飞行时间二次离子质谱

microTyper MS高通量微生物快速鉴定系统是中国首款完全自主知识产权的商品化基质辅助激光解吸离子源一飞行时间质谱仪（MALDI-TOF MS），由江苏天瑞仪器股份有限公司与其控股子公司厦门质谱共同研发，江苏天瑞仪器股份有限公司福建分公司生产销售，该仪器的研制打破了国外质谱公司对于该产品技术的垄断，并于2015年获得中国分析测试协会BCEIA金奖。获2015年中国分析测试协会BCEIA金奖工作原理：利用基质辅助激光解吸电离方法得到待测样品分子离子，通过测得待测微生物的肤质量指纹圈谱（PMF)，并将其与数据库中的徽生物标准指纹图谱进行匹配检索，从而完成鉴定（可鉴定至种或属）。该仪器适用于绝大多致的徽生物鉴定，可同时鉴定细菌及真菌，相对于传统方法，具有更加快速准确、高通量检测、操作简单、成本低的优势。产品特点及优势：硬件特点：1）采用无网直线形飞行管，并配置大面积高灵敏微通道板（MCP）离子探测器；2）配置超高速ADC采集卡，高采样频率可达3GHzsps3）使用长寿命氮气紫外激光器，激光发射频率在1~60 Hz内可调；4）配备96孔的样品靶板，含6个质控点，可多次重复清洗使用；5）配置转速320 L/s的分子泵，缩短进样等待时间；6）采用三重灭菌尾气处理装置，大限度保证实验安全和保护环境。软件特点：1）microTyper MS软件集合仪器控制、数据采集、谱图实时快速鉴定功能于一体，可进行谱图离线处理、批检索、聚类分析以及徽生物数据库自建等；2）多样品把点全自动采集与鉴定功能：利用人工智能模糊逻辑算法自动采集谱图和评估谱图质量，实现无人操作下自动获取高质量的肽指纹谱图；3）质轴自动校准功能：自动校准使仪器长朋保持佳工作状态，提高鉴定结果的准确度，增强用户操作的便捷性；4）软件自诊断和保护功能：软件实时更新仪器运行状态，便于用户掌握仪器状况，发现问题及时处理；5）远程监控和技术服务功能：配置性能的触控平板电脑和白动采集软件系统认（APS)，实现自动采谱、鉴定、生成报告的远程操控。性能参数：1）质量范围：16000u2）质量准确性：≤500ppm3）灵敏度：信噪比≥ 1004）质量分辨率：R≥5005）重复性：≤ 0.06%6）质量稳定性：≤ 800ppm微生物鉴定方法：微生物鉴定流程微生物样品前处理方法：微生物样品前处理流程应用领域：1）临床微生物的高通量快速鉴定；2）疾控中心微生物传染病原的鉴定与监测；3）食品生产中的微生物检测；4）检验检疫；5）工业、农业环琉中的细曲检测；6）微生物研究及应用开发。

仪器简介：LCMS-IT-TOF是岛津公司最新推出的高端质谱仪，并于2005年3月获得了著名的匹兹堡展会新产品银奖。该奖项是本届展会质谱仪整机产品得到的最高奖。这充分表明分析仪器行业对该仪器优越性能的认可。LCMS-IT-TOF的设计理念是根据现有各厂家质谱仪不能同时实现多级质谱功能和精确质量测定，即二者不可兼得的行业现状下，独创一系列关键的独特技术，实现了离子阱质谱和飞行时间质谱的完美结合。从而实现既可以做多级质谱，又能达到高质量精度的强大功能。 LCMS-IT-TOF无论是在有机小分子的结构分析和代谢组学，还是生物大分子的蛋白质组学研究，包括多肽的一级从头测序，蛋白质鉴定，转录后修饰，复杂糖蛋白的分析等，都可以发挥出巨大的应用功能。技术参数：..主要特点：高分辨率和高质量精度 二级反射器和弹道离子提取等的独特技术可以在所有检测模式下达到高分辨率和高质量精度 高通量和快速正负极性转换功能 检测速度快，正负极转换仅用100ms,实现高通量 高灵敏度 压缩离子导入技术使离子高效进入离子阱，实现高灵敏度 高校正稳定性 采用恒温控制装置，保证了高校正稳定性 真正的MSn功能 独特的离子阱导入和导出技术，使离子损耗减小到最低，可以在10级质谱仍保持高质量谱图

谱育科技自主研发的TRACE 8000 化学电离飞行时间质谱仪，将高灵敏度化学电离源和高分辨飞行时间质量分析器进行结合，具有灵敏度高、分析速度快、分辨率高、测量组分种类多等突出优点；仪器具有创新的辉光放电源、高压离子漏斗和静电透镜传输技术，保证样品的电离效率和离子的传输效率，适用于走航监测、食品科学、材料分析、爆炸物和药物检测等方面的应用。产品概述性能优势分析速度快微秒级的扫描速度，可捕捉目标物质的瞬时变化，为科学研究、应急监测、生产过程的高通量监测提供有效手段。分辨率高可实现复杂混合物样品中分子量相近物质的分析识别，解决传统低分辨直接进样质谱分析定性难的问题，将“看不见”变成“看得见”，追溯物质本源。多试剂离子可选配合试剂离子快速切换系统，根据目标物质的化学特性，可选择H3O+、O2+、NO+等多种不同电离能的试剂离子进行靶向电离，适测物质涵盖醛、酮、有机硫、有机胺、卤代烃、苯系物、长短链烃类等，是优选的快速检测技术。 应用领域TRACE 8000 化学电离飞行时间质谱仪适用于走航监测和园区VOCs在线监测，可实现VOCs精准溯源及扩散预警。可对半导体生产过程中的AMC、食品生产的风味物质进行实时监控；石油化工生产过程中移动测量、定点在线监测；材料中有害成分的快速鉴定分析；人呼出气体的宽动态范围内的追踪分析。

JMS-T100LP 是该系列产品中的最新一代产品，是一种简单、耐用且用途广泛的大气压电离- 飞行时间质谱仪。除了采用LC-MS 离子源中最广泛使用的电喷雾离子源（ESI）之外，还可配备JEOL 独特的电离技术，DART&trade （实时直接分析）和ColdSpray（冷喷雾离子源），能在各个领域提供分析解决方案。

飞行时间二次离子质谱（TOF- SIMS）是一种表面敏感的技术，提供表面分子，元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素，包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上，该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率（在实践中通常是大约 10000amu）。PHI TRIFT V nano飞行时间质谱仪（三次对焦飞行时间）是一种高传输、并行检测仪器，其目的是由主脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子可以得到zui佳的收集状态，并可同时用于有机和无机表面特征分析。TRIFT分析仪的工作原理会把离子在光谱仪中不断的重新聚焦。使二次离子质谱允许更多重大的实验得以进行。主离子束zui先进的设计，允许经由计算机控制去同时达到高横向分辨率的成像和高质量的图谱分辨率。PHI TRIFT V nanoTOF是第五代SIMS仪器，该仪器具有独特的专利时间飞行（TOF）分析仪，它拥有市场上TOF-SIMS仪器中zui大的角度和能量接受标准，实现了高空间分辨率质量分辨率和使用具有优良离子传输能力的三重重点半球形静电分析器。PHI TRIFT V nanoTOF还具有很高的能力，可以图像具有非常复杂的几何形状的样本而没有阴影。

Kore SurfaceSeer S在飞行时间二次离子质谱仪 （TOF-SIMS） 系列中，是一款高性价比且经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成分的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、半导体、微电子、物理学、材料化学、纳米科学、矿物学、生命科学等领域。Kore SurfaceSeer S型号的飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）使用的是5keV Cs+离子束（可选惰 性气体Ar+），该离子束是脉冲式的，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µ s TOF 循环中，该离子枪的脉冲时间仅为60ns，因此，主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限，需要在一个点上进行几分钟的分析，在这个点上，表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低，这款TOF分析仪还是非常高效的，这就说明了它具有较高的二次离子数据速率（即使在离子产率相对较低 的聚合物上，也通常为5000 c/s）。SurfaceSeer S 仪器特点：配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤，实现样品“无损”分析；针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器；均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ；可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析；质量分辨率可达 2,500 m/δm (FWHM)；适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。SurfaceSeerS应用领域:表面化学黏附力分层印刷适性表面改性等离子体处理痕量分析（表面ppm）催化剂同位素分析表面污染

PHI nanoTOF3+ 特征先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力，更加出色的分析精度 飞行时间二次离子质谱仪新一代 TRIFT 质量分析器，更好的质量分辨率 适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析 独特的离子束技术 平行成像 MS/MS 功能，助力有机大分子结构分析 多功能选配附件TRIFT分析器适用于各种形状的样品 宽带通能量+宽立体接收角度宽带通能量、宽立体接受角-适用于各种形貌样品分析主离子束激发的二次离子会以不同角度和能量从样品表面飞 出，特别是对于有高度差异和形貌不规则的样品，即使相同 的二次离子在分析器中会存在飞行时间上的差异，因此导致 质量分辨率变差，并对谱峰形状和背景产生影响。 TRIFT质量分析器可以同时对二次离子发射角度和能量进行 校正， 保证相同二次离子的飞行时间一致， 所以TRIFT兼顾 了高质量分辨率和高检测灵敏度优势，而且对于不平整样品 的成像可以减少阴影效应。 实现高精度分析的一次离子设备先进的离子束技术实现更高质量分辨PHI nanoTOF3+ 能够提供高质量分辨和高空间分辨的TOF-SIMS分析:在高质量分辨模式下，其空间分辨率优于500nm 在高空间分辨模式下，其空间分辨模式优于50 nm。通过结合强度高离子源、高精度脉冲组件和高分辨率质量分析器，可以实现低噪声、高灵敏度和高质量分辨率的测量 在这两种模式下，只需几分钟的测试时间，均可完成采谱分析。前所未见的无人值守TOF-SIMS自动化多样品分析 -适用于绝缘材料PHI nanoTOF3+搭载全新开发的自动化多样品分析功能，程序可根据 样品导电性自动调整分析时所需的高度与样品台偏压， 可以对包括 绝缘材料在内的各类样品进行无人值守自动化TOF-SIMS分析。 整个分析过程非常简单， 只需三步即可对多个样品进行表面或深度 分析 ：①在进样室拍摄样品台照片 ；②在进样室拍摄的照片上指定 分析点 ；③按下分析键，设备自动开始分析。 过去，必须有熟练的操作人员专门操作仪器才能进行TOF-SIMS分析 ； 现在，无论操作人员是否熟练，都可以获得高质量的分析数据标配自动化传样系统PHI nanoTOF3+配置了在XPS上表现优异的全自动样品传送系 统 ：样品尺寸可达100mmx100 mm， 而且分析室标配内置 样品托停放装置 ；结合分析序列编辑器（Queue Editor），可以实现对大量样品的全自动连续测试。采用新开发的脉冲氲离子设备获得证书的自动荷电双束中和技术TOF-SIMS测试的大部分样品为绝缘样品，而绝缘样品表面 通常有荷电效应。PHI nanoTOF3+ 采用自动荷电双束中和 技术，通过同时发射低能量电子束和低能量氲离子束，可实现对任何类型和各种形貌的绝缘材料的真正自动荷电中和，无需额外的人为操作。 *需要选配Ar离子设备 远程访问实现远程控制仪器PHI nanoTOF3+允许通过局域网或互联网访问仪器。 只需将样品台放入进样室， 就可以对进样、换样、测试和分析等所有操作进行远程控制。我们的专业人员可以对仪器进行远程诊断。*如需远程诊断，请联系我们的客户服务人员。 从截面加工到截面分析： 只需一个离子源即可完成标配离子设备FIB(Focused lon Beam)功能在PHI nanoTOF3+中， 液态金属离子具设备备 FIB功能， 可以使用单个离子设备对样品进行 横截面加工和横截面TOF-SIMS分析。通过操 作计算机， 可以快速轻松地完成从FIB处理 到TOF-SIMS分析的全过程。此外，可在冷却 条件下进行FIB加工。 在选配Ga源进行FIB加工时，可以获得FIB加 工区域的3D影像 ；Ga源还可以作为第二分析 源进行TOF-SIMS分析。 通过平行成像MS/MS进行 分子结构分析[选配]MS/MS平行成像 同时采集MS1/MS2数据在TOF-SIMS测试中，MS1质量分析分析器接收从样品表面 产生的所有二次离子碎片，对于质量数接近的大分子离子， MS1谱图难以区分。通过安装串联质谱MS2，对于特定离子 进行碰撞诱导解离生产特征离子碎片，MS2谱图可以实现 对分子结构的进一步鉴定。PHI nanoTOF3+具备串联质谱MS/MS平行成像功能， 可以同时获取分析区域的MS1和MS2数据，为有机大分子结构解析提供了强有力的工具。 多样化配置充分发挥TOF-SIMS潜力可拆卸手套箱：可安装在样品导入室可以选配直接连接到样品进样室的可拆卸手套箱。 锂离子电池和有机 OLED等容易与大气发生反应的样品可以直接安装在样品台上。此外，在 冷却分析后更换样品时，可以防止样品表面结霜。 氩团簇离子源（Ar-GCIB）：有机材料深度剖析使用氩团簇离子源(Ar-GCIB)能够有效减少溅射过程中对有机材料的破坏，从而在刻蚀过程中保留有机大分子结构信息。Cs源和Ar/O2源：无机材料深度剖析可根据测试需求选择不同的离子源提高二次离子产额，使用Cs源可增强负离子产额 ；O2源可增强正 离子产额

Kore SurfaceSeer I是一款高灵敏度的TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪，具有高通量分析功能，可用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeer I 是研究表面化学的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪主要通过离子源发射离子束溅射样品表面进行分析。离子束作为一次离子源，经过一次离子光学系统的聚焦和传输，到达样品表面。样品表面经过溅射，产生二次离子，系统将产生的二次离子提取和聚焦，并将二次离子送入离子飞行系统。在离子飞行系统中，不同种类的二次离子由于质荷比不同，飞行速度也不同，在飞行系统分离，通过检测这些离子进行相关分析。SurfaceSeer I 使用与 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技术，但配备了高亮度、高空 间分辨率的 25kV 液态金属离子枪（LMIG）作为主要离子源。LMIG 的探头尺寸≤ 0.5µ m，可实现高分析空间分辨率。全自动计算机控制，允许在质谱采集期间扫描离子枪，从而可以收集到化学图像或图谱。另外还提供了一个二次电子探测器（SED），用 于调谐初级电子束和 SED 图像捕获。带有12.7µ m重复单元的铜格栅SurfaceSeer I 仪器特点：配备25KV液态金属离子枪（LMIG）作为主要离子源，检测能力更强，质量分辨率更高；具备表面成像和深度剖析功能；提供的SIMS材料谱库包含上千种材料的质谱数据，可识别未知的化合物和材料；可同时分析所有元素及有机物，可消除有机物和元素干扰，使谱图更清晰，检测限更低，能更有效地分析材料样品。专用数据处理软件允许分析数据和样品的化学构成信息进行全面的交互提取，其所有储存的数据都能用于溯源性分析。表面分析灵敏度高达 1x109 atoms/cm2SurfaceSeer I 应用领域:表面涂层和处理电子元件和半导体电极与传感器润滑剂催化剂粘合剂薄膜等包装材料腐蚀研究大学教学与科研

TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，适用于许多工业和研究应用。该技术通过对一次离子束轰击样品表面产生的二次离子进行质量分析，并行探测所有元素和化合物，具有极高的传输率（可达到100%），只需要一次轰击就可以得到研究点的完整质量谱图，从而提供有关样品表面、薄层、界面的详细元素和分子信息，并能提供全面的三维分析。其用途广泛，包括半导体，聚合物，涂料，涂层，玻璃，纸张，金属，陶瓷，生物材料，药品和有机组织领域。全新 M6 — — 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）先进科技M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）仪器，对一次离子源（LMIG）和质量分析器（TOF Analyser）进行了突破性的改进。此外，在硬件方面还增加了 MS/MS 功能选项，重新设计了加热和冷却系统；在软件方面新增了多元统计分析（MVSA）软件包。其设计保证了 SIMS 应用在所有领域的卓越性能。新的突破性离子束和质量分析器技术使 M6 成为二次离子质谱（SIMS）仪器中的耀眼光芒、工业和学术研究的理想工具。全新 M6 具有以下突出优势：1 新型 Nanoprobe 50 具有高横向分辨率 ( 50 nm)2 质量分辨率 30,0003 独特的延迟提取模式可同时实现高传输，高横向质量4 广域的动态范围和检测限5 用于阐明分子结构具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS6 先进智能的 SurfaceLab 7 软件，包括完全集成的多元统计分析 (MVSA) 软件包7 新型灵活按钮式闭环样品加热和冷却系统，可长期无人值守运行

PHI nanoTOF3+特征先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力，更加出色的分析精度飞行时间二次离子质谱仪最新一代 TRIFT 质量分析器，更好的质量分辨率 适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析 独特的离子束技术 平行成像 MS/MS 功能，助力有机大分子结构分析 多功能选配附件TRIFT分析器适用于各种形状的样品 宽带通能量+宽立体接收角度宽带通能量、宽立体接受角-适用于各种形貌样品分析主离子束激发的二次离子会以不同角度和能量从样品表面飞 出，特别是对于有高度差异和形貌不规则的样品，即使相同 的二次离子在分析器中会存在飞行时间上的差异，因此导致 质量分辨率变差，并对谱峰形状和背景产生影响。 TRIFT质量分析器可以同时对二次离子发射角度和能量进行 校正， 保证相同二次离子的飞行时间一致， 所以TRIFT兼顾 了高质量分辨率和高检测灵敏度优势，而且对于不平整样品 的成像可以减少阴影效应。 实现高精度分析的一次离子枪先进的离子束技术实现更高质量分辨PHI nanoTOF3+ 能够提供高质量分辨和高空间分辨的TOF-SIMS分析:在高质量分辨模式下，其空间分辨率优于500nm 在高空间分辨模式下，其空间分辨模式优于50 nm。通过结合高强度离子源、高精度脉冲组件和高分辨率质量分析器，可以实现低噪声、高灵敏度和高质量分辨率的测量 在这两种模式下，只需几分钟的测试时间，均可完成采谱分析。前所未见的无人值守TOF-SIMS自动化多样品分析 -适用于绝缘材料PHI nanoTOF3+搭载全新开发的自动化多样品分析功能，程序可根据 样品导电性自动调整分析时所需的高度与样品台偏压， 可以对包括 绝缘材料在内的各类样品进行无人值守自动化TOF-SIMS分析。 整个分析过程非常简单， 只需三步即可对多个样品进行表面或深度 分析 ：①在进样室拍摄样品台照片 ；②在进样室拍摄的照片上指定 分析点 ；③按下分析键，设备自动开始分析。 过去，必须有熟练的操作人员专门操作仪器才能进行TOF-SIMS分析 ； 现在，无论操作人员是否熟练，都可以获得高质量的分析数据标配自动化传样系统PHI nanoTOF3+配置了在XPS上表现优异的全自动样品传送系 统 ：最大样品尺寸可达100mmx100 mm， 而且分析室标配内置 样品托停放装置 ；结合分析序列编辑器（Queue Editor），可以实现对大量样品的全自动连续测试。采用新开发的脉冲氲离子枪获得专利的自动荷电双束中和技术TOF-SIMS测试的大部分样品为绝缘样品，而绝缘样品表面 通常有荷电效应。PHI nanoTOF3+ 采用自动荷电双束中和 技术，通过同时发射低能量电子束和低能量氲离子束，可实现对任何类型和各种形貌的绝缘材料的真正自动荷电中和，无需额外的人为操作。 *需要选配Ar离子枪 远程访问实现远程控制仪器PHI nanoTOF3+允许通过局域网或互联网访问仪器。 只需将样品台放入进样室， 就可以对进样、换样、测试和分析等所有操作进行远程控制。我们的专业人员可以对仪器进行远程诊断。*如需远程诊断，请联系我们的客户服务人员。 从截面加工到截面分析： 只需一个离子源即可完成标配离子枪FIB(Focused lon Beam)功能在PHI nanoTOF3+中， 液态金属离子枪具备 FIB功能， 可以使用单个离子枪对样品进行 横截面加工和横截面TOF-SIMS分析。通过操 作计算机， 可以快速轻松地完成从FIB处理 到TOF-SIMS分析的全过程。此外，可在冷却 条件下进行FIB加工。 在选配Ga源进行FIB加工时，可以获得FIB加 工区域的3D影像 ；Ga源还可以作为第二分析 源进行TOF-SIMS分析。 通过平行成像MS/MS进行 分子结构分析[选配]MS/MS平行成像 同时采集MS1/MS2数据（专利）在TOF-SIMS测试中，MS1质量分析分析器接收从样品表面 产生的所有二次离子碎片，对于质量数接近的大分子离子， MS1谱图难以区分。通过安装串联质谱MS2，对于特定离子 进行碰撞诱导解离生产特征离子碎片，MS2谱图可以实现 对分子结构的进一步鉴定。PHI nanoTOF3+具备串联质谱MS/MS平行成像功能， 可以同时获取分析区域的MS1和MS2数据，为有机大分子结构解析提供了强有力的工具。 多样化配置充分发挥TOF-SIMS潜力可拆卸手套箱：可安装在样品导入室可以选配直接连接到样品进样室的可拆卸手套箱。 锂离子电池和有机 OLED等容易与大气发生反应的样品可以直接安装在样品台上。此外，在 冷却分析后更换样品时，可以防止样品表面结霜。 氩团簇离子源（Ar-GCIB）：有机材料深度剖析使用氩团簇离子源(Ar-GCIB)能够有效减少溅射过程中对有机材料的破坏，从而在刻蚀过程中保留有机大分子结构信息。Cs源和Ar/O2源：无机材料深度剖析可根据测试需求选择不同的离子源提高二次离子产额，使用Cs源可增强负离子产额 ；O2源可增强正 离子产额

仪器简介：EQS 是差式泵式二次离子质谱（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用最新技术的SIMS 探针，便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。 技术参数：应用： 静态 /动态SIMS 一般目的的表面分析 整体的前端离子源，便于RGA和 SNMS 兼容的离子枪/ FAB 枪 成分/污染物分析 深度分析 泄漏检测 与Hiden SIMS 工作站兼容主要特点： 高灵敏度脉冲离子计数检测器，7个数量级的动态范围 SIMS 成像，分辨率在微米以下 光栅控制，增强深度分析能力 45°静电扇形分析器, 扫描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM. 所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输 差式泵3级过滤四极杆，质量数范围至2500amu 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 Penning规和互锁装置可提供过压保护 通过RS232、RS485或Ethernet LAN，软件 MASsoft控制

仪器简介：1. 适合做多层薄膜的深度分析。2. 很好的、耐用的、普通目的的二次离子质谱仪。3. 方便使用。4. 样品可以手动转换，由于分析速度快所以每天可以分析一定数量的样品。5. 我们的系统可配置快速原子枪，使我们可以轻松处理绝缘的样品。6. 我们还可以做元素成像（就象化学地图）和混合模式扫描，自动测量正、负和中性粒子。7. 我们的系统是典型的超高真空工作台，很容易满足很多其它分析的使用。结构紧凑，但不损失性能。真正的高性价比。技术参数：质量数范围：300，510或1000amu分辨率：5%的谷，两个相连的等高峰。检测器：离子计数检测器，正、负离子检测检测限：1:10E7质量过滤器：三级过滤四极杆（9mm杆）主离子枪： A，氧离子或其它气体，能量到5KeV B，Ga离子枪，能量25KeV（选配）空间分辨率：A：100～150um B: 50nm取样深度：2个单分子层（静态） 不受限制（动态）主要特点：? 高灵敏度脉冲离子计数检测器，7个数量级的动态范围 ? SIMS 成像，分辨率在微米以下 ? 光栅控制，增强深度分析能力 ? 所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输 ? 差式泵3级过滤四极杆，质量数范围至1000amu ? 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 ? Penning规和互锁装置可提供过压保护 ? 通过RS232、RS485或Ethernet LAN，软件 MASsoft控制

多功能SIMS工具：高分析效率和全自动化的基准检测灵敏度IMS 7f-Auto是我们获得成功的IMS xf二次离子质谱仪（SIMS）产品系列的新型号。该仪器旨在提高高精度元素和同位素分析的易用性和生产率，已针对玻璃、金属、陶瓷、硅基，III-V和II-VI族化合物器件、散装物料、薄膜等一系列颇具挑战性的应用进行改良，可充分满足行业对高效器件开发和过程控制的要求。用于解决多种分析问题的关键分析功能IMS 7f-Auto提供了具有高深度分辨率和高动态范围的深度剖析功能。高透射质谱仪与两种反应性高密度离子源（O2+和Cs+）相结合，从而提供高溅射速率和极低的检出限。独特的光学设计可实现直接离子显微镜和扫描探针成像。 提高自动化和作业效率IMS 7f-Auto配有重新设计的同轴一次离子枪筒，可以更轻松、更快速地进行一次离子束调谐，并优化一次离子束流稳定性。新的自动化程序减少了由操作员引起的偏差并提高了易用性。带有自动装载/卸载样品架的电动储存室通过分析链和远程操作提高分析效率。 在高分析效率下实现高再现性借助新型电动储存室和样品转移，IMS 7f-Auto能够分析链式或远程模式下的多个样品。测量可以完全无人值守和自动化，具有高通量和可再现性。可实现很高的可再现性（RSD0.5％）、很低的检出限、高测试效率和高生产率（工具可每天24小时使用，几乎无需操作员干预）。

仪器简介：全球最先进的动态TOF-SIMS系统，它使用直流主束的飞行时间分析仪，创建了成像质谱的新范式。直流一次离子束的使用允许快速成像和连续数据采集（即没有单独的蚀刻周期），同时提供高空间和质量分辨率。 独有的特点：离子束带来高分子量分析和高空间分辨率四种离子束可选择用气体团簇离子束SIMS，可以分析高达3000Da的分子量无“仅蚀刻”循环的深度剖面。快速、连续采集冷样品处理气敏和冷冻样品,可配置手套箱高级数据查看功能技术参数：腔室上最多可包括3种离子束。选择包括金，C60，气体团簇，和等离子体-每一个适合特定的样品类型或实验，如下所示。离子束能量束斑大小金25kV150nm最高的空间分辨率，导致明显的碎片。是硬质材料的理想选择。碳60 (C60)40kV300nm在任何材料上均匀溅射，碎裂度低，理想值可达1kDa。气体团簇（Ar/CO2/H2O）40kV, 70kV1um有机物的高溅射率，任何束流的最低碎片，是生物成像的理想选择。双等离子体发射源 (Ar/O2/N2/Cs)30kV300nm高亮度光源，是无机材料的理想选择。氧束提高正离子产率，Cs提高负离子产率。主要特点：深度剖面该 SIMS非常适合于样品的深度剖面分析。使用直流离子束进行分析的一个重要方面是，不需要将蚀刻离子束与分析离子束交错。为了能够在合理的时间尺度上生成3D图像，并去除受损的亚表面层，传统的TOF实验使用了交错成像和蚀刻循环，这些循环浪费了宝贵的样品。在使用C60+或（CO2）n/Arn+等连续分析离子束，分析和低损伤刻蚀是连续和并行的，因此没有数据丢失，所有材料都被采样，使我们 SIMS成为一个非常精确的深度剖面分析工具。温度和大气控制的多功能样品处理该 SIMS上的多功能样品处理系统可以分析多种样品类型。仪器配备液氮冷却装置，以便对挥发性样品进行分析——冷却装置适用于主样品阶段和样品插入锁。相反，样品台也可以加热到600 K。仪器配有手套箱，用于在干燥气体下制备和插入空气/水敏感样品，并防止冷却过程中结冰。由于小容量负载锁定和高泵送速度，样品插入很快。 半导体半导体分析的范围可以从浅结深度剖面到高分辨率3D成像。有五种不同的主离子束可供选择，可以针对不同的材料或实验类型进行定制。从 40kV C60 光束中进行选择，即使在混合材料上也能提供高分辨率成像和均匀的溅射率，是平面设备的理想选择。或 FLIG 5，超低能耗 O2/Cs 光束，具有无与伦比的电流密度，是浅结深度剖析的最佳选择。特征：IOG C60-40， FLIG 5， 深度剖析， 3D 成像 聚合物液态金属离子束会导致高水平的碎裂和对表面的损坏，然后必须通过GCIB将其去除。这会降低深度分辨率，并增加实验不必要的复杂性。GCIB是主光束，因此可确保低分段，不需要仅蚀刻循环，并保证高深度分辨率。GCIB SM 是市场上能量最高的 GCIB，能够以前所未有的速度和最小的损坏蚀刻聚合物等软质材料，从而实现比以往更大的 3D 分析量。特征：GCIB SM， 深度剖析， 3D 成像

质谱分析TOF-SIMS 中，根据分子结构反映的质谱，能更详细的对化学结构进行分析。影像分析影像的分辨率，测量时有种可供选择: 256 x 256 ,512x512, 1024x1024 ，每个像素点都存贮着质谱的信息。测量之后，任伺区域的质谱都可以在後数据处理时提取出来。深度剖析TOF-SIMS 中，经过反复测量和溅射，得到深层的结构。这段期间内，所有的质谱都会被保存，完成测量后，任意深度的质谱都可以在後数据处理时提取出来。三维剖析深度概况的数据源于在深度改变时样品结构的变化，在进行完深度分析後不仅可以拥有内部的信息，三维构筑的信息也可以得到。多功能样品处理样晶托提供了两种类型的标准样晶托，有直径25mm ，样晶在样晶托背面安装并固定( Back-mount) ，能放个样品的样品托，方便对准样晶高度。也有直接在样晶托正面安装样晶，可放置和样晶托一般大小的样晶 (100mm ，方便制样。加热冷却样品托用液氮冷却和用加热器加热样晶台，在-150t 200t 之间可控。样晶托上配有温度感应装置，当样晶在进样室开始，软件即马上显示实时温度回读。另外也可以选配比较高可达600t只做加热的样晶托。

应用于地球科学的大尺寸几何结构离子探针IMS 1300-HR3是一款大尺寸几何结构离子探针，可为广泛的地球科学应用提供无与伦比的分析性能：使用稳定同位素追踪地质过程，矿物定年，以及确定痕量元素的存在和分布。其高灵敏度和高横向分辨率也使其成为搜索和测量铀颗粒以用于核防护目的的必要工具。高空间分辨率和高质量分辨率下的高再现性的独特组合借助新型IMS 1300-HR3，CAMECA极大地提高了已占据市场领导地位的大尺寸几何结构SIMS的性能，现可在高空间分辨率和高质量分辨率下为地球科学界提供高重现性的独特组合。该工具可充分满足高精度和高生产率的小尺度原位同位素测量的需求，并拓展了广泛的研究方向——从稳定同位素、地质年代学和痕量元素到小颗粒等等。秉承了IMS 1280-HR和之前型号的主要优点：大尺寸几何结构设计可在高质量分辨率下提供高灵敏度应用于高精度同位素测量的多功能多接收器系统用于分析正负二次离子的双一次离子源卓越的离子成像能力（探针和显微镜模式）增强型磁场控制系统实现了高质量分辨率下的高再现性远程操作、全自动化、功能强大的应用专用软件IMS 1300-HR3的改进及优点：新型射频等离子体氧源显著增加了电子束密度和电流稳定性，极大地提高了空间分辨率、数据再现性和通量。具有自动化样品高度（Z）调节功能的新型电动储存室可显著提高分析精度、易用性和生产率。用于改善光学图像分辨率的紫外光显微镜，搭配专用软件实现简单的样品导览1012 Ω电阻法拉第杯：用于测量低计数率的低噪声电测系统

TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中最重要的一环，而元素分析是其中最重要的表征手段之一，但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足，例如因灵敏度不足、空间分辨率较差，无法进行轻元素、微量元素的分析，无法分辨同位素等等，普通的分析手段已不能满足现阶段应用的需求。TESCAN 提供的解决方案是将飞行时间二次离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。这种组合能够为用户提供固体材料的 3D 化学表征和分子信息，高离子质量分辨率和高空间分辨率成像等，并可以进行原位 FIB 深度分析。 飞行时间-二次离子质谱（TOF-SIMS）TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) 是具有极高分辨率的质谱仪，工作原理是用聚焦离子束照射样品表面，从而在样品最上层的原子层激发出二次离子 (SI），再根据不同质量的二次离子飞行到探测器的时间不同来测定离子质量。与 EDX 相比，TOF-SIMS 可以实现更好的横向和纵向分辨率，还可以识别并定量样品表面层中存在的元素和分子物质，以及具有类似标称质量的同位素和其他物质等。 系统主要优势：ü 高灵敏度，Be，B和Li之类的轻元素检出限可达ppm级ü 优异的空间分辨率，横向分辨40nm，纵向分辨率15 nmü 正负离子均可检测，离子质量分辨率800ü 2维和3维快速、高离子质量分辨率和高空间分辨率成像，进行原位FIB深度分析ü 通过坐标转移，保证不同仪器分析位置的重合 应用案例：1. 轻元素及微量元素分析：Li 离子电池中 LI+ 面分布分析2. 通过低电压和小束流 FIB 逐层减薄，成功区分出厚度为 2.5 nm 的掺有 0~15% 的 In 元素的 GaN 层3. 金属复合材料中微量元素的晶界偏析测定，检出限可达 ppm 级4. 对铀矿石进行初期的同位素分析，快速得到 238U 和 235U 的分布信息 关于TESCANTESCAN发源于全球最大的电镜制造基地-捷克Brno，是电子显微镜及聚焦离子束系统领域全球知名的跨国公司，有超过60年的电子显微镜研发和制造历史，是扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术的开拓者，也是行业领域的技术领导者。

MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子，所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面，应用于SIMS和SNMS的光学采样。 光栅控制，增强深度分析能力 所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器质量数范围： 300amu，500amu，1000amu 检测器： 离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps 质量过滤器： 3F四级杆 杆直径： 9mm 最高加热： 250℃ 离子源： 电子轰击，可用于SNMS和RGA的单根灯丝

SIMS 工作站(SIMS Workstation－a complete SIMS Analysis Facility) ，综合UHV / SIMS 设备，进行高级的表面分析。可靠的、普遍适用的SIMS分析工作站。整合的离子源，便于RGA和SNMS 各类型样品的快速转向 阴、阳离子、中性粒子、自由基的质量、能量分析仪 整合的离子枪光栅控制和信号选通，进行深度分析 绝缘体研究中的电子流枪用于电荷中和 液氮冷井和真空室烘烤加热器 自动的SIMS 离子光学透镜调谐和质量数列表，使SIMS性能最佳 Hiden EQS SIMS 分析仪，运行于 MASsoft O/S 之下，检测限至ppb级 基本的激发源选择： 带差式泵的Hiden IG20 Ion，IFG200 FAB或高性能液态镓枪 快速样品传递，样品固定，负载锁定的操纵器 4 轴：X, Y, Z, θ UHV 操纵器，以最佳定位样品 加上ESM LabVIEW和SIMS 成像程序，进行SIMS元素成像 静态SIMS谱图库可用

PHI简介ULVAC-PHI为全球超高真空表面分析仪器供应商的ling导者，ULVAC-PHI创新的X射线光电子能谱技术（xps）、俄歇电子能谱技术（AES）、二次离子质谱技术等为客户在材料分析方面提供全面且du一无二的解决方案。所提供的仪器：X射线光电子能谱仪、俄歇电子能谱仪、动态二次离子质谱仪和飞行时间二次离子质谱仪，可解决客户端广泛的表面分析问题。主要应用在纳米技术、微机电、存储介质、生化材料、药物化学、家属、高分子、有机电子等领域。X射线光电子能谱分析（XPS）是用X射线照射固体表面，测定表面深约10nm激发的光电子能谱图，来获取表面组成及化学结合状态的分析方法。PHI X-tool产品特点：卓越的操作性并支持多国语言的分析软件： PHI X-tool软件支持简单直观的触摸屏操作，及全部的XPS测定操作； 用户可从手动操作到自动操作（自动定性、定量、分析及完成报告）； 操作性强，无论是否有经验，均可完成测定 另，采用平板电脑，实现了智能的操作环境自动测试及自动报告： 具备分析点的Auto-Z自动对中功能（高速自动的高度调整），绝缘样品的全自动中和功能 实现测定位置的设定，未知样品的测定及分析PHI独有的zui先进的硬件配置 独有的扫描微聚焦X射线源（专利），分析面积在20μm~1.4mm 采用低能电子和Ar离子同时作用绝缘体表面，实现自动电荷中和（专利） 高性能的浮动Ar离子枪实现了高速度低损伤的深度分析

金铠仪器的分子束飞行时间质谱，是一款采用了分子束进样，结合光电离复合电离源及飞行时间质量分析器的质谱仪。通过将样品分子从气相转变充满空间的分子束，然后对其进行分析，适合用于探测反应过程中产生的稳定或不稳定的中间物(如:自由基、烯醇、过氧化物等)，可应用如催化反应，等离子体化学，环境化学，燃烧与热解等领域。分子束采样技术采用自由射流膨胀来提取活性物种，这种设计可在短于化学反应的时间尺度内达到无碰撞的分子流，从而“冻结”采样气体的化学成分，减少目标分子的碰撞频率，避免二次反应的发生，提供完整的无碰撞条件下的总体组分组成信息。因此，可利用分子束采样实现原位采样并尽量保持活性物种的初始状态。采用基于真空紫外VUV灯的复合电离源，电离能量可调，碎片离子少、质谱图简单，有利于被分析物的定性和定量分析，且具有优异的耐受氧化性和腐蚀性样品的能力。反射式飞行时间质量分析器，具有可检测的分子量范围大，扫描速度快，分辨率高特点。我公司同样可以根据用户需求专门开发定制满足需求的质谱产品。

仪器简介 TH-310型气溶胶飞行时间质谱仪属于国际上最新一代单颗粒气溶胶飞行时间质谱仪，2016年由武汉天虹引入国外技术生产，它汇集了多项世界领先技术，是一款具有在线采样、单颗粒测径功能的综合式质谱仪器。TH-310空气动力学透镜进样，利用双激光散射单元检测其飞行速度从而计算出颗粒的真空空气动力学直径，再由紫外脉冲激光对颗粒物进行一步解吸和离子化，最后采用双极飞行时间质谱对正负离子进行分析。 TH-310的基本功能是在线检测单个气溶胶颗粒物的粒径及其化学成分特征，延伸功能是对PM2.5进行实时在线源解析。适用范围 环境监测领域：在线及离线气溶胶污染源解析、霾的形成机理监测与研究、PM2.5单颗粒化学组分分析以及二次反应过程监测研究。 其他领域：气候变化研究、气溶胶颗粒的米散射效应研究、发动机排放研究、纳米材料及粉末产品研究。仪器特点可实现在线、离线源解析功能技术亮点：触发激光与电离激光位置紧紧相邻，且电离激光与颗粒物迎面相遇，提高打击率。快速触发，高频脉冲激光，可使整体检测速度达到100颗每秒以上。样品无需前处理，无需稀释，设备具有较宽的PM2.5浓度适用范围。PM2.5在线源解析：●使用特征离子法、类化学质量平衡法两种分析方法。使结果既与同行有可比性，又与传统源解析方法结果有联系。●类化学质量平衡法，将单颗粒数据返回至源类别层面进行拟合分析。减少气溶胶颗粒物从产生到检测过程中的二次反应的影响，也降低人为划定特征离子时产生的差别。使源解析结果更稳定、更具有代表意义。●同时考虑空气动力学透镜的传输效率、米散射效应等，将颗粒物分段进行源解析。 采集界面截图 棒状质谱仪 分粒径源解析结果设计示意图 不分段的源解析结果分析示意图技术参数

半导体中的四极杆SIMS掺杂物深度剖析和薄层分析CAMECA SIMS 4550为光学器件中的硅、高k、硅锗以及III-V族化合物等复合材料的薄层提供超浅深度剖析、痕量元素和组分测量等一系列扩展功能。高深度分辨率和高通量随着器件尺寸不断缩小，当今半导体的注入物剖面和层厚度通常在1-10纳米的范围内。SIMS 4550通过提供碰撞能量可从5keV降至低于150eV的氧和铯高密度一次离子束进行优化，充分满足上述应用领域的需求。灵活性CAMECA的SIMS 4550是一款动态SIMS工具，可在溅射条件（碰撞角度、能量、物种）方面提供全面的灵活性。在样品溅射过程中，通过电荷补偿（电子枪、激光）专用选项可以轻松分析绝缘材料。SIMS 4550可测量层厚度、对准度、陡度、完整性、均匀性和化学计量。样品架可容纳多种样品：几毫米的薄片至直径100毫米的样品。高精度和自动化先进的四极杆分析仪的光路、峰噪比等都是降低痕量元素检出限的关键因素。凭借先进的特高真空设计以及低至E-10mbar（E-8Pa）范围内的主室压力，SIMS 4550可为氢、碳、氮和氧提供出色的灵敏度。超稳定的离子源和电子设备确保达到较高精度以及RSD小于0.2％的测量重复性。通过易于使用的软件、预定义方案、远程操作以及故障排除，充分考虑了人为因素对精度的影响。每次测量的所有仪器参数设置都存储在数据库中。因此重复测量只需点击几下鼠标即可完成。其他自动化功能

Excitation Process激发过程离子产生和表面灵敏度一束高能初级离子轰击样品表面激发出原子和分子碎片 只一小部分激发出的粒子以离子的状态离开表面，被质量分析器探测出来对于无机材料, 原子离子百分含量 10%对于有机材料，原子和分子离子碎片百分含量可以从 .001% 到 1%只从表面2个分子层激发出的粒子可以以离子态离开表面TOF-SIMS 主要功能采集离子质谱图用于表面元素（原子离子），同位素，分子化学结构（通过分子离子碎片）的表征点或面扫描（2D成像）得到成分分布像，观察不同成分在同一条线或面的分布情况深度剖析和3D成像可以分析不同的膜层结构和成分深度分布信息：多层膜层结构表征，成分掺杂深度，扩散，吸附等表征TOF-SIMS 主要信息所有元素探测– H, He, Li, etc. （H~U)同位素的探测 – 2H, 3H, He, Li, 18O, 13C, etc.详细的分子信息 – 有机和无机分子成像 平行探测–图像中每一像素点都有对应的全质谱表面灵敏 – 样品表面 1-3 个原子 /分子层痕量分析灵敏度高 – 0.1 到 1 ppm 原子浓度快速数据采集 – 通常 1 – 15 分钟 (表面 IMS)高空间分辨率 70 nm （成像模式下） 0.5 μm （保持较好质量分辨率下） 表面物理形貌信息 离子击发出的 SEI （二次电子像） 60 nm 大的立体接收角 ~ 180o可分析所有材料 – 导体，半导体和绝缘材料

icpTOF的优越性能icpTOF电感耦合等离子体-飞行时间质谱耦合了Thermo Scientific公司的 iCAP RQ平台（包含离子源和真空接口）和TOFWERK高性能飞行时间质谱分析仪。iCAP RQ平台提供了多类型的样品进样方式，高强度并稳固的ICP，更加简单的椎体和离子电镜维护程序和Q-cell科技。飞行时间质谱分析仪在保证跟四级管（QMS）同等灵敏度的同时，为icpTOF增加了快速全谱分析，更宽的线性动态范围和高达6000的质量分辨率。鉴于其快速全谱图采集和所有元素同位素的同步分析，icpTOF是单颗粒多元素分析和快速激光蚀刻成像的理想检测器。所有元素。一直以来。 icpTOF记录全谱图以提供回溯分析，因此 您不会错过任何分析物或干扰信号。高质量分辨率 icpTOF 2R高达6000的质量分辨率让排除干扰离子更加容易。精确的同位素比率 icpTOF可同时测量所有同位素，从而最大程度上消除离子源和进样过程扰动对测量结果的影响。分析精度趋近于统计限制。高速检测 icpTOF每隔30微秒就可记录一张全谱图，使其成为快速瞬态信号（如单个纳米颗粒，流体包裹体和单激光脉冲烧蚀）的最佳检测器。icpTOF R， icpTOF 2R， 和icpTOF S2 型号规格一览icpTOF R， icpTOF 2R和icpTOF S2 在Thermo Scientific公司的 iCAP RQ平台（包含离子源和真空接口）上耦合了TOFWERK高性能飞行时间质谱分析仪。这三种型号性能各有千秋，适用于您的多种应用需求。icpTOF 2R搭配一款更长的飞行时间质谱模块，提供高达6000的质量分辨率，是对同标称质量的离子分离要求较高的分析案例的理想选择。S2型号的超高灵敏度可以提升生物样品成像的空间分辨率，同时也可以在分析细小颗粒物时有更好的信噪比。质量分辨能力（在FWHM的dm/m）敏感性 （cps/ppb 代表 238U）全元素分析ICP备300050000是的ICP备2R600030000是的ICP备2号900300000是的 icpTOF硬件设计增长的离子飞行时间带来更好的质量分辨能力这两款icpTOF都配备了支持Q-cell碰撞/反应技术的iCAP RQ平台（蓝色），有效降低复杂基底可能带来的干扰icpTOF 2R搭配的飞行时间模块（黄色）长度是icpTOF的两倍，大大提升了仪器的质量分辨能力'陷波'技术有效衰减等离子体和样品基底相关的离子强度 铪含量较高的'Plesovice'锆石的激光脉冲烧蚀实验信号。'陷波'技术用来将28 -硅, 40 -氩气等离子体, 90 -锆石和 179 -铪等信号控制在10mV以下。

Nu 生产的飞行时间等离子体质谱仪 主要特点： 1、可获得高灵敏度的成熟离子提取和聚焦光学器件2、新型分段反应池，具有多个气体控制器，可消除干扰3、专利的物理离子束衰减器，提高质谱仪的工作动态范围4、变频离子采样，高分辨率飞行时间 (TOF) 质谱仪按应用优化灵敏度5、采用 Bradbury-Nielson 离子门，选择进入TOF的质量数范围6、可靠耐用的MagneTOF检测器，动态范围宽，可在信号超出范围时快速恢复7、快速数据采集和处理电子器件，可为关键应用提供微秒级不间断数据8、可选装全尺寸四极杆，配有专利旁路离子光学，可覆盖整个质量数范围，且无质量偏差

仪器简介：全二维气相色谱是传统气相色谱技术的一大突破，是将两根不同极性不同长度的气相色谱柱通过一个两级环形调制器串联起来，让第一根色谱柱的全部流出物均通过第二根柱进行正交分离，使得化合物在色谱平面上实现两个维度的分离，得到的正交谱图不同于传统的一维线性谱图，族群效应明显，一次进样相当于成百上千次（2DGC）中心切割分析效果，峰容量大幅提升。ZOEX公司是最早将全二维气相色谱技术商品化的公司，唯一具有全二维技术的专利持有者，Agilent、Thermo、Leco、Shimadzu均是Zoex的授权合作商，Zoex公司一直引领者全二维技术的不断发展。Zoex公司掌握着世界上最先进的全二维调制器技术。ZOEX的调制器有两种型号：ZX-1系统使用液氮制冷，最低调制温度为-189℃，可以对非常宽范围的样品（C3以上）进行调制。ZX-2系统使用了无消耗的制冷机，可以产生-90℃的冷气，能够调制C7以上的挥发性和半挥发性物质。GC Image软件功能非常强大，是唯一能够完美读取Agilent、Thermo、Leco、Shimadzu、JEOL等气相厂家数据的专业全二维数据处理软件，是全二维软件制造的行业标准。软件能够分析处理质谱数据，包括精确质量数的计算和元素组分分析，数据处理模板使数据分析更加简单、快捷，CLIC程序能够快速识别化合物和族组分。目前ZOEX公司与美国Agilent公司全球合作，我们可以将您现有的传统GC升级为全二维GC，根据您的仪器配置为您提供不同的升级方案，实现复杂组分的分析。下面介绍一款全二维气相色谱与高分辨飞行时间质谱联用的方案：主要应用在卷烟烟气，代谢组学，石油化工，香精香料，刑事技术以及环境分析中。技术参数：● 调制器：两喷口调制器，两级调制● 气相：安捷伦7890B● 质谱：FasTOF高分辨飞行时间质谱● 分辨率：4000-7000● 扫描速度：500 scans/sec● 质量准确度：±0.002，精确质量判定● 灵敏度：1pg八氟萘，S/N100/1● 脉冲式的质量校正系统保证极高的质量准确度● Zoex 经典的GC Image分析软件同样适用于FasTOF，并且能够进行精确质量数计算和元素组分分析 主要特点：目前科研检测行业样品分析现状要求检测限更低、基质更复杂、检测的化合物种类多等，使用普通一维气相色谱仪进行样品分析，经常遇到基质干扰大、共流严重、灵敏度不够、峰容量小等难题。全二维气相色谱是把分离机理不同而又相互独立的两根色谱柱通过调制器结合成二维气相色谱。经过第一根色谱柱分离后的每一个化合物，都需要先进入调制器进行冷却聚焦后再以高温脉冲迅速气化的方式传送到第二根色谱柱进行进一步的分离，所有的组分从第二根色谱柱进入检测器，采集到的数据最终经过全二维软件进行谱图构建分析处理。全二维气相色谱调制器提供了一种正交的分离系统，其峰容量等于两根色谱柱各自峰容量的乘积，非常适合于复杂样品的分析。FasTOF高分辨飞行时间质谱的分辨率：4000-7000 ，扫描速度：500 scans/sec，质量准确度：±0.002，脉冲式的质量校正系统保证极高的质量准确度，是唯一的一款既具有高的分离度，峰容量，又具有高的分辨率的仪器。Zoex 经典的GC Image分析软件同样适用于FasTOF，并且能够进行精确质量数计算和元素组分分析，FasTOFTM的质量分析器是经典的反射模式，离子飞行路径为 1.2m，信号处理采用模数转换器(ADC)，保证准确记录实时的、实际的离子强度，无信号丢失的可能性，GC Image软件分析处理质谱数据，包括精确质量数的计算和元素组分分析，GC Image的数据处理模板使数据分析更加简单，快捷，CLIC程序能够快速识别，快速筛选化合物和族组分，GC Project是一个功能强大的工作站，其中包括色谱方法建立，序列表的建立，数据处理分析，报告模板的建立等。特征谱图：了解更多产品信息，请拨打 400-889-1179

仪器简介：匹兹堡会议最佳新产品金奖，开创性推出全球首台GCxGC-TOF商品化产品。结晶了目前具有气相色谱界革新性意义的高分离度、高灵敏度的全二维气相色谱技术及高采集速率（500张全谱图/秒）飞行时间质谱技术，为复杂样品及未知物样品分析提供完美解决方案。气相和高采集速率的飞行时间质谱的所有优点，是联用的终结机型。如果您的实验室正在组建中，同时又不希望刚刚装备仪器就在领域里面落后，并为选择色谱仪而左右不定；如果您的实验室已经有了常规的气相色谱质谱联用仪GCMS， 但仍遇到很多分析难题；您可以装备全二维气相色谱飞行时间质谱联用仪GCxGCTOFMS来提升您和实验室以及机构的科研能力和竞争力。如果您已经有了常规一维色谱、四极杆或离子阱质谱使用经验，Pegasus 在使用上很容易上手，快速解决分析难题。石油石化，代谢组学，食品安全、环境POPs、PCB、DIOXIN，香精香料，烟草，酒，中药挥发、半挥发组分分析，及目前没有良好解决方案的复杂体系或未知物体系，擅长进行广谱全组分分析。是气质联用实验室的顶级配置。绝对市场占有率，相对技术领先，首选品牌。技术参数：软硬件集成一体化的全二维气相色谱（Comprehensive two-dimensional Gas Chromatography）最高速(500张全谱图/秒)的高通量飞行时间质谱（Time of flight mass spectrometer）功能强大的Chroma-TOF 软件，是全二维技术的核心，保持绝对领先优势！单一软件控制仪器数据处理，在线分析，一次可自动识别、定性大于100000个峰。全自动峰识别（Automated Peak FindTM）业界最佳的解卷积功能（True SignalDeconvolutionTM）全自动定性能力定量超越同行业飞行时间质谱主要特点：1、两种调制器可选。一为广受赞誉的行业金标准：两级四喷口热调制器系统，低沸点到高沸点的化合物完全调制，调制器设计稳定，故障率为零，调制效能高，冷热脉冲时间可设，调制周期可程度变化。条件数字化，可设参数多。省气。95%以上市场占有率。 二为免消耗调制器，降低热媒成本，可适用大部分主流试验场景。2、全二维气相色谱具有比一维气相色谱质谱高几十到几百倍的分离度，同时可根据不同的样品选择不同的柱系统，二维柱系统，具有不同的极性，化合物的可根据您的不同意愿实现不同特征的分离分类（官能团，极性，沸点等），大大增强谱峰解析的准确度。3、高速的飞行时间质谱采集系统（最高500张全谱图/秒采集速率，5000Hz每秒激发频率），不遗漏任何细节的广谱全扫描。4、全二维的分离使谱峰更纯净，背景干扰大大降低，增强质谱峰解析的可靠性。结合chromaTOF 软件一次可解析大于100000个峰，大大降低研究领域的谱峰解析难度。5、自动基质管理（Matrix Management）全自动批处理未知物中非目标成份的自动解析，高背景干扰下（动态范围宽浓度差异大）的痕量成份分析。6、全自动峰识别（Automated Peak FindTM ）设定检索条件（信噪比、峰宽）后，自动找出样品中所有色谱峰，形成峰表信息并完成谱库比对。基线以下小峰亦可被自动找出。7、全自动保真解卷积功能（True Signal DeconvolutionTM）结合峰识别，自动对共流化合物进行去卷积解析，抽出干净的质谱图。对保留时间相差0.01秒的色谱峰可完美分离。峰自动去积卷提高定性定量的准确性。8、自动样品比较功能（Compare）和代谢组学功能（Statistical Compare）样品间自动全组份比较，列出相同及差异峰表。适用于快速质量控制和组学大数据统计学比较模型。9、质量控制功能全自动监控Instrument Optimization, Blank, Calibration check, Peak Tailing, MS Tune Check, Retention Index ,Internal Standard Test, Routine Optimization。保证分析结果的可靠性。10、适合于复杂基质的全组份分析。石油石化，代谢组学，食品安全、环境POPs、PCB、DIOXIN，香精香料，烟草，酒，中药挥发、半挥发组分分析，及目前没有良好解决方案的复杂体系或未知物体系。11、适合锁定化合物的最后确证。（农药残留分析，兴奋剂分析，环境残留样品分析）12、可选组学比较功能。13、可选质谱数据筛查过滤功能。14、可选EPA认证报告功能。15、Pegasus 4D及其功能强大的ChromaTOF软件获得Pittcon 最佳新产品金奖。通常的SIM及MS-MS模式只提供对目标化合物的信息，LECO GCTOFMS一次分析提供全组份信息。官方网站：

用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMSAKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测，填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平，确保了各种工具在晶圆厂工艺控制和工具之间匹配方面的可重复性。除传统的通过表征实验室为半导体行业提供支持的IMS Wf/SC Ultra和 SIMS 4550（四极杆 SIMS）系列外，AKONIS作为其 补充，可实现仪器设置和采集例程的完全自动化，从而可在分析灵敏度不受影响的情况下实现快速的厂内分析。AKONIS 受益于极低冲击能量（EXLIE）离子色谱柱技术（ 150 eV）的发展，与带高分辨率平台的整片晶圆处理系统相结合，可在最小 20 μm 的压焊点上进行测量。推动实现 N5 及后继制程的高产量SiGe 和 SiP 多层堆叠的高分辨率成分和快速掺杂物深度剖析无与伦比的最小 20 μm 在压焊点上的检测限将数据反馈到生产线的时间缩短了 97% 以上光片和图案化的整片晶圆测量图案识别引擎与高分辨率干涉测量平台相结合，可实现 2 μm 的位置精度基于独特材料数据库的直观recipe创建SEMI 认证（S2/S8、E4、E5、E39、E84...）低购置成本

四极杆飞行时间质谱仪7890A-7200 (Q-TOF) GC/MS 安捷伦7200型GC/Q-TOF(气相色谱/四极杆飞行时间质谱仪)将分离功能强大的7890A GC 和高分辨率的TOF 质谱仪以及高灵敏度的四级杆相结合，全新定义了GC/MS技术，是首台集高分辨定性鉴定与高灵敏度定量分析于一身的气相/质谱系统。 四极杆飞行时间质谱仪7890A-7200 (Q-TOF) GC/MS 的功能部件&bull 三个涡轮分子真空泵&bull 旋片式前级泵&bull MS 单独加热的可拆卸 EI 或 CI 离子源&bull 可拆卸离子源 (RIS)，可在仪器中真空损失最小的情况下快速从 EI 转换到 CI 离子源&bull MS 单独加热的双曲面四极杆质量过滤器，可加热到高温，在低 温分析时通常可使污染度降到最低&bull 一个六极杆碰撞池&bull 真空绝热的飞行管，带双级离子镜&bull 高速电子设备，可提高采样速率 &bull 模数检测器&bull GC 单独加热的 GC/MS 接口，在离子源移除期间可自动收回 7200 Q-TOF 包含一个六极杆碰撞池 （覆盖有氮气），以提高离子 碎裂效率，然后进行检测量化。它还包括新的离子光学器件，可在 飞行管和检测器之前聚焦离子。此配置对于许多应用都具有优点。通过使用 MassHunter WorkStation 软件来处理数据，该软件提供了对采集数据的定量和定性分析。 四极杆飞行时间质谱仪7890A-7200 (Q-TOF) 重新定义了GC/MS技术的分析性能凭借创新的离子源设计，耐高温的石英质量过滤器，有效的碰撞池，32G/s 的数据采集速率和高温稳定ADC TOF 电子元件，安捷伦7200 Q-TOF 为结构确认分析带来高特异性的检测和很准确的分子式解析，使您信心十足地迎接很艰巨的分析挑战：如代谢组学、食品、天然产物研究、环境保护和能源研究、新型材料和法医/毒理学等。在 TOF 模式下操作时，仪器可获得高分辨率、精确的质量测量和快速完整质谱图的采集。 MS/MS 模式提供高分辨率、精确的质量测量和高灵敏度 的快速完整产物离子质谱图。这些功能使 7200 Q-TOF 成为解决复 杂的分析问题、进行未知化合物的结构解析以及非目标化合物的确认的理想工具。 四极杆飞行时间质谱仪7890A-7200 (Q-TOF) GC/MS 的工作原理 安捷伦Agilent 7200 Q-TOF 是一个正交飞行时间质谱仪。它在飞行管和检 测器之前使用四极杆和六极杆或碰撞池执行 MS/MS。样品首先通 过电子轰击 (EI) 离子源或化学电离 (CI) 离子源进行电离。电离之 后，离子将通过四极杆质量分析器，质量分析器包括四根平行双曲 面杆，通过这四根平行双曲面杆，可以根据据选定离子的质荷比 (m/z) 来过滤这些选定离子。 通过四极杆的离子随后被引导至碰撞池，该碰撞池设置为选择和碎 裂前级离子以形成产物离子。碰撞池是充满氮气的六极杆，其设计 目的是进行轴向加速，有助于进行高速 MS/MS 分析。碎裂的离子 （或产物离子）将通过切片器传送，这有助于在通过飞行管将离子 流传送到检测器之前聚焦离子流。 所应用的将离子向上传送到飞行管的加速脉冲与离子离开质量分 析器的方向成正交状态。这种几何形状可减小入口速度对飞行时间 的影响，从而提高分辨率。当离子到达飞行管末端时，它们将从反 射器或双级离子镜弹开，朝相反的路径向下回到飞行管底部。模数 检测器位于飞行管的底部。它将计算离子的数量，并将信号发送到 MassHunter 软件以进行数据收集和分析。四极杆飞行时间质谱仪7890A-7200 (Q-TOF) GC/MS 高分辨、精确质量和检测选择性安捷伦 7200 是世界上首款专门针对气质联用系统设计的 Q-TOF（四极杆飞行时间质谱）。7200 完美结合了安捷伦 7890A 气相色谱、7000B 三重串联四极杆气质联用系统和 6500 系列高分辨液相色谱/飞行时间质谱系统的成熟技术。用于气质联用系统的安捷伦 7200 Q-TOF 比四极杆和离子阱系统的灵敏度更高、检测选择性更好，还能提供精确质量信息用于目标化合物、非目标化合物或未知化合物的结构确认。安捷伦 7200 GC/Q-TOF 重新定义了气质联用技术的分析性能，可靠地解决了最棘手的分析难题。