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红外薄膜反射法
仪器信息网红外薄膜反射法专题为您提供2024年最新红外薄膜反射法价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括红外薄膜反射法参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的红外薄膜反射法您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合红外薄膜反射法相关的耗材配件、试剂标物,还有红外薄膜反射法相关的最新资讯、资料,以及红外薄膜反射法相关的解决方案。
红外薄膜反射法相关的方案
采用LAMBDA 950/1050 紫外/可见/近红外分光光度计与自动反射/透射分析仪(ARTA)附件的光学薄膜的全谱角分辨反射和透射
我们通过配有自动反射/透射分析仪附件的LAMBDA 950分光光度计评估了3M® 可见镜膜在新型曲面光伏模块领域的潜在应用。在应用过程中,3M® 薄膜必须将可见光反射至模块焦点(在焦点处,可见光将被吸收,如用于驱动加热电机的的热吸收器),并同时将近红外光传送至底层的硅太阳能电池(在硅太阳能电池内,红外光将被直接转化成电能)。通过自动反射/透射分析仪进行的角分辨反射和透射测量显示:当入射角小于等于50° 时,3M® 自支撑薄膜是s-偏振光和p-偏振光的有效光学薄膜。当薄膜与所述模块曲面玻璃胶合时,为了保持薄膜效能,应将薄膜紧密贴合于玻璃之上(不得起皱)。利用带探测器的狭窄光阑自动反射/透射分析仪进行的测量能够表明所评估的胶合程序在多大程度上能产生预期结果。我们目前正在利用自动反射/透射分析仪生产的光谱预估在焦点采用热接收器的曲面模块的发电站的年度发电量,评估过程考虑到了太阳日常运动和年度运动,以及模块上入射角的相关变化。我们也在寻求能够反射可见光和红外线的光学滤光器(同时还可以透射近红外线),并使用积分球和自动反射/透射分析仪研究光学滤光器的性能。
偏振调制红外反射吸收光谱法(PM-IRRAS)测量薄膜
本文介绍了偏振调制红外反射吸收光谱(PM-IRRAS)的概况、系统以及薄膜测量的样品数据。
红外镜面反射法测量—用于测量镀膜玻璃的辐射率方案
基于THERMES标准规范体系要求,我们设计开发了基于Spectrum™ 3或Frontier FT-IR光谱仪的红外镜面反射采样附件,组成完整的辐射率检测方案。*这套方案遵从国际标准,提供了最新水平的镀膜玻璃产品辐射率测量工具。此附件的一个独特之处为:它可以在大块钢化玻璃板上进行测量。并且可以用此配件测量相对较小的样品(小至5 mm)。采样附件的可用波长范围为配有KBr或CsI分束器的FT-IR配置的波长范围,用于测量入射角为6° 的镜面样品的直接反射比。
IRXross透射法和衰减全反射法对接枝聚乙烯材料表征的异同研究
本文使用红外光谱仪IRXross不同的方法测试了马来酸酐接枝聚乙烯的共聚物,实验结果发现,马来酸酐接枝率较低的聚丙烯,衰减全反射(ATR)法所得谱图由于入射光的穿透深度较浅,只能测试物质表面信息。而透射法所得谱图则可明显分辨,故在测试表征共聚物中较低含量的化合物或结构时,透射法优先于ATR法。同时,红外谱图解析可以帮助判断反应的进程。
用绝对反射率测量法评价抗反射膜
在本应用说明中,自动绝对反射率测量附件用于测量反射率小于0.1%的可见光和近红外区域的薄膜样品。关键词:V-770/780,UV可见/NIR,ARMN-920/920i自动绝对反射率测量附件,材料,薄膜
岛津高灵敏度单次衰减全反射附件Quest的介绍
衰减全反射法ATR是验证分析和异物分析中广泛使用方法。Quest是用于测定中红外及远红外光谱的ATR附件。测定远红外光谱的常规方法为透射法,但该方法需要进行稀释样品和制备薄膜等预处理。而ATR法基本上不需要预处理,可方便进行远红外区域测定。
采用配有最新全能型测量附件的 Agilent Cary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计对薄膜进行光学表征
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号(总第 51 卷,第二期)上。 精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数(使用光学镀膜的逆向工程)对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数,重校监测系统,改善对各层的厚度控制。 通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征,对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而,基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
拉曼光谱法检验香烟盒外包装薄膜的研究
目前法庭科学中,对香烟盒外包装薄膜的检验方法主要有红外光谱法、小角X射线散射法、差示扫描量热法、X射线荧光光谱法[4-9]等。拉曼光谱法具有无损、快速、准确、样品不需要前处理等优势,在农业、医药、化学等领域得到了广泛的应用。
光学薄膜的测量
功能性薄膜是一种高分子材料,根据其功能性应用在不同的场景中,其中对于薄膜光学性能的表征,是评估薄膜质量的分析方法之一。最常见的是评估其反射率和透过率。日立紫外可见近红外分光光度计UH4150 优异平行光束,确保透过率和反射率的准确测量。
薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号(总第 51 卷,第二期)上[1]。精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数(使用光学镀膜的逆向工程)对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数,重校监测系统,改善对各层的厚度控制。通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征,对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而,基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号(总第 51 卷,第二期)上[1]。精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数(使用光学镀膜的逆向工程)对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数,重校监测系统,改善对各层的厚度控制。通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征,对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而,基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
使用 VASRA 附件测量样品在不同角度和波长下的反射率、表征镜面以及测定薄膜的折光率和厚度
Cary VASRA 具有自动测量入射光角度在 20 到 70 度范围内样品表面镜面反射率的能力。可方便地安装在 Cary 4000/5000/6000i的样品仓中,具有以下几个特点:1)移动平台可随角度的改变来移动样品。无论入射角度如何变化,都能确保光束的中心照到同一位置。2)将样品固定在狭缝镜像位置,因此,只要选择适当的光谱带宽 (SBW),即可改变镜像宽度,从而可用于分析不同种类的样品。3)附件配备几种不同尺寸的光阑挡板,分别为 2、10 和 20 mm,其中还包括一个圆形样品支架,确保改变镜像尺寸或掩屏尺寸以适合不同大小样品的分析。4)该附件通过 Cary WinUV 软件驱动,无需用户介入改变角度,实现了完全自动化测量。• Cary VASRA 附件可精确测量透镜涂层、玻璃上的抗反射涂层、涂层薄膜以及镜面的折光率 (RI)。
UV-8000分光光度计探究半导体ZAO薄膜的光学性能
半导体透明导电氧化薄膜(TCO)具有优异的光学和电学性能,可见光区高透射率,红外区高反射率和微波强衰减性,同时具有低的电阻率,是功能材料中具有特色的一类薄膜, 已广泛应用于太阳能电池、真空电子器件、防护涂层、电磁屏蔽等领域中。
测量辐射率的红外镜面反射装置 — 经过验证的测量镀膜玻璃辐射率的工具
本文介绍了根据THERMES项目的研究结果,针对Spectrum™ 3或Frontier FT-IR光谱仪研发出一套红外镜面反射附件装置。这就为根据国际标准对镀膜玻璃产品的辐射率进行最高水平的测量提供了一个完整的解决方案。此外,对于一般难以进行对准的相对较小的样品(小到5 mm),也可使用该附件进行测量。
光散射法与滤膜称重法的对比分析
K值不受公共场所行业类型的不同、季节变化以及是否使用空调的影响,但是K值是会收到不同地区、气候、环境等因素影响。光散射法粉尘仪受湿度的影响较大。由于光散射法具有反应迅速灵敏、轻巧便携、操作简单、现场直读等优势,经过大量研究表明光散射法粉尘仪测量数据相对可靠,所以光散射法粉尘仪替代滤膜称重法在公共场所空气可吸入颗粒物监测中应用是可行的。最好采用光散射法与滤膜称重相结合的工作方式,这样会使得监测所得数据更加具有说服力。
深入分析薄膜的光学特性——使用 Agilent Cary 全能型测量附件解决光谱振动问题
关于此项工作的更多详细信息首次发表于 Optics Express 16129,2012 年 7 月 2 日,第 20 卷,14 号[1]。高质量多层光学镀膜的设计师和制造商需要使用可靠的方法来准确测量薄膜材料的光学常数。他们通常使用紫外-可见-红外分光光度计测得样品在标准入射和接近标准入射情况下的透射率 (T) 和反射率 (R)。了解所生成数据的准确度和任何误差的来源(随机或系统)将可以得到更可靠的样品表征数据[2,3]。
共蒸发-共溅射法制备的CuIn1-xGaxSe2太阳能电池薄膜的剥蚀和光谱特征比较
本文研究了在镀Mo膜钠钙玻璃(SLG)上共溅射和共蒸发工艺制备的CuIn1-xGaxSe2 (CIGS)吸收膜中主要和次要化学成分的LIBS光谱的影响。结果表明,共溅射技术制备的CIGS层的单脉冲剥烧蚀率高于共蒸发技术制备的CIGS层,从而导致各组分的LIBS信号强度较高。通过对辐照表面形貌和LIBS信号强度变化的研究,发现共溅射技术制备的CIGS薄膜存在元素分馏现象,而共蒸发技术制备的CIGS薄膜没有元素分馏现象。通过x射线衍射检测,证实了两种不同类型CIGS吸收膜的剥蚀和光谱特性的差异是导致其结晶性能差异的原因。此外,LIBS可以有效地测定从SLG扩散而来的CIGS薄膜中钠浓度的深度剖析。
采用配有最新全能型测量附件的 Agilent Cary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计对薄膜进行光学表征
我们研究了将多角度光谱应用到薄膜的光学表征和多层镀膜逆向工程上。UMA 作为安捷伦的新型先进分光光度附件(安装在 Agilent Cary 5000 UV-Vis NIR 分光光度计上),可以提供多角度、s 偏振态和 p 偏振态下的反射率和透射率数据。验证了测量数据的准确性,并证实了从紫外到近红外的宽光谱范围内,在入射角最高达到 40° 的情况下,所有的测量数据均具有很好的准确性。与传统的光谱分析相比,多角度光谱光度测定为研究人员提供了更多的实验信息。我们的研究表明,新的 UMA 分光光度计附件可以为各种光学镀层的表征及逆向工程问题的解决提供实验信息。
使用自动绝对反射率测量评估隐膜
在本应用说明中,使用绝对反射率测量附件研究了隐膜的透射光谱的角度依赖性。关键词:V-750,紫外可见/NIR,ARMN-919自动绝对反射率测量附件,材料,薄膜
深入分析薄膜的光学特性——使用 Agilent Cary 全能型测量附件解决光谱振动问题
关于此项工作的更多详细信息首次发表于 Optics Express 16129,2012 年 7 月 2 日,第 20 卷,14 号[1]。高质量多层光学镀膜的设计师和制造商需要使用可靠的方法来准确测量薄膜材料的光学常数。他们通常使用紫外-可见-红外分光光度计测得样品在标准入射和接近标准入射情况下的透射率 (T) 和反射率 (R)。了解所生成数据的准确度和任何误差的来源(随机或系统)将可以得到更可靠的样品表征数据[2,3]。
光散射法与滤膜称重法的对比研究
传统的滤膜称重法在实际监测任务中具有操作繁琐、费时、以及不能及时得到现场测定结果等缺点,难以满足实际工作任务的需求。而利用光散射法原理的颗粒物便携式设备克服了传统方法的缺点,具有反应迅速灵敏、轻巧便携、操作简单、现场直读等优势,此类设备受到了相关工作人员的青睐。在GBT 18204.2-2014 《公共场所卫生检验方法 第2部分:化学污染物》中,光散射法也被纳入国标方法。
利用 Cary 全能型测量附件深入研究薄膜响应 —解决光谱振动问题
关于此项工作的更多详细信息首次发表于 Optics Express 16129,2012 年 7 月2 日,第 20 卷,14 号。 高质量多层光学镀膜的设计师和制造商需要使用可靠的方法来准确测量薄膜材料的光学常数。他们通常使用紫外-可见-红外分光光度计测得样品在标准入射和接近标准入射情况下的透射率 (T) 和反射率 (R)。了解所生成数据的准确性和任何误差的来源(随机或系统)将可以得到更可靠的样品表征数据 。 测量数据集中每一个点的随机误差(随机噪音)都会有所不同,文献指出,随机误差对于表征结果影响很小。但是,系统误差一般来说会造成光谱表征偏移,或导致 T 和 R 曲线的大幅度波长变化,尤其对于薄膜参数精确测定的影响更为显著。
近红外漫反射光谱法鉴别不同厂家注射用头孢他啶
采用近红外(NIR)漫反射光谱法对不同生产厂家的头孢拉定胶囊进行快速定量分析。方法:按头孢拉定胶囊配方组成配制含主药头孢拉定浓度范围从5.01% ~ 91.24%的30个实验室样品,并收集来源于7个厂家的49批工业样品,采集其NIR光谱。采用偏最小二乘回归法建立NIR光谱信息与样品组成间的定量分析模型,将其用于对验证样品进行预测分析,并对该方法的加样回收率进行考察。结果:定量分析模型对21验证样品的的预测均方差RMSEP为1.35%,预测值与真值的相关系数R为0.9968,加样平均回收率为99.7%,RSD为0.7%(n=6)。结论:用近红外漫反射光谱法对头孢拉定胶囊进行定量分析的方法简便快速,结果准确可靠,可推广用于工业现场的实时在线检测。
漆膜涂料遮盖力测定方法反射率测定仪
本方法是将试样涂布在无色通明聚酯薄膜上,或者涂布于底色黑白各半的遮盖力纸上,用反射率测定仪测定涂膜在黑自底面上的反射率,其在黒色和白色底面上的反射事之比即为对比率,即其相应的遮盖率。
结构改变对Mg2Sn薄膜热电性能的改善
采用磁控溅射法在氩气氛中制备了Mg-Sn薄膜(21≤ at. % Sn≤ 42.5)。薄膜的结构和形态特征是组成的函数。随着薄膜中Sn含量的增加,Mg2Sn结构由稳定的面心立方结构转变为亚稳定的正交结构。讨论了在较广温度范围内(30-200 C),这种结构改变对温差电性能的影响。测量了薄膜载流子浓度和迁移率,以解释作为薄膜结构修饰函数的电子传输行为。当Sn含量为36at.%时,在200℃品质因数达到最大值ZT≅ 0.26。此时,立方和正交的Mg2Sn结构共存。在真空 (~10-4Pa)下,在不同温度(最高600℃)下进行退火处理,以确定薄膜结构和形态稳定性的极限。
XRD应用分享 | X射线反射率
作为一种非破坏性的表面敏感技术,X 射线反射率(XRR)普遍用于薄膜厚度和粗糙度的表征。 当X射线的入射角高于临界角时,X 射线束可以部分地透射进薄膜从而在界面反射。
Ag-ITO-Ag多层导电薄膜的光学性能研究
Ag/ITO/Ag导电薄膜的光学性质决定着透反射式LCD的性能, 其光学性能的评价尤为重要。因此,利用UH4150对Ag/ITO/Ag导电薄膜的光学性质进行了评价
大尺寸微塑料样品的ATR-红外光谱法检测
如果利用常规的透射法对大尺寸(肉眼可见)的微塑料进行定性,需要对样品进行破坏(热压膜或者溶解后涂抹法),无法做到原位检测。借助ATR(衰减全反射)法,可以直接、原位地对样品进行检测。本文介绍了利用珀金埃尔默Frontier红外光谱仪对微塑料样品进行ATR-红外光谱法检测的实例。
使用激光红外成像对源自塑料瓶的微塑料进行快速、大面积直接分析——使用 Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统直接分析 红外反射玻片和镀金滤膜上的颗粒
我们使用 Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统对红外反射玻片和镀金滤膜上源自聚对苯二甲酸乙二醇酯 (PET) 瓶的微塑料进行了分析。使用 8700 LDIR 对颗粒进行直接分析的方法适用于对环境样品中的微塑料进行常规检测。该 LDIR 方法采用简单的实验设计,实现了相当高的鉴定准确度。与其他技术相比,该方法不仅可以节省大量时间,而且非专业操作人员也能轻松使用。
定制高反射样品测定附件
一些光学镜,DVD或蓝光光碟,相机等的光学组件,反射率接近100 %,测定这类样品时,使用VN法得到的测量结果会超过100 %,不能得到样品的实际反射率。 定制高反射率测定附件则可以解决这个问题,测定结果不会超过100 %,而且重现性高。这是光学薄膜领域的有利工具。日立工程师和客户一起开发了这款附件,是日立特有的测量技术。
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