高加速寿命试验系统

hast试验箱 高加速寿命试验机技术参数不饱和控制温度控制范围+105~+142.9℃+105~+162.2℃湿度控制范围%RH75%~100%RH75%~100%RH压力范围0.020~0.196Mpa（表压力)0.020~0.392Mpa（表压力)温湿度波动＋0.3℃/士2.5%RH士0.3℃/士2.5%RH空间的温度变化3.0℃3.0℃升温增压时间0.196Mpa（表压力）约45分钟0.392Mpa（表压力）约60分钟湿饱和控制温度控制范围+105.0~+132.9℃+105.0~+151.1℃压力范围0.020~0.196Mpa（表压力)0.020~0.392Mpa（表压力)压力范围士0.3℃士0.3℃温度波动3.0℃3.0℃空间的温度变化0.196Mpa（表压力)约45分钟0.392Mpa（表压力）约60分钟升温增压时间0.196Mpa（表压力）约45分钟0.392Mpa（表压力）约60分钟+105~+162.2℃干湿球温度控制升温时温度控制范围+105.6~+142.9℃+105.6~+162.2℃湿度控制范围75%~98%RH75%~98%RH升温增压时间0.196Mpa（表压力)约45分钟0.392Mpa（表压力）约60分钟试验时温度控制范围+105.6~+142.9℃+105.6~+162.2℃湿度控制范围75%~98%RH75%~98%RH压力范围0.020~0.196Mpa（表压力)0.020~0.392Mpa（表压力)温湿度波动士0.3℃/士2.5%RH±0.3℃/士2.5%RH空间的温度变化3.0℃3.0℃降温时温度控制范围+50~+95.0℃+50~+95.0℃温度下降时间+142.9℃/ 75%RH~+85℃/85%RH约120分钟保存时温度控制范围+50~+95.0℃+50~+95.0℃湿度控制范围75%~95%RH75%~95%RH尺寸重量以实际规格重量为冷供电供水 220V交流1 550/60Hz,纯水︰电阻率0.5MQ.cm,PH值应在6.0~7.2。hast试验箱 高加速寿命试验机Hast试验箱是一种高加速应力测试设备，可用于评估电子元器件和材料的可靠性。它利用高温、高湿度和高压环境下的氢气侵蚀作用，模拟出真实环境下元器件长时间使用时受到的应力。　　Hast试验箱应用域：　　1.电子元器件制造：它可用于测试电子元器件的可靠性，如半导体芯片、LED 和 LCD 显示器件、集成电路等。通过将这些元器件置于高压、高温、高湿度的氢气环境中，可以模拟它们在长时间使用过程中所承受的应力，从而评估其可靠性和预测寿命。　　2.汽车工业：它也可用于汽车行业。例如，它可以用于测试汽车电子控制单元(ECU)、传感器和其他电子元器件的可靠性。这些元器件在汽车中经常遭受高温、高湿度和振动等特殊条件的影响，因此进行Hast测试可以帮助汽车制造商确保其产品的可靠性和安全性。　　3.航空航天工业：在航空航天工业中，元器件的可靠性尤为重要。它可以用于测试航空航天电子设备、卫星和其他航空航天器件的可靠性，以确保其在特殊条件下的运行稳定性。　　4.军事工业：军事设备通常在恶劣的环境下使用，因此必须经过严格的可靠性测试。它可以用于测试军事装备中使用的各种电子元器件的可靠性，以确保其满足军事标准和规范。　　5.化学工业：化学反应通常在高温高压的环境下进行。因此，它可以用于评估化学反应器等化学设备在高温高湿度的环境中的耐久性和可靠性。

日本HIRAYAMA高加速寿命试验装置HAST装置 PC-R9系列型号：PC-304R9/PC-422R9 / PC-304R9D/PC-422R9D 特点：可根据测试目的选择管理方式、排气模式；三种运行模式彩色触摸面板可用应用程序进行远程操作可将运行记录和程序存储在外部存储器中配备通信接口，可集中管理自动清洗电子化学迁移的加速评价排水用冷却水箱自动启动器双槽式构造空气残留和外部加压功能(可选) 可应用于电子电路、汽车等领域，用于测试线路板、PCB等产品。

日本HIRAYAMA高加速寿命试验装置HAST装置 PC-R9系列型号：PC-304R9/PC-422R9 / PC-304R9D/PC-422R9D 特点：可根据测试目的选择管理方式、排气模式；三种运行模式彩色触摸面板可用应用程序进行远程操作可将运行记录和程序存储在外部存储器中配备通信接口，可集中管理自动清洗电子化学迁移的加速评价排水用冷却水箱自动启动器双槽式构造空气残留和外部加压功能(可选) 可应用于电子电路、汽车等领域，用于测试线路板、PCB等产品。

一、PCT高压加速寿命老化试验箱产品简介：PCT 高温高压加速老化试验箱(又称“PCT试验箱”):是由一个圆形的压力容器及水加热系统组成。主要用于测试产品在高温、高湿及高压的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，用于对电工、电子产品、元器件、零部件、IC 半导体、磁性材料、高分子材料、金属材料、EVA 材料、连接器、光伏组件及其材料在模拟高温、高湿及压力的气候条件下，对产品的物理以及其它相关性能进行测试，测试后通过检定来判断产品的性能是否能够达到要求,以便供产品的设计、改进检定及出厂检验使用。二、PCT高压加速寿命老化试验箱技术参数：1、外形尺寸：1920*1920*950mm2、内箱尺寸：φ400*475mm3、温度范围：+105℃～+132℃4、温度波动度：土0.5℃5、温度均匀度：±2℃6、安全压力容量:4kg/cm₂ =1个环境大气压+3kg/cm₂ 7、循环方式：水蒸气自然对流循环8、测时间设置：0～999Hr9、加压时间：0.00kg/cm₂ ～2.00kg/cm₂ 约45分钟10、升温时间：由常温升至+132℃约35分钟内非线性空载11、温度变化速率：空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率三、PCT高压加速寿命老化试验箱产品特点：1.圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准可防止试验中结露滴水设计。2.圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。3.精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200H4.自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，高压蒸煮老化试验机，安全门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护5.箱内压力愈大时，PACKING会有反压会使其与箱体更紧密结合，高压蒸煮老化试验机与传统挤压式完全不同，可延长PACK-ING寿命。6.实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(PARTICAL1MICORN)。以确保箱内之纯净度7.临界点LIMIT方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示，PCT试验箱可以加速试验，缩短试验时间

日本HIRAYAMA高加速寿命试验装置HAST装置 PC-R9系列型号：PC-304R9/PC-422R9 / PC-304R9D/PC-422R9D 特点：可根据测试目的选择管理方式、排气模式；三种运行模式彩色触摸面板可用应用程序进行远程操作可将运行记录和程序存储在外部存储器中配备通信接口，可集中管理自动清洗电子化学迁移的加速评价排水用冷却水箱自动启动器双槽式构造空气残留和外部加压功能(可选) 可应用于电子电路、汽车等领域，用于测试线路板、PCB等产品。

半导体封装测试 饱和加速寿命试验箱概要：主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障半导体封装测试 饱和加速寿命试验箱特点：1.内箱材料采用SUS304不锈钢 外箱材料采用双面镀锌钢板表面静电喷塑处理。外观采用简约实用设计风格，具有耐用性和抗磨损性等特点2.跨平台控制系统可实现远程监控、数据上抛,异常推送，手机程序监管及兼容MES数据交互3.智慧型饱和蒸汽温度值，人力控制装置于饱和蒸汽压力检知4.白金温度传感（PT-1OO型）感知精确温度4.棋置形圆形内箱结构设计，方便待测样品取置与蒸汽冲击隔离装置5.全自动真空清洁程序，减低试品污染半导体封装测试 饱和加速寿命试验箱规格参数：型号J-PCT-40J-PCT-60J-PCT-80容积/L406080整体尺寸（W*H*D） cm900x1800x1120 以图纸为准 以图纸为准 温度范围（RT+20）℃~250℃温度控制范围105～℃+150℃湿度范围100%RH温度上升时间100min （从常温到120C且温度到达85%RH的时间）温度偏差≤±1.5℃（空载）温度均匀度≤±1.5℃（空载）压力波动均匀度±0.1kg电源AC220V或AC380V

hast老化试验箱 加速寿命测试箱供应技术参数1.1 设定温度: +100 ℃ ～ +147 ℃( 蒸气温度 )1.2 湿度范围: 60~100 % 蒸气湿度1.3湿度控制稳定度：±3%RH1.3 使用压力: 1.2~2.89kg(含1atm)1.4 时间范围: 0 Hr ～ 999 Hr1.5 加压时间: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 约 45 分1.6 温度波动均匀度 : ±0.5℃1.7 温度显示精度：0.1℃1.8 压力波动均匀度 : ±0.1Kg1.9 湿度分布均度：±3%RHhast老化试验箱 加速寿命测试箱供应特点：1．具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。2．试验过程自动运转至完成结束，使用简便。3．温度控制：LED数字型温度控制器可作准确试验温度之设定、控制及显示。4．箱定时器：LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验*。5．准确的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。6．运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到佳蒸气品质。7．一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。8．内经抛光处理经久耐用美观不沾污。hast老化试验箱 加速寿命测试箱-保护装置误操作安全装置：hast老化测试箱厂家锅门若未关紧则机器无法启动；超压安全保护：当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压；超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源；防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤；手动安全保护排压伐

HAST高压加速老化试验箱加速寿命高温蒸煮仪技术参数1.1 设定温度: +100 ℃ ～ +147 ℃( 蒸气温度 )1.2 湿度范围: 60~100 % 蒸气湿度1.3湿度控制稳定度：±3%RH1.3 使用压力: 1.2~2.89kg(含1atm)1.4 时间范围: 0 Hr ～ 999 Hr1.5 加压时间: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 约 45 分1.6 温度波动均匀度 : ±0.5℃1.7 温度显示精度：0.1℃1.8 压力波动均匀度 : ±0.1Kg1.9 湿度分布均度：±3%RHHAST高压加速老化试验箱加速寿命高温蒸煮仪供应特点：1．具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。2．试验过程自动运转至完成结束，使用简便。3．温度控制：LED数字型温度控制器可作准确试验温度之设定、控制及显示。4．箱定时器：LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验*。5．准确的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。6．运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到佳蒸气品质。7．一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。8．内经抛光处理经久耐用美观不沾污。HAST高压加速老化试验箱加速寿命高温蒸煮仪-保护装置误操作安全装置：hast老化测试箱厂家锅门若未关紧则机器无法启动；超压安全保护：当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压；超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源；防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤；手动安全保护排压伐HAST高压加速老化试验箱加速寿命高温蒸煮仪安装条件HAST（Highly Accelerated Stress Test）高压加速老化试验箱是用于对产品进行加速老化测试的设备。安装HAST试验箱需要满足以下条件：电源条件：HAST试验箱通常需要接入稳定可靠的电源，并确保电源符合设备的额定电压和频率要求。空气条件：试验箱需要安装在通风良好的环境中，避免周围空气中有害气体对试验箱和样品产生影响。空间条件：安装HAST试验箱需要考虑到设备的尺寸和通风要求，确保有足够的空间放置和维护设备。环境条件：试验箱应当安装在干燥、无尘、温度适宜的环境中，以确保设备正常运行和测试结果的准确性。安全条件：在安装HAST试验箱时，需要考虑到设备的安全问题，确保设备周围没有易燃易爆物品，设备本身也需要符合相关的安全标准。在安装HAST试验箱时，最好按照制造商提供的安装手册和指导进行操作，以确保设备可以正常运行并达到预期的测试效果。

一、高压加速寿命试验箱hast未饱和高压蒸汽试验箱产品用途：HAST高压加速老化试验箱主要用于模拟材料在高温、高压、高湿环境下性能运行可靠性的专用试验箱，老化箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,适用于国防材料、航天材料、电子零配件、半导体、线路板等行业。二、高压加速寿命试验箱hast未饱和高压蒸汽试验箱执行试标准：GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）三、高压加速寿命试验箱hast未饱和高压蒸汽试验箱主要参数：箱内尺寸（mm）Φ350×480φ400×550Φ500×650Φ800×1000外形尺寸（mm）720×920×1600700x1000x1710850x1150x17601100x1750x1750温度范围100℃～145℃（饱和蒸气温度）温度波动度±0.5℃温度均匀度2℃湿度范围80%R.H～100%R.H湿度波动度±1.5%R.H湿度均匀度3.0%R.H压力范围0.2～3kg/cm² (0.05～0.294MPa)升温时间由常温升至145°C约:40分钟控制器7寸彩色触摸屏智能模糊控制器操作系统内箱材料SUS304不锈钢板:内胆整体全满焊焊接而成外箱材料优质防腐电解板，表面静电粉体烤漆保温层超细玻璃棉保温层，阻燃等级A1噪音≤60分贝(dB) (噪音检测装置距离设备大门1m处测量)四、高压加速寿命试验箱hast未饱和高压蒸汽试验箱产品特点：外箱材料：优质防腐电解板，表面静电粉体烤漆，颜色为荣计达标准色内箱材料：SUS304不锈钢板:内胆整体全满焊焊接而成保温层：超细玻璃棉保温层，阻燃等级A1控制器：7寸彩色触摸屏智能模糊控制器操作系统噪音：≤60分贝(dB) (噪音检测装置距离设备大门1m处测量)圆型不锈钢内箱结构，可防止试验中结露滴水，符合工业安全容器标准。压力调节门锁，密封性好。精密结构设计，耗水量少，每次加水可连续200小时。安全门设计，不关门无法试验。超压保护：超压自动排气泄压。超温保护：温度过高时，指示灯蜂鸣报警，并停止试验。

HAST高压加速寿命试验箱DR-HAST450A技术参数：1.1. 产品型号：DR-HAST4501.2. 内箱尺寸：Φ400×D 550 （mm）1.3. 外箱尺寸约：W600XH920XD690（mm）1.4. 温度范围：105℃ → +135℃.1.5. 温度波动度：≤±0.5℃.1.6. 温度均匀度：≤±2.0℃.1.7. 湿度范围：75% ～ 100 %R.H .1.8. 湿度波动度：≤±2.5 %R.H.1.9. 湿度均匀度：≤±3.0% R.H.1.10. 压力范围 ：0.2～2㎏/㎝2 （箱内压力）1.11. 升温时间：常温 → + 135℃ 约50 min 1.12. 升压时间：常压 → + 2㎏/㎝2 约45 min. 外部气源加压：约5 minHAST高压加速寿命试验箱DR-HAST450A控制系统：1、采用彩色触控式PLC控制湿度和蒸汽温度(采用PT-100白金感温体)2、采用指针显示压力表3、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度和蒸汽湿度4、手动入水阀(自动补水功能，可不停机连续试验)5、试验数据记录U盘导出，曲线查询

性能广泛应用于医疗器件消毒，工业线路板，多层线路板，IC，LCD，磁铁等产品之密封性能的检测。设定温度: +100 ℃ ～ +132 ℃(饱和蒸气温度)湿度范围: 100 % 饱和蒸气湿度使用压力: 0.5 Kg ～3.0 Kg / cm2 (内桶设计耐压 4 Kg / cm2)时间范围: 000 Hr ～ 999 Hr加压时间: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 约 45 分内测试条件: 温度121℃，100RH饱和蒸气，压力2.04Kg/c㎡，温度132℃，100RH饱和蒸气，压力3.00 Kg/c㎡结构试验箱尺寸: ∮30 cm x L50 cm，圆型试验箱全机外尺寸: 1000x 700 x 1000 mm (W * D * H)台式；1000x 700 x 1400 mm (W * D * H )落地式内桶材质: 不锈钢板材质 # SUS-3046 制外桶材质: 不锈钢或者钢板烤漆控制系统1、采用日制YOKOGAWA UT-150 微电脑控制饱和蒸气温度；2、时间控制器采 LED 显示器；3、采用指针显示压力表；4、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度；5、手动入水阀；6、预备真空功能（试验前），真空干燥功能（试验后）。机械结构1、圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计；2、圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品；3、精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续 400Hrs 运转；4、专利型packing设计使门与箱体更紧密结合，与传统挤压式完全不同，可延长packing寿命；5、临界点 LIMIT 方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示。其它附属配件1、测试置架1组2、蒸气挡片1片3、无污染清洁剂 2 包.4、OPTION选购配件:a.压力信号传输器，b.实验数据记录器供电系统系统电源波动不得大于±10电源:单相 220V 20A 50/60Hz环境&设施可容许使用工作环境温度5℃~30℃实验用水:纯水附配文件系统保固书、操作保养手册满足标准GB2423-2-1-89 、 GB2423-3-2-89 、 GB2423-3-93

性能广泛应用于医疗器件消毒，工业线路板，多层线路板，IC，LCD，磁铁等产品之密封性能的检测。设定温度: +100 ℃ ～ +132 ℃(饱和蒸气温度)湿度范围: 100 % 饱和蒸气湿度使用压力: 0.5 Kg ～3.0 Kg / cm2 (内桶设计耐压 4 Kg / cm2)时间范围: 000 Hr ～ 999 Hr加压时间: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 约 45 分内测试条件: 温度121℃，100RH饱和蒸气，压力2.04Kg/c㎡，温度132℃，100RH饱和蒸气，压力3.00 Kg/c㎡结构试验箱尺寸: 内径：直径260*400，圆型试验箱全机外尺寸: 1000x 700 x 1000 mm (W * D * H)台式；1000x 700 x 1400 mm (W * D * H )落地式内桶材质: 不锈钢板材质 # SUS-3046 制外桶材质: 不锈钢或者钢板烤漆控制系统1、采用日制YOKOGAWA UT-150 微电脑控制饱和蒸气温度；2、时间控制器采 LED 显示器；3、采用指针显示压力表；4、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度；5、手动入水阀；6、预备真空功能（试验前），真空干燥功能（试验后）。机械结构1、圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计；2、圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品；3、精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续 400Hrs 运转；4、专利型packing设计使门与箱体更紧密结合，与传统挤压式完全不同，可延长packing寿命；5、临界点 LIMIT 方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示。其它附属配件1、测试置架1组2、蒸气挡片1片3、无污染清洁剂 2 包.4、OPTION选购配件:a.压力信号传输器，b.实验数据记录器供电系统系统电源波动不得大于±10电源:单相 220V 20A 50/60Hz环境&设施可容许使用工作环境温度5℃~30℃实验用水:纯水附配文件系统保固书、操作保养手册满足标准GB2423-2-1-89 、 GB2423-3-2-89 、 GB2423-3-93

对多通道功率驱动照明和OLED寿命测量进行了优化。M6000 PLUS OLED寿命测试系统是用来测试OLED材料在高、低温之间承受持续电源或环境变化的能力，从而了解在指定时间内降解引起的化学变化或物理损伤。适用于OLED器件，Panel,模组；寿命测试结果可作为改进和提高OLED材料质量的参考或依据。 -相对寿命测试-相对I-V-L试验 -老化测试-多电流/光电流范围-方序列运算-利用温/湿控制腔室进行加速测试主要客户：高校/研究所：香港大学，清华大学，吉林大学，南京大学，大连理工大学，南京邮电大学，聊城大学，华中科技大学，上海交通大学，合肥工业大学...... 中科院理化所，中科院长春应化所，中科院苏州纳米所......企业客户：三星，LG，Merck，Apple，Toray, Idemitsu Kosan,Tosoh,Novaled, Cynora,Microoled, Applied Materials, Dow，Dupont，UDC..... 京东方，天马微电子，华星光电，维信诺，柔宇科技，咸阳彩虹......

德瑞PCT饱和加速寿命老化试验箱DR-PCT350B技术参数：型号DR-PCT300DR-PCT350DR-PCT400控制器采用 7″TFT真彩LCD触摸屏 分辨率温度：0.1压力：指针式0.1控制稳定度温度：±0.5℃，湿度：100%内箱材质SUS316#不锈钢外箱材质高级钢板烤漆或不锈钢（依客户选择）尺寸（cm）内箱Φ30×D50Φ35×D50Φ40×D50外箱W90×H100×D160W95×H100×D165W100×H100×D165温度范围110℃～132℃湿度范围100%RH饱和蒸气压力范围表压力+0.5～2.5kg/cm2加压时间大约45分钟循环方式水蒸气自然对流循环德瑞PCT饱和加速寿命老化试验箱DR-PCT350B特点※温度控制：LED数字型温度控制器可作精确试验温度之设定、控制及显示。※精准的压力／温度表随时显示锅内压力与相对温度。※运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到蒸气品质。※计时器：LED数字型计时器，当锅内温度到达後才开始计时以确保试验*。※具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。※试验过程自动运转至完成结束，使用简便。※一体成型矽胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。※试验箱内经抛光处理经久耐用美观不沾污。

OLED寿命老化测试系统简介该系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统，主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。1、 系统主要测试参数绘制OLED寿命老化曲线2、 系统特点&bull 可根据实际需要定制多通道测量（96通道、128通道）&bull 可提供恒温恒湿测试环境，模拟真实使用情况恒温恒湿箱参数：箱体尺寸具体尺寸待定温度范围-40℃~150℃，或-20℃~150℃，或0℃～+150℃多个温度范围（用户可根据实际测试需求选择）升温速率2℃～4℃/min[从常温升到最高温、非线性空载）降温速率0.7℃～1.0℃/min[从常温升到最高温、非线性空载）解析精度（显示）温度：±0.01℃解析湿度（显示）±0.1%R.H温度波动度±0.5℃温度均匀度±2.0℃湿度范围20%～98%R.H [25℃-85℃内]湿度波动度±2.0%R.H.湿度偏差±3% [湿度75%RH 时]总功率/电压5KW/380V控制功能触控显示屏，温度设定可采用定值或程式编辑，可定时；标配USB接口，电脑只可读取温度数据，不能控制温度，需通过触控显示屏操作3、测试原理

HAST寿命试验箱 DR-HAST450B技术参数：1.1. 产品型号：DR-HAST4501.2. 内箱尺寸：Φ400×D 550 （mm）1.3. 外箱尺寸约：W600XH920XD690（mm）1.4. 温度范围：105℃ → +135℃.1.5. 温度波动度：≤±0.5℃.1.6. 温度均匀度：≤±2.0℃.1.7. 湿度范围：75% ～ 100 %R.H .1.8. 湿度波动度：≤±2.5 %R.H.1.9. 压力范围 ：0.2～2㎏/㎝2 （箱内压力）1.10. 升温时间：常温 → + 135℃ 约50 min 1.11. 升压时间：常压 → + 2㎏/㎝2 约45 min. 外部气源加压：约5 min　HAST寿命试验箱 DR-HAST450B控制系统机械结构 :1、圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全压力容器标准,可防止试验中结露滴水设计。2、圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品。3、精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 400Hrs 运转。4、专利型外观设计使门与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长使用寿命。5、临界点极限方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。HAST寿命试验箱 DR-HAST450B满足测试标准：GB-T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx: 未饱和高压蒸汽恒定湿热IEC 60068-2-66-1994 环境试验 第2-66部分:试验方法 试验Cx:稳态湿热(不饱合加压蒸汽)JESD22-A100 循环温度偏置寿命JESD22-A101 THB加速式温湿度及偏压测试JESD22-A102 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮JESD22-A108 温度，偏置电压，以及工作寿命 (IC寿命试验)JESD22-A110 高加速温湿度应力试验 (HAST)JESD22-A118 加速水汽抵抗性--无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)

OLED老化寿命自动测量系统简介该系统是集成亮度计、暗箱、高精度运动机构、系统检测软件、多通道电源、CCD自动对位、工控机为一体的自动化检测系统，主要应用于OLED加速老化寿命测试。系统主要测试参数寿命老化曲线，可兼容IVL测试提供常规光，色，电参数OLED老化寿命自动测量系统（平铺式）特点采用平铺式布局，搭载亮度计在X\Y\Z三个方向运动，产品点亮后，亮度计依次采集亮度变化，获取lifetime数据。直线运动模组采用高精度丝杆，移动精度优于±0.01mm，可增加系统机构的对位效率。可根据实际需要定制多通道测量可提供UPS确保测试时效可提供高低温测试环境，模拟真实使用情况测试原理

DeltaHub——DeltaFlex的关键部件 超短的死时间（10ns）：配合高重复频率的激光光源和高速检测器，可实现无损失的光子计数，达到快速采集数据和准确的分析结果。 超快寿命测试技术：真正实现了荧光寿命动力学测试，采集时间低至1ms（全球同类产品中 快），支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。新型脉冲半导体光源 DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源（四大类型，百种可选），即插即用，无需校准，而且终身免维护。 其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz，是超快寿命测试的 选择光源，同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比，SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围，以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。科研级模块化设计 在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器，即可实现11个数量级（25ps-1s）范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计，配合全新的F-Link技术，可自动识别各类部件，软件直接接入、附件即插即用，能够无限满足升级需求。尤其是其中采用了行业优先的寿命拟合软件，没有费用开放数十种主流专业拟合功能，可单独于仪器操作。 多种光谱仪可选，配合像差校正光栅，覆盖200-1600nm宽光谱范围，完美实现时间分辨发射谱功能，支持100条发射波长动态连续监测，软件自动获得衰减相关光谱参数。 荧光寿命技术是科研中强有力的工具，可广阔用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。主要应用：FRET(Forster共振能量转移)Stern-Volmer猝灭稀土发光时间分辨和磷光各向异性分子互作，蛋白结构变化太阳能材料单线态氧测试光物理技术参数：基于滤光片或单色仪实现波长选择皮秒超快集成化PPD光子检测模块（标配）可升级NIR检测器（~1700nm）综合分析受命拟合软件，开放数十种拟合功能标准液体样品架，加载温度传感器和搅拌装置大尺寸样品仓，配置高效UV级光学部件F-Link即插即用型交互界面主要特点：超宽寿命测试范围25ps-1s 超快测试时间（低至1ms），完美实现动态反应分析超微量样品测试，低至1μL综合分析软件，5指数寿命拟合高稳定性设计，使用维护简单高度自动化，一键测量分析大尺寸样品仓设计，强劲的附件兼容能力高性能荧光、磷光寿命测试功能

BHAST温湿度偏压寿命实验箱DR-HAST450E1、自动加水功能，测试时自动补水，蓄水时间短。2、自动操作，测试过程结束，使用方便。3、温度控制：LED数码温控器可对温度设定、控制和显示进行精确测试。4、LED数码计时器，当内盒温度达到设定值时，开始计时，确保测试完成。5、准确的压力：温度图表总是显示内盒的压力和相对湿度。6、水装置自动排出不饱和蒸汽，以达到完好的蒸汽品质。7、硅胶整体门封条，气密性好，使用寿命长。8、内盒镜面抛光，美观无污染。BHAST温湿度偏压寿命实验箱DR-HAST450E 技术参数定温度+100 ℃~+132℃(饱和蒸气温度)蒸气湿度 RT+5℃~60℃升温时间常温 →+ 132℃ 55 min 温度波动度±0.5℃温度偏差 ±2.0℃压力范围0.5~2kg/cm2加压时间 0 Kg-2 Kg /cm2约45分湿度均匀度±5.0%加热方式 钛管加热电 源AC220/380V，50/60Hz安全装置无熔丝开关、超温、超压保护、保险丝、故障警告系统、缺水报警保护、反压门锁装置 型 号DR-HAST-350DR-HAST-450内部尺寸WxHxD Φ 30x45(cm) Ф 45x50(cm)BHAST温湿度偏压寿命实验箱DR-HAST450E 详情介绍BHAST温湿度偏压寿命实验箱DR-HAST450E试验标准GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）

QJ210弹簧压力寿命试验机产品介绍弹簧压力寿命试验机功能： 本试验机是用于拉簧、压簧、碟簧、塔簧、板簧、卡簧、片弹簧、复合弹簧、气弹簧、模具弹簧、异形弹簧等精密弹簧的拉力、压力、位移、刚度、疲劳等试验的专业仪器，配上倾技公司专用夹具还可以完成不同材料的弯曲、剪切、屈服强度等多种力学试验，可满足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN、JG、JT、YB、QB、YD、YY、QC、SY、SL、BB、HG等国际标准和行业标准进行试验和提供数据.有着强大的数控显示系统和微机控制系统，全液晶数控设定所需参数，曲线，位移，力值能动态显示在液晶数显器上，联接电脑打印机实现全电脑控制并打印标准试验报告；以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控.弹簧压力寿命试验机技术参数 Main specifications1、 规格：QJ210 2、 精度等级：0.5级3、 最大负荷：10N、20N、50、100N、200N、500N、1000N、2000N、2500N （2500N以内力值任意换,若需要更大力值可选择我司的QJ211S、QJ211、QJ212等机型））；4、 有效测力范围：0.2/100-100% 5、 试验力分辨率，最大负荷50万码；内外不分档，且全程分辨率不变。6、 有效试验宽度：150mm7、 有效试验空间：300mm8、 试验速度:0.01~300mm/min(任意调)9、 速度精度：示值的±0.5%以内；10、位移测量精度：示值的±0.5%以内；11、变形测量精度：示值的±0.5%以内；12、采集感应方式：美国高精度传感器；13、控制系统：日本松下全数字交流伺服控制器；14、软件测控系统：全数字闭环控制系统，可实现恒应力、恒应变、恒位移、试验功能15、试台升降装置：快/慢两种速度控制，可调动；16、试台安全保护装置：软件自动诊断、电子限位；17、试台返回：手动可以最高速度返回试验初始位置，自动可在试验结束后自动返回；18、超载保护：超过最大负荷10%时自动保护；19、工装夹具配置：根据用户产品试样要求定制；20、选配装置：品牌联想液晶电脑一套；HP彩色喷默打印机一套；21、电机： 200W22、尺寸：长430×宽315×高855mm23、主机重量：45kg弹簧压力寿命试验机公司承诺：1.购机前，我们专门派技术人员为您设计合适的流程和方案2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装3.整机保修一年，产品终身维护4.常年供应设备的易损件及耗品确保弹簧试验机能长期使用

OLED手机屏高低温转轴寿命试验一体机是一种专为测试OLED手机屏幕在高低温环境下转轴部分的耐久性和寿命而设计的设备。这种设备能够模拟手机屏幕在实际使用过程中可能遇到的极端温度条件，以及转轴部分在频繁折叠和展开时的磨损情况。以下是该设备工作原理的原创性描述：温度控制：设备内部配备了精确的温度控制系统，能够根据测试需求设定特定的高温和低温环境。通过加热和冷却元件，设备能够快速达到并维持设定的温度。转轴模拟：设备设计有模拟手机屏幕转轴的机械结构，可以对屏幕进行折叠和展开的动作。这个结构能够模拟用户在实际使用中对屏幕进行的折叠操作。循环测试：通过编程控制，设备可以自动进行一系列的折叠和展开动作，模拟屏幕转轴在长期使用中的磨损情况。这种循环测试有助于评估转轴的耐久性。数据记录：在测试过程中，设备会记录屏幕转轴的折叠次数、屏幕的显示性能、以及在不同温度下的表现等数据。故障检测：设备内置传感器和监测系统，能够在测试过程中实时检测屏幕转轴的异常情况，如卡顿、断裂等。环境模拟：除了温度控制，设备还可以模拟其他环境因素，如湿度变化，以评估屏幕在不同环境下的综合性能。寿命预测：通过对屏幕转轴在高低温条件下的循环测试，设备可以预测转轴的使用寿命，为产品设计提供数据支持。材料分析：设备还可以帮助研究人员分析屏幕转轴所用材料在极端温度下的性能，为材料选择和改进提供依据。用户界面：设备通常配备有友好的用户界面，允许操作者轻松设置测试参数，监控测试过程，并获取测试结果。安全保护：为确保测试过程的安全性，设备设计有多重安全保护措施，如过热保护、紧急停止按钮等。OLED手机屏高低温转轴寿命试验一体机通过模拟实际使用中的极端条件，为OLED屏幕的研发和质量控制提供了重要的测试手段，有助于提高产品的可靠性和用户满意度。手机柔性屏恒温恒湿综合试验机是一种功能强大的环境模拟设备，它能够为各种产品和材料提供极端温度条件下的测试环境。这种设备的应用范围广泛，不仅局限于传统的电工电子行业，还扩展到了汽车、航空航天、医疗、化工等多个领域。以下是一些具体的应用场景：1、电工电子产品测试：对电子元件、设备进行高温、低温及温度变化测试，确保其在极端环境下的稳定性和可靠性。2、汽车零部件测试：汽车行业利用该设备模拟极端气候条件，测试零部件的耐温性能，如发动机、电池等。3、航空航天器件测试：用于测试卫星、飞机等航空器上的电子设备在高空低温环境下的性能。4、材料性能评估：对各种新型材料进行温度循环测试，评估其在不同温度下的物理和化学性能。5、电子设备稳定性测试：对智能手机、电脑等电子设备进行高低温测试，确保其在极端温度下的正常运行。手机柔性屏恒温恒湿综合试验机测定意义：手机柔性屏恒温恒湿综合试验机是一种用于测试手机柔性屏幕在恒温恒湿条件下的性能和稳定性的设备。这种试验机对于确保柔性屏幕在各种环境条件下的可靠性和耐用性至关重要。1、性能稳定性测试：通过模拟恒定的温度和湿度环境，可以测试柔性屏幕在长时间运行下的性能稳定性，包括显示质量、触控反应等。2、耐久性评估：长时间暴露在特定的温湿度条件下，可以评估柔性屏幕材料的耐久性，预测其使用寿命。3、环境适应性分析：不同的地区和季节有不同的温湿度条件，通过试验机可以模拟这些条件，分析柔性屏幕的环境适应性。4、故障模式分析：在恒定的温湿度条件下，可以观察和记录柔性屏幕可能出现的故障模式，从而进行故障分析和改进设计。5、材料兼容性测试：柔性屏幕通常由多层材料组成，恒温恒湿试验可以测试这些材料在特定条件下的兼容性和稳定性。6、加速老化测试：通过加速老化测试，可以在较短的时间内模拟柔性屏幕在实际使用中可能经历的长时间老化过程。7、质量控制：恒温恒湿试验是质量控制过程中的一个重要环节，有助于确保产品在出厂前满足既定的质量标准。8、产品改进：通过测试结果，可以对柔性屏幕的设计和材料进行优化，提高产品的整体性能。9、标准符合性验证：确保柔性屏幕符合相关的行业标准和规范，如IEC、ISO等国际标准。10、用户体验保障：通过确保柔性屏幕在各种环境条件下都能保持良好的性能，可以提升用户的使用体验。手机柔性屏恒温恒湿综合试验机的使用，对于研发、生产和质量控制过程中的柔性屏幕产品至关重要，它有助于提高产品的可靠性和市场竞争力。

简介：按键寿命试验机适用于手机、电脑、电子词典、蓝牙耳机、车载播放器、遥控器按键、车辆防盗器、传真机按键、MP5、MP4、MP3、按键开关、轻触开关、薄膜按键、橡胶按键、硅胶按键等各类按键进行寿命试验。本机是将产品分别置于对应工位的试验位置上，按键测试杆在一定的试验荷重、速度、行程、次数下模拟人对产品的使用寿命测试。 主要参数：1、试验工位：4个（同时工作）2、荷重砝码：50、100、200、300、500G各四个（可选配）3、试验次数计数器：0~99999999次（可预置，LCD显示）4、试验导通次数计数器：0~99999999次（四工位导通单独计数，测试品损坏自动停止计数）5、试验速度：5~60次/分（旋钮可调，LCD显示）6、测试行程：0~60MM(手动可调)7、试验夹具常规夹持范围：60X80MM(手动可调)8、测试杆固定装置可调范围：0~180MM9、外形尺寸（LxWxH）：550X400X550MM10、机台重量：25KG11、工作电源：AC220V、50Hz 产品特点：1、箱体采用静电喷漆处理，工作台面等采用铝喷砂处理，美观大方，整机设计合理结构紧固、运行稳定、安全、准确；2、根据各类按键产品测试制造，试验夹具、行程可调、应用广泛；3、四组工位同时工作，大大提高测试效率；4、试验速度、次数，人性化设计，操作方便快捷；每个工位有对应的导通计数器，按键失灵，对应计数器会自动停止计数，可设置测试品损坏自动停机，方便及时得知产品相关测试信息

厂家直供正向寿命试验台系统概述 绝缘栅双极型晶体管（Insulated Gate Bipolar Transistor，简称IGBT）作为功率开关器件，具有载流密度大、饱和压降低等许多优点， 但是由于其长期工作在高电压、大电流、高频开关状态等且运行环境复杂，IGBT功耗和结温频繁波动容易造成器件疲劳老化。目前国内外温度循环引起的器件失效机理已进行了深入研究，在此基础上正积极发展功率模块寿命预测技术以提高变流器运行可靠性。技术指标测试参数 VF0.01～20V 0.01～10V±3%±0.01V 10～20V±3%±0.1V测试条件正向电流：1mA～60A 直流方波脉宽50uS-1mS工位 20只测试方法器件在特定温度下存储一定时间后，在设定电流后 按规定施加条件对被试器件依次进行测试，测试间 隔时间约100mS

氙气灯箱 皓天氙灯老化寿命试验机所属分类：氙灯耐气候试验箱 产品简介： 氙气灯箱 皓天氙灯老化寿命试验机型号与参数 型号：HT-XD-150；HT-XD-200 单位： MM &nb sp HT-XD-800 工作室尺寸： D500*W600*H500 D500*W760*H500 D950*W950*H850 外型尺寸： D1200*W1050*H1480 D1200*W1150*H1480 D1280*W1320*H1980 功率：11KW 样品托盘尺寸：450*720mm（适合任何形状试件） 温度范围：RT～80℃可调 湿度范围：45～90% R?H可调 黑板温度：63℃、100℃ ±3℃ 温度波动度：±0.5℃ 温度偏差度： ±2.0℃ 湿度偏差： ≤±2% 玻璃窗滤光片：3片 氙灯数量：1支 降雨时间：0～9999min，连续降雨可调 降雨周期：0～240min，间隔（断）降雨可调 喷水嘴孔径：Ф0.8mm 氙灯功率：1.8 KW/每根 加热功率：3KW 加湿功率：1.5KW 样品架与灯距离：230～280mm 波长：290～800nm 辐照度：290nm—800nm波长辐照度为550W/㎡ 也可按客户需要定制非标试验箱.实验室 氙灯耐气候试验箱,氙灯老化试验箱符合标准 本产品严格按GB/T16422.2-99的技术参数设计制造。同时符合、GB/T2423.24-1995 GB/T9344 GB/T1865-97也可按客 户需要定制非标试验箱.实验室 氙灯老化试验箱哪家好？ 氙气灯箱 皓天氙灯老化寿命试验机免费送货上门，并安装调试操作介绍（直到需方员工独立操作并满意为止）氙气灯箱 皓天氙灯老化寿命试验机控制系统： 温湿度控制仪表采用（韩国）全进口高精度数显微电脑集成控制器；精度：0.1℃（显示范围）；解析度：±0.1℃；感温传感器：PT100铂 金电阻测温体； 控制方式：热平衡调温调湿方式； 温湿度控制采用P . I . D＋S.S.R系统同频道协调控制； 具有自动演算的功能，可将温湿度变化条件立即修正，使温湿度控制更为精确稳定。 制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。 干燥过滤器、冷媒流量视窗、修理阀、油分离器、电磁阀、贮液筒均采用进口原装件 冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。 采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。 风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标 准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。 升温、降温、系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。 整体设备超温；整体设备欠相/逆相；整体设备过载；制冷机组超压；整体设备定时； 其它还有漏电、运行指示，故障报警后自动停机等保护。 氙弧灯老化试验箱 皓天HT-XD-150产品用途： 氙灯耐气候试验箱采用能模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波。是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设 备，本设备可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速老化试验。适用于学校，工厂，军工，研位，等单位。 氙灯耐气候试验箱,氙灯老化试验箱箱体结构： 箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。 箱体内胆采用进口高级不锈钢（SUS304）镜面板，箱 体外胆采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。 设备主要分为主体部分、加温、加湿、制冷除湿部分、显示控制部分、空气调节部分、安全保护措施部分和其它附件部分； 全光谱氙灯； 多种供选择的过滤系统； 光感应探头辐照度控制； 水喷淋功能； 相对湿度控制； 黑板/或试验箱空气温度控制系统； 不规则形状固定架； 价格合理可更换的进口氙灯管。 配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。 HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。 Fluorocube将新的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供灵活和界面友好的光子计数寿命系统。 可选附件 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm） 四位光束控制反射镜（可选） 偏振器 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C) NIR检测器（~1700nm） 固体样品支架 低温附件 低荧光背景滤光片 技术参数： 寿命范围从皮秒至秒 基于滤光片实现波长选择(可选激发/发射单色仪) 外循环液体控温样品架 PPD 光子检测模块（标配） 检测器范围185nm-650nm，可升级至850nm（与样品仓盖之间配有安全锁） Fluorocub计时电子装置，皮秒到秒寿命范围（依赖于激发光源） 综合分析软件 可选偏振器测量自旋相关时间 NanoLED和SpectraLED二管激发光源覆盖全波长范围主要特点： 灵敏度高：单光子计数技术 准确性好：计时电路无需校正 灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽 模块化：可以根据需要定制模块配件 方便性：全电脑控制，易于操作 Fluorocube产品系列： FluoroCube NL：滤光片分光系统及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 FluoroCube-01-NL：发射单色器及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 FluoroCube-11-NL：带有激发/发射单色器和二管激发的寿命体系 FluoroCube-10-CF：激发单色器（滤光片检测通道）和闪光灯激发的寿命系统 FluoroCube-11-CF：激发/发射单色器和闪光灯激发（5000U）的寿命系统 PhosphoCube-10-XF：激发单色器（滤光片检测通道）和微妙氙灯闪光灯激发的磷光寿命系统 PhosphoCube-11-XF：激发/发射单色器和微秒氙灯激发的磷光寿命系统注：具体配置、价格请咨询当地销售工程师

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。l S&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l 根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l 在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l 显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/ l 变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/ l 适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。l Monovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；l 应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等MonoVista CRS+ 特点：激光器深紫外到近红外波长范围多达内置4个波长激光器，外置外接大型激光器紫外和可见光/近红外双光束路径自动控制激光选择自动对准，聚焦和校准功能超高拉曼光谱分辨率 ＜0.9cm-1 @ 633 nm低波数拉曼,可测试到 +/- 10 cm-1高波数范围: 9000cm-1（@ 532nm）热电制冷和液氮制冷探测器正置/倒置/双显微镜空间分辨率：XY 1um Z 2um步进电机和压电驱动XYZ位移台快速3D拉曼Mapping荧光寿命成像Mapping功能集成控制液氮温度冷热台集成液氦温度低温恒温器可结合拉曼成像和原子力显微镜成像自动控制的偏振光谱功能L-Crystine的超低波数拉曼（正反斯托克斯）CCL4的超高拉曼分辨率TCSPC荧光寿命测试功能2 激光波长从375纳米到810纳米2 时间通道数：65536 ,分辨精度：4ps 2 各通道采集延时调节范围 ：± 100 ns，2 寿命时间抖动误差：12ps2 最大计数率：10MHz 最大同步率：84 MHz2 多种探测器选项，探测器通道：2个2 二维寿命成像，XY扫描压电位移台2 扫描台，范围可达几厘米，XY扫描精度优于500nm 2 固有响应时间：95ns2 仪器响应函数（IRF）200ps荧光寿命测试曲线荧光寿命MappingVistaControl硬件控制界面拉曼Mapping与显微图像对比MonoVista CRS+ 定制系统应用案例Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

一、概述? 产品名称增压泵寿命测试台? 产品型号RT-SB-20? 适用范围 净水器增压泵寿命试验机普遍适用，一般用于对净水机水泵零部件耐久性启停性能测试，对水泵电压、电流、功率、压力、流量等参数进行综合测试。检测净水机在一定条件下的承受的压力值，根据相关标准判断试件质量是否符合要求。? 参照标准NSF/ANSI 42-2007 Drinking water treatment units –Aesthetic effectsANSI/NSF58—1997 2007 Reverse osmosis drinking water treatment systemsQB/T 4144-2010 家用和类似用途反渗透净水机GB T30306 家用和类似用途饮用水处理内芯GB T30307 家用和类似用途饮用水处理装置二、技术参数1. 试验工位: 1~20工位可选2. 试验压力采集：0.1-0.3Mpa 精度：±0.5%3. 试验工作时间:1~99.99H/M/S可设定4. 停止时间:1~99.99H/M/S可设定5. 工作电压:380V 50HZ6. 测试电压：0-60V可调7. 每个工位独立启动停止,单独计时 8. 每个工位进出水开关单独控制，出水压力可调 9. 增压泵寿命试验设备测试台内部内置水箱, 供水泵供水 另外也配有水管进行供水,方便不同型号的水泵进行试验 测试水源进行循环利用， 在进入增压泵前加有过滤装置。10. 测试时增压泵的电源自行安装，需预留适配器的空间，空间散热、防水、效果好。11. 设备尺寸：2000*1000*1500三、功能及特点? 主要功能a) 效率高，试验装置可在满负荷下频繁启动； b) 试验压力、保压时间等参数可以根据试验要求进行设定。具备超压、超时、超温、泄露报警功能；c) 试验数据的自动采集和处理功能，自动建立试验数据库，可随时查询，数据可以保存。可实时显示测试参数，同时存储和记录测试结果，如测试数次、试验压力等； ? 主要特点d) 结构设计采用一体式结构，设备整体外观协调且美观大气。e) 设备维护方便，输出接头易于更换，传感器、压力表等元件方便拆装，便于计量及维护；所有主要元件进行防锈处理。工作介质循环使用，测试时的液体能自动流回液箱。f) 安全措施可靠：1) 具有紧急泄压、安全停机功能；2) 增压泵寿命试验设备试件破裂后压力迅速下降，自动停止加压，即试件破损后设备具有自动停机保护功能，保证人身及设备安全，适合试验无人看守；

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。 显微拉曼荧光寿命成像系统，型号：MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。lS&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/l变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/l适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。 lMonovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等。 低波数性能： Stokes/Anti-Stokes spectrum from L-Cystine显微拉曼荧光寿命成像系统特点：l深紫外到近红外波长范围l多达 4 个集成多线激光器，可选配外接大型激光器端口l紫外和可见光/近红外双光束路径l自动控制激光选择l自动对准，聚焦和校准功能l超高拉曼光谱分辨率，例如 FWHM＜25px -1 @ 633 nml利用低波数拉曼附件，低波数可测试到 +/- 10 cm-1 l高波数范围可达 225000px-1（@ 532nm），适用于光致发光l热电制冷和液氮制冷探测器l正置/倒置/双显微镜l步进电机和压电驱动 XYZ 位移台l快速拉曼 mappingl集成控制加热/冷却台，液氦温度低温恒温器l可结合拉曼成像和原子力显微镜成像l自动控制的偏振光谱功能 硬件与激光选择软件自动切换 荧光扣减与背景抑制功能 同一样品不同成分的拉曼成像图显微拉曼荧光寿命成像系统定制应用案例 Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

接触器电寿命试验设备是依据GB8871-2001（交流接触器节电器）、GB14048.6-2008 《低压电器开关设备和控制设备 接触器和电动机启动器 第二部分交流半导体电动机控制器和起动器（含软启动器）》和JB/T 10522-2005《小容量交流接触器可靠性试验办法》等相关标准中对接触器电寿命试验的相关要求进行设计的。产品采用先进、可靠的技术及设备，系统完善，功能完整，能够进行一整套的接触器电寿命试验。主要技术参数：(1) 设备电源电压：220V±15%，50Hz；(2) 设备总容量：30kVA； (3) 线圈工作电压：AC50V、AC150V、AC250V、AC450V、DC50V、DC150V、DC250V连续可调可任意选择；(4) 负载电源：AC220V 50/60Hz； (5) 设备最大输出电流：110A；(6) 做电寿命和温升试验时测试产品最大电流：95A；(7) 做机械寿命试验时测试产品最大电流：170A；(8) 负载电阻电流档位：0.2A、0.3A、1A、2A、3A、4A、10A、20A、30A、40A 电流可任意叠加；(9) 电流采取的是叠加的方式；(10) 负载电阻为长期工作形式；(11) 负载为一路，电寿命和温升试验时可单级测试，或者三级串校；(12) 电流显示：AC0-150A (13) 电流互感器变比：150/5A，精度为0.2级；(14)产品工作循环时间0.1S-99H可任意设置；(15) 产品工作次数1-999900次可任意设置，工作次数到后会自动断电保护；(16) 做电寿命试验时如果产品长期粘合，设备会自动断电；(17) 设备采用多路温升测试仪测试产品的温升变化；设备特点：1）控制系统可实现各试验柜开关状态及电寿命系统开关状态的监控，各个试品状态 的监控、试验变压器状态的监视，试验参数的输入与记录，试验过程（试验次数及进行情况等）的记录与编辑，试验过程的智能控制（根据负荷情况有效分配各个试验的进行时间），试验安全状况的监视，试验异常情况的报警与记录，历史试验记录的查询等。2）本试验系统内置高配置触摸屏操作，测试无需外接任何辅助设备，全自动控制，傻瓜式操作。系统有全自动测试与手动测试两种方法，只需设置简单的试验参数即可。配有USB口，U盘、打印机等多种设备。3）操作时，只需设置好试验参数即可，无需人工监控，人工记录、描绘曲线等烦琐劳动，减小劳动强度，提高工作效率也可工作结束后把数据读到电脑上查看即可。设备满足标准：依据GB8871-2001（交流接触器节电器）、GB14048.6-2008 《低压电器开关设备和控制设备 接触器和电动机启动器 第二部分交流半导体电动机控制器和起动器（含软启动器）》和JB/T 10522-2005《小容量交流接触器可靠性试验办法》等相关标准中对接触器电寿命试验的相关要求进行设计的。

荧光寿命/瞬态吸收分析系统 欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！产品目录：紧凑型荧光寿命测量仪Quantaurus-Tau 紧凑单盒型荧光寿命测量系统用于操作简单而高精度地测量荧光寿命和光致发光谱。皮秒荧光寿命测量系统 采用二维光子计数法来测量多光谱荧光寿命的高灵敏度和高时间分辨率（5 ps）荧光寿命测量系统。近红外荧光寿命测量系统 具有亚纳秒到皮秒的时间分辨率的近红外（650—1700 nm）荧光寿命测量系统。紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 紧凑型近红外光致发光寿命测量仪是专门为测量近红外波段（580—1400 nm）光致发光谱（PL Spectrum）和光致发光寿命（PL Life）而设计的。