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高速颗粒缺陷扫描仪
仪器信息网高速颗粒缺陷扫描仪专题为您提供2024年最新高速颗粒缺陷扫描仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括高速颗粒缺陷扫描仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的高速颗粒缺陷扫描仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合高速颗粒缺陷扫描仪相关的耗材配件、试剂标物,还有高速颗粒缺陷扫描仪相关的最新资讯、资料,以及高速颗粒缺陷扫描仪相关的解决方案。
高速颗粒缺陷扫描仪相关的方案
思看科技三维扫描仪3小时完成15米以上超大型水轮机焊接件三维检测
借助先进的思看科技 激光 3D 扫描仪 可以帮助能源企业精准识别和预测生产制造过程中潜在的质量缺陷和问题,提高水电设备的运行效率和稳定性,降低维护成本,以高精度三维测量赋能能源企业数字化 、智能化转型。
高低温试验箱检测心电图扫描仪性能
本试验方案利用高低温试验箱对心电图扫描仪进行性能检测。通过设置不同的高低温环境,包括低温、高温和温度循环,对心电图扫描仪的信号准确性、稳定性、噪声水平和功能完整性等性能指标进行评估。试验过程中详细记录数据,并进行分析,以确定心电图扫描仪在极端温度条件下的性能表现。该试验方案可为心电图扫描仪的质量控制和可靠性评估提供重要依据,有助于提高产品的性能和安全性。
高精度工业三维扫描,先临三维扫描仪助力三一重装提升超大型矿车生产能力
高精度工业三维扫描,先临三维扫描仪助力三一重装提升超大型矿车生产能力!
能源行业数字化:3D扫描技术助力油气管道表面缺陷三维测量与评估
针对油气管道的特有属性,融入3D扫描技术和智能模型算法,突破传统测量方法所面临的局限性,能够让管道表面缺陷的识别和度量过程更加精准、高效。
玻璃条纹缺陷的SPM-EPMA分析
本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和电子探针EPMA对三类玻璃条纹缺陷进行了测试和分析。在玻璃制品生产过程中,产生条纹的因素有很多,对于玻璃条纹缺陷形态、成分及元素分布特征的表征可以为条纹缺陷产生的原因提供分析思路和针对性的解决方案,为质量管控和工艺优化提供指导。
有机颗粒样品扫描电镜分析
飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统(Phenom Particle Metric),简称颗粒系统,由荷兰 Phenom-World 公司发布于 2013 年 11 月。颗粒系统通过颗粒与背景衬度的差异对颗粒进行图像识别,在获取 SEM 图像的同时可以获取所有颗粒的形貌数据,例如直径、等效面积、等效体积、圆度等。并且可以将这些数据进行统计。颗粒探测范围:100 nm - 0.1 mm,颗粒探测速度高达 1000 颗/分。
飞纳台式扫描电镜颗粒系统让质量控制部门如虎添翼
飞纳台式扫描电镜结合颗粒系统使用。利用颗粒分散仪,颗粒系统做出来的颗粒系统非常漂亮,每个颗粒都能读取出来。颗粒统计分析测量系统引起用户兴趣,用户是质控部,想利用颗粒系统找出团聚颗粒杂质。这正是颗粒系统另一优势:在规则的颗粒样品基础上找出不规则的颗粒。
无缝钢管典型缺陷分析研究
利用金相显微镜、扫描电镜和能谱仪等分析手段对无缝钢管典型缺陷进行了分析研究,描述了典型缺陷的宏观特征和微观形貌。讨论了钢管典型缺陷的成因和危害,提出了改进措施。
优质扫描数据展示 | 三维扫描仪还原工件细节程度,且看天远OptimScan 9M
天远OptimScan 9M扫描优秀数据,让我们一起来感受三维扫描仪还原工件细节所能达到的效果。
钢轨探伤缺陷的成因分析
本文利用扫描电镜、金相显微镜等仪器对钢轨的探伤缺陷进行了检测,结果分析表明缺陷是由于铸坯裂纹经加热产生局部过烧后在轧制过程中穿水所致。
改进型高速扫描DSC方法在测定纳米复合材料的比热容及探索高温反玻璃化作用中的应用
近年来在纳米复合材料方面引起了大家极大的兴趣-采用小尺寸微粒填料-来改善热塑性和热固性材料的特性。通过测量复合材料玻璃化转变(Tg)过程中比热容(Cp)变化情况是快速定量颗粒填料对基体材料性能影响的方法之一。克里斯多佛• 希克证明了可以利用高速扫描DSC(Hyper DSC)技术来测试刚性无定形部分,也可以用于探寻刚性无定形部分是否在玻璃化转变温度与受到升温速率抑制的分解起始温度之间存在刚性无定形部分的反玻璃化转变过程。在本文的研究中,我们引用了克里斯多佛希克讨论过的结论,证明了高速扫描DSC表征纳米复合材料的强大能力。采用本文中证明的快速升-降温方法,可以将精确的比热测定范围扩展到较高温度区间。这有助于鉴定无定形聚合物体系的反玻璃化作用-纳米复合材料键的松弛过程。这种方法进一步扩展了功率补偿型DSC在亚稳态聚合物体系中的应用。
智能自定位 创领高效率 FreeScan Trio 三目激光手持三维扫描仪
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3D扫描仪:大型房车个性化定制改装方案!
三维扫描仪不受体积和空间限制,可以随身携带到车身任意位置开展测量,还能实时生成高质量的车身三维数据,指导我们的开发人员更直观、更高效地完成车辆的定制化改装设计工作,大大提高了工作效率,为我们节省了时间和人力成本。
焕新而来 出彩视界 EinScan H2 双光源彩色手持3D扫描仪
焕新而来 出彩视界 EinScan H2 双光源彩色手持3D扫描仪。
Xslicer SMX-6010观察LED芯片焊接缺陷
本文介绍了一个运用Xslicer SMX-6010微焦点X射线检查装置对LED芯片的实例观察。针对整个芯片透视,没有发现缺陷。再放大观察发现两个LED芯片有气泡并测量其中一个芯片的气泡面积。再倾斜角度放大观察芯片圆环有焊接气泡。再使用CT扫描芯片中的圆环,能够清晰观察出内部焊接气泡并测量气泡面积比,并使用3D图直观显示。
3D扫描仪:激光熔覆快速修复钻头刀口
钻机是钻探事业的躯体,其性能和状态直接影响到钻探工作的效率和质量。钻头作为钻机中的核心部件,必须确保处于最佳状态,以充分发挥其在钻探作业中的关键作用。借助思看科技先进的3D扫描仪可以保障钻机性能优良、状态良好,提高钻探效率,减少故障和事故发生,为企业提高经济效益。
探索三维扫描世界的无“线”自由,先临三维FreeScan UE Pro2全新上市
矢志于精益求精与持续创新,先临三维于5月7日强势推出工业计量全新力作——FreeScan UE Pro2无线高速激光手持三维扫描仪。此番创新融合了嵌入式边缘计算模块,实现无线传输功能,引领三维扫描领域迈向一个无“线”自由的新境界。
3D扫描仪:助力高压电导电部件焊接钢爪质量检测
三维扫描仪在电力设备质量检测中也具有广泛的应用前景。除了钢爪,它还可以用于检测其他部件,贯穿于产品开发、生产及维护等全生命周期的三维数据获取及检测分析,保障设备的性能和安全运行。
电子探针分析氧化铝陶瓷的烧结缺陷
为了降低氧化铝陶瓷的烧结温度,使用添加剂是一种常用的有效方法,这种方法对原材料质量和烧结工艺的控制也有不同的要求。本文借助电子探针显微分析仪对一类低温烧结氧化铝陶瓷表面缺陷的问题进行了分析。结果表明:相较于正常烧结件,有缺陷的色彩异常的烧结件,原材料颗粒较粗大,残存有未熔的添加剂颗粒物,但不同颜色区域的微观形貌差异并不明显,主要是由于微观区域的元素面分布差异导致了肉眼可见的色彩异常。针对正常烧结件,也给出了进一步优化工艺的建议。
飞纳扫描电镜的三头六臂之颗粒统计分析测量系统
飞纳扫描电镜以卓越的微观检测能力被大家熟知,简单的操作、方便的测样、快速的成像以及友好的界面为飞纳带来了不少粉丝。其实,飞纳电镜除了强大的微观检测能力之外,它也有许多实用的可拓展功能。飞纳电镜的这些“三头六臂”让客户在进行微观分析时如虎添翼,今天就来谈一谈其中被很多人关注的 颗粒统计分析测量系统。
使用微型 ATR FTIR 成像系统在电子和半导体行业中进行无损故障/缺陷分析
电子和半导体行业高度依赖于故障和缺陷分析,以最大程度提高工作效率并缩短昂贵的停机时间。随着技术的不断发展,生产出的设备越来越小巧,而其生产工艺也越来越复杂精细。因存在颗粒物和化学污染物引起的高成本停机对正常生产操作的影响越来越大。任何污染物的出现都需要停止生产过程,同时准确并可靠地表征缺陷、确定污染源并设法补救。最大限度缩短完成这一过程所需的时间, 实际上能够节省数百万美元之多。 安捷伦 Cary 620 化学成像系统利用 FPA(二维矩阵检测器元件,可产生行和列像素)来采集精密组件表面的真实组成图像。
营养缺陷型菌株的应用注意事项
营养缺陷型不仅被广泛应用于阐明微生物代谢途径上,而且在遗传学的研究中具有特殊的地位。在转化、转导、原生质体融合、质粒和转座因子等遗传学研究中,营养缺陷型是常用的标菌种。此外,营养缺陷型菌株还是研究基因的结构与功能常用的材料。
在线颗粒计数仪在过滤过程的应用
监测和优化过滤过程是颗粒物计数仪(OPC-2300)最重要的应用之一,通过使用颗粒物计数仪监测滤池的进水、出水,可以得出很多信息,并根据这些信息对滤池进行优化。可以用来准确选择滤池反洗周期、及时发现滤池穿透、确定初滤水的排放时间、发现滤池设备损坏及土建缺陷、监测滤油过滤效率、选择滤池的合理流量等等。有研究表明,滤池出水处,颗粒物计数仪的灵敏度要比浊度仪高出100倍。
为什么扫描电镜(SEM)是表征纳米颗粒的实用技术
微观颗粒 —— 这类颗粒非常有趣,因为它们被广泛应用于陶瓷、食品工业、电子、聚合物和塑料、化妆品和制药等领域。经证明,这些颗粒的大小和形状会影响材料的性能。一般而言,大多数材料都与尺寸相关。相同材料在纳米尺寸上的物理性质不同于宏观尺度上的物理性质。造成这种现象的有几个因素:首先,当材料到达纳米尺寸,经典力学不再能够描述这些过程,需要用到量子力学来描述。此外,材料的尺寸越小,比表面积增大,可能会影响材料的某些性能。
扫描电镜带你认识小可爱的淀粉颗粒们
肉眼可见的食物颗粒大小,会影响食物的消化速度,也会影响糊化速度。那微观上,这些淀粉颗粒大小和形貌是怎么样的呢?飞纳电镜就是这么贴心,立马采样快速出图,帮你认识一下微观世界那些可可爱爱的颗粒们。
类金刚石(DLC)膜及其表面缺陷的岛津电子探针分析
使用岛津电子探针显微分析仪EPMA-1720对某类DLC(diamond-like carbon,类金刚石)膜的表面缺陷进行了观察、元素测试及元素面分布特征分析。确认了缺陷中元素的种类和含量、元素在缺陷位置的分布特点,讨论了表面上尺寸大小不等的微观点状缺陷可能会带来的工程材料失效问题。
基于高光谱成像技术的苹果表面缺陷无损检测
苹果在生长过程中,经常会受到各种因素的影响导致苹果表面出现缺陷,从而影响苹果的外观,甚至使其丧失了可食性,极大地影响了苹果的品质和分级销售。由此可见,对新鲜苹果的表面缺陷检测显得尤为重要。传统的检测方法大多是人工操作,耗时耗力,而且效率低,无法满足大规模生产的需求。因此,开发研制一种快速、无损、高效的苹果表面缺陷检测方法在水果分级检测领域中具有较好的应用前景。
采用高速扫描DSC技术表征单纤维样品在法医鉴定领域中的应用
在本应用研究中,采用功率补偿型DSC的高速扫描DSC方法对两种不同的单纤样品进行了分析。极快的升温速率可以显著提高信号的灵敏度,为成功表征非常小质量材料的特性提供了基础,同时为为法医学鉴定目的提供了有用的“指纹”信息。功率补偿型DSC和高速扫描DSC方法为法医学常用手段-红外显微学作了有效补充。珀金埃尔默公司是唯一一家能够同时提供高速扫描DSC和红外显微系统的公司。
Enlitech的SG-A量子效率检测与传统CIS缺陷检测有何不同?
内行一看就懂: Enlitech的SG-A量子效率检测与传统CIS缺陷检测有何不同?
单晶硅片 中缺陷的研究
随着信息技术及太阳能光伏电池产业的飞速发展,半导体硅产业发展到了新的高潮。硅单晶材料在增大直径的同时,对其结构、电学、化学特征的研究也将日益深入;缺陷控制、杂质行为、杂质与缺陷的相互作用以及提高单晶硅片的表面质量已经是工艺技术研究的主攻方向。在光伏产业中广泛采用太阳能电池的单晶硅材料中存在着高密度的位错、金属杂质或晶界等缺陷,而这些缺陷和杂质的交互作用使得太阳能电池的转换效率显著下降,因此观察这些硅材料中缺陷和杂质的交互作用对于采用合适的吸杂工艺提高太阳能电池的转换效率有着十分重要的作用。
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