光伏硅锭应力测量仪

在PA系类设备的基础上，加装晶圆专用的装置，可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

Xstress 3000 G3残余应力测量仪根据的是布拉格定律，使用X射线来测量残余应力和残余奥氏体，适用于所有多晶体材料(包括陶瓷)。Xstress 3000 G3残余应力测量仪主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。Xstress 3000 G3残余应力测量仪技术指标：电缆线：标准配置为5米电源：100-240 VAC，50/60Hz，600V尺寸：主控单元 X3003：552x413x254mm测角仪 G3：555x492x574mm测角仪 G3R：966x573x605mm北京华欧世纪光电技术有限公司主要代理各类残余应力分析仪，磨削烧伤检测仪，齿轮-轴承-曲轴-凸轮轴表面烧伤质量检测仪，便携式应力检测仪，巴克豪森噪声法磨削烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。用户主要面向航天、航空，石化、电力，核工业、3D打印、锅炉压力容器，机械加工与制造，汽车制造，科研机构，高校等领域。

主要简介： 汽车车窗玻璃幅面很大，一般桌面式测量双折射/残余应力测量仪无法测量，扫描测量由非常慢，无法满足实际使用，因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA双折射测量仪，会根据客户样品定制大型圆偏振光光源系统，实现大幅面样品的高速测量。设备在日本的汽车厂商得到广泛应用。 主要特点： 解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。 测量速度快，可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。采用523nm,543nm,575nm三种波长，相位差测量范围高达3000nm。采用广角偏振面阵传感器，一次得到测量结果。专用操作软件，功能强大，操作简单，便于做分析比较和品质判断。 主要参数：测量案例：

光弹性系数测量仪姓名：田工(Allen)电话：（微信同号）邮箱：光弹性系数是材料的特性常数 主要是透明材料在受力后，会出现各项异性产生双折射现象。通过光弹性系数以及双折射测量，可以获得材料内部残余应力(Mpa)的值昊量光电提供的设备通过高精密应力双折射测量，可以实现对设备实时应力双折射值（nm）观测采集。于此同时，光弹性系数测量仪 通过高精度加压加力装置，同时获得外部压力（Mpa), 从而获得材料在一定压力下，对应光程差转换常数(nm/Mpa）光弹性系数测量仪产品通过共径干涉仪和基于傅立叶分析法，实现以速度快，精度高，不受振动和空气波动等干扰等特点的双折射测量，系统采用高稳定激光光源（2mw），实现优化化光学元件配置，实现长期几乎免维护时间光弹性系数测量仪参数:变形方式：拉伸/压缩测量样品尺寸：用于拉伸试验：10 x 80 mm用于压缩测试：Φ20mm，薄15mm厚度：0.3 至 15 毫米驱动系统：步进电机左右螺杆同时驱动拉伸压缩距离：100 毫米称重传感器：额定 50 N（可更换为 200 N、1000 N）恒温层控温：室温-200℃温控精度：±1℃光弹性系数测量仪可测量内容：光学特性 光弹性常数、双折射机械性能弹性模量（杨氏模量）、断裂强度通过这些测量，可以进行弹性区域的形态分析以及拉伸特性和取向特性的分析。 光弹性系数测量仪补充基本原理:让具有双折射的样品通过两频正交线偏振光（STZL 振荡光），使其主轴与偏振面重合。每个偏振分量通过样品的速度在样品的“双折射快轴”和“慢相”方向之间不同。因此，通过样品后，会出现“相位差”。通过使用光学外差干涉法检测相位差，可以高精度地定量测量样品的双折射量。外差干涉法测量双折射：通过叠加两个频率略有不同的波，可以观察到等于频率差异的“拍频”。从这个拍品中提取必要的信息称为外差法。由于光也是一种波，它自然会产生“频率“从“光学节拍”中提取信息称为光学外差干涉法。在调音中，我们经常使用音叉。考虑用它来调整你的吉他。一开始，如果在琴弦松动的情况下拨动琴弦同时使音叉发出声音，将分别听到琴弦的声音和音叉的声音。当琴弦逐渐拉紧时，整体听起来像是一个声音，但如果仔细聆听，您会发现声音以非常快的周期重复强弱（状态 1）。随着琴弦进一步拉紧，声音强度的周期逐渐变长（状态 2），最终声音的强度完全消失（状态 3）。这种声音的强度称为“节拍”。当两种声音（波）的频率不同时，感觉节拍就是不同的频率。当音叉音与弦音的频差较大时（状态1），节拍周期快（节拍频率大）。随着两个声音之间的频率差变小（状态 2），节拍周期变慢（节拍频率变小）。这样，两波重叠就产生了“拍”，拍的频率就等于两波的频率差。在这种情况下，音叉的频率是恒定的，因此如果将其视为参考信号，则可以通过拍频来区分（=检测）琴弦的频率，即声音的周期强度。在光的情况下，会发生与声音相同的现象。也就是说，当两种频率略有不同的光叠加时，就会产生与不同频率相等的光拍。这种称为“光节拍”，而光节拍的频率有时简称为“节拍频率”。光节拍被检测为光强度的周期性变化（明暗变化）。如果您向两个光之一提供一些信息，该信息将相应地出现在光学节拍中。这里的信息意味着为光的振幅、相位和频率提供某种信号。换句话说，当一个光具有某些信息时，可以在该光上叠加另一个“参考”光（这称为参考光）并从光拍频信号中提取信息。这种信号检测方法称为“光外差干涉法”。光学外差干涉测量具有以下特点。通过使用锁定放大器等检测信号，可以进行高精度、高灵敏度的测量。当信号信息仅为相位信息时，不受干扰引起的信号光强度波动的影响。它不受不同频率的信号分量（一般是噪声）的影响。通过增加参考光的强度，可以检测到微弱的信号。等等通过相关计算公式最终可以获得待测双折射：主轴方向的同时测量：但是，在上述方法中，（1）必须事先获得样品的双折射主轴方向，（2）主轴方向必须与振荡STZL 的偏振面... 因此，在围绕光轴旋转STZL振荡光的偏振面的同时检测相位差，同时获得双折射量及其主轴方向。为了使偏振面绕光轴旋转，我们利用了半波片的“将发射偏振面旋转了入射偏振面与波片主轴夹角的两倍”的特性。该图显示了使用光学外差法同时测量双折射量及其主轴方向的光学系统。在这种光学外差干涉仪中，STZL 振荡光的两个偏振分量通过完全相同的光路，从光源到光电探测器。因此，扰动的影响——例如振动和空气波动——将影响完全相同的两个极化分量。结果，由这些干扰引起的所有噪声分量都被抵消了，而光差拍信号根本不受影响。一般的光学干涉仪都需要实验设备来去除振动和空气波动，但根据这种测量方法，这种设备是不需要的。这是进行光学测量的一大优势。辅助信息：双折射当光从空气进入透明材料时，光在边界处发生弯曲。换句话说，行进方向发生了变化。这是由于空气和透明材料的不同特性。在我们周围的环境中，当我们进入浴缸或游泳池时，我们可以通过让我们的手臂看起来弯曲在水面上来体验它，水中的东西看起来比实际更近或更大。当光以这种方式进入不同的物质（例如，从空气到水）时，光传播的方向发生弯曲，称为“光的折射”。那么光为什么会折射呢？原因是光通过材料时，其通过的速度不同。从感官上来说，我们可以理解，在水中行走和在陆地上行走，在陆地上的速度要快得多。由于水的密度比空气大，阻力相应增加，所以你不能走得快。粗略地说，你可以用同样的方式来思考光。“当光线穿过致密的材料时，通过的速度会变慢。”如下图A所示，尝试将手腕浸入水中。然后，如果像 b 一样将手移向黄色箭头，由于水的阻力，手会自然弯曲。那时，手背会略微朝下。其实光行进的方向可以用这种方向来表示。在光的情况下，手背的方向称为“波前”。换句话说，当光线进入折射率高的地方时，光线的波阵面由于其电阻而弯曲，结果光线的行进方向发生弯曲。这就是光的折射。折射度因物质而异，每一种都有唯yi的值。

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数： 项次项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm 3双折射测量范围0-130nm4 测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度 1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准） 7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8 选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

HYJG-1智能尖轨降低值测量仪 数显尖轨测量尺 钢轨降低值测量仪 　　尖轨自身的加工误差和尖轨磨损导致轮对与直尖轨和基本轨组合受力不良，直尖轨降低值不符合要求是道岔晃车的根本原因和引起晃车的重要原因。HYJG-1智能尖轨降低值测量仪是用来测量尖轨相对于基本轨的降低值以及心轨相对于翼轨的降低值的专用仪器。特点1、采用高精度激光传感器进行非接触式测量，探头沿导轨横向移动，满足不同位置的测量需要； 2、主机和测量尺拆装方便、组合定位准确。主机可测量心轨相对于翼轨的降低值；安装检测尺后，可测量尖轨对基本轨的降低值；3、测量精度高，测量结果实时显示；4、结构紧凑、重量轻，携带方便。技术参数测量行程：0～30mm主机：一键式多接口专用，无线可选，50x10mm IRS微型系统及1mm探头，测量精度更高更稳定探头横向移动范围：0～200mm测量精度：0.1mm测量时间：1秒/次工作时间：≥8h外形尺寸：1100X150X80mm重量：≤5kg

德国Sentech光伏测量仪MDPspot，灵活的自动扫描系统 具有成本效益的台式少子寿命测试仪MDPspot可用于表征晶片或面。它为少子寿命测量提供了一个测量点。 低成本桌面式寿命测量系统，用于手动操作表征不同制备阶段的各种不同硅样品。可选的手动操作Z轴用于厚度多达156毫米的样品。标准软件可输出可视化的测量结果。 MDPspot包括附加电阻率测量选项。只测量硅的电阻，对于没有高度调节可能性的晶片，或者对于砖。这两个选项中的一个必须是预先定义的。 优势。用于单点测量少子寿命的台式装置，可测量多晶或单晶硅在不同制备阶段，从成长到后面器件。。体积小，成本低，使用方便。附带一个基本软件，用于在小型电脑或笔记本上输出可视化的测量结果。。适用于晶片上的砖，易于进行高度调整。

主要简介：PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板A4纸尺寸的样品技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制测量案例：

HYXJ-3D智能站台建筑限界激光测量小车 双轨自行限界测量仪 智能站台限界激光测量分析仪HYXJ-3D智能站台建筑限界激光测量小车是一种采用区别于普通点式激光及激光雷达的电子传感器系统、激光成像系统、计算机处理系统等进行全断面限界检测的仪器。采用手推式非接触动态检测小车的测量方式，由人工推着在轨道上行走，自动测量所有限界数据（水平限界、高度限界、站台轮廓、风雨棚高度、水平超高等），曲线段自动计算和测量。软件系统实时完成限界检测、数据采集、数据分析处理和显示及超限判断，生成检测报表。其操作简单快捷、测量精度高、测量数据全面并实时显示、检测小车动态测量，提高了检测效率及节省人力成本。特点1．满足TB/T3308-2013铁路建筑实际限界测量和数据格式、Q/CR904-2022 数字式站台限界测量仪、JJG（铁道）197-2022 铁路建筑限界测量装置、JJF（CR）042-2021 站台限界测量仪的要求。2．仪器的核心采用以“高速细化+激光图像测量+脉冲触发数据采集”为特征的二级触发采样系统，不同于激光雷达，无旋转光电元件，可靠性高，数据稳定，精度高，使用寿命长。3．全自动连续扫描站台整个轮廓面并自动提取特征点，人员推着检测小车前行，仪器自动完成测量（测量过程不需手动操作界面）并实时同步显示站台、风雨棚、轨道等图像和图形数据，曲线段自动测量并自动计算超限；4．软件功能强大，具备计算机图上仿真作业的功能，实时现场数据和图像显示，操作简便，全中文界面。可输出标准限界报告，也可根据用户自定义格式输出。5．结构特点：走形轮为尼龙轮，强度高，耐腐蚀，绝缘性好；检测小车采用航空铝材，强度高，重量轻，携带方便；无支架式探头组与检测小车一体式设计，无需拼装，减少误差。技术参数走行方式：人工推行（电动自行走可选）站台面与钢轨顶面垂直高度范围：350-1300mm，精度≤2mm站台侧面到轨道中心水平距离范围：1500-2000mm，精度≤2mm风雨棚测量范围：0-7600mm，精度±2mm轨道超高：范围±200mm，精度±0.5mm轨距：精度±0.5mm识别及测量时间：＜1s对向精度：＜5‰亮度：串口控制，11档位可实时在线调节测量稳定性：全时感知，正反向功能≤1‰，≤2%RMS光纤耦合系统，IRS微调系统，双置3XLimW及自调节适配装置，AIO、L-sen、DiPro-Eh测量系统：全自动连续扫描式动态测量（非人工识别、非手动界面操作、非遥控按键等方式）；手推式检测小车，实时自动或定点测量，内置标准站台限界数据并可编辑、修改、录入，界面实时动态测量及显示数据、波形图、图像及二坐标图、超限分级、报警等且测量数据自动和标准数据实时对比，自动保存全部完整原始记录，生成EXCEL报表，并可根据每个段原有的数据模板进行打印校准方式：客户定期自行校验，无需返厂控制系统：笔记本电脑（全坚固型平板电脑可选）工作时间：≥4小时工作温度：-20℃～60℃尺寸：1620x400x230mm重量：≤13kg

德国Sentech光伏测量仪SENperc PV-太阳能电池制造中的质量控制解决方案SENperc PV 是PERC电池制造质量控制的创新解决方案。SENperc PV 测量Al2O3/SiNx堆叠层和用于钝化PERC电池的单层膜。监测沉积过程的稳定性。由此，可以优化维护时间间隔。 多晶硅和C-Si基太阳能电池的质量控制解决方案SENperc PV是为PERC太阳能电池制造质量控制而设计的。它测量SiO2、Al2O3和SiNX单层膜和叠层膜，这些单层膜和叠层膜用于PERC电池(多晶硅衬底和c-Si衬底)的正面反射和背面钝化。对沉积过程的稳定性进行长时间的监测。由此，优化了维护时间间隔。 Al2O3和SiNx薄膜的厚度和折射率指数测量SENperc PV 配备了基于配方的用于质量控制按钮操作。在样品台上放置一个PERC电池，涂有涂层的背面朝下以控制钝化层。晶体硅太阳能电池插入到一个特殊的晶片架来分析防反射涂层。不需要对准。杂散光不影响测量。测量到的厚度和折射率指数被保存到SQL数据库中。 SiO2、Al2O3和SiNx沉积的长期稳定性监测统计制程控制(SPC)被应用于PERC太阳能电池的评估。预置范围应用于良率分析。向操作人员提供直接和长期的反馈，以便立即进行干预。SQL数据库在本地以及通过LAN可访问，以支持电池跟踪和良率分析。除了按钮操作之外，SENpercPV还配备了强大的软件接口，用于新配方的研发。

德国Sentech光伏测量仪器MDPpro，激光扫描系统少子寿命测量仪器的特征在于以1mm分辨率对500mm的一个面在不到4分钟内完成扫描。电阻率和少子寿命的测量完全无触摸。利用微波检测光电导率(MDP)同时测量少子寿命、光电导率、电阻率和p/n导电类型的变化。 MPDPro设计用于对电特性进行分析，在四分钟的测量时间内，对1毫米分辨率，500毫米砖砖(或晶片)自动扫描。进行完全非接触测量。 MDPpro系列具有快速、灵活，自动扫描多晶硅砖和晶片的稳固设计。同时测量少子寿命、光电导率、电阻率和样品平整度，所有测量图形同时绘制。这个仪器的设置非常简单，仅需要电源。测量必要性包括了工作站与数据库。样品装载可以手动或由自动系统来完成。在1mm分辨率下，156x 156 x 400 mm标准砖的测量速度小于4分钟。电阻率自动扫描选项具有长时间稳定性而无需频繁重新校准。用于参考测量的校准库也是可用的。由于偏析和预期掺杂类型的过补偿导致的导电类型转换的空间分辨测量可以以高空间分辨率来研究。 该仪器被设计用于工艺和材料的质量监控，例如单晶或多晶硅。多晶硅砖切割标准的自动输出。能够根据炉子的输出质量进行单独的炉子监控进行优化和决定投资。MDPpro是多晶硅砖生产商以及炉子技术生产商的标准仪器。 优势脱机或晶圆的整体工具系列。少子寿命、光电导率、电阻率、p/n导电类型变化和几何样品平整度的同时自动扫描。对于156x 156 x 400 mm标准砖，测量速度小于4分钟，分辨率为1mm，所有5幅测量图形同时绘制。坚固耐用的设计和易于设置的性能。对于安装，仅需要电源。带有数据库的工作站包含在下面的隔间中。

MDPinline ingot 光伏测量仪器，快速自动扫描系统 多晶形貌少子寿命测量系统是为高产量生产用户而设计的。对于一个面，以1毫米的分辨率，无接触、无破坏地测量电阻率和少子寿命花费不到一分钟。电阻率和导电类型变化的自动扫描可用于质量控制和监测炉子性能。面可以自动转动，以便测量所有的四个侧面。 MDPinline ingot用于多晶表面形貌电气特性的系统，适用于高生产率的制造环境。总测量时间少于两分钟，分辨率为1毫米，且两面同时进行。 MDPinline ingot系统是全世界可用于多晶硅电气特性的快的测量工具。它被设计用于高产量生制造工厂的研究用途。每块砖都可以在不到两分钟的时间里同时测量两边的所有形貌。测量参数具有1mm分辨率的寿命和导电型等效图以及电阻率线扫描。 该系统包括数据库和统计数据评估，可用于提高良率精确切割位置的自动确定、材料质量监测以及炉子选择和工艺改进。 优势 。测量速度，用于先进的光伏工厂的在线多晶硅表征。用1毫米分辨率测量少子在两块上的寿命。同时测量了导电类型变化的空间分辨测量和电阻率线扫描。 。客户定义的切割标准可以传送到工厂数据库，该数据库允许为下一代光伏工厂进行全自动材料监测。从而实现了材料质量控制，监测炉的性能，以及失效分析。 。特殊的“表面以下”测量技术大大减少了由表面复合造成的数据失真。

HYXJ-1隧道限界测量仪 隧道断面及设备限界测量仪 激光限界测量仪 隧道限界检测小车 激光铁路限界测量仪　　HYXJ-1隧道限界测量仪是一种采用激光测量技术完成限界检测的仪器。测量主机安装在轨道小车上，测量时由控制器对主机进行控制、数据采集、数据计算、数据分析及界限判断，自动完成限界检测、数据采集、数据分析和处理，生成检测报告。　　HYXJ-1激光铁路限界测量仪可对隧道限界、铁路限界（如站台、信号机、风雨棚等）、桥梁、跨线桥、车站附属物限界、轨道相对隧道位置等数据进行准确测量，也可快速的测量铁路、地铁、城市轨道的站台及附属物限界尺寸和地下曲线车站站台边缘至机车轮廓线间间隔及附属物全断面、分断面、单点限界。测量软件并自动判断是否超限，自动生成图形和限界报表。特点能够同时测量铁路建筑物（如隧道及隧道设备、站台、信号机、风雨棚等）的垂直高度和水平距离。采用高精密传感器系统，测量速度快，提高检测效率。软件功能强大：标准限界数据可编辑、录入，测量数据自动和标准限界数据进行比较，操作简便，可以实现现场数据图像显示，更直观。符合铁路相关现场工作条件，具有防潮、抗烟尘、抗强光、电池供电等特点.结构特点：检测小车轻便，便于携带。技术指标测量范围：0.2～70m测量精度：±1mm角度精度：2"轨距范围：1410mm-1470mm（选配） 测量精度：±1mm水平（超高）范围：±200mm（选配） 测量精度：±0.5mm里程测量精度：优于1‰单次采样数：51个点（可设置）控制系统：一键式多接口用，50x10mmIRS微型外置，测量精度更高更稳定，无线可选数据存储量：大于3500组，可扩展操作软件：测量软件界面实时显示每个测点的水平距离、垂直高度及超限量。多模块兼容接口，hydcrack1.1-1A软件系统（标准限界数据可编辑、录入，测量数据自动和标准数据进行比较，可生成图形、Excel、CAD格式（DXF）、TXT等格式的检测报告）配可拆卸提手及检测小车工作温度：-20℃～60℃储存温度：-30℃～70℃尺寸：1500x230x1260mm总重量：＜12kg

SJ6000运动导轨精度快速激光干涉测量仪采用激光双纵模热稳频技术，可实现高精度、抗扰力强、长期稳定性好的激光频率输出；采用高速干涉信号采集、调理及细分技术，可实现高4m/s的测量速度，以及纳米级的分辨率；采用高精度环境补偿模块，可实现激光波长和材料的自动补偿。SJ6000运动导轨精度快速激光干涉测量仪结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。 产品优势1、激光干涉仪具有非常高的测量精度和重复性。2、激光干涉仪可以实现非接触式测量，不会对被测量物体造成损伤。3、激光干涉仪具有实时性测量能力，能够同时测量多个位置或参数，提高测量效率。测量软件特点（1）友好的人机界面；（2）丰富的应用功能模块；（3）向导式的操作流程；（4）简洁化的记录管理；（5）支持中文、英文和俄文界面；（6）支持企业专属模板定制。产品应用SJ6000运动导轨精度快速激光干涉测量仪是一种能够测量机床精度的高精度测量装置。它利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点，在机床加工领域有着广泛的应用。1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。 对数控机床进行螺距误差补偿部分技术规格稳频精度0.05ppm动态采集频率50 kHz预热时间≤ 6分钟工作温度范围(0~40)℃存储温度范围(-20~70)℃环境湿度(0~95)%RH线性测量距离(0~80)m (无需远距离线性附件)线性测量精度0.5ppm (0~40)℃角度轴向量程(0~15)m角度测量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″平面度轴向量程(0~15)m平面度测量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值，单位：μm；M为测量距离，单位：m)直线度轴向量程短距离(0.1~4.0)m 长距离(1.0~20.0)m直线度测量精度短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm垂直度轴向量程短距离(0.1～3.0)m 长距离(1.0～15.0)m垂直度测量精度短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m 长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m注意事项：平面度测量配置需求：平面度镜组＋角度镜组平行度测量配置需求：依据轴向量程范围，选择相应直线度镜组即可短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求：短直线度镜组＋垂直度镜组长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求：长直线度镜组＋垂直度镜组直线度附件：主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。上一篇： 无图晶圆粗糙度测量设备

中图仪器SJ5180系列长度激光测量仪采用高精度激光测量系统、精密研磨导轨、高精度温度环境补偿系统、双向恒测力系统、高性能计算机控制系统技术，能够检定精密量具、精密量规，如块规、环规、塞规、卡规、螺纹规、花键规、表类、尺类。还可以检测各种精密工件内外尺寸，如齿轮、花键、校对棒、非标量规等，具有通用性强的特点。产品应用SJ5180系列长度激光测量仪能实现各种长度参数的高精度测量，具有精度高、操作便携、稳定性强、功能齐全实用等优点。仪器主要功能1、标配功能：检测量块&块规：（0.1~1000mm）；光滑环规：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞规：φ1~φ220mm；螺纹环规：M5~M200（螺距0.8~4mm） 螺纹塞规：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；光滑卡规：内卡5~200mm，外卡1~300mm千分尺校对杆：25~1000mm；塞尺：0.02~1mm针规：φ0.1~φ10mm三针：0.118~6.585mm；两点内径千分尺：25~1000mm；2、可选配功能：小型光滑环规：φ0.8~φ5mm；螺纹环规：规格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）、M200~M450（螺距4.5~6mm）；光滑锥度环规：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；光滑锥度塞规：φ5~φ60mm（长度10~100mm）；φ60~φ200mm（长度≤50mm）；螺纹锥度环规：M5~M200mm（厚度≤50mm）；螺纹锥度塞规：M5~M60mm（长度10~100mm）；M60~ M200mm（长度≤50mm）；锯齿螺纹、梯形螺纹：M3~M450（螺距0.5~6mm）；花键环塞规/花键及标准齿轮（跨棒距测量）：内φ10~φ450mm，外φ5~φ450mm，模数0.8~6mm； 外径千分尺示值误差手动校准：25~1000mm；数显及游标卡尺示值误差手动校准：75~1000mm；深度千分尺示值误差手动校准：0~25、25~50、50~75mm；三爪内径千分尺手动校准：φ6~φ200mm；表类（百分表、千分表、杠杆表手动校准）；数显半径规手动校准：R5~R700mm；轴承内外圈锥度、沟槽底径内外径及沟槽宽度、精密零部件的长度尺寸，内外径尺寸测量；高精度、高稳定性1)高精度激光测量系统，线性测量精度达到0.5PPM，分辨力达到0.01μm，测量精度高；2)精密研磨导轨系统，导轨直线度高，导轨材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作；3)进口特殊材料制作的高刚性、无变形测杆，保证测试数据的真实采集；4)采用大理石基座，保证了在头座及五轴工作台的移动过程中不会产生变形以及仪器不受外界震动干扰，保证了仪器的稳定可靠；5)采用紧凑型摩擦驱动结构，保证了头座移动过程中的稳定性。高性能五轴工作台1)X,Y,Z三轴采用高性能交叉滚子导轨：摩擦力小，稳定性好，承载高； 2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构，方便客户更好地找到三个轴的拐点； 3)Z轴可配置数显装置，用于螺距显示。高性能螺纹环规测量装置SJ5180系列长度激光测量仪配置高性能螺纹环规测量装置，可测量小螺纹环规，同时可完成小光滑环规检测；测量力为电子测力，由软件选择测力大小； 部分技术指标型号SJ5180-1000测量范围外尺寸直接：0~1020mm内尺寸比对：5~900mm测力0.1N、0.3N、0.5N、1~10N手动连续可调测量最大中径环规200mm 、塞规250mm五轴工作台型号ST-30.1（标配）Z轴0~50mmY轴±25mm负载50㎏台面尺寸350mm×125mm仪器重量180㎏仪器尺寸2000mm×400mm×450mm环境条件参考环境温度：（20±1）℃以内，温度变化不超过0.2℃/h。相对湿度控制在20%～60%。校准室内应无影响测量的灰尘、震动、噪音、气流、腐蚀性气体和较强磁场。校准实验室应符合精密仪器实验室振动等级标准，环境振动≤0.03mm/s；如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

产品名称： 钢轨磨耗测量仪-数显标尺钢轨磨耗测量仪-数显标尺产品介绍 可对不同轨型钢轨垂磨、侧磨进行测量。 北京鼎顺科仪科技 有限公司是集研发、生产、销售为一体的专业化商品质精密制造企业，是国内生产专用非标量具的专业厂家。产品主要应用于机床、石油、铁路等待种行业中专用设备上的测量！公司拥有先进的进口加工设备和检测手段，精细周密的操作流程，规范的管理，*大限度的满足客户的需求。可对不同轨型钢轨垂磨、侧磨进行测量。 型号 测量范围（mm） 分度值（mm） 示值误差（mm） P43 P50 P60 P73 垂磨0~25 机械游标0.1mm ≤±0.15 （符合铁道部规程要求） 侧磨0~30 产品技术标准 钢轨磨耗测量仪设计、制造、使用符合以下修规要求。 1）、《高速铁路有砟轨道线路维修规则》（铁运[2013]29号） 2）、《高速铁路无砟轨道线路维修规则》（铁运[2012]83号）功能特点 1）、可通过更换轨型定位块，实现测量不同轨型的功能； 2）、可根据用户的需求，选择机械标尺、数显标尺作为测量标尺；技术参数 1）、垂直磨耗测量范围：-5mm—15mm 2）、侧面磨耗测量范围：-5mm—25mm 3）、分辨率： 数显标尺：0.01mm 机械标尺：0.05mm适用轨型 43轨、50轨、60轨、75轨

德国Sentech光伏测量仪器RT Inline，薄膜反射和透射的在线监测系统 反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是RT Inline的设计特点。传感器头阵列扫描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作为内部参考测量。利用FTPadv Expert软件可以方便地进行层沉积过程的在线监测。软件接口可用于与主机的数据通信。 高速薄膜测量借鉴内部参考技术，不需要在单独的位置上进行外部参考测量。这保证了连续多点薄膜测量的速度。 多探头装置多达7个传感器探头由一个控制器驱动，为均匀性监测提供了具有成本效益的解决方案。 SENTECH先进软件易于使用、基于配方的FTP软件包括一个大型的预定义应用数据库，这些应用符合研发以及生产环境中的质量控制要求。 RT inline 薄膜测量系统是为沉积过程的在线质量控制而设计的。该方法基于SENTECH著名的薄膜厚度探针FTPadv，用于测量反射率和薄膜厚度。它分别工作在420～1050 nm、2000～2500 nm的光谱范围内。可以分析光滑和纹理结构的TCO薄膜、CdS薄膜、a-Si、μ-Si、CIGS和CdTe吸收膜。 通过RT inline，可以无损伤地监测大型玻璃基板或塑料线圈上TCO、吸收层和缓冲层沉积的均匀性。薄膜厚度和反射率测量是通过固定安装的传感器探头在玻璃基板上方从沉积设备传送到下一个工艺期间进行的。 一个控制器可以操作多达7个传感器，使得RT inline测量仪器具有成本效益、灵活性和生产性的结果。选配的超声传感器控制探头和玻璃平台之间的距离，以排除错误的测量结果。 SENTECH配方驱动的FTP软件FTPadv Expert包括预定义的即用应用程序综合包。它提供了一个选配的软件接口，用于将数据从测量仪器传输到主机。因此，可以通过来自主机或传送的信号手动或自动进行薄膜测量。 使用SENTECH SENresearch光谱椭偏仪开发的配方可以直接传输到RT inline中。基于这样的光谱数据，甚至可以在线测量复杂的层叠膜。

中图仪器SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪集光、机、电、计算机等技术于一体，利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。在机床领域中的应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿在计量检定领域的应用1、测长机检定传统的测长机示值误差主要采用量块进行校准，受环境因素影响较大，校准条件要求高，且量程大于1m的测长机需要分段校准，效率低，而使用激光干涉仪进行校准，不仅可以提高效率，还可通过环境补偿单元对空气温度、压力、湿度和材料温度进行补偿，提高校准精度。2、三坐标测量机示值误差测量随着三坐标测量机技术的更新和发展，使用传统的量块、球板等已经难以满足大型三坐标测量机的检测要求，激光干涉仪测量准确度高，测量范围大，测量数据丰富，适合测量三坐标各项几何误差。3、位移传感器检定利用SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪对位移传感器检定成为发展趋势,其特点是测量精度高、反应速度快、易于数字化测量。在测量中设计一个精密导轨,将反射镜同被测传感器放在一起同步检测,从而形成对比，位移传感器自动检定系统与SJ6000激光干涉仪(标准)对定长位移进行测试对比,得出往复测试实验结果。4、影像仪定位精度测量影像仪传统检测方法采用线纹尺比对法进行，存在着检测精度低、测量系统误差大、成因分析功能缺失、改善方向不精准、 检测效率低下等问题。使用激光干涉仪可以对影像仪的定位误差进行快速检测，对测量数据进行运算分析，利用软件生产补偿文件快速实施二维平面多点位补偿，可大大降低设备制造过程中的精度检测难度、提升检测效率及补偿效率。

影像专用台阶规专门用来计量影像测量仪，测量仪属于高效率的、新型的精密测量仪器，被广泛应用于航空航天、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业，是计量室和生产车间不可缺少的科学计量和工业计量设备影像专用台阶规规符合JJF 1318-2011影像测量仪校准规范附录A各项指标。是各计量所院建标b备产品。上海标卓科学仪器有限公司为您提供专用台阶规（JJF 1318-2011影像测量仪校准规范）的参数、价格、型号、原理等信息，专用台阶规（JJF 1318-2011影像测量仪校准规范）产地为上海、品牌为标卓，型号为350mm，价格为66666RMB，更多相关信息可，公司客服电话7*24小时为您服务

德国Sentech光伏测量仪MDPmap，灵活的自动扫描系统离线工具MDPmap是专为半导体晶片或部分工艺过的晶片的多功能、非接触和少子寿命测量而设计的。MDPmap能够连续地改变激发脉冲宽度，从非常短的脉冲(100ns)到稳态测量(几ms)，研究不同深度的缺陷动力学和少子寿命特性。直观的绘图软件适用于有效的常规测量以及复杂的研发应用。 MDPmap设计用于离线生产控制或研发、测量少子寿命、光电导率、电阻率和缺陷信息等参数的小型台式无触点电特性测量仪器，在稳态或短脉冲激励下(μ-PCD)下工作。自动的样品识别和参数设置允许在从原始生长晶片到高达95%金属化晶片的各种工艺阶段之后，容易地应用于包括外延层的各种不同样品。 MDPmap的主要优点是灵活性高。例如，它允许集成多达四个激光器，用于从超低注入到高注入的与注入水平相关的寿命测量，或者通过使用不同的激光波长提取深度信息。包括偏光设施，以及μ-PCD或稳态注入条件的选择。可以使用不同的测量图形进行客户定义的计算，以及导出用于进一步评估的主要数据。对于标准测量，预定义的标准仅通过按一个按钮即可实现常规测量。 优势。在几乎任何生产阶段，电活性缺陷或材料性能的可视化实现了工艺优化和设备的性能预测。。极其通用的测量方法可实现特殊测量以及国际标准的可追溯性。。小型紧凑的台式工具，具有很高的测量灵敏度，便于快速常规测量。

德国Sentech光伏测量仪器MDPinline 一秒内完成正片晶片扫描 MDPinline是为高速自动扫描硅晶片而设计的，它以每片不到一秒的时间记录少子寿命的全部形貌。利用微波检测光电导率定量测量少子寿命。凭借其紧凑的设计，MDPinline可以灵活地集成在传送带上或晶片分选系统中。 MDPinline是生产集成的高速晶片少子寿命自动扫描系统。在一秒钟内完成单晶片形貌测量。MDPinline是一个用于定量测量少子寿命的紧凑型高速生产集成自动扫描系统。当晶片通过传送装置移动到仪器下面时，一片晶片的形貌测量在一秒钟的时间内进行实时测量。MDPinline本身不使用机械移动部件，使得它在连续操作下也非常可靠。对于每个单独的晶片，完整形貌的获取提供了新的方法来提高生产成本效益和效率。例如，在不到3小时内获得的10,000个晶片形貌的自动统计评估揭示了晶体生长炉的性能以及材料质量的微小的细节。基于实时质量和均匀性研究，诸如扩散和钝化之类的处理步骤可以在迄今为止不可能达到的性能的时间内逐步增加和优化。在运行生产中，可以立即检测到处理步骤的任何故障。另一方面，晶片销售给用户时，如果每个晶片都表现出优异的性能，则可以实现更高的价格，从而在不到一年的时间内为MDPinline带来回报。 优势在不到一秒的时间内，实现对一个晶片全电子晶片特性的测量。测量参数：少子寿命(全形貌)，电阻率(两行扫描)。迄今为止还没有看到工艺控制、良率和工艺改进的效率允许极快地增加新的生产或工艺，因为来自数千个晶片的统计信息是在非常短的时间内获得的。适合于测量出料或进料晶片的材料质量，以及在晶片级别内识别结晶问题，例如在光伏行业。适用于扩散工艺的完整性控制、钝化效率和均匀性控制。

GBT9647-5波纹管内径测量仪一、波纹管内径测量仪 波纹管环刚度内径测量仪 简介：波纹管内径测量仪用于预应力混凝土桥梁用波纹管环刚度试验内径测量。满足交通部《JT/T529-2016 预应力混凝土桥梁用塑料波纹管》和《GB/T9647-2015热塑性塑料管材环刚度的测定》的要求。二、波纹管内径测量仪 波纹管环刚度内径测量仪 主要技术指标：测量波纹管规格：Φ22mm～Φ350mm，Φ22mm～Φ750mm，Φ22mm～Φ1050mm，Φ22mm～Φ1200mm，Φ22mm～Φ1450mm，Φ22mm～Φ1700mm，Φ22mm～Φ1950mm，Φ22mm～Φ2250mm，Φ22mm～Φ2550mm。1、测量波纹管规格：Φ22mm～Φ750mm2、测量分辨率：0.1mm3、测量精度：±1%4、LED数字显示5、电源：220V×50Hz6、重量：5kg三、波纹管内径测量仪 波纹管环刚度内径测量仪 安装校对：1、仪器平放于工作台。2、接上220V电源。3、移动其中一测量标尺使其接近另一标尺，按一下数显表向右键归零初始值是22，然后用标准量具检测其准确度。4、校对完毕。

ERM100 应用测量保偏(PM)光纤的消光比(ER)保偏光纤与接头插销对准保偏光纤与激光光源对准ERM100是基于旋转偏光技术的消光比测量仪。这款台式装置可以快速简单地测量保偏光纤的消光比。它方便易用，可以用于需要对准保偏光纤的多种应用中。如何工作ERM100消光比测量仪包含一个旋转偏振片，和后面一个可以产生光电流的探测器。一般来说，光电流在时间上将是直流偏置的正弦函数。通过同时分析直流偏置和调制深度，消光比测量仪可以确定线偏振的程度，从而获得消光比。优点这款台式仪器简单易用，是任何保偏光纤的对准应用测量装置。通过前面板的一系列按钮和LCD显示屏，可以进行快速调节和测量。任何保偏对准任务均可以有效完成。ERM100是工厂校准的，可以测量消光比，偏心角和功率。它也可以通过USB连接电脑进行控制。设备包含LabVIEW&trade ，LabWindows&trade /CVI&trade ，MSVC和Borland C的驱动。ERM100配备FC/PC接头。需要其他类型的接头请联系技术支持。发货信息每个单元包括测量仪，USB电缆，包含LabVIEW&trade 和LabWINDOWS&trade CVI驱动程序套装的软件CD，和操作手册。应用：保偏对准 ERM100消光比测量仪可用于对准保偏光纤的光轴。保偏光纤的入射光必须是线偏振的，并且平行于光纤的主光轴的方向耦合，以保持线偏振。ERM100提供了一种便利的方式来实现这种对准。根据光源，光纤对准有以下两种不同的方法。宽带光源（SLED）由于这些光源的波长相关双折射特性，只需变化耦合角，直到找到具有最大消光比的最优角。窄带光源（激光二极管）对于窄带光源，波长相关的双折射特性可忽略不计。为了得到保偏光纤消光比的可靠值，必须分析偏振态的快轴和慢轴之间的所有相移。所以测量过程中，在调节耦合角的同时，可以对光纤施加应力（应力双折射）。对于最优角，最大消光比值应该稳定，并且与光纤上的应力无关。典型应用线偏振光进入保偏光纤的最佳耦合接头插销的最佳对准制作尾纤（激光二极管到保偏光纤的对准）窄带光源的消光比测量Thorlabs消光比测量仪，ERM100偏振仪

钢轨扭曲度测量仪 1.基本参数： （1）数字显示，带数据输出及带电源开关 （2）测量范围：100m （3）分 辨 力：0.01mm （4）误 差：±0.03mm （5）长 度：1m 2.使用操作： （1）开启数显测量头电源，置于ON位置。 （2）提起测量卡尺放入专用的标准样块，测量样块尺寸并清零。 （3）将测量尺平稳的放置在被测钢轨底部，保持端头和轨底侧面对齐靠平。 （4）保持测量尺三个固定测点平稳接触后，轻轻压下测头滑尺使得测头紧贴轨底表面。读取测量数值应小于0.45 （5）测量完毕请关闭电源，并将测量尺放入盒内。 3.注意事项： （1）请轻拿轻放，注意保护测量部位不被撞击。 （2）保持测量部位的清洁避免铁锈污染。 （3）长期不用，请取出数显测量头电池并妥善保管。 （4）当显示出现闪烁时，是电池欠电，请及时更换电池。 4.关于校准和检定： 一般情况下按使用操作方法（用样块校准）测量，能够满足±0.06的精度。如果需要更准确的测量，请在使用前，用一定精度的平台（0级或1级）校准0位后测量。此时，可以达到±0.03的精度。用样块校准是为了方便没有平台的情况下测量的。检定维修请按各单位具体情况自行安排。

MP系列手持式短波辐射测量仪Apogee出品的MP系列手持式短波辐射测量仪连接APOGEE生产的硅光辐射表，用于测量到达地球表面的短波辐射，具备余弦修正、自标定功能，其测量单位为J/m2s或W/m2。它具备数据记录功能，能够记录99个点的数据。在自动模式下，测量仪会每30秒测量一次，并每30分钟存储一次测量数据的平均值，同时还能对每日数据进行合计。显示器可以及时显示更新实时数据。通过AC-100数据线，您能够轻松将测量仪中存储的数据导入计算机。该系列测量仪包括MP-100和MP-200两种型号。主要性能参数：型号MP-100MP-200辐射表参数余弦响应45°天顶角 ±1%； 75天顶角 ±5%绝对精度±5%重复性±1%输出/入全日光：220mv（1100 W/m2) 线形输出范围：0~350mv（0~1750w/m2） 灵敏度：客户标定 接近5w/m2/mv 输入电源：无，自充电长期漂移3%/年操作环境-40~55℃，相对湿度：0~100%，户外长期使用，防水电缆无2m线缆尺寸直径2.4cm，高2.75 cm 存储手动或自动存储，可30秒测量一次, 30分钟储存一次，最多可记录99点的数据量程：0~1999 W/m2 电源标准3V电池显示屏4.2cm×2.8cm

全自动二次元光学影像测量仪是一种在传统光学 仪器的基础上，结合现代影像处理和计 算机软件技术研发而成的，集光、机、电、算于一体的高精度光学测量仪器。主要用于二维测量，辅助三维测量。可对工 件、点、线、圆、圆弧、椭圆、矩形、距离、角 度等平面几何元素及圆柱、圆锥、球体、高度等 部分三维几何元素进行高效、快捷、精准、批量化测量。 行业应用机械、电子模具、塑胶、五金、汽车、轨道交通、船舶、航空航天、通信、医疗器械、齿轮、玻璃、 PCB、LCD、新材料、新能源等行业，及高等院校，科研院所，计量检定机构。 产品技术参数 仪器规格： QC3020T QC4030T QC5040T测量范围：X（mm） 300 400 500 Y（mm） 200 300 400 Z（mm） 200 200 200工作台：大理石台面尺寸（mm） 460*360 560*460 710*610玻璃台面尺寸（mm） 329*229 429*329 529*429仪器重量（kg） 200 280 380外形（mm） 760*660*970 860*760*970 1160*910*1020电 源：110V(AC)~220V(AC) 50Hz 总功率50W 配件标配&bull 摄像系统 摄像机：彩色1/3”康斯得摄像机 变焦物镜倍率：0.7-4.5X 分辨率：11.18-3.95&bull 普密斯镜头 变倍方式：手动 工作距离：90 ± 2MM 影像系统采用康斯得高分辨率彩色CCD、成像优良、清晰逼真、色彩饱满 光学镜头采用普密斯光学组件，经过多层光学镀膜、耐油渍、耐腐蚀、光学衰减微小，长久使用仍然光亮清晰。&bull 光源系统 采用进口LED冷光源和高品质调光板、无极调节、光线细腻柔和，表面光成像明亮清晰 轮廓光采用平行光源，成像清晰、边角分明，特别对轴类、圆弧类工件测量更加精准。&bull 测量精度 X、Y轴精度：≤(3+LU200) um&bull 测量功能 2D、2.5D元素测量：点、线、圆、圆弧、椭圆、距离、角度、矩形、O形环 、槽型、开云线、闭云线、深度、高度、 平行度、垂直度、倾斜度、同心度 、对称度。 3D元素测量：球体、圆柱体、圆锥等三维元素测量。组合元素测量：两点距离、两线距离、点到线距离、点到圆距离、线到圆距离 、圆心距、两线交点、组合角度、 角平分线、两线中线、三 点组合圆、线圆切点。&bull 传动结构 X、Y轴传动部分采用进口无牙光杆，移动顺畅快捷、无间隙、跳动和回弹误差,Z轴传动采用双导轨升降台结构，确保Z轴上下调焦过程中无偏摆、跳动现象,研磨级台湾高精度丝杆，让Z轴可实现 μ级的调焦,高等级的合金铜螺母耐磨，长久使用Z轴无掉焦现象，确保二次调焦精度。&bull 数据系统 采用高分辨率光栅尺，确保三轴线性精度，X、Y、Z光学尺分辨率：0.001mm。&bull 工作台 三层工作台设计，高强度航空铝合金材料，进过特殊的处理工艺，使材料内部和表面具备了硬度和稳定性,长久的自然时效过程，使工作台消除了内应力的变化，物理特性非常稳定。&bull 玻璃台 采用德国进口原片玻璃，微浮法工艺制造，经过精密研磨，具有平面度和透光率。&bull 底座立柱 底座和立柱采用高精度天然花岗岩，00级研磨处理，物理特性稳定，无内应力变化，使三轴具有相同的温度特性和 膨胀系数，保证仪器精度的长久性，可靠性和稳定性。 六、产品选配参考选配件 型号 功能摄像机 美国TEO CCD摄像机 TEO摄像机采用CCD平移.C/CS调节可在8mm范国内任意连续调节，精电达到um级，确保调节后距，尤其在接长焦镜头和配在显微境上使用效果格外明显镜头 普密斯数字变焦物镜 像素更高，成像情准座高，抗干扰强，曝点小，画面干净测量不同高唐自动变体，省去手动的麻场电机 松下何股电机 实现了位置，速电和力短的闭环控制抗过载能力强，能承受三倍于教定转矩的负载电机加减速的动志相应时间短，一般在几十毫秒之内探针 英国雷尼绍(RenishawMCP)三维测针 对被测物的三维进行精准测量，如高度、深度、空问距等传感器 基恩士三维激光传感器 IP67 级别防水激光测长测距，实现1000 mm的长距商测量减少像素边缘误差，精度达到0.01um光源 五环八区环形表面光源 使得被测物更加精准 七、产品装箱清单序号 名称 分项名称 规格及主要技术参数1 机械本体 主机 影像测量系统三轴全自动控制2 机械结构 花岗岩主体结构，物理性能稳定3 光栅尺 贵阳新天光栅尺，分辨率1pm4 导轨 平精密滚珠交叉导轨5 三轴驱动 恒控同服电机驱动6 光学系统 摄像机 康斯得相机(可定制）7 镜头 普密斯手动变倍镜头(可定制)8 放大倍率 光学故大倍率: 0.7X-4.5X 影像放大倍率: 21-200X9 表面光 3环单区LED冷光源，256级亮度可调10 轮廓光 LED冷光源，256级亮度可调(可定制）11 软件系统 INSPEC测量软件 根据型号而定12 电控系统 ACT420电控系统 根据型号而定13 操作手柄 影像测量仪专用手柄14 操作电脑 工业电脑15 附件 出广合格证 经吉泰科仪校验合格16 软件优盘 数据备份优盘17 保修说明书 一份

中图仪器SJ6000机床精度激光干涉测量仪集光、机、电、计算机等技术于一体，采用激光双纵模热稳频技术，可实现高精度、抗扰力强、长期稳定性好的激光频率输出；采用高精度环境补偿模块，可实现激光波长和材料的自动补偿。具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点，结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000机床精度激光干涉测量仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。SJ6000机床精度激光干涉测量仪非接触式、高精度的特点使其适用于各种复杂的运动系统，如在机床加工领域：1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿SJ6000激光干涉仪不仅仅局限于运动导轨，还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等。帮助企业提高设备性能，减少维护成本和停机时间，为制造业提供了一种精密的测量检测方式。部分技术指标主机稳频精度：0.05ppm动态采集频率：50 kHz预热时间：≤ 6分钟工作温度范围：(0~40)℃存储温度范围：(-20~70)℃环境湿度：(0~95)%RH环境补偿单元空气温度传感器：±0.1℃ (0~40)℃，分辨力0.01℃材料温度传感器：±0.1℃ (0~55)℃，分辨力0.01℃空气湿度传感器：±6%RH (0~95)%RH大气压力传感器：±0.1kPa (65~115)kPa 线性测量距离：(0~80)m (无需远距离线性附件)角度测量范围：±10°平面度测量范围：±1.5mm直线度测量范围：±3mm垂直度测量范围：±3/M mm/m便携箱尺寸：613*460*230mm标准配置重量：18kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

主要简介： 汽车车窗玻璃幅面很大，一般桌面式测量双折射/残余应力测量仪无法测量，扫描测量由非常慢，无法满足实际使用，因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA双折射测量仪，会根据客户样品定制大型圆偏振光光源系统，实现大幅面样品的高速测量。设备在日本的汽车厂商得到广泛应用。主要特点： 解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。测量速度快，可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。采用523nm,543nm,575nm三种波长，相位差测量范围高达3000nm。采用广角偏振面阵传感器，一次得到测量结果。专用操作软件，功能强大，操作简单，便于做分析比较和品质判断。 主要参数：测量案例：

NDVI测量仪可在近地面对冠层归一化植被指数（NDVI）进行长期定位监测。NDVI对绿色植被反应敏感，常被用于研究植被的生长状态。NDVI测量仪传感器制作工艺考究、坚固耐用，可在各种恶劣天气条件下正常工作；其体积小巧，安装简易方便；性价比高，可在多处布点。 工作原理NDVI是由冠层对近红外波长（810nm）的反射率与红光波长（650nm）的反射率之差比上两者之和计算得到，因此需同时安装向上和向下两个传感器来监测冠层对这两个波长的反射率。向上的NDVI传感器检测810nm和650nm的光照强度。测量结果代表了来自天空的入射光强度。传感器经过余弦校正，具有半球视场。安装时须保证视场内只有天空，没有冠层和其他地物。NDVI传感器也是检测810nm和650nm的光照强度。测量结果代表了来自冠层的反射光强度。传感器的视野范围被限定在30°以内，这种限定使得传感器可以准确朝向待测冠层。产品特点耗电量低性价比高支持SDI-12通讯协议自动测量、收集数据，校准信息保存在传感器内环氧树脂密封工艺，防水，耐受恶劣天气，可在野外长期布设若使用ZL6数据采集器，可通过互联网终端实现远程数据查看和下载应用领域单株植物或群落冠层的归一化植被指数（NDVI）动态监测监测植被返青、衰老和受胁迫状态冠层有效辐射截获量冠层生长物候监测冠层叶面积指数冠层生物量积累技术参数校准系数（灵敏度的倒数）逐个传感器校准，数据存储在固件中校准不确定性± 5 %波长范围红光检测器650 nm ± 5 nm；半峰宽（FWHM）65 nm；NIR检测器 810 nm ± 5 nm；半峰宽（FWHM）65 nm测量范围2倍全日照测量重复性 1 %长期漂移每年 2 %响应时间 0.6 s视场范围向上180°，向下30°方向（余弦）响应± 2 % @ 45°, ± 5 % @ 75° 天顶角温度响应 0.1 % 每 ℃输出SDI-12供电5.5 ~ 24 V DC外壳带有丙烯酸散射窗的阳极铝IP 防护IP68工作环境-40 ~ 70 ℃ 0 ~ 100 % RH尺寸S2-411-SS（向上）：直径 30.5 mm, 高37 mmS2-412-SS（向下）：直径 30.5 mm, 高34.5 m重量（包含5米缆线）140 g缆线5米屏蔽双绞线；TPR护套和不锈钢接口兼容数采（须另购）METER EM60 系列, ZL6 系列, ZSC, ProCheck, Campbell Scientific订购指南传感器： S2-411-SS向上半球视野传感器，S2-412-SS向下视场光阑传感器数采：ZL6数据采集器。另有PRI光化学反射指数传感器可选购。相关产品SRS-PRI 光化学反射指数测量仪产地与厂家：美国METER公司

MP-200 外置式总辐射测量仪产品介绍： MP-200 外置式总辐射测量仪是太阳短波辐射（总辐射）对于进行蒸散率计算、能量平衡研究和太阳能板净辐射利用率等有着非常重要的意义。MP系列手持式总辐射测量仪可用于测量达到地球表面的短波辐射，计算出总辐射值。 MP-200 外置式总辐射测量仪用于显示和存储以W/m2为单位的测量值，具备数据记录功能，能够记录99个手动测量数据。在自动模式下，测量仪会每30秒测量一次，并每30分钟存储一次平均数值，同时还能对每日数据进行均值计算，可最多存储99个日均值。其自带的显示屏能够让您及时获得测量数据。通过AC-100数据线，您能够轻松将测量仪中存储的数据导入计算机。产品特点：响应时间快自清洁式圆顶传感器头防水防尘经校准的硅光传感器精度高手持式设计方便携带 数据实时显示并可通过软件导出技术规格：探头主体光谱范围360nm~1120nm（响应为最大值的10%的波长）视角180°校准误差（1000 W/m2）3%重复性1%非稳定性（长期漂移）2%/年非线性1%（≤1750W/m2）响应时间1ms方向响应±5%（75°天顶角）温度响应0.04±0.04%/℃工作环境0~50℃，小于90%非冷凝环境相对湿度30℃，小于70%的非冷凝环境湿度30~50℃；单独传感器30m防水线缆2m 屏蔽双绞线；带TPR 护套（高耐水性、高紫外线稳定性、寒冷条件下的柔韧性）；提供附加电缆传感器尺寸直径2.4cm，高度3.3cm读数表主体记录模式人工/自动记录容量99组数据尺寸12.6.cm（长）×7cm（宽）×2.4cm（高）供电CR2320纽扣电池×1重量180g