可靠性温度冲击试验箱

勤卓吊蓝式冷热冲击试验箱小型高低温冲击箱HK-80-3H产品用途吊篮式冷热冲击试验机用于光伏组件、LED灯管、LED灯具、电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要冷热冲击试验箱的鉴定。勤卓吊蓝式冷热冲击试验箱小型高低温冲击箱HK-80-3H产品用途产品特点 通过气动方式将样品放置篮在蓄冷箱和蓄热箱两者之间快速移动，有测试孔，可带电，带信号，带气源测试。新一代外观设计，箱体结构、制冷系统、控制技术均做较大改进，技术指标更加稳定，运行更可靠。维护更方便,备有gao挡万向滚轮，方便在实验内移动。超大触摸屏操作，外观更加简洁大方，操作更加容易，设定值实际值实时显示。 真空双层玻璃：大视窗设计，飞利浦高亮度照明，加热无雾气 为编程和文档处理提供更多的接口选项 USB 输出，电脑连接打印可靠性高：主要配件选配zhu名专业厂商，保证提高整机可靠性一、产品属性1.1容积：80L1.2工作室尺寸500*400*400mm (宽×高×深)1.3 外形尺寸1400*2000*2100mm (宽×高×深)1.4 冲击形式低温高温按程序自动交变，转移样品提篮，提篮式.1.5供电电源380V±10%,50Hz±1 三相四线+接地线，保护接地电阻小于 4Ω1.6 总功率15KW主要技术参数 2.1 高温室高温蓄温箱温度范围+60℃～＋200℃高温冲击温度+60～150℃2.2 低温室低温蓄温箱温度范围-10℃～-65℃低温冲击温度-10℃～-40℃ 2.3.工作室 温度波动度≤0.5℃温度偏差≤±1℃温度均匀度≤2.0℃高低温转换时间5~15S高低温恢复时间3~5min（空载下非线性）预热区升温速度≥3℃/min（非线性）预冷区降温速度≥2℃/min（非线性）2.4噪音65dB 2.5 满足试验标准1、1.IEC 60068-2-14环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化,2、GB/T 2423.22环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化,3、GJB 150.5军用装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验,4、JESD 22-A106B.01-2016温度冲击 三、试验箱结构（水冷式）3.1、结构方式预热室、预冷室与制冷机组一体式.通过气动方式使样品吊篮在高温和低温测试区上下移动 3.2、材料构成3.2.1 外壁材料：冷轧钢板静电双面喷塑，颜色为象牙白3.2.2 内壁材料：SUS304 不锈钢板3.2.3 绝热材料：100mm 玻璃棉保温层3.3、结构强度试验箱承重能力：≤100Kg3.4、大门全开单翼型箱门一扇，带门锁。门框两道硅橡胶密封条,低温室门框防结露电热装置3.5、观察窗门上有 1 个多层观察窗，低温室门上观察窗带镀膜加热以防止其冷凝和结霜3.6、冷凝出水孔具有工作室冷凝水和机组凝结水的引出孔3.7、引线孔在试验箱一侧设定一个直径为5cm的引线孔，便于样品通电\通讯号之用。3.8、照明灯工作室顶部设低压照明灯，控制屏开关控制四、试验箱空气调节系统4.1、调控方式空气强制循环平衡调温4.2、空气循环装置离心式风机，长轴外置电机驱动。4.3、加热方式镍铬合金电热丝式加热，PID 调节，执行元件：固态继电器4.4、空气冷却方式翅片式蒸发器 五、试验箱制冷系统5.1、工作方式复叠汽体压缩式制冷5.2、冷凝方式水冷5.3、制冷压缩机国际品牌法国泰康压缩机5.4、制冷机控制根据试验条件，控制系统自动调节制冷机运行工况、冷量大小，确保压缩机 工作在合适状态，延长压缩机使用寿命5.5、制冷剂环保制冷剂 R404a ；R235.6、减振、降噪制冷机系统减振、降噪措施六、试验箱控制系统6.1、传感器铠装铂电阻6.2、控制器进口彩色液晶触摸控制屏 6.3、人机界面中文、彩色 LCD 显示、触摸屏方式输入设定。6.4、分辨率温度 0.1℃，时间 1min6.5、运行方式定值运转、程序运转6.6、试验数据显示设定温度、实测温度、冲击次数、总运行时间、段运行时间、加热制冷状态6.7、制冷机工况自动选择根据试验条件控制器能自动配置制冷机的工况或开/停。6.8、其他功能6.8.1 故障报警及原因、处理提示功能6.8.2 断电保护功能6.8.3 上下限温度保护功能6.8.4 日历定时功能(自动启动及自动停止运行)6.8.5 自检功能。6.8.6 密码保护控制器设置参数6.9、功能自动调用分组 PID 参数。6.10、接口选配 RS232/RS485 电脑接口及控制操作软件系统。能实现计算机控制、数 据采集控制计算机的数据通讯功能。 七、试验箱安全保护装置 7.1、工作室7.1.1 独立式工作室超温保护器7.1.2 风机过热保护7.2、制冷系统7.2.1 压缩机超压7.2.2 压缩机过流7.2.3 压缩机过热8.2.4 排气温度保护7.2.6 压缩机缺油保护7.3、电源系统7.3.1 电源缺相及相序错误保护7.3.2 漏电保护7.3.3 加热器短路等过流保护7.4、其他试验箱外壳接地保护八、试验箱标准附件及随机资料8.1、产品使用说明书1 份8.2、产品合格证1 份8.3、质量保证书1 份8.4、出厂检验报告1 份九、项目说明说 明电 压三相五线制 380VAC±10%； 50Hz±2%。环境湿度≯85%R.H；大气压86～106Kpa；环境条件设备现场周围无强烈振动、无强电磁场干扰、无高浓度粉尘及腐蚀性物质、无阳光直接照射或其它热源直接辐射设备水平放置通风良好的试验室内，周围应留有充足的空间供操作及维护之用。十、安装场所为了便于箱体散热及维修保养，安装本设备的场所必须符合下列条件：）1、与相邻的墙壁或器物之间的距离。2、为了稳定地发挥试验箱的功能、性能，应选择常年温度为30 ℃以下，相对湿度小于 85%的场所。3、安装场所的环境温度切忌急剧变化。4、应安装在无直射阳光的场所。5、应安装在通风良好的场所。6、应安装在远离可燃物、爆炸物及高温发热源的地方。7、应安装在灰尘少的场所。8、尽可能地安装在靠近供电电源的场所。9、尽可能地安装在靠近水塔管道连接的场所 创新点：一台品质精密的试验设备，让您的产品品质稳中获胜.采用进口智能触摸屏,温控器显示不失真,操作灵敏 散热孔加装过滤棉,内部选用耐腐蚀、易清洗优质304钢材。内置过滤器，隔绝灰尘深入，以保证部件清洁，延长使用寿命.设备底部采用高品质福马脚轮，稳定性好，更顺滑，不卡顿.选购品质风扇，强大的散热系统，告诉循环散热，温控精准。 勤卓吊蓝式冷热冲击试验箱小型高低温冲击箱HK-80-3H

table width=" 624" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" border=" 1" align=" center" tbody tr style=" height:25px" class=" firstRow" td style=" border: 1px solid windowtext padding: 0px 7px " width=" 132" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 成果名称 /span /p /td td colspan=" 3" style=" border-color: windowtext windowtext windowtext currentcolor border-style: solid solid solid none border-width: 1px 1px 1px medium border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " valign=" bottom" width=" 491" height=" 25" p style=" text-align:center line-height:150%" strong span style=" line-height:150% font-family:宋体" 水平结构三箱式温度冲击试验箱 /span /strong /p /td /tr tr style=" height:25px" td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 132" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 单位名称 /span /p /td td colspan=" 3" style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 491" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 中科赛凌（北京）科技有限公司 /span /p /td /tr tr style=" height:25px" td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 132" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 联系人 /span /p /td td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 168" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 田甜 /span /p /td td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 161" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 联系邮箱 /span /p /td td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 162" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 1114581437@qq.com /span /p /td /tr tr style=" height:25px" td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 132" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 成果成熟度 /span /p /td td colspan=" 3" style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 491" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" □正在研发& nbsp & nbsp □已有样机& nbsp & nbsp √通过小试& nbsp & nbsp □通过中试& nbsp & nbsp □可以量产 /span /p /td /tr tr style=" height:25px" td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 132" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 合作方式 /span /p /td td colspan=" 3" style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 491" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" □技术转让& nbsp & nbsp & nbsp □技术入股& nbsp & nbsp & nbsp □合作开发& nbsp & nbsp & nbsp √其他 /span /p /td /tr tr style=" height:66px" td colspan=" 4" style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 624" height=" 66" p style=" line-height:150%" strong span style=" line-height:150% font-family: 宋体" 成果简介： /span /strong /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 产品属于高低温冲击试验箱的三箱式冲击箱，三箱式温度冲击箱包括高温箱、工作箱、低温箱。高温箱产生高温，低温箱产生低温，工作箱放置测试样品。高温箱与工作箱之间由风门隔开，低温箱与工作箱之间也由风门隔开。工作时，工作箱周期性的处于高温、低温状态。其中，需要高温时，高温风门打开，高温箱和工作箱连通，高温风机作用下，空气在高温箱和工作箱之间循环流动，达到工作箱升温的目的。需要低温时，情况和高温相同。传统的三箱式温度冲击试验箱的高温箱、工作箱、低温箱是上、中、下布局（垂直结构），离心风机布置在侧面。由于工作箱的出风和回风口的流动阻力不均匀，工作箱的温度均匀度较差，是高低温试验箱的2-3倍。 /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 本从结构上进行了创新。高温箱、工作箱、低温箱处于一个水平面上，高温箱和工作箱之间的连接结构类似于高低温试验箱的工作室和换热室连接结构。确保了冲击箱的温度均匀性和高低温试验箱均匀性相同，大大提高了温度均匀性。 /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 另外，水平结构使得设备下方可以放置压缩机等制冷部件，空间利用率高，整体更加紧凑，体积比传统三箱式温度冲击试验箱大大缩小。 /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 最后，水平结构可以采用模块化制作方式，高温模块、低温模块直接采用高低温试验箱的结构。生产时将模块分别制作，再组装即可。 /span /p p style=" line-height:150%" strong span style=" line-height:150% font-family: 宋体" 主要技术指标： /span /strong /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 容积范围：50L～500L /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 温度范围：高温区：室温+25～+200℃；低温区： -75～+120℃ /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 冲击范围：-55～+150℃ /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 波动度：≤± 0.5℃ /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 温度偏差：≤± 2.0℃ /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 降温速率：+25降至-75℃，≤60Min /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 升温速率：常温升至+200℃，≤40Min /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 温度冲击时间：转换时间≤15S；温度恢复时间≤5Min /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 温度恢复条件：暴露条件：高温暴露（+150℃）30Min；低温暴露（-55℃）30Min /span /p /td /tr tr style=" height:75px" td colspan=" 4" style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 624" height=" 75" p style=" line-height:150%" strong span style=" line-height:150% font-family: 宋体" 应用前景： /span /strong /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 应用于电子产品、航天产品、机械产品的高低温试验。可替代原来的垂直结构三箱式温度冲击箱，尤其对尺寸、功率、温度均匀度要求较高的客户。北京市场容量在100台/2000万的量级。 /span /p /td /tr tr style=" height:72px" td colspan=" 4" style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 624" height=" 72" p style=" line-height:150%" strong span style=" line-height:150% font-family: 宋体" 知识产权及项目获奖情况： /span /strong /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 已申请实用新型和发明专利 ： /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 申请号或专利号：201710737119.0 /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 发文序号：2017112800719640 /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 申请人或专利权人：中科赛凌（北京）科技有限公司 /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 发明创造名称：一种高低温冲击箱 /span /p /td /tr /tbody /table p br/ /p

为了解中国科学仪器的市场情况和应用情况，同时将好的检测机构及其优势检测项目推荐给广大用户，“仪器信息网”与“我要测”自2011年9月1日开始，对不同领域具有代表性的实验室进行走访参观。近日，“我要测”工作人员参观访问了本次活动的第九十五站：航天环境可靠性试验与检测中心。该中心市场营销部部长彭康先生热情接待了仪器信息网到访人员。 航天环境可靠性天津试验与检测中心外景照片 　　航天环境可靠性试验与检测中心(以下简称“中心”)隶属于北京强度环境研究所，是航天系统结构强度与环境可靠性工程专业的中心权威检测认证机构，拥有ISO9000/GJB9001B质量体系认证、国家一级保密资格认证、国防科技重点实验室、国家实验室(CNAS)认可和国防科技工业实验室(DiLAC)认可等多项资质。 目前，中心拥有在职员工700多人，在北京、天津、上海、西安等都建有试验检测中心，并正逐步形成覆盖全国的服务网络，为航天、航空、船舶、兵器、轨道交通、汽车、电子、通信、医疗、能源等行业提供专业的环境与可靠性技术服务，主要开展以下检测业务：(1)环境可靠性试验与检测(环境包括气候、力学、综合) (2)结构静力强度和结构动特性的研究与试验 (3)环境可靠性试验方案的设计、制定、分析与评估。 　　中心的特色服务为振动、冲击等力学试验和综合环境可靠性试验。 其中，在结构静动热强度、可靠性工程、环境工程等专业领域，中心具有国内领先、国际一流的专业研究与试验检测能力，并主持和参与了多部环境与可靠性工程领域重要标准的制定。 　　军工背景彰显技术优势 　　拜访伊始，彭康先生首先谈到了中心的依托单位——北京强度环境研究所。该所是中国航天系统结构强度和环境可靠性工程的专业中心研究所，是国内建立最早、规模最大的结构强度和环境可靠性工程研究与试验中心。研究所建立以来，承担了中国航天各种型号运载火箭、卫星及地面设备强度、环境与可靠性研究和试验，取得了大量的研究成果。因此，中心拥有其它检测机构所不具备的军工背景和技术优势。 　　彭康先生还介绍到，现在一些像铁路、风电等需要安全性保障的行业经常会出现事故，究其原因一方面是因为设计不够合理，另一方面是产品质量问题，而产品的质量问题很大程度上是因为检测或试验产品的能力不够先进，一般的检测技术不能真实地再现产品在真实环境中会出现的故障。在这样的背景下，中心要立足市场，将先进的军工技术推广到民用领域。 汽车仪表板温度+湿度+振动三综合试验(航天希尔的综合环境试验系统) 轨道交通牵引电机振动、冲击试验(航天希尔的9吨推力电磁振动台) 地铁车门的振动、冲击试验(航天希尔的9吨推力电磁振动台) 风电变频器振动、冲击试验(航天希尔的16吨推力电磁振动台) 　　综合环境和大型结构件试验能力行业领先 　　除了中心的军工背景之外，彭康先生谈到，中心还是目前国内唯一掌握系统及综合环境试验技术的单位，可以通过施加噪声、振动、冲击、加速度、温度、湿度等综合环境应力，暴露系统设计和制造工艺缺陷，提高系统可靠性 另外，中心还可以为用户提供试验条件制定、试验方案编写及试验故障分析与诊断等服务。 航天希尔的H1859A/BT1500M振动系统(最大推力：160KN 工作频率范围：2~2000Hz 最大空载加速度：100g 最大峰-峰位移(mm)：76 台面尺寸(mm)：1500×1500) ACS的UC30步入式交变湿热试验箱(温度范围(℃)：-70～100 温度变化速率(℃/min)：2 湿度范围(RH)：20%～98% 内部尺寸(深x宽x高)(mm)：3300x3000x3000) 航天希尔的TAV-5000-6M三轴振动系统(频率范围：5-2000Hz 正弦推力：5000KN 最大加速度：25g 台面尺寸：600 x 600mm) 　　中心可以对飞机发动机、叶片等大型结构件在各种环境下进行模拟，也可以将整个导弹和火箭挂吊在全箭振动塔里进行模态试验。彭康先生特别强调说，中心采用北京强度环境研究所研制出的30吨以上的大吨位振动台，可以对各种大型试件进行振动试验与检测。 大型火箭舱段振动、冲击试验(航天希尔的30吨推力电磁振动台) 风电叶片摆向疲劳试验 　　尖端技术造就尖端检测服务 　　在整个拜访过程中，彭康先生多次强调了中心的特色技术与服务。这些特色检测技术主要包括以下几点： 　　(1)在振动环境试验方面，中心拥有国内最大推力30吨和35吨的振动台，可进行大吨位试件的试验。如果试件吨位更大，可以将两个或更多的30吨或35吨的振动台并机对试件进行试验。此外，中心还拥有国内领先的多维振动控制技术，可进行各种单机(部件)、分系统和系统级产品的多维振动试验，为产品提供更为真实的使用环境模拟，从而降低研制风险、缩短研制周期。 　　(2)在温度+湿度+振动三综合试验方面，有180立方温湿度试验箱配备2台35吨推力振动台，可完成特大型产品或系统的温度+湿度+振动三综合试验。 　　(3)在冲击环境试验方面，可模拟大量级的冲击，通过炸弹释放的力进行100000G的冲击试验。 　　(4) 在噪声环境试验方面，可对产品施加很大噪声，试验其在噪声环境下的破坏程度，而一般的噪声环境试验是将试件放在噪声环境里，检测它的破坏程度。 　　(5)在结构静强度试验方面，中心设备试验加载力可达到6000吨，并具有超过8000通道的数据采集系统和便携式高速测试系统。 　　(6)在结构热强度试验方面，可对发动机等大型结构件进行超高温环境模拟。 　　附： 　　航天环境可靠性与电磁兼容试验中心展位 　　http://www.woyaoce.cn/member/T100262/

根据LED产品温度冲击测试的要求，以最贴近LED生产厂家的实际需要为前提，东莞市勤卓环境测试设备有限公司几年来通过不断的技术改进，现在已经将LED冷热冲击试验箱的技术进行再次提升，让LED产品在同一台冷热冲击试验箱内，既能做高低温冲击试验，也能实现普通高低温交变试验，还能实现高温老化试验和低温性能试验。 LED系列冷热冲击试验箱，LED冷热冲击试验机，光伏组件冷热冲击试验箱，专业用于LED，LCD，光伏组件等系列产品的研发生产工作，主要是检测该系列的产品，在高温，低温快速变换下的性能和使用效果，用以筛选最佳的生产方案。 [LED冷热冲击试验箱] 产品说明： 该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产口的可靠性和进行产品的质量控制。 型号:COK-162 工作室尺寸D× W× H： 450× 450× 450 吊篮尺寸：320× 320 型号:COK-340 工作室尺寸D× W× H： 600× 600× 600 吊篮尺寸：450× 450 型号:COK-500 工作室尺寸D× W× H ：800× 800× 800 吊篮尺寸：650× 650 一. [LED冷热冲击试验箱] 技术参数 1、温度范围：－20℃～150℃、－40℃～150℃、－60℃～150℃ 2、高温蓄热箱： 50℃～200℃ 3、低温蓄冷箱：－20～10℃、－40～10℃、－60～10℃ 4、温度波动度：± 1℃ 5、温度误差：不大于± 2℃ 6、预冷下限温度：&le -65℃ 7、工作室冲击温度：－60℃～200℃ 8、温度恢复时间：&le 5min 9、本冲击试验箱符合： GJB150.3－86 GJB150.4－86 GJB150.5－86 10、全自动换气装置.清洁无污染 11、应用冷热风路切换方式导入试品区中，做冷热冲击测试 12、具备全自动，高精度系统回路，任一机件动作，完全由P.L.C. 锁定处理。（冲击方式为三箱式冷热冲击） 二、[LED冷热冲击试验箱] 制冷系统： 1、制冷系统及压缩机：为了保证试验箱降温速率和最低温度的要求，本试验箱采用一套进口德国半封闭压缩机所组成的二元复叠式水冷制冷系统（需在室外安装每小时冷却水量为10吨的循环冷却水塔，由用户提供）。复叠式冷　系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环，其连接容器为蒸发冷凝器，蒸发冷凝器是也到能量传递的作用，将工作室内热能通过两级制冷系统传递出去，实现隆温的目的。制冷系统的设计应用能量调节技术，一种行之有效的处理方式既能保证在制冷机组正常运行的情况下又能对制冷系统的能耗及制冷量进行有效的调节，使制冷系统的运行费用和故障率下降到较为经济的状态。 2、制冷工作原理：高低制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下：制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换，将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功，这时制冷剂温度降低。最后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。 3、制冷剂：采用DUPONT公司R404A（高温循环）、R23（低温循环）； 4、辅助件：膨胀阀（美国SPORLAN），电磁阀（意大利CASTEL）；过滤器（美国SPORLAN）；压力控制器（英美RANCO）；油分离器（欧美ALCO）等制冷配件均采用进口件。 5、配有自动及手动除霜回路 6、U-TYPE鳝片式高速加热电热管 7、内螺旋式K-TYPE冷媒铜管 8、原装进口省电型高效率压缩机（采用德国&ldquo 谷轮&rdquo 水冷式压缩机） 9、斜率式FIN-TUBE蒸发器 10、原装进口电磁阀、干燥过滤器、毛细管等冷冻元器件； 11、采用风冷式冷凝器； 12、冷媒使用高稳定性的R404、R23环保冷媒； 13、制冷系统采用二元冷冻（复叠式）快速、稳定； 14、蓄热区、蓄冷区采用多翼式循环风扇，强制风量对流，提高均匀温度效果。 15、冷热区与测试区皆采用PID+SSR微电脑控温，自动演算达到控制精度。 三、[LED冷热冲击试验箱] 空气调节系统 空气调节方式：强制通风内平衡调温法（BTC）。该方法即指在制冷系统连续工作的情况下，控制系统根据设定之温度点通过PID自动运算输出的结果去控制加热器的输出量，最终达到一种动态平衡。 1、空气循环装置：内置空调间、循环风道及长轴离心式通风机，使用高效的制冷机和能量调节系统，通过高效通风机进行有效的交换，达到温度变化之目的。通过改善空气的气流，提高了空气流量及与加热器和空气表冷器的热交换能力，从而大幅改善了试验箱的温度均匀度。 2、加热方式：优质镍铬合金丝电加热器； 四、箱体结构： 1、箱体外壁材料：外表面钢板喷塑。 2、箱体内壁材料：SUS304不锈钢板。 3、整个箱体分为上、中、下三个区分别为高温区、测试区、低温区 冲击试验时自动打开高温区与低温区的风阀从而达到高温与低温的冲击试验 4、保温材料：保温层采用耐高温防火PU和隔热高密度纤维棉， 并使用新设计之K型防汗导管系统 5、样品架承重：不大于30公斤。 6、电缆孔：测试区开电缆孔&Phi 50mm一个。 7、本系统符合冷热循环之可靠性试验规格（符合CNS、MIL、IEC等标准） 8、测试样品置于样品架，高精度气动系统驱动蓄热区或蓄冷区之阀门，引导气流循环，以达到冷热测试的温度均匀性 9、采用特殊设计，节省空间且易操作，易维护 10、测试区内附上下可调不锈钢盘两组 11、机台底部加装高承载滑轮，以便移动设备； 12、可耐寒耐热之高张性双层密封条（PACKEYG）； 五、[LED冷热冲击试验箱] 测控系统： 温度测量：T型热电偶 1、控制装置：主控制器采用进口日本产&ldquo OYO &rdquo 触摸屏多回路高精度微电脑控制器。该控制器采用液晶显示，可直接用手指触摸屏幕设定参数、运行时间、设定曲线、加热器工作状态，PID参数自整定功能。控制程序的编制采用人机对话方式，仅需设定温度，就可实现制冷、制热自动运行功能。控制系统具备完善的检测装置能自动进行详细的故障显示，报警。 2、设定精度：温度：0.1℃ 解析度：± 0.1℃； 感温传感器：T型热电偶测温体； 控制方式：热平衡调温方式；所有电器均采用（施耐德）系列产品 温度控制采用P . I . D＋S.S.R系统同频道协调控制 具有自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为精确稳定 控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示 资料及试验条件输入后，控制器具有荧屏锁定功能，避免人为触摸而停机 具有RS-232通讯界面，可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机、控制器具有荧屏自动屏保功能，在长时间运行状态下更好的保护液晶屏（使其寿命更长久） 六、安全保护措施 1、工作室超温； 2、制冷机超压； 3、制冷机过载； 4、制冷机油压； 5、加热器短路、过载； 6、鼓风电机过载； 7、系统漏电保护； 七、设备使用条件 1、环境温度：5～28℃ 2、环境湿度：&le 85%R?H 3、保证性能的条件：（在下达条件下，保证最低可达-85℃） 4、需安装冷却量为 10吨的冷却塔（制冷系统用） 八、满足的试验标准： 本产品严格按GJB150.3－86 GJB150.4－86 GJB150.5-86　[LED冷热冲击试验箱] 。国家标准制造，并等效满足相应的国标、军标；也可按客户的要求制造非标准产品。我公司高低温交变湿热试验箱通过国家环境试验设备检测中心检测合格。 LED灯柱，LED灯珠，LED灯架，LED灯管，质量检测，请用东莞市勤卓环境测试设备有限公司专业制造的冷热冲击试验箱，我司是国内第一家专业针对LED产品，进行环境试验箱设计的高新科技企业，值得您的信赖和选择。勤卓环测科技根据多年来，于LED企业的合作，对LED行业的试验要求，有很成熟全面的掌握，勤卓环测科技今天就LED冷热冲击试验箱的几个要求，进行重点阐述，方便行业借鉴，也为LED生产企业采购冷热冲击试验箱的时候，提供参考依据。 　　 　　一，LED专用冷热冲击试验箱必须要多段式测试程序，因为LED产品在使用过程中，会遇到各种复杂多变的自然环境，比如高低温骤变，高温高湿交替，高温低湿同时存在等环境，这就需要冷热冲击试验箱有精密的环境模拟功能，从而满足试验要求。 　　 　　二，LED专用冷热冲击试验箱必须要满足测试箱通电功能，因为LED产品在测试的时候，需要带电测试，这就需要冷热冲击试验箱要带有测试箱外线连接孔，才能满足这一基本要求。 　　 　　三，勤卓环测科技在LED冷热冲击试验箱生产方面的资质：我司专注LED冷热冲击试验箱研发生产已经有五年多的时间，对LED产品的测试要求有了很全面和成熟的掌握。其次我司在于LED行业的合作中，积累了宝贵经验，并获得国内一些上市的LED生产企业的青睐。再者，我司在LED行业中，有极强的服务意识，深知LED产品试验时间的宝贵性。 　　 　　四，LED专用冷热冲击试验箱生产企业，要把LED试验作为一项特殊性试验来对待，对于LED生产企业的测试要求，要经过科学合理的设计规划，帮助LED生产企业设计科学合理的试验方案，以确保LED生产企业顺利做各项测试。 　　 　　五，LED专用冷热冲击试验箱测试内箱要有足够的载重能力，很多LED生产企业，生产的是路灯产品，而大家都知道，LED路灯一般重量较大，一般的测试箱分层，由于托板属性硬度不够，导致测试时托板歪斜，影响测试效果。

东莞勤卓环测科技专业承接制造各类型的COK-50-3H冲击试验箱，按照非标和标准型号，我司以最快的制造速度，为您提供可靠性高的COK-50-3H冲击试验箱。 一，COK-50-3H冲击试验箱，用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。 二，COK-50-3H冲击试验箱使用范围：用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具. 三，COK-50-3H冲击试验箱精密参数 型 号 COK-50 COK-80 COK-150 COK-252 COK-50COK-80 COK-150 COK-252 温度冲击范围 -40~+150℃ -55~+150℃ ■ 性能 试验方式 气动风门切换 2 温室或 3 温室方式 高温室 预热温度范围 60 ～ + 200 ℃ 升温速率 RT. &rarr + 200 ℃　约 3 5 分钟 低温室 预冷温度范围 -55 ～ -10 ℃ -65 ～ -10 ℃ 降温速率 + 20 &rarr -55 ℃ 约 6 0 分钟 ＋ 20 &rarr － 65 ℃ 约 7 0 分钟 试验室温度范围 -40 － +150 ℃ -55 － +150 ℃ 温度偏差 ± 2 ℃ 温度恢复时间 5 分钟以内 恢复条件 高温曝露 低温曝露 高温曝露 低温曝露 150 ℃：30 分钟 -40 ℃：30 分钟 150 ℃：30 分钟 -55 ℃：30 分钟 ※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能； 2. 恢复条件：室温为＋ 20 ℃。 四，COK-50-3H冲击试验箱配置内部尺寸 (cm) D 35 40 50 60 35 40 50 60 W 40 50 60 70 40 50 60 70 H 35 40 50 60 35 40 50 60 外形尺寸 (cmD 132 147 192 217 132 147 192 217 W 125 135 155 165 125135 155 165 H 157 150 160 170 157 150 160 170 内容积 (升) 50 80150 250 50 80 150 250 电 源 AC 380± 10%V 50± 0.5 Hz ， 三相四线 + 保护地线 功 率 (kw) 16 25 30 40 2230 35 47 试样重量(kg) 2.5 5 10 15 2.5 5 10 15 ■ 标准配置 累计计时器 1 个，引线孔( 25× 100mm 长圆型孔 箱体左侧面) 1 个，脚轮 6 个，调整脚 4个 ■ 安全装置 漏电断路器，试验室温度过高、过低保护器(控制器内置)，排气阀，试样电源控制端子，高、低温室超温保护(控制器内置)，压缩机超压、过热保护，断水继电器，风机热继电器，电动机温度开关，电动机反转防止继电器，压缩空气压力开关，保险丝。 五，COK-50-3H冲击试验箱售后服务 1.订购勤卓品牌COK-50-3H冲击试验箱，严格按时交货，并送货上门 2.设备送达贵司之后，我司安排技术人员对设备安装和调试进行技术指导 3.购置勤卓冷热冲击试验箱，可免费享受一年免费质保。 咨询热线：0769-82205656 0769-82205757 0769-82205353 0769-82205560

冷热冲击试验箱选择依据是工程产品的试验规范和试验标准以及一些原则，其中需要遵循的5条原则，主要包括可：重复性、再现性、可测控性、排它性、安全可靠性。　　　　可重复性是：一试验设备可能用于同一类型产品的多次试验，而一台被试的工程产品也可能在不同的环境试验设备中进行试验，被冷热冲击箱试验产品的应力水平（如热应力、振动应力、电应力等）对于同一试验规范的要求是一致的。　　　 再现性是：指两个不同的实验室对同一物料进行测定两个分析结果接近的程度，检测同一被测物的重复检测结果之间的一致性，即检测条件的改变只限于操作者的改变。也就是说别人用你说的方法和仪器也能做出同样的结果来，这就是试验的再现性。当然，这样的试验就叫做再现性实验。　 可测控性是 任何一台环境冷热冲击箱试验设备所提供的环境条件必须是可观测的和可控制的，各种试验规范中大体要求参数测试的精度不应低于试验条件允许的误差的三分之一。　　　　排它性：每一次进行环境或可靠性试验，冷热冲击箱对环境因素的类别、量值及容差都有严格的规定，并排除非试验所需的环境因素渗透其中，以便在试验中或试验结束后判断和分析产品失效与故障模式时，提供确切的依据。　　　试验设备的安全可靠性：设备的各种保护、告警措施及安全连锁装置应该完善可靠，以保证试验人员、被试产品和冷热冲击箱试验设备本身的安全可靠性，环境试验设备必须具有运行安全、操作方便、使用可靠、工作寿命长等特点。 海银环试自成立以来，专注发展可靠性测试设备，秉承“一款产品，就是一个行业品牌"的发展理念，其研发生产的环境试验设备，一直以性能稳定，参数精密，而获得市场的广泛认可，海银品牌试验设备先后进驻中科院、清华大学、沈飞集团、中船重工、比亚迪、迈瑞医疗、比克电池等各大企事业单位，受到市场的广泛好评和尊敬。

近日，江苏省制冷学会发布公告，T/JAR 005/1-2022《温度冲击试验箱能效测试方法》已组织审定通过，并于2022年6月1日批准发布，将从2022年7月1日起正式实施。该标准起草人：朱益新、刘冬喜、黄丛林、王建刚、方忠诚、张毅、吴建国、孙国普、万先锋、 陈学进、范洪峰、付小林、周淳、陈文龙、陈永、许四湖、唐永、苑欣、施子诚、方贵银、金苏敏、张忠斌、王瑜、陈国民、孙亚娟、黄浩良。起草单位：中认英泰检测技术有限公司、海拓仪器（江苏）有限公司、广东立佳实业有限公司、江苏拓米洛环境试验设备有限公司、南通华信中央空调有限公司、广东科明环境仪器工业有限公司、广州克莱美特科技股份有限公司、无锡帕捷科技有限公司、伟思富奇环境试验仪器（太仓）有限公司、重庆银河试验仪器有限公司、上海柏毅试验设备有限公司、江苏德优检验认证有限公司、中国质量认证中心南京分中心、中国家用电器研究院计量测试中心、南京大学、南京工业大学、南京师范大学、南京韩测环境科技有限公司。主要技术内容：本方法主要通过在试验区放置负载测量出温度冲击试验箱最大带载功率与整机功率比值，另外运行几个循环来测试出箱子的耗电量，最终计算出产品单位体积单位时间平均耗电量。标准文本：标准下载链接：https://www.instrument.com.cn/download/shtml/1089364.shtml

为广泛征求用户的意见和需求，了解中国科学仪器市场的实际情况和仪器应用情况，仪器信息网自2008年6月1日开始，对不同行业有代表性的“100个实验室”进行走访参观。2011年1月14日，仪器信息网工作人员参观访问了本次活动的第六十四站：机械工业(北京)可靠性试验及电磁兼容检测中心，检测中心市场部负责人张建忠先生热情接待了仪器信息网到访人员。 　　机械工业(北京)可靠性试验及电磁兼容检测中心(以下简称“检测中心”)成立于2006年，隶属于机械工业仪器仪表综合技术经济研究所，是由国家投资建设的专业从事各类产品环境适应性试验、电磁兼容(EMC)试验、IP防护等级测试认证、安规认证、MODBUS和PROFIBUS-PA协议设备检测认证、电子/电气/可编程电子安全系统和安全仪表系统的功能安全评估等试验的综合性国家级实验室。可为信息技术设备、测量控制和实验室用电气设备、军用电子元器件、电工电子产品等提供相应的技术服务，并出具权威的检测报告。 　　检测中心通过了中国合格评定国家认可委员会(CNAS)认可、具有中国国家认证认可监督管理委员会办法的资质认定计量认证证书(CMA)，是中国机械工业联合会批准并授权的机械工业测量控制设备及网络质量检测中心，中国质量认证中心(CQC)委托检测实验室及TÜ V莱茵技术(上海)有限公司认可实验室。 　　张建忠先生介绍说：“最初实验室的成立是认识到通信设备检测的市场需求。而随着人们对生产安全的重视，设备的可靠性检测市场需求越来越大。检测中心会继续以市场为导向，发展特色业务，引入新的检测项目。目前，检测中心设有多个实验室，拥有各类先进的检测仪器设备四百多台套，检测人员都拥有硕士或博士学位。而工业通信网络试验是检测中心的特色业务。” 　　全面的可靠性检测项目 　　张建忠先生介绍说：“在检测中心承担的业务中，可靠性试验是主要业务，检测中心拥有相关的仪器及检测人才，能够为仪器仪表行业、电力行业、通信行业的广大客户提供环相应的服务。” 　　(1)环境适应性类试验 　　据介绍，检测中心能够进行的环境适应类试验包括：高低温试验、湿热试验、温度变化、交变湿热、温度冲击/冷热骤变试验、宽温变试验、盐雾腐蚀/锈蚀试验、振动冲击跌落试验等。可以按照相关标准的试验方法对各类电子设备、仪器仪表、军用电子产品进行气候环境试验、特殊环境试验及机械环境试验。 高加速冲击试验台 快速温变环境试验箱 　　(据介绍，普通同类仪器降温速度在3-4℃/min， 该设备降温速度在10℃/min，2012年检测中心将为该仪器配置液氮系统，降温速度会达到30℃/min。) 德国原装高低温湿热环境试验箱 　　(2)电磁兼容类试验 　　“电磁兼容是指设备或系统在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中的任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。近两年来，随着国际、国内贸易的进一步繁荣，广大企业的产品线越来越丰富，为了减轻企业研发、测试负担，检测中心于2010年正式推出电磁兼容(EMC)检测服务。目前，检测中心拥有GTEM小室、屏蔽室和全套电磁兼容测试设备。” 传导发射、传导骚扰抗扰度的标准电磁屏蔽室 GTEM小室 (主要用于设备对所在环境中存在的电磁干扰的抗扰度测定) 　　(3)IP防护等级试验 　　“IP防护等级系统是由国际电工协会(IEC)所起草，将电器依其防尘防湿气之特性加以分级。检测中心可以进行IP54、IP55、IP65、IP66、IP67、IP68防护等级认证及测试服务。” 淋雨试验室系列装置 　　(淋雨实验室配有可编程控制的不锈钢材料的垂直淋雨、摆管淋雨、防喷、防溅、水浸等防水试验设备，可根据国际或国家标准、行业标准、客户要求等条件进行测试、试验。) 1立方米沙尘试验箱 　　(4)电气安全试验 　　“电气安全试验室是检测中心的重要实验室之一，目前可以进行GB4943/IEC60950《信息技术设备的安全》、GB4793/IEC61010《测量、控制设备及实验室用电设备的安全》的全项目测试。可以对信息技术设备产品，测量、控制和实验室用设备产品进行安全试验(包括CE认证)和CQC标志认证检测，可以对办公设备产品进行节能认证检测。” 电气安全实验室 　　(5)灼热燃烧试验 　　“检测中心拥有齐全的灼热然烧试验设备，包括维卡软化点温度测定仪、漏电起痕试验仪、灼热丝试验仪、大电流起弧引燃试验仪、灼热燃油试验仪、热丝引燃试验仪等。” 漏电起痕实验仪 热丝引燃实验仪 　　亚洲独有的PROFIBUS和MODBUS试验室 　　张建忠先生表示：“工业通信网络试验是检测中心的特色业务，目前检测中心拥有亚洲独有的PROFIBUS和MODBUS试验室。这两个试验室是工业自动化领域，国内首家通过中国合格评定认可委员会认可的工业控制网络和现场总线测试实验室。建立这样的实验室成本并不是很高，但是其技术含量比较高，对于人员和设备的要求也很高。” 　　PROFIBUS和MODBUS试验室是工业自动化领域国内首家通过中国合格评定国家认可委员会(CNAS)认可的工业控制网络和现场总线测试试验室，在国家授权的测试范围中首次在国内将控制网络PROFIBUS 和MODBUS纳入国家实验室认可体系，从而为这两项工业通信技术在国内的应用和相关产品开发提供了有力的保证。 MODBUS试验室 　　(MODBUS 试验室于2006 年4月获得了MODBUS IDA国际组织授权，可按GB/T 19582.1、GB/T 19582.2、GB/T 19582.3标准，用 MODBUS测试系统对工业自动化产品进行通信一致性和互操作性认证测试。) PROFIBUS试验室 　　(PROFIBUS试验室于2007年10 月获得了PNO国际组织授权，可按 GB/T 20540.1、GB/T 20540.2、 GB/T 20540.3、GB/T 20540.4、 GB/T 20540.5、GB/T 20540.6标准及PROFIBUS PA行规 V3.01，用 PROFIBUS测试系统对工业自动化产品进行通信一致性和互操作性认证测试。) PNO国际组织授权证书 　　附录：机械工业(北京)可靠性试验及电磁兼容检测中心 　　http://www.bjkkx.com/

科鉴可靠性实验室顺利通过cnas& dilac现场复评审新增软件测评资质 简介：2019年10月28-30日，科鉴可靠性实验室顺利通过cnas &dilac2019年度现场复评审与扩项评审。通过本次评审，实验室在新增一系列最新的安全测试、环境与可靠性试验标准资质基础上，还扩项新增了软件测评、盐雾试验检测资质。 2019年10月28日至30日，广东科鉴检测工程技术有限公司迎来了由中国合格评定国家认可委员会（cnas）与国防科技工业实验室认可委员会（dilac）共同委派的评审专家组一行5人对我司进行现场复评审。评审现场为迎接本次扩项评审，实验室扩充面积近300平方，新增了霉菌实验室、盐雾实验室、软件测评室；购置了温湿度综合应力可靠性试验箱、复合盐雾加速试验箱、高低温湿热霉菌试验箱、符合医疗器械标准要求的安规综测仪等设备及软件测评用硬件和专业工具。实验室100多台套仪器设备均送样至赛宝计量中心进行了年度计量，仪器设备能力能够满足相关认可标准要求。评审专家组依据检测和校准实验室能力认可准则(cnas-cl01&dilac-ac01)及其他相关认可要求和各个领域的应用说明对实验室的管理和技术能力进行了全方位评审，分别对环境与可靠性试验、电气产品通用安全类试验、软件测试的检测能力和体系管理进行了逐一评审检查。评审专家组对实验室先进的仪器设备、完善的检测管理流程以及检测人员工作经验表示赞赏，对实验室的管理和技术水平给予了充分的肯定，经过3天评审对实验室体系运行过程中存在的不足出具了不符合项和整改要求。实验室技术负责人和质量负责人代表公司全体对评审专家组辛勤工作和积极建议表示由衷的感谢，并承诺尽快对评审发生的不符合项进行整改完善。 完成本次评审后，科鉴可靠性实验室具备了以下检测试验业务能力：环境试验：高温、低温、湿热、快速温变、温度冲击、太阳辐射、盐雾、机械振动、机械冲击、碰撞、跌落；可靠性试验：温湿度综合应力可靠性试验、温湿度-振动综合应力可靠性试验、可靠性指标考核验证、加速试验、寿命评价、插拔寿命试验、按键寿命试验；安全测试：gb 4793.1 gb4943.1、gb8898、gb9706.1、gb 9706.15等；软件测评：gb/t 25000.51。

高低温试验箱主要用于工业产品，例如：电子电工，汽车摩托，航空航天，船舶兵器，高等院校等行业。检测产品的相关零部件及材料在高温、低温的情况下的性能。 冷热冲击试验箱主要用于金属、塑料、橡胶、电子等材料行业，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，从而得知产品在最短时间内因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害； 虽然同样的是检验产品在高温和低温下的性能，但是他们的温度变化所花的时间是不一样的。通常常规性的高低温试验箱是每分钟升温3度，每分钟降温1度，然而冷热冲击试验箱则是在5分钟之内迅速完成高温到常温或者常温到低温的转换，从而达到对产品的更加残酷的考验。 高低温试验箱和冷热冲击试验箱的价格也不同，不同的性能，不同的价格，相比而言冷热冲击试验箱的价格相对来说要高一点。而且他们的外观也不同。 另外、冷热冲击试验箱还分三箱式和两箱式的,三箱式和两箱式也有所不同。用户在选购设备时要清楚自己所需，才能购买到一款称心合意的设备。

人民网天津视窗4月25日现场报道：4月25日，在位于天津滨海新区的中国新一代运载火箭产业基地，航天环境可靠性天津试验与检测中心正式开业。中国航天科技集团公司第一研究院第七○二研究所所长龚知明出席开业仪式并致辞。 　　航天环境可靠性天津试验与检测中心拥有各种振动试验台、碰撞冲击台、跌落试验台、温湿度试验箱等可靠性试验检测设备33台套，其中包括天津地区最大的20吨振动台和多个高技术含量的综合试验箱，厂房占地面积8400平方米，是目前天津地区最大规模的可靠性试验与检测机构。作为可靠性天津试验与检测中心投资方的航天第七○二研究所是我国航天系统结构强度与环境可靠性工程专业的中心研究所和权威认证机构，具有国家实验室(CNAS)和国防科技实验室(DiLAC)等多个认可资质，主持和参与制定了多部环境与可靠性工程领域重要标准的制定。

原文来源：高低温冲击试验箱的5大优势 编辑：林频仪器　　在优点与特色都各有不同的试验箱之间，对试验要求相符并且对试验箱结构性能方面的选择都是非常看重的。就拿高低温冲击试验箱来说，它是需要按照操作员事先计划的试验要求及试验箱操作的守则来进行循规蹈矩的工作，然而在试验中最为强调的就是试验顺利完毕时以及得出最为稳定、准确的数据，那高低温冲击试验箱是怎样做出来的呢?又是以什么样的优势来突显出它完美可靠的一面呢?就给大家好好讲讲关于此试验箱的5个大的优势吧!　　一、高低温冲击试验箱有一个突出的优势就是它具备良好的导电性能　　是由中美合金点燃再行加入我国所特有的稀土及铁、铜以及硅等其他元素，以此通过其特殊工艺处理后的新型合金电缆。在其导电率方面是铜的62%，是经过了特殊工艺处理，将其合金导体截面增大了1.28-1.5倍，使得电缆的载流量与其电压降等等电气性能与其铜缆相当，以此可达到“以合金新材料代铜” 　　二、具备很好的防腐性能的优势　　在其高温与空气接触的时候从而立即形成了致密的氧化层，该氧化层是属于特别耐各种形式的腐蚀，从而使具有了承受最为恶劣环境的特性，再加上合金导体内部物质结构的优化以及硅烷交联聚乙烯绝缘材料的应用，使得合金电缆的使用寿命比铜缆延长了10年以上 　　三、具备优越的机械性能的优势　　在高低温冲击试验箱的反弹性比起铜缆小了40%、柔韧性高了25%，且对于有很好的弯曲性能，敷设半径是远小于铜缆要求的，且是更为容易进行敷设和端子之间的连接，对于特殊的配方与其热处理工艺大大减少了导体在其受热与压力状态下的蠕变性，使得合金电缆的电器连接与其铜缆一样的稳定 　　四、具备可靠的安全性能的优势　　在其国外也是经过了美国UL严格认证，从未出现过任何的问题。高低温冲击试验箱在其先进的技术基础上，以自主研发拥有了各方面的检测措施，安全性能极高 　　五、具备能够节省经济性能的优势　　在实现其同样的电气性能的前提下，高低温冲击试验箱的直接采购成本比起铜缆低了20%-30%，由于试验箱的重量仅为其铜缆的一半，具有了良好的机械性能，因而在其使用合金电缆是可以降低运输和安装的成本的。　　在多数的试验箱中鹤立鸡群，它不单单只是外部结构因素还包括内部结构以及各种因素从而导致的，而以上所归纳的五点优势中，具有了全方面的性能优势，才使高低温冲击试验箱在多种领域中被用之广泛。

html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 基本信息 关键内容： 冲击试验箱,高低温试验箱,冲击试验机 开标时间： 2022-05-07 09:30 采购金额： 133.90万元 采购单位： 工业和信息化部电子第五研究所 采购联系人： 林工 采购联系方式： 立即查看 招标代理机构： 广东华伦招标有限公司 代理联系人： 田工 代理联系方式： 立即查看 详细信息 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目【重新招标】公开招标公告 广东省-广州市-增城区 状态：公告 更新时间： 2022-04-14 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目【重新招标】公开招标公告 发布时间：2022-04-14 项目概况 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目 招标项目的潜在投标人应在广东华伦招标有限公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/）获取招标文件，并于2022年05月07日 09点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：0809-2241GZG14017 项目名称：工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目 预算金额：133.9000000 万元（人民币） 最高限价（如有）：133.9000000 万元（人民币） 采购需求： 序号 品目名称 采购标的 数量（单位） 技术规格、参数及要求 品目预算（万元） 最高限价（万元） 1 通用设备 高低温湿热试验箱 3台 详见《第二部分 采购需求》 133.9 63.00 2 温度冲击试验箱 1台 26.20 3 温度冲击试验箱 1台 44.70 详细要求请参阅“采购需求”。 合同履行期限：交货期为合同签订后40天内，保修期为1年。 本项目( 不接受 )联合体投标。二、申请人的资格要求： 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定； 2.落实政府采购政策需满足的资格要求： （一）投标供应商应具备《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定的条件，提供下列材料： 1. 具有独立承担民事责任的能力：是在中华人民共和国境内注册的法人或其他组织或自然人，投标时提交有效的营业执照（或事业法人登记证或社会团体登记证或民办非企业单位登记证或身份证等相关证明）副本复印件。（如国家另有规定的，则从其规定。如供应商为分支机构，须取得具有法人资格的总公司（总所）出具给分支机构的授权书，并提供总公司（总所）和分支机构的营业执照（执业许可证）复印件；已由总公司（总所）授权的，总公司（总所）取得的相关资质证书对分支机构有效，法律法规或者行业另有规定的除外） 2. 具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度：提供2020年度或2021年度的财务状况报告或基本开户行出具的资信证明，或最近一期财务报表（适用在上一年度或本财务年度成立的法人或其他组织），或人民银行出具的个人信用报告（适用于自然人）。 3. 有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录：提供投标截止日前6个月内任意1个月依法缴纳税收和社会保障资金的相关材料。如依法免税或不需要缴纳社会保障资金的，提供相应证明材料。 4. 具有履行合同所必须的设备和专业技术能力：按投标文件格式填报设备及专业技术能力情况或提供《供应商资格声明函》。 5. 参加采购活动前三年内，在经营活动中没有重大违法记录：提供《供应商资格声明函》。重大违法记录，是指供应商因违法经营受到刑事处罚或者责令停产停业、吊销许可证或者执照、较大数额罚款等行政处罚。（较大数额罚款按照《财政部关于第十九条第一款 “较大数额罚款”具体适用问题的意见 》（财库〔2022〕3 号）执行） 6. 信用记录：供应商未被列入“信用中国”网站(www.creditchina.gov.cn)“记录失信被执行人或重大税收违法案件当事人名单或政府采购严重违法失信行为”记录名单；不处于中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)“政府采购严重违法失信行为信息记录”中的禁止参加政府采购活动期间。（以采购代理机构于投标截止时间当天在“信用中国”网站（www.creditchina.gov.cn）及中国政府采购网（http://www.ccgp.gov.cn/）查询结果为准，如相关失信记录已失效，供应商需提供相关证明资料）。 7. 供应商必须符合法律、行政法规规定的其他条件：单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商，不得同时参加本采购项目（包组）投标。为本项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商，不得再参与本项目投标。（提供《供应商资格声明函》。 （二）.落实政府采购政策需满足的资格要求： 无。本项目不属于专门面向中小企业采购的项目,本项目采购标的对应的中小企业划分标准所属行业为： 工业 。（提供《中小企业声明函》。 3.本项目的特定资格要求： 1.供应商已按招标公告及招标文件的规定获取了招标文件。（提供《供应商资格声明函》） 2.本项目不接受联合体投标。 三、获取招标文件 时间：2022年04月15日 至 2022年04月21日，每天上午8:00至14:00，下午14:00至17:30。（北京时间，法定节假日除外） 地点：广东华伦招标有限公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/） 方式：网上获取方式（只接受网上支付）。招标文件一经售出，概不退还。详见本公告第七条。 售价：￥200.0 元，本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间：2022年05月07日 09点30分（北京时间） 开标时间：2022年05月07日 09点30分（北京时间） 地点：广州市越秀区广仁路1号广仁大厦6楼（广东华伦招标有限公司开标室） 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 （一）我公司可提供纸质招标文件和购买招标文件的电子发票。有需要的供应商成功获取网上招标文件后，可在规定的获取招标文件时间段内到我公司现场（广州市广仁路1号广仁大厦7楼）领取纸质招标文件。购买招标文件的电子发票将以短信方式发送到供应商在我公司平台的预留手机号码。联系人：尹小姐，联系电话：020-83172166转0。招标文件一经售出，概不退还。 （二）获取招标文件的方式：网上获取方式（只接受网上支付）。供应商可在上述日期内登录我公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/）购买招标文件。平台操作相关问题请查询网站“通知公告”栏目（http://120.25.193.109/announce/）中《供应商操作指南》或咨询我公司”（或咨询我公司020-83172166转834/862、020-83527049； QQ：2127233298）。本公司只接受通过以上方式正式获取招标文件的供应商参加投标（多个采购包的项目，供应商如参与多个采购包投标的，须分别对相应采购包进行登记）。售价：200.00元/套，招标文件一经售出，概不退还。 七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称：工业和信息化部电子第五研究所 地址：广州市增城区朱村街朱村大道西78号 联系方式：林工，020-87237012 2.采购代理机构信息 名 称：广东华伦招标有限公司 地 址：广州市广仁路1号广仁大厦7楼 联系方式：田工，020-83172166-844 3.项目联系方式 项目联系人：罗工 电 话： 020-87237149 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() }) 基本信息 关键内容：冲击试验箱,高低温试验箱,冲击试验机 开标时间：2022-05-07 09:30 预算金额：133.90万元 采购单位：工业和信息化部电子第五研究所 采购联系人：点击查看 采购联系方式：点击查看 招标代理机构：广东华伦招标有限公司 代理联系人：点击查看 代理联系方式：点击查看 详细信息 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目【重新招标】公开招标公告 广东省-广州市-增城区 状态：公告 更新时间： 2022-04-14 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目【重新招标】公开招标公告 发布时间：2022-04-14 项目概况 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目 招标项目的潜在投标人应在广东华伦招标有限公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/）获取招标文件，并于2022年05月07日 09点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：0809-2241GZG14017 项目名称：工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目 预算金额：133.9000000 万元（人民币） 最高限价（如有）：133.9000000 万元（人民币） 采购需求： 序号 品目名称 采购标的 数量（单位） 技术规格、参数及要求 品目预算（万元） 最高限价（万元） 1 通用设备 高低温湿热试验箱 3台 详见《第二部分 采购需求》 133.9 63.00 2 温度冲击试验箱 1台 26.20 3 温度冲击试验箱 1台 44.70 详细要求请参阅“采购需求”。 合同履行期限：交货期为合同签订后40天内，保修期为1年。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求： 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定； 2.落实政府采购政策需满足的资格要求： （一）投标供应商应具备《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定的条件，提供下列材料： 1. 具有独立承担民事责任的能力：是在中华人民共和国境内注册的法人或其他组织或自然人，投标时提交有效的营业执照（或事业法人登记证或社会团体登记证或民办非企业单位登记证或身份证等相关证明）副本复印件。（如国家另有规定的，则从其规定。如供应商为分支机构，须取得具有法人资格的总公司（总所）出具给分支机构的授权书，并提供总公司（总所）和分支机构的营业执照（执业许可证）复印件；已由总公司（总所）授权的，总公司（总所）取得的相关资质证书对分支机构有效，法律法规或者行业另有规定的除外） 2. 具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度：提供2020年度或2021年度的财务状况报告或基本开户行出具的资信证明，或最近一期财务报表（适用在上一年度或本财务年度成立的法人或其他组织），或人民银行出具的个人信用报告（适用于自然人）。 3. 有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录：提供投标截止日前6个月内任意1个月依法缴纳税收和社会保障资金的相关材料。如依法免税或不需要缴纳社会保障资金的，提供相应证明材料。 4. 具有履行合同所必须的设备和专业技术能力：按投标文件格式填报设备及专业技术能力情况或提供《供应商资格声明函》。 5. 参加采购活动前三年内，在经营活动中没有重大违法记录：提供《供应商资格声明函》。重大违法记录，是指供应商因违法经营受到刑事处罚或者责令停产停业、吊销许可证或者执照、较大数额罚款等行政处罚。（较大数额罚款按照《财政部关于第十九条第一款 “较大数额罚款”具体适用问题的意见 》（财库〔2022〕3 号）执行） 6. 信用记录：供应商未被列入“信用中国”网站(www.creditchina.gov.cn)“记录失信被执行人或重大税收违法案件当事人名单或政府采购严重违法失信行为”记录名单；不处于中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)“政府采购严重违法失信行为信息记录”中的禁止参加政府采购活动期间。（以采购代理机构于投标截止时间当天在“信用中国”网站（www.creditchina.gov.cn）及中国政府采购网（http://www.ccgp.gov.cn/）查询结果为准，如相关失信记录已失效，供应商需提供相关证明资料）。 7. 供应商必须符合法律、行政法规规定的其他条件：单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商，不得同时参加本采购项目（包组）投标。为本项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商，不得再参与本项目投标。（提供《供应商资格声明函》。 （二）.落实政府采购政策需满足的资格要求： 无。本项目不属于专门面向中小企业采购的项目,本项目采购标的对应的中小企业划分标准所属行业为： 工业 。（提供《中小企业声明函》。 3.本项目的特定资格要求： 1.供应商已按招标公告及招标文件的规定获取了招标文件。（提供《供应商资格声明函》） 2.本项目不接受联合体投标。 三、获取招标文件 时间：2022年04月15日 至 2022年04月21日，每天上午8:00至14:00，下午14:00至17:30。（北京时间，法定节假日除外） 地点：广东华伦招标有限公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/） 方式：网上获取方式（只接受网上支付）。招标文件一经售出，概不退还。详见本公告第七条。 售价：￥200.0 元，本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间：2022年05月07日 09点30分（北京时间） 开标时间：2022年05月07日 09点30分（北京时间） 地点：广州市越秀区广仁路1号广仁大厦6楼（广东华伦招标有限公司开标室） 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 （一）我公司可提供纸质招标文件和购买招标文件的电子发票。有需要的供应商成功获取网上招标文件后，可在规定的获取招标文件时间段内到我公司现场（广州市广仁路1号广仁大厦7楼）领取纸质招标文件。购买招标文件的电子发票将以短信方式发送到供应商在我公司平台的预留手机号码。联系人：尹小姐，联系电话：020-83172166转0。招标文件一经售出，概不退还。 （二）获取招标文件的方式：网上获取方式（只接受网上支付）。供应商可在上述日期内登录我公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/）购买招标文件。平台操作相关问题请查询网站“通知公告”栏目（http://120.25.193.109/announce/）中《供应商操作指南》或咨询我公司”（或咨询我公司020-83172166转834/862、020-83527049； QQ：2127233298）。本公司只接受通过以上方式正式获取招标文件的供应商参加投标（多个采购包的项目，供应商如参与多个采购包投标的，须分别对相应采购包进行登记）。售价：200.00元/套，招标文件一经售出，概不退还。 七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称：工业和信息化部电子第五研究所 地址：广州市增城区朱村街朱村大道西78号 联系方式：林工，020-87237012 2.采购代理机构信息 名 称：广东华伦招标有限公司 地 址：广州市广仁路1号广仁大厦7楼 联系方式：田工，020-83172166-844 3.项目联系方式 项目联系人：罗工 电 话： 020-87237149

html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 基本信息 关键内容： 冲击试验箱,高低温试验箱,冲击试验机 开标时间： 2022-03-24 09:30 采购金额： 133.90万元 采购单位： 工业和信息化部电子第五研究所 采购联系人： 林工 采购联系方式： 立即查看 招标代理机构： 广东华伦招标有限公司 代理联系人： 田工 代理联系方式： 立即查看 详细信息 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目公开招标公告 广东省-广州市-增城区 状态：公告 更新时间： 2022-03-03 招标文件: 附件1 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目公开招标公告 2022年03月03日 15:38 公告信息： 采购项目名称 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目 品目 货物/专用设备/专用仪器仪表/其他专用仪器仪表 采购单位 工业和信息化部电子第五研究所 行政区域 广州市 公告时间 2022年03月03日 15:38 获取招标文件时间 2022年03月04日至2022年03月10日每日上午:9:00 至 12:00 下午:14:30 至 17:30（北京时间，法定节假日除外） 招标文件售价 ￥200 获取招标文件的地点 广东华伦招标有限公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/） 开标时间 2022年03月24日 09:30 开标地点 广州市越秀区广仁路1号广仁大厦6楼（广东华伦招标有限公司开标室） 预算金额 ￥133.900000万元（人民币） 联系人及联系方式： 项目联系人 罗工 项目联系电话 020-87237149 采购单位 工业和信息化部电子第五研究所 采购单位地址 广州市增城区朱村街朱村大道西78号 采购单位联系方式 林工，020-87237012 代理机构名称 广东华伦招标有限公司 代理机构地址 广州市广仁路1号广仁大厦7楼 代理机构联系方式 田工，020-83172166-844 附件： 附件1 项目概况 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目 招标项目的潜在投标人应在广东华伦招标有限公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/）获取招标文件，并于2022年03月24日 09点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：0809-2241GZG14017 项目名称：工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目 预算金额：133.9000000 万元（人民币） 最高限价（如有）：133.9000000 万元（人民币） 采购需求： 序号 品目名称 采购标的 数量（单位） 技术规格、参数及要求 品目预算（万元） 最高限价（万元） 1 通用设备 高低温湿热试验箱 3台 详见《第二部分 采购需求》 133.9 63.00 2 温度冲击试验箱 1台 26.20 3 温度冲击试验箱 1台 44.70 详细要求请参阅 采购需求 。 合同履行期限：交货期为合同签订后40天内，保修期为1年。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求： 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定； 2.落实政府采购政策需满足的资格要求： （一）投标供应商应具备《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定的条件，提供下列材料： 1. 具有独立承担民事责任的能力：是在中华人民共和国境内注册的法人或其他组织或自然人，投标时提交有效的营业执照（或事业法人登记证或社会团体登记证或民办非企业单位登记证或身份证等相关证明）副本复印件。（如国家另有规定的，则从其规定。如供应商为分支机构，须取得具有法人资格的总公司（总所）出具给分支机构的授权书，并提供总公司（总所）和分支机构的营业执照（执业许可证）复印件；已由总公司（总所）授权的，总公司（总所）取得的相关资质证书对分支机构有效，法律法规或者行业另有规定的除外） 2. 具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度：提供2020年度或2021年度的财务状况报告或基本开户行出具的资信证明，或最近一期财务报表（适用在上一年度或本财务年度成立的法人或其他组织），或人民银行出具的个人信用报告（适用于自然人）。 3. 有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录：提供投标截止日前6个月内任意1个月依法缴纳税收和社会保障资金的相关材料。如依法免税或不需要缴纳社会保障资金的，提供相应证明材料。 4. 具有履行合同所必须的设备和专业技术能力：按投标文件格式填报设备及专业技术能力情况或提供《供应商资格声明函》。 5. 参加采购活动前三年内，在经营活动中没有重大违法记录：提供《供应商资格声明函》。重大违法记录，是指供应商因违法经营受到刑事处罚或者责令停产停业、吊销许可证或者执照、较大数额罚款等行政处罚。（较大数额罚款按照《财政部关于第十九条第一款 较大数额罚款 具体适用问题的意见 》（财库〔2022〕3 号）执行） 6. 信用记录：供应商未被列入 信用中国 网站(www.creditchina.gov.cn) 记录失信被执行人或重大税收违法案件当事人名单或政府采购严重违法失信行为 记录名单；不处于中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn) 政府采购严重违法失信行为信息记录 中的禁止参加政府采购活动期间。（以采购代理机构于投标截止时间当天在 信用中国 网站（www.creditchina.gov.cn）及中国政府采购网（http://www.ccgp.gov.cn/）查询结果为准，如相关失信记录已失效，供应商需提供相关证明资料）。 7. 供应商必须符合法律、行政法规规定的其他条件：单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商，不得同时参加本采购项目（包组）投标。为本项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商，不得再参与本项目投标。（提供《供应商资格声明函》。 （二）.落实政府采购政策需满足的资格要求： 无。本项目不属于专门面向中小企业采购的项目,本项目采购标的对应的中小企业划分标准所属行业为： 工业 。（提供《中小企业声明函》。 3.本项目的特定资格要求：1.供应商已按招标公告及招标文件的规定获取了招标文件。（提供《供应商资格声明函》）2.本项目不接受联合体投标。 三、获取招标文件 时间：2022年03月04日 至 2022年03月10日，每天上午9:00至12:00，下午14:30至17:30。（北京时间，法定节假日除外） 地点：广东华伦招标有限公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/） 方式：网上获取方式（只接受网上支付）。招标文件一经售出，概不退还。详见本公告第七条。 售价：￥200.0 元，本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间：2022年03月24日 09点30分（北京时间） 开标时间：2022年03月24日 09点30分（北京时间） 地点：广州市越秀区广仁路1号广仁大厦6楼（广东华伦招标有限公司开标室） 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 （一）我公司可提供纸质招标文件和购买招标文件的电子发票。有需要的供应商成功获取网上招标文件后，可在规定的获取招标文件时间段内到我公司现场（广州市广仁路1号广仁大厦7楼）领取纸质招标文件。购买招标文件的电子发票将以短信方式发送到供应商在我公司平台的预留手机号码。联系人：尹小姐，联系电话：020-83172166转0。招标文件一经售出，概不退还。 （二）获取招标文件的方式：网上获取方式（只接受网上支付）。供应商可在上述日期内登录我公司网站 供应商在线服务 （http://120.25.193.109/）购买招标文件。平台操作相关问题请查询网站 通知公告 栏目（http://120.25.193.109/announce/）中《供应商操作指南》或咨询我公司 （或咨询我公司020-83172166转834/862、020-83527049； QQ：2127233298）。本公司只接受通过以上方式正式获取招标文件的供应商参加投标（多个采购包的项目，供应商如参与多个采购包投标的，须分别对相应采购包进行登记）。售价：200.00元/套，招标文件一经售出，概不退还。 七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称：工业和信息化部电子第五研究所 地址：广州市增城区朱村街朱村大道西78号 联系方式：林工，020-87237012 2.采购代理机构信息 名 称：广东华伦招标有限公司 地 址：广州市广仁路1号广仁大厦7楼 联系方式：田工，020-83172166-844 3.项目联系方式 项目联系人：罗工 电 话： 020-87237149 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() }) 基本信息关键内容：冲击试验箱,高低温试验箱,冲击试验机 开标时间：2022-03-24 09:30 预算金额：133.90万元 采购单位：工业和信息化部电子第五研究所 采购联系人：点击查看 采购联系方式：点击查看 招标代理机构：广东华伦招标有限公司 代理联系人：点击查看 代理联系方式：点击查看 详细信息 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目公开招标公告 广东省-广州市-增城区 状态：公告 更新时间： 2022-03-03 招标文件: 附件1 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目公开招标公告 2022年03月03日 15:38 公告信息： 采购项目名称 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目 品目 货物/专用设备/专用仪器仪表/其他专用仪器仪表 采购单位 工业和信息化部电子第五研究所 行政区域 广州市 公告时间 2022年03月03日 15:38 获取招标文件时间 2022年03月04日至2022年03月10日每日上午:9:00 至 12:00 下午:14:30 至 17:30（北京时间，法定节假日除外） 招标文件售价 ￥200 获取招标文件的地点 广东华伦招标有限公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/） 开标时间 2022年03月24日 09:30 开标地点 广州市越秀区广仁路1号广仁大厦6楼（广东华伦招标有限公司开标室） 预算金额 ￥133.900000万元（人民币） 联系人及联系方式： 项目联系人 罗工 项目联系电话 020-87237149 采购单位 工业和信息化部电子第五研究所 采购单位地址 广州市增城区朱村街朱村大道西78号 采购单位联系方式 林工，020-87237012 代理机构名称 广东华伦招标有限公司 代理机构地址 广州市广仁路1号广仁大厦7楼 代理机构联系方式 田工，020-83172166-844 附件： 附件1 项目概况 工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目 招标项目的潜在投标人应在广东华伦招标有限公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/）获取招标文件，并于2022年03月24日 09点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：0809-2241GZG14017 项目名称：工业和信息化部电子第五研究所高低温湿热试验箱、温度冲击试验箱采购项目 预算金额：133.9000000 万元（人民币） 最高限价（如有）：133.9000000 万元（人民币） 采购需求： 序号 品目名称 采购标的 数量（单位） 技术规格、参数及要求 品目预算（万元） 最高限价（万元） 1 通用设备 高低温湿热试验箱 3台 详见《第二部分 采购需求》 133.9 63.00 2 温度冲击试验箱 1台 26.20 3 温度冲击试验箱 1台 44.70 详细要求请参阅 采购需求 。 合同履行期限：交货期为合同签订后40天内，保修期为1年。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求： 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定； 2.落实政府采购政策需满足的资格要求： （一）投标供应商应具备《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定的条件，提供下列材料： 1. 具有独立承担民事责任的能力：是在中华人民共和国境内注册的法人或其他组织或自然人，投标时提交有效的营业执照（或事业法人登记证或社会团体登记证或民办非企业单位登记证或身份证等相关证明）副本复印件。（如国家另有规定的，则从其规定。如供应商为分支机构，须取得具有法人资格的总公司（总所）出具给分支机构的授权书，并提供总公司（总所）和分支机构的营业执照（执业许可证）复印件；已由总公司（总所）授权的，总公司（总所）取得的相关资质证书对分支机构有效，法律法规或者行业另有规定的除外） 2. 具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度：提供2020年度或2021年度的财务状况报告或基本开户行出具的资信证明，或最近一期财务报表（适用在上一年度或本财务年度成立的法人或其他组织），或人民银行出具的个人信用报告（适用于自然人）。 3. 有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录：提供投标截止日前6个月内任意1个月依法缴纳税收和社会保障资金的相关材料。如依法免税或不需要缴纳社会保障资金的，提供相应证明材料。 4. 具有履行合同所必须的设备和专业技术能力：按投标文件格式填报设备及专业技术能力情况或提供《供应商资格声明函》。 5. 参加采购活动前三年内，在经营活动中没有重大违法记录：提供《供应商资格声明函》。重大违法记录，是指供应商因违法经营受到刑事处罚或者责令停产停业、吊销许可证或者执照、较大数额罚款等行政处罚。（较大数额罚款按照《财政部关于第十九条第一款 较大数额罚款 具体适用问题的意见 》（财库〔2022〕3 号）执行） 6. 信用记录：供应商未被列入 信用中国 网站(www.creditchina.gov.cn) 记录失信被执行人或重大税收违法案件当事人名单或政府采购严重违法失信行为 记录名单；不处于中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn) 政府采购严重违法失信行为信息记录 中的禁止参加政府采购活动期间。（以采购代理机构于投标截止时间当天在 信用中国 网站（www.creditchina.gov.cn）及中国政府采购网（http://www.ccgp.gov.cn/）查询结果为准，如相关失信记录已失效，供应商需提供相关证明资料）。 7. 供应商必须符合法律、行政法规规定的其他条件：单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商，不得同时参加本采购项目（包组）投标。为本项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商，不得再参与本项目投标。（提供《供应商资格声明函》。 （二）.落实政府采购政策需满足的资格要求： 无。本项目不属于专门面向中小企业采购的项目,本项目采购标的对应的中小企业划分标准所属行业为： 工业 。（提供《中小企业声明函》。 3.本项目的特定资格要求：1.供应商已按招标公告及招标文件的规定获取了招标文件。（提供《供应商资格声明函》）2.本项目不接受联合体投标。 三、获取招标文件 时间：2022年03月04日 至 2022年03月10日，每天上午9:00至12:00，下午14:30至17:30。（北京时间，法定节假日除外） 地点：广东华伦招标有限公司网站“供应商在线服务”（http://120.25.193.109/） 方式：网上获取方式（只接受网上支付）。招标文件一经售出，概不退还。详见本公告第七条。 售价：￥200.0 元，本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间：2022年03月24日 09点30分（北京时间） 开标时间：2022年03月24日 09点30分（北京时间） 地点：广州市越秀区广仁路1号广仁大厦6楼（广东华伦招标有限公司开标室） 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 （一）我公司可提供纸质招标文件和购买招标文件的电子发票。有需要的供应商成功获取网上招标文件后，可在规定的获取招标文件时间段内到我公司现场（广州市广仁路1号广仁大厦7楼）领取纸质招标文件。购买招标文件的电子发票将以短信方式发送到供应商在我公司平台的预留手机号码。联系人：尹小姐，联系电话：020-83172166转0。招标文件一经售出，概不退还。 （二）获取招标文件的方式：网上获取方式（只接受网上支付）。供应商可在上述日期内登录我公司网站 供应商在线服务 （http://120.25.193.109/）购买招标文件。平台操作相关问题请查询网站 通知公告 栏目（http://120.25.193.109/announce/）中《供应商操作指南》或咨询我公司 （或咨询我公司020-83172166转834/862、020-83527049； QQ：2127233298）。本公司只接受通过以上方式正式获取招标文件的供应商参加投标（多个采购包的项目，供应商如参与多个采购包投标的，须分别对相应采购包进行登记）。售价：200.00元/套，招标文件一经售出，概不退还。 七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称：工业和信息化部电子第五研究所 地址：广州市增城区朱村街朱村大道西78号 联系方式：林工，020-87237012 2.采购代理机构信息 名 称：广东华伦招标有限公司 地 址：广州市广仁路1号广仁大厦7楼 联系方式：田工，020-83172166-844 3.项目联系方式 项目联系人：罗工 电 话： 020-87237149

根据《重庆市渝北区科技创新券实施管理办法》和区科委《关于征集渝北科技创新券接券机构的通知》有关规定，近日，重庆市渝北区科委拟认定重庆阿泰可环境可靠性检测技术有限公司、重庆先临科技有限公司等23家机构为渝北区科技创新券第二批接券机构。创新券是政府设计并免费发放的一种权益凭证，用于鼓励支持科技型企业开展研发活动或向高校、科研院所以及科技服务机构购买科技服务。重庆市科学技术委员会（以下简称市科委）和重庆市财政局（以下简称市财政局）利用市级财政科技发展资金设立创新券专项，以奖励性后补助方式支持科技型企业培育。重庆阿泰可环境可靠性检测技术有限公司和贵州阿泰可检测技术有限公司（简称阿泰可实验室），成立于2017年4月，位于重庆市两江新区和贵阳市经济技术开发区。是重庆阿泰可科技股份有限公司（股票代码：837078）控股实验室，是专业从事各类产品（包括军用装备）环境适应性和可靠性试验的综合环境实验室，是一个独立于承试方和使用方之间的第三方实验室。阿泰可实验室由多位国内外著名的环境工程专家主持，建立了完善的质量保证体系，有一支高素质的试验队伍，能承担国家和国防多种型号、多种项目、技术复杂、大型产品的环境与可靠性试验任务，能科学、准确地进行GJB150、GJB150A、GJB360、GJB899、GB2423、IEC标准、美军标等系列标准规定的高温、低温、湿热、温度冲击、快速温变、盐雾、酸性大气压、霉菌、振动、冲击（含经典冲击、冲击响应谱、碰撞、颠震）、低气压试验、温湿高试验、颠簸、自由跌落、运输、太阳辐射、淋雨、砂尘、离心加速度、拉伸试验、温度/湿度/振动三综合环境试验；可靠性试验和筛选试验。同时可为委托单位提供试验方案的策划与制定、结构动态特性、动态信号采集与分析、产品故障的分析及诊断、环境与可靠性技术培训交流、样品夹具设计、实验室规划设计、技术支持等。阿泰可实验室占地面积3000㎡，重庆实验室占地1200㎡，贵州实验室占地1800㎡，拥有推力1T～16T（9.8kN～160kN）系列电动振动试验系统、最大14m3/16T的温度/湿度/振动三综合试验系统、最大加速度50000g的机械冲击系统、最大峰值为12000g的冲击响应谱试验台、最大可达500g的离心试验系统，最大可达30℃/min温变的快速温变箱、最大高温可达500℃的高温试验箱，淋雨试验箱、砂尘试验箱、霉菌箱、盐雾箱、酸性大气压试验箱、太阳辐射试验箱和应力筛选试验系统等各种先进齐全的试验设备50余台套。 实验室服务项目LABORATORY SERVICE PROJECT正弦振动试验、随机振动试验经典冲击试验、冲击响应谱试验包装运输试验、跌落试验、拉伸试验抗震／地震试验、恒加速度试验高温／低温试验、温湿度循环试验温度冲击试验、快速温变试验盐雾试验、霉菌试验、酸性大气试验、砂尘试验淋雨试验、低气压试验、温湿高试验温度／湿度／振动三综合试验环境应力筛选、动态信号分析、非高斯控制可靠性试验及应力筛选试验试验方案咨询、制定环境与可靠性技术培训与技术交流样品夹具设计等

冷热冲击试验箱选型要点你知多少有很多用户咨询我们客服关于冷热冲击试验箱选型问题，为了让用户可以买到满意的设备，我司的工程师整理了一下，分享给大家。1.测试标准自身的产品材质相关测试标准（国标/军标/欧美标准），选择合适的冷热冲击试验箱温度冲击范围，一般有 -40°C ~+150°C -55°C~ +150°C -70°C~+150°C，当然也可以针对不同产品选择不同的冲击范围。2.尺存根据自身的产品尺寸选出合适的高低温冲击箱内箱尺寸。市面上，常规容量为50L 、80L、 100L、 150L、200L、300L、480L、 非标定制等（不清楚可以找海银装备厂家，会给您推荐适合您产品的尺寸大小）。3.风冷或/水冷正常来讲50L-100L常规- 40~+150*C的温度，风冷就好了，再大一些的容量和再低一点的温度（100L/-70*C） 水冷的性能好点。4.二箱式or三箱式二箱式冲击只有高温和低温冲击，而三箱式中间有一个常温过度，这对产品而言没有了常温的过度，破坏性大，对产品要求严苛。所以，两者选哪个需要看产品材质相关测试标准以及客户要求测试温度切换时间。

高低温冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。分为两厢式和三厢式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为：GB/T2423.1-2008试验A、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。　　　　高低温冷热冲击试验箱制冷工作原理：高低制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下：制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换，将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功，这时制冷剂温度降低。最后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。　　　　高低温冷热冲击试验箱质量优势　　　　主要核心配件均采用国际大品牌的配件如法国泰康，日本路宫/和泉/三菱，施耐德，美国快达/杜邦冷媒，丹麦（DANFOSS），瑞典（AlfaLaval）等配件，假一罚十，能确保高低温冲击测试箱正常高效的运行。相比其他同行：采用国产配件或者是使用伪劣的冒牌配件充当品牌配件，发货到客户处和所说的完全不一致，质量大打折扣。　　　　高低温冷热冲击试验箱技术优势　　　　1.采用7″TFT真彩LCD触摸屏，比其它屏更大，更直观，操作简单，运行稳定，并且更节能。　　　　2.蒸发器采用水浸查漏方法，查漏彻底，确保设备稳定运行。　　　　3.采用模块化制冷机组，能确保制造质量，且维护替换非常方便。　　　　4.采用高均匀度的正压式风道系统，温度均匀高。　　　　5.采用最新的自动除霜技术，使除霜时间缩短，试设备的使用效率大大增加。　　　　6.具有多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。　　　　三箱式高低温冷热冲击试验箱相比其他同行设备：　　　　1.控制器界面较小颜色单一，不便于观察和操作。　　　　2.采用传统方法，肥皂水查漏，不彻底。　　　　3.冷冻机组和机箱底板安装在一起，制造质量和维护性能不佳。　　　　4.无自动除霜技术，需手动除霜之后方可再进行试验，使用效率不佳。　　　　5.同行大部分高低温冲击测试箱，通常在运行一段时间后开始结霜，并且除霜时间非常长，使用效率低下。　　　　6.同行设备为了节省成本，导致设备的安全保护措施单一，非常容易造成安全隐患。　　　　三：三箱式高低温冷热冲击试验箱节能优势：三箱式冷热冲击试验箱采用自主研发的控制系统，精度高，稳定操作简单，控制器抛弃日本韩国等控制器的固定模式，采用最新的模糊运算技术，自动分析负载能力，合理调节冷媒流量，使设备节能高达20%。

随着现代的发展,高低温冲击试验箱在工业中也运用的越来越广泛了,但很多用户还不知道该如何去操作好一台高低温冲击试验箱日常的一些技巧,现在爱佩小编来为大家揭晓:高低温冲击试验箱分为五个步骤来使用:预处理、初始检测、试验、恢复、最后检测。其中试验的流程如下：1、第一阶段：先将测试样品按照标准的要求放置在试验箱内并将试验箱内的温度设定在规定的温度点上，保持一定的时间至测试样品达到温度稳定要以时间的长为准。2、第二阶段：高温结束后，在3-5min内将测试样品转换到已调节到-40℃的低温试验内，，保持一小时或者直到测试样品达到温度温度，以时间长为准。3、第三阶段：低温结束后，在3-5min内将测试样品转换到已调节到55℃的高低温试验箱内，保持一小时或者直到测试样品达到温度温度，以时间长为准。4、再次陈述试验的方法：完成三个循环周期后，根据样品的大小与空间大小，时间可能会有一定的误差。5、最后阶段：我们需要提醒广大的用户使用时要注意：避免高温烫伤，高低温冲击试验箱在做高温测试时箱体内的温度很高，试验过程中或者测试结束后，需要打开设备时要特别小心，切记，顺着门开启的方向行走，以免烫伤，低温时冻伤，在做低温试验时箱内温度很低。试验过程中或试验刚结束时，如需打开箱门要特别小心，以免冻伤。

高低温冲击试验箱根据客户试验要求的不同可分为两箱式与三箱式，从结构上来说三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。 若试验箱提篮不工作： 1.外部电源未供气或调压阀损坏； 2.提蓝卡死，打开试验箱门，目测提篮是否有卡住现象； 3.气动电磁阀损坏，导致气缸气路无法切换，提篮只能停留在起始位置，气缸内部不密封； 4.钢丝绳松动或断裂。 高低温冲击试验箱符合标准为：GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。

很多客户在询三箱式冷热冲击试验机时都会疑问为何一定要用“泰康”牌压缩机。　　三箱式冷热冲击试验箱领域的应用　　广东越联仪器品牌三箱式冷热冲击试验箱主控制器采用进口日本“OYO”双回路高精度液晶显示触摸按键温度控制器。更多有关三箱式冷热冲击试验箱的技术文章,可浏览我公司的官方网站www.yuelian.com.tw。　　主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的必不可少的一项测试设备。　　三箱式冷热冲击试验箱箱二箱与三箱的区别　　三箱式冷热冲击试验箱主要是针对于电工、电子产品,以及其原器件,及其它材料在温度急剧变化的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。该试验设备主要用于对产品按照国家军用标准要求或用户自定要求,在高温与低温瞬间变化条件下,对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,测试后,通过检测,来判断产品的性能,是否仍然能够符合预定要求,以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。　　三箱式冷热冲击试验箱由于工作方式与结构不同,分为二箱式冷热冲击箱与三箱式三箱式冷热冲击试验箱。　　二箱式三箱式冷热冲击试验箱只有二个工作室,分别为高温和低冷,冲击工作时,只需通过吊栏将测试件移动至相应的工作室即可,能量损耗相对较少,与三箱式相比,配置均小,成本较低,故障率相对偏低。它的原理是吊篮式上下交替运动。　　三箱式三箱式冷热冲击试验箱主要用于固定静止式摆放产品,或带载测试,测试物件置放于工作区,通过改变风道方式,将预冷室或预热室的温度带入工作室,实现温度的快速冲击变化,由于比二箱冷热冲击箱多增加了一个工作室区域的容积,在升降温时,需对预冷热量的要求要高,功率和蓄能装置配置要大,成本相应增加。　　二款设备是根据客户的实际产品形状、重量还有参照的技术试验规范而定的,一般小型物件不超出试验箱吊篮尺寸的可以选择二箱式,相反有一定重量的大物件都会采用三箱式。　　三箱式冷热冲击试验箱专业模拟材料在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度。

冷热冲击试验箱维护保养有哪些注意事项以及禁测产品？首先我们先了解冷热冲击试验箱是做什么的，他是用于测试零部件承受温度迅速变化之耐力，三箱式冷热冲击试验箱即适用于质量控制的实验室又可满足生产过程中筛选商用和军用产品。蓄热式冷热冲击箱不需要使用液态气体（LN2　或 LCO2）辅助降温，待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体生产线大量选用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷。下面有爱佩科技为您详细说明：1.冷热冲击箱 应固定每3个月清洗一次冷凝器：对于冷冻系统采用风冷冷却的，应定期检修冷凝风机，并对冷凝器进行去污除尘，以保证其良好的通风换热性能；对于冷冻系统采用水冷冷却的，除了要保证其进水压力、进水温度在规定范围内，还必须保证相应流量，并定期对冷凝器内部进行清洗除垢，以获取其持续的换热性能。2冷热冲击箱 如是长时间做低温时，当做完一个周期后，应设定温度为110度，小幅度开箱门做两个小时除霜处理。同时应坚持每次试验完毕后，将温度设定在环境温度附近，工作30分钟左右，再切断电源，并擦干净工作室内壁。3.冷热冲击箱 应定期清洗蒸发器：因试品的洁净等级各异，在强制风循环作用下，蒸发器上会凝聚很多尘埃等小颗粒物体，应定期进行清洗。低温试验箱循环风叶、冷凝器风机清洁和校平衡：与清洗蒸发器相似，因试验箱的工作环境各异，循环风叶、冷凝器风机上会凝聚很多尘埃等小颗粒物体，应定期进行清洗。4.冷热冲击冷热冲击箱箱 水路、加湿器清洗：若水路不畅、加湿器结垢易导致加湿器干烧，可能损坏加湿器，所以必须定期对水路、加湿器进行清洗。5.冷热冲击箱 设备若需搬迁尽量在华凯公司技术人员指导下进行，以免造成设备损坏，如客户自行搬迁，一定要有专业的电工，确认电路正确后再开机运行，不然会烧坏设备相关元器件。6.冷热冲击箱 长期停机不使用，应定期每半月通电，通电时间不小于1小时，并检测设备相关零部件运行是否正常。冷热冲击试验箱维护保养有哪些注意事项以及禁测产品？冷热冲击箱禁此测试的试样一、爆炸物：　　1．硝化甘醇(乙二醇二硝酸酯)、硝化甘油(丙三醇三硝酸酯)、硝化纤维素及其它爆炸性的硝酸酯类。　　2．三硝基苯、三硝基甲苯、三硝基苯酚(苦味酸)及其它爆炸性的硝基化合物。　　3．过乙酸、甲基乙基甲酮过氧化物、过氧化苯甲酰以及其它有机过氧化物。　　二、可燃物：　　1． 自燃物： 金属："锂"、”钾”、"钠"、黄磷、硫化磷、红磷。 赛璐璐类：碳化钙(电石)、磷化石灰、镁粉、铝粉、亚硫酸氢钠。　　2． 氧化物性质类：　　(1) 氯酸钾、氯酸钠、氯酸铵以及其它的氯酸盐类。　　(2) 过氧酸钾、过氧酸钠、过氧酸铵以及其它的过氧酸盐类。　　(3) 过氧化钾、过氧化钠、过氧酸钡以及其它的无机过氧化物。　　(4) 硝酸钾、硝酸钠以及其它的硝酸盐类。　　(5) 次氯酸钾以及其它的次氯酸盐类。　　(6) 亚氯酸钠以及其它的亚氯酸盐类。　　三、易燃物：　　(1) 乙醚、汽油、乙醛、氧化丙烯、二硫化碳及其它燃点不到-30℃的物质。　　(2) 普通乙烷、氧化乙烯、丙酮、苯、甲基乙基甲酮及其它燃点在-30℃以上而小于0℃的物质。　　(3) 甲醇、乙醇、二甲笨、酸醋戊酯及其它燃点在0℃以上低于30℃的物质。　　(4) 煤油、汽油、松节油、异戊醇、酸醋及其它燃点在30℃以上低于65℃的物质。　　四、可燃性气体：氢、乙炔、乙烯、甲烷、乙烷、丙烷、丁烷及其它在温度为15℃时1大气压情况下可能会燃烧的气体。五、生物试样的试验或储存　　六、强电磁发射源试样的试验及储存　　七、放射性物质试样的试验及储存　　八、剧毒物质试样的试验及储存

经过为期半年的研发和试验，勤卓品牌高低温冲击试验箱新品上市，该系列的试验箱具备操作更简洁，性能更安全，数据更精密的特点。 高低温冲击试验箱适合LED，五金，塑胶，化工，仪器仪表，电池，半导体，数码，汽车，军工，航天等各个行业，是目前国内环境试验设备行业使用范围最全面的一款高低温冲击试验箱。 东莞勤卓科技在不断提升内在品质的同时，也十分重视售后服务的提高，近年来，勤卓品牌高低温试验箱、恒温恒湿试验箱、冷热冲击试验箱等设备，相继获得系列的技术专利证书，并成为广东实验设备行业优质企业称号。为满足市场的需求，勤卓同时也斥资完善售后服务网络的建设，未来三年，勤卓科技将争取在全部大部分省市开设售后服务网点，立志成为国内技术最领先，售后最完善的高低温试验箱、恒温恒湿试验箱、高低温冲击试验箱等设备的制造企业。

关于《皓天设备冷热冲击试验箱》合作项目出货通知以上实物拍摄图中冷热冲击试验设备已基本完成，正处于调试阶段，请耐心等待。不出意外的话，一星期内可发货！特此通知品名：冷热冲击试验箱 型号：TSC-80-3P温度范围：-40~+150℃内箱尺寸：500*400*400mm (宽×高×深)外箱尺寸：1700*1800*1440mm (宽×高×深) 2016年11月30日东莞市皓天试验设备有限公司与江苏**新能源科技有限公司成功签约，关于《皓天设备冷热冲击试验箱》合作项目。感谢江苏**新能源科技有限公司各领导的信任与大力支持，我们将以最优的产品，最贴心的服务来回馈贵司。

2023年10月18-20日，仪器信息网(www.instrument.com.cn) 与电子工业出版社将联合主办第四届“半导体材料与器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会。iCSMD 2023会议围绕光电材料与器件、第三代半导体材料与器件、传感器与MEMS、半导体产业配套原材料等热点材料、器件的材料分析、失效分析、可靠性测试、缺陷检测和量测等热点分析检测技术，为国内广大半导体材料与器件研究、应用及检测的相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到相关专家的精彩报告。本次大会分设：半导体材料分析技术新进展、可靠性测试和失效分析技术、可靠性测试和失效分析技术（赛宝实验室专场）、缺陷检测和量测技术4个主题专场，诚邀业界人士报名参会。主办单位：仪器信息网，电子工业出版社参会方式：本次会议免费参会，参会报名请点击会议官网：https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icsmd2023/ 或扫描二维码报名“可靠性测试和失效分析技术”专场预告（注:最终日程以会议官网为准）时间报告题目演讲嘉宾专场：可靠性测试和失效分析技术（赛宝实验室专场）（10月19日下午）专场主持人：吕宏峰（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师）14:00高端集成电路5A分析评价技术师谦（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师）14:30光学显微分析技术在半导体失效分析中的应用刘丽媛（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师）15:00集成电路振动、冲击试验评价邓传锦（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师）15:30光发射显微镜原理及在失效分析中的应用蔡金宝（工业和信息化部电子第五研究所 部门主任/高级工程师）16:00半导体集成电路热环境可靠性试验方法与标准陈锴彬（工业和信息化部电子第五研究所 工程师）16:30电子制造中的可靠性工程邹雅冰（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师/工艺总师）17:00集成电路静电放电失效分析与评价何胜宗（工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师）嘉宾简介及报告摘要（按分享顺序）专场主持人：吕宏峰 工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师【个人简介】吕宏峰，博士，高级工程师，主要从事元器件质量与可靠性相关的科研任务，累计负责和参与省部级项目20余项，具有丰富的测试检测及科研经验，发表SCI\EI论文十余篇，授权专利4项，编撰2本技术专著。报告题目：碳化硅器件的新型电力系统应用与可靠性研究师谦 工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师【个人简介】师谦，中国赛宝实验室（工业和信息化部电子第五研究所）高级工程师, 硕士，现任工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性研究分析中心元器件可靠性工程部总工。硕士毕业于电子科技大学微电子技术专业。1998年入职工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性研究分析中心，专业从事集成电路失效机理，失效分析技术和环境适用性试验技术研究。荣获省部级科技奖6次，主持和参与4项国家标准制定，参与发表专著和文章7篇。报告题目： 高端集成电路5A分析评价技术【摘要】高端芯片的可靠性保证技术，在材料，工艺和外部应力几个层面进行分析评价，实现产品可靠性提升。刘丽媛 工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师【个人简介】刘丽媛，女，毕业于中山大学微电子学与固体电子学专业，硕士研究生，长期从事分立器件、集成电路等元器件可靠性分析和评价工作，擅长塑封集成电路在航空装备领域及全海深无人潜水器领域的应用风险评估，2018年获得国防科学技术进步奖一等奖一项，2020年作为项目负责人完成电子元器件领域省部级科研项目1项，参与其他国家重大工程、研究项目10余项，包括广东省科技厅重点领域研发计划高端芯片可靠性与可信任性评价分析关键技术、面向高频开关电源应用的8英寸Si衬底上GaN基功率器件的关键技术研究及产业化等，并参与国家新材料测试评价平台-战略性电子材料测试评价中心建设工作，曾与航空装备研制单位、无人深潜器研制单位、电力企业、家电企业等开展多项项目合作，连续5年担任国际标准组织JEDEC质量与可靠性委员会中国区工作组秘书长，发表论文10余篇。报告题目： 光学显微分析技术在半导体失效分析中的应用【摘要】报告简要介绍光学显微镜的分类、原理和特点，重点结合应用案例讲解光学显微技术在半导体失效分析中的重要作用，如样品外观、内部结构检查及失效发现，与电学分析、化学分析联用分析等。邓传锦 工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师【个人简介】工业和信息化部电子五所高级工程师，主要从事元器件可靠性寿命及环境试验评估方法研究，具有超过10年丰富的一线试验操作经验，熟悉各类元器件检测试验标准，对元器件可靠性试验评价有独特的见解。承担了多项省部级机械试验、寿命试验方面检测技术研究类课题，发表机械试验、寿命试验及环境试验方面论文13篇，EI收录8篇。报告题目： 集成电路振动、冲击试验评价【摘要】1、集成电路振动试验评价 对集成电路常用振动试验标准中扫频振动、随机振动试验条件、方法、注意事项及振动夹具设计测试方法进行讲解。 2、集成电路冲击试验评价 对集成电路常用冲击试验标准中标准波形冲击、冲击响应谱、轻量级冲击、瞬态脉冲波形冲击等试验条件、方法、注意事项及失效案例进行讲解。蔡金宝 工业和信息化部电子第五研究所 部门主任/高级工程师【个人简介】蔡金宝，硕士，高级工程师，毕业于北京大学微电子与固体电子学，现任工业和信息化部电子第五研究所系统工程中心项目工程部主任，主要从事电子系统元器件级、板级的可靠性研究和分析工作，主持过多个行业龙头企业的可靠性提升服务工作。在电子产品的可靠性工作流程优化、可靠性增长与评价、故障根因分析、物料评估与优选、寿命分析与评价方面有着丰富的工作经验。在电子元器件可靠性管控方面，曾为通讯、家电、军工、汽车电子等行业的标杆客户提供服务，包括定制模块的可靠性评估与增长、物料选用体系优化、替代物料的验证等。报告题目： 光发射显微镜原理及在失效分析中的应用【摘要】光发射显微镜技术（EMMI）和激光扫描显微镜技术（OBIRCH）能快速定位芯片失效区域，广泛应用于器件的失效分析。本报告主要介绍EMMI和OBIRCH的理论基础和成像原理，通过两种技术的应用及实际案例，对比两者区别，并详细介绍两种技术的应用范围。最后对试验设备进行简单介绍。陈锴彬 工业和信息化部电子第五研究所 工程师【个人简介】本科和硕士毕业于华南理工大学，目前在工业和信息化电子第五研究所任职项目工程师，主要从事电子元器件可靠性环境与寿命试验的开展和研究工作。在可靠性环境与寿命试验领域：个人实操开展的试验项目上千项；参与了多项省部级课题的研究工作，发表学术论文7篇，其中6篇被SCI或EI收录；申请发明专利3项。支撑并解决了若干款新产品在鉴定检验时，在环境试验方面的匹配性问题。报告题目：半导体集成电路热环境可靠性试验方法与标准【摘要】热环境试验是考核和验证产品环境适应性的一类可靠性试验。对于半导体集成电路，常用的热环境可靠性试验包括温度循环、热冲击、高低温贮存、高低温工作等试验。本报告从试验的方法和原理出发，分析不同热环境试验对样品的考核目的及差异。并进一步结合集成电路常用的热环境试验标准和相关的案例，对开展试验时的注意事项进行介绍。邹雅冰 工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师/工艺总师【个人简介】邹雅冰 工业和信息化部电子第五研究所 元器件可靠性分析中心 高级工程师 工艺总师，办公室主任，IPC特邀专家。 专业从事电子装联工艺可靠性技术研究，拥有丰富的科研及工程项目经验，擅长印制板及其组件失效分析、工艺制程改进和工艺可靠性试验评价技术，先后主持/参与30多项IPC、国标、行标等相关标准的制修订及审核工作，服务多家单位的工艺优化及改进相关咨询项目。报告题目： 电子制造中的可靠性工程【摘要】从制造大国到制造强国，实现高质量发展，可靠性必不可少。电子制造是一个复杂的高技术的工艺工程，而可靠性是一项系统工程。出厂合格不等于可靠，不可靠的产品不具有品牌竞争力。高可靠的电子制造需要系统导入可靠性工程，本课程简要介绍了导入的基本方法和流程。何胜宗 工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师【个人简介】何胜宗，可靠性高级工程师、iNARTE认证ESD工程师、TSQ项目黑带。专业从事电子产品质量可靠性整体解决（TSQ/TSR）项目的技术咨询和辅导工作。在电子元器件检测、失效分析领域，具有丰富的实践经验，积累了大量电子元器件物料缺陷、制造工艺不良、静电防护不当等诱发产品失效的案例经验和相应的解决方案。帮助客户查明引起重大质量事故的根本原因，并提出有效的整改方案及预防措施，获得客户好评与认可。积累了大量由于ESD损伤的失效分析案例，对ESD损伤现场诊断、分析以及防护管控体系整改、培训具有丰富的实践经验。辅导了多家企业的静电防护体系改造工程，使相关人员全面掌握了电子制造过程的静电防护原理、方法和管控措施，并使企业通过了IEC61340/ESDA S20.20标准体系认证。开展静电防护体系建设辅导相关的企业有：华高王氏、ABB、技研新阳、美维电子、成都振芯科技、贵州振华风光、新风光电子、美的空调、美的冰箱、美的机电、海信空调、海信日立、杭州先途电子、昆山神讯电脑、上海渡省、万和电气、武汉新芯、九院五所、中航609、兵器203、4724、5721、南京海泰、重庆东风小康、三川智慧水表、中山名门等。报告题目： 集成电路静电放电失效分析与评价【摘要】报告聚焦集成电路静电放电失效分析与评价技术，介绍了生产工序中典型的静电风险来源以及静电放电诱发失效的放电路径、失效类型和深层机理过程；以真实工程案例为基础，介绍了在产线失效或者客退品分析工作中，如何排查静电诱发失效并进行整改的工作思路和技巧；最后，介绍了集成电路的静电放电评价方法和相应的防护措施。会议联系会议内容仪器信息网康编辑：15733280108，kangpc@instrument.com.cn会议赞助周经理，19801307421，zhouhh@instrument.com.cn

html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 详细信息 工业和信息化部电子第五研究所工业试验设备公开招标公告 广东省-广州市 状态：公告 更新时间： 2023-12-01 工业和信息化部电子第五研究所工业试验设备公开招标公告 2023年12月01日 17:28 公告信息： 采购项目名称 工业试验设备 品目 货物/设备/仪器仪表/试验仪器及装置/试验箱及气候环境试验设备 采购单位 工业和信息化部电子第五研究所 行政区域 市辖区 公告时间 2023年12月01日 17:28 获取招标文件时间 2023年12月04日至2023年12月08日每日上午:9:00 至 11:30 下午:13:30 至 16:30（北京时间，法定节假日除外） 招标文件售价 ￥300 获取招标文件的地点 苏州工业园区汀兰巷199号（凤里街西入口）1号楼东门120室 联创时代（苏州）设计有限公司 开标时间 2023年12月25日 13:30 开标地点 苏州工业园区汀兰巷199号（凤里街西入口）1号楼东门120室 联创时代（苏州）设计有限公司 预算金额 ￥790.000000万元（人民币） 联系人及联系方式： 项目联系人 张燕、刘颖 项目联系电话 0512-67016500/67024092 采购单位 工业和信息化部电子第五研究所 采购单位地址 苏州市高新区泰山路601号 采购单位联系方式 刘海燕 0512-68077125 代理机构名称 联创时代（苏州）设计有限公司 代理机构地址 苏州工业园区汀兰巷199号 代理机构联系方式 张燕、刘颖 0512-67016500/67024092 项目概况 工业试验设备 招标项目的潜在投标人应在苏州工业园区汀兰巷199号（凤里街西入口）1号楼东门120室 联创时代（苏州）设计有限公司获取招标文件，并于2023年12月25日 13点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：SDZX2023-CP-G-004 项目名称：工业试验设备 预算金额：790.000000 万元（人民币） 最高限价（如有）：790.000000 万元（人民币） 采购需求： 气动垂直冲击试验台、温度/湿度/振动综合环境试验箱、快速温度变化湿热试验箱、高低温湿热试验箱、高低温湿热霉菌试验箱、步入式快速温度变化湿热试验室、快速温度变化湿热试验箱、通风系统等设备。 合同履行期限：合同签订后90天内。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求： 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定； 2.落实政府采购政策需满足的资格要求： 2.1合格供应商资格要求 1）在中华人民共和国境内注册，具有独立承担民事责任的能力； 2）具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度； 3）具有履行合同所必需的设备和专业技术能力； 4）有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录； 5）参加政府采购活动前三年内，在经营活动中没有重大违法记录； 6）法律、行政法规规定的其他条件。 2.2落实政府采购政策需满足的资格要求：本项目专门面向中小企业，供应商应为中小微企业、监狱企业、残疾人福利性单位。 3.本项目的特定资格要求：无 三、获取招标文件 时间：2023年12月04日 至 2023年12月08日，每天上午9:00至11:30，下午13:30至16:30。（北京时间，法定节假日除外） 地点：苏州工业园区汀兰巷199号（凤里街西入口）1号楼东门120室 联创时代（苏州）设计有限公司 方式：现场或邮寄,售后不退。 售价：￥300.0 元，本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间：2023年12月25日 13点30分（北京时间） 开标时间：2023年12月25日 13点30分（北京时间） 地点：苏州工业园区汀兰巷199号（凤里街西入口）1号楼东门120室 联创时代（苏州）设计有限公司 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1、在购买标书时须向招标代理机构提供以下材料： 1）投标单位的营业执照副本、税务登记证副本、组织机构代码证副本或三证合一营业执照副本复印件。 2）投标单位法定代表人身份证复印件，如为委托代理人报名的还需提供法定代表人授权委托书原件和委托代理人的身份证复印件。 注：1.1）欢迎符合条件的投标单位前来报名。请各投标单位将符合以上资格要求的有效证明文件复印件加盖投标单位公章后装订成册，封面注明投标单位名称、标号、联系人、联系电话、电子邮箱、传真等信息，如有伪造或虚报，则取消该单位的报名或响应资格。 1.2）单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商，不得参加同一合同项下的采购活动。 七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称：工业和信息化部电子第五研究所 地址：苏州市高新区泰山路601号 联系方式： 刘海燕 0512-68077125 2.采购代理机构信息 名 称：联创时代（苏州）设计有限公司 地 址：苏州工业园区汀兰巷199号 联系方式：张燕、刘颖 0512-67016500/67024092 3.项目联系方式 项目联系人：张燕、刘颖 电 话： 0512-67016500/67024092 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() }) 基本信息 关键内容：高低温试验箱,冲击试验机 开标时间：2023-12-25 13:30 预算金额：790.00万元 采购单位：工业和信息化部电子第五研究所 采购联系人：点击查看 采购联系方式：点击查看招标代理机构：联创时代（苏州）设计有限公司 代理联系人：点击查看 代理联系方式：点击查看 详细信息 工业和信息化部电子第五研究所工业试验设备公开招标公告 广东省-广州市 状态：公告 更新时间： 2023-12-01 工业和信息化部电子第五研究所工业试验设备公开招标公告 2023年12月01日 17:28 公告信息： 采购项目名称 工业试验设备 品目 货物/设备/仪器仪表/试验仪器及装置/试验箱及气候环境试验设备 采购单位 工业和信息化部电子第五研究所 行政区域 市辖区 公告时间 2023年12月01日 17:28 获取招标文件时间 2023年12月04日至2023年12月08日每日上午:9:00 至 11:30 下午:13:30 至 16:30（北京时间，法定节假日除外） 招标文件售价 ￥300 获取招标文件的地点 苏州工业园区汀兰巷199号（凤里街西入口）1号楼东门120室 联创时代（苏州）设计有限公司 开标时间 2023年12月25日 13:30 开标地点 苏州工业园区汀兰巷199号（凤里街西入口）1号楼东门120室 联创时代（苏州）设计有限公司 预算金额 ￥790.000000万元（人民币） 联系人及联系方式： 项目联系人 张燕、刘颖 项目联系电话 0512-67016500/67024092 采购单位 工业和信息化部电子第五研究所 采购单位地址 苏州市高新区泰山路601号 采购单位联系方式 刘海燕 0512-68077125代理机构名称 联创时代（苏州）设计有限公司 代理机构地址 苏州工业园区汀兰巷199号 代理机构联系方式 张燕、刘颖 0512-67016500/67024092 项目概况 工业试验设备 招标项目的潜在投标人应在苏州工业园区汀兰巷199号（凤里街西入口）1号楼东门120室 联创时代（苏州）设计有限公司获取招标文件，并于2023年12月25日 13点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：SDZX2023-CP-G-004 项目名称：工业试验设备 预算金额：790.000000 万元（人民币） 最高限价（如有）：790.000000 万元（人民币） 采购需求： 气动垂直冲击试验台、温度/湿度/振动综合环境试验箱、快速温度变化湿热试验箱、高低温湿热试验箱、高低温湿热霉菌试验箱、步入式快速温度变化湿热试验室、快速温度变化湿热试验箱、通风系统等设备。 合同履行期限：合同签订后90天内。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求： 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定； 2.落实政府采购政策需满足的资格要求： 2.1合格供应商资格要求 1）在中华人民共和国境内注册，具有独立承担民事责任的能力； 2）具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度； 3）具有履行合同所必需的设备和专业技术能力； 4）有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录； 5）参加政府采购活动前三年内，在经营活动中没有重大违法记录； 6）法律、行政法规规定的其他条件。 2.2落实政府采购政策需满足的资格要求：本项目专门面向中小企业，供应商应为中小微企业、监狱企业、残疾人福利性单位。 3.本项目的特定资格要求：无 三、获取招标文件 时间：2023年12月04日 至 2023年12月08日，每天上午9:00至11:30，下午13:30至16:30。（北京时间，法定节假日除外） 地点：苏州工业园区汀兰巷199号（凤里街西入口）1号楼东门120室 联创时代（苏州）设计有限公司 方式：现场或邮寄,售后不退。 售价：￥300.0 元，本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间：2023年12月25日 13点30分（北京时间） 开标时间：2023年12月25日 13点30分（北京时间） 地点：苏州工业园区汀兰巷199号（凤里街西入口）1号楼东门120室 联创时代（苏州）设计有限公司 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1、在购买标书时须向招标代理机构提供以下材料： 1）投标单位的营业执照副本、税务登记证副本、组织机构代码证副本或三证合一营业执照副本复印件。 2）投标单位法定代表人身份证复印件，如为委托代理人报名的还需提供法定代表人授权委托书原件和委托代理人的身份证复印件。 注：1.1）欢迎符合条件的投标单位前来报名。请各投标单位将符合以上资格要求的有效证明文件复印件加盖投标单位公章后装订成册，封面注明投标单位名称、标号、联系人、联系电话、电子邮箱、传真等信息，如有伪造或虚报，则取消该单位的报名或响应资格。 1.2）单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商，不得参加同一合同项下的采购活动。 七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称：工业和信息化部电子第五研究所地址：苏州市高新区泰山路601号 联系方式： 刘海燕 0512-68077125 2.采购代理机构信息 名 称：联创时代（苏州）设计有限公司 地 址：苏州工业园区汀兰巷199号 联系方式：张燕、刘颖 0512-67016500/67024092 3.项目联系方式 项目联系人：张燕、刘颖 电 话： 0512-67016500/67024092

p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " strong 仪器信息网讯 /strong 5G，第五代移动通信技术的简称，是最新一代蜂窝移动通信技术，4G系统后的延伸。5G的性能目标是高数据速率、减少延迟、节省能源、降低成本、提高系统容量和大规模设备连接。与4G相比，5G宽带需求提升100倍，时延要求降低10倍，传输速度可达每秒数十Gb，整部超高画质电影可在1秒之内下载完成。 /span /p p style=" text-align: center " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 300px height: 208px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201908/uepic/2a0444e9-29b9-452d-8890-a5e54d682a96.jpg" title=" 1.PNG" alt=" 1.PNG" width=" 300" height=" 208" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: right " span style=" font-family: & quot times new roman& quot font-size: 14px " 图片来源：中央纪委国家监委网站 /span /p p style=" text-align: right " span style=" font-family: " times=" " new=" " font-size:=" " /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " span style=" background-color: rgb(183, 221, 232) " strong span style=" background-color: rgb(183, 221, 232) " times=" " new=" " 5G到来推动PCB行业快速发展 /span /strong /span span style=" background-color: rgb(146, 205, 220) " strong span style=" background-color: rgb(146, 205, 220) " times=" " new=" " /span /strong strong span style=" background-color: rgb(146, 205, 220) " times=" " new=" " /span /strong /span /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " PCB（Printed Circuit Board），中文名称为印制线路板，又称印刷线路板，是电子元器件的支撑体、电子元器件电气连接的载体，是电子工业的重要部件，为5G通信发展提供基础保障。电子设备采用PCB后，由于同类PCB的一致性，可避免人工接线的差错，并可实现电子元器件自动插装或贴装、自动焊锡、自动检测，保证了电子设备的质量，提高了劳动生产率、降低了成本，并便于维修 /span span style=" font-family: " times=" " new=" " 。 /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: " times=" " new=" " font-size:=" " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 250px height: 252px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201908/uepic/88462a9e-b599-4ca1-93e7-b57ae1996a8e.jpg" title=" 2.png" alt=" 2.png" width=" 250" height=" 252" border=" 0" vspace=" 0" / /span br/ /p p span style=" font-family: " times=" " new=" " font-size:=" " /span /p p style=" text-align: right " span style=" font-family: & quot times new roman& quot font-size: 14px " 图片来源：电子发烧友网 /span /p p style=" text-align: right " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " 据了解，全球仅5G带来的射频侧基站用PCB年产值可达240亿元人民币/年以上(中国大陆预计占50%)，是4G的四倍以上。5G的到来成为PCB行业未来3年的核心驱动力以及PCB行业增长的最大新引擎。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" background-color: rgb(183, 221, 232) font-family: & quot times new roman& quot " strong 可靠性试验保障PCB板品质 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " 随着5G时代的到来，PCB企业为重塑核心竞争力，提出了“以质取胜”的发展口号。而可靠性试验是“以质取胜”基础实现途径之一，发挥着至关重要的作用，直接影响着中国5G通信技术的发展。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " PCB在装机之前要经过一系列检查和测试，经过可靠性检测筛选的PCB可保证长期可靠地工作。若PCB安装之前未经过可靠性筛选，设备整机的故障率将大幅度提高，并要付出极大的代价去维修，造成企业高额的经济损失。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" background-color: rgb(183, 221, 232) font-family: & quot times new roman& quot " strong 试验箱助力通信“可靠”发展 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " 国内外大量统计资料表明，产品失效的基本原因，大部分是由环境因素引起的。由此可见，环境对产品有着较大的影响，环境试验对PCB品质保障也非常的必要。可靠性试验可通过人工模拟的方法实现环境参数对产品的试验考核，从而暴露和发现产品在设计、器件选用以及工艺等方面的缺陷和隐患，通过改进设计，以提高产品质量和环境适应性能力。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " PCB在使用过程中因不同的使用环境，会受到不同环境的应力。为了确认产品能在这些环境下正常工作，国家标准、行业标准都要求产品在模拟环境下进行一些测试项目，这些测试项目包括：高温测试、低温测试、高低温交变测试、高温高湿测试、机械振动测试、运输测试、机械冲击测试、开关电测试、电源拉偏测试、冷启动测试、盐雾测试、雨淋测试、尘砂测试、雷击测试等。其中需用试验箱进行的测试项目有： /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " （1）高温测试（ a href=" https://www.instrument.com.cn/zc/629.html" target=" _self" style=" color: rgb(49, 133, 155) text-decoration: underline " 高温老化试验箱 /a ） /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " （2）低温测试（ a href=" https://www.instrument.com.cn/zc/631.html" target=" _self" style=" color: rgb(49, 133, 155) text-decoration: underline " 低温试验箱 /a ） /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " （3）高低温交变测试（ a href=" https://www.instrument.com.cn/zc/617.html" target=" _self" style=" color: rgb(49, 133, 155) text-decoration: underline " 高低温试验箱 /a ） /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " （4）高温高湿测试（ a href=" https://www.instrument.com.cn/netshow/C109935.htm" target=" _self" style=" color: rgb(49, 133, 155) text-decoration: underline " 温湿度试验箱 /a ） /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " （5）盐雾测试（ a href=" https://www.instrument.com.cn/zc/616.html" target=" _self" style=" color: rgb(49, 133, 155) text-decoration: underline " 盐雾试验箱 /a ） /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " （6）雨淋测试（ a href=" https://www.instrument.com.cn/zc/625.html" target=" _self" style=" color: rgb(49, 133, 155) text-decoration: underline " 淋雨试验箱 /a ） /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " （7）尘沙测试（ a href=" https://www.instrument.com.cn/zc/623.html" target=" _self" style=" color: rgb(49, 133, 155) text-decoration: underline " 砂尘试验箱 /a ） /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: " times=" " new=" " font-size:=" " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 280px height: 280px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201908/uepic/5a69538f-158c-4af0-834e-839543521c90.jpg" title=" 3.jpg" alt=" 3.jpg" width=" 280" height=" 280" border=" 0" vspace=" 0" / /span br/ /p p span style=" font-family: " times=" " new=" " font-size:=" " /span /p p style=" text-align: right " span style=" font-family: & quot times new roman& quot font-size: 14px " 图片来源：仪器信息网 /span /p p style=" text-align: right " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" background-color: rgb(183, 221, 232) font-family: & quot times new roman& quot " strong 小结 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: & quot times new roman& quot " 当前，第五代移动通信技术（5G）正在阔步前行，相关电子器件质量也要紧跟而上，试验箱作为环境可靠性检测不可缺少的试验设备，可助力PCB产业“以质取胜”，推进通信行业“可靠”发展。 /span /p p style=" text-align: right " span style=" font-family: " times=" " new=" " font-size:=" " br/ /span br/ /p p span style=" font-family: " times=" " new=" " font-size:=" " /span br/ /p p span style=" font-family: " times=" " new=" " font-size:=" " /span br/ /p p br/ /p

电子、电器、汽车、船舶、飞机、核电等产品在运行中需经历自然环境和诱发环境对产品各种性能日积月累的影响，产品可能处于的不同类型的环境中，主要包括噪声、冲击波、细菌、机械冲击、振动、风、压力、雨、雪、冰雹、温度和湿度变化等。为了保证产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输和储存等环境下保持功能的可靠性，这就需要利用试验设备对产品进行验证。将产品暴露在自然或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和和储存等环境下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。环境与可靠性试验产品的环境试验与可靠性试验是相互联系又彼此独立的两类试验。环境试验是考核产品在极值环境条件下正常工作的能力，即环境适应性的试验；可靠性试验是按可靠性要求设计和进行的、有可靠性目标并在典型环境条件下的试验，是验证产品在规定条件下和规定时间内能否实现预定功能而进行的试验。环境试验是可靠性试验的基础和前提，为可靠性试验提供信息和依据；而环境试验与可靠性试验所采用的试验设备和试验方法，包括试验的夹具设计原则等都可以相互借鉴。环境试验是产品的基本试验，主要应用于产品的研制阶段；而产品可靠性试验则贯穿产品从研制到生产、出厂的整个生产周期。按照试验目的的不同，将可靠性试验的名称及应用阶段划分如下：试验名称应用阶段试验目的环境应力试验研制阶段和生产阶段工 艺过程和产品出厂前发现和剔除早期故障，提高产品使用可靠性或排除早期故障对其他试验的干扰可靠性研制试验工程研制阶段早期发现产品设计缺陷，提高产品固有可靠性水平可靠性增长试验工程研制阶段中后期发现产品设计缺陷，将产品可靠性增长到规定的目标值可靠性鉴定试验和寿命试验工程研制阶段结束前，定 型阶段评估产品的可靠性水平和寿命，为设计定型提供决策依据可靠性验收试验和寿命试验批量产品出厂以前评估产品的可靠性和寿命是否保持设计定型水平，为验收提供决策依据环境与可靠性试验服务行业环境与可靠性试验最初源于军用电子、航天系统等，是为提高军用电子设备及航天器等的高可靠性要求而发展起来的综合性测试手段；随着现代工业发展和市场竞争的日趋激烈，民用领域对产品性能和质量安全的要求不断提高，使得产品环境与可靠性试验对于提高产品性能稳定性、质量及安全性，以及提升品牌竞争能力的重要程度不断提升，因此环境与可靠性试验目前广泛应用于汽车、电子电器、轨道交通、建筑桥梁等领域。目前国外在环境与可靠性试验方面，除大量使用电动振动试验系统外，已广泛使用三轴同振振动试验系统（电动台或液压台）、三轴六自由度多台激励系统（电动台或液压台）、单轴多台并激系统（电动台或液压台）。在欧美发达国家的军事工业产品及高技术产品研发过程中，试验技术、试验方法是其绝密资料之一。资料显示，自上世纪九十年代初，美国在航天飞机的研发过程中便已应用了多轴多激励的振动试验技术。目前国外在航空航天和汽车制造等行业，还广泛运用振动带扭转、离心机带振动台复合运动试验设备；在研究建筑、桥梁、特殊行业设备抗震方面使用大型液压振动台（大位移、大负载、三轴六自由度系统）等。我国相关领域的实验室目前已可以从事环境与可靠性领域的主要试验检测项目，但在试验方法及试验技术的研究上，与国外相比仍存在一定差距。比如，为避免装备在结构最低共振频率上过试验或欠试验，国外通行的试验方法需在振动台、夹具、试件中间安装动态力传感器以将振动台的运动由力传感器反馈控制，以再现外场实测的界面力，而目前国内振动试验中较少采用此试验方法。我国环境与可靠性试验服务行业对于试验方法及试验技术的持续研究和改进，对于提升我国工业产品的环境适应性与性能可靠性水平至关重要。行业与上下游的关系环境与可靠性试验服务行业与上下游的关系如下图所示：环境与可靠性试验服务行业的上游行业主要为试验设备供应商以及试验耗材供应商，下游行业较为广泛，主要分为三类：国家基础设施领域的航空航天、轨道交通、桥梁建筑等行业；汽车、电子、电器、船舶等工业行业；高校及科研院所。上游试验设备供应商的生产制造水平对于本行业试验技术水平具有重大影响。公司环境与可靠性试验业务是基于公司自身实力雄厚的试验设备制造业务而向应用服务的延伸，因此与同行业实验室相比具有显著的竞争优势。市场容量近年来，随着我国国民经济的持续增长、社会整体研发投入的不断增加以及市场对产品质量及可靠性的要求不断提高，我国环境与可靠性试验市场容量持续快速增长。而与此同时，受限于资金、技术、人才等因素，我国环境与可靠性专业实验室的服务规模和能力无法充分满足日益增长的试验市场需求。数据来源：智研咨询随着电子电器、轨道交通、航空航天等行业的快速发展，我国环境可靠性试验服务市场容量近年来保持着较快增速，在2018年达到约239亿元。2013 -2018年近五年复合增速约15%。环境与可靠性试验广泛应用于产品开发周期的各个环节以及国民经济各支柱性产业，其需求分布情况如下图：总体来说，环境与可靠性试验服务的需求与国家和企业的整体研发经费投入水平高度相关。根据国家统计局数据显示，2019年，全国研发经费支出总金额为22,143.60亿元，占当年国内生产总值的2.18%，我国全社会研发经费投入的显著增加促进了我国环境与可靠性试验设备及服务需求的高速增长。同时，下游行业的蓬勃发展将持续拉动环境与可靠性试验设备及服务需求的增长。航空航天行业的快速发展，使其成为我国环境试验设备及服务需求的主要市场之一。 近年来，随着北斗导航工程、大飞机项目、载人航天工程、空间站工程、探月工程、 火星探测等陆续实施和不断推进，我国航空航天产业进入了跨越式发展阶段，并持续带动航空航天领域的研发投入和产品环境与可靠性试验设备及服务需求的 增长。电子信息方面，近年来我国电子信息产品产值保持快速增长，产业结构持续优化，制造工艺不断升级，成为世界电子产品制造业第一大国。伴随着科学技术的进步和市场需求的发展，电子产品日益向多功能、小型化、高可靠性方向发展，功能的复杂化使设备应用的元器件、零部件越来越多，每个元器件的失效都可能使设备或系统发生故障，因此对可靠性要求也越来越高。在电子产品的设计、研发、生产过程中，环境与可靠性试验扮演着越 来越重要的角色。汽车方面，无论是新车型的开发，还是现有产品性能可靠性的提升，都需要对汽车上几乎每个零部件进行环境试验，以确保整车及零部件在不同的力学环境、气候环境和综合环境条件下，能够正常运行并提供安全保障。随着我国汽车产品及生产制造技术的更新换代、汽车企业向产业链上游核心部件研发和生产领域延伸，以及新能源汽车等相关产业的迅速发展，我国汽车企业的研发投入将保持高速增长，这将为环境与可靠性试验服务提供广阔的市场。交通轨道方面，现阶段，我国已成为全球轨道交通建设投资金额最大的国家，由于轨道交通设备安全性与可靠性要求高，因此针对相关机电设备进行的可靠性测试也必不可少。例如，为了提高轨道交通的安全性，在每次车辆和轨道的开发过程中，都需要进行碰撞试验来验证。轨道交通投资的持续增长以及我国轨道交通装备技术水平的逐年提高都将给环境与可靠性试验服务行业提供持续性的扩张动能。船舶工业方面，我国船舶领域的主要环境试验标准包括GJB4《舰船电子设备环境试验》、 GJB4058-2000《舰船设备噪声、振动测量方法》等。过去几年，我国船舶工业发展迅速，产业规模不断扩大，未来，我国船舶工业的发展重点是推动技术进步和创新，进一步大力发展高技术船舶、高附加值船舶、智能船舶等重点工程领域我国船舶工业的持续发展 和产业升级将继续推动环境与可靠性试验设备及服务需求的增长。行业竞争情况环境与可靠性试验广泛应用于航空航天、轨道交通、电子电器、汽车等行业， 且试验的技术水平及准确性对产品性能的安全性及可靠性影响重大，因此，随着近年来下游行业的飞速发展，我国建立起了多层次的环境与可靠性试验专业实验室：试验场所含义代表实验室第一方实验室组织内实验室，检 测和校准自己生产的产品我国汽车、电子、航天等行业或系统内的大型领先企业自建的用于产品研发或质量检测等目的的环境与可靠性实验室第二方实验室组织内实验室，检 测和校准供方生产的产品我国航天、汽车等行业或系统内的大型集团企业自建的环境与可靠性实验室，主要为特定领域的国家重点工程配套设备或向集团内企业自行采购的供应商产品提供环境与可靠性试验检测服务第三方实验室独立于供求双方， 为社会提供检测和校准服务的专业实验室专业为社会提供环境与可靠性试验服务的市场化实验室，这些实验室以独立公正的试验数据、长期积累的市场声誉作为基础，面向社会公众提供从产品研制到产品生产各环节的环境与可靠性试验服务由于三类实验室的服务目标及对象有所不同，以及随着我国环境与可靠性试验需求近年来的高速增长，现有的各类实验室之间未存在特别明显的竞争。其中，第三方实验室具有立场独立、服务领域广泛的特点，其市场化程度较高，市场份额的集中度较低，试验业务的获取以及试验收费的结算主要按照一般市场化原则进行。环境与可靠性试验服务部分企业名称简介广州广电计量检测股份有限公司广州广电计量检测股份有限公司始建于1964年，在深交所中小板上市，股票代码为002967，是原信息产业部电子602计量站，经过50余年的发展，现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构，专注于为客户提供计量、 检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务，在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于国内领先水平。中国赛宝实验室中国赛宝实验室（工业和信息化部电子第五研究所），又名中国电子产品可靠性与环境试验研究所，始建于1955年，是中国最早从事可靠性研究的权威机构。中国赛宝实验室可提供从材料到整机设备、从硬件到软件直至复杂大系统的认证计量、试验检测、分析评价等技术服务。通标标准技术服务有限公司（SGS）通标标准技术服务有限公司是SGS集团和隶属于国家市场监督管理总局系统的中国标准科技集团共同于1991年成立，SGS是国际公认的检验、鉴定、测试和认证机构，在世界各地共有97,000多名员工，分布在2,600多个分支机构和实验室，构成了全球性的服务网络。在中国，SGS已在全国建成了78个分支机构和150多间实验室，拥有15,000多名训练有素的专业人员。深圳信测标准技术服务股份有限公司深圳信测标准技术服务股份有限公司成立于2000年，总部位于深圳，在深 交所创业板上市，股票代码为300938。服务产品类别包括汽车、电子电气产品、日用消费品和工业品等领域，向客户提供检测、认证、标准研发等技术服务和解决方案。苏州苏试试验集团股份有限公司苏州苏试试验集团股份有限公司，前身是苏州试验仪器总厂，创建于1956年，2008年引入战略投资者，组建苏州苏试试验仪器有限公司，2011年整体变更为苏州苏试试验仪器股份有限公司。2015年，在深圳证券交易所创业板上市（证券代码:300416），成为业内首家上市公司。2017年8月25日，正式成立苏州苏试试验集团，同时苏州苏试试验仪器股份有限公司更名为苏州苏试试验集团股份有限公司。公司主要产品有力学环境试验设备、气候环境试验设备等。进入行业的主要壁垒技术壁垒。在环境与可靠性试验服务领域，技术壁垒不仅体现在先进和全面的试验设备，更重要在于对试验技术、方法和经验的掌握以及试验人才的储备。试验技术的壁垒首先体现为对试验规范、标准的深入研究和了解：要通过试验检测出产品真实的环境适应性和使用可靠性，既需要掌握通用的规范及标准，又需要深入了解涉 及到具体行业和产品所经受到的气候环境和诱发环境（如振动和冲击）的相关标准。此外，在对相关试验和检测标准理解的基础上，如何将规范、标准中规定的试验条件准确施加到被试验的样品上并避免对贵重样品造成损坏，以及对相关的试验结果作出准确的工程判断从而识别出产品瑕疵，对于实验室的整体技术实力和市场竞争力至关重要，而这些技术能力的获取需要长期的技术研发积累和强大的技术研发团队作为支撑。人才壁垒。环境与可靠性试验是新兴的交叉学科，试验服务方案的设计及试验操作需要技术人员对环境与可靠性试验技术深入而广泛的了解，如车辆振动学、航空航天器动力学等，环境与可靠性试验服务行业发展所需的大量技术人才目前尚无高校对口专业进行直接培养，更多依赖于相关行业技术人员进入本行业后的长期实践及在岗培训。充足的人才储备是新竞争者进入本行业所面临的主要壁垒之一。资质壁垒。根据国家质量监督检验检疫总局颁发的《实验室和检查机构资质认定管理办法》，国家鼓励实验室、检查机构取得经国家认监委确定的认可机构的认可，以保证其检测、校准和检查能力符合相关国际基本准则和通用要求，促进检测、校准和检查结果的国际互认。由于环境与可靠性试验数据被广泛应用于国民经济各领域及科研机构，对于国家特殊行业等重大工程项目及电子、汽车、仪器仪表、家用电器等行业产品质量及可靠性具有重大影响，因此在实践中，试验客户普遍要求从事环境与可靠性试验的第三方实验室具有经国家认可委员会颁发的实验室认可资质，并在经认可的能力范围内提供试验服务。这些资质的获取，均需要实验室满足严格的条件和程序，而获取这些资质后，实验室还需要通过定期和不定期的跟踪监督、复评审及验收。以实验室认可（CNAS）为例，实验室需满足国家认可委规定的通用认可规则、实验室基本认可准则、实验室专用认可规则、实验室认可应用准则及实验室认可指南等各项实验室认可规范，已建立完善的且正式运营超过6个月的质量管理体系并通过评审组的技术能力和质量管理活动现场评审后，才能获得认可证书。因此，业务资质是阻碍新竞争者进入本行业的重要壁垒。

在2012年，东莞市勤卓环境测试设备有限公司为提升恒温恒湿试验箱，冷热冲击试验箱，高低温试验箱，恒温箱等设备的制造技术，先后来到上海交大、复旦大学两所高校寻求技术合作，获得了两所高校的认可和肯定。双方就环境试验设备的制冷技术、温控系统调节等方面，达成了合作意向。 在长达一年多的时间里面，东莞勤卓科技先后派遣三批技术人员赴学校学习深造，并要求学校权威导师来授课解惑。术业有专攻，经过一年多的学习合作，勤卓环测科技制造的恒温恒湿试验箱，冷热冲击试验箱,高低温试验箱，恒温箱等设备，技术飞速猛进，多项技术指标进过第三方的检测，均一次性获得通过。 技术的提升，最好的检验方式是获得市场的认可，进过2013年，东莞勤卓品牌冷热冲击试验箱作为市场主推产品，以精湛的技术，先后中标三重、中科大等大型企事业单位，在4月份，更是获得了光电，五金，数码，化工，通讯等各大行业的认可，仅4月份，签约销售冷热冲击试验箱102台，突破了行业月售冷热冲击试验箱百台大关，勤卓冷热冲击试验箱逐步成为行业领军品牌。

功率器件可靠性研究和失效分析的基本介绍邓二平（合肥工业大学 电气与自动化工程学院 230009）摘要：功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外最为关注的，也是特性参数测试无法评估的，失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。可靠性测试项目的规范性、严谨性和可追溯性，对于功率器件可靠性评估和失效分析至关重要，也是保障分析结果全面性、准确性和有效性的基础。本文结合团队多年的可靠性和失效分析研究的相关经验，对研究步骤等进行了基本介绍，旨在为行业的发展提供可能的参考。1、引言功率器件近年来在国内得到了大力发展，尤其是第三代半导体器件SiC MOSFET与新能源汽车应用的结合，迎来了功率器件国产化的重大发展机遇，包括芯片、封装、测试和设备等。而可靠性研究和失效分析则是器件封装后评估器件长期稳定运行的基础，对器件封装改进、可靠性评估等具有重要意义。本文结合团队多年的可靠性研究经验，主要介绍了进行功率器件可靠性研究和失效分析的一些基本步骤、原理和需要注意的事项等，具体测试电路请参考相应的测试标准（如IEC、MIL、JESD和AGQ等测试标准）。功率器件主要包括：Si IGBT/diode, Si MOSFET/diode, SiC MOSFET/diode, GaN器件，目前市场上比较成熟的产品还是以硅基为代表的IGBT器件，电压等级最高可到6500V，电流目前最大到3600A。随着使用开关频率的提升、能耗要求和基础材料的发展，SiC基的功率器件己逐渐成熟，典型的代表是SiC MOSFET，新能源汽车的800V平台正大量使用1200V的SiC MOSFET。进一步地，GaN工艺的不断成熟以及在射频领域的发展经验，目前600V左右的高频开关领域GaN器件非常有优势，尤其是车载充电机(OBC)。不同类型的功率器件具有不同的特性，因此在测试方法和细节上要有所区分，如SiC器件由于栅极的不稳定性以及GaN动态的快速性需要重点关注。2、测试项目分类功率器件的测试一般分为基本特性测试来表征器件性能优良、极限能力测试来评估器件的鲁棒性、可靠性测试来评估器件长期运行稳定性以及失效分析助力器件改进和优化升级，具体如下。2.1 基本特性测试主要包括：静态特性测试（以IGBT为例一般指饱和压降Vces，阈值电压Vgeth，集-射极漏电流Ices，栅-射极漏电流Iges，稳态热阻Rth等静态参数）和动态特性测试（一般指双脉冲测试，包括开通延时时间td(on)，下降时间tf等动态参数），其中动态特性测试还可包括安全工作区SOA的测试，有RBSOA和SCSOA。静态特性主要表征模块的一些基本性能参数，是表征模块优良的重要指标，如饱和压降Vces表征器件的导通能力，Vces越小，模块工作过程中的导通损耗越小，相同条件下温升越小。器件加速老化可靠性实验前必须进行模块的基本特性测试，尤其是静态特性测试，一方面确保被测器件功能的完整性，另一方面可用于老化后的对比分析，助力器件失效模式的分析。但一般在可靠性老化测试中不进行器件的动态特性测试，即使是进行栅极老化的高温栅偏实验，一方面是动态特性测试时间很短，封装的老化并不会影响器件的动态特性，另一方面器件的部分动态特性可通过Iges和Vgeth表征，甚至可进行栅极电容的测试来表征。2.2极限能力测试主要包括：短路能力测试、浪涌能力测试和极限关断能力测试，考核的是器件在极端工况下的能力，尤其是关断能力。如短路能力测试主要考核器件在短路(一般有3类短路情况)条件下器件的极限关断能力，一般为10µs能关断电流的数值，主要考核芯片的能力。浪涌能力则是考核反并联二极管抗浪涌能力，一般是10ms正弦半波的冲击，尤其是SiC MOSFET的体二极管非常重要，可能还会影响栅极的可靠性，由于时间较长，主要考核封装的水平。极限关断能力则是考核器件饱和状态下在毫秒级的关断能力，如电网用的直流断路器需要在3ms关断6倍的额定电流。从物理和传热学理论来看，短路测试虽然会有大量的能量产生，最终也是由于能量超过芯片极限而损坏，但由于测试时间非常短，反复的短路测试不会引起封装的老化，而浪涌能力和极限能力测试则将进一步影响封装的老化，是加速老化测试未来应该重点关注的测试。进一步地，极限能力是特种电源等极端应用时需要重要关注的测试。2.3可靠性测试主要包括：功率循环、温度循环、温度冲击、机械冲击、机械振动、高温栅偏、高温反偏、高温高湿反偏和高低温存储等，额外的还包括盐雾等测试。按照应力的来源区分其实可分为电应力加速老化和环境应力加速老化，从器件研发到量产以及应用过程中，需要经过大于10项可靠性测试，机械冲击、机械振动、温度存储等主要考核的是器件在运输或者存储过程中的可靠性，而最重要的测试主要有高温栅偏、高温反偏、高温高湿反偏、温度循环和功率循环。这些实验也是工业界和学术界研究最多，最复杂的测试，尤其是功率循环测试。通过上述加速老化实验，提前暴露器件在芯片设计、封装工艺、样品制备、运输存储、实际应用过程中可能存在的问题，一方面可为器件厂商提供改进建议，优化器件的性能并提高器件可靠性，另一方面可为器件的应用方提供技术指导以及实际产品设计和可靠性验证提供数据支撑。2.4失效分析主要包括：SAM超声波扫描分析、X-ray材料损伤检测分析、SEM电子显微镜分析、光学显微镜分析和有限元仿真分析。SAM超声波扫描分析主要是通过超声波对器件内部各层材料进行探伤，尤其是材料的界面处，当存在一个空洞时，返回的超声波能量和相序发生了变化，即可进行定位。X-ray则更多是用于材料本体探伤研究，多用于材料级的失效分析，SEM电子显微镜和光学显微镜也是一样，但光学显微镜需要打开模块才能对相应的位置进行深入探究。有限元仿真分析是一个除实验外最好的检测、分析和研究手段，通过实验测量数据的对比和修正，完全重现实验过程中器件内部的细节和薄弱点，也是失效分析最难和最为重要的环节。3、可靠性研究步骤可靠性研究的基本步骤如下图1所示，一般需要在可靠性测试前进行一些基本特性测试确保器件的性能以及方便与老化后的进行对比分析，然后进行加速老化等可靠性测试，再进行基本特性测试和失效分析，探究器件的失效模式和失效机理。为了进一步深入探究器件内部各层材料在可靠性测试过程中的应力分布情况，可采用SAM超声波扫描以及有限元分析方法配合进行相应的失效分析。上述可靠性测试中高温栅偏100%与芯片有关、高温反偏约80%情况与芯片有关，也有因为封装老化导致的退化、高温高湿反偏测试也是类似的情况，其他所有可靠性测试均与封装有关，尤其是热特性和机械特性有关。图1所示的基本步骤也只是通用的研究过程，对于具体的问题还需要进行特定的对待和分析。比如大部分情况在可靠性研究中是不会进行极限能力测试的，但如果要研究器件老化对极限能力的影响，则需要进一步考虑，包括多应力的耦合测试。图1 功率器件可靠性测试基本流程这里以Si基IGBT器件的功率循环为例简单介绍一下可靠性加速老化的基本流程和各项参数测试的必要性，如下图2所示。以Infineon公司1200V, 25A Easypack封装的IGBT器件为例进行功率循环的老化测试、寿命评估和失效机理研究等。第I步：确定研究对象，也就是FS25R12W1T4，此封装内有6个开关组成的三相全桥，如下图3所示。上桥臂的IGBT开关共用一个上铜层，下桥臂的IGBT开关均是独立的，这里以U相的下桥臂开关S2为例，减小热耦合影响。S2的上铜层面积与芯片面积相当，热扩散角小，导致散热条件相对较弱，热量会更集中于芯片焊料层。第II步：器件基本特性测试，包括常温下饱和压降Vces (@VGE=15V，Ic=25A，Tvj=25ºC)，阈值电压Vgeth (@VGE= VCE，Ic=0.8mA，Tvj=25ºC)，集-射极漏电流 Ices (@ VGE=0V，VCE=1200V， Tvj=25ºC)，栅-射极漏电流 Iges (@VCE=0V，VGE=20V，Tvj=25ºC)，具体条件来源于器件的数据表datasheet。需要说明的是，这里只测试了器件常温下的基本特性，一方面是用于判断器件的性能与好坏，另一方面用于老化后进行对比，常温下的数据即可满足要求。若测试过程中发现某个器件的某个参数超过datasheet里的规定值，则说明此器件是不良品，需要更换新的器件进行测试。进一步地，还可通过此数据来评估各器件间的一致性。第III步：SAM超声波扫描，通过专有设备如SAM301进行器件封装内部各层材料连接状态的检测和参照，将模块倒置于装有去离子水的设备中，超声波从器件的基板开始向下探测，可得到器件各层材料的二维平面图，如下图4所示。此模块没有系统焊接层，因此只展示了器件最薄弱的，也是可靠性测试最为关注和重要的芯片焊料层和芯片表面键合线连接状态，对于新器件而言，各层的连接状态良好。做完SAM后还有一个非常重要的一步，尤其是对于硅胶封装的模块，将模块拿出后必须倒置放置24小时以上，以充分晾干模块内的水分 。进一步地，还需要通过加热板或者恒温箱将器件放置在85ºC环境中至少半小时以上，更加充分的挥发模块内的残余水分以不影响模块的性能。对于TO封装的器件来说，尤其有环氧树脂的充分保护以及环氧树脂吸水性差等特点，加上放置时间很短以及没有高温作用等，可不进行此步骤，但做电学特性实验前必须保证器件表面己无明显水分。在进行热阻等测试前，还需要进行连线，最好通过焊锡连接，以确保连接的可靠性。图2 Si基IGBT器件功率循环测试基本流程 (a) 内部结构 (b) 等效电路图3 FS25R12W1T4模块的内部结构(a) 芯片焊料层 (b) 芯片表面键合线图4 FS25R12W1T4模块SAM超声波扫描结果第IV步：温度关系校准，对于功率器件而言，器件的结温是评估模块电学特性和热学特性最重要的参数，结温不仅可反映模块的散热能力，还可影响器件的电学特性，甚至是可靠性。现在方法中，只有电学参数法测量结温适用并广泛应用于器件可靠性测试中，如热阻测试、功率循环、高温反偏等测试。一般来说，对于低压器件，测量电流选择合适的话，温度校准曲线将呈现完美的线性关系，如下图5所示。可以看到4个器件的曲线均呈现很好地线性关系，虽然在截距上存在一定的差异，但斜率几乎一样，说明芯片的一致性好，此微小差异一般来源于热电源的位置或者加热源的差异，但这种小差异可忽略。图5 FS25R12W1T4的温度校准曲线@IM=100mA第V步：瞬态热阻抗Zth测试，在进行功率循环测试之前，一般为了获得模块内部芯片PN结到散热器甚至环境的热路径情况，以及用于与老化后的状态进行对比，以定位模块失效位置，需要进行瞬态热阻抗Zth测试。通过两次不同散热条件下Zth的测试，也称为瞬态双界面法，可直接获得模块结到壳的热阻值Rthjc，以评估模块的整体性能。将被测器件按功率循环测试的要求安装到测试设备的水冷散热器上，放置好热电偶以以测量相应位置的温度，如壳表面，散热器或环境温度。瞬态热阻抗测试其实相当于一次功率循环，通过给被测器件通过相应的测试电流以加热器件至热平衡状态，降温过程测量器件的结温变化。这里需要注意的是，测试电流越大，测量电路的信噪比越大，测试结果越好，但要保证器件的最大结温不能超过器件允许的最大结温。此器件测量得到的Zthjs如下图6所示，测试条件为升温时间ton=5s, 降温/测量时间toff=40s, 测试电流IL=25A, 水冷温度Tinlet=58ºC, 测量延时tMD=200µs。图6 FS25R12W1T4的瞬态热阻抗曲线，#40器件在功率循环前的结果第VI步：功率循环加速老化测试，做完Zth测试和所有准备工作后，即可进行功率循环的测试，本实验室的测试设备有3条测试支路，每条支路可串联4个器件，共计12个通道，实验过程可以用2条支路或者3条支路。本次测试的器件为4个，每条支路串联2个被测器件，先通过调节测试电流，使得所有器件的结温差在目标温度范围左右，然后再通过控制各个器件的栅极电压来达到精细化和逐点调节。进一步地，通过控制外部水冷的入口温度调整所有器件的最大结温在目标温度范围左右，然后再通过安装条件的修正来达到各个器件的精细化和逐点调节。最终得到的测试条件为升温时间ton=2s, 降温时间toff=2s, 测试电流IL=29.7A, 水冷温度Tinlet=58ºC, 最大结温Tjmax≈150ºC，结温差ΔTj≈90K，测量延时tMD=200µs。功率循环条件设置完成后，只需要在程序中设定相应的保护即可实现完全无人值守运行，保护变量一般应该包括电压Vce保护，电流IL保护，热阻Rth保护，结温Tj保护，水温Tc保护，电源输出保护等。设置完成后的程序运行界面如下图7所示，可看到4个器件的测试条件相应比较接近。值得注意的是，上述测试过程中设置了测量延时，这是由于在半导体器件电流关断时，载流子复合需要时间，尤其是双极性器件。在这个延时时间里，芯片的结温其实是持续下降的，这就导致我们在延时时间tMD后测量的结温并不是器件真正的最大结温，而存在一定的误差，需要通过一些方法进行修正，如根号t方法，具体这方面的内容需要参考相关论文。而此结温的误差将会导致器件的寿命数据存在一定的差异，需要通过现有的模型进行相应的修正。进一步地，我们也看到不可能使得所有器件的数据完全一致，达到我们的想要的测试条件，最终在进行寿命对比时，需将所有器件的条件均归一到同样的条件以保对比的公平性和数据的正确性，如下图8所示。图7 功率循环运行界面示意图图8 功率循环寿命数据第VII步：瞬态热阻抗Zth测试，当模块老化到一定程度或者达到失效判定条件后，需要停止功率循环测试，对其进行瞬态热阻抗测试，进一步准确定位老化位置。测试条件与功率循环前一致，下图8列举了#40器件在不同功率循环次数条件下的测试结果，可以看到，随着老化程度的增加，器件的热阻增加。进一步地，可以看到在模块功率循环前没有经过老化(No.68)时，整个曲线均较小，当老化到一定程度后(No.76888)，热阻增加不是非常明显，可以理解为裂纹的形成过程。当功率循环加速老化持续进行(No.91522)，这个过程为焊料裂纹生长过程，热阻增加非常明显。图9 #40器件功率循环前后Zthjs结果对比第VIII步：SAM超声波扫描，将功率循环测试后的器件，利用原有的参数设置进行SAM超声波扫描，通过对比可得到器件芯片焊料层和键合线的老化状态，利于器件的失效模式和失效机理研究。下图10展示的是#40功率循环老化后IGBT芯片焊料层和芯片表面键合线的连接状态，可以看到芯片焊料层出现了白点，有严重老化的迹象，这也与图9的结果相吻合。而键合线的状态由于焊料的老化，改变了超声波的路径，使得键合线的状态很难识别，从实验结果来看并没有发生严重的老化。(a) 芯片焊料层 (b) 芯片表面键合线图10 #40器件功率循环老化后的SAM结果值得说明的是，图中的S3和S6也出现了老化是因为之前做过不同ton的实验，但也可以看到S2和S6的老化程度和现象比较一致，更集中于中心区域，而S3则比较均匀，这是由于S3具有更大的散热面积，使得S3焊料的温度分布更均匀。这里想给大家展示的是如何通过SAM图来获得相应的老化信息，要有全局观念，要知道整个实验的计划、过程、细节和数据等，才能给出更为准确的结论。第IX步：器件特性参数测试，完成器件的SAM测试后，仍然要将器件放置干燥处理后才能进行相应的电气特性测试，采用相同的实验条件对上述参数进行测量。一般情况下，上述参数在功率循环老化后不会发生变化，SiC MOSFET由于栅极可靠性问题可能会存在一定程度的阈值电压偏移。同时，Si IGBT一般也会存在轻微的阈值电压偏移，而且是负偏移，但一般在5%以内，这也侧面说明利用阈值电压作为温敏参数可能存在的误差。一般器件的温敏关系约为-2mV/ºC，假定器件的初始阈值电压为5V，则电压偏移25mV，最终导致约12 ºC的误差。第X步：有限元仿真分析，没有仿真解释和验证的实验数据是不可信的，因为实验数据很大程度依据于测试人员、经验、测试方法、测试条件等各方面因素；而没有实验验证的仿真分析也是不可信的，能否解释实际现象很关键。因此，有限元仿真分析其实与实验是相辅相成的，仿真的第一步必然是建立仿真模型，并修正和验证仿真模型的有效性。对于功率循环来说，考核的主要是器件封装在往复周期性温度变化过程中的热应力，因此，模块的热流路径至关重要，可通过瞬态热阻抗来修正模型。下图11为仿真和实验获得的模块S2瞬态热阻抗曲线，仿真与实验结果有非常高的吻合度，最后的些许差异来源于不同的安装条件，从两个实验结果也可看到。图11 S2的瞬态热阻抗曲线对比实验验证后的有限元仿真模型就具备与真实器件相同的热流路径了，可以用来进行功率循环仿真分析。这里值得一提的是，对于功率循环的功率循环仿真分析，必须使用电-热耦合仿真，一方面是纯热仿真没有芯片的电热耦合作用，另一方面是纯热仿真没有键合线的自发热现象，这会导致仿真结果的偏差。这里以S2和S3的有限元仿真来进行说明，下图12为功率循环仿真的结温变化曲线，芯片的结温提取的是芯片表面平均温度，这是与VCE(T)方法获得的值最接近的表征。仿真所用的条件均来源于实验测量结果，仿真过程与实验测试过程一样，通过调整芯片的电导率来获得不同的功率最终达到相同的结温差，调整环境温度来达到相应最大结温。(a) S2在不同ton条件下仿真的结温曲线 (b) S3在不同Tjmax条件下仿真的结温曲线图12 仿真得到的结温曲线获得与实验相同的结温后就可以进行器件内部更为细致和全面的分析，下图13为S2和S3在相同的功率循环条件下芯片表面的温度分布，由于铜散热面积的差异，导致温度分布有所差异，最终导致失效位置发生了变化，如图10所示。因此，通过电气参数的测试可以知道器件的整体变化情况，但无法定位到具体位置，而通过SAM超声波扫描则可获得基本位置信息，但无法准确分析其原因以及产生的机理。最终通过有限元仿真可以得到器件内部更为细节的信息，实现对器件的失效机理研究和封装结构优化。但最为根本的是要把握器件的所有信息，结果能进行相互验证，缺一不可。(a) S2, ton=2s, ΔTj=89.5K和Tjmax=147.7˚C (b) S3, ton=2s, ΔTj=90.9K和Tjmax=152.1˚C图13 芯片表面温度分布4、总结上述以功率循环为例详细描述了需要进行的哪些实验、步骤和原理，严格按照上上述实验步骤再加上一些经验基本上就具备了全面分析功率器件老化失效的能力。但要达到更高水平，尤其是能在做实验过程中主动解决所有遇到的问题，还需要更为细致和深入的学习，其中最最最为核心的就是要把握每个测试的基本原理。只有把握了这些参数、测试的基本测试原理，逻辑思路和功率器件的基本物理过程，才能更深刻的理解一些问题，并解决实际中遇到的问题。主要参考文献[1] MIL-STD-883G, United State420_20220614.jpg" style="margin: 0px padding: 0px border: 0px max-width: 100% color: rgb(51, 51, 51) font-family: " hiragino="" sans="" microsoft="" helvetica="" text-align:="" text-indent:="" white-space:="" background-color:="" max-height:=""/

1. 研究背景及意义碳化硅(SiC)是一种宽带隙(WBG)的半导体材料，目前已经显示出有能力满足前述领域中不断发展的电力电子的更高性能要求。在过去，硅(Si)一直是最广泛使用的功率开关器件的半导体材料。然而，随着硅基功率器件已经接近其物理极限，进一步提高其性能正成为一个巨大的挑战。我们很难将它的阻断电压和工作温度分别限制在6.5kV和175℃，而且相对于碳化硅器件它的开关速度相对较慢。另一方面，由SiC制成的器件在过去几十年中已经从不成熟的实验室原型发展成为可行的商业产品，并且由于其高击穿电压、高工作电场、高工作温度、高开关频率和低损耗等优势被认为是Si基功率器件的替代品。除了这些性能上的改进，基于SiC器件的电力电子器件有望通过最大限度地减少冷却要求和无源元件要求来实现系统的体积缩小，有助于降低整个系统成本。SiC的这些优点与未来能源转换应用中的电力电子器件的要求和方向非常一致。尽管与硅基器件相比SiC器件的成本较高，但SiC器件能够带来的潜在系统优势足以抵消增加的器件成本。目前SiC器件和模块制造商的市场调查显示SiC器件的优势在最近的商业产品中很明显，例如SiC MOSFETs的导通电阻比Si IGBT的导通电阻小四倍，并且在每三年内呈现出-30%的下降趋势。与硅同类产品相比，SiC器件的开关能量小10-20倍，最大开关频率估计高20倍。由于这些优点，预计到2022年，SiC功率器件的总市场将增长到10亿美元，复合年增长率(CAGR)为28%，预计最大的创收应用是在混合动力和电动汽车、光伏逆变器和工业电机驱动中。然而，从器件的角度来看，挑战和问题仍然存在。随着SiC芯片有效面积的减少，短路耐久时间也趋于减少。这表明在稳定性、可靠性和芯片尺寸之间存在着冲突。而且SiC器件的现场可靠性并没有在各种应用领域得到证明，这些问题直接导致SiC器件在电力电子市场中的应用大打折扣。另一方面，生产高质量、低缺陷和较大的SiC晶圆是SiC器件制造的技术障碍。这种制造上的困难使得SiC MOSFET的每年平均销售价格比Si同类产品高4-5倍。尽管SiC材料的缺陷已经在很大程度上被克服，但制造工艺还需要改进，以使SiC器件的成本更加合理。最近几年大多数SiC器件制造大厂已经开始使用6英寸晶圆进行生产。硅代工公司X-fab已经升级了其制造资源去适应6英寸SiC晶圆，从而为诸如Monolith这类无晶圆厂的公司提供服务。这些积极的操作将导致SiC器件的整体成本降低。图1.1 SiC器件及其封装的发展图1.1展示了SiC功率器件及其封装的发展里程碑。第一个推向市场的SiC器件是英飞凌公司在2001年生产的肖特基二极管。此后，其他公司如Cree和Rohm继续发布各种额定值的SiC二极管。2008年，SemiSouth公司生产了第一个SiC结点栅场效应晶体管（JFET），在那个时间段左右，各公司开始将SiC肖特基二极管裸模集成到基于Si IGBT的功率模块中，生产混合SiC功率模块。从2010年到2011年，Rohm和Cree推出了第一个具有1200V额定值的分立封装的SiC MOSFET。随着SiC功率晶体管的商业化，Vincotech和Microsemi等公司在2011年开始使用SiC JFET和SiC二极管生产全SiC模块。2013年，Cree推出了使用SiC MOSFET和SiC二极管的全SiC模块。此后，其他器件供应商，包括三菱、赛米控、富士和英飞凌，自己也发布了全SiC模块。在大多数情况下，SiC器件最初是作为分立元件推出的，而将这些器件实现为模块封装是在最初发布的几年后开发的。这是因为到目前为止分立封装的制造过程比功率模块封装要简单得多。另一个原因也有可能是因为发布的模块已经通过了广泛的标准JEDEC可靠性测试资格认证，这代表器件可以通过2000万次循环而不发生故障，因此具有严格的功率循环功能。而且分离元件在设计系统时具有灵活性，成本较低，而模块的优势在于性能较高，一旦有了产品就容易集成。虽然SiC半导体技术一直在快速向前发展，但功率模块的封装技术似乎是在依赖过去的惯例，这是一个成熟的标准。然而，它并没有达到充分挖掘新器件的潜力的速度。SiC器件的封装大多是基于陶瓷基底上的线接合方法，这是形成多芯片模块（MCM）互连的标准方法，因为它易于使用且成本相对较低。然而，这种标准的封装方法由于其封装本身的局限性，已经被指出是向更高性能系统发展的技术障碍。首先，封装的电寄生效应太高，以至于在SiC器件的快速开关过程中会产生不必要的损失和噪音。第二，封装的热阻太高，而热容量太低，这限制了封装在稳态和瞬态的散热性能。第三，构成封装的材料和元件通常与高温操作（200℃）不兼容，在升高的操作温度下，热机械可靠性恶化。最后，对于即将到来的高压SiC器件，承受高电场的能力是不够的。这些挑战的细节将在第二节进一步阐述。总之，不是器件本身，而是功率模块的封装是主要的限制因素之一，它阻碍了封装充分发挥SiC元件的优势。因此，应尽最大努力了解未来SiC封装所需的特征，并相应地开发新型封装技术去解决其局限性。随着社会的发展，环保问题与能源问题愈发严重，为了提高电能的转化效率，人们对于用于电力变换和电力控制的功率器件需求强烈[1, 2]。碳化硅（SiC）材料作为第三代半导体材料，具有禁带宽度大，击穿场强高、电子饱和速度大、热导率高等优点[3]。与传统的Si器件相比，SiC器件的开关能耗要低十多倍[4]，开关频率最高提高20倍[5, 6]。SiC功率器件可以有效实现电力电子系统的高效率、小型化和轻量化。但是由于SiC器件工作频率高，而且结电容较小，栅极电荷低，这就导致器件开关时，电压和电流变化很大，寄生电感就极易产生电压过冲和振荡现象，造成器件电压应力、损耗的增加和电磁干扰问题[7, 8]。还要考虑极端条件下的可靠性问题。为了解决这些问题，除了器件本身加以改进，在封装工艺上也需要满足不同工况的特性要求。起先，电力电子中的SiC器件是作为分立器件生产的，这意味着封装也是分立的。然而SiC器件中电压或电流的限制，通常工作在低功耗水平。当需求功率达到100 kW或更高时，设备往往无法满足功率容量要求[9]。因此，需要在设备中连接和封装多个SiC芯片以解决这些问题，并称为功率模块封装[10, 11]。到目前为止，功率半导体的封装工艺中，铝（Al）引线键合封装方案一直是最优的封装结构[12]。传统封装方案的功率模块采用陶瓷覆铜板，陶瓷覆铜板（Direct Bonding Copper，DBC）是一种具有两层铜的陶瓷基板，其中一层图案化以形成电路[13]。功率半导体器件底部一般直接使用焊料连接到DBC上，顶部则使用铝引线键合。底板（Baseplate）的主要功能是为DBC提供支撑以及提供传导散热的功能，并与外部散热器连接。传统封装提供电气互连（通过Al引线与DBC上部的Cu电路键合）、电绝缘（使用DBC陶瓷基板）、器件保护（通过封装材料）和热管理（通过底部）。这种典型的封装结构用于目前制造的绝大多数电源模块[14]。传统的封装方法已经通过了严格的功率循环测试（2000万次无故障循环），并通过了JEDEC标准认证[15]。传统的封装工艺可以使用现有的设备进行，不需要额外开发投资设备。传统的功率模块封装由七个基本元素组成，即功率半导体芯片、绝缘基板、底板、粘合材料、功率互连、封装剂和塑料外壳，如图1.2所示。模块中的这些元素由不同的材料组成，从绝缘体、导体、半导体到有机物和无机物。由于这些不同的材料牢固地结合在一起，为每个元素选择适当的材料以形成一个坚固的封装是至关重要的。在本节中，将讨论七个基本元素中每个元素的作用和流行的选择以及它们的组装过程。图1.2标准功率模块结构的横截面功率半导体是功率模块中的重要元素，通过执行电气开/关开关将功率从源头转换到负载。标准功率模块中最常用的器件类型是MOSFETs、IGBTs、二极管和晶闸管。绝缘衬底在半导体元件和终端之间提供电气传导，与其他金属部件（如底板和散热器）进行电气隔离，并对元件产生的热量进行散热。直接键合铜（DBC）基材在传统的电源模块中被用作绝缘基材，因为它们具有优良的性能，不仅能满足电气和热的要求，而且还具有机械可靠性。在各种候选材料中，夹在两层铜之间的陶瓷层的流行材料是Al2O3，AlN，Si2N4和BeO。接合材料的主要功能是通过连接每个部件，在半导体、导体导线、端子、基材和电源模块的底板之间提供机械、热和电的联系。由于其与电子组装环境的兼容性，SnPb和SnAgCu作为焊料合金是最常用的芯片和基片连接材料。在选择用于功率模块的焊料合金时，需要注意的重要特征是：与使用温度有关的熔化温度，与功率芯片的金属化、绝缘衬底和底板的兼容性，高机械强度，低弹性模量，高抗蠕变性和高抗疲劳性，高导热性，匹配的热膨胀系数（CTE），成本和环境影响。底板的主要作用是为绝缘基板提供机械支持。它还从绝缘基板上吸收热量并将其传递给冷却系统。高导热性和低CTE（与绝缘基板相匹配）是对底板的重要特性要求。广泛使用的底板材料是Cu，AlSiC，CuMoCu和CuW。导线键合的主要作用是在模块的功率半导体、导体线路和输入/输出终端之间进行电气连接。器件的顶面连接最常用的材料是铝线。对于额定功率较高的功率模块，重铝线键合或带状键合用于连接功率器件的顶面和陶瓷基板的金属化，这样可以降低电阻和增强热能力。封装剂的主要目的是保护半导体设备和电线组装的组件免受恶劣环境条件的影响，如潮湿、化学品和气体。此外，封装剂不仅在电线和元件之间提供电绝缘，以抵御电压水平的提高，而且还可以作为一种热传播媒介。在电源模块中作为封装剂使用的材料有硅凝胶、硅胶、聚腊烯、丙烯酸、聚氨酯和环氧树脂。塑料外壳（包括盖子）可以保护模块免受机械冲击和环境影响。因为即使电源芯片和电线被嵌入到封装材料中，它们仍然可能因处理不当而被打破或损坏。同时外壳还能机械地支撑端子，并在端子之间提供隔离距离。热固性烯烃（DAP）、热固性环氧树脂和含有玻璃填料的热塑性聚酯（PBT）是塑料外壳的最佳选择。传统电源模块的制造过程开始于使用回流炉在准备好的DBC基片上焊接电源芯片。然后，许多这些附有模具的DBC基板也使用回流焊工艺焊接到一个底板上。在同一块底板上，用胶水或螺丝钉把装有端子的塑料外壳连接起来。然后，正如前面所讨论的那样，通过使用铝线进行电线连接，实现电源芯片的顶部、DBC的金属化和端子之间的连接。最后，用分配器将封装材料沉积在元件的顶部，并在高温下固化。前面所描述的结构、材料和一系列工艺被认为是功率模块封装技术的标准，在目前的实践中仍被广泛使用。尽管对新型封装方法的需求一直在持续，但技术变革或采用是渐进的。这种对新技术的缓慢接受可以用以下原因来解释。首先，人们对与新技术的制造有关的可靠性和可重复性与新制造工艺的结合表示担忧，这需要时间来解决。因此，考虑到及时的市场供应，模块制造商选择继续使用成熟的、广为人知的传统功率模块封装技术。第二个原因是传统电源模块的成本效益。由于传统电源模块的制造基础设施与其他电子器件封装环境兼容，因此不需要与开发新材料和设备有关的额外成本，这就大大降低了工艺成本。尽管有这些理由坚持使用标准的封装方法，但随着半导体趋势从硅基器件向碳化硅基器件的转变，它正显示出局限性并面临着根本性的挑战。使用SiC器件的最重要的优势之一是能够在高开关频率下工作。在功率转换器中推动更高的频率背后的主要机制是最大限度地减少整个系统的尺寸，并通过更高的开关频率带来的显著的无源尺寸减少来提高功率密度。然而，由于与高开关频率相关的损耗，大功率电子设备中基于硅的器件的开关频率通常被限制在几千赫兹。图1.3中给出的一个例子显示，随着频率的增加，使用Si-IGBT的功率转换器的效率下降，在20kHz时已经下降到73%。另一方面，在相同的频率下，SiC MOSFET的效率保持高达92%。从这个例子中可以看出，硅基器件在高频运行中显示出局限性，而SiC元件能够在更高频率下运行时处理高能量水平。尽管SiC器件在开关性能上优于Si器件对应产品，但如果要充分利用其快速开关的优势，还需要考虑到一些特殊的因素。快速开关的瞬态效应会导致器件和封装内部的电磁寄生效应，这正成为SiC功率模块作为高性能开关应用的最大障碍。图1.3 Si和SiC转换器在全额定功率和不同开关频率下的效率图1.4给出了一个半桥功率模块的电路原理图，该模块由高低两侧的开关和二极管对组成，如图1.4所示，其中有一组最关键的寄生电感，即主开关回路杂散电感(Lswitch)、栅极回路电感(Lgate)和公共源电感(Lsource)。主开关回路杂散电感同时存在于外部电源电路和内部封装互连中，而外部杂散电感对开关性能的影响可以通过去耦电容来消除。主开关回路杂散电感(Lswitch)是由直流+总线、续流二极管、MOSFET(或IGBT)和直流总线终端之间的等效串联电感构成的。它负责电压过冲，在关断期间由于电流下降而对器件造成严重的压力，负反馈干扰充电和向栅极源放电的电流而造成较慢的di/dt的开关损失，杂散电感和半导体器件的输出电容的共振而造成开关波形的振荡增加，从而导致EMI发射增加。栅极环路电感(Lgate)由栅极电流路径形成，即从驱动板到器件的栅极接触垫，以及器件的源极到驱动板的连接。它通过造成栅极-源极电压积累的延迟而降低了可实现的最大开关频率。它还与器件的栅极-源极电容发生共振，导致栅极信号的震荡。结果就是当我们并联多个功率芯片模块时，如果每个栅极环路的寄生电感不相同或者对称，那么在开关瞬间将产生电流失衡。共源电感(Lsource)来自主开关回路和栅极回路电感之间的耦合。当打开和关闭功率器件时，di/dt和这个电感上的电压在栅极电路中作为额外的（通常是相反的）电压源，导致di/dt的斜率下降，扭曲了栅极信号，并限制了开关速度。此外，共源电感可能会导致错误的触发事件，这可能会通过在错误的时间打开器件而损坏器件。这些寄生电感的影响在快速开关SiC器件中变得更加严重。在SiC器件的开关瞬态过程中会产生非常高的漏极电流斜率di/dt，而前面讨论的寄生电感的电压尖峰和下降也明显大于Si器件的。寄生电感的这些不良影响导致了开关能量损失的增加和可达到的最大开关频率的降低。开关瞬态的问题不仅来自于电流斜率di/dt，也来自于电压斜率dv/dt。这个dv/dt导致位移电流通过封装的寄生电容，也就是芯片和冷却系统之间的电容。图1.5显示了半桥模块和散热器之间存在的寄生电容的简化图。这种不需要的电流会导致对变频器供电的电机的可靠性产生不利影响。例如，汽车应用中由放电加工(EDM)引起的电机轴承缺陷会产生很大的噪声电流。在传统的硅基器件中，由于dv/dt较低，约为3 kV/µs，因此流经寄生电容的电流通常忽略不记。然而，SiC器件的dv/dt比Si器件的dv/dt高一个数量级，最高可达50 kV/µs，使通过封装电容的电流不再可以忽略。对Si和SiC器件产生的电磁干扰(EMI)的比较研究表明，由于SiC器件的快速开关速度，传导和辐射的EMI随着SiC器件的使用而增加。除了通过封装进入冷却系统的电流外，电容寄也会减缓电压瞬变，在开关期间产生过电流尖峰，并通过与寄生电感形成谐振电路而增加EMI发射，这是我们不希望看到的。未来的功率模块封装应考虑到SiC封装中的寄生和高频瞬变所带来的所有复杂问题和挑战。解决这些问题的主要封装级需要做到以下几点。第一，主开关回路的电感需要通过新的互连技术来最小化，以取代冗长的线束，并通过优化布局设计，使功率器件接近。第二，由于制造上的不兼容性和安全问题，栅极驱动电路通常被组装在与功率模块分开的基板上。应通过将栅极驱动电路与功率模块尽可能地接近使栅极环路电感最小化。另外，在平行芯片的情况下，布局应该是对称的，以避免电流不平衡。第三，需要通过将栅极环路电流与主开关环路电流分开来避免共源电感带来的问题。这可以通过提供一个额外的引脚来实现，例如开尔文源连接。第四，应通过减少输出端和接地散热器的电容耦合来减轻寄生电容中流动的电流，比如避免交流电位的金属痕迹的几何重叠。图1.4半桥模块的电路原理图。三个主要的寄生电感表示为Lswitch、Lgate和Lsource。图1.5半桥模块的电路原理图。封装和散热器之间有寄生电容。尽管目前的功率器件具有优良的功率转换效率，但在运行的功率模块中，这些器件产生的热量是不可避免的。功率器件的开关和传导损失在器件周围以及从芯片到冷却剂的整个热路径上产生高度集中的热通量密度。这种热通量导致功率器件的性能下降，以及器件和封装的热诱导可靠性问题。在这个从Si基器件向SiC基器件过渡的时期，功率模块封装面临着前所未有的散热挑战。图1.6根据额定电压和热阻计算出所需的总芯片面积在相同的电压和电流等级下，SiC器件的尺寸可以比Si器件小得多，这为更紧凑的功率模块设计提供了机会。根据芯片的热阻表达式，芯片尺寸的缩小，例如芯片边缘的长度，会导致热阻的二次方增加。这意味着SiC功率器件的模块化封装需要特别注意散热和冷却。图1.6展示了计算出所需的总芯片面积减少，这与芯片到冷却剂的热阻减少有关。换句话说，随着芯片面积的减少，SiC器件所需的热阻需要提高。然而，即使结合最先进的冷却策略，如直接冷却的冷板与针状翅片结构，假设应用一个70kVA的逆变器，基于DBC和线束的标准功率模块封装的单位面积热阻值通常在0.3至0.4 Kcm2/W之间。为了满足研究中预测的未来功率模块的性能和成本目标，该值需要低于0.2 Kcm2/W，这只能通过创新方法实现，比如双面冷却法。同时，小的芯片面积也使其难以放置足够数量的线束，这不仅限制了电流处理能力，也限制了热电容。以前对标准功率模块封装的热改进大多集中在稳态热阻上，这可能不能很好地代表开关功率模块的瞬态热行为。由于预计SiC器件具有快速功率脉冲的极其集中的热通量密度，因此不仅需要降低热阻，还需要改善热容量，以尽量减少这些快速脉冲导致的峰值温度上升。在未来的功率模块封装中，应解决因采用SiC器件而产生的热挑战。以下是未来SiC封装在散热方面应考虑的一些要求。第一，为了降低热阻，需要减少或消除热路中的一些封装层；第二，散热也需要从芯片的顶部完成以使模块的热阻达到极低水平，这可能需要改变互连方法，比如采用更大面积的接头；第三，封装层接口处的先进材料将有助于降低封装的热阻。例如，用于芯片连接和热扩散器的材料可以分别用更高的导热性接头和碳基复合材料代替。第四，喷射撞击、喷雾和微通道等先进的冷却方法可以用来提高散热能力。SiC器件有可能被用于预期温度范围极广的航空航天应用中。例如用于月球或火星任务的电子器件需要分别在-180℃至125℃和-120℃至85℃的广泛环境温度循环中生存。由于这些空间探索中的大多数电子器件都是基于类似地球的环境进行封装的，因此它们被保存在暖箱中，以保持它们在极低温度下的运行。由于SiC器件正在评估这些条件，因此需要开发与这些恶劣环境兼容的封装技术，而无需使用暖箱。与低温有关的最大挑战之一是热循环引起的大的CTE失配对芯片连接界面造成的巨大压力。另外，在室温下具有柔性和顺应性的材料，如硅凝胶，在-180℃时可能变得僵硬，在封装内产生巨大的应力水平。因此，SiC封装在航空应用中的未来方向首先是开发和评估与芯片的CTE密切匹配的基材，以尽量减少应力。其次，另一个方向应该是开发在极低温度下保持可塑性的芯片连接材料。在最近的研究活动中，在-180℃-125℃的极端温度范围内，对分别作为基材和芯片附件的SiN和Indium焊料的性能进行了评估和表征。为进一步推动我国能源战略的实施，提高我国在新能源领域技术、装备的国际竞争力，实现高可靠性碳化硅 MOSFET 器件中试生产技术研究，研制出满足移动储能变流器应用的多芯片并联大功率MOSFET 器件。本研究将通过寄生参数提取、建模、仿真及测试方式研究 DBC 布局、多栅极电阻等方式对芯片寄生电感与均流特性的影响，进一步提高我国碳化硅器件封装及测试能力。2. SiC MOSFET功率模块设计技术2.1 模块设计技术介绍在MOSFET模块设计中引入软件仿真环节，利用三维电磁仿真软件、三维温度场仿真软件、三维应力场仿真软件、寄生参数提取软件和变流系统仿真软件，对MOSFET模块设计中关注的电磁场分布、热分布、应力分布、均流特性、开关特性、引线寄生参数对模块电特性影响等问题进行仿真，减小研发周期、降低设计研发成本，保证设计的产品具备优良性能。在仿真基础上，结合项目团队多年从事电力电子器件设计所积累的经验，解决高压大功率MOSFET模块设计中存在的多片MOSFET芯片和FRD芯片的匹配与均流、DBC版图的设计与芯片排布设计、电极结构设计、MOSFET模块结构设计等一系列难题，最终完成模块产品的设计。高压大功率MOSFET模块设计流程如下：图2.1高压大功率MOSFET模块设计流程在MOSFET模块设计中，需要综合考虑很多问题，例如：散热问题、均流问题、场耦合问题、MOSFET模块结构优化设计问题等等。MOSFET芯片体积小，热流密度可以达到100W/cm2~250W/cm2。同时，基于硅基的MOSFET芯片最高工作温度为175℃左右。据统计，由于高温导致的失效占电力电子芯片所有失效类型的50%以上。随电力电子器件设备集成度和环境集成度的逐渐增加，MOSFET模块的最高温升限值急剧下降。因此，MOSFET模块的三维温度场仿真技术是高效率高功率密度MOSFET模块设计开发的首要问题。模块散热能力与众多因素有关：MOSFET模块所用材料的物理和化学性质、MOSFET芯片的布局、贴片的质量、焊接的工艺水平等。如果贴片质量差，有效散热面积小，芯片与DBC之间的热阻大，在模块运行时易造成模块局部过热而损坏。另外，芯片的排布对热分布影响也很大。下图4.2是采用有限元软件对模块内部的温度场进行分析的结果：图2.2 MOSFET模块散热分布分析在完成结构设计和材料选取后，采用ANSYS软件的热分析模块ICEPAK，建立包括铜基板、DBC、MOSFET芯片、二极管芯片以及包括铝质键合引线在内的相对完整的数值模拟模型。模拟实际工作条件，施加相应的载荷，得到MOSFET的温度场分布，根据温度场分布再对MOSFET内部结构和材料进行调整，直至达到设计要求范围内的最优。2.2 材料数据库对一个完整的焊接式MOSFET模块而言，从上往下为一个 8层结构：绝缘盖板、密封胶、键合、半导体芯片层、焊接层 1、DBC、焊接层 2、金属底板。MOSFET模块所涉及的主要材料可分为以下几种类型：导体、绝缘体、半导体、有机物和无机物。MOSFET模块的电、热、机械等性能与材料本身的电导率、热导率、热膨胀系数、介电常数、机械强度等密切相关。材料的选型非常重要，为此有必要建立起常用的材料库。2.3 芯片的仿真模型库所涉及的MOSFET芯片有多种规格，包括：1700V 75A/100A/125A；2500V/50A；3300V/50A/62.5A；600V/100A；1200V/100A；4500V/42A；6500V/32A。为便于合理地进行芯片选型（确定芯片规格及其数量），精确分析多芯片并联时的均流性能，首先为上述芯片建立等效电路模型。在此基础上，针对实际电力电子系统中的滤波器、电缆和电机负载模型，搭建一个系统及的仿真平台，从而对整个系统的电气性能进行分析预估。2.4 MOSFET模块的热管理MOSFET模块是一个含不同材料的密集封装的多层结构，其热流密度达到100W/cm2--250W/cm2，模块能长期安全可靠运行的首要因素是良好的散热能力。散热能力与众多因素有关：MOSFET模块所用材料的物理和化学性质、MOSFET芯片的布局、贴片的质量、焊接的工艺水平等。如果贴片质量差，有效散热面积小，芯片与DBC之间的热阻大，在模块运行时易造成模块局部过热而损坏。芯片可靠散热的另一重要因素是键合的长度和位置。假设散热底板的温度分布均匀，而每个MOSFET芯片对底板的热阻有差异，导致在相同工况时，每个MOSFET芯片的结温不同。下图是采用有限元软件对模块内部的温度场进行分析的结果。图2.3MOSFET模块热分布在模块完成封装后，采用FLOTHERM软件的热分析模块，建立包括铜基板、DBC、MOSFET芯片、二极管芯片以及包括铝质键合引线在内的相对完整的数值模拟模型。模拟实际工作条件，施加相应的载荷，得到MOSFET的温度场分布的数值解，为MOSFET温度场分布的测试提供一定的依据。2.5. 芯片布局与杂散参数提取根据MOSFET模块不同的电压和电流等级，MOSFET模块所使用芯片的规格不同，芯片之间的连接方式也不同。因此，详细的布局设计放在项目实施阶段去完成。对中低压MOSFET模块和高压MOSFET模块，布局阶段考虑的因素会有所不同，具体体现在DBC与散热底板之间的绝缘、DBC上铜线迹之间的绝缘以及键合之间的绝缘等。2.6 芯片互联的杂散参数提取MOSFET芯片并联应用时的电流分配不均衡主要有两种：静态电流不均衡和动态电流不均衡。静态电流不均衡主要由器件的饱和压降VCE（sat）不一致所引起；而动态电流不均衡则是由于器件的开关时间不同步引起的。此外，栅极驱动、电路的布局以及并联模块的温度等因素也会影响开关时刻的动态均流。回路寄生电感特别是射极引线电感的不同将会使器件开关时刻不同步；驱动电路输出阻抗的不一致将引起充放电时间不同；驱动电路的回路引线电感可能引起寄生振荡；以及温度不平衡会影响到并联器件动态均流。2.7 模块设计专家知识库通过不同规格MOSFET模块的设计－生产－测试－改进设计等一系列过程，可以获得丰富的设计经验，并对其进行归纳总结，提出任意一种电压电流等级的MOSFET模块的设计思路，形成具有自主知识产权的高压大功率MOSFET模块的系统化设计知识库。3. SiCMOSFET封装工艺3.1 封装常见工艺MOSFET模块封装工艺主要包括焊接工艺、键合工艺、外壳安装工艺、灌封工艺及测试等。3.1.1 焊接工艺焊接工艺在特定的环境下，使用焊料，通过加热和加压，使芯片与DBC基板、DBC基板与底板、DBC基板与电极达到结合的方法。目前国际上采用的是真空焊接技术，保证了芯片焊接的低空洞率。焊接要求焊接面沾润好，空洞率小，焊层均匀，焊接牢固。通常情况下．影响焊接质量的最主要因素是焊接“空洞”，产生焊接空洞的原因，一是焊接过程中，铅锡焊膏中助焊剂因升温蒸发或铅锡焊片熔化过程中包裹的气泡所造成的焊接空洞，真空环境可使空洞内部和焊接面外部形成高压差，压差能够克服焊料粘度，释放空洞。二是焊接面的不良加湿所造成的焊接空洞，一般情况下是由于被焊接面有轻微的氧化造成的，这包括了由于材料保管的不当造成的部件氧化和焊接过程中高温造成的氧化，即使真空技术也不能完全消除其影响。在焊接过程中适量的加人氨气或富含氢气的助焊气体可有效地去除氧化层，使被焊接面有良好的浸润性．加湿良好。“真空+气体保护”焊接工艺就是基于上述原理研究出来的，经过多年的研究改进，已成为高功率，大电流，多芯片的功率模块封装的最佳焊接工艺。虽然干式焊接工艺的焊接质量较高，但其对工艺条件的要求也较高，例如工艺设备条件，工艺环境的洁净程度，工艺气体的纯度．芯片，DBC基片等焊接表面的应无沾污和氧化情况．焊接过程中的压力大小及均匀性等。要根据实际需要和现场条件来选择合适的焊接工艺。3.1.2 键合工艺引线键合是当前最重要的微电子封装技术之一，目前90％以上的芯片均采用这种技术进行封装。超声键合原理是在超声能控制下，将芯片金属镀层和焊线表面的原子激活，同时产生塑性变形，芯片的金属镀层与焊线表面达到原子间的引力范围而形成焊接点，使得焊线与芯片金属镀层表面紧密接触。按照原理的不同，引线键合可以分为热压键合、超声键合和热压超声键合3种方式。根据键合点形状，又可分为球形键合和楔形键合。在功率器件及模块中，最常见的功率互连方法是引线键合法，大功率MOSFET模块采用了超声引线键合法对MOSFET芯片及FRD芯片进行互连。由于需要承载大电流，故采用楔形劈刀将粗铝线键合到芯片表面或DBC铜层表面，这种方法也称超声楔键合。外壳安装工艺：功率模块的封装外壳是根据其所用的不同材料和品种结构形式来研发的，常用散热性好的金属封装外壳、塑料封装外壳，按最终产品的电性能、热性能、应用场合、成本，设计选定其总体布局、封装形式、结构尺寸、材料及生产工艺。功率模块内部结构设计、布局与布线、热设计、分布电感量的控制、装配模具、可靠性试验工程、质量保证体系等的彼此和谐发展，促进封装技术更好地满足功率半导体器件的模块化和系统集成化的需求。外壳安装是通过特定的工艺过程完成外壳、顶盖与底板结构的固定连接，形成密闭空间。作用是提供模块机械支撑，保护模块内部组件，防止灌封材料外溢，保证绝缘能力。外壳、顶盖要求机械强度和绝缘强度高，耐高温，不易变形，防潮湿、防腐蚀等。3.1.3 灌封工艺灌封工艺用特定的灌封材料填充模块，将模块内组件与外部环境进行隔离保护。其作用是避免模块内部组件直接暴露于环境中，提高组件间的绝缘，提升抗冲击、振动能力。灌封材料要求化学特性稳定，无腐蚀，具有绝缘和散热能力，膨胀系数和收缩率小，粘度低，流动性好，灌封时容易达到模块内的各个缝隙，可将模块内部元件严密地封装起来，固化后能吸收震动和抗冲击。3.1.4 模块测试MOSFET模块测试包括过程测试及产品测试。其中过程测试通过平面度测试仪、推拉力测试仪、硬度测试仪、X射线测试仪、超声波扫描测试仪等，对产品的入厂和过程质量进行控制。产品测试通过平面度测试仪、动静态测试仪、绝缘/局部放电测试仪、高温阻断试验、栅极偏置试验、高低温循环试验、湿热试验，栅极电荷试验等进行例行和型式试验，确保模块的高可靠性。3.2 封装要求本项目的SiC MOSFET功率模块封装材料要求如下：（1）焊料选用需要可靠性要求和热阻要求。（2）外壳采用PBT材料，端子裸露部分表面镀镍或镀金。（3）内引线采用超声压接或铝丝键合（具体视装配图设计而定），功率芯片采用铝线键合。（4）灌封料满足可靠性要求，Tg150℃，能满足高低温存贮和温度循环等试验要求。（5）底板采用铜材料。（6）陶瓷覆铜板采用Si3N4材质。（7）镀层要求：需保证温度循环、盐雾、高压蒸煮等试验后满足外观要求。3.3 封装流程本模块采用既有模块进行封装，不对DBC结构进行调整。模块封装工艺流程如下图3.1所示。图3.1模块封装工艺流程（1）芯片CP测试：对芯片进行ICES、BVCES、IGES、VGETH等静态参数进行测试，将失效的芯片筛选出来，避免因芯片原因造成的封装浪费。（2）划片&划片清洗：将整片晶圆按芯片大小分割成单一的芯片，划片后可从晶圆上将芯片取下进行封装；划片后对金属颗粒进行清洗，保证芯片表面无污染，便于后续工艺操作。（3）丝网印刷：将焊接用的焊锡膏按照设计的图形涂敷在DBC基板上，使用丝网印刷机完成，通过工装钢网控制锡膏涂敷的图形。锡膏图形设计要充分考虑焊层厚度、焊接面积、焊接效果，经过验证后最终确定合适的图形。（4）芯片焊接：该步骤主要是完成芯片与 DBC 基板的焊接，采用相应的焊接工装，实现芯片、焊料和 DBC 基板的装配。使用真空焊接炉，采用真空焊接工艺，严格控制焊接炉的炉温、焊接气体环境、焊接时间、升降温速度等工艺技术参数，专用焊接工装完成焊接工艺，实现芯片、DBC 基板的无空洞焊接，要求芯片的焊接空洞率和焊接倾角在工艺标准内，芯片周围无焊球或堆焊，焊接质量稳定，一致性好。（5）助焊剂清洗：通过超声波清洗去除掉助焊剂。焊锡膏中一般加入助焊剂成分，在焊接过程中挥发并残留在焊层周围，因助焊剂表现为酸性，长期使用对焊层具有腐蚀性，影响焊接可靠性，因此需要将其清洗干净，保证产品焊接汉城自动气相清洗机采用全自动浸入式喷淋和汽相清洗相结合的方式进行子单元键合前清洗，去除芯片、DBC 表面的尘埃粒子、金属粒子、油渍、氧化物等有害杂质和污染物，保证子单元表面清洁。（6） X-RAY检测：芯片的焊接质量作为产品工艺控制的主要环节，直接影响着芯片的散热能力、功率损耗的大小以及键合的合格率。因此，使用 X-RAY 检测机对芯片焊接质量进行检查，通过调整产生 X 射线的电压值和电流值，对不同的焊接产品进行检查。要求 X 光检查后的芯片焊接空洞率工艺要求范围内。（7）芯片键合：通过键合铝线工艺，完成 DBC 和芯片的电气连接。使用铝线键合机完成芯片与 DBC 基板对应敷铜层之间的连接，从而实现芯片之间的并联和反并联。要求该工序结合芯片的厚度参数和表面金属层参数，通过调整键合压力，键合功率，键合时间等参数，并根据产品的绝缘要求和通流大小，设置合适的键合线弧高和间距，打线数量满足通流要求，保证子单元的键合质量。要求键合工艺参数设定合理、铝线键合质量牢固，键合弧度满足绝缘要求、键合点无脱落，满足键合铝线推拉力测试标准。（8）模块焊接：该工序实现子单元与电极、底板的二次焊接。首先进行子单元与电极、底板的焊接装配，使用真空焊接炉实现焊接，焊接过程中要求要求精确控制焊接设备的温度、真空度、气体浓度。焊接完成后要求子单元 DBC 基板和芯片无损伤、无焊料堆焊、电极焊脚之间无连焊虚焊、键合线无脱落或断裂等现象。（9）超声波检测：该工序通过超声波设备对模块 DBC 基板与底板之间的焊接质量进行检查，模块扫描后要求芯片、DBC 无损伤，焊接空洞率低于 5%。（10）外壳安装：使用涂胶设备进行模块外壳的涂胶，保证模块安装后的密封性，完成模块外壳的安装和紧固。安装后要求外壳安装方向正确，外壳与底板粘连处在灌封时不会出现硅凝胶渗漏现象。（11）端子键合&端子超声焊接：该工序通过键合铝线工艺，实现子单元与电极端子的电气连接，形成模块整体的电气拓扑结构；可以通过超声波焊接实现子单元与电极端子的连接，超声波焊接是利用高频振动波传递到两个需焊接的物体表面，在加压的情况下，使两个物体表面相互摩擦而形成分子层之间的熔合。超声波焊接具有高机械强度，较低的热应力、焊接质量高等优点，使得焊接具有更好的可靠性，在功率模块产品中应用越来越广泛。（12）硅凝胶灌封&固化：使用自动注胶机进行硅凝胶的灌封，实现模块的绝缘耐压能力。胶体填充到指定位置，完成硅凝胶的固化。要求胶体固化充分，胶体配比准确，胶体内不含气泡、无分层或断裂纹。4. 极端条件下的可靠性测试4.1 单脉冲雪崩能量试验目的：考察的是器件在使用过程中被关断时承受负载电感能量的能力。试验原理：器件在使用时经常连接的负载是感性的，或者电路中不可避免的也会存在寄生电感。当器件关断时，电路中电流会突然下降，变化的电流会在感性负载上产生一个应变电压，这部分电压会叠加电源电压一起加载在器件上，使器件在瞬间承受一个陡增的电压，这个过程伴随着电流的下降。图4.1 a）的雪崩能量测试电路就是测试这种工况的，被测器件上的电流电压变化情况如图4.1 b）。图4.1 a)雪崩能量测试电路图；b)雪崩能量被测器件的电流电压特性示意图这个过程中，电感上储存的能量瞬时全部转移到器件上，可知电流刚开始下降时，电感储存的能量为1/2*ID2*L，所以器件承受的雪崩能量也就是电感包含的所有能量，为1/2*ID2*L。试验目标：在正向电流ID = 20A下，器件单脉冲雪崩能量EAS1J试验步骤：将器件放入测试台，给器件施加导通电流为20A。设置测试台电感参数使其不断增加，直至器件的单脉冲雪崩能量超过1J。通过/失效标准：可靠性试验完成后，按照下表所列的顺序测试（有些测试会对后续测试有影响），符合下表要求的可认为通过。测试项目通过条件IGSS USLIDSS or IDSX USLVGS(off) or VGS(th)LSL USLVDS(on) USLrDS(on) USL (仅针对MOSFET)USL: upper specification limit, 最高上限值LSL: lower specification limit, 最低下限值4.2 抗短路能力试验目的：把样品暴露在空气干燥的恒温环境中，突然使器件通过大电流，观测元器件在大电流大电压下于给定时间长度内承受大电流的能力。试验原理：当器件工作于实际高压电路中时，电路会出现误导通现象，导致在短时间内有高于额定电流数倍的电流通过器件，器件承受这种大电流的能力称为器件的抗短路能力。为了保护整个系统不受误导通情况的损坏，系统中会设置保护电路，在出现短路情况时迅速切断电路。但是保护电路的反应需要一定的时长，需要器件能够在该段时间内不发生损坏，因此器件的抗短路能力对整个系统的可靠性尤为重要。器件的抗短路能力测试有三种方式，分别对应的是器件在不同的初始条件下因为电路突发短路（比如负载失效）而接受大电流大电压时的反应。抗短路测试方式一，也称为“硬短路”，是指IGBT从关断状态（栅压为负）直接开启进入到抗短路测试中；抗短路测试方式二，是指器件在已经导通有正常电流通过的状态下（此时栅压为正，漏源电压为正但较低），进入到抗短路测试中；抗短路测试方式三是指器件处于栅电压已经开启但漏源电压为负（与器件反并联的二极管处于续流状态，所以此时器件的漏源电压由于续流二极管的钳位在-0.7eV左右，，栅压为正），进入到抗短路测试中。可知，器件的抗短路测试都是对应于器件因为电路的突发短路而要承受电路中的大电流和大电压，只是因为器件的初始状态不同而会有不同的反应。抗短路测试方法一电路如图4.2，将器件直接加载在电源两端，器件初始状态为关断，此时器件承受耐压。当给器件栅电极施加一个脉冲，器件开启，从耐压状态直接开始承受一个大电流及大电压，考量器件的“硬”耐短路能力。图4.2 抗短路测试方法一的测试电路图抗短路测试方法二及三的测试电路图如图4.2，图中L_load为实际电路中的负载电感，L_par为电路寄生电感，L_sc为开关S1配套的寄生电感。当进行第二种抗短路方法测试时，将L_load下端连接到上母线（Vdc正极），这样就使L_sc支路与L_load支路并联。初态时，S1断开，DUT开通，电流从L_load和DUT器件上通过，开始测试时，S1闭合，L_load瞬时被短路，电流沿着L_sc和DUT路线中流动，此时电流通路中仅包含L_sc和L_par杂散电感，因此会有大电流会通过DUT，考察DUT在导通状态时承受大电流的能力。当进行第三种抗短路方法测试时，维持图4.2结构不变，先开通IGBT2并保持DUT关断，此时电流从Vdc+沿着IGBT2、L_load、Vdc-回路流通，接着关断IGBT2，那么D1会自动给L_load续流，在此状态下开启DUT栅压，DUT器件处于栅压开启，但漏源电压被截止状态，然后再闭合S1，大电流会通过L_sc支路涌向DUT。在此电路中IGBT2支路的存在主要是给D1提供续流的电流。图4.3 抗短路测试方法二和方法三的测试电路图1） 抗短路测试方法一：图4.2中Vdc及C1大电容提供持续稳定的大电压，给测试器件DUT栅极施加一定时间长度的脉冲，在被试器件被开启的时间内，器件开通期间处于短路状态，且承受了较高的耐压。器件在不损坏的情况下能够承受的最长开启时间定义为器件的短路时长（Tsc），Tsc越大，抗短路能力越强。在整个短路时长器件，器件所承受的能量，为器件的短路能量（Esc）。器件的抗短路测试考察了器件瞬时同时承受高压、高电流的能力，也是一种器件的复合应力测试方式。图4.2测试电路中的Vdc=600V，C1、C2、C3根据器件的抗短路性能能力决定，C1的要求是维持Vdc的稳定，C1的要求是测试过程中释放给被测器件的电能不能使C1两端的电压下降过大（5%之内可接受）。C2，C3主要用于给器件提供高频、中频电流，不要求储存能量过大。对C2、C3的要求是能够降低被测器件开通关断时造成的漏源电压振幅即可。图4.4 抗短路能力测试方法一的测试结果波形图4.4给出了某款SiC平面MOSFET在290K下，逐渐增大栅极脉冲宽度（PW）的抗短路能力测试结果。首先需要注意的是在测试过程中，每测量一个脉冲宽度的短路波形，需要间隔足够长的时间，以消除前一次短路测试带来的器件温度上升对后一次测试的器件初始温度的影响，保证每次测试初始温度的准确。从图中可以看出，Id峰值出现在1 μs和2 μs之间，随着开通时间的增加，Id呈现出先增加后减小的时间变化趋势。Id的上升阶段，是因为器件开启时有大电流经过器件，在高压的共同作用下，器件温度迅速上升，因为此时MOSFET的沟道电阻是一个负温度系数，所以MOSFET沟道电阻减小，Id则上升，在该过程中电流上升的速度由漏极电压、寄生电感以及栅漏电容的充电速度所决定；随着大电流的持续作用，器件整体温度进一步上升，器件此时的导通电阻变成正温度系数，器件的整体电阻将随温度增加逐渐增大，这时器件Id将逐渐减小。所以，整个抗短路能力测试期间，Id先增加后下降。此外，测试发现，当脉冲宽度增加到一定程度，Id在关断下降沿出现拖尾，即器件关断后漏极电流仍需要一定的时间才能恢复到0A。在研究中发现当Id拖尾到达约12A左右之后，进一步增大脉冲宽度，器件将损坏，并伴随器件封装爆裂。所以针对这款器件的抗短路测试，定义Tsc为器件关断时漏极电流下降沿拖尾到达10A时的脉冲时间长度。Tsc越长，代表器件的抗短路能力越强。测试发现，低温有助于器件抗短路能力的提升，原因是因为，低的初始温度意味着需要更多的时间才能使器件达到Id峰值。仿真发现，器件抗短路测试失效模式主要有两种：1、器件承受高压大电流的过程中，局部高温引起漏电流增加，触发了器件内部寄生BJT闩锁效应，栅极失去对沟道电流的控制能力，器件内部电流局部集中发生热失效，此时的表现主要是器件的Id电流突然上升，器件失效；2、器件温度缓慢上升时，导致器件内部材料性能恶化，比如栅极电极或者SiO2/Si界面处性能失效，主要表现为器件测试过程中Vgs陡降，此时，器件的Vds若未发生进一步损坏仍能承受耐压，只是器件Vgs耐压能力丧失。上述两种失效模式都是由于温度上升引起，所以要提升器件的抗短路能力就是要控制器件内部温度上升。仿真发现导通时最高温区域主要集中于高电流密度区域（沟道部分）及高电场区域（栅氧底部漂移区）。因此，要提升器件的抗短路能力，要着重从器件的沟道及栅氧下方漂移区的优化入手，降低电场峰值及电流密度，此外改善栅氧的质量将起到决定性的作用。2） 抗短路测试方法二：图4.5 抗短路能力测试方法二的测试结果波形如图4.5，抗短路测试方法二的测试过程中DUT器件会经历三个阶段：（1）漏源电压Vds低，Id电流上升：当负载被短路时，大电流涌向DUT器件，此时电路中仅包含L_sc和L_par杂散电感，DUT漏源电压较低，Vdc电压主要分布在杂散电感上，所以Id电流以di/dt=Vdc/（L_sc+L_par）的斜率开始上升。随着Id增加，因为DUT器件的漏源之间的寄生电容Cgd，会带动栅压上升，此时更加促进Id电流的增加，形成一个正循环，Id急剧上升。（2）Id上升变缓然后开始降低，漏源电压Vds上升：Id上升过程中，Vds漏源电压开始增加，导致Vdc分压到杂散电感上的电压降低，导致电流上升率di/dt减小，Id上升变缓，当越过Id峰值后，Id开始下降，-di/dt使杂散电感产生一个感应电压叠加在Vds上导致Vds出现一个峰值。Vds峰值在Id峰值之后。（3）Id、Vds下降并恢复：Id，Vds均下降恢复到抗短路测试一的高压高电流应力状态。综上所述，抗短路测试方法一的条件比方法一的更为严厉和苛刻。3） 抗短路测试方法三：图4.6 抗短路能力测试方法二的测试结果波形如图4.6，抗短路测试方法三的波形与方法二的波形几乎一致，仅仅是在Vds电压上升初期有一个小的电压峰（如图4.6中红圈），这是与器件发生抗短路时的初始状态相关的。因为方法三中器件初始状态出于栅压开启，Vds为反偏的状态，所以器件内部载流子是耗尽的。此时若器件Vds转为正向开通则必然发生一个载流子充入的过程，引发一个小小的电压峰，这个电压峰值是远小于后面的短路电压峰值的。除此以外，器件的后续状态与抗短路测试方法二的一致。一般来说，在电机驱动应用中，开关管的占空比一般比续流二极管高，所以是二极管续流结束后才会开启开关管的栅压，这种情况下，只需要考虑仅开关管开通时的抗短路模式，则第二种抗短路模式的可能性更大。然而，当一辆机车从山上开车下来，电动机被用作发电机，能量从车送到电网。续流二极管的占空比比开关管会更高一点，这种操作模式下，如果负载在二极管续流且开关管栅压开启时发生短路，则会进行抗短路测试模式三的情况。改进抗短路失效模式二及三的方法，是通过给开关器件增加一个栅极前钳位电路，在Id上升通过Cgd带动栅极电位上升时，钳位电路钳住栅极电压，就不会使器件的Id上升陷入正反馈而避免电流的进一步上升。试验目标：常温下，令Vdc=600V，通过控制Vgs控制SiC MOSFET的开通时间，从2μs开通时间开始以1μs为间隔不断增加器件的开通时间，直至器件损坏，测试过程中保留测试曲线。需要注意的是，在测试过程中，每测量一个脉冲宽度的短路波形，需要间隔足够长的时间，以消除前一次短路测试带来的器件温度上升对后一次测试的器件初始温度的影响，保证每次测试初始温度的准确。试验步骤：搭建抗短路能力测试电路。将器件安装与测试电路中，保持栅压为0。通过驱动电路设置器件的开通时间，给器件一个t0=2μs时间的栅源脉冲电压，使器件开通t0时间，观察器件上的电流电压曲线，判断器件是否能够承受2μs的短路开通并不损坏；如未损坏，等待足够长时间以确保器件降温至常温状态，设置驱动电路使器件栅源电压单脉冲时间增加1us，再次开通，观察器件是否能够承受3μs的短路开通并不损坏。循环反复直至器件发生损坏。试验标准：器件被打坏前最后一次脉冲时间长度即为器件的短路时长Tsc。整个短路时长期间，器件所承受的能量为器件的短路能量Esc。4.3 浪涌试验目的：把样品暴露在空气干燥的恒温环境中，对器件施加半正弦正向高电流脉冲，使器件在瞬间发生损坏，观测元器件在高电流密度下的耐受能力。试验原理：下面以SiC二极管为例，给出了器件承受浪涌电流测试时的器件内部机理。器件在浪涌应力下的瞬态功率由流过器件的电流和器件两端的电压降的乘积所决定，电流和压降越高，器件功率耗散就越高。已知浪涌应力对器件施加的电流信号是固定的，因此导通压降越小的器件瞬态功率越低，器件承受浪涌的能力越强。当器件处于浪涌电流应力下，电压降主要由器件内部寄生的串联电阻承担，因此我们可以通过降低器件在施加浪涌电流瞬间的导通电阻，减小器件功率、提升抗浪涌能力。a）给出了4H-SiC二极管实际浪涌电流测试的曲线，图4.7 a）曲线中显示器件的导通电压随着浪涌电流的上升和下降呈现出“回滞”的现象。图4.7 a）二极管浪涌电流的实测曲线； b）浪涌时温度仿真曲线浪涌过程中，器件的瞬态 I-V 曲线在回扫过程中出现了电压回滞，且浪涌电流越高，器件在电流下降和上升过程中的压降差越大，该电压回滞越明显。当浪涌电流增加到某一临界值时，I-V 曲线在最高压降处出现了一个尖峰，曲线斜率突变，器件发生了失效和损坏。器件失效后，瞬态 I-V 曲线在最高电流处出现突然增加的毛刺现象，电压回滞也减小。引起SiC JBS二极管瞬态 I-V 曲线回滞的原因是，在施加浪涌电流的过程中，SiC JBS 二极管的瞬态功率增加，但散热能力有限，所以浪涌过程中器件结温增加，SiC JBS 二极管压降也发生了变化，产生了回滞现象。在每次对器件施加浪涌电流过程中，随着电流的增加，器件的肖特基界面的结温会增加，当电流降低接近于0时结温才逐渐回落。在浪涌电流导通的过程中，结温是在积累的。由于电流上升和下降过程中的结温的差异，导致了器件在电流下降过程的导通电阻高于电流在上升过程中导通电阻。这使得电流下降过程 I-V 曲线压降更大，从而产生了在瞬态 I-V 特性曲线电压回滞现象。浪涌电流越高，器件的肖特基界面处的结温越高，因此导通电阻就越大，而回滞现象也就越明显。为了分析器件在 40 A 以上浪涌电流下的瞬态 I-V 特性变化剧烈的原因，使用仿真软件模拟了肖特基界面处温度随电流大小的变化曲线，如图4.7 b)所示，在 40 A 以上浪涌电流下，结温随浪涌电流变化非常剧烈。器件在 40 A 浪涌电流下，最高结温只有 358 K。但是当浪涌电流增加到60 A 时，最高结温已达1119 K，这个温度足以对器件破坏表面的肖特基金属，引起器件失效。图4.7 b)中还可以得出，浪涌电流越高，结温升高的变化程度就越大，56 A 和 60 A 浪涌电流仅相差 4 A，最高结温就相差 543 K，最高结温的升高速度远比浪涌电流的增加速度快。结温的快速升高导致了器件的导通电阻迅速增大，正向压降快速增加。因此，电流上升和下降过程中，器件的导通压降会更快速地升高和下降，使曲线斜率发生了突变。器件结温随着浪涌电流的增大而急剧增大，是因为它们之间围绕着器件导通电阻形成了正反馈。在浪涌过程中，随着浪涌电流的升高，二极管的功率增加，产生的焦耳热增加，导致了结温上升；另一方面，结温上升，导致器件的导通电阻增大，压降进一步升高。导通电压升高，导致功率进一步增加，使得结温进一步升高。因此器件的结温和电压形成了正反馈，致使结温和压降的增加速度远比浪涌电流的增加速度快。当浪涌电流增加到某一临界值时，触发这个正反馈，器件就会发生失效和损坏。长时间的重复浪涌电流会在外延层中引起堆垛层错生长，浪涌电流导致的自热效应会引起顶层金属熔融，使得电极和芯片之间短路，还会导致导通压降退化和峰值电流退化，并破坏器件的反向阻断能力。金属Al失效是大多数情况下浪涌失效的主要原因，应该使用鲁棒性更高的材料替代金属Al，以改善SiC器件的高温特性。目前MOS器件中，都没有给出浪涌电流的指标。而二极管、晶闸管器件中有这项指标。如果需要了解本项目研发的MOSFET器件的浪涌能力，也可以搭建电路实现。但是存在的问题是，MOS器件的导通压降跟它被施加的栅压是相关的，栅压越大，导通电阻越低，耐浪涌能力越强。如何确定浪涌测试时应该给MOSFET施加的栅压，是一个需要仔细探讨的问题。试验目标：我们已知浪涌耐受能力与器件的导通压降有关，但目前无法得到明确的定量关系。考虑到目标器件也没有这类指标的参考，建议测试时，在给定栅压下（必须确保器件能导通），对器件从低到高依次施加脉冲宽度为10ms或8.3ms半正弦电流波，直到器件发生损坏。试验步骤：器件安装在测试台上后，器件栅极在给定栅压下保持开启状态。通过测试台将导通电流设置成10ms或8.3ms半正弦电流波，施加在器件漏源极间。逐次增加正弦波的上限值，直至器件被打坏。试验标准：器件被打坏前的最后一次通过的浪涌值即为本器件在特定栅压下的浪涌指标值。以上内容给出了本项目研发器件在复合应力及极端条件下的可靠性测试方法，通过这些方法都是来自于以往国际工程经验和鉴定意见，可以对被测器件的可靠性有一个恰当的评估。但是，上述方法都是对测试条件和测试原理的阐述，如何通过测试结果来评估器件的使用寿命，并搭建可靠性测试条件与可靠性寿命之间的桥梁，就得通过可靠性寿命评估模型来实现。