多通道颗粒速度测量仪

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多通道颗粒速度测量仪相关的厂商

  • Knick品牌 Knick总部位于德国柏林,成立于1945年,自成立以来,一直专注于接口技术和过程分析领域,致力于开发、生产和销售高品质的产品和服务,并在全球获得了极高的声誉。 作为行业领导者,Knick极为注重对研发的投入。我们的创新基于供应商、客户和销售合作伙伴之间紧密的信息和专业知识交流,融入整个公司运营。例如,几十年来Knick一直是高精度信号调理器的代名词。在液体分析领域,Memosens技术也已成为过程分析行业的标准。正因如此,Knick才能提供可靠的产品以解决新兴的任务和问题,保障客户投资的安全性和持久性。Knick 中国 科伲可(上海)电子测量仪器贸易有限公司成立于2013年,公司位于上海。作为 Knick在中国的子公司,负责Knick接口及过程分析产品在中国及东南亚地区的销售和服务。Knick中国的专业团队为中国客户提供从咨询、交付,到个性化解决方案以及售后支持的全流程服务。 主要服务市场包括铁路、电力、新能源、化工、有色金属、生物制药及半导体等。科伲可(上海)电子测量仪器贸易有限公司上海市黄浦区打浦路15号中港汇黄浦大厦3105室邮箱:info@knick.com.cn网址:www.knick.com.cn
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  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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多通道颗粒速度测量仪相关的仪器

  • Dual Star 双通道台式pH/ISE(氨氮、钠、氟、氯等多种离子)测量仪功能特点可与氨氮、硝酸根、钠、钾、氰、氯、溴等离子选择性电极(ISE)搭配使用,测量溶液中的离子浓度可显示被测离子的名称包含针对复杂样品测量的已知加量/ 减量法,样品加量/ 减量法自动空白校正功能升级的GLP 性能,可设置仪表密码并为每种方法单独设置密码每通道可设置10 个测量方法——保存不同电极的校准数据可储存1000 组测量数据,符合GLP 标准可通过USB 接口更新软件以图形方式显示校正曲线可设置等温点技术参数Dual Star 双通道台式pH/ISE 测量仪pH测量范围-2.000-19.999分辨率0.1,0.01,0.001相对精度±0.001校准点1-6 点校准编辑功能有mV/RmV测量范围±1999.9mV分辨率0.1相对精度±0.1mVEH ORP 模式有离子浓度测量范围0-19999分辨率最多3 位有效数字相对精度±0.1mV单位ppm,M,mg/L,% 或无单位校准点2-6 点校准编辑功能有校准功能线性,非线性自动空白,低浓度测量稳定性温度范围-5-105℃分辨率0.1相对精度±0.1温度校准功能有,1 点数据存储数量1000 条,符合GLP 标准记录类型手动、自动、定时(间隔)记录编辑单条删除、全部或部分选择性删除输入pH/ISE 电极2 组BNC,参比电极接口ATC 探头8 针mini DIN 接口输出RS232 接口,USB 接口电源电源适配器100-240V AC订货指南订货号产品描述标准配置D10P-00双通道pH/离子浓度测量仪Dual Star 主机,927007MD 温度补偿电极,电极支架D10P-01双通道pH/离子浓度测量套装Dual Star 主机,8102BNUWP 超级ROSS 复合pH 电极,温度补偿电极,pH 缓冲液储存液,电极支架D10P-06低钠离子浓度测量仪(测量下限5ppb)Dual Star 主机,8411BN 钠离子电极,800500U 参比电极,参比电极填充液,电极支架D10P-12氨氮测量仪Dual Star 主机,9512HPBNWP 氨氮气敏电极,标准液,离子强度调节剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-13氟离子测量仪Dual Star 主机,9609BNWP 氟离子电极,标准液,离子强度调节剂,电极填充液,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-17氯离子测量仪Dual Star 主机,9617BNWP 氯离子复合电极,标准液,离子强度调节剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-16银离子测量仪Dual Star 主机,9616BNWP 银/ 硫离子复合电极,离子强度调节剂,电极填充液,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-16N硫离子测量仪Dual Star 主机,9616BNWP 银/ 硫离子复合电极,抗氧化剂,电极填充液,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-19钾离子测量仪Dual Star 主机,9719BNWP 钾离子复合电极,标准液,离子强度调节剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-20钙离子测量仪Dual Star 主机,9720BNWP 钙离子复合电极,标准液,离子强度调节剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-26氰离子测量仪氰离子测量仪Dual Star 主机,9606BNWP 氰离子复合电极,离子强度调节剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-29铜离子测量仪Dual Star 主机,9629BNWP 铜离子复合电极,标准液,离子强度调节剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-35溴离子测量仪Dual Star 主机,9635BNWP 溴离子复合电极,标准液,离子强度调节剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-48镉离子测量仪Dual Star 主机,9648BNWP 镉离子复合电极,离子强度调节剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-53碘离子测量仪Dual Star 主机,9653BNWP 碘离子复合电极,标准液,离子强度调节剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-70余氯测量仪Dual Star 主机,9770BNWP 余氯电极,氯标准液,碘试剂,酸试剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-82铅离子测量仪Dual Star 主机,9682BNWP 铅离子复合电极,标准液,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-02二氧化碳测量仪Dual Star 主机,9502BNWP 二氧化碳气敏电极,标准液,离子强度调节剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架D10P-83硝酸根离子测量仪Dual Star 主机,9707BNWP 硝酸根离子电极,标准液,离子强度调节剂,干扰抑制剂,搅拌器,RS232 数据线,电极支架
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  • 仪器简介:赛默飞世尔科技 Temp 16 RTD温度测量仪在较宽温度范围内提供快速、可靠、高精度的温度测量。坚固耐用,操作方便。Temp 16 带有双行背光显示大屏幕,读数清晰、准确,且具有最小/最大温度显示,即使在黑暗条件下也操作方便。 稳定、可靠、重复性高,宽范围的温度测量。技术参数:测量范围 -200.0 - 850.0 ℃ (-392 - 1562 ° F) 分辨率 -200.0~850.0 ℃: 0.1 º C -392.0~999.9℉: 0.1℉ 1000~1562 º F: 1℉ 精度 --200.0~ -100.0 ℃ (-392 ~-148 ℉):± 2.0 º ℃ (± 4.0 ℉) -99.9~199.9 ℃ (-148 ~392 ℉):± 0.2 ℃ (± 0.4℉) 200.0~850.0℃ (392~1562 ℉): ± 2.0℃ (± 4.0 ℉) LCD 58x40 mm 带背光显示 最小/最大值显示 有 自动关机 17.5分钟(可选) 锁定功能 有 稳定提示 有 输入 单通道(3针圆形接口 (switchcraft TA3F)) 电源需求 3节&lsquo AA&rsquo 1.5 V碱性电池;750小时(不带背光) 储存 -40℃~65℃ (-40℉~149℉);10 %~90 % (无冷凝) 尺寸和重量 175 x 97 x 42 mm (长× 宽× 高), 267 g (不带外壳) 180 x 102 x 52 mm (长× 宽× 高), 362 g (带外壳) 防护等级 IEC-529 IP54 防尘防水 CE认证 EN61326-1/A1: 1998 (EU EMC Directive)主要特点:赛默飞世尔科技 Temp 16 RTD温度测量仪在较宽温度范围内提供快速、可靠、高精度的温度测量。坚固耐用,操作方便。Temp 16 带有双行背光显示大屏幕,读数清晰、准确,且具有最小/最大温度显示,即使在黑暗条件下也操作方便。 稳定、可靠、重复性高,宽范围的温度测量。 使用方便 &bull 自动校正 &ndash 将电极放入冰水中,按 &lsquo CAL&rsquo 键校正 &bull 按键显示最小/最大温度读数 &ndash 双行显示当前读数和最小/最大读数 &bull 大屏幕显示,方便读数 用途广泛 &bull 精确测量范围达-200.0 至 850.0℃ (-392.0 ~1562 ℉) &bull 可选各类 RTD电极 &bull 3种免提方法* &ndash 用带子悬挂,用磁铁吸附在金属表面,或放置于桌面 坚固耐用 &bull IP54 防尘防水等级,密封键盘,ABS 塑料壳体 &bull 橡胶保护套,带支架,可作台式仪表使用 应用领域 &bull 化学品 &bull 制造业 &bull 食品和饮料 &bull 工业和汽车
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  • PV6M型多通道颗粒速度测量仪产品介绍:PV6M型多通道颗粒速度测量仪,能实时有效的对气固、液固两相体系中颗粒运动速度进行测量。PV6M型多通道颗粒速度测量仪用光导纤维作为测量探针,尾端光源通过探针内的光导纤维引入到探针前端的测量区域,测量区域处物料的反射光再由同束光纤传回到光纤束尾端的光电检测器,转换为与物料反射光强度成比例的电压信号。当颗粒物料沿两光纤端面排列方向运动时,将产生波形相似,而在时间上有一定延迟的两组数据;对两路数据进行互相关运算,得出该物料的运动速度大小,进而得到速度分布。整套设备由PV6M型颗粒速度测量仪主机、2-4根光导纤维探针、信号电缆及应用软件组成。 PV6M型多通道颗粒速度测量仪 技术指标 仪器型号:PV6M-2、PV6M-4;适用环境:常压,温度不高于80℃;测量范围:2通道为0.1~30m/s、4通道为0.1~5m/s;测量体系:体系内部颗粒处于运动状态,颗粒粒径0.5-2mm(气固体系中颗粒粒径0-2mm);测量方式:接触式在线测量;探针尺寸:标准探针测量间距2mm 、探针直径5mm,探针测量段长度400-600mm;可配用适用于不同粒度实验体系的其它规格探头;备注:配合不同规格的光纤订制探头可对不同粒径含固体系的颗粒运动速度进行测量;PV6M型多通道颗粒速度测量仪产品参数产品特点产品尺寸小,对流动体系干扰较小;仪器可同时连接2或4支探针,可实时对2或4个测量点同时测量;各通道分别设有增益及基线偏移调节功能,采样频率(2通道100Hz-500kHz、4通道20Hz-50kHz)和采样数据量可调;该系统软件功能包括:原始数据采集和显示;测量通道参数自我矫正;实时或回放显示每个通道电压-时间曲线;保存每个通道电压-时间数据,计算和保存每个通道的电压平均值和阈值电压、颗粒平均速度、速度极值,计算颗粒速度分布等;可设置和保存包括采样频率、采样数据量、探针参数和采样通道窗口等;保存的数据文件可由记事本和EXCEL软件打开;应用测量软件可在windows环境下运行;在线测量,对当前各通道数据段的原始曲线、互相关曲线、速度分布等通过直方图、曲线图等实时显示。
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多通道颗粒速度测量仪相关的资讯

  • 新型冰雪粒径测量仪和硬度测量仪助力“科技冬奥”
    高山滑雪最高时速达248km/h,滑雪赛道也需要“塑胶跑道”“更快,更高,更强”是奥林匹克的口号,充分反映了奥林匹克运动所倡导的不断进取、永不满足的奋斗精神。奥运会纪录的频频打破,不但有运动员的刻苦训练,教练员的辛勤指导,科技尤其是对于运动场地的科技提升也扮演了重要的角色。就拿大家熟悉的田径运动场而言,最初的跑道是煤渣跑道(相信很多70后、80后的老伙伴们都跑过吧),后来改成了人工合成的塑胶跑道,与煤渣跑道相比,其弹性好,吸震能力好,为运动员的发挥和成绩的提高提供了物质基础。在1968年的墨西哥奥运会上,在首次使用的塑胶跑道赛场上创造了诸多的奥林匹克纪录。2022年中国北京即将举行冬季奥林匹克运动会,中国提出了“科技冬奥”的概念,中国冰雪运动必须走科技创新之路。高山滑雪比赛是冬季奥运会的重要组成部分,被誉为“冬奥会皇冠上的明珠“。高山滑雪的观赏性强,危险性大,比赛时运动员最高时速可达到248km/h。高山滑雪比赛均采用冰状雪赛道。什么是冰状雪?所谓冰状雪,是指滑雪场的雪质形态,其表面有一层薄的硬冰壳,用于减小赛道表面对于滑雪板的摩擦力。可以说冰状雪赛道就是高山滑雪项目的塑胶跑道,其制作的质量对提高运动员的成绩及滑雪的舒适感,保护运动员的身体,延长运动寿命有着十分重要的作用。看似简单的冰状雪赛道,制作起来却大有讲究。冰状雪的制作过程十分复杂,目前采用的是向雪地内部注水的方案。但是注水的强度和注水的时间把握需要根据不同的赛道地点以及当时注水时的气温进行相应的调节,以保证冰状雪赛道既有一定的强度,又有足够的弹性,使得运动员能够在高速的高山滑雪比赛中舒畅的进行滑降、回转等比赛项目。与田径场塑胶跑道不同的是,每次比赛每一个运动员在进行高山滑雪比赛时,由于技术动作的需要,都或多或少的会对冰状雪的赛道产生一定损伤,为了保证比赛的公平性,前后出发的滑雪运动员的赛道雪质状态需要保证一致,因此冰状雪赛道还需要有一定的厚度以及均匀性。研制新型冰状雪测量仪器,保障赛道质量既然冰状雪赛道有如此多的要求,那么过去是如何判断冰状雪赛道的雪质的呢?主要是采用人工判断的方法,即找一些有经验的裁判员用探针安装在电钻上进行触探工作,通过触探工作反馈的手感判断冰状雪赛道的建造质量。这种带有一定“盲盒”性质的判断工作往往会显得很不透明,也不利于这项运动的推广。助力2022北京冬奥会,依托科技部国家重点研发计划“科技冬奥”重点专项2020的“不同气候条件下冰状雪赛道制作关键技术”项目,中国科学院南京天文光学技术研究所南极团队和中国气象科学研究院共同合作研发了用于判断冰状雪赛道质量的冰雪粒径测量仪和冰雪硬度测量仪,其目的在于将冰状雪质量的人工主观判断,变成清晰可见的客观物理数据,通过对这些物理数据的科学分析,结合有经验的运动员的滑雪体验,掌握不同地点,不同天气条件下冰状雪赛道的制作方法。主要有如下两种仪器:冰雪粒径自动测量仪和冰雪硬度自动测量仪。积雪颗粒的形状及大小是影响雪的力学性质的主要因素,不同大小雪粒之间在自然状态下空隙不断变小,雪中含有的空气降低,使得雪粒间的化学键合力增强,从而影响雪的硬度。那么如何测量积雪的颗粒呢,科研人员采用漫散射原理:近红外光经过粗糙的表面会被无规律的向各个方向反射,会造成光强度减弱,光减弱的大小跟表面的粗糙相关,而积雪表面的粗糙程度是由粒径决定的。通过测量光减弱的比例间接的测量出冰雪的颗粒大小。冰雪粒径自动测量仪测量注水雪样雪的硬度测试是反映冰雪强度的重要指标之一,冰雪硬度测量仪的原理是通过电机带动滑轨驱动探头打入冰状雪赛道内部,并读取探头受到的反作用力的大小来判断冰雪的硬度条件。该方法的好处是可以做到基本无损的对赛道进行冰雪硬度的测量,不影响赛道的后续使用,并且可以通过读取力和冰状雪深度的曲线了解冰状雪赛道的均匀性。针对高山滑雪的赛场坡度较陡,人工攀爬十分困难,科研人员在仪器的便携性上做了特殊的设计,设计了一款折叠式的硬度测量仪,方便携带,可以从坡顶沿雪道一直测量到坡底,实现了仪器的“就地展开”和“指哪测哪”的功能。冰雪硬度测量仪现场工作照片2020年11月-2021年3月,抓住冬奥会举办前的最后一个冬季的机遇,在冬奥会举办地北京延庆、河北张家口以及黑龙江哈尔滨亚布力冬季体育训练基地对不同气候条件、不同注水强度的冰状雪赛道,使用研制的冰雪粒径自动测量仪和冰雪硬度自动测量仪进行了粒径及冰雪硬度测试,获得了不同深度冰雪粒径的变化图以及不同深度的冰雪硬度的曲线图。冰状雪赛道压强-深度关系图该项目的首席科学家,中科院西北研究院冰冻圈科学国家重点实验室副主任王飞腾研究员认为“雪粒径及硬度计等新型冰雪仪器的研究,将过去以人工经验为主的冰状雪赛道状态判断变为了客观、清晰的科学指标,为冰状雪赛道制作标准的透明化提供了参考依据”。项目攻关团队的带头人,国际冰冻圈科学协会副主席,中国气象科学研究院丁明虎研究员认为“雪粒径和硬度计的设计充分考虑了不同于自然雪的人工造雪的特殊情况,仪器在项目工作中表现优异,性能稳定,可靠性高。”未来将在南极天文台发挥作用冰雪强度、硬度的测量不仅可以应用于滑雪相关的体育运动中,在未来的极地工程建设上也能发挥作用。遥远的南极虽然不是适合人类居住的地方,但是却有着良好的天文观测条件。根据2020年在 Nature 上发表的一篇文章,证明昆仑站所在的冰穹A地区的光学天文观测条件优于已知的其他任何地面台址。这项研究成果确认了昆仑站有珍贵的天文观测台址资源,为我国进一步开展南极天文研究奠定了科学的基础。但是如何在南极地区安装大型望远镜又有很多实际的困难,其中之一就是普通的大型望远镜的基墩都是直接安装在地球的基岩上,这样基墩比较扎实稳固,能保证望远镜在观测时不会因为地基不稳产生晃动,但是冰穹A地区的冰大约有4000m那么厚,相当于1500层楼房那么高,如果再想将望远镜基墩打入基岩显然难以做到。那么大型望远镜如何能够平稳的伫立在南极浮动的冰盖上呢?这就需要科学家们对冰穹A地区的冰雪进行特殊的加固处理,使其能够满足基墩的设计要求。在加固处理完后,我们的雪粒径和硬度测量仪就可以对加固后的冰雪强度进行测量,通过科学的数据检验其是否能够满足南极大型望远镜的需求。
  • “高端动力装置扭矩和速度测量仪器设备的研发与应用”项目启动
    2月28日,国家重大科学仪器设备开发专项——“高端动力装置扭矩和速度测量仪器设备的研发与应用”项目启动会,在中国计量科学研究院(以下简称“中国计量院”)召开。会议由国家质检总局科技司主持,科技部条财司副司长吴学梯、国家质检总局科技司副司长王越薇、中国计量院副院长宋淑英等领导及项目监理组、总体组、技术专家委员会、用户委员会和管理办公室等近百人参加了本次启动会。 科技部条财司副司长吴学梯在启动会上讲话   启动会上,科技部条财司副司长吴学梯介绍了国家重大科学仪器设备开发专项的设立背景和目标定位,要求“高端动力装置扭矩和速度测量仪器设备的研发与应用”项目组瞄准产品开发目标,积极推进产业化 更加关注产品的知识产权 按照项目管理办法,落实好法人负责制的各项要求 严格进行项目经费管理,并希望相关项目参与单位加强协作,潜心开发,实现科学仪器设备自主创新。同时他对该项目利用信息化系统的创新管理方式表示肯定,并希望其能够得到进一步推广运用。   项目总体组组长、中国计量院副院长宋淑英对与会领导、专家对中国计量院科技事业发展的关心支持和帮助表示感谢。她指出,“高端动力装置扭矩和速度测量仪器设备的研发与应用”项目是近年来中国计量院在重大仪器方面获得的第3个国家支持项目。作为项目牵头单位,中国计量院将继续做好支持和服务工作,与各项目参与单位团结协作,确保项目顺利实施,为我国摆脱高端测量仪器完全依赖进口的局面作出应有贡献。   项目负责人、中国计量院力学与声学研究所所长张跃研究员就项目背景、总体目标、任务分解、预期成果及进度和经费安排等相关情况进行了汇报。项目办公室汇报了项目实施管理办法 各任务负责人分别汇报了任务的研究内容、考核指标、实施方案、进度及经费安排等。   与会专家在认真听取汇报的基础上,展开热烈讨论,对项目进行点评,并提出实施意见建议。   高端动力装备在装备制造业中占有举足轻重的地位,是各种重大成套技术装备的核心组成部分,例如,风力发电机组、大型舰船推进系统、高速列车动力系统及转向架、航空发动机、高档数控机床等。高端动力装备对国民经济的发展起着突出的作用,同时也代表了我国先进制造业,特别是装备制造业的能力和水平。   而目前,我国大量的扭矩和速度参数测量系统,包括功率、最大扭矩、最高车速、加速度等,尤其是高端测量仪器依赖进口,并无法在国内溯源,严重制约了我国自主动力扭矩和速度测量仪器的可靠计量、研发与应用,从而制约了我国高技术含量、高国际竞争力的核心工业产品的自主研制和生产,开展具有自主知识产权的高端动力装置扭矩和速度测量仪器设备的研制需求迫切。   国家重大科学仪器设备开发专项“高端动力装置扭矩和速度测量仪器设备的研发与应用”项目总体目标为:开展高端动力装置机械功率关键参数扭矩和速度精密测量技术的研究,攻克扭矩标准装置中高精密空气轴承支撑部件的核心技术及双天线雷达测速收发模块的关键技术。研究建立具有自主知识产权的高端动力装置的扭矩测量仪器(20kNm扭矩标准机)、高端动力装置速度测量仪器(双天线雷达测速仪器)和加速度计动态特性校准装置,填补国内空白,达到高端动力装置扭矩测量和速度测量的国际先进水平。   据介绍,项目研制成果将有望为我国高端动力装备扭矩与速度等功率测量建立可靠的计量溯源体系,并将在仪器开发、产业化示范、节能减排等方面起到重要的推动作用。   该项目的组织实施单位为国家质检总局,由中国计量科学研究院牵头,并负责其中4个任务,任务承担单位还包括清华大学、中国船舶重工集团第七〇四研究所、浙江省计量科学研究院、北京化工大学、辽宁省计量科学研究院、湖南省计量科学研究院、苏州苏试试验仪器股份有限公司与长沙普德利生科技有限公司等8家单位。项目起止时间为2012年10月至于2016年9月。主要包括12个任务:20kNm高准确度扭矩标准装置的研发、高准确度大质量参数测量装置的研制、高精度宽量程多普勒雷达测速技术的研究及其测量装置的研制、加速度计动态特性计量技术的研究与校准装置的建立、空气轴承支撑技术的研发、无扰动质量参数自动测量技术的研发、加速度计动态模型及参数辨识的研究、测速测距雷达测速仪在交通领域的应用研究、空气轴承支撑技术在高准确度扭矩标准机及船舶装配质量控制中的应用、安全气囊加速度计校准装置在汽车行业的应用以及双天线雷达测速仪在高铁行业的应用研究等。
  • Dual Star双通道pH/离子浓度测量仪中国销售首战告捷
    EID水质分析赢得新疆建设兵团疾控中心70套pH/离子浓度测量仪订单,为该项目配备的OrionOrion新型Dual Star双通道pH/离子浓度测量仪性能优异,领先于同类产品。

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  • 【原创】常见粒度测量仪器的原理和性能特点(包括颗粒图像处理仪、电阻法颗粒计数器)

    本文简介:[B]颗粒图像处理仪[/B]是用显微镜放大颗粒,然后通过数字摄像机和计算机数字图像处理技术分析颗粒大小和形貌的仪器,能给出不同等效原理(如等面积圆、等效短径等)的粒度分布,能直接观察颗粒分散状况、粉体样品的大致粒度范围、是否存在低含量的大颗粒或小颗粒情况等等,并增加了详细的圆度分析功能,是其他粒度测试方法的非常有用的辅助工具,是我国现行金刚石微粉粒度测量标准的推荐仪器。适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、填料等各种末颗粒的粒度测量、形貌观察粉和分析。 [B]电阻法(库尔特)颗粒计数器[/B]是根据小孔电阻原理,又称库尔特原理,测量颗粒大小的。由于原理上它是先逐个测量每个颗粒的大小,然后再统计出粒度分布的,因而分辨率很高,并能给出颗粒的绝对数目。其最高分辨率(通道数)取决于仪器的电子系统对脉冲高度的测量精度。此文为专业普及文档,PDF文档,请用Acrobat Reader浏览相关链接:http://www.omec-tech.com/products-01-gs.html[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=66309]其他常见粒度测量仪器的原理和性能特点[/url]

  • 关于物位测量仪表的一些基础信息

    基本概念: 物位是指物料相对于某一基准的位量,是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量,其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计,测量液位的仪表称为液位计,测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况,液位测量占有相当大的比例,故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表,其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类:物位测量方法很多,测量范围较广,可从儿毫米到几十米,甚至更高,且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此,工业上所采用的物位测量仪友种类繁多,技其工作原理可分为:(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理,通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度,是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力,测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理,利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位,且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化,进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同,可分为电容式、电阻式和电感式3种,其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种,其中气介式可测液位和料位;液介式可测液位和液—液相界面;固介式只能测液位,比如:防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计,可测液位和料位,: (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时.被吸收而减弱,其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外,还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表,以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型,且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种.前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等,后者比较简单价廉,主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网

多通道颗粒速度测量仪相关的耗材

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    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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