高分辨率光斑分析仪

SYNAPT XS高分辨率质谱仪没有研究，就制定的决策，容易是盲目的在科研领域，研究进展缓慢和成本不断上升俨然已成为一项挑战。SYNAPT XS质谱仪具有极致灵活性，可提供更大的选择自由度，能够打破这些壁垒，支持任何应用的科学创新和技术成功。 • 创新技术作为基石，提供最优异的分析性能• SONAR和HDMSE提供一套独特的工具包，用于解析复杂混合物• 离子淌度功能大大增加了峰容量和分析选择性• CCS测量可提高化合物鉴定的准确性创新技术提供最优异的分析性能凭借沃特世高级质谱“SELECT SERIES”传承下来的技术基石，内置先进的创新技术，确保使用该平台的科学家处于质谱分析的最前沿，同时维持SYNAPT的易用性和成熟的客户端工作流程。StepWave XS重新设计的分段四极杆传输光学元件，提升棘手化合物的分析灵敏度，同时进一步提高分析稳定性。Extended ToF 针对最复杂的样品，提供兼容UPLC的质量分辨率、耐受各种基质的动态范围和定量分析结果，同时提供卓越的性能指标。更大的分析选择自由度为有效解决固有难题，分析人员对各种分析策略的需求不断增加，因此，SYNAPT XS将高性能与极致灵活性相结合。竞争对手的系统大多存在入口选项有限、扫描功能局限性或需要多个平台等问题。与之相比，只有沃特世能够提供全方位的高性能LC-MS解决方案，该方案经过专门设计，能够提供更大的分析选择自由度以支持科学研究。SONAR和HDMSE提供了一套独特的工具包，用于解析复杂混合物完整的分析策略需要结合适当的互补技术才能得到更全面的数据信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非数据依赖型采集(DIA)操作模式，分析人员能够利用互补机制，以独一无二的方式解析复杂混合物。两种类型的采集均提高了分析峰容量，提供“清晰明了”的碎片数据，但它们基于不同的分子特性。这提供了一种真正独有的研究工具包，适用于深入解析复杂混合物。离子淌度和CCS测量传统质谱仪基于m/z分离组分。SYNAPT XS还支持在离子淌度实验中，使用分子大小、形状和电荷作为其碰撞截面(CCS)的函数，对分子进行分离。 除离子淌度能提供额外的分离维度、增加峰容量和分析选择性以外，CCS测量还可提供额外的分子标识。离子CCS的测量结果有助于确定离子名称或研究其结构。运用离子淌度技术，显著提高了科学家分析复杂混合物和复杂分子的范围和可信度。CID与ETD碎裂功能TriWave的双碰撞室结构可进行碰撞诱导解离(CID)和/或电子转移解离(ETD)碎裂，且分辨率高、质量测定准确，能够拓展MS/MS检测能力。 高解析度四极杆包括4 KDa、8 KDa或32 KDa质量数范围，适用于从小分子到大分子的MS/MS分析TAP碎裂时间校准平行(TAP)碎裂是T-Wave IMS设计所独有的采集模式。它使用户能够利用TriWave配置，允许将IMS前T-Wave和IMS后T-Wave作为两个单独的碰撞室运行。得到的CID-IMS-CID仪器操作有助于对组分进行超高可信度的结构表征。TAP碎裂与传统MSn或MS/MS技术相比，具备卓越的碎片离子覆盖率、灵敏度和准确性，在构建完整结构方面有着不容置疑的优势。

国内首推科学级制冷型高分辨率ICCD 相机，在像增强器与科研制冷型的CCD相机之间，采用高分辨率的镜头耦合方式耦合成像， 获得60lp/mm 空间高分辨率，实现对高分辨率成像或高分辨瞬态光谱采集。 ● 科学级制冷型ICCD● 18mm口径二代高效像增强器● 宽光谱响应范围：S20:200-850nm & S25R：400-1100nm● 光学快门： 3ns● 延迟与门控调节精度：10ps● 阴极门控*高外同步频率 300KHZ ● 内置时序控制器DDG● 高空间分辨率：Std 50lp/mm，Option :60lp/mm● CCD芯片： 高分辨2750*2200像素阵列● 位深： 16bit● 制冷温度： -10℃ @ 风冷● 配合高分辨光谱仪实现瞬态光谱采集● 专业化数据采集控制软件独特亮点制冷型ICCD-10度芯片制冷温度，有效减低芯片暗噪声，安静读出超快光学门宽3ns 阴极光学门宽，实现**测量内置DDG内置精度10ps 门控与延迟控制发射器，方便随心控制自动步进STEP延迟和门控自动Step 步进功能，一键完成时间分辨光谱采集高空间分辨率高空间分辨率像增强器及镜头耦合，获得60lp/mm 空间分辨IOC 模式300kHZ阴极快门外同步频率，IOC 芯片累积模式提升信噪比Binning and ROI实现芯片FVB Binning以及 多通道光谱同时采集专业化软件采集控制&光谱仪控制，数据处理专业化界面，简单快捷ICCD像增强型高分辨率相机技术参数 CCD相机像素阵列2750*2200阵面尺寸12.48*9.98mm (15.972 mm Diag.)像素大小4.54um*4.54um传感器类型CCD Sensor读出噪声5e-暗电流0.02e- / pixel / s @-10℃位深16bitBining& ROIFVB: 垂直方向全Binning光谱模式& 多通道 ROI及FVB数字接口UBS2.0像增强器MCP光阴极S20BS25R有效口径18mm18mm光谱范围200-850nm400-1100nm峰值量子效率20% @440nm22%@720nm等效噪声（EBI） 2 x 10-7 lux @ 20 °C ± 2 °C 5 x 10-7 Lux光子增益1*1041.4*104荧光屏P20 /P43P43空间分辨率标准：50lp/mm ； 高分辨率选项： 60lp/mm光学门控宽度3ns （Mesh）Fast10ns, Slow 100ns内部DDG 控制延迟和门宽调节范围0-10s延迟和门宽调节精度10ps同步接口外触发输入，触发输出，直接触发输入（Direct gate）触发信号触发阈值 1-5V， 阻抗50欧姆，抖动100ps触发固有延迟40ns @ Direct gate , 120ns@ Ext外触发*增强器光阴极量子效率曲线型号选择SIC: Scientific Intensified Camera● 18/25 18或25m 口径增强器● U/F/S Ultrfast gate =3ns , Fast gate 10ns, Slow gate: 100ns● UV/VN：UV-VIS 200-900nm；VIS-NIR : 400-1100nm● 6M/4M : 600万像素 CCD 2750*2200 400万像素sCMOS 2048*2048● L/F: L高分辨镜头耦合 F 高通量光纤面板耦合 ICCD像增强型高分辨率相机常见型号列表

BeamOn HR高分辨率光斑分析仪以色列Duma Optronics 公司于1989年成立，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型：CCD类型分析仪（最新产品）、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。-用高分辨高动态范围12位CCD相机-可检测连续和脉冲光束的位置、功率、光强分布-USB2.0接口，具有完整的联机帮助程序-实时显示光束2D/3D图像，检测光束尺寸和高斯拟合-通过RS232或者TCP/IP协议与其它电脑数据共享主要参数：参数数值相机类型CCD 1/2"像素4.65μm x 4.65μm探测器响应面积6.47mmX4.83mm光谱范围350 – 1310nm1550nm±50nm最大帧速15fps at 1392x1040, 30 fps with binning (2X)成像分辨率1392X1040快门速度0.6s-1μs增益X1 to X23动态范围60dB(无衰减片)损伤阈值50W/cm2(有衰减片)灵敏度5nW/cm2@633nm, 60μW/mm2@1310nm22μW/mm2饱和度2mW/cm210mW/mm2电源6V, 4Watts

WALLIS是专用于Zeta电位仪WALLISζ是一种创新的zeta电位仪，专门用于表征纳米颗粒悬浮液。它基于重新审视的现代版激光多普勒电泳（LDE）技术，提供独特且无与伦比的测量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析仪的补充，用于研究胶体溶液的稳定性和性质。Zeta电位仪是胶体悬浮液的基本性质。基本上与浸没在溶剂中的颗粒表面上附着的电荷数密切相关。因此，通过诸如双电层（EDL）的物理模型所描述的非常复杂的方式，zeta电位仪与颗粒-颗粒相互作用和配方稳定性相关联。zeta电位仪的主要优势?没有电渗效应---消除了测量中的假峰?改进型LDE技术（LDE）---高效，可靠和简单?增强的分辨率---比通常的相关器技术好10倍?高分辨率测量---准确且可重复的zeta电位分析?易于使用和直观的图形用户界面软件（GUI）---交钥匙操作?用于长寿命电极的新材料---减少维护和消耗 成本效益好?专为标准一次性比色杯和石英比色杯设计---易于填充 ?分辨率比流行的电泳光散射法提高10倍；Zeta电位仪的技术参数Zeta电位仪范围 ：-500 mV至500 mV 电泳迁移率范围：10-10 - 10-7 m2/ Vs适用粒径范围（用于zeta测量）： 1纳米至100微米样品浓度 ：0.0001％至10％W/％（取决于溶剂）样品池内的温度控制范围 ：10°C至70°C +/- 0.1°C（取决于比色杯样品池材料）样品池选项 ：具有光学质量窗口的比色杯样品池，与有机溶剂兼容样品量： 通常750μL（Hellma样品池 - 10 mm光程）zui大样品电导率： 300 mS/cm样品类型： 水和有机溶剂 - pH：1-14（取决于比色杯样品池材料）zeta电位仪的信号处理测量技术： 激光多普勒电泳（LDE）激光源：高可靠性20mW二极管激光器@ 635 nm，带自动光衰减系统。可根据要求提供其它波长激光器测量角度 ：在17°单角检测zeta电位数据处理算法： 快速傅立叶变换分辨率： 流态迁移率 = 10-10m2/ Vs，或 Zeta = 0.1 mV（在水相）探测器 ：雪崩式光电二极管 - APDzeta电位仪的常规参数电脑接口： USB 2.0 - Windows XP，Win 7外形尺寸： 33厘米 x 33厘米 x 38厘米（HWD）重量： 16公斤功率： 100-115 / 220-240 VAC，50/60 Hz，zui大100 Wzeta电位仪的系统标准CE认证： CE标志产品 - I类激光产品，EN 60825-1：2001，CDRHISO标准 ISO ：13099-2：2012 - 胶体系统 - zeta电位测定方法第2部分：光学方法

WALLIS是专用于Zeta电位仪WALLISζ是一种创新的zeta电位仪，专门用于表征纳米颗粒悬浮液。它基于重新审视的现代版激光多普勒电泳（LDE）技术，提供独特且无与伦比的测量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析仪的补充，用于研究胶体溶液的稳定性和性质。Zeta电位仪是胶体悬浮液的基本性质。基本上与浸没在溶剂中的颗粒表面上附着的电荷数密切相关。因此，通过诸如双电层（EDL）的物理模型所描述的非常复杂的方式，zeta电位仪与颗粒-颗粒相互作用和配方稳定性相关联。zeta电位仪的主要优势?没有电渗效应---消除了测量中的假峰?改进型LDE技术（LDE）---高效，可靠和简单?增强的分辨率---比通常的相关器技术好10倍?高分辨率测量---准确且可重复的zeta电位分析?易于使用和直观的图形用户界面软件（GUI）---交钥匙操作?用于长寿命电极的新材料---减少维护和消耗 成本效益好?专为标准一次性比色杯和石英比色杯设计---易于填充 ?分辨率比流行的电泳光散射法提高10倍；Zeta电位仪的技术参数Zeta电位仪范围 ：-500 mV至500 mV 电泳迁移率范围：10-10 - 10-7 m2/ Vs适用粒径范围（用于zeta测量）： 1纳米至100微米样品浓度 ：0.0001％至10％W/％（取决于溶剂）样品池内的温度控制范围 ：10°C至70°C +/- 0.1°C（取决于比色杯样品池材料）样品池选项 ：具有光学质量窗口的比色杯样品池，与有机溶剂兼容样品量： 通常750μL（Hellma样品池 - 10 mm光程）zui 大样品电导率： 300 mS/cm样品类型： 水和有机溶剂 - pH：1-14（取决于比色杯样品池材料）zeta电位仪的信号处理测量技术： 激光多普勒电泳（LDE）激光源：高可靠性20mW二极管激光器@ 635 nm，带自动光衰减系统。可根据要求提供其它波长激光器测量角度 ：在17°单角检测zeta电位数据处理算法： 快速傅立叶变换分辨率： 流态迁移率 = 10-10m2/ Vs，或 Zeta = 0.1 mV（在水相）探测器 ：雪崩式光电二极管 - APDzeta电位仪的常规参数电脑接口： USB 2.0 - Windows XP，Win 7外形尺寸： 33厘米 x 33厘米 x 38厘米（HWD）重量： 16公斤功率： 100-115 / 220-240 VAC，50/60 Hz，zui大100 Wzeta电位仪的系统标准CE认证： CE标志产品 - I类激光产品，EN 60825-1：2001，CDRHISO标准 ISO ：13099-2：2012 - 胶体系统 - zeta电位测定方法第2部分：光学方法

诺坦普 NanoTemper超高分辨率蛋白稳定性分析仪 Panta (SLS)技术参数：产品简介：NanoTemper PR Panta，结合微量差示扫描荧光nanoDSF (nano Differential Scanning Fluorimetry）技术、动态光散射DLS (Dynamic Light Scattering)技术以及背反射（Backreflection）技术，首次实现了在整个热升温过程中，【同时且实时地】检测样品构象、粒径和聚集变化，实现对生物制剂高分辨率的、特有结构域的稳定性表征，监测整个生物制剂研发流程中的关键环节，加速生物药开发进程。应用领域：生物制剂的开发过程漫长而复杂，从候选分子到最终变成产品都需要检测一系列重要参数作为支持。从上游筛选、构建或改造候选分子，到制剂优化、可开发性评估，以及下游生产工艺优化，PR Panta 都可以始终如一地为候选分子提供全面的参数稳定性表征和可信赖的结果，精准比较不同团队和不同批次样品的构象与胶体稳定性数据时保持一致性。产品优势：【同时且实时】：首次实现在整个升温过程中实时监测和记录，同时提供构象稳定性、粒径及聚集数据，并在结构域水平上获得全面且完整的稳定性信息；【超高分辨率】：误差值在±0.008的高分辨率，检测多个热变性时可有效区分具有相似Tm的结构域，弥补由于监测技术瓶颈而忽略掉的关键信息；【高特异性】：可有效区分生物制剂信号与缓冲液或细胞间质信号；【数据精准、重复性好】：Tm误差范围仅为±0.1 °C，提供真实的检测结果；【通量灵活、操作简便】：无论是上游制剂开发还是下游工艺优化，无论浓度高低，一台Panta即可满足整个流程的稳定性检测需求，节约成本和时间。

高分辨率激光干涉仪所属类别： ? 光学/激光测量设备 ? 波前分析仪 所属品牌：法国Phasics公司 产品简介高分辨率激光干涉仪便携式、高分辨率、高动态范围激光干涉仪！ 法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪(High-resolution Interferometer)是一款便携式、高灵敏度、高精度的波前分析仪。法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪基于波前分析的四波剪切干涉技术，与传统干涉仪相比较具有结构紧凑，使用方便，无需标准件，优秀的检测稳定性，直接测量任意的波前、高分辨率（300x400采样点），3D显示等优点。 关键词：干涉仪、激光干涉仪、球面干涉仪、激光平面干涉仪、干涉光刻、传函仪、白光干涉仪、Zygo、波前分析仪、波前传感器、迈克尔逊干涉仪、便携式干涉仪、光学传函仪法国Phasics公司超分辨激光干涉仪基于便携式、高灵敏度、高精度波前分析仪。该激光干涉仪采用四波剪切干涉专利技术，与传统干涉仪相比较具有结构紧凑，使用方便，无需标准件，优秀的检测稳定性，直接测量任意的波前、高分辨率（300x400采样点）、激光波长覆盖400-1100nm、消色差、高动态范围（500um）等优点。 法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪可用于激光波前检测、激光强度检测、等离子体密度检测、透镜检测、高功率激光自适应、光刻机检测、精密光学元器件检测、光学系统装调、镜头模组检测、传递函数（MTF）检测等。法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪并可实时检测为客户提供最优化的数据支持。 产品特点：1、直接测量、无需标准件 图一、检测光路 2、高灵敏度（是普通白光干涉仪的8.4倍）、对振动不敏感 图二 与传统的干涉仪检测结果对比3、三维立体显示 图三、波前三维检测视图4、实时显示泽尼克系数 图四、多阶泽尼克显示界面5、传递函数（MTF）检测 图五、传递函数检测界面 干涉仪应用领域： ? 激光光束性能、波前畸变、M^2、强度等的检测 ? 红外透镜检测? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 光刻机物镜检测? 大口径高精度光学元器件检测? 透镜、镜头模组检测? 传递函数测量? 等离子体密度检测? 高功率激光自适应 产品系列： 相关产品 超高速液晶空间光调制器 PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器

高分辨率热敏探头高分辨率：1 μW或5 μWS401C和S405C具有监测探头温度的热敏电阻S401C：背景补偿实现低漂移测量S405C：平均功率密度最高1.5 kW/cm² S401C热敏探头与附带的光罩Ø 10 mm大孔径方便对准和测量大光斑激光光源。每个探头具有SM1外螺纹或者包含SM1外螺纹转接件，方便集成到Thorlabs的透镜套筒系统和SM1(1.035"-40)光纤转接件。Thorlabs提供两种宽带热敏功率探头，能够以高分辨率测量低光功率光源。每种热敏探头的宽带膜在宽波长范围具有平坦的光谱响应，如下图所示。S401C使用主动热背景补偿提供低漂移功率测量，通过两个相似的探头电路执行。其中一个探头电路是所有热敏功率探头都有的类型：测量从光吸收器到散热器的热流。另一个探头电路监测环境温度。它位于外壳内，测量从散热器流向吸收器的的热量。两个探头电路的测量结果相减，最大程度地减少热漂移对激光功率测量的影响。(有关外部热干扰影响热敏功率探头读数的信息，请看工作标签)。热敏功率探头上使用的宽带膜在0.19到20 µ m的波长范围内具有高吸收率(如曲线图所示)，因此非常适合对准和测量中红外量子级联激光器(QCL)。附带的SM05(0.535"-40)内螺纹光罩如右图所示。S405C具有SM05(0.535"-40)内螺纹，直接兼容SM05透镜套筒，它还可以直接连接到Thorlabs的30 mm笼式系统。Thorlabs为这些探头提供重新校准服务，这项服务可以在下方订购(请看型号CAL-THPY)。 S405的吸收曲线

BOSA系列高分辨率光学频谱仪简介光通讯领域的新进展要求对相关信号、元器件和子系统进行更精密的表征测量。以足够的分辨率测量光学频谱是性能测试及确保兼容与合规所必须的。Aragon Photonics Labs 生产的、多用途的高分辨光学频谱分析仪BOSA 系列。技术Aragon Photonics 全光学技术 采用受激布里渊散射(stimulated Brillouin scattering, SBS) 之非线性效应所导致的窄带滤波效应。通过采用一台外腔式可调谐激光器(TLS) 来泵浦SBS，滤波器沿感兴趣的频率范围扫描，得到高分辨率的光学频谱。相对于被动滤波器， SBS 增益提高了动态范围，同时，SBS 的阈值特性消除了所有外差式OSA 本振边带及线型杂讯导致的人为误差，在提供高分辨率的同时达到无杂讯信噪比。基于SBS 核心技术，Aragon 发展了光学频谱之偏振和位相测量的独到解决方案，提供全面的光信号表征手段。软件功能与特性 峰值分析功能：一秒解析频率梳并导出为ASCII 文件。 OSNR 测量应用：设定信号和噪声的宽度以及它们之间的距离，自动获得OSNR 值。 轨迹锁定：采用自动设定的或用户定义的部分频谱，锁定轨迹并获取准确的平均结果。 可变分辨率：获取更易与用户的旧OSA 设备对比的结果。 功率积分：测量用户定义频谱范围内的光信号总功率。 双通道偏振测量：同时看到信号的两路分离正交偏振分量。 轻松自动化：通过GPIB 或以太网，利用SCPI 指令远程操控BOSA。BOSA系列高分辨率光学频谱仪主要优势 高分辨率 (10 MHz / 0.08 pm) 以及窄滤波线型 市面精度 (0.5 pm) 卓越的无伪讯信噪比 (80 dB) ； 高可靠度 独到的光谱分辨偏振测量 光学位相频谱测量：啁啾测量，眼图，星座图… 集成可调谐激光器及器件分析仪，强大多功能应用 100G/400G 收发器测试 激光与光源频谱测试 非线性激光动力学 网络分析：DWDM, Flexigrid, OSNR 新一代调制格式：: OFDM, Nyquist, QAM, DP-QPSK… 脉冲激光与光频梳BOSA MODELSBOSA 100 用户自备TLS，节省成本 10 MHz 分辨率 所有选项可升级BOSA 400 一体全集成，独立使用 10 MHz 分辨率 快扫描 (20 nm/s) 高精度 (0.5 pm)BOSA lite 高性价比 20 MHz 分辨率 2.5 nm/s 扫描 可提供一体型号 (BOSA lite+)

高分辨率单色仪产品负责人：谷工(Givin)电话：（微信同号）邮箱：高分辨率单色仪M833是一种独特的高口径双色散单色光谱仪，其紧凑的设计结合了高光谱分辨率的长聚焦仪器和极低杂散光，这是拉曼光谱的基本要求，以及任何其他低光强应用。产品特点：极低杂散光含有独特高光圈(f# 1:5.5)的紧凑型长焦仪器(F=833毫米)M833I提供成像模式三对光栅两个输入和两个输出口全电脑控制SOLARLS.LAB软件DLL and/or VI程序模组应用领域：拉曼光谱发射和荧光光谱学分析任务需要高分辨率的范围从紫外线到红外多通道光谱规格信息：

RAMAN-11是由日本Nanophoton公司推出的新一代快速、高精度、面扫描激光拉曼彩色成像系统。作为三代Raman系统的RAMAN-11，则具备的快速、高分辨率成像的特点。相对于原来的传统而言，RAMAN-11的成像速度是其他常规Raman系统的300-600倍，一般在几分钟之内即可获取样品高分率的拉曼图像.是一款具有高速、高分辨率成像功能的拉曼显微镜。创新性技术--实现高速、高分辨率拉曼成像激光束扫描 &bull 高速扫描成为可能 &bull 利用光束扫描的无震动和无漂移特点，成像更为清晰多光谱同步测量 &bull 高速、高分辨率拉曼成像通过采用线形拉曼散射光获得， 每一条扫描线都含有400个立的光谱线形照明 &bull RAMAN-11采用线性照明，产生线形RAMAN散射光 &bull Nanophoton发展了一套特殊的光学系统，确保光强的均匀分布狭缝聚焦 &bull 共聚焦光学系统实现高分辨率拉曼成像 &bull 同一共聚焦光学系统用于快速拉曼成像 RAMAN-11系统应用案例快速区分单层与多层石墨烯激光源：532nm,物镜：100X，NA=0.9，光谱数：67，600（400*169）,测量时间：5分30秒通过RAMAN-11可以对不同层数的石墨烯快速成像。以350纳米的高空间分辨率，仅用5分钟的测量时间即可识别从单层到四层的石墨烯及其分布。更多信息......高灵敏度：Si四峰的测量 良好的共聚焦光学设计保证了对焦 外空气信号的高效抑制，并使弱的 硅四峰信号也能被探测到。 高分辨率：传统拉曼系统的5.7倍在100X物镜下，RAMAN-11 的激光斑点尺寸为：350nm*500nm,是传统拉曼的1/5.7，因此在同样的样品上可以得到更加详细的信息，能够为纳米尺寸下的物质鉴别、分布等分析提供更加准确的结果材料应力分布图像分辨率：320(x)× 400(y)=128,000 Spectra，成像时间：16分钟。通过RAMAN-11可以探测到晶体结构的扭曲，如硅材料等。硅的Raman峰位于520cm-1。硅单晶中由于应力的作用，会造成晶格结构的偏离与扭曲。左图通过测量Raman峰的偏离，进而给出了硅单晶表面应力的分布。更多信息......无损伤材料组分剖面分析图像分辨率：300(x)× 120(z)=36,000 Spectra，成像时间：8 分钟上图是通过RAMAN-11的无损探测技术，对多层膜进行的深度剖析。通过联用共聚焦光学系统与面扫描技术，可以成功地探测到深度图像。更多信息......超导材料中组分分布图像分辨率：265(x)× 400(y)=106,000 Spectra，成像时间：120分钟 左图是RAMAN-11探测到的超导样品中各种材料的分布：R: Gd123/a/b oriented；G: CeO2；B: Gd123；C: Gd123/underdoped；Y: NiFe2O4 更多信息......结晶度分析图像分辨率：320(x)× 400(y)=128,000 Spectra，成像时间：27分钟。上图表示由于离子的注入而导致的结晶度的变化。结晶度可以通过Raman峰宽来进行衡量，这是由于二者之间存在一定的关联。结晶度好的样品，其Raman峰比较细窄。更多信息......材料表面各种组分的分布图像分辨率：150(x)× 400(y)=60,000 Spectra；成像时间：5分钟。左图是Raman-11给出的皮肤上某种有机物质的分布图像；相比而言，常规的光学显微镜则没有这种能力（右图）。更多信息......药品组分分析图像分辨率：400(x)× 220(y)=88,000 Spectra，成像时间：11分钟。RAMAN-11以给出药品中，不同组分的分布图像。这些组分通常是以多晶的形式存在，通过RAMAN-11的无损探测技术，可以将这些组分和每种颗粒的大小确定下来。更多信息......

采用光纤内受激布里渊散射所具备的背向传播、窄增益线宽、陡峭线型、偏振敏感特性，BOSA提供通讯波段（C、L、O）10MHz分辨率的频谱测量。与外差测量方式相比，受激布里渊散射无边带伪讯，其无伪讯信噪比达到80dB，并可扩展至位相、偏振测试，成为一台超高分辨的复频谱分析仪。主要优势l 高分辨率 (10 MHz / 0.08 pm) 以及窄滤波线型l 高精度 (0.5 pm)l 无伪讯信噪比 (80 dB) ； 高可靠度l 光谱分辨偏振测量l 光学位相频谱测量：啁啾测量，眼图，星座图… l 集成可调谐激光器及器件分析仪，强大多功能主要应用l 相干光通讯l 光器件测试l DWDMl 非线性激光动力学l 光频梳测量l 窄线宽激光器信噪比测试l 半导体激光器模式分析 技术指标型号BOSA 400 波段CC+LO性能光学分辨率10 MHz @1550 nm10 MHz @1310 nm波长范围1525-1565nm1525-1615nm1265-1345nm波长精度±0.5 pm±0.5 pm±1.0 pm无杂讯动态范围80 dB进近动态范围40 dB @ ±0.2 pm60 dB @ ±0.4 pm校准输入功率范围+13 to -70 dBm最高安全输入总功率+20 dBm灵敏度-70 dBm / 10 MHz功率准确度±0.5 dB偏振测试两路正交偏振，完整偏振光谱功能测量速率20 nm/s波长校准内置原子频标扩展功能Option 10: 1MHz 线宽可调激光输出Option 20 - 器件分析：插损/回损等光谱测量Option 30：偏振光谱测量Option 40：位相测量

高分辨率磁光克尔显微镜产品负责人：姓名：谷工(Givin)电话：（微信同号）邮箱：当一束线偏振光照被磁性介质反射后，反射光的偏振面相对于入射光的偏振面有一个小的角度偏转（克尔旋转角），这一现象被称为磁光克尔效应。该效应与显微成像技术结合组成磁光克尔显微镜，被广泛应用于磁性材料磁性测量，磁畴观察等。 由于该设备可进行无损探测、灵敏度高、在极端环境下原位测量等优点是被越来越多的科研人员采用。为满足日益增长的市场需求昊量光电推出了高性价比的磁光克尔显微镜。其主要原理是：一束面光源经过起偏器，转变为线偏振光，照射到样品上，由于样品内磁畴的存在使样品各个区域内磁化强度和方向不同，因此不同区域对线偏振光，偏振面的改变各不相同。因此当反射光通过检偏器后光斑的强度分布不同，从而得到样品的磁畴结构。为了获得更高的灵敏度，优异的磁畴成像效果等该系统做了以下优化。1）采用高亮度窄带LED光源。尽管理论上磁光克尔效应的对比度可以无限高，但是多个波长偏振像差的组合通常会大大降低偏振的纯度。因此传统的克尔显微镜经常报道磁光克尔对比度几乎观察不到。一个主要的原因就是因为使用宽谱的照明光源。因为磁光效应引起的克尔旋转量与光源波长数量成反比，宽谱光源会产生相同宽谱的线偏振，也就是说，光偏振不是完美的线性，观察到的磁对比度也会降低。因此为了克服由于光源带来的相差，我们经过多组测试，选取了FWHM为50nm的超亮LED光源，可获得很强的对比度，并且拥有较高的使用寿命。2）图像自动校正功能通常为了获得较弱磁性材料的对比度，市面上磁畴观察设备通常会采用图像差分处理来获得较高对比度，即使用拍摄到的图像减去背底图片。该方法通常可以将信号增强10倍以上。但是由于在施加磁场的过程中样品的位置会发生偏移，会大大影响差分处理效果，甚至出现错误。为了消除样品的移动，设备会通过快速像素相位算法确定样品漂移，然后通过压电促动器实时校正位置。同时该帧位移的图像在软件中也会实时修正，校正后的图像位移量不大于0.2个像素（8nm）3）特殊设计的电磁铁通常磁畴观察显微镜中的电磁铁设计是一个具有挑战性的话题，必须要有一些取舍。为了获得较高的分辨率，因此要使用大倍率的物镜，放置在靠近样品的位置。这对电磁铁强加以一个空间限制，并限制了生产磁场的强度。其次，磁铁产生的磁通量会通过物镜，引起法拉第效应，从而降低成像对比度。我们通过革新的磁通量闭合式设计从而巧妙的解决了这两个问题。通过对电磁铁的磁场测量，我们可以发现，磁铁的磁场提高了4倍，但是通过物镜的磁场强度却降低了8倍。产生磁场的均匀性在4mm范围内也达到了0.5%的水平。4）高灵敏度，高分辨率成像相机对于磁光克尔显微镜，样品反射的光通过检偏器，仅仅只有百分之一的入射光达到相机传感器。因此对于磁畴成像系统，相机的灵敏度就体现的尤为重要。因此为了达到成像效果，我们选取了再该波段下量子效率高达78%，并且具有20兆像素的背照式相机。从而获得高分辨率，高信噪比的图像。此外该设备不但可以获得样品磁畴图片，还可以根据样品磁畴图像同时获得样品的磁滞回线分析。产品参数：Light source2200 Lumens ultrabright LED lampCamera6.4 Megapixel @ 60FPS 78% Quantum efficiencyResolution300nmMagnetic Field 1T(Perpendicular)/0.5T(Longitudina)Power Requirement230VAC ± 10%, 13Amp Single PhaseSize / WeightMain System: 60 x 50 x 1500px, 25kgPower Supply Tower: 60 x 60 x 750px, 10kg实例：1)1nm CoFeB磁性薄膜2）4种灰度：垂直磁化磁隧道结多级磁畴（4 shades of grey: Multilevel stripe domains on a perpendicularly magnetized magnetic tunnel junction stack）3）[Pt/Co/Fe/Ir]x2 堆栈手性磁畴（Chiral stripes (and skyrmions)on a [Pt/Co/Fe/Ir]x2 stack）4）Heusler 合金薄膜中的垂直磁化的磁畴反转（Domain reversal in a perpendicularly magnetized Heusler alloy thin film）5）同时施加磁场和电流6）电流诱导的磁畴远动的准实时观测7）CoFeB多层材料退磁过程的实时观测

G Cell光影细胞科技是依托清华大学深圳研究生院而创建的一家创新型技术企业，拥有先进完备的光学检测实验平台和一支源自清华大学的高素质年轻化的技术骨干。公司作为实验室设备行业与互联网行业的跨界组合，致力于打造新一代的实验室智能设备。GAT-Gai高分辨率单（多）通道步态分析系统可通过将实验动物置于步行台，使其从步行台的一端行走到另一端，在此过程中，实验动物行走时所表现的步态，系统采用脚印光亮折射技术，检测分析出步行周期、在何种姿态下所对应的病症，进而评估其受关节炎、神经受损等病症影响的程度。可用于研究脑疾病、神经系统损伤、肌肉相关损伤、骨关节疾病与外伤等模型动物的运动机能。

UV-VIS高分辨率光谱仪 YSM-8102简介YSM-8102系列高分辨率光谱仪，采用高分辨率光机平台，仅有手掌大小的体积，却带来更高的分辨率。优化的光路设计使光学分辨率最高可至0.06nm。 用户通过选择不同的光栅配置可以获得不同的光学分辨率和光谱响应范围。 YSM-8102-02系列，采用滨松S11639线阵探测器，动态范围最大可至10000:1,积分时间最低可至0.5ms, 同时信噪比提高到600:1,适合于通用性光谱分析与检测，支持RS232/RS422通讯，增强了抗干扰性能，更适合应用于工业和科研领域。特点光学分辨率最高可至0.06nm手掌般大小的尺寸，操作简便交叉非对称C-T光路结构，干涉滤光片消二级衍射SMA905光纤接口，方便地通过光纤和其他设备连接可选择的波长范围和光学分辨率USB2.0数据传输和供电，支持RS232/RS422通信，支持多种触发方式软件功能强大，可自动计算峰值波长和带宽功能支持二次开发，支持OEM集成应用激光器中心波长、半高宽和稳定性测量LED测量LIBS应用太阳光谱测试荧光光谱测量颜色测量激光光谱测量典型数据标准汞灯光谱图（*不同光谱仪因为探测器和光学系统的差异，测量的汞灯光谱数据会有差异）技术参数

产品概述ER2000是一款高分辨率的微型光纤光谱仪。该系列光谱仪采用长焦C-T交叉光路，具有高分辨率、高采集速度的特点。该系列光谱仪非常适合于高分辨率要求的场合，如等离子体检测、激光波长分析、LED荧光粉色度分析、气体成分分析等。产品说明高分辨率----采用对称式交叉C-T光路设计，100毫米长焦成像设计和高线数平面全息光栅，可提供高达0.1nm的分辨率；轻便----尺寸更小、更薄，方便集成到设备中；快速开发----提供软件开发工具，封装所有功能，一处添加，多处调用；支持定制----波长范围从190nm到1100nm可选，狭缝从5um到250um可选；

pLAS-300 便携式激光氟化氢测量仪产品概述pLAS激光气体分析仪是基于可调谐半导体激光吸收光谱（TDLAS）技术原理，对特定波长的气体吸收谱线进行扫描分析，并结合数字化的锁相放大器以及长光程气室等先进技术实现气体的浓度测量.为目前国际最先进的气体测量方法之一，该仪表具有高分辨率，响应速度快，稳定可靠的测量，采用抽取式安装方法可满足过程分析和环境监测等应用的要求。产品特点可靠的长光程加热气室设计超低浓度测量，分辨率可达0.1ppm特殊的多线光谱扫描算法，动态的粉尘和水分干扰补偿免标定设计，维护简单，使用成本低典型应用电解铝厂碳素厂垃圾焚烧 钢铁冶金

SR-6500/A 超高分辨率地物光谱仪是美国 Spectral Evolution公司的旗舰产品，采用三组全制冷型超大阵列探测器，分辨率高达1.5nm@700nm、3.0nm@1500nm、3.8nm@2100nm；适用于遥感测量、辐射定标、矿物勘察、农林环境遥感、海洋学研究、成分分析及工业测量等各方面应用。软件操作简单方便、功能强大。此仪器也可用于辐射亮度、光谱反射率、光谱透过率、CIE颜色等测量。SR-6500/A超高分辨率地物光谱仪还增配了双向温控系统，使得其性能更为稳定，漂移仅为0.1%。 SR-6500/A地物光谱仪与常规全波段地物光谱仪相比，全波段采用高性能制冷型探测器，拥有2048个采样通道，光谱分辨率成倍提升，其超高的光谱细节探测能力，可以提高遥感分类的精度，识别更多高光谱图像中点像元光谱信息，满足AVRIS-NG等新一代遥感设备的更高精度要求，不仅能将物质的主要光谱特征峰很好地展现出来，而且能探测到更加精细的光谱特征，如下图： SR-6500（上图蓝色线）的超高分辨率优势使数据体现出更多的光谱特征和细节，获得更多光谱信息SR-6500/A主要特点——便捷、稳定、超高光谱分辨率n 快速进行紫外-可见光-近红外（350-2500nm）全谱段光谱测量n 全线阵制冷型探测器、全息光栅、无运动光学部件，可靠性高n 可更换的多种前置光学镜头和光纤，使应用更为简便和广泛n 一键式测量，实现自动积分、自动曝光和自动数据采集存储n 内置光闸和全自动测量功能，轻松获取高质量的光谱数据n 基于Windows平台和掌上型电脑(PDA)的数据采集软件，操作灵活方便n 超便携PDA单手操作，一键自动测量，内置GPS传感器、10万数据存储SR-6500/A户外测量——PDA单手触摸屏一键式测量 PDA带有触摸屏，可设置测量参数后直接测量数据。内置GPS、可语音标注、拍照，存储容量超过10万组；单手操作，一键完成自动积分、自动曝光、自动暗电流、自动存储。上图为杜鹃花(绿色线)和糖枫(红色线)叶片反射率。技术指标 SR-6500/A 超高分辨率地物光谱仪光谱范围350-2500nm探测器类型1024阵列TE-制冷型Si探测器（VIS-NIR）512阵列TE-制冷型InGaAs探测器（SWIR1）512阵列TE-制冷拓展型InGaAs探测器（SWIR2） 光谱分辨率1.5nm@700nm3.0nm@1500nm3.8nm@2100nm光谱通道数2151等效辐射噪声（1.5m光纤）0.8×10-9W/cm2/nm/sr@400nm0.3×10-9W/cm2/nm/sr@1500nm5.8×10--9W/cm2/nm/sr@2100nm通讯方式USB数据线或蓝牙无线遥控操作操作模式一键完成自动快门、自动曝光和自动暗电流测量GPS模块PDA内置GPS，自动获取GPS地理坐标，存储容量100000组光谱工作模式笔记本电脑、平板电脑、智能PDA镜头及探头1~5°、8°镜头、光纤、光纤手柄、接触式探头及植物探头、积分球等测量及分析软件可通过PDA对仪器进行无线遥控和测量；软件内置USGS光谱数据库，可用于矿物光谱的匹配；可输出NDVI、GRVI、SR等十余种植被指数，可与AVHRR、MODIS、SPOT等多种卫星数据比对，还具备太阳能模拟器、CIE颜色分析、能量统计等功能；可选矿物鉴定软件EZ-ID及矿物光谱数据库仪器重量5kg仪器尺寸31.5cm×22.9cm×38.7cm供电功耗33W，220VAC市电或7.4VDC电池供电SR-6500A具备SR-6500的全部功能，同时具备双向温控，稳定性漂移＜0.1%产地：美国Spectral Evolution

QC3 高分辨率X射线衍射仪简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的zui新机型，专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史，并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化，并可根据客户产品的具体需求，度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂，实现半导体晶圆片的自动化装载，在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片，或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片，并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单，有效减少人工操作及干预，提高测试效率。 产品特色及优势• 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射，未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。• 与前期质量控制型设备相比，提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下，可提高测试精度。在相同测试精度的条件下，将提高测试速度。• 降低了设备及附件的购置和维护成本。• 更低的运行成本。• XRGProtect™ 可以有效延长X射线光管的使用寿命。• 环保的绿色工作模式，待机时有效降低能耗。• 可依据客户需求，选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂，具备多片批次式同时测试的功能，提高生产测试效率。• 操作简便，无需专业人才操作。• 完全自动化准直、测量晶圆片，数据分析自动化• 工业界ling先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。• 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。• 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。

AMS使用单一超大面阵探测器，避免了普通多光谱成像设备采用不同探测器(多个微型相机)带来的探测器响应不一致的问题；而且，传统的多光谱成像设备需要对各波段图像进行预处理，以保证通道间正确对齐，这无疑增加了工作量，影响了时效性。除了大面阵超高分辨率的优势，AMS还具有工业级的成像系统和光学硬件，光学失真仅1%！而传统的多光谱相机（1.3MP或3.2MP）多数使用较高失真的低成本劣质光学器件，镜头失真经常超过15% ，因此需要先进行大量预处理之后才能开始分析数据。技术指标AMS高分辨率10/14通道多光谱成像仪规格型号AMS-10AMS-14探测器面阵6000万像素6000万像素光谱通道数10个14个光谱波段(nm)405、430、450、550、560570、650、685、710、850405、430、450、490、525、550、560570、630、650、685、710、735、850图像分辨率/单通道1200万像素750万像素GSD@100m1.5cm1.72cm视频可录制4K视频数据3840 x 2160，1.65 MP per band软件功能自动裁切、计算植被指数、格式转换、自动校准、数据批处理

| 产品概述HSR2000是一款具备高速技术、精细光谱分辨能力的微型光纤光谱仪。HSR2000可以配置成单通道、双通道、三通道、四通道或者多通道（*多可配置成8个不同的通道）。主要适用于需要高速检测和高分辨率光谱检测的领域，如等离子体监控、激光脉冲检测、化工过程分析等。产品说明高分辨率---采用对称式交叉C-T光路设计，*效的降低了杂散光，提高了系统分辨率；高速----焦距更长，分辨率更高，支持多通道数据采集，*快可以达到1ms的采集速度；快速开发----提供软件开发工具，封装所有功能，一处添加，多处调用；支持定制-----波长范围从190nm到1100nm可选，狭缝从5um到250um可选；

结合创新型的光学器件设计，SR-750配合Andor公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750可以配用多种附件，拓展应用领域，在透射/反射/吸收光谱、Raman光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中，提供最佳的系统解决方案。主要特点：l 分辨率最高可达0.02nml 多路光谱优化光路，低串扰，高密度多路光谱探测l 针对每台谱仪记录三光栅塔轮信息，便于以后光栅升级l 双探测器出口选项，可安装不同类型探测器满足不同实验需求l 多样化的附件选择l 支持单点探测器，波长最大可达12um l 光学元件镀银选项，保证红外探测器更好的性能超高分辨率光谱仪技术参数指标：型号SR750焦距长度500mm通光孔径（F/#）F/9.7焦平面尺寸28mm×14mm波长精度0.03nm光谱分辨率0.02nm@2400l/mm, 300nm 0.04nm@1200l/mm,500nm 波长重复精度10pm杂光抑制比2.6×10-5光栅尺寸68mm×68mm超高分辨率光谱仪配置选项：SR-750-A1个狭缝输入口，1个CCD输出口SR-750-A-SIL1个狭缝输入口，1个CCD输出口，镀银选项SR-750-B1 1个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口SR-750-B1-SIL1个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口，镀银选项SR-750-B2 1个狭缝输入口，2个CCD输出口SR-750-B2-SIL1个狭缝输入口，2个CCD输出口，镀银选项SR-750-C2个狭缝输入口，1个CCD输出口SR-750-C-SIL2个狭缝输入口，1个CCD输出口，镀银选项SR-750-D12个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口SR-750-D1-SIL2个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口，镀银选项SR-750-D22个狭缝输入口，2个CCD输出口SR-5750-D2-SIL2个狭缝输入口，2个CCD输出口，镀银选项

高分辨率光谱仪AURORA4000一、参数特点：测量光谱范围：200-1100nm光学分辨率达：0.1nm(FWHM)CCD探测器：3648像素线性阵列高分辨率、高速光谱响应可定制波长~1177nm二、应用领域：LIBS光谱检测、激光光谱检测、荧光光谱检测、薄膜厚度测量、化学研究、透射率/反射率测试、生物细胞分析、发光二极管（LED）分拣、气体吸光度测试等。三、型号及波长范围型号波长范围Aurora4000普通系列GE 350-1100nmGE 200-1100nmGE RamanAurora-UV-Pro New185-240 nmAurora-IR-Pro New950-1200 nmAurora4000外触发系列TG 350-1100nmTG 200-1100nm四、典型光谱仪　五、可定制波长光谱仪型号狭缝（μm）波长范围光学分辨率Aurora4000系列10200-347 nm0.14226-369 nm0.18310-404 nm0.16319-455 nm0.13400-480 nm0.08423-547 nm0.12480-568 nm0.12546-653 nm0.12568-634 nm0.09654-754 nm0.10748-837 nm0.23794-876 nm0.24876-940nm0.20940-1100nm0.20

高分辨率近红外光纤光谱仪产品特点* 波长范围：900-2600 nm（11000–3800cm-1）* 高分辨率 4cm-1(0.6nm @1.0μm，0.95nm @1.55μm 1.6nm @2.0μm)* 高信噪比：30' 000:1（@8cm-1分辨率, 1 min积分时间）* 内置二级TE制冷探测器，高灵敏度* 光纤输入，灵活易用典型应用* 激光光谱测量* 近红外光谱分析* 材料检测* 矿物，宝石鉴定* 材料表征 型号FTNIR-L1-026-0TE FTNIR-L1-025-2TE 探测器扩展型非制冷 InGaAs 扩展型2级TE制冷 InGaAs 光谱范围0.9?2.6μm (11000?3850cm-1) 0.9?2.5μm (11000?4000cm-1) 干涉仪类型免校准的双Retro反射镜内置参考激光器全固态795nm激光器分辨率4 cm-1测量时间(Min)1 sec信噪比 (SNR) 30’000:1波数重复性20 PPM光纤输入接口SMA 905接头, 芯径可达1mm, NA=0.25通信接口USB 2.0供电7.5-12V (1-6W)软件Windows 7/10 software工作温度/湿度5 to 35℃ / non condensing储藏温度-10 to 60oC尺寸180 x 126 x 78 mm3重量1.7 KG 扫描微信，快速咨询

RS-5400 高分辨率地物光谱仪是美国Spectral Evolution公司的旗舰产品，使用三组超大阵列探测器，分辨率高达2.5nm@700nm、5.5nm@1500nm、5.8nm@2100nm；适用于遥感测量、辐射定标、矿物勘察、农林环境遥感、海洋学研究、成分分析及工业测量等各方面应用。软件操作简单方便、功能强大。此仪器可用于辐亮度、光谱反射率、光谱透过率、CIE颜色等测量。 RS-5400型地物光谱仪相比于常规全波段地物光谱仪，采用了三组高性能大阵列探测器，近红外波段两组探测器均为制冷型，提升了分辨率及灵敏度，同时具有极高的噪声控制水准。拥有2048个采样通道，光谱分辨率大幅提升，利用其很高的光谱细节探测能力，可以提高遥感分类的精度，识别更多高光谱图像中点像元光谱信息，可满足AVRIS-NG等新一代遥感设备的更高精度要求，不仅能将物质的主要光谱特征峰很好地展现出来，而且能探测到更加精细的光谱特征。RS-5400主要特点——便捷、稳定、超高光谱分辨率n 快速进行紫外-可见光-近红外（350-2500nm）全谱段光谱稳定测量n 大阵列制冷型探测器、全息光栅、无运动光学部件，数据可靠性高n 可更换的前置光学镜头和光纤，使应用更为简便和广泛n 内置光闸和自动测量功能，轻松获取高质量的光谱数据n 一键式测量，实现自动积分、自动曝光和自动光谱数据采集及存储n 基于Windows平台和掌上型电脑(PDA)的数据采集软件，操作灵活方便n 超便携PDA单手操作，一键自动测量，内置GPS传感器、10万数据存储RS-5400整机集成度高，利用手持PDA，可以野外单人操作；也可以与笔记本电脑或平板电脑连接使用；还可以进行适当改装，进行无人值守自动化测量。如需测量大区域光谱数据，可以将SR-5400安装于无人机上（安洲科技可提供改装服务）进行大面积全自动航测。PDA带有触摸屏，可设置测量参数后直接测量数据。内置GPS、可语音标注、拍照，存储容量10万组；单手操作，一键完成自动积分、自动曝光、自动暗电流、自动存储。技术指标 RS-5400 高分辨率地物光谱仪光谱范围350-2500nm探测器类型1024阵列TE-紫外增强型Si探测器（VIS-NIR）512阵列TE-制冷型InGaAs探测器（SWIR1）512阵列TE-制冷扩展型InGaAs探测器（SWIR2） 光谱分辨率2.5nm@700nm5.5nm@1500nm5.8nm@2100nm等效辐射噪声（1.2m光纤）0.5x10-9W/cm2/nm/sr@400nm0.2x10-9W/cm2/nm/sr@1500nm2.5x10--9W/cm2/nm/sr@2100nm通讯方式无线：蓝牙传输模块，遥控操作；有线：USB数据线操作模式一键完成自动快门、自动曝光和自动暗电流测量GPS模块PDA内置GPS，自动获取GPS地理坐标，存储容量100000组光谱工作模式野外单人操作、室内测量、无人值守自动化测量、无人机航测镜头及探头1~5°、8°镜头、光纤、光纤手柄、接触式探头及叶片夹、光源、积分球等测量及分析软件可通过PDA对仪器进行无线遥控和测量；软件内置USGS光谱数据库，可用于矿物光谱的匹配；可输出NDVI、GRVI、SR等十余种植被指数，可与AVHRR、MODIS、SPOT等多种卫星数据比对，还具备太阳能模拟器、CIE颜色分析、能量统计等功能；可选矿物鉴定软件EZ-ID及矿物光谱数据库仪器重量4.5kg仪器尺寸31.5cm×22.9cm×38.7cm供电220VAC市电或7.4VDC电池供电产地：美国Spectral Evolution

中图仪器SuperViewW高分辨率3d白光干涉仪能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。SuperViewW高分辨率3d白光干涉仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。中图高分辨率3d白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：在3C领域，可以测量蓝宝石屏、滤光片、表壳等表面粗糙度；在LED行业，可以测量蓝宝石、碳化硅衬底表面粗糙度；在光纤通信行业，可以测量光纤端面缺陷和粗糙度；在集成电路行业，可以测量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度；在EMES行业，可以测量台阶高度和表面粗糙度；在军事领域，可以测量蓝宝石观察窗口表面粗糙度。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

SR-6500/6500A超高分辨率地物光谱仪 产品简介： SR-6500 超高分辨率地物光谱仪是美国 Spectral Evolution公司的核心产品，采用三组全制冷型超大阵列探测器，分辨率高达1.5nm@700nm、3.0nm@1500nm、3.8nm@2100nm；软件操作简单方便、功能强大。此仪器也可用于辐射亮度、光谱反射率、光谱透过率、CIE颜色等测量。SR-6500A 超高分辨率地物光谱仪还增配了双向温控系统，使得其性能更为稳定，漂移仅为0.4%。 特点： 采用三组全制冷型超大阵列探测器，分辨率高达1.5nm@700nm、3.0nm@1500nm、3.8nm@2100nm 全息光栅、无运动光学部件，可靠性高 超便携平板电脑单手操作，一键自动测量，实现自动积分、自动曝光和自动数据采集存储 SR-6500A超高分辨率地物光谱仪还增配了双向温控系统，使得其性能更为稳定，漂移仅为0.4%。 适用于遥感测量、辐射定标、矿物勘察、农林环境遥感、海洋学研究、成分分析及工业测量等各方面应用。 基本参数：光谱范围350–2500nm光谱分辨率1.5nm @700nm 3.0nm @ 1500nm 3.8nm @ 2100nm等效辐射噪声0.8×10-9W/cm2/nm/sr@400nm0.3×10-9W/cm2/nm/sr@1500nm5.8×10 -9W/cm2/nm/sr@2100nm漂移稳定性SR-6500＜2%，SR-6500A≤0.4%测量分析软件可通过平板电脑对仪器进行无线遥控和测量；软件内置USGS光谱数据库，可用于矿物光谱的匹配；可输出NDVI、GRVI、SR等十余种植被指数，可与AVHRR、MODIS、SPOT等多种卫星数据比对，还具备太阳能模拟器、CIE颜色分析、能量统计等功能；可选矿物鉴定软件EZ-ID及矿物光谱数据库工作模式平板电脑、笔记本电脑重量5.73公斤电池可充电锂电池，重量小于0.9千克，可持续工作3小时 应用案例： SR-6500地物光谱仪与常规全波段地物光谱仪相比，全波段采用高性能制冷型探测器，拥有2048个采样通道，光谱分辨率成倍提升，其超高的光谱细节探测能力，可以提高遥感分类的精度，识别更多高光谱图像中点像元光谱信息，满足AVRIS-NG等新一代遥感设备的更高精度要求，不仅能将物质的主要光谱特征峰很好地展现出来，而且能探测到更加精细的光谱特征，如下图

KUBTEC高分辨小动物数字X 光机 Kubtec高分辨数字x射线系统专为科学研究、法医分析等实验室而设计。在保持高分辨同时快速的图像采集和强大的综合图像分析软件带来细节和效率提升。 KUBTEC高分辨小动物数字X 光机 原理X线之所以能使样本组织在荧屏上或胶片上形成影像，需具备3个条件：一是基于X线的穿透性、荧光效应和感光效应；二是基于样本组织之间必须有密度差异。当X线透过不同样本组织时，因密度差异造成X线吸收的程度不同，最终到达检测器或胶片上的X线密度即有差异。这样就形成明暗或黑白对比不同的影像。 KUBTEC高分辨小动物数字X 光机特点1. 高分辨率：提供10LP/mm的高分辨率同时高速成像，动物接收剂量率低，将对实验造成影响降至最低。2. 高度比度：通过较低管电压达到较高的对比度，超过65000级灰度对比3. 高速成像：19秒内从KUBTEC 高分辨率图像中获得实验动物骨密度及身体成分4. 低剂量：在最高分辨率拍摄时曝光剂量业界Z低，KUBTEC在保证高分辨率同时保证动物接收最低剂量，保证动物可以在一段时间内多次扫描，动态分析评估身体成份。5. 大成像视野：扫描范围（基本：120mm×150mm，可选：240mm×300mm）可以分析小动物如小鼠，大鼠和中型动物如狗、猫、兔子及豚鼠的骨密度和骨矿含量、脂肪和瘦肉，大视野配合锥形Xray扫描对动物体重无限制。6. 白光成像：采用HD CCD 采集同时拍摄全彩白光成像，方便叠合比对定位7. 锥形扫描： 保证检测范围内对动物样本摆放位置无要求，位置变化不影响分辨率的效果。8. 多重安全保障系统：KUBTEC多重连锁技术可以有效阻隔辐射，保证设备表面剂量低于环境本底，保护研究者。如一旦任何连锁检测有异常，立即停止X线输出。9. 软件功能强大： l 分析软件功能强大，多种数据保存格式(如CSV/Excel格式)方便调用。l 样本遗忘提醒功能：样本长时间放置于仓室内而无操作，系统会自动警告提醒及时取出样品。l 数据结果可以直接输入Solidworks，形成工程图直接3D打印输出。l 局部放大自动比对功能l 6位置ROI 画中画局部放大分析功能l Blender 功能，全彩图片与x ray 图片可调任意透明度，完成准确定位分析l AEC(全自动曝光控制)以及手动控制两种模式l 软件功能与Leica 等病理软件完全融合，可以自由调用l 软件功能允许动物佩戴金属耳钉以及其他标签情况下准确进行骨密度及身体成分测量 KUBTEC高分辨小动物数字X 光机测量指标骨骼研究、关节炎症、癌症、骨质疏松、脂肪比、骨密度测定，动物分类学研究，动物代谢研究等。 适用标本：大鼠、小鼠、家兔、小鸡、鱼等动物以及其他组织样本，测量区域面积内无重量限制。 KUBTEC高分辨小动物数字X 光机产品规格检测方式：低电压高对比度密度测定法发射模式：单能和双能 可切换X射线成像模式采集模式：全自动AEC 采集或手动采集扫描方式：锥形光束影像分辨率：10.0LP/MM（48um pixels size）扫描区域： 最大230 mm x 300 mm扫描时间：全身扫描时间19秒ROI区域：6个ROI区域数值分析，ROI 部分自动放大形成画中画方便分析成分分布：可以直接身体各成分分布图可测目标：大鼠、小鼠、家兔、小鸡、鱼等动物活体及组织样本，测量区域面积内无重量限制数据输出：结果数值及影像转换存储校准功能：全自动校准, 零预热时间安全防护：全封闭式铅箱防护，无需房间做任何额外防护。安全认证：符合美国及加拿大，中国等全球主要国家安全标准，获得Healthy Environments and Consumer Safety Branon 认证以及CSA International实验室安全认证。FDA认证: 具备FDA 备案号0610044-00网络远程连接访问 n KUBTEC 简介美国KUBTEC公司是世界知名医疗及实验室X光设备生产商，KUBTEC在面向样本X光成像、低剂量成像、科学研究、法医分析、无损检测和X线辐照等领域的数字X射线设备上面提供最具创新性的工具。KUBTEC的产品使医疗专业人员能够为患者提供良好的护理质量，同时也为实验室科研人员提供了高性能的实验室X射线设备支持科学研究。 l KUBTEC为全球乳腺放射科医生、乳腺外科医生、临床医生和病理学家以及科学家、实验室提供了一整套成像解决方案。KUBTEC 的MOZART 系列提供了当前唯一利用3D层析X射线摄影断层技术的术中乳腺样本成像，帮助最大限度地保留乳房，同时保正完整地切除乳房肿瘤，使乳腺癌切除术后再次手术的概率减少超50%。 l KUBTEC公司是全球领先的低剂量数字x射线照相(DR)系统的主要开发商， KUB 250是第一款真正便携式的，获得FDA批准用于新生儿重症监护病房(NICU)的低剂量数字x射线系统，在为世界上为新生儿提供的分辨率最高的低剂量成像系统同时减少40%以上的辐照剂量。 l KUBTEC的XPERT实时样本X光成像系统提供清晰成像效果，通过缩短处理时间来让病人感到更加舒适，且支持开展床旁手术。 l XPERT/PARAMETER系列数字化X光放射系统（DR）可以提供最高分辨率、切合实际应用的成像系统，提升实验室的科研及工作效率。广泛应用在标本X光成像、科学研究、法医分析、无损检测、辐照生物学等领域。 l XCELL 系列生物学辐照仪在全球大型实验室广泛应用，且可提供定制服务满足不同研究需要。 l KUBTEC 已通过ISO 9001和ISO 13485认证，设计制造符合美国、加拿大和欧洲中国等全球主要国家的辐射安全标准的设备，在全球范围内提供系统制造、培训支持。 n 产品线n 数字化X光机1. 高分辨小动物数字X 光机2. 动物骨密度及身体成分分析系统-SXA&DXA3. 植物学专用数字化X光分析系统4. 数字放射自显影成像系统5. 3D X射线数字成像系统6. X射线病理分析系统7. X射线法医鉴定系统8. X光无损检测系统 n X射线辐照仪1. 桌面式小样本生物学X线辐照仪XCELL 502. 桌面式生物学X线辐照仪 XCELL 1403. 生物学X射线辐照仪 XCELL 1604. 生物学X射线辐照仪 XCELL 2255. 生物学X射线辐照仪 XCELL 3206. 生物学X射线辐照仪 XCELL 3507. X射线诊疗系统 n Kubtec 软件包1. Kubtec DIGICOM通用分析软件包2. Kubtec 种质资源研究专用软件包3. Assistant 成像软件包4. Kubtec DIGIMUS 动物身体成份分析软件包

SR750 超高分辨率光谱仪结合创新型的光学器件设计，SR-750 配合Andor 公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750 可以配用多种附件，拓展应用领域，在透射/ 反射/ 吸收光谱、Raman 光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中，提供最佳的系统解决方案。SR750 超高分辨率光谱仪主要特点：? 分辨率最高可达0.02nm? 多路光谱优化光路，低串扰，高密度多路光谱探测? 针对每台谱仪记录三光栅塔轮信息，便于以后光栅升级? 双探测器出口选项，可安装不同类型探测器满足不同实验需求? 多样化的附件选择? 支持单点探测器，波长最大可达12μm? 光学元件镀银选项，保证红外探测器更好的性能SR750 超高分辨率光谱仪技术参数指标：SR750 超高分辨率光谱仪配置选项：附件选项：光纤、法兰、动态狭缝、快门、光栅、可调底脚

德國 LTB Lasertechnik Berlin超高/極高分辨率光譜儀 LTB 是業界最知名的中階梯光譜儀制造商。LTB 提供具有獨特性能的中階梯光柵。可以配合 EMCCD，ICCD 等探測器。技術參數：用戶涵蓋科研，高端生產等高端技術領域。應用：* 超高/極高分辨率光譜分析* LIBS/Plasma spectrum* RAMAN* LIBS & RAMAN* 吸收光譜* 同位素分辨* 固體激光、半導體激光、准分子激光激光譜線精細結構分析 ARYELLE150 系列超緊湊型中階梯光譜儀 ARYELLE200 系列緊湊型中階梯光譜儀