非接触式成像光度仪

uniqprobe?，统一质量的SPM探针，有2，3个不同的三角形悬臂，非接触式/轻敲模式/接触模式探针侧面：部分金涂层PLATINUM SILICIDE：硅化物涂层的非接触式SPM探针(非接触式/轻敲模式)探针针尖为硅化铂(硅化铂反射)Advanced TEC?：AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式 探针侧面和针尖：铂/铹涂层AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式 探针侧面和针尖：铜涂层

POINTPROBE-PLUS? ：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铝涂层，xy轴自动校直

带激光瞄准功能的MiniTemp MT4非接触式温度测量仪特点和优势：以°C或°F的形式显示热量测定读数简单的点射红外技术可通过口袋大小的仪器而实现特别适合用来确认仪器热量测试值，其中包括GC进样端口和检测器测定值、恒温LC瓶以及酶水解浴规格型号MiniTemp MT温度范围-18至400°C（0 - 750 °F）间距与光斑大小之比（D:S）8:1响应时间500 m/sec发射率预设为0.95准确度±2%或±2°C（±3 °F）（以准确度更高的数值为准）与目标光斑的典型距离不超过1.5 m（4 ft）激光对准与否是受欢迎的MiniTemp MT4也具有用以辅助瞄准的单点激光对准功能。本品附带9伏电池。不需要进行再校准。带激光瞄准功能的MiniTemp MT4非接触式温度测量仪订货信息：产品描述部件编号MiniTemp MT4N9306074基础工具包产品描述部件编号装在工具箱中以便于储存和使用的工具N9301327本品包括：开口扳手套装（6件）、螺丝刀套装（6件）、可调式扳手（6英寸）、链用钳（窄）、剪钳和剥线器。豪华工具包产品描述部件编号运输时装在一个塑料工具箱内以便于储存N9301328本品包括：开口扳手套装（6件）、螺丝刀套装（6件）、可调式扳手（6英寸）、链用钳（窄）、剪钳、剥线器、滑动接口钳（6英寸）、5号长鼻不锈钢镊子（4-3/8英寸）、针式锉刀套装（6件）、艾伦扳手套装（11件、英制规格）和艾伦扳手套装（9件、公制规格）。

GC非接触温度测量仪的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 带激光瞄准的MiniTemp MT4非接触温度测量仪 特色和优势 Ø 显示温度测量读数，单位° C或° F Ø 简单的点射红外技术，仪器小巧玲珑 Ø 非常适用于仪器量热测试确认，包括 Ø 气象色谱注射器口和检测器测量、恒 热液相色谱瓶和酶水解水浴。 型号 MiniTemp MT4 温度范围 -18到400 ° C(0到750 ° F) 距离:光斑大小 (D:S) 8:1 响应时间 500m/sec 放射率 预设为0.95 精确度 ± 2%, or ± 2° C (± 3° F) 以数值大的为准，特别 最大目标(光斑)距离 最大1.5m(4ft) 激光对准 有 最小温度 MT4 N9306074 基础工具包 工具配备工具盒，方便储存和使用 N9301327 gon工具包包括： 开口扳手套装(6件), 螺丝刀套装 (6件.), 可调扳手 (6in), 链嘴钳(窄), 管钳,和剥线机 豪华工具包 用塑料工具盒装运，以便于储存 N9301328 工具包包括： 开口扳手套装(6件.), 螺丝刀套装( 6件.), 可调扳手( 6in), 链嘴钳(窄), 剪钳, 剥线机, 滑钳( 6in), 长鼻钳 No.5不锈钢镊子(43/8 英寸), 锉刀套装( 6件.), 艾伦内六角扳手套装 ( 11件. 英制规格), 以及艾伦内六角扳手 (9件. 公制规格)

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SUPERSHARP SILICON：SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，SUPERSHARPSILICON针尖SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，SUPERSHARPSILICON针尖HIGH ASPECT RATIO：高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 5:1高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 5:1，探针侧面：铝涂层

AKIYAMA-PROBE：Akiyama探针，动态模式原子力显微镜的自感应自动（自激）探针POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 特殊类型：APOINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 特殊类型：A，探针侧面：铝涂层SUPERSHARP SILICON：SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，特殊类型A，SUPERSHARPSILICONTM针尖

现货销售供应德国克吕士/Kruss-TVA100顶视法接触角测量仪TVA100，操作说明书，现货销售，特点：咨询热线，15300030867,010-82752485-815张经理，欢迎您的来电咨询！1. 由于光源和成像系统在同侧，所以测量可以不受样品大小的限制2. 适合测量凹凸表面内侧的接触角，比如隐形眼镜、96孔样品板、方形细胞培养瓶等3. 超低接触角时有非常优异的重复性4. 可作为升级模块添加在kruss其它型号的接触角测量仪上现货销售供应德国克吕士/Kruss-TVA100顶视法接触角测量仪TVA100，操作说明书，现货销售，特点，应用：1. 生物行业：多孔板、细胞培养瓶等2. 电子行业：复杂的电路板检测3. 硅片工业4. 卫浴陶瓷品5. 光学镜头检测，各种凹凸透镜技术参数 指标范围样品台尺寸 100×100mm 最大样品尺寸 300×∞×50mm（L×W×H）接触角测量范围 3.5°-23°（精度0.1°），23°-75°（精度1°），其它范围误差稍高光学系统 连续6..5倍放大，光源为双LED照明视频系统 标配60副照片/秒高速相机，含有红外滤膜，彻底消除光学失真，分辨率752×480像素，1/3英寸CCD,传输速度400M/s 注射系统 电子控制手动定量滴定样品台调节 手动或自动X-Y-Z轴调节接触角测量方法 顶视法（专利方法）固体表面能测量方法 Fowkes,extendedFowkes, Wu,Schultzl+II, Zismann,Owens-Wendt-Rabel, van Oss & Good, Neumann等九种测量总表面能、极性组成、路易斯酸碱组成、氢键组成等电源 110/220 V，50/60 Hz 数据接口 IE1394a

uniqprobe? ：uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针，探针侧面：部分铜涂层uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针，探针侧面：部分铜涂层PLATINUMSILICIDE：导电硅化物涂层的非接触式/轻敲模式侧面和针尖为硅化铂（硅化铂反射） SPM探针Advanced TECTM：AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂， 探针侧面和针尖：铂/铹涂层AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂， 探针侧面和针尖：铜涂层

DIAMONDCOATED：金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂， 探针侧面 铝涂层导电金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂， 探针侧面 铝涂层

现货供应销售德国克吕士/Kruss-DSA30研究型接触角测量仪，现货销售，操作说明书，主要特点，北京办事处：销售热线，15300030867,010-82752485-815张经理，欢迎您的来电咨询！﹡最新优化的成像系统，可以得到史无前例的清晰、锐利的图像精确的接触角、表面自由能和悬滴测量﹡丰富的进样系统，多种手动、自动可选，简单易用，并有专门用于高粘度、高污染样品的滴定系统﹡大小灵活可变的样品台，适应大样品的测量﹡采用快滴法放置液滴,操作简单、易于重复﹡软件通用性强，适应多变的测量控制现货供应销售德国克吕士/Kruss-DSA30研究型接触角测量仪，现货销售，操作说明书，主要特点，北京办事处，技术参数：● 最大可测样品体积：300 x ∞ x 50 mm（L×W×H）● 样品台尺寸：105 x 105 mm （L×W）● 接触角测量范围：0 to 180 °，（设计范围）分辨率：+/- 0.01 mN/m● 表面张力测量范围：1x10-2 to 2000 mN/m（设计范围），分辨率：+/- 0.01 mN/m● 光学系统：自动控制6.5 倍放大，聚焦 视野范围FOV 3.2 to 23 mm，软件控制光强调整, 高速相机（311幅照片/s），最高分辨率：780*580像素 (另有超高速全画幅相可选，最高可达20000帧/秒● 数据获取速度：800 M数据/秒● 方向控制：样品台可以x,y,z三维方向移动水平方向最大位移距离为100mm，垂直方向最大位移为38mm● 滴定系统：全自动多个注射系统，并含有相应的自动补液功能模块，液体自动选取模块，最小自动步进为0.01ul；手动注射系统一套；自动回洗清洗系统一套；50nl自动滴定系统一套● 软件:接触角测量：测量静态、动态接触角（前进角和后退角）和滚动角，测量过程可以拍摄存储或实时分析，提供多种多种自动拟合方法，并可自动测定粘附功，基线调整自动、手动、水平、曲面等方法。表面能计算：提供九种计算方程，可以给出浸润性分析图谱，可计算固体表面的极性力、色散力和氢键组成。表面张力测量：悬滴法（杨氏方程）测量液体表面/界面张力振荡滴发生和分析软件：可以控制振荡频率和振幅、调节各种响应参数，并分析液体的滞后效应，计算储能模量、损耗模量等参数。

高增益不接触式破碎探头 必能信高增益不接触式破碎探头采用封闭式、不接触样品处理方法进行破碎，样品放在玻璃试管或其他密封的容器里，从而避免了探头的直接接触。 凹型漏斗式的特殊设计使探头产生高强度的空穴效应，从而作用于需处理的样品中，形成强有力的破碎效果。 这种设计不仅能破碎多种细胞，也可进行多种前处理，如：乳化、分散、脂质体的制备、均质、脱气等。 典型运用： 血液化学 脂质体制备前处理 药片的分散、溶解 HPLC前脱气 颜料的分散 悬浮液的均质 易传染性样品的前处理

HIGH ASPECT RATIO：高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比≥ 5:1 倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 5:1，倾斜补偿为13°高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比≥ 10:1 倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 10:1，倾斜补偿为13°高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 5:1，探针侧面：铝涂层倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 5:1，倾斜补偿为13°，探针侧面：铝涂层高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 10:1，探针侧面：铝涂层倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 10:1，倾斜补偿为13°，探针侧面：铝涂层DIAMONDCOATED ：金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 探针侧面：铝涂层导电金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 探针侧面：铝涂层

POINTPROBE-PLUS? ：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铂/铹涂层，针尖/铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铜涂层PLATEAU：SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铝涂层TIPLESS：小针尖硅悬臂基于POINTPROBE?的技术

PLATEAU:SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铝涂层 TIPLESS:小针尖硅悬臂基于POINTPROBE?的技术SUPERSHARP SILICON:SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式SUPERSHARPSILICONTM 针尖SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式SUPERSHARPSILICONTM 针尖

testo 104-IR 折叠式防水温度仪（红外/接触式二合一）产品参数：储存温度-30 ~ +50 °C操作温度-20 ~ +50 °C电池类型2 xAAA电池寿命10 h重量197g（包含电池）尺寸281 x 48 x 21 mm材质/外壳ABS / TPE / PC，铸模锌，不锈钢探头类型 NTC 量程-50 ~ +250 °C精度±1 °C（-50.0 ~ 30.1°C）±0.5 °C （-30.0 ~ -99.9 °C）±1 %测量值（其余量程）分辨力0.1 °C探头类型 红外传感器 量程-30 ~ +250 °C精度±2.5 °C（-30.0 ~ 20.1°C）±2.0 °C （-20.0 ~ -0.1 °C）±1 °C或1.5 %测量值，取大值（其余量程）分辨力0.1 °C测量频次2次/秒光学分辨率10:1激光瞄准2点激光瞄准testo 104-IR 折叠式防水温度仪（红外/接触式二合一）

POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面：铜涂层

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铝涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铂/铹涂层，针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铜涂层POINTPROBE-PLUS?:POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铝涂层，XY轴自动对齐POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 超高压应用程序高质量因素，探针侧面：铝涂层PPPROTATED:POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 针尖旋转180度，探针侧面：铝涂层

? 产品名称：带激光瞄准的MiniTemp MT4非接触温度测量仪仪器厂商：PerkinElmer/美国 珀金埃尔默 价格：面议 库存：是 说明 零件编号 最小温度 MT4 N9306074 基础工具包 工具配备工具盒，方便储存和使用gon工具包包括：开口扳手套装(6件), 螺丝刀套装(6件.), 可调扳手(6in), 链嘴钳(窄), 管钳,和剥线机 N9301327 豪华工具包 用塑料工具盒装运，以便于储存开口扳手套装(6件.), 螺丝刀套装(6件.), 可调扳手(6in), 链嘴钳(窄), 剪钳, 剥线机, 滑钳(6in), 长鼻钳No.5不锈钢镊子(43/8 英寸), 锉刀套装(6件.), 艾伦内六角扳手套装 (11件. 英制规格), 以及艾伦内六角扳手 (9件. 公制规格)工具包包括： N9301328 ?

PPP ROTATED：POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，针尖旋转180度，探针侧面：铝涂层3PLATEAU：SPM探针针尖最高点的材质为硅，接触式硅悬臂SPM探针针尖最高点的材质为硅，接触式硅悬臂，探针侧面：铝涂层

石墨接触柱用于HGA石墨炉的石墨接触柱在设计上可实现精确贴合，从而使可能影响分析性能的电气接触偏差降至最小。石墨接触柱的形状经过了专门设计，以使其能完全嵌入石墨管内。这样，石墨管就定位于一个明确的惰性环境中，从而可确保加热条件一致并且石墨管持久耐用。石墨接触柱用于HGA-900/850/800/700/600/300石墨炉包括左侧接触柱、右侧接触柱和屏蔽环订货信息：产品描述部件编号1套B01284955套B3130086用于塞曼炉包括左侧接触柱和右侧接触柱订货信息：产品描述部件编号1套B01168235套B0180361

现货销售供应德国克吕士/Kruss-DSA25标准型接触角测量仪DSA25，销售现货，操作说明书，功能：咨询热线，15300030867,010-82752485-815，欢迎您的来电咨询！测量液体与固体之间的接触角测量固体表面能，计算能量分布测量液体的表面/界面张力现货销售供应德国克吕士/Kruss-DSA25标准型接触角测量仪DSA25，销售现货，操作说明书，功能，特点：多种规格的固体样品附件可选可选配温度计湿度控制腔手动，单一自动，双自动多种滴液系统可供选择现货销售供应德国克吕士/Kruss-DSA25标准型接触角测量仪DSA25，销售现货，操作说明书，功能，参数：接触角测量范围： 0-180°精度： ±0.1°表面张力测量范围：1×10-2—2000mN/m分辨率： 0.01mN/m光学系统： 6.5倍光学变焦，最高速度301幅图片/秒

成像显微镜配件是生命科学和医学领域的最佳性价显微镜成像系统，提供40X-1000X的放大倍率，500万像素成像，特别适合实验室科研等高级应用。 成像显微镜配件特点： 欧洲生产制造，秉承欧洲百年精密光学优势，具有突出的优势和性价比 可升级到偏光显微镜，暗场显微镜，相衬显微镜。 具有6V 20W的卤素灯照明，适合220V/50Hz的中国电力标准。 并且具有LED配置供用户选择 成像显微镜配件特色： * 观察筒：30度倾角圆弧形管，360度可旋转，缓解颈部肌肉，长时间观察也不疲劳。可以屈光度补偿地调节瞳距，调节范围48-75mm. * 目镜非常适合佩戴眼镜的人员观察。 * 四位物镜转换器方便使用不同放大倍数的物镜观测。 * 低位同轴粗调聚焦和标定级的微调聚焦控制。 * 聚焦自动终止安全防护功能。 * 双层样品台配带可更换的超硬玻璃板，防止样品台划伤，污染等. * 高级暗场显微镜克勒照明系统 20W卤素灯。 * 可升级为2人共用显微镜 可选配件： 各种高级相衬显微镜目镜, 相衬(phase contrast), 偏光，暗场，数字相机等。 多人共览配置---可配置成侧面或后面观察型，两人同时观测。 成像显微镜配件参数 放大率：40x-1000x 显微镜镜体:坚固耐用，300mm×270mm，橡胶支点 物镜转换器:滚珠轴承四孔转换器 目镜筒:双目圆弧形观察筒,防霉设计，30度倾斜，360度可旋转，瞳距调节：48-75mm 样品载物台: 双层155x135mm载物台， X，Y位移行程范围76x30mm,超硬玻璃覆盖，防止划伤或污染。 聚焦：低位粗调和细调（步进2微米），总对焦范围20mm。具有自动聚焦停止的安全功能。 集光器: Abbe 明视野集光器， 数值孔径（n.A） 1.25，集成虹膜光阑 目镜：EW10X/20宽视场目镜 物镜：ICO Plan 4x/0.10 ICO Plan 10x/0.25 ICO Plan 40x/0.65 弹簧加载 ICO Plan 100X/1.25 浸油，弹簧加载 照明光源：内置电源20W卤素灯，电源电压110V/220V，频率50/60HZ。 标准附件：防尘罩，蓝光虑光片，浸油，用户手册，2根保险丝， 20W飞利浦卤素灯 可选附件：铝制工具箱，多型号目镜，目镜锁定工具，暗视野滤光片（中心光阑） 加热台：可选加热台，提供恒定温度，观察活细胞样品。 相机系统 显微镜成像系统标准配置500万像素USB接口的实时CMOS成像相机，主要指标如下： 分辨率：500万像素 满幅帧频：7fps@2592x1932像素 动态范围：12bit USB2.0图像传输 灵顿度： 0.053V/Lux-Sencond at 550nm孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括凝胶成像仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。更多关于成像显微镜品牌等诸多信息，孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来，了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取！

产品介绍:泰思泰克透过材料接触传热性测试仪根据ISO12127-2007及EN702设计研发并制造；该仪器通过加热筒在一定载荷下接触试样及热量计，测定一定温度下试样的传热性能；该仪器操作简单，数据准确，安全可靠，广泛应用于消防防护服相关公司及检测部门； 产品型号：TTech-ISO12127符合标准：ISO12127-2007 EN702技术参数1、 该设备由控制箱及不锈钢试验架台构成；2、 试样架自动升降，升降时速度 5mm±0.2mm/s3、 K型铠装热电偶，直径2mm，测温精度0.1℃；4、 加热桶温度大于500℃ 试样接触表面直径25.2±0.05mm5、 加热桶载荷重量 49N，可调节；6、 计时器 计时范围9999s 计时精度0.1s 7、 热量计固定盘直径25mm,厚度5mm 并装配铂电阻温度传感器；8、 支撑架材料为尼龙66；直径40mm 高度50mm 9、 试样直径80mm 10、 PLC 及触摸屏智能控制系统；11、 升温PID智能控制，系统自动采集温度数据；12、 试验数据系统自动计算，自动存储；可自由打印；13、 试验台尺寸：650mm x 350 mm x 650mm14、 电源 220V 50/60Hz, 功率800w

一次性无菌培养基接触碟无菌包装，操作简单，使用方便。γ射线灭菌，无有毒有害物质残留。选用美国OXOID和英国BD培养基，品质保证。三层真空包装，延长保质期。高精度蠕动泵灌装，重复性好。节省人工成本，使用成本低，效率高。 用于洁净厂房表面微生物的取样。用于医院手术室墙壁和无菌衣的表面取样。用于机械设备表面微生物的取样。用于无菌服装表面微生物取样。用于手袖套表面微生物取样。

凝胶成像仪配件是一款简单而紧凑的凝胶成像系统，带有数字化控制面板，凝胶成像仪配件可用于琼脂糖和其它光凝胶，彩色凝胶,放射自显影薄片，印迹膜的荧光成像。凝胶成像仪配件包含了一个高达1400万像素的超级相机和8' ' 彩色TFT屏，非常方便直观地观测图像，非常适合安装空间有限，预算有限的用户使用。凝胶成像仪配件特色安全防护：前门打开时紫外透照台自动关闭。图像文件可保存为多种格式，包括RAW格式。1000万像素相机高分辨率8' ' 显示屏数字控制面板轻巧便携多个聚焦面积选择内置紫外透照台不需要计算机可自行操作可连接热敏打印机直接打印结果内部2x3W白光LED照明可选配凝胶分析软件通用电压100-240V凝胶成像仪配件参数相机：佳能Power Shop G11数字照相机像素： 1000万像素， 1/1.7' ' 高密度CCD最大光圈： F/2.8(W)--F/4.5(T)辅助照明光源：LED白灯电源： 110-240V孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括凝胶成像仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。更多关于凝胶成像仪价格等诸多信息，孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来，了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取！

HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪 HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度以及光照度.无需电池. 使用方法: 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里,探头上面部分留大约1厘米. 拨动笔上的按键到MOIST, MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 拨动笔上的按键到PH, PH是酸碱度键,对应表上的是8-3.5数值, ALKALINE是碱, ACDIC是酸,数值7基本是中性,数越小说明酸度越大,请根据植物的品种调整土壤酸碱度. LIGHT键是光照度,测量范围0-2000流明,数值越大,说明光照越强,请根据植物的品种来决定是否需要遮阴. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净. 如何分析植物光照强度 1. 将功能键拨至左起第二个档位上。 2. 手持装置，使装置顶端的细长蜂巢状紫色小窗置于植物顶端叶面位置，将小窗朝向最亮的光源方向。在测试过程中，请避免身体和叶子的阴影遮挡小窗。 3. 请记录测试结果（× 1000）及测试时间。 4. 请选择上午、中午、下午的中间时刻测试，所得出的数据就是这一时间段的平均光照强度。 例如： 上午9:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（上午7:00到11:00间的平均光照强度） 下午1:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（11:00到下午3:00间的平均光照强度） 下午5:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（下午5:00到7:00间的平均光照强度） 一天的总日照强度= 以上数据之和。 单位：Foot-candle hours (烛光距) 1 Foot-candle = 10.7639 Lux (勒克斯) 请查阅说明书后的光照要求表。 如何分析湿度 1. 将功能键拨至左起第三个档位上。 2. 将探棒完全插入被测土壤。在测试盆栽土壤时，将探棒插于植物干茎与花盆的中间位置，请不要离植物过近，以免伤及植物根系。 3. 读取数据。 4. 将探棒从土壤中取出，在进行下一次测试或存贮之前，请用棉布将探棒完全擦净。 5. 请不要将探棒长时间插于土壤中，也不要用此装置测试液体，以免对其造成损害。 如何分析土壤的pH值 1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等。 2. 将土壤用水浸透，成泥状。（最好使用雨水或蒸馏水） 3. 将功能键拨至最右边的档位上。 4. 湿润探棒。用购买时随附的特殊清洁棉片将三个探棒中的最右边一根擦净。 5. 将探棒完全插入被测土壤中。 6. 等待1分钟即可读取数据。 7. 测试结束后，将探棒擦净并晾干。 如何使用你的土壤pH值分析计 1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等；将土壤用水浸透，调匀成泥状。（最好使用雨水） 为了达到较准确的分析结果，你可以从被测土壤中采集一部分土，清除石子及有机碎屑物，然后把土壤碾碎成粉末状，并从中取出2杯的样土；准备一个干净的玻璃或塑料容器，倒入2杯蒸馏水或去离子水，再加入样土，搅拌使他们充分混合并压实，倒掉多余的水。 2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面；再使用棉制品或纸将探棒抹净，每次应从探头擦至探棒尾部。 3．将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深；若探棒不容易插入，请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒，以免损伤探头。 4．在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次，确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好； 5．等待60秒后读取数据。 6．如果测试结果大于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。 在指间转动探棒2-3次，30秒后读取数据 7．如果测试结果小于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，60秒后读取数据。 仪器注意事项 - 探棒插在土壤中的时间不宜过长，以免损坏探棒金属表面； - 确认在存放仪器前，探棒应干燥、干净； - 应使探棒远离其他金属物质； 此仪器只用于测试土壤，请不要将探棒插入水中。 问题及解决方法 指针摇摆不定 * 石子或有机质影响仪器电极 * 土壤样土未完全压实（盆栽和重量较轻的土壤） * 清洁探棒后，有金属颗粒附着探棒 * 土壤在探棒周围分布不均匀 * 探棒距盆壁或盆底过近 * 测试时间离重新装土入盆的时间太近 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 指针迟钝或没有反映 * 需要清洁探棒 * 样土过干 * 探棒受损 极端pH值状态（仅限于盆栽土壤） * 因过量施肥而带来的养分增加 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 如何测量湿度 1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系； 2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果； 3．读取结果； 4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障； 5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。 如何读取结果 1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。 2．浇灌次数（参考说明书）： &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3．特殊水分要求 以下数字代表： i 每天向叶面洒水； ii 不要让土壤变干； iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿； iv 土壤应始终保持湿润； v 在浇灌间隙可令土壤变干； vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干； vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量； viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。