晶圆测量晶圆制备系统

二恶英样品制备系统更换套装配件订货信息：二恶英样品制备系统更换套装配件描述货号包装二噁英真空歧管28403-U1 ea真空连接头, I.D. 10 mm28408-U1 ea具有旋阀的顶部烧瓶, 体积 250 mL,瓶颈 24 mm28449-U1 ea二噁英空色谱柱, O.D. 6.35 mm × L 35 cm28404-U5 ea注射器 Luer 连接头, I.D. 10 mm28405-U3 ea收集烧瓶/烧杯, 平底,体积 300 mL21266-U3 ea收集烧瓶, 圆底, 体积 250 mL21269-U3 ea长杆旋阀, I.D. 10 mm28425-U3 ea

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飞纳孔径统计测量分析系统将飞纳电镜和孔径测量统计分析系统结合在一起，孔径的可视化分析变得非常容易。快速、操作简单并能得到高分辨率图像的飞纳电镜集成孔径分析系统，创造出统计分析孔洞数据的强大工具。孔径测量系统应用领域- 电池薄膜行业- 制药行业- 过滤行业- 筛网行业- 生物行业- 化工行业- 造纸行业- 烟草行业- 纺织行业- 陶瓷行业- 食品行业- 有孔材料行业孔径测量系统功能孔径统计分析测量系统是基于飞纳电镜的孔径分析工具，用户直接从飞纳电镜获取拍摄的图片并对孔洞直径、面积等一系列参数进行统计测量，实现样品孔径可视化分析，并生成数据统计报告。应用该系统，可以在建模、研发和质量控制中有新的发现和创新孔径测量系统优势- 直接从飞纳电镜获取图片- 快速生成分析图像- 便捷的操作，提高工作效率- 无限制的图像采集，可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流- 附有高清图片的统计学数据- Phenom的易用性和对环境的良好适应力，用户可以将试样最大程度视觉化

8英寸晶圆隔纸 晶圆硅片测试片隔纸 硅片隔离纸由上海书培实验设备有限公司生产提供，产品规格齐全，量多从优，欢迎客户来电咨询选购。8英寸晶圆隔纸 硅片隔离纸 晶圆硅片测试片隔纸产品介绍：IC纸,,表面电阻在107-109次方，电子产品隔离纸,无尘级别：100级， 8英寸晶圆隔纸 硅片隔离纸 晶圆硅片测试片隔纸规格表格：产品名称产品尺寸包装规格产品单价品牌晶圆隔纸4英寸100张/包80元上海书培晶圆隔纸6英寸100张/包110元上海书培晶圆隔纸8英寸100张/包150元

晶圆探针台,硅片探针台由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售！孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询！晶圆探针台适合显微镜使用,尺寸小,重量轻,价格低硅片探针台适合科研院所和企业的实验室使用。非常适合小于4英寸的晶圆测量,也可用于LED/LD/PD灯光的光强和波长测量晶圆探针台主要指标：硅片探针台chuck stage (吸盘位移台）：3' ' x3' ' 行程 晶圆探针台chuck theta （吸盘theta角）：0-30度硅片探针台platen （压盘）：6个微定位器晶圆探针台工作环境要求：晶圆探针台电力：110VAC， 60Hz 硅片探针台真空：-250mmHg, 7Liter/min晶圆探针台尺寸：320x320x400mm ( WxDxH,带显微镜尺寸）硅片探针台重量：20kg (带显微镜重量）晶圆探针台附件：晶圆探针台chuck stage push to position硅片探针台chuck stage vacuum based movement晶圆探针台microscope tilting mechanism and quick right angle switchover硅片探针台light intensity/wavelength measurement adapter晶圆探针台RF prob/cables硅片探针台acitive probeslow current/ capacitance probeshigh voltage probeultrasonic cutterCCTVPhotomicrographicspackaged device holderPCB holderThermal systemsLiquid crystal kit晶圆探针台Vibration free tabletop硅片探针台shielding box晶圆探针台Test bench硅片探针台Instrument case晶圆探针台chuck vacuum pattern硅片探针台gold plated chuck晶圆探针台和欧洲进口的硅片探针台,显微镜使用,适合小于4英寸的晶圆测量,是理想的硅片仪器.

场发射电子源921 5736 ，这个型号的场发射灯丝，适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

产品概要：MPI为射频和毫米波测量应用提供了出色的软电缆和附件选择，可实现完整的射频探头系统集成。基本信息：测试电缆晶圆级测量系统中的RF电缆必须满足许多特殊要求：较佳的电缆长度，重量，大小和相位稳定性，温度范围和公连接器的设计，MPI可以提供两个系列的RF电缆-高端MMC和入门级MRC-涵盖从18 GHz开始的整个频率范围。电缆组件有两种标准长度，分别为120厘米和80厘米，以与探头系统的占地面积和VNA的位置相匹配。转接器提供高质量的RF和高端毫米波适配器，以应对常规系统重新配置以及与不同类型的测试仪器集成的挑战。波导管波导段用于将基于波导的RF探头与VNA毫米波头(转换器)的输出端口相连，该端口的使用频率从V波段(50 GHz)开始。由于采用统一的设计，MPI波导段可与任何类型的变频器和MPI探头系统兼容。同时，它们提供了很大限度的系统测量动态范围。标准产品涵盖了广泛的频率范围：从V波段(WR15，从50 GHz到75 GHz)到G波段(WR-5，从140 GHz到220 GHz)。对于220 GHz以上的测量，MPI工程师建议将RF探头直接安装到转换器的波导端口。技术优势：1、测试电缆稳定性较高2、高质量的RF和高端毫米波适配器3、MPI波导段具有良好的兼容性应用方向：主要用于射频和毫米波测量应用。

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产品概要：MPI提供AC 系列校准基片具备至多二十六组的校准标准，提供 GS、SG、GSG 等多种信号探针，可支持SOLT, LRM, SOLR, TRL and multiline TRL等多选的校准方法。基本信息：AC系列校准基片具备至多二十六组的校准标准，供 GS/SG、GSG 探针在晶圆测量前，可支持SOLT, LRM, SOLR, TRL and multiline TRL等多选的校准方法，五条共面线提供宽带参考多线TRL校准以及常规方法的准确性验证，添加了直角倒角元件，以通过RF探头的直角配置来支持系统的SOLR校准，还提供用于宽螺距探头的校准基板。技术优势：1、支持SOLT, LRM, SOLR, TRL and multiline TRL等多选的校准方法2、添加了直角倒角元件，提供用于宽螺距探头的校准基板应用方向：应用于宽带参考多线TRL校准以及常规方法的准确性验证。

密度测量用全套便携系统，包括一支便携天平、固液体用密度套装及其附件，所有都采用定制携带式仪器箱。精密天平固液体用密度套件F1级200g校称砝码天平安装软件，用于对固体和液体进行自动校准LPC-313便携天平配有内置可充电电池和直径为135 mm的圆形风罩，以适配直径90 mm圆盘。携带式仪器箱：宽×深×高：370×480×150 mm重量：4.5 kg Delivery information: 交付信息：系统的携带式仪器箱中包括天平、圆形风罩、校称砝码、250 ml带刻度的量筒、250 ml带刻度的烧杯、模拟温度计、玻璃测锤、样品筐、吊臂和支承件。说明称重上限可读性包装规格VWR目录号密度测量系统310 g0,001 g1 KITVWRI611-3131v\:* {behavior:url(#default#VML) } o\:* {behavior:url(#default#VML) } x\:* {behavior:url(#default#VML) } .shape {behavior:url(#default#VML) }

产品概要：MPI在晶圆级RF校准方面的长期经验以及对微波测量细节的详细了解是QAlibria的底部® – MPI的RF校准软件。基本信息： 多点触摸使射频系统校准的复杂繁琐任务尽可能简单—这是MPI校准的主要目标，因此QAlibria® 。通过实施渐进式披露方法并实现直观的触摸操作，QAlibria® 为RF校准过程提供清晰明了的指导。 多语言系统MPI QAlibria® 用户友好的多语言GUI即使对于没有经验的操作员也可以最大程度地降低操作风险和不便。 多线TRLQAlibria® 符合行业标准和高级校准方法。此外，QAlibria® 与NIST StatistiCal Plus 校准套件集成在一起， 可轻松访问NIST多线TRL计量级校准以及校准和测量结果的不确定性分析。技术优势：QAlibria® 旨在简化射频系统校准的繁琐工作。它具有多点触摸和多语言图形用户界面的独特功能，以及原始的NIST多线TRL校准功能，彻底改变了晶圆级RF系统校准。应用方向：主要应用于晶圆级RF校准方面。

场发射电子源9213915/9217251，这两个灯丝的外形一样，适用的扫描电镜型号不同，需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

二噁英样品制备系统连接件订货信息：二噁英样品制备系统连接件描述货号包装6.35 mm/6.35 mm 管接头, PTFE28411-U3 ea6.35 mm/10 mm 异颈转接头, PTFE28398-U3 ea10 mm/10 mm 管接头, PTFE28412-U3 ea24 mm/24 mm 聚丙烯 Viton 连接头28432-U6 ea

用于制备柱的异径接头将 30mm 到 50mm 内径制备柱与 1/16in 管相连接。不锈钢构造。1.0mm 口径。无筛板。订货信息：用于制备柱的异径接头描述目录编号数量用于制备柱的 1/8in 到 1/16in 异径接头60182-357单件装

无锡吉致电子25年研发生产——碳化硅晶圆抛光液/硅衬底SIC抛光液/半导体抛光液/CMP化学机械抛光液/硅衬底抛光液/slurry抛光液产品简介：为电力电子器件及LED用碳化硅晶片的CMP化学机械平坦化配制的抛光液。CMP抛光液大大提高了碳化硅晶圆表面去除率和平坦化性能，提供了非常好的表面光洁度吉致电子碳化硅晶圆Slurry抛光液使用方法：1.可根据抛光操作条件用去离子水进行5-20倍稀释。2.稀释后，粗抛时调节PH11左右，精抛时调节PH9.5左右。pH调节可以用10%的盐酸、醋酸、柠檬酸、KOH或氨水在充分搅拌下慢慢加入。3.循环抛光可以用原液。吉致电子碳化硅晶圆Slurry抛光液储存方法：1.贮存时应避免曝晒，贮存温度为5-35℃2.低于0℃以上储存，防止结冰，在无度以下因产生不可再分散结块而失效。 3.避免敞口长期与空气接触。吉致电子碳化硅晶圆Slurry抛光液价格：吉致电子的碳化硅晶圆抛光液生产技术是引进国外生产技术和设备，特殊化学配方制备而成。吉致电子抛光液品质可以媲美进口同类产品。本土化生产使得吉致电子CMP抛光液产品交货周期快，品质好，抛光液价格亲民。

产品信息：用于制备柱的异径接头将 30mm 到 50mm 内径制备柱与 1/16in 管相连接*不锈钢构造* 1.0mm 口径* 无筛板 订货信息：用于制备柱的异径接头描述部件号数量用于制备柱的 1/8in 到 1/16in 异径接头60182-3571 个/包

Hypersil GOLD 制备型保护柱芯系统粒径 (μm)10 x 10mm（内径 x 长）20 x 20mm（内径 x 长）数量525005-01902325005-0292233 个/包1225012-01902325012-0292233 个/包制备型保护柱柱套C-1000F1403单件装

Hypersil GOLD aQ 制备型保护柱芯系统粒径 (μm)10 x 10mm20 x 20mm数量5.025305-01902325305-0292233 个/包制备型保护柱柱套C-1000F1403单件装 Hypersil GOLD aQ 制备型 HPLC 保护柱粒径 (μm) 柱长 (mm)10mm 内径21mm 内径数量5.0 3025305-03902225305-039222单件装

FD-216北京核地(原京核研) fd216－fd216测氡仪，特点，操作说明书，售后服务，办事处，计量费，！1.体积小、重量轻，便于携带。2.灵敏度高、功耗低，交、直流两用，直流电源可支持仪器工作30h。3.USB数据传输接口，蓝牙打印。FD-216北京核地(原京核研) fd216－fd216测氡仪，特点，操作说明书，售后服务，办事处，计量费，主要技术性能1.灵敏度：≥0.68cpm/[Bq?m-3]2.本底计数率：≤0.3cpm 3.测量范围环境空气氡：（3～100000）Bq/m3土壤氡：（300～300000）Bq/m3氡析出率：（0.001～10.000）Bq/[m2?s]水中氡：（0.003～100）Bq/L4.测量重复性误差：≤5%（氡室浓度2000Bq/m3，环境湿度65%，温度25℃）。5.长期稳定性（8h）误差:≤10%6.电源：锂离子充电电池/交流电，电池供电可连续工作30h。7.工作环境温度：-10℃～+40℃ 湿度：相对湿度≤90%（+40℃）8.探测器：硫化锌ZnS(Ag)和光电倍增管组合系统9.数据存储：可存储2000个数据10.操作模式：单点检测或连续监测11.显示器：LCD液晶显示12.取气方式：主动泵吸式13.测量时间空气氡：31min土壤氡：11min氡析出率：30min 水中氡：31min14.打印数据：日期、时间、点号和检测结果15.尺寸：（330×210×170）mm16.重量：5㎏（主机）FD-216北京核地(原京核研) fd216－fd216测氡仪，特点，操作说明书，售后服务，办事处，计量费，仪器认证中国计量科学研究院检定并出具检定证书FD-216北京核地(原京核研) fd216－fd216测氡仪，特点，操作说明书，售后服务，办事处，计量费，

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激光晶圆划片机配件是专业为太阳能电池激光加工开发的小型太阳能电池激光划片机和晶圆切割机，它具有较小的尺寸，安装操作非常简单，比较适合小型的太阳能光伏产业用户和科研用户实验室使用。激光晶圆划片机配件使用了高精度的扫描振镜，可以加工5' ' 和6' ' 的晶圆硅片，太阳能电池激光划片机机配备的软件能够精确探测晶圆边缘,控制XYZ三维的光束定位，并监控激光功率等参数，为大学或科研院所提供了一种多功能,高精度的太阳能电池晶圆的加工设备,可以广泛用于晶圆激光打标,晶圆边缘隔离，晶圆背向接触烧结（Back contact laser fireing,BCLC)已经晶圆切割。激光晶圆划片机配件原理在制造晶体硅太阳能电池过程中通常使用p型晶圆，通过磷扩散形成n型层。这种n型层形成于太阳能电池表面，被称作发射极，当然此时也形成了p-n结。在对边缘未隔离之前，边缘电流会减少太阳能电池的效率。 现在通常使用激光晶圆划片机超快激光进行边缘隔离, 使用激光对距离上表面150-300微米的区域进行激光切割。太阳能电池激光划片机,这种切割深度不得小于发射极的深度(2-10微米）。我们在这套激光晶圆划片机配件中使用高精度的扫描振镜控制激光光束进行切割，并配备了一流的机械视图功能，可以实时探测到晶圆位置以及边缘隔离的精度, 配备的软件可以让用户在“科学研究“和”工业应用“两种模式下选择使用。

LED光电测量系统配件是一款进口的满足LED电光参数和性能测量的系统，它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射，光度学，色度以及效率参数。为了测量各种光源，孚光精仪公司为LED光电测量系统配件提供各种类型的灯具，光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备，使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量，使用积分球可以更为有效地收集光辐射，而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置，以满足标准测量的要求，能够适应外部光源测量的需要，融入最好的输出功率等级和精度的测量工具，也可根据用户的要求提供定制系统，更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。LED光电测量系统配件参数发射光谱 Emission Spectrum辐射通量 Radiant Flux (W)辐照度 Irradiance (W/cm2)亮度 Luminance (Cd/m2)色度坐标Chromaticity Coordinates（x,y)色纯度 Color Purity主波长 Dominant Wavelength峰值波长 Peak Wavelength发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)外部量子效率 External Quantum EfficiencyLED光电测量系统配件软件*能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上，这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。×控制采集点血和光谱数据，精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口，用户能以所需电压或电流范围扫描测试）×集合所有电学和光谱参数，用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标；*实时测量发光器件OLED测量系统配件规格组成：光谱仪，光纤，积分球，样品台，仪表，数据接口，软件光谱范围：200-850nm或 350-1000nm探测器：2048像素Si CCD阵列采光周期： 1毫秒--65秒光谱分辨率：1.5nm(FHWM)电压源 测量范围：±5μV - ±200V电流源测量范围：±10pA - ±1A电源要求：110/230VAC,系统尺寸：320x360x180mm系统重量：9.8kg

晶圆盒 硅片盒 防静电海绵 塑料晶圆硅片盒由上海书培实验设备有限公司生产提供，产品规格齐全，量多从优，欢迎客户来电咨询选购晶圆盒 硅片盒 塑料晶圆硅片盒 防静电海绵产品介绍：晶圆盒是半导体硅片包装解决方案，可满足光学材料、半导体元件、光电器件、医疗器械等一系列高科技领域的产品特殊存放及其运输要求，可保证高效安全的实现此类产品的物流程序.适用于各类样品展示、携带、存放、运输等.晶圆盒 硅片盒 塑料晶圆硅片盒 防静电海绵产品相关表格：产品名称产品尺寸包装规格产品单价品牌晶圆盒4英寸个 45元上海书培晶圆盒6英寸个50元上海书培晶圆盒8英寸个80元上海书培防静电海绵6英寸片5元上海书培防静电海绵8英寸片8元 晶圆盒 硅片盒 塑料晶圆硅片盒 防静电海绵产品参数介绍：产品材质： PP注塑 无异味 无残胶 （不耐腐蚀、酸碱） 海绵为防静电材质开关方式：卡扣

用于制备柱的异径接头将 30mm 到 50mm 内径制备柱与 1/16in 管相连接. 不锈钢构造. 1.0mm 口径. 无筛板

产品特点： u 以穿透、半穿透方式测量TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支持反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。u 除检测液晶层间隙(Cell gap)，也可测量液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。 产品规格： 样品对应尺寸20mm×20mm～大型尺寸玻璃基板（2000mm×2000mm以上）液晶层间隙测量范围0.1μm～数十μm液晶层间隙测量再现性±0.005μm检测器分光光谱仪测量波长范围400～800nm光学系统偏光光学系统消光率10-5方解石偏光（Gran-tomson prism）自动旋转（角度 精度0.1o）自动装卸装置测量口径Φ2，5，10（mm）光轴倾斜角度-10～45o（选配功能）重量约60kg光学配件： 相位差膜,椭圆膜,偏光膜,液晶显示器材料

硅晶圆片随着半导体、微电子行业的发展，硅片的用途越来越广泛。比如半导体芯片领域、X射线晶体分析、磁控溅射样品生长、原子力、红外光谱测试分析、PVD/CVD镀膜衬底等。我们提供各种不同直径、厚度、电阻、级别和应用场景的硅片，请将您的参数要求发给我们，如有疑难，也请联系我们。哪里可以快速买到硅片作为基片，当然是这里！我们主要为国内的科研院所、高校提供高品质的硅片衬底，高纯抛光的硅基底也能够提供。选型指导：特性产品描述常规硅片直径1"、2"、3"、4"、5"、6"、8"、10"、12"厚度50um至10000um超薄硅片直径5mm、10mm、25mm、50mm、75mm、100mm超薄硅片厚度2um至50um，公差±0.5μm、±1.0μm、±1.5μm表面粗糙度Prime Grade wafer Ra5? .掺杂类型P型、N型、无掺杂晶向〈100〉± 0.5° 〈110〉±0.5° 〈111〉± 0.5°，〈100〉± 1°，〈110〉±1°表面处理抛光、刻蚀、ASCUT；单面/双面处理电阻率0~至 20000 (Ωcm)级别Mechanical Grade、Test Grade、Prime Grade、SEMI Prime Grade 产品举例：产品描述尺寸举例规格多孔硅晶圆，Porous silicon wafer76.2mm10片无掺杂硅晶圆，undoped silicon wafer100mm10片氮化硅膜硅晶圆，Silicon Nitride Wafer LPCVD PECVD100mm10片FZ区硅晶圆片，Float Zone Silicon Wafer25.4mm10片热氧化处理硅晶圆片Thermal Oxide Wafer76.2mm25片超平硅片Ultra-Flat or MEMS wafers6″5片太阳能硅晶片，Solar Silicon Cells6″，5″25片外延硅片，Epitaxial Silicon Wafer100mm10片N型硅晶圆片，N-Type Silicon Substrates100mm100片各种硅晶片 我们致力于为客户提供全面的硅片（Silicon Wafer）解决方案，从测试级硅片（Test Wafer）到产品级硅片（Prime Wafer），以及特殊硅片氧化硅片（Oxide）、氮化硅片(Si3N4)、镀铝硅片、镀铜硅片、SOI Wafer、MEMS Glass、定制超厚、超平硅片等，尺寸覆盖50mm-300mm。对于2D材料的研究，软光刻硅片，直接放射性核电实验，等离子体刻蚀硅片，以及微流控芯片平台的建立，我们均有成功的经验。 小常识：将某一特定晶向的硅种子(种子,通常为一小的晶棒)棒插入熔融液态硅,并慢慢向上拉起晶棒,一根和种子相同晶向的晶柱就被生产出来。将晶柱切割成多个一定厚度的圆片片,通常称呼的wafer就被制造出来了。初步切割出来的wafer表面，通常比较粗糙,无法用作晶圆生产，因而通常都在后续工艺中进行抛光，抛光片的名词就由此而来。针对不同晶圆制造要求，通常需要向粗制晶圆内掺杂一些杂质，如P、B等，以改变其电阻值,因而就有了低阻、高阻、重掺等名词。镀膜片可以理解为外延片Epi，是针对特定要求的半导体装置而制定的wafer,通常是在高端IC和特殊IC上使用，如绝缘体上Si(SOI)等。用Czochralski(CZ)晶体生长法或浮区（floatzone）（FZ）生长法生成单晶硅。超大规模集成电路应用更多采用Czochmlski硅，因为它比FZ材料有更多的耐热应力能力，而且它能提供一种内部吸杂的机械装置，该装置能从硅片表面上的器件结构中去除不需要的杂质。因为是在不与任何容器或坩埚接触的情况下制成，所以FZ硅比CZ硅有更高的纯度（从而有更高的电阻率）。器件和电路所需的高纯起始材料（如高压，高功率器件）一般都用FZ硅。我们的低应力PECVD氮化是一个单面膜，已优化为晶圆需要最小的热处理。因为低应力PECVD氮化物是在低温下沉积的，它提供了更大的灵活性，可以沉积在任何其他薄膜上。我们提供独立式超薄超平硅片，厚度从5μm到100μm不等，直径从5毫米到6英寸。薄硅片是真正的镜面光洁度DSP，良好的表面平整度，无雾，无空洞，表面RMS低(典型1-2 nm)，超低值TTV通常小于+/-1μm。我们的单晶太阳能硅片的效率高达19.5%。什么是太阳能效率，阳光光子击中太阳能晶片在一个特定的空间的百分比。更高的效率意味着发电所需的比表面积更小。因此，小型屋顶将希望使用更高的效率面板，以弥补较小的表面积。

全新升级?通过创新的工艺优化实现操作方便 经济实惠iLOK® II大尺寸手拧固体上样空柱为用户自行组装提供了便捷，更好地满足用户进行大尺寸固体上样的需求。标准尺寸的进出液口设计可以连接不同尺寸的液相管路（1/4英寸；3/16英寸；1/8英寸），兼容各种快速液相制备色谱系统。?手动组装方便快捷，不需借助工具，可用作固体上样柱，显著提高大尺寸样品的分离效率；? 标准尺寸的进出液口设计可以兼容各种快速液相制备系统； ? 800g、1600g、3000g、5000g四种常规尺寸可供选择；? 柱管长度支持用户定制尺寸；? 加固结构设计，最大工作压力可达100 psi（6.9 bar）；? 支持多次使用，更换易耗品—塑料柱管简单便捷。产品部件?经济实惠——可重复使用部件，主要为不锈钢端盖和卡箍，其是可以长时间使用的。 简单方便——一次性使用部件，主要为塑料柱管、滤片和密封圈，这些部件在使用一次或多次后会被污染，用户可以根据实际需要更换这些部件。订购信息?若需了解更多新品详情，欢迎致电三泰科技400-662-9158，我们会安排专业技术人员为您解答。

X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统 X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统的独特设计专门用于测量荧光显微设备的光功率，具有绝佳的精准性和易用性。它以瓦特为单位显示数据，不仅可用于实验，还可以用于设备的安装和故障排除。该系统包括X-Cite® XP750传感器，外形小巧别致，专门设计用于显微镜载物台。它具有多种功能，可以对 X-Cite® 照明器或其他任何落射荧光光源的输出功率进行测量。为了实现zui终的可重复性，X-Cite® XR2100会利用光导管输入端口或物体平面上的X-Cite® XP750光功率计获得的功率数据，来校准X-Cite® exacte照明器。 功能和优势:功能优势X-Cite® XP750 小巧的显微镜载玻片尺寸适合标准的显微镜压片夹，更方便的直接从物镜测光，无需移除或重新配置设备兼容灯泡，激光和 LED 光源不仅技术ling先，还能适配多种显微镜，更经济探测面积高达 – 10mm同时适用低倍和高倍物镜无聚焦要求快速精确测量宽广的波长和功率测量范围适合多样化的用途和显微镜配置根据NIST/NRC标准进行校对测量结果准确，深受用户信任* NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。XP750规格规格内含物体平面功率传感器，配备电缆和连接器，适用于X-Cite® XR2100设备功率范围5μW-500mW测量分辨率0.01μW-1mW误差***±6%响应时间600ms（起始），3s（确保稳定显示）校准符合NRC** 标准波长范围320nm-750nm灯管类型/光源兼容性X-Cite® exacte，X-Cite® 120系列，汞/HBO，金属卤化物灯，氙灯，LED，激光物镜兼容性4X-63X，空气耦合，FOV直径小于10mm显示通过X-Cite® XR2100显示波长选择使用X-Cite® XR2100的上/下按钮或直接使用PC界面，以1nm为度量进行调节数据容量经X-Cite® XR2100PC控制查看/改变设置，确定波长，记录多个物镜的数据/滤光片/强度设置，下载/输出存储数据指令协议通过X-Cite® XR2100电源重量2.9oz (82g)尺寸（无盖）3″ x 1″ x 0.35″ (75mm x 25mm x 9mm)世界认证通过 X-Cite® XR2100质保一年X-Cite® 包含的技术受下列保护：US#6,437,861 US#7,335,901*NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。