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全自动微分干涉显微镜

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全自动微分干涉显微镜相关的仪器

  • 日立高新技术科学公司于2019年3月起,在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”,该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”,通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务,与此同时,凭借不断创新积累的三维测量性能,实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。 在半导体、汽车、食品、医药品等产业领域的材料研究和开发方面,为了提高产品的性能与功能,对产品表面的粗糙度、凸凹不平、翘曲等表面形状的评估变得尤其重要。以往,表面形态的测量方法,一般是采用触针式粗糙度测量仪等进行二维测量(线+高差),但近年来,伴随着材料的薄膜化和微细构造化的加速,需要获取更多的信息,因此,采用扫描型白光干涉显微镜*2和激光显微镜*3等进行三维测量(面+高差)便得到了灵活应用。 此外,2010年制定了有关三维表面形态评估的国际标准ISO 25178,确立了评估方法,在这种背景下,实施三维测量的企业和研究机构等日益增多。因此,需要我们急切实现有关表面形态测量上的测量与分析的简单化以及应对多种样品的测量问题。 此次发售的“VS1800”产品, 搭配了符合ISO 25178标准的分析工具 “ISO 25178参数对比工具”。在ISO 25178标准中规定了评估表面性状的32个项目的参数,但在对比样品时,选择最适合评估的参数很难,成为分析业务的难题。“ISO 25178参数对比工具”,通过按差异程度大小顺序自动对测量的参数值进行依次排序,可轻松选出最适合对比样品的参数,从而支持客户的分析业务。 此外,“VS1800” 产品,通过光干涉方法*4除了可实现大视野测量、0.01nm的垂直方向分辨率*5、高重现性外,亦通过日立高新技术科学自主研发的技术,继承了多层膜的无损伤测量等传统产品的高测量性能。此外,该产品还可搭配“大倾斜角测量选配 ”*6功能,通过捕捉大倾斜角斜面的微弱的干涉条纹变化,实现传统的光干涉方式无法实现的大倾斜角斜面测量,从而应对多种多样的样品表面性状的三维测量。 日立高新技术集团拥有可实现极微细样品的高分辨率测量的原子力显微镜、扫描电子显微镜直至大视野、高精度测量可能的“VS1800”等产品阵容,提供表面分析解决方案,从而满足客户的广泛需求。*1 ISO 25178:规定表面形态评估方法的国际标准。*2扫描型白色干涉显微镜:利用光干涉原理进行非接触式、无损伤的表面形态测量的测量设备。*3激光显微镜:将激光作为光源进行表面形态测量的测量设备。 *4光干涉方法:是利用两列或两列以上的光波相互叠加而出现光明暗(干涉条纹)现象(干涉)的检查方法。*5 0.01 nm的垂直方向分辨率为Phase模式时的性能。*6“大倾斜角测量选配”为选择项目。 【主要特点】(1)高测量性能?垂直方向分辨率:利用光干涉方法,通过独自的算法,实现0.01 nm*的垂直方向分辨率?重现性:利用干涉条纹测量凸凹的高度,通过将来自Z驱动机构的影响最小化,实现0.1 %以下的重现性?测量速度:由于不需要样品的前处理,只要将样品放置在样品台上即可完成测量准备。通过光干涉方法最 快5秒钟即可完成测量?测量视野:以从干涉条纹获取的信息为基础进行凸凹高度的测量,由此可实现广范围(One-shot最 大6.4 mm×6.4 mm)测量与高垂直方向分辨率的两者兼顾。此外,通过连接多个数据的图像,可进一步实现广范围的分析?无损伤测量:通过日立高新技术科学自主研发的技术,对玻璃和薄膜等透明多层结构样品进行测量时,无需对样品进行加工切割成截面,即可在无损伤的情况下,完成多层结构样品的各层厚度或异物混入状况的确认以及缺陷分析等  * Phase模式时 (2) 易于使用的操作界面采用直观易懂的操作界面,能够轻而易举地进行图像分析处理前后的图像对比,从而支持分析时的最合适图像处理选择。此外,可简单地列出处理与分析的内容、创建独自的分析参数、重复使用分析参数等,并且还可批量处理数据,由此实现统一管理多个样品和分析结果,减轻繁琐复杂的后处理。 (3) ISO 25178参数对比工具 在对比多个样品时,通过将ISO 25178标准中规定的32项参数值按差异的大小顺序重新排列,从而在样品对比时能够轻松选取最适参数,支持客户的分析业务。 (4) 硬件升级按每一台XY样品台的驱动方式,设计了3个类型的产品,即基础模式的手动型Type 1、电动型Type 2、Type 3。从Type 1到Type 2、Type 3,均可根据不同的用途进行升级。
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  • BD-6R,金相显微镜,微分干涉显微镜,专业检测导电粒子压痕爆破
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  • 一、微分干涉金相显微镜仪器的主要用途和特点DMM-1200微分干涉金相显微镜(DIC)采用优质的无限远光学系统,微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器,可选用微分干涉(DIC)观测、获得高清晰的图像,使图像衬度更好,是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的,作为高级工业金相显微镜使用 可进行明场观察、落射偏光、DIC观察,广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。DMM-1200C电脑型微分干涉金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机上很方便地适时观察金相图像,并可随时拍摄记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。 二、大平台微分干涉金相显微镜仪器的主要技术指标金相显微镜组件及规格光学系统无穷远光学系统主机DMM-1200倒置金相显微镜主机目镜大视野WF10X(Φ22mm)WF15X(Φ16mm)WF20X(Φ12mm)平场分划10X/Φ20mm(0.10mm/格值)物镜无限远长工作距离平场消色差放大倍数/数值孔径有效工作距离PL5X/0.1226.1PLL10X/0.2520.2PLL20X/0.48.8PLL40X/0.63.98目镜筒三目镜铰链式,倾斜30度,分光比:观察80% 摄影20%;或观察100% 摄影100%滤片组全系列滤色片物镜转换器五孔物镜转换器调焦机构同轴粗微动调焦机构,带锁紧和限位装置, 调焦范围30mm 微动格值0.8μm载物台台面尺寸:280mm*270mm 移动范围:横向(X)204mm,纵向(Y)204mm照明系统落射照明12V/50W,卤素灯,中心、亮度连续可调微分干涉可使用于5X、10X、20X 三、大平台微分干涉金相显微镜系统的组成1、金相显微镜DMM-1200           2、CCD适配镜3、彩色数字摄像机(CCD)4、计算机(选购) 四、大平台微分干涉金相显微镜选购部分1.金相分析软件 五 、大平台微分干涉金相显微镜同类仪器的比较1、DMM-1200C电脑微分干涉显微镜2、DMM-1200D数码微分干涉显微镜 六、大平台微分干涉金相显微镜相关设备金相设备 金相抛光机 金相切割机 金相砂纸 金相切割片 金相镶嵌机 金相预磨机 显微硬度计 端淬试验机
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  • 一、DMM-1100C电脑型微分干涉金相显微镜的特点和用途: DMM-1100微分干涉金相显微镜采用优质的无限远光学系统,配备长工作距离平场平场消色差物镜. DMM-11000正置金相显微镜可广泛应用于研究金属的显微组织,能在明场、偏光、微分干涉下进行观察和摄影,配备专用软件,更可同步进行测量分析。可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及高等工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用。DMM-1100正置金相显微镜,选用优质的光学元件,配有超大视场目镜、落射照明器、平场无限远长工作距离物镜,可选用微分干涉(DIC)观测、获得高清晰的图像,使图像衬度更好,具有较强的浮雕感。是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的,作为高级工业金相显微镜使用。可进行明场观察、落射偏光、透射观察、DIC观察,广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。 二、DMM-1100C正置式电脑型微分干涉金相显微镜的技术参数规格技术参数目镜超大视野平场目镜WF10X(Φ22mm) WF15X(Φ16mm) WF20X(Φ12mm) 平场分划目镜10X/Φ20mm(0.10mm/格值)物镜无限远长距平场消色差物镜PL L 5X/0.12 WD:26mm无限远长距平场消色差物镜PL L 10X/0.25 WD:20mm无限远长距平场消色差物镜PL L 20X/0.40 WD:5mm无限远长距平场消色差物镜PL L40X/0.60 WD:3.98mm目镜筒铰链式,倾斜30度,分光比:或观察100% 摄影100%落射照明系统12V50W卤素灯,中心、亮度连续可调内置视场光栏、孔径光栏、(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置,推拉式检偏器与起偏器透射照明系统阿贝聚光镜 NA.1.25 可上下升降 蓝滤色片和磨砂玻璃 集光器,卤素灯照明适用(内置视场光栏) 12V 30W 卤素灯,亮度可调载物台双层机械载物台,带刻度,台面尺寸:210mm*140mm移动范围:移动范围:横向(X)75mm,纵向(Y)50mm,配置玻璃载物板转换器五孔物镜转换器(内向式滚珠内定位)调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置偏光系统插入式检偏镜,起偏器可360°旋转DIC 观察系统可使用于5X、10X、20X仪器主体正置式透反射金相显微镜主机,先进无限远光路系统CK-300摄像系统1X摄影接口,标准C接口CK-300彩色数字摄像机: 最高分辨率:2048X1536,采用USB供电,功耗小,连接简单:USB2.0接口 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定,所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小,安装方便,采集方式:连续采集 三、系统的组成 1、正置微分干涉显微镜DMM-1100  2、电脑适配镜  3、300万像素彩色数字摄像器
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  • 产品创新点上市时间:2019年3月(1)高测量性能 ,垂直方向分辨率高,重现性好,测量速度快,测量视野广,无损伤测量(2)易于使用的操作界面(3)ISO 25178参数对比工具(4)硬件全面升级产品简介日立高新技术科学公司于2019年3月起,在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”,该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”,通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务,与此同时,凭借不断创新积累的三维测量性能,实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。在半导体、汽车、食品、医药品等产业领域的材料研究和开发方面,为了提高产品的性能与功能,对产品表面的粗糙度、凸凹不平、翘曲等表面形状的评估变得尤其重要。以往,表面形态的测量方法,一般是采用触针式粗糙度测量仪等进行二维测量(线+高差),但近年来,伴随着材料的薄膜化和微细构造化的加速,需要获取更多的信息,因此,采用扫描型白光干涉显微镜*2和激光显微镜*3等进行三维测量(面+高差)便得到了灵活应用。 此外,2010年制定了有关三维表面形态评估的国际标准ISO 25178,确立了评估方法,在这种背景下,实施三维测量的企业和研究机构等日益增多。因此,需要我们急切实现有关表面形态测量上的测量与分析的简单化以及应对多种样品的测量问题。此次发售的“VS1800”产品, 搭配了符合ISO 25178标准的分析工具 “ISO 25178参数对比工具”。在ISO 25178标准中规定了评估表面性状的32个项目的参数,但在对比样品时,选择最适合评估的参数很难,成为分析业务的难题。“ISO 25178参数对比工具”,通过按差异程度大小顺序自动对测量的参数值进行依次排序,可轻松选出最适合对比样品的参数,从而支持客户的分析业务。 此外,“VS1800” 产品,通过光干涉方法*4除了可实现大视野测量、0.01nm的垂直方向分辨率*5、高重现性外,亦通过日立高新技术科学自主研发的技术,继承了多层膜的无损伤测量等传统产品的高测量性能。此外,该产品还可搭配“大倾斜角测量选配 ”*6功能,通过捕捉大倾斜角斜面的微弱的干涉条纹变化,实现传统的光干涉方式无法实现的大倾斜角斜面测量,从而应对多种多样的样品表面性状的三维测量。 日立高新技术集团拥有可实现极微细样品的高分辨率测量的原子力显微镜、扫描电子显微镜直至大视野、高精度测量可能的“VS1800”等产品阵容,提供表面分析解决方案,从而满足客户的广泛需求。*1 ISO 25178:规定表面形态评估方法的国际标准。*2扫描型白色干涉显微镜:利用光干涉原理进行非接触式、无损伤的表面形态测量的测量设备。*3激光显微镜:将激光作为光源进行表面形态测量的测量设备。*4光干涉方法:是利用两列或两列以上的光波相互叠加而出现光明暗(干涉条纹)现象(干涉)的检查方法。*5 0.01 nm的垂直方向分辨率为Phase模式时的性能。*6“大倾斜角测量选配”为选择项目。 【主要特点】(1)高测量性能a.垂直方向分辨率:利用光干涉方法,通过独自的算法,实现0.01 nm*的垂直方向分辨率b.重现性:利用干涉条纹测量凸凹的高度,通过将来自Z驱动机构的影响最小化,实现0.1 %以下的重现性c.测量速度:由于不需要样品的前处理,只要将样品放置在样品台上即可完成测量准备。通过光干涉方法最 快5秒钟即可完成测量d.测量视野:以从干涉条纹获取的信息为基础进行凸凹高度的测量,由此可实现广范围(One-shot最 大6.4 mm×6.4 mm)测量与高垂直方向分辨率的两者兼顾。此外,通过连接多个数据的图像,可进一步实现广范围的分析e.无损伤测量:通过日立高新技术科学自主研发的技术,对玻璃和薄膜等透明多层结构样品进行测量时,无需对样品进行加工切割成截面,即可在无损伤的情况下,完成多层结构样品的各层厚度或异物混入状况的确认以及缺陷分析等  * Phase模式时 (2) 易于使用的操作界面采用直观易懂的操作界面,能够轻而易举地进行图像分析处理前后的图像对比,从而支持分析时的最合适图像处理选择。此外,可简单地列出处理与分析的内容、创建独自的分析参数、重复使用分析参数等,并且还可批量处理数据,由此实现统一管理多个样品和分析结果,减轻繁琐复杂的后处理。 (3) ISO 25178参数对比工具在对比多个样品时,通过将ISO 25178标准中规定的32项参数值按差异的大小顺序重新排列,从而在样品对比时能够轻松选取最适参数,支持客户的分析业务。 (4) 硬件升级按每一台XY样品台的驱动方式,设计了3个类型的产品,即基础模式的手动型Type 1、电动型Type 2、Type 3。从Type 1到Type 2、Type 3,均可根据不同的用途进行升级。
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  • 是一种多功能新型光学显微镜,采用优良的无限远光学系统,可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。可拆装机械式载物台,采用同轴无齿轮、齿条传动系统,使传动更平稳与安全。旋转摆入摆出式聚光系统,配置透射式微分干涉相衬装置,以实现透射微分干涉相衬等显微观察功能,模块化设计使功能置换十分方便。本仪器适用于对透明组织的显微观察,应用于科研院所、高等院校、医疗卫生、检验检疫、农牧乳业等部门。总放大倍数50X~400X聚光镜工作距离55mm,数值孔径0.30目镜平视场大视野目镜;视场:Ф22mm;目镜接口Ф30mm载物台移动范围77mm(纵向)X134.5mm(横向),移动尺可拆卸双目镜铰链双目,观察角度为45度,瞳距为53~75毫米调焦机构粗微动同轴调节,微动手轮格植:0.002毫米物镜微分干涉相衬物镜;明视场物镜;相衬物镜培养皿托板适配圆形培养皿Ф 87.5mm;可适配圆形培养皿Ф 68.5mm;转换器五孔转换器光源5W 白光(色温5000~5500K)LED照明器,输入电压3.9~4.0V
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  • 微分干涉金相显微镜WMJ-9760 一.产品简介高品质的部件设计,简单灵活的配置组合,强大的金相检测功能—WMJ-9760是观测大尺寸或较厚样品的推荐选择。性能特点 所有光学部件均经过特殊处理并镀有特殊膜层灵活紧凑的结构,适应各种环境下的显微观察长工作距专业金相物镜,高倍物镜采用半复消技术各种观察方法下都能得到清晰锐利与高对比度的显微图像 独立的金相检测系统 不同于传统的金相显微镜,无陌WMJ-9760选择了紧凑的结构设计,外观小巧轻便,操作更为灵活。B5大平板底座以及粗微调同轴托架,克服了常规金相显微镜无法观察较厚样品的限制。集成了明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能,可根据实际应用进行选择。大型设备的视觉系统集成多种观察方式及专业的金相显微技术,灵活精巧的设计使WMJ-9760成为可安装于大型机械设备中的专业金相显微镜。可作为大尺寸LCD面板或PCD线路板生产设备或检测设备的视觉系统。通过摄影摄像接口,可将图像输出至监视器或计算机,方便快速检测。 不同的照明器可供选择明场反射照明器:带可变视场光阑和可变孔径光阑,中心可调,带斜照明机构。明暗场反射照明器:带可变视场光阑和可变孔径光阑,中心可调。带明暗场切换机构。光源采用外置式15V150W卤素灯箱,并用光纤连接。 宽枧场铰链式三目观察筒正像铰链三目观察筒,所成像的方位与物体实际方位一致,物体移动的方向跟像面移动的方向相同,便于观察与操作。铰链式三目观察筒,采用紧凑型倒像光路设计,结构轻巧,便于安装与减轻机体重量。 超长工作距金相物镜全新设计的超长工作距物镜,采用半复消色差技术,并使用多层宽带镀膜技术,使整个视场内的成像清晰锐利,色彩自然,明亮舒适。超长的工作距离设计,50X的有效工作距离达到7.8mm, 100X物镜也达到了2.1 mm,大幅拓展了应用领域,5X、 10X、 20X 物镜的设计,通过精选材料及优化设计,使DIC微分干涉观察的性能非常出色。同步设计了全套明暗场两用物镜,暗场照明亮度比传统暗场物镜提高2倍以上。 摄影摄像附件在三目观察筒上,可以配接摄影摄像装置,将双目观察到的图像输出至监视器或计算机,进行图像分析、处理、保存或传送。使用专用的C接口与中继镜,可以和数码相机联接,快速进行拍照,并获取图像。 偏光及DIC附件将起偏镜及检偏镜插入照明器的插槽内, 即可进行简易偏光观察。在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度。 多种干涉滤色片可选LBD日光型滤色片,能将光线过滤成自然日光的颜色,图像背景柔和亮白。根据具体工业检测的需要,可以选择其他颜色的滤光片来对光线光谱进行调节,以获得更好的图像效果。 二.参数配置型号WMJ-9760WMJ-9760BD可选观察方法明场/斜照明/偏振光/DIC明场/暗场/偏振光/DIC光学系统无限远色差校正光学系统目镜PL10X/22平场高眼点目镜物镜OLIP无限远长工作距明场金相物镜OLIPBD无限远长工作距明暗场金相物镜观察筒30°铰链式三目,分光比,双目:三目=100:0或50:50,单边视度可调±屈光度,瞳距调节范围54-75mm正像观察筒,25°铰链式三目,分光比,双目:三目=100:0或0:100,单边视度可调±5屈光度,瞳距调节范围54mm-75mm转换器5孔内倾式明场转换器,带DIC插槽5孔内倾式明暗场转换器,带DIC插槽底座B5大平板底座,底座320mmX260mmX16mm,立柱高280mm,直径32mm显微镜镜体粗微调同轴,粗调行程32mm,微调精度0.002mm,,带防止下滑的松紧调节装置反射照明器系统带可变视场光阑与孔径光阑,均可调中心;带滤色片插槽与偏光装置插槽;带斜照明切换拉杆带可变视场光阑与孔径光阑,均可调中心;带滤色片插槽与偏光装置插槽;带明暗场切换装置光源15V150W卤素灯冷光源电源箱,光强连续可调;单光纤软管(550mm/1000mm/1500mm)摄影摄像附件1/2CTV,1xCTV,均可调焦,数码相机及中继镜偏光及DIC附件起偏镜,固定式/360°旋转检偏镜,DIC插板
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  • XJL-20BDDIC型倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统,可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。模块化的功能设计,可以方便升级系统,实现偏振观察、暗视场观察、明视场微分干涉观察等功能。照明系统充分考虑散热性与安全性,可快速更换灯泡。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。可用于半导体硅晶片、LCD基板、固体粉未及其它工业试样的显微观察,是材料学、精密电子工程学等领域研究的理想仪器。
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  • MJ33-DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工 程学、电子学等研究的理想仪器。MJ33-DIC微分干涉相衬显微镜 性能特点采用优良的无限远光学系统,可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。内置式可切换偏光观察装置,起偏器可360°旋转。微分干涉相衬观察时图像清晰,干涉色均匀,具有较强的浮雕感。MJ33 DIC 微分干涉相衬显微镜 标准配置项目规格/参数产品编码数量目镜大视野 WF10X(视场数Φ22mm)140100292物镜LMPlan5X/0.12 DIC 工作距离:18.2 mm140401781LMPlan10X/0.25DIC 工作距离:20.2 mm140401791LMPlan20X/0.35DIC 工作距离:6.0mm140401801PL L40X/0.60 工作距离:3.98 mm140400671目镜筒三目镜,倾斜30度,(内置检偏振片,可进行切换)1DIC 观察系统适用于 LMPlan5X/LMPlan10X/LMPlan20X DIC物镜140900011落射照明系统12v 50w,灯泡中心可调。含黄,绿,蓝,磨砂滤光片。内置视场光阑、孔径光阑、滤色片转换装置,推拉式检偏器与起偏器1起偏器偏振方向可调。1调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置1物镜转换器五孔(内向式滚珠内定位)1载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)1玻璃板97mm X 76 mm1透射照明系统阿贝聚光镜 NA=1.25 可上下升降1磨砂玻璃1蓝滤色片1集光器,卤素灯照明适用(内置视场光栏)。12v 30w 卤素灯,亮度可调,灯泡中心可调。1电源线1CCD接口标准1xC接口130600041内六角螺丝刀备用灯泡12v 50w,14150020112v 30w141500181保险丝250v 0.5A1
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  • MMAS-19微分干涉相衬金相显微镜测量分析系统适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。MMAS-19系统配备了研润自主研发的MMAS测量分析系统以及MOS高端光学系统。一、技术特点:1、观察系统:大三通光学系统,30度倾斜,自由切换目视观察与电脑摄像,可100%进行透光摄影。大视野平场广角目镜,视场范围直径22mm。2、机械载物台:双层机械式载物台,尺寸210*140mm;移动范围63*50mm。3、落射照明系统:12V,50W卤素灯,亮度可调。良好的散热性设计。4、微分干涉相衬观察系统:微分干涉组件与适配的物镜校正好干涉平面高度。干涉色的变化可通过精密丝杆的旋转调节而变化。5、透射照明系统:内置12V30W卤素灯照明装置,集光镜中内置视场光栏。5、选配件:5.1分化目镜:10X(直径22mm),格值0.1mm/格;5.2无限远长距物镜:PLL50X/0.7(工作距离3.68)、PLL60X/0.7(工作距离2.08)、PLL80X/0.8(工作距离1.25)、PLL100X/0.85(干式、工作距离0.4);5.3转换器:四孔5.4适配镜:0.5X、1X、0.5带0.1mm/格分化尺;5.5数码摄像机;5.6黄、绿滤色片;二、技术参数:目镜大视野 SWF10X(Φ22mm)物镜(长距)无限远平场消色差物镜LMPlan5X/0.12DIC,工作距离:15mm无限远平场消色差物镜LMPlan10X/0.3DIC,工作距离:10.5mm无限远平场消色差物镜LMPlan20X/0.40DIC,工作距离:4.5mm无限远平场消色差物镜PL L40X/0.60,工作距离:3.98mm放大倍数50~400X目镜筒倾斜30度,三目镜,双目镜组落射照明系统12V50W卤素灯,亮度和灯泡位置可调内置视场光栏、孔径光栏、黄绿蓝滤色片和磨砂玻璃转换装置,推拉式检偏器与起偏器透射照明系统12V30W卤素灯,亮度可调,蓝滤色片和磨砂玻璃阿贝聚光镜NA1.25可上下升降,集光镜中内置视场光栏干涉观察系统适用于LMPlan5X/LMPlan10X/LMPlan20X DIC物镜调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,粗动松紧可调,带锁紧和限位装置转换器五孔(内向式滚珠内定位);载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:63mmX50mm)外形尺寸455*545*280配备系统主机+MMAS数据处理系统1套+MOS光学系统一套+电脑一套三、性能特点:1、采用优良的无限远光学系统,可提供出色的光学性能。2、紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。3、符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。4、内置式可切换偏光观察装置,起偏器可360°旋转。5、微分干涉相衬观察时图像清晰,干涉色均匀,具有较强的浮雕感。软件功能:MMAS金相显微测量分析系统的核心功能是根据金相图像进行级别评定。目前以具备400多个按国家及行业标准制作的专业功能模块。MMAS金相显微测量分析系统具备数十种图像处理功能、同时具备报告处理、几何测量、定倍打印、图像拼接等多种辅助功能。MMAS金相显微测量分析系统还可以定制图像共聚焦、三维光图等专业功能。MMAS金相显微测量分析系统是为从事金相检验的单位或个人专门开发的一套计算机软件系统,它的基本原理是:用视频采集卡或数码相机等硬件设备,采集到金相显微镜中的金相图片,再对该图片进行处理和分析,得到相关检验结果。1.自动评级:本软件以检验标准为依据,开发出了近百余个类别两百余种软件功能模块,用户可根据需要,选择检验项目,在本软件的帮助下,完成检验工作。2.新建报告:可按用户需求制作报告文档的录入界面、软件可自动生成电子报告文档,并提供报告的保存和打印功能。3.打开报告:打开并浏览已经保存的报告文件。4.几何测量:本软件提供了“直线”、“矩形”、“圆”、“多边形”、“角度”等多种测量工具及测量方法,可完成长度、面积、角度等测量工作。5.查看图库:用户可选择查看本软件收录的所有金相图谱,本软件金相图谱由用户提供原始资料,由我方录入。6.定倍打印:可一次装入多副图片,并可对其进行图像处理,设置说明文字和打印版面,进而生成一份适合各种行业特殊要求的报告文件。7.图像拼接:将采集到的不同视场图像拼接成一幅完整的图像。7.图像共聚焦:该功能模块的作用是:将拍摄对象相同、但焦距不同的几张照片,重合成一张清晰的照片。界面及重合效果.8.三维光图:
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  • RX-MX6R各项操作根据人机工程学设计,极大限度减轻操作者的使用疲劳。其模块化的部件设计,可对系统功能进行自由组合。涵盖明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能,可根据实际应用,进行功能选择。无限远铰链三通观察头ETTR 型正像铰链三目观察头,所成像的方位与物体实际方位一致,物体移动的方向跟像面移动的方向相同,便于使用者观察与操作。长工作距金相物镜全新设计的长工作距物镜,采用半复消色差技术,其使用的多层宽带镀膜技术,使整个视场内的成像清晰锐利,色彩自然,明亮舒适。长工作距设计,50X 物镜的有效工作距离 7.9mm,100X 物镜的有效工作距离也达到了 2.1mm,更有20X 超长工作距金相物镜,大幅拓展了 MX 机型的应用领域。同步设计了全套明暗场两用物镜,适用于 MX6R 机型,暗场照明亮度比传统暗场物镜提高 2 倍以上。高性能物镜转换器MX 机型的转换器采用精密轴承设计,转动手感轻巧舒适,重复定位精度高,物镜转换后的同心度也得到较好的控制,根据 MX 系列机型配置及功能的不同,可以选择不同型号的转换器。明暗场反射照明器带可变孔径光阑,视场光阑,中心均可调 ;带明暗场照明切换装置,适用于MX6R/MX6RT 机型。丰富的观察方式,满足您的检测需求明场观察:远心柯拉反射照明系统,配以全新设计的无限远长工作距平场消色差金相物镜,从低倍到高倍,都能得到清晰、平坦、明亮的高画质显微图像。暗场观察:将暗场照明拉杆拉到指定位置,即可使用暗场功能,可以观察物体表面的各种划痕、杂质点及其他细微缺陷。内置衰减片,减少明暗场切换时光线剧烈变换对眼睛的刺激。简易偏光观察:将起偏镜及检偏镜插板插入照明器的指定位置,即可进行简易偏光观察。检偏镜可分为固定式和 360°旋转式两种。DIC 微分干涉观察:在正交偏光的基础上 , 插入 DIC 棱镜,即可进行 DIC 微分干涉观察。使用 DIC 技术 , 可以使样品表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,极大的提高图像的对比度。可匹配带 DIC 功能的物镜,使整个视场的干涉色一致,微分干涉效果非常出色 , 高倍物镜 DIC 效果也较好。种干涉滤色片可选使用 12V100W 卤素灯时照明时,可以选择 LBD 日光型滤色片,能将光线过滤成自然日光的颜色,图像背景柔和亮白。根据具体工业检测的需要,可以选择其他颜色的滤光片来对光线光谱进行调节,以获得好的图像效果。
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  • 仪器简介:高精度扫描载物台精确定位 自动调焦装置精确的z-轴方向定位 闭合环路系统 高精度调焦 触控屏关键信息一览无遗 控制面板可自由放置技术参数:光学系统:ICCS 光学系统 镜体:FEM 设计,ACR 位置编码 1、ICCS物镜:5X、10X、20X、50X、100X2、目镜:10X3、物镜转盘:研究级7孔明暗场自动物镜转盘 4、光 源:12V100W卤素灯,智能化光路管理器,光强色温自动可调 5、光学附件:目镜测微尺,台尺,各种滤色片 6、Z轴聚焦:自动聚焦 7、数字化平台:可配数字相机,计算机,图像分析软件 8、可配热台 9、可配自动扫描台,实现多视场自动扫描。 10、可配激光共聚焦附件(蔡司独有技术)主要特点: 全新一代全自动材料显微镜Axio Imager M2m是蔡司获得良好口碑的Axio Imager M1m产品的全新升级。通过AxioVision软件或自动控制显微镜动作的全自动系统。操作菜单和所采集的图像及显微镜功能控制同界面,即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换(明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法)、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆,操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位,可实现多视野的拼接和观察,再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。脱机可电动、手动操作。计算机通过AxioVision软件自动控制显微镜动作的全自动系统,操作菜单和所采集的图象及显微镜功能控制同界面,即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换(明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法)、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆,操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位可实现多视野的拼接和观察,再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。
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  • 产品优势徕科光学研发的LK-CS系列全自动三轴电动手脉金相测量显微镜包括LK-CS2020、LK-CS3020、LK-CS4030三种型号,该系列专为高端全自动金相量测市场量身定制,其具有高倍观察测量、CNC编程、精准定位、重复测量、SPC报表统计、自动测量结果输出等功能,能快速高效地解决高倍观察量测产品的批量检测需要。本机X、Y、Z三轴均为伺服驱动,由鼠标、键盘及摇杆操纵,通过专用的全自动金相测量软件,具有自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术;可在使用夹具或工件随意放置的情况下,进行批量检测;独家使用专业订制的高精准细分脉冲金相测量电机,三轴均可转换通过电脉精准控制,可以实现快中慢三档调速来控制XYZ三轴移动;在选择低速档时,可让电机脉冲量的最小化设置跟传动机构的最优化调校,可以保证机台移动时,精细到0.5UM(甚至更低的分辨率)移动精度,从而有效地杜绝金相显微镜在高倍率下Z轴无法精准对焦及XY无法精准抓取产品图像边缘的情况。在国货崛起的今天,徕科光学研发的LK-CS系列全自动三轴电动手脉金相测量显微镜依靠着科技感和创新感双强的研发力量,能够以稳扎稳打的专业核心技术为不同客户制定出高性价比的解决方案和内核稳定的售后方案,其所呈现出的效果与进口设备的毫无差别,但其价格仅为进口设备的三分之一左右,真正成为了一款“小价格、大惊喜”的产品。依靠着科技感和创新感双强的研发力量,可以根据不同客户的需求定制出高性价比的产品方案;作为专业服务保障团队,具备内核稳定的售后方案,7*24小时响应,提供安装培训 一体化互动,更加直接且高效地为客户做好售前、售中、售后服务保障。经过十余年的研发服务,已积累千万客户,并在多地区投建服务部方便与客户的沟通互动。下图为LK-CS系列全自动三轴电动手脉金相测量显微镜产品实景图:下图为现场安装、培训实景图:下图为合作伙伴情况:下图为服务站分布图:产品介绍1、光路:采用国际领先的无限远双重校正光路设计(UISC)下图左图为有限远光路,右图为无限远光路下图为同一物体在有限远光路(左图)与无限远光路(右图)下观察到的情况对比:2、光源:明暗场反射照明器为12V100W卤素灯照明,并带有光强预设功能,可快速切换到预设亮度,带明暗场切换机构;透射光源为单颗大功率5W白色LED,并带有NA0.5聚光镜。透射照明与反射照明可独立控制,即透反照明可同时开启,亦可单独开启。传统卤素光源 传统卤素光源+色温平衡滤片3、观察方法:明场观察( 透射 )、暗场观察、DIC微分干涉观察、偏光观察明场观察( 透射 ):明场图例:暗场观察:暗场图例:DIC微分干涉观察:DIC微分干涉图例:简易偏光观察:简易偏光图例:4、智能化图像处理方法:5、图像测量功能6、可实现实时景深叠加和实时多视场拼图功能: 实时景深叠加(EFI) 实时多视场拼图(MIA)7、产品特点:●由移动工作台、三轴电子光栅尺和运动专用控制盒组成数据传动控制系统; ●双重闭环运动控制,XYZ三轴伺服驱动,软件控制及电动手脉精准控制随机切换; ●采用全花岗平台结构,外观简洁大方,永不变形,永不生锈; ●具有多种数据处理、显示、输入、输出功能,使观察测量与办公完全结合在一起; ●标配明场物镜和明场光路(可选配明暗场); ●Z轴可选配辅助对焦模块实现测高功能; ●可选配手动鼻轮或电动鼻轮; ●可支持长工作距离物镜进行对接; ● 采用优异的无限远光学系统,提高成像衬度和清晰度,用户可以得到鲜明、清晰的高对比度图像,可实现明暗场,偏光,微分干涉等多种成像。图例1:图例2:图例3:产品参数产品型号LK-CS2020LK-CS3020LK-CS4030型号说明CS:全自动+XYZ三轴手脉电动控制测量范围mm200×200×150300×200×150400×300×150玻璃台面尺寸mm260×260360×260460×360工作台面尺寸mm366×366466×366640×540外形尺寸L×W×H mm780×550×965880×550×9651150×750×1100机器重量KG125150250镜筒/图像双目镜筒,带有标准的TV摄像机端口观测方法标配明场物镜(可选明暗场、偏光及DIC微分干涉)目镜双目10X物镜无限远明场金相物镜:5x,10x,20x,50x(100x选配)转换器内定位5孔转换器反射照明装置带滤色片插槽与偏光装置插槽,带5WLED灯源,亮度可调;可选配明暗场反射照明器,带切换装置透射照明装置LED高亮度光源调焦系统软件控制+手脉电动精准对焦控制光栅尺分辨率XYZ0.0005mm/0.0001mm(可选配)测量精度(μm)X-Y≤(2.5+0.02L)μm Z≤(4+0.02L)μmL为被测长度(单位:mm)机器电源220v±10%/110v±10%(AC) 50Hz留言或致电我们,获取更多方案。
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  • SENSOFAR公司作为干涉共焦显微镜的发明者,开创性地将共聚焦和干涉技术结合在一起,设计和制造了SNEOX系列的3D光学干涉共焦显微镜。无需插拔任何硬件就可以在软件内自动实现共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切换。使客户无需花费高昂的费用就能同时拥有共聚焦显微镜和干涉仪。客户即拥有共聚焦技术的超高XY轴分辨率最高0.14um,又有干涉技术的亚纳米级Z轴分辨率可达0.1nm及高达0.1%的测量重复性。SENSOFAR在1999年创立之初,就是以三维表面形貌测量为主要研发方向,通过持续不断地研发和申请专利技术,在全球范围内创造了数百种表面形貌测量应用产品,积累了最丰富的技术实力。新型SNEOX主要技术优势如下:优势1第5代干涉共焦显微镜,更加精准易用新型Sneox是sensofar公司开发的第5代干涉共焦显微镜,在性能、功能、效率和设计方面远远优于现有的共聚焦显微镜或白光干涉仪。第5代Sneox系统的诞生,使得操作更易于使用、直观且更快速。即使是初学者,只需点击一下,即可操作测量,可快速切换共焦、白光干涉和相位差干涉测量模式,满足从粗糙表面到平滑表面测量需求。优势2专利的Microdisplay共焦技术,可实现扫描头内无运动部件SENSOFAR专利设计的Microdisplay共焦技术(微型程控显示扫描共焦技术),做到了扫描头内无运动部件,解决了共聚焦扫描一直以来的问题---有部件要高速运动,实现了既能高速扫描,又能避免部件运动造成震动影响精度。优势3前所未有的扫描速度,数据采集速度高达180帧/秒新型Sneox作为第5代最新干涉共焦显微镜,通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机(500万像素相机),达到前所未有的速度。数据采集速度达180帧/秒。标准测量采集速度比以前快5倍。典型三维图片获取时间仅需3秒。优势4测量的可追溯性每一台Sneox皆为提供准确和可追溯的测量而精心制造。系统使用符合ISO25178标准的可追溯标准进行校准,包括:纵向精度、横向尺寸、平面度误差以及偏心度。可一键实现ISO25178和ISO4287粗糙度测量,无需复杂的粗糙度参数设置。优势5三合一的3D测量技术(共聚焦、干涉、多焦面叠加)Sensofar的三合一3D测量方法—只需点击一次,系统即可切换到适合当前测量任务的最合适技术。在Sneox传感器头中配置三种3D测量技术:共聚焦测量、干涉测量、Ai多焦面叠加测量,这些都为系统的多功能性做出了重要贡献,并有助于最大限度地减少数据采集中的噪点。Sneox是所有实验室环境的理想之选,适用范围广泛,适合粗糙,到光滑及超光滑表面3D测量。优势6Sensofar最新专利的共焦技术:连续共聚焦扫描技术针对一般共聚焦设备扫描速度慢的问题,Sensofar研发了世界专利技术的连续共聚焦扫描方式,即保证了扫描精度,提高了图像支架,又将扫描速度提高了3倍。优势7Sensofar最新专利的共焦技术:融合共聚焦测量SENSOFAR还推出了独特的融合共聚焦扫描模式,将共聚焦和多焦面叠加两种模式的优势结合,实现了可测最大86度的斜率并具有纳米级Z轴精度的三维测量。融合共聚焦能提供更好的测量效果,获取更好的图像质量,同时可获得比共聚焦和多焦面叠加更可靠的数据。优势8智能噪音检测—有效提高图像质量,消除噪点Sneox使用检测算法(SND)检测那些不可靠的数据像素。与使用空间平均的其他技术相比,Sneox在不损失横向分辨率的情况下逐像素处理。优势9高性能软件分析系统SensoViewSensoView是一种交互式分析工具,2D和3D的交互式视图提供多种缩放、显示和渲染选项。提供一套全面的工具,用于3D或2D测量的初步检查和分析。可以测量关键尺寸、角度、距离、直径,并使用新的注释工具突出显示特征。可实现剖面线上多段高度差测量;可测量剖面线多段高度信息,并实时显示在剖面线测量图上。
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  • 仪器简介:高精度扫描载物台精确定位 自动调焦装置精确的z-轴方向定位 闭合环路系统 高精度调焦 触控屏关键信息一览无遗 控制面板可自由放置技术参数:光学系统:ICCS 光学系统 镜体:FEM 设计,ACR 位置编码 1、ICCS物镜:5X、10X、20X、50X、100X2、目镜:10X3、物镜转盘:研究级7孔明暗场自动物镜转盘 4、光 源:12V100W卤素灯,智能化光路管理器,光强色温自动可调 5、光学附件:目镜测微尺,台尺,各种滤色片 6、Z轴聚焦:自动聚焦 7、数字化平台:可配数字相机,计算机,图像分析软件 8、可配热台 9、可配自动扫描台,实现多视场自动扫描。 10、可配激光共聚焦附件(蔡司独有技术)主要特点:全新一代全自动材料显微镜Axio Imager M2m是蔡司获得良好口碑的Axio Imager M1m产品的全新升级。通过AxioVision软件或自动控制显微镜动作的全自动系统。操作菜单和所采集的图像及显微镜功能控制同界面,即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换(明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法)、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆,操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位,可实现多视野的拼接和观察,再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。脱机可电动、手动操作。计算机通过AxioVision软件自动控制显微镜动作的全自动系统,操作菜单和所采集的图象及显微镜功能控制同界面,即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换(明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法)、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆,操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位可实现多视野的拼接和观察,再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。
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  • SENSOFAR公司作为干涉共焦显微镜的发明者,开创性地将共聚焦和干涉技术结合在一起,设计和制造了S NEOX系列的3D光学干涉共焦显微镜。无需插拔任何硬件就可以在软件内自动实现共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切换。使客户无需花费高昂的费用就能同时拥有共聚焦显微镜和干涉仪。客户即拥有共聚焦技术的超高XY轴分辨率最高0.14um,又有干涉技术的亚纳米级Z轴分辨率可达0.1nm及高达0.1%的测量重复性。 SENSOFAR在1999年创立之初,就是以三维表面形貌测量为主要研发方向,通过持续不断地研发和申请专利技术,在全球范围内创造了数百种表面形貌测量应用产品,积累了最丰富的技术实力。新型S NEOX主要技术优势如下:优势1 第5代干涉共焦显微镜,更加精准易用新型 S neox 是sensofar公司开发的第5代干涉共焦显微镜,在性能、功能、效率和设计方面远远优于现有的共聚焦显微镜或白光干涉仪。第5代 S neox 系统的诞生,使得操作更易于使用、直观且更快速。即使是初学者,只需点击一下,即可操作测量,可快速切换共焦、白光干涉和相位差干涉测量模式,满足从粗糙表面到平滑表面测量需求。 优势2 专利的Microdisplay共焦技术,可实现扫描头内无运动部件SENSOFAR专利设计的Microdisplay共焦技术(微型程控显示扫描共焦技术),做到了扫描头内无运动部件,解决了共聚焦扫描一直以来的问题---有部件要高速运动,实现了既能高速扫描,又能避免部件运动造成震动影响精度。 优势3 前所未有的扫描速度,数据采集速度高达 180帧/秒新型 S neox作为第5代最新干涉共焦显微镜,通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机(500万像素相机),达到前所未有的速度。数据采集速度达 180帧/秒。标准测量采集速度比以前快 5 倍。典型三维图片获取时间仅需3秒。 优势4 测量的可追溯性每一台 S neox 皆为提供准确和可追溯的测量而精心制造。系统使用符合ISO 25178 标准的可追溯标准进行校准,包括:纵向精度、横向尺寸、平面度误差以及偏心度。可一键实现ISO25178和ISO4287粗糙度测量,无需复杂的粗糙度参数设置。 优势5 三合一的3D测量技术(共聚焦、干涉、多焦面叠加)Sensofar 的三合一3D测量方法—只需点击一次,系统即可切换到适合当前测量任务的最合适技术。在 S neox 传感器头中配置三种3D测量技术:共聚焦测量、干涉测量、Ai 多焦面叠加测量,这些都为系统的多功能性做出了重要贡献,并有助于最大限度地减少数据采集中的噪点。S neox 是所有实验室环境的理想之选,适用范围广泛,适合粗糙,到光滑及超光滑表面3D测量。 优势6 Sensofar最新专利的共焦技术:连续共聚焦扫描技术针对一般共聚焦设备扫描速度慢的问题,Sensofar研发了世界专利技术的连续共聚焦扫描方式,即保证了扫描精度,提高了图像支架,又将扫描速度提高了3倍。 优势7 Sensofar最新专利的共焦技术:融合共聚焦测量SENSOFAR还推出了独特的融合共聚焦扫描模式,将共聚焦和多焦面叠加两种模式的优势结合,实现了可测最大86度的斜率并具有纳米级Z轴精度的三维测量。融合共聚焦能提供更好的测量效果,获取更好的图像质量,同时可获得比共聚焦和多焦面叠加更可靠的数据。 优势8 智能噪音检测—有效提高图像质量,消除噪点S neox 使用检测算法(SND) 检测那些不可靠的数据像素。与使用空间平均的其他技术相比,S neox 在不损失横向分辨率的情况下逐像素处理。 优势9 高性能软件分析系统Senso ViewSenso View是一种交互式分析工具,2D 和 3D 的交互式视图提供多种缩放、显示和渲染选项。提供一套全面的工具,用于 3D 或2D 测量的初步检查和分析。可以测量关键尺寸、角度、距离、直径,并使用新的注释工具突出显示特征。可实现剖面线上多段高度差测量;可测量剖面线多段高度信息,并实时显示在剖面线测量图上。
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  • 产品简介:全自动暗场金相显微镜WYJ-55Z采用优良的无限远光学系统,与多功能、模块化的设计理念。带有偏光装置、暗场装置。可实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体,采用大理石底座,充分体现了显微镜操作的防振要求。总放大倍数:50X-500X功能特点:1、采用了优良的无限远光路设计,提供了**的光学系统2、超大视野目镜和明暗场长距平场物镜,视场平坦,成像清晰3、采用大理石底座设计,使仪器更稳定,**提高了抗震能力。4、全自动载物台,符合人机工程学的理想设计,操作方便舒适5、配置了偏光、暗场装置、可选配微分干涉装置,拓展了功能。6、整机采用了防霉处理,保护了镜头,延长了仪器的使用寿命7、两路光路自由切换输出,一路用于观察,一路连接摄像装置。典型应用: 1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验2、观察材料表面的某些特性。3、分析金属、矿相内部结构组织。
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  • 徕卡DM6M产品简介:莱卡全自动万能金相显微镜DM6M.正置模块化设计,可实现透反射观察.可配接摄像头、数码相机等装置扩展数码显微镜.适合金属、高分子材料、电子元器件、粉尘等样品观察分析。概述徕卡全自动万能金相显微镜DM6M.正置模块化设计,可实现透反射观察.可配接摄像头、数码相机等装置扩展数码显微镜.适合金属、高分子材料、电子元器件、粉尘等样品观察分析。DM6M高级全自动智能数字式正置金相显微镜,适合金属、陶瓷、高分子材料、电子元器件、粉尘颗粒等样品的观察分析模块化设计,正置显微镜可实现反射观察、透反射观察配置复消色差光路,整体光路支持25mm视野直径6孔位电动物镜转盘,配接32mm直径工业物镜内置电动调焦系统,精度0.015um可实现全自动明场、暗场、偏光、干涉观察方式数码显微镜机身内置12v100w的透、反射照明电源,智能光强变化的控制照明方式能自动记忆在不同物镜下和不同观察方式下最佳的光强,光阑大小及聚光镜的组合,自动恢复到位,操作简单快速 产品特点全自动材料分析您可轻松调用之前的显微镜设置并通过独特的软件功能“保存和调用”(Store and Recall) 即时复制成像参数。适用于任何类型的样本。一键式“智能自动化”可让您轻松搞定重复性工作。这些具有记忆功能的显微镜可帮您减少培训时间、改进工作流程和获得出色的成像结果—始终如一。管理器节省时间节省宝贵时间:凭借照明管理器 (Illumination Manager) 和相衬管理器 (Contrast Manager),显微镜能够自动识别所选的相衬方法和正在使用的物镜,准确打开和关闭孔径光阑和视场光阑,且调整光线强度。共享和比较您的结果—随时随地!通过 Leica 显微镜副助手 (Leica Microscope Assistant,Leica LAS “保存和调用”模块) 保存和调用显微镜设置和摄像头参数。它们随图像一同保存和归档,并可随时恢复。无忧照明LED照明有助于结果的可复制—无论您以明场(BF)、高动态暗场(HDF)、微分干涉相衬(DIC)、荧光(FL) 还是偏振(POL) 状态工作。可在任何显微镜设置下以恒定的色彩温度查看您的样品:无需每次亮度改变时都重置摄像头或调节白平衡。选择一种或多种可用的相衬观察方法,在样品上检测出更多的瑕疵和缺陷。
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  • 徕卡 DM6000 B 显微镜采用电动 z 轴聚焦、电动与编码7 倍物镜转盘、全自动微分干涉差显功能,以及 5 ×或 8 ×荧光轴,可提供所有透射光差显示技术,包括全球首创的全自动微分干涉差显(DIC)技术。系统的独特功能之一是可记忆与物镜对应的特定显示方法,即系统可以提供微分干涉差显方法与 63 倍放大率一起使用,以提供一致的分析结果。电动的 Z 轴驱动可进行自动齐焦调节、保存焦距值以及 Z 轴水平自动定位。您的优势自动获得最佳图像仅需按下一个按钮即可变换差显方法:根据选择的差显方法与物镜,显微镜可自动设置以获得质量最佳的图像,无需费时调节。图像质量出色全自动微分干涉差显微功能:仅需按下按钮,所有系统元件即可自动进入光路,然后针对每个物镜储存准确的偏置位置,确保一致的分析结果与出色的图像质量。SmartTouch触摸屏利用徕卡 SmartTouch 触摸屏,可根据相同的直观图形用户界面明确保存所有设置,使用 LAS 与 LAS AF 软件对显微镜进行便捷直观的控制。色温亮度恒控(CCIC)色温亮度恒控功能可在变换灯泡电压时提供最佳色温,以节省操作时间。高衬比的清晰图像可纠正色差的荧光轴结合改进的修正功能,提供高衬比的清晰图像。
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  • MCK-50MC科研级正置金相显微镜一、仪器的主要用途和特点: MCK-50MC全新研究级金相显微镜集蔡康多项首创于一身,从外观到性能都紧跟国际领先设计风向,致力于拓展工业领域全新格局。MCK-50MC秉承CAIKON不断探索、不断超越的品牌设计理念,为客户提供完善的工业检测解决方案。 MCK-50MC研究型科研级显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机上很方便地适时观察金相图像,并以随时捕捉下来,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。●多档分光比观察头设计全新MCK-50MC系列观察筒,采用宽光束成像系统设计,支持26.5mm世界领先的超宽视野观察,带给您全新的大视野体验。两档式正像铰链三目观察筒,保证样品的移动方向与您通过目镜观察到的方向一致,使操作更加得心应手。三档式铰链三目观察筒,在成像光线100%用于双目观察或三目摄影的基础上,增加一档20%用于双目观察,80%用于显微摄影,方便用户同时对镜下图像与视频图像进行对比观察●偏振系统偏振系统包括起偏器和检偏器,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更清楚。检偏器分为固定式检偏器和360度旋转式检偏器。360°旋转式检偏器可在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态。可在偏振系统的基础上加载蔡康全新研发微分干涉器,建立诺曼尔斯基微分干涉衬比系统。●诺曼尔斯基微分干涉衬比系统(选购功能)全新研发的U-DICR微分干涉组件,可以将明场观察下无法检测的细微高低差,转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来,如LCD导电粒子,精密磁盘表面划痕等。●中性密度滤色镜连动明暗场观察设计照明器前端的拨杆可使明暗场观察切换更加方便,并带有中性密度滤色镜(ND50)联动功能。由于暗场观察时通常需要将光源开得比明场观察更亮,此功能设计可以避免用户在由暗场切换至明场时,眼睛不会受到强光的刺激,提高使用的舒适性。●物镜转换器,多孔可选多孔物镜转换器可以对同一个标本的观测点进行连续的更加合理的低、中、高放大倍率观察。全新的物镜转换器将光轴与转动轴之间的夹角降低到15°,提高了对中精度和齐焦精度,且外观更加紧凑。●专业无限远长工作距离半复消色差金相物镜 明暗场物镜只需一个镜头就能胜任明场、暗场、偏光、微分干涉观察。暗场图像亮度得到增强,提供了样品的检出能力;系列物镜严格挑选高透过率的镜片和先进的镀膜技术,真实还原样品的自然色彩;明暗场物镜采用铝制外壳,大大减轻了重量,对防止环境污染,改善物镜转换的操控性做出了贡献;长工作距离物镜广泛适用于各种检测领域,轻松实现无损检测三、金相显微镜MCK-50MC主要技术参数:名 称参数规格光学系统无限远色差校正光学系统观察方式明场/暗场/偏光观察筒30°倾斜,正像,无限远铰链三通观察筒,瞳距调节:50mm~76mm,两档分光比双目:三目=100:0或0:100目镜高眼点大视野平场目镜PL10X25mm,视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm,带单刻度十字分划板,视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm,带单刻度十字分划板,视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm,带单刻度十字分划板,视度可调物镜转换器明暗场5孔转换器,带DIC插槽无限远长工作距离平场明暗场消色差物镜物镜倍率数值孔径工作距离(mm)盖玻片厚度(mm)5X0.1513.5010X0.309.0020X0.502.5050X0.8010照明系统12V100W超长寿命灯箱,采用PHILIPS型卤素灯,透、反射通用,预定中心。调焦机构低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程25mm,微调精度0.001mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。主机架透反两用机架, 低手位粗微同轴调焦机构。内置100-240V宽电压系统,双路电源输出,采用数字调光,具有光强设定与复位功能、反射/透射光切换开关,内置透射光滤色镜(LBD、ND6、ND25)聚光镜摇出式消色差聚光镜(N.A.0.9)载物台4英寸机械平台,右手位操作,行程105mmx102mm,带Y轴锁定机构,可带透射系统挡光板,带玻璃载物台板反射照明器明暗场反射照明器,带可变孔径光阑,视场光阑,中心可调;带明暗场照明切换装置;带滤色片插槽,带起偏镜/检偏镜插槽测微尺0.01mm电脑摄像系统CKC2000CKC2000高清彩色摄像机,采用索尼CMOS芯片,灵敏度可以与CCD芯片为同一量级,图像色彩还原度大大提高。最高分辨率:5496×3672, 芯片尺寸:1",USB3.0连接,图像稳定,有多种图像处理方式(详细参数见CKC2000摄像机介绍)显微软件专业图像处理及拍摄软件,实时图像拼接及实时景深熔合,可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观,可在图像上添加文字、放置比例尺,是显微图像测量与分析的有效工具。
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  • 徕卡DM4000M配置新型的显微数码CCD,为您的应用提供了正确的解决方案。标准的火线(FireWire) 界面能够将图像快速地传输到PC 电脑和Apple 电脑。新型数码CCD能够满足材料样本彩色和黑白图像的需要,同时具备简易操作的白色平衡以及阴影校正的特性。所有的新型数码CCD都具备有实时图像模式。分辨率从130 万到1200 万像素,图像色彩达14BIT。适合金属、陶瓷、高分子材料、电子元器件, 粉尘颗粒、等样品的观察分析,模块化设计,可实现反射观察、透反射观察配置。特点:1、首台可以100% 地重复同一观察条件的显微镜2、智能化设计,具有全自动透射光和反射光光强管理功能,省去您调节光强、光路的麻烦3、恒定的色温控制使显微摄影永远色彩逼真4、全自动的视场光栏和孔径光栏5、全自的动聚光镜6、配备自动的透射光明场、暗场、相衬、偏光、微分干涉功能7、配备反射光明场、暗场、偏光、荧光、微分干涉功能8、全自动功能转换:明场、暗场、偏光、微分干涉之间的功能转换只通过功能键一按即可9、液晶显示屏显示所有显微镜的功能与状态10、4位自动反射镜转换器11、6位编码可记忆物镜转换器,使液晶显示屏显示您正使用的物镜倍数12、免费下载软件,进行计算机控制。规格: 1、首台可以100% 地重复同一观察条件的显微镜2、智能化设计,具有全自动透射光和反射光光强管理功能,省去您调节光强、光路的麻烦3、恒定的色温控制使显微摄影永远色彩逼真4、全自动的视场光栏和孔径光栏5、全自的动聚光镜6、配备自动的透射光明场、暗场、相衬、偏光、微分干涉功能7、配备反射光明场、暗场、偏光、荧光、微分干涉功能8、全自动功能转换:明场、暗场、偏光、微分干涉之间的功能转换只通过功能键一按即可9、液晶显示屏显示所有显微镜的功能与状态10、4位自动反射镜转换器11、6位编码可记忆物镜转换器,使液晶显示屏显示您正使用的物镜倍数12、免费下载软件,进行计算机控制
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  • 您想了解更多显微镜价格,显微镜多少钱一台,显微镜报价信息吗?苏州工业园区汇光科技有限公司成立于2003年,是一家专业从事以显微光学、显微视觉、数码成像,自动化测量以及非标智能检测类为核心的各种工业用光学检测分析仪器和设备的研发、生产与销售。其中,按显微镜种类分,体视显微镜价格1000起,视频显微镜价格2000起,金相显微镜5000起,测量显微镜60000起。在选购显微镜的过程中,您可以根据自己需求搭配,我们也有专业的技术人员根据您需要检测的产品给出合理的建议,祝您早日选到价格合理的视频显微镜哦。苏州汇光主要经营的产品主要如下视频显微镜:高清测量视频显微镜、高清检查视频显微镜、视频一体机、自动对焦视频显微镜、大视频检测视频显微镜、三维检查显微镜,万向支架视频显微镜,万向支架体视视频显微镜,三目视频显微镜,三目体视视频显微镜;.或直接浏览 视频显微镜网站金相显微镜:材料分析显微镜、切片分析显微镜、半导体检查显微镜、LCD导电粒子检查显微镜、LED检查显微镜、镀层检测显微镜、熔深检测显微镜、孔隙率检测显微镜、清洁度检测显微镜、线束端子检测显微镜、超景深3D显微镜,红外显微镜、紫外显微镜、明场显微镜、暗场显微镜、偏光显微镜、微分干涉显微镜、舜宇显微镜、奥林巴斯显微镜;体视显微镜:环形光体视显微镜、同轴光体视显微镜、上下光源体视显微镜、斜光源体视显微镜、冷光源体视显微镜、万向支架体视显微镜;测量显微镜(主要包含3大系列,HJG系列,MS系列,STM7系列)、显微镜配件、金相制样设备及非标智能检测设备等。苏州汇光真诚欢迎需要显微镜的朋友前来我司咨询哦。我们会为您需要的产品做详细的报价信息。做到高性价比,您还在等什么呢。
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  • Slynx紧凑型3D光学轮廓仪产品描述——紧凑、灵活、强大SensofarSlynx是一款专为工业和研究所设计的全新非接触式3D表面光学轮廓仪,用于工业和科研应用,其设计定位是一个紧凑和灵活的系统。它设计简洁、用途多样。光学轮廓仪Slynx能够测量不同的材质,结构,表面粗糙度和波度,几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌,测量应用。Sensofar的核心是将3种测量方式融于一体,确保了其*的性能。配合SensoSCAN软件系统,用户将获得难以置信的直观操作体验。主要应用l半导体晶圆应用l汽车零部件l消费电子l能源l材料表面l微电子lLEDl微体古生物学l光学镜片加工l模具加工l钟表制造l腐蚀表面结构l摩擦学表面结构主要功能1.共聚焦共聚焦技术可以用来测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率,可达0.10um。利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的镜头时,共聚焦在光滑表面测量斜率达70°(粗糙表面达86°)。专利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。2.干涉白光垂直扫描干涉(VSI)是一种广泛用于测量表面特性(如形貌或透明薄膜结构)的功能强大的技术。它最适合测量从光滑到适度粗糙的表面,无论物镜的NA或者放大倍数变化,均可以提供纳米级的垂直分辨率。3.多焦面叠加多焦面叠加技术是用来测量非常粗糙的表面形貌。根据Sensofar在共聚焦和干涉技术融合应用方面的丰富经验,特别设计了此功能来补足低倍共聚焦测量的需要。该技术的最大亮点是快速(mm/s)、扫描范围大和支援斜率大(最大86°)。此功能对工件和模具测量特别有用。主要优势1.实时图像SENSOSCAN为您呈现*的共聚焦实时图像。我们的图像质量和速度进一步提升,在共聚焦照明模式下可达9帧/秒,在明场照明模式下高达30帧/秒。与此同时,还有多种实时图像模式选择。
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  • 金相显微镜 徕卡DM4 M和DM6 M您是否需要对许多样品以及材料科学和分析中的相似特征进行成像,测量和分析?无论是显微镜新手还是专业人士,徕卡DM4 M和徕卡DM6 M都是适合的工业显微镜。使用Leica DM4 M进行手动例行检查使用Leica DM6 M进行全自动材料分析对于每种样品类型,您可以轻松调用以前的显微镜设置,并通过独特的存储和调用软件功能立即重现成像参数。一键式智能自动化使您的重复工作变得容易。每次都可以使用显微镜的记忆功能来减少调整时间,改善工作流程并获得出色的成像结果。 在诸如钢夹杂物等级,颗粒分析,相或晶粒分析等应用中,重现性至关重要。您可以依靠Leica DM4 M和Leica DM6 M显微镜系统提供可重复的结果。节省宝贵的时间:借助照明管理器和对比度管理器,显微镜可以自动识别所使用的对比技术和物镜,准确地打开和关闭光圈和视场光阑,并适应光强度。随时随地共享和比较您的结果!使用Leica Microscope Assistant(Leica LAS存储和调用模块)存储和调用显微镜设置和相机参数。它们与图像一起保存和存档,并且可以随时还原。 选择适合您要求的个人图像分析系统:Leica Application Suite(LAS)软件平台将显微镜,软件和相机集成到一个软件包中,着重于界面,功能和工作流程各个方面的效率。使用Leica DM6 M,您可以使用其他模块,例如Steel Expert,Cleannesss Expert,Grain Expert和Phase Expert。掌握时间快!使用Leica SmartTouch触摸屏或Leica DM6 M以及Leica SmartMove遥控器上的自由可编程功能按钮,可以加快工作流程。使用Leica DM4 M可以舒适,快速地工作:清晰排列的显示屏使所有显微镜设置一目了然。六个功能键可轻松访问常用功能-无需从样本中查找。 高质量、多用途光源无论使用明场(BF),高动态暗场(HDF),微分干涉对比(DIC),荧光(FL)还是偏振(POL),LED照明都能带来可重现的结果。在任何显微镜设置下,都可以在恒定色温下查看样品:无需每次更改亮度或重置白平衡时都重置相机。选择一种或几种可用的对比方法来检测样品上的更多瑕疵和缺陷。节能高效:LED照明节省能源–使用寿命长达25.000小时,更换灯泡会导致显微镜停机已成为过去。 寻找快速借助全自动差分干涉对比(DIC)和1.25倍全景物镜,甚至可以检测到最精细的细节:轻松实现目标:只需按一下按钮,Leica DM6 M的所有系统组件(例如检偏器,偏振器和适当的棱镜)都会自动进入光路,同时针对每个物镜存储精细的调整。 使用1.25x全景物镜获得样品的详细概览。借助Leica DM4 M,您可以精确,精细地查看每个细节。 选择最适合您的系统您是否需要显微镜来快速概览样品或进行详细检查–立式显微镜Leica DM4 M和Leica DM6 M始终以正确的设置为您提供支持。 您需要显微镜进行手动例行检查吗? Leica DM4 M是为您提供的手动编码例行检查系统。 手动2档对焦驱动器 编码的6倍或7倍物镜转镜 符合人体工程学的手动三板式载物台,可编程按钮 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式:明场,暗场,微分干涉对比,偏振,荧光 Leica Application Suite X(LAS X)软件 您需要显微镜进行全自动材料分析吗?Leica DM6 M是具有准确性和再现性的检测系统。 电动高精度2档聚焦驱动器 电动6折或7折物镜转接镜 手动或电动扫描台 触摸屏控制 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式:明场,暗场,微分干涉对比,偏振,荧光 Leica Application Suite X(LAS X)软件 结合LAS X也可以使用自动对焦对于视觉和化学分析,您可以使用LIBS系统改装DM6 M复合显微镜,然后使用二合一解决方案进行快速,精确的材料分析。
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  • 金相显微镜 徕卡DM4 M和DM6 M您是否需要对许多样品以及材料科学和分析中的相似特征进行成像,测量和分析?无论是显微镜新手还是专业人士,徕卡DM4 M和徕卡DM6 M都是适合的工业显微镜。使用Leica DM4 M进行手动例行检查使用Leica DM6 M进行全自动材料分析对于每种样品类型,您可以轻松调用以前的显微镜设置,并通过独特的存储和调用软件功能立即重现成像参数。一键式智能自动化使您的重复工作变得容易。每次都可以使用显微镜的记忆功能来减少调整时间,改善工作流程并获得出色的成像结果。 在诸如钢夹杂物等级,颗粒分析,相或晶粒分析等应用中,重现性至关重要。您可以依靠Leica DM4 M和Leica DM6 M显微镜系统提供可重复的结果。节省宝贵的时间:借助照明管理器和对比度管理器,显微镜可以自动识别所使用的对比技术和物镜,准确地打开和关闭光圈和视场光阑,并适应光强度。随时随地共享和比较您的结果!使用Leica Microscope Assistant(Leica LAS存储和调用模块)存储和调用显微镜设置和相机参数。它们与图像一起保存和存档,并且可以随时还原。 选择适合您要求的个人图像分析系统:Leica Application Suite(LAS)软件平台将显微镜,软件和相机集成到一个软件包中,着重于界面,功能和工作流程各个方面的效率。使用Leica DM6 M,您可以使用其他模块,例如Steel Expert,Cleannesss Expert,Grain Expert和Phase Expert。掌握时间快!使用Leica SmartTouch触摸屏或Leica DM6 M以及Leica SmartMove遥控器上的自由可编程功能按钮,可以加快工作流程。使用Leica DM4 M可以舒适,快速地工作:清晰排列的显示屏使所有显微镜设置一目了然。六个功能键可轻松访问常用功能-无需从样本中查找。 高质量、多用途光源无论使用明场(BF),高动态暗场(HDF),微分干涉对比(DIC),荧光(FL)还是偏振(POL),LED照明都能带来可重现的结果。在任何显微镜设置下,都可以在恒定色温下查看样品:无需每次更改亮度或重置白平衡时都重置相机。选择一种或几种可用的对比方法来检测样品上的更多瑕疵和缺陷。节能高效:LED照明节省能源–使用寿命长达25.000小时,更换灯泡会导致显微镜停机已成为过去。 寻找快速借助全自动差分干涉对比(DIC)和1.25倍全景物镜,甚至可以检测到最精细的细节:轻松实现目标:只需按一下按钮,Leica DM6 M的所有系统组件(例如检偏器,偏振器和适当的棱镜)都会自动进入光路,同时针对每个物镜存储精细的调整。 使用1.25x全景物镜获得样品的详细概览。借助Leica DM4 M,您可以精确,精细地查看每个细节。 选择最适合您的系统您是否需要显微镜来快速概览样品或进行详细检查–立式显微镜Leica DM4 M和Leica DM6 M始终以正确的设置为您提供支持。 您需要显微镜进行手动例行检查吗? Leica DM4 M是为您提供的手动编码例行检查系统。 手动2档对焦驱动器 编码的6倍或7倍物镜转镜 符合人体工程学的手动三板式载物台,可编程按钮 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式:明场,暗场,微分干涉对比,偏振,荧光 Leica Application Suite X(LAS X)软件 您需要显微镜进行全自动材料分析吗?Leica DM6 M是具有准确性和再现性的检测系统。 电动高精度2档聚焦驱动器 电动6折或7折物镜转接镜 手动或电动扫描台 触摸屏控制 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式:明场,暗场,微分干涉对比,偏振,荧光 Leica Application Suite X(LAS X)软件 结合LAS X也可以使用自动对焦对于视觉和化学分析,您可以使用LIBS系统改装DM6 M复合显微镜,然后使用二合一解决方案进行快速,精确的材料分析。
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  • 金相显微镜 徕卡DM4 M和DM6 M您是否需要对许多样品以及材料科学和分析中的相似特征进行成像,测量和分析?无论是显微镜新手还是专业人士,徕卡DM4 M和徕卡DM6 M都是适合的工业显微镜。使用Leica DM4 M进行手动例行检查使用Leica DM6 M进行全自动材料分析对于每种样品类型,您可以轻松调用以前的显微镜设置,并通过独特的存储和调用软件功能立即重现成像参数。一键式智能自动化使您的重复工作变得容易。每次都可以使用显微镜的记忆功能来减少调整时间,改善工作流程并获得出色的成像结果。 在诸如钢夹杂物等级,颗粒分析,相或晶粒分析等应用中,重现性至关重要。您可以依靠Leica DM4 M和Leica DM6 M显微镜系统提供可重复的结果。节省宝贵的时间:借助照明管理器和对比度管理器,显微镜可以自动识别所使用的对比技术和物镜,准确地打开和关闭光圈和视场光阑,并适应光强度。随时随地共享和比较您的结果!使用Leica Microscope Assistant(Leica LAS存储和调用模块)存储和调用显微镜设置和相机参数。它们与图像一起保存和存档,并且可以随时还原。 选择适合您要求的个人图像分析系统:Leica Application Suite(LAS)软件平台将显微镜,软件和相机集成到一个软件包中,着重于界面,功能和工作流程各个方面的效率。使用Leica DM6 M,您可以使用其他模块,例如Steel Expert,Cleannesss Expert,Grain Expert和Phase Expert。掌握时间快!使用Leica SmartTouch触摸屏或Leica DM6 M以及Leica SmartMove遥控器上的自由可编程功能按钮,可以加快工作流程。使用Leica DM4 M可以舒适,快速地工作:清晰排列的显示屏使所有显微镜设置一目了然。六个功能键可轻松访问常用功能-无需从样本中查找。 高质量、多用途光源无论使用明场(BF),高动态暗场(HDF),微分干涉对比(DIC),荧光(FL)还是偏振(POL),LED照明都能带来可重现的结果。在任何显微镜设置下,都可以在恒定色温下查看样品:无需每次更改亮度或重置白平衡时都重置相机。选择一种或几种可用的对比方法来检测样品上的更多瑕疵和缺陷。节能高效:LED照明节省能源–使用寿命长达25.000小时,更换灯泡会导致显微镜停机已成为过去。 寻找快速借助全自动差分干涉对比(DIC)和1.25倍全景物镜,甚至可以检测到最精细的细节:轻松实现目标:只需按一下按钮,Leica DM6 M的所有系统组件(例如检偏器,偏振器和适当的棱镜)都会自动进入光路,同时针对每个物镜存储精细的调整。 使用1.25x全景物镜获得样品的详细概览。借助Leica DM4 M,您可以精确,精细地查看每个细节。 选择最适合您的系统您是否需要显微镜来快速概览样品或进行详细检查–立式显微镜Leica DM4 M和Leica DM6 M始终以正确的设置为您提供支持。 您需要显微镜进行手动例行检查吗? Leica DM4 M是为您提供的手动编码例行检查系统。 手动2档对焦驱动器 编码的6倍或7倍物镜转镜 符合人体工程学的手动三板式载物台,可编程按钮 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式:明场,暗场,微分干涉对比,偏振,荧光 Leica Application Suite X(LAS X)软件 您需要显微镜进行全自动材料分析吗?Leica DM6 M是具有准确性和再现性的检测系统。 电动高精度2档聚焦驱动器 电动6折或7折物镜转接镜 手动或电动扫描台 触摸屏控制 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式:明场,暗场,微分干涉对比,偏振,荧光 Leica Application Suite X(LAS X)软件 结合LAS X也可以使用自动对焦对于视觉和化学分析,您可以使用LIBS系统改装DM6 M复合显微镜,然后使用二合一解决方案进行快速,精确的材料分析。
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  • 徕卡 DM5000 B 自动显微镜适用于活细胞分析与细胞形态研究,它具有编码的 7 倍物镜转盘、手动 z 轴聚焦、全自动微分干涉差显微功能,以及 5 倍或 8 倍荧光轴。除具有自动明视野、暗视野、相差与偏光对比功能之外,徕卡DM5000 B 还具有全自动微分干涉差显微功能(DIC)。显微镜可通过触摸屏控制。专用软件与电动荧光轴相结合,使徕卡DM5000 B 更适用于与固定化细胞、活细胞与组织培养有关的高级荧光应用。您的优势自动透射光轴具有适用于所有已知透射光技术的自动透射光轴,包括徕卡显微系统公司专用的全自动微分干涉差技术。电动荧光轴电动荧光轴具有 5 孔或 8 孔荧光滤块转盘。荧光强度管理器徕卡显微系统公司专用的荧光强度管理器(FIM)可对荧光光线进行快速、准确与一致的调节。可再现的分析结果用户可保存显微镜的设置并能随时恢复,以确保分析结果的一致性。个性化操作Leica DM5000带有彩色触摸屏,可以自由控制显微镜,并显示所有参数。LeicaDM5000调焦旋钮后的快捷操作键可以根据配置和应用自由设置,实现个性化操作。
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  • 找苏州金相显微镜生产厂家,金相显微镜供应商,欢迎您来苏州工业园区汇光科技有限公司.苏州汇光科技供应的金相显微镜有材料分析显微镜、切片分析显微镜、半导体检查显微镜、LCD导电粒子检查显微镜、LED检查显微镜、镀层检测显微镜、熔深检测显微镜、孔隙率检测显微镜、清洁度检测显微镜、线束端子检测显微镜、超景深3D显微镜,红外显微镜、紫外显微镜、明场显微镜、暗场显微镜、偏光显微镜、微分干涉显微镜、舜宇显微镜、奥林巴斯显微镜等,种类齐全,现货供应,随时可发货,且江浙沪一带3天左右就能送到,我们会有专业的技术人员上门安装,显微镜操作培训苏州工业园区汇光科技有限公司成立于2003年,是一家专业从事以显微光学、显微视觉、数码成像,自动化测量以及非标智能检测类为核心的各种工业用光学检测分析仪器和设备的研发、生产与销售。真心欢迎您关注我们。
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  • 徕卡DM4M主要技术特点您是否需要在许多样品和材料科学与分析领域进行成像、测量并分析类似特点?LeicaDM4M和LeicaDM6M是您理想的工业显微镜,无论您是新手还是专业人士。使用LeicaDM4M进行手动例程检查使用LeicaDM6M进行全自动材料分析您可轻松调用之前的显微镜设置并通过独特的软件功能“保存和调用”(StoreandRecall)即时复制成像参数。适用于任何类型的样本。一键式“智能自动化”可让您轻松搞定重复性工作。这些具有记忆功能的显微镜可帮您减少培训时间、改进工作流程和获得出色的成像结果—始终如一。“可复制”意味着“可靠”在诸如钢铁夹杂物比例测定、粒子分析、相位或颗粒分析等应用中,可复制性至关重要。LeicaDM4M和LeicaDM6M显微镜系统值得您的信赖,获得可复制的结果。始终如一!节省宝贵时间:凭借照明管理器(IlluminationManager)和相衬管理器(ContrastManager),显微镜能够自动识别所选的相衬方法和正在使用的物镜,准确打开和关闭孔径光阑和视场光阑,且调整光线强度。共享和比较您的结果—随时随地!通过Leica显微镜副助手(LeicaMicroscopeAssistant,LeicaLAS“保存和调用”模块)保存和调用显微镜设置和摄像头参数。它们随图像一同保存和归档,并可随时恢复。选择您需要的组件选择满足您需求的个性化图像分析系统:LeicaApplicationSuite(LAS)软件平台将显微镜、软件和摄像头集成在一个软件包中,全面兼顾界面、功能和工作流程各个方面的效率。通过LeicaDM6M,您可使用附加的模块,例如钢铁专家(SteelExpert)、清洁度专家(CleanlinessExpert)、晶粒专家(GrainExpert)和相位专家(PhaseExpert)。轻松快捷!通过LeicaDM6M上的LeicaSmartTouch触控屏或者LeicaDM6M和LeicaSmartMove遥控上的可自由编程的各功能按钮,加速您的工作流程。LeicaDM4M可让您工作方便快捷:布局清晰的显示屏令所有显微镜设置一览无遗。六个功能键帮助轻松操作各种常用功能—无需从样品查找。无忧照明!LED照明有助于结果的可复制—无论您以明场(BF)、高动态暗场(HDF)、微分干涉相衬(DIC)、荧光(FL)还是偏振(POL)状态工作。可在任何显微镜设置下以恒定的色彩温度查看您的样品:无需每次亮度改变时都重置摄像头或调节白平衡。选择一种或多种可用的相衬观察方法,在样品上检测出更多的瑕疵和缺陷。节省能源和成本:LED照明可节省能源,使用寿命长达25,000小时,从而使因更换灯泡而导致的显微镜停机成为过去。精准细致!凭借全自动微分干涉相衬(DIC)和1.25倍全景物镜,即使最微小的细节徕卡工业测量显微镜也能检测到:无需费力,轻松达成您的目标:只需按下一个按钮,LeicaDM6M的所有系统组件(例如检偏器、起偏镜和适当的棱镜)便会自动移至光路径,同时每一个物镜的微调都得以保存。1.25倍全景物镜,出色呈现样品的概览。凭借LeicaDM4M,以出色的景深精准观察每一个细节。个性化选择!您需要能够进行半自动日常检查的显微镜吗?LeicaDM4M正是为您打造的半自动编码日常检查系统:2-齿轮手动调焦驱动器6位或7位编码物镜转盘手动3叠式载物台,6个符合人体工学设计的可编程按钮照明管理系统对比度管理器LED照明装置可实现所有对比度模式相衬模式:明场、暗场、微分干涉相衬、偏振、荧光LeicaApplicationSuiteX(LASX)您需要能够进行全自动材料分析的显微镜吗?LeicaDM6M正是能够实现最高精确度和可复制性的全自动检查系统:2-齿轮高精度电动调焦驱动器6位或7位电动物镜转盘手动或电动扫描平台触屏控制照明管理系统对比度管理器LED照明装置可实现所有对比度模式相衬模式:明场、暗场、微分干涉相衬、偏振、荧光LeicaApplicationSuiteX(LASX)软件为了更好的做化学分析,您可以使用搭载了LIBS的DM6M显微镜,得到更快速、精准的分析结果。
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  • leica DM6000生物显微镜 400-860-5168转2066
    徕卡 DM6000B 显微镜采用电动 z 轴聚焦、电动与编码 7 倍物镜转盘、全自动微分干涉差显功能,以及 5 ×或 8 ×荧光轴,可提供所有透射光差显示技术,包括全球首创的全自动微分干涉差显(DIC)技术。系统的独特功能之一是可记忆与物镜对应的特定显示方法,即系统可以提供微分干涉差显方法与 63 倍放大率一起使用,以提供一致的分析结果。电动的 Z 轴驱动可进行自动齐焦调节、保存焦距值以及 Z 轴水平自动定位。主要功能电动6位物镜转换电动调焦电动双侧光路出口荧光光强控制,防淬灭超快速荧光滤块转换色温平衡技术参数显示屏支持底出口可配平场消色差物镜或半复消色差, 复消色差长工作距离物镜可配明场, 暗场, 相衬, IMC(霍夫曼), 荧光, 微分干涉功能超快速荧光滤块转换10X, 目镜, 支持25mm视域, 或其他倍数目镜双目或三目观察筒,12V100W卤素灯透射光照明,多种物台及样夹可接多种光学变倍CO2 孵育系统接CCD或照相装置, 与多种软件匹配使用快捷操作控制键无限远光路
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