高分辨原子力显微镜

SPM-8100FM 岛津高分辨率原子力显微镜SPM-8100FM使用调频模式，极大提高了信号的灵敏度，是第一款可以在大气环境下获得与真空环境中同样超高分辨率表面观察图像的产品，无论样品种类（薄膜、晶体、半导体、有机材料），还是不同环境（大气环境及溶液环境）。并且首次观察到固体和液体临界面（固液界面）的水化、溶剂化现象的图像，因此实现了对固液界面结构的测量分析。1. 大气及溶液中的超高分辨率观察变为现实通过提高检测悬臂振动的光检测系统的效率，以及压制激光干扰等技术开发，把检测悬臂变位的光杠杆检测系统的噪音成功地降低到了以往的1/20。由此实现了以往SPM只能在真空环境中才能实现的超高分辨率观察。2. 固液界面水化/溶剂化作用三维构造解析SPM-8000FM利用超高灵敏度的力检测系统实现了水化溶剂化结构的观察分析。通过精确测量探针在固液界面的受力，作为探针所在位置的函数，成功观察到了界面的液体结构。并且采用了新的扫描方式，不仅在二维层面，还首次实现了三维结构的解析。不仅可以观察电极、聚合物在界面活性剂、生物界面等溶液中的表面形态，还可以进行固液界面结构的观察分析。例如，可实现锂离子电池中电解液和电极界面发生的结构变化，或者脂类等生物分子溶液中的结构观察等研究，为电子设备、纳米材料、催化剂、生物材料等纳米技术领域的研发工作带来新手段。3. 更为快速便捷的操作性综合使用头部滑动结构，专用探针更换夹具以及高速扫描器，完善了用户操作的便利性，提高了工作效率。

美国Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力显微功能，具有强大的分析能力，使得AFM不仅仅是一个普通的成像工具，还可以进行材料纳米级尺度的成分分析，热性能和机械性能的分析。AFM+的主要特点：简洁的安装与操作 □ AFM+为最便利的使用而设计制造。探针预装在金属圆片上，确保探针位置的准确性和装针的便捷□ 仪器集几十年AFM设计大师的经验之大成，即使初次使用也能快速获取结果完整的AFM工作模式 □ 包含所有常规成像模式：接触、轻敲、相位、侧向力、力调制、力曲线□ 独有高分辨率低噪音的闭环成像□ 基于DI传承的多功能AFM，实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）独有的可升级功能□ 热学性能：独有的热探针技术，提供纳米级红外分析□ 机械性能：洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析□ 化学性能：可升级具有纳米红外光谱技术，实现局部化学组分分析□ 近场成像：可升级具有散射式近场光学成像和光谱采集功能

超快速原子力显微镜 NanoWizard ULTRA Speed 2630 Hz线速率、10帧/秒高分辨超快速成像最高分辨的定量纳米力学成像与最精密先进光学显微镜的完美结合新一代基于工作流程的软件革新灵活易用的模块化设计与大量模块的卓越拓展性 超快速扫描终极性能NanoWizard ULTRA Speed 2 拥有最新一代Vortis&trade 2控制器、顶尖的基于工作流程的用户界面、先进的扫描器设计以及新的工作模式，从而提供了卓越的高性能和无与伦比的用户有好度。新一代超快速原子力显微镜结合了真正原子级分辨率与10帧/秒的超快速扫描速率。这些技术突破是JPK BioAFM技术团队的技术专家们不断强化与创新的结晶。用户易用性的新高度JPK的工程师团队采用了全新的方法开发了新一代控制软件。新一代V7控制软件基于工作流程，旨在满足每个用户的多种需求。新一代软件可以更容易的控制复杂与长期的实验过程，结合一整套新开发的配件与功能，帮助和加快科学产出。真正原子级分辨率与超高的稳定性NanoWizard ULTRA Speed 2为满足高分辨率应用需求而设计。该系统提供的市面上最低噪音水平和最高稳定性是获得真正原子级分辨率的关键。此外，在超低力下的直接力控制可以防止对样品和探针的损坏。该系统采用最先进的位置传感器技术，可以提供最高的精度和最大的准确度。搭配倒置光学显微镜10帧/秒超快速扫描定义新标准全新的NanoWizard ULTRA Speed 2探针扫描技术可以达到传统原子力显微镜难以企及的速度水平。实时、原位的成像实验现在可以搭配高分辨先进光学系统进行。采用NestedScannerTM技术对大起伏褶皱样品进行高速成像迄今为止，在活细胞、大起伏褶皱样品以及具有陡峭边缘的样品进行最高时间与空间分辨率的动态成像实验一直是一项具有挑战性的工作。基于全新的NestedScannerTM技术，在细胞、细菌或其他褶皱样品的表面可以实现高速的扫描成像，样品最大容许起伏可达8 µ m。搭配先进荧光显微镜的AFM同步触发与样品动态过程实时观察样品的动力学变化通常依赖于改变环境条件来触发反应。全面的环境控制解决方案(温度控制以及气体或液体交换)，结合光学显微镜手段，使用户能够以无与伦比的速度进行高级AFM实验。NanoWizard ULTRA Speed 2刷新了显微镜连用方案的标准。高速扫描的技术优势■高分辨观察样品实时的动态过程■NestedScannerTM技术快速扫描褶皱或较高的样品表面■AFM与荧光显微镜连用实现原位的多参数观察■极大提高工作效率，快速观察样品多个位置

Nanowizard V 第五代生物型原子力显微镜（BioAFM最新一代产品充满各种创新 25年引领生物原子力显微镜技术的研发和创新 全球超过1000家用户的广泛认可8500多篇在生物学领域具有影响的文章 拥有专注于高清晰成像和其它应用的探针研发支持丰富的功能为实现科学研究突破铺平了道路：PeakForce-QI, PeakForce Tapping, PeakForce QNM, QI 单分子力谱技术 单细胞力谱技术 DirectOverlay 2实现AFM与先进光学技术的绝佳整合 全新V8软件 新的ExperimentPlanner和ExperimentControl功能 高数值孔径显微镜整合，多维度环境控制等各类高级整合方案完美的性能，更高的效率 NanoWizardV 诠释了BioAFM的美好未来 无与伦比的易用性 高速成像可用于捕捉动力学过程以及提高实验效率 自动化、高分辨成像

Dimension FastScan世界上扫描速度最快的原子力显微镜扫描速度的全新诠释，拥有最高的扫描分辨率，最优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节 和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合，大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率 Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。 Dimension Fastscan是世界上第一台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM，真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升，Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。 ■采用最低热漂移的针尖扫描AFM技术，提高了系统的固有振动频率。■应用新的NanoScope控制器，为机器提供了更高的带宽。■开发了小悬臂的生产工艺，在空气中共振频率为1.3MHz，在液体中共振频率为250KHz到500KHz。■采用了低噪音的机械和电子的主要部件，结合高共振频率X-Y-Z扫描管，在技术上获得了重大突破。■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度，结合高精度的闭环控制，在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高，即使使用更高的扫描速度100Hz,图像分辨率同样不会降低。■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片，即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向，探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s，同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s， X-Y方向的跟踪误差1%，真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO，利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针，在不降低系统稳定性的前提下，得到最好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合，消除了样品尺寸的限制，同时维持了最低的噪音和热漂移水平。 AFM终极性能 Dimension FastScan AFM 优秀的分辨率，与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合，提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业领先的针尖扫描技术的最新革新，配置了温度补偿位置传感器，展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平，这个惊人的性能出现在大样品台，34微米和90微米的扫描范围的系统上，尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度，而不损坏图像质量，实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合，即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。 杰出的生产力 使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平，展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程，使其操作过程比以往最先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中，同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果，而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面—从完全开放式针尖样品空间，到预存软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率，全新的直观用户界面，世界闻名的Dimension AFM平台，三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能，保证您在最短时间内得到测试结果并发表出版。 世界上最灵活的平台 Dimension FastScan 展现出的无与伦比的性能，坚固性和灵活度，使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台，大型多元样品支架和许多简单易用的性能，将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前，为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升，以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。 无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要 出众的性能满足各种应用需求 Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据，获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术，模式和模式增强功能，Dimension FastScan以其独特的性能优势，帮助您完成更高水平的纳米研究。 材料成像 FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速扫描扫描管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术，大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。 纳米操纵 可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应，大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位，适用于任何纳米操作系统。 加热和冷却 在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。 电学表征 使用专利的模式，可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA&trade 和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法，同时还可以与样品上的力学属性相联系。 利用最短时间获得高质量可发表数据结果 无论是作为科研交流还是发表科学文章，Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。 样品筛选 利用AFM系统获取大量样品信，进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制，及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时，高精准度成为必备条件。在获取药物配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶药物成分进行筛选，这可能成为FastScan的一个新用途。 动态应用范例 另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下，随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中，对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail：

创新研究的最佳途径Park NX10为您带来最高纳米级分辨率的数据，值得您信赖、使用和拥有。无论是从样品设定还是到全扫描成像、测量与分析，Park NX10都可以在保证您专注于创新研究工作的同时提供高精度的数据。Park SmartScan 智能模式在SmartScan Auto独有的智能模式下，系统自动执行所有必要的成像操作，同时智能选择最佳的图像质量和扫描速度。这是通过Park的专利技术才得以实现的。它不仅可以为您节省时间和金钱，还可以给你您带来最好的研究结果。Park 消除串扰技术Park NX10为您带来最高纳米级分辨率的数据，值得您信赖、使用和拥有。它是全球唯一一个真正非接触式原子力显微镜，在延长探针使用寿命的同时，还能良好地保护您的样品不受损坏。可弯曲的独立XY扫描仪和Z扫描仪可带来无与伦比的精确度和分辨率。Park先进的原子力显微镜模式Park原子力显微镜具有综合性的扫描模式，因此您可以准确有效地收集各种数据类型。从使用世界上唯一的真非接触模式用来保持探针的尖锐度和样品的完整性，到先进的磁力显微镜， Park在原子力显微镜领域为您提供最具创新、精确的模式。Park NX10 扫描离子电导显微镜模块Park NX10扫描离子电导显微镜模块为广泛的应用，细胞生物学，分析化学，电生理学和神经科学提供纳米级成像。技术信息为通用研究提供精准的AFM解决方案低噪声Z检测器可进行精确的AFM测量Park NX10原子力显微镜的低噪声Z探测器NX平台的核心先进技术业界无可比拟的超低噪声默认的形貌信号Z轴探测器是全新NX系列原子力显微镜的核心技术之一。它是Park独创的新型应变传感器。凭借着0.2埃的超低噪声一跃成为行业内噪声最低的Z轴探测器。超低噪声让Z轴探测器可作为默认的形貌信号，全新的NX系列原子力显微镜与前几代的原子力显微镜的差异可轻易被观察到。如果Z轴探测器的噪声过高，用户是无法观察到蓝宝石晶片的原子台阶的。Park NX系列原子力显微镜的Z轴探测器所发出的高度信号，其噪声水平与Z轴电压形貌相同。真正的非接触式™ 模式进行准确的AFM扫描针尖磨损更低=高分率扫描更长久无损式探针-样品接触=样品受损最小化可满足各种条件下对各种样品进行非接触式扫描针尖磨损更快=模糊，低分辨率扫描破坏性的探针-样品接触=样品易受损参数高依赖性优秀的设计带来最佳的用户体验简单的探针和样品更换独有的设计能让您轻易地用手从侧面更换新的探针和样品。借助安装悬臂式探针夹头中预先对齐的悬臂，无需再进行繁杂的激光校准工作。闪电般快速的自动近针自动的探针样品进针功能能让用户无需进行干预操作。通过监测悬臂接近表面的反应，Park NX10能够在悬臂装载后十秒内开始并自动快速完成探针样品进针操作。高速Z轴扫描器的快速信息反馈和NX电子控制器的低噪声信号处理使得无需用户干预就能快速接触样品表面。快速精准的SLD光校准凭借我们先进的预校准悬臂架，悬臂在装载时SLD光便已聚焦完毕。此外，作为行内唯一一家可以提供自上而下的同轴视角可以让您轻松找到光点。由于SLD光垂直照在悬臂上，您可通过旋转两个定位按钮直观地在X轴Y轴移动光点。这样您可以在激光准直页面中轻易找到SLD光并将其定位在PSPD上。此时您只需要稍微调整到最大化信号，便可开始获取数据。Park NX10特点扫描范围为50 μm x 50 μm 的2D扫描器XY轴扫描器有对称的二维高强度压电叠堆。它可为进行精确的纳米级样品扫描，提供基本的面外高效正交运动和高响应能力。Park NX10的这种紧密刚硬的构造具备低噪声高速的伺服响应能力。低噪声XYZ位置传感器行业领先的低噪声Z轴探测器代替Z电压作为形貌信号。低噪声XY闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。自动步进扫描 借助驱动样品台，步进扫描可编程多区域成像，以下是它的工作流程：扫描成像抬起悬臂移动驱动平台到设定位置进针重复扫描滑动嵌入SLD镜头的自主固定方式您只需滑动嵌入燕尾导轨便可轻松更换原子力显微镜镜头。该设计可将镜头自动锁定至预对准的位置，同时与复位精度为几微米的电路系统相连接。借助于相关性低的SLD，显微镜可精确成像并可准确测定力-距离曲线。高级扫描探针显微镜模式和选项的扩展槽只需将可选模块插入扩展槽便可激活高级扫描探针显微镜模式。得益于NX系列原子力显微镜的模块设计，其生产线设备兼容性得到大大提高高速24位数字控制器所有NX系列的原子力显微镜都是由相同的NX电子控制器进行控制和处理。 该控制器是个全数字，24位高速控制器，可确保True Non-Contact™ 模式下的成像精度和速度。凭借着低噪声设计和高速处理单元，该控制器也是纳米成像和精确电压电流测量的绝佳选择。嵌入式数字信号处理为原子力显微镜带来更为丰富的功能，更好的解决方案，是高级研究员的最佳选择。XY和Z轴检测器的24位信号分辨率XY轴（50 μm）的分辨率为0.003nmZ轴（15 μm ）的分辨率为0.001 μm嵌入式数字信号处理功能三通道数码锁相放大器弹簧系数校准（热方法）数据Q控制集成式信号端口专用可编程信号输入/输出端口7个输入端口和3个输出端口

SPM-8100FM 高分辨原子力显微镜观察生动的纳米世界 使用调频模式的新型HR-SPM高分辨率原子力显微镜，不仅可以在空气及液体环境中实现超高分辨率，而且首次观察到了固液界面的水化/溶剂化作用的液体分层。 HR-SPM: 高分辨原子力显微镜 特点使用调频模式空气和液体中的噪音降低到传统模式的二十分之一在空气和液体环境中也能达到超高真空原子力显微镜的分辨率现有的扫描探针显微镜 (scanning probe microscopes)和原子力显微镜(atomic force microscopes) 通常使用调幅模式(amplitude modulation).从原理上, 调频模式(frequency modulation) 可以达到更高的分辨率。SPM： 扫描探针显微镜AFM： 原子力显微镜AM： 调幅模式FM： 调频模式与现有SPM/AFM的区别注: KPFM需要特定的基底。 KPFM: 扫描开尔文显微镜引用文献：Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012). FM模式原理在动态模式下，测量悬臂的振动频率，从而测得悬臂和样品间的相互作用力。具体来说，为了使悬臂的频率偏移(△f)保持一定，让悬臂在非接触状态下运动。与以往相比，对力的检测灵敏度提高了20倍以上，因此图像的分辨率也大大提升。*外观及规格如有更改，恕不另行通知。

产品详情 HR-SPM: 高分辨原子力显微镜 使用调频模式空气和液体中的噪音降低到传统模式的二十分之一在空气和液体环境中也能达到高真空原子力显微镜的分辨率现有的扫描探针显微镜 (scanning probe microscopes)和原子力显微镜(atomic force microscopes) 通常使用调幅模式(amplitude modulation).从原理上, 调频模式(frequency modulation) 可以达到更高的分辨率。 SPM：扫描探针显微镜 AFM：原子力显微镜 AM：调幅模式 FM：调频模式 与现有SPM/AFM的区别 液体环境中原子分辨率观察 NaCl饱和溶液中观察固体表面的原子排列。使用调幅模式的传统原子力显微镜，图像完全被噪音遮盖（左图），但在调频模式下，原子排列清晰可见（右图）。调频模式实现了原子级分辨率。 空气中Pt催化剂颗粒的观察 TiO2基底上的Pt颗粒， 通过KPFM进行表面电势的测定，TiO2基版上的Pt催化粒子可被清晰识别。同时可以观察到数纳米大小的Pt粒子和基板间的电荷交换。右图中，红色区域是正电势，蓝色区域是负电势。对于PKFM观察，FM模式也大幅提高了分辨率。

SPM-8100FM 岛津高分辨率原子力显微镜SPM-8100FM使用调频模式，极大提高了信号的灵敏度，是一款可以在大气环境下获得与真空环境中同样超高分辨率表面观察图像的产品，无论样品种类（薄膜、晶体、半导体、有机材料），还是不同环境（大气环境及溶液环境）。并且首次观察到固体和液体临界面（固液界面）的水化、溶剂化现象的图像，因此实现了对固液界面结构的测量分析。1. 大气及溶液中的超高分辨率观察变为现实通过提高检测悬臂振动的光检测系统的效率，以及压制激光干扰等技术开发，把检测悬臂变位的光杠杆检测系统的噪音成功地降低到了以往的1/20。由此实现了以往SPM只能在真空环境中才能实现的超高分辨率观察。2. 固液界面水化/溶剂化作用三维构造解析SPM-8000FM利用超高灵敏度的力检测系统实现了水化溶剂化结构的观察分析。通过精确测量探针在固液界面的受力，作为探针所在位置的函数，成功观察到了界面的液体结构。并且采用了新的扫描方式，不仅在二维层面，还首次实现了三维结构的解析。不仅可以观察电极、聚合物在界面活性剂、生物界面等溶液中的表面形态，还可以进行固液界面结构的观察分析。例如，可实现锂离子电池中电解液和电极界面发生的结构变化，或者脂类等生物分子溶液中的结构观察等研究，为电子设备、纳米材料、催化剂、生物材料等纳米技术领域的研发工作带来新手段。3. 更为快速便捷的操作性综合使用头部滑动结构，专用探针更换夹具以及高速扫描器，完善了用户操作的便利性，提高了工作效率。SPM-8100FM型高分辨原子力显微镜信息由岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司为您提供，如您想了解更多关于SPM-8100FM型高分辨原子力显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

SPM-8100FM 岛津高分辨率原子力显微镜SPM-8100FM使用调频模式，极大提高了信号的灵敏度，是第一款可以在大气环境下获得与真空环境中同样超高分辨率表面观察图像的产品，无论样品种类（薄膜、晶体、半导体、有机材料），还是不同环境（大气环境及溶液环境）。并且首次观察到固体和液体临界面（固液界面）的水化、溶剂化现象的图像，因此实现了对固液界面结构的测量分析。1. 大气及溶液中的超高分辨率观察变为现实通过提高检测悬臂振动的光检测系统的效率，以及压制激光干扰等技术开发，把检测悬臂变位的光杠杆检测系统的噪音成功地降低到了以往的1/20。由此实现了以往SPM只能在真空环境中才能实现的超高分辨率观察。2. 固液界面水化/溶剂化作用三维构造解析SPM-8000FM利用超高灵敏度的力检测系统实现了水化溶剂化结构的观察分析。通过精确测量探针在固液界面的受力，作为探针所在位置的函数，成功观察到了界面的液体结构。并且采用了新的扫描方式，不仅在二维层面，还首次实现了三维结构的解析。不仅可以观察电极、聚合物在界面活性剂、生物界面等溶液中的表面形态，还可以进行固液界面结构的观察分析。例如，可实现锂离子电池中电解液和电极界面发生的结构变化，或者脂类等生物分子溶液中的结构观察等研究，为电子设备、纳米材料、催化剂、生物材料等纳米技术领域的研发工作带来新手段。3. 更为快速便捷的操作性综合使用头部滑动结构，专用探针更换夹具以及高速扫描器，完善了用户操作的便利性，提高了工作效率。

微视HM原子力AFM-超分辨STORM联用显微镜该仪器为纳瑟(上海)纳米科技有限公司联合产品原子力显微镜(AFM)是一种高空间分辨率的形貌成像技术，并能进行力学研究，但AFM难以提供分子种类信息。根据STORM和AFM各自的优缺点，提出一种新型的超分辨荧光和形貌显微镜(AFM-STORM)联用技术，同步实现超高分辨的荧光和形貌成像。联用系统成像范围50 μmx50 μmAFM显微镜分辨率横向分辨率为 10 nm 垂直分辨率为 0.1 nmSTORM 成像分辨率20 nmAFM显微镜采集速度60 s @ 128 point/ lineAFM最大可测样品深度6 mm

产品详情 探知未来原子力显微镜（AFM）是在样品表面用微小的探针进行扫描，通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作简单的新一代扫描探针显微镜。 HT扫描器 高速反馈 高速扫描 新开发的可快速响应的HT扫描器加之软件与控制系统设计的优化，成功实现扫描速度比传统设备快5倍以上。 探针专家 便捷操作 轻松换探针 探针更换夹具，让小心翼翼的探针更换操作变得简捷轻松 头部滑动结构 高稳定性 高速分析处理样品交换时也可保持激光稳定照射悬臂。照射稳定性优异，分析时间也大幅度缩短 鼠标操作即可表现丰富的3D图像显示 可从不同角度放大拉伸图像进行确认。鼠标操作简单，更可进行3D断面形状分析。 从观察到分析实现无拘无束的可操作性 按照操作指南指导操作顺序，使用导航功能直接锁定观察位置，实现了SPM的快速简便的观察 满足所有要求的功能和扩展性 具备丰富的测定模式和优异的扩展性，可对不同硬度、不同导电性能等各式样品进行观察分析。

仪器简介：瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。easyScan 2原子力显微镜是瑞士Nanosurf公司在原有easyScan原子力显微镜基础上更新而来，增进了该原子力显微镜的便携性，精确性和可靠性，有更强的抗干扰能力。目前easyScan 系列原子力显微镜已经在50多个国家销售了近2000台。是工业质量控制，纳米材料研发者的完美工具。技术参数：easyScan2 AFM原子力显微镜： 1. 两种可供选择的原子力显微镜扫描头 (1) 大扫描范围 最大扫描范围：X和Y方向110um x 110um xy轴分辨率： 1.7nm 最大扫描范围： Z方向20um z轴分辨率： 0.34nm Z噪音标准（RMS）： 0.4nm(2) 高分辨率 最大扫描范围：X和Y方向10um*10um xy轴分辨率：0.15nm 最大扫描范围：Z方向1.8um z轴分辨率：0.027nm Z噪音标准（RMS）：0.07nm 扫描速度：1800个数据点/秒 传感半径： 15nm 典型负载： 10nN 扫描仪质量：350g 反馈回路宽带：3kHz 自动进场范围：5mm 没有使用危险的高电压2. 电子控制器 数据采集时，可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压：+12V 扫描速度：1-20分/框 1024样品/直线 动态频率范围：15-300KHz 动态频率分辨率：15-300KHz 外部电源 功率消耗量25VA 电子控制器质量2.5kg 3. 软件 软件在Windows 操作系统上运行 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察，点观察，三维观察 在线数学计算功能（减，平均值等等） 类似于粗糙度（Ra，Rq）、顶点剖面、厚度、距离和几何分析的数据分析 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 安装非常简便主要特点： easyScan2 AFM原子力显微镜：允许快速的、在原位无破坏性的、高分辨率的处理控制。 自动激光对准芯片技术，无需人工手动调节。设计小巧、紧凑；使用简便、舒适 。所有的功能可以在一台计算机上进行 。独立的；适合大、小形状各异的样品 。样品自动进场 。与标准计算机串行端口连接（不需要接口卡） 。特殊的扫描仪设计，确保低震动灵敏度 。

Bruker原子力显微镜-- Dimension FastScan Bruker公司的AFM具有多项zhuan li技术，以其卓yue的性能广泛应用于科研和工业界各领域Dimension FastScanTM 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon超高的分辨率和卓yue的仪器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得高质量数据的时间,是世界上扫描速度zui快的原子力显微镜。 应用：应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。原子力显微镜的工作模式是以针jian与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。 特征：u 高xiao率 l 在空气或液体中成像速度是原来速度的 100 倍，自动激光调节和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。 l 自动测量软件和高速扫描系统完mei结合，大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。 u 高分辨率 l FastScan 精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。扫描速度 20Hz 时仍能获得高质量的 TappingModeTM图像，扫描速度 6Hz 仍能获得高质量的ScanAsyst 图像。 l 低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。 u 在任何样品上均有表现 l 闭环控制的 Icon和 FastScan扫描管极大地降低了 Z方向噪音，使它们 Z 方向的噪音水平分别低于 30pm 和 40 pm，具有极低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。 l Fast Scan 可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到 100 多纳米的样品高精度无失真扫描

alpha300 RA –在一个系统里面集成化学成分分析和纳米级别的结构成像alpha300 RA 是市场上首个高度集成的拉曼原子力显微镜系统，可以在标准的Alpha 300R共聚焦拉曼系统上通过标准模块升级即可完成拉曼原子力系统联用，获得原位的AFM和Raman图像的叠加。alpha300 RA 独特的设计理念使联用系统既保留300R强大的化学组分分析能力，同时加入微纳级别的表面形貌等特性的分析能力，使研究者能对样品进行深度完善的分析和理解。 alpha300 RA 让拉曼和原子力两种互补的技术得以在一套系统里面实现，两种技术的性能完全不受联用的影响，而且使用同一个操作软件，使得操作和分析变得简单应用。拉曼和原子力显微镜使用不同的显微镜物镜，只需要简单转动物镜转盘，成像软件即可原位完成两种技术的图像对比，叠加和分析 此外alpha300 RA可进一步升级来配合TERS (高分辨拉曼)测量 拉曼原子力显微镜系统主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 A (原子力) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析（拉曼）和微纳级别表面特征分析（原子力）的结合l 原子力和拉曼同时进行的绝佳选择l 严格原位，完全不需要在测量过程中移动样品l 只需要转动物镜转盘即可在两种测量技术之间简单切换 拉曼原子力显微镜系统应用实例 多组分高分子混合物，包含了1:1:1比例的聚苯乙烯（PS），充油丁苯橡胶（SRB）和丙烯酸乙基己酯（EHA）的原位拉曼及原子力图像对标最左边的拉曼成像: 绿色代表PS, 红色代表SRB，蓝色代表EHA.第二至第五张图像分别是样品的表面拓扑结构，相位，粘附力和粘度 金刚石压砧在单晶硅表面的压痕的应力分析，原位拉曼原子力图像左图：10x10um原子力表面拓扑结构和深度轮廓图，右图压痕周边的应力拉曼图像，紫色为未受应力影响，黄色为压力应变，灰色为张力应变 拉曼原子力显微镜系统性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪，专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 通用原子力显微镜操作模式l 接触模式l AC 模式（轻敲模式）l 数字脉冲力模式 (DPFM)l 抬高模式l 磁力显微镜模式 (MFM)l 静电力显微镜模式 (EFM)l 相位成像模式l 力曲线分析l 微纳操控及微纳印刷l 横向力模式 (LFM)l 化学力模式 (CFM)l 电流探测模式l 其他可选 基本显微镜指标l 研究级别的光学显微镜，6孔物镜转盘l 明场CCD相机，代替目镜观察样品l LED明场科勒照明l 电动XYZ样品台，25x25x20mm平移范围l 主动隔震平台 各类拉曼升级选项（如true surface等）l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台，可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选，如暗场，像差，偏光，微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR)，均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合，70%超高光通量l 优异的成像质量，光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集，处理软件

Bruker原子力显微镜 Bruker公司的AFM具有多项 技术，以其 性能广泛应用于科研和工业各领域Dimension Icon 系列作为布鲁克公司(Bruker AXS)原子力显微镜的产品，凝聚了多项行业的 技术，是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。 应用：应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。 原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。 特征：u 低漂移和低噪音水平u 配置有专有ScanAsys原子成像优化技术，可以简易快速稳定成像u 测试样品尺寸可达：直径210mm，厚度15mmu 温度补偿位置传感器使Z轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平，并呈现出前所未有的高分辨率。u 全新的XYZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度。u 探针和样品台的开放式设计使Icon 可胜任各种标准和非标准的实验。u 先进的布鲁克AFM的模式和技术，如高次谐波共振模式，和独有的不失真高温成像技术--采用对针尖和样品同时加热的方法， 程度减少针尖和样品之间的温差，避免造成成像失真。

【产品简介】 Nanosurf Bio原子力显微镜在倒置显微镜平台上可以提供高精度、高分辨率和成像功能，实现原位实时获取AFM图像和光学图像。可以在空气或液体环境中对DNA、蛋白质、细胞等成像和结构以及分子间作用力、细胞吸附力等生物力学进行检测，是生物/生命科学领域用户最理想的显微镜。 【仪器参数】 最大扫描范围100μm10μm 最大Z向范围10μm3μm Z向分辨率0.152nm0.046nm XY向分辨率1.525nm0.152nm

Bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射InSight AFP是世上性能*高、行业首-选的先进技术节点CMP轮廓和蚀刻深度计量系统。将其现代尖-端扫描仪与固有的稳定电容式压力计和精确的空气轴承定位系统相结合，可以在模具的活动区域进行非破坏性的直接测量。 0.3纳米长期稳定提供NIST可追踪的参考计量，并在一年内保持测量的稳定性260-340个站点/小时内联应用程序的*高生产效率减少MAM时间和优化的晶圆处理可保持高达50个晶圆/小时的吞吐量高达36000微米/秒仿形速度通过热点识别提供高分辨率3D特征*高分辨率，尖-端寿命长InSight AFP的TrueSense技术，具有原子力分析器经验证的长扫描能力。亚微米特征的蚀刻深度、凹陷和侵蚀可以完全自动化地监控，具有无与伦比的可重复性，无需依赖测试键或模型。-----蚀刻和CMP晶片的全自动在线过程控制Insight AFP结合了原子力显微镜的新创新，包括Bruker的专有CDMode，用于表征侧壁特征和粗糙度。CDmode减少了所需的横截面数量，实现了显著的成本节约。此外，AFP数据提供了无法通过其他技术获得的直接侧壁粗糙度测量。自动缺陷审查和分类当今集成电路的器件缺陷比以往任何时候都小，需要快速解决HVM需求。InSight AFP提供了有关半导体晶片和PHTOmask缺陷的快速、可操作的地形和材料信息，使制造商能够快速识别缺陷源并消除其对生产的影响。100倍高分辨率配准光学元件和AFM全局对准可使图案化晶圆和掩模的原始图像放置精度低于±250 nm，确保感兴趣的缺陷是测量的缺陷。该系统与KLARITY和大多数其他YMS系统完全兼容。3D模具映射和HyperMap&trade 分析速度高达36000μm/sec，能够对33mm x 26mm及更大的闪光场进行快速、完整的3D CMP后表征和检查。超2纳米的平面外运动，实现真正的大规模地形和全自动抛光后热点检测。在本例中，在24小时内以1微米x 1微米像素大小获得了完整的标准26毫米x 33毫米十字线场扫描。然后可以使用Bruker的热点检测和审查功能自动检测和重新扫描热点。售后服务Bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP——紧凑型高性能剖面仪和AFMBruker的InSight CAP自动原子力轮廓仪是专门为半导体制造商和供应商设计的CMP和蚀刻计量组合平台。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。 0.5 nm长期动态再现性用于关键工艺决策的直接、稳定的在线计量 亚纳米CMP自动计量的灵敏度，专用碟形和腐蚀计量包，用于无与伦比的过程控制和开发 20nm仿形平面度大于26mm针对关键EUV光刻技术开发和过程控制的高精度CMP后平面度计量 在线计量结果以分钟为单位，适用于蚀刻和CMP的技术开发和过程控制在高级技术节点，多模式光刻技术对CMP提出了纳米级的过程控制要求，以满足聚焦深度需求。InSight CAP围绕新一代AFM扫描仪构建，在65μm X/Y扫描范围内提供改进的平坦度，小于10纳米。该系统的NanoScopeV 64位AFM控制器提供了5倍更快的啮合性能和5倍更快的调整速度，以提高生产效率，所有这些都提高了可靠性。其DT自适应扫描模式也有助于加快扫描速度和改进计量。InSight CAP高分辨率剖面仪结合了多项先进功能，可在宏观凹陷和侵蚀中实现埃级精度测量。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。售后服

SEM电镜兼容原子力显微镜EM-AFM EM-AFM 纳米操作系统提供了在SEM电镜中原子力显微镜成像和定量测量纳米力 的能力。它使得SEM和AFM这两种技术的结合，提供了高速高分辨率的3D形貌 成像，以及微纳米和亚纳米尺度纳牛力相互作用的实时观测。 产品特性 同步AFM 和 SEM 成像 完全兼容市面上的主流SEM电镜 超高分辨率形貌扫描 通过纳米压痕定量测量纳米力 真空载锁兼容 操作稳定性高，不受SEM电子束干扰规格参数应用案例SEM-AFM图像融合SEM成像具有高横向分辨率和扫描速率的优势，结合AFM成像提供的三维形貌信息，可获取新的而又全面的信息亚纳米成像分辨率全闭环编码系统确保在没有图像失真的情况下获得超高形貌成像分辨率，同时获取亚纳米成像分辨率。纳米压痕和拉伸测试样品的纳米力学性能可以在该仪器中通过纳米压痕和纳米拉伸测试试验技术进行测量。在SEM电镜成像下，可实时观测压痕和拉伸过程。专用软件提供了内置的计算工具，用于分析和显示获取的观测数据。高真空环境/SEM兼容结构紧凑的AFM兼容市面上大部分的SEM和FIB，并能够在数秒内完成安装和拆卸。系统允许很小的工作范围（5mm），同时兼容标准的SEM分析技术（如EDS、EBSD、WSD）。

世界顶级精度及强大功能Park原子力显微镜产品特性Park XE15具备多个特殊功能，是共享实验室处理各类样品、研究员进行多变量实验、失效分析师研究晶片等的不二选择。合理的价格搭配强健的性能设置，使其成为业内性价比最高的大型样品原子力显微镜。 MultiSample™ （多重采样TM）扫描器带来最便捷样品测量- 多样品一次性自动成像- 特殊设计的多样品夹头，最多可承载16个独立样品- 全自动XY样品载台，行程范围达200 mm x 200 mm。 无轴间耦合提高扫描精度- 两种独立闭环XY和Z平板式扫描- 平板式和线性XY扫描可达100μm x 100μm，且残余压弯小- 整个扫描范围内的异面移动小于2nm- 强力扫描器达25μm Z扫描范围- 精确的高度测量 Non-Contact™ （真正非接触TM）模式延长针尖使用寿命、改善样品保存及精度 - 其Z扫描频宽是压电管基础系统的10倍- 非接触式可降低针尖磨损、延长使用寿命- 成像分辨率高于同类原子力显微镜- 降低样品干扰，提高扫描精度 提供最佳用户体验- 开放式侧面接入，提高样品及针尖更换效率- 预对准的针尖安装和独一无二的轴上俯视法可简单直观地实现激光对准- 燕尾锁封片方便镜头拆卸- 界面带自动设置功能，方便用户使用 多种模式与选项- 综合性测量模式及特性设置，是我司最佳通用型原子力显微镜- 多种可选配件及更新，扩展性能优越-? 为缺陷分析提供先进电气测量 * 产品特点 100um x 100 um扫描范围的XY柔‘性导向扫描器XY扫描器含系统二维弯曲及强力压电堆叠，可使极小平面外移动形成较大的正交运动，并能快速响应，实现精确的样品纳米级扫描。 柔性导向强力Z扫描器在强力压电堆叠的驱动及弯曲结构的引导下，其硬度允许扫描器高速竖直运动，较传统原子力显微镜扫描器更加高速。最大Z型扫描范围搭配远程Z扫描器（选配）可延长12μm至25μm。 滑动连接的超亮二极管头 通过将原子力显微镜头沿楔形轨道滑动，可轻松将其插入或取出。低相干的超发光二极管头可实现高反射表面的精确成像和力-矩光谱的精确测量。超亮二极管头的波长帮助减轻干扰问题，因此用户在可见光谱实验中也可使用本产品。 多样品夹头特殊设计的多样品夹头，做多可承载16个独立样品，由多重采样扫描器自动按顺序扫描。特殊的夹头设计为接触样品针尖预留了边通道。 选配编码器的XY自动样品载台自动集成XY载台可轻松并精确控制样品的测量位置。XY样品载台的行程范围可配置为150 mm x 150 mm或200 mm x 200 mm。若搭配自动载台使用编码器，可提高样品定位的精确度和重复性。编码XY载台工作时分辨率为1 μm，重复率为2 μm。编码Z载台的分辨率为0.1 μm，重复率为1 μm。 高分辨率数码变焦感光元件摄像头高分辨率数码感光元件摄像头利用直接同轴光学，具备变焦功能，无论是否摇摄均可确保图像具有清晰的成像质量。 垂直对齐的自动Z载台及聚焦载台Z载台和聚焦载台可将悬臂啮合到样品表面上，同时确保用户视野清晰稳定。聚焦载台是由软件控制自动运行的，因此满足透明样品及液态元件应用所需精度。 弯曲基底解耦XY和Z扫描器Z扫描器与XY扫描器完全解耦。XY扫描器在水平面上移动样品，同时Z扫描器竖直移动探针。此配置以最小异面移动，实现了平板式XY扫描。此XY扫描同时还具有高正交性与线性。 业内最低本底噪声为探测最小样品的特性，帮助最快运动平面成像，Park Systems设计了业内0.5?以下的最低本底噪声标准设备。使用“零扫描”探测本地噪声数据。 真正非接触模式延长针尖使用寿命 XE系列原子力显微镜已成功搭配专利强力Z扫描系统独有的真正非接触模式。真正非接触模式下，使用的是相吸而非相排斥的内部原子力。 真正非接触模式因此成功地保持了针尖样品纳米级间距，改善了原子力显微镜图像，保持针尖的锐利，因此有效延长了针尖使用寿命。 预对准悬臂支撑预先安装在探针支撑上，因此不需要严格对齐激光束。 高分辨率的直接同轴光学元件用户可直接俯视观看样品，操控样品表面，从而很容易就能找到目标区域。高分辨率数码摄像头具备变焦功能，无论是否摇摄均可确保图像具有清晰的成像质量。 带DSP控制芯片的XE控制电子元件原子力显微镜发出的纳米级信号将由高性能Park XE电子元件控制并处理。Park XE电子元件为低噪声设计，配备高速处理单元，可成功实现真正非接触™ 模式，是纳米级成像及电压电流精准测量的理想选择。 - 600 MHz、4800 MIPS速度的高性能处理单元- 低噪声设计，适合电压电流精准测量-通用系统，各SPM技术均可得到应用- 外部信号接入模块，存取原子力显微镜输入/输出信号- 最多16个数据成像- 最大数据尺寸：4096 x 4096像素- 16位ADC/DAC，速度达500 kHz- TCP/IP连接，隔离计算机接出电噪 技术参数：扫描器： XY扫描器 Z扫描器 闭环控制的单模块挠性XY扫描器 导向强力Z扫描器 扫描范围：100 μm * 100 μm 扫描范围：12 μm 25 μm（选配）样品台： XY台工作范围：150 mm * 150 mm Z台工作范围：27.5 mm 聚焦台工作范围：20 mm影像： 1 样品基底 样品表面和悬臂的直观同轴影像 样品最大尺寸：150 mm 10倍物镜（选配20倍） 样品最大厚度：20 mm 视野： 480 μm *360 μm （10倍物镜） 摄像头：1M Pixel, 5M Pixel (选配）软件： XEP XEI 系统控制和数据采集的专用软件 AFM数据分析软件 实时调整反馈参数 通过外部程序（选项）进行脚本级控制 售后服务：为了给客户提供高效便捷的售后服务， Park公司在中国区建立有售后服务中心并配有备件仓库。

Bruker原子力显微镜-- Dimension FastScan Bruker公司的AFM具有多项zhuan li技术，以其卓yue的性能广泛应用于科研和工业界各领域Dimension FastScanTM 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon超高的分辨率和卓yue的仪器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得高质量数据的时间,是世界上扫描速度zui快的原子力显微镜。 应用：应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。原子力显微镜的工作模式是以针jian与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。 特征：u 高xiao率 l 在空气或液体中成像速度是原来速度的 100 倍，自动激光调节和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。 l 自动测量软件和高速扫描系统完mei结合，大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。 u 高分辨率 l FastScan 精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。扫描速度 20Hz 时仍能获得高质量的 TappingModeTM图像，扫描速度 6Hz 仍能获得高质量的ScanAsyst 图像。 l 低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。 u 在任何样品上均有表现 l 闭环控制的 Icon和 FastScan扫描管极大地降低了 Z方向噪音，使它们 Z 方向的噪音水平分别低于 30pm 和 40 pm，具有极低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。 l Fast Scan 可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到 100 多纳米的样品高精度无失真扫描

艾博纳原子力显微镜（AFM）维持纳米研究的前沿技术，具有原子级超高分辨率，高水平的性能。可在大气和液体环境中对样品进行探测或进行纳米操控。其测试功能强大、操作简单，除配备接触模式、非接触模式、轻敲模式，也可选配用户需要的模式。我们的系统经过专业的设计，可对测试结果进行各类数据分析，更加方便、快捷完成测试需求。 艾博纳原子力显微镜（AFM）配备了高精度的电 动X、Y、Z轴平移台，具备滚珠丝杠和交叉滚柱导轨，确保了精确的样品操作和定位。此外，该设备具有研究级的顶视视频光学显微镜，提供清晰的样 品观察。它还包括多个扫描仪，以优化扫描条件， 支持系统的定制和扩展。设备的模块化设计允许用 户根据需求添加额外的功能和模式，如图像记录器 、光刻和液体扫描。简易的探头更换机制和激光杆的广泛调节范围提供了额外的操作便利。

Park NX7原子力显微镜实惠智能理想选择灵活智能的研究级AFM，实惠来袭！Park NX7 配有Park原子力显微镜前沿技术，其设计与新型显微镜一样彰显细节品质，可以有效助您取得精准的研究成果。现在价格实惠，是您预算合理下的理想选择。——————————————————————————————————————————通过消除扫描器串扰进行准确的XY扫描√ 独立闭环XY和Z柔性扫描器√ 正交XY扫描√ 样品表面形貌信息测量精准，无需软件处理——————————————————————————————————————————全面专业的原子力显微镜解决方案√ 涵盖多种扫描探针显微镜的扫描模式√ 更智能的NX电子控制器默认启用高级纳米机械测量模式√ 拥有业界前沿的兼容性和可升级性——————————————————————————————————————————人性化设计的软件和硬件功能√ 方便样品或换针的开放式使用√ 预对准的探针夹设计，可轻易直观的进行SLD光校准√ Park SmartScanTM - 原子力显微镜操作软件可以帮助初次使用用户和专业用户进行专业的纳米级研究。——————————————————————————————————————————无扫描器弓形弯曲的平直正交XY轴扫描Park的串扰消除技术不仅改善了扫描器弓形弯曲的缺点，还能够在不同扫描位置，扫描速率和扫描尺寸条件下进行平直正交XY轴扫描。即使再平坦的样品也不会出现如光学平面,各种偏移扫描等背景曲率。因此Park能不惧艰难挑战，为您在研究中提供高精度的纳米测量。无耦合关系的XY和Z扫描器Park的核心技术在于专有的扫描器架构。基于独立XY扫描器和Z扫描器设计的挠曲结构，能让您轻松获得高精度纳米级分辨率数据。——————————————————————————————————————————行业引领的低噪声Z探测器Park AFM 配备了低噪声Z探测器，噪音水平低于0.02 nm,因而达到了样品形貌成像精准，没有边沿过冲无需校准的高效率。Park NX系列不仅为您提供高精准的数据，更为您大大节省了时间成本。由低噪声Z探测器测量准确的样品形貌√ 利用低噪声Z探测器信号进行形貌成像√ 有高宽带，Z探测器低噪声只有0.02 nm√ 边缘位置无前沿或后沿过冲现象√ 只需在原厂校准一次样品: 1.2 μm标准台阶高度(9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines) ——————————————————————————————————————————True Non-Contact&trade 模式可延长探针寿命、保护样品和精准测量True Non-Contact&trade 模式是Park原子力显微镜系统创新的扫描模式，通过在扫描过程中防止针尖和样品损坏，从而产生高分辨率和准确的数据。接触模式下，针尖在扫描过程中持续接触样品；轻敲模式下，针尖周期性地接触样品；而在非接触模式下针尖不会接触样品。因此，使用非接触模式具有几大关键优势。由于针尖锐度得以保持，在整个成像过程中会以高分辨率进行扫描。非接触模式下由于针尖和样品表面不会直接接触，从而避免损坏软样品。更快速的Z轴伺服使得真正的非接触式原子力显微镜有更精准的反馈√ 减少针尖磨损 → 长时间高分辨率扫描√ 无损式探针-样品接触 → 较大地减少样品受损度√ 可满足各种条件下，对各种样品都能够进行非接触式扫描此外，非接触模式可以感知探针与样品原子之间的作用力，甚至可以检测到探针接近样品时产生的横向力。因此，在非接触模式下使用的探针可以有效避免撞到样品表面时突然出现的高层结构。而接触模式和轻敲模式只能进行探针底端检测，很容易受到这种撞击伤害。——————————————————————————————————————————专业的 AFM 解决方案行业引领——支持多种SPM模式和选项如今，研究人员需要在不同的测量条件和样品环境下表征广泛的物理特性。 Park Systems能为您提供多种 SPM 模式、全面的 AFM 选项以及业界前沿的选项兼容性和可升级性，支持高级样品表征。——————————————————————————————————————————Park NX7 支持多种 SPM 模式形貌成像非接触模式接触模式轻巧模式介电/压电特性压电力显微镜(PFM)高压PFMPiezoresponse Spectroscopy磁学特性磁力显微镜 (MFM)电学特性导电原子力显微镜 (C-AFM)电流-电压分光镜开尔文探针力显微镜 (KPFM)高压KPFM扫描电容显微镜 (SCM)扫描扩展电阻显微镜 (SSRM)扫描隧道显微镜(STM)光电流映射 (PCM)静电力显微镜 (EFM)力学特性力调制显微镜 (FMM)纳米压痕纳米刻蚀高压纳米刻蚀纳米操纵横向力显微镜 (LFM)力距(F/d)光谱力容积成像化学特性具有功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜 (EC-AFM)——————————————————————————————————————————Park NX7 参数ScannerZ扫描器柔性引导高推动力扫描器Z扫描范围: 15 μm (30 μm可选)XY扫描器闭环控制式单模块柔性XY扫描器扫描范围: 50 µ m × 50 µ m(可选 10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm)位移台Z位移台Z位移台行程范围: 26 mmXY位移台XY位移台行程范围: 13 mm X 13 mm样品架样品大小 : up to 50 mm样品厚度: up to 20 mm软件SmartScanTMAFM系统控制和数据采集软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制SmartAnalysisTMAFM数据分析软件独立设计—可以安装和分析AFM以外的数据能够生成采集数据的3D绘制

SEM兼容原子力显微镜产品简介EM-AFM 纳米操作系统提供了在SEM电镜中原子力显微镜成像和定量测量纳米力的能力。它可将SEM和AFM这两种显微技术进行联用，提供高速高分辨率的3D形貌成像，以及微纳米和亚纳米尺度纳牛力相互作用的实时观测。产品特性 同步AFM 和 SEM 成像 兼容市面上的主流SEM电镜 超高分辨率形貌扫描 通过纳米压痕定量测量纳米力 真空载锁兼容 操作稳定性高，不受SEM电子束干扰 规格参数系统概况系统尺寸100x100x35SEM载锁兼容根据客户需求提供方案可用环境SEM真空环境兼容系统重量400g+SEM/FIB适配器样品运动台运动范围15x15x5mm集成编码器可选闭环运动分辨率1nm运动速度45mm/s小范围扫描器扫描范围35x35x5μm集成编码器有闭环分辨率优于0.2nm扫描速度8μm/s漂移率2nm/minAFM传感探头传感原理压阻式扫描模式接触式力感应分辨率优于5nN成像分辨率优于1nm力传感范围+/200μN应用案例SEM-AFM图像融合SEM成像具有高横向分辨率和扫描速率的优势，结合AFM成像提供的三维形貌信息，可获取新的而又全面的信息 亚纳米成像分辨率全闭环编码系统确保在没有图像失真的情况下获得超高形貌成像分辨率，同时获取亚纳米成像分辨率。纳米压痕和拉伸测试样品的纳米力学性能可以在该仪器中通过纳米压痕和纳米拉伸测试试验技术进行测量。在SEM电镜成像下，可实时观测压痕和拉伸过程。专用软件提供了内置的计算工具，用于分析和显示获取的观测数据。高真空环境/SEM兼容结构紧凑的AFM兼容市面上大部分的SEM和FIB，并能够在数秒内完成安装和拆卸。系统允许很小的工作范围（5mm），同时兼容标准的SEM分析技术（如EDS、EBSD、WSD）。

美国Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力显微功能，具有强大的分析能力，使得AFM不仅仅是一个普通的成像工具，还可以进行材料纳米级尺度的成分分析，热性能和机械性能的分析。AFM+的主要特点：简洁的安装与操作 □ AFM+为最便利的使用而设计制造。探针预装在金属圆片上，确保探针位置的准确性和装针的便捷□ 仪器集几十年AFM设计大师的经验之大成，即使初次使用也能快速获取结果完整的AFM工作模式 □ 包含所有常规成像模式：接触、轻敲、相位、侧向力、力调制、力曲线□ 独有高分辨率低噪音的闭环成像□ 基于DI传承的多功能AFM，实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）独有的可升级功能□ 热学性能：独有的热探针技术，提供纳米级红外分析□ 机械性能：洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析□ 化学性能：可升级具有纳米红外光谱技术，实现局部化学组分分析□ 近场成像：可升级具有散射式近场光学成像和光谱采集功能

Park NX20原子力显微镜用于失效分析的理想选择引领用于故障分析和大型样品研究的纳米计量工具作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器，其主要目的是对样品进行缺陷检测。 而仪器所提供的数据不能允许有错误的存在。 Park NX20，这款高精密的大型样品原子力显微镜，凭借着数据的准确性，在半导体和硬盘行业中大受赞扬。全面多样的分析功能Park NX20可快速帮助客户找到产品失效的原因，并帮助客户制定出更多具有创意的解决方案。 高精密度可为用户带来高分辨率数据，让用户能够更加专注于工作。 与此同时，非接触扫描模式让探针针尖更锋利、更耐用，无需为频繁更换探针而耗费大量的时间和金钱。即便是刚接触原子显微镜的工程师也易于操作Park NX20拥有业界便捷的设计和自动界面，让你在使用时无需花费大量的时间和精力，也不用为此而时时不停的指导初学者。 借助这一系列特点，您可以更加专注于解决更为重大的问题，并为客户提供及时且富有洞察力的失效分析报告。———————————————————————————————————————————为FA和研究实验室提供精准的形貌测量解决方案样品侧壁三维结构测量NX20的创新架构让您可以检测样品的侧壁和表面，并测量它们的角度。 众多的功能和用途正是您的创新性研究和敏锐洞察力所必需的。对样品和基片进行表面光洁度测量表面光洁度测量是Park NX20的关键应用之一，能够带来精准的失效分析和质量保证。高分辨率电子扫描模式QuickStep SCM超快的扫描式电容显微镜PinPoint AFM无摩擦导电原子力显微镜———————————————————————————————————————————多种创新且创新的专利技术帮助顾客减少测试时间CrN样品所做的针尖磨损实验AFM测量通过对比重复扫描情况下探针尖端的形状变化，您可以轻易看到Park的真正非接触模式的优势所在。借助真正非接触模式，探针尖端在扫描氮化铬样品（即探针检测样品）200次后仍可保持锋利的状态。 氮化铬的表面粗糙且研磨性强，会让普通的探针很快变钝。———————————————————————————————————————————低噪声Z探测器测量准确的样品表面形貌没有压电蠕变误差的真正样品表面形貌超低噪声Z探测器，噪音水平低于0.02 nm,从而达到非常精准样品形貌成像，没有边沿过冲无需校准。Park NX20在为您提供好的数据的同时也为您节省了宝贵的时间。√ 使用低噪声Z探测器信号进行台阶形貌测量。√ 在大范围扫描过程中系统Z向噪音小于0.02 nm。√ 没有前沿或后沿过冲现象√ 终身无需校准，减少设备维护成本Park NX系列原子力显微镜传统的原子力显微镜Park NX20特点 ————低噪声XYZ位置传感器低噪声XYZ闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。高速Z轴扫描器,扫描范围达15um高强度压电堆栈和挠性设计，标准Z轴扫描器的共振频率高达9kHz(一般为10.5kHz）且探针的Z轴扫描速率不低于48 mm/秒。 Z轴扫描范围可从标准的15um扩展至30um（可另选Z扫描头）。自动多点样品扫描借助驱动样品台，可编程步进扫描，多区域成像，以下是它的工作流程：1) 扫描成像2) 抬起悬臂3) 移动驱动平台到设定位置4) 进针5) 重复扫描该自动化功能可大大减少扫描过程中人工移动样品所需时间，从而缩短测试时间，提高生产率。集成編碼器的XY自动样品载台编码器可用于所有自动样品载台，并可保证更高的重复定位精度，从而可更精准地控制样品测量位置。XY马达运动工作时分辨率为1 um重复率为2um。Z马达运动的分辨率为0.1um,重复率为1um。扫描头滑动嵌入式设计您只需滑动嵌入燕尾导轨便可轻松更换原子力显微镜扫描头。 该设计可将扫描头自动锁定至预对准的位置，无需调节激光位置，激光自动投射在针尖上。 借助于四象限检测器，显微镜可精确成像并准确测定力.距离曲线。操作方便的样品台借助创新的镜头设计，用户可从侧面操作控样品和探针。 根据XY轴样品台所设定的行程范围，用户在样品台上可放置的大样品体积直径可高达200 mm。用于高级扫描模式易插槽您只需要将可选模块插入扩展槽，您便可激活高级扫描探针显微镜模式。 得益于NX系列原子力显微镜的模块化设计，其产品线的配置兼容性大大提高。同轴高功率光学集成LED照明和CCD系统定制物镜配有超长工作距离（51 mm，0.21的数值孔径，1.0um的分辨率），带来超高的镜头清晰度。同轴光源设计让用户可轻易地在样品表面寻找测试区域，物镜分辨率为0.7um。 得益于CCD的高端传感器，在获得较大视场的同时，分辨率却不受影响。 由软件控制的LED光源能为样品表面提供足够的照明，便于清晰观察样品。高速24位数字电子控制所有NX系列的原子力显微镜都是由相同的NX电子控制器进行控制和处理的。 该控制器是全数字、24位高速控制器，可确保Park 真正非接触模式下的成像精度和速度。 凭借着低噪声设计和高速处理单元，该控制器是纳米级成像和精确电压电流测量的绝佳选择。 嵌入式数字信号处理为原子力显微镜带来更为丰富的功能，更好的解决方案，是资深研究院的理想选择。XY.Z轴检测器的24位信号分辨率XY轴(50 μm)的分辨率可低至0.003 nmZ轴(15 μm)的分辨率可低至0.001 nm嵌入式数字信号处理功能三个锁相放大器探针弹簧系数校准数据Q控制集成式信号端口专用可编程信号输入/输出端口7个输入端口和3个输出端口自动Z轴移动和聚焦系统高度限行Z轴移动和聚焦系统，可以得到清晰的视野和图像，用户通过软件界面进行操作，由高精度步进电机驱动，即使液体或者透明样品也可快速找到样品表面。———————————————————————————————————————————QuickStep SCM模式√ 比传统的扫描式电容显微镜(SCM)扫描速度快十倍√ 信号灵敏度、空间分辨率和数据精准度不受影响高通量QuickStep扫描在QuickStep扫描模式下，SCM测量通量大幅提升，可达到标准SCM扫描速度的十倍，且信号灵敏度、空间分辨率和数据精准度不受影响。 在QuickStep扫描模式下，XY轴扫描器在各像素点停住，记录数据。 扫描器会在各像素点之间快速跳跃。QuickStep扫描传统扫描扫描速度1.5Hz扫描速度1Hz扫描大小: 10 µ m×3 µ m, AC Bias: 0.5 Vp-v, DC Bias: 0 V———————————————————————————————————————————Park SCM精准的掺杂形貌量测在半导体制造业，分析掺杂剂分布对于确定失效原因和进行设计改进有着重要作用。 在器件特性化方面，SCM有着优异二维量化掺杂剂分布分析能力。PinPoint导电原子力显微镜模式PinPoint导电原子力显微镜模式是针对探针和样品之间的指定电接点而开发设计的。 在电流采样过程中，XY轴扫描器会依据用户设定的接触时间停止。 PinPoint导电原子力显微镜模式能够带来更高的空间分辨率，且不受 侧向力的影响，同时在不同样品表面的电流测量也得到优化。——————PinPoint模式——————— —————Contact—————样品: ZnO nano-rods, -3 V sample bias通过对比氧化锌纳米棒在不同类型的导电原子力显微镜图像，我们可以看到相比轻敲式导电原子力显微镜，传统的接触式导电原子力显微镜有着更高精度的电流测量，但其分辨率低，原因 在于探针在接触中快速磨损。 全新的PinPoint导电原子力显微镜不但空间分辨率更高，且电流测量也得到优化。———————————————————————————————————————————高带宽低噪声导电原子力显微镜导电原子力显微镜是各类元件研究的重要工具，特别是工业的失效分析。 Park导电原子力显微镜在市场中拥有核心竞争力，不但有着全行业超低的电流噪声，且增益范围也是较大。业内超低的电流噪声(0.1 pA)业内超大的电流(10 μA)巨大的增益范围（7个数量级，103-109）———————————————————————————————————————————Park NX20先进的SPM模式表面粗糙度检测真正非接触模式 动态力模式电学性能导电原子力显微镜 (ULCA和VECA)静电力显微镜 (EFM)压电力显微镜 (PFM)扫描电容显微镜 (SCM)扫描开尔文探针显微镜 (SKPM)扫描电阻显微镜 (SSRM)扫描隧道显微镜 (STM)机械性能力调制显微镜 (FMM)力.距离(FD) 曲线力谱成像侧向力显微镜 (LFM)纳米刻蚀相位成像Park NX20技术参数————扫描器Z扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围: 15 µ m (可选 30um)高度信号噪声等级: 30 pm(RMS, at 0.5 kHz带宽)XY扫描器闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围: 100 um× 100 um(可选 50um× 50um)驱动台Z位移台行程范围 : 25 mm (Motorized)聚焦样品台行程范围 : 15 mm (Motorized)XY位移台行程范围 : 200 mm x 200 mm样品架样品尺寸 : 基本配置开放空间 up to 200 mm x 200 mm,厚度 up to 20 mm样品重量 : 500 g光学10倍 (0.23 N.A.)超长工作距离镜头 (1um分辨率)样品表面和悬臂的直观同轴影像视野 : 840 × 630 um (带10倍物镜)CCD : 100万像素, 500万像素 (可选)软件SmartScan&trade AFM系统控制和数据采集的专用软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制XEIAFM数据分析软件电子集成功能4通道数字锁相放大器数据Q控制信号处理ADC : 18 channels 4 high-speed ADC channels 24-bit ADCs for X, Y and Z scanner position sensorDAC : 17 channels 2 high-speed DAC channels 20-bit DACs for X, Y and Z scanner positioningMaximum data size : 4096 x 4096 pixels连接外部信号20个嵌入式输入/输出端口5个TTL输出 : EOF, EOL, EOP, 调制和交流偏压AFM模式(*可选项)标准成像真正非接触式原子力显微镜PinPoint&trade 原子力显微镜接触式原子力显微镜横向力显微镜(LFM)相位成像轻敲式原子力显微镜 力测量力-距离(F/d)光谱力谱成像 介电/压电性能静电力显微镜 (EFM)动态接触式静电力显微镜 (EFM-DC)压电力显微镜 (PFM)高压压电力显微镜* 机械性能力调制显微镜 (FMM)纳米压痕*纳米刻蚀*高压纳米刻蚀*纳米操纵*磁学性能*磁力显微镜 (MFM)可调制磁力显微镜 电性能导电原子力显微镜 (C-AFM)*IV 谱线*扫描开尔文探针显微镜 (KPFM)扫描电容显微镜 (SCM)*扫描电阻显微镜 (SSRM)*扫描隧道显微镜 (STM)*光电流测绘 (PCM)* 化学性能*功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜 (EC-AFM)———————————————————————————————————————————高级选项为用户量身定制原子力显微镜自动数据收集和分析，适合工业客户产线测量Park的自动化控制软件，可根据您的预设程序自动进行AFM测量。它可以准确地收集数据，执行模式识别，并使用它的寻边器和光学模块进行分析，不需要人工介入，从而为您节省大量宝贵时间。温度稳定的隔音罩创新的控制设计使Park NX20能够快速达到温度平衡NX20具有主动隔振功能。集成编码器的自动载台&bull XY马达运动工作时分辨率为1 µ m，重复率为2 µ m。&bull Z马达运动的分辨率为0.1 µ m，分辨率为1 µ m。倾斜样品倾角夹具，可帮助您进行样品侧壁成像。NX20的创新架构实现了对样品侧壁和表面的检测，还能够测量出相应角度。这为您提供了更多的创新研究方案和对样品更深入的理解。样品盘&bull 用于电气测量的专用小样品架&bull 用于固定晶圆的真空槽温度控制 温控台 1: -25 °C to +170 °C温控台 2: Ambient to +250 °C 温控台 3: Ambient to +600 °C

Dimension FastScan Bio原子力显微镜布鲁克 Dimension FastScan Bio 生物型原子力显微镜可实现生物动力学的高分辨率研究，实时样品观测的时间分辨率高达每秒 3 帧。更重要的是，它同时使AFM比以往更容易使用。布鲁克 Dimension FastScan Bio 生物型原子力显微镜以世界最先进的大样本 AFM 平台为基础，增添了专门的生物样品表征功能，用于对分子间相互作用、膜蛋白、DNA 蛋白相互结合、细胞间信号传输和许多其他动态生物学研究，进行高分辨率、活样观察。实时平移、缩放和扫描允许研究人员观察和研究生物分子的工作机制。简化进针和控制提供简单而即时的纳米级生物成像。 智能进针算法为使用商业化或定制探针提供灵活性。特点高分辨率生物动力学作为生物学研究快速发展的一个分支，在纳米级分辨率下的原位高分辨动态研究已成为现实。Dimension FastScan Bio 打破了长期的障碍，能使这类实验成为常规。这些突破使更多的研究人员能够观察和研究生物分子结构和机制。FastScan Bio 的高分辨率和快速扫描为观察分子、蛋白质、DNA、RNA、活细胞膜和组织以及许多其他动力学研究提供了最佳的生物研究工具。(1：1) DOPC/DPPC 上的平面脂质双层的AFM图像序列。以每秒 0.16 帧的速度录制的连续图像显示了更高层的 DPPC 凝胶相的稳定性，以及FastScan在高速扫描下的力控制的高灵敏度。成像是在水性条件下轻敲模式&trade 测量的。显示图像为高度图。（图像大小 = 3μm Z 标尺 = 3.2nm.) 专为活样品设计的技术FastScan Bio 创新的 AFM 技术可实现高速扫描和无缝用户界面，从而即时平移、缩放和连续跟踪液体环境中的样品。布鲁克全新的探针设计具有独特的悬臂形状和涂层，实现了成像速度和软探针的更进一步的结合。因此该系统提供高时间、空间分辨率研究所需的扫描速度，具有商业 AFM 系统有史以来最简单的易用性。简化进样和控制，实现即时成像实时平移、缩放和扫描特征跟踪和影片创建工具带可控液体交换的微体积液体池

美国Bruker(前Digital Instrument 和 Veeco)扫描探针显微镜 美国Bruker公司(前美国Veeco公司)是世界顶尖原子力显微镜，轮廓仪，台阶仪生产厂家。全球顾客包括半导体、化合物半导体、数据储存，与多重领域的研究机构。Bruker为了维持对高科技产品成长的领先地位，持续推出新产品，期望为顾客提供长期的产品优势，提升生产良率、增加生产力、提高品质及降低使用成本。 Dimension FastScan&trade 原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension Icon超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。为提高AFM使用效率和检测性能，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨率，不增加操作复杂性，不影响仪器使用成本的前提下，帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统，即快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得一张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。

Bruker原子力显微镜 Bruker公司的AFM具有多项 技术，以其 性能广泛应用于科研和工业各领域Dimension Icon 系列作为布鲁克公司(Bruker AXS)原子力显微镜的产品，凝聚了多项行业的 技术，是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。 应用：应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。 原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。 特征：u 低漂移和低噪音水平u 配置有专有ScanAsys原子成像优化技术，可以简易快速稳定成像u 测试样品尺寸可达：直径210mm，厚度15mmu 温度补偿位置传感器使Z轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平，并呈现出前所未有的高分辨率。u 全新的XYZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度。u 探针和样品台的开放式设计使Icon 可胜任各种标准和非标准的实验。u 先进的布鲁克AFM的模式和技术，如高次谐波共振模式，和独有的不失真高温成像技术--采用对针尖和样品同时加热的方法， 程度减少针尖和样品之间的温差，避免造成成像失真。

新型的小型台式原子力显微镜 美国ACST公司新开发的原子力显微镜（AFM）具备简单易使用和高稳定性等优点。AFM是一种真正意义上的多学科计量学工具，并且具备工业标准。AFM不仅仅对于纳米学科的初学者来说是简单易懂的，而且也适合科研人员的高等研究工作。 随着科学技术的发展，生命科学开始向定量科学方向发展。大部分实验的研究重点已经变成生物大分子，特别是核酸和蛋白质的结构及其相关功能的关系。因为AFM的工作范围很宽，可以在自然状态（空气或者液体）下对生物医学样品直接进行成像，分辨率也很高。因此，AFM已成为研究生物医学样品和生物大分子的重要工具之一。 AFM的应用领域主要包括三个方面： 生物细胞的表面形态观测；生物大分子的结构及其他性质的观测研究；生物分子之间力谱曲线的观测。 主要功能： 高分辨纳米级形貌成像及力学特性测试；在纳米尺度下对金属、半导体、陶瓷、有机物、高分子、生物体等样品的表面进行原位形貌的观测及力学等物性的测试：聚焦生物领域的分子水平的研究，包括蛋白质等大分子的初级结构，构象，形貌特性，以及生物分子之间的相互作用，生命科学和材料研究中细胞和纳米颗粒的相互作用，细胞和组织的力学特性的测量，生物分子的单分子力谱，药物分子和细胞的相互作用，细胞-细胞相互作用等等。 主要功能：高分辨纳米级形貌成像及力学特性测试 应用范围：在纳米尺度下对金属、半导体、陶瓷、有机物、高分子、生物体等样品的表面进行原位形貌的观测及力学等物性的测试1. 模式：振动、非振动、相位和横向力显微镜2. 50-微横向米扫描范围3. X轴和Y轴位移的精度: 1 nm开环4. Z轴位移的精度 0.075nm5. 3个兆像素CCD相机实时成像（45X - 400X）6. X-Y 扫描线性范围60μm7. 简易的探针装填8. 6种不同的的模式（Vibrating、non-Vibrating、Advanced Force Curve、Conductive、Lithography、Magnetic）9. nM纳米尺寸的刻蚀，包括软件材料和硬材料10.便携式，适合在小型实验室空间移动和使用11.使用实质花岗岩基底,达到理想的防震和稳定性12.成像显微镜的放大倍数：45 —400X13.样品架:磁铁；最大横向维度：1英寸；最大高度：0.25英寸；14.50微米XYZ扫描仪:三脚架 XY线性＜1%；XY范围：＞50μm；XY分辨率：＜10nm闭环，＜1 nm开环；XY促动器：压电式；传感器类型；Z范围：＞16μm；Z线性：＜5%；Z传感器噪声：＜5nm；Z反馈噪音：＜0.2nm15.Z轴运动：直接驱动；范围：25mm；驱动方式：步进马达；最小步长：330nm；转换速率：8mm/minute； 生命科学领域的案例： 材料科学领域的案例： 纳米刻蚀领域的案例：