高分辨台式扫描电镜

台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜，完全改变了动辄百万人民币的电镜价格，它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件特点：具有传统显微镜20倍的分辨率，提供高分辨率成像，非常适合科研人员，工程师获取高质量的亚微米分辨率图像，非常容易使用，用户接受培训10分钟即可独立操作，非常适合材料科学，微电子等领域获取高分辨率图像。台式扫描电子显微镜配件参数放大倍数：24-24000X图像分辨率：高达2048x2048像素空间分辨率：高达30nm样品加载：小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量：55kg台式扫描电子显微镜配件构成系统主要部件：成像模块，17' ' 触摸屏显示器，旋转手柄，真空泵，USB接口驱动光学放大：固定24X放大电学放大：120-24000X可调光学探测：彩色CCD相机电学探测：高灵敏度背散射探测器图像输出格式：JPEG,TIFF, BMP，图像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储：优盘样品台：计算机控制电动XY台样品容纳大小：直径25mm ，高度30mm样品加载时间：光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求：120x75cm 尺寸以上的减震桌

台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜，完全改变了动辄百万人民币的电镜价格，它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件特点：具有传统显微镜20倍的分辨率，提供高分辨率成像，非常适合科研人员，工程师获取高质量的亚微米分辨率图像，非常容易使用，用户接受培训10分钟即可独立操作，非常适合材料科学，微电子等领域获取高分辨率图像。台式扫描电子显微镜配件参数放大倍数：24-24000X图像分辨率：高达2048x2048像素空间分辨率：高达30nm样品加载：小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量：55kg台式扫描电子显微镜配件构成系统主要部件：成像模块，17' ' 触摸屏显示器，旋转手柄，真空泵，USB接口驱动光学放大：固定24X放大电学放大：120-24000X可调光学探测：彩色CCD相机电学探测：高灵敏度背散射探测器图像输出格式：JPEG,TIFF, BMP，图像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储：优盘样品台：计算机控制电动XY台样品容纳大小：直径25mm ，高度30mm样品加载时间：光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求：120x75cm 尺寸以上的减震桌

磁性样品扫描电镜（SEM）观察不可或缺的工具！通过密封磁性物质，避免电镜部件被污染，实现磁性原始状态下的高分辨成像和成分分析。磁性样品SEM效果图产品原理 超薄窗采用半导体工艺制造，表面经处理后，可具亲水性、疏水性或双性兼具，以满足不同的应用需求；分析时，所观察的样品自动紧贴超薄窗，从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计，液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化，获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计，提高使用效率，1分钟内即可完成样品安装。产品性能适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜，亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。 使用简便采用特殊的机械设计，样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍，可清晰观察小至10nm的颗粒。

符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样，可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用蚀刻制造技术制成，可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围，分别是 Pelcotec CDMS-1T ISO和 Pelcotec CDMS-0.1T ISO，都提供可追溯和认证标样，共有4个种：Pelcotec CDMS-1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位701-1Pelcotec CDMS-1T ISO，2mm - 1um，可追溯，没有样品台，蚀刻线个699-1Pelcotec CDMS-1T，2mm - 1um，可追溯，没有样品台，蚀刻线个Pelcotec CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位711-1Pelcotec CDMS-1C ISO，2mm - 1um，经过认证，没有样品台，蚀刻线个703-1Pelcotec CDMS-1C，2mm - 1um，经过认证，没有样品台，蚀刻线个Pelcotec CDMS-0.1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位708-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台，蚀刻线个700-01Pelcotec CDMS-0.1T，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台，蚀刻线个 Pelcotec CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位712-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，经认证，没有样品台，蚀刻线个704-01Pelcotec CDMS-0.1T ，2mm - 100nm，经认证，没有样品台，蚀刻线个 Pelcotec CDMS ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um和1um（适用于 Pelcotec CDMS-1T ISO 和 Pelcotec CDMS-1C ISO）。而Pelcotec CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um、1um、500nm、250nm和100nm。较小的特征尺寸被嵌套在一起，以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm，厚度为525um ±10um，在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用，Pelcotec CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上，而对于LM应用，则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec CDMS-1-ISOPelcotec CDMS-0.1-ISO基底：硅是是基底尺寸：2.5×2.5mm是是基底厚度：525±10μm是是唯一序列识别号是是2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块是是垂直于 X 轴的刻度线，间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm是是仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—是可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不装在样品台上可用是是可安装在 SEM样品台上是是精度优于0.3%是是线边缘粗糙度为每 1um 线边缘长度 +/- 0.3nm是是测量报告的不确定性 (k=2)* 为 ±0.012μm是是

这款扫描电镜X射线源专门用于电子显微镜设计的X射线源，非常适合扫描电镜的XRF光谱分析,是理想的XRF射线源和X射线荧光光谱仪X射线源。 扫描电镜X射线源具有紧凑的设计和滑动安装功能，允许与样品非常接近。 取向在样品表面的小到大的激发区域产生高“通量”（x射线）。 扫描电镜X射线源?XSEMTM提供500μ至25mm的激发区域。 集成的高压电源最大功率为10瓦（35千伏和0.1毫安，取决于阳极材料）。 紧密耦合提供与传统“台式”或“独立”单元相当的XRF分析结果。扫描电镜X射线源?X SEMTM设计使其不影响电子显微镜的正常工作，包括在同一样品上使用电子束，同时同时收集所有元素。不需要特殊的冷却。 电子束（来自扫描电子显微镜）产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用扫描电镜X射线源?XSEMTM可以轻松识别，量化，甚至生成痕量X射线图，以查看样品中微量元素的元素分布。 应用： 艺术与考古 石油EDXRF 化学 药物应用 涂料和薄膜 塑料，聚合物和橡胶 化妆品 电镀和电镀浴 环境 木材处理应用 食品应用 其他应用 取证 金属和矿石 矿产和矿产品 ?X 规格 阳极类型 端窗传输 目标材料 Ag，Mo＆W 加速电压 10-35kV 光束电流 0-100μA 阳极点尺寸 500μm 准直器尺寸 200μm，500μm，1000μm（其他可选） 源过滤器 可应要求提供 冷却要求 传导冷却，不需要风扇 控制/安全 可变控制kV /μA，X射线开/关按钮，kV /μA显示。 连接到SEM，键控上电开关，集成高压电源，HV-On灯，警示灯

台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜，完全改变了动辄百万人民币的电镜价格，它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件具有传统显微镜20倍的分辨率，提供高分辨率成像，非常适合科研人员，工程师获取高质量的亚微米分辨率图像，非常容易使用，用户接受培训10分钟即可独立操作，非常适合材料科学，微电子等领域获取高分辨率图像。扫描电子显微镜配件参数放大倍数：24-24000X图像分辨率：高达2048x2048像素空间分辨率：高达30nm样品加载：小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量：55kg扫描电子显微镜配件规格系统主要部件：成像模块，17' ' 触摸屏显示器，旋转手柄，真空泵，USB接口驱动光学放大：固定24X放大电学放大：120-24000X可调光学探测：彩色CCD相机电学探测：高灵敏度背散射探测器图像输出格式：JPEG,TIFF, BMP，图像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储：优盘样品台：计算机控制电动XY台样品容纳大小：直径25mm ，高度30mm样品加载时间：光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求：120x75cm 尺寸以上的减震桌

此为45/90°截面SEM扫描电镜凹槽钉形样品台，样品台直径为12.5mm，腿长9.5mm。适用于Zeiss，FEI和TESCAN扫描电镜，同时也适用于飞纳Phenom台式电镜，材质为铝。 截面样品台比较便于观察样品的截面，尤其是半导体芯片、薄膜样品等，可直接将样品粘贴于截面样品台上观察，可免于频繁倾转样品台，防止样品在倾转过程中掉落。

扫描电镜探测器配件是全球领先的BSE探测器或背散射电子探测器，为扫描电子显微镜提供最佳的信噪比和超高的分辨率，是SEM探测器中的最新产品。 扫描电镜探测器配件特点适合全球所有的商用扫描电镜，采用独立设计理念，具有标准的安装法兰接口，非常方便用户的安装和使用 采用YAG:Ce单晶闪烁体 采用闪烁晶体和光电倍增管，提供极佳的图像质量 全球最佳的超低能量镀膜技术，灵敏度可到0.5Kev 优异的信噪比 无限的探测器寿命 HV+LV+ESEM工作模式 电动可回缩高精密导臂 波纹管密封高真空系统 完全用户订制化的SEM连接系统扫描电镜探测器配件性能 YAG:Ce闪烁体探测器提供最佳效率和最小余光afterglow, decay time 衰减时间为75ns @30光子/Kev YAG:Ce闪烁探测器外径15mm ,内孔6mm, 4mm, 2mm 或1.2mm任选，它限制视场大小。 独特的技术确保0.5keV的超高灵敏度,高达1pA电子束 外部尺寸406x100x72mm 适合真空环境使用 0.01mm的重复精度 适合所有SEM的法兰接口 部分测量结果案例

高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜，SPM显微镜， 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成，同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台，包括各种扫描位移台，以确保用户大面积扫描样品，扫描探针显微镜具有最佳的多功能性，可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察（正置和倒置）扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性： 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统： 数字控制器和模拟反馈系统，具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件，控制所有的硬件工作。

符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec CDMS-XY ISO标样是一种用于扫描电镜、场发射扫描电镜、离子束雕刻、CD-SEM、激光扫描显微镜和原子力显微镜快速、精确校准的便捷工具。该标样提供了 X 和 Y 两个坐标轴的比例尺线，可在不旋转样品台的情况下轻松进行二维校准。Pelcotec CDMS-XY ISO蚀刻线标样使用蚀刻技术制成，具有卓越的线缘质量，可提供广泛的测量范围。该标样有两种特征尺寸范围可选，分别是 Pelcotec CDMS-XY-1T ISO和 Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO，每个尺寸范围都提供可追溯和认证标样，总共有四种：Pelcotec CDMS-XY-1T ISO：特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。 2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50um、10um、5um、2um 和 1um。Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸为：2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50um、10um、5um、2um 和 1um、500nm、250nm 和 100nm。可选的预先安装在样品座上。Pelcotec CDMS-XY-1-ISOPelcotec CDMS-XY-0.1-ISO基底：硅是是基底尺寸：2.5×2.5mm是是基底厚度：525±10μm是是唯一序列识别号是是 产品编号描述单位709-1Pelcotec CDMS-XY-1T ISO，2mm - 1um，可追溯，没有样品座，蚀刻线个701-1Pelcotec CDMS-XY-1T ，2mm - 1um，可追溯，没有样品座，蚀刻线个Pelcotec CDMS-XY-1C ISO：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位713-1Pelcotec CDMS-XY-1C ISO，2mm - 1um，已认证，没有样品座，蚀刻线个705-1Pelcotec CDMS-XY-1C ，2mm - 1um，已认证，没有样品座，蚀刻线个Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO：特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。 产品编号描述单位710-1Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO，2mm - 100nm，可溯源，没有样品座，蚀刻线个702-1Pelcotec CDMS-XY-0.1T ，2mm - 100nm，可溯源，没有样品座，蚀刻线个 Pelcotec CDMS-XY-0.1C ISO：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。 产品编号描述单位714-01Pelcotec CDMS-XY-0.1C ISO，2mm - 100nm，已认证，没有样品座，蚀刻线个706-01Pelcotec CDMS-XY-0.1C ，2mm - 100nm，已认证，没有样品座，蚀刻线个该标样的特征尺寸范围见下表：Pelcotec CDMS-XY-1T ISO 和 -1C ISO 的特征尺寸为： 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块是是垂直于 X 轴和 Y 轴的刻度线，间距为 10um、5μm、2μm 和 1μm是是 仅限高分辨率版本 - 垂直于 X 和 Y 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—是可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不装在样品台上可用 是是可安装在 SEM样品台上是是精度优于0.3%是是线边缘粗糙度为每 1um 线边缘长度 +/- 0.3nm是是测量报告的不确定性 (k=2)* 为 ±0.012μm是是

导电浆料样品扫描电镜（SEM）观察不可或缺的工具！实现液态中颗粒原始状态下的高分辨成像和成分分析，其好处是：1、克服传统干燥处理中出现的颗粒团聚问题，真实反映液体中颗粒的状态；2、采用高真空模式分析密封在样品座内的液体样品，克服了含水样品直接分析（ESEM模式或Low Vacuum模式）对电镜部件造成污染的问题；3、通过密封磁性物质，避免电镜部件被污染。应用领域能源银浆铝浆铜浆 产品原理超薄窗采用半导体工艺制造，表面经处理后，可具亲水性、憎水性或双性兼具，以满足不同的应用需求；分析时，所观察的样品自动紧贴超薄窗，从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计，液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化，获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计，提高使用效率，1分钟内即可完成样品安装。 产品性能 适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜，亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。使用简便采用特殊的机械设计，样品安装1分钟内完成。 可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍，可清晰观察小至10nm的颗粒。率先应用电子束测试原始流体和液体样品。检测、监控原始状态（尤其液态）下的喷涂材料。液体样品原位观察和干燥后观察的结果比较

符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样，可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用最新的半导体和微机电系统(MEMS)制造技术制成，可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围，分别是 Pelcotec&trade CDMS-1T ISO和 Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，都提供可追溯和认证标样，共有4个种：Pelcotec&trade CDMS-1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位691-1Pelcotec&trade CDMS-1T ISO，2mm - 1µ m，可追溯，没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位695-1Pelcotec&trade CDMS-1C ISO，2mm - 1µ m，经过认证，没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位692-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位696-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，经认证，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m和1µ m（适用于Pelcotec&trade CDMS-1T ISO 和 Pelcotec&trade CDMS-1C ISO）。而Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m、1µ m、500nm、250nm和100nm。Pelcotec&trade CDMS ISO标样采用超平整的硅衬底制成，采用精密的50nm铬沉积技术制造特征尺寸小于5µ m的部分，而采用50nm金/20nm铬的组合制造2µ m到100nm的特征尺寸。铬和金/铬在硅基底上提供了卓越的SE和BSE成像模式对比度，比刻蚀硅标样更易于确定特征。由于硅衬底、铬和铬/金特征都具有导电性，因此该校准标样不存在充电问题。由于其坚固的结构，CDMS标样可使用等离子体清洗器进行清洁。较小的特征尺寸被嵌套在一起，以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm，厚度为525µ m ±10µ m，在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用，Pelcotec&trade CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上，而对于LM应用，则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec&trade CDMS-1-ISOPelcotec&trade CDMS-0.1-ISO基底：硅&check &check 基底尺寸：2.5×2.5mm&check &check 基底厚度：525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴的刻度线，间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料：50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（2μm 和 1μm）&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（500、250 和 100nm）—&check 可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不含样品台&check &check 可安装在 SEM样品台上&check &check 精度优于0.3%&check &check

符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec&trade CDMS-XY ISO标样是一种用于扫描电镜、场发射扫描电镜、离子束雕刻、CD-SEM、激光扫描显微镜和原子力显微镜快速、精确校准的便捷工具。该标样提供了 X 和 Y 两个坐标轴的比例尺线，可在不旋转样品台的情况下轻松进行二维校准。Pelcotec&trade CDMS-XY ISO标样使用最新的半导体和微电子制造技术制成，具有卓越的线缘质量，可提供广泛的测量范围。该标样有两种特征尺寸范围可选，分别是 Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO和 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO，每个尺寸范围都提供可追溯和认证标样，总共有四种：Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO：特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位693-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO，2mm - 1µ m，可追溯，没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ISO：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 1µ m，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位697-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ISO，2mm - 1µ m，已认证，没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO：特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位694-1Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO，2mm - 100nm，可溯源，没有样品座个 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ISO：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位698-01Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ISO，2mm - 100nm，已认证，没有样品座个该标样的特征尺寸范围见下表： Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO 和 -1C ISO 的特征尺寸为：2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m。Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸为：2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m、500nm、250nm 和 100nm。可选的预先安装在样品座上。Pelcotec&trade CDMS-XY-1-ISOPelcotec&trade CDMS-XY-0.1-ISO基底尺寸：2.5×2.5mm&check &check 基底厚度：525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴和 Y 轴的刻度线，间距为 10um、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅限高分辨率版本 - 垂直于 X 和 Y 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料：50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（2μm 和 1μm）&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（500、250 和 100nm）—&check 可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不含样品座&check &check 可安装于SEM样品台&check &check 精度优于0.3%&check &check

场发射电子源9213915/9217251，这两个灯丝的外形一样，适用的扫描电镜型号不同，需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

场发射电子源921 5736 ，这个型号的场发射灯丝，适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

样品大小要适合仪器专用样品台的尺寸，不能过大，样本座（样本台）尺寸各仪器均不相同，一般小的样品座为Φ3～5mm，大的样品座为Φ30～50mm，以分别用来放置不同大小的样本，样本的高度也有一定的限制，一般在5～10mm左右。 扫描电镜的块状样品制备较简单，对于块状导电材料，除了大小要适合仪器样品座尺寸外，基本上不需进行什么制备，用导电胶把样品粘结在样品座上，即可放在扫描电镜中观察。对于块状的非导电或导电性较差的材料，要先进行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜，以避免电荷积累，影响图象质量，并可防止样品的热损伤。粉末样本的制备：先将导电胶或双面胶纸粘结在样品座上，再均匀地把粉末样撒在上面，用洗耳球吹去未粘住的粉末，再镀上一层导电膜，即可上电镜观察。 现在为了节约你寻找样本台的时间，我们提供全系列的样品座（样本台）产品供大家选择！客户购买样本台，首先要知道所用仪器的生产厂家，仪器型号，样本台上下面的直径、材质等。我公司经销的样品台可以匹配的仪器生厂家或者仪器型号有：AMRAY 1000/1200AMRAY 1000/1200/1400Cambridge S-4, Mark II, S-410...Cambridge, Phillips, Camscan, B&L, Etec, Zeiss, etc.Leo MicroscopeCoates & WelterHitachi S-450HitachiHitachi S-500JeolJeol, ISIJeol JSM 840Zeiss 样品台的材质：铝质样品座、光谱纯碳样品座（用于EDS,探测器探测不到它们）.样品台的别名：样品座，大头钉，样品支架，基板等等。

1.通用型储存盒：盒子带有内衬和盖子，可装12个样品台（台面直径是10mm或者15mm的圆柱体；或者销钉的直径是3.1mm的样品台）。 订购信息：货号产品描述规格76500Universal Mount Holder，扫描电镜SEM样品台储存盒1个76510Universal Mount Holder扫描电镜SEM样品台储存盒10个/盒 2.台面直径12.7，销钉直径3.1mm的样品台盒子，可以装4个样品台。 订购信息：个/盒 3.日立样品台盒：Hitachi SEM Mount Storage Box。可以装日立的底部带有内销的圆柱样品台。每个台位均有编码（1-10）。15mm的样品台可以装10个；或25mm的样品台可以装8个；或32mm的样品台可以装2个。 订购信息：货号产品描述规格76503 货号产品描述规格76610Mount Holder box，Pin Type样品台储存盒10 日立样品台盒1个76504日立样品台盒10个/盒 4.通用型销钉型样品台盒:Pin mount storage box.。销钉直径为3.1mm的样品台均可以放置。里面有18个台位（编码1-18）。可以装18个台面直径12.7mm的；或8个台面直径25mm；或2个32mm；或2个38mm；或2个50mm。 订购信息：货号产品描述规格76506通用型销钉型样品台盒1个

用于放置冷镶嵌和热镶嵌后的样品的扫描电镜钉形样品台，同时也可以放置相应尺寸的圆柱形样品。放入样品后用侧面的螺丝固定样品。单样品金相样品台的凹槽深度8mm，有多种直径可选：25mm货号：15304、30-32mm货号：15307、38-40mm货号：15306、50mm货号：15298。多样品金相样品台：可一次性放置多个样品，侧面开口便于取出样品。产品编号描述15304M多样品金相支架，4 个25 mm直径，高10.4mm，凹槽深8mm产品编号描述15307M多样品金相支架，3 个30-32 mm直径，高10.4mm，凹槽深8mm产品编号描述15306M多样品金相支架，3 个38-40 mm直径，高10.4mm，凹槽深8mm

扫描电镜能谱检测标样X-CheckerX-Checker检测标样保有全系列的标准物质，可以应用于监测SEM/EDS系统性能。若想在较短时间内检测手头仪器的的性能，请选择X-Checker。锰的最强峰的半峰宽分辨率测量铝和铜的光谱校准碳用于光谱的低值校准窗口探测器高、低放大倍率的两种镍栅格（用于校准图像处理软件和放大倍率）两种栅格用于校准图像处理软件和放大倍率，检测探测器窗口是否有真空油的污染氮化硼检测光谱低能量端的性能氟源（PTFE）检测光谱低能量端的分辨率铍（Be）栅格检测高效探测器低能量端的灵敏度 规格：测量误差：±5％。样品台基底：铝。尺寸：周长：1"或25.4 cm；高：7.5 mm）镍载网孔径规格：40 μm x 40 μm、18 μm x 18 μm 产品信息：货号产品名称规格80058-STX-Checker™ , Standard 个80058-BNX-Checker™ , With Boron Nitride个80058-EX X-Checker™ , Extra 个

Hitachi日立扫描电镜样品台型号很多，请注意核对您已有的样品台形状、参数。欢迎登陆海德公司网站或来电获取详细信息。 1、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：26mm，高度：6mm,材料：铝货号产品名称规格75621Hitachi日立M4样品台（标准型），26mm10个/包75621-DHitachi日立M4样品台(表面9个分区)，26mm10个/包2、柱状（带帽）直径：15mm，高度：13mm材料：铝货号产品名称规格75630Hitachi日立柱状样品台（带帽），15mm10个/包3、柱状直径：14mm，高度：10mm材料：铝货号产品名称规格75650Hitachi日立柱状样品台，14mm10个/包4、Hitachi日立S-450锥孔，内螺纹直径：15mm，高度：6mm,有3分区型式材料：铝(特别提供，碳-光谱纯)货号产品名称规格75600-DHitachi日立S-450样品台(表面分区)10个/包75600Hitachi日立S-450样品台（标准型）10个/包76470Hitachi日立S-450样品台（碳）10个/包5、Hitachi日立S-500锥孔，内螺纹直径：25mm，螺钉高度：6mm,材料：铝货号产品名称规格75640Hitachi日立S-500样品台10个/包6、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：32mm，高度：6mm,材料：铝货号产品名称规格75635-70Hitachi日立M4样品台（标准型），32mm10个/包7、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：25mm，高度：10mm,材料：铝货号产品名称规格75635-40Hitachi日立M4样品台，25mm10个/包8、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：15mm，高度：10mm,材料：铝货号产品名称规格75635-10Hitachi日立M4样品台，15mm10个/包9、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：32mm，高度：10mm,材料：铝货号产品名称规格75635-75Hitachi日立M4样品台，32mm10个/包10、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：50mm，高度：6.0mm,材料：铝货号产品名称规格75635-77Hitachi日立M4样品台，50mm10个/包

SEM扫描电镜样品台，Ø 12.7mm x 8mm钉脚高度，铝，带凹槽边缘，适用于FEI、Tescan、ZEISS电镜。

适用AFM、SEM、Auger和 FIB精确全息条纹可用于高分辨、纳米尺度上准确校准仪器，具有高稳定性和高适用性特性。中等脊线宽度便于AFM应用。扫描电镜成像时二次电子和背散射电子像反差好。条纹间隔宽度分70、145 、292nm三种。

直接观察用样本舱（QX Capsules）QX Capsules是电子显微领域一重大的具有里程碑意义的技术突破，它的出现，使扫描电镜的样品准备、图像获得发生了质的飞越。 结束了以往扫描前必需的样本制备过程，油质、含水组织、活细胞、空气粒子等各类“含水”物质可以直接在电镜下扫描。获得的结果更加真实客观，重复性更强；节省您大量的宝贵时间；不需要购置各类样品制备设备。 产品特征：l 样本制备时间显著减少或完全消除l 湿体（含水）直接成像（食物、墨水、化妆品、细胞、组织等）l 湿体成分可通过X射线进行微量分析l 适用多种染料染色的组织和细胞，同时对未经染色或固定的组织、细胞同样可以观察l 对粘着或未粘着细胞均可成像l 高精度的组织病理成像l 扫描电镜的细胞内成像 l 细胞完整表面成像l 液体结构成像及保存性能l 操作简便 产品信息：货号产品名称规格QX-102-24QX-102 Capsules ：for cell biology and general liquid sample24/pkMP-10-2Multi-well Plate2/pkMA-4Multi-well Aspirator1个AT-60Aspirator Tips60/pkIB-64QX-102 Imaging Buffer1支RT-56QX-102 Calibration Capsule1个SP-202-24QX-202 Capsules24/pkSP-202-48QX-202 Capsules 48/pkQX-302-6QX-302 Capsules6/pkMP-12-2MP-12 Multi-capsule Plate2/pkIB-74QX-302 Imaging Buffer1支RT-58QX-302 Calibration Capsule1个

用途：扫描电镜光阑尺寸：如图所示后期处理： ■本公司自行研发的光阑特殊清洗 特点： ■没有毛刺、突起、倾斜的高精密加工 ■去除纳米量级附着物的特殊清洗 ■为防止氧化，加入干燥剂或者抗氧化剂后进行真空包装 ■ 实现批量化的生产加工，而且加工的质量稳定，品控体系严格交货期：根据产品规格另作商量，一般初次定做需要两个月以上的时间大和电子科技株式会社是电镜耗材的专门制作厂商，从事耗材制作50余年。除了上述的扫描电镜光阑外，我们可以制作用于透射电镜、聚焦离子束和Ｘ射线系统的光阑。最小孔径为Φ0.001ｍｍ。欢迎您的咨询，期待为您服务！

【产品详情】 SEM扫描电镜样品台存储盒有3个规格可选，可存储14枚直径为12.5mm的钉形样品台（ZEISS/FEI/TESCAN），也可存储12枚直径为10mm和15mm的圆柱形样品台（JEOL），还可存储14枚直径为15mm的Hitachi日立M4样品台。 样品盒尺寸为121×77×34mm。【规格详情】样品台储存盒样品台个数钉形样品台（ZEISS/FEI/TESCAN）14枚φ12.5mm样品台圆柱形样品台（JEOL）12枚φ10mm和15mm样品台Hitachi日立样品台14枚φ15mm样品台产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

sem扫描电镜样品台，铝，带凹槽，45º 截面，直径12.7mm，钉脚高度9.5mm，适合FEI、Tescan、ZEISS。

Hitachi日立 SEM扫描电镜样品台存储盒，不带样品台。可容纳10个15mm、8个25mm或2个32mm Hitachi日立样品台。盒子内部尺寸为：11.7 x 7.0 x 3.3cm

适用AFM、SEM、Auger和 FIB精确全息条纹可用于高分辨、纳米尺度上准确校准仪器，具有高稳定性和高适用性特性。中等脊线宽度便于AFM应用。扫描电镜成像时二次电子和背散射电子像反差好。条纹间隔宽度分70、145 、294nm三种。

脂质体样品扫描电镜（SEM）观察不可或缺的工具！实现液体中颗粒原始状态下的高分辨成像和成分分析，其好处是：1、克服传统干燥处理中出现的颗粒团聚问题，真实反映液体中颗粒的状态；2、采用高真空模式分析密封在样品座内的液体样品，克服了含水样品直接分析（ESEM模式或Low Vacuum模式）对电镜部件造成污染的问题；3、通过密封磁性物质，避免电镜部件被污染。应用领域：生物和制药纳米药物尺寸、分散性与浓度分析；表面形态分析脂质体 尺寸/分布/浓度产品原理超薄窗采用半导体工艺制造，表面经处理后，可具亲水性、憎水性或双性兼具，以满足不同的应用需求；分析时，所观察的样品自动紧贴超薄窗，从而能获得最佳的图像分辨率。 液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计，液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化，获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计，提高使用效率，1分钟内即可完成样品安装。产品性能 适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜，亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。 使用简便采用特殊的机械设计，样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍，可清晰观察小至10nm的颗粒。率先应用电子束测试原始流体和液体样品。检测、监控原始状态（尤其液态）下的喷涂材料。液体样品原位观察和干燥后观察的结果比较

扫描电镜、FIB和STEM样本固定台（Specially Designed Specimen Holders For SEM）专为SEM扫描电镜的样本固定而设计。 这些样本固定器能够显著提高你的工作效率，因为你可以同时观察多个样本，这就减少了频繁抽真空所消耗的时间；同时工作腔室更加洁净。固定器的材质为硬铝材料，配备弹簧或固定螺丝以确保样本的稳定性。固定器可通过变换端口实现各种标样的适配，有一个中央螺纹连接适配销，首先应根据所用电镜选择合适的适配销。Adapter A：总体尺寸：28mm长x 3.1mm直径（加长套尺寸：6.25mm长*4.8mm直径）Adapter B： 总体尺寸： 28 mm 长x 6 mm 直径Adapter C：总体尺寸： 34.5 mm 长x 16 mm 直径所有适配器都有一个5 mm长的螺纹 通用SEM扫描电镜样本台（Universal SEM Sample Holder）这种固定器可以用来固定形状不规则的样本，直径范围在3mm-29mm之间，样本安装拆卸简单，铝质材料，四个样本夹持柱可移动，可以轻松固定较小的样本。固定器尺寸：48mm*42mm*12mm厚 订购信息：货号产品名称规格75910Universal SEM Holder Amray Baseeach75910-01Universal SEM Holder Amray Base with Pin Aeach75910-02Universal SEM Holder Amray Base with Pin Beach75910-03Universal SEM Holder Amray Base with Pin Ceach 垂直样本固定器（样本台）Vertical Mount for Thin Samples Flat Base这种固定器是用来固定各种垂直的薄的样本，它的直径为25mm，厚度为10mm。虎口能够夹持最薄3mm厚的样本。弹簧保证样本垂直，以便对他的横截面积进行研究。这种固定器对研究硅片横截面非常有帮助。通过适配销和你的仪器连接。订购信息：货号产品名称规格75915Thin Sample/Vertical Mount Holder, Flat Baseeach75915-01 Thin Sample/Vertical Mount Holder, Adapter Pin Aeach75915-02Thin Sample/Vertical Mount Holder, Adapter Pin Beach75915-03Thin Sample/Vertical Mount Holder, Adapter Pin Ceach 复合样本台（Multi Pin Holder）这种样本台的主要优点在于节省时间。它可以同时容纳3-5个直径12.5mm、1/8”销的独立小样本台。销售信息：货号产品名称规格759203-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Flat Baseeach75920-013-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Aeach75920-023-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Beach75920-033-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Ceach759215-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Flat Baseeach75921-015-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Aeach75921-025-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Beach75921-035-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Ceach ISI DS 130 and 150 First Stage样本台直径10mm，高5mm，铜制，适合ISI DS 130 and 150 SEM’s。内圆筒高度可调，因此可以调整样本到合适的各种距离。销售信息：货号产品名称规格75925SI First Stage Holdereach 圆柱适配器（Pin Mount Stub Adapter）铝质，适用于3.1mm的销；有10、15、16mm直径可选。销售信息：货号产品名称大小规格75940-07Pin Mount Adapter16 mm x 55 mm (H)each75940-08Pin Mount Adapter16 mm x 25 mm (H)each75940-09Pin Mount Adapter15 mm x 15 mm (H)each75940-10Pin Stub Adapter10 mm x 10 mm (H) each75940-11Pin Stub Adapter15 mm x 10 mm (H)each75940-15Pin Stub Adapter38 mm x 15 mm (H)each75940-16Pin Stub Adapter38 mm x 16 mm (H) each 横截面固定器（Cross Sectional Holder）由无磁不锈钢制造，3.1mm直径的销；螺纹角度可调，可直接用于横截面样本的观察。货号产品名称 规格75942-01Cross Sectional Holdereach 5孔样本架（Five 10mm Stub Holder）5个10mm的孔用于固定圆柱式样本台，销的直径为3.1mm。销售信息：货号产品名称规格75945-05Five 10 mm Stub Holdereach 薄样本台（Thin Sample Holder） 用于横截面样本的检查，如晶片、多层电容、塑料等。直径12.7mm的表面，销为3.1mm。销的高度有8mm和15mm两种。对于ISI, JEOL, TOPCON，双重螺纹确保了样本的稳固。15mm直径×10mm高，6.4mm豁口。销售信息：货号产品名称规格75948-08Thin Film Holder, 8 mm (L) Pineach75948-15Thin Film Holder, 15 mm (L) Pineach75948-10Thin Film Holder, 15x10 mm Stubeach 冶金样本台（Metallurgical Mount） 直径31.8mm，3.1mm的销，深8mm。销售信息：货号产品名称规格75952-01Metallurgical Mounteach STEM样本台（STEM Holder） 可以使用它来完成3.05mm载网上的TEM样本的SEM观察。样本台能够旋转，保持反射镜和光电管的配合。铝质材料制造，选购时首先要确认已经具备的电镜型号。销售信息：货号产品名称规格75954-01Mini SEM Clamp 12.7 mm, Pineach75954-02Small SEM Clamp 15 x 10 mm, 3.2 mm (?") Pineach75954-03Medium SEM Clamp 25 x 15 mm, 3.2 mm (?") Pineach 微型通用夹具（样本台）（Universal Vise）虎口尺寸：25mm长、11mm宽、8mm高，底座连接销直径为3.1mm 销售信息：货号产品名称规格75950-01微型通用夹具（样本台）Universal Viseeach FIB样本台(FIB Sample Holder) Fortress™ FIB样本台可以重复使用，样本不需要粘胶、胶垫或导电油漆等物质就能被固定在指定位置；Fortress™ FIB样本台可以固定一个薄的、整个或部分TEM载网在指定位置；对于已安装样本，Fortress™ FIB样本台采用专利的CastleGuard™ 保护设计。一个SS200样本台盒可以最多储存30个Fortress™ FIB样本台。 特征：1. 特别的箝位机构保证样本安全，不需要顶部紧固 2. 3.1mm的连接销适合大多数FIBs and SEMs.3. 外部支撑结构能够在样本操作转移过程中起到有效的保护作用4. 经济型设计可以满足使用者在同一个样本台上制备和储存样本5 配备Sver™ 储存盒，便于储存和移动 Fortress™ FIB样本台– Low Profile Low Profile Fortress™ FIB Holder:既可以用于载网上的FIB lift out样本，也可以用于H-Bar切割样本。 Fortress™ Sample Loader:用来固定Fortress™ FIB样本台，使之能够从2个角度观察样本而不需要变换焦距。销售信息：货号产品名称规格75956-01FIB Sample Holder – Low Profileeach75956-50Fortress™ Sample Loader for Low Profileeach Fortress™ FIB样本台– High Profile High Profile Fortress™ FIB样本台：仅用于载网上的FIB lift out样本 Fortress™ Sample Loader:用来固定Fortress™ FIB样本台，使之能够从2个角度观察样本而不需要变换焦距。 销售信息：货号产品名称规格75957-01FIB Sample Holder – High Profileeach75957-50Fortress™ Sample Loader for High Profileeach