高精度薄膜测量设备

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

本系列其它产品型号 共3条 名称货号货期 描述参数Bristol 671A-IR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 1-5um671A-IRD80010016波长范围：1-5um；激光类型：连续波和准连续波（重复频率10 MHz）； 测量精度：± 0.0002 nm @ 1000 nm；测量速率：4Hz；最大带宽：1GHz； 光学输入：准直光束 2-3mm直径孔径工作波长: 1-5µ m Bristol 671B-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671B-NIR-FC/UPCF80010048波长范围：NIR 520-1700nm；激光类型：连续波和准连续波（重复频率10 MHz）； 测量精度：± 0.0008 nm @ 1000 nm；测量速率：10Hz；最大带宽：10GHz； 光学输入：预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm Bristol 671A-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671A-NIR-FC/UPCF80010049波长范围：NIR 520-1700nm；激光类型：连续波和准连续波（重复频率10 MHz）； 测量精度：± 0.0002 nm @ 1000 nm；测量速率：4Hz；最大带宽：1GHz； 光学输入：预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm 总览Bristol Instruments的671系列激光波长计使用经验证的基于迈克尔逊干涉仪的技术来精确测量从可见光到中红外的连续激光的波长有两种版本可供选择。671A型是精确的，测量波长的精度为±0.2百万分之一（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代品，精度为±0.75百万分之一（1000 nm时为±0.0008 nm）为了保证波长测量的准确性，671激光波长计采用内置HeNe激光器进行连续校准。这是一个理想的参考源，因为它的波长是众所周知的，并且是由基本原子结构固定的。为了实现高精度，671A系统使用单频HeNe激光器，该激光器使用精确的平衡纵模技术进行稳定。在型号671B中，使用标准的HeNe激光器作为波长参考。Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计,Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计通用参数产品优点波长精度高达±0.0001 nm。使用内置波长标准进行连续校准。可在375 nm至12μm范围内进行操作。方便的预对准光纤输入，波长高达2.6μm。自由空间光圈输入，具有红外/中红外波长的可见对准辅助功能。使用USB或以太网直接操作电脑。提供显示软件，用于控制测量参数和报告波长数据。使用自定义或LabVIEW编程的自动数据报告消除了对专用PC的需求。方便的平板电脑/智能手机应用程序可在实验室的任何地方报告测量数据。五年保修涵盖所有零件和劳动。型号671A671B激光类型连续波和准连续波（重复频率10 MHz）波长波长范围VIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmVIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmMIR: 1.5 - 12 μm精度 1，2± 0.2 ppm ± 0.0002 nm @ 1000 nm± 0.002 cm-1 @ 10,000 cm-1± 60 MHz @ 300,000 GHz± 0.75 ppm (± 1 ppm for MIR) ± 0.0008 nm @ 1000 nm± 0.008 cm-1 @ 10,000 cm-1± 225 MHz @ 300,000 GHz重复性 3、4、5VIS/NIR/NIR2: 0.03 ppm (0.03 pm @ 1000 nm)IR: 0.06 ppm (0.2 pm @ 3 μm)0.1 ppm (0.1 pm @ 1000 nm)标定连续内置稳定单频HeNe激光器连续内置标准HeNe激光器显示分辨率9 digits8 digits单位 6nm, μm, cm-1, GHz, THz功率 (VIS / NIR) 7校准精度± 15%分辨率(Resolution)2%单位mW, μW, dBm光输入信号最大带宽81 GHz10 GHz最小输入9、10VIS: 10 - 500 μWNIR: 5 - 225 μWNIR2: 125 - 500 μWIR: 65 - 750 μWMIR: 120 - 925 μW测量速率4 Hz (VIS / NIR / NIR2) 2.5 Hz (IR)10 Hz (VIS / NIR/ NIR2) 2.5 Hz (IR / MIR)输入/输出光学输入11VIS/NIR：预对准FC/UPC或FC/APC连接器（芯径9μm）-可选自由光束到光纤耦合器NIR2：预对准FC/UPC或FC/APC连接器（芯直径7μm）-可选自由光束到光纤耦合器IR/MIR：准直光束，2-3mm直径孔径，可见示踪光束，便于对准仪表接口USB和以太网接口，带有基于Windows的显示程序和基于浏览器的显示应用程序使用任何PC操作系统进行自定义和LabVIEW编程的命令库（SCPI）计算机要求 12运行Windows 10的电脑，1 GB可用RAM，USB 2.0（或更高版本）端口，显示器，定点设备环境 10预热时间 15 minutesNone温度|压力|湿度+15°C to +30°C (-10°C to +70°C storage) | 500 – 900 mm Hg | ≤ 90% R.H. at + 40°C (no condensation)尺寸和重量尺寸（高x宽x深）13VIS / NIR / NIR2: 5.6” x 6.5” x 15.0” (142 mm x 165 mm x 381 mm) IR / MIR: 7.5” x 6.5” x 15.0” (191 mm x 165 mm x 381 mm)重量14 lbs (6.3 kg)功率要求90 - 264 VAC, 47 - 63 Hz, 50 VA max担保5 Years (parts and labor) （1） 定义为测量不确定度或最大波长误差，置信度≥99.7%。（2） 可追溯到公认的物理标准。（3） 对于671A，仪器达到热平衡后10分钟测量周期的标准偏差。（4） 对于671B，仪器达到热平衡后1分钟测量周期的标准偏差。由于HeNe参考激光器的纵向模式漂移引起的长期测量变化小于±0.4 ppm。（5） 波长分辨率大约是可重复性的两倍。（6） 以nm、μm和cm-1为单位的数据以真空值的形式给出。（7） NIR2、IR和MIR版本不测量绝对功率。强度计显示相对功率。（8） 带宽为FWHM。当带宽较大时，波长精度会降低。（9） 特定波长下的灵敏度可以从671系列产品详细资料手册中提供的图表中确定。（10） 特性性能，但无担保。（11） IR和MIR要求的光束高度为5.4±0.25“。（12） 用于基于Windows的显示程序。与SCPI的接口可以使用任何PC操作系统来完成。（13） IR和MIR仪器高度可调（7.25±0.25“），用于校准。Bristol Instruments保留根据需要更改规格的权利，以改进其产品的设计。规格如有更改，恕不另行通知 公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司，业务涵盖设备代理以及项目合作研发，公司位于大虹桥商务板块，拥有接近2000m² 的办公区域，建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室，为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持，以及良好的商务支持团队，筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室，奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器（DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器）气体激光器（HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器）光纤激光器（连续激光器、超短脉冲激光器）光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪，激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机

高精度波长计筱晓光子供应高精度波长计，SHR高精度波长计和SHR-IR近红外波长计可供选择。该系列激光波长计具有如下特点：测量精度高、光谱范围宽、结构紧凑、无移动部件、光纤耦合输入，应用于：连续激光波长测量、脉冲激光波长测量。SHR Laser Wavelength MeterOperation modesCW and pulsed (externally triggered)Spectral range190-1100nmAbsolute accuracy±0.003nmSpectral resolution0.006nm for 193nm, 0.04nm at 1200nmSource linewidth requirement≤125см-10.5nm at 193nm, 18nm at 1200nmOptical interfaceoptical fiber(400um core diameter, 1m length, SMA905 connector)diffuse attenuator FA-3 equipped with SMA-905SHR-IR Laser Wavelength MeterOperation modesCW and pulsed (externally triggered)Spectral range600-1800nmAbsolute accuracy±0.02nmSpectral resolution0.15nm for 600nm, 0.48nm for 1800nmSource linewidth requirement≤125см-14nm for 600nm, 40nm for 1800nmOptical interfaceoptical fiber(400um core diameter, 1m length, SMA905 connector)diffuse attenuator FA-3 equipped with SMA-905

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米；波长范围：200-1100nm精度：0.5%分辨率：0.02nm光源：使用显微镜光源光斑大小：由显微镜物镜决定计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：120x120x120mm重量：1.2kg薄膜厚度测试仪配件应用测量薄膜吸收率,透过率测量化学薄膜和生物薄膜测量光电子薄膜结构测量半导体制造聚合物测量在线测量光学镀膜测量

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

高精度压强控制系统一、简介依阳公司出品的高精度压强控制系统是一种高度智能化的真空测量仪器和控制设备，采用了人工智能PID控制技术，可与国内外各种型号的压强传感器（真空计）和调节阀连接，实现高精度的压强（真空度）定点和线性控制，为可控气氛环境的实现提供了有效可靠技术手段。依阳公司出品的高精度压强控制系统采用的智能化控制技术，与现有压强PID控制相比具有控制迅速、响应快、超调小、精度高等特点。 二、技术指标（1）模拟量输入：0～10 直流（标定压力和流量）（2）模拟量输出：0～10 直流（压力和阀位置）（3）压强传感器的扫描速率： 毫秒（4）输入/输出速率： 毫秒（对于数字气体控制阀VDE016）（5）控制精度：传感器量程的 ；计算机接口形式：RS232C和RS485。三、特点（1）采用了人工智能PID控制技术，PID参数的选择完全实现了智能化和自动化，大幅度简化了目前众多国外著名品牌压强控制器PID参数人工优化过程，明显提高了控制精度和稳定性，充分发挥了压强传感器和控制阀的强大功能。（2）压强控制系统可以根据工艺需要配备多种结构形式，可以采用人机界面触摸屏形式，也可以采用面板显示表，甚至可以采用模块形式。而且这些结构形式都可以与各种上位机和计算机进行连接构成完整的工艺系统。（3）压强控制器有两种控制模式，一种是可变气流量（上游控制）压强控制模式，另一种是可变通导（下游控制）流量调节模式。 上游控制压强模式 下游控制压强模式（4）支持上限、下限、偏差上限及偏差下限等多种报警功能，并可自由定义多个报警输出端口，支持多个报警信号从同一位置输出。具备上电免除报警等功能，避免上电报警误动作。（5） 可以在大型的控制系统中，将多个依阳压强控制器设定为不同的从地址，然后一起接入控制系统，由一台上位机（计算机、PLC等）进行集中控制，组成集中控制系统网络。目前，同一控制系统网络最多可接255台依阳压强控制模块。

UV偏振测定用超高精度样品池和长寿命光源的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079偏振测定用超高精度样品池和长寿命光源偏振测定用标准样品池PerkinElmer偏振测定专用样品池是专为您量身打造的光谱样品池，它的窗口和池身相连以消除张力。这种特别的处理方式能避免传统设计中会影响测量精度的双折射效应。每个样品池都经过单独测试，并且真实光程刻在样品池上，精确到 0.01mm。所有样品池都有保护套以保持恒温，而且容易进样和清空，不会有任何的样品损失。各种类型的样品池可以满足您各种用途的需要，包括短光程样品池，流通样品池和微量样品池。熔融硅(石英)样品池可用于紫外和可见光测量，并且能够在200° C高温下工作。玻璃样品池能够用于波长大于400nm的可见光。石英 100mm 3.0mL B0507403石英 100mm 6.2mL B0041696石英玻璃 100mm 3.0mL B0507447石英玻璃 100mm 6.2mL B0041693微型样品池光学玻璃 100mm 1.0mL B0017047长寿命光源所有的PerkinElmer分光计都拥有精心挑选的高质量光源，它们不仅能提供强大的辐射能而且具有很长的使用寿命，让您的分光计总是处于最佳工作状态。它们的高输出使得精确测量旋光度成为可能，哪怕是被测样品具有强吸光能力。钠, 20W 341/343/343plus/341LC/241/241MC/243/243B B0008754水银蒸气(St46) 341/343S/343plus/341LC B0510581设备校验的第二石英标准石英控制板提供可见光范围内的可追踪的设备定标，从而保证了所有测量达到最高精度标准。所有石英控制板都有耐热外壳。Quartz Control Plate+1 +1° 589nm处 B0098800Quartz Control Plate &ndash 1 &ndash 1° 589nm处 B0098799

校准级高精度非球面透镜1）非球面面形偏移RMS值可达0.25μm2）提供完整的计量数据3）提供0.66和0.50NA透镜我们的TECHSPEC® 校准级高精度非球面透镜提供现成经抛光非球面透镜的zui佳性能和精度。这些组件提供改善的非球面面形、表面质量及中心规范，优于我们的TECHSPEC® 标准高精度非球面透镜，是集成到研发及OEM应用等的理想之选。这些高数值孔径透镜在提高微光检测系统的效率，或需要紧凑的光路应用方面非常出色。每个透镜都编有序号，且提供一套完整的计量数据包。该测试数据包包括在我们的Taylor Hobson Talysurf Profilometer上运行的薄膜测厚仪，球面干涉图，以及直径、中心厚度和中心定位的测试值。有关定制设计的非球面透镜、镀膜要求或批量定价的详细信息，请联系我们的销售部门。Common Specifications涂层:Uncoated基底:L-BAL35直径容差 (mm):+0.0/-0.1中心厚度容差 (mm):±0.10表面质量:20-10中心偏（弧分）:技术数据订购信息直径 (mm)有效焦距 EFL (mm)数字孔径 NA中心厚度 CT (mm)产品号2518.750.6610#69-14125250.57.5#69-1425037.50.6619.4#69-14350500.519.4#69-144

UV偏振测定用超高精度样品池和长寿命光源的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079偏振测定用超高精度样品池和长寿命光源偏振测定用标准样品池PerkinElmer偏振测定专用样品池是专为您量身打造的光谱样品池，它的窗口和池身相连以消除张力。这种特别的处理方式能避免传统设计中会影响测量精度的双折射效应。每个样品池都经过单独测试，并且真实光程刻在样品池上，精确到 0.01mm。所有样品池都有保护套以保持恒温，而且容易进样和清空，不会有任何的样品损失。各种类型的样品池可以满足您各种用途的需要，包括短光程样品池，流通样品池和微量样品池。熔融硅(石英)样品池可用于紫外和可见光测量，并且能够在200° C高温下工作。玻璃样品池能够用于波长大于400nm的可见光。石英 100mm 3.0mL B0507403石英 100mm 6.2mL B0041696石英玻璃 100mm 3.0mL B0507447石英玻璃 100mm 6.2mL B0041693微型样品池光学玻璃 100mm 1.0mL B0017047长寿命光源所有的PerkinElmer分光计都拥有精心挑选的高质量光源，它们不仅能提供强大的辐射能而且具有很长的使用寿命，让您的分光计总是处于最佳工作状态。它们的高输出使得精确测量旋光度成为可能，哪怕是被测样品具有强吸光能力。钠, 20W 341/343/343plus/341LC/241/241MC/243/243B B0008754水银蒸气(St46) 341/343S/343plus/341LC B0510581设备校验的第二石英标准石英控制板提供可见光范围内的可追踪的设备定标，从而保证了所有测量达到最高精度标准。所有石英控制板都有耐热外壳。Quartz Control Plate+1 +1° 589nm处 B0098800Quartz Control Plate &ndash 1 &ndash 1° 589nm处 B0098799

UV偏振测定用超高精度样品池和长寿命光源的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079偏振测定用超高精度样品池和长寿命光源偏振测定用标准样品池PerkinElmer偏振测定专用样品池是专为您量身打造的光谱样品池，它的窗口和池身相连以消除张力。这种特别的处理方式能避免传统设计中会影响测量精度的双折射效应。每个样品池都经过单独测试，并且真实光程刻在样品池上，精确到 0.01mm。所有样品池都有保护套以保持恒温，而且容易进样和清空，不会有任何的样品损失。各种类型的样品池可以满足您各种用途的需要，包括短光程样品池，流通样品池和微量样品池。熔融硅(石英)样品池可用于紫外和可见光测量，并且能够在200° C高温下工作。玻璃样品池能够用于波长大于400nm的可见光。石英 100mm 3.0mL B0507403石英 100mm 6.2mL B0041696石英玻璃 100mm 3.0mL B0507447石英玻璃 100mm 6.2mL B0041693微型样品池光学玻璃 100mm 1.0mL B0017047长寿命光源所有的PerkinElmer分光计都拥有精心挑选的高质量光源，它们不仅能提供强大的辐射能而且具有很长的使用寿命，让您的分光计总是处于最佳工作状态。它们的高输出使得精确测量旋光度成为可能，哪怕是被测样品具有强吸光能力。钠, 20W 341/343/343plus/341LC/241/241MC/243/243B B0008754水银蒸气(St46) 341/343S/343plus/341LC B0510581设备校验的第二石英标准石英控制板提供可见光范围内的可追踪的设备定标，从而保证了所有测量达到最高精度标准。所有石英控制板都有耐热外壳。Quartz Control Plate+1 +1° 589nm处 B0098800Quartz Control Plate &ndash 1 &ndash 1° 589nm处 B0098799

LX1010B高精度光度计 组培照度计由上海书培实验设备有限公司提供，产品型号齐全，质量优越，欢迎客户来电咨询选购。LX1010B照度计 高精度光度计技术参数：显示：3 1/2位LCD显示,字高18mm测量范围 1 Lux ～50,000Lux取样率：2.0次／秒重复测试：±2％温度特性：±0.1％／℃准确度：±4％rdg±0.5％f.s（大于10,000 Lux档准确度为±5％±10个字）读值锁住功能:√低电显示功能:√电池：6F22 9V碱性电池仪表尺寸：118×70×29mm重量：约200g（包括电池在内）工作环境：0℃～40℃（32℉～104℉）0～70％Rh产品颜色:铁灰原配附件：9V电池，说明书

高精度XRF分析仪配件M3L是专为固定和移动实验室检测设计的X射线荧光光谱分析仪, XRF Analyzer。它具有轻元素（钠，镁，铝，硅）测量极高灵敏度，配备了氦气吹扫通道系统（在大气压0.5-1atm下，流量为30-45ml/分钟）。高精度XRF分析仪配件M3L特色具有宽敞测量室，室内安装有用于大尺寸样品分析的照明灯。内置热敏打印机可直接打印输出测量数据。内置通风系统和过滤元件加强了防尘保护。 高精度XRF分析仪配件M3L特点 对每一种金属组件进行成分分析 快速可靠地识别所有合金级别 评估钢和铸铁中的碳含量 分析特殊合金，包括钛、镁、镍/钴，等 测量合金中的贵重的金、银和其他贵重的金属含量高精度XRF分析仪M3L度量数 从12mg镁到92U铀（可选11Na），在一个单一的测量中同时确定元素 被测元素的含量范围0.005-100 % 元素检测限制-1ppm 测量时间- 少于1分钟。 （一般为10- 30秒。）高精度XRF分析仪配件M3L规格操作持续时间自备电源内部系统的时间电源-交流电，50 / 60Hz功耗测量单元操作温度范围工作温度范围内的相对湿度测量室尺寸所测样品的最大重量测量单元尺寸测量单元重量无限至少6小时100-240 V+10C to +45C300x150x240 mm20 kg412x312x312 mm

Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统Specac的等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定，根据热压制膜原理，所得到的样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供三种等厚度薄膜制样工具，不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还能将粒状，块状或板材，如药包材料，包装材料，特殊包裹材料等不规则的聚合物变成可以检测的薄膜。GS15800高温薄膜制样系统技术参数：最高操作温度高达400℃ 满足高端科研的要求一周期40分钟通过CE安全认证集成的供热制冷设备? 2T的载荷极限0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm薄膜直径29mm压力范围0-2吨一体式加热盘系统双数字显示，精度1度安全切换装置：70℃ 切断加热希同/55℃ 重启加热系统一体式冷却盘高温薄膜制样机P/N GS15800有一组加热板是嵌入到薄膜制样机中的，所以当P/N GS15800装载在压片机上时， 是不需要额外的Atlas 加热压盘P/NGS15515的。订购信息GS15640标准薄膜制样机特点：独立加热压盘，满足不同直径薄膜需要独立冷却盘，可缩短制膜周期重现性哈，制备过程简单制膜过程无需化学品，成本低6种不同厚度的垫圈，适合各种高分子材料技术参数：操作温度高达300℃一周期30分钟4T的载荷极限0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm薄膜直径29mm双数字显示，精度℃可配套加热板P/N GS15515使用冷却系统停止时切断加热系统 冷却水流速大于0.2/min时重启加热系统独立冷却盒订购信息GS15640 Atlas™ 标准薄膜制样机包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250和0.500 mm 垫圈铝膜 直径40mm(200 片)Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250and 0.500 mm 垫圈铝膜直径40mm(200 片)制作铝膜样品杯的工具Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子高稳定性及高精度的温度控制器(400℃)薄膜制样套装GS15631 Atlas™ 标准型薄膜制样套装1包括: 薄膜制样系统(GS15640) 加热板和加热压盘以及数字全自动温控器(300°C) (GS15515)GS15633 Atlas™ 标准型薄膜制样套装2包括: 薄膜制样系统(GS15640)加热板和加热压盘以及数字温控器(300oC) (GS15515)15T手动液压机(GS15011)(对于GS15800,GS15631和GS15633，请指定220V或110V电压和使用的国家。)GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统套装包括: 高温薄膜制样系统(GS15800) 15T手动液压机(GS15011)(请指定220V或110V电压和使用的国家。)备件及耗材GS03800卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(100张/盒)GS03805 用于固定易伸缩薄膜样品的尼龙卡簧(20)GS03810 10mm x 25mm 矩形通光孔Specacards (100)GS03820 磁性薄膜样品架 圆形通光孔直径25mmGS15627 直径为40mm的铝膜(200)GS15641 冷却盒 用于标准薄膜制样系统 替换GS15642 标准薄膜制样压盘套装GS15629 标准薄膜制样机可替换的垫圈组件GS15805 高温薄膜制样机可替换的垫圈组件

高精度热分析样杯 一、产品概述 1、热分析因其快速、简便、可靠和低成本而被广泛应用于铁水成份的现场测试和控制，当铁水倒入样杯后，铁水随时间而逐渐凝固，热分析就是根据其冷却曲线的温度平台，测定并计算出碳当量、碳含量，硅含量等成份参数 2、系列高精度热分析样杯是由设计合理的样杯和高精度的K型热电偶组成 二、产品特性： 1、合理及可靠的样杯设计，确保极性正确地与热分析接插件相连 2、水平的石英保护管设计，使得响应速度更快 3、浇注温度范围宽广 4、重复性好和稳定性强的冷却曲线 5、高的测成率 三、产品应用 1、碳当量CEL：由公式％CEL=C+％Si／4+％P／2表达，在铁水样刚开始凝固时，捕捉到的液相线温度直接与该值有关。 2、碳含量C：由液相温度TL和固相温度TS这两个温度值决定 3、硅含量Si：通过测量固相温度，由此可以计算Si，并通过一个调整因子来校准硅值， 该因子与铁水中的碳量有关。 4、其他应用：孕台控制，通过共晶过冷度的测定，控制孕育；通过测定液相温度和过冷度，预测铁水的机械和物理性能；球化率的计算，基于相对导热性原理，可以计算球铁铁水的球化率

产品介绍德国德图TESTO 720 高精度温度计，配上保护软套后耐腐蚀。量程宽、精度高，以及其特有的4线技术，使其可胜任日常的实验室研究工作。配有玻璃套管的实验室探头耐腐蚀。德国德图TESTO 720 高精度温度计的特点：14mm字高，易于读取，带标定证书，保护软套通用技术参数存储温度-20.0...70.0 ° C操作温度0.0...50.0 ° C电池类型碱锰电池电池寿命100h重量300g尺寸57.0 x 190.0 x 42.0 mm探头类型 (测量值)量程Pt100 (温度)-100.0 ... 800.0 ° C精度+/-0.2 ° C (-100.0 ... 199.9 ° C)+/-0.2% 测量值 (200.0 ... 800.0 ° C)分辨率+/-0.1 ° C (-100.0 ... 199.9 ° C)+/-1.0 ° C (200.0 ... 800.0 ° C)Pt100 (温度)-150.0 ... 1470.0 ° F精度+/-0.2 ° F (-150.0 ... 399.9 ° F)+/-0.2% 测量值 (400.0 ... 1470.0 ° F)分辨率+/-0.1 ° F (-150.0 ... 399.9 ° F)+/-1.0 ° F (400.0 ... 1470.0 ° F)

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍：LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示，加上电脑可实现微机操作，参数随意设定，可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy： 30KN（任意选） 2、荷重元精度Load Accuracy： 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy： 4、操作方式Control： 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width： 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke： 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy：: ± 0.5%以内； 9、位移测量精度Stroke Accuracy： ± 0.5%以内； 10、变形测量精度Displacement Accuracy： ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device： 电子限位保护，紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight ： 约140kg

EMT260D高精度转速表(激光、机械两用型)详细说明 ＊严格按国家规范设计，是国家技术监督局新计量标准贯标推荐产品 ＊通过JJG105-2000转速表最高精度等级检定 ＊五位有效数字浮点显示 ＊独特的浮动多周期平均等时测周法设计，保证全量程范围内同等精度 ＊最齐全的转速测量功能 ＊宽测量范围且无需量程转换 ＊数据自动存储、回放 ＊超大液晶屏幕读数，功能菜单显示 ＊超低功耗设计，延时自动断电 ＊电池电量实时显示，匮电自动报警 ＊人性化造形设计，美观小巧，操作简便，重量轻 ＊可连接三角架，便于长时间连续精确监测 ＊配备信号输入、输出及外接电源端口，满足特定工作要求 ＊产品系列化，多种型号可满足您不同的用途 系统功能: 转速、频率、周期、线速度的最大、最小、最终值及周期数或事件计数共16种参数。 技术指标: 测量范围 转 速： 1～99999r/min 频 率： 0.0167～1666.6Hz 周 期： 0.6～60000ms 计 数： 1～99999 线 速 度： 0.1～3000.0m/min 0.0017～16.666m/s 测量精度 全量程范围误差 0.005%的超高精度（转速、频率、周期） 测试距离 光 电 式： 0.5cm～/30cm 激 光 式： 3cm～/3m 显 示 五位有效数字动态液晶浮点显示 信号输入 1～5VP-P脉冲输入 信号输出 TTL电平脉冲输出 电 源 两节七号电池供电，可连续使用24小时；或外接2～3V直流电源供电 体 积 128mm × 58mm × 26mm 重 量 90克 型号选择: 型号 特征 测量功能 EMT260A LED光源光电（非接触）型 转速、频率、周期的最大、最小、最终值及周期数或事件计数共10种参数 EMT260B LED光源光电（非接触）+机械转换头（接触）两用型 转速、频率、周期、线速度的最大、最小、最终值及周期数或事件计数共16种参数 EMT260C 激光光源光电（非接触）型 转速、频率、周期的最大、最小、最终值及周期数或事件计数共10种参数

简介　　色谱柱进行物质或离子分离需要在指定流速下达到最佳分离效果，添加剂、制药等行业需要精确控制流速流量，色谱法和其他分析技术的结果都高度依赖于正确的流速。随着时间的推移，泵流速必须正确且稳定，所有这些都需要泵的性能可靠。盛瀚SHFM-1高分辨率、高精度的流量计能实时、连续监测泵的运行状态，保证分析结果的准确性。　　优势　　ü 与所有HPLC和GPC/SEC/IC溶剂兼容。　　ü 可连续测量流速而不干扰色谱系统。　　ü 一体式高分辨率OLED显示屏显示当前流速。　　ü 实时监测能及时查看到泵的异常状态。　　ü 多个积分时间可选择。　　ü 超高精度和宽流速范围。　　ü 尺寸小使用方便，可通过USB连接自行供电。　　ü 基于PC的应用程序可连续记录和存储测量的流量。

日本ALOKA PDR-101便携式高精度&gamma 线表面污染仪(监测范围：0.001～19.99&mu Sv/h )主要适用于警察、消防等的应急配备（核燃料设施）；核电站的表面污染测量（物品等。直接／间接测量）；政府部分的应急配备。 PDR-101便携式高精度&gamma 线表面污染仪主要特点：超小型，能装入口袋，便于携带灵敏度高技术指标:检测射线：&gamma 线检测器： CsI(Tl)闪烁检测器监测范围：0.001～19.99&mu Sv/h 能量依存性：60keV～1.25MeV电源：3号碱性电池

这张测试图在垂直方向上有7个25mm的类似棋盘型高精度LVT模块。这张测试图卡尺寸为8x10"。This chart has 7 divisions vertically with 25mm checkerboard size on high precision LVT filmThe chart is on 8x10" LVT film.1、厂家货源正品官方直售，公司生产周期短，出厂严格检测，货品品质保障，可通过国家计量院计量。2、关于尺码机身和包装尺寸为手动测量，由于测量工具和测量方法不同的因素，会存在1cm误差，但是不用影响运输和使用。3、关于颜色本店产品都是实拍图片，但是由于不同显示器分辨不同以及色温和对比度差异有所不同。4、关于客服可以通过阿里旺旺随时联系我们，如果旺旺回复不及时，也可以拨打我们的热线电话 张工：13310057377 （技术与销售一体，直达客户需求）5、关于售后我们将提供完整的售后服务，包括15天退货，正品保证，交期保障等等。6、关于发货本店根据货物及客户需求，尽可能选择快捷方便的物流运输服务，一般情况发顺丰快递！

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

λ/8高精度球面反射镜?适用于多光谱聚焦应用?可选各种镀膜?备有多种尺寸可选?备有λ/4 球面反射镜可供选择TECHSPEC® λ/8 的高精度球面反射镜设计用在紫外、可见光或红外光谱范围内的研究和技术性的OEM应用。用户可以选择任何未镀膜或镀各种反射镀膜的任何尺寸的产品。Common Specifications基底:BOROFLOAT® 表面质量:60-40表面精度:λ/8订购信息：直径 (mm)有效焦距EFL (mm)孔径 (f/#)涂层涂层规格产品号107.951143f/10.6Protected AluminumRavg85% @ 400 - 700nmRavg90% @ 400 - 2000nm#50-051152.41524f/10Protected AluminumRavg85% @ 400 - 700nmRavg90% @ 400 - 2000nm#71-026

高精度36-补丁动态范围测试图36-Patch Dynamic Range Test Chart此图有36个低噪音密度补丁，密度范围是一个从约0.1密度级开始到最大3.2密度级。此测试图被制造用于最佳密度范围、低噪音、精致细节下检测高精度LVT电影录音过程。This chart has 36 low-noise density patches with density steps of approximately 0.1, for a density range of at least 3.2 (density from base to base + 3.1 minimum). A nearly circular patch arrangement ensures that vignetting has minimal effect on results. A CSV reference file with actual densities will be supplied. The chart has an active area of 197x235 mm (7.75x9.25 inches) on 203x254 mm (8x10 inch) film.It also contains slanted edges in the center and corners with 4:1 contrast for measuring MTF. The edges have an MTF50 = 16 cycles/mm, which is about 3 times better than the best inkjet charts. Registration marks make the regions easy to select. A neutral gray background helps ensure that the chart will be well-exposed in auto exposure cameras (compared to charts with black backgrounds, which are sometimes strongly overexposed).It is supported by Stepchart, Multicharts, Multitest and can be used with the Dynamic Range postprocessor if several manual exposures are available. Dmax = 3.4 is sufficient for camera phones and digital cameras with small pixel sizes, but high-end DSLRs generally have higher dynamic ranges (and also manual exposure), which makes them well suited for Dynamic Range.This chart is produced with a high-precision LVT film recording process for the best possible density range, low noise, and fine detail.LVT Targets with reference files are guaranteed to remain accurate for one year from first use. After this time the targets can be returned for re-calibration and will be returned with a new reference file.1、厂家货源正品官方直售，公司生产周期短，出厂严格检测，货品品质保障，可通过国家计量院计量。2、关于尺码机身和包装尺寸为手动测量，由于测量工具和测量方法不同的因素，会存在1cm误差，但是不用影响运输和使用。3、关于颜色本店产品都是实拍图片，但是由于不同显示器分辨不同以及色温和对比度差异有所不同。4、关于客服可以通过阿里旺旺随时联系我们，如果旺旺回复不及时，也可以拨打我们的热线电话 张工：13310057377 （技术与销售一体，直达客户需求）5、关于售后我们将提供完整的售后服务，包括15天退货，正品保证，交期保障等等。6、关于发货本店根据货物及客户需求，尽可能选择快捷方便的物流运输服务，一般情况发顺丰快递！

高精度工业除湿机，湿度1%可调 新闻资讯报道：在工业生产中，环境湿度的变化会直接影响产品的加工工艺，以及其品质！一般的工厂企业都需要将车间，仓库等环境的湿度控制在适宜的范围之内，这样才能保证车间的正常生产，产品的品质及储存安全！尤其是在潮湿的天气里，须及时做好车间的湿度控制和仓库的防潮除湿工作！在以前，很多工厂企业车间或仓库的湿度一般都是采用人工控制的方法，或采用排风机，转页扇等来通风排湿；但随意性较大，根本无法实时、精确、快速的达到工业生产所需的湿度要求！到底有什么方法可以方便有效的解决这个问题呢？其实，也很简单；选择使用正岛ZD-8168C高精度工业除湿机及ZD系列空气除湿机，即可在生产过程中实现对车间环境湿度的智能控制。正岛ZD-8168C高精度工业除湿机技术参数，产品图片：型 号ZD-8168C点击此处查看高精度工业除湿机全部新闻图片除 湿 量168升/天 适用面积150～200m 2(H:2.8m )电 源380V~50Hz输入功率2800w循环风量2100 m3适用温度5-38℃设备重量126kg体积(宽深高)605X410X1650mm控制方式全自动湿度控制正岛ZD-8168C高精度工业除湿机适用面积150-200m 2左右,除湿量为168升/天,广泛的适用于精密电子、光学仪器、生物工程、医药、包装、食品、氯化锂电池、印刷业、地下工程及国防等所有场所。备注：该系列产品可与环境试验设备以及环境监测仪器等温湿度相关仪器设备配套使用，也可作为其中的一个核心配件！查看更多高精度工业除湿机，湿度1%可调的详细信息尽在：正岛电器欢迎您来电咨询高精度工业除湿机，湿度1%可调的详细信息！工业用除湿机的种类有很多,不同品牌的工业用除湿机价格及应用范围也会有细微的差别,而我们将会为您提供优质的产品和全方位的售后服务。正岛ZD-8168C高精度工业除湿机及ZD系列空气除湿机产品六大核心配置优势：优势一：【整机内结构精巧】优势二：【高效节能压缩机】优势三：【配套内螺纹铜管】优势四：【大风量高效风机】优势五：【微电脑自动控制】优势六：【配多重安全保护】工业用除湿机厂家记者核心提示：正岛ZD-8168C高精度工业除湿机及ZD系列空气除湿机在工业生产车间，产品储存仓库等环境湿度控制，防潮除湿方面上的应用有着很大的优势的，特别是南方的梅雨天里，潮湿的空气对工业生产造成很大不便的时候，在很多工厂企业中的应用是非常普遍的！面对电子厂房、印刷车间、食品仓库、机房、实验室等诸多对湿度有较高要求的场所，正岛ZD-8168C高精度工业除湿机及ZD系列空气除湿机的作用就能发挥出来了，不仅可以为你精确的控制室内环境的湿度，还可以帮你除去空气中的湿气，为你提供一个相对干爽舒适的环境。以上关于高精度工业除湿机，湿度1%可调的最新相关新闻资讯是正岛电器为大家提供的！您可以在这里更详细地了解高精度工业除湿机，湿度1%可调的最新相关信息：空气除湿机出了故障的时候，最好咨询专业的维修人员再进行维修。如果是除湿机除湿效果不好了，可以从以下几个方面来考虑：一是通风系统的问题。进风口和出风口是不是已经阻塞了，有没有零部件的老化和龟裂等现象发生。除湿机的冷凝器上是不是有了灰尘，蒸发器上面有没有结冰的现象发生。除湿机上面的电容器损坏也会影响除湿机的除湿效果。电机有了问题，不管是转子和轴松动还是轴承损坏，都会让除湿机除湿效果降低。风扇风叶上面的固定螺丝如果松动，就会出现异常的噪音。风叶变形就会导致除湿机不能使用。除了这些毛病，除湿机电器系统出了问题也会导致除湿效果差。电源切断以后，不用说除湿机就不工作了，一定不能除湿了。除湿机的开关没有闭合，和切断电源一样的道理。插座没有插好，电压过低，保险管已经烧断等都是引起除湿机停止工作的原因之一。当除湿机内部的制冷剂泄漏以后，除湿机照常工作，可就是除湿效果上不去。制冷系统堵塞以后，不管是油堵还是脏堵，都会影响除湿机的效果。但除湿机噪音出现异常的时候，首先要检查一下除湿机是不是放在平稳的地方了。如果这个原因排除了，就看看除湿机上面的零件是不是有的松动了。把螺丝零件等紧一紧。家里有孩子把异物放进了除湿机的出风口，也会造成除湿机噪音异常。风扇变形会造成很大的噪音。不管是什么原因，一旦发现除湿机有异常的声音，一定要停机断电进行检查。

产品特点：?优异的性价比，低价格却可达到相近于高端膜厚计的测量再现性。?中文化操作介面，入门简易、沟通无障碍。?提供完整测量教学、技术支援、点检校正等售后服务。?采用标准样品验证膜厚精度与再现性，确保追溯体制的完整。?显微镜聚焦下的微距口径测量。产品规格： 测量规格膜厚范围200nm~20μm波长范围400nm~780nm膜厚精度±1nm以内重复更现性(2σ)0.5nm以内选配品样品台尺寸200mm×200mm以内可容制化测量口径（10倍物镜时）Φ20μm、Φ40μm、Φ60μm电脑设备需支援至少三个USB以上之笔记型或桌上型电脑作业系统WindowsXP/7（32bit）测量物镜5倍、10倍、20倍软件功能膜质解析N：折射率、k：吸光系数膜厚测量法FFT法、波峰-波谷法、曲线近似法（Fitting）应用范围： 半导体晶圆膜、FPD薄膜材料、树脂膜、光阻膜、氧化膜、包装膜、光学镀膜、抗反射膜、透明或半透明膜层应用范例：Si基板上99.4nm的SiO2膜Si基板上1018.2nm的SiO2膜

是否提供加工定制：否品牌：德国PG型号：SMART类型：微量移液器结构形式：可调式移液器测量范围：0.1~10000μl重量：0.5（kg）适用范围：所有液体颜色：黑色VOLAC SMART新一代微量移液器：具有高性能、高精度的优势，使用特殊的防物理/化学腐蚀材料， 100%抗紫外线，又轻又坚固耐用，可整支高压灭菌。颜色识别系统能让您更容易地辨认型号。校准符合ISO 17025国际标准，有单个质量认证和符合ISO 8655检验报告。产品优点：设计符合人体工程学活塞的动作平稳握在手里很轻松适合左手/右手使用特殊的PTFE密封件手柄的材料为特殊的弹性热塑性的包膜，可防止在使用较长时间后人体的温度影响移液器的精度四位数字显示，精确易读Click stop结构能防止无意的量程调节错误移液时显示屏始终清晰可见Soft-Touch轻触式吸头拆卸简易校准目录编号刻度μlOFSSVA-1250.002OFSSVA-1000.02OFSSVA-2000.1OFSSVA-5000.1OFSSVA-6001OFSSVA-7000.02OFSSVA-8000.2OFSSVA-90510OFSSVA-100020

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

高精度湿度感应型除湿机 新闻资讯报道：据了解，全国各地有不少的工厂或企业都会遇到潮湿问题；特别是一到下雨天，潮气重湿度大，无孔不入的潮湿空气就会源源不断地侵入到其生产车间之中，势必会对正常的生产以及产品的品质造成诸多不利的影响和危害；而仓库环境空气一旦过于潮湿了，那么用于生产的原材料和已生产出来的产品都会面临受潮的威胁！ 潮湿的空气极易导致原材料及其制成品在生产储存过程中吸湿受潮出现发霉变质、腐蚀生锈等不同程度的损害；而且，很多工厂企业的工业厂房内老化的线路在遇到潮湿的空气时更会导致电路短路或漏电等问题，有可能引发安全事故，从而给工厂企业造成不必要的危害和经济损失。 因此，为了能有效解决工业车间湿度控制，以及仓库潮湿的问题，现在很多工厂企业都配置了相应的正岛ZD-8168C高精度湿度感应型除湿机及ZD系列全自动空气除湿机来对车间、仓库等环境的湿度进行精确的控制，一般情况下只要将湿度控制在50-60%RH之间，即可确保工厂企业工业生产储存的安全。 正岛ZD-8168C高精度湿度感应型除湿机及ZD系列全自动空气除湿机具有智能湿度恒定控制系统，用户可根据生产的需要，自动控制除湿机的工作及停机，通过自动控制实现最有效的除湿效果，降低整机运行成本。 正岛ZD-8168C高精度湿度感应型除湿机及ZD系列全自动空气除湿机严格采用专业的技术和精湛的工艺制造出高效、节能、环保的除湿机产品，被广泛应用于企业仓储，车间生产，商务办公，科研实验，家居生活，资料档案，文物古迹，生物制药，食品加工，消费餐饮，休闲娱乐等场所，得到众多用户好评，在市场上享有美誉。 点击此处查看高精度湿度感应型除湿机全部新闻图片欢迎您来电咨询高精度湿度感应型除湿机的详细信息！工业除湿机的种类有很多，不同品牌的工业除湿机价格及应用范围也会有细微的差别，而我们将会为您提供优质的产品和全方位的售后服务。正岛ZD-8168C高精度湿度感应型除湿机技术参数，产品图片：型 号ZD-8168C除 湿 量168升/天 适用面积150～200m 2(H:2.8m )电 源380V~50Hz输入功率2800w循环风量2100 m3适用温度5-38℃设备重量126kg体积(宽深高)605X410X1650mm控制方式全自动湿度控制正岛ZD-8168C工业除湿机适用面积150-200m 2左右，除湿量为168升/天，广泛的适用于精密电子、光学仪器、生物工程、医药、包装、食品、氯化锂电池、印刷业、地下工程及国防等所有场所。正岛ZD-8168C高精度湿度感应型除湿机及ZD系列全自动空气除湿机技术参数与选型参考: Ａ 型号：ZD-228LB　除湿量：28（升/天）适用面积：10-30(㎡) 功率：420（Ｗ）Ｂ 型号：ZD-558LB　除湿量：58（升/天）适用面积：30-60(㎡) 功率：670（Ｗ）Ｃ 型号：ZD-890C 除湿量：90（升/天）适用面积：60－90(㎡) 功率：1700（Ｗ）Ｄ 型号：ZD-8138C　除湿量：138（升/天）适用面积：100-170(㎡) 功率：2000（Ｗ）Ｅ 型号：ZD-8166C　除湿量：166（升/天）适用面积：120-170(㎡) 功率：2200（Ｗ）Ｆ 型号：ZD-8168C　除湿量：168（升/天）适用面积：170-180(㎡) 功率：2800（Ｗ）Ｇ 型号：ZD-8240C　除湿量：240（升/天）适用面积：180-240(㎡) 功率：4900（Ｗ）Ｈ 型号：ZD-8360C　除湿量：360（升/天）适用面积：240-360(㎡) 功率：7000（Ｗ）I型号：ZD-8480C　除湿量：480（升/天）适用面积：360-480(㎡) 功率：9900（Ｗ）■选型注意事项－－除湿机的除湿量和型号的选择，主要根据使用环境空间的体积、新风量的大小、空间环境所需的湿度要求等具体数值来科学计算。查看更多高精度湿度感应型除湿机的详细信息尽在：正岛电器本站新闻记者核心提示：不管是什么工厂或企业在工业生产储存的过程中都会遇到一些问题，比如潮湿问题，就是工业生产储存中经常遇到的，且难以解决一个问题，给工厂企业，每年都会大量的厂家的车间仓库内受到潮湿空气的侵袭，大批产品受潮后而无法正常使用，甚至是报废，这对每一个工厂企的发展都是极其不利的。不过，现在可以通过使用正岛ZD-8168C高精度湿度感应型除湿机及ZD系列全自动空气除湿机来对车间、仓库等环境进行合理的除湿，能够实现对相对湿度的精确控制，为工厂企业的生产储存提供了一个最为适宜的湿度环境，从根本上解决了工业生产车间、储存仓库等环境的潮湿问题！以上关于高精度湿度感应型除湿机的全部新闻资讯是正岛电器为大家提供的！