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高分辨台式扫描电镜

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高分辨台式扫描电镜相关的耗材

  • 台式扫描电子显微镜配件
    台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜,完全改变了动辄百万人民币的电镜价格,它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件特点:具有传统显微镜20倍的分辨率,提供高分辨率成像,非常适合科研人员,工程师获取高质量的亚微米分辨率图像,非常容易使用,用户接受培训10分钟即可独立操作,非常适合材料科学,微电子等领域获取高分辨率图像。台式扫描电子显微镜配件参数放大倍数:24-24000X图像分辨率:高达2048x2048像素空间分辨率:高达30nm样品加载:小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量:55kg台式扫描电子显微镜配件构成系统主要部件:成像模块,17' ' 触摸屏显示器,旋转手柄,真空泵,USB接口驱动光学放大:固定24X放大电学放大:120-24000X可调光学探测:彩色CCD相机电学探测:高灵敏度背散射探测器图像输出格式:JPEG,TIFF, BMP,图像分辨率:456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储:优盘样品台:计算机控制电动XY台样品容纳大小:直径25mm ,高度30mm样品加载时间:光学成像减震桌要求:120x75cm 尺寸以上的减震桌
  • 台式扫描电子显微镜配件 FPMIC-sem1
    台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜,完全改变了动辄百万人民币的电镜价格,它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件特点:具有传统显微镜20倍的分辨率,提供高分辨率成像,非常适合科研人员,工程师获取高质量的亚微米分辨率图像,非常容易使用,用户接受培训10分钟即可独立操作,非常适合材料科学,微电子等领域获取高分辨率图像。台式扫描电子显微镜配件参数放大倍数:24-24000X图像分辨率:高达2048x2048像素空间分辨率:高达30nm样品加载:小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量:55kg台式扫描电子显微镜配件构成系统主要部件:成像模块,17' ' 触摸屏显示器,旋转手柄,真空泵,USB接口驱动光学放大:固定24X放大电学放大:120-24000X可调光学探测:彩色CCD相机电学探测:高灵敏度背散射探测器图像输出格式:JPEG,TIFF, BMP,图像分辨率:456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储:优盘样品台:计算机控制电动XY台样品容纳大小:直径25mm ,高度30mm样品加载时间:光学成像减震桌要求:120x75cm 尺寸以上的减震桌
  • 扫描电镜磁性样品台
    磁性样品扫描电镜(SEM)观察不可或缺的工具!通过密封磁性物质,避免电镜部件被污染,实现磁性原始状态下的高分辨成像和成分分析。磁性样品SEM效果图产品原理超薄窗采用半导体工艺制造,表面经处理后,可具亲水性、疏水性或双性兼具,以满足不同的应用需求;分析时,所观察的样品自动紧贴超薄窗,从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计,液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化,获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计,提高使用效率,1分钟内即可完成样品安装。产品性能适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜,亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。使用简便采用特殊的机械设计,样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍,可清晰观察小至10nm的颗粒。
  • 铜浆导电浆料扫描电镜样品台观察窗
    导电浆料样品扫描电镜(SEM)观察不可或缺的工具!实现液态中颗粒原始状态下的高分辨成像和成分分析,其好处是:1、克服传统干燥处理中出现的颗粒团聚问题,真实反映液体中颗粒的状态;2、采用高真空模式分析密封在样品座内的液体样品,克服了含水样品直接分析(ESEM模式或Low Vacuum模式)对电镜部件造成污染的问题;3、通过密封磁性物质,避免电镜部件被污染。应用领域能源银浆铝浆铜浆产品原理超薄窗采用半导体工艺制造,表面经处理后,可具亲水性、憎水性或双性兼具,以满足不同的应用需求;分析时,所观察的样品自动紧贴超薄窗,从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计,液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化,获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计,提高使用效率,1分钟内即可完成样品安装。产品性能适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜,亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。使用简便采用特殊的机械设计,样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍,可清晰观察小至10nm的颗粒。率先应用电子束测试原始流体和液体样品。检测、监控原始状态(尤其液态)下的喷涂材料。液体样品原位观察和干燥后观察的结果比较
  • 脂质体扫描电镜观察窗样品舱
    脂质体样品扫描电镜(SEM)观察不可或缺的工具!实现液体中颗粒原始状态下的高分辨成像和成分分析,其好处是:1、克服传统干燥处理中出现的颗粒团聚问题,真实反映液体中颗粒的状态;2、采用高真空模式分析密封在样品座内的液体样品,克服了含水样品直接分析(ESEM模式或Low Vacuum模式)对电镜部件造成污染的问题;3、通过密封磁性物质,避免电镜部件被污染。应用领域:生物和制药纳米药物尺寸、分散性与浓度分析;表面形态分析脂质体尺寸/分布/浓度产品原理超薄窗采用半导体工艺制造,表面经处理后,可具亲水性、憎水性或双性兼具,以满足不同的应用需求;分析时,所观察的样品自动紧贴超薄窗,从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计,液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化,获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计,提高使用效率,1分钟内即可完成样品安装。产品性能适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜,亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。使用简便采用特殊的机械设计,样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍,可清晰观察小至10nm的颗粒。率先应用电子束测试原始流体和液体样品。检测、监控原始状态(尤其液态)下的喷涂材料。液体样品原位观察和干燥后观察的结果比较
  • FlowView 扫描电镜液体样品台
    液体样品扫描电镜(SEM)观察不可或缺的工具!实现液体中颗粒原始状态下的高分辨成像和成分分析,其好处是:克服传统干燥处理中出现的颗粒团聚问题,真实反映液体中颗粒的状态;采用高真空模式分析密封在样品座内的液体样品,克服了含水样品直接分析(ESEM模式或Low Vacuum模式)对电镜部件造成污染的问题;通过密封磁性物质,避免电镜部件被污染。产品原理超薄窗采用半导体工艺制造,表面经处理后,可具亲水性、憎水性或双性兼具,以满足不同的应用需求;分析时,所观察的样品自动紧贴超薄窗,从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计,液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化,获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计,提高使用效率,1分钟内即可完成样品安装。产品性能适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜,亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。使用简便采用特殊的机械设计,样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍,可清晰观察小至10nm的颗粒。率先应用电子束测试原始流体和液体样品。检测、监控原始状态(尤其液态)下的喷涂材料。液体样品原位观察和干燥后观察的结果比较应用领域1、能源银浆铝浆铜浆2、半导体和电子工业化学机械抛光液抛光液中粒径、成分分析;粒子聚集与分散性分析,解决制程缺陷监测的问题。金属电镀PCB制程中劣化电镀液中重金属颗粒析出,导致终端产品产生异常,因此需进行即时监测分析。油漆和涂料分析油漆和涂料悬浮液中颗粒分布与分散性。焊接膏、热化脂、封装银浆液态制程分析,确保相关膏状与银胶等产品制程没有异常。.采用分析软件自动获得图像中的颗粒尺寸及分布信息成分分析:可区分同一张图像中Ag、Cu等不同成分的颗粒3、生物和制药纳米药物尺寸、分散性与浓度分析;表面形态分析完善聚苯乙烯生产工艺有瑕疵的聚苯乙烯生产工艺脂质体尺寸/分布/浓度4、生物和制药—–细胞形态贴壁/悬浮细胞、菌类外貌形态;微生物/细胞组织观察信息素黑莓真菌(银耳)孢子益生菌用户案例1:Asano, N. Lu, J. Asahina, S. Takami, S. Direct Observation Techniques Using Scanning Electron Microscope for Hydrothermally Synthesized Nanocrystals and Nanoclusters.Nanomaterials2021,11, 908.DOI: 10.3390/nano11040908用户案例2:Real-Time Observation of Anion Reaction in High Performance Al Ion BatteriesTien-Sheng Lee, Shivaraj B. Patil, Yu-Ting Kao, Ji-Yao An, Yi-Cheng Lee, Ying-Huang Lai, Chung-Kai Chang, Yu-Song Cheng, Yu-Chun Chuang, Hwo-Shuenn Sheu, Chun-Hsing Wu, Chang-Chung Yang, Ruey-Hwa Cheng, Chung-Yu Lee, Po-Yang Peng, Liang-Hsun Lai, Hsin-Hung Lee, and Di-Yan WangACS Applied Materials & Interfaces202012(2), 2572-2580DOI: 10.1021/acsami.9b20148
  • 扫描电镜X射线源
    这款扫描电镜X射线源专门用于电子显微镜设计的X射线源,非常适合扫描电镜的XRF光谱分析,是理想的XRF射线源和X射线荧光光谱仪X射线源。扫描电镜X射线源具有紧凑的设计和滑动安装功能,允许与样品非常接近。 取向在样品表面的小到大的激发区域产生高“通量”(x射线)。 扫描电镜X射线源?XSEMTM提供500μ至25mm的激发区域。 集成的高压电源最大功率为10瓦(35千伏和0.1毫安,取决于阳极材料)。 紧密耦合提供与传统“台式”或“独立”单元相当的XRF分析结果。扫描电镜X射线源?X SEMTM设计使其不影响电子显微镜的正常工作,包括在同一样品上使用电子束,同时同时收集所有元素。不需要特殊的冷却。电子束(来自扫描电子显微镜)产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用扫描电镜X射线源?XSEMTM可以轻松识别,量化,甚至生成痕量X射线图,以查看样品中微量元素的元素分布。应用:艺术与考古 石油EDXRF化学 药物应用涂料和薄膜 塑料,聚合物和橡胶化妆品 电镀和电镀浴环境 木材处理应用食品应用 其他应用取证金属和矿石矿产和矿产品?X 规格阳极类型端窗传输目标材料Ag,Mo&W加速电压10-35kV光束电流0-100μA阳极点尺寸准直器尺寸200μm,500μm,1000μm(其他可选)源过滤器可应要求提供冷却要求传导冷却,不需要风扇控制/安全可变控制kV /μA,X射线开/关按钮,kV /μA显示。 连接到SEM,键控上电开关,集成高压电源,HV-On灯,警示灯
  • 扫描电镜探测器配件
    扫描电镜探测器配件是全球领先的BSE探测器或背散射电子探测器,为扫描电子显微镜提供最佳的信噪比和超高的分辨率,是SEM探测器中的最新产品。扫描电镜探测器配件特点适合全球所有的商用扫描电镜,采用独立设计理念,具有标准的安装法兰接口,非常方便用户的安装和使用采用YAG:Ce单晶闪烁体采用闪烁晶体和光电倍增管,提供极佳的图像质量全球最佳的超低能量镀膜技术,灵敏度可到0.5Kev优异的信噪比无限的探测器寿命HV+LV+ESEM工作模式电动可回缩高精密导臂波纹管密封高真空系统完全用户订制化的SEM连接系统扫描电镜探测器配件性能YAG:Ce闪烁体探测器提供最佳效率和最小余光afterglow, decay time 衰减时间为75ns @30光子/KevYAG:Ce闪烁探测器外径15mm ,内孔6mm, 4mm, 2mm 或1.2mm任选,它限制视场大小。独特的技术确保0.5keV的超高灵敏度,高达1pA电子束外部尺寸406x100x72mm适合真空环境使用0.01mm的重复精度适合所有SEM的法兰接口部分测量结果案例
  • Pelcotec扫描电镜线宽标样CDMS - XY ISO特征尺寸放大标样
    符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec&trade CDMS-XY ISO标样是一种用于扫描电镜、场发射扫描电镜、离子束雕刻、CD-SEM、激光扫描显微镜和原子力显微镜快速、精确校准的便捷工具。该标样提供了 X 和 Y 两个坐标轴的比例尺线,可在不旋转样品台的情况下轻松进行二维校准。Pelcotec&trade CDMS-XY ISO标样使用最新的半导体和微电子制造技术制成,具有卓越的线缘质量,可提供广泛的测量范围。该标样有两种特征尺寸范围可选,分别是 Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO和 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO,每个尺寸范围都提供可追溯和认证标样,总共有四种:Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO:特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um,适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位693-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO,2mm - 1µ m,可追溯,没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ISO:每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证,特征尺寸范围为 2.0mm 到 1µ m,适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位697-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ISO,2mm - 1µ m,已认证,没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO:特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用,放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位694-1Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO,2mm - 100nm,可溯源,没有样品座个 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ISO:每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证,特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用,放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位698-01Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ISO,2mm - 100nm,已认证,没有样品座个该标样的特征尺寸范围见下表:Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO 和 -1C ISO 的特征尺寸为:2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m。Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸为:2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m、500nm、250nm 和 100nm。可选的预先安装在样品座上。Pelcotec&trade CDMS-XY-1-ISOPelcotec&trade CDMS-XY-0.1-ISO基底尺寸:2.5×2.5mm&check &check 基底厚度:525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴和 Y 轴的刻度线,间距为 10um、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅限高分辨率版本 - 垂直于 X 和 Y 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料:50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(2μm 和 1μm)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(500、250 和 100nm)—&check 可在晶圆级追溯到 NIST(ISO 17025:2017 认证标准)T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证(ISO 17025:2017 认证标准)C版本C版本不含样品座&check &check 可安装于SEM样品台&check &check 精度优于0.3%&check &check
  • 扫描电子显微镜配件
    台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜,完全改变了动辄百万人民币的电镜价格,它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件具有传统显微镜20倍的分辨率,提供高分辨率成像,非常适合科研人员,工程师获取高质量的亚微米分辨率图像,非常容易使用,用户接受培训10分钟即可独立操作,非常适合材料科学,微电子等领域获取高分辨率图像。扫描电子显微镜配件参数放大倍数:24-24000X图像分辨率:高达2048x2048像素空间分辨率:高达30nm样品加载:小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量:55kg扫描电子显微镜配件规格系统主要部件:成像模块,17' ' 触摸屏显示器,旋转手柄,真空泵,USB接口驱动光学放大:固定24X放大电学放大:120-24000X可调光学探测:彩色CCD相机电学探测:高灵敏度背散射探测器图像输出格式:JPEG,TIFF, BMP,图像分辨率:456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储:优盘样品台:计算机控制电动XY台样品容纳大小:直径25mm ,高度30mm样品加载时间:光学成像减震桌要求:120x75cm 尺寸以上的减震桌
  • SEM扫描电镜样品台管,钉形样品台盒
    【产品详情】SEM扫描电镜样品台管可将钉形样品台固定于底部,更安全、方便地保存或转移样品。样品台管有可存储12.5mm直径钉形样品台和存储Hitachi M4样品台两种规格,每包10个装。【规格详情】样品台类型样品台直径数量钉形样品台12.5mm10个/包Hitachi M4样品台直径≤38mm10个/包产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
  • 扫描电镜样品台储存盒
    1.通用型储存盒:盒子带有内衬和盖子,可装12个样品台(台面直径是10mm或者15mm的圆柱体;或者销钉的直径是3.1mm的样品台)。订购信息:货号产品描述规格76500Universal Mount Holder,扫描电镜SEM样品台储存盒1个76510Universal Mount Holder扫描电镜SEM样品台储存盒10个/盒2.台面直径12.7,销钉直径3.1mm的样品台盒子,可以装4个样品台。订购信息:货号产品描述规格76610Mount Holder box,Pin Type样品台储存盒10个/盒3.日立样品台盒:Hitachi SEM Mount Storage Box。可以装日立的底部带有内销的圆柱样品台。每个台位均有编码(1-10)。15mm的样品台可以装10个;或25mm的样品台可以装8个;或32mm的样品台可以装2个。订购信息:货号产品描述规格76503日立样品台盒1个76504日立样品台盒10个/盒4.通用型销钉型样品台盒:Pin mount storage box.。销钉直径为3.1mm的样品台均可以放置。里面有18个台位(编码1-18)。可以装18个台面直径12.7mm的;或8个台面直径25mm;或2个32mm;或2个38mm;或2个50mm。订购信息:货号产品描述规格76506通用型销钉型样品台盒1个
  • SEM锡球颗粒标样5nm-30um,分辨率测定标样
    【产品详情】此为碳基底锡球标样,其中锡球颗粒尺寸5nm至30μm,颗粒尺寸范围很大,在扫描电镜中会有更清晰明显的对比度。大尺寸的颗粒可在低放大倍率下进行基础的校准;中等尺寸的颗粒可在改变操作参数时,检查是否有图像漂移,或者在低电压下进行分辨率的校准;小尺寸的颗粒可很高放大倍率下,进行象散校正及分辨率校正。适用于扫描电镜、台式扫描电镜和高倍率光学显微镜的分辨率,锡球颗粒比金颗粒更适合于检测背散射电子分辨率。【规格详情】标样粒径分布锡球颗粒标样5nm-30um产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
  • 扫描电镜专用场发射电子源9213915
    场发射电子源9213915/9217251,这两个灯丝的外形一样,适用的扫描电镜型号不同,需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种,扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点:1、有较高的放大倍数,20-30万倍之间连续可调;2、有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;3、试样制备简单,目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪(EDS)装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • Pelcotec扫描电镜线宽标样 CDMS ISO标准特征尺寸放大标样
    符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样,可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用最新的半导体和微机电系统(MEMS)制造技术制成,可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围,分别是 Pelcotec&trade CDMS-1T ISO和 Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO,都提供可追溯和认证标样,共有4个种:Pelcotec&trade CDMS-1T ISO: 可追溯,特征尺寸范围为2.0毫米到1微米,放大倍数范围为10倍到20,000倍,非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位691-1Pelcotec&trade CDMS-1T ISO,2mm - 1µ m,可追溯,没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米,放大倍数范围为10倍到20,000倍,非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位695-1Pelcotec&trade CDMS-1C ISO,2mm - 1µ m,经过认证,没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO: 可追溯,特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米,放大倍数范围高达10倍到200,000倍,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位692-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO,2mm - 100nm,可追溯,没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米,放大倍数范围高达10倍到200,000倍,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位696-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO,2mm - 100nm,经认证,没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m和1µ m(适用于 Pelcotec&trade CDMS-1T ISO 和 Pelcotec&trade CDMS-1C ISO)。而Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m、1µ m、500nm、250nm和100nm。Pelcotec&trade CDMS ISO标样采用超平整的硅衬底制成,采用精密的50nm铬沉积技术制造特征尺寸小于5µ m的部分,而采用50nm金/20nm铬的组合制造2µ m到100nm的特征尺寸。铬和金/铬在硅基底上提供了卓越的SE和BSE成像模式对比度,比刻蚀硅标样更易于确定特征。由于硅衬底、铬和铬/金特征都具有导电性,因此该校准标样不存在充电问题。由于其坚固的结构,CDMS标样可使用等离子体清洗器进行清洁。较小的特征尺寸被嵌套在一起,以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm,厚度为525µ m ±10µ m,在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用,Pelcotec&trade CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上,而对于LM应用,则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec&trade CDMS-1-ISOPelcotec&trade CDMS-0.1-ISO基底:硅&check &check 基底尺寸:2.5×2.5mm&check &check 基底厚度:525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴的刻度线,间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料:50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(2μm 和 1μm)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(500、250 和 100nm)—&check 可在晶圆级追溯到 NIST(ISO 17025:2017 认证标准)T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证(ISO 17025:2017 认证标准)C版本C版本不含样品台&check &check 可安装在 SEM样品台上&check &check 精度优于0.3%&check &check
  • 扫描电镜专用场发射电子源9215736
    场发射电子源921 5736 ,这个型号的场发射灯丝,适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种,扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点:1、有较高的放大倍数,20-30万倍之间连续可调;2、有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;3、试样制备简单,目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪(EDS)装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • SEM扫描电镜钉形样品台存储盒可放14枚
    【产品详情】SEM扫描电镜样品台存储盒有3个规格可选,可存储14枚直径为12.5mm的钉形样品台(ZEISS/FEI/TESCAN),也可存储12枚直径为10mm和15mm的圆柱形样品台(JEOL),还可存储14枚直径为15mm的Hitachi日立M4样品台。样品盒尺寸为121×77×34mm。【规格详情】样品台储存盒样品台个数钉形样品台(ZEISS/FEI/TESCAN)14枚φ12.5mm样品台圆柱形样品台(JEOL)12枚φ10mm和15mm样品台Hitachi日立样品台14枚φ15mm样品台产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
  • SEM锡球颗粒标样10nm-100nm,分辨率测定标样
    【产品详情】此碳基底锡球标样中,锡球颗粒尺寸范围为10nm - 100nm,非常适合于进行象散校正。适用于场发射扫描电镜、台式扫描电镜和高倍率光学显微镜,锡球颗粒比金颗粒更适合于检测背散射电子分辨率。【规格详情】标样粒径分布锡球颗粒标样10nm-100nm产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
  • EMS 扫描电镜用品 样品台
    样品大小要适合仪器专用样品台的尺寸,不能过大,样本座(样本台)尺寸各仪器均不相同,一般小的样品座为&Phi 3~5mm,大的样品座为&Phi 30~50mm,以分别用来放置不同大小的样本,样本的高度也有一定的限制,一般在5~10mm左右。 扫描电镜的块状样品制备较简单,对于块状导电材料,除了大小要适合仪器样品座尺寸外,基本上不需进行什么制备,用导电胶把样品粘结在样品座上,即可放在扫描电镜中观察。对于块状的非导电或导电性较差的材料,要先进行镀膜处理,在材料表面形成一层导电膜,以避免电荷积累,影响图象质量,并可防止样品的热损伤。粉末样本的制备:先将导电胶或双面胶纸粘结在样品座上,再均匀地把粉末样撒在上面,用洗耳球吹去未粘住的粉末,再镀上一层导电膜,即可上电镜观察。 现在为了节约你寻找样本台的时间,我们提供全系列的样品座(样本台)产品供大家选择!客户购买样本台,首先要知道所用仪器的生产厂家,仪器型号,样本台上下面的直径、材质等。我公司经销的样品台可以匹配的仪器生厂家或者仪器型号有:AMRAY 1000/1200AMRAY 1000/1200/1400Cambridge S-4, Mark II, S-410...Cambridge, Phillips, Camscan, B&L, Etec, Zeiss, etc.Leo MicroscopeCoates & WelterHitachi S-450HitachiHitachi S-500JeolJeol, ISIJeol JSM 840Zeiss 样品台的材质:铝质样品座、光谱纯碳样品座(用于EDS,探测器探测不到它们).样品台的别名:样品座,大头钉,样品支架,基板等等。
  • ZJKY-2000扫描电镜联机图像处理分析系统
    主要针对旧款扫描电镜,不具备计算机图像处理系统,经过更新改造 使扫描电镜具备最先进的计算机系统,并可进行图像处理分析。 增配联机图象处理分析系统后新增以下功能 1、显示具有照片质量的,随电镜扫描实时刷新的静止稳定图象。 使你能更清楚地观察图象细节,同时保护您的视力。 2、将各种信号图象采集到计算机,并以通用格式存贮到磁盘,使你 能更加方便与外界交流和进行电子排版。 3、具有丰富的图象处理功能处理输入到计算机的图象,使图象细节更 加清晰,从而提高电镜的分辨率。处理后的图象可返送电镜照像。 4、对图像中的颗粒、孔洞、裂纹、纤维直径等的尺寸和形状参数 进行快速精确地测量和分析。 5、测定抛光面背散射电子(或二次电子)成份像中各组分的百分含量。 6、彩色组合显示多种元素的X射线面分布像及背散射电子像的伪 彩色显示。 7、在图象上加注文字和各种标记,方便学术交流和论文发表。 8、实时、照片质量图象打印,能节省大量冲印照片的时间。 9、所见即所得的图文报告功能,快速打印出图文并茂的分析报告。 10、建立快速检索的图象数据库,方便你的科研和教学。 技术指标 ●图象清晰度: 512× 512~2048× 2048 灰度等级:256 ●采集图象信号各类: 二次电子像,背散射电子像,吸收电子像,透 射电子像及X射线面分布像,摄象机视频信号。 ●同步方式: 被动式 ●接口阻抗: 同步输入端:15M 视频输入端:200K 视频输出端 :1K ●可配接所有型号电镜, 绝不干扰原电镜使用。电镜和图象系统 多种信息查询检索方式 可联机使用,也可独立使用。
  • 记号笔扫描电镜专用SEM
    【产品详情】记号笔可在样品台上留下明显的记号,以便于在扫描电镜SEM中清楚地找到所标记的样品位置。记号笔所留下的记号是高导电性石墨涂层,可防止观察中放电现象。产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
  • 扫描电镜专用工具套装
    扫描电镜装用工具套装,主要包括:镊子、剪刀、取样棒、刻刀、样品台、导电胶、放大镜、刀片、样品盒等。
  • 扫描电镜能谱检测标样X-Checker
    扫描电镜能谱检测标样X-CheckerX-Checker检测标样保有全系列的标准物质,可以应用于监测SEM/EDS系统性能。若想在较短时间内检测手头仪器的的性能,请选择X-Checker。锰的最强峰的半峰宽分辨率测量铝和铜的光谱校准碳用于光谱的低值校准窗口探测器高、低放大倍率的两种镍栅格(用于校准图像处理软件和放大倍率)两种栅格用于校准图像处理软件和放大倍率,检测探测器窗口是否有真空油的污染氮化硼检测光谱低能量端的性能氟源(PTFE)检测光谱低能量端的分辨率铍(Be)栅格检测高效探测器低能量端的灵敏度规格:测量误差:±5%。样品台基底:铝。尺寸:周长:1"或25.4 cm;高:7.5 mm)镍载网孔径规格:40 μm x 40 μm、18 μm x 18 μm产品信息:货号产品名称规格80058-STX-Checker™ , Standard 个80058-BNX-Checker™ , With Boron Nitride个80058-EX X-Checker™ , Extra 个
  • 扫描电镜能谱检测标样
    X-Checker性能校验装置是一个标准的1" (即25.4 mm)金属装置,它可以应用于任何型号的扫描电子显微镜(SEM),监测SEM/X射线能谱仪(SEM/EDS)系统性能,在铝管内含有一系列标准物质,可在锰或镍上确定探测器的分辨率(即最大半峰宽)和能量标度,检查窗口是否玷污,检测原子序数小的原子灵敏度,校准图像分析软件。可在铝、铜上校准光谱,提供的碳可在光谱最低值校准窗口探测器。 CP602-2样品中加入硼、镍可以更灵敏地对窗口探测器和无窗探测器进行低能量光谱校准。 此校验装置可对EDS(Energy Dispersive Spectrometer)和SEM以下性能进行校验。 1) 铝和铜的光谱校准 2) 碳和铝的低能量光谱校准 3) 锰的最强峰的半峰宽分辨率测量 4) 低能量灵敏度测试(用于检查探测器窗口污染程度) 5) 高、低放大倍率的两种镍栅格(用于校准图像处理软件和放大倍率) 6) 背散射电子探测器 7) 氮化硼检测光谱低能量端的性能 8) 氟源(PTFE)检测光谱低能量端的分辨率 9) 铍(Be)栅格检测高效探测器低能量端的灵敏度 10) 内置的法拉第杯 规格: 测量误差:± 5%。 样品台基底:铝。 尺寸: 周长:1"或25.4 cm;高:7.5 mm) 镍载网孔径规格:40 &mu m x 40 &mu m、18 &mu m x 18 &mu m
  • Agar AGG3344 SEM扫描电镜专用记号笔
    记号笔可在样品台上留下明显的记号,以便于在扫描电镜SEM中清楚地找到所标记的样品位置。记号笔所留下的记号是高导电性石墨涂层,可防止观察中放电现象。
  • EMS 扫描电镜用品 样品盒
    1.通用型储存盒:盒子带有内衬和盖子,可装12个样品台(台面直径是10mm或者15mm的圆柱体;或者销钉的直径是3.1mm的样品台)。订购信息:货号产品描述规格76500Universal Mount Holder,扫描电镜SEM样品台储存盒1个76510Universal Mount Holder扫描电镜SEM样品台储存盒10个/盒2.台面直径12.7,销钉直径3.1mm的样品台盒子,可以装4个样品台。订购信息:货号产品描述规格76610Mount Holder box,Pin Type样品台储存盒10个/盒3.日立样品台盒:Hitachi SEM Mount Storage Box。可以装日立的底部带有内销的圆柱样品台。每个台位均有编码(1-10)。15mm的样品台可以装10个;或25mm的样品台可以装8个;或32mm的样品台可以装2个。订购信息:货号产品描述规格76503日立样品台盒1个76504日立样品台盒10个/盒4.通用型销钉型样品台盒:Pin mount storage box.。销钉直径为3.1mm的样品台均可以放置。里面有18个台位(编码1-18)。可以装18个台面直径12.7mm的;或8个台面直径25mm;或2个32mm;或2个38mm;或2个50mm。订购信息:货号产品描述规格76506通用型销钉型样品台盒1个
  • 高倍高分辨全息光栅标样
    适用AFM、SEM、Auger和 FIB精确全息条纹可用于高分辨、纳米尺度上准确校准仪器,具有高稳定性和高适用性特性。中等脊线宽度便于AFM应用。扫描电镜成像时二次电子和背散射电子像反差好。条纹间隔宽度分70、145 、292nm三种。
  • 大和电子科技 扫描电镜用条形光阑
    用途:扫描电镜光阑尺寸:如图所示后期处理: ■本公司自行研发的光阑特殊清洗 特点: ■没有毛刺、突起、倾斜的高精密加工 ■去除纳米量级附着物的特殊清洗 ■为防止氧化,加入干燥剂或者抗氧化剂后进行真空包装 ■ 实现批量化的生产加工,而且加工的质量稳定,品控体系严格交货期:根据产品规格另作商量,一般初次定做需要两个月以上的时间大和电子科技株式会社是电镜耗材的专门制作厂商,从事耗材制作50余年。除了上述的扫描电镜光阑外,我们可以制作用于透射电镜、聚焦离子束和X射线系统的光阑。最小孔径为Φ0.001mm。欢迎您的咨询,期待为您服务!
  • 日立扫描电镜样品台
    Hitachi日立扫描电镜样品台型号很多,请注意核对您已有的样品台形状、参数。欢迎登陆海德公司网站或来电获取详细信息。1、Hitachi日立M4 锥孔,内螺纹直径:26mm,高度:6mm,材料:铝货号产品名称规格75621Hitachi日立M4样品台(标准型),26mm10个/包75621-DHitachi日立M4样品台(表面9个分区),26mm10个/包2、柱状(带帽)直径:15mm,高度:13mm材料:铝货号产品名称规格75630Hitachi日立柱状样品台(带帽),15mm10个/包3、柱状直径:14mm,高度:10mm材料:铝货号产品名称规格75650Hitachi日立柱状样品台,14mm10个/包4、Hitachi日立S-450锥孔,内螺纹直径:15mm,高度:6mm,有3分区型式材料:铝(特别提供,碳-光谱纯)货号产品名称规格75600-DHitachi日立S-450样品台(表面分区)10个/包75600Hitachi日立S-450样品台(标准型)10个/包76470Hitachi日立S-450样品台(碳)10个/包5、Hitachi日立S-500锥孔,内螺纹直径:25mm,螺钉高度:6mm,材料:铝货号产品名称规格75640Hitachi日立S-500样品台10个/包6、Hitachi日立M4 锥孔,内螺纹直径:32mm,高度:6mm,材料:铝货号产品名称规格75635-70Hitachi日立M4样品台(标准型),32mm10个/包7、Hitachi日立M4 锥孔,内螺纹直径:25mm,高度:10mm,材料:铝货号产品名称规格75635-40Hitachi日立M4样品台,25mm10个/包8、Hitachi日立M4 锥孔,内螺纹直径:15mm,高度:10mm,材料:铝货号产品名称规格75635-10Hitachi日立M4样品台,15mm10个/包9、Hitachi日立M4 锥孔,内螺纹直径:32mm,高度:10mm,材料:铝货号产品名称规格75635-75Hitachi日立M4样品台,32mm10个/包10、Hitachi日立M4 锥孔,内螺纹直径:50mm,高度:6.0mm,材料:铝货号产品名称规格75635-77Hitachi日立M4样品台,50mm10个/包
  • FEI SEM扫描电镜钨灯丝10根/盒
    【产品详情】Agar钨灯丝在采用高延展性的钨材料,在精确的工艺下制作,使用寿命长。此钨灯丝适用于FEI钨灯丝扫描电镜,一盒10个灯丝。产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
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