的自主固定方式,e) 垂直调节驱动 Z 平台和聚焦平台 选项/模式标准成像化学性能介电/压电性能ž 实际非接触式ž 接触式ž 侧向摩擦力显微技术(LFM)ž 相位模式,轻敲模式ž Pinpoint成像ž 功能化探针的化学力显微镜ž 电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)ž (EFM)静电力显微镜ž 动态接触式电子显微镜(EFM-DC)ž (PFM)压电力显微镜ž 高电压PFM力测量磁性能热性能ž 力-距离(F-D)光谱ž 力谱成像ž 磁力显微镜ž 可调AFMž 扫描热显微镜(SThM)电性能机械性能ž Pinpoint 导电AFM(CP-AFM)ž I-V谱线ž 扫描开尔文探针显微镜(KPFM)ž QuickStep扫描电容显微镜(SCM)ž 扫描电阻显微镜(SSRM)ž 扫描隧道显微镜(STM)ž 扫描隧道光谱(STS)ž 光电流测绘(PCM)ž SICMcurrent-distance(I/d)Spectroscopyž Pinpoint模式ž 力调制显微镜(FMM)ž 压痕,纳米刻蚀ž 高压纳米刻蚀ž 纳米操纵
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  • Park NX10原子力显微镜奈米科技研究的理想选择创新研究的理想选择Park NX10为您带来高精纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有。 无论是从样品设定还是到全扫描成像、测量与分析,Park NX10都可以在保证您专注于创新研究工作的同时提供高精度的数据。—————————————————————————————————————————————————创新研究的特征Park SmartScan 智能模式在SmartScan Auto专有的智能模式下,系统自动执行所需要的成像操作,同时智能选择高品质的图像质量和扫描速度。 这是通过Park的专有技术才得以实现的。 它不仅可以为您节省时间和金钱,还可以给您带来满意的研究结果。Park 消除串扰技术Park NX10为您带来高精纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有。 它是一款非接触式原子力显微镜,在延长探针使用寿命的同时,还能良好地保护您的样品不受损坏。 可弯曲的独立XY扫描仪和Z扫描仪可带来较高精准度和分辨率。Park原子力显微镜模式Park原子力显微镜具有综合性的扫描模式,因此您可以准确有效地收集各种数据类型。 从使用非接触模式用来保持探针的尖锐度和样品的完整性到磁力显微镜, Park在原子力显微镜领域为您提供引领创新、精准的模式。Park NX10 扫描离子电导显微镜模块Park NX10扫描离子电导显微镜模块为广泛的应用,细胞生物学,分析化学,电生理学和神经科学提供纳米级成像。—————————————————————————————————————————————————Accurate AFM Solutions for General ResearchTall Sample 1.5 µ m step heightFlat Sample Atomic steps of sapphire wafer√ 扫描模式:非接触模式,Z轴位置传感器的形貌√ 台阶高度0.3 nm,扫描模式:非接触模式,Z轴位置传感器的形貌Hard Sample Tungsten filmSoft Sample Collagen fibril√ 扫描模式:非接触模式,Z轴位置传感器的形貌√ 扫描模式:非接触模式,Z轴位置传感器的形貌Accurate AFM Measurement with Low Noise Z DetectorPark NX10原子力显微镜的低噪声Z探测器√ NX系列核心技术√ 业界引领的低噪声√ 默认的形貌信号Z轴探测器是全新NX系列原子力显微镜的核心技术之一。 它是Park的创新型应变传感器。 凭借着0.2埃的低噪声一跃成为行业内噪声较低的Z轴探测器。 低噪声让Z轴探测器可作为默认的形貌信号,全新的NX系列原子力显微镜与前几代的原子力显微镜的差异可轻易被观察到。 如果Z轴探测器的噪声过高,用户无法观察到蓝宝石晶片的原子台阶。 Park NX系列原子力显微镜的Z轴探测器所发出的高度信号,其噪声水平与Z轴电压形貌相同。———————————————————————————————————————————————————Park NX Series——Park NX Z轴探测器的噪声水平NX10所探测的蓝宝石晶片形貌——Park XE Series——Park XE Z轴探测器的噪声水平XE-100所探测的蓝宝石晶片形貌a—————————————————————————————————————————————————Accurate AFM Scan by True Non-Contact&trade ModeTrue Non-Contact&trade ModeTapping Imaging√ 针尖磨损更低=高分率扫描更长久√ 无损式探针-样品接触=大限度减少样品受损程度√ 可满足各种条件下对各种样品进行非接触式扫描!针尖磨损更快=模糊,低分辨率扫描!破坏性的探针-样品接触=样品易受损!参数高依赖性—————————————————————————————————————————————————The Best User Convenience by Design专有的设计能让您轻易地用手从侧面更换新的探针和样品。 借助安装悬臂式探针夹头中预先对齐的悬臂,无需再进行繁杂的激光校准工作。—————————————————————————————————————————————————闪电般快速的自动近针自动的探针样品进针功能能让用户无需进行干预操作。 通过监测悬臂接近表面的反应,Park NX10能够在悬臂装载后十秒内开始并自动快速完成探针样品进针操作。 高速Z轴扫描器的快速信息反馈和NX电子控制器的低噪声信号处理使得无需用户干预就能快速接触样品表面。—————————————————————————————————————————————————快速精准的SLD光校准凭借我们领跑的预校准悬臂架,悬臂在装载时SLD光便已聚焦完毕。 此外,自上而下的同轴视角可以让您轻松找到光点。 由于SLD光垂直照在悬臂上,您可通过旋转两个定位按钮直观地在X轴Y轴移动光点。 这样您可以在激光准直页面中轻易找到SLD光并将其定位在PSPD上。 此时您只需要稍微调整信号,便可开始获取数据。—————————————————————————————————————————————————Park NX10 features扫描范围为50um x 50um 的2D扫描器XY轴扫描器有对称的二维高强度压电叠堆。 它可为进行精确的纳米级样品扫描,提供基本的面外高效正交运动和高响应能力。 Park NX10的这种紧密刚硬的构造具备低噪声高速的伺服响应能力。高速Z轴扫描器,扫描范围达15um借助高强度压电叠堆和挠性设计,标准Z轴扫描器的共振频率高达9kHz(一般为10.5kHz)且探针的Z轴速率不低于48mm/秒。 Z轴扫描范围可从标准的15 µ m扩展至30 µ m(可另选Z扫描头)。低噪声XYZ位置传感器行业前沿的低噪声Z轴探测器代替Z电压作为形貌信号。 低噪声XY闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。驱动XY轴样品台XY轴样品台是驱动化的,以便于将样品导航并定位到扫描区域。 这种驱动台在这两个轴上的分辨率同为0.6um(使用微步)。自动步进扫描借助驱动样品台,步进扫描可编程多区域成像,以下是它的工作流程:1) 扫描成像2) 抬起悬臂3) 移动驱动平台到设定位置4) 进针5) 重复扫描该自动化功能可大大减少扫描过程中手动需求,从而很大程度上提高生产力。操作方便的样品台Park NX10的特有头部设计可使用户从侧面操作样品和探针,用户在样品台上可放置的样品体积 up tp 50mm× 50mm×20mm(长×宽×高)。滑动崁入SDL镜头的自主固定方式您只需滑动嵌入燕尾导轨便可轻松更换原子力显微镜镜头。 该设计可将镜头自动锁定至预对准的位置,同时与复位精度为几微米的电路系统相连接。 借助于相关性低的SLD,显微镜可精准成像并可准确测定力-距离曲线。结合了集成LED照明的同轴高倍显微镜超长工作距离的定制物镜(工作距离50mm, 数值孔径0.21,分辨率1.0 μm )带来高精镜头清晰度。 直视同轴设计使得用户可轻易在样品表面寻找目标区域。 EL20x的长行程物镜的大尺寸CCD可为您在高视角前提下提供0.7 μm的高分辨率。高级扫描探针显微镜模式和选项的扩展槽只需将可选模块插入扩展槽便可激活高级扫描探针显微镜模式。 得益于NX系列原子力显微镜的模块设计,其生产线设备兼容性得到大大提高。垂直调节驱动的Z平台和聚焦平台驱动Z平台和驱动聚焦平台可使悬臂检测样品表面并为用户持续提供清晰的图像。 用户通过软件界面进行操控,由高精度步进电机带动,即使是透明样品或液池应用中都可简单操作。高速24位数字控制器所有NX系列的原子力显微镜都是由相同的NX电子控制器进行控制和处理。 该控制器是个全数字,24位高速控制器,可确保True Non-Contact&trade 模式下的成像精度和速度。 凭借着低噪声设计和高速处理单元,该控制器也是纳米成像和精准电压电流测量的理想选择。 嵌入式数字信号处理为原子力显微镜带来更为丰富的功能,更好的解决方案,是高级研究员的理想选择。XY和Z轴检测器的24位信号分辨率&bull XY轴(50 μm)的分辨率为0.003 nm&bull Z轴(15 μm )的分辨率为0.001 nm嵌入式数字信号处理功能&bull 三通道数码锁相放大器&bull 弹簧系数校准(热方法)&bull 数据Q控制集成式信号端口&bull 专用可编程信号输入/输出端口&bull 7个输入端口和3个输出端口—————————————————————————————————————————————————Park NX10技术参数扫描器Z扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围: 15 µ m (可选30 µ m)高度信号噪声等级: 30 pm0.5 kHz bandwidth, rms (typical)XY扫描器闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围: 50 µ m × 50 µ m(可选10 µ m × 10 µ m 或 100 µ m × 100 µ m)驱动台Z位移台行程范围 : 25 mm (Motorized)聚焦样品台行程范围 : 15 mm (Motorized)XY位移台行程范围 : 20 mm x 20 mm (Motorized)样品架样品尺寸: 开放空间 up to 100 mm x 100 mm,厚度 up to 20 mm样品重量 : 500 g光学10倍 (0.23 N.A.)超长工作距离镜头 (1µ m分辨率)样品表面和悬臂的直观同轴影像视野 : 480 × 360 µ m (带10倍物镜)CCD : 100万像素, 500万像素 (可选)软件SmartScan&trade AFM系统控制和数据采集的专用软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制XEIAFM数据分析软件电子集成功能4通道数字锁相放大器弹性系数校准(热方法,可选)数据Q控制 连接外部信号20个嵌入式输入/输出端口5个TTL输出 : EOF, EOL, EOP,调制和交流偏压AFM模式(*可选项)标准成像真正非接触式原子力显微镜PinPoint&trade 原子力显微镜接触式原子力显微镜横向力显微镜 (LFM)相位成像轻敲式原子力显微镜 力测量力-距离(F/d)光谱力谱成像 介电/压电性能静电力显微镜(EFM)动态接触式静电力显微镜(EFM-DC)压电力显微镜(PFM)高压压电力显微镜* 机械性能力调制显微镜(FMM)纳米压痕*纳米刻蚀*高压纳米刻蚀*纳米操纵*磁学特性*磁力显微镜(MFM)可调制磁力显微镜 电性能导电原子力显微镜(C-AFM)*IV谱线*扫描开尔文探针显微镜(KPFM)扫描电容显微镜(SCM)*扫描电阻显微镜(SSRM)*扫描隧道显微镜(STM)*光电流测绘 (PCM)* 化学性能*功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜(EC-AFM)原子力显微镜选项温度控制温控台 1 -25 °C to +170 °C温控台 2 Ambient to +250 °C温控台 3 Ambient to +600 °C 液体池通用液体池有液体/气体灌注的开放式或封闭式液体池控温范围: 0 °C to +110 °C (in air), 4 °C to +70 °C (with liquid)电化学池开放式液体池液下探针柄专为在一般液体环境中成像而设计对大多数包括酸在内的缓冲溶液具有抗腐蚀性可在液体中进行接触式和非接触式原子力显微镜成像 磁场发生器施加平行于样品表面的外部磁场可调磁场Range : -300 ~ 300 gauss由纯铁芯和两个电磁线圈组成
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  • 性价比高的紧凑型研究级原子力显微镜 紧凑化设计,具有完整的一体化的多功能与特征配置强大而且功能齐全简化设计与功能配置让您的设备最具性价比CoreAFM非常智能地联合了原子力显微镜的核心部件来实现最多功能化与用户方便使用性. 正是由于这种基础的设计, CoreAFM非常合理的实现了最优化的原子力显微镜的功能. 紧凑化与完整性融合了最新型的平板扫描器、全数字化的32位控制器、XYZ样品台,双光路辅助光学系统与隔声罩, CoreAFM成就了一套一体化的AFM系统,具备完整的AFM功能,而且有着无比紧凑的尺寸.所有的必备的现代化的AFM功能都可以集成在CoreAFM系统中 这样一来, 仅需要连接电源与USB数据线就可以来操作CoreAFM了. 功能强大与多模式最新的电路设计带有24位ADC与DAC来保证XYZ三个方向的高分辨驱动100×100×12 μm 扫描器,而且具有仅受限于探针的低噪音的力学探测. CoreAFM具备32种标准的与可选的模式与功能使得这款原子力显微镜成为了多种应用的选择,从材料科学到生命科学与电化学方面都可以适用. 基于CoreAFM最基本的功能, 所有可选模块都可以方便地得到扩展或者升级. 主动式防震台Isostage的系统集成功能反应在独特的SpikeGuard, 它可以自动消除成像过程中出现的跳线.尽管Isostage是一套主动式防震系统, 当外界干扰过大时候还是会产生跳线. SpikeGuard功能可以探测到这种异常然后重新扫描该线,自动产生没有跳线的图像.包含测量模式CoreAFM可以实现静态力、动态力成像、相位成像、磁力模式(MFM)、横向力\摩擦力、力调制成像、标准力谱曲线与标准刻蚀模式.您也可以利用CoreAFM模式工具盒来提高您的测量经验.包含的标准模式工具盒CoreAFM标准配置静态力模式工具盒, 动态力模式工具盒与相位成像模式工具盒.根据这些测量模式,每套模式工具盒都可能包含样品、适配探针、附件或者其中的组合.附加的标准模式工具盒附加的标准模式工具盒可以单独来选配,如标准力谱工具盒, 标准刻蚀工具盒, 标准磁力模式(MFM)工具盒, 标准液体模式工具盒, 横向力\摩擦力模式工具盒与力调制模式工具盒.高级功能AFM高级模块如样品加热台、环境控制腔、脚本开发或者其他高级模式都可以轻松地选配到CoreAFM系统上.更多细节与附件参考上面的图文总览,里面包括基础的选件功能与二次高级选件功能.技术参数: 扫描器 最大扫描范围(XY) 100 μm 5 nm flatness最大高度范围(Z) 12 μm closed loop探测器噪声(RMS) typ. 60 pm max. 100 pm传感器噪声(RMS) typ. 180 pm max. 250 pm动态力噪声(RMS) typ. 40 pm max. 70 pm静态力噪声(RMS) typ. 100 pm max. 200 pm控制器 Scan control and inputs 24-bit ADC/DAC 200 kHz瑞士Nanosurf公司最具性价比产品最小化与最集成化的设计方法不用您连接扫描器与控制器直接的连线, 配套附加的控制器盒、隔声罩与辅助光学系统等等,这样就使得所有的一体化元件保持了所有的功能.最简化却是更值得 — CoreAFM意味着物有所值.CoreAFM与它的附件设计成设计成一套完整系统的概念. 这样我们的CoreAFM就是一体化、优质而高性能的、多功能的AFM系统,在市场上提供最具性价比的原子力显微镜系统.而且我们的原子力显微镜操作简便、结构稳固,而且扩展方便.CoreAFM原子力显微镜带给您AFM的精华: 测量, 而不是机器!
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  • Park NX20原子力显微镜用于失效分析的理想选择引领用于故障分析和大型样品研究的纳米计量工具作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器,其主要目的是对样品进行缺陷检测。 而仪器所提供的数据不能允许有错误的存在。 Park NX20,这款高精密的大型样品原子力显微镜,凭借着数据的准确性,在半导体和硬盘行业中大受赞扬。全面多样的分析功能Park NX20可快速帮助客户找到产品失效的原因,并帮助客户制定出更多具有创意的解决方案。 高精密度可为用户带来高分辨率数据,让用户能够更加专注于工作。 与此同时,非接触扫描模式让探针针尖更锋利、更耐用,无需为频繁更换探针而耗费大量的时间和金钱。即便是刚接触原子显微镜的工程师也易于操作Park NX20拥有业界便捷的设计和自动界面,让你在使用时无需花费大量的时间和精力,也不用为此而时时不停的指导初学者。 借助这一系列特点,您可以更加专注于解决更为重大的问题,并为客户提供及时且富有洞察力的失效分析报告。———————————————————————————————————————————为FA和研究实验室提供精准的形貌测量解决方案样品侧壁三维结构测量NX20的创新架构让您可以检测样品的侧壁和表面,并测量它们的角度。 众多的功能和用途正是您的创新性研究和敏锐洞察力所必需的。对样品和基片进行表面光洁度测量表面光洁度测量是Park NX20的关键应用之一,能够带来精准的失效分析和质量保证。高分辨率电子扫描模式QuickStep SCM超快的扫描式电容显微镜PinPoint AFM无摩擦导电原子力显微镜———————————————————————————————————————————多种创新且创新的专利技术帮助顾客减少测试时间CrN样品所做的针尖磨损实验AFM测量通过对比重复扫描情况下探针尖端的形状变化,您可以轻易看到Park的真正非接触模式的优势所在。借助真正非接触模式,探针尖端在扫描氮化铬样品(即探针检测样品)200次后仍可保持锋利的状态。 氮化铬的表面粗糙且研磨性强,会让普通的探针很快变钝。———————————————————————————————————————————低噪声Z探测器测量准确的样品表面形貌没有压电蠕变误差的真正样品表面形貌超低噪声Z探测器,噪音水平低于0.02 nm,从而达到非常精准样品形貌成像,没有边沿过冲无需校准。Park NX20在为您提供好的数据的同时也为您节省了宝贵的时间。√ 使用低噪声Z探测器信号进行台阶形貌测量。√ 在大范围扫描过程中系统Z向噪音小于0.02 nm。√ 没有前沿或后沿过冲现象√ 终身无需校准,减少设备维护成本Park NX系列原子力显微镜传统的原子力显微镜Park NX20特点 ————低噪声XYZ位置传感器低噪声XYZ闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。高速Z轴扫描器,扫描范围达15um高强度压电堆栈和挠性设计,标准Z轴扫描器的共振频率高达9kHz(一般为10.5kHz)且探针的Z轴扫描速率不低于48 mm/秒。 Z轴扫描范围可从标准的15um扩展至30um(可另选Z扫描头)。自动多点样品扫描借助驱动样品台,可编程步进扫描,多区域成像,以下是它的工作流程:1) 扫描成像2) 抬起悬臂3) 移动驱动平台到设定位置4) 进针5) 重复扫描该自动化功能可大大减少扫描过程中人工移动样品所需时间,从而缩短测试时间,提高生产率。集成編碼器的XY自动样品载台编码器可用于所有自动样品载台,并可保证更高的重复定位精度,从而可更精准地控制样品测量位置。XY马达运动工作时分辨率为1 um重复率为2um。Z马达运动的分辨率为0.1um,重复率为1um。扫描头滑动嵌入式设计您只需滑动嵌入燕尾导轨便可轻松更换原子力显微镜扫描头。 该设计可将扫描头自动锁定至预对准的位置,无需调节激光位置,激光自动投射在针尖上。 借助于四象限检测器,显微镜可精确成像并准确测定力.距离曲线。操作方便的样品台借助创新的镜头设计,用户可从侧面操作控样品和探针。 根据XY轴样品台所设定的行程范围,用户在样品台上可放置的大样品体积直径可高达200 mm。用于高级扫描模式易插槽您只需要将可选模块插入扩展槽,您便可激活高级扫描探针显微镜模式。 得益于NX系列原子力显微镜的模块化设计,其产品线的配置兼容性大大提高。同轴高功率光学集成LED照明和CCD系统定制物镜配有超长工作距离(51 mm,0.21的数值孔径,1.0um的分辨率),带来超高的镜头清晰度。同轴光源设计让用户可轻易地在样品表面寻找测试区域,物镜分辨率为0.7um。 得益于CCD的高端传感器,在获得较大视场的同时,分辨率却不受影响。 由软件控制的LED光源能为样品表面提供足够的照明,便于清晰观察样品。高速24位数字电子控制所有NX系列的原子力显微镜都是由相同的NX电子控制器进行控制和处理的。 该控制器是全数字、24位高速控制器,可确保Park 真正非接触模式下的成像精度和速度。 凭借着低噪声设计和高速处理单元,该控制器是纳米级成像和精确电压电流测量的绝佳选择。 嵌入式数字信号处理为原子力显微镜带来更为丰富的功能,更好的解决方案,是资深研究院的理想选择。XY.Z轴检测器的24位信号分辨率XY轴(50 μm)的分辨率可低至0.003 nmZ轴(15 μm)的分辨率可低至0.001 nm嵌入式数字信号处理功能三个锁相放大器探针弹簧系数校准数据Q控制集成式信号端口专用可编程信号输入/输出端口7个输入端口和3个输出端口自动Z轴移动和聚焦系统高度限行Z轴移动和聚焦系统,可以得到清晰的视野和图像,用户通过软件界面进行操作,由高精度步进电机驱动,即使液体或者透明样品也可快速找到样品表面。———————————————————————————————————————————QuickStep SCM模式√ 比传统的扫描式电容显微镜(SCM)扫描速度快十倍√ 信号灵敏度、空间分辨率和数据精准度不受影响高通量QuickStep扫描在QuickStep扫描模式下,SCM测量通量大幅提升,可达到标准SCM扫描速度的十倍,且信号灵敏度、空间分辨率和数据精准度不受影响。 在QuickStep扫描模式下,XY轴扫描器在各像素点停住,记录数据。 扫描器会在各像素点之间快速跳跃。QuickStep扫描传统扫描扫描速度1.5Hz扫描速度1Hz扫描大小: 10 µ m×3 µ m, AC Bias: 0.5 Vp-v, DC Bias: 0 V———————————————————————————————————————————Park SCM精准的掺杂形貌量测在半导体制造业,分析掺杂剂分布对于确定失效原因和进行设计改进有着重要作用。 在器件特性化方面,SCM有着优异二维量化掺杂剂分布分析能力。PinPoint导电原子力显微镜模式PinPoint导电原子力显微镜模式是针对探针和样品之间的指定电接点而开发设计的。 在电流采样过程中,XY轴扫描器会依据用户设定的接触时间停止。 PinPoint导电原子力显微镜模式能够带来更高的空间分辨率,且不受 侧向力的影响,同时在不同样品表面的电流测量也得到优化。——————PinPoint模式——————— —————Contact—————样品: ZnO nano-rods, -3 V sample bias通过对比氧化锌纳米棒在不同类型的导电原子力显微镜图像,我们可以看到相比轻敲式导电原子力显微镜,传统的接触式导电原子力显微镜有着更高精度的电流测量,但其分辨率低,原因 在于探针在接触中快速磨损。 全新的PinPoint导电原子力显微镜不但空间分辨率更高,且电流测量也得到优化。———————————————————————————————————————————高带宽低噪声导电原子力显微镜导电原子力显微镜是各类元件研究的重要工具,特别是工业的失效分析。 Park导电原子力显微镜在市场中拥有核心竞争力,不但有着全行业超低的电流噪声,且增益范围也是较大。业内超低的电流噪声(0.1 pA)业内超大的电流(10 μA)巨大的增益范围(7个数量级,103-109)———————————————————————————————————————————Park NX20先进的SPM模式表面粗糙度检测真正非接触模式 动态力模式电学性能导电原子力显微镜 (ULCA和VECA)静电力显微镜 (EFM)压电力显微镜 (PFM)扫描电容显微镜 (SCM)扫描开尔文探针显微镜 (SKPM)扫描电阻显微镜 (SSRM)扫描隧道显微镜 (STM)机械性能力调制显微镜 (FMM)力.距离(FD) 曲线力谱成像侧向力显微镜 (LFM)纳米刻蚀相位成像Park NX20技术参数————扫描器Z扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围: 15 µ m (可选 30um)高度信号噪声等级: 30 pm(RMS, at 0.5 kHz带宽)XY扫描器闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围: 100 um× 100 um(可选 50um× 50um)驱动台Z位移台行程范围 : 25 mm (Motorized)聚焦样品台行程范围 : 15 mm (Motorized)XY位移台行程范围 : 200 mm x 200 mm样品架样品尺寸 : 基本配置开放空间 up to 200 mm x 200 mm,厚度 up to 20 mm样品重量 : 500 g光学10倍 (0.23 N.A.)超长工作距离镜头 (1um分辨率)样品表面和悬臂的直观同轴影像视野 : 840 × 630 um (带10倍物镜)CCD : 100万像素, 500万像素 (可选)软件SmartScan&trade AFM系统控制和数据采集的专用软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制XEIAFM数据分析软件电子集成功能4通道数字锁相放大器数据Q控制信号处理ADC : 18 channels 4 high-speed ADC channels 24-bit ADCs for X, Y and Z scanner position sensorDAC : 17 channels 2 high-speed DAC channels 20-bit DACs for X, Y and Z scanner positioningMaximum data size : 4096 x 4096 pixels连接外部信号20个嵌入式输入/输出端口5个TTL输出 : EOF, EOL, EOP, 调制和交流偏压AFM模式(*可选项)标准成像真正非接触式原子力显微镜PinPoint&trade 原子力显微镜接触式原子力显微镜横向力显微镜(LFM)相位成像轻敲式原子力显微镜 力测量力-距离(F/d)光谱力谱成像 介电/压电性能静电力显微镜 (EFM)动态接触式静电力显微镜 (EFM-DC)压电力显微镜 (PFM)高压压电力显微镜* 机械性能力调制显微镜 (FMM)纳米压痕*纳米刻蚀*高压纳米刻蚀*纳米操纵*磁学性能*磁力显微镜 (MFM)可调制磁力显微镜 电性能导电原子力显微镜 (C-AFM)*IV 谱线*扫描开尔文探针显微镜 (KPFM)扫描电容显微镜 (SCM)*扫描电阻显微镜 (SSRM)*扫描隧道显微镜 (STM)*光电流测绘 (PCM)* 化学性能*功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜 (EC-AFM)———————————————————————————————————————————高级选项为用户量身定制原子力显微镜自动数据收集和分析,适合工业客户产线测量Park的自动化控制软件,可根据您的预设程序自动进行AFM测量。它可以准确地收集数据,执行模式识别,并使用它的寻边器和光学模块进行分析,不需要人工介入,从而为您节省大量宝贵时间。温度稳定的隔音罩创新的控制设计使Park NX20能够快速达到温度平衡NX20具有主动隔振功能。集成编码器的自动载台&bull XY马达运动工作时分辨率为1 µ m,重复率为2 µ m。&bull Z马达运动的分辨率为0.1 µ m,分辨率为1 µ m。倾斜样品倾角夹具,可帮助您进行样品侧壁成像。NX20的创新架构实现了对样品侧壁和表面的检测,还能够测量出相应角度。这为您提供了更多的创新研究方案和对样品更深入的理解。样品盘&bull 用于电气测量的专用小样品架&bull 用于固定晶圆的真空槽温度控制 温控台 1: -25 °C to +170 °C温控台 2: Ambient to +250 °C 温控台 3: Ambient to +600 °C
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  • 产品详情 瑞士 Nanosurf 原子力显微镜CoreAFM 技术参数: 扫描器 : 。最大扫描范围(XY) 100 μm 5 nm flatness 。最大高度范围(Z) 12 μm closed loop 。探测器噪声(RMS) typ. 60 pm max. 100 pm 。传感器噪声(RMS) typ. 180 pm max. 250 pm 。动态力噪声(RMS) typ. 40 pm max. 70 pm 。静态力噪声(RMS) typ. 100 pm max. 200 pm控制器 : Scan control and inputs 24-bit ADC/DAC 200 kHzCoreAFM非常智能地联合了原子力显微镜的核心部件来实现最多功能化与用户方便使用性. 正是由于这种基础的设计, CoreAFM非常合理的实现了最优化的原子力显微镜的功能. 功能强大与多模式最新的电路设计带有24位ADC与DAC来保证XYZ三个方向的高分辨驱动100×100×12 μm 扫描器,而且具有仅受限于探针的低噪音的力学探测. CoreAFM具备32种标准的与可选的模式与功能使得这款原子力显微镜成为了多种应用的选择,从材料科学到生命科学与电化学方面都可以适用. 基于CoreAFM最基本的功能, 所有可选模块都可以方便地得到扩展或者升级. 主动式防震台Isostage的系统集成功能反应在独特的SpikeGuard, 它可以自动消除成像过程中出现的跳线.尽管Isostage是一套主动式防震系统, 当外界干扰过大时候还是会产生跳线. SpikeGuard功能可以探测到这种异常然后重新扫描该线,自动产生没有跳线的图像. 包含测量模式CoreAFM可以实现静态力、动态力成像、相位成像、磁力模式(MFM)、横向力\摩擦力、力调制成像、标准力谱曲线与标准刻蚀模式.您也可以利用CoreAFM模式工具盒来提高您的测量经验. 包含的标准模式工具盒CoreAFM标准配置静态力模式工具盒, 动态力模式工具盒与相位成像模式工具盒.根据这些测量模式,每套模式工具盒都可能包含样品、适配探针、附件或者其中的组合. 瑞士Nanosurf公司最具性价比产品最小化与最集成化的设计方法不用您连接扫描器与控制器直接的连线, 配套附加的控制器盒、隔声罩与辅助光学系统等等,这样就使得所有的一体化元件保持了所有的功能. 最简化却是更值得 — CoreAFM意味着物有所值.CoreAFM与它的附件设计成设计成一套完整系统的概念. 附加的标准模式工具盒附加的标准模式工具盒可以单独来选配,如标准力谱工具盒, 标准刻蚀工具盒, 标准磁力模式(MFM)工具盒, 标准液体模式工具盒, 横向力\摩擦力模式工具盒与力调制模式工具盒. 高级功能AFM高级模块如样品加热台、环境控制腔、脚本开发或者其他高级模式都可以轻松地选配到CoreAFM系统上.更多细节与附件参考上面的图文总览,里面包括基础的选件功能与二次高级选件功能.
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  • ElProScan扫描电化学显微镜 HEKA ElProscan是一台扫描电化学显微镜,用于研究样品的电化学活性表面。它属于扫描探针显微镜(AFM, STM, SECM)家族的一员。2005年HEKA公司创立了ElProscan品牌,它包括传统的SECM实验方法及扩展功能。整个系统包括三个主要部分,定位系统,双恒电位仪,数据采集系统。 定位系统控制微电极在溶液中电化学活性样品表面上进行三维扫描,因此ElProscan可用作传统的SECM仪器并且具有更多的功能。ElProscan与传统的SECM不同之处在于它不仅仅记录针尖的电流信号,而且在针尖上可实现任何电化学实验方法的应用(用可编程脉冲发生协议Programmable Pulse Protocol来完成)。在脉冲发生协议运行过程中,在样品上应用独立的电化学实验方法并同时在针尖上应用不同的方法。因此ElProscan还具有电化学活性表面修饰的功能。 ElProscan系统设计具有多种应用领域的、多用处的特点,如:表面分析功能、金属沉积、导电聚合物沉积、酶活性成像、催化材料表面活性等仅仅是其中的少数应用。ElProscan是一套集成系统,可用一个软件程序实现所有功能的控制运行,而且还包括科学研究等级的硬件使仪器功能最佳化。ElProscan系统是唯一、可测量从超微电流到2A电流范围的电化学仪器,它还可以用作双恒电位仪/电流仪,使其具有多种电化学应用。微电流前置放大器可以在pA级的范围内实现高精度、低噪声的测量。 HEKA ElProscan系统具有多种独特的性能:1. 闭环控制用于所有的坐标轴(X,Y,Z)和Z轴压电驱动。2. 超微电流测量的低噪声小于1pA。3. 集成计算机实时系统以实现真实的等速扫描和实时斜率补偿。4. 实时控制的等间距扫描具有全部集成在一起的剪切力装置5. 3D阵列扫描具有电化学技术自由可编程功能。6. 模板扫描在自定义的平面结构上进行。
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  • 特点低噪声XYZ位置传感器高速Z轴扫描器,扫描范围达15μm自动多点样品扫描集成编码器的XY自动样品载台扫描头滑动嵌入式设计操作方便的样品台用于高级扫描模式易插拔扩展槽同轴高功率光学集成LED照明和CCD系统高速24位数字电子控制器自动Z轴移动和聚焦系统技术信息引领用于故障分析和大型样品研究的纳米计量工具作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器,其主要目的是对样品进行缺陷检测。而仪器所提供的数据不能允许有错误的存在。Park NX20,这款高精密的大型样品原子力显微镜,凭借着数据的准确性,在半导体和硬盘行业中大受赞扬。全面多样的分析功能Park NX20可快速帮助客户找到产品失效的原因,并帮助客户制定出更多具有创意的解决方案。高精密度可为用户带来高分辨率数据,让用户能够更加专注于工作。与此同时,非接触扫描模式让探针针尖更锋利、更耐用,无需为频繁更换探针而耗费大量的时间和金钱。 即便是刚接触原子显微镜的工程师也易于操作Park NX20拥有业界便捷的设计和自动界面,让你在使用时无需花费大量的时间和精力,也不用为此而时时不停的指导初学者。借助这一系列特点,您可以更加专注于解决更为重大的问题,并为客户提供及时且富有洞察力的失效分析报告。为FA和研究实验室提供精准的形貌测量解决方案样品侧壁三维结构测量NX20的创新架构让您可以检测样品的侧壁和表面,并测量它们的角度。众多的功能和用途正是您的创新性研究和敏锐洞察力所必需的。对样品和基片进行表面光洁度测量表面光洁度测量是Park NX20的关键应用之一,能够带来精准的失效分析和质量保证。高分辨率电子扫描模式QuickStep SCM超快的扫描式电容显微镜PinPoint AFM无摩擦导电原子力显微镜多种创新且创新的专利技术帮助顾客减少测试时间 CrN样品所做的针尖磨损实验通过对比重复扫描情况下探针尖端的形状变化,您可以轻易看到Park的真正非接触模式的优势所在。 AFM测量借助真正非接触模式,探针尖端在扫描氮化铬样品(即探针检测样品)200次后仍可保持锋利的状态。氮化铬的表面粗糙且研磨性强,会让普通的探针很快变钝。低噪声Z探测器测量准确的样品表面形貌没有压电蠕变误差的真正样品表面形貌超低噪声Z探测器,噪音水平低于0.02 nm,从而达到非常精准样品形貌成像,没有边沿过冲无需校准。Park NX20在为您提供好的数据的同时也为您节省了宝贵的时间。使用低噪声Z探测器信号进行台阶形貌测量。在大范围扫描过程中系统Z向噪音小于0.02 nm。没有前沿或后沿过冲现象终身无需校准,减少设备维护成本 Park NX系列原子力显微镜 传统的原子力显微镜参数扫描器Z扫描器XY扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围: 15μm (可选30μm)高度信号噪声等级: 30 pm(RMS,at 0.5kHz带宽)闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围: 100μm×100μm(可选50μm×50μm)驱动台Z位移台行程范围聚焦样品台行程范围XY位移台行程范围25mm(Motorized)15mm(Motorized)200mm×200mm样品架样品尺寸样品重量 基本配置开放空间 up to 200 mm x 200 mm,厚度 up to 20 mm 500 g光学10倍 (0.23 N.A.)超长工作距离镜头 (1µ m分辨率)样品表面和悬臂的直观同轴影像视野CCD840 × 630 µ m (带10倍物镜)100万像素, 500万像素 (可选)软件SmartScan&trade XEIAFM系统控制和数据采集的专用软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制AFM数据分析软件电子集成功能信号处理连接外部信号4通道数字锁相放大器数据Q控制ADC : 18 channels 4 high-speed ADC channels 24-bit ADCs for X, Y and Z scanner position sensorDAC : 17 channels 2 high-speed DAC channels 20-bit DACs for X, Y and Z scanner positioningMaximum data size : 4096 x 4096 pixels20个嵌入式输入/输出端口5个TTL输出 : EOF, EOL, EOP, 调制和交流偏压AFM模式(*可选项)标准成像力测量介电/压电性能真正非接触式原子力显微镜PinPoint&trade 原子力显微镜接触式原子力显微镜横向力显微镜(LFM)相位成像轻敲式原子力显微镜力-距离(F/d)光谱力谱成像静电力显微镜 (EFM)动态接触式静电力显微镜 (EFM-DC)压电力显微镜 (PFM)高压压电力显微镜*机械性能磁学性能*电性能力调制显微镜 (FMM)纳米压痕*纳米刻蚀*高压纳米刻蚀*纳米操纵*磁力显微镜 (MFM)可调制磁力显微镜导电原子力显微镜 (C-AFM)*IV 谱线*扫描开尔文探针显微镜 (KPFM)扫描电容显微镜 (SCM)*扫描电阻显微镜 (SSRM)*扫描隧道显微镜 (STM)*光电流测绘 (PCM)*化学性能*功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜 (EC-AFM)高级选项温度稳定的隔音罩集成编码器的自动载台样品盘创新的控制设计使Park NX20能够快速达到温度平衡NX20具有主动隔振功能。XY马达运动工作时分辨率为1 µ m,重复率为2 µ m。Z马达运动的分辨率为0.1 µ m,分辨率为1 µ m。用于电气测量的专用小样品架用于固定晶圆的真空槽温度控制温控台 1: -25℃ to +170℃温控台 2: Ambient to +250℃温控台 3: Ambient to +600℃
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  • NTEGRA Spectra系统简介: NTEGRA Spectra - AFM / CONFOCAL RAMAN & FLUORESCENCE / SNOM / TERS 它将原子力显微镜、扫描近场光学显微镜,激光共聚焦显微镜、荧光光谱和拉曼光谱等各种分析手段完美地结合到一起。借助于针尖增强拉曼散射效应(TERS),其拉曼散射光谱和图像测量的分辨率达到了50nm! Confocal optical microscopy/spectroscopy system NTEGRA Spectra系统将激光共聚焦显微镜、拉曼光谱、光学显微镜和扫描探针显微镜完美结合,提供了荧光光谱与Raman散射的空间3D分布测量,而扫描探针显微镜也兼备了纳米压痕、纳米操纵和纳米刻蚀加工等功能! Scanning probe microscopy system NTEGRA Spectra在进行光学观测的同时,NTEGRA Spectra系统也可以通过多种模式对样品进行SPM表征,包括:原子力显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜、扫描隧道显微镜、扫描近场光学显微镜、力曲线等等多大40种功能。这种独有的设计将光学与探针方法联合的设备,赋予了用户对样品同时进行多种性能表征的能力,使得用户可以观测样品的光学性质、化学性能、电学性质、力学性质和磁学性质等等! System for the investigation of optical properties beyond the diffraction limit NTEGRA Spectra系统区别于其他光学设备的性能在于它能在超过衍射极限的分辨率下,对样品光学性质进行研究。扫描近场光学显微镜与局域的针尖增强拉曼散射效应使得用户可以对光转移、光散射和光极化进行成像,其Raman散射的空间分辨率达到了50nm! NTEGRA Spectra系统的工作模式 原子力显微镜(力学、电学、磁性质等,纳米操作等多大40种功能) 扫描近场光学显微镜(透射、反射、收集、荧光) 激光共聚焦显微镜、共聚焦拉曼成像、荧光成像、光学成像 针尖增强拉曼散射-TERS(正置+倒置)扫描近场光学显微镜 ( SNOM / NSOM ) 环境控制:温度、气氛控制、液相操作、电化学环境、外加磁场不仅能将原子力显微镜-近场光学显微镜-光学显微镜-共聚焦显微-拉曼光谱完美的联用。此外每个功能还能单独使用即提供了:独立的AFM/独立的SNOM/独立的光学显微镜/独立的共聚焦显微镜/独立的拉曼光谱,所有功能都能在同一个软件下实现联用,并且能够同时得到测量结果。为了更好的体现Ntegra 的扩展性,该系统不但能和NT-MDT 的拉曼系统联用, 也同和市场上主流的拉曼进行联用,例如Renishaw,JY 等拉曼系统联用。
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  • alpha300 RA –在一个系统里面集成化学成分分析和纳米级别的结构成像alpha300 RA 是市场上首个高度集成的拉曼原子力显微镜系统,可以在标准的Alpha 300R共聚焦拉曼系统上通过标准模块升级即可完成拉曼原子力系统联用,获得原位的AFM和Raman图像的叠加。alpha300 RA 独特的设计理念使联用系统既保留300R强大的化学组分分析能力,同时加入微纳级别的表面形貌等特性的分析能力,使研究者能对样品进行深度完善的分析和理解。 alpha300 RA 让拉曼和原子力两种互补的技术得以在一套系统里面实现,两种技术的性能完全不受联用的影响,而且使用同一个操作软件,使得操作和分析变得简单应用。拉曼和原子力显微镜使用不同的显微镜物镜,只需要简单转动物镜转盘,成像软件即可原位完成两种技术的图像对比,叠加和分析 此外alpha300 RA可进一步升级来配合TERS (高分辨拉曼)测量 拉曼原子力显微镜系统主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 A (原子力) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析(拉曼)和微纳级别表面特征分析(原子力)的结合l 原子力和拉曼同时进行的绝佳选择l 严格原位,完全不需要在测量过程中移动样品l 只需要转动物镜转盘即可在两种测量技术之间简单切换 拉曼原子力显微镜系统应用实例 多组分高分子混合物,包含了1:1:1比例的聚苯乙烯(PS),充油丁苯橡胶(SRB)和丙烯酸乙基己酯(EHA)的原位拉曼及原子力图像对标最左边的拉曼成像: 绿色代表PS, 红色代表SRB,蓝色代表EHA.第二至第五张图像分别是样品的表面拓扑结构,相位,粘附力和粘度 金刚石压砧在单晶硅表面的压痕的应力分析,原位拉曼原子力图像左图:10x10um原子力表面拓扑结构和深度轮廓图,右图压痕周边的应力拉曼图像,紫色为未受应力影响,黄色为压力应变,灰色为张力应变 拉曼原子力显微镜系统性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像:连续扫描的拉曼高光谱全谱成像,每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪,专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 通用原子力显微镜操作模式l 接触模式l AC 模式(轻敲模式)l 数字脉冲力模式 (DPFM)l 抬高模式l 磁力显微镜模式 (MFM)l 静电力显微镜模式 (EFM)l 相位成像模式l 力曲线分析l 微纳操控及微纳印刷l 横向力模式 (LFM)l 化学力模式 (CFM)l 电流探测模式l 其他可选 基本显微镜指标l 研究级别的光学显微镜,6孔物镜转盘l 明场CCD相机,代替目镜观察样品l LED明场科勒照明l 电动XYZ样品台,25x25x20mm平移范围l 主动隔震平台 各类拉曼升级选项(如true surface等)l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台,可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选,如暗场,像差,偏光,微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR),均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合,70%超高光通量l 优异的成像质量,光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集,处理软件
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  • Dimension FastScan世界上扫描速度最快的原子力显微镜扫描速度的全新诠释,拥有高的扫描分辨率,优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨力,不增加设备复杂性,不影响仪器操作成本的前提下,帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统,即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节 和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合,大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率 Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量,保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。 Dimension Fastscan是世界上首台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM,真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升,Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。 ■采用低热漂移的针尖扫描AFM技术,提高了系统的固有振动频率。■应用新的NanoScope控制器,为机器提供了更高的带宽。■开发了小悬臂的生产工艺,在空气中共振频率为1.3MHz,在液体中共振频率为250KHz到500KHz。■采用了低噪音的机械和电子的主要部件,结合高共振频率X-Y-Z扫描管,在技术上获得了重大突破。■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度,结合高精度的闭环控制,在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高,即使使用更高的扫描速度100Hz,图像分辨率同样不会降低。■在ScanAsyst模式中,使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片,即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向,探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s,同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s, X-Y方向的跟踪误差1%,真正使Fastscan成为了世界上首台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO,利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。新的光学系统可以使用任何Bruker的探针,在不降低系统稳定性的前提下,得到好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合,消除了样品尺寸的限制,同时维持了低的噪音和热漂移水平。 AFM性能 Dimension FastScan AFM 的分辨率,与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合,提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业的针尖扫描技术的新革新,配置了温度补偿位置传感器,展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平,这个惊人的性能出现在大样品台,34微米和90微米的扫描范围的系统上,尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度,而不损坏图像质量,实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合,即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。 杰出的生产力 使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平,展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程,使其操作过程比以往先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中,同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果,而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面—从完全开放式针尖样品空间,到预存软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率,全新的直观用户界面,世界闻名的Dimension AFM平台,三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能,保证您在最短时间内得到测试结果并发表出版。 世界上最灵活的平台 Dimension FastScan 展现出的无与伦比的性能,坚固性和灵活度,使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台,大型多元样品支架和许多简单易用的性能,将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前,为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升,以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。 无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要 出众的性能满足各种应用需求 Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据,获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术,模式和模式增强功能,Dimension FastScan以其独特的性能优势,帮助您完成更高水平的纳米研究。 材料成像 FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式,在使用快速扫描扫描管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术,大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。 纳米操纵 可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应,大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位,适用于任何纳米操作系统。 加热和冷却 在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。 电学表征 使用专利的模式,可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA™ 和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法,同时还可以与样品上的力学属性相联系。 利用最短时间获得高质量可发表数据结果 无论是作为科研交流还是发表科学文章,Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。 样品筛选 利用AFM系统获取大量样品信,进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制,及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时,高准确度成为必备条件。在获取药物配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶药物成分进行筛选,这可能成为FastScan的一个新用途。 动态应用范例 另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下,随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中,对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。
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  • 拉曼原子力显微镜 400-860-5168转4823
    拉曼原子力显微镜型 号FM-NanoviewRa-AFM更新时间2022-10-17所属分类拉曼原子力显微镜产品描述:拉曼原子力显微镜FM-NanoviewRa-AFM◆ 同时集成拉曼光谱仪和原子力显微镜的功能,观测样品三维形貌的同时还可以分析样品的物质组分;◆ 内置10X复消色差光学系统,无需调焦,同时看到探针针尖和拉曼激光光斑;◆ 不移动样品可以从相同的点同时采集AFM和拉曼数据,原位检测样品的形貌信息与化学信息;◆ 激光检测头、激光耦合器和样品扫描台集成一体,稳定可靠;◆ 精密激光及探针。产品概述  拉曼原子力显微镜技术参数   ◆ 工作模式:接触、轻敲、F-Z力曲线测量、RMS-Z曲线测量、摩擦力/侧向力、振幅/相位、磁力和静电力   ◆ 样品尺寸:Φ≤90mm,H≤20mm   ◆ 扫描范围:XY向20um,Z向2um(可选配XY向50um,Z向5um)   ◆ 扫描分辨率:XY向0.2nm,Z向0.05nm   ◆ 样品移动范围:0~20mm   ◆ 光学放大倍数10X,光学分辨率1um(可选配20X,光学分辨率0.8um)   ◆ 扫描速率0.6Hz~4.34Hz,扫描角度0~360°   ◆ 扫描控制:XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A   ◆ 数据采样:14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样   ◆ 反馈方式:DSP数字反馈   ◆ 反馈采样速率:64.0KHz   ◆ 通信接口:USB2.0/3.0   ◆ 运行环境:WindowsXP/7/8/10操作系统   拉曼光谱仪:   ◆ 激光波长:532±0.05nm,可选配785±0.05nm   ◆ 激光连续输出功率:500Mw(50-600mW连续可调)   ◆ 激光波长稳定性:0.05nm   ◆ 激光功率稳定性:2%(两小时内)   ◆ 激光器寿命:10000小时   ◆ 拉曼漂移范围:50-4000cmˉ¹   ◆ 光谱分辨率:3cmˉ¹   ◆ 动态范围:8000:1   ◆ 积分时间:17毫秒-100秒   ◆ 线性度:99.8%   ◆ 运行环境:WindowsXP/7/8操作系统   ◆ 自动寻峰:支持   ◆ 拉曼数据库:3000多种常见数据(选配),支持升级   ◆ 开发式拉曼数据库:支持   ◆ 拉曼数据导入导出:支持   ◆ 分析软件:Raman Analysis 2
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  • 原子力显微镜 400-860-5168转1965
    仪器简介:瑞士Nanosurf公司,全球知名的专业研发扫描探针显微镜制造商和技术服务供应商,在扫描探针显微镜领域有超过15年的研发经验,一直致力于新型扫描探针显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持,同时还提供纳米技术的OEM 客户定制,外包等业务。easyScan 2原子力显微镜是瑞士Nanosurf公司在原有easyScan原子力显微镜基础上更新而来,增进了该原子力显微镜的便携性,精确性和可靠性,有更强的抗干扰能力。目前easyScan 系列原子力显微镜已经在50多个国家销售了近2000台。是工业质量控制,纳米材料研发者的完美工具。技术参数:easyScan2 AFM原子力显微镜: 1. 两种可供选择的原子力显微镜扫描头 (1) 大扫描范围 最大扫描范围:X和Y方向110um x 110um xy轴分辨率: 1.7nm 最大扫描范围: Z方向20um z轴分辨率: 0.34nm Z噪音标准(RMS): 0.4nm(2) 高分辨率 最大扫描范围:X和Y方向10um*10um xy轴分辨率:0.15nm 最大扫描范围:Z方向1.8um z轴分辨率:0.027nm Z噪音标准(RMS):0.07nm 扫描速度:1800个数据点/秒 传感半径: 15nm 典型负载: 10nN 扫描仪质量:350g 反馈回路宽带:3kHz 自动进场范围:5mm 没有使用危险的高电压2. 电子控制器 数据采集时,可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压:+12V 扫描速度:1-20分/框 1024样品/直线 动态频率范围:15-300KHz 动态频率分辨率:15-300KHz 外部电源 功率消耗量25VA 电子控制器质量2.5kg 3. 软件 软件在Windows 操作系统上运行 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察,点观察,三维观察 在线数学计算功能(减,平均值等等) 类似于粗糙度(Ra,Rq)、顶点剖面、厚度、距离和几何分析的数据分析 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 安装非常简便主要特点: easyScan2 AFM原子力显微镜:允许快速的、在原位无破坏性的、高分辨率的处理控制。 自动激光对准芯片技术,无需人工手动调节。设计小巧、紧凑;使用简便、舒适 。所有的功能可以在一台计算机上进行 。独立的;适合大、小形状各异的样品 。样品自动进场 。与标准计算机串行端口连接(不需要接口卡) 。特殊的扫描仪设计,确保低震动灵敏度 。
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  • 【实验箱配件列表】 1. 教学型原子力显微镜,包括:(1)AFM扫描头 (2)微米移动平台 (3)气流屏蔽罩 (4)顶部视窗观察系统 (5)大理石防震台 (6)电子控制器 (7)USB线和电源线。 2. 工具盒:钳子、镊子、样品基片、轻敲探针、接触探针等。 3. 软件安装盘【仪器参数】 扫描范围:XY向:70μm×70μm Z向:14μm 分辨率:XY向:1.0nm Z向:0.2nm
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  • 澳大利亚悉尼大学生物医学工程高级讲师,纳米健康网络传感器和诊断集群联合主席David Martinez Martin博士表示:“该系统承诺的速度和分辨率、易用性以及高达毫米范围的能力使其成为纳米医学和生物医学应用中 AFM 研究的改变者,”(Martinez Martin博士的研究重点是发现健康和疾病的新生物标志物,以及细胞生理学)“我们相信Bruker生物科学原子力显微镜 NanoWizard V 是先进的生物型AFM,它在一个系统中结合了三项重大创新:快速、定量的力学生物学测量、快速扫描 AFM 以及需要用户输入的自动化,” 布鲁克公司生物型AFM总监Heiko Haschke博士补充道,“在过去十年中,我们在使用 PeakForce Tapping 和定量成像 (QI) 模式的定量纳米力学方面积累了丰富的经验。通过在我们新的PeakForce-QI TM模式中结合两者,我们使新手和专家都能够进行高分辨率、定量的力学生物学BioAFM 实验。我们希望这个新系统能够为更全面地了解动态细胞过程和相关分子机制做出重大贡献。”关于 JPK NanoWizard V BioAFMJPK NanoWizard V是布鲁克业界领先的新一代生物型AFM。它已针对高时空分辨率进行了优化,具有大扫描区域、灵活的实验设计以及与先进光学显微镜系统的出色集成。其 PeakForce-QI 模式可实现快速灵活的定量纳米力学测量,显着扩展 AFM 在速度和分辨率方面的能力。NanoWizard V采用新颖的扫描仪和传感器技术以及先进的控制软件,包括直观的、基于工作流程的图形用户界面 (GUI),以确保真正、易于使用的 AFM 操作。该系统包括 JPK 标志性的高速、高性能 Vortis 2 控制电子设备、先进的数字控制以及增强其多参数成像能力和数据处理程序。借助motorized mapping、 DirectOverlay、DirectTiling 和 ExperimentPlanner 功能,定位和测量可以被设置为自动运行和重新排列,确保快速的样品观察和至高的力灵敏度。结合新的自动化硬件功能和丰富的液体池和温度控制选件,JPK NanoWizard V使各种级别的用户都能够完全专注于他们的实验。因此,它是多用户环境或成像设备的理想工具。关于 JPK BioAFMJPK于2018年7月加入布鲁克公司,为布鲁克公司业务和已有的仪器开发和支持带来了活细胞成像、细胞力学、粘附力、分子力测量、光阱和生物刺激-反应表征方面的深入专业知识。JPK BioAFM充分利用两段历史的优势,为生物分子和细胞成像以及单分子、细胞和组织的力测量提供显微仪器。 关于布鲁克公司布鲁克公司使科学家能够获得突破性的发现,并开发新的应用,以改善人类的生活质量。布鲁克公司的高性能科学仪器以及高价值的分析和诊断解决方案使科学家能够在分子、细胞和微观层面探索生命和材料。通过与客户的密切合作,布鲁克公司在生命科学分子研究、制药应用、显微和纳米分析、工业应用、细胞生物学、临床前成像、临床表型组学、蛋白质组学研究和临床微生物学等领域实现了创新,提高了生产力,并使客户获得成功。NanoWizard V BioScienceNanoWizardV结合了大扫描范围内的高时空分辨率成像,机动灵活的实验设计,以及与高端光学显微镜系统无缝契合等特点。自动化的实验设置,校准,以及参数调节为长时间的自调整实验带来更多的可能。自动化的性能,更高的产出自动化的实验设置、工作流程、以及校准,为长时间、自调整的实验和复杂的实验程序带来更多可能。动态-实时可视化在400线/秒的速度下研究动态过程,如结晶,晶体的生长、熔化,以及晶畴的形成。大样品-大范围的快速扫描创新性的粗糙表面快速扫描功能,广泛适用于从聚合物到太阳能电池的各类样品。了解第五代NanoWizard NanoScience AFMBruker生物科学原子力显微镜 NanoWizard V 有望大大促进我们对动态细胞过程和分子机制的理解。它的PeakForce-QI模式实现了快速和灵活的定量纳米力学测量--极大地扩展了原子力显微镜的功能,而它的自动化、远程控制和快速扫描能力为复杂实验提供了高通量、高性能的成像。Bruker生物科学原子力显微镜 NanoWizard V 具有新颖的扫描管和传感器技术以及先进的控制软件,包括一个直观的、基于工作流程的图形用户界面(GUI),以确保真正的、易于使用的AFM操作。无与伦比的易用性可以研究动力学的快速扫描,提升产出自动化、高像素密度测绘和成像来自拥有超过25年开发生物型原子力经验的先驱者被1000多个JPK/Bruker生物原子力显微镜客户认可被8500多篇具有生物学意义的出版物所证明用于高分辨率成像和定制应用的专门探针开发支持为新的科学发现铺平道路PeakForce-QI, PeakForce Tapping, PeakForce QNM, QI单分子力谱(SMFS)单细胞力谱(SCFS)与先进光学显微镜结合的DirectOverlay 2功能新一代软件V8具备新的ExperimentPlanner以及ExperimentControl用于高NA光学和AFM、环境控制等方面的配件全新的技术,强大的效率40Hz线扫描速度下利用轻敲模式在缓冲液中获得的脂质膜上的Annexin 5蛋白的图像,显示了二维蜂窝状结构中中心三聚体的占据密度。扫描尺寸1.3µ m×1.3µ m,高度范围8.0nm。在Fast tapping模式下170Hz线速下获得的缓冲液中脂质膜上的Annexin 5蛋白图像。箭头揭示了12秒(8帧)后二维晶体结构中被溶液中的中心三聚体占据过程。扫描尺寸96 nm x 96 nm,高度范围1.0 nm左图:液体中云母的原子晶格的图像。在倒置显微镜上以闭环方式拍摄的图像,扫描尺寸为10 nm×10 nm,高度范围为210 pm。右图: DNA折纸(GATTA-AFM,德国Gattaquant公司)在TAE缓冲液中以400线/秒的速度获得的图像,扫描尺寸为96 nm x 96 nm,高度范围为3.1 nm。高性能的生物型AFM NanoWizard V具有增强的、基于工作流程的设计,在新的SPM V8软件中具有直观的用户指导,使初学者和专家都能获得高质量、可重复的数据。该系统的高度自动化提高了生产力,并使产量扩大化。先进的分析和批处理程序确保科学的准确性和统计数据的可靠性。自适应的智能扫描程序使扫描速度提高到400行/秒低噪音的扫描仪和检测系统确保了高分辨率的数据和倒置光学显微镜上无与伦比的性能PeakForce-QI是PeakForce Tapping和QI模式的共生体,为高度精细的样品提供快、先进的力控制。在倒置显微镜上对大样品进行快速的自动原子力显微镜测试 利用布鲁克公司的嵌套扫描器和新的反馈技术实现动态可视化布鲁克公司成熟的DirectDrive提高了探针激发的稳定性在大的扫描范围内提供更快的扫描速度生产力的提高和测试通量扩大化获得更加完善统计数据智能优化程序提供定量纳米力学直观的生物型原子力显微镜操作基本的易于使用的特点用户管理,适合多用户自动设置和工作流程一键式悬臂校准一键式光学图像校准为AFM设计带有拼接功能的扩展光学视场长期的、无人值守的实验程序远程操作能力优化的参数和收藏夹存储直观的数据处理程序的整合理解生物学中的力37℃下细胞培养基中获得活体NIH-3T3成纤维细胞(小鼠)细胞的PeakForce-QI和荧光相关联的数据集。蓝色AFM图: 活的成纤维细胞的PeakForce-QI图像,顶部的高度范围2.35微米,底部图的高度范围3.5微米。红色AFM图: 从PeakForce-QI提取的杨氏模量图像,顶部图片模量范围5.2-13.1千帕,底部图像模量0-30千帕,顶部图片扫描尺寸10微米×10微米,底部图片扫描范围23微米×23微米。概述: 用CellMask&trade 绿色肌动蛋白追踪染色剂标记的成纤维细胞和杨氏模量图像的叠加,样品由柏林自由大学的Wedepohl博士提供(德国)。通过为正确的实验提供正确的模型,布鲁克公司为复杂的科学问题提供简单的解决方案。自动化的测量程序使研究人员能够专注于重要的事情--他们的研究,并质疑为什么而不是如何做。研究单分子、活细胞和组织样品研究原生条件下的大起伏和精细的软的样品对粘弹性能和粘附过程详细理解通过自动对准、HybridStage或电动台、ExperimentPlanner、ExperimentControl和GUI功能实现高水平的自动化,且具备高速信号处理和低噪音水平。PeakForce-QI - 定量成像的新篇章定量生物成像的先驱,拥有PeakForce Tapping(2000多篇论文)和QI(约1000篇论文)功能,现在为您带来下一代产品:PeakForce-QI.采用新的压电和传感器技术,实现快的纳米力学成像简单、精确的批量处理真正的、实时的力曲线监测技术参数标准操作模式现在有了PeakForce-QI,包括PeakForce Tapping, QI 和 PeakForce QNM包括嵌套扫描管技术的快速的PeakForce Tapping和QI带有侧向力显微镜(LFM)的接触模式带有PhaseImaging&trade 的Tapping模式用于设计特定测量工作流程的ExperimentPlanner 静态和动态力谱分析 先进的力成像可选模式先进的光谱学模式,如各种力钳模式或ramp设计快速扫描选项,线率高达200赫兹QI高级模式可获得定量数据,是软性样品的选择ScanAsyst在PeakForce Tapping和PeakForce-QI中自动调整增益和设定值先进的交流模式,如带Q值控制和主动增益控制的FM和PMCellMech包中的微流变学开尔文探针显微镜 MFM和EFM导电AFM STM 电学谱学模式 高电压下的压电力显微镜 带温度控制和光学显微镜的电化学和扫描电化学 纳米光刻和纳米操作纳米压痕 扫描热原子力显微镜来自Cytosurge的FluidFM解决方案用于远程实验控制的ExperimentControl功能用于AFM和光学显微镜组合的DirectOverlay 2可用于CellHesion、TAO&trade 和HybridStage&trade 模块的额外的XY或Z样品移动平台
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  • 产品详情Dimension FastScan德国BRUKER 原子力显微镜AFM世界上扫描速度最快的原子力显微镜 扫描速度的全新诠释,拥有最高的扫描分辨率,最优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨力,不增加设备复杂性,不影响仪器操作成本的前提下,帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统,即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节 和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合,大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率 Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量,保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。 Dimension Fastscan是世界上第一台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM,真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升,Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。 ■采用最低?spacerun: ' yes' mso-font-kerning: 0.0000pt"■在ScanAsyst模式中,使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片,即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向,探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s,同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s, X-Y方向的跟踪误差1%,真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO,利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针,在不降低系统稳定性的前提下,得到最好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合,消除了样品尺寸的限制,同时维持了最低的噪音和热漂移水平。 AFM终极性能 Dimension FastScan AFM 优秀的分辨率,与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合,提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业领先的针尖扫描技术的最新革新,配置了温度补偿位置传感器,展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平,这个惊人的性能出现在大样品台,34微米和90微米的扫描范围的系统上,尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度,而不损坏图像质量,实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合,即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。 杰出的生产力 使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平,展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程,使其操作过程比以往最先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中,同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果,而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面—从完全开放式针尖样品空间,到预存软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率,全新的直观用户界面,世界闻名的Dimension AFM平台,三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能,保证您在最短时间内得到测试结果并发表出版。 世界上最灵活的平台 Dimension FastScan 展现出的无与伦比的性能,坚固性和灵活度,使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台,大型多元样品支架和许多简单易用的性能,将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前,为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升,以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。 无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要 出众的性能满足各种应用需求 Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据,获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术,模式和模式增强功能,Dimension FastScan以其独特的性能优势,帮助您完成更高水平的纳米研究。 材料成像 FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式,在使用快速扫描扫描管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术,大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。 纳米操纵 可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应,大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位,适用于任何纳米操作系统。 加热和冷却 在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。 电学表征 使用专利的模式,可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA™ 和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法,同时还可以与样品上的力学属性相联系。 利用最短时间获得高质量可发表数据结果 无论是作为科研交流还是发表科学文章,Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。 样品筛选 利用AFM系统获取大量样品信,进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制,及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时,高精准度成为必备条件。在获取药物配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶药物成分进行筛选,这可能成为FastScan的一个新用途。 动态应用范例 另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下,随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中,对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。
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  • 教学型原子力显微镜 400-860-5168转1876
    仪器由主机和控制系统、专用工具、操作软件及附件组成。主要用于化学、材料科学(纳米材料、高分子、聚合物、半导体等)、生命科学以及相关领域的研究工作,对各种材料、化工产品、生物制品、非金属矿及深加工产品等进行观测,并对其表面形貌进行分析。扫描隧道显微镜功能:恒流模式、恒高模式、I(Z)谱、I(V)谱原子力显微镜功能:形貌成像、相位成像、磁力显微镜、静电力显微镜、扩展电阻成像、开尔文探针显微镜、力-距离曲线、振幅-距离曲线、I(V)谱刻蚀功能:力刻蚀、电流刻蚀、矢量刻蚀
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