环境气流分布测试系统

[align=center][/align][align=center][img=,361,450]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190701/156197148029231.jpg[/img][/align][align=center][b]显微热分布测试系统[/b][/align]LED的诞生是现代生活的一大进步，LED在逐渐成长的过程中，伴随许多失效、故障等问题，然而这些问题的罪魁祸首首指发热问题，LED的发热不均往往会成为LED功能降低甚至失效的原因，为此，金鉴采用法国的ULIS非晶硅红外探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造高精智能化的测试体系,整合出一套显微热分布测试系统，价格远低于由国外同类产品，同样的功能，但却有更精确的数据整理系统、更方便的操作体系，正应证了“最好的检测设备是一线的测试工程师研发出来的！”这句话。金鉴显微热分布测试系统已演化到第四代：配备20um的微距镜，可用于观察芯片微米级别的红外热分布；通过软件算法处理，图像的分辨率高达5um，能看清芯片晶道；高低温数显精密控温系统，可以模拟芯片工作温度；区域发射率校准软件设置，以达到精准测温度的目的；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。[b]与传统红外热像仪相比，金鉴显微热分布测试系统优点显著：[/b][align=center][img=,715,864]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154647612434531.jpg[/img][/align][color=#666666][/color][color=#666666][/color][align=center][/align][b]应用领域：[/b][color=#666666]芯片电极设计、芯片来料检验、失效分析、灯具热分布测量、灯具灯珠芯片升温热分布动态采集、集成电路失效分析、无损失效分析。[/color][color=#666666][/color][b][/b][color=#666666][b]金鉴显微热分布测试系统特点：[/b][/color][b]1. 20μm微距镜，通过软件强化像素功能将画质清晰度提高4倍，图像分辨率提高至5μm，可用于观察芯片微米级别的红外热分布。[/b]LED芯片是LED产业的最核心器件，芯片温度过高会严重影响LED产品质量； 但芯片及芯片内部的温度分布一直是检测难点；金鉴自研发的显微热分布测试系统可对LED芯片温度进行检测，通过对内部的温度分布分析，改善设计，提高LED产品质量。金线和正负电极的温度分布状况可以为研发人员提供布线设计依据，以及为芯片研发散热系统提供直观的芯片热分布数据。[align=center][img=,500,323]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364372896451.jpg[/img][/align][align=center]芯片热分布图[/align][align=left][b]2. 模拟器件实际工作温度进行测试，测试数据更真实有效[/b]LED光源的光热性能受温度的影响较大，脱离实际工作温度所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。而金鉴自主研发的显微热分布测试系统配备有高低温数显精密控温平台，能稳定控制灯珠引脚温度和基板温度，模拟模拟器件实际工作温度进行测试，提供更为真实有效的数据。该测试平台还配备有水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题，该系统还可以稳定控制样品台温度维持在0℃-室温，适用于一些需要保持低温工作的器件。[/align][b]3. 1TB超大视频录制支持老化测试等长期实时在线监测[/b]金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像可以保存每一帧画面所有像素的温度数据，支持逐帧分析热过程和变化，更容易发现和确认真实的温度值，以及需要进一步检查的位置。工程师可以利用显微热分布测试系统记录灯具发热红外视频，分析出在不同的工作时间，灯具温度变化和温度分布情况，在此基础，达到分析评估LED灯具散热效果，寻找异常温度区域，定位关键失效点。（1）手机可直接录制1000帧热像视频，没有电脑也能自动采集数据。（2）自定义采样速率（最快5帧/秒）。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20170822/150338472976931.gif[/img][/align][align=center][b]灯具温升变化图[/b][/align][align=center][img=,666,300]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364376732981.jpg[/img][/align][align=center][b]灯珠芯片温升变化图[/b][/align][b]4.热灵敏度和分辨率高，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。[/b]专业测温，-20℃~650℃宽温度量程，测温误差±2℃或±2%。热灵敏度0.03℃，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。红外分辨率640x480，若使用算法改进的像素增强功能，可有4倍图像清晰度，画质提升为1280x960。[align=center][/align][b]5.支持12个点，12个框和3条线的实时温度显示、分析功能，可导出时间温度曲线、三维温度图等测试数据。[/b][align=center][img=,399,377]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364402379501.jpg[/img][/align][align=center][/align][b]时间温度曲线： [/b] [align=center][img=,399,256]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364403442621.jpg[/img][/align][b]三维温度图：[/b][align=center] [img=,399,287]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364428040661.jpg[/img] [/align][b]6.手机触屏操作界面，简单易学，即开即用。[/b][align=center][b] [img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364429058891.jpg[/img][/b][/align]手机可直接录制1000帧热像全辐射视频；温变过程实时捕捉；没有PC也能自动采集数据。[b]7. 定制化的热像分析软件[/b]金鉴定制PC端、APP分析软件: IR pro、JinJian IR针对LED产业开发的特殊应用功能，人性化的操作界面，更适合LED失效分析、研发测试，纠正多种错误测温方式，开发新的应用领域。具备强大的热像图片分析和报告功能，方便做各个维度的温度数据分析和图像效果处理。[align=center][/align][b]案例一：[/b]客户送测LED芯片，委托金鉴在指定电流条件下（30mA、60mA、90mA）进行芯片热分布测试。其中60mA为额定电流。点亮条件：30mA、60mA、90mA环境温度：20~25℃/40~60%RH[align=center][img=,666,200]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180824/153509640881861.jpg[/img][/align]灯珠正常使用时，额定电流为60mA。金鉴通过显微热分布测试系统发现，该芯片在额定电流下工作，芯片存在发热不均匀的现象，其负极靠近芯片边缘位置温度比正电极周围高10度左右。建议改芯片电极设计做适当优化，以提高发光效率和产品稳定性。该芯片不同电流下（30mA、60mA、90mA）都存在发热不均的现象，芯片正极区域温度明显高于负极区域温度。当芯片超电流（90mA）使用时，我们发现过多的电流并没有转变成为光能，而是转变成为热能。[b]案例二：[/b]某灯具厂家把芯片封装成灯珠后，做成灯具，在使用一个月后出现个别灯珠死灯现象，委托金鉴查找原因。本案例，金鉴发现该灯具芯片有漏电、烧电极和掉电极的现象，通过自主研发的显微热分布测试仪发现芯片正负电极温差过大，再经过FIB对芯片正负电极切割发现正极Al层过厚和正极下缺乏二氧化硅阻挡层。显微热分布测试系统在本案例中，起到定位失效点的关键作用。[b]对漏电灯珠通电光学显微镜观察：[/b]金鉴随机取1pc漏电灯珠进行化学开封，使用3V/50uA直流电通电测试，发现灯珠存在电流分布不均现象，负极一端处的亮度较高。[align=center][img=,380,176]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364441723001.jpg[/img][/align][b]对漏电灯珠显微红外观察：[/b]使用金鉴自主研发的显微热分布测试系统对同样漏电芯片表面温度进行测量，发现芯片正负电极温度差距很大，数据显示如图，负极电极温度为129.2℃，正极电极温度为82.0℃，电极两端温差30℃。[align=center][img=,500,340]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364442845471.jpg[/img][/align][align=center][/align][b]死灯芯片负极金道FIB切割：[/b]根据显微热分布测试系统仪的测试数据，金鉴工程师把芯片失效原因定位到芯片自身结构问题上，因此对死灯灯珠芯片靠近负极电极烧毁位置下方的金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，铝（Al）层与第1层铬（Cr）层结合良好。芯片负极的铝层厚度约为100nm。[align=center][img=,666,253]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364468261691.jpg[/img][/align][b]死灯芯片正极金道FIB切割：[/b]金鉴工程师对死灯灯珠芯片正极金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，金鉴发现： 1.Cr-Al-Cr-Pt层呈现波浪形貌，尤其ITO层呈现波浪形貌，ITO层熔点较低，正极在高温下，芯片正极ITO-Cr-Al-Cr-Pt层很容易融化脱落，这也是金鉴观察到前面部分芯片正极脱落的原因。2.芯片正极的铝层厚度约为251nm，明显比负极100nm要厚，而负极和正极Cr-Al-Cr-Pt-Au是同时的蒸镀溅射工艺，厚度应该一致。3.在芯片正极金道ITO层下，我们没有发现二氧化硅阻挡层。而没有阻挡层恰好导致了正负电极分布电流不均，电极温差大，造成本案的失效真因。[align=center][img=,666,248]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364469315711.jpg[/img][/align][b]案例三[/b]：委托单位送测LED灯珠样品，要求使用显微热分布测试系统观察灯珠在不同电流下表面温度的变化情况。[b]对大尺寸的倒装芯片进行观察：[/b]开始时样品电流为1A，此时芯片表面温度约134℃；一段时间后，电流降低到800mA，温度在切换电流后的2s内，温度下降到125℃，随后逐渐下降到115℃达到稳定；紧接着再把电流降低到500mA，10s后，温度从115℃下降到91℃。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180117/151615185081841.gif[/img][/align][b]对小尺寸的倒装芯片进行观察：[/b]样品在300mA下稳定时，芯片表面温度约为68℃；电流增加到500mA，10s后温度上升到99℃；随后把电流降低到200mA，13s后温度下降到57℃，此时把电流增加到400mA，芯片表面温度逐渐上升，在20s后温度达到稳定，此时温度约为83℃；最后把电流降低到100mA后，温度逐渐下降。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180117/151615186735561.gif[/img][/align][align=center][/align][b]案例四：分析固晶工艺[/b]1. 某公司灯珠发生死灯，开封后可以观察到外延层烧毁、金道烧毁、电极脱落。[align=center][img=,500,376]http://www.gmatg.com/uploads/images/20181230/154616504555201.png[/img] [/align]进一步对失效品灯珠进行金相切片，可以观察到失效品灯珠芯片与固晶胶存在剥离现象。（备注：固晶胶采用的导热绝缘胶）[align=center][img=,666,248]http://www.gmatg.com/uploads/images/20181230/154616575577541.png[/img] [/align]3. 进一步取固晶胶剥离与未剥离的灯珠芯片，使用金鉴实验室自主研发的热分布测试仪，对固晶胶剥离与未剥离芯片进行热分布测试比对，比对结果如下图所示：[align=center][img=,666,226]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650720866911.png[/img][/align]结果显示：固晶胶剥离灯珠芯片表面温度比未剥离芯片表面温度高约110℃，温度相差极大。分析原因，固晶胶脱落导致热量无法通过灯珠支架顺利传导出去，造成芯片周围环境温度变高，灯珠芯片温度升高。该芯片负极区域发热量大，芯片工作环境温度升高时，芯片负极区容易出现温度过高烧毁。 [b]案例五：判定多芯片灯珠发热情况[/b]客户送测LED灯珠，委托金鉴进行灯珠体检，帮助提升其产品性能和质量。[b]显微热分布测试灯珠芯片热分布：[/b][align=center][img=,666,283]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650721893231.png[/img][/align]从热分布图中我们发现，该灯珠两颗芯片发热量不一致，A芯片表面温度为61.4℃，B芯片表面温度为70.7℃，温度相差9.3℃，这种情况将会严重影响灯珠性能及可靠性。其原因是：LED芯片较小的电压波动会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片热功率出现差异。客户针对此种情况，加强对来料芯片电压分BIN的卡控后，杜绝了该种异常现象，其灯珠性能及可靠性得到大大提高。[b]案例六：显示屏热分布监测[/b]PCB板大屏显示模组存在过热区，过热区亮度会偏低，高温还会加速LED光源的老化，热分布不均势必会造成发光不均，影响显示模组清晰度。在显示屏分辨率快速提升的当下，光热分布不均已成为制约LED显示屏清晰度的最大因素。因此，提升LED显示屏光热分布均匀性对提高当下LED显示屏清晰度，意义重大！[align=center][img=,666,289]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650722679251.png[/img][/align][b]案例七：定位电源失效区域[/b]委托单位电源出现失效现象，委托金鉴查找电源失效原因。在该案例中，金鉴使用显微红外热分布测试系统对电源进行测试，发现电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，经测温发现该电阻温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。[align=center][img=,666,253]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190107/154682171825381.png[/img][/align][b]案例八：电源失效分析 [/b]委托单位反馈该款电源在使用约一年时间后出现烧毁失效，委托金鉴查找电源失效原因。金鉴使用显微红外热分布测试系统对电源进行温度测试，碳膜电阻R9温度高达157.4℃，热敏电阻温度为101.0℃。一般建议碳膜电阻的最佳工作温度为70℃以下，热敏电阻的工作温度在120℃以内，而该电源中碳膜电阻在157.4℃温度下满载工作，因此工程师迅速锁定了该异常点。[align=center][img=,500,348]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190226/155117698126591.png[/img][/align][align=center][/align][align=center][img=,400,158]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126072273961.jpg[/img][/align][align=center][/align][quote][quote]（1）实测尺寸：I=15.84mm；D=5.3mm ； H=22.3mm。[/quote][quote]（2）参照电阻色环可知碳膜电阻R9阻值为68kΩ±5%。[/quote][quote]（3）根据电阻尺寸与额定功率的关系可知，该碳膜电阻R9的额定功率为2W，进而由欧姆定律P=U2/R可推算出其额定电压为369V。[/quote][/quote]由于碳膜电阻R9的实测工作温度为157.4℃，根据如下电力减轻曲线可知，155℃温度下的实际使用功率应为额定功率的5%左右，即0.1W左右，根据欧姆定律P=U2/R推算在155℃温度下可以使用的实际额定电压U=82V。而实际使用碳膜电阻R9的电压为366V，说明碳膜电阻R9处于超负荷使用状态，长期超负荷使用可能导致电阻值出现漂移，进而造成同一回路中的其他器件烧毁，发生电源烧毁失效。[align=center][img=,550,337]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126323736781.png[/img][/align][align=center][/align]对正常电源和烧毁电源中的碳膜电阻进行电阻测试，结果显示：正常电源碳膜电阻阻值为67.5kΩ，烧毁的电源同一回路中的碳膜电阻阻值为88.3kΩ，证实碳膜电阻阻值已出现漂移。[align=center][img=,500,210]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126342955601.png[/img][/align]电阻参数在高温下出现漂移，长期使用会影响电阻的寿命和可靠性，建议委托单位优化电源设计，避免电源器件在高温下长期超负荷使用。

微孔分布测试仪主要应用领域：催化剂，广泛用于石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域；吸附剂，如活性炭、分子筛、活性氧化铝等，广泛用于环保领域；颜填料，无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅、矿物粉等；陶瓷材料原料，氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、碳化硅等；炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等用于橡塑材料的补强剂等；新型电池材料，如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电极材料；发光稀土粉末材料；磁性粉末材料，如四氧化三铁、铁氧体等；纳米粉体材料，包括纳米陶瓷材料、纳米金属材料，纳米银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等；其他，如超细纤维、多孔织物、复合材料、沉积物、悬浮物等　　微孔分布测试仪的主要特性：　　测试时间：多点BET法比表面积平均每个样品15分钟，孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品100分钟　　主要功能：可实行BET比表面积（多点及单点）测试，Langmuir比表面积测试，炭黑外比表面积测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定；　　真空系统：极限真空度6×10-2Pa　　微孔分布测试仪测量范围：比表面积≥0.01M2／g至无规定上限，孔尺寸0.7～400nm；　　样品数量：可同时测定1-4个样品；　　测量精度：≤±2％；　　微孔分布测试仪的压力控制：高精度压力传感器，数字显示，精度0.2％，独特的充气与抽气速度自动控制系统　　运行方式：高度自动化，智能化，长时间运行可以无人看管自行测试　　测试气体：高纯氮气（不用氦气），氮气消耗量极小　　微孔分布测试仪的吸附过程：样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出，液氮消耗极少　　软件系统：在Windows平台上，提供过程控制和数据采集、处理、报告系统，多种测试方法可自由方便选择，在计算机屏幕上，同步显示吸、脱附，比表面积及微孔分布测量仪测试过程、可随时查看已完成部分的测试数据；本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便；

参考书上说，八级杆中用纯氦气碰撞模式可以减少反应池气体和分析物之间的副反应的发生，这样就可以利用屏蔽炬系统传递分布范围窄的离子能量。——————————————————————————1.屏蔽系统是指炬管外层的屏蔽圈吗？2.如果上述正确的话～～按照样品测试流程，屏蔽在碰撞池前，如何理解屏蔽系统传递分布范围窄的离子能量？3.对碰撞池，势能垒对不同元素设置的应该不一样，实际测量时如何动态设置呢？

产品型号: GO-CS1600（标准型） GO-CS2000（特大型） GO-CS800（灵巧型） GO-CS传统反光镜式分布光度计。系统可保持光源或灯具的自然燃点姿态，但被测光源或灯具需要在一个相当大的空间范围内作准圆周运动，由于运动带来的问题将影响被测光源的发光稳定性。配不同软件，可实现CIE推荐的 B-β、C-γ、A-α测量方案。中心转动反射镜式分布光度计虽已应用40年左右，但一直存在不可克服的原理性问题。由于被测光源要在相当大的空间范围内作准圆周运动，下列因素影响被测光源的发光稳定性：由暗室上下温差带来的环境温度交变；运动中的振动、冲击和向心力；气体放电灯的放电电弧在运动中切割地球磁力线影响灯内的电弧分布；运动产生的气流导致被测光源表面温度发生变化。上述不利因素的影响因被测光源不同而不同，多数气体放电灯，极易产生5%左右或以上的测量误差，严重可达10%以上。而且系统无法进入快速测量状态，否则上述不利因素会进一步加剧。支承灯具的辅助轴必须要与主轴反向同步，分布光度计总体角度精度较难做到较高水平。本系统中为了要实现被测光源的朝上和朝下点燃，需要更高的暗室高度。

各位老师好,学生是菜鸟一个,请教:什么是窄分布,宽分布以及什么是窄分布进样,宽分布进样.GPC系统启动后,有一个"平衡30分钟/清洗20分钟/测试60分钟"是什么意思.谢谢赐教

请问江浙沪哪里有第三方检测机构可以做水中颗粒分布测试？2um-50um我们公司有台hach 9703 粒度测试仪，想和第三方做个比对看看至于第三方用什么仪器或方法不管只要在2um-50um范围内，给出粒度分布就可以已经问过SGS,天祥，华测都没这个测试项目

测试水质样品中物质的分子量分布该使用什么方法？GPC可以吗？

我最近在做溶剂型树脂的粒径测试，但由于溶剂对塑料测试盒有影响而无法进行，请问有没有更好的方法可以检测粒度分布？在此求助，谢谢[em44]

目前，国内外在大气粒度分布与健康研究中的粒径，都统一用空气动力学当量直径表示，即具有相同沉降末速度的单位密度球形颗粒的直径。这种表示方法不涉及颗粒密度和形状，这就使颗粒在人体呼吸系统的撞击、沉降和扩散与它在采样中的动力学特征相一致，也给卫生健康研究带来了很多方便。粒度分布测定有惯性冲击法、光散射法、过滤法及压电晶体差频法等。国内外多应用基于冲击原理的多分级采样作粒度分布测定，它能较好地将气溶胶颗粒依照呼吸系统的沉积原理和规律、按粒径大小范围收集样品，既反映了大气和环境空气中颗粒大小组成的真实状况，又可对不同粒径范围的颗粒进行化学组成和毒性的分析测试。应用粒径大小、沉积部位、化学成分和毒性间的密切关系，能更科学地对颗粒物的潜在危害进行卫生评价和吸入量的估算。实验表明，粒度分布测定的悬浮颗粒物(SPM)浓度，基本相似并等效于总悬浮颗粒物(TsP)浓度。由粒度分布曲线方程推导计算的可吸入颗粒(PM10)胸腔颗粒物(TP)和呼吸性颗粒(RP)(PM3.5)理论浓度值，同IP、TP和RP专用仪器的测定值在卫生评价中有可比性。 [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=91946]大气中颗粒物粒度分布的测定方法[/url]

求助:粒径分布测试,最大直径可以做到多少?

请问江浙沪哪里有第三方检测机构可以做水中颗粒计数测试？2um-50um我们公司有台hach 9703 粒度测试仪，想和第三方做个比对看看至于第三方用什么仪器或方法不管只要在2um-50um范围内，给出颗粒数就可以已经问过SGS,天祥，华测都没这个测试项目另公司还有一台Beckman Coulter LS13320, 不知道可不可以做2-50um 这样的规格，不过好像只能做分布，不计数的本人做化学仪器类的，对物理类的不懂请大家帮帮忙

各位专家各位朋友大家好！请教一下用电子探针测试碳纤维径向元素分布的问题（纤维直径20um左右，由于不是成品导电性不好）我的测试方法，是将纤维（直径20um左右）埋在树脂里制成金相，打磨抛光后，露出纤维截面，喷碳后，用导电胶粘在电子探针样品台上，在显微镜里观察纤维，但纤维总是飘动，且看不清，原因应该是导电不好或者是我的金相没有制备好。由于电子束难以聚集在纤维上，没能测出纤维截面上径向的氧元素分布。想请教一下你们是怎么做的呢？这个问题也困扰了我很久，期待大家的回复。

我单位需购买一台激光衍射粒度分布测试仪，测试样品为对苯二甲酸，现用筛分法测定粒度分布，粒度从45um到大于250um,平均粒度在110－－130um之间。现要求如下：1当然要准确。2分析速度快。3能同时给出体积比和重量比 4仪器操作简单，但用工作站控制。 5仪器维护方便，比如样品池易清洗，更换镜头方便或不用换镜头。初步打算选择英国马尔文公司Mastersizer 2000型或美国贝克曼LS系列。请各位老大给个建议，特别是用过的老大！！！如果那位有LS系列的详细资料请发给我邮箱zyxdbox@yeah.net谢谢！！！！

[font=&]一般的，粒度分布测量是通过系统识别和接收光信号来实现的。而光信号的强弱又是由悬浮[/font][font=&]液中的颗粒个数决定的。[/font][font=&]以激光法为例，悬浮液中颗粒浓度越高，散射光信号越强，但随之而来的复散射的现象同时[/font][font=&]加剧，影响测量结果；反之悬浮液中的颗粒浓度越低，虽然复散射现象得到缓解，但信噪比[/font][font=&]下降，代表性也不够，同样影响测量结果。其它粒度分布测量方法的情况也类似，所以在粒[/font][font=&]度分布测量过程中合适的颗粒浓度很重要。[/font]

氢环境测试系统氢环境测试系统是专门针对在实验室内进行高温高压氢气环境下材料测试应用需求所专门设计的实验装置。该装置包括了一套符合ATEX安全标准的全自动通风系统以及全自动配气装置，可在腐蚀环境容器内进行全自动冲洗及气体浓度配比，并可在实验过程中出现泄漏等故障发生时自动进行气体冲洗、排放及安全连锁保护，从而确保装置在高温高压氢环境下长期连续运行的安全性及可靠性。根据实验应用所需，可在该系统内配置高温高压釜、应力腐蚀试验机、DCPD裂纹扩展测量装置等单元模块。 氢环境测试系统可在高温高压氢气环境（或其它[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]环境，如天然气、硫化氢等）下进行金属材料的性能测试，可用于评价输氢及加氢管道装置用材料在[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]氢环境下安全服役行为，可以实现[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]氢环境下金属材料在温度、氢压和载荷耦合作用下力学性能、断裂行为等服役安全参数评价。技术参数 介质：氢气（H2）、甲烷（CH4）、硫化氢（H2S）、惰性气体 最大操作温度：300°C最大操作压力：30.0MPa 试验标准：ASTM E399, E1647, E1681, E1820, G129, G142 材质：接触实验介质部分：316不锈钢，A286不锈钢不接触试验介质部分：17-4PH密封件：PTFE, FFKM, PEEK, EPDM 全自动配气装置：计算机控制安全气动阀门，可实现自动冲洗及实验气体浓度自动配比 安全检测传感器：氢气传感器、甲烷传感器、红外火焰探测器 电气安全规范：本安级或防爆型 全自动通风装置最大通风量：1200CFM 现场PLC控制单元：彩色液晶触摸控制屏 计算机控制终端：LabVIEW平台专用操作软件[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/01/202401160904233814_2563_1602049_3.png[/img]

针织品密度测试要分布种，比机织物要麻烦一些，大家怎么来测试的？

测试的样品为生物反应器的上清液，成分很多，主要为蛋白质，多糖以及腐植酸，主要想看上清液的分子量分布在文献中查到UV detector of the GPC mainly targeted to protein detection in SMP and refractive index detector of the GPC mainly targeted to polysaccharide detection in SMP。其中SMP的定义就为上清液因此试验采用若用示差检测器的话，测得是糖的分布；用紫外检测器，测得是蛋白质分布/////////////////////////////在昨天的发帖中“采用液相色谱测定分子量分布时，遇到的问题”有个回帖提到采用液相色谱做分子量分布，应该用示差检测器........，还有个回帖提到蛋白质UV有吸收，糖UV没有吸收？/////////////////////////////实在不明白了，关系到论文的内容，请大家帮忙，到底该怎么测分子量分布，试验室就紫外和示差两种检测器

覆盖全系统的交叉索引，增强了过程控制的智能性，可帮助改进与生产相关的决策。PlantStruxure PES具有以下性能特点：统一数据库PlantStruxure PES 为工厂的设计、运营和维护提供了单个统一的软件环境，使您的自动化系统更简便易用。您可以通过一个统一的管理界面配置过程自动化应用和网络拓扑(控制器、远程输入/输出、操作员工作站和现场设备)。通过采用PlantStruxure PES控制设施过程，您可以访问智能设备和电表中的能耗数据，并根据已完成的生产目标来审核这些数据，从而智能的实现高能效运营。PlantStruxure PES可以自动创建所有的变量、通信、警报和趋势……这项工作非常繁重复杂，以前我们都是手动配置完成，非常耗时耗力，而现在它帮助我们在操作员界面开发方面节省了大量时间。内置能效管理系统通过将能源和过程控制数据整合到一个系统中，PlantStruxurePES实现了过程控制中管理型节能增效的自动化。您可以通过彼此对照的方式查看数据，并在能源消耗过快的地点减少能源浪费PlantStruxure PES中的集成式能源管理库可将来自整个工厂中所有用电设备的数据汇总，通过提供能源使用的全局视图，使您对能耗状况一目了然。并且，根据自定义的负载优先等级，系统在能源成本超出KPI时执行减载。同时，还可利用专门的仪表盘，操作员可以将能源作为一种过程的对象对其进行跟踪。施耐德电气法国执行团队为我们在法国的一个玻璃熔炉工厂选择了PlantStruxurePES ，目的是将能源管理功能嵌入工厂的控制架构中。工厂控制架构改造的开支全部由玻璃熔炉所节省的能源成本支付。对象库PlantStruxure PES提供专门面向特定应用(设备、过程设备)和行业(矿、水泥、食品饮料、水)的预定义、可扩展对象库，减少项目开发的时间、成本和风险。PlantStruxure PES内置了一个标准的对象库，其中包含所有主流的过程对象，如阀门、电机、泵等。您可以在过程中直接使用这些对象，或根据特定要求配置这些对象。PlantStruxure PES还集成了标准的行业过程库，可满足具体行业的需求，包括水泥、食品饮料和水等。这些库是基于我们广泛的过程经验开发而成，可以帮助在多个地点运营的公司保持统一性和一致性。此外，由于我们考虑到了标准的过程要求，因此使开发时间大大缩短。通过对应用中的所有对象实例化，我们生成了90%的项目内容，因此显著缩短了工程设计时间。支持及服务我们遍布全球的支持中心提供全套支持及服务，确保在工厂生命周期的各个阶段都能为PlantStruxure PES提供可靠的支持。我们提供行业领先的创新支持计划，其中的主要服务将为您带来极大获益。这一计划包括一个内容丰富的知识库和经由一个专用的支持门户提供的综合数字化服务。该门户提供在线案例管理以及由我们的支持专家、解决方案架构师和开发团队协作开发的内容，如白皮书和设计指南等。对于技术支持人员可以迅速解决问题，我感到非常满意。通过电话咨询，技术支持立刻给予我正确的解决方案，并告诉我查找所需信息的支持网页，更难得的是，还将这些信息和我需要的其他可下载资料的信息发给我。总之，我对在CSR上获得的这次支持服务非常满意。标准以太网PlantStruxure PES基于标准以太网和EtherNet/IP，将PLC/SCADA 架构的灵活性和开发性优势扩展到了DCS领域。这意味着系统在支持可定制应用的同时，还继续保有其标准化方法和强大的集成功能。水处理和能源管理是施耐德电气的战略性业务领域。西班牙进行的一个脱盐厂项目为我们提供了一次展示自身实力的绝佳机会，借此项目，我们完美展示施耐德电气的一体化分布式控制系统如何控制所有的能源管理子系统。PlantStruxure PES的标准以太网面向所有的核心过程，集成了仪表检测、电机管理和电力管理功能，这最终促使客户选择PlantStruxure PES。施耐德电气开发构建了一种高效的控制系统，并设计了一个使用通用机柜(即服务器机架、通信柜、控制器和输入/输出柜)和全以太网网络架构的解决方案，从而控制并节省了此项目必需的投资开支。对象模型作为新一代的分布式控制系统，PlantStruxurePES提供了一个独特的对象模型，用户可以选择性地使用其结构中的各个组件，更加具有灵活性。而且用户可以只下载必要的组件，因此可以有效优化源程序代码。该模型还支持对象整个生命周期内的变更传播，为未来的扩展和定制预留了充足的空间，此外，还允许同时运行同一对象的不同版本，并支持更改的可追踪性。PlantStruxure PES提供面向对象的数据库，这意味着您可以在开发了一个过程对象之后，根据需要多次重复使用此对象。这样不仅可以节约系统开发的时间和成本，还能确保在整个项目的各个阶段运用和在其他应用的推广。由于以上原因，PlantStruxure PES 为巴西一个覆盖50个城市的大型水资源项目提供了完美的解决方案。PlantStruxure PES最吸引人的地方是在完成对象实例化之后如何在区块之间创建链接;它大大简化了我的日常工作。全面开放性PlantStruxure PES的开放性不只针对于一种标准。您能够以全新方式，开发一个真正开放的过程自动化系统，这其中不仅包括操作人员电脑，还包括对象模型和对象库、控制网络，甚至系统设计与集成的理念。PlantStruxure PES提供所需的一切，使DCS系统达到全新层次的开放性——譬如，您可根据需求调整对象模型，针对过程调节对象库，向第三方系统开放的控制网络，向任何IT 厂商开放的控制室等等。还有很重要的一点是，功能先进、即插即用、向第三方设备和应用开放的平台，借助它，施耐德电气及其联盟合作伙伴能够全方位满足客户需要。在我们的第一个项目部署完成后，我们不禁要由衷地赞叹PlantStruxurePES。有了它，使我们感到一切皆有可能。无论如何，我们都能够部署符合项目规范灵活变通的方案。可扩展硬件平台PlantStruxure PES支持各类不同的控制器，满足您的过程需要。这些控制器平台采用模块化、可扩展和冗余设计，能够在线增删硬件。它们支持多种输入/输出模块，以及专用通信模块和现场总线模块，提供电机控制，并

大家好：我在寻找能够测试粒径分布图的第三方检测机构，有知道的请推荐一下，位置最好在江浙沪一带。 我们主要想测试的是乳液，聚氨酯，颜料等，粒径在50微米以下。 谢谢了！

这几天，我在仪器信息网的论坛的GPC分论坛上看到不少帖子，说的是在GPC测试过程中出现的种种问题，最常见的是保留时间推迟，仅仅这类帖子就有好几个。看得我直想笑。其实，出现这种状况，很大程度上是GPC柱子分离的问题，并不是柱子不好、更不是GPC仪器不好，而是样品不适合柱色谱这种分离方式。由此，我就想到，我们这个小论坛，也应该更好地向大家宣传AF4在高分子材料领域里的应用。作为一款通用型的分析仪器，AF4MT型仪器可以在高分子领域有很多应用的，尤其是，人们普遍以为，水相的应用更多些。其实，AF4MT在有机相容剂体系的高分子材料的分子量分布测试中，也是大有可为的！我之所以把这个帖子定为“讨论帖”，也是希望大家就AF4在高分子材料领域的应用，多多发表意见、建议，也多提问题、多交流切磋，向更多用户介绍场流仪这种独特的分析方法，特别是在盲样分析中，场流仪的优势其实是非常明显的。附件是我们这边的一些应用宣传页，与大家分享一下。除了许多人都知道的聚丙烯酰胺PAM的分子量分布测试这一应用以外，在有机相容剂体系的应用中，AF4也是得到了广泛的应用。如：重质有机溶剂、中等极性和强极性有机溶剂，DMF/DMAC/DMSO/HFIPA/甲酸等流动相，也有很多应用。而且，由于有机相容剂体系的场流分离通道盒的上下壁，都是不锈钢材质的，又没有固定相填料，因此对这类溶剂溶解的聚合物样品的分离，减少了很多不确定因素的影响，使得分离过程变得简单了，如：无需样品过滤、不会出现腐蚀性溶剂对固定相填料的腐蚀从而造成样品与被腐蚀的柱填料之间发生相互作用里而导致保留时间延迟的现象。而且，当样品在GPC柱子上发生堵塞、柱缠绕等现象时，GPC系统就会出现压力陡升、流路泄露等等情况。或者反过来说，压力上升、管路泄露，都是因为柱子上发生了堵塞，造成了压力上升，进一步造成了管路的泄露——超过了管路、阀门和接头等处能承受的最大压力，必然要泄露！所以，分离问题解决好了，大部分问题也就都迎刃而解了，因此，归根到底一句话，也是我们常说的，那就是：分离是第一位的！我也会陆续把找到的应用文献发上来供大家参考。

表面电位测试、粒度测试、比表面积测试、氮气吸附法测孔径分布、氮气吸附法测孔容、压汞法测孔径分布、压汞法测孔隙率（或气孔率）、压汞法测孔容。表面电位/激光粒度测试仪器 型号：zeta plus（made in USA)；粒度测试范围：3nm~3um。比表面仪（氮气吸附法）型号：ASPA2010（made in USA） 孔径测试范围：1.7nm~300nm。压汞仪 型号：poresizer9320(made in USA) 孔径测试范围10nm~360um。流变仪 型号：SR5上海硅酸盐研究所国家重点实验室电话：52412224

2006年、2007年前后，postnova公司与美国陶氏化学聚烯烃研发中心合作开发出来高温非对称流动场场流分离仪HTAF4，很快，postnova公司在此基础上持续研展了高温的分离通道膜和过滤膜，并且与英国PL公司合作，从而实现了高温场流仪的商业化生产。该产品主要针对聚烯烃样品的分子量分布测试，可补充高温凝胶渗透色谱仪HT GPC 的不足，在超高分子量聚烯烃领域甚至可以完全替代HT GPC 。在稀溶液（分散态）——牛顿流体——条件下，聚烯烃样品的分子尺寸/流体力学体积非常大，至少是同等分子量的聚苯乙烯的两倍以上，甚至更大些。而同时，其特性粘度也非常大，稀溶液状态下的分子密度非常小。所以，聚烯烃样品分子很容易在GPC柱子里面发生堵塞（体积大、超过了GPC柱子的分离上限）、剪切甚至降解（分子密度小、分子密实性差），再加上含有的超大分子量组分尺寸太大，GPC柱子无法分离而引起的共馏出等等，都使得聚烯烃样品不适合高温凝胶渗透色谱柱的分离分析。而HT AF4采用的没有固定相填料的分离通道则很适合聚烯烃这类大尺寸、低密度样品。此外，聚烯烃类样品往往含有凝胶物质，这部分组分与橡胶中的凝胶物质一样，也是部分交联、但是尚且能够溶解的超大分子量组分。这部分组分在GPC柱子里往往会与凝胶填料发生吸附作用，使得GPC的分子量分布数据中看不到他们。而这部分组分其实分子量非常大，对材料加工性能影响也非常大，即使其含量往往非常微小。附件中的论文，就介绍了一个标样，其含有的0.45%的超千万Dalton的超大分子量组分，就完全改变了这个样品的材料加工性，而HT GPC的分离分辨率不如高温场流仪，因此根本无法测出来这部分组分，当然也就无法计算出正确的分子量数据和分布数据了。所以，在聚烯烃的HT GPC分析中，出现分子量数据与流变仪等材料试验仪器拟合的分子量数据偏差很大、小很多的情况，是经常发生的。但是当采用HT AF4之后，这种情况就好多了，用户可以完整的、真实地看到聚烯烃的分子量分布，包括了凝胶物质。如果结合多检测器技术，那么分析测试的信息量将是非常大的。可用于HT AF4的多检测器，包括：示差、四毛细管粘度、多角激光散射、红外和红外光谱，可组成五检测器串联/并联方式的HT AF4+HT GPC并联仪，通过内置的电磁阀实现分析系统在高温场流分离通道与高温GPC柱子之间的自动切换，无需降温至室温！ 附件的论文中，我用黄色标注了这些内容，大家可以特别注意一下。近年来，postnova公司持续不断研发新型高温过滤膜，使HT AF4对聚乙烯样品的分离下限已经降至了大约1000Dalton，这已经非常接近HT GPC的分离下限了，基本上可以做到保证样品分子全部被分离并被检测了。另外，补充一下，有人看到高温场流仪包含一个PL220高温GPC的主机箱子，就误认为PL220是主机，这其实是个误会。所有的流动场场流仪——包含室温型、中温型和高温型，都是以交叉流泵为主机的，全部数据都是从交叉流泵传输到控制电脑上的。在HT AF4中，PL220的机箱实际上只是自动进样器和柱温箱的作用。

我现在使用的是waters Enpower操作程序，没有经过系统的培训。使用GPC时，有个问题一直在困扰我：宽分布标准样与窄分布标准样有何区别，宽分布未知样与窄分布未知样又有何不同？ 我做右旋糖苷时，标准品(分子量已知，从2500到200000不等)我都选窄分布标准样，样品我选宽分布未知样，就这样进行GPC计算，结果还都可以。以前有人就这么教我，但没有人告诉我为什么，有那位可以不吝赐教？

用的安捷伦的GPC，测出的分子量分布偏窄，实际的分子量分布在4，而测出的结果只有2，请教是什么原因

油田提高原油采收率采用注聚合物驱油技术是非常重要手段之一，注聚合物驱油原理是提高注入粘弹性聚合物溶液流体粘度，增大聚合物流体平面及纵向波及面积，减少注入流体在高渗透率地层中的窜流，提高岩芯微观驱油效率，最终达到减少残余油饱和度与提高原油采收率目的。为使聚合物溶液进入预先设定油层并能得到一个较为均匀的聚合物驱前缘，需要准确确定从注聚井中进入各油层聚合物的注入量，所以，注聚井中流量测量是注聚三次采油技术中一项重要测试内容。由于电磁流量计无转动部件，实际测试时不破坏聚合物分子结构，对测试环境无放射性污染且不受聚合物溶液粘度和密度影响，所以，大庆油田在注聚井中推广使用了外流式四电极电磁流量计测井方法。自早期电磁流量计基本理论建立以来，虽然电磁流量计在理论及技术上有了很大发展，但是，由于影响电磁流量计测量精度因素很多，从流场及磁场分布角度综合分析电磁流量计响应特性仍然是值得研究领域，尤其是近年来随着计算流体力学及电磁场有限元分析技术迅速发展，为解决复杂流动及磁场分布条件下的电磁流量计响应预测问题提供了良好机遇。由于仪器倾斜与偏心、流体电磁特性变化等因素都会给电磁流量计响应带来影响，这些测井环境因素对电磁流量计响应影响需要从数值模拟角度给予理论分析，从而为注聚井中电磁流量计流量测井提供理论分析基础。本文重点分析了四电极电磁流量计磁场分布特性，考察了四电极电磁流量计权重函数分布，并分析了仪器偏心及流体磁导率变化因素对磁场分布特性影响，为正确理解四电极电磁流量计测量特性提供了理论分析方法。1、注聚井中四电极电磁流量计　　图1为外流式四电极电磁流量计测井仪器示意图。仪器由上下扶正器、传感器、电路筒及电池仓等部分组成，其中传感器是流量计的核心部分，上下扶正器用于在测量时使流量计居于套管中央位置。四电极电http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/34018811.gif磁流量计采用四个均匀相隔分布排列的励磁线圈及四个测量电极，相对于单对电极的电磁流量计而言，这种励磁结构的磁场分布相对比较均匀，有利于减小由于磁场分布不均匀所带来的测量误差。传感器部分主要由磁路系统、测量导管、电极、外壳、干扰调整装置及若干引线组成。仪器采用外流式结构。仪器结构尺寸为：仪器外径为35mm，其中测量电极段外径为33.8mm，传感器长度为44.5mm。仪器总长度为1200mm。http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/34018812.png图1 外流式四电极电磁流量计测井仪器图　　2 四电极电磁流量计测量区域内磁场分布　　为获得测量区域内磁场分布，采用ANSYS商用有限元分析软件对电磁流量计磁场分布特性进行仿真。由麦克斯韦方程导出的3分量矢量泊松方程如下：　　http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/34018813.png　　对于本文所使用的二维平面场（X-Y平面），矢量磁势http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/34018814.png和电流密度http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/34018815.png相互平行且只有z方向分量，即：Ax=http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/34018816.png则由（3）式可得：　　http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/34018817.png　　（4）　　所用模型中介质为线性介质，磁导率μ为一常数，故上式可简化为：　　http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/34018818.png　　（5）　　在使用ANSYS有限元计算时，自由度为磁势，施加载荷时只要在各线圈上施加电流密度值即可。模型有两种边界条件：（1）Dirichlet条件（AZ约束）：磁通量平行于模型边界；（2）Neumann条件（自然边界条件）：磁通量垂直于模型边界。第二种条件为默认的边界条件。对于电磁流量计在管道中的模型，只需满足自然边界条件。故施加了电流密度后，即可进行计算。在施加电流密度时，可用下式计算：　　http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/34018819.png （6）式中：http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/340188110.png为电流密度；n为线圈的匝数；http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/340188111.png为通入线圈的电流；a为线圈的横截面积。　　在ANSYS环境下用有限元法求解的关键是对模型进行网格划分。图2（a）为用于磁场计算建立的分区介质模型，图2（b）为磁场计算网格剖分模型，可以看出：在靠近线圈和电极的部分网格剖分较密，而在其它部分则较稀疏，划分后网格划分单元数为3577。在进行有限元分析时，需要给每种材料施加磁导率属性，图2（a）中将六种不同属性材料用不同颜色显示出。http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/340188112.png图2　仪器在油管中磁场分析模型及网格剖分图　　模型中有六种不同的材料：填料、线圈、电极、1Cr18Ni9Ti、聚四氯乙烯衬里、流体（可假定为水）。将六种不同属性的材料用不同颜色显示设置好各种材料的磁导率，施加电流密度后，即可计算磁场分布。由于仪器结构尺寸非常对称，仪器位于管道中心，通电后四个线圈相当于交替放置的N极与S极，故产生的磁场也是对称分布的。流体从仪器与油管环形空间流过，切割磁力线产生感生电势，通过四个对称分布的电极即可进行测量。　　磁场仿真计算结果如图3所示，从图中可以看出：http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/340188113.png图3　仪器与油管环形测量区域磁场分布图　　在仪器与油管环形空间内磁场几乎是均匀分布的，尤其是在靠近仪器探头表面区域磁力线分布更加密集均匀，所以，该部分应有较高测量灵敏度。整体上说四电极电磁流量计具有较均匀的磁场分布特点，这有利于四电极电磁流量计聚合物流量测量。　　3 仪器偏心对磁场分布影响　　在仪器使用过程中，由于各种环境因素的影响，有时仪器并不一定处于管道中心位置，而会偏离中心一定的距离，此时激励线圈产生的磁场在管道内分布情况也发生变化。图4为仪器在管道中向右偏心1mm、2mm、3mm、4mm时磁通线分布，可以看出：当仪器偏离中心位置时，仪器与油管环形空间内磁通线呈非对称分布；随着仪器向右继续偏移，右边磁通线分布明显密集，而左边则分布明显稀疏。http://www.kfll.cn/up_files/image/Article/2011/10/17/340188114.png图4 仪器偏心时磁通线分布图　　因此，井下四电极电磁流量计用于测量时，仪器应尽量在井内保持居中位置，只要仪器发生偏心，在管道中激励磁场分布就会发生变化，随之电磁流量计权重函数分布也就会发生变化，进而流体切割磁力线时产生的感应电势发生变化，最终导致仪器测量结果因偏心产生较大误差。　　4 流体磁导率对磁场分布影响　　磁性是一切物质都具有的属性，物质的磁性与原子、