红外源能量分布测试仪

微孔分布测试仪主要应用领域：催化剂，广泛用于石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域；吸附剂，如活性炭、分子筛、活性氧化铝等，广泛用于环保领域；颜填料，无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅、矿物粉等；陶瓷材料原料，氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、碳化硅等；炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等用于橡塑材料的补强剂等；新型电池材料，如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电极材料；发光稀土粉末材料；磁性粉末材料，如四氧化三铁、铁氧体等；纳米粉体材料，包括纳米陶瓷材料、纳米金属材料，纳米银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等；其他，如超细纤维、多孔织物、复合材料、沉积物、悬浮物等　　微孔分布测试仪的主要特性：　　测试时间：多点BET法比表面积平均每个样品15分钟，孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品100分钟　　主要功能：可实行BET比表面积（多点及单点）测试，Langmuir比表面积测试，炭黑外比表面积测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定；　　真空系统：极限真空度6×10-2Pa　　微孔分布测试仪测量范围：比表面积≥0.01M2／g至无规定上限，孔尺寸0.7～400nm；　　样品数量：可同时测定1-4个样品；　　测量精度：≤±2％；　　微孔分布测试仪的压力控制：高精度压力传感器，数字显示，精度0.2％，独特的充气与抽气速度自动控制系统　　运行方式：高度自动化，智能化，长时间运行可以无人看管自行测试　　测试气体：高纯氮气（不用氦气），氮气消耗量极小　　微孔分布测试仪的吸附过程：样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出，液氮消耗极少　　软件系统：在Windows平台上，提供过程控制和数据采集、处理、报告系统，多种测试方法可自由方便选择，在计算机屏幕上，同步显示吸、脱附，比表面积及微孔分布测量仪测试过程、可随时查看已完成部分的测试数据；本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便；

我单位需购买一台激光衍射粒度分布测试仪，测试样品为对苯二甲酸，现用筛分法测定粒度分布，粒度从45um到大于250um,平均粒度在110－－130um之间。现要求如下：1当然要准确。2分析速度快。3能同时给出体积比和重量比 4仪器操作简单，但用工作站控制。 5仪器维护方便，比如样品池易清洗，更换镜头方便或不用换镜头。初步打算选择英国马尔文公司Mastersizer 2000型或美国贝克曼LS系列。请各位老大给个建议，特别是用过的老大！！！如果那位有LS系列的详细资料请发给我邮箱zyxdbox@yeah.net谢谢！！！！

实验室的FT-IR是Nicolet iS50，现在参考JJF 1319-2011对设备进行期间核查。对于本底光谱能量分布这一项不是很明白，请问各位如何计算？谢谢。

哪位达人有布鲁克公司的红外发射率测试仪的原理说明书和中文操作手册阿，谢谢了阿。[em58] [em58] [em58]

参考书上说，八级杆中用纯氦气碰撞模式可以减少反应池气体和分析物之间的副反应的发生，这样就可以利用屏蔽炬系统传递分布范围窄的离子能量。——————————————————————————1.屏蔽系统是指炬管外层的屏蔽圈吗？2.如果上述正确的话～～按照样品测试流程，屏蔽在碰撞池前，如何理解屏蔽系统传递分布范围窄的离子能量？3.对碰撞池，势能垒对不同元素设置的应该不一样，实际测量时如何动态设置呢？

请问江浙沪哪里有第三方检测机构可以做水中颗粒分布测试？2um-50um我们公司有台hach 9703 粒度测试仪，想和第三方做个比对看看至于第三方用什么仪器或方法不管只要在2um-50um范围内，给出粒度分布就可以已经问过SGS,天祥，华测都没这个测试项目

谁知道波长色散型XRF,怎么去测试仪器的实际能量分辨率?

今天看Nicolet 380的介绍时讲到，380仪器采用了长寿命空冷红外光源，最高能量分布在1600cm-1附近，是化合物出峰最多的区域。原来我一直认为，光的能量是由光的频率决定的，频率越高，能量越高，而红外光谱是分子中某种振动吸收了某一个频率的光谱而发生跃迁产生的。请问这里的Nicolet说明中讲到的最高能量分布在1600cm-1附近是什么意思？

请问江浙沪哪里有第三方检测机构可以做水中颗粒计数测试？2um-50um我们公司有台hach 9703 粒度测试仪，想和第三方做个比对看看至于第三方用什么仪器或方法不管只要在2um-50um范围内，给出颗粒数就可以已经问过SGS,天祥，华测都没这个测试项目另公司还有一台Beckman Coulter LS13320, 不知道可不可以做2-50um 这样的规格，不过好像只能做分布，不计数的本人做化学仪器类的，对物理类的不懂请大家帮帮忙

泄漏电流测试仪是用于测量电器的工作电源通过绝缘阻抗或分布参数阻抗产生的与工作无关的泄漏电流的仪器，其输入阻抗模拟人体阻抗，泄漏电流测量包括接触电流和保护导体电流的测量，具有适应测试范围广、测试精度高的优点。具有操作简单、读数方便、精度高、体积小，是各级计量部门首选的泄漏电流测试仪器。 泄漏电流测试仪能够将测试的直流和各种频率正弦波、三角波、方波等波形的交流电流， 以及各种复合波交流电流转换为有效值；除了测试地线漏电流外，还可测试可接触件之间的漏电流，以及其他部位的漏电流。泄漏电流测试仪具有测试电压、泄漏电流、测试时间同时显示的功能，测试报警值可连续任意设定，相位可自动转换，具有合格、不合格声光报警，击穿保护等功能。 泄漏电流测试仪适用于家用电器和电机、电脑、电子电气设备、电子仪器等其他电器产品的安全测试需求，也是实验室、技术监督部门不可缺少的检测设备，泄漏电流测试仪广泛应用于石油天然气管道、煤气管道、油库、电气化铁路、地铁以及相关维护工程等。

Nicolet的 红外光谱仪的红外能量值怎么做出来？Nicolet的 红外光谱仪的：看的资料上说“ 设定4cm-1分辨率，扫描次数32次，采集空气本底光谱，分布测量本底光谱中能量最高点波数处本底光谱的能量Emax 和4000cm-1处的能量E4000，计算E4000/ Emax，对照厂家的仪器参数说明，检查其产品是否真实符合检测结果。”不知道怎么做，请知道的人提示下.谢谢

耐压绝缘测试仪对各种高压电气设备、电器元件、绝缘材料进行工频或直流高压下的绝缘强度试验。 耐压绝缘测试仪是交流安全通用测试仪器,适合家用电器及低压电器的安全测试.漏电流值由粗调和细调旋钮调节。漏电流超差时自动切断测试电压，并发出声光报警信号。有外控端子。

用来测试产品安全性能的主要仪器，一般有：耐压测试，漏电流测试，接地电阻测试仪，绝缘电阻测试仪，等等。为了保证安规仪测试的准确性，相应地要对高压输出、漏电流测量、接地电阻测量和绝缘电阻测量等进行校准。 校准方法 绝缘电阻测试仪是加一定的直流电压（一般为200V到1000V）进行测试。校准时，一要进行绝缘电阻测量准确度校准，二要对设定的电压准确度进行校准. 绝缘电阻测试端直接与绝缘电阻箱接线柱相连，设定测试电压（如：500V 直流电压），选择不同的绝缘电阻值进行测试，绝缘电阻的显示值与标准绝缘电阻相比较；改变测试电压（如：1000V 直流电压）做同样的测试。电压准确度的校准与高压输出准确度的校准方法相同，不再赘述了。 注意事项: 当天气较潮湿时，校准较高阻值的绝缘电阻（1GΩ以上）误差较大，绝缘电阻箱应通电加热除湿,以提高测量准确度。

[color=#333333]　日前，浙江省计量院作为第一起草单位编制的JJF1662-2017《时钟测试仪校准规范》经国家质检总局批准正式实施。[/color][color=#333333]　　随着用电信息采集系统的持续深化应用，分时费率电价推广、各等级电压线损的考核计算、停送电事件的上报等环节都对电能表和采集设备的时间准确性提出了更高要求。电能表时钟异常，不仅影响到用电信息采集成功率、线损率的有效管控，还容易造成分时费率计量错误等。因此，供电企业必须及时、准确地对电能表时钟异常做出故障分析判断和处理。[/color][color=#333333]　　时钟测试仪广泛应用于电力设备生产企业、电力计量部门、科研院所等单位。主要用于测量电能表的日计时误差和时钟时刻误差。通过对时钟测试仪的计量校准，确保了全国电能表内部时钟的准确性，杜绝了日计时误差和时钟时刻误差超差的电能表流入到电能计量场所。[/color][color=#333333]　　该规范的发布实施将有效指导相关仪器校准工作，使校准方法和校准项目具有科学性、合理性和可操作性，为此类仪器的日常校准提供技术依据。[/color][color=#333333]　　近年来，浙江省计量院积极发挥计量基础性作用，在重点计量难题攻关、计量标准建设、计量技术法规制修订、标准物质研制等方面取得了显著成果，为行政监管、社会发展提供有效的计量基础支撑。[/color]

表面电位测试、粒度测试、比表面积测试、氮气吸附法测孔径分布、氮气吸附法测孔容、压汞法测孔径分布、压汞法测孔隙率（或气孔率）、压汞法测孔容。表面电位/激光粒度测试仪器 型号：zeta plus（made in USA)；粒度测试范围：3nm~3um。比表面仪（氮气吸附法）型号：ASPA2010（made in USA） 孔径测试范围：1.7nm~300nm。压汞仪 型号：poresizer9320(made in USA) 孔径测试范围10nm~360um。流变仪 型号：SR5上海硅酸盐研究所国家重点实验室电话：52412224

[color=#ff6600]问[/color]：贵阳董副总，从事粗铝线的客户想采购焊接强度测试仪，寻找焊接强度测试仪，希望推荐比较好的焊接强度测试仪厂家？[color=#ff6600]答：[/color]小编为了方便大家想采购焊接强度测试仪，给大家推荐一下科准测控的焊接强度测试仪，方便大家做想采购焊接强度测试仪时候的参考：科准测控制造厂是一家以研发制造焊接强度测试仪为核心的高新技术型企业，主要经营疲劳拉伸力焊接强度测试仪、电脑式焊接强度测试仪、芯片焊接牢固度焊接强度测试仪。拥有完整、科学的质量管理体系。焊接强度测试仪广泛应用于微电子封装、SMT焊接器件、0402元件、晶片、光电子元器件、ic焊点、金丝键合研究所材料力学研究、材料可靠性测试等应用领域，是Bond工艺、SMT工艺、键合工艺等不可缺少的动态力学检测仪器，能满足包含有：金属、铜线、合金线、铝线、铝带等拉力测试、金球、铜球、锡球、晶圆、芯片、贴片元件等推力测试、锡球、BumpPin等拉拔测试等等具体应用需求，功能可扩张性强、操控便捷、测试高效准确。可根据要求定制底座、夹具、校验治具、砝码和测试工具满足各种不同尺寸的样品。科准测控有限责任公司以诚信、实力和产品质量获得业界的认可。欢迎朋友莅临参观、指导和业务洽谈。[b]焊接强度测试仪设备特征：[/b]1、采用测试工位自动模式，在软件选择测试工位后，系统自动到达对应工作位。2、每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统。3、三个工作传感器,采用独立采集系统,保证测试精度。4、软件自动生成报告及存储功能，支持MES系统。5、荷重单位显示N、Ib、gf、kgf可自由切换。6、人性化的操作界面,人员操作方便。7、每项测试工作采用独立安全限位及限速功能。8、智能数据分析软件，自动记录并计算多点测试数据的Cpk值，可记录单点测试的力值、时间曲线。9、根据客户测试需求，非标定制各种精密测试夹具，有效确保用户测试数据的真实性。[b]焊接强度测试仪产品优势：[/b]1、电脑自动选取合适的推拉刀，无需人手更换2、采用进口传动部件结合独特力学算法，确保机台运行稳定性及测试精度。3、多功能精密四轴自动控制运动平台，采用进口传动部件，确保机台的高速、长久稳定运行。4、旋转盘内置三个不同量程测试传感器，满足不同测试需求，避免因人员误操作带来的设备损坏。5、优异的可操控性，左右双摇杆控制器，可自由摆放手感舒适，操作简单便捷。6、 强大分析软件进行统计、破断分析、QC报表，测试数据实时保存与导出，方便快捷。7、机载统计数据按照等级，平均值，标准差和CPK分布曲线显示测试结果。8、弧线形设计便于调整显微镜支架。9、显微镜光源为双光纤LED，冷光源，不发热，可随意弯曲。10、XY平台，可以根据要求定制，满足更广泛的测试范围。11、图像采集系统，快速简单的设置，安装在靠近测试头位置，以便帮助更快地测试。提高测试自动化速度。[b]设备成功案例：[/b]在上海、河南、安徽、北京、嘉善、苏州、昆山、四川、江苏、厦门、徐州、浙江、陕西、深圳等地区均有科准测控焊接强度测试仪的相关成功案例，欢迎大家前往实地考察。[b]设备常见系列：[/b]1、常用类型：自动焊接强度测试仪、功率强大焊接强度测试仪、全自动焊接强度测试仪、单柱焊接强度测试仪、数显焊接强度测试仪.....2、常见型号：mfm1000焊接强度测试仪、dage焊接强度测试仪、fm1200焊接强度测试仪.....3、试验功能：剪切力、钝化层剪切力、推力、拉力、粘合力.....[b]测试机的采购渠道：[/b]1、线下：可以找直接生产厂家定制、经销商可以批发代理。2、线上：京东、淘宝、知乎商家、抖音等合法线上渠道3、电话：直接拨打厂家销售人员的电话或者400电话，免费服务热线等方式[b]品牌有哪些？[/b]目前焊接强度测试仪市场的常用及认可品牌有（非官宣）：科准测控、克拉克、德瑞茵、达格、力新宝、博森源.....等厂家及品牌[b]采购前需要注意的事项：[/b]一般在采购一个产品之前，先找到正规靠谱的生产厂家，然后需要咨询价格以及详细了解焊接强度测试仪的维修手册、维护、板卡驱动、夹具定制、拉力测试耗材、操作原理、相对湿度、力值显示售后服务等条件，可以找供应商提供焊接强度测试仪的产品图片、效果图、彩页、案例图、视频综合进行参考，对各方面都满意后，就可以直接下单采购了。上述内容就是关于焊接强度测试仪的全面解析介绍，从原理到怎么使用、校准方法以及注意事项，仅供您参考了解，如有不足之处欢迎各位用户及同行探讨交流互相补充，如需要详细了解其他相关封装测试设备，可以拨打我们的电话，了解更多！

电缆作为输电的大腿，要是它出了岔子，那整个电力输送系统就麻烦大了。怎么办呢?当然是用电缆故障测试仪，这个万能宝盒能快速找出电缆的问题所在，保证电力系统安全又高效。下面就由伯恩特小编给你解密电缆故障测试仪的三种工作原理和测试方法，看看你知道哪些吧。 　　首先是脉冲反射法。这种方法利用电磁波在电缆中传播的特性。测试仪发射一道短暂的高压脉冲，如果电缆完好无损，脉冲会一直传输到终点，一部分能量会被反射回来。但如果电缆内部出现断路、短路或者接地等问题，脉冲在遇到这些阻碍时会立刻产生反射，并反射回测试仪。通过分析反射脉冲的时间延迟和幅度变化，结合电缆传播速度，就能计算出故障点距离测试端的距离，快速定位故障。 　　其次是低压脉冲法。这种方法适用于检测低阻抗和开路故障，而且使用的电压较低，对电缆的损伤风险较小。它通过发送一系列低压脉冲到电缆中，根据反射情况来判断电缆的连续性和绝缘状态。这个方法适合日常维护和初步故障排查。 　　最后是声磁同步法。对于高阻抗故障，比如电缆绝缘击穿导致的接地故障，声磁同步法的优势就显现出来了。测试仪向电缆注入特定频率的电流，故障点会产生声波和磁场变化，因为局部放电效应。测试人员用专用探测器捕捉声波和磁场信号，结合电缆路径图，可以准确确定故障点位置。这种方法特别适用于复杂环境下的故障定位，比如地下电缆网络。 　　虽然电缆故障测试仪的工作原理只介绍了这三种，看起来好像很简单，实际上它内部运作涉及很多知识，比如电磁学、声学，甚至物理学。总的来说，就是利用高科技手段精确定位电缆故障。当然，这三种方法都适用于不同的工作场景，测试前一定要选对方法，保证顺利进行测试，甚至事半功倍。如果对测试方法不清楚，欢迎向伯恩特电力咨询，我们的专业技术人员会提供免费的远程指导哦。https://www.whboente.com/jswz/80.html

近红外的世界分布主要国家集中在：日本，美国，法国，瑞典等国家，而且已经应用到各个行业了，真正的实现了终端市场的按质定价。在中国的话，我感觉是研究来讲北方好于南方。请大家使用近红外的用户，可以写一下自已所在的省市。看看哪个省市最多，呵呵，比一比秀一秀。另外有需近红外行业应用论文的朋友，请注明行业。给我发邮件，或加我的QQ都可以。251482168@qq.com

人们日常生活都会使用到电力，但是对电力设备进行检测的设备就也显得很重要了，最常用的一款设备——[url=http://www.kvtest.com/jydzcs/]绝缘电阻测试仪[/url]，就是电力检测人员经常会使用到的一款设备，那么一台绝缘电阻测试仪要多少钱呢？今天小编就给大家好好聊下关于绝缘电阻测试仪价格的问题。　　[b]一、绝缘电阻测试仪的组成部件和工作原理都一样[/b]　　虽然市面上的电力检测设备厂家很多，但是不管是任何一家生产厂家，生产的绝缘电阻测试仪的原理其实是一样的。从绝缘电缆故障测试仪的组成来看，它主要由高压电源、电阻器和显示屏等部分构成。所以他的工作原理其实都是一样的：当仪器开启时，高压电源会提供电力，通过电阻器对设备进行绝缘电阻测试，测试结果会实时显示在显示屏上。　　[b]二、[url=http://www.kvtest.com/jydzcs/226.html]高压绝缘电阻测试仪[/url]的价格是多少？有什么因素能影响设备价格呢？[/b]　　对于高压绝缘电阻测试仪的价格，会因品牌、型号、功能、性能以及销售渠道的不同而有所差异。一般来说，一台高压绝缘电阻测试仪的价格从几千元到几十万元不等。其中，进口品牌的高压绝缘电阻测试仪价格往往较高，而国产品牌的价格则相对较低。　　购买绝缘电阻测试仪设备的时候其实需要主要的反而不是价格，而是性价比，因为不同的设备，他的性能是不一样的，我们购买的时候其实只要根据自己的需求进行选择就行了。一般来说，精度越高、性能越稳定、可靠性越高的高压绝缘电阻测试仪价格也会相应较高。　　更多绝缘电阻测试仪设备的相关资讯，可从武汉南电至诚电力了解：http://www.kvtest.com/jswz/2198.html

[font=Tahoma, &][color=#444444]邹亚雄 王婷 张明 刘巍 刘伟光 陈全森[/color][/font][font=Tahoma, &][color=#444444]青岛市计量技术研究院[/color][/font][font=Tahoma, &][color=#444444]摘要：口罩颗粒物过滤效率的检测过程比较复杂,涉及到气溶胶的发生、输送与上下游质量浓度的测量,影响过滤效率测量结果的因素包括试验气溶胶的粒径和分布、试验流量、气溶胶浓度测量等。为了确保测量结果的准确性和一致性,需要对过滤效率测试仪进行校准或验证。由于尚不存在具备计量溯源性的过滤效率标准试验设备或标准过滤膜,无法通过比较法对仪器进行直接校准,所以采用分部法对各影响因素进行评定,以判断测试仪是否满足口罩检测标准的要求。其中,气溶胶的粒径及分布采用了国际标准推荐的测试方法,而气溶胶浓度测量仪除进行示值误差[/color][/font][font=Tahoma, &][color=#444444]的校准外,还对上下游浓度测量值的相关性进行了评价。[/color][/font]

哪家的红外分光光度计 及挥发份测试仪比较好？

最近我们的比表面测试仪感觉速度比以前慢了很多，我们都是36点测孔径分布，有时测完需要是个多小时，如何提高分析速度，缩短分析时间呢？

[B]光谱测试仪美国McPherson 公司在光学光谱仪单色仪测试仪领域有半个多世纪的丰富经验，现在拥有完整成熟的产品线，为分子和原子光谱领域的科研学者的深入研究提供了各种解决方案。我们经过五十多年不断的努力和发展，在光学光谱领域已经形成了完整成熟的光谱仪，单色仪，光谱测试仪产品线，为分子和原子光谱领域的科研学者的深入研究提供了各种精密分析工具。我们的设备涵盖从红外(infrared)到软X光 (soft X-ray)和超紫外谱段(short ultraviolet wavelength)的所有光谱领域，从小型光谱仪单色仪(miniature spectrometers)到20多吨重30多米长的大光谱仪单色仪系统。在使用真空和超真空技术(vacuum and ultra-high vacuum technology)的工业产业中您不难发现我们制造的真空系统(vacuum systems)、穿透焊接配件(penetration welded components)和分级冷却防渗漏部件(cold stages and mechanisms).单色仪和光谱仪根据波长和分辨率可以分为三大类：四、紫外、可见光、红外波段单色仪/光谱仪（从185nm到20um光谱范围）五、真空紫外到可见光波段单色仪/光谱仪六、远紫外和X软射线单色仪/光谱仪(~1 nm到310 nm光谱范围l)

耐压绝缘测试仪是对各种高压电气设备、电器元件、绝缘材料进行工频或直流高压下的绝缘强度试验的测试仪器，耐压绝缘测试仪具有漏电流超差时自动切断测试电压，漏电流值由粗调和细调旋钮调节，并发出声光报警信号，是交流安全通用测试仪器，适合家用电器及低压电器的安全测试。 耐压绝缘测试仪采用高清VFD显示，简洁面板操作，具有测量保护接地端开路检测功能。耐压绝缘测试仪具有四种特殊测试模式选择，可增加测试的安全性，具有过压、过流保护，手动测线清零功能，过零启动和过零切断，防止被测件损坏。耐压绝缘测试仪具有高精度电流、 功率测量，具有高精度有功功率测量，可更有效的协助用于某些微型电子变压器的匝间短路判定；具有漏电流、测试时间、绝缘电阻连续任意设定，同时显示被测电压、电流、电阻的实际值。 耐压绝缘测试仪可以测量电子元件 、整机、介质材料等绝缘性能，可以直观、准确、快速、可靠地测试各种被测物的击穿电压、漏电流、绝缘电阻等电器安全性能指标。耐压绝缘测试仪适用于各种家电、电线电缆、变压器、电机等安全检测，同时也是科研院所、技术监督部门不可缺少的设备。

绝缘电阻测试仪的功能特点：　　1、输出功率大、带载能力强，抗干扰能力强。　　2、绝缘电阻测试仪外壳由高强度铝合金组成，机内设有等电位保护环和四阶有源低通滤波器，对外界工频及强电磁场可起到有效的屏蔽作用。　　3、绝缘电阻测试仪不需人力作功，由电池供电，量程可自动转换。一目了然的面板操作和LCD显示使得测量十分方便和迅捷。　　4、绝缘电阻测试仪输出短路电流可直接测量，不需带载测量进行估算。

[align=center][/align][align=center][img=,361,450]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190701/156197148029231.jpg[/img][/align][align=center][b]显微热分布测试系统[/b][/align]LED的诞生是现代生活的一大进步，LED在逐渐成长的过程中，伴随许多失效、故障等问题，然而这些问题的罪魁祸首首指发热问题，LED的发热不均往往会成为LED功能降低甚至失效的原因，为此，金鉴采用法国的ULIS非晶硅红外探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造高精智能化的测试体系,整合出一套显微热分布测试系统，价格远低于由国外同类产品，同样的功能，但却有更精确的数据整理系统、更方便的操作体系，正应证了“最好的检测设备是一线的测试工程师研发出来的！”这句话。金鉴显微热分布测试系统已演化到第四代：配备20um的微距镜，可用于观察芯片微米级别的红外热分布；通过软件算法处理，图像的分辨率高达5um，能看清芯片晶道；高低温数显精密控温系统，可以模拟芯片工作温度；区域发射率校准软件设置，以达到精准测温度的目的；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。[b]与传统红外热像仪相比，金鉴显微热分布测试系统优点显著：[/b][align=center][img=,715,864]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154647612434531.jpg[/img][/align][color=#666666][/color][color=#666666][/color][align=center][/align][b]应用领域：[/b][color=#666666]芯片电极设计、芯片来料检验、失效分析、灯具热分布测量、灯具灯珠芯片升温热分布动态采集、集成电路失效分析、无损失效分析。[/color][color=#666666][/color][b][/b][color=#666666][b]金鉴显微热分布测试系统特点：[/b][/color][b]1. 20μm微距镜，通过软件强化像素功能将画质清晰度提高4倍，图像分辨率提高至5μm，可用于观察芯片微米级别的红外热分布。[/b]LED芯片是LED产业的最核心器件，芯片温度过高会严重影响LED产品质量； 但芯片及芯片内部的温度分布一直是检测难点；金鉴自研发的显微热分布测试系统可对LED芯片温度进行检测，通过对内部的温度分布分析，改善设计，提高LED产品质量。金线和正负电极的温度分布状况可以为研发人员提供布线设计依据，以及为芯片研发散热系统提供直观的芯片热分布数据。[align=center][img=,500,323]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364372896451.jpg[/img][/align][align=center]芯片热分布图[/align][align=left][b]2. 模拟器件实际工作温度进行测试，测试数据更真实有效[/b]LED光源的光热性能受温度的影响较大，脱离实际工作温度所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。而金鉴自主研发的显微热分布测试系统配备有高低温数显精密控温平台，能稳定控制灯珠引脚温度和基板温度，模拟模拟器件实际工作温度进行测试，提供更为真实有效的数据。该测试平台还配备有水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题，该系统还可以稳定控制样品台温度维持在0℃-室温，适用于一些需要保持低温工作的器件。[/align][b]3. 1TB超大视频录制支持老化测试等长期实时在线监测[/b]金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像可以保存每一帧画面所有像素的温度数据，支持逐帧分析热过程和变化，更容易发现和确认真实的温度值，以及需要进一步检查的位置。工程师可以利用显微热分布测试系统记录灯具发热红外视频，分析出在不同的工作时间，灯具温度变化和温度分布情况，在此基础，达到分析评估LED灯具散热效果，寻找异常温度区域，定位关键失效点。（1）手机可直接录制1000帧热像视频，没有电脑也能自动采集数据。（2）自定义采样速率（最快5帧/秒）。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20170822/150338472976931.gif[/img][/align][align=center][b]灯具温升变化图[/b][/align][align=center][img=,666,300]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364376732981.jpg[/img][/align][align=center][b]灯珠芯片温升变化图[/b][/align][b]4.热灵敏度和分辨率高，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。[/b]专业测温，-20℃~650℃宽温度量程，测温误差±2℃或±2%。热灵敏度0.03℃，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。红外分辨率640x480，若使用算法改进的像素增强功能，可有4倍图像清晰度，画质提升为1280x960。[align=center][/align][b]5.支持12个点，12个框和3条线的实时温度显示、分析功能，可导出时间温度曲线、三维温度图等测试数据。[/b][align=center][img=,399,377]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364402379501.jpg[/img][/align][align=center][/align][b]时间温度曲线： [/b] [align=center][img=,399,256]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364403442621.jpg[/img][/align][b]三维温度图：[/b][align=center] [img=,399,287]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364428040661.jpg[/img] [/align][b]6.手机触屏操作界面，简单易学，即开即用。[/b][align=center][b] [img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364429058891.jpg[/img][/b][/align]手机可直接录制1000帧热像全辐射视频；温变过程实时捕捉；没有PC也能自动采集数据。[b]7. 定制化的热像分析软件[/b]金鉴定制PC端、APP分析软件: IR pro、JinJian IR针对LED产业开发的特殊应用功能，人性化的操作界面，更适合LED失效分析、研发测试，纠正多种错误测温方式，开发新的应用领域。具备强大的热像图片分析和报告功能，方便做各个维度的温度数据分析和图像效果处理。[align=center][/align][b]案例一：[/b]客户送测LED芯片，委托金鉴在指定电流条件下（30mA、60mA、90mA）进行芯片热分布测试。其中60mA为额定电流。点亮条件：30mA、60mA、90mA环境温度：20~25℃/40~60%RH[align=center][img=,666,200]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180824/153509640881861.jpg[/img][/align]灯珠正常使用时，额定电流为60mA。金鉴通过显微热分布测试系统发现，该芯片在额定电流下工作，芯片存在发热不均匀的现象，其负极靠近芯片边缘位置温度比正电极周围高10度左右。建议改芯片电极设计做适当优化，以提高发光效率和产品稳定性。该芯片不同电流下（30mA、60mA、90mA）都存在发热不均的现象，芯片正极区域温度明显高于负极区域温度。当芯片超电流（90mA）使用时，我们发现过多的电流并没有转变成为光能，而是转变成为热能。[b]案例二：[/b]某灯具厂家把芯片封装成灯珠后，做成灯具，在使用一个月后出现个别灯珠死灯现象，委托金鉴查找原因。本案例，金鉴发现该灯具芯片有漏电、烧电极和掉电极的现象，通过自主研发的显微热分布测试仪发现芯片正负电极温差过大，再经过FIB对芯片正负电极切割发现正极Al层过厚和正极下缺乏二氧化硅阻挡层。显微热分布测试系统在本案例中，起到定位失效点的关键作用。[b]对漏电灯珠通电光学显微镜观察：[/b]金鉴随机取1pc漏电灯珠进行化学开封，使用3V/50uA直流电通电测试，发现灯珠存在电流分布不均现象，负极一端处的亮度较高。[align=center][img=,380,176]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364441723001.jpg[/img][/align][b]对漏电灯珠显微红外观察：[/b]使用金鉴自主研发的显微热分布测试系统对同样漏电芯片表面温度进行测量，发现芯片正负电极温度差距很大，数据显示如图，负极电极温度为129.2℃，正极电极温度为82.0℃，电极两端温差30℃。[align=center][img=,500,340]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364442845471.jpg[/img][/align][align=center][/align][b]死灯芯片负极金道FIB切割：[/b]根据显微热分布测试系统仪的测试数据，金鉴工程师把芯片失效原因定位到芯片自身结构问题上，因此对死灯灯珠芯片靠近负极电极烧毁位置下方的金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，铝（Al）层与第1层铬（Cr）层结合良好。芯片负极的铝层厚度约为100nm。[align=center][img=,666,253]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364468261691.jpg[/img][/align][b]死灯芯片正极金道FIB切割：[/b]金鉴工程师对死灯灯珠芯片正极金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，金鉴发现： 1.Cr-Al-Cr-Pt层呈现波浪形貌，尤其ITO层呈现波浪形貌，ITO层熔点较低，正极在高温下，芯片正极ITO-Cr-Al-Cr-Pt层很容易融化脱落，这也是金鉴观察到前面部分芯片正极脱落的原因。2.芯片正极的铝层厚度约为251nm，明显比负极100nm要厚，而负极和正极Cr-Al-Cr-Pt-Au是同时的蒸镀溅射工艺，厚度应该一致。3.在芯片正极金道ITO层下，我们没有发现二氧化硅阻挡层。而没有阻挡层恰好导致了正负电极分布电流不均，电极温差大，造成本案的失效真因。[align=center][img=,666,248]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364469315711.jpg[/img][/align][b]案例三[/b]：委托单位送测LED灯珠样品，要求使用显微热分布测试系统观察灯珠在不同电流下表面温度的变化情况。[b]对大尺寸的倒装芯片进行观察：[/b]开始时样品电流为1A，此时芯片表面温度约134℃；一段时间后，电流降低到800mA，温度在切换电流后的2s内，温度下降到125℃，随后逐渐下降到115℃达到稳定；紧接着再把电流降低到500mA，10s后，温度从115℃下降到91℃。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180117/151615185081841.gif[/img][/align][b]对小尺寸的倒装芯片进行观察：[/b]样品在300mA下稳定时，芯片表面温度约为68℃；电流增加到500mA，10s后温度上升到99℃；随后把电流降低到200mA，13s后温度下降到57℃，此时把电流增加到400mA，芯片表面温度逐渐上升，在20s后温度达到稳定，此时温度约为83℃；最后把电流降低到100mA后，温度逐渐下降。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180117/151615186735561.gif[/img][/align][align=center][/align][b]案例四：分析固晶工艺[/b]1. 某公司灯珠发生死灯，开封后可以观察到外延层烧毁、金道烧毁、电极脱落。[align=center][img=,500,376]http://www.gmatg.com/uploads/images/20181230/154616504555201.png[/img] [/align]进一步对失效品灯珠进行金相切片，可以观察到失效品灯珠芯片与固晶胶存在剥离现象。（备注：固晶胶采用的导热绝缘胶）[align=center][img=,666,248]http://www.gmatg.com/uploads/images/20181230/154616575577541.png[/img] [/align]3. 进一步取固晶胶剥离与未剥离的灯珠芯片，使用金鉴实验室自主研发的热分布测试仪，对固晶胶剥离与未剥离芯片进行热分布测试比对，比对结果如下图所示：[align=center][img=,666,226]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650720866911.png[/img][/align]结果显示：固晶胶剥离灯珠芯片表面温度比未剥离芯片表面温度高约110℃，温度相差极大。分析原因，固晶胶脱落导致热量无法通过灯珠支架顺利传导出去，造成芯片周围环境温度变高，灯珠芯片温度升高。该芯片负极区域发热量大，芯片工作环境温度升高时，芯片负极区容易出现温度过高烧毁。 [b]案例五：判定多芯片灯珠发热情况[/b]客户送测LED灯珠，委托金鉴进行灯珠体检，帮助提升其产品性能和质量。[b]显微热分布测试灯珠芯片热分布：[/b][align=center][img=,666,283]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650721893231.png[/img][/align]从热分布图中我们发现，该灯珠两颗芯片发热量不一致，A芯片表面温度为61.4℃，B芯片表面温度为70.7℃，温度相差9.3℃，这种情况将会严重影响灯珠性能及可靠性。其原因是：LED芯片较小的电压波动会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片热功率出现差异。客户针对此种情况，加强对来料芯片电压分BIN的卡控后，杜绝了该种异常现象，其灯珠性能及可靠性得到大大提高。[b]案例六：显示屏热分布监测[/b]PCB板大屏显示模组存在过热区，过热区亮度会偏低，高温还会加速LED光源的老化，热分布不均势必会造成发光不均，影响显示模组清晰度。在显示屏分辨率快速提升的当下，光热分布不均已成为制约LED显示屏清晰度的最大因素。因此，提升LED显示屏光热分布均匀性对提高当下LED显示屏清晰度，意义重大！[align=center][img=,666,289]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650722679251.png[/img][/align][b]案例七：定位电源失效区域[/b]委托单位电源出现失效现象，委托金鉴查找电源失效原因。在该案例中，金鉴使用显微红外热分布测试系统对电源进行测试，发现电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，经测温发现该电阻温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。[align=center][img=,666,253]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190107/154682171825381.png[/img][/align][b]案例八：电源失效分析 [/b]委托单位反馈该款电源在使用约一年时间后出现烧毁失效，委托金鉴查找电源失效原因。金鉴使用显微红外热分布测试系统对电源进行温度测试，碳膜电阻R9温度高达157.4℃，热敏电阻温度为101.0℃。一般建议碳膜电阻的最佳工作温度为70℃以下，热敏电阻的工作温度在120℃以内，而该电源中碳膜电阻在157.4℃温度下满载工作，因此工程师迅速锁定了该异常点。[align=center][img=,500,348]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190226/155117698126591.png[/img][/align][align=center][/align][align=center][img=,400,158]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126072273961.jpg[/img][/align][align=center][/align][quote][quote]（1）实测尺寸：I=15.84mm；D=5.3mm ； H=22.3mm。[/quote][quote]（2）参照电阻色环可知碳膜电阻R9阻值为68kΩ±5%。[/quote][quote]（3）根据电阻尺寸与额定功率的关系可知，该碳膜电阻R9的额定功率为2W，进而由欧姆定律P=U2/R可推算出其额定电压为369V。[/quote][/quote]由于碳膜电阻R9的实测工作温度为157.4℃，根据如下电力减轻曲线可知，155℃温度下的实际使用功率应为额定功率的5%左右，即0.1W左右，根据欧姆定律P=U2/R推算在155℃温度下可以使用的实际额定电压U=82V。而实际使用碳膜电阻R9的电压为366V，说明碳膜电阻R9处于超负荷使用状态，长期超负荷使用可能导致电阻值出现漂移，进而造成同一回路中的其他器件烧毁，发生电源烧毁失效。[align=center][img=,550,337]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126323736781.png[/img][/align][align=center][/align]对正常电源和烧毁电源中的碳膜电阻进行电阻测试，结果显示：正常电源碳膜电阻阻值为67.5kΩ，烧毁的电源同一回路中的碳膜电阻阻值为88.3kΩ，证实碳膜电阻阻值已出现漂移。[align=center][img=,500,210]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126342955601.png[/img][/align]电阻参数在高温下出现漂移，长期使用会影响电阻的寿命和可靠性，建议委托单位优化电源设计，避免电源器件在高温下长期超负荷使用。