自动光学检测

辨色龙CHAMELEON-100 LED光学检测系统采用了卓立汉光公司自行研制的SGM100摄谱仪以及CCD采集装置，可完成发射光谱的测量，尤其针对LED的光学检测，开发了一系列配套的光强、光通量测量附件（积分球）等，可方便用户简易快捷的对LED各关键参数进行测量，如： ◆ Spectral radiant flux ( W/nm ):绝对光谱 ◆ Peak wavelength (&lambda p) : 最高波长 ◆ Dominant wavelength (Hue；&lambda d )： 色域波长 ◆ Center wavelength (&lambda c): 中心波长 ◆ Excitation Purity (Chroma；%): 色纯度 ◆ Chromaticity Coordinates (x,y @1931)：色坐标 ◆ C.C.T. (correlated color temperature) : 色温 ◆ C.R.I. (color rendering index ) : 演色指数 辨色龙CHAMELEON-100 LED光学检测系统摒弃了传统的光纤传导设计模式，采用了无光纤设计，这种无损失直接光信号的传输方式，有效解决了光纤传导对于光的损失，且提高了测量的准确度。 辨色龙CHAMELEON-100 LED光学检测系统完全兼容CIE127-2007测量标准以及NIST标准溯源辨色龙CHAMELEON-100 LED光学检测系统 主要光学测量参数：测量速度30ms *光谱范围380-780nm测量参数IV(cd,lm,w) x, y, &lambda d, &lambda p,&lambda c,FWHM,CCT,CRI光谱分辨率2.5nm测量准确度IV:± 7%, *1 &lambda D: ± 1nm x, y: 0.005 ( Stable Lamp )测量范围5 mcd to 30000mcd or 20 mlm to 200 lm测量重复性IV:± 2% &lambda D: ± 0.3 nm x, y: 0.002 ( Stable Lamp )计算机接口USB 2.0尺寸140 mm x 80 mm x 180 mm (Spectrometer only)电源需求Supply by USB 2.0 or DC 5V　*1 Directly after calibration relative to the calibration standard

光学镜头光谱透过率检测系统■ 该系统测量光学镜头的光谱透过率（光学镜头透过率10%）■ 可测镜头口径：&Phi 8～&Phi 150mm（通过光阑变化选择），最大长度600mm■ 300mm焦距三光栅单色仪，自动扫描和光栅切换■ 光谱范围：380～2500nm■ 自动控制电移台，调节被测光学系统沿光轴移动到合适位置■ 溴钨灯光源，带斩波器和高稳定稳流电源■ 透过率准确度：± 2% （光学镜头透过率10%）■ 谱仪控制软件和滤光片轮控制软件、输出数据的采集和分析计算软件、测量参数自动保存，并可直接打印

如何使用影像亮度色度计进行 FPD 自动光学检测在产线上及产线的最终检测中，主要有三种方法可对高速生产过程中的平板显示屏 (FPD) 进行光学检测： 1) 人工检测 —— 轻松处理比较复杂的测试要求。但与电子测试方法相比，它相对缓慢，变化较大2) 基于机器视觉的检测 —— 非常快捷，测试简单。但很多测试不能反映出人的视觉体验3) 基于影像亮度色度计的检测 —— 在速度上介于上述两种方法之间。能够像人那样进行“目测”，而且具有高度的可靠性和可重复性 使用影像亮度色度计系统和相关分析软件，可以评估 FPD 的亮度、色彩均匀度和对比度，并识别 FPD 上的缺陷，这种用途已经被广为接受。影像亮度色度计和机器视觉之间的基本差别在于：影像亮度色度计可以精确地匹配人类视觉感知，包括对光线和色彩均匀度 (以及不均匀性 )的感知。 在本文中，我们将描述如何在全自动测试系统中使用影像亮度色度计，在高速度、大批量的生产环境中识别和量化缺陷。本文内容涵盖测试设置，以及可以执行的测试范围 – 从简单的点缺陷检测到复杂的 Mura检测和评估。测量挑战影像亮度色度计系统是基于 CCD 的影像系统，经过校准之后，它对光线、亮度和色彩的反应与 CIE 模型定义的标准人工观察者相同。可精确地同时测量亮度、色彩及其空间关系。测试时，系统会生成数据，并可随时使用这些数据来确定显示屏均匀性和对比度性能。此外，还可对均匀度差异进行分析，以识别和定位潜在的显示屏缺陷。显示屏测量和分析面临的三大重要挑战是： 1) 识别与人类视觉感知具有高度关联性的缺陷2) 量化缺陷的严重程度3) 快速执行高重复度的分析 缺陷的分析和量化可以作为依据，帮助我们确定导致缺陷的显示屏组件，以及接下来采取的行动 – 例如废弃显示屏或返回进行修理 – 从而提高质量测试的效率，还可以降低成本。与人工视觉检测相比，使用影像亮度色度计的测试更加快捷和灵活，重复度更高，另外它在匹配人类视觉感知方面的精确度高于机器视觉。 影像亮度色度计可以精确地捕获 FPD 上的光线和色彩变化的空间关系，这一优点使得这种测试方法非常适用于评估视觉性能。测量组件和测试通过指定适当的自动测试序列，影像亮度色度计可用于获取广泛、精确的高分辨率数据，以描述特定显示屏的性能。对于典型测试序列，此类测量数据通常可在几秒钟至一分钟之内获取，具体时间取决于显示屏技术和分辨率。使用新的 Mura缺陷分析技术，这些影像可用于确定与物理原因直接相关的各种缺陷之间的细微差异。 要使用影像亮度色度计进行显示屏的自动测量和分析，需要使用组合测量控制和分析软件。我们针对此应用开发的系统整体结构如图 1 所示。该系统的主要组件包括：(1) 科研级影像亮度色度计系统；(2) 基于 PC 的测量控制软件，它不仅控制影像亮度色度计，还控制待测试设备上的测试影像显示；以及 (3) 一套能够运行各种测试的影响分析函数。因此，该系统可针对各种显示屏缺陷 (例如点缺陷、线缺陷和 Mura)提供量化自动检测。 实施的部分测试包括：图 1. FPD AOI 测试设置，影像亮度色度计处在自动软件控制下显示屏缺陷检测应用显示屏缺陷分为很多类型，例如像素缺陷和行缺陷、屏幕制造的物理疵点 (例如脱层 )、屏幕损坏 (例如划痕 )、影像均匀度的疵点 (例如 Mura)。利用对视觉感知的最新研究，我们可以根据人工观察者发现这些缺陷的明显程度 (或者是否明显 )，通过数字方式对这些缺陷进行分类。这个分析过程速度很快，而且重复度很高。它适用于多种显示屏技术，包括液晶、等离子、OLED 和投影显示屏。 在本文中，我们通过分析多个显示屏，演示这些缺陷检测和分类方法。图 2 显示了存在行缺陷的显示屏的光学测量，分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷，如图 3 所示。行缺陷是一种比较容易确定根源的缺陷；其起因是液晶屏故障。 图 2.存在可视行缺陷的显示屏屏幕的光学测量。 图 3.行缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的；屏幕上为用户指明了缺陷位置。 图 4 显示了存在点缺陷的显示屏的光学测量；分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷，如图 5 所示。如果分析确定该故障的起因是液晶屏像素停滞，则可将点缺陷归类为像素故障。但是，从单个角度直视并不能区分死像素与显示屏玻璃背面微粒之间的差异。在此情况下，需要进行第二道检验以识别故障原因。 图 4.存在点缺陷的显示屏的光学测量 – 您能看到吗？ 图 5.点缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的，并在显示屏屏幕上标记，我们放大了该点，让它更容易看到。Mura的检测和分类可能比较复杂。 Mura通常是亮度和色彩的不均匀性，覆盖较大的不规则区域。如果发现亮度和色彩对比度超过了可感知的阈值，则表示检测出 Mura。但是，由于人工感知这些对比度取决于多个因素，包括视距、空间频率和方向，因此我们无法通过查看对比度的简单绝对值，来识别相关 Mura。 在对显示屏缺陷的人类视觉感知建模方面，我们最近取得了进展，这使我们能够从“最小可觉差”(JND)的角度来量化 Mura。基于人工观察员的采样，我们定义了 JND 标度，如果 JND 差异为 1，则从统计上无法察觉；在绝对标度上，JND 为 0，表示没有可视的空间对比度，JND 绝对值为 1，表示第一个可察觉空间对比度 – 这样就能针对各种显示屏技术对显示缺陷进行分级。因此，我们可以处理亮度和色彩的空间分配的影像亮度色度计测量，以创建影像的 JND 映射，其中 Mura缺陷在与人类视觉感知直接关联的前提下进行了分级。图 6 显示了存在 Mura缺陷的显示屏，经过分析后，我们在显示屏影像上识别了该缺陷，如图 7 所示。 图 6.对存在 Mura缺陷的显示屏进行影像亮度色度计测 量，您能够找到这个缺陷吗？图 7.该 Mura缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件在显示屏上识别的。它的范围与 JND 值一同显示。图 8 和图 9 显示了识别 Mura的步骤。作为中间步骤，它会生成一个差异影像，显示相对于参考影像的亮度偏差。然后计算显示屏的 JND 映射。请注意，图 7 所示的 Mura测试有意忽略了 JND 影像中的明显边缘效应。这些效应可以简单地单独识别和分类。识别 Mura缺陷并不是基于各区域之间的对比度计算的简单数学计算。首先， Mura区域的大小和形状各不相同。其次，人工感知 Mura的能力受到其他一些因素的制约 – 视频、空间频率和色彩。 图 8.差异图片显示了相对于计算参考影像的偏离。Mura的位置突出显示。图 9.显示了显示屏 JND 映射的“伪彩色图像”。显示屏边缘的漏光和明显 Mura缺陷标识为较大的 JND 值。基于影像亮度色度计的 AOI 测试系统可以快速可靠地识别和量化显示屏缺陷。为确定或分类缺陷根源，从而确定显示屏的状态，有时需要人工检测。很多情况下，例如图 3 所示的行缺陷，识别的缺陷及其起因之间存在一对一关系。在这些情况下，我们可以即时对缺陷进行分类，而且无需人工检测。而在其他一些情况下，例如某些 Mura缺陷，缺陷可能有多种原因，因此我们需要更多信息帮助进行分类。执行这种分类的一种高效方法是让人工操作员确定哪种原因是正确的。当需要人工分类时，为了提高效率，TrueTest 会向操作员指示需要进一步检验的缺陷的位置和详细信息。可以在人工判断基础上进行加速，例如专门针对需要分类的缺陷，以及提供适当的细节。 对于图 4 和 图 5 中所示的点缺陷，操作员可以知道暗点的准确位置和相关信息，从而快速确定该缺陷是死像素，还是显示屏玻璃背面的微粒。 总结本文档所述的影像亮度色度计 AOI 测试方法可以应用于多种显示屏技术， FPD(液晶、等离子、OLED)和投影显示屏均可使用。这些方法提供与人工视频感知相关的快速可重复测量，能够通过数字方式标识缺陷特征，因而不仅可以识别显示屏缺陷，还能够按原因对缺陷进行分类。这使我们能够在制造应用中对显示屏进行一致测量，并根据用户定义的标准，自动确定显示屏是否通过测试。更加重要的是，它还可以自动确定修补措施 (例如返工或废弃 )。

FSD100e是睿励微电子设备(上海)有限公司专为LED市场开发生产的自动光学检测设备（AOI），适用于蓝宝石衬底、图形衬底、外延片和芯片等各种工艺。该系统具有高分辨率、高速、高性价比的特点，并能根据检测结果进行自动分拣。既能为LED生产厂商提高生产效率，又可为进行全面良率管理提供数据。FSD100e正在市场上推广，已受到客户的肯定和好评。 FSD100e系统主要特点: 低持有成本、高稳定性和高可靠性的设计 两吋及四吋蓝宝石衬底通用 特别适用于PSS检测 同时检测微观及宏观缺陷 全表面检测、自动缺陷分类、自动存储缺陷图像 高分辨率的缺陷复查功能 根据检测结果自动分拣，提高生产效率 为管理工艺漂移提供有效手段,为良率管理提供数据 支持工厂自动数据传递

在线三维自动光学检测设备◆ 可编程相位轮廓调制测量技术◆ 四/八向投射同步结构光技术◆ 测量项目：缺件、偏移、旋转、三维极性、反件、OCV、翘立、侧立、立碑、焊接不良等◆ 焊点检查项目：焊锡拉尖、焊锡量百分比、多锡、少锡、桥接、堵孔、爬锡、焊盘污染等◆ 最小检测元件：01005（英）◆ X-Y精度：10um◆ 高度重复性精度：1um(4sigma)◆ 检测面积：1500x500mm ◆ 远心镜头配合超高帧数高精度工业相机◆ 检测速度：0.45秒/FOV◆ Mark点识别：0.5秒/个◆ 最大检测高度：10mm◆ 可过板上器件高度：50mm◆ 弯曲PCB最大测量高度：±5mm◆ 操作系统：Windows 10 Professional (64 bit)◆ SPC过程工艺控制

美国安维谱有限公司(MVP)是一个国际性的AOI公司，在该领域持续服务达二十年，在全球各地都拥有技术支持团队。MVP的使命是向电子和半导体制造商提供最好的，最先进的自动光学检测和制程控制技术。MVP一贯采用创新性的解决方案，领先的技术需求，帮助我们的客户用最先进的AOI平台提高他们的业务。 MVP领先的软件工具，容易使用且不降低检测性能。并独特地为我们的客户提供灵活性，部署系统在新产品引进、小批量、高混合或高产量生产环境。Supra E 系列:Supra E作为标准配置的SUPRA E系列，使用多角度的灯光来确定每个元件及引脚的不同特征，进而通过单一的图像来检查所有特征。　特性: &bull 高速最具性价比 &bull 可测板规规格达: 20&rdquo x 30&rdquo &bull 2D锡膏检测功能 &bull 可选双轨与三色光 &bull 可用于锡膏印刷后,回流焊后 &bull 高处理能力的500万像素照相机和四个角度不同灯光 &bull 机身外行小于1米 &bull 可01005检测能力 &bull 有助拓宽缺陷覆盖率，并降低误报 Ultra 850G系列:花岗岩平台的微电子和半导体测试系统。BGA和BUMP检测、线焊、3D测算、环氧树脂助焊剂、DIE放置精度和表面光洁度检测。 Spectra 系列:SPECTRA系列主要针对大规格的板子的生产线。MVP的飞行检测平台组合了三色光技术，拥有快速的测周期时间，同时提高了检测能力。 Ultra 系列:Ultra系列的三色光技术使用多角度灯光来确定每个元件及引角的不同特征，进而通过单一的图相来检测所有特征。

CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 EagleT-I 公司概述Camtek是一个 的开发商和制造商的高端半导体行业检验和计量设备。Camtek的系统检查和测量晶圆半导体器件的整个生产过程,包括前道和封装,和组装的检测。Camtek系统检查晶片是 苛刻的半导体市场,包括先进互连包装、内存、CMOS图像传感器、微机电系统和射频,服务行业 的 IDMs OSATs和铸造厂。性能：Camtek检验和计量系统可以在高通量检测有缺陷的ICs可靠,确保只有known-good-die交付给客户的 终产品。先进的包装技术的增长,已被证明是 有效的解决方案的高端产品,Camtek提供了各种检验和计量技术,可以根据客户的需求快速 地帮助他们满足 严格的要求没有缺陷的产品以及支持需求增长和投放市场的时间。创新：Camtek创新使得它的技术领导人检验和计量在半导体领域的细分市场服务,通过交付解决方案,已成为许多应用的行业标准。 获胜的结合性能和灵活性与易操作和可靠性,为客户提供 佳的资本投资。响应性：本地团队在每一个领域是完全独立的,能够安装系统,添加新功能和提供所需的全方位的服务我们的客户。精益组织结构使快速反应引起行业需求和挑战。 Camtek软件,模块化的体系结构的系统可以解决独特的客户需求的高度定制,同时提供简单和具有成本效益的领域升级包安装设备。 EagleT-i是AOI市场上2D检测速度 快的设备之一，其中囊括了CAMTEK 先进的机构、 新的镜头、 高速的传输信道。检测原理与MVP有点类似，都是通过工业相机进行图像采集，然后用影像处理软件对图像进行分析，对于不同的检测应用，他们的软件中有专门的算法来做判断。所以他们的产品优势在于影像处理的硬件和软件方面。主要应用领域：CMOS传感器阵列，LED良率监测，MEMS特殊结构监测，TSV，mBUMP等。大量产的2D检测适用于部分前道工艺：电镀bump前后检测、电测针印大小的检测、OQC检测、划片后的检测等； 产品优势：基于CAD图层检测； 的图像锐化功能；可以检测RDL后小到2um线宽；兼容检测方片、翘曲片；可以检测小到0.2um的表面缺陷；多重放大倍数，提高检测能力。

光学自动雨量监测站【TH-YJ3】可广泛地应用于气象、防汛、农业、水文水利、环保、高速公路、机场和港口等领域。可为气象台(站)、水文站、农林、国防、野外测报站等有关部门测量降水量、降水强度、降水时间等参数提供原始数据 也可为防洪、供水调度、电站、水库水情管理提供有参考价值的实时数据。一、产品概述TH-YJ3光学雨量监测站是一款以物联网为基础的现代型雨量站，由光学雨量传感器、采集器、太阳能供电系统、立杆支架等组成，设备能够以无线远程发送的形式发送雨量数据，可以将数据无线远程发送到监控平台。登录物联网平台可查看实时数据和历史记录，雨量数据包括降雨状态、一分钟雨量、五分钟雨量、十分钟雨量、一小时雨量、日雨量、月度日雨量柱状图、一天内小时雨量变化曲线及柱状图。云平台支持日分界时间设置，日雨量报警阈值设置，数据可EXCEL导出。光学雨量监测站可广泛地应用于气象、防汛、农业、水文水利、环保、高速公路、机场和港口等领域。既可为气象台（站）、水文站、农林、国防、野外测报站等有关部门测量降水量、降水强度、降水时间等参数提供原始数据；也可为防洪、供水调度、电站、水库水情管理提供有参考价值的实时数据。二、产品特点1.本光学雨量传感器采用纯正弦红外光源、内置窄带滤光片、感雨面达到78平方厘米，可高精度测量降雨量、不受高强度太阳光等光线影响。高透光率感雨罩不影响直射的太阳光，可兼容内置其他光学传感器，如光照、总辐射、紫外线传感器等2.测量精度高，量程宽，稳定性能好，低功耗，抗外界干扰能力强3.可全天候工作，不受天气变化的影响，精确到秒的降雨时长监测4.免维护，雨滴接触面为弧形设计结构，不存储雨水5.安装后带有自动水平校准功能，无需现场校准6.低功耗采集器：静态功耗小于0.5ma7.支持modbus485传感器扩展8.太阳能充电管理MPPT自动功率点跟踪9.短信报警，超限后向指定的手机上发送短信10.ABS材质防护箱，耐腐蚀、抗氧化，防水等级IP66三、技术参数：1.测量原理：红外扫描2.测量范围：雨强0～4mm/min3.测量精度：±4%4.分辨率：0.01mm5.供电方式：太阳能供电6.太阳能功率：30W7.蓄电池参数：20Ah8.支架：碳钢2米支架9.工作环境：-40℃～60℃ 四、云平台介绍CS架构软件平台，支持手机、PC浏览器直接观测、无需额外安装软件支持多帐号、多设备登录支持实时数据展示与历史数据展示仪表板云服务器、云数据存储，稳定可靠，易于扩展，负载均衡支持短信报警及阈值设置支持地图显示、查看设备信息。支持数据曲线分析支持数据导出表格形式支持数据转发，HJ-212协议，TCP转发，http协议等支持数据后处理功能支持外置运行javascript脚本

CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 EagleT-I 公司概述Camtek是一个领先的开发商和制造商的高端半导体行业检验和计量设备。Camtek的系统检查和测量晶圆半导体器件的整个生产过程,包括前道和封装,和组装的检测。Camtek系统检查晶片是最苛刻的半导体市场,包括先进互连包装、内存、CMOS图像传感器、微机电系统和射频,服务行业领先的全球IDMs OSATs和铸造厂。性能：Camtek检验和计量系统可以在高通量检测有缺陷的ICs可靠,确保只有known-good-die交付给客户的最终产品。先进的包装技术的增长,已被证明是最有效的解决方案的高端产品,Camtek提供了各种检验和计量技术,可以根据客户的需求快速高效地帮助他们满足最严格的要求没有缺陷的产品以及支持需求增长和投放市场的时间。创新：Camtek创新使得它的技术领导人检验和计量在半导体领域的细分市场服务,通过交付解决方案,已成为许多应用的行业标准。 获胜的结合性能和灵活性与易操作和可靠性,为客户提供最佳的资本投资。响应性：本地团队在每一个领域是完全独立的,能够安装系统,添加新功能和提供所需的全方位的服务我们的客户。精益组织结构使快速反应引起行业需求和挑战。 Camtek软件,模块化的体系结构的系统可以解决独特的客户需求的高度定制,同时提供简单和具有成本效益的领域升级包安装设备。 EagleT-i是AOI市场上2D检测速度最快的设备之一，其中囊括了CAMTEK最先进的机构、最新的镜头、最高速的传输信道。检测原理与MVP有点类似，都是通过工业相机进行图像采集，然后用影像处理软件对图像进行分析，对于不同的检测应用，他们的软件中有专门的算法来做判断。所以他们的产品优势在于影像处理的硬件和软件方面。主要应用领域：CMOS传感器阵列，LED良率监测，MEMS特殊结构监测，TSV，mBUMP等。大量产的2D检测适用于部分前道工艺：电镀bump前后检测、电测针印大小的检测、OQC检测、划片后的检测等； 产品优势：基于CAD图层检测；世界领先的图像锐化功能；可以检测RDL后小到2um线宽；兼容检测方片、翘曲片；可以检测小到0.2um的表面缺陷；多重放大倍数，提高检测能力。

产品 半导体生产与封装 高端封装，例如堆栈式芯片封装、3D封装、SIP封装、倒装芯片、以及在芯片互联区域对缺点敏感的精细引线健合。Camtek的技术领先的系统为晶元厂、金 属凸块代工厂与封装厂提供2D及3D检测与测量，征服这些挑战，并能适应大多数的生产环境，处理直径高达300mm的无框或有框晶元。

三维自动光学检测设备A-510DL(双轨)◆ PSLM PMP 可编程相位轮廓调制测量技术◆ 四/八向投射同步结构光技术◆ 测量项目：缺件、偏移、旋转、三维极性、反件、OCV、翘立、侧立、立碑、焊接不良等◆ 焊点检查项目：焊锡拉尖、焊锡量百分比、多锡、少锡、桥接、堵孔、爬锡、焊盘污染等◆ 最小检测元件：01005（英）◆ X-Y精度：10um◆ 高度重复性精度：1um(4sigma)◆ 检测面积：450x310mm(双轨）◆ 远心镜头配合超高帧数高精度工业相机◆ 检测速度：0.45秒/FOV◆ Mark点识别：0.5秒/个◆ 最大检测高度：10mm◆ 可过板上器件高度：50mm◆ 弯曲PCB最大测量高度：±5mm◆ 操作系统：Windows 10 Professional (64 bit)◆ 五分钟编程，一键式操作◆ SPC过程工艺控制

2024年4月9日，思看科技（SCANTECH） 全新发布AM-CELL C系列自动化三维检测系统 ！创新性融入核心单元设计理念，集易部署、易操控、高拓展性、全方位安全于一体，为中小型零部件检测打造自动化交钥匙解决方案，探寻智能制造更多可能！AM-CELL C系列自动化光学3D检测系统创新性融入核心单元设计概念，深度集成机器人、变位机和跟踪站单元，布局更灵活，支持拓展多工位协同工作，实现更加柔性的部署方式。设备使用标准工业外扩接口，可无缝衔接生产线，搭配全新自研的DefinSight-AM自动化软件，满足各类复杂车间环境下的冲压件、注塑件、机加钣金件、压铸件等中小型零部件的自动化检测需求，赋能生产制造企业打造智慧工厂。轻装上阵 灵活布局 系统由多个标准化的独立模块组成，布局灵活，轻松驾驭用户多元场景下的批量检测需求。设备安装调试仅需2天，调试过程可拖拽机器人进行示教，实现快速自动路径规划，告别复杂繁琐的操作流程，大幅降低自动化设备的使用门槛，开启您的效率革新之旅。机器人单元-深度集成机器人和设备总控于一体-精准操控，安全可靠变位机单元-高灵敏度自研转台-智能运动控制系统-实现更多负载-快速响应，稳定运行跟踪站单元-人体工程学结构设计-大幅度扩展操作区-大容量收纳空间，支持整套扫描仪收纳硬派计量 精准出击AM-CELL C系列适配思看科技全系列不贴点跟踪式三维扫描系统，长时间运行更稳定，可以24小时不间断地完成每天数百个零部件的批量检测任务。无损演绎手持设备最高2,600,000 次/秒测量速率和0.025mm计量级精度；同时支持全新灰度值边界检测功能，自动提取孔特征，轻松获取冲压件或机加件的圆孔、圆槽、方孔等封闭类特征的高精度三维数据。赋能生产过程分析，从源头提高产量、降低生产成本，实现标准化质保过程。柔性部署 高效协同针对客户的产品测量需求、生产节奏以及产品种类的多样性，灵活配置多工位系统，以此达成换件不停机的高效生产模式。结合自动化软件，可以多线程并行处理任务，真正做到测量设备无等待、无停滞地持续运作，测量效率较传统三坐标提高5倍以上，加速研发转化周期，为新产品快速投放市场提供有力的保障。多元适配 多样选择AM-CELL C系列凭借卓越的兼容性，可无缝适配各种品牌、型号的大臂展协作机器人（臂展≥1300mm），无需额外硬件配置，就能实现即插即用的部署过程，快速融入各类生产场景，大幅减少使用成本和准备时间。设备亦可根据不同产品的特定要求，提供200-1000KG范围内多种负载和尺寸的智能转台系统，便于用户灵活选择，以满足不同工业产品及工艺的差异性应用，为用户打造高效益和高适应性的自动化检测系统。人机交互 全方位安全感机器人和变位机单元均搭载先进的力反馈伺服控制系统，无需特殊安全防护，凭借精准的力量控制，确保操作的稳定性和安全性。整套测量系统提供更好的人机交互场景，可以充分保障操作人员和设备本身的双重安全。同时，依据客户的安全需求和更高的安全等级要求，可选择加装安全围栏、安全光幕、安全门锁等多种防护方式，带给用户全方位的安全操纵体验。自动化软件DefinSight-AM自研专属自动化软件平台DefinSight-AM，融合先进的数据采集能力和高度智能化的机器人控制系统，兼容思看科技全系列3D扫描仪及各种测量策略，数据采集更加精准可靠。支持搭载市面主流机器人，开放控制脚本，在符合机器人安全要求下直连机器人运动，降低机器人的使用门槛。软件可按使用者权限设置为工程师模式或操作者模式：工程师模式：支持脱机制作自动化测量程序及模板，便于工程师一人同步维护多套自动化测量系统。通过回溯历史测量结果并生成统计分析，实现更加精细化的质量控制过程，为生产制造保驾护航。操作者模式：支持一键启动，自动调用、计算、生成检测报告，对测量程序设置仅作读操作，保证程序及设备安全，大大降低了操作员的技能要求及误操作可能性。软件支持多种工业通讯协议及其他设备拓展，例如读码调取程序，视觉安全防护，环境状态监控等功能，使得整套测量系统完全融入工业物联网，实现黑灯工厂、无人工厂的工作需求，快速识别生产中的变化，确保生产过程稳定可靠，赋能生产制造全生命周期的质量控制。全场景测量 释放强悍实力生产车间设备抗干扰性强，不受环境光源、温度变化的影响，在复杂车间环境下，仍能保持长时间高精度自动化三维测量。尺寸测量室无需特殊安全防护要求，可以根据实际情况选择是否加装防护外框，实现安全稳定、用户友好的实验室测量。教学实训支持多种编程，无需专业技能即可高效完成测量任务，致力于以产学研融合的方式，助力人才培养生态建设。关于思看科技 思看科技是面向全球的三维视觉数字化综合解决方案提供商，主营业务为三维视觉数字化产品及系统的研发、生产和销售。公司深耕三维视觉数字化软硬件专业领域多年，产品主要覆盖工业级高精度和专业级高性价比两大差异化赛道，主要产品涵盖便携式3D视觉数字化产品、跟踪式3D视觉数字化产品、工业级自动化3D视觉检测系统和专业级彩色3D视觉数字化产品等。公司产品广泛应用于航空航天、汽车制造、工程机械、交通运输、3C电子、绿色能源等工业应用领域，以及教学科研、3D打印、艺术文博、医疗健康、公安司法、虚拟世界等万物数字化应用领域，致力于提供高精度、高便携和智能化的三维视觉数字化系统解决方案，打造三维视觉数字化民族品牌。

KLA Candela光学表面缺陷分析仪（OSA）可对半导体及光电子材料进行先进的表面检测。Candela系列既能够检测Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板，又能对SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料进行检测，成为其制程中品质管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光学表面分析（OSA）专用技术，可同时测量散射强度、形状变化、表面反射率和相位转移，为特征缺陷（DOI）进行自动侦测与分类。OSA检测技术结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与光学形状分析等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。Candela系列拥有良好的灵敏度，使用于新产品开发和生产管控，是一套极具成本效益的解决方案。 二、 功能 主要功能 1. 缺陷检测与分类 2. 缺陷分析 3. 薄膜厚度测量 4. 表面粗糙度测量 5. 薄膜应力检测 技术特点 1. 单次扫描中结合四种光学检测方法的单机解决方案，可实现高效的自动化缺陷检测与分离； 2. 对LED材料的缺陷进行自动检测，从而增强衬底的质量管控，迅速确定造成缺陷的根本原因并改进MOCVD品质管控能力； 3. 满足多种工业要求，包括高亮度发光二极管（HBLED），高功率射频电子器件，透明玻璃基板等技术； 4. 在多个半导体材料系统中能更灵敏的检测影响产品良率的缺陷。 5. 自动缺陷分类功能(Auto Defect Classification)(Particle, Scratch, Pit, Bump, and Stain Detection) 6. 自动生成缺陷mapping。 技术能力 1. 检测缺陷尺寸0.3μm； 2. 大样品尺寸：8 inch Wafer； 3. 超过30种DOI的缺陷分类。 三、应用案例 1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控 3. PR膜厚均一性评价 4. Clean制程清洗效果评价 5. Wafer在CMP后表面缺陷分析

用于PCR仪、POCT仪器、干式荧光免疫分析仪的光学检测模块。

晶圆级衍射光波导光学检测系统皮米级周期计量 / 快速无损 / 形貌量测 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 是一款专为晶圆级光波导样品提供的专业光学检测系统，采用先进的角分辨光谱技术，配合强大的 AI 算法以及可溯源的标准物质，能够快速、准确获取一维、二维光栅的衍射效率及其形貌参数，为用户在衍射光栅的设计与加工过程中提供快速、无损的监控手段，不断提高产品生产良率。 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 典型应用领域： 光栅衍射效率测量 衍射效率是评价光栅性能的核心指标，需要系统具有同时测量角度和波长的能力。 光栅周期计量 周期作为衍射光波导的基本参数，影响着光在波导内部正确的传输与衍射，可溯源的方法是周期计量中的关键所在，需要具有复现和量值传递作用的标准物质作参考。 光栅形貌量测 高性能衍射光波导具有较为复杂的光栅形貌，对形貌无损快速的检测是晶圆批量制程中的核心诉求，需要系统具备多维度光学信号抓取能力并支持人工智能算法高效分析。 光栅取向测量 光波导中不同区域光栅的取向差异对成像至关重要，需要系统支持旋转角精确调节。 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1 角分辨光谱技术 得益于 -70°~70° 的广角量程与优于 0.02° 的角度精度，可准确捕捉 多级次 衍射强度随波长和角度的精确分布； 2 晶圆级测量 采用高兼容性样品台，有效覆盖 4~12 寸 晶圆的全面检测需求。同时，结合智能化软件，支持晶圆版图输入，实现了对衍射光波导晶圆的批量 mapping 检测； 3 人工智能算法 引入在线优化、深度学习和库搜索等前沿算法，将物理模型与多维光谱信息紧密融合，可实现 海量模型 的构建与优化，实时获取衍射光波导光栅的精确形貌参数； 4 高精度电动位移台 选用高精度 四轴电动 位移台，可实现 X, Y, Z 轴 微米级 空间定位精度，平面取向 θ 角 弧秒级 角度定位精度，支持衍射光波导全方位自动检测。Metrondie-SRG 光学量测示意图

光学镜头光谱透过率检测系统■ 该系统测量光学镜头的光谱透过率（光学镜头透过率10%）■ 可测镜头口径：&Phi 8～&Phi 150mm（通过光阑变化选择），最大长度600mm■ 300mm焦距三光栅单色仪，自动扫描和光栅切换■ 光谱范围：380～2500nm■ 自动控制电移台，调节被测光学系统沿光轴移动到合适位置■ 溴钨灯光源，带斩波器和高稳定稳流电源■ 透过率准确度：± 2% （光学镜头透过率10%）■ 谱仪控制软件和滤光片轮控制软件、输出数据的采集和分析计算软件、测量参数自动保存，并可直接打印

中图仪器Novator全自动光学影像仪产品零部件全检测量仪将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，实现无缝连接2D/3D混合测量。仪器具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。 3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。测量界面测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。高度测量Novator全自动光学影像仪产品零部件全检测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量3D形貌测量搭载高精度线扫激光测头，无接触扫描3D轮廓成像，抑制多重反射，能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图，可观察到产品形貌的微小特征，可实时输出2D、3D图像保存，支持2D、3D产品尺寸测量。 Novator全自动光学影像仪产品零部件全检测量仪可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。部分技术规格型号 Novator432 行程范围X(mm) 400Y(mm) 300Z(mm) 200图像传感器高清彩色工业摄像机 显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）镜头13.3X电动连续变倍放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X 3D扫描成像测量 Z向测量范围5mm扫描宽度30mm扫描速度10~80mm/s支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(kg)650承重(kg)25恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器SJ5720超高精度光学镜片检测仪是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的高精度光学曲面测量仪。它采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高稳定性气浮隔震系统、高性能计算机控制系统技术，实现对球面及非球面光学元器件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。专业为非球面镜片的大曲面测试，通过高稳定性的气浮隔震系统保证仪器不受外界振动影响，计算机采用高精度标定系统对采样数据进行修正标定，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓及微观轮廓进行非球面参数分析、各种粗糙度参数、轮廓参数分析。测量功能1.非球面基本参数输入功能：凸凹形状、R-顶点半径、K-圆锥常数，多次项常数:A1、A2…A40等；2.非球面参数测量评定：微观轮廓参数Pt、Pa、Fig；倾角参数Smn、Smx；水平轴线夹角Tilt；光轴与轮廓的距离参数Xp、Xv、Xt；均方根粗糙度参数RMS；斜率参数Slpe mx、Slpe mx(x)、Slpe rms、Slpe ave；勾选优化半径后计算顶点半径误差参数Radius Err等。3.表面粗糙度评定： R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。4.支持轮廓分析功能：创建坐标、量测工具、构建特征、可测几何量、形位公差等功能。5.中图仪器SJ5720超高精度光学镜片检测仪具备自动找拐点功能，能按照程序设置进行X轴自动找拐点。产品优势 nm级高精密光学曲面测量1.SJ5720超高精度光学镜片检测仪具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，分辨率高达0.1nm，系统残差小于3nm。2.高稳定性的隔震系统，自带隔震气浮系统，外界的噪声及其他气流通过仪器的玻璃罩进行了隔离，能确保高精度高稳定度的测量特殊的光学元器件表面轮廓及粗糙度参数。3.超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。4.高稳定的驱动设计，确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰，保障了系统扫描运动精度。5.专用标定器能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿，使其满足高精度轮廓测量。非球面光学测量与分析软件系统1.超智能的非球面光学软件分析系统，专业定制的非球面测量软件系统，非球面全参数都能测量。2.根据GB/T、ISO、JIS等标准，自动评价粗糙度。3.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量。对于复杂的工件，可以工件的任意位置进行分段测量，并做成模板便于轮廓批量测量。4、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量。5.自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。6.软件操作界面简洁直观，任何人都能轻松设定和测量。智能灵活仪器操纵设计1.测针一键拔插，特殊设计的高刚性拔插结构，无需锁螺钉，方便快捷、稳定可靠。2.智能微测力系统，0.5-3mN 测力档位可调，可满足不同工件表面测量要求，特别是光学镜片。3.各个运动轴都有进行硬件及软件保护，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。4.带舵机结构，可防止扫描陡坡时的快速下坠。5.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移，X轴和Z轴定位，测杆上下摆动及速度分级调节功能。6.电动Y轴台，可实现单独Y轴、XY轴组合自动找拐点，减少人工找拐点带来的误差。SJ5720光学曲面测量仪广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。该仪器可以对零件表面，尤其是大范围曲面，如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测，可分析出非球面参数、多种粗糙度参数、微观轮廓度参数。是大曲面测量（光学镜片、光学精密模具、轴承、人工关节、齿轮、叶片）领域精细粗糙度测量的利器。部分技术规格型号SJ5720-OPT100轮廓参数测量范围 X：0~100mm立柱：0~300mmZ：±6mm（标准测针杆）（±12mm：选择两倍测针杆时）扫描速度0.05～5mm/s测量力0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN（电子档位可调）粗糙度参数适用Ra测量范围Ra0.012μm~Ra12.5μm（可选更大范围）示值误差Ra0.012μm ~ Ra3.2μm： ≤±(3nm+2.0%A)（A：测量Ra标称值，μm）Ra3.201μm ~ Ra12.5μm： ≤±(3nm+3.5%A)（A：测量Ra标称值，μm）非球面测量参数微观轮廓参数：Pt、Pa、Fig；倾角参数：Smx、Smn；水平轴线夹角参数：Tilt；光轴与轮廓的距离参数：Xp、Xv、Xt；均方根粗糙度参数：RMS；斜率参数：Slpe mx、Slpe mx(x)、Slpe rms、Slpe ave；顶点半径误差参数：Radius Err。粗糙度测量参数R粗糙度：Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ；核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo；P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax；W波纹度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc；Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte；符合标准：GB/T 3505-2009，ISO 4287:1997，ISO13565-2:1996，ASME B46.1-2002,DIN EN ISO 4287:2010，JIS B 0601:2013，JIS B 0601-1994，JIS B 0601-1982，ISO 1302:2002如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器VX8000全自动一键光学图像闪测仪一键测量二维平面尺寸测量，目前被广泛应用于3C电子零件、精密五金配件及塑胶产品等常规尺寸的快速、批量测量，像一些精密螺丝、精密弹簧、齿轮、手机外壳、手机玻璃、精密五金配件等尺寸较小的产品及零部件需要批量测量时。搭载光学非接触式测头，可以实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。VX8000全自动一键光学图像闪测仪更适用于要求批量测量或自动测量的应用场景。如电子PCB测量、五金零部件检测、橡胶圈尺寸测量、手机尺寸检测等领域，在满足产品测量精度的同时，对于操作人员要求也更低，并且软件使用更加简单便捷。大幅有效的提升了产品的检测效率，更切合追求“快"、“准"、“稳"的现代化工业尺寸测量！产品优势一键闪测，批量更快1.任意摆放产品，无需夹具定位，仪器自动识别，自动匹配模板，一键测量。2.多可同时测量1024个部位。3.支持CAD图纸导入，一键自动匹配测量。4、CNC模式下，可快速精确地进行批量测量。计算精准，稳定可靠1.高分辨率镜头和2000万高像素工业相机，1%亚像素图像处理，高精度算法分析。2.自动对焦，排除人为测量操作干扰，且重复聚焦一致性高。3.自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。 操作简单，轻松无忧1.任何人都能很快上手，无需复杂培训。2.简洁的操作界面，任何人都能轻松设定和测量。3.测量现场立即评价测量尺寸偏差，一键生成统计分析、检测结果报告等。功能丰富，自动报表1.提供多达80种提取分析工具和多种专用测量工具。2.自动输出SPC分析报告。3.具有强远程数据输出功能。VX8000全自动一键光学图像闪测仪操作简单、测试速度快，精度高、重复性好、人为误差、自动输出报表及SPC数据分析、应用范围广等优势，适用于批量测试要求。设备构造简单，易上手和操作，设备的性能也很稳定可靠。部分技术规格 型号VX8300图像传感器2000万像素CMOS受光镜头高分辨率双远心镜头测量视野广视野300×200（4角R50）高精度230×130高度测量（选配）可测量范围（XY）120mm×110mmZ轴不移动高度±3.5mmZ轴移动75mm分辨率0.25μm卧式转台规格（选配）测量直径Φ60mmXY电动载物台X轴移动范围210mmY轴移动范围110mmZ轴移动范围75mm外形尺寸(L×W×H) mm531*503*731重量75kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

产品详情SAKI 在线型 3D 自动外观检查机BF-3Di 系列智能光学自动外观检查设备采用了 SAKI 自主开发的数字光学式高度测量技术，经企业苛刻制造检验，并经实际生产验证的、市场为成熟的、可靠的在线 3D AOI。全新SAKI 3D AOI不仅仅在外观上做了很大的变化，在性能上更有了提升，1200像素，分辨率7um,半导体级别的应用，检测速度每秒5700mm2，结合SAKI SPI在线应用得以实现印刷机、SPI、贴片机、AOI三点照合自动反馈修正功能。 123技术SAKI BF-3Di 通过自动编程，让操作和运用更轻松BF-3Di 采用自动编程功能，缩短了65%的检查数据编制时间。通过参考 Gerber 数据和 CAD 数据，可实现高精度自动分配的元件库。还可通过获取焊盘形状信息，自动执行符合 IPC 标准的检查。BF-3Di 利用其装置内标配的离线调试功能， 搭配过去积累下的缺陷图像，可根据统计信息， 自动完成阈值设置。通过这些举措，可实现稳定的检查质量，无需考虑操作员的技能高低。任意位置的3D切图检视在生产检查界面，可以随时对需要检视的元件进行图像 3D 显示切片。3D 切片凸显直观的、真实的呈现元件任意位置和角度的 3D 图像。图集SAKI 3D AOI 支持电路板整板高精度检查通过采用双轴马达， 实现了高速拍摄性能。通过高刚度门架， 高精度线性标尺控制， 电路板面自动检测功能， 确保了 XYZ 轴精度。使用四向侧视摄像头执行自动检查， 可检查 QFN， J 型引脚， 带外盖的连接器等过去无法从正上方检查的焊点和引脚部分， 确保不会出现检查死角。技术规格

在线三维自动光学检测设备A-1200◆ 可编程相位轮廓调制测量技术◆ 四/八向投射同步结构光技术◆ 测量项目：缺件、偏移、旋转、三维极性、反件、OCV、翘立、侧立、立碑、焊接不良等◆ 焊点检查项目：焊锡拉尖、焊锡量百分比、多锡、少锡、桥接、堵孔、爬锡、焊盘污染等◆ 最小检测元件：01005（英）◆ X-Y精度：10um◆ 高度重复性精度：1um(4sigma)◆ 检测面积：1200x650mm ◆ 远心镜头配合超高帧数高精度工业相机◆ 检测速度：0.45秒/FOV◆ Mark点识别：0.5秒/个◆ 最大检测高度：10mm◆ 可过板上器件高度：50mm◆ 弯曲PCB最大测量高度：±5mm◆ 操作系统：Windows 10 Professional (64 bit)◆ 五分钟编程，一键式操作◆ SPC过程工艺控制

ECR900医用内窥镜光学性能检测仪是依据《YY0068.1-2008 医用内窥镜 硬性内窥镜 第1部分：光学性能及测试方法》研发设计的一款高性能、高精度、多功能的专业化自动化检测设备，它是一款用于对医用硬性内窥镜各方面光学性能检测的设备。可对医用硬性内窥镜以下的8方面性能进行检测: 1、视场角、视向角的测量 2、入瞳视场角及a值检测 3、单位相对畸变的测量 4、边缘均匀性及照明镜体光效测量 5、中心与周边角分辨率的测量 6、景深范围的测量 7、综合光效的测量 8、光能传递效率的测量 ECR900医用内窥镜光学性能检测仪具有以下几个方面的特性： ◆ 专业的检测算法，采用国家权威检测机构研究的智能检测算法，对内窥镜光学性能做精准可靠的检测分析。◆ 智能搭建检测模型：设备根据检测项目自动搭建检测模型，自动读取探测器检测参数，自动查询数据表，自动计算评估检测结果；◆ 图像识别智能检测：通过图像识别技术对受检内窥镜成像进行智能识别，提高了检测精度和检测效率，也消除了人为操作误差；◆ 高精度控制：采用高精度伺服电机传感器，对模型搭建进行高精度闭环控制；◆ 高集成化：通过接口设计，将光通量计、照度计、亮度计、影像系统、模型机构和软件分析系统有效的集成为一体，极大的提高了模型搭建效率和操作简便性；◆ 智能数据库：检测过程中的图像和计算数据进行智能分类存储，形成比对分析样本数据库，可对多批次多规格检品检测数据进行统计分析和比对；◆ 适用范围广：可对硬性内窥镜、软式内窥镜、电子内窥镜、胶囊内窥镜等多种型号内窥镜进行检测；◆ 数据存储打印：检测结果和过程数据形成检测报告，报告可存储和打印； ECR900医用内窥镜光学性能检测仪技术参数：参数名称参数值光谱范围不低于380~780nm涂层反射率可见区域96%~98%波长分辨率小于等于1.5nm最低检测光度1×10-5 lm标准靶物、主动照明点光源、反射屏和探测器移动范围145mm*145mm 精度0.1mm内窥镜与测标靶面中心移动范围：24mm*24mm 精度0.1mm内窥镜镜面与视场角测量板面间距离调节范围0~200mm精度0.1mm内窥镜与灯箱角度0~90°精度0.1°外观尺寸950mm*610mm*580mm电子内窥镜检测视频采集接口USB、VGA、DVI、HDMI、TV；

Tube Qualify是一款三维光学弯管检测系统，2秒内快速重建弯管三维数字模型，可一次性完成多根弯管的测量，弯管光学检测仪，管件尺寸测量，管路测量。该系统可应用于弯管在线检测，替代人工检测，解决了需要保存大量检具的问题，系统灵活性高，可根据用户使用场景而定制。

MetronLens，超构透镜光学检测系统“光场 + 相位 + 远场” / 全面表征 / 简单易用 MetronLens 超构透镜光学检测系统 是一款面向超构透镜、超构表面、微透镜阵列等平面光学元件的专用光学检测系统。 该系统综合了显微成像技术、离轴数字全息技术以及远场成像技术等多种先进技术，可实现光场分布、相位分布和远场分布的原位检测，深刻揭示超构表面、超构透镜、微透镜阵列等平面光学元件的内在物理特性，为验证设计的准确性、制备加工工艺的优化提供了强有力的检测工具。MetronLens 超构透镜光学检测系统典型应用领域： 超构表面(Metasurface) 是一种由亚波长的微纳结构组成的平面结构，可以高自由度的对光波进行调控和操纵，因此超构表面的研究需要测量它所调控的光场分布和相位分布。 微透镜阵列(Microlens Array，MLA) 是由尺寸只有几十微米和数百微米的微型透镜构成的阵列，因此微透镜阵列的研究需要微米尺度的单透镜检测能力。 衍射光学元件(Diffractive Optical Elements, DOE) 是基于光的衍射效应而设计的光学元件，核心是对光的相位进行调制，需要高分辨率的相位测量。 MetronLens 超构透镜光学检测系统 在以上领域的应用得益于如下几个创新点：1 毫秒级相位检测：MetronLens 基于“微型透镜检测系统及其检测方法”发明专利和离轴外差干涉技术，在显微体系下实现了毫秒级相位分布检测，相位分辨率可达 50mrad； 2 高空间分辨率：采用优异光学设计，结合大NA（大于 0.75）高倍率的成像系统和高像素数探测器，确保大视场下空间分辨率可达 0.6μm；3 高精度 z 轴扫描：配有三轴全闭环超高精度电控位移台,能够轻松实现 0~22mm 行程的光场扫描，z轴扫描定位精度最小可达到 ±1μm； 4 多波长测试光源：系统内部最多可集成 457nm、532nm、660nm 三种连续激光光源，可满足多样化的波段测试需求，并支持其他光源外部扩展。注：以上参数如有差异，以官网为准。

中图仪器SuperViewW光学3D轮廓仪粗糙度在线检测设备基于白光干涉原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，以3D非接触方式测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，结果组成：1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；4、薄膜和厚膜的台阶高度测量；5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量；6、微电子表面分析和MEMS表征。SuperViewW光学3D轮廓仪粗糙度在线检测设备可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：SuperViewW光学3D轮廓仪粗糙度在线检测设备测量小尺寸样品时，可以测到12mm，也可以测到更小的尺寸，XY载物台标准行程为140*110mm，局部位移精度可达亚微米级别，Z向扫描电机可扫描10mm范围，可测非常微小尺寸的器件；测量大尺寸样品时，支持拼接功能，将测量的每一个小区域整合拼接成完整的图像，拼接精度在横向上和载物台横向位移精度一致。大尺寸样品_拼接测量产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。 性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。 部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

医用电子内窥镜光学性能检测系统是Delta仪器针对YY系列标准与FDA认证文件要求创新研发的医用电子内窥镜全自动检测系统。系统配备自动化程控切台、多功能的电子内窥镜夹持器（专利夹具）、程控亮度源、背景光源和前漫射光源、多功能图卡（正弦星形图卡、MTF调制传递函图卡、亮度测试组合测试图卡（亮度响应、静态图像宽容度）、光谱辐射分析仪和专用自动化图像质量分析软件等。系统可测量FOV视场角、照明镜体光效、SNR信噪比、亮度响应特性、空间频率效应、静态图像宽容度、光辐射安全测试、DOV视向角、几何畸变、IIU图像光强均匀性、焦距测试功能、显示还原颜色性能、照明光源性能等。集成化程度高，根据用户需求可定制功能模块，极大提升测试效率。并可根据客户认证标准差异进行个性化配置。符合标准要求：1) YY/T 1587-2018《医用内窥镜 电子内窥镜》2) ISO 8600-3: 2019 ISO 15739:2017 ISO 12233:2017 ISO 8600-3:20193) FDA Guidance Document系统优势特点：1) 系统符合 ISO 最新版对电子内窥镜的测试要求（较国内YY系列标准存在显著差异）2) 全自动一体化的测试架构设计，操作便捷；自动切换平台，搭配多功能图卡实现一键式测量3) 创新型一体化夹具设计，可兼容多种软性内窥镜的快速装夹4) 程控亮度源，实现背光亮度调节5) 系统适用数字接口：DVI接口、HDMI接口、DP（需定制）；模拟接口：CVBS、S端子、SDI、VGA6) 研发智能图像处理算法，可对百余张高清图像无损采集和自动分析运算7) 定制版专用分析软件，自动生成测试报告

产品名称：非线性光学原位光谱检测气固反应池产品型号：非线性光学原位光谱检测气固反应池产品类型：精品定制产品特点：非线性光学原位光谱检测气固反应池

SuperViewW中图仪器三维形貌光学检测轮廓仪基于白光干涉原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。SuperViewW中图仪器三维形貌光学检测轮廓仪能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。应用领域 针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperViewW中图仪器三维形貌光学检测轮廓仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。SuperViewW光学轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式手动和电动兼容型Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×600×900㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

■平台材料：304不锈钢（于304L钢仍存有很弱的磁性，被认为是“近非磁性”的），如果对磁场更高要求建议使用我公司生产的聚乙烯光学平台。■平台分2种：台面无磁或者台面及支撑无磁（成本和实验需要自行考虑）■应用：对磁场有较高的要求。■红星杨科技研发生产的精密无磁气浮平台，能够满足精密负载对振动隔离需求，且面向大多数设备仪器提供通用化隔振解决方案，改善振动环境，以发挥设备仪器的最佳效能。■适合于显微镜、光路测试、光学测量、激光干涉、激光扫描、光谱实验等领域应用。■优异的隔振性能：内置精密空气弹簧隔振系统，具备优秀的固有频率，对多个方向的振动特别是垂直方向有着良好衰减效果，避免外界振动干扰设备仪器精度，提高仪器设备使用精度和使用效率。■自动调节水平功能：放置负载的位置发生变化，平台迅速通过高精度阀门自动调整空气弹簧内部的气压，自动保持水平。气动元器件全部执行德国FESTO产品，标配优质超静音压缩机。■台板采用钢制芯夹板结构,具有重量轻、高刚度、高阻尼等优点，上面板为icr17优质高导磁不锈钢，经精密研磨处理，平面度高，回旋打磨工艺清除毛边，达到无反射、亚光效果，面板具有M6螺孔阵列，易于固定光学元件。■隔振支撑为优质钢管焊接而成，整体坚固可靠。■工作压力为0.35～0.6Mpa，标准配置调压过滤阀将保证空气弹簧的长期有效工作，用户只需要将气管连接进气口，就能使装置正常发挥隔振功能，气源可通过小型空气压缩机或氮气瓶供给，便于在安静场合使用。■平面度： 0.05mm/m2 ■表面粗糙度： 0.8μm■固有频率；x方向：1.2Hz～2.0Hz y方向：1.2Hz～2.0Hz■振幅： 1.2μm■荷载能力：800kg/m2■重复定位精度：±0.05mm产品型号规格尺寸(mm)支撑腿数量HGZC-06-06600×600×8004HGZC-075-075750×750×8004HGZC-09-06900×600×8004HGZC-10-071000×700×8004HGZC-10-081000×800×8004HGZC-12-081200×800×8004HGZC-15-091500×900×8004HGZC-15-101500×1000×8004HGZC-16-091600×900×8004HGZC-18-121800×1200×8004HGZC-20-102000×1000×8004HGZC-20-122000×1200×8004HGZC-24-122400×1200×8004HGZC-30-103000×1000×8004HGZC-30-123000×1200×8004HGZC-30-153000×1500×8006HGZC-35-123500×1200×8006HGZC-35-153500×1500×8006HGZC-40-154000×1500×8006HGZC-42-154200×1500×8006HGZC-48-154800×1500×8006HGZC-54-155400×1500×8008HGZC-60-156000×1500×80012 无磁光学平台，精密隔震光学平台，光学实验台武汉红星杨科技有限公司（简称“红星杨科技”）是致力于光机产品制造商和系统解决方案提供商的创新型企业。红星杨科技通过资源整合吸纳了包含高校和研究所在内的高端科研技术资源，为公司远景发展创造了坚实的基础；主营业务包含：精密位移平台、精密运动控制、光学平台、光学调整架、光机系统仪器、作物表型仪器、进口光机产品。红星杨科技将立足于光电产业，坚持高科技、高价值、高效益三大目标，打造实力品牌优势、系统优势和价值优势的知名光电企业。今天；明天，无论在工业自动化、计量、显微，生命科技，还是激光技术，精密加工技术；无论是半导体科技，数据存储技术，还是光电子/光纤，天文等领域，红星杨科技的产品和技术将得到越来越广泛的应用，也赢得了越来越广泛的赞誉。红星杨科技“聚焦科技之美，创造光机精品”!

产品 半导体生产与封装 高端封装，例如堆栈式芯片封装、3D封装、SIP封装、倒装芯片、以及在芯片互联区域对缺点敏感的精细引线健合。Camtek的技术领先的系统为晶元厂、金 属凸块代工厂与封装厂提供2D及3D检测与测量，征服这些挑战，并能适应大多数的生产环境，处理直径高达300mm的无框或有框晶元Falcon 800