多功能粉末射线衍射仪

XRDynamic 500 能以最高效率推动无与伦比的 XRD 数据质量。尽享囊括各种应用的多功能平台所带来的优势，为粉末 XRD、非环境 XRD、PDF 分析、SAXS 等提供最佳解决方案。 使用直观，具有全自动光学和校准程序，它能使每个人从新手变为专家，在最大限度减少误差的同时快速收集顶级质量的 XRD 数据。开箱即用：一流的分辨率/信噪比TruBeam™ 理念：更大的测角半径，真空光路完全自动化：X-射线光学和光束几何结构变化效率：仪器使用率提高 50%自校准：仪器和样品最大便捷性XRDynamic 500 的 TruBeam™ 理论结合了大测角半径、真空光路和全自动 X-射线光学/光束几何结构变化。借助具有优化工作流程的直观软件，使用各种仪器配置测量一系列样品。采用标准 Bragg-Brentano 配置，实现了一流的分辨率 (LaB? 第一个标准峰的 FWHM 0.021° ）。出色的信噪比，测量背景减少50% 以及最低的寄生空气散射。快速重新配置以进行优化的非环境 XRD 实验或有着专用 SAXS 仪器质量的 SAXS 测量。

XD2/3型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。 结构新，采用立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长时间使用稳定性好。 X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度快，故障率低，射线阻断性好，机柜外辐射剂量低。 X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠。中文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包，支持多种数据输出方式。

智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

仪器简介：组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。 技术参数1. X射线发生器功率为3KW2. 测角仪为水平测角仪3. 测角仪最小步进为1/10000度4. 测角仪配程序式可变狭缝5. 高反射效率的石墨单色器6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）7. 小角散射测试组件8. 多用途薄膜测试组件9. 微区测试组件10. In-Plane测试组件（理学独有）11. 高速探测器D/teX-Ultra12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 主要特点：组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

仪器简介： 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。 技术参数：1. X射线发生器功率为3KW 2. 测角仪为水平测角仪 3. 测角仪最小步进为1/10000度 4. 测角仪配程序式可变狭缝 5. 高反射效率的石墨单色器 6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有） 7. 小角散射测试组件 8. 多用途薄膜测试组件 9. 微区测试组件 10. In-Plane测试组件（理学独有） 11. 高速探测器D/teX-Ultra 12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC 13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等主要特点： 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

仪器介绍： 全新智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Studio II，一台仪器可以智能进行粉末测试、定量分析、晶粒尺寸、结晶度。技术参数：1、X射线发生器功率为3KW2、测角仪为水平测角仪3、测角仪最小步进为1/10000度，高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)4、测角仪配程序式可变狭缝5、自动识别所有光学组件、样品台6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）7、小角散射测试组件(SAXS)8、多用途薄膜测试组件9、高速一维探测器10、二维探测器，可以在零维、一维或二维模式间无缝切换11、全新的SmartLab Studio II 提供了模块化的衍射功能组件12、自对准光学器件可延长仪器正常运行时间并降低购置成本主要特点: 智能多功能X射线衍射仪SmartLab SE ，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6. 小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析

苏州锂影科技有限公司 X射线衍射仪用多位粉末样品架产品信息X射线衍射仪用多位粉末样品架为锂影科技为日本理学smartlab衍射仪开发的一种部件，已经获得专利授权（201922379738.4）。也可以针对其它公司的各种衍射仪进行改造。 该样品架配合衍射仪的XY样品台使用，可以实现5个粉末样品的自动位置切换、高度对准以及XRD的测试，大大提升了仪器操作的便捷性。尤其是可以用其在夜间进行多个样品的自动连续测试，可以提高仪器测试效率。耗材配件售后服务1、免费上门安装：否 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费维修或更换5、报修承诺：24小时内响应，7日内解决问题6、免费仪器保养：无7、免费培训：1人次网上培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话： 苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

SHINE便携式X射线衍射仪是浪声科学结合XRD、XRF和计算机软件等多项技术，自主研发的一款便携式X射线衍射设备。仪器通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。SHINE在X射线束穿过样品的位置处使用透射几何技术，微聚焦X射线管发射X射线束通过准直器照射在样品池中的粉末颗粒，独特的振动系统使得粉末颗粒更多的晶面暴露在X射线束下，在满足布拉格定律时发生衍射现象从而在CCD上采集衍射图谱。样品池中的样品量固定不变，因此样品密度的变化不会影响分辨率。这个特点对于低密度材料尤其重要，如：药物样品，与基于反射几何技术的仪器相比，仪器在穿透性能固定的情况下可以获得更高的分辨率。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。集成性XRD与XRF技术集成，在每次检测中，能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据，提供物质成分、物相及结构信息，从而促进检测结果更加精准。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要20毫克左右的样品即可获得优质的检测结果，样品制备无需制片、压片、刮平等，3分钟即可完成样品制样（粉碎、滤筛、装样）。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。安全性专业的多重防护辐射处理，测量时仪器全方位无任何辐射泄漏。应用场景生物医药环境监测地质勘探教育与研究金属化合物化学与催化剂规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸50×40×18.8cm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

D-Power粉末X射线衍射仪，以卓越的精度与灵活性，树立高质量衍射数据采集新标杆。搭载前沿的的光路系统、高精度测角仪和单光子计数探测器，结合多样化的样品环境，无论是科研探索还是工艺监控，D-POWER 能一站式满足广泛的测试需求，提供可靠的数据研究。技术指标：X射线光源光管3 kW陶瓷X光管靶材Cu（最常用）、Mo、Co、Cr、Fe等焦斑长细焦斑： 0.4×12 mm；点焦斑：0.4×1.2 mmX射线发生器最大输出功率4 kW（高频高压发生器）光管电压/电流2 ~ 60 kV，1 kV /step/2 ~ 80 mA，1 mA/step测角仪结构立式测角仪θ/θ结构扫描半径标准245 mm（225 mm-355 mm连续可调）最小步进0.0001°扫描范围-110° ~ 160°（2θ）扫描速度0.0012° ~ 120 °/min角度重现性0.0001°角度误差≤±0.01°探测器一维阵列探测器最大线性计数：1X106CPS无噪声；能谱分辨率：能量分辨率（rms）{ev}678±5工作方式：PLC自动控制积分、微分方式转换；PLC自动进行PHA，死时间较正仪器规格尺寸980 mm×1268 mm×1888 mm重量680 kg电源单相AC220-230 V±10%，50/60 Hz，40A其他最大水压：0.7 MPa 冷却水耗：3.5 L/min应用领域：1、医药：医药结构分析、配方研究、晶型鉴定、品质检测以及药物交互作用研究2、电池：研究电池材料的晶体结构和性能，分析环境污染物的组成和结构3、半导体：半导体晶体生长研究以及应力和应变分析以及材料相变4、地质：地质研究和勘探、岩石成分的分析和鉴定以及地层的分析和研究5、建筑：矿物鉴定、质量控制以及混凝土助剂和添加剂分析6、食品：晶体结构分析、成分鉴定、质量控制、结构性分析和新产品研究

多功能X射线衍射/反射仪多功能X射线衍射/反射仪提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。 技术参数1. X射线发生器功率为3KW2. 测角仪为水平测角仪3. 测角仪最小步进为1/10000度4. 测角仪配程序式可变狭缝5. 高反射效率的石墨单色器6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）7. 小角散射测试组件8. 多用途薄膜测试组件9. 微区测试组件10. In-Plane测试组件（理学独有）11. 高速探测器D/teX-Ultra12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 主要特点：组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

全球首款用于X射线粉末衍射反射与透射几何、掠入射衍射与反射法薄膜分析以及块体样品应力和织构分析的台式衍射仪平台。 X光管功率：600 W和1200 W 最小步进角度：0.002 ° 测角仪精准度：0.01° 分辨率：0.03°D6 PHASER是德国布鲁克AXS公司新推出全球首款用于X射线粉末衍射反射与透射几何、掠入射衍射与反射法薄膜分析以及块体样品应力和织构分析的台式衍射仪平台。 D6 PHASER是一个开创性的台式X射线衍射平台，它兼具可操作性与灵活性。与传统台式衍射仪不同的是，D6 PHASER提供了超越粉末衍射的先进分析方法。凭借广泛的应用，D6 PHASER为X射线衍射技术开辟了新的市场和用户群体。&bull 能够满足用户的各项研究需求。&bull 发生器功率高达1200w&bull 3个发生器和探测器、6个样品台，适用于8项应用，为您开启无限的研究机会&bull 采用动态光束优化（DBO）技术，可实现更高强度和角度精度（即使在更换样品台的情况下，也保证峰位置优于0.01°的角度偏差）技术参数：&bull 2θ校准精度保证在±0.01°以内&bull 高压发生器：600瓦或者1,200瓦&bull 久经考验的测角仪&bull LYNXEYE XE-T能量分辨探测器&bull 无需外接水冷&bull 占地面积小主要特点：● 强大功率高达1.2 千瓦，包含内部冷却系统久经考验的测角仪LYNXEYE XE-T能量分辨探测器可选配电动光学器件● 多功能适用于基本粉末衍射以外的多种测量类型，是D6 PHASER的标志性特色之一，使其成为能支持各种实验的真正通用平台。反射和透射非环境衍射掠入射衍射、X射线反射、应力、织构● 易用用户无需经过培训。基于布鲁克简单易用的软件及其对XRD分析方法的广泛了解，以及价格合理的自动化附件，D6 PHASER 能够以直观的方式，指导用户实施这些分析方法。动态光束优化（DBO）触摸面板操作样品台和光学器件切换

仪器简介APD 2000 PRO 为定性和定量的粉末X射线衍射仪。精确电路控制反馈系统，保证X 射线发生器更加稳定；预设高压和激发电流，并可实现自动斜坡程度上升；细焦点的陶瓷X 射线管具有优良的重现性和稳定性；采用高聚焦单毛细管准直器，高分辨多探测类型探测器。主要特点■ 采用 Kα1 Johannson 单色器，具有低背景和高检出限；■ 平面和二次弧形石墨单色器适合接受 Ag, Cr, Fe, Cu, Co和 Mo 激发线；■ 可以实现自动切换反射和传送模式；■ 光学编码器控制测角仪，具有高精密度和高测量速度；■ 创新的多样品旋转进样台和多种低背景样品台；■ 采用闪烁计数器和能量色散型检测器；■ 环境适应性强，可以适合在不同范围下温、湿度下工作；■ 双重安全电路保护设计。

DX-2700BH多功能衍射仪　　组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。　　硬件系统和软件系统的紧密结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要　　高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果　　高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度　　各种功能附件满足不同测试目的需要　　程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：　　未知样品中一种和多种物相鉴定　　混合样品中已知相定量分析　　晶体结构解析（Rietveld结构分析）　　非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）　　薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度　　微区样品的分析　　金属材料织构、应力分析完善的品质与卓越性能的结合　　DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有很强的分析能力　　高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性大大地提高，软件自动识别相应附件，不需要对光路进行校准，附件安装实现即插即用，最简单的操作就可满足特殊目的测量的需要。高性能与实用的紧密结合　　基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装　　金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率　　封闭正比计数器，耐用免维护　　硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上　　丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要　　衍射仪各种功能附件自动识别　　模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件数据处理软件包括以下功能　　基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）　　无标准样品快速定量分析　　晶粒尺寸测量　　晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）　　　　　　　　　　　　宏观应力测量和微观应力计算　　多重绘图的二维和三维显示　　衍射峰图群聚分析　　衍射数据半峰宽校正曲线　　衍射数据角度偏差校正曲线　　基于Rietveld常规定量分析　　使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析　　使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析

日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪 Smartlab SE高自动化、多功能衍射仪, 精于形，智于心 易用、智能的全功能X射线衍射仪 多功能X 射线衍射仪装备有多种附件 ，兼具多种用 途 ，例如 ：粉 末 衍 射 、小角散 射 、残余 应 力等多 种 应用。然而，伴随着仪器附件及功能的增加 ，多功能 X射线衍射仪的易用性不断降低 。您是否确定测试人 员选择了最佳的测试条件 ？当进行多种复杂附件切换 的时候，1fE如何确定仪器处于最佳的矫正状态 ？ Smartlab SE 从如下三个方面解答了您 的疑问。 首先，仪器可以通过二维码 自动识别装载于衍射仪上的 组件，井检查相关组件是否满足用户选择的测试 。理 学智能的软件会建议操作人员 更换组件 ，以达到最佳 的测试结果。 其次 ，理学独有的全自动校正操作 ，会在组件安装完 毕后启动。在实验前的自动校正 ，是确保实验数据一 致性 ，咸小实验误差 的唯一方法。 除此之外，全新的Sma「tlab Studio ｜｜ 软件为全新的 Smartlab SE 提供了模块化的衍射功能组件 ，包括仪 器的控制 、衍射数据的分析和生成报告等。Smartlab Studio II 软件的设计思路，源自于理学的简单易用的 设计语言。全新的 Guidance 软件确保即使是初学者 也可以通过软件的“引导”获得与同行专家一样的测试 数据。 引导用户从测试到数据分析 Smartlab Studio ｜｜ 软件包中的Guidance软件可以根 据用户希望完成的测试 ，给出仪器所需硬件配置 ，井 优化测量参数 。对于常见的测试，软件会给出最优化 的仪器配置，井可以 自动化的完成测试序列。由于 Smartlab中使用了独有的组件识别技术 ，因此当测试 人员没有正确配置光路或附件时 ，Guidance 软件可以 告知测试人员。软件参数的优化与硬件组件的智能确 认是Smartlab系统可以胜任所有样品测试的关键 。 可以满足不同应用需求多种光路及附件组合 ，能满足多种用户测试需求 。 简单 、快速的切换不 同的光路几何CBO （交叉先路） 技术与光路自动调整和样品位置矫 正的结合 ，可以使用户在多种光路几何间 ，快速便捷 的切换。 支持多种附件自动进样器 、样品旋转台、变温附件或湿度控制附件 等多种附件可供用户选择。 可满足快速和二维测量的先进的探测器Smartlab SE提供两个先进的检测器 ：D/teX Ultr a 250 高速一维探测器作为标准配置 ，HyPix-400 二维 半导体阵列检 测器 作 为 升级配 置 供 用 户选 择 。 HyPix-400半导体阵列检测器不仅可以在二维模式下 使用，同时还可以切换为零维或一维模式 ，这样极大 的扩展了该检测器的应用范围。 从粉末测试到二维数据采集根据用户的需要，整个仪器的配置可以满足常规粉末样品测试， 或者，复杂的微区或原位测试等要求 。 标准光路配置Bragg-Brentano 聚焦光路．粉末测试定量分析．晶粒尺寸 结晶度 切换至SAXS测量模式 理学专利的交叉光路 （ CBO） 技术 使用CBO光路系统聚焦光路件平行光路 〈通过CBO 转换） SAXS 测试 薄膜测试 聚焦光路悼会聚光路法 （CBO-E)．粉末透射测试聚焦光路件发散光路 （通过CBO α转换）．高峰背比 （P/B） 的粉末测试 切换至微区测量模式HyPix-400检测器搭载HyPix-400 的光路系统装载有HyPix-400 二维探测器的光路．微区测试原filln-situ测试．取向测试 Smartlab SE 产品特征 先进的高速探测器 高分辨率，超快速 一维 X 射线探测器D/teX Ultra250 (0/1D)D/teX Ultra250 一维探测器支持Bragg-Brentano聚焦法测试 ，并且可 以在短时间内获得广角度的粉末衍射峰形 。作为一款高性能的半导 体检测器 ，其极高的能量分辨率可以有效的降低在测试过程中产生 的背景噪音。D/teX Ultra250 高速探测器作为一维探测器使用时 ，可 以检测到极弱的衍射信号 ，同时，该探测器还可以像闪烁计数器一 样，作为零维探测器使用 。 半导体阵列多维探测器 HyPix-400 (OD /1D/20)SmartLab SE搭载了先进的HyPix-400半导体阵列20探测器 。如果说 D/teX Ultra 250可以胜任常规的零维和一维模式读取的话 ，那么大读 取面积的HyPix-40 0 二维探测器在收集二维衍射照片方面具有非常 大的优势，HyPix -400 二维探测器可以在极短的时间内完成晶体取 向评估及广域倒易空 间成像等多种应用。 交叉光路技术 ：CBO （理学专利） CBO 是理学专利的光路切换单元 ，使用CBO仅需要对狭缝更换即可 完成两种不 同的光路几何之间的切换。SmartLab SE 可以根据用户 需求提供三种不同的CBO单元的组合 ：Bragg-Brentano 聚焦光束／平 行光束，B「agg-Brentano 聚焦光束／会聚光束，B「agg-Brentano 聚 焦光束／发散光束。 B旧gg”Brentan 聚焦法 ：衷方法多用于常规粉末 XRD） lj试。 平行光束法 （CBO） ：多层膜抛物面镜使发散的光束变为平行光 。 该光束多用于SAXS ，薄膜样品或表面粗糙样品的测试等。 会聚光束法 （CBO-E） ：发散的光束通过具有椭圆形镜面的多层膜 透镜会聚于被测表面 ，该光路可以在透射模式下提供高角度分辨率 的数据。发散光束法 （CBO α）：光束被平面 多层膜镜单色后，只有 Kα，相 比Bragg-Brentano 可以增加数据的峰背比。 测量及数据分析软件包 Smartlab Studio 11 Sma「tlab Studio II 是一个功能强大、操作界面友好的软件包 ，其中整合了所有的光路调整，数据测试和分析的 功能。用户可以通过不同组件的切换选悻所需的功能 ，例如“测试” 、“粉末数据分析” 、“极图” 、℃DF分析”或“残 余应力”等功能。所有这些功能都集中于 同一个界面友好且容易操作 的软件操作平台。 智能光路感知功能由于光学组件可以被仪器自 动识别 ，使用理学的Guidance 软件可以通过演示动画指导用户更换光路或附件 。除此之外，对于常见的应用 ，软件包中预设有推荐的光路 设置 、样品校正和测量序列 ，可以吗助初学者尽快熟悉井 完成所需的测试。 流程图式的测试引导栏Sma『tlab Studio 川 采用了简洁的流程图式的引导栏，从测 试到数据分析的整个过程中 ，通过提示关键步骤 ，更加直 观的帮助测试人员者理解每步操作。 综合信息管理系统Smartlab Studio II 采用了先进的 SOL数据管理模式，于本 地数据库中高效的管理测试材料信息 、测试数据及数据分 析结果 。SOL数据库具有出色的数据检索和备份功能 ，可以轻松处理海量测试信 息.Smartlab SE 可根据应用需求调整配置反射／透射 模式下的粉末衍射测量反射模式光路配置Bragg-Brentano 聚焦法．平行光束法发散光束法用户可以根据测量需要在反射模式和透射模式 间切换。使 用会聚光束进行透射法测试 ，可以获得更高的强度和更好 的分辨率。0.1 质量分数% 石棉 （温石棉） 分散于碳酸钙中 一束发散的X射线经过平面镜单色后进行衍射实 验 ，相比于传统的 Bragg-Brentano聚焦光路模 式，可以获得更高的信背 比。从衍射实验结果中可以看出，？自量的石棉衍射信号都可 以被检测到 。 透射模式光路配置 聚焦光束法平行光束法（上图展示的是垂直模式下的透射测试光路）分别用反射法和透射法测试药 片的X射线衍射峰 药物片剂一般由含有甜昧的辅料及可食用色素构 成，可以有效的降低药片在吞咽时的苦涩感。药片 表面的成分可以通过反射法进行测试 ，而药片内部的信息可以通过透射法获得。 微区衍射测试采用理学专有的 CBO-f光学附件，该附件可以使X射线会聚于 样品表面，而不再需要调整×射线从线光源到点光源。除此之外，使用D/teX Ult「a250 高速探测器或 HyPix-400 二 维半导体阵列探测器可以快速的检测到微区实验中弱的衍射 信号。 微区测试应用于即刷电路板(1） 电容器 （2) IC 芯片 （3） 焊点 采用CBO-f 和 HyPix-400 测试。 极图／残余应力测试使用线光源在极图测量时 ，可以降低由于使用Schulz狭缝 时，衍射强度随试样倾角的增加而降低的情况 ，其测试效果与点光源一致。软件中的“Pole figure and ODF analysis” 插件可以进行晶体取向分析井且可以通过重新计算得到样品的全极图。 在残余应力测试中 ，使用平行狭缝分析器 （ PSA） 可以有效 的降低由于位移误差造成的峰位漂移 。 重新计算后生成的铝锚片的全相极图 测试中使用了 ，α日 样品台 ，反射附件 ， Schulz挟缝。全相极图是基于三个不 同的 米勒指数面 仆仆，200 和 220 ） 的测试结 果，通过ODF重新计算得来的 。 小角X射线散射（SAXS)SAXS测试可以获得粒径或孔径小于 100nm的材料的分布情 况，衷测试过程中 28角度移动范围小于 10。。SAXS测试过程 中，使用双挟握和平行光光路系 统。／使用真空光路 ，可以减小空气散射的影响 ，从而获得高质量 的数据。 10 SAXS测试分散于 甲苯中的金粒子 （双 狭缝光学系统）原位测试原位 （ In-situ ） 测试技术 ，可以通过测试人员的控制，改变 温度或湿度，同时测量衍射数据的变化。Smartlab SE支持 各种原位测量附件 ，如常见的变温附件 ，湿度控制附件，使 用DSC附件还可以监测样品在热反应前后的变化 。多种原位 附件与HyPix400半导体阵列检测器的结合 ，使得快速的实时 测量成为可能 ，不仅可以鉴定结构的变化 ，还可以检测大尺 寸晶粒和晶面取向的变化。 相变属虫化过程，甲糖宁是一种治疗糖尿病的 药物J 监测其在变温过程中物象的变化。 随着温度的变化，甲糖宁的晶体结构发生改 变。使用二维半导体阵歹I］探测器HyPix-400, 可以监测其在眼热反应 （峰） 前后晶体结构 的变化。

仪器简介：ULTIMA IV得到了活跃在世界科学领域前沿的学者和研究者的高度评价和 信赖,是X射线衍射仪器的旗舰产品.聚焦法光学系统和平行光束法光学系统可 轻松切换.不需要重新设置,水平测角仪,操作方便,可自由 组合各种附件,适合多种样品的各种测试.技术参数：X射线发生器:3kW X射线防护罩:带故障保险机构的开闭式防护罩侧角仪部分 测角仪半径:185mm,285mm(选购),280mm(TTR)主要特点：1.水平测角仪：特别适合粉末类样品，尤其是易于产生取向效应的样品2.全自动狭缝调整装置（专利技术）3. 光路系统自动调整校准：配备最先进的X-射线光路自动调整校准模式4. 独特的光学系统，可实现交叉光路和平行光路的自动程序互换（专利技术）5.丰富的功能附件保障了仪器升级的可能6.理学公司最新高速X-射线检测器，检测器的速度和强度大幅提高7.全新的软件设计理念，丰富的内容, 简明流畅

技术参数1. X射线发生器功率为3KW2. 测角仪为水平测角仪3. 测角仪最小步进为1/10000度4. 测角仪配程序式可变狭缝5. 高反射效率的石墨单色器6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）7. 小角散射测试组件8. 多用途薄膜测试组件9. 微区测试组件10. In-Plane测试组件（理学独有）11. 高速探测器D/teX-Ultra12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 主要特点：组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。　　硬件系统和软件系统的紧密结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要　　高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果　　高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度　　各种功能附件满足不同测试目的需要　　程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：　　未知样品中一种和多种物相鉴定　　混合样品中已知相定量分析　　晶体结构解析（Rietveld结构分析）　　非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）　　薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度　　微区样品的分析　　金属材料织构、应力分析完善的品质与卓越性能的结合　　DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有很强的分析能力　　高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性大大地提高，软件自动识别相应附件，不需要对光路进行校准，附件安装实现即插即用，最简单的操作就可满足特殊目的测量的需要。高性能与实用的紧密结合　　基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装　　金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率　　封闭正比计数器，耐用免维护　　硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上　　丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要　　衍射仪各种功能附件自动识别　　模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件数据处理软件包括以下功能　　基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）　　无标准样品快速定量分析　　晶粒尺寸测量　　晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）　　　　　　　　　　　　宏观应力测量和微观应力计算　　多重绘图的二维和三维显示　　衍射峰图群聚分析　　衍射数据半峰宽校正曲线　　衍射数据角度偏差校正曲线　　基于Rietveld常规定量分析　　使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析　　使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析

日本理学Rigaku X射线粉末衍射仪外型小巧的台式机，具有高端分析仪器的卓越测试功能。浓缩X射线技术—小型化、功能完善、性价比高先进半导体检测器—高灵敏度、低检测限完备PDXL软件包—定性、定量、全面分析 工业集成—实用、可靠、操作简便体积：560（W) X 460 (D) X 700 (H) mm

仪器简介：全新的 SmartLab 全自动多功能衍射仪始终把用户的易用性作为仪器设计的最终目标，使可靠的硬件和智能的软件结合。这种超前的设计理念是使得 SmartLab衍射仪一经推出就获得 R&D100奖的原因之一。SmartLab衍射仪系统具有如下特点 :&bull 最高光通量的X射线光源:PhotonMax&bull 高能量分辨率HyPix-3000 2D检测器&bull 丰富的CBO光学附件，可以全自动光路切换的CBO-Auto 和高分辨率的微区CBO-μ&bull 新SmartLab Studio II软件中集成更多原位测量功能技术参数：X射线发生器:3kW 或9kw靶材:封闭靶Cu,Cr,Fe,Co,,Ni,Mo,Ag,Au及其它任选 侧角仪部分 测角仪半径:300mm

我们的技术 多种X射线衍射系统 PSD型实时探测器同步采集2θ角度范围超过120°2θ模式分辨率高达0.05°2θ模式120°最小采集时长仅需1秒配置多轴测角仪的实时测量低至10μm的微衍射束单色化光学元件多种样品架变温及气氛腔室附件适用于常规应用到高级数据处理的软件服务于您的所有应用水泥、金属、矿产行业的过程质量控制纳米材料，微电子，冶金及先进材料的研究制药及化妆品的研究及质量控制地质及采矿教育机构我们的产品Thermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 100 独立台式XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 1000 台式XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 3000 研究型XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 3500 高分辨率粉末XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 5000 多功能研究型XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 5500 二圆高分辨XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 6000 四圆织构/应力XRD

仪器简介：ULTIMA IV得到了活跃在世界科学领域前沿的学者和研究者的高度评价和 信赖,是X射线衍射仪器的旗舰产品.聚焦法光学系统和平行光束法光学系统可 轻松切换.不需要重新设置,水平测角仪,操作方便,可自由 组合各种附件,适合多种样品的各种测试.技术参数： X射线发生器:3kW X射线防护罩:带故障保险机构的开闭式防护罩侧角仪部分 测角仪半径:185mm,285mm(选购),280mm(TTR)主要特点：1.水平测角仪：特别适合粉末类样品，尤其是易于产生取向效应的样品2.全自动狭缝调整装置（专利技术） 3. 光路系统自动调整校准：配备最先进的X-射线光路自动调整校准模式4. 独特的光学系统，可实现交叉光路和平行光路的自动程序互换（专利技术）5.丰富的功能附件保障了仪器升级的可能6.理学公司最新高速X-射线检测器，检测器的速度和强度大幅提高7.全新的软件设计理念，丰富的内容, 简明流畅

&bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

技术参数 1、X射线发生器功率为3KW 2、测角仪为水平测角仪3、测角仪半径300mm4、测角仪配程序式可变狭缝 5、最小步径0.0001度6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包 8、视频观察系统9、丰富的各种附件 主要特点 1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

X射线粉末衍射仪XRD 一、仪器概述：多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。 二、主要特点：1. 结构新，采用立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。2. 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长时间使用稳定性好。3. X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度快，故障率低，射线阻断性好，机柜外辐射剂量低。4. X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠。5. 中英文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包，支持多种数据输出方式。 三、主要技术指标：1. 瑞士进口MYTHEN探测器无噪声和暗电流，卓越的一维（1D）探测器动态范围、线性和分辨率，先进的光子计数探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。。2. 金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4KW、风冷或是水冷自由选择。3. 测角仪衍射圆半径大于等于150mm。4. 测角仪重现性：0.0001度。5. 测角仪角度重现性：0.0006度。6. 可控最小步进：0.0001度。

日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪 Smartlab SE高自动化、多功能衍射仪, 精于形，智于心 引导用户从测试到数据分析: Smartlab Studio ｜｜ 软件包中的Guidance软件可以根 据用户希望完成的测试 ，给出仪器所需硬件配置 ，井 优化测量参数 。对于常见的测试，软件会给出最优化 的仪器配置，井可以 自动化的完成测试序列。由于 Smartlab中使用了独有的组件识别技术 ，因此当测试 人员没有正确配置光路或附件时 ，Guidance 软件可以 告知测试人员。软件参数的优化与硬件组件的智能确 认是Smartlab系统可以胜任所有样品测试的关键 。 可以满足不同应用需求： 多种光路及附件组合 ，能满足多种用户测试需求 。 简单 、快速的切换不 同的光路几何，CBO （交叉先路） 技术与光路自动调整和样品位置矫 正的结合 ，可以使用户在多种光路几何间 ，快速便捷 的切换。 支持多种附件： 自动进样器 、样品旋转台、变温附件或湿度控制附件 等多种附件可供用户选择。

简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X衍射仪能满足科学研究所和技术开发中心 不同材料体系的全方位测试需求。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。 Delta-X衍射仪的特点和优势自动化控制的光学系统:Delta-X衍射仪的入射束包括多种标准的光学配置模式，以便使光学配置具有充分的灵活性，且易于操作。可以依据测量样品的材料类型，选择参考晶体。

X射线衍射晶体衍射仪集所有常规应用于一身的桌面型设计高精度测角仪设计集成在主机内的计算机及屏幕DIFFRAC.SUITE仪器控制、数据采集及分析软件精准的探测器技术 在小型化设计的同时，D2 PHASER又是如何实现她的高性能？首先，D2 PHASER得益于特别设计的的θ/θ高精度测角仪，该技术得到了zhuan利保护。传统衍射仪的所有组成部分，包括标准化的陶瓷X光管、探测器、多功能计算机的主机、屏幕、鼠标、键盘，以及水冷，现在都可以集中在70x61x60cm这样一个空间内。同时，在如此狭小的空间内，D2 PHSAER仍可选配最大6位的自动进样器。其次，D2 PHASER配备了du一无二的DIFFRAC.SUITE软件，无论是在研究领域，还是在工业领域，都可以非常方便地实现数据的采集与分析。最后，也是整台仪器的点睛之笔，D2 PHASER可以配备林克斯一维阵列探测器TM。这个在布鲁克D8系列衍射仪上，被无数次证明其强大性能的高速探测器，现在被原封不动地移植到了D2 PHASER身上，使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。上述所有设计理念成就了D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型X射线衍射仪，其性能甚至在一定程度上超越了大型衍射仪，同时她还具有大型衍射仪所不具备的特点：可以很方便的搬运、不需要庞大的基础设施，wei一需要的是一个电源插孔！定性定量分析（包括无标样定量分析）结晶度测定物相特性分析（包括：晶胞参数、晶粒大小、微观应力等）结构精修及粉末衍射解结构工业标准尺寸(. 51.5 mm)、适合不同应用的样品架D2 PHASER – 衍射小巨人！梦想成真－多晶样品的定性、定量分析、晶粒大小测定、甚至结构精修和解结构工作都可以通过D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型衍射仪来实现了。布鲁克D2 PHASER开启了现代衍射仪的另一扇大门，她可以快速、简便、高质量地完成多晶样品B-B衍射几何下的所有工作。D2 PHASER不仅仅拥有超强的分析能力，同时也非常的灵活，适合测试各种各样的样品。因为不同的材料特性需要采用不同的制样方法，所以D2 PHASER除了配备常规的标准粉末样品架外，还可以提供各种特殊应用样品架：包括适用于微量样品的零背景样品架，粘土样品专用样品架，过滤样品架，以及适合环境敏感样品的密封样品架等等。林克斯SSD-160高速探测器使D2 PHASER如此与众不同的一个主要因素就是布鲁克公司的林克斯SSD-160一维阵列探测器。由160个子探测器组成的林克斯SSD-160探测器，比传统闪烁计数器可以提高强度150倍以上，配备了SSD-160林克斯探测器的 D2 PHASER完全可以媲美高端常规衍射仪。除了强度方面的强大性能，林克斯SSD-160还有非常好的去荧光能力。即使是测量强荧光样品，林克SSD-160斯探测器提供的数据也展示了非常好的信噪比。

这款台式X射线衍射仪是一种多用途多功能的实时测量的台式X射线衍射系统，特别为科研院校和企业应用而研发。这款实时台式X射线衍射仪与其它采用&ldquo 机械扫描测角仪器&rdquo 的X射线衍射仪不同，它采用独特的具有专利技术的曲线弧型探测器代替传统的机械扫描测角仪器，从而实现以超高分辨率超高速度实时完成2theta的测量。台式X射线衍射系统具有多种样品测量模式和多用户分析技术，使用最新的垂直安装的弧型X-eye高灵敏度探测器，以低于2毫秒的速度测量整个2 theta的全部衍射类型。该台式X射线衍射仪具有的实时测量功能使得它非常适合所有类型的动力学实验以及快速传统的X射线衍射研究。台式X射线衍射仪具有独特的110度角范围和180度曲率半径的弧度探测器，具有无以伦比的可靠性，非常适合大量测量任务的需要。台式X射线衍射系统产品特色* 不需要日常维护，超长保质期，超低使用成本，* 操作简餐，非常可靠，* 摆脱了机械扫描式的测角仪器；* 高灵敏度弧型X射线探测器* 超高速度：2毫秒可测量2 theta；* 实时测量实时分析结果；* 超高分辨率：0.10FWHM 台式X射线衍射系统操作情况：不需要任何使用经验的工程师也可快速使用，非常可靠，不需要日常维护，高速高分辨率高安全性测量。台式X射线衍射仪使用成本：使用高灵敏度弧型X射线探测器替代了昂贵的测角仪，整套系统的价格更低，使用成本更低。先进的技术：测量速度更快，它可以同时测量所有衍射峰，完成一次对多个样品全分辨率的测量仅需要几秒时间，不需要等待。超大样品室：由于替代了测角仪，这个台式X射线衍射仪以较小尺寸提供超大样品室，可以容纳更为广泛的样品操作附件，包括8位自动采样器，可以自动分析样品而不需要操作人员。样品尺寸要求：可以测量任何尺寸的样品，而其他产品一般完成分析测量的样品最大不超过2.0mm. 100微米的样品可直接分析而不需要额外的X射线源。X射线安全性：对样品的尺寸无要求，因此X射线安全性显著提高，传统的X射线衍射仪对样品尺寸存在要求，因此需要厚厚的安全防护装置和X射线窗口，但是整体的安全性依然得不到严格保证。单晶/粉末衍射功能：这套台式X射线衍射系统还可添加附件，实现对粉末,单晶的X射衍射测量。X射线荧光测量功能：提供标准的X射荧光测量软件模块，支持特殊的X射线荧光和X射线衍射测量。矿产和冶金特殊应用： 该台式X射线衍射系统特别为地质矿产和冶金等应用而设计。它卓越的性能和操作的方便性非常适合材料科学的研究。台式X射线衍射仪技术参数： 分辨率： 0.10度 FWHM探测器曲率半径：180mm2 theta：110度X射线源: 50W , 60KV/3KW电源功率：最大50W重量： 200Kg尺寸： 95x650x150cm台式X射线衍射系统可选附件：拉曼探针，X射线荧光附件，样品操作附件，X射线管Cu,W,Co, Mo, 单晶安装架，自动采样器等。

仪器简介：X射线衍射实验源自于美国宇航局火星科学研究，将其用于火星车上岩石矿物分析，这是世界上*台台式集成XRD/XRF分析仪器。BTX获得了NASA*授权，带来了一种全新的方法能同时完成X射线衍射和X射线荧光的检测。核心突破性技术：1、 振动样品系统：这种操作是基于确保样品中的晶体呈现足够的无规则取向。BTX采用了已获*新方法。2、 CCD检测器：利用一种特殊成熟的直接激发的电荷耦合器（CCD），通过透射法BTX能够同时为X射线衍射和X射线荧光采集X射线光子数据。3、 功能强大的分析软件：包括物相鉴定模式匹配软件提供完整的分析， 使用公众衍射数据库或者商业数据库。应用行业：美国Innov-X（伊诺斯）BTX小型台式多功能X射线衍射仪应用广泛，涉及领域包括：制药、矿产、食品安全、石油、教育科研、水泥等研发、原材料、产品质量控制检测。技术参数：1、 检测器类型： x射线CCD2、 仪器尺寸：30 x 17 x 47cm3、 样品粒度大小： 150&mu m，研磨 (100目, 150 &mu m)4、 样品量： 15mg 可选小样品支架 特殊定制订单主要特点：检测前不需要研磨样品，无需另购专业研磨设备免费专家设计多功能操作分析软件光学系统没有移动部件，仪器不容易损坏仪器操作简易不需要专业人士操作检测速度快，*可以做很多样XRF提供元素辅助信息占地空间小，无需专门准备实验室几乎没有耗材，维护保养成本低耗能低联系我们(直接用户)联系我们(经销商)德祥热线：邮箱：更多产品请登陆德祥官网：