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低铬球标样
仪器信息网低铬球标样专题为您提供2024年最新低铬球标样价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括低铬球标样参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的低铬球标样您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合低铬球标样相关的耗材配件、试剂标物,还有低铬球标样相关的最新资讯、资料,以及低铬球标样相关的解决方案。
低铬球标样相关的耗材
中等分辨率测试标样 622-G 碳圆盘上的锡球标样,含样品座G
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-47nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622 碳圆盘上的锡球标样,不含样品座
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-40nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-O 碳圆盘上的锡球标样,含样品座O
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-51nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-L 碳圆盘上的锡球标样,含样品座L
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-49nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-A 碳圆盘上的锡球标样,含样品座A
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-41nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-C 碳圆盘上的锡球标样,含样品座C
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-43nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-G 碳圆盘上的锡球标样,含样品座G
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-47nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-M 碳圆盘上的锡球标样,含样品座M
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-50nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-D 碳圆盘上的锡球标样,含样品座D
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-44nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622 碳圆盘上的锡球标样,不含样品座
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-40nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-F 碳圆盘上的锡球标样,含样品座F
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-46nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-K 碳圆盘上的锡球标样,含样品座K
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-48nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-A 碳圆盘上的锡球标样,含样品座A
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-41nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-P 碳圆盘上的锡球标样,含样品座P
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-52nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-C 碳圆盘上的锡球标样,含样品座C
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-43nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-F 碳圆盘上的锡球标样,含样品座F
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-46nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-E 碳圆盘上的锡球标样,含样品座E
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-45nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-O 碳圆盘上的锡球标样,含样品座O
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-51nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-M 碳圆盘上的锡球标样,含样品座M
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-50nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-D 碳圆盘上的锡球标样,含样品座D
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-44nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-L 碳圆盘上的锡球标样,含样品座L
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-49nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-K 碳圆盘上的锡球标样,含样品座K
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-48nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-B 碳圆盘上的锡球标样,含样品座B
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-42nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
中等分辨率测试标样 622-P 碳圆盘上的锡球标样,含样品座P
Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10-52nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下,推荐使用该标样。.
碳基底锡球检测标样
碳基底锡球检测标样主要用于SEM和LM 2 5 0 -5,000x倍下的分辨率检测工作,也适合检测和校正成像质量(畸变、像散、对比度、亮度等)。同时,也可比较获得探针尺寸。锡球粒径范围:1-1-10μm
中等分辨率测试标样 636-A 碳载网上的锡球标样,含样品座A
为有柄狭缝碳网上的锡球标样(狭缝大小为0.4 x 2mm),锡球尺寸大小为3 - 61nm。
中等分辨率测试标样 636-D 碳载网上的锡球标样,含样品座D
为有柄狭缝碳网上的锡球标样(狭缝大小为0.4 x 2mm),锡球尺寸大小为3 - 64nm。
中等分辨率测试标样 636-O 碳载网上的锡球标样,含样品座O
为有柄狭缝碳网上的锡球标样(狭缝大小为0.4 x 2mm),锡球尺寸大小为3 - 71nm。
中等分辨率测试标样 636-G 碳载网上的锡球标样,含样品座G
为有柄狭缝碳网上的锡球标样(狭缝大小为0.4 x 2mm),锡球尺寸大小为3 - 67nm。
中等分辨率测试标样 636-L 碳载网上的锡球标样,含样品座L
为有柄狭缝碳网上的锡球标样(狭缝大小为0.4 x 2mm),锡球尺寸大小为3 - 69nm。
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