全自动智能数字显微镜

AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能，还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析，实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率，自动探针安装，自动光轴调整，自动参数优化；&bull 排除人为操作失误导致的测量误差，一键自动测量/处理/分析（提高整体测试效率） 2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性 SIS（Sampling Intelligent Scan）样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点，自动控制探针位置，完全消除对测量不利的水平力，可测量吸附力较大或粗糙的样品，同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤，有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌，还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM（可用于定量和灵敏度等不同场景）除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外，AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比，信号主要来自于探针的尖端，电位检测灵敏度更高，在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等，FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料，两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置，实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试，可以对目标视野进行多维度解析，实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察，实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动，或通过全新的AFM标记功能，可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野，进一步扩大了联动分析的应用范围。

[ 产品简介 ]蔡司智能数码显微镜Smartzoom 5，可解决光学显微镜的传统局限性，如景深或金属表面的反射。全自动化配置，向导式工作流程，简易式设置，没有操作经验的人员也能够轻松获得满意的结果，是工业领域的质量保证和控制应用的理想解决方案。[ 产品特点 ]&bull 配备不同的物镜可放大倍数实现从10x-2022x连续可调集变焦、全景照相和同轴照明三功能为一体的光学引擎&bull 宏记录模式—使得同一类型样品重复分析工作流程更加高效&bull 可实现样品快速导航定位，让操作更加轻松简单&bull 简易实现注释图像及导出报告至word模板功能[ 应用领域 ]&bull 常规光学检测与数据记录&bull 自动化质量保证&bull 失效分析&bull 表面形貌测量&bull 金相/断口分析&bull 高级尺寸测量&bull 植物学&bull 昆虫学&bull 海洋生物学&bull 地质学和古生物学&bull 刑侦痕检和文检印刷电路板，倾斜角度观察金属棒的表面磨损情况，环形光

NooneLost-3000型全自动显微/菌落计数--专为智能化微生物检测实验室而打造--全自动菌落计数器广泛应用于食品和饮料的品质和卫生检验、水质分析、乳及乳制品的检测、医院临床检验、化妆品检验和药品的品质和质量检测等工作，主要用于对微生物的菌落计数和计算等。上海科哲生化科技有限公司是分析仪器行业知名厂商，承担了科技部国家科学仪器重大专项，形成了业界领先的图像处理技术，并推出其产业化项目产品：NooneLost-3000型全自动显微/菌落计数； NooneLost-3000型全自动显微/菌落计数系统是国内性能强大的全自动菌落计数系统与显微系统的结合体，可以使用白光与强大的成像设备，整合了显微、菌落计数功能，基本可满足微生物实验室日常需要，是智能化微生物实验室的理想选择。主要优点1、计数准确，是真正能极大提高工作效率的利器；2、软件性能强大，提供定制功能，超过进口同类产品；3、配有专业的计算机图形工作站，具有极强的图像处理能力；4、使用全中文界面，符合国内使用人员习惯，并可以定制英文界面；5、带有显微图像采集与分析功能，满足微生物显微分析要求；主要特点1、采用2000万像素的高动态范围图像传感器，极大提高斑点识别能力；2、采用全封闭灯箱，彻底消除环境杂散光的干扰，为精确计数提供了必备的光学条件；3、快速读取各种涂布模式的菌落数；4、适用于所有培养基 ，手动校正所有来自培养皿的不良影响5、测定结果重现性和准确性好，避免人工计数所带来的人为误差；6、带有条码阅读器，可以可保存每一次结果，能够连接到LIMS；7、方便简单输出扩展到excel，方便进一步分析或记录等项目操作；8、完好的保存图像，并可输出成PDF文件；9、增加了手动功能，可手工校正加减菌落；10、可使用软件对亮度、对比度和灵敏度进行调节；11、可精确标记、保存标准比例尺；12、自动切去培养皿周边图像，图像更清晰；13、能进行成片的菌落自动分割等有关运算；14、自动标记每一个被计数的菌落；15、具有曝光调节功能，可有效滤掉微小杂质；16、具有数字化显微模块，满足细胞计数与测量需求；17、可加装荧光显微光源模块，用于荧光显微分析；18、可以加装冷CCD摄像头，用于微弱光成像分析；19、符合CFR21 PART 11要求，具有审计追踪功能；20、适合HACCP、GMP/GLP要求；仪器组成1、菌落计数仪主机（包括成像组件、光源组件、封闭式暗箱）；2、显微成像仪主机（（包括成像组件、光源组件、显微镜）；3、分析软件（包括菌落分析、抑菌圈测量、抗生素效价测定）；4、图像处理工作站计算机系统（Intel服务器CPU，专业显卡、大容量硬盘）；5、条码识别器（选配）；仪器指标1、光 源：白光，其余颜色光源可定制；2、菌落计数成像组件：像素高于2000万；3、培养皿直径：60-120mm；4、分析容器：培养皿；5、电 源：100-240V，50-60HZ；6、软件环境：Windows7/8/Vista以上；主要应用1、全皿计数：全自动菌落计数；2、抑菌圈的测定和抗生素效价（管碟法）的计算。3、显微分析：粒状细胞计数、显微测量、荧光显微分析； 由于技术不断进步，本公司保留设计更改之权利，更改恕不通知敬请谅解。

仪器简介：高精度扫描载物台精确定位 自动调焦装置精确的z-轴方向定位 闭合环路系统 高精度调焦 触控屏关键信息一览无遗 控制面板可自由放置技术参数：光学系统：ICCS 光学系统 镜体：FEM 设计，ACR 位置编码 1、ICCS物镜：5X、10X、20X、50X、100X2、目镜：10X3、物镜转盘：研究级7孔明暗场自动物镜转盘 4、光 源：12V100W卤素灯，智能化光路管理器，光强色温自动可调 5、光学附件：目镜测微尺，台尺，各种滤色片 6、Z轴聚焦：自动聚焦 7、数字化平台：可配数字相机，计算机，图像分析软件 8、可配热台 9、可配自动扫描台，实现多视场自动扫描。 10、可配激光共聚焦附件（蔡司独有技术）主要特点： 全新一代全自动材料显微镜Axio Imager M2m是蔡司获得良好口碑的Axio Imager M1m产品的全新升级。通过AxioVision软件或自动控制显微镜动作的全自动系统。操作菜单和所采集的图像及显微镜功能控制同界面，即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换（明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法）、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆，操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位，可实现多视野的拼接和观察，再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。脱机可电动、手动操作。计算机通过AxioVision软件自动控制显微镜动作的全自动系统，操作菜单和所采集的图象及显微镜功能控制同界面，即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换（明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法）、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆，操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位可实现多视野的拼接和观察，再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。

徕卡DM6M产品简介：莱卡全自动万能金相显微镜DM6M.正置模块化设计，可实现透反射观察.可配接摄像头、数码相机等装置扩展数码显微镜.适合金属、高分子材料、电子元器件、粉尘等样品观察分析。概述徕卡全自动万能金相显微镜DM6M.正置模块化设计，可实现透反射观察.可配接摄像头、数码相机等装置扩展数码显微镜.适合金属、高分子材料、电子元器件、粉尘等样品观察分析。DM6M高级全自动智能数字式正置金相显微镜，适合金属、陶瓷、高分子材料、电子元器件、粉尘颗粒等样品的观察分析模块化设计，正置显微镜可实现反射观察、透反射观察配置复消色差光路，整体光路支持25mm视野直径6孔位电动物镜转盘，配接32mm直径工业物镜内置电动调焦系统，精度0.015um可实现全自动明场、暗场、偏光、干涉观察方式数码显微镜机身内置12v100w的透、反射照明电源，智能光强变化的控制照明方式能自动记忆在不同物镜下和不同观察方式下最佳的光强，光阑大小及聚光镜的组合，自动恢复到位，操作简单快速 产品特点全自动材料分析您可轻松调用之前的显微镜设置并通过独特的软件功能“保存和调用”(Store and Recall) 即时复制成像参数。适用于任何类型的样本。一键式“智能自动化”可让您轻松搞定重复性工作。这些具有记忆功能的显微镜可帮您减少培训时间、改进工作流程和获得出色的成像结果—始终如一。管理器节省时间节省宝贵时间：凭借照明管理器 (Illumination Manager) 和相衬管理器 (Contrast Manager)，显微镜能够自动识别所选的相衬方法和正在使用的物镜，准确打开和关闭孔径光阑和视场光阑，且调整光线强度。共享和比较您的结果—随时随地！通过 Leica 显微镜副助手 (Leica Microscope Assistant，Leica LAS “保存和调用”模块) 保存和调用显微镜设置和摄像头参数。它们随图像一同保存和归档，并可随时恢复。无忧照明LED照明有助于结果的可复制—无论您以明场(BF)、高动态暗场(HDF)、微分干涉相衬(DIC)、荧光(FL) 还是偏振(POL) 状态工作。可在任何显微镜设置下以恒定的色彩温度查看您的样品：无需每次亮度改变时都重置摄像头或调节白平衡。选择一种或多种可用的相衬观察方法，在样品上检测出更多的瑕疵和缺陷。

仪器简介：高精度扫描载物台精确定位 自动调焦装置精确的z-轴方向定位 闭合环路系统 高精度调焦 触控屏关键信息一览无遗 控制面板可自由放置技术参数：光学系统：ICCS 光学系统 镜体：FEM 设计，ACR 位置编码 1、ICCS物镜：5X、10X、20X、50X、100X2、目镜：10X3、物镜转盘：研究级7孔明暗场自动物镜转盘 4、光 源：12V100W卤素灯，智能化光路管理器，光强色温自动可调 5、光学附件：目镜测微尺，台尺，各种滤色片 6、Z轴聚焦：自动聚焦 7、数字化平台：可配数字相机，计算机，图像分析软件 8、可配热台 9、可配自动扫描台，实现多视场自动扫描。 10、可配激光共聚焦附件（蔡司独有技术）主要特点：全新一代全自动材料显微镜Axio Imager M2m是蔡司获得良好口碑的Axio Imager M1m产品的全新升级。通过AxioVision软件或自动控制显微镜动作的全自动系统。操作菜单和所采集的图像及显微镜功能控制同界面，即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换（明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法）、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆，操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位，可实现多视野的拼接和观察，再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。脱机可电动、手动操作。计算机通过AxioVision软件自动控制显微镜动作的全自动系统，操作菜单和所采集的图象及显微镜功能控制同界面，即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换（明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法）、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆，操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位可实现多视野的拼接和观察，再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。

仪器简介：采用系统控制器（SyCop）和人机交互控制器（H.I.P）控制显微镜的所有动作（自动倍数切换，自动聚焦，自动色温），自动化程度高，操作极为方便、舒适。用于产品的宏观检验,能够检验断口内的裂纹（挤压裂纹、淬火裂纹、铸造裂纹），裂口，纵向裂纹，焊和不良，疏松，氧化膜，气孔等宏观缺陷。 图像质量： 提供最高反差、最高衬度、最高分辨率的三维图象 光学系统： 国际最先进标准的Telescope（CMO）光学原理设计 显微观察新技术(蔡司专利)： 防眩光技术 设计理念： 人机工程学原理, 模块化设计和开放式结构，保留了所有选择项，便于日后的升级和功能增强 使用寿命：60年 原产地：德国(国内无合资厂) 技术参数：1、总放大倍率： 12X-375x 2、工作距离为81mm，行程为340mm基本物体视场直径为25mm 3、调焦精度：350nm， 4、实际视场范围：2.3-28.8mm 5、冷光源： 15V150W （ 24V250W） 6、可扩展性：可配图像分析系统(数码相机,摄像头,图像分析软件)

产品优势徕科光学研发的LK-PCYG系列全自动倒置荧光生物显微镜采用短曝光高速推扫、自适应连续对焦技术，实现完整病理切片的高质量、高速度显微扫描与无缝拼接，适用于组织切片、细胞涂片和免疫组化切片等高倍显微成像。LK-PCYG系列全自动倒置荧光生物显微镜的精密运动与光学成像均自主可控，软硬件结合，提高扫描速度和精度。LK-PCYG系列全自动倒置荧光生物显微镜采用自研短曝光高速精准扫描，双层异构线磁驱动，大孔径低畸变光学设计，亚微米全闭环多轴同步控制，高动态磁浮对焦系统。这是一款性能突出卓越且稳定的全自动数字病理扫描仪。在国货崛起的今天，徕科光学研发的LK-PCYG系列全自动倒置荧光生物显微镜已经被越来越多的高校、研究所、科研单位、企业所运用，并且已成为各客户在研究工作中的主流设备产品，其所呈现出的效果与进口设备的毫无差别，但其价格仅为进口设备的三分之一左右，依靠着科技感和创新感双强的研发力量，可以根据不同客户的需求定制出高性价比的产品方案；作为业内唯一的质保期两年的服务保障团队，具备内核稳定的售后方案，7*24小时响应，提供安装培训 一体化互动，更加直接且高效地为客户做好售前、售中、售后服务保障。经过十余年的研发服务，已积累千万客户，并在多地区投建服务部方便与客户的沟通互动。为此，本产品已经成为了当下最流行且性能稳定的国际大品牌“平替天花板”。LK-PCYG型号全自动倒置荧光生物显微镜实景图：应用图：下图为现场安装、培训实景图：下图为合作伙伴情况：下图为服务站分布图：产品介绍一、系统优势：1、高速实时自动对焦图像清晰连续推扫，4K高清显示观察范围更大浏览切片更快画面保存更真，配备柔性三片切片夹。2、一键高速飞行扫描、自动识别扫描区域自动识别切片信息、自动对焦清晰成像。二、系统应用：1、硬件自动对焦技术，图像清晰度更高（下图从左至右分别是无对焦、自动对焦、局部放大） 2、精准扫描多种类型切片图例1：组织切片图例2：血液涂片图例3：芯片组织图例4：液基细胞三、系统拓展：可实现数字病理扫描软件与远程会诊平台无缝对接，数字病理图像可在手机、平板和电脑端流畅预览，可为全国基层医疗机构提供在线病理会诊咨询、培训和读片质控。数字病理扫描软件支持同步阅片和实时标注，一键上传云端。四、应用拓展：1、可实现宫颈癌早期筛查、全程无人工干预；可对大数据留存归档、无损耗长期保存；可进行Al人工智能分析、超过60%排阴率。可真正意义上高效的人工智能诊断一键扫描，一分钟出报告。2、染色体核型分析系统：具备百万级染色体数据支撑；具备万例异常染色体数据库；具备高精度在线扫描与分析；具备高性能软硬件深度融合。产品参数产品型号LK-PCYGP3LK-PCYGP3P30/60/120产品名称全自动倒置荧光生物显微镜全自动倒置荧光生物显微镜适用载玻片25mmx75mm25mmx75mm装载数量3片 30/60/120片扫描速度50s@20x,80s@40x(15mmx15m)50s@20x,80s@40x (15mmx15m)扫描方式连续面扫描连续面扫描物镜单物镜配置：20x单物镜配置：20x(可选配)40x,电动物镜转换器可选配)40x,电动物镜转换器载物台双层异构载物台双层异构载物台运动精度XYZ三轴：0.1μmXYZ三轴：0.1μm配套软件全局扫描拼接，景深融合扫描全局扫描拼接，景深融合扫描玻片预览无极缩放、标注、截图等功能无极缩放、标注、截图等功能扫描模式自动扫描自动/手动扫描紧急加塞无有数据格式原始数据可选择保存TIFF/SVS等通用格式原始数据可选择保存TIFF/SVS等通用格式电源AC 220 V±10%AC 220 V±10%工作温度5°℃-40℃5°℃-40℃

产品优势徕科光学研发的LK-CS系列全自动三轴电动手脉金相测量显微镜包括LK-CS2020、LK-CS3020、LK-CS4030三种型号，该系列专为高端全自动金相量测市场量身定制，其具有高倍观察测量、CNC编程、精准定位、重复测量、SPC报表统计、自动测量结果输出等功能，能快速高效地解决高倍观察量测产品的批量检测需要。本机X、Y、Z三轴均为伺服驱动，由鼠标、键盘及摇杆操纵，通过专用的全自动金相测量软件，具有自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术；可在使用夹具或工件随意放置的情况下，进行批量检测；独家使用专业订制的高精准细分脉冲金相测量电机，三轴均可转换通过电脉精准控制，可以实现快中慢三档调速来控制XYZ三轴移动；在选择低速档时，可让电机脉冲量的最小化设置跟传动机构的最优化调校，可以保证机台移动时，精细到0.5UM（甚至更低的分辨率）移动精度，从而有效地杜绝金相显微镜在高倍率下Z轴无法精准对焦及XY无法精准抓取产品图像边缘的情况。在国货崛起的今天，徕科光学研发的LK-CS系列全自动三轴电动手脉金相测量显微镜依靠着科技感和创新感双强的研发力量，能够以稳扎稳打的专业核心技术为不同客户制定出高性价比的解决方案和内核稳定的售后方案，其所呈现出的效果与进口设备的毫无差别，但其价格仅为进口设备的三分之一左右，真正成为了一款“小价格、大惊喜”的产品。依靠着科技感和创新感双强的研发力量，可以根据不同客户的需求定制出高性价比的产品方案；作为专业服务保障团队，具备内核稳定的售后方案，7*24小时响应，提供安装培训 一体化互动，更加直接且高效地为客户做好售前、售中、售后服务保障。经过十余年的研发服务，已积累千万客户，并在多地区投建服务部方便与客户的沟通互动。下图为LK-CS系列全自动三轴电动手脉金相测量显微镜产品实景图：下图为现场安装、培训实景图：下图为合作伙伴情况：下图为服务站分布图：产品介绍1、光路：采用国际领先的无限远双重校正光路设计（UISC）下图左图为有限远光路，右图为无限远光路下图为同一物体在有限远光路（左图）与无限远光路（右图）下观察到的情况对比：2、光源：明暗场反射照明器为12V100W卤素灯照明，并带有光强预设功能，可快速切换到预设亮度，带明暗场切换机构；透射光源为单颗大功率5W白色LED，并带有NA0.5聚光镜。透射照明与反射照明可独立控制，即透反照明可同时开启，亦可单独开启。传统卤素光源 传统卤素光源+色温平衡滤片3、观察方法：明场观察( 透射 )、暗场观察、DIC微分干涉观察、偏光观察明场观察( 透射 )：明场图例：暗场观察：暗场图例：DIC微分干涉观察：DIC微分干涉图例：简易偏光观察：简易偏光图例：4、智能化图像处理方法：5、图像测量功能6、可实现实时景深叠加和实时多视场拼图功能： 实时景深叠加(EFI) 实时多视场拼图(MIA)7、产品特点：●由移动工作台、三轴电子光栅尺和运动专用控制盒组成数据传动控制系统； ●双重闭环运动控制，XYZ三轴伺服驱动，软件控制及电动手脉精准控制随机切换； ●采用全花岗平台结构，外观简洁大方，永不变形，永不生锈； ●具有多种数据处理、显示、输入、输出功能,使观察测量与办公完全结合在一起； ●标配明场物镜和明场光路（可选配明暗场）； ●Z轴可选配辅助对焦模块实现测高功能； ●可选配手动鼻轮或电动鼻轮； ●可支持长工作距离物镜进行对接； ● 采用优异的无限远光学系统，提高成像衬度和清晰度，用户可以得到鲜明、清晰的高对比度图像，可实现明暗场，偏光，微分干涉等多种成像。图例1：图例2：图例3：产品参数产品型号LK-CS2020LK-CS3020LK-CS4030型号说明CS:全自动+XYZ三轴手脉电动控制测量范围mm200×200×150300×200×150400×300×150玻璃台面尺寸mm260×260360×260460×360工作台面尺寸mm366×366466×366640×540外形尺寸L×W×H mm780×550×965880×550×9651150×750×1100机器重量KG125150250镜筒/图像双目镜筒，带有标准的TV摄像机端口观测方法标配明场物镜(可选明暗场、偏光及DIC微分干涉)目镜双目10X物镜无限远明场金相物镜：5x,10x,20x,50x(100x选配)转换器内定位5孔转换器反射照明装置带滤色片插槽与偏光装置插槽，带5WLED灯源，亮度可调；可选配明暗场反射照明器，带切换装置透射照明装置LED高亮度光源调焦系统软件控制+手脉电动精准对焦控制光栅尺分辨率XYZ0.0005mm/0.0001mm(可选配)测量精度(μm)X-Y≤(2.5+0.02L)μm Z≤(4+0.02L)μmL为被测长度(单位：mm)机器电源220v±10%/110v±10%(AC) 50Hz留言或致电我们，获取更多方案。

Bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射InSight AFP是世上性能*高、行业首-选的先进技术节点CMP轮廓和蚀刻深度计量系统。将其现代尖-端扫描仪与固有的稳定电容式压力计和精确的空气轴承定位系统相结合，可以在模具的活动区域进行非破坏性的直接测量。 0.3纳米长期稳定提供NIST可追踪的参考计量，并在一年内保持测量的稳定性260-340个站点/小时内联应用程序的*高生产效率减少MAM时间和优化的晶圆处理可保持高达50个晶圆/小时的吞吐量高达36000微米/秒仿形速度通过热点识别提供高分辨率3D特征*高分辨率，尖-端寿命长InSight AFP的TrueSense技术，具有原子力分析器经验证的长扫描能力。亚微米特征的蚀刻深度、凹陷和侵蚀可以完全自动化地监控，具有无与伦比的可重复性，无需依赖测试键或模型。-----蚀刻和CMP晶片的全自动在线过程控制Insight AFP结合了原子力显微镜的新创新，包括Bruker的专有CDMode，用于表征侧壁特征和粗糙度。CDmode减少了所需的横截面数量，实现了显著的成本节约。此外，AFP数据提供了无法通过其他技术获得的直接侧壁粗糙度测量。自动缺陷审查和分类当今集成电路的器件缺陷比以往任何时候都小，需要快速解决HVM需求。InSight AFP提供了有关半导体晶片和PHTOmask缺陷的快速、可操作的地形和材料信息，使制造商能够快速识别缺陷源并消除其对生产的影响。100倍高分辨率配准光学元件和AFM全局对准可使图案化晶圆和掩模的原始图像放置精度低于±250 nm，确保感兴趣的缺陷是测量的缺陷。该系统与KLARITY和大多数其他YMS系统完全兼容。3D模具映射和HyperMap&trade 分析速度高达36000μm/sec，能够对33mm x 26mm及更大的闪光场进行快速、完整的3D CMP后表征和检查。超2纳米的平面外运动，实现真正的大规模地形和全自动抛光后热点检测。在本例中，在24小时内以1微米x 1微米像素大小获得了完整的标准26毫米x 33毫米十字线场扫描。然后可以使用Bruker的热点检测和审查功能自动检测和重新扫描热点。售后服务Bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP——紧凑型高性能剖面仪和AFMBruker的InSight CAP自动原子力轮廓仪是专门为半导体制造商和供应商设计的CMP和蚀刻计量组合平台。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。 0.5 nm长期动态再现性用于关键工艺决策的直接、稳定的在线计量 亚纳米CMP自动计量的灵敏度，专用碟形和腐蚀计量包，用于无与伦比的过程控制和开发 20nm仿形平面度大于26mm针对关键EUV光刻技术开发和过程控制的高精度CMP后平面度计量 在线计量结果以分钟为单位，适用于蚀刻和CMP的技术开发和过程控制在高级技术节点，多模式光刻技术对CMP提出了纳米级的过程控制要求，以满足聚焦深度需求。InSight CAP围绕新一代AFM扫描仪构建，在65μm X/Y扫描范围内提供改进的平坦度，小于10纳米。该系统的NanoScopeV 64位AFM控制器提供了5倍更快的啮合性能和5倍更快的调整速度，以提高生产效率，所有这些都提高了可靠性。其DT自适应扫描模式也有助于加快扫描速度和改进计量。InSight CAP高分辨率剖面仪结合了多项先进功能，可在宏观凹陷和侵蚀中实现埃级精度测量。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。售后服

Park FX40纳米科学研发界应运而生的的新型全自动原子力显微镜该产品可以通过多样化的应用程序，不费吹灰之力即可获得敏锐、清晰、高分辨率的扫描图像。通过前所未有的速度和精度，推动您研发进步并助力您的科学新发现——FX40将人工智能运用得淋漓尽致，全自动化的过程能实现用户纳米级显微镜的需求。额外的轴向自动激光校准、早期预警系统和故障自动保险、同步化信息提取和存储，让即便是未经原子力显微镜专业培训的研究科学家们也可以轻松快速地获得最满意的扫描结果。纳米级的显微镜 硬核级的科技进步- 鼎力相助时代前沿的科技研发- 研究型AFM中首次采用的双摄像头系统- 能全自动化实时更新海量数据实现全自动技术的智能原子力显微镜Park FX只需鼠标一键操作，就能实现自动换针，以避免探针被污染或因操作不当而导致的探针损坏等问题。用户还可以根据提示，选择不同的探针类型，应用类型和使用信息等。 通过自动换针方式，用户可轻松安全地进行自动换针。利用装有8个针盒和磁控机制的便利性，用户无需操作便可安装探针。探针识别摄像头可以加载探针芯片载体上的二维码，提取并显示每个可用探针的探针类型，应用类型和使用信息等全部相关信息。自动激光校准功能将SLD光定位到悬臂梁的适当位置，并进一步分别优化PSPD的垂直和横向位置。用户只需简单点击，移动X,Y和Z轴便可得到毫不失真的高清扫描图。 双摄像头系统自动校准探针和样品位置 样品摄像头样品台上最多可以同时放置四个不同量级的样品。即便如此，样品摄像头也可以毫不费力地定位到相关位置进行精确扫描。 探针识别摄像头探针识别系统可以帮助用户搜索相关探针的全部信息（包括探针类型，应用类型和使用信息等）使研究工作事半功倍。只需一键便可轻松选择您所需要的探针。智能自动化FX40拥有智能视觉系统，能自动检测探针是否正确定位。软件界面通过定位加载探针的位置至纳米级别，并在必要时生成错误状态报告，同时将这些数据与成千上万个可能发生的模拟问题进行比较，以此不断更新升级软件。 原子力显微镜中最快速精确的真正非接触模式对于针尖样品，非接触模式展现了其强大的控制力，距离达到了亚纳米级别。Park FX40拥有快速且精确的非接触模式。环境传感器智能扫描仪显示并储存传感器的测量。传感器主要测量基本的环境条件，如温度，湿度，水平和振动。由此帮助用户在不同环境条件下扫描图像，为您筛选环境指标。 安全的探针安装系统用户可以自选手动或自动探针安装功能，同时内置的智能系统会自动检测并在用户错误安装探针时发出警告，从而有效提高测量准确度。极好的AFM体验——专为FX设计的Park OS SmartScan简易单击成像设置自动探针检测，自动激光校准简要的教学动画分分钟让您学会如何进行样品放置以及仪器成像设置1. 准确定位定位样品位置AFM自动执行悬臂的频率性扫描，接近样品的Z移动台, 然后自动聚焦，帮助您扫描任何您想要的区域。 2. 高清成像自动识别探针完成定位之后，系统会设置理想的参数，连接悬臂并扫描样品，直到为您扫出高解析度高分辨率的图像。

DM6 B 全自动研究级显微镜全自动万能生物显微镜。是生物医学研究和临床实验应用的理想之选，显著提升工作效率通过自动化功能和便捷的软件简化工作流程利用 19-mm sCMOS 摄像头成像端口轻松摄取画质媲美出版物的图像LAS X Navigator - 显微成像的导航系统: 快速生成样品全景图，瞬间识别目标所在点!灵活选择功能多样的附件，如卤素或 LED 照明花更少时间看到更多内容图像摄取时间缩短，意味着您有更多的时间放在核心内容上。下面仅罗列提高您日常工作效率的新产品功能：充分利用 sCMOS 摄像头的优势，如Leica DFC9000！19 mm 视场摄像头端口良好匹配通用 sCMOS 传感器的尺寸。快速地以高分辨率查看载玻片。选择适合您应用目的的物镜 – 有 300 多种卓越的光学器件可供选择，如可选用独特的 1.25 倍概览物镜，实现出色的概览效果。显微镜操作智能自动化，节省更多精力投入到试验中！让您专注于想要实现的结果，不再为实现的过程大伤脑筋。智能自动化的作用就在于此：只需按下一个按钮就能完成多个步骤，显著简化您的工作流程，节省您宝贵的时间，将更多精力投入到试验中，而不是显微镜上。按下一个按钮即可更改对比度 – 一切所需轻松搞定任意选择卤素或 LED 照明，轻松摄取画质达到出版要求的图像使用照明（光强）和对比度管理功能简化您的工作 – 例如，用于荧光图像的荧光光强管理系统 (FIM) 和荧光激发管理系统 (ExMan)，或用于Koehler 图像的 Koehler 照明管理。

ECHO Pro 全自动超声波扫描显微镜美 Sonix 全自动超声波扫描显微镜ECHO Pro , 批量 Tray盘和框架直接扫瞄, 编程自动判别缺陷, 高产量,无需人员重复设置, 自动烘干.美 Sonix 全自动超声波扫描显微镜ECHO Pro 全自动生产型:● 批量 Tray盘和框架直接扫瞄● 编程自动判别缺陷● 高产量,无需人员重复设置● 自动烘干

细致入微地观察样品您需要观察大尺寸样品并进行详尽分析吗？徕卡显微系统（Leica Microsystems）独家提供的宏观*物镜可令您在更短的时间内观察更多样品细节。只需单击一下，即可从宏观模式 (35 mm) 切换到纳米模式 (1 nm)。徕卡宏观物镜可提供 4 倍于标准物镜的视场 (以 0.7 倍放大倍率观察 35.7 mm 样品的概况)。您可在不同的放大倍率间切换： – 0.7x – 5x – 10x – 20x- 50x – 100x –，并从不同角度照亮样品。3 档调焦驱动器可在不同放大倍率下实现灵敏可调的对焦，从而提高您的样品检测效率使用独一无二的 UC-3D 照明装置观察更多细节徕卡显微系统（Leica Microsystems）独家提供超对比度 3D 照明装置。它可从不同角度对样品进行照明，以帮助您获得更多表面结构信息，并实现更高的对比度。因此您可在更短的时间内观察到更多样品细节。内置照明解决方案带来更轻松的使用体验|无需额外成本，获得更多样品信息您可选择徕卡手动或电动版本技术规格：1、高智能数字式倒置金相显微镜2、复消色差光路，整体光路支持25mm视野直径3、6孔位电动物镜转盘，配接32mm直径物镜4、内置手动或电动调教系统，电动调焦精度0.015um5、可实现半/全自动明场、暗场、偏光、干涉、UC-3D、荧光观察方式6、机身内置LED透、反射照明电源，智能光强变化的控制照明方式7、人机工学观察镜筒，可15°-46°改变倾斜角度8、能自动记忆在不同物镜下和不同观察方式下最佳的光源，智能光强变化的控制照明方式9、机座带液晶显示屏显示显微镜各部件工作状态，参数10、光强、光阑、观察方式和聚光镜调节可由按键和计算机操作控制操作，并自动在不同倍数物镜下拍的照片中加相应倍数标尺具有色温恒定系统，提供工作效率11、可配接摄像头，数码相机进行图像采集、分析、测量12、可配接自动扫描台进行多视场非金属夹杂物自动分析

细致入微地观察样品您需要观察大尺寸样品并进行详尽分析吗？徕卡显微系统（Leica Microsystems）独家提供的宏观*物镜可令您在更短的时间内观察更多样品细节。只需单击一下，即可从宏观模式 (35 mm) 切换到纳米模式 (1 nm)。徕卡宏观物镜可提供 4 倍于标准物镜的视场 (以 0.7 倍放大倍率观察 35.7 mm 样品的概况)。您可在不同的放大倍率间切换： – 0.7x – 5x – 10x – 20x- 50x – 100x –，并从不同角度照亮样品。3 档调焦驱动器可在不同放大倍率下实现灵敏可调的对焦，从而提高您的样品检测效率使用独一无二的 UC-3D 照明装置观察更多细节徕卡显微系统（Leica Microsystems）独家提供超对比度 3D 照明装置。它可从不同角度对样品进行照明，以帮助您获得更多表面结构信息，并实现更高的对比度。因此您可在更短的时间内观察到更多样品细节。内置照明解决方案带来更轻松的使用体验|无需额外成本，获得更多样品信息您可选择徕卡手动或电动版本产品优势及规格：1、高智能数字式倒置金相显微镜2、复消色差光路，整体光路支持25mm视野直径3、6孔位电动物镜转盘，配接32mm直径物镜4、内置手动或电动调教系统，电动调焦精度0.015um5、可实现半/全自动明场、暗场、偏光、干涉、UC-3D、荧光观察方式6、机身内置LED透、反射照明电源，智能光强变化的控制照明方式7、人机工学观察镜筒，可15°-46°改变倾斜角度8、能自动记忆在不同物镜下和不同观察方式下最佳的光源，智能光强变化的控制照明方式9、机座带液晶显示屏显示显微镜各部件工作状态，参数10、光强、光阑、观察方式和聚光镜调节可由按键和计算机操作控制操作，并自动在不同倍数物镜下拍的照片中加相应倍数标尺具有色温恒定系统，提供工作效率11、可配接摄像头，数码相机进行图像采集、分析、测量12、可配接自动扫描台进行多视场非金属夹杂物自动分析

产品优势徕科光学研发的LK-YG92型号全自动倒置生物荧光显微镜，作为一台能够满足先进生命科学研究而设计的科研级全自动倒置荧光生物显微镜，能实现明场、暗场、相衬、偏光、DIC、荧光等观察方式。其搭载高速电动控制，将复杂的操作简单化，可视化，操作更加轻松简易。其稳定卓越的性能，使其能够成为顶尖生命科学研究所需的共聚焦、超分辨等设备的完美搭档。在国货崛起的今天，徕科光学研发的LK-YG92型号全自动倒置生物荧光显微镜已经被越来越多的高校、研究所、科研单位、企业所运用，并且已成为各客户在研究工作中的主流设备产品，其所呈现出的效果与进口设备的毫无差别，但其价格仅为进口设备的三分之一左右，依靠着科技感和创新感双强的研发力量，可以根据不同客户的需求定制出高性价比的产品方案；作为业内唯一的质保期两年的服务保障团队，具备内核稳定的售后方案，7*24小时响应，提供安装培训 一体化互动，更加直接且高效地为客户做好售前、售中、售后服务保障。经过十余年的研发服务，已积累千万客户，并在多地区投建服务部方便与客户的沟通互动。为此，本产品已经成为了当下最流行且性能稳定的国际大品牌“平替天花板”。下图为LK-YG92型号全自动倒置生物荧光显微镜产品实景图：下图为现场安装、培训实景图：下图为合作伙伴情况：下图为服务站分布图：产品介绍1、光路：采用国际领先的无限远双重校正光路设计（UISC）下图左图为有限远光路，右图为无限远光路下图为同一物体在有限远光路（左图）与无限远光路（右图）下观察到的情况对比：2、光源：采用LED光源，寿命更长、色彩更准3、专用长寿命LED芯片ColorCCT RangeMin.Max.GroupMin./MaxFlux(lm)Neutral White3700K5000KT5260/1000LT50F4（1）传统卤素光源 （2）传统卤素光源+色温平衡滤片 （3）LED光源4、观察方法：明场、暗场、荧光、相衬、DIC明场图例：暗场图例：相差图例：荧光图例：5、智能化图像处理方法：DHR：捕捉亮度和暗的区域高动态范围(HDR)使用了先进的图像处理技术，能够针对一幅图像内的亮度差异进行调节，从而减少了眩光。HDR改善了数字图像的视觉效果，从而有助于制定专业性的报告。借助HDR功能增强对比左图为处理前，右图为处理后：6、图像测量功能7、可实现实时景深叠加和实时多视场拼图功能：实时景深叠加：实时多视场拼图： XY 轴电动载物台：大行程，高精度，可进行快速定位，适合多点观察。 电动聚光镜转盘：可进行电动聚光镜模块的转换。电动物镜转换器：可实现 6 个物镜的随意转换。Z 轴自动聚焦：可进行快速、精准的 Z 轴控制。电动荧光模块转盘：可实现 6 孔位荧光模块的随意转换。例图（案例图片上传已被压缩，获取原图请联系我们！）图例1：100X 菠菜根B激发图例2：100X 菠菜根G激发图例3：100X 菠菜根UV激发图例4：200X 菠菜根B激发图例5：200X 菠菜根G激发图例6：200X 菠菜根UV激发其他图例图例1：图例2：图例3：图例4：图例5：图例6：图例7：产品参数产品结构科研级全自动倒置生物荧光显微镜品牌徕科光学型号LK-YG92产地中国大陆总体放大倍数40X-600X（4X、10X、20X、40X、60X）光学系统无限远色差校正光学系统照明系统透射照明、反射照明观察方法明场、暗场、荧光、相衬、DIC观察筒三目观察筒（带勃氏镜），45°倾角，瞳距47-78mm目镜高眼点大视野平场目镜PL10X/25mm，视度可调电动物镜转换器电动六孔换镜转盘，带DIC插槽，转动时有物镜保护功能物镜无限远平场半复消色差相衬物镜4X、10X、20X、40X、60X电动调焦机构电动同轴粗微动升降机构，最小分辨率0.02μm（光栅型），运动重复定位精度为±0.1μm中间倍率有1X、1.5X、CF档电动聚光镜长工作距离电动转盘式聚光镜 NA0.55,WD=26mm，可安装6个组件，相衬、DIC、明场电动载物台光栅型电动控制，行程范围130mm*100mm,平台尺寸325mm*144mm，最大速度10mm/s，分辨率：0.1μm，重复精度±0.5μm电动反射荧光系统电动反射荧光滤光片转盘带高性能滤光片可配置最多六个落射荧光滤光块智能灯源箱透射光源箱柯勒照明，10W LED照明反射光源箱10W LED荧光照明图像采集装置有效像素：2000万像素，5440 * 3648

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。特点1. 自动化功能高度集成自动化功能追求高效率检测，降低检测中的人为操作误差2. 可靠性排除机械原因造成的误差，大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

1. 产品说明　　采用进口品牌金相显微镜及配套金相扫描平台，扫描精度更高，成像效果更好，效果更准确。　　通过清洁度检测分析软件控制电子影像设备和光学放大设备，对清洗萃取后的滤纸或滤膜样本进行高精度扫描，将扫描数据传回至计算机分析软件，分析软件自动识别金属、非金属、纤维颗粒等，生成清洁度检测报告。　　检测分析过程可自动进行，亦可手动控制，支持用户自定义。　　检测分析过程可全部按照ISO16232、VDA19、ISO4406、GBT14039、NSA1638等标准执行，满足大众、宝马、通用、福特等各大汽车制造厂清洁度检测标准。　　检测流程： 　　1. 参数指标　　测试范围：1-10000μm　　放大倍数：30-1000倍　　重复性误差：≤1%（国标样D50偏差）　　准确性误差：≤1%（国标样D50偏差）　　颗粒识别速率：≥10000个/分钟　　扫描范围：φ55mm　　测量时间：＜10分钟　　漏检率：≤3%（10μm以上颗粒无漏检）　　进口高速CCD速率：120帧/秒　　金属颗粒识别率：＞92%　　纤维颗粒识别准确率：＞95%　　2. 系统特点　　（1）流程化设计，操作顺畅 　　智能化的全自动清洁度分析软件自动拍照、对焦、控制扫描、识别分析　　智能化的全自动清洁度分析软件自动拍照、对焦、控制扫描、识别分析，不漏判和误判,检测效率高。　　（2）自动化集成度高，操作更简便　　全自动的检验分析过程：自动扫描整个试样（通常是滤纸）、自动拍照，颗粒自动识别、分析、统计，自动检查清洁度、自动生成专业分析报告。　　（3）支持多种扫描方式：矩形、圆形、环形、扇形等，支持多种扫描路径。　　（4）检测样本多样化，可测量零件清洁度、油液清洁度等。　　（5）满足多种检测标准　　支持多种国标及国际标准：包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等；可以输入标准进行清洁度、颗粒度的全自动检测；可以对纤维进行统计；系统定期更新*新标准。　　（6）智能聚焦　　支持多种聚焦模式：补偿聚焦、跟踪聚焦、手动聚焦、EFI聚焦等。　　（7）自动拍照、定位，并可回溯重拍　　扫描过程自动拍照、自动保存，进度实时可见；照片信息存入数据库，方便查询。提供视场图片浏览检查功能，可以实现每个视场定位回溯、重新拍照等功能　　（8）自动识别反光颗粒、不反光颗粒、纤维　　系统自动识别颗粒，可以同时检查出不反光颗粒和反光颗粒（一般为金属颗粒）、纤维。　　自动对三种颗粒进行检查分类。 支持设置各种颗粒的合格区间。支持自定义三种颗粒的区分设置。 　　（9）支持跨视野超大颗粒、自动校正偏移，使图片可以进行无缝拼接。 　　（10）统计与分析　　系统自动识别颗粒、自动分析颗粒类别、自动统计颗粒参数。同时支持修改颗粒。提供多种统计分析工具：MAP图、颗粒列表、统计结果等。 　　（11）专业清洁度报告　　支持模板化报告生成模式，包含统计数据、评级、滤片全貌图、*大颗粒照片等信息；可选择多种报告模式。

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。特点 1. 自动化功能 高度集成自动化功能追求高效率检测 降低检测中的人为操作误差 ? 4英寸自动马达台 自动更换悬臂功能2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描 采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了最新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量 普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。 样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构) * 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。 SEM-AFM在同一视野观察实例（样品：石墨烯/SiO2） 上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。 与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

技术参数：测量模式： STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀) 扫描方式：样品扫描测量头部：AFM和SPM（全内置自动切换），可选配液相模式和纳米压痕测量头最大样品尺寸：直径20mm，厚度10mmXY样品定位装置：移动范围5×5um，软件控制电动定位XY样品定位装置最小步进：0.3um扫描范围：100×100×10um（三维全量程闭环控制扫描器），3×3×2um（低电流模式扫描器）XY方向非线性度：≤0.1%（闭环控制扫描器）Z方向噪音水平（带宽10~1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.03nm，最大0.04nm），低电流模式扫描器（0.02nm）激光光路系统：电动调节，全自动准直视频显微系统：软件控制电动变焦和连续变倍，软件控制变换视野，分辨率2um样品温度控制：室温~150℃主要特点：全自动化桌面型SPM直观易用的软件界面全自动切换AFM和STM扫描头自动调整激光光路（悬臂—激光—四象限光电探测器）软件控制的电动样品定位平台视频显微镜系统软件控制电动聚焦和变倍视频显微镜系统软件控制定位样品观察视野电动开关样品室门切换不同的测量模式，软件自动调节最优参数人体工程学设计

产品简介：全自动暗场金相显微镜WYJ-55Z采用优良的无限远光学系统，与多功能、模块化的设计理念。带有偏光装置、暗场装置。可实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，采用大理石底座，充分体现了显微镜操作的防振要求。总放大倍数:50X-500X功能特点:1、采用了优良的无限远光路设计，提供了**的光学系统2、超大视野目镜和明暗场长距平场物镜，视场平坦，成像清晰3、采用大理石底座设计，使仪器更稳定，**提高了抗震能力。4、全自动载物台，符合人机工程学的理想设计，操作方便舒适5、配置了偏光、暗场装置、可选配微分干涉装置，拓展了功能。6、整机采用了防霉处理，保护了镜头，延长了仪器的使用寿命7、两路光路自由切换输出，一路用于观察，一路连接摄像装置。典型应用: 1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验2、观察材料表面的某些特性。3、分析金属、矿相内部结构组织。

bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射InSight AFP是世上性能*高、行业首-选的先进技术节点CMP轮廓和蚀刻深度计量系统。将其现代尖-端扫描仪与固有的稳定电容式压力计和精确的空气轴承定位系统相结合，可以在模具的活动区域进行非破坏性的直接测量。 0.3纳米长期稳定提供NIST可追踪的参考计量，并在一年内保持测量的稳定性260-340个站点/小时内联应用程序的*高生产效率减少MAM时间和优化的晶圆处理可保持高达50个晶圆/小时的吞吐量高达36000微米/秒仿形速度通过热点识别提供高分辨率3D特征*高分辨率，尖-端寿命长InSight AFP的TrueSense技术，具有原子力分析器经验证的长扫描能力。亚微米特征的蚀刻深度、凹陷和侵蚀可以完全自动化地监控，具有无与伦比的可重复性，无需依赖测试键或模型。-----蚀刻和CMP晶片的全自动在线过程控制Insight AFP结合了原子力显微镜的新创新，包括Bruker的专有CDMode，用于表征侧壁特征和粗糙度。CDmode减少了所需的横截面数量，实现了显著的成本节约。此外，AFP数据提供了无法通过其他技术获得的直接侧壁粗糙度测量。自动缺陷审查和分类当今集成电路的器件缺陷比以往任何时候都小，需要快速解决HVM需求。InSight AFP提供了有关半导体晶片和PHTOmask缺陷的快速、可操作的地形和材料信息，使制造商能够快速识别缺陷源并消除其对生产的影响。100倍高分辨率配准光学元件和AFM全局对准可使图案化晶圆和掩模的原始图像放置精度低于±250 nm，确保感兴趣的缺陷是测量的缺陷。该系统与KLARITY和大多数其他YMS系统完全兼容。3D模具映射和HyperMap™ 分析速度高达36000μm/sec，能够对33mm x 26mm及更大的闪光场进行快速、完整的3D CMP后表征和检查。超2纳米的平面外运动，实现真正的大规模地形和全自动抛光后热点检测。在本例中，在24小时内以1微米x 1微米像素大小获得了完整的标准26毫米x 33毫米十字线场扫描。然后可以使用Bruker的热点检测和审查功能自动检测和重新扫描热点。

bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP——紧凑型高性能剖面仪和AFMBruker的InSight CAP自动原子力轮廓仪是专门为半导体制造商和供应商设计的CMP和蚀刻计量组合平台。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。 0.5 nm长期动态再现性用于关键工艺决策的直接、稳定的在线计量 亚纳米CMP自动计量的灵敏度，专用碟形和腐蚀计量包，用于无与伦比的过程控制和开发 20nm仿形平面度大于26mm针对关键EUV光刻技术开发和过程控制的高精度CMP后平面度计量 在线计量结果以分钟为单位，适用于蚀刻和CMP的技术开发和过程控制在高级技术节点，多模式光刻技术对CMP提出了纳米级的过程控制要求，以满足聚焦深度需求。InSight CAP围绕新一代AFM扫描仪构建，在65μm X/Y扫描范围内提供改进的平坦度，小于10纳米。该系统的NanoScopeV 64位AFM控制器提供了5倍更快的啮合性能和5倍更快的调整速度，以提高生产效率，所有这些都提高了可靠性。其DT自适应扫描模式也有助于加快扫描速度和改进计量。InSight CAP高分辨率剖面仪结合了多项先进功能，可在宏观凹陷和侵蚀中实现埃级精度测量。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。

Bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射InSight AFP是世上性能*高、行业首-选的先进技术节点CMP轮廓和蚀刻深度计量系统。将其现代尖-端扫描仪与固有的稳定电容式压力计和精确的空气轴承定位系统相结合，可以在模具的活动区域进行非破坏性的直接测量。 0.3纳米长期稳定提供NIST可追踪的参考计量，并在一年内保持测量的稳定性260-340个站点/小时内联应用程序的*高生产效率减少MAM时间和优化的晶圆处理可保持高达50个晶圆/小时的吞吐量高达36000微米/秒仿形速度通过热点识别提供高分辨率3D特征*高分辨率，尖-端寿命长InSight AFP的TrueSense技术，具有原子力分析器经验证的长扫描能力。亚微米特征的蚀刻深度、凹陷和侵蚀可以完全自动化地监控，具有无与伦比的可重复性，无需依赖测试键或模型。-----蚀刻和CMP晶片的全自动在线过程控制Insight AFP结合了原子力显微镜的新创新，包括Bruker的专有CDMode，用于表征侧壁特征和粗糙度。CDmode减少了所需的横截面数量，实现了显著的成本节约。此外，AFP数据提供了无法通过其他技术获得的直接侧壁粗糙度测量。自动缺陷审查和分类当今集成电路的器件缺陷比以往任何时候都小，需要快速解决HVM需求。InSight AFP提供了有关半导体晶片和PHTOmask缺陷的快速、可操作的地形和材料信息，使制造商能够快速识别缺陷源并消除其对生产的影响。100倍高分辨率配准光学元件和AFM全局对准可使图案化晶圆和掩模的原始图像放置精度低于±250 nm，确保感兴趣的缺陷是测量的缺陷。该系统与KLARITY和大多数其他YMS系统完全兼容。3D模具映射和HyperMap&trade 分析速度高达36000μm/sec，能够对33mm x 26mm及更大的闪光场进行快速、完整的3D CMP后表征和检查。超2纳米的平面外运动，实现真正的大规模地形和全自动抛光后热点检测。在本例中，在24小时内以1微米x 1微米像素大小获得了完整的标准26毫米x 33毫米十字线场扫描。然后可以使用Bruker的热点检测和审查功能自动检测和重新扫描热点。售后服务Bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP——紧凑型高性能剖面仪和AFMBruker的InSight CAP自动原子力轮廓仪是专门为半导体制造商和供应商设计的CMP和蚀刻计量组合平台。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。 0.5 nm长期动态再现性用于关键工艺决策的直接、稳定的在线计量 亚纳米CMP自动计量的灵敏度，专用碟形和腐蚀计量包，用于无与伦比的过程控制和开发 20nm仿形平面度大于26mm针对关键EUV光刻技术开发和过程控制的高精度CMP后平面度计量 在线计量结果以分钟为单位，适用于蚀刻和CMP的技术开发和过程控制在高级技术节点，多模式光刻技术对CMP提出了纳米级的过程控制要求，以满足聚焦深度需求。InSight CAP围绕新一代AFM扫描仪构建，在65μm X/Y扫描范围内提供改进的平坦度，小于10纳米。该系统的NanoScopeV 64位AFM控制器提供了5倍更快的啮合性能和5倍更快的调整速度，以提高生产效率，所有这些都提高了可靠性。其DT自适应扫描模式也有助于加快扫描速度和改进计量。InSight CAP高分辨率剖面仪结合了多项先进功能，可在宏观凹陷和侵蚀中实现埃级精度测量。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。售后服

仪器简介：研究级半自动智能数字式正置金相显微镜，适合金属、陶瓷、高分子材料、电子元器件, 粉尘颗粒、等样品的观察分析 模块化设计，可实现反射观察、透反射观察配置 复消色差光路，整体光路支持25视域 6孔位的物镜转盘，配接32mm直径工业物镜 观察方式可实现明场、暗场、偏光、干涉 机身内置12V100W的透、反射照明电源，可提供自动光强变化的高级照明方式 系统能自动记忆在不同物镜下和不同观察方式下最佳的光强、光阑大小及聚光镜的相应组合，自动恢复到位，操作简单快速 机座带液晶显示屏显示显微镜各部件工作状态、参数 光强、光阑、观察方式调节和聚光镜调节除可由按键控制外，还可由计算机控制操作，并自动在不同倍数物镜下拍的照片中加相应倍数标尺 具有色温恒定系统，提供工作效率 可配接摄像头，数码相机进行图像采集、分析、测量。 可配接荧光观察、高温热台、阴极发光仪、光度计 可配接4x4、6x6大样品台，观察芯片等大尺寸样品 可配接自动扫描台进行多视场金属夹杂物自动分析和全视场的颗粒粒度、清洁度分析

ECHO Pro™ 全自动超声波扫描显微镜全自动生产型:● 批量 Tray盘和框架直接扫瞄● 编程自动判别缺陷● 高产量,无需人员重复设置● 自动烘干SONIX 硬件优势● 紧凑、稳定的结构设计 模块化设计使得结构简单、稳定，易于维护● 高速、稳定的马达设计 扫描轴采用最先进的线性伺服马达，提供高速、稳定、无磨损的扫描● 专利的超声波探头/透镜 提供精确的缺陷检验，最小能探测到仅0.1微米厚度的分层。● PETT技术 反射及透射同时扫描，有效提高元器件分析效率

摘要：蔡司MY5000数字煤岩分析仪是以应用煤岩学理论为基础，结合ISO7404,GB6948等相关国标为依据，可测定多个应用煤岩学指标，为合理优化配煤提供了有力的数据支撑，是入厂煤检验和优化炼焦配煤技术的唯一有效手段！ 详细描述： 系统组成：由世界一流高品质 Zeiss 偏光显微镜、具有世界先进水平的HD型全自动显微镜光度计、按 Zeiss偏光显微镜量身设计、专业化定制的双光路视频接口、高精度高速数据采集系统、过程控制系统、功能强大的计算机软硬件系统有机组合成的完美煤岩自动化测定分析系统，成为强强联合的典范，得到了国内外广大用户的信赖与认可！MY5000系列全自动数字显微煤岩分析系统的优势与特点： 偏光显微镜采用了最先进的 ICCS 光学系统，大视野、平场物镜，宽视场双目观察目镜，与检偏器一体化的l可旋转补偿器等技术，使成像清晰、亮度均匀，细节明显，为高精度煤岩测定提供了成像保证。 显微镜光度计中采用了享有国际盛誉的PerkinElmer公司2003年推出的新型光电转换器，在暗电流、稳定性、稳定时间、精密度、线性度等特性方面较其他任何类型的光电转换器具有明显优势。采用了优于国家标准的4微米测量光栏并准确定位光路中心，保证了煤镜质组反射率测定的高精度。 采用1/65526分辨率高速数据采系统，严格的抗干扰措施与各种滤波技术，为自动化快速高精度测定提供了有力保障。 具有温度自动校正功能。可将不同温度下测定的反射率校正到标准温度状态，解决同一个正确测值在不同温度下数据不一致问题。 整个系统自动化程度高，操作方便，测定省时省力： (1)高度智能化，可通过鼠标或键盘完成所有操作。 (2)提供在线操作提示，可将误操作降至最低。 (3)配置带微尺的高速视频监控窗口，可替代观察显微镜操作。（配图） (4)配置自动样品移动尺，点、行间距分档可选。 （配图） (5)配置显微镜自动调焦系统，在自动测定过程中可自动调节显微镜焦距。（配图）数据处理功能完善 (1)自动按有关国家标准判断测定结果：凹口数、煤阶、煤种、煤类型。 (2)有处理重复性测定功能，可由重现性测定重汇反射率分布图 (3)可定量统计任意反射率范围百分比功能（指导炼焦配煤用） (4)可按区段统计反射率范围百分比功能（指导炼焦配煤用） (5)可自动依据测定结果给出煤国际分类标准要求的有关数据 (6)自带可管理反射率分布图的完善数据库，测定结果分类保存，方便查询与调用。 (7)所有测定结果都可导入WORD与EXCEL,供用户按自己要求进一步处理自动测定煤镜质组反射率 自动测定一个煤样的时间为10 分钟。大幅度节省时间测定时间，提高效率。特点： (1)仪器从测定结果自动挑选镜质组，消除测定到的粘结物（独有技术曾获美国科技中心优秀成果奖）。 (2)独有测定过程自动调节显微镜焦距技术，解决因焦距不准影响测值准确性问题。 (3)测定过程中可通过高速视频监控窗口监视。 (4)支持后台工作，测定时计算机可同时进行其它工作，如上网游览等。 (5)测定窗口给出测定进程与测定值。 (6)测定样品面积、总测定点数、点行间距分档可选。 (7)通过自带的回归方程消除自动测定带有的系统误差，将测定结果换算为相当于人工测定结果。优点: (1)测定速度快：每分钟测定1000点 (2)测定点数多：至少测定1万点 (3)测定省时省力 (4)不受人为因素干扰，测定结果客观公正。 (5)测定符合统计规律，测定结果重现性与再现性都优于有关国家标准。 (6)可满足焦化企业应用中快速、代表性好等要求。 (7)可发现人工或半自动测定由于测点少，不能测定到少量混入成分的问题。半自动测定煤镜质组反射率 (1)除镜质组需要人识别外，其他过程全部自动化。 (2)用鼠标与小键盘都可操作。 (3)测定面积、总测定点数可依据样品大小分档可选。 (4)自动按要求移动样品，测定结果公正客观。 (5)可利用带微尺视频监视系统观察、定位测定组分，脱离观察显微镜操作。 (6)可边测定边出测定结果。 (7)直接选择镜质组测定，测定结果准确。 (8)较传统人工测定方式省时省力，但较费时费力，且测定点数较少。 (9)半自动同时测定煤镜质组反射率与显微煤岩组分 (10)用一次测定时间，给出煤镜质组反射率与显微煤岩组分二项测定结果 (11)自动给出活惰性组分含量与活惰比半自动测定煤镜质组最大反射率 (1)定过程可自动旋转物台，自动寻找最大值。 (2)除需要人识别镜质组外，其他过程全部自动化。自动测定焦炭气孔率 (1)可自动测定直径大于5微米的气孔与气孔壁厚度。 (2)约20分钟测定10万点。 (3)给出的测定结果有：气孔率、平均气孔大小、气孔壁平均厚度、气孔大小与气孔壁厚度分布直方图等半自动测定焦炭光学组织 (1)测定特点同其项目它半自动测定 (2)按照国家有关标准给出各组织所占百分比与光学组织指数OTI 。焦化行业的应用 (1)依据镜质组反射率测定结果按有关国家标准自动鉴别煤阶与煤种 (2)由镜质组反射率分布图特征自动鉴别单煤或混煤、给出国家鉴别单混煤有关标准中的煤类型、凹口数与编码等参数反射率分布图为鉴别“掺假煤”唯一有效手段，作用独特，应用广泛。 对于混煤，提供大致确定混煤比例多种方法，适应不同情况: a.镜质组反射率分布上下限法：仅适合反射率分布图基本无重叠情况 b.曲线剥离分峰法：可适用于反射率分布图有重叠情况 c.反射率分布上下限结合曲线剥离分峰法：发挥上述二种方法的优点 (3)可准确计算混煤比例 (4)提供镜质组含量校正功能：可消除由镜质组代表整个煤而产生的误差。 (5)指导煤场合理堆放半自动测定焦炭光学组织 (1)测定特点同其项目它半自动测定 (2)按照国家有关标准给出各组织所占百分比与光学组织指数OTI 。焦化企业煤场有限而一个煤堆堆放几种来煤。按常规煤质指标指导堆放，由于不能鉴别单混煤，易造成人为二次混煤，导致焦炭质量不稳定 。 理论分析表明：反射率分布图一致的煤才适合在一起堆放，几种来煤堆放后的煤堆，煤质指标、反射率分布图等都应重新计算。采用指标： 1、煤堆随机反射率中心值与来煤随机反射率离异值 2、来煤分布范围容纳度Fi(%) 3、来煤反射率分布图重叠度Ci(％) 4、合成煤堆反射率分布图，计算煤堆煤质指标：灰分、硫分、反射率平均值、标准方差等半自动测定焦炭光学组织 (1)测定特点同其项目它半自动测定 (2)按照国家有关标准给出各组织所占百分比与光学组织指数OTI 。焦化企业煤场有限而一个煤堆堆放几种来煤。按常规煤质指标指导堆放，由于不能鉴别单混煤，易造成人为二次混煤，导致焦炭质量不稳定 。 理论分析表明：反射率分布图一致的煤才适合在一起堆放，几种来煤堆放后的煤堆，煤质指标、反射率分布图等都应重新计算。采用指标： 1、煤堆随机反射率中心值与来煤随机反射率离异值 2、来煤分布范围容纳度Fi(%) 3、来煤反射率分布图重叠度Ci(％) 4、合成煤堆反射率分布图，计算煤堆煤质指标：灰分、硫分、反射率平均值、标准方差等在煤层地质行业的应用： ★独有自动旋转载物台，自动测定煤镜质组最大反射率技术，研究煤的成熟度 ★独有煤镜质组反射率与显微煤岩组分百分含量同时测定技术。 自动给出活惰性组分含量与活惰比 在煤地质学的领域里，利用光学显微镜研究煤的显微组分已经有近百年历史，在显微镜下观察煤中由植物残体转变而成的各种显微组分（主要有壳质组、镜质组和惰质组等），根据各显微组分的典型组合划分出显微煤岩类型（如微镜煤、微惰性煤和微亮煤、微三合煤等），结合测量煤的反射率确定煤级（煤化程度），可以进行煤层对比、解决地层、古地理和古构造以及地热等方面的问题。在石油地质行业的应用： ★独有自动旋转载物台，自动测定煤镜质组最大反射率技术，研究煤的成熟度 ★鉴别干酪根显微组分，进行分类研究 ★确定烃源岩中有机显微组分含量完善的服务及强大的技术支持 蔡司煤岩分析产品秉承“前沿科学，回报社会”的理念，为全球客户提供满意的售后服务，对于本公司销售的卡尔蔡司煤岩分析产品，我们承诺提供先进的国际CRM 服务系统：A ．规范化的服务体系：产品售后服务具有1509001 服务体系认证资格，执行1509001 售后服务标准。B ．完善的呼叫服务中心：ZEISS 在中国设有统一的售后服务电话，对用户提出的技术及质量问题8小时内答复，如要求现场维修则24 小时内到达解决。C ．全国领先的保修政策：ZEISS 产品保修期1 年。终身维护酌情收费。我公司每年派技术工程师巡访用户一次，对设备的使用和维护提供建议和帮助。D．由中国煤炭标准化委员会煤岩分会委员，拥有HD全自动显微镜光度计、软件免费升级服务等。E ．免税备件服务：卡尔? 蔡司为了保证中国用户一旦出现产品故障时能够在快速维修好的同时节省维修费用，特在上海外高桥保税区成立了除德国本土以外最大的易损的备件库，大大缩短了设备备件变换维修的周期，更好更快的为中国用户服务。F．培训：我公司与国内权威机构合作为用户提供基础煤岩学及应用知识培训。实验室环境要求 实验室具备三防条件：防震（远离震源）、防潮（使用空调、干燥器）、防尘（地面铺上防静电地板或塑胶、墙壁不落灰）。 ★ 电源：220V 士10 % , 50HZ 。★ 相对湿度：不大于85 ％。

n主要用途：测试被测4,6寸wafer与LEDwafer产品的内部缺陷，如空洞、分层、裂缝、异物等；n优势简介：- 可用于4”,6”wafer SAM-CYGNUS LED测试- 带有全自动机械臂，可进行自动取片自动检测- 配置Wafer Map, BCR reader, Wafer Pre Aligner, Spin Coater System等全自动系统- 可用于测量材料表面与内部缺陷的位置与尺寸大小（Debonding, Delamination, Crack）- 可用于测量材料的厚度- 带Water jet 扫描系统- 带安全锁及报警系统- 噪声低：采用高精度linear-servo电机- 成像质量高，速度快，扫描精度高- 支持A, C, T 扫描模式n产品特色SAM-CYGNUS是一款全自动的wafer缺陷测试声学显微镜，可以对4,6寸wafer进行全自动无损检测，分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机，扫描速度快，同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式，如点扫描(A-)、纵剖扫描（B-）、横剖扫描（C-）、多层横剖扫描(X-）等。n主要参数- 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz- A/D 换能器：2GHz 取样频率, 1GHz带宽- 适合wafer尺寸：4”与6”- XY方向重复定位精度：±2μm- Z方向扫描范围：70mm- Z方向扫描分辨率：2.5μmn产品应用：wafer与LED芯片

徕卡DM4M主要技术特点您是否需要在许多样品和材料科学与分析领域进行成像、测量并分析类似特点？LeicaDM4M和LeicaDM6M是您理想的工业显微镜，无论您是新手还是专业人士。使用LeicaDM4M进行手动例程检查使用LeicaDM6M进行全自动材料分析您可轻松调用之前的显微镜设置并通过独特的软件功能“保存和调用”(StoreandRecall)即时复制成像参数。适用于任何类型的样本。一键式“智能自动化”可让您轻松搞定重复性工作。这些具有记忆功能的显微镜可帮您减少培训时间、改进工作流程和获得出色的成像结果—始终如一。“可复制”意味着“可靠”在诸如钢铁夹杂物比例测定、粒子分析、相位或颗粒分析等应用中，可复制性至关重要。LeicaDM4M和LeicaDM6M显微镜系统值得您的信赖，获得可复制的结果。始终如一！节省宝贵时间：凭借照明管理器(IlluminationManager)和相衬管理器(ContrastManager)，显微镜能够自动识别所选的相衬方法和正在使用的物镜，准确打开和关闭孔径光阑和视场光阑，且调整光线强度。共享和比较您的结果—随时随地！通过Leica显微镜副助手(LeicaMicroscopeAssistant，LeicaLAS“保存和调用”模块)保存和调用显微镜设置和摄像头参数。它们随图像一同保存和归档，并可随时恢复。选择您需要的组件选择满足您需求的个性化图像分析系统：LeicaApplicationSuite(LAS)软件平台将显微镜、软件和摄像头集成在一个软件包中，全面兼顾界面、功能和工作流程各个方面的效率。通过LeicaDM6M，您可使用附加的模块，例如钢铁专家(SteelExpert)、清洁度专家(CleanlinessExpert)、晶粒专家(GrainExpert)和相位专家(PhaseExpert)。轻松快捷！通过LeicaDM6M上的LeicaSmartTouch触控屏或者LeicaDM6M和LeicaSmartMove遥控上的可自由编程的各功能按钮，加速您的工作流程。LeicaDM4M可让您工作方便快捷：布局清晰的显示屏令所有显微镜设置一览无遗。六个功能键帮助轻松操作各种常用功能—无需从样品查找。无忧照明！LED照明有助于结果的可复制—无论您以明场(BF)、高动态暗场(HDF)、微分干涉相衬(DIC)、荧光(FL)还是偏振(POL)状态工作。可在任何显微镜设置下以恒定的色彩温度查看您的样品：无需每次亮度改变时都重置摄像头或调节白平衡。选择一种或多种可用的相衬观察方法，在样品上检测出更多的瑕疵和缺陷。节省能源和成本：LED照明可节省能源，使用寿命长达25,000小时，从而使因更换灯泡而导致的显微镜停机成为过去。精准细致！凭借全自动微分干涉相衬(DIC)和1.25倍全景物镜，即使最微小的细节徕卡工业测量显微镜也能检测到：无需费力，轻松达成您的目标：只需按下一个按钮，LeicaDM6M的所有系统组件(例如检偏器、起偏镜和适当的棱镜)便会自动移至光路径，同时每一个物镜的微调都得以保存。1.25倍全景物镜，出色呈现样品的概览。凭借LeicaDM4M，以出色的景深精准观察每一个细节。个性化选择！您需要能够进行半自动日常检查的显微镜吗？LeicaDM4M正是为您打造的半自动编码日常检查系统：2-齿轮手动调焦驱动器6位或7位编码物镜转盘手动3叠式载物台，6个符合人体工学设计的可编程按钮照明管理系统对比度管理器LED照明装置可实现所有对比度模式相衬模式：明场、暗场、微分干涉相衬、偏振、荧光LeicaApplicationSuiteX(LASX)您需要能够进行全自动材料分析的显微镜吗？LeicaDM6M正是能够实现最高精确度和可复制性的全自动检查系统：2-齿轮高精度电动调焦驱动器6位或7位电动物镜转盘手动或电动扫描平台触屏控制照明管理系统对比度管理器LED照明装置可实现所有对比度模式相衬模式：明场、暗场、微分干涉相衬、偏振、荧光LeicaApplicationSuiteX(LASX)软件为了更好的做化学分析，您可以使用搭载了LIBS的DM6M显微镜，得到更快速、精准的分析结果。

徕卡研究级专业偏光显微镜 DM4P DM4P是徕卡公司最新一代全新的智慧型计算机控制数码显微镜,是真正的全自动的智慧型研究级材料学显微镜.使用者可以设定存取个人专用的显微镜设定,光源强度会依照所使用的物镜及观察对比应用做自动调整, 以得到最佳光源强度 ( Automatic Light Adjustment ). 意即, 样品观察的亮度控制, 无论更换物镜与否, 皆维持恒定的光照强度, 不会产生过亮或过暗的缺点, 此优点, 也最适宜显微照相.使用者可通过按钮方式控制显微镜: 通过按纽:在显微镜机身上有六组按钮可控制显微镜,包括光强,孔径光阑,视场光阑,物镜转换,反光镜, 仅需单一按鍵, 即可以控制所有设定, 如此简易的人性化介面设计, 使用者可以在 透射光、反射光、 Phase Contrast, Fluorescence,等观察方式间快速切换与取像. 单一按键即可精确控制如此多且繁杂的显微鏡组件的切进切出控制, 可说是一件极为高难度的设计. 然而, Leica DM 显微镜的使用者可以避免使用错误, 进而专注自己的样品,在变换时,相关参数智慧型自动变换成理想状态.1. 若在明场状态下变换物镜,相应的光强度,孔径光阑自动变换到合理状态. 无论是使用透射光或反射光, 当你更换镜头时, 光圈皆会依照所使用的物镜及观察对比应用做自动调整 ( Automatic Diaphragm Adjustment ), 以得到最佳照明.徕卡DM4P是全功能的研究级偏光显微镜系统特点：DM4P的特点:采用先进的HC光学技术，即光学和结构尺寸的最优化组合。在整个光学系统内, 对影响显微镜性能的所有组件(物镜、镜筒透镜、目镜筒、目镜、摄像、照相/接口等) 及其参数进行全面的最优化组合。追求分辨率和图像反差的同一。改良的光亮、对比度、均匀度和分辨率高稳定的机身设计和温度补偿专利技术，防止因发热造成的焦平面漂移 带有色温平衡专利技术观察方式切换: 单个按钮操作技术,针对不同的观察方式或反差的选择,显微镜自动调节各个参数,使显微镜调整到预先设定的最理想的设置. 物镜转换时，显微镜能够根据不同的物镜自动调整光强和视场光阑、孔径光阑。功能按钮: 既可以用按钮也可以用计算机操作显微镜. 不同的功能按钮适用于不同客户的不同需要. 独特的光阑设计: 视场光阑和孔径光阑都采用可旋转的马达驱动圆盘,圆盘上有不同尺寸的圆洞,这样可做到照明方式的可重复. 独特的方形的视场光兰,适用于接数码摄像头,由于数码采集的感光晶片都为方形,这样可使图像采集更均匀,无阴影.状态显示:在机座前方有一个液晶屏,可实时显示显微镜的重要信息:光强,物镜,孔径光阑,视场光阑,透反射；显微镜放大倍数和显微镜观察方式。 可以100%恢复到同一观察条件的显微镜 六孔物镜转盘，可同时接六个可调中的偏光物镜， 5X、10X、20X、50X、100X倍半复消色差偏光物镜，每个物镜均可单独调中。 无应力物镜，优质的色差和平场校正 10x目镜，视场指数25、宽视野 更深度的无限远轴向、径向双重色差校正及反差增强的光学系统，从而提高分辨率，彻底消除杂散光等干扰因素，提供最高反差、最高衬度、最高分辨率的最锐利图像 最新人类工程学设计，坚固稳定的机身设计，合乎人体工程设计要求尺寸 物镜，优质的色差和平场校正最新人类工程学设计，工作舒适避免长时间工作疲劳对比度改良的第三代平行光路保证最好的光学效果 镀膜防霉，不用药剂的防霉 配置全波长、180度检偏器 起偏器和检偏器组成的正交偏光用于定量分析 圆形偏光物台360度旋转，旋转角度可以精确到0.1度 配置Leica原装DMC5400 2000万有效物理像素摄像头（1英寸靶面CMOS）和Leica原装控制软件，软件中英文、德文等多语言切换 配置原装分析软件，可以进行图像处理、放大、几何测量功能。 配置原装实时景深扩展模块可进行超景深合成，原装实时XY图片拼接软件