全自动全景扫描显微镜

AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能，还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析，实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率，自动探针安装，自动光轴调整，自动参数优化；&bull 排除人为操作失误导致的测量误差，一键自动测量/处理/分析（提高整体测试效率） 2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性 SIS（Sampling Intelligent Scan）样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点，自动控制探针位置，完全消除对测量不利的水平力，可测量吸附力较大或粗糙的样品，同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤，有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌，还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM（可用于定量和灵敏度等不同场景）除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外，AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比，信号主要来自于探针的尖端，电位检测灵敏度更高，在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等，FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料，两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置，实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试，可以对目标视野进行多维度解析，实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察，实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动，或通过全新的AFM标记功能，可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野，进一步扩大了联动分析的应用范围。

国仪量子高速扫描电子显微镜HEM6000HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术，实现了高速图像采集和成像，同时保证了纳米级分辨率。面向应用场景的自动化操作流程设计，使得大面积的高分辨率图像采集工作更高效、更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。 产品优势 高速自动化 全自动上下样流程和采图作业，综合成像速度优于常规场发射扫描电镜的5倍大场低畸变跟随扫描场动态变化的光轴，实现了更低的场边缘畸变低压高分辨 样品台减速技术，实现低落点电压，同时保证高分辨率应用领域应用案例大规模成像规格书 关键参数 分辨率 1.3nm @ 3 kV，SE；2.2 nm @ 1 kV，SE； 1.9nm @ 3 kV，BSE；3.3 nm @ 1 kV，BSE；加速电压 100 V~6 kV(减速模式) 6 kV~30 kV(非减速模式) 放大倍率 66~1,000,000x 电子枪类型 高亮度肖特基场发射电子枪 物镜类型 浸没式电磁复合物镜 样品装载系统 真空系统 全自动控制，无油真空系统 样品监控 样品仓监控水平摄像头 ； 换样仓监控垂直摄像头样品最大尺寸 直径4英寸 样品台 类型 电机驱动3轴样品台（*可选配压电驱动样品台） 行程 X、Y轴：110mm；Z轴：28mm；重复定位精度 X轴：±0.6 um；Y轴：±0.3 um 换样方式 全自动控制 换样时间 ＜15 min 换样仓清洗 全自动控制等离子清洗系统 图像采集与处理 驻点时间 10 ns/pixel 图像采集速度 2*100 M pixel/s 图像大小 8K*8K 探测器和扩展 标配 镜筒内混合电子探测器 选配低角度背散射电子探测器 镜筒内高角度背散射电子探测器 压电驱动样品台 高分辨大场模式样品仓等离子清洗系统 6英寸样品装载系统主动减震台 AI降噪；大图拼接；三维重构 软件 语言 中文 操作系统 Windows 导航 光学导航、手势快捷导航 自动功能 自动样品识别、自动选区拍摄、自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散服务扫描电子显微镜实验室 我们在合肥、无锡、广州和上海设有扫描电子显微镜实验室，实验室配备多名电镜技术专家和高级电镜应用工程师，提供包含电 镜应用技术开发、样品拍摄在内的多种服务。主要应用领域有锂电池、新型纳米材料、半导体材料、矿物冶金、地质勘探、生物医药等。 实验室依托国仪量子电镜产品，在电镜应用领域开展具有自主知识产权的科研项目，致力于实现科学研究和人才培养的目标。与此同时，实验室也为有电镜应用需求的科研院所、大专院校、企事业单位提供优质的服务。

ECHO Pro 全自动超声波扫描显微镜美 Sonix 全自动超声波扫描显微镜ECHO Pro , 批量 Tray盘和框架直接扫瞄, 编程自动判别缺陷, 高产量,无需人员重复设置, 自动烘干.美 Sonix 全自动超声波扫描显微镜ECHO Pro 全自动生产型:● 批量 Tray盘和框架直接扫瞄● 编程自动判别缺陷● 高产量,无需人员重复设置● 自动烘干

技术参数：测量模式： STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀) 扫描方式：样品扫描测量头部：AFM和SPM（全内置自动切换），可选配液相模式和纳米压痕测量头最大样品尺寸：直径20mm，厚度10mmXY样品定位装置：移动范围5×5um，软件控制电动定位XY样品定位装置最小步进：0.3um扫描范围：100×100×10um（三维全量程闭环控制扫描器），3×3×2um（低电流模式扫描器）XY方向非线性度：≤0.1%（闭环控制扫描器）Z方向噪音水平（带宽10~1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.03nm，最大0.04nm），低电流模式扫描器（0.02nm）激光光路系统：电动调节，全自动准直视频显微系统：软件控制电动变焦和连续变倍，软件控制变换视野，分辨率2um样品温度控制：室温~150℃主要特点：全自动化桌面型SPM直观易用的软件界面全自动切换AFM和STM扫描头自动调整激光光路（悬臂—激光—四象限光电探测器）软件控制的电动样品定位平台视频显微镜系统软件控制电动聚焦和变倍视频显微镜系统软件控制定位样品观察视野电动开关样品室门切换不同的测量模式，软件自动调节最优参数人体工程学设计

产品描述显微镜自动平台控制系统自动平台主要技术指标一）X，Y方向自动平台1．外形尺寸： 191mmx164mm2．X方向行程：≥40mm3．Y方向行程：≥30mm4．重复定位精度：≤3um5．最小步距： ≤2um6．限位开关X，Y标准（四个）7．手动控制支持8．移动速度五档可调二）Z方向调焦机构9．调焦步距（分辨率）：0.25um10．手动控制支持三）自动平台控制器 11．通讯方式RS232串口通讯12．电动控制操纵杆控制13．电源交流220V自动平台控制及大图拼接软件主要功能定位移动：平台直接移动到指定位置全景扫描：沿试样表面平移，浏览试样全景定点拍照：按设定轨迹移动平台，同时拍摄镜下图像自动回位：多点位置记忆功能，精确快速回位大图拼接：定点拍照，同步拼接，自动生成大视野全景图片自动聚焦：控制Z轴上下移动，自动找到最佳焦面

飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 是飞纳电镜系列中最先进的产品，第四代 Phenom Pro 放大倍数提升为 130,000 倍，分辨率优于 14 nm，30 秒快速得到表面细节丰富的高质量图像，是目前世界上分辨率最高的台式扫描电镜，可用于测量亚微米或纳米尺度的样品；飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 继承了飞纳电镜系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、全自动操作、2-3 年更换灯丝及防震设计等优点。飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 可选配丰富的拓展功能选件，如 3D 粗糙度重建（3D Roughness Reconstruction）、纤维统计分析测量系统（FiberMetric）、孔径统计分析测量系统（PoreMetric）、颗粒统计分析测量系统（ParticleMetric）、超大视野拼图（Auto Image Mapping）、远程操作等。软件可以自动采集数据、处理图片。比如，纤维统计测量系统可以自动识别、测量纤维样品，而大视野拼图 则自动采集生成高分辨、大视野的样品全景照片，等等…除此之外，还有各种各样的样品杯可供选择，这些样品杯使得样品的装载更加便利。无论是对于长轴状样品，还是生物材料，或者其它种类的材料，总有一款合适的样品杯可以提供完美的解决方案。Phenom Pro 主要技术参数光学放大20 - 135 X电子放大80 - 130,000 X分辨率优于 14 nm数字放大Max. 12 X光学导航相机彩色加速电压5 Kv - 10 Kv 连续可调真空模式标准模式降低荷电效应模式探测器背散射电子探测器样品尺寸最大直径 32 mm 样品高度最高 100 mm

n主要用途：测试被测4,6寸wafer与LEDwafer产品的内部缺陷，如空洞、分层、裂缝、异物等；n优势简介：- 可用于4”,6”wafer SAM-CYGNUS LED测试- 带有全自动机械臂，可进行自动取片自动检测- 配置Wafer Map, BCR reader, Wafer Pre Aligner, Spin Coater System等全自动系统- 可用于测量材料表面与内部缺陷的位置与尺寸大小（Debonding, Delamination, Crack）- 可用于测量材料的厚度- 带Water jet 扫描系统- 带安全锁及报警系统- 噪声低：采用高精度linear-servo电机- 成像质量高，速度快，扫描精度高- 支持A, C, T 扫描模式n产品特色SAM-CYGNUS是一款全自动的wafer缺陷测试声学显微镜，可以对4,6寸wafer进行全自动无损检测，分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机，扫描速度快，同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式，如点扫描(A-)、纵剖扫描（B-）、横剖扫描（C-）、多层横剖扫描(X-）等。n主要参数- 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz- A/D 换能器：2GHz 取样频率, 1GHz带宽- 适合wafer尺寸：4”与6”- XY方向重复定位精度：±2μm- Z方向扫描范围：70mm- Z方向扫描分辨率：2.5μmn产品应用：wafer与LED芯片

美 Sonix 全自动超声波扫描显微镜ECHO Pro全自动生产型:● 批量 Tray盘和框架直接扫瞄● 编程自动判别缺陷● 高产量,无需人员重复设置● 自动烘干Sonix 非破坏超声波扫描是一款提高生产、简化测试、改进生产率和提高产能的生产和实验室设备。无论是失效分析实验室的详细分析还是生产线检测，Sonix 都能提供一个易于操作的软件解决方案。﹡WinIC Lab （详细失效分析工具）﹡WinIC Production （易于操作的、新型的生产工具，专门用于生产的大量分析）SONIX Automatic Ultrasonic Scanning Microscope Echo ProFully automatic production type:● Batch Tray Tray and frame can be directly scanned● Programming to automatically identify defects● High output, no need for repeated personnel Settings● Automatic dryingSONIX Nondestructive Ultrasonic Scanning is a production and laboratory device that enhances production, simplifies testing, improves productivity and increases productivity.Whether it' s detailed analysis in the failure analysis lab or inspection on the production line, Sonix provides an easy-to-use software solution.* WinIC Lab (detailed failure analysis tool)* WinIC Production (easy-to-use, new Production tools, designed for Production of large volumes of analysis)

公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。全自动薄片扫描显微镜、地质薄片显微镜、矿物分析显微镜、荧光显微镜、包裹体显微镜、生物显微镜、电动显微镜、超景深显微镜、体视显微镜、视频显微镜Mineral flakeScanning systemSD3000A矿物光薄片扫描系统公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。基于创立品牌和可持续发展的战略，麦特微愿与业内同行和广大用户一起成长，依托我们在产品资源和技术服务方面的突出优势，服务众多的客户在新技术、新方法、新仪器的应用中受益。品质优先：“质量产生效益，质量赢得市场”。产品质量在我们每一名麦特微人的心中。以质量诚信为荣，树立质量法制观念。“品质第一，客户至上”是我们的理念，让我们携手并进，共创繁荣。服务至上：真诚赢得信任，耐心获取理解；细节决定成败，服务创造价值。不只诚信服务，更是优良服务，不只优良服务，更要惊喜服务，不只惊喜服务，更要完美服务。科学技术：让科技行业带来我们的新生，让我们在科技中提升技术。依托科技与技术让技术更好的服务科技。让科技给技术提供原动力。主要优点1.扫描速度快，每秒3到4张照片的速度进行扫描。2.有全景预览相机，可以快速定位扫描区域，并可以多区域分割扫描。3.高精度Z轴，具备自动对焦功能，快速对焦，光栅闭环回馈，确保全片扫描无虚焦。4.进口核心偏光附件，确保偏光效果，效果不输于进口4大品牌。5.复消色差高分率物镜，确保颜色无偏差，显示更多细节。6.LED冷光源，使用寿命长，可在高亮度下持续工作。7.绿版扫描软件，可随意拷贝，不受限制。产品特点高质量的照明系统：极度明亮的大功率 LED 照明为明场、暗场、偏振光4500°K的恒定色温。它为所有亮度级提供了真正的彩色图像。由于 LED 寿命长、耗能低，因此节省能源的潜能极大。薄片（光片）数字化：将传统地质类薄片（光片）数字化，进行储存管理与分析，最终数据便于宏观与微观观察，脱离时间、空间限制。全自动高速成像：一键操作，自动扫描，搭载高速扫描台，高精度、高重复的Z轴对焦，内置光栅编码器，确保每个视场的对焦精度，图像质量优异。部件介绍本产品由扫描仪主机、控制箱、计算机、扫描及浏览软件组成。其中扫描仪主机的配置包括：显微镜 （含机架、物镜、目镜、光源等） 、电动 XY 平台、电动 Z 轴、相机、 物镜转换器、全局预览模块。 技术参数此段文字只用作占位符，您可以根据您的实际情况，添加、修改、替换此段文字的文本内容，语言描述尽量简洁精炼。文档由稻壳儿耗崽原创设计。主机 高钢性的T形镜体结构，极高的稳定性及系统灵活性。光学系统 光学系统无限远色差校正光学系统。三目镜筒 三档分光（100:0/50%-50%/0:100）,高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，视度可调。机架 低手位粗微同轴调焦机构。最大行程30mm 微调精度1微米。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。内置100-220V 宽电压系统, 双路电源输出，采用数字调光，具有光强强度显示、透射光切换开关, 内置透射光滤色镜。载物台 步进电机XY平台，行程：80 mm （X轴）x 60 mm （Y轴），最小细分：0,05 μm，单向重复定位精度：≤ 1um（测试标准ISO230-2）电动Z轴 分辨率： 0.02 um，内置光栅编码器，光电限位开关，单向重复精度≤ 0.1 μm聚光镜 阿贝聚光镜NA0.9 上下可升降 可调孔径光阑物镜 复消色差高分辨率APO物镜：10X/0.42 20X/0.75灯室 科勒式高亮度LED照明，透、反射通用，预定中心相机 快门模式：全局快门；Sony芯片，35.7fps@2448 × 2048；动态范围75dB； USB3.0（USB3.1 GEN1）数据传输图像处理器处理器：i7；内存：32G 硬盘：256SDD+2T；显卡：独立 4G；显示器： 27寸产品衍生业务本产品可以衍生的显微镜应用，显微清洁度，显微阴极发光，显微热台 该系统能自动识别、并判定杂质的三种类型：金属颗粒、非金属颗粒、纤维。 能自动计算金属颗粒、非金属颗粒的数量并按长度等级依据ISO16232进行归类和判定等级，和计算滤膜上纤维的总长度。 该系统还能自动测量并计算出单个颗粒的长度、宽度等尺寸。 具备能够通过自动调整偏振光的硬件支持功能准确区分金属和非金属颗粒，能够将金属和非金属颗粒区分正确以便有标准的数据依据进行判定阴极发光是由电子束轰击样品时产生的可见光，不同矿物由于含有不同的激活剂元素而产生不同的阴极发光，用来激发并产生阴极发光的装置叫做阴极发光装置，把这种阴极发光装置装在显微镜上则成为阴极发光显微镜。阴极发光显微镜可以广泛地应用于岩石、矿物的鉴定以及成岩作用的研究。 业务三 简称热台。根据不同用途，热台有多种型号。有可安装在偏光显微镜 ，金相显微镜的载物台 上的，有直接取代载物台的，一般用电阻丝作为加热元件，用热电偶 测量样品加热温度。温度范围由室温至750℃，高者达2000℃左右，低者达-55℃，可用于测定矿物中各种包裹体 的均匀化温度，以确定矿物 或矿床 形成时的温度和压力。用于双变油浸法 中测定矿物的折射率；也可测定矿物脱水时的温度；测定矿物多形结构的转变温度；观察加热时矿物光性的变化等产品拍摄样片

让检测工作更简单：用于日常检测和失效分析的自动化数码显微镜智能化设计、智能化工作流程、智能化输出蔡司工业显微镜代表着出色的光学质量和卓越性能，且为您的工作注入智能。应用案例分析：Smartzoom5是一款智能型数码显微镜，适用于工业领域的质量保证应用。设置快速简便、全自动化且配备有专业质量保证和控制组件。操作简单，即便是未接受过培训的人员也能快速上手，轻松获得出色的检测结果。蔡司Smartzoom 5 为工业质保注入智能。更简单、更智能、更高度集成智能化设计Smartzoom 5标配智能化质量保证和控制分析（QA/QC）技术。其智能化程度如何？它采用独一无二的专业 QA/QC 硬件设计，包含大量集成化组件。例如，光学系统还将变焦、全景相机和同轴照明技术集成至单个组件中。所有组件均置于一套轻质、便捷式系统内，易于组装和安装，无需专业知识或专用工具。Smartzoom 5 可以一直显示所有主要组件的状态信息，并能自动校正组件偏差。这就是智能化设计。智能化工作流程Smartzoom 5配备了一系列智能化功能及工作流程向导的应用软件，让您的检测工作更加顺畅。其高效程度如何？它能够通过宏记录和学习模式来逐步增强同一类型样品重复分析工作流程的效率。内置 QA/QC 图形用户界面结合手势控制，以支持从宏观到微观工作流程的无缝对接，轻松实现快速导航。Smartzoom 5 系统集上述功能于 一体，操作简单，即便是未接受过培训的人员也能快速上手。图像预设和增强功能是您获取最佳图像的好帮手，运用大量图像算法实现自动化测量。这就是智能化工作流程。智能化输出Smartzoom 5性能可靠稳定，能够为日常检测和失效分析任务提供快速且可重复的 QA/QC 测量。其可靠程度如何？由校准组件指导的工作流程让用户独立获取检测结果。此外，系统还配备了几项全自动化功能，在全面提升效率的同时实现了快速且可靠的分析。这就意味着，Smart-zoom 5 可以随时让您生成高品质的图像。简单标注图像，然后创建报告并导出至 Word 模板中。这就是智能化输出。洞察产品背后的科技智能化设计Smartzoom 5包含大量智能化集成组件。最少的线缆配置，且完全置入系统内以消除杂波干扰。光学系统是显微镜的核心，它集变焦、全景相机和同轴光照明技术于一体。系统装配仅需 1 分钟，且无需专业知识或专用工具。Smartzoom 5 可选用能达到 10× 至 1,011× 放大倍率的三款不同物镜。* 它们均配有卡口式镜头座，方便物镜快速更换及电源连接。通过触点为集成至物镜内的分段式LED 环形灯供电，并能够单独从物镜上查看几何校正值。它的智能化安全功能绝不容小觑。例如，当物镜接触到样品或手时，电机会自动停止，以保护操作人员和样品。智能化工作流程Smartzoom 5的集成 QA/QC 图形用户界面可以实现从宏观到微观工作流程的无缝对接，让快速向导更简单。因此，您可以使用独立的光学器件来记录整个样品表面，并立即查看样品的哪块区域需要执行显微检测。然后，在触摸屏或控制单元上使用手势移至相应位置。您还可以设置一个坐标系来执行后续组件检测。以清晰直观的结构显示记录的图像和使用的工具，从而让您对整个检测工作流程一目了然。此外，系统还会记录工作流程中的所有步骤，以方便之后重复执行显微分析操作。凭借自动特征探测功能，Smart-zoom 5 可以基于预设值的参数自动识别和测量样品。使用最佳图像或者如HDR、噪声过滤、锐化、图像稳定等实时图像增强功能，为您呈现最佳的演示效果。 智能化输出至于倾角和物镜，所有 Smartzoom 5 组件均是编码或电动控制的。因此，您能够使用软件实时监测每个组件的工作状态，并将此类信息与图像 一起保存。此外，Smartzoom 5 还配备用户管理系统，通过控制每位操作人员的权限来确保结果可重复。标注图像，然后创建报告并导出至Word 模板中。技术参数

Bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射InSight AFP是世上性能*高、行业首-选的先进技术节点CMP轮廓和蚀刻深度计量系统。将其现代尖-端扫描仪与固有的稳定电容式压力计和精确的空气轴承定位系统相结合，可以在模具的活动区域进行非破坏性的直接测量。 0.3纳米长期稳定提供NIST可追踪的参考计量，并在一年内保持测量的稳定性260-340个站点/小时内联应用程序的*高生产效率减少MAM时间和优化的晶圆处理可保持高达50个晶圆/小时的吞吐量高达36000微米/秒仿形速度通过热点识别提供高分辨率3D特征*高分辨率，尖-端寿命长InSight AFP的TrueSense技术，具有原子力分析器经验证的长扫描能力。亚微米特征的蚀刻深度、凹陷和侵蚀可以完全自动化地监控，具有无与伦比的可重复性，无需依赖测试键或模型。-----蚀刻和CMP晶片的全自动在线过程控制Insight AFP结合了原子力显微镜的新创新，包括Bruker的专有CDMode，用于表征侧壁特征和粗糙度。CDmode减少了所需的横截面数量，实现了显著的成本节约。此外，AFP数据提供了无法通过其他技术获得的直接侧壁粗糙度测量。自动缺陷审查和分类当今集成电路的器件缺陷比以往任何时候都小，需要快速解决HVM需求。InSight AFP提供了有关半导体晶片和PHTOmask缺陷的快速、可操作的地形和材料信息，使制造商能够快速识别缺陷源并消除其对生产的影响。100倍高分辨率配准光学元件和AFM全局对准可使图案化晶圆和掩模的原始图像放置精度低于±250 nm，确保感兴趣的缺陷是测量的缺陷。该系统与KLARITY和大多数其他YMS系统完全兼容。3D模具映射和HyperMap&trade 分析速度高达36000μm/sec，能够对33mm x 26mm及更大的闪光场进行快速、完整的3D CMP后表征和检查。超2纳米的平面外运动，实现真正的大规模地形和全自动抛光后热点检测。在本例中，在24小时内以1微米x 1微米像素大小获得了完整的标准26毫米x 33毫米十字线场扫描。然后可以使用Bruker的热点检测和审查功能自动检测和重新扫描热点。售后服务Bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP——紧凑型高性能剖面仪和AFMBruker的InSight CAP自动原子力轮廓仪是专门为半导体制造商和供应商设计的CMP和蚀刻计量组合平台。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。 0.5 nm长期动态再现性用于关键工艺决策的直接、稳定的在线计量 亚纳米CMP自动计量的灵敏度，专用碟形和腐蚀计量包，用于无与伦比的过程控制和开发 20nm仿形平面度大于26mm针对关键EUV光刻技术开发和过程控制的高精度CMP后平面度计量 在线计量结果以分钟为单位，适用于蚀刻和CMP的技术开发和过程控制在高级技术节点，多模式光刻技术对CMP提出了纳米级的过程控制要求，以满足聚焦深度需求。InSight CAP围绕新一代AFM扫描仪构建，在65μm X/Y扫描范围内提供改进的平坦度，小于10纳米。该系统的NanoScopeV 64位AFM控制器提供了5倍更快的啮合性能和5倍更快的调整速度，以提高生产效率，所有这些都提高了可靠性。其DT自适应扫描模式也有助于加快扫描速度和改进计量。InSight CAP高分辨率剖面仪结合了多项先进功能，可在宏观凹陷和侵蚀中实现埃级精度测量。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。售后服

仪器简介：Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的，无需制备样品。此外，机械运动平台允许批量的，预编程测量，使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域，用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单，是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜，真正非接触式原子力显微镜，横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。 ● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range ● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。 ● PZT/Voice Coil双模式技术AFM ● 全自动运动平台，马达驱动 ● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像 ● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ● 可以进行纳米压痕和划痕实验 ● 专利光学系统， XY闭环扫描技术 ● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点：● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台，马达驱动● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统， XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发

DM6 B 全自动研究级显微镜全自动万能生物显微镜。是生物医学研究和临床实验应用的理想之选，显著提升工作效率通过自动化功能和便捷的软件简化工作流程利用 19-mm sCMOS 摄像头成像端口轻松摄取画质媲美出版物的图像LAS X Navigator - 显微成像的导航系统: 快速生成样品全景图，瞬间识别目标所在点!灵活选择功能多样的附件，如卤素或 LED 照明花更少时间看到更多内容图像摄取时间缩短，意味着您有更多的时间放在核心内容上。下面仅罗列提高您日常工作效率的新产品功能：充分利用 sCMOS 摄像头的优势，如Leica DFC9000！19 mm 视场摄像头端口良好匹配通用 sCMOS 传感器的尺寸。快速地以高分辨率查看载玻片。选择适合您应用目的的物镜 – 有 300 多种卓越的光学器件可供选择，如可选用独特的 1.25 倍概览物镜，实现出色的概览效果。显微镜操作智能自动化，节省更多精力投入到试验中！让您专注于想要实现的结果，不再为实现的过程大伤脑筋。智能自动化的作用就在于此：只需按下一个按钮就能完成多个步骤，显著简化您的工作流程，节省您宝贵的时间，将更多精力投入到试验中，而不是显微镜上。按下一个按钮即可更改对比度 – 一切所需轻松搞定任意选择卤素或 LED 照明，轻松摄取画质达到出版要求的图像使用照明（光强）和对比度管理功能简化您的工作 – 例如，用于荧光图像的荧光光强管理系统 (FIM) 和荧光激发管理系统 (ExMan)，或用于Koehler 图像的 Koehler 照明管理。

产品卖点：自主研发设计的玻片扫描影像分析系统，具有灵活的物镜配置、全自动上载玻片、超大尺寸扫描；可以将数万张病理切片图片无缝隙拼接成一张完整的切片，智能生成一张全视野的数字化切片，可以数字化、完整、储存玻片的信息。专家可以从一张宏观图片浏览，然后放大到任意位置任意倍率，观察切片细节。快速自动对焦技术 大范围焦平面拟合多层图像融合技术，获得一张清晰图像真实双物镜，40倍APO物镜超高图像质量自动识别玻片类型，H&E染色、免疫组化、细胞学切片无缝拼接技术优秀拼接相邻视野图像全景图像可放大任意部位，查看细节图像不限距离，随时分享交流 购置原因：1. 将科研工作者从传统的显微镜下解放出来。不用长时间在显微镜下观察玻璃切片，减少眼睛的疲劳，损伤。2. 提高工作效率。相较于传统的显微镜的局部观察，多次镜头切换，数字切片在显示器上进行全视野观察，任意放大缩小需要的部位，大大提高工作效率。3. 样品的保护，信息高效地整理存放。传统的玻璃切片容易破碎、出现褪色以及需要大量空间存放等问题。数字切片通过计算机网络的储存可以保持切片信息的完整性，以及节省大量的存放空间。4. 方便信息的共享、传递、交流、教学等。数字切片可以随时随地进行共享传递交流，不受时间空间的局限性。

仪器简介：高精度扫描载物台精确定位 自动调焦装置精确的z-轴方向定位 闭合环路系统 高精度调焦 触控屏关键信息一览无遗 控制面板可自由放置技术参数：光学系统：ICCS 光学系统 镜体：FEM 设计，ACR 位置编码 1、ICCS物镜：5X、10X、20X、50X、100X2、目镜：10X3、物镜转盘：研究级7孔明暗场自动物镜转盘 4、光 源：12V100W卤素灯，智能化光路管理器，光强色温自动可调 5、光学附件：目镜测微尺，台尺，各种滤色片 6、Z轴聚焦：自动聚焦 7、数字化平台：可配数字相机，计算机，图像分析软件 8、可配热台 9、可配自动扫描台，实现多视场自动扫描。 10、可配激光共聚焦附件（蔡司独有技术）主要特点： 全新一代全自动材料显微镜Axio Imager M2m是蔡司获得良好口碑的Axio Imager M1m产品的全新升级。通过AxioVision软件或自动控制显微镜动作的全自动系统。操作菜单和所采集的图像及显微镜功能控制同界面，即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换（明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法）、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆，操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位，可实现多视野的拼接和观察，再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。脱机可电动、手动操作。计算机通过AxioVision软件自动控制显微镜动作的全自动系统，操作菜单和所采集的图象及显微镜功能控制同界面，即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换（明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法）、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆，操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位可实现多视野的拼接和观察，再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。

染色服务明场IHC、HE、MASSON、ISH等3-5色免疫荧光染色5-10色TSA染色多玛克荧光染色服务采用全新的荧光信号放大技术（TSA），可成倍的提升荧光信号，减少多轮标记的占位效应。超多色荧光选择，一张样本可完成7-10色多重免疫荧光染色，亦可对超大组织切片进行多重染色还可承接大于10色以上多色定制化染色、扫描、定量分析服务全景切片扫描服务样本类型:标准玻片、大样本玻片（2-8倍大标准玻片最大尺寸可达208*76mm）、TMA、细胞微孔板、细胞涂片、细胞爬片等2.5/5/10/20/40/63Oil/100Oil 物镜扫描Z轴 单层~41层层扫3~10色多色免疫荧光全景扫描为了解决组织自发荧光剂荧光素间串色的问题，多玛克全景切片扫描采用奥地利TissueGnostics公司的TissueFAXS Spectra全光谱扫描和光谱拆分技术，实现更多色荧光样本的扫描、拆分及成像。可进行大样本的全景切片扫描服务，样本尺寸：8倍(76X208mm)/4倍(76X104mm)/2倍(76X52mm)/单倍(76X26mm)标准玻片样本。组织全景图像扫描可有效的得到病灶/细胞/蛋白/分子等标志物在组织全景切片中的空间原位的信息。多色全景成像数据分析服务 服务特色 1、全景组织分析单细胞核、质、膜准确识别18标准参数及大约18种定制化的需求参数，精准定量定性采用类流式方法分析数据。2、专业的分析多层面数据挖掘单细胞的细胞间相互关系组织结构识别定量，强大的定量分析能力可实现在组织层面对单个细胞、特定组织结构、不同组织区域、细胞分布等多个层面进行准确的识别、定量、定性、定位分析。3、采用流式细胞术的动态散点图数据呈现方式，具有Cut-off线分析、Gating和Input gate等任意形式多重设门圈选/精准筛选单细胞的定量分析。优势：1.多重免疫荧光分析，可做到9标10色。2.单细胞精准识别，可将聚集细胞清楚分开识别3.阳性信号的识别，识别有效的细胞质形态，4.正反向回溯来反复校验单细胞和阳性信号识别的准确性5.可做到微米级别精度对微环境中免疫细胞的量化分析，任意设置区域6.可以做细胞社会学，通过细胞位置分布探索功能作用，反应同类细胞的相互距离与聚集程度 1.染色酪酰胺信号放大(TSA，Tyramide signal amplification)技术是一类利用辣根过氧化酶（HRP）对靶蛋白进行标记的酶学检测方法，类似常规免疫组化的DAB显色方法 ，TSA技术同样采用HRP标记的二抗，同样有对应的“显色”步骤（HRP催化加入反应体系的酪胺荧光素底物，产生活化荧光底物，活化底物可与抗原上的酪氨酸等残基共价结合，使样品上稳定的共价结合酪胺荧光素。之后用热修复法洗去非共价结合的一抗-二抗-HRP复合物，重复下一种一抗-hrp二抗来第二轮孵育，换另一种酪胺荧光素底物，如此往复就可实现多重标记。目前本公司可以实现9标10色 2.扫描搭载TissueFAXS Spectra 全自动多标记成像系统，作为细胞和颜色通道染色强度定量工具，在低倍数预览扫描后，样本会被自动或用户定义地识别，并自动扫描！与传统玻片扫描仪不同，TissueFAXS允许您使用多个物镜和分辨率（最多7种），而不只是同一分辨率下的数字放大。甚至可以使用100x油浸物镜！ 高端显微镜完全自动化，支持自动化工作流程！通过逐个视野获取图像，对于荧光样本还支持逐个通道获取，系统会生成大型概览图像，随后进行复杂的图像分析！系统始终需要核染色，因为我们利用来自细胞核的信息来定位每个单独细胞、其细胞核和细胞质！数据输出类似于流式细胞术，包括图表和详细的统计数据。全景多光谱成像设备：TissueFAXS Spectra 全自动多标记成像系统3.数据分析专业的数据分析人员与先进的SQ数据分析软件紧密合作，可以为客户提供高度标准化和定制化的数据分析服务。这些服务能够满足客户在多种维度上的需求，包括图像呈现、细胞定量、空间分析以及大数据挖掘等。通过结合专业知识和技术工具，分析人员可以为客户生成精确且有意义的数据解读。这种协作不仅提高了数据处理的效率和质量，还能够根据客户的特定需求定制分析流程，从而提供更具针对性的解决方案。这种灵活性和高效性使得数据分析能够更好地支持客户的决策与研究目标。基础分析：识别细胞核： 识别marker： 正反向回溯： 双阳、多阳、阴阳组合： 高阶分析：以组织为中心classifier识别TUMOR： classifier识别TUMOR区有效细胞核：TUMOR区CD68+ -组织内外细胞统计：TLS外扩30/70μmCD68-组织外环状区域细胞统计：距离TLS 0-30μm环状区域距离TLS 30-70μm环状区域 CD68+信号展示高阶分析：以细胞为中心距细胞一定范围内另一类细胞统计：细胞自聚集：统计线段数量 聚集指数=线段数量/阳性细胞数细胞间连线：高阶分析之组织与组织、细胞与细胞进行组合分析：黄色区域为TLS外0-30μm环状区域灰色区域为TLS外30-70μm环状区域 环状区域内阳性细胞数据均可统计（示意中为TLS外30-70μm区域内CD68阳性细胞10μm范围内自聚集连线）分析结果：将以数据分析报告形式展示

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。特点1. 自动化功能高度集成自动化功能追求高效率检测，降低检测中的人为操作误差2. 可靠性排除机械原因造成的误差，大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

类器官数字切片是将病理切片标本快速扫描成高分辨率电子图片，即将物质的玻片标本快速数字化的过程。 其本质是实现标准化、高清晰、全信息的图像采集 方便阅片——使阅片脱离显微镜的限制，鼠标操作可以快速选择切片任意部位观察，不受显微镜下视 野限制，其结构完整，视野全面，分辨率高，图片清晰，色彩饱和，图像不失真 切片保存——通过分析和统计软件将同类的病理切片数字影像分析和分类，查找和管理更方便与高效 便捷。避免了传统切片在制作和使用过程中容易破碎、褪色，对一些珍贵标本转变为数字切片后可以 长期保存，不易丢失。科研分析——保证图像质量的一致性，确保每次分析数据的准确性

数字切片是将病理切片标本快速扫描成高分辨率电子图片，即将物质的玻片标本快速数字化的过程。 其本质是实现标准化、高清晰、全信息的图像采集 方便阅片——使阅片脱离显微镜的限制，鼠标操作可以快速选择切片任意部位观察，不受显微镜下视 野限制，其结构完整，视野全面，分辨率高，图片清晰，色彩饱和，图像不失真 切片保存——通过分析和统计软件将同类的病理切片数字影像分析和分类，查找和管理更方便与高效 便捷。避免了传统切片在制作和使用过程中容易破碎、褪色，对一些珍贵标本转变为数字切片后可以 长期保存，不易丢失。科研分析——保证图像质量的一致性，确保每次分析数据的准确性

高通量(场发射）扫描电子显微镜 NavigatorSEM-100NavigatorSEM-100高通量场发射扫描电子显微镜，专为跨尺度大规模样品SEM表征分析而设计，广泛应用于科研及工业等领域。其自动化超高速的纳米成像技术，为您提供超凡的成像体验。-产品介绍聚束科技独立研发并拥有自主知识产权的NavigatorSEM-100高通量（场发射）扫描电子显微镜，通过对成像技术、运动平台、电路控制及智能算法的系统化创新设计，实现了全球最高通量成像，成像速度可达到传统电镜的数十倍以上。其全部采用直接电子探测器的技术方案，成功克服了传统SEM技术在速度、精度和样品损伤等方面的局限性，颠覆性地将扫描电镜从传统意义上的纳米“照相机”提升为纳米“摄像机”。同时操作简单，全自动一键换样，7*24小时无人值守运行，全面提升科研效率。我们将成熟的工业化高通量电镜检测技术应用在生命科学、材料研究、半导体工业、地质资源等领域。尤其在神经生物学3D重构、材料大面积表征分析、半导体反向工程、纳米技术分析等应用领域有显著优势。-产品优势&bull 综合成像速度＞10倍传统电镜&bull 全球最快二次电子与背散射电子双通道同步成像 &bull 海量SEM图像快速生成数据分析报告&bull 从百毫米到纳米级的跨尺度材料表征-产品特点极速成像通过自主研发的硬件和软件设计，实现全球最快二次电子与背散射电子双通道同步成像：视频级高分辨成像。高清视频级摄像帧率，使其具有实时观测样品动态变化的能力。高成像质量独特的浸没式电磁复合物镜系统，有效地减小低落点能量下物镜的象差，达到极高分辨能力。与物镜场复合的静电式扫描偏转系统，相比于传统电镜的磁偏转系统，极大地减小图像边沿畸变，可获得兼具高分辨率和大视野的完美图像In-Lens SE与BSE半导体直接电子探测器，双通道同时高速成像，兼具高灵敏度和高信号电子收集效率，即使在nA级别的大束流条件仍可获得极佳的图像衬度和信噪比。配备主动补偿系统（激光干涉振动补偿、电磁干扰主动补偿），消除环境因素干扰，保证成像高分辨率高质量。跨尺度大规模成像超高速扫描成像能力，结合全自动聚焦跟踪系统和A.I.图像处理算法，实现对超大区域样品进行高分辨率全自动不间断矩阵式扫描，并自动拼接获得大尺寸纳米级分辨率的全景地图式成像，使之具备了跨尺度信息融合能力，可实现从纳米级到毫米级的跨尺度材料表征。智能分析大数据智能分析 ，海量SEM图像快速生成数据分析报告；智能图像处理，定制化图像测量、统计、分析。操作简单全自动样品载入与导航，一键完成样品更换，操作便捷，节省工时。大场光学成像导航与SEM成像无缝衔接，对指定区域快速准确实现定位和观测。7*24小时全自动化无人值守运行能力。

Park FX40纳米科学研发界应运而生的的新型全自动原子力显微镜该产品可以通过多样化的应用程序，不费吹灰之力即可获得敏锐、清晰、高分辨率的扫描图像。通过前所未有的速度和精度，推动您研发进步并助力您的科学新发现——FX40将人工智能运用得淋漓尽致，全自动化的过程能实现用户纳米级显微镜的需求。额外的轴向自动激光校准、早期预警系统和故障自动保险、同步化信息提取和存储，让即便是未经原子力显微镜专业培训的研究科学家们也可以轻松快速地获得最满意的扫描结果。纳米级的显微镜 硬核级的科技进步- 鼎力相助时代前沿的科技研发- 研究型AFM中首次采用的双摄像头系统- 能全自动化实时更新海量数据实现全自动技术的智能原子力显微镜Park FX只需鼠标一键操作，就能实现自动换针，以避免探针被污染或因操作不当而导致的探针损坏等问题。用户还可以根据提示，选择不同的探针类型，应用类型和使用信息等。 通过自动换针方式，用户可轻松安全地进行自动换针。利用装有8个针盒和磁控机制的便利性，用户无需操作便可安装探针。探针识别摄像头可以加载探针芯片载体上的二维码，提取并显示每个可用探针的探针类型，应用类型和使用信息等全部相关信息。自动激光校准功能将SLD光定位到悬臂梁的适当位置，并进一步分别优化PSPD的垂直和横向位置。用户只需简单点击，移动X,Y和Z轴便可得到毫不失真的高清扫描图。 双摄像头系统自动校准探针和样品位置 样品摄像头样品台上最多可以同时放置四个不同量级的样品。即便如此，样品摄像头也可以毫不费力地定位到相关位置进行精确扫描。 探针识别摄像头探针识别系统可以帮助用户搜索相关探针的全部信息（包括探针类型，应用类型和使用信息等）使研究工作事半功倍。只需一键便可轻松选择您所需要的探针。智能自动化FX40拥有智能视觉系统，能自动检测探针是否正确定位。软件界面通过定位加载探针的位置至纳米级别，并在必要时生成错误状态报告，同时将这些数据与成千上万个可能发生的模拟问题进行比较，以此不断更新升级软件。 原子力显微镜中最快速精确的真正非接触模式对于针尖样品，非接触模式展现了其强大的控制力，距离达到了亚纳米级别。Park FX40拥有快速且精确的非接触模式。环境传感器智能扫描仪显示并储存传感器的测量。传感器主要测量基本的环境条件，如温度，湿度，水平和振动。由此帮助用户在不同环境条件下扫描图像，为您筛选环境指标。 安全的探针安装系统用户可以自选手动或自动探针安装功能，同时内置的智能系统会自动检测并在用户错误安装探针时发出警告，从而有效提高测量准确度。极好的AFM体验——专为FX设计的Park OS SmartScan简易单击成像设置自动探针检测，自动激光校准简要的教学动画分分钟让您学会如何进行样品放置以及仪器成像设置1. 准确定位定位样品位置AFM自动执行悬臂的频率性扫描，接近样品的Z移动台, 然后自动聚焦，帮助您扫描任何您想要的区域。 2. 高清成像自动识别探针完成定位之后，系统会设置理想的参数，连接悬臂并扫描样品，直到为您扫出高解析度高分辨率的图像。

高通量(场发射）扫描电子显微镜 NavigatorSEM-100B PLUSNavigatorSEM-100B PLUS高通量场发射扫描电子显微镜，专为跨尺度大规模样品SEM表征分析而设计，广泛应用于科研及工业等领域。其自动化超高速的纳米成像技术，为您提供超凡的成像体验。-产品介绍聚束科技独立研发并拥有自主知识产权的NavigatorSEM-100B PLUS高通量（场发射）扫描电子显微镜，通过对成像技术、运动平台、电路控制及智能算法的系统化创新设计，实现了全球最高通量成像，成像速度可达到传统电镜的数十倍以上。其全部采用直接电子探测器的技术方案，成功克服了传统SEM技术在速度、精度和样品损伤等方面的局限性，颠覆性地将扫描电镜从传统意义上的纳米“照相机”提升为纳米“摄像机”。同时操作简单，全自动一键换样，7*24小时无人值守运行，全面提升科研效率。新机型在硬件部分模组提升较大，配备新型电子枪，电子束落点能量范围可达30keV，涵盖绝大多数扫描电镜落点能量需求范围。分辨率可达1.0nm (15keV下), 且在1-3kV低加速电压下即可获得1.5nm高分辨率的同时，仍能保持1‰以下的低图像畸变。我们将成熟的工业化高通量电镜检测技术应用在生命科学、材料研究、半导体工业、地质资源等领域。尤其在神经生物学3D重构、材料大面积表征分析、半导体反向工程、纳米技术分析等应用领域有显著优势。-产品优势&bull 综合成像速度＞10倍传统电镜&bull 该系统实现二次电子和背散射电子的双通道同步100M/s级超高速成像&bull 海量SEM图像快速生成数据分析报告&bull 从百毫米到纳米级的跨尺度材料表征-产品特点极速成像通过自主研发的硬件和软件设计，实现全球最快二次电子与背散射电子双通道同步成像：视频级高分辨成像。高清视频级摄像帧率，使其具有实时观测样品动态变化的能力。高成像质量独特的浸没式电磁复合物镜系统，有效地减小低落点能量下物镜的象差，达到极高分辨能力。与物镜场复合的静电式扫描偏转系统，相比于传统电镜的磁偏转系统，极大地减小图像边沿畸变，可获得兼具高分辨率和大视野的完美图像In-Lens SE与BSE半导体直接电子探测器，双通道同时高速成像，兼具高灵敏度和高信号电子收集效率，即使在nA级别的大束流条件仍可获得极佳的图像衬度和信噪比。配备主动补偿系统（激光干涉振动补偿、电磁干扰主动补偿），消除环境因素干扰，保证成像高分辨率高质量。跨尺度大规模成像超高速扫描成像能力，结合全自动聚焦跟踪系统和A.I.图像处理算法，实现对超大区域样品进行高分辨率全自动不间断矩阵式扫描，并自动拼接获得大尺寸纳米级分辨率的全景地图式成像，使之具备了跨尺度信息融合能力，可实现从纳米级到毫米级的跨尺度材料表征。智能分析大数据智能分析 ，海量SEM图像快速生成数据分析报告；智能图像处理，定制化图像测量、统计、分析。操作简单全自动样品载入与导航，一键完成样品更换，操作便捷，节省工时。大场光学成像导航与SEM成像无缝衔接，对指定区域快速准确实现定位和观测。7*24小时全自动化无人值守运行能力。

研究级荧光数字切片全景扫描仪 型 号： FLS-PRO4 产品概述 FLS-PRO4研究级数字切片全景扫描仪搭载磁悬浮电动扫描平台，使用LogiScanner扫描软件，可实现一键式操作，自动对焦、自动扫描，图像质量优异。FLS-PRO4具有每批次全自动扫描多片荧光组织切片的功能，可应用于形态学教学、临床诊断、科学研究及AI人工智能领域等。 应用领域可用于免疫荧光、荧光原位杂交（FISH）、循环肿瘤细胞检测（CTC）、结核杆菌筛查、真菌、支原体、微生物、叶绿体等科研与临床样品的形态学分析、病理分析，及微生物、动植物观察与研究。 系统参数自动扫片数量：≥4片物镜 20X/40X荧光专用物镜荧光通道：多通道可选图像分辨率 0.29 um / pixel扫描时间 90 秒 (15 mm * 15 mm)对焦方式 自动 / 手工扫描模式 标准 / Z-Stack预览相机 200万像素扫描相机 500万像素光源 金属卤化物灯 / 汞灯 / LED 推荐工作站配置CPU Intel Core i9内存 DDR4 16G硬盘 7200rpm 1TB显示器 24寸 研究级荧光数字切片全景扫描仪 型 号： FLS-PRO4 产品概述 FLS-PRO8研究级荧光数字切片全景扫描仪搭载磁悬浮电动扫描平台，使用LogiScanner扫描软件，可实现一键式操作，自动对焦、自动扫描，图像质量优异。FLS-PRO8具有每批次全自动扫描8片荧光组织切片的功能，可应用于形态学教学、临床诊断、科学研究及AI人工智能领域等。 应用领域可用于免疫荧光、荧光原位杂交（FISH）、循环肿瘤细胞检测（CTC）、结核杆菌筛查、真菌、支原体、微生物、叶绿体等科研与临床样品的形态学分析、病理分析，及微生物、动植物观察与研究。自动扫片数量：≥8片物镜 20X/40X荧光专用物镜荧光通道：多通道可选图像分辨率 0.29 um / pixel扫描时间 90 秒 (15 mm * 15 mm)对焦方式 自动 / 手工扫描模式 标准 / Z-Stack预览相机 200万像素扫描相机 500万像素光源 金属卤化物灯 / 汞灯 / LED 推荐工作站配置CPU Intel Core i9内存 DDR4 16G硬盘 7200rpm 1TB显示器 24寸

简单介绍：该产品可快速对焦拍摄，确保每一张照片清晰度，多用于浮游生物样品高倍显微图像采集。详情介绍：藻类全自动显微扫描系统麦特微薄片扫描，水质检测，AI自动识别扫描显微镜，扫描薄片显微镜，生物扫描显微镜，生物细胞检测，水质检测显微镜，水厂分析显微镜，AI识别扫描显微镜1. 显微镜本体：亮度可调明场LED，成像光路，非成品显微镜改造2. 载物台：位移分辨率0.1μm，重复定位精度±5μm3. Z轴：位移分辨率0.1μm，重复定位精度±1μm4. 五孔物镜切换器，配平场半复消色差物镜20X 0.5N.A和40X 0.75N.A5. 扫描模式：面阵连续飞行扫描6. 配套扫描软件：全局扫描拼接，全局景深融合，单视野景深融合，单视野实时预览，切片全局预览7. 扫描速度：30s@20X，90s@40X，15*15mm范围8. 提供C++、C#、Python、LabView等多种语言开发包。9. 原始数据生成，可选择保存Tiff/SVS等通用格式 10. *大扫描片数：611. 指定视野个数扫描/景深融合扫描水藻、海藻、水处理、污水处理、扫描显微镜、显微镜、藻类、水草等扫描

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。特点 1. 自动化功能 高度集成自动化功能追求高效率检测 降低检测中的人为操作误差 ? 4英寸自动马达台 自动更换悬臂功能2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描 采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了最新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量 普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。 样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构) * 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。 SEM-AFM在同一视野观察实例（样品：石墨烯/SiO2） 上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。 与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

单片数字切片全景扫描仪 型 号：BFS-STD1 产品概述 BFS-STD1单片数字切片全景扫描仪使用LogiScanner扫描软件，可实现一键式操作，自动对焦、自动扫描，图像质量优异。可应用于形态学教学、临床诊断、远程病理、科学研究及AI人工智能领域等。 应用领域可用于染色体、血细胞、精子质量分析、尿沉渣、便常规、前列腺、免疫组化、妇科白带、穿刺细胞、胸腹水、脑髓液等所有科研与临床标本的形态学分析、病理分析，及微生物、动植物观察与研究。 系统参数物镜 20X图像分辨率 0.29 um / pixel扫描时间 120 秒 (15 mm * 15 mm)对焦方式 自动 / 手工扫描模式 标准 / Z-Stack预览相机 200万像素扫描相机 230万像素光源 3W / 10W LED 推荐电脑配置CPU Intel Core i7内存 DDR4 16G硬盘 7200rpm 1TB显示器 24寸 研究级数字切片全景扫描仪 型 号： BFS-PRO4 产品概述 BFS-PRO4研究级数字切片全景扫描仪搭载磁悬浮电动扫描平台，使用LogiScanner扫描软件，可实现一键式操作，自动对焦、自动扫描，图像质量优异。BFS-PRO4具有每批次全自动扫描多片组织切片的功能可应用于形态学教学、临床诊断、科学研究及AI人工智能领域等。 应用领域可用于染色体、血细胞、精子质量分析、尿沉渣、便常规、前列腺、免疫组化、妇科白带、穿刺细胞、胸腹水、脑髓液等所有科研与临床标本的形态学分析、病理分析，及微生物、动植物观察与研究。 系统参数物镜：APO 20X / 0.75图像分辨率：0.27 um / pixel扫描时间：≤50 秒 (15 mm * 15 mm)对焦方式：自动 / 手动扫描模式：标准 / Z-Stack预览相机：200万像素扫描相机：500万像素光源：大功率LED 推荐电脑配置CPU：Intel Core i7内存：DDR4 16G硬盘：7200rpm 1TB显示器：24寸

SD-3000A全自动显微图像扫描系统技术参数 *1.研究级电动型正置显微镜，XYZ三轴电动，平行无限远复消色差校准光路，大限度地消除杂散光等干扰因素,提供高衬度、高分辩率的图像质量2.观察方式：具备明场、暗场、偏光观察方式。3.偏光观察：专业偏光观察，起偏镜可至少360度旋转检偏。4.放大倍数：50X~500X。5.光源：采用科勒式高亮度LED照明，色温（颜色）恒定于4500K，无闪烁。使用寿命超过30000小时。光源由主机直接供电，无外置电源，保证显微镜的一体性。*6．三目观察筒：具备三档分光（100:0/50%-50%/0:100）,避免采集图像的干扰，采集的图像亮度高。目镜筒瞳距55~75mm可调。观察筒视场数不低于25。*7．目镜10x一对：超宽视野目镜，视场数 25，目镜屈光度可调节，适合不同视力人员观察。*8.物镜：5X、10X、20X、50X，APO复消色差物镜。*9．载物台：电动扫描平台，步进电机驱动，X行程不小于75mm，Y行程不小于50mm，分辨率： 0.05 um。*10. 电动Z轴：配备光栅编码器，确保位置准确，分辨率 0.02 um，具有光电限位开关。*11. 数码摄像头：高帧率相机：快门模式：：Sony芯片，全局快门；35.7fps@2448 × 2048动态范围75dB； USB3.0（USB3.1 GEN1）数据传输。*12. 扫描软件：拼图增强模块具备高速扫描拼图功能，描整个标本或选择一个特定的感兴趣区域，然后对其进行高速扫描，然后组合形成一个无缝的大视野图像，可以在任何缩放级别快速查看，此外，您可以使用简单直观的“浏览”工具缩放、平移和处理整个数字化的大视野图像。13. 控制器：XYZ三轴一体化手控盒，可4挡调速，可扩展第4轴功能。14.计算机：DELL商用台式机，配置不低于：i7处理器 16G内存 256SDD+2T 4G独显 27寸显示

数字扫描显微镜OSTEOIMAGER采用2/3英寸制冷CCD，14bit输出；采用标准精度达20nm的XYZ三轴电动平台；创建0.5μm解析度的1000万像素图片；可设置固定时间间隔自动采集图像；可自动对焦自动校正焦距已获取最优图像；可扫描明场、暗场、荧光、偏振光图像；可在4X、10X、20X、40X实时放大倍率下进行自动化扫描；用户可根据扫描需求，利用配套软件全自动切换物镜镜头；最多可一次扫描4张病理切片的8个样本。可以扫描多种规格的病理切片。可扫描培养皿和96孔板；多种格式的图像输出保存。还可保存为内含矫正信息的BIF图像，直接用于分析研究，无需额外校正设置；支持图像的实时分析，同时查看镜下组织切片，提高研究工作的效率。

国仪量子高速扫描电子显微镜HEM6000HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术，实现了高速图像采集和成像，同时保证了纳米级分辨率。面向应用场景的自动化操作流程设计，使得大面积的高分辨率图像采集工作更高效、更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。 产品优势 高速自动化 全自动上下样流程和采图作业，综合成像速度优于常规场发射扫描电镜的5倍大场低畸变跟随扫描场动态变化的光轴，实现了更低的场边缘畸变低压高分辨 样品台减速技术，实现低落点电压，同时保证高分辨率应用领域应用案例大规模成像规格书 关键参数 分辨率 1.3nm @ 3 kV，SE；2.2 nm @ 1 kV，SE； 1.9nm @ 3 kV，BSE；3.3 nm @ 1 kV，BSE；加速电压 100 V~6 kV(减速模式) 6 kV~30 kV(非减速模式) 放大倍率 66~1,000,000x 电子枪类型 高亮度肖特基场发射电子枪 物镜类型 浸没式电磁复合物镜 样品装载系统 真空系统 全自动控制，无油真空系统 样品监控 样品仓监控水平摄像头 ； 换样仓监控垂直摄像头样品最大尺寸 直径4英寸 样品台 类型 电机驱动3轴样品台（*可选配压电驱动样品台） 行程 X、Y轴：110mm；Z轴：28mm；重复定位精度 X轴：±0.6 um；Y轴：±0.3 um 换样方式 全自动控制 换样时间 ＜15 min 换样仓清洗 全自动控制等离子清洗系统 图像采集与处理 驻点时间 10 ns/pixel 图像采集速度 2*100 M pixel/s 图像大小 8K*8K 探测器和扩展 标配 镜筒内混合电子探测器 选配低角度背散射电子探测器 镜筒内高角度背散射电子探测器 压电驱动样品台 高分辨大场模式样品仓等离子清洗系统 6英寸样品装载系统主动减震台 AI降噪；大图拼接；三维重构 软件 语言 中文 操作系统 Windows 导航 光学导航、手势快捷导航 自动功能 自动样品识别、自动选区拍摄、自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散服务扫描电子显微镜实验室 我们在合肥、无锡、广州和上海设有扫描电子显微镜实验室，实验室配备多名电镜技术专家和高级电镜应用工程师，提供包含电 镜应用技术开发、样品拍摄在内的多种服务。主要应用领域有锂电池、新型纳米材料、半导体材料、矿物冶金、地质勘探、生物医药等。 实验室依托国仪量子电镜产品，在电镜应用领域开展具有自主知识产权的科研项目，致力于实现科学研究和人才培养的目标。与此同时，实验室也为有电镜应用需求的科研院所、大专院校、企事业单位提供优质的服务。

金相显微镜 徕卡DM4 M和DM6 M您是否需要对许多样品以及材料科学和分析中的相似特征进行成像，测量和分析？无论是显微镜新手还是专业人士，徕卡DM4 M和徕卡DM6 M都是适合的工业显微镜。使用Leica DM4 M进行手动例行检查使用Leica DM6 M进行全自动材料分析对于每种样品类型，您可以轻松调用以前的显微镜设置，并通过独特的存储和调用软件功能立即重现成像参数。一键式智能自动化使您的重复工作变得容易。每次都可以使用显微镜的记忆功能来减少调整时间，改善工作流程并获得出色的成像结果。 在诸如钢夹杂物等级，颗粒分析，相或晶粒分析等应用中，重现性至关重要。您可以依靠Leica DM4 M和Leica DM6 M显微镜系统提供可重复的结果。节省宝贵的时间：借助照明管理器和对比度管理器，显微镜可以自动识别所使用的对比技术和物镜，准确地打开和关闭光圈和视场光阑，并适应光强度。随时随地共享和比较您的结果！使用Leica Microscope Assistant（Leica LAS存储和调用模块）存储和调用显微镜设置和相机参数。它们与图像一起保存和存档，并且可以随时还原。 选择适合您要求的个人图像分析系统：Leica Application Suite（LAS）软件平台将显微镜，软件和相机集成到一个软件包中，着重于界面，功能和工作流程各个方面的效率。使用Leica DM6 M，您可以使用其他模块，例如Steel Expert，Cleannesss Expert，Grain Expert和Phase Expert。掌握时间快！使用Leica SmartTouch触摸屏或Leica DM6 M以及Leica SmartMove遥控器上的自由可编程功能按钮，可以加快工作流程。使用Leica DM4 M可以舒适，快速地工作：清晰排列的显示屏使所有显微镜设置一目了然。六个功能键可轻松访问常用功能-无需从样本中查找。 高质量、多用途光源无论使用明场（BF），高动态暗场（HDF），微分干涉对比（DIC），荧光（FL）还是偏振（POL），LED照明都能带来可重现的结果。在任何显微镜设置下，都可以在恒定色温下查看样品：无需每次更改亮度或重置白平衡时都重置相机。选择一种或几种可用的对比方法来检测样品上的更多瑕疵和缺陷。节能高效：LED照明节省能源–使用寿命长达25.000小时，更换灯泡会导致显微镜停机已成为过去。 寻找快速借助全自动差分干涉对比（DIC）和1.25倍全景物镜，甚至可以检测到最精细的细节：轻松实现目标：只需按一下按钮，Leica DM6 M的所有系统组件（例如检偏器，偏振器和适当的棱镜）都会自动进入光路，同时针对每个物镜存储精细的调整。 使用1.25x全景物镜获得样品的详细概览。借助Leica DM4 M，您可以精确，精细地查看每个细节。 选择最适合您的系统您是否需要显微镜来快速概览样品或进行详细检查–立式显微镜Leica DM4 M和Leica DM6 M始终以正确的设置为您提供支持。 您需要显微镜进行手动例行检查吗？ Leica DM4 M是为您提供的手动编码例行检查系统。 手动2档对焦驱动器 编码的6倍或7倍物镜转镜 符合人体工程学的手动三板式载物台，可编程按钮 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式：明场，暗场，微分干涉对比，偏振，荧光 Leica Application Suite X（LAS X）软件 您需要显微镜进行全自动材料分析吗？Leica DM6 M是具有准确性和再现性的检测系统。 电动高精度2档聚焦驱动器 电动6折或7折物镜转接镜 手动或电动扫描台 触摸屏控制 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式：明场，暗场，微分干涉对比，偏振，荧光 Leica Application Suite X（LAS X）软件 结合LAS X也可以使用自动对焦对于视觉和化学分析，您可以使用LIBS系统改装DM6 M复合显微镜，然后使用二合一解决方案进行快速，精确的材料分析。