固润光电半自动探针台

各位，ICP-AES的自动进样器，S10的型号，自动进样器的探针怎么选呢？一般在哪买？我们的坏了http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09509.gif

求购 wentworth laboratories mp1008 型号手动探针台上的探针，有的麻烦联系一下。我的邮箱是ft540620@163.com

TMA的探针平台是石英的吗？刚在论坛里看到这个帖子 http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20111008/3573189/index.shtml，想到这个问题。TMA平台探针污染后会用酒精灯灼烧清洁，被加热部分很容易就被烧发红了

AFM探针分类及各探针优缺点 　　AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。 　　利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如AFM（范德法力），静电力显微镜EFM（静电力）磁力显微镜MFM（静磁力）侧向力显微镜LFM（探针侧向偏转力）等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。 　　原子力显微镜的探针主要有以下几种： 　　（1）、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。 　　（2）、 导电探针：通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt（以及别的提高镀层结合力的金属，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。 　　（3）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。 　　（4）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度 9μm；长径比5:1；针尖半径 10 nm。 　　（5）、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。 　　还有生物探针（分子功能化），力调制探针，压痕仪探针

要求：进口的， 12寸，二手的手动探针台，带显微镜。如有此仪器的请联系我，具体的配置可再详谈。邮箱：2401493191@qq.com

[color=#444444]请教一下各路大神，用来做表面增强拉曼光谱的话，常用的探针里有没有无毒的，比如说像R6G什么的还是有毒的，或者说有没有相对来说毒性小一点的，10-4M浓度左右皮肤接触伤害不大的？[/color]

提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作常见的探针类型：（1）、导电探针（电学）：金刚石镀层针尖，性能比较稳定（2）、压痕探针：金刚石探针针尖（分为套装和非套装的）（3）、氮化硅探针：接触式 （分为普通的和锐化的）（4）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

求助： 很久以前见过一个专卖二手测试仪器的网址，但是现在找不到了。请知道的朋友告诉一声。我想买一台二手的台阶仪（探针接触式）的。

同事用TMA做玻纤样品，最高温度升至700℃，结束后发现探针平台粘到一起了。这种情况应怎么处理？请各位老师各位同学支招！

现在用的是ESI源，当我用负离子模式时 发现 旁边的APCI探针发紫光，而且没有峰出现。 但是用正离子模式时候又没有这种现象。求 解啊 ？？？？

[b][size=4]利用双(2, 4, 6)三氯苯基过氧化草酸酯( TCPO) 2过氧化氢(H2O2 ) 2咪唑2荧光探针的化学发光体系,研究了荧光探针化学发光成像,对几种常用的荧光探针(丁基罗丹明、罗丹明B、罗丹明6G、荧光素及异硫氰酸荧光素等)进行了定量分析。本方法具有高灵敏度、成像分析高通量等优点,线性范围宽,检出限达10 - 11mol/L。对四甲基异硫氰酸罗丹明(TR ITC)标记的单克隆羊抗人IgG的化学发光成像分析,比相同条件下荧光成像的检出限低一个数量级。[/size][/b]

在紫外-可见-近红外区有特征荧光，并且其荧光性质(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)可随所处环境的性质，如极性、折射率、黏度等改变而灵敏地改变的一类荧光性分子，包括有机试剂或金属螯合物。 　 最常用于荧光免疫法中标记抗原或抗体，亦可用于微环境，如表面活性剂胶束、双分子膜、蛋白质活性点位等处微观特性的探测。通常要求探针的摩尔吸光系数大，荧光量子产率高；荧光发射波长处于长波且有较大的斯托克斯位移；用于免疫分析时，与抗原或抗体的结合不应影响它们的活性。 　也可用于标记待定的核苷酸片断，用与特异性地、定量地检测核酸的量。如Ca2+荧光探针：钙黄绿素（Calcein）,Fluo-3,Fura-2/AM Mg2+荧光探针：Mag-Fura-2,[Dy-Mn]聚合物

半导体测试手动探针台是专门为教学及科研机构量身定制的，具有良好的性能价格比，可测量pA级微小电流，配合测量仪器可完成标准MOS准静态C-V和高频（1MHz）C-V等测量要求。操作简便，性能稳定可靠，屏蔽效果好。客户名录：复旦大学、北京大学、清华大学、北京师范大学、北京化工大学、中科院化学所、大连理工大学、 济南大学、哈尔滨工业大学、南京大学、浙江大学、中科院长春光机所、天津理工大学、北京宇极芯片、四川大学、中科院苏州纳米所等。电话：62146659 13801327034刘熠

[font=arial, helvetica, sans-serif]2024年3月19日半导体制造业提供温度管理解决方案的领导者ERS electronic推出了Luminex 产品线的首台机器，该机器采用尖端的光学拆键合技术，适用于最大600 x 600 毫米的面板和不同尺寸的晶圆。[/font][align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202403/uepic/392250f9-7677-4a68-b452-31bbf27884a3.jpg[/img][/align][font=arial, helvetica, sans-serif]光学拆键合是一种无外力的拆键合方法：通过使用精准可控的闪光灯将载体与基板分离。光学拆键合工艺的关键部件是带有光吸收层（CLAL）的玻璃载板，它能将灯的光能转化为热能，从而顺利实现分离。有了 CLAL，就不再需要对载板进行涂层和清洁，从而减少了工艺步骤以及相关复杂程序和成本，与传统的激光拆键合相比，可为用户节省高达 30% 的运营成本。[/font][font=arial, helvetica, sans-serif]ERS 半自动设备属于 Luminex 产品系列的第一台设备。目前，ERS 正在开发用于 300 毫米晶圆的全自动设备，该设备将于本年第二季度末发布。作为综合产品线的一部分，公司将提供带有多个模块化附加组件的自动设备，进一步提高产品质量和产量。[/font][font=arial, helvetica, sans-serif]"ERS公司副总裁兼APEqS业务部负责人Debbie-Claire Sanchez表示："光学拆键合是半导体制造领域的一次重大飞跃。" Luminex 生产线的第一台机器是从事先进封装开发或新产品引进的研发团队的绝佳跳板，在此也诚邀各公司将样品寄给ERS进行测试。"[/font][font=arial, helvetica, sans-serif]从四月份开始，这台半自动设备将分别配备在 ERS 中国上海和德国的实验室，用于测试客户的晶圆和面板样品以及样品演示。[/font][font=arial, helvetica, sans-serif]关于ERS：[/font][font=arial, helvetica, sans-serif]ERS electronic GmbH位于慕尼黑郊区的Germering，50多年来一直为半导体行业提供创新的温度管理解决方案。该公司以其快速、精确的基于空气冷却的温度卡盘系统赢得了卓越的声誉，其测试温度范围为 -65 °C 至 +550 °C，适用于分析、参数相关和制造针测。2008 年，ERS 将其专业技术扩展到先进封装市场。如今，在全球大多数半导体制造商和OSAT的生产车间都能看到他们的全自动、手动拆键合和翘曲矫正系统。公司在解决扇出晶圆级封装制造过程中出现的复杂翘曲问题方面的能力得到了业界的广泛认可。[/font][font=arial, helvetica, sans-serif]消息来源：ERS electronic GmbH[/font][来源：仪器信息网][align=right][/align]

扫描探针显微镜操作规程一、 接触模式：Contact mode1. 开启设备1.1 依次打开电脑、变压器电源、SPM 控制器电源。1.2 双击SPM 快捷方式，出现SPM manager 窗口，单击setting 的data path，预设数据的存储目录，待SPM 控制器电源显示栏底部显示ready 后点击online。2．固定样品，安装到检测台2.1 检查AFM 头部，确保探针与样品台之间有足够的空间放样，如果距离不够，点击工具栏中release 按钮，直至距离足够时，点击stop。2.2 用双面胶将样品固定于铁片中心上，随后将其置于样品台的中心位置。样品的最大尺寸不超过24mm（直径），8mm（高度）。3. 选择扫描模式在setting 下拉菜单中选择mode and scanner，选中扫描模式（contact mode）和扫描器的大小，点击ok。4. 光路调节4.1 打开setting 下拉菜单中scanner condition，将其operating 值设为0。4.2 打开setting 下拉菜单中panel display，选中vertical deflection，调节激光控制旋钮（样品台右边的前后旋钮），使激光打在悬臂尖端，至少保证信号显示面板上一半的LED 指示灯发亮。4.3 若显示面板上的数值在-5-5 之间，直接调节检测器控制旋钮（垂直方向，即样品台左边的后面旋钮）至显示面板上的数值为0；若显示面板上数值的绝对值大于5，需先调节反光镜使其在-5-5 之间（保持信号显示面板上至少一半的LED 指示灯发亮），再用同样方法将数值调零。4.4 选中panel display 中的horizontal deflection，调节检测器控制旋钮（水平方向，即样品台左边的前面旋钮）至显示面板上的数值为[

原有磨样设备老旧，样品数量增多，准备后入两台磨样机，一台砂轮磨生铁样品，一台砂带或砂纸磨钢样。样品较多帮忙推荐两台自动或半自动的设备。

ICT测试治具在使用的过程中通常需要用到探针来进行测试，探针是电测试的接触媒介，是一种高端精密型电子五金元器件。探针的选用主要是根据ict测试治具线路板的中心距和被测点的形状而定，PCB板上所要测试的点与点之间越近，选用探针的外径也就越细。http://www.guoluzaiju.com/uploadfile/2012/0522/25741337657617.JPG通常ICT测试治具所用的探针有很多的规格，针主要是由三个部份组成：一是针管，主要是以铜合金为材料外面镀金；二是弹簧，主要琴钢线和弹簧钢外面镀金；三是针头，主要是工具钢（SK）镀镍或者镀金，以上三个部分组装成一种探针。 在选择探针的过程中应该要考虑以下几个因素： 1、探针质量需要符合要求 在ICT测试中对于探针的质量也是有很大的要求的，也就是说若是探针的质量是存在问题的，那么不仅会造成测试结果存在问题，还会造成其他的问题出现，因此人们在选择测试治具探针的时候一定要做好全面的检查工作，要保证质量2、探针型号需要符合要求 针对于ICT测试中不同的情况，不同的测试距离对于探针的型号的要求就会有很大的不同，我们应该根据不同的线路板的中心距和被测点的形状来选择探针型号。以上就是为大家总结的有关ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么的介绍，希望可以帮到大家，本文出自：http://www.guoluzaiju.com/show-267-3378.html【捷甫电子,陈勇兵,0755-89494572 http://www.guoluzaiju.com/】公司专业生产、销售ICT在线测试仪（TR-518FE、TR-518FR、TR518FV）、ICT测试治具，功能（FCT）测试治具、DIP/SMT过炉治具（载具）、自动测试系统、成型设备、BGA测试治具，提供各种ICT测试仪的维修保养。公司专注于ICT测试仪和测试治具8年。

面扫描和点分析一样不？有什么区别么？[em0806]点分析是电子探针测试的么？

各位专家各位朋友大家好！请教一下用电子探针测试碳纤维径向元素分布的问题（纤维直径20um左右，由于不是成品导电性不好）我的测试方法，是将纤维（直径20um左右）埋在树脂里制成金相，打磨抛光后，露出纤维截面，喷碳后，用导电胶粘在电子探针样品台上，在显微镜里观察纤维，但纤维总是飘动，且看不清，原因应该是导电不好或者是我的金相没有制备好。由于电子束难以聚集在纤维上，没能测出纤维截面上径向的氧元素分布。想请教一下你们是怎么做的呢？这个问题也困扰了我很久，期待大家的回复。

上海新拓分析仪器科技有限公司最新自主研发的SPME-S-01固相微萃取探针，适用于环境水样、食品、香精、香料、农药农残、挥发性物质（VOC）等样品的前处理。产品采用全金属结构，物理耐久度更高。44μm PDMS 固相微萃取探针，兼容现有商用SPME装置或仪器设备。 如果您想体验方便快捷、绿色环保的固相微萃取技术，您想使用富集效果更好的探针，您想尝试寿命更长、价格更大众化的探针，不要犹豫，马上来报名参加SPME-01-S固相微萃取探针免费试用活动吧！参与征文，发布使用心得，更有机会赢得大奖！1. 试用产品：SPME-S-01 固相微萃取探针3支；2. 试用申请的提交时限即日起至2013-7-31；试用报告的提交时限2013-6-1至2013-8-31；3. 访问活动页面，填写并发送使用申请表格，我们的工程师会在第一时间与您联系，并根据您的信息、提供具体的试用条件以及试用结果预期评估，快递使用产品至指定地点；4. 如果您对试用情况满意，只需提供我们详细的试用报告（包括详细的样品前处理过程、谱图和分析方法等），就能参与有奖征文活动，参与赢取IpadMini等大奖！ 若同时将试用情况回复发布此帖，便可直接获得罗技无线鼠标一个！ （抽奖结果将通过电话或邮件通知获奖者，并在公司官网及本帖进行公布。）5. 如果您不方便提供试用报告，也请留下联系方式，我们的工作人员会就是否能试用与您联系，给您一个满意的答复。6. 作为试用客户，您更能以超低价格购买此款固相微萃取探针。更多相关产品信息和应用数据请浏览产品信息，如有任何疑问，欢迎垂询。

电子探针的样品台突然出现问题（前天还正常操作的，过了一个晚上就突然移到别的地方了），偏离了正常位置较远，现在点击初始化也没用，恢复不了，也无法移到样品交换的位置，打开样品室的灯后发现样品台偏离较远，操作杆够不着。大家平时有没有遇到过类似的问题，求帮助！！！感激不尽

四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、 配有双数字表： 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围：10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4 探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3 探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度10 万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。

[url=http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/fluorescent-probes.html][b]近红外荧光探针[/b][/url]采用fluoptics公司近红外荧光探针标记，AngioStamp™ 和sentidye™ .AngioStamp是一个近红外™ 肽，可以标记肿瘤和血管。sentidye™ 是脂质分子，用于淋巴结和血管成像。[b]近红外荧光探针应用[/b]肿瘤• 血管生成• 血管网• 淋巴结和淋巴管[b][b]近红外荧光探针[/b]AngioStamp™ AngioStamp是[/b]以αvβ3整合素为靶点的近红外荧光探针，可用于标记肿瘤或研究血管生成。AngioStamp™ 是肽绑定到近红外荧光分子。AngioStamp™ 是两波长（700 nm和800 nm）之间的靶向探针。AngioStamp™ 兼容Fluobeam以及活体成像系统等，还可以用于显微镜。只供实验室使用。这些产品仅用于动物研究，不用于人类。[b][b]近红外荧光探针[/b]sentidye™ 近红外荧光探针[/b]sentidye™ 是近红外荧光脂质分子，可以用来标记淋巴系统或血管网。皮下注射时，sentidye™ 是由淋巴系统和标签最近的淋巴结。静脉注射后，sentidye™ 作为血池剂显示血流，血管灌注模式。[b][b]近红外荧光探针[/b]AngioLone™ [/b]angiolone™ 是angiostamp™ 分子没有近红外荧光。angiolone™ 是靶向肽，建议将您选择的荧光基团进行接枝。AngioStamp™ ，AngioLone™ 目标βαV 3整合素和可用于标记蛋白过度表达的肿瘤或血管生成。[img=近红外荧光探针]http://www.f-lab.cn/Upload/fluorescent-probes.JPG[/img]近红外荧光探针：[url]http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/fluorescent-probes.html[/url]

与乙酰胆碱酯酶活性位点结合的荧光探针有哪些 ?谢谢！

[color=#444444]设计了一个荧光探针，在用275nm激发的时候，发射峰有在380和395有一个强的双发射峰，但在520nm处也有一个小发射峰。再用380nm激发的时候，520nm出的发射峰就变得特别强，380和395处的就弱了。请问这是为什么，我的发射峰应该是哪个[/color]

荧光体掺杂SiO2 微/纳米颗粒以其荧光强度高、光稳定性好、表面易修饰、生物毒性小等优点，为生物分析领域提供了新的荧光探针。迄今为止，用于掺杂的荧光体主要有荧光素衍生物、罗丹明衍生物、联吡啶钌等亲水性荧光体，通过StÖ ber 法和微乳液法[1]以共价或静电作用方式包埋于SiO2 微/纳米颗粒中。而对于许多光稳定性好、量子产率相对较高的荧光体，如芘(pyrene)、1,2,3,4,5-五苯基-1,3-环戊二烯(PPCP)、红荧烯(rubrene)等，由于疏水性强，不易衍生化，无法利用上述方法制备微/纳米荧光探针，限制了其在生物分析中的应用。

请问这里有人做 enzyme-based amperometric biosensor 么？我是学生物出身的，对电化学不太了解我用的是pt的探针，然后coating酶，依靠检测酶化反映后生成的h2o2在高压＋７００mV 条件下氧化反映传出的电信号来测量反应物质的含量。我现在的问题就是探针本身的基础电信号不稳定，连接，断掉，再连接以后的基础电信号就不一样了。还有体外和体内的电信号不一样。我觉得应该跟连接有关，还怀疑是否跟探针针头有可能出现的气泡有关。。。希望能有电化学方面的高人指导

1、标准编号：GB/T 15074-2008 标准名称：电子探针定量分析方法通则简介： 本标准规定了电子探针定量分析过程中仪器的安装要求、工作条件、标样选择、基本操作过程、各种校正处理方法及结果报告内容。 本标准适用于具有波谱仪的电子探针分析仪对试样中各元素组成定量分析测量及数据处理。2、标准编号：GB/T 15244-2002 标准名称：玻璃的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了电子探针和扫描电子显微镜的X射线波谱仪、X射线能谱仪对玻璃的定量分析方法。本标准适用于玻璃试样（包括含碱金属玻璃）的定量分析。3、标准编号：GB/T 15245-2002标准名称：稀土氧化物的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了用X射线波长色散光谱仪进行稀土氧化物的定量电子探针分析方法。本标准适用于对稀土氧化物组成体系的平面、抛光固体样品的定量电子探针分析。4、标准编号：GB/T 15246-2002标准名称：硫化物矿物的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了用电子探针进行硫化物定量分析的标准方法。本标准适用于在电子束轰击下稳定的硫化物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物的电子探针定量分析。本标准适用于以X射线波长分光谱仪进行的定量分析；其主要内容和基本原则也适用于以X射线能谱仪进行的定量分析。5、标准编号：GB/T 15616-2008标准名称：金属及合金的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了用电子探针对金属及合金的化学成分进行定量分析的方法。本标准适用于金属和合金试样立方微米尺度的微区成分分析，分析素的范围是11Na~92U。本标准也适用于用配置了波谱仪的扫描电子显微镜对金属及合金做定量分析。6、标准编号：GB/T 15617-2002 标准名称：硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了电子束下稳定的天然和人工合成硅酸矿物的电子探针或扫描电子显微镜中X射线波长色散光谱仪的定量分析方法。本标准也适用于其他含氧盐、如磷酸盐、硫酸盐等矿物以及普通氧化物。其基本准则也适用于X射线能谱仪的定量分析。7、标准编号：GB/T 17360-2008 标准名称：钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Ｓｉ、Ｍｎ的电子探针定量分析方法，即标定曲线法。 本标准适用于带波谱仪的扫描电镜。8、标准编号：GB/T 17362-2008标准名称：黄金制品的电子探针定量测定方法简介： 本标准规定了用电子探针波谱仪进行黄金制品定量分析的技术方法和规范。本标准适用于各种Ｋ金制品含金量的测定，也适用于表面含金层厚度大于３μm的镀金制品的包金制品的表层含金量的测定。9、标准编号：GB/T 17365-1998标准名称：金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法10、标准编号：JJF 1029-1991标准名称：电子探针定量分析用标准物质研制规范11、标准编号：SY/T 6027-1994 标准名称：含氧矿物电子探针定量分析方法12、标准编号：GB/T 16594-2008标准名称：微米级长度的扫描电镜测量方法简介： 本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的方法，适用于测量0.5～10μm的长度，也适用于电子探针分析仪测量微米级长度。13、标准编号：GB/T 17359-1998标准名称：电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则简介： 本标准规定了与电子探针和扫描电镜联用的Ｘ射线能谱仪的定量分析方法的技术要求和规范。 本标准适用于电子探针和扫描电镜Ｘ射线能谱仪对块状试样的定量分析。14、标准编号：GB/T 17722-1999标准名称：金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法简介： 本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求，本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度，适用的厚度测量范围为0.2~10um。其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。15、标准编号：JB/T 7503-1994标准名称：金属履盖层横截面厚度扫描电镜 测量方法简介： 本标准参照采用ISO 9220-1988(E)。 本标准规定了金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法的技术要求。 本标准适用于测量横截面中微米级到毫米级的金属覆盖层厚度。