光模块高低温测试机

上海伯东代理美国 inTEST Temptronic 高低温冲击测试机成功应用于光模块温度测试光模块 Optical Module 由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分。其中的光收发一体模块 Transceiver，是光纤通信系统中重要的器件。光收发模块在电工作时本身就会产生高热，加上其安装的环境通常在户外，故温度过高或过低时，光模块是否可正常运作，是生产企业必须解决的问题！光模块高低温测试客户案例：上海伯东客户浙江某光收发模块制造商，生产 40G Transceiver 光模组，此次采购高低温测试机用于服务器内部光模组的高温冲击测试。因为光收发模块在电工作时本身就会产生高热，所以对高温的冲击测试要求很高，经过我司技术推荐采购 inTEST ThermoStream ATS-545-M 高低温测试机，可提供测试温度 -80°C 至 +225°C。inTEST 高低温测试机与传统温度试验箱对比，升降温速率更快；可针对众多元器件中的某一单个光模块，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件。光模块高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将待测光模块放置在测试腔中，根据操作员设定喷出和设定温度相差±1℃的冷热交替循环气流，从而进行光模块高低温测试。鉴于信息保密，更详细的光模块高低温测试方法欢迎拨打电话：上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Brooks Polycold 冷冻机 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST(Temptronic)高低温循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。 若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

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SFP光模块高低温测试盒产品介绍本系列的“半导体温控平台、设备”是建立在半导体制冷片(热电制冷片)基础上设计的高性能温度控制系统，其特点是高精度和高稳定度、长寿命、体积小、无噪声、无磨损、无振动、无污染、既可制冷又可加热等优点，是真正的绿色产品。本系列产品带有完美的PID控制软件，智能无级控温，既可加热又可制冷。可用于控制激光器件、医疗器件、半导体器件、红外探测器、光电倍增管、或其它任何需要温度控制的地方。控温速度快(-40℃)只需2分钟，行业。该设备可以广泛应用于光模块、光器件及其组件、小型和微型化封装的电子产品，在研发、生产各个环节的高低温测试中。该仪器具备如下特点，能有效帮助企业提高生产效率、降低生产成本、快速提升产能。解决了当前行业通用方法/仪器应带来的各种弊端和不足产品特点 智能无级调温，双向温度控制 加热制冷速度快速，加热1分钟，制冷2分钟内达到目标温度 温度控制精度为±0.1度 工作温度可任意设置(常规在-40℃～100℃之间选择，其它范围可定制) 工作温度超过上限/下限(软件设定)时报警 用户可以修改温度PID反馈参数 恒温模式：双向冷热恒温 具有过流、过压、过热等保护 具有硬件过温、欠温等保护电路 高稳定,高抗干扰,完全消除温度采样通道中的50/60Hz工频干扰 点阵液晶或触摸屏控制 友好的人机界面和故障诊断功能(在操作不当或电源故障时,电源将给出故障号提示) 模块尺寸：根据产品型号不同，具体参见产品手册 接受定制：可根据客户需要定制温控平台，夹具平台、恒温盒、恒温箱产品应用 SFP光模块高低温测试 固体温度控制、实验、科研温度控制 高低温实验等平台产品选型型号参数 TLT-SFP25 TLT-SFP35 TLT-SFP40输入电压（VAC） AC220V±15%冷却方式 水冷控温精度 ±0.1℃控温范围 -25℃~90℃ -35℃~90℃ -40℃~100℃温度传感器 NTC（25℃-10K）温控仪体积 450×400×133mm远程接口 RS232或RS485显示 真彩触摸屏4.3寸

产品名称：QSFP光模块高低温老化测试箱本系列的“半导体温控平台、设备”是建立在半导体制冷片(热电制冷片)基础上设计的高性能温度控制系统，其特点是高精度和高稳定度、长寿命、体积小、无噪声、无磨损、无振动、无污染、既可制冷又可加热等优点，是真正的绿色产品。本系列产品带有完美的PID控制软件，智能无级控温，既可加热又可制冷。可用于控制激光器件、医疗器件、半导体器件、红外探测器、光电倍增管、或其它任何需要温度控制的地方。控温速度快(-40℃)只需2分钟，行业。该设备可以广泛应用于光模块、光器件及其组件、小型和微型化封装的电子产品，在研发、生产各个环节的高低温测试中。该仪器具备如下特点，能有效帮助企业提高生产效率、降低生产成本、快速提升产能。解决了当前行业通用方法/仪器应带来的各种弊端和不足产品特点 智能无级调温，双向温度控制 加热制冷速度快速，加热1分钟，制冷2分钟内达到目标温度 温度控制精度为±0.1度 工作温度可任意设置(常规在-40℃～100℃之间选择，其它范围可定制) 工作温度超过上限/下限(软件设定)时报警 用户可以修改温度PID反馈参数 恒温模式：双向冷热恒温 具有过流、过压、过热等保护 具有硬件过温、欠温等保护电路 高稳定,高抗干扰,完全消除温度采样通道中的50/60Hz工频干扰 点阵液晶或触摸屏控制 友好的人机界面和故障诊断功能(在操作不当或电源故障时,电源将给出故障号提示) 模块尺寸：根据产品型号不同，具体参见产品手册 接受定制：可根据客户需要定制温控平台，夹具平台、恒温盒、恒温箱产品应用 SFP光模块高低温测试 固体温度控制、实验、科研温度控制 高低温实验等平台产品选型型号参数 TLT-SFP25 TLT-SFP35 TLT-SFP40输入电压（VAC） AC220V±15%冷却方式 水冷控温精度 ±0.1℃控温范围 -25℃~90℃ -35℃~90℃ -40℃~100℃温度传感器 NTC（25℃-10K）温控仪体积 450×400×133mm远程接口 RS232或RS485显示 真彩触摸屏4.3寸

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价格货期电议intest 热流仪 5G 通讯模块高低温冲击测试5G 通讯模块具有传输速度快, 瞬间功率变化大, 自由运行时温度变化快速的特点, 因此对于温度测试方面有较多的等级要求. 针对 5G 模块温度测试, 上海伯东代理美国 inTEST Temptronic 热流仪能够快速提供高低温测试环境, 方便移动, 测试温度范围 -100 °C 至 +300 °C , 满足测试不同温度下的 5G 模块性能表现, 极大节约了客户研发成本！5G 通讯模块高低温冲击测试: 5G 模块在出厂前需要做测试, 主要包括内部关键器件在电工作的电性能测试, 失效分析, 可靠性评估等, 也会模拟在运输, 存储过程中的不通电温度冲击测试，来验证是否在不同温度冲击和持续温度下, 对 5G 模块的焊点, 涉及到的材料老化程度进行合规性观测和质量验收, 同时也会对正在开发的产品进行不同温度持续性或冲击性测试用来指定存储或者运输, 或者工艺安装等方面的温度规范等.针对客户提出的测试要求, 上海伯东提供 5G 模块高低温测试解决方案inTEST 热流仪可提供的温度范围为 -100℃ 至 +300°C, 温度精度 ±1℃, 可以对客户开发打样产品固定在电路治具中, 模拟设定不同温度, 对应来观察 5G 模块运行的相关参数的功能是否良好或达标. 同时 inTEST 可实现快速切换不同温度条件. 可以提高测试的效率. 通过 IEEE 或 RS 232 实现电脑连接和控制, 对测试的自动化和无人值守提供了便捷. inTEST 推荐型号ATS-545ATS-710EATS-535图片温度范围 °C-75 至 + 225-75至+225-60 至 +225变温速率-55 至 +125°C 约 10 S +125 至 -55°C 约 10 S-55 至 +125°C 约 10 s +125 至 -55°C 约 10 s-40至+ 125°C 12 s +125至-40°C 40 s空压机额外另配额外另配内部集成空压机控制方式旋钮式触摸屏旋钮式气体流量 scfm4 至 184 至 185温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C（根据 NIST 标准校准时） inTEST 热流仪自带过热温度保护系统, 操作员也可根据实际需要设置高低温限制点. 产品工作状况等相关参数可实现自动导出并存储用于后期分析以及产品优化, 为产品的相关使用, 运行, 生产工艺, 存储运输等相关的规范做参考. 同时对批次的定向品质追溯也有较为确实的数据支撑. 若您需要进一步的了解 5G 模块高低温测试详细信息或讨论, 请查看官网或咨询叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-710E 实现高低温冲击测试上海伯东美国 inTEST 热流仪 ATS-710E-M 高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -80°C 至 +225°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream® OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题！inTEST ATS-710E 是旧款高低温测试机 Temptronic TPO4300 和 Thermonics T-2500 全新升级款！~inTEST ThermoStream ATS-710E 技术参数型号温度范围 °C输出气流量变温速率温度精度温度显示分辨率温度传感器远程控制ATS-710E-75至+225 50Hz-80至+225 60Hz4 至18 scfm1.8至 8.5l/s-55至 +125°C 约 10 s+125至 -55°C 约 10 s±1℃±0.1℃T型或K型热电偶IEEE 488RS232inTEST ThermoStream ATS-710E 功能特点自动升降温: 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却预防结霜: 干燥气流循环吹扫测试表面, 防止水汽凝结 (气体流量0.5至3scfm)自动待机: 空闲或加热模式下, inTEST 高低温测试机自动减少能耗加热除霜: 快速去除冷冻机内部积聚的水汽触摸屏幕控制面板: Windows® 系统温度显示精度: ±1℃(通过美国国家标准与技术研究院NIST校准)过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C, 操作员可根据实际需要设置高低温限制点。支持 Ethernet, IEEE-488, RS232, 支持数据存储配置 USB, 键盘, 鼠标, 打印机端口热流罩提供局限性的温度测试环境, 特别适合温度冲击测试 专利设计防止水气在DUT上凝结inTEST ThermoStream ATS-710-M 配置包含：1. 主机 ATS-710-M2. 4.5或5.5 英寸热流罩3. 耐高低温专用密封垫* 客户可根据实际应用选择额外软管和测试腔ATS-710-M 高低温测试机尺寸和重量:尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm净重 236 kg, 毛重 365 kg与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1. 变温速率更快2. 温控精度：±1℃3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试。6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-710 实现电源管理芯片高低温冲击测试若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

产品简介本系列的“半导体SFP光模块高低测试系统”是建立在半导体制冷片基础上设计的高性能温度控制系统，其特点是高精度和高稳定度、长寿命、体积小、无噪声、无磨损、无振动、无污染、既可制冷又可加热等优点，是真正的绿色产品。设计为便于与各种系统无缝集成，半导体SFP光模块高低测试系统的标准化接口使其成为多种应用场合的理想选择，模块体积小 重量轻广泛应用于对温度的精度和稳定度要求较高的各类厂家、公司、大学、科研机构、个人等。应用方向 SFP光模块高低温测试 实验、科研温控源 高低温实验 非标定制 产品选型表 产品尺寸图

inTEST Temptronic ATS-545-M 高低温冲击测试机上海伯东美国 inTEST 高低温冲击测试机中国总代理: Temptronic ThermoStream ATS-545-M 热销款高低温冲击测试机。温度冲击范围：-80°C 至 +225°C；旋钮式控制面板，支持测试数据存储。inTEST ATS-545-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TP04310和Thermonics T-2820 全新升级款！~高低温冲击测试机 Temptronic ThermoStream ATS-545-M 技术参数： 型号 温度范围 °C 输出 气流量 变温速率 温度 精度 温度显示分辨率 温度 传感器 远程 控制 ATS-545-M -80 至 +225 4 至 18 scfm 1.8至 8.5 l/s -55至 +125°C 10 s +125至 -55°C 10 s ±1℃ ±0.1℃ T型或 K型 热电偶 IEEE 488 RS232 inTEST 高低温冲击测试机功能特点：自动升降温：冷冻机(Chiller)特殊设计，制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境；不需要液态氮气（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）冷却旋钮式控制面板温度显示精度：±1℃(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)过热温度保护：出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。加热模式下，冷冻机可切换成待机模式，以减少电力消耗大气流量输出，变温速率快，节省操作时间，热流罩提供局限性的温度测试环境，特别适合温度冲击测试；专利设计防止水气在DUT上凝结与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快2、温控精度：±1℃3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。温度冲击测试方法：inTEST-Temptronic 高低温冲击测试机提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离，然后对 IC 循环喷射冷热气流，使IC 温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。inTEST 高低温冲击测试机ATS-545-M 基本参数 尺寸 cm 款x深x高 61 X 72.4 X 108 重量kg 236 最高 cm 160 最高操作高度 cm 130.3（可选的扩展高度 188） 最低操作高度 cm 69.1（可选的扩展高度 81.3） 噪音 65 dBA 提供inTEST ATS-545-M 机械手臂版本和 ATS-545-T 测试腔版本供您选择!

Temptronic ThermoStream ATS-710-M 高低温冲击测试机上海伯东美国 inTEST ATS-710-M 高低温冲击测试机中国总代理！温度冲击范围：-80°C 至 +225°C；触摸屏式控制面板，防静电设计，具备自动除霜功能。inTEST ATS-710-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TP04300 和 Thermonics T-2500 全新升级款！~Temptronic ThermoStream ATS-710-M 技术参数： 型号 温度范围 °C 输出 气流量 变温速率 温度 精度 温度显示 分辨率 温度 传感器 远程 控制 ATS-710-M -75至+225 50Hz -80至+225 60Hz 4 至18 scfm 1.8至 8.5l/s -55至 +125°C 10 s +125至 -55°C 10 s ±1℃ ±0.1℃ T型或 K型 热电偶 IEEE 488 RS232 Temptronic ThermoStream ATS-710-M 功能特点：自动升降温：冷冻机(Chiller)特殊设计，制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境；不需要液态氮气（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）冷却预防结霜：干燥气流循环吹扫测试表面，防止水汽凝结(气体流量0.5至3scfm)自动待机：空闲或加热模式下，inTEST 高低温测试机自动减少能耗加热除霜：快速去除冷冻机内部积聚的水汽触摸屏幕控制面板：Windows® 系统温度显示精度：±1℃(通过美国国家标准与技术研究院NIST校准)过热温度保护：出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。支持 Ethernet，IEEE-488，RS232；支持测试数据存储配置 USB、键盘、鼠标、打印机端口热流罩提供局限性的温度测试环境，特别适合温度冲击测试；专利设计防止水气在DUT上凝结Temptronic ThermoStream ATS-710-M 配置包含：1、主机 ATS-710-M2、4.5或5.5 英寸热流罩3、耐高低温专用密封垫* 客户可根据实际应用选择额外软管和测试腔与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快2、温控精度：±1℃3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。上海伯东美国inTEST 高低温测试机应用：1、光纤收发器高低温测试：适用于40G/100G Transceiver2、闪存高低温测试：适用于Flash、EMMC

价格货期电议inTEST 热流仪车载芯片 / 车规级芯片高低温冲击测试不同于传统消费电子产品, 车规芯片前期的开发及验证期可能长达3年, 相关研发费用和时间成本高昂, 从而需要更快地响应不断变化的车辆架构和严苛的产品上市时间. 上海伯东美国 inTEST ThermoStream 热流仪满足汽车半导体行业更严格及更高效的测试要求, 可以对微控制单元 MCU, 传感器和存储器 DRAM 等车载芯片进行快速高低温冲击测试, 极大节约了客户研发成本！在车规级芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机有着不同于传统高低温冲击试验箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温18°C, 实时监测待测元件真实温度, 亦可随时调整冲击气流温度, 可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC, 单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件.车规级芯片高低温测试案例: 上海伯东客户某半导体芯片设计公司自主研发车载芯片, 要求在温度范围 - 50 ℃~ 150 ℃ 时搭配模拟和混合信号测试仪, 在电工作下检查不同温度下所涉及到的元器件或模块各项功能是否正常. 经过伯东推荐使用 inTEST 高低温测试机 ATS-545, 测试温度范围 -75 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, 通过使用该设备, 大幅提高工作效率, 并能及时评估研发过程中的潜在问题, 使产品符合汽车安全的电子产品标准!车规级芯片高低温测试方法1. 将被测芯片或模块放置在测试治具上, 将 ATS-545 的玻璃罩压在相应治具上 ( 产品放在治具中 ).2. 设置需要测试的温度范围.3. 启动 ThermoStream ATS-545, 利用空压机将干燥洁净的空气通入高低温测试机内部制冷机进行低温处理, 然后空气经由管路到达加热头进行升温, 气流通过玻璃罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度.4. 在汽车电子芯片测试平台下, 高低温测试机 ATS-545 快速升降温至要求的设定温度, 实时检测芯片在设定温度下的在电工作状态等相关参数, 对于产品分析, 工艺改进以及批次的定向品质追溯提供确实的数据依据.在芯片测试中, 可为测试计划确定相应的要求, 如温度循环实验, 不同等级的温变范围及温差循环数等. inTEST 热流仪可根据预先设定的温度范围, 实现快速的温度冲击, 如温度范围 -40℃～125℃, 可分别设置低温 -40℃, 常温 25℃ 及高温 125℃, 热流仪将按照先后顺序自动进行相应测试. 针对不同的测试应用, inTEST 可通过每秒快速升温或降温 18°C, 为车载模块或电路板中的某一单个器件提供精确且快速的环境温度.鉴于客户信息保密, 若您需要进一步的了解车规级芯片高低温测试, 请联络上海伯东叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究

美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机上海伯东中国总代理上海伯东代理美国 Temptronic ThermoStream ATS 系列高低温测试机，测试温度范围 -100 ℃ 至 +300 ℃ 。Temptronic ThermoStream 提供快速、准确的高低温测试。适用于半导体芯片温度测试、PCB 电路板温度测试、电子元件温度测试、通讯元件温度测试、集成电路 IC 卡等高低温试验、冲击试验、半导体失效分析、可靠性测试等。与传统高低温试验箱对比，Temptronic ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快，每秒可快速升温/降温 18度2、温控精度：±1℃；3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台 load board上 的 IC 进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。美国 Temptronic ThermoStream 高低温循环测试机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程机联用进行高低温循环冲击测试。上海伯东 Temptronic ThermoStream 高低温测试机客户应用案例：1、Temptronic ATS-505 半导体芯片高低温失效测试2、Temptronic ATS-535 集成电路 IC 卡高低温失效测试3、Temptronic ATS-545-M 收发器高低温测试上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 冷冻机 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST 高低温循环测试机 日本 NS离子蚀刻机等。若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗女士

价格货期电议inTEST ATS-535 热流仪全球唯一集成空压机的高低温冲击机 上海伯东代理美国 inTEST ThermoStream ATS-535 是目前全球唯一内部集成空压机的高低温冲击机 ( 热流仪 ),整机噪音 70 dBA, 不需要额外安装空压机即可完成各类芯片的高低温冲击试验. 特别适用于对环境噪音有严格要求的写字楼园区或研发环境, 除了机动性方便移动外, 更可省去您重新评估空压系统及配管的时间及人力成本, 完美解决了因为环境受限无法提供压缩气体的芯片高低温测试难题.inTEST Temptronic ATS-535 高低温测试机特性： 自动升降温，不需要液态氮气(N2)或液态二氧化碳(CO2)冷却。 旋钮式控制面板 过热温度保护：出厂设置温度 +225°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。 加热模式下,冷冻机可切换成待机模式, 以减少电力消耗2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode(温度传感器：T型或K型热电偶)远程接口: IEEE.488, RS232 LabViewTM 驱动数据存储 热流罩提供局限性的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结CE相容 不含CFC：inTEST-Temptronic ATS-535 高低温测试机选用的制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境inTEST ATS-535 高低温冲击机参数高低温冲击范围-60至+ 225°C变温速率-40至+ 125°C 12秒+125至-40°C 40秒系统气流输出*5scfm（2.4l / s）固定流量 温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C（根据 NIST 标准校准时）DUT 温度控制专有的控制算法可直接控制 DUT 温度DUT 传感器端口热电偶：T＆K型电源制冷机功率：220±10％VAC 50 / 60Hz 16amp压缩机功率：220±10％VAC 50 / 60Hz 30amp工作温度+ 20°至+ 28°C +23°C 标称值湿度0至60％ 额定值的45％尺寸194.7cm（76.7inch）X 61.7cm（24.3inch）X 108.6cm（42.8inch）重量249.5kg（550lbs）inTEST ATS-535 尺寸inTEST ATS-535 高低温冲击机典型应用:上海伯东某主要研发生产电源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 公司, 因场地噪音限制, 严禁使用空压机, 通过伯东推荐采购 ATS-535 成功实现电源管理芯片的高低温冲击试验. 经过测试的芯片广泛应用于卫星通讯, 定位系统, 安防等领域.inTEST ATS-535 高低温冲击机测试过程1. 将待测芯片放置于已做好的工装中.2. 将 sensor 一端连接热流罩上对应接口, 一端与芯片表面接触3. 将 ATS-535 热流罩转到工装平台并下压固定4. 启动 ATS-535 高低温冲击机加热至需要测试的温度点5. 启动芯片测试设备对芯片在 -55度及 +125度下进行性能测试并记录数据inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics Temptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。 上海伯东版权所有，翻拷必究！ 若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络上海伯东罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

价格货期电议ECO-560 热流仪, 高低温冲击测试机 上海伯东美国 inTEST ECO-560 经济型高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -60 °C 至 +150 °C, 适用于对各类元件,零件, 混合件, 模块,子组件和 PCB 电路板进行快速和精确的温度冲击. 无需使用液氮 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 即可实现超低温.ThermoStream ECO-560 热流仪技术参数：高低温冲击范围-60 至+ 200°C, 50/60Hz变温速率-40 至+ 150°C 15秒+125 至-40°C 35秒系统气流输出*4 至 18scfm (1.9 至 8.5 l/s)温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C (根据美国 NIST 标准校准)DUT 温度控制专有的控制算法可直接控制 DUT 温度DUT 传感器端口热电偶: T＆K型电源200 - 250 VAC (230V nominal) 50/60Hz 30 amp, 1phase (21A Act.) 60Hz 20 amp, 1phase (18A Act.)工作温度+ 20°至+ 28°C +23°C 标称值湿度0至60％ 额定值的45％尺寸宽 46.4 厘米 x 深 66.7 厘米x 高 142.2 厘米重量主机: 181 千克 含包装: 227 千克噪音57 dBA inTEST ThermoStream ECO-560 功能特点:自动升降温: 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟氯氢和氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却 预防结霜: 干燥气流循环吹扫测试表面, 防止水汽凝结 (气体流量 0.5至 3scfm, 0.25 to 1.5 l/s） 支持可定制和存储的测试设置 操作员可根据实际需要设置高低温限制点.支持本地和远程控制: 远程控制通讯端口: Ethernet, IEEE-488, RS232 LabViewTM & LabWindows® 驱动与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势:1. 变温速率更快2. 温控精度: ±1℃ 3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台 load board 上的 IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度 若您需要进一步的了解 inTEST 高低温测试机详细信息或讨论, 请联络上海伯东罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

产品简介本系列的“半导体SFP光模块高低测试盒”是建立在半导体制冷片(热电制冷片)基础上设计的高性能温度控制系统，其特点是高精度和高稳定度、长寿命、体积小、无噪声、无磨损、无振动、无污染、既可制冷又可加热等优点。控温速度快，温度均匀性好，常温25℃降至-45℃时间为小于150S，遥遥领先行业。该设备可以广泛应用于光模块、光器件及其组件、小型和微型化封装的电子产品，在研发、生产各个环节的高低温测试中。该仪器具备如下特点，能有效帮助企业提高生产效率、降低生产成本、快速提升产能。应用方向 SFP光模块高低温测试 实验、科研温度控制高低温实验等液体 控温（特殊定制）非标定制

仪器简介：高低温环境测试机技术参数：高低温环境测试机详细说明 ◇型号规格及主要技术参数 产名 名称 型号 规格 工作室尺寸 温度 范围 温度均 匀度 温度波 动度 温度 偏差 高低温试验箱 HC-80 400× 500× 400 -0℃ -20℃ -40℃ -70℃-150℃ 2℃ ± 0.5℃ ± 2℃ HC-120 500× 600× 400 HC-150 500× 600× 500 HC-225 500× 750× 600 HC-408 600× 850× 800 HC-800 1000× 1000× 800 HC-1000 1000× 1000× 1000 HC-306 600× 750× 800 产名名称 型号 规格 降温 速度 功率 (KW） 电源 电压 备注 高低温试验箱 HC-80 1.0-1.2℃/min 2 AC220V 50HZ 1、数显仪表及进口制冷压缩机 2、内胆为不锈钢，外壳为冷轧钢板喷涂。 3、配备超温、超压和断相的报警保护装置。 HC-120 3 HC-150 4 AC380V 50HZ HC-225 5 HC-408 8 HC-800 9 HC-1000 12 HC-306 6主要特点：高低温环境测试机

高低温一体拉力试验机/恒温试验机/多功能测试机简介:1，对金属、非金属材料及复合材料的力学性能的测试以及工艺性能的分析研究。2，根据客户试样要求配上相应的工装夹具，可做拉伸、压缩、弯曲、剪切、撕裂、剥离、顶破、穿刺等试验。3，试验过程中可根据试验力和变形的大小自动变换量程，力、变形数据的动态显示，具有恒速、定荷重、定位移等控制方式。可选择应力-应变、力-伸长、力-时间等多种试验曲线，自动求出材料的最da力值、抗拉强度、屈服点、屈服强度、延伸率等参数。4，试验条件、测试结果、标距位置自动存储，可细微调整移动横梁位置，方便进行标校验,具有过载、过流、过压、过速、欠压、行程等多种安全保护方式。5，试验结束后，可打印批试样报告和单件试样曲线，软件方便可为用户添加特殊的功能模块。可按用户需求输出不同的报告格式,免费软件升级，享受终身服务。6，Win10下控制软件，人机界面友好，已有的测量数据和结果均可储存，分类，查询和打印，并可按用户的要求打印输出报告（或用户提供报告格式）。7，试验完毕后，即可进行试验数据的分析，从而得到试样的抗拉（压）强度，延伸率等力学性能指标。8，该机精度高、量程范围宽、试验空间宽、性能稳定、可靠。各项性能指标都满足我国GB/T16491《电子式wan 能试验机》标准。简体中文，繁体中文，英语等多种语言可随即切换。9，软件功能：只要输入样件的各项参数，软件可自动按标准完成实验。 10，配置高低温一体恒温箱，使试验在恒温环境下进行。

高低温冲击测试机 inTEST ThermoStream ATS-750E上海伯东美国 inTEST ATS-750E 高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -85°C 至 +300°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream® OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题！inTEST ThermoStream ATS-750E 技术参数型号温度范围 °C输出气流量变温速率温度精度温度显示分辨率温度传感器远程控制ATS-750-85至+300 50Hz-90至+300 60Hz4 至18 scfm1.8至 8.5l/s-55至 +125°C 约 10 s+125至 -55°C 约 10 s±1℃±0.1℃T型或K型热电偶IEEE 488RS232温度显示精度：±1°C(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode (DUT 温度传感器：T型或K型热电偶)远程接口: IEEE.488, RS232加热盖提供局限性的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结手持热管也可以随意的移动到被测组件上；也可选购工作支架，省去手持的操作LabView&trade 驱动CE相容 不含CFC加热除霜快速去除制冷机内部积聚的水分低温时热模式自动减少电力待机时自动节省电力提供 inTEST ATS-750E-M 机械手臂版本ATS-750E-M 高低温测试机尺寸和重量:尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm净重 236 kg, 毛重 365 kg与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1. 变温速率更快2. 温控精度：±1℃3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试。6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收购, 成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商. 而 Thermonics 创立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收购, 使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机, 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品. 上海伯东作为 inTEST 中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.有意向者欢迎联络上海伯东 罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

产品特点：高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家(三箱)的三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器，操作简单、学习容易。温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制。冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。高温冲击或低温冲击时，最大时间可达999H，最大循环周期可达9999次。系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。试料槽完全静止，可由测试孔外加负载配线。蓄热方式可避免使用职业伤害。（注：液态气体所产生发气,吸入肺部致使肺部氧气量减少, 而产生工作倦怠,集中力降低）。可选择始动位置，高温或低温开始循环。具有预约起动功能。可设定循环次数及自动除霜。可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜。运转中状态显示及曲线，异常及故障点显示说明及排除方法。有异常或故障显示及排除方法说明。欧美原装高效率复叠压缩冷冻机组，运转噪音低，省能源之设备多重保护装置，有效的保障系统的安全可靠运行产品用途： 高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家主要用于测试零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。该产品即适用于质量控制的实验室，确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性，又可满足生产过程中筛选商用和军用产品。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子……等材料，可作为其产品改进的依据或参考。 蓄热式冷热冲击不需要使用液态气体（LN2　或 LCO2）辅助降温，待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体大量选用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷、高信赖度，是本公司经多年研究开发的高性能试验机，为客户提供长期可靠的测试工具。高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家执行满足标准及试验方法GJB150.5 温度冲击试验GJB360.7温度冲击试验GB/2423.22 温度冲击试验温度范围：低温（F：-40；X：-55；S：-65）~高温+150℃高温区：+60℃~+200℃低温区：-10℃~-75℃ 升温时间(蓄热区) ：RT~200℃约需35min降温时间(蓄冷区) ：RT~-70℃约需85min温度恢复时间/转换时间： ≤5min内 / ≤10sec内温度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃内外部材质：内箱为SUS 304#不锈钢板雾面处理，外箱为冷轧钢喷塑处理或不锈钢保温材质：耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料控制器：原装进口韩国“TEMI” 或日本“OYO”牌 通讯功能：RS-232接口　　　压缩机：法国"泰康"牌或德国"比泽尔"制冷剂：美国R23和R404环保制冷剂冷却系统：全密闭式双段压缩机(风冷式)或半密闭式双段压缩机(水冷式)系统：P.I.D+S.S.R+微电脑平衡调温控制系统冷凝器：不锈钢钎焊板式换热器加热器、冷却器：镍铬合金加热器、翅片式冷却器、蓄冷器气动气缸：高温、环境温度、低温暴露时的各个风门驱动用冷却循环水：水压：0.2～0.4Mpa 水温≤30℃压缩空气：0.6～0.8Mpa安全保护装置：无熔丝开关、压缩机高低压保护开关、压缩机过热、过载、过流保护，冷媒高压保护开关、故障警告系统、电子警报器、漏电保护器，风机过热保护，相序保护，超温保护，排气阀，压缩空气调节开关，保险丝。配件：上下可调隔层两片、电缆测线孔、脚轮、水平支架电源：AC380V 50HZ/60HZ重量(大约) 450Kg 500Kg 550Kg 600Kg 700Kg

产品简介本系列的“双工位测试盒”是建立在半导体制冷片(热电制冷片)基础上设计的高性能温度控制系统，其特点是高精度和高稳定度、长寿命、体积小、无噪声、无磨损、无振动、无污染、既可制冷又可加热等优点。 控温速度快，温度均匀性好，常温25℃降至-45℃时间为小于150S，遥遥领先行业。该设备可以广泛应用于光模块、光器件及其组件、小型和微型化封装的电子产品，在研发、生产环节的高低温测试中。该仪器具备如下特点，能有效帮助企业提高生产效率、降低生产成本、提升产能。解决了当前行业通用方法/仪器应带来的各种弊端和不足。应用方向 SFP光模块高低温测试 实验、科研温度控制高低温实验等液体 控温（特殊定制）非标定制 产品选型表

产品简介本系列的“双工位测试盒”是建立在半导体制冷片(热电制冷片)基础上设计的高性能温度控制系统，其特点是高精度和高稳定度、长寿命、体积小、无噪声、无磨损、无振动、既可制冷又可加热等优点。 控温速度快，温度均匀性好，常温25℃降至-45℃时间为小于150S，遥遥领先行业。该设备可以广泛应用于光模块、光器件及其组件、小型和微型化封装的电子产品，在研发、生产各个环节的高低温测试中。该仪器具备如下特点，能有效帮助企业提高生产效率、降低生产成本、提升产能。解决了当前行业通用方法/仪器应带来的各种弊端和不足。应用方向 SFP光模块高低温测试 实验、科研温度控制高低温实验等液体 控温（特殊定制）非标定制 产品选型表

上海伯东 inTEST 高低温循环测试机闪存温度测试应用闪存(Flash Memory)，是非挥发性内存的一种，不需电力来维持数据的储存，可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash 两种，前者用于储存程序代码，后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、 GPS、工业电子…等等。闪存温度测试原因为确保闪存可在极端温度环境(例如: 油气探勘、重工业以及航空领域)可正常实现稳健的闪存读／写操作功能，因此在出厂前需要进行温度测试，inTEST ThermoStream 超高速高低温循环测试机凭借可测试温度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升温或降温 18°C，温度精度 +-1.0℃等优势广泛应用于闪存制造行业。上海伯东作为 inTEST 中国地区总代理，全权负责其新品销售和售后维修服务闪存温度测试方法:透过与爱德万 (Advantest ) 内存 IC 测试系统搭配之下，客户可直接在极端温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求，上海伯东推荐选用 inTEST ATS-545-M 高低温循环测试机，并提供两种温度操作模式: Air mode 及 DUT mode闪存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式来进行温度循环测式，将闪存与 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互连接，如此即可精确掌控受测物达到机台所设定之温度。闪存温度测试方法同样适合内嵌式记忆体eMMC 温度测试。更详细的温度测试操作方法欢迎致电 021-5046-3511inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热能工程和测试系统开发领域专家。inTEST Thermal Solutions 提供超高速高低温循环气流冲击设备，系列产品包含 THERMOSTREAM® ，thermochuck，Chiller。其中 inTEST ThermoStream 系列已全面取代 Thermonics 和 Temptronic。inTEST 凭借提供精密的高低温循环测试环境，作为最优的高速热测试设备广泛应用于安捷伦(Agilent)、台积电(TSMC)、IBM 等半导体、PCB、光通讯行业。上海伯东作为 inTEST 大中华地区总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务 上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Brooks Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST(Temptronic)高低温循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。上海伯东版权所有，翻拷必究！

型号CTL-50CTL-120CTL-180CTU-50CTU-120CTU-180CTS-50CTS-120CTS-180HxWxD(mm)内300x460x350500x610x400600x660x450外2250x1200x19502720x1050x19502920x1100x2150性能参数高温室温度暴露范围﹢60℃ ～ ﹢200℃预热温度上限200℃升温时间R.T→﹢200℃约40min低温室温度暴露范围0 ～ ﹣75℃预热温度下限﹣75℃降温时间R.T→﹣70℃约60min提篮温度范围CTL：﹣40 ～ 150℃CTU：﹣55 ～ 150℃CTS：﹣65 ～ 150℃温度波动度≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170﹣1996表示）温度偏差≤±2℃（﹣65℃ ～ ﹢150℃）转换时间≤5S温度回复时间≤5min结构外箱材质冷轧钢板表面喷塑（象牙白）内箱材质#304镜面不锈钢（1.2mm）隔热材料非危废类环保型玻璃纤维保温层制冷制冷方式风冷（A）或水冷（W）制冷机进口压缩机温度传感器铠装铂电阻控制器西门子PLC模块（含宏展环境试验设备嵌入式PLC控制软件PlatinumV1.0）+7英寸彩色液晶触摸控制屏（含宏展环境试验设备嵌入式触摸屏控制软件PlatinumV1.0）数据存储于功能接口USB数据接口：设备带有USB存储接口，存储信息包括试验时间、试验目标值和试验实测值等主要运行参数，存储格式为.csv格式，此文件可由宏展公司上位机通讯软件直接生产曲线，该USB接口不支持热插拔及下载功能，如要用U盘存储试验数据，需一直让U盘处于正常联接状态。 TCP/IP通讯接口：试验箱带有RJ45数据接口，后期如购买上位机通讯功能后（含宏展环境试验设备嵌入式计算机监控软件PlatinumV1.0），即可联接此接口以实现计算机管理功能，单台试验箱支持5台计算机同时访问、上位机软件可管理32台试验箱装机功率（KVA）19.73236电源AC380V 50Hz三相四线制+接地线标配配置产品使用说明书、试验报告1份、合格证及质量保证书各1份、隔板2层、带脚轮满足标准GJB150.3、GJB150.4、GJB150.5、GB/T2423.1、GB/T2423.2详细规格以对应规格书为准 注：外尺寸不包括外突部分。高低温冲击测试机实拍：

上海伯东美国 inTEST ThermoStream 高低温测试机用于光通信收发器(transciever)温度测试光通信收发器(transciever)温度测试原因：光通信器件在出厂前需要做元件级测试，主要包括对光纤收发器内部关键器件在电工作的电性能测试，失效分析、可靠性评估等。inTEST ThermoStream 高低温测试机与传统温度试验箱对比，升降温速率更快；可针对众多元器件中的某一单个收发器，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件。光通信收发器(transciever)客户案例：上海伯东客户是一家国际知名的光通信生产企业，经过技术选型，采购 inTEST- ThermoStream ATS-545-M 用于光通信收发器的高低温测试。ThermoStream ATS-545-M 移动式设计，配套自动机械手臂，测试温度范围：80°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。收发器温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：1、将待测收发器和温度传感器放置在客户定制的测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-545-M ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-545-M 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。鉴于信息保密，更详细的光通信收发器(transciever)温度测试方法 欢迎拨打电话：021-5046-3511上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。

WIGGENS 高低温恒温模块详细说明* 多位恒温器非常适合大量样的品快速均匀恒温，具有加热制冷速度快，温度均匀性稳定性好等优点，除下表提供的标准产品外， 可根据客户需要为客户定制各种特殊尺寸的恒温模块* 温度范围：-80 to 130℃* 温度均匀性：± 1℃* 最大搅拌位：60 位* 恒温模块基本类型：加热型，加热制冷型和回流型三种1. 加热型恒温模块，内嵌在加热块中的加热单元，可以快速加热恒温模块，请选择WIGGENS 温度控制器及振荡器，以达到最佳温度控制效果及样品振荡混匀效果。2. 加热制冷型恒温模块，内嵌在加热块中的加热单元，可以快速加热恒温模块，同时在每个样品孔的圆周都有冷却回路通过，通过外接制冷循环器，可以快速冷却样品，最低温度可以到-80℃ , 请选择WIGGENS 温度控制器及振荡器，以达到最佳温度控制效果及样品振荡混匀效果。3. 回流型恒温模块，三层模块。底层为内嵌加热单元的加热部分，可以快速加热样品；顶层为带冷却回路的冷却单元，可以将加热挥发的蒸汽冷凝下来，需要外接制冷循环器；中间为绝热层，可以将加热层和冷却层有效分隔开来。请选择WIGGENS 温度控制器及振荡器，以达到最佳温度控制效果及样品振荡混匀效果。可以在加热层底部增加一层带冷却回路的制冷层，这样可以在同一模块实现加热，制冷及回流三种功能。注：同一台wiggens 加热制冷循环器可同时给多个加热制冷型恒温模块恒温WIGGENS 加热型/加热制冷型恒温模块技术参数订货号描述RB-296 孔2ml(12× 32mm vail) 样品瓶加热恒温模块，8× 12 排列RB-496 孔4ml(15× 45mm vail) 样品瓶加热恒温模块，8× 12 排列RB-896 孔8ml(17× 60mm vail) 样品瓶加热恒温模块，8× 12 排列RB-2063 孔20ml(28× 61mm vail) 样品瓶加热恒温模块，7× 9 排列加热制冷恒温模块( 必须选择制冷循环器进行制冷)RBC-296 孔2ml(12× 32mm vail) 样品瓶加热制冷恒温模块，8× 12 排列RBC-496 孔4ml(15× 45mm vail) 样品瓶加热制冷恒温模块，8× 12 排列RBC-896 孔8ml(17× 60mm vail) 样品瓶加热制冷恒温模块，8× 12 排列RBC-2063 孔20ml(28× 61mm vail) 样品瓶加热制冷恒温模块，7× 9 排列 回流型加热制冷恒温模块详细说明* 必须选择制冷循环器进行制冷* 回流型加热制冷恒温模块所使用的样品瓶为模块恒温容积的 2 倍，如 4ml 恒温块 RBR 推荐使用 8ml 样 品瓶，其中4ml 容积为样品容积，4ml 容积为顶空回流容积* 回流型加热制冷恒温模块的标准配置只包含加热单元和回流单元，低温恒温模块 (BCP) 需要单独订购回流型加热制冷恒温模块技术参数回流型加热制冷恒温模块技术参数订货号描述RBR-296 孔2ml(15× 45mm vail) 样品瓶回流型加热恒温模块，8× 12 排列RBR-496 孔4ml(17× 60mm vail) 样品瓶回流型加热恒温模块，8× 12 排列RBR-863 孔8ml(21× 70mm vail) 样品瓶回流型加热恒温模块，7× 9 排列RBR-2063 孔20ml(28× 95mm vail) 样品瓶回流型加热恒温模块，7× 9 排列BCP附加在回流型加热模块下面的低温恒温回路，必须同时选择制冷循环器进行制冷注: Wiggens 提供各种特殊设计的恒温模块恒温模块样品氮气蒸发套件蒸发器附件直接固定在恒温模块上方，向恒温模块内的每个样品瓶内鼓入N2,配合WIGGENS 的振荡器， 间歇性的进行振荡，可以达到最佳快速蒸发效果。恒温模块样品氮气蒸发套件订货信息订货号产品描述RBV-9696 孔恒温模块蒸发套件，适合RB-2,RB-4,RB-8,RBC-2,RBC-4,RBC-8,RBR-2,RBR-4RBV-6396 孔恒温模块蒸发套件，适合RB-20,RBC-20,RBR-8,RBR-20其他同类型产品推荐WIGGENS WB-350加热制冷恒温器特点* 加热制冷恒温器采用PID微电脑控制,精确度达 ±0.1℃* 温度范围：室温以下 20-95℃，短时间内快速升温及降温* 程序记忆功能,可以存储每个设定项里的相关参数* 可以储存10 个程序* 每个程序中有10 个步骤* 两种定时类型* 时间1：设定时间后立即启动* 时间2：在达到设定温度以后启动* 构造特点* 由高效节能半导体原件控制制冷的紧凑型设计。* 高亮度的 VFD显示屏，触摸按键* 聚丙烯材质的机身设计，有很高的防腐蚀性能，并且易于清理* 带抗化学腐蚀的加热铝制模块和机身的紧密设计，保证了最佳的热传递效果* 透明盖子，易于观察样品* 标配模块取出器，非常容易更换模块。* 环境条件：温度2-60℃，相对湿度达80%WIGGENS WB-350加热制冷恒温器技术参数型号WB-350控制系统PID 反馈控制显示方式VFD温度范围（℃）+4-95℃波动度at 80℃ (±℃)0.05变化度at 80℃ (±℃)0.55安全温度保护加热板温度PCB电流保护限流保护外部尺寸(WxDxH)（mm）99 x 77.5 x 36内部尺寸(WxDxH)（mm）276 x 334 x 165净重（kg）5.0电源要求230V, 50 / 60 Hz，2A订货号J5015K

价格货期电议inTEST 热流仪搭配 Keysight 进行功率器件自动化高低温测试上海伯东美国 inTEST 热测产品搭配 Keysight 机台, 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 自动化热测试解决方案. Keysight 机台完美兼容 inTEST 软件, 操作简单.功率器件高低温测试案例一:上海伯东美国 inTEST Thermal Plate HP289-PM 搭配 Keysight B1505A 或 B1506A, 完成室温至 250℃ 温度测试. 通用软件, 操作简单, 只需将待测器件放置在 Thermal Plate 上即可. 通过使用 inTEST 可能的减少长线缆导致的测试问题, 兼容接头将 Keysight 分析仪与 inTEST 热板连接在一起.上海伯东美国 inTEST HP289-PM 是一个温控平台, 可以与 Keysight B1505A 和 B1506A 功率器件分析仪联用. 该平台允许自动控制板温度, 从外壳环境温度到 250°C, 用于表征功率器件, 例如 IGBT 和 MOSFET.主要特点1. 自动温度循环2. 实时数据记录3. 动态 DUT 温度控制4. 本地和远程操作功率器件高低温测试案例二:inTEST ThermalStream 高低温冲击测试机搭配 B150XA 系统, 提供 -50℃~250℃ 的温度测试环境.测试时, 只需将待测功率器件放置在高低温测试机测试罩内即可. 如果未连接测试腔, 则测试器件可能会因热空气或冷凝水而损坏. 连接到测试设备和 Thermostream 的热防护罩解决了这个问题, 可进行准确. 可靠和可重复的温度特性测试.上海伯东美国 inTEST ThermalStream 热流仪搭配 Keysight B150XA 系统评估 -50°C 至+ 250°C 温度范围内的功率器件特性, 是半导体器件制造商中比较通用的测试手段, ThermoStream 具有快速的热循环和精确的温度控制,是高功率器件可靠性测试和表征的理想选择.主要特点1. 自动温度循环2. 实时数据记录3. 动态 (DUT) 温度控制4. 本地和远程操作5. 无霜测试环境6. 节能模式功率器件高低温测试案例三:某企业通过上海伯东推荐, 购入美国 ThermoStream ATS-710 高低温冲击测试机, 为 MOSFET \ MOS 管, 场效应管, TO 封装等器件提供 -50 至 +150 °C 快速的外部温度环境, 满足测试器件性能的要求.inTEST Thermal Plate 热台 (环境温度至 +250°C) 和 ThermoStream (-50 至 +250°C) 可满足高温和极低温测试的需求. 两种温度测试都具有温度自动循环, 数据记录和远程通信功能.若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络上海伯东叶女士,分机107现部分品牌诚招合作代理商, 有意向者欢迎联络上海伯东 叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

上海伯东代理美国 inTEST-Temptronic 高低温测试机用于集成电路IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试、冷热冲击测试、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例：上 海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505 用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试：Temptronic ATS-505 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出 和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。鉴于信息保密，更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话：021-5046-3511inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。上海伯东版权所有，翻拷必究！上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。

集成电路 IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击测试 Thermal stock、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例一：上 海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505 用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试：Temptronic ATS-505 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出 和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。集成电路 IC 卡温度测试客户案例二：上海伯东客户是一家 IC 卡生产企业，经过技术选型，采购 Temptronic ThermoStream ATS-535 高低温测试机，ATS-535 内置空压机，温度测试范围：-60°C 至 +225°C，适用于实验室内无空压系统的客户，方便移动。集成电路 IC 卡温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：1、将待测 IC卡和温度传感器放置在测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-535 ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-535 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。 鉴于信息保密，更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话：inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 : 上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

型号※1TC/TH180TC/TH400TC/TH600TC/TH800TC/TH1000性能※2温度范围-70～+150℃湿度范围※320～98%RH温度波动度※40.5℃温度偏差±2℃湿度偏差±3.0%RH（＜75%RH）；±5.0%RH（≥75%RH）温度变化速率※55℃/分，10℃/分，15℃/分，20℃/分，25℃/分（线性或非线性变化）温度变化速率范围-55℃～+125℃内部尺寸（mm）W60081080010001000H60071095010001000D5006708008001000※1 无湿热功能的型号为TC。※2 室温为+25℃和循环水温+25℃、无试样条件下测得的数值。※3 有湿度才有此功能。※4 波动度按GB/T5170.2-2008规则表示，如按GB/T5170.2-1996表示为±0.25℃。※5 可选配液氮辅助制冷系统，降温速率可达30℃/min。详细参数以对应产品规格书为准 注：外尺寸不包括外突部分。 宏展TC-180高低温循环测试机实拍：

冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机产品用途：高低温冲击试验箱用于测试材料瞬间极高温至极低温的连续环境下所能忍受的程度得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的物理变化。适用于金属、塑料、橡胶、电子机电产品、航空航天、能源材料、医疗化工等材料行业模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机特点：1、采用气动控制，提篮在高低温室内切换转移，2、转换时间短，温度恢复时间短，温变速度快，3、采用两箱法，新一代外观设计，整体结构紧凑，体积小，提高了工作室的温度均匀性。4、既可作冷热冲击试验，也可以做单独高温或单独低温使用。5、备有高档万向滚轮，方便在实验室内移动。6、真空双层加热观察窗，自带照明。7、多数据接口，SD卡储存，USB输出，电脑APP远程操作。冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机技术参数1、提篮有效容积 27L2、规格尺寸：外宽深高：750×2100×1900mm，内520×600×600mm3、提篮尺寸：300×300×300mm4、高温预温度范围：60℃～+180℃5、低温预温度范围：-10℃～-60℃6、温度冲击范围：-40℃～+120℃7、提篮转换时间：≤10S8、温度恢复时间：≤5min9、温度波动度：≤±0.5℃10、温度均匀度：≤2℃11、温度偏差：≤±2℃12、高温预热时间：20℃～180℃≈30min、13、低温预冷时间：20℃～-60℃≈75min14、总功率：≈12kw15、运行功率：≈8KW16使用电压：AC220 50Hz规格提篮尺寸外形尺寸27L300×300×300750×2100×190080L400×400×5001200×2500×1800150L500×500×6001500×2600×1850210L600×500×7001700×2650×1900510L800×800×8002500×3200×21001000L1000×1000×10003000×3500×2100温度参数高温预温度范围60℃～+200℃低温预温度范围-10℃～-80℃冲击范围-40、-50、-65℃～120、150℃ 按要求选定温度恢复时间≤5min温度波动度≤±0.5℃温度均匀度≤2℃温度偏差：≤±2℃提篮运行运动方式气动提篮转换时间≤10S安全保护 漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、过载、过电流保护/控制器停电记忆 满足标准及试验方法GB11158-2008高温试验箱技术条件GB10589-2008低温试验箱技术条件GB10592-2008高低温试验箱技术条件（温度交变）GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14)GJB150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分：低温试验GJB150.5-1986温度冲击试验