量青通道台式光衰减器

新品发布全新升级的射频测试设备你拥有了吗，在延续其小巧的身型、可编程、USB供电控制等经典特色的同时，虹科最新发布的便携式射频测试设备具有更高的带宽、更优秀的性能、更棒的测试体验，包括数字衰减器、信号发生器、射频开关、混频器、射频功率计和功率放大器等，满足您的个性化需求与不同应用场景。虹科便携式可编程数字衰减器具有高达40GHz频率范围和120dB的衰减控制范围，可直接从附带的图形用户界面（GUI）为固定衰减、扫描衰减斜率进行轻松编程，对于希望开发自己界面的用户，虹科提供LabVIEW驱动程序、Windows API DLL文件、Linux驱动程序、Python示例等，满足不同的应用需求。数字衰减器虹科HK- LDA-802-32200-8000MHz高分辨率数字衰减器，32通道，衰减范围为120dB，步长0.1dB虹科HK-LDA-802-32数字衰减器是一个机架式、32通道、高动态范围、双向、50欧姆的步进衰减器。它提供120dB的衰减控制范围，频率范围为200-8000MHz，步长为0.1dB，同时提供USB和以太网接口。特点● 可靠且可重复的固态数字衰减器● 免费的GUI、Windows Linux和MAC SDK，以及LabVIEW驱动程序● 单次或重复的可编程衰减斜率● 可通过GUI或SDK对衰减曲线进行编程● USB和以太网控制● 可设置静态IP或DHCP● 密码保护的web GUI应用● WiFi，WiFi 6E，3G，4G，5G，LTE，DVB，微波无线电衰减模拟器● 工程/生产测试● 自动测试设备（ATE）★虹科HK-LDA-802-16200-8000MHz高分辨率数字衰减器，16通道，衰减范围为120dB，步长为0.1dB虹科HK-LDA-802-16数字衰减器是以机架方式进行安装，具有16通道高动态范围、双向、50Ω的步进式衰减器。它提供120dB的衰减控制范围，频率范围为200-8000MHz，步长为 0.1dB，同时提供USB和以太网接口。特点● 可靠且可重复的固态数字衰减器● 免费的GUI、Windows Linux和MAC SDK，以及LabVIEW驱动程序● 单次或重复的可编程衰减斜率● 可通过GUI或SDK对衰减曲线进行编程● USB和以太网控制● 可设置静态IP或DHCP● 密码保护的web GUI应用● WiFi，WiFi 6E，3G，4G，5G，LTE，DVB，微波无线电衰减模拟器● 工程/生产测试● 自动测试设备（ATE）★虹科HK-LDA-608V-4200-8000MHz高分辨率数字衰减器，4通道，衰减范围为60 dB，步长为0.1dB虹科HK-LDA-608V-4数字衰减器是一款高精度、双向的50欧姆步进式衰减器，具有4个独立控制的衰减通道，提供200-8000MHz的校准衰减，典型精度应用● WiFi，WiFi 6E，3G，4G，5G，LTE，微波无线电衰减模拟器● 工程/生产测试● 自动测试设备（ATE）★虹科HK-LDA-4030.1-40GHz高分辨率数字衰减器，单通道，衰减范围为31.5 dB，步长为0.5 dB，USB/以太网控制虹科HK-LDA-403数字衰减器是一个双向的、50欧姆的步进衰减器，提供从0.1到40GHz的衰减控制，步长为0.5dB，同时提供USB和以太网接口。通过连接衰减器的扩展总线，可以从一台PC控制多个HK-LDA-403设备。特点● 可靠且可重复的固态数字衰减器● 免费的GUI、Windows Linux和MAC SDK，以及LabVIEW驱动程序● 可编程的衰减斜率和衰减曲线● 可直接从电脑或自带电源的集线器上操作多个设备● 易于携带的USB供电设备应用● WiFi，WiFi6E，4G，5G，LTE，DVB，微波无线电衰减模拟器● 工程/生产测试● 自动测试设备（ATE）★虹科HK-LDA-203B1-20GHz USB可编程数字衰减器，单通道，衰减范围为63 dB，步长为0.5dB，USB/以太网控制虹科HK-LDA-203B数字衰减器是双向、50Ω步进衰减器，在1-20 GHz频率范围内提供63 dB的衰减控制，步长为0.5 dB，提供USB和以太网接口，易于携带。特点● 可靠和可重复的固态数字衰减● 免费的GUI, Windows和Linux SDK, LabVIEW驱动程序● USB和以太网控制● 可设置静态IP或DHCP● 密码保护的web GUI应用● WiFi，WiFi 6E，3G，4G，5G，LTE，DVB，微波无线电衰减模拟器● 工程/生产测试● 自动测试设备（ATE）★虹科HK-VMA-Q8X8SE衰减矩阵8x8衰减矩阵，频率范围为500–6000MHz，衰减范围为90dB，步长0.1dB，集成式服务器虹科HK-VMA-Q8X8SE衰减矩阵是一个机架式8输入8输出的无阻塞测试仪器，集成了Windows服务器，可独立操作，提供90dB的衰减控制范围，频率范围为500-6000MHz，在所有64种路径组合上步长为0.1dB，可以很容易地对固定衰减、扫频衰减斜率和衰减曲线进行编程。虹科HK-VMA-Q8X8SE采用交流供电，通过机箱后面的一个以太网端口进行控制，射频输入信号通过后面板进入，在前面板获得输出信号。特点● 可靠和可重复的固态数字衰减● 包括Windows和Linux SDK● 可编程的衰减曲线● 以太网控制● 集成服务器应用● WiFi，WiFi 6● LTE，5G，6G● MIMO、多点无线电衰减模拟器● 半导体测试和鉴定● 自动测试设备（ATE）★虹科HK-DAT306K30GHz宽频数字微波步进衰减器虹科HK-DAT306K是一款独立的宽带数字微波衰减器，额定频率为1-30GHz，衰减量从0到60dB不等，最小步长为0.50dB，插入损耗通常低于10dB。虹科HK-DAT306K是一个三重控制设备，衰减设置可以通过用户界面、USB端口串行命令或以太网接口来改变。特点● 最大输入功率：+28.0dBm● 40GHz精密2.92mm K型连接器● USB供电和控制（虚拟COM串口-115.2Kbps）● 音频反馈、LED和OLED显示● 用于PC的简单控制软件● 标准以太网连接● 提供6GHz、12GHz、22GHz等不同型号应用● 电子战● 自动测试环境● 一般射频实验室使用● 控制系统● 卫星通信● 生产验证● 教育/大学实验室● 航空航天/国防研究● 无线基础设施● 雷达系统● 无线基础设施

合适的食品质量检测方法十分重要，科学家利用众多方法来测试不同的污染物。最近一种红外衰减全反射（IR-ATR）仪器在食品检测领域流行起来，它可以在几乎不需要样品制备的情况下获取倏逝场吸收，同时促进对任何聚集状态中的分析物的无损分析。食品安全控制概念 | 图片来源：© Alexander Raths - stock.adobe.com最近发表在《应用光谱学》杂志上的一项研究介绍了一种便携式的红外衰减全反射（IR-ATR）食品分析设备，可用于分析食品行业中有重要意义的物质。该系统的核心是了解脂质中脂肪酸（FAs）的组成；由于正常的脂质成分是表征鱼类等食品的质量的特征指标，但易受环境因素如水质、捕捞季节和温度的影响，因此跟踪脂肪酸是理解脂质的真实特征以及它们如何影响食物质量的关键。该系统还使用了霉菌毒素和有机溶剂作为代表进行了测试。霉菌毒素是与真菌污染相关的有害次生代谢物，它们的存在可能对人体和家畜的健康产生有害影响，因此检测它们对于食品安全至关重要。至于有机溶剂，食品行业主要将其用于从食品基质中提取成分，但由于传统方法性能优越，导致绿色提取方法不太受欢迎。这两种物质对于食品加工都是必不可少的，这也解释了为什么除了脂肪酸之外，IR-ATR 系统还主要针对它们进行测试。用傅立叶变换红外光谱仪（FT-IR）对便携式IR-ATR设备与传统实验室IR-ATR设备进行了对比测试，以展示前者系统的潜在优势。使用了三种类型的模型系统，每种系统内都含有不同的样品：溶解在水中的N，N-二甲基甲酰胺（(CH3)2NCH）（DMF）、溶解于乙醇中的硬脂酸（C17H35CO2H）以及溶解于甲醇中的DON（C15H20O6）。这些分析物作为典型的化合物类别，在中红外（MIR）光谱图中具有特征波段。通过两种系统的比较证实了的两者的多个因素，包括霉菌毒素的检测、FAs的分析以及有机溶剂的定量。值得注意的是，便携型系统的分析性能与标准型系统分析能力一致。然而，在该系统投入大规模使用之前仍需要进一步的工作要做。科学家在研究中指出：“未来研究旨在分析更复杂的系统，包括真正的鱼类样品和各种含有真菌污染物/霉菌毒素的谷类作物提取物，并采用先进的数据分析方法来开发无需标记的快速筛查方法。”

研究：暴露于中子和伽马辐射的熔融石英和蓝宝石的光学吸收以及同时热退火。图片来源：RHJPhtotos 通过同时和辐照后热退火研究了集成二氧化硅和蓝宝石的辐射诱导衰减 (RIA)。研究人员发现同时辐照热退火和辐照后热退火在二氧化硅和蓝宝石的光学行为方面存在重大差异。 该研究在选择和放置用于开发光学仪器应用(例如聚变或裂变反应堆)的光学材料方面具有广阔的潜力。它还帮助研究人员了解辐射对此类光学材料的影响。 熔融石英和蓝宝石等光学材料中的辐射引起的衰减通过减少核反应堆仪器检查停机的频率，可以显着提高核反应堆的辐射安全和经济性能，从而可以在线监测关键反应堆部件。 激光诱导击穿光谱 (LIBS) 可以通过在反应堆运行时对反应堆冷却剂的化学成分进行光谱研究来识别核反应堆部件的退化。 在适当的操作设置下了解光纤和透镜等光学材料的辐射效应至关重要，因为基于 LIBS 的仪器需要通过这些光学材料传输等离子体发射和高能激光脉冲。 二氧化硅和蓝宝石等普通光学材料具有光学特性，包括衰减和折射率，当暴露于核反应堆中的离子辐射效应时，这些特性会发生变化。 已经对集成二氧化硅和蓝宝石在受到中子和伽马射线照射然后进行热退火时的辐射诱导衰减 (RIA) 和辐射效应进行了多项研究。然而，由于辐照、检查和热退火之间的时间相当长，没有关于光学材料在同时高温和辐射效应下的原位行为的数据。 当前研究中的研究人员使用高羟基含量的 Heraeus Spectrosil 2000 集成二氧化硅 (S2000)、低羟基含量的 Heraeus Infrasil 302 集成二氧化硅 (I302) 和光学类蓝宝石进行了 220 nm 至 1100 nm 的 RIA 测量。这些光学材料在高达 800 C 的后辐照和同时辐照热退火下暴露于中子和伽马辐照下，以观察它们的辐射效应。 二氧化硅和蓝宝石光学吸收的实验装置第一个测量吸收的实验装置包括一个覆盖 220-1100 nm 光谱范围的 Ocean Insight HR4000 光谱仪和一个 Ocean Insight 卤素/氘光源。 第二个实验装置包括一个安装在60 Co 池干管上方的退火炉，用于光学材料的同步和后热退火。 目前的研究在俄亥俄州立大学核反应堆实验室的核反应堆和60 Co 辐照池中进行了辐照。在包含60 个Co 伽马源的圆柱形夹具的帮助下，一个 I302 样品在宾夕法尼亚州立大学辐射科学与工程中心暴露于 10Mrad 的辐照下。 使用具有二氧化硅-氧化铝绝缘的特制碳化硅线圈炉对样品进行干燥和空气中的退火。 这些熔炉被建造成适合60 Co 池和核反应堆干管内，以同时对样品进行热退火和辐照。 在辐照后退火实验中，在每次辐照剂量后将样品加热到指定的温度。 相反，在同时退火的情况下，样品在辐照过程中被连续加热到指定的温度，直到达到列出的剂量。 光学仪器在裂变和聚变应用中的发展潜力该研究展示了同时辐照和热退火的后果以及对光学渐变蓝宝石、I302 和 S2000 的辐射效应。 该团队观察到这些光学材料在同时和辐照后热退火条件下的行为的关键区别。 在 S2000 的情况下，对 n 剂量 1 和 2 进行辐照后 600 C 的热退火将材料恢复到未辐照的形式。在 800 C 时，具有相同剂量的同时辐照热退火样品保留了紫外线范围内的辐射诱导衰减。 在 n-Dose 1 和 n-Dose 2 的同时辐照热退火下，I302 还显示出 220 nm 至 900 nm 之间的平衡辐射诱导衰减光谱，这与 I302 主要恢复的辐照后热退火情况相反退火至 800 C 后变为未辐照状态。 与等效剂量辐照后热退火情况相比，在加热到 800 C 后样品几乎退火到其未辐照状态，蓝宝石在 n-Dose 1 和 2 的同时辐照热退火中显示出可能的平衡辐射诱导衰减范围退火条件。对于该光谱，在 260 nm 处获得了残余吸收峰，而在 300 nm 处获得了增加的吸收峰。 当前研究的最初目标是在高放射性和热环境中支持基于 LIBS 的仪器，以承受显着的辐射效应。 比较作为样品的光学材料的吸收光谱表明，S2000 是实现基于 LIBS 的仪器的最理想材料，最高退火温度为 800 C，中子注量为 1.7 x 10 17 n。厘米-2。 在 532 nm 和 1064 nm 的相关 LIBS 波长下，S2000 仅显示边缘辐射引起的衰减。在同时辐照热退火下，I3O2 产生了高达 900 nm 的相当大的辐射诱导衰减，这可能会限制 532 nm 的 LIBS 激光器。 与报道的 S2000 中没有明显的辐射诱导衰减相比，蓝宝石在 532 nm 或 1064 nm 处没有表现出同时辐照热退火的辐射诱导衰减。UV 范围内的残余辐射引起的衰减峰可能会干扰 LIBS 等离子体光谱。 参考BW Morgan、MP Van Zile、CM Petrie、P. Sabharwall、M. Burger、I. Jovanovic，暴露于中子和伽马辐射下的熔融石英和蓝宝石的光学吸收以及同时热退火。2022.核材料杂志。

AdvancedScience(IF:20.7)吕宥蓉&阙居振_缓解准二维钙钛矿光电二极体效率衰减的新策略随着全球能源转型的迫切性不断增强，太阳能已成为一种重要的替代能源。在众多可用技术中，特别是钙钛矿光电二极体（PeLEDs）这类太阳能光伏技术已在科学界广受关注。值得注意的是，准二维钙钛矿材料作为PeLEDs的一个子类别，由于量子限制效应和不同n相之间的有效能量传递，展现出良好的光学特性。然而，这些有前途的材料常常受到导电性差、载流子注入不佳以及在高电流密度下效率衰减严重等问题的困扰，限制了它们在太阳能转换中的应用潜力。来自中研院副研究员吕宥蓉与中国台湾大学化工系副教授阙居振等研究学者所共组团队最近发表了一篇研究，该研究旨在改善准二维钙钛矿光电二极体（PeLEDs）的性能。此团队致力于提高亮度、减少陷阱密度以及减缓高电流密度下的效率衰减问题。研究团队提出了一种创新方法，以增强这些准二维PeLEDs的性能，主要集中在提高亮度、减少陷阱密度和降低效率衰减等方面。PeLEDs的概念理解及其限制这项技术的核心在于钙钛矿材料的特性。这些材料通常是混合有机无机铅或锡卤化物，对于光伏应用具有良好的光吸收、载流子迁移率和发射特性等诱人特性，然而当这些材料在PeLEDs的准二维配置中应用时，它们的性能却受到一系列限制因素的限制。然而准二维钙钛矿材料，尽管具有良好的稳定性、可调节能隙和较高的光致发光量子产率，但导电性降低且载流子注入减少，这些问题导致在增加的电流密度下出现显著的效率衰减，降低了亮度和整体器件性能。解决准二维PeLEDs效率衰减问题本研究探索了一种新方法，通过在钙钛矿和电子传输层之间的界面添加一层薄的导电胆碱氧化物来缓解这些缺点。这种创新方法出人意料地并未增强钙钛矿膜中不同准二维相之间的能量传输。相反，它显著改善了钙钛矿界面的电子特性，引入这一额外的层次解决了两个关键难关。首先，它对钙钛矿膜中的表面缺陷进行了去活化处理。其次，它促进了电子注入并限制了界面上的空穴泄漏。结果，经过优化的纯Cs基准二维器件展现出超过70,000cdm&minus 2的亮度、10%以上的最大外部量子效率（EQE）以及在高偏压下显著降低的效率衰减，这些数据与对照组器件相比呈现出明显的改善，显示了所提出技术的有效性。实验方法与材料研究中探索了在准二维钙钛矿中引入导电胆碱氧化物PPT和PPF以减少光电器件效率衰减的潜在优势，重点放在在沉积电子传输层（ETL）之前，在钙钛矿膜上添加PPT或PPF额外层次的应用上，这个过程被认为可以增强载流子注入并去活化表面缺陷，从而抑制非辐射复合。对修改过的钙钛矿膜进行初步研究时，未观察到结晶度或相分布的明显变化。X射线衍射（XRD）和紫外可见吸收光谱（UV-Vis）证实了修改对相分布和膜质量没有影响，此外，PPT和PPF的应用并未显著改变膜的形态，这一点得到了扫描电子显微镜（SEM）的确认。为了了解这些修改对载流子动力学的影响，使用稳态光致发光（PL）光谱和时间分辨光致发光（TRPL）测量。在修改后的两个膜中观察到明显的PL熄灭，表明钙钛矿层和PPT/PPF层之间发生了载流子传输。此外，修改后的两个膜中的平均载流子寿命增加，表明有效去活化。作为对这些修改与钙钛矿相互作用的补充，使用核磁共振（NMR）、静电势（ESP）图和X射线光电子能谱（XPS）检测了PPT/PPF和钙钛矿之间的相互作用。这些测试的数据确认了后处理过程中PPT/PPF层成功旋涂到钙钛矿膜上。结果表明，磷酸胆碱氧化物中的P=O基团成功地与表面缺陷和空位协同作用，形成优势的去活化效应。在令人期盼的发现之后，基于修改过的钙钛矿膜制作了PeLEDs并与对照器件进行了比较。PPT和PPF的修改都显著提高了性能，防止了从钙钛矿层向ETL的空穴泄漏，并促进了电子传输。修改后的器件亮度是对照器件的两倍以上，并在高电压下显著降低效率衰减。这些结果突显了在纯Cs基准二维钙钛矿PeLEDs中使用PPT和PPF磷酸胆碱氧化物的潜力。总之，引入导电胆碱氧化物以去活化准二维钙钛矿材料在提高光电器件性能方面提供了令人寄予厚望的策略，未来进一步的研究将有助于优化这些材料在未来器件结构中的应用。在这项研究中，研究团队使用了EnlitechLQ100X-PL光致发光和发光量子产率测试系统，光焱科技这一款PLQY量测设备具有紧凑设计和NIST可追踪性的优势，其设备仅有502.4毫米（长）x322.5毫米（宽）x352毫米（高）的尺寸，提供了一个节省空间的解决方案，与手套箱集成再也不是难题，这种手套箱集成能力对一就实验尤其重要，可以在避免水解或氧化的情况下进行精确测量，避免测试物品的效率因水氧而降低应有的效率。LQ-100X-PL的先进仪器控制软件使其能够进行原位时间光致发光光谱分析并同时生成2D和3D图形。这种能力加速了材料表征过程，快速获得对样品的洞察。此外，LQ-100X-PL的光学设计将光谱波长范围从1000纳米扩展到1700纳米，并且与多种样品类型兼容，包括粉末、溶液和薄膜。这些特点凸显了该系统的多功能性，并在成功完成本研究中发挥了关键作用。本研究总结性地证明了策略性界面工程能够显著提高准二维PeLEDs的性能。通过在钙钛矿/电子传输层界面处引入薄的导电胆碱氧化物层，能够减少表面缺陷并促进载流子动力学的改善。这种增强的电子注入和改善的空穴阻挡效应使得器件亮度提高并在高电流密度下减少效率衰减。这项研究揭示了界面特性在PeLEDs性能中的关键作用，为未来在该领域的研究和开发开辟了新的途径。a)PPT和PPF的化学结构，后处理过程的示意图以及界面工程的插图。b)原始、PPT处理和PPF处理的钙钛矿薄膜的PL发射光谱，c)PLQYs，d)TRPL曲线，其中PLQYs是通过368nm激光测量的。31PNMR谱图，包括a)PPT和b)PPF及其与不同钙钛矿前体成分的混合物。c)PPT分子的ESP图。d)Pb4f信号的XPS谱图，涵盖原始的、PPT修饰的和PPF修饰的钙钛矿薄膜。e)表示PPT在钙钛矿表面的钝化功能的示意图。a)制造的PeLEDs的结构和b)能级图。c)J&minus V&minus L特性，d)归一化EQE电压曲线，e)归一化EQE电流密度曲线和f)制造的器件的EQE亮度曲线。使用可见区域的瞬态吸收（TA）颜色图，分别展现a）原始的、b）PPT修改的和c）PPF修改的钙钛矿薄膜。原始的、PPT修改的和PPF修改的钙钛矿薄膜的超快时间分辨TA谱分别为d）、e）和f）。在505nm的探测波长下，展示了g）原始的、h）PPT修改的和i）PPF修改的钙钛矿薄膜的功率依赖载流子动力学。a)对控制、PPT修饰和PPF修饰器件进行的EIS分析和b)电容-电压曲线。c)原始、PPT修饰、PPF修饰钙钛矿薄膜和TPBi的能级。d)修饰器件中更好的载流子动力学的示意图。

产品介绍真空衰减仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。专业适用于各种空的/预充式 注射器、水针及粉针瓶（玻璃/塑料）、灌装压盖瓶、奶粉罐、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先 进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准（软件或测试夹具）定制。执行标准：《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 《USP1207美国药典标准 》 《药品GMP指南——无菌药品》11.1密封完整性测试 《中国药典》2020年版四部 微生物检查法 《化学药品注射剂包装系统密封性研究技术指南（试行）》 《YYT 0681.18-2020 无菌医疗器械包装试验方法第18部分：用真空衰减法无损检验包装泄漏》 山东普创工业科技有限公司，专业研发生产包装检测设备，更多定制设备，等您来洽谈！

真空衰减法无损密封检测仪的原理在现代包装工业中，密封完整性是确保产品质量和安全性的关键因素之一。真空衰减法无损密封检测仪作为一种先进的检测技术，以其高效、精确和无损的特点，广泛应用于制药、食品、化妆品等行业的密封性测试。本文将深入探讨真空衰减法的原理、技术优势以及在不同领域的应用情况。真空衰减法的原理真空衰减法无损密封检测仪的核心原理在于利用压力差来检测包装容器的密封性。其操作流程如下：测试腔体准备：将待测容器置于专门的测试腔体中。真空抽吸：对测试腔体进行抽真空处理，形成容器内外的压差。气体泄漏：由于压差作用，容器内部的气体通过潜在的漏孔泄漏到测试腔体内。压力监测：主机压力传感器实时监测测试腔体的压力变化。数据比较：将监测到的压力变化值与预设的参考值进行比较，以判断容器的密封性是否达标。技术优势无损检测：与传统的破坏性测试方法相比，真空衰减法能够在不破坏产品的情况下完成密封性检测。高精度：采用高精度的CCIT测试技术，能够检测到微小的泄漏孔径和泄漏流量。符合标准：满足ASTM测试方法和FDA标准，确保检测结果的权威性和准确性。适用范围广：适用于多种包装容器，包括西林瓶、安瓿瓶、输液瓶等，覆盖大容量和小容量注射液以及冻干产品的密封完整性验证。应用领域制药行业：在制药领域，真空衰减法无损密封检测仪被用于确保药品包装的密封性，防止微生物污染和药物变质。第三方检测机构：作为独立的检测机构，使用该技术为客户提供客观、准确的密封性测试服务。药检机构：药检机构利用该技术进行药品质量监管，保障公众用药安全。结论真空衰减法无损密封检测仪以其高效、精确、无损的特点，为包装密封性检测提供了一种理想的解决方案。本文旨在提供一个关于真空衰减法无损密封检测仪的全面介绍，包括其工作原理、技术优势以及在不同行业中的广泛应用。希望能够帮助读者更好地理解这一技术，并认识到其在现代工业中的重要性。

国家药典委无菌药品包装密封性检查--真空衰减法真空衰减法是一种广泛用于药品包装系统密封性检测的方法。2024年，国家药典委公布了“9628无菌药品包装系统密封性指导原则”，其中详细描述了密封性测试术语、测试方法和验证等。真空衰减法因其应用范围广泛和市场接受度高而被推荐为首选试验方法。三泉中石作为9628中真空衰减法和压力衰减法标准的制定单位之一，对标准的制定过程及需要关注的条款都有深刻了解，在这里分享给大家：仪器装置真空衰减泄漏检测仪器通常包括真空衰减测试系统、与测试系统相连的测试腔、流量计或不同孔径的标准漏孔/标准泄漏件。其实在国外的相关标准中只规定了气体流量计，并没有标准漏孔的描述。之所以在这里加上，是因为了解到市场上有采用标准漏孔的设备。但是如果采用标准漏孔，应该安装不同孔径，用以验证不同泄漏。而不能只安装一个标准漏孔采用乘以不同系数型式来模拟不同泄漏量的孔径。这两者并不等同。目前市场上广泛采用的Leak-S微泄漏密封性测试仪均采用气体流量计配置，以适应不同样品的测试需求。微泄漏密封性测试仪介绍在这一条件背景下，三泉中石研发的微泄漏密封性测试仪是一种灵敏度高的检测设备，符合ASTM测试方法、USP1207、9628等标准试验要求。该仪器采用真空衰减法测试原理，实现了完全无损的检测技术。它适用于西林瓶、安瓿瓶、输液瓶、预充针、滴眼剂瓶等多种药品包装的密封完整性验证，被制药厂家、第三方检测机构、药检机构等广泛使用。测试原理微泄漏密封性测试仪的测试原理基于ASTM F2338真空衰减法密封测试标准要求，利用真空传感技术进行操作。测试过程中，将主机连接到一个特别设计的测试腔，该测试腔用于容纳待测物。仪器对测试腔进行抽真空，形成包装物内外的压力差。在压力作用下，包装物内的气体通过潜在的漏孔扩散至测试腔内。通过真空传感器技术，检测时间和压力的变化关系，与建立的数学模型进行比较，从而准确判断试样是否存在泄漏。测试方法在进行密封性测试时，需要控制并记录试验环境，避免在较高湿度下完成检测，因为检测环境中的水分可能在较高的真空度下挥发进而影响检测结果。这条表述很清晰，湿度对测试结果的影响还是很大的，主要原因是在真空状态下水分挥发，造成压力上升，从而真空衰减值也随之变化。试验样品：此外，含标签和/或粘胶的样品在测试前应去除标签，以保持瓶身清洁无遮挡，确保测试的准确性。虽然测试样品前要去掉标签会有很大工作量，但是三泉中石提醒这个标签是必须要去掉的。专家主要考虑的是标签覆盖位置阻挡部分泄漏点的检出，而在后期使用中又存在微生物侵入的风险。方法验证为了确保测试方法的有效性，需要进行方法验证，包括专属性、准确度、精密度、检测限、线性和耐用性等方面的评估。通过这些验证步骤，可以确保微泄漏密封性测试仪在不同条件下均能准确区分阴性对照样品和阳性对照样品。其中，专属性这一项9628中描述“内含药品的阳性对照样品，确保所有样品可以 100%识别”。三泉中石认为内容物对真空衰减法的影响还是比较大的。例如有的内容物为混悬液或者大分子类的产品，真空衰减法较难检测到泄漏，当然也不是绝对的，不管是哪种内容物都要经过方法的开发和验证的过程，得出的数据才能证明结论。因此这一项增加在药物干扰情况下方法的检出能力，还是很有必要的。结论真空衰减法作为一种成熟的药品包装密封性检测方法，结合微泄漏密封性测试仪的高精度CCIT测试技术，能够检测到微小孔径的泄漏，为药品包装的密封完整性提供了强有力的保障。

9628公示稿 无菌药品包装密封性检查-真空衰减法真空衰减法，作为药品包装系统密封性验证领域的一项广泛应用技术，于2024年迎来了国家药典委颁布的“9628无菌药品包装系统密封性指导原则”的详细阐述，该原则深入解析了密封性测试的专业术语、具体方法及验证流程等。在众多检测方法中，真空衰减法凭借其广泛的适用性和市场的高度认可，被明确推荐为首选检测手段。作为参与制定9628标准中真空衰减法与压力衰减法标准的制定单位之一，三泉中石在此深入剖析该标准的核心要点及实践中的注意事项。仪器装置概览真空衰减泄漏检测仪器的核心组件包括真空衰减测试系统、配套测试腔体、流量计，以及（可选）不同孔径的标准漏孔或泄漏件。值得注意的是，国际标准多聚焦于气体流量计，并没有标准漏孔的描述。之所以在这里加上，是因为了解到市场上有采用标准漏孔的设备。若选用标准漏孔，应该配备安装不同孔径，用以验证不同泄漏。而不能只安装一个标准漏孔采用乘以不同系数型式来模拟不同泄漏量的孔径。这两者并不等同。当前，市场上备受欢迎的三泉中石Leak-S系列微泄漏密封性测试仪，即采用了气体流量计配置，灵活应对各类药品包装的检测需求。微泄漏密封性测试仪亮点这款高灵敏度的仪器遵循ASTM、USP1207及9628等标准试验要求，依托真空衰减原理，实现了对药品包装（如西林瓶、安瓿瓶、输液瓶等）密封完整性的无损检测。其卓越的灵敏度和广泛的适用性，赢得了制药企业、第三方检测实验室及药品监管机构的广泛信赖。测试原理深析三泉中石的微泄漏密封性测试仪Leak-S在测试时，仪器将待测包装置于特制测试腔内，该测试腔用于容纳待测物。并抽取腔内空气以建立内外压差。在此压差驱动下，包装内可能存在的气体将通过微小漏孔逸出至测试腔，仪器则通过监测这一过程中检测时间和压力的变化关系，并与预设数学模型比对，从而精确判断包装的密封状态，是否存在泄漏。测试方法精要执行测试时，需严格控制并记录环境条件，特别是避免高湿度环境，以免水分蒸发影响真空度，进而干扰检测结果。此外，对于附有标签或粘胶的样品，测试前务必去除，以确保测试区域的完全暴露，避免标签遮挡潜在泄漏点，同时预防微生物入侵风险。虽然测试样品前要去掉标签会有很大工作量，但是三泉中石提醒这个标签是必须要去掉的。专家主要考虑的是标签覆盖位置阻挡部分泄漏点的检出，而在后期使用中又存在微生物侵入的风险。方法验证的全面性为确保测试方法的有效性和可靠性，需要进行包括专属性、准确度、精密度、检测限、线性关系及耐用性在内的全面验证。特别是专属性验证，9628标准强调了对内含药品的阳性对照样品的完全识别能力，三泉中石指出，不同内容物（如混悬液、大分子产品）可能对真空衰减法的灵敏度构成挑战，因此需针对具体药物特性进行方法开发与验证，以确保检测结果的准确无误。综上所述，微泄漏密封性测试仪的先进CCIT测试技术，为药品包装密封完整性检测提供了强大支持，能够精准捕捉微小泄漏，为药品安全保驾护航。作为专业从事包装检测仪器的行业制造商-济南三泉中石实验仪器有限公司，紧跟国家标准的要求，也参与部分国家药包材标准的制定工作。利用自身在包装检测领域多年的技术积累和行业应用经验，为标准的制定工作提供数据和理论的支持，为国家标准体系的建立添砖加瓦。

在满足目前各种应用需求的前提下，光谱分析仪器和方法也在不断的创新发展中，不论是分子光谱还是原子光谱都涌现了一系列创新的成果，特别是拉曼光谱、近红外光谱、激光诱导击穿光谱、太赫兹、超快光谱、荧光相关光谱、高光谱等相关技术彰显了极具诱惑的市场活力，引领着行业发展的方向。第十二届光谱网络会议（iCS 2023）中，近50位专家报告充分彰显了光谱创新潜力，纷纷展示了一系列的创新成果：从仪器整机到关键部件；从系统集成到方法开发；从大型科研仪器，到用于现场的便携、手持设备；从实验室检测设备，到过程分析技术……为了更好的展示这些创新成果，同时也进一步加深专家、用户、厂商之间的合作交流，会议主办方特别策划《光谱创新成果“闪耀”iCS2023》网络专题成果展，集中展示本次光谱会凸显的创新成果，包括但不限于仪器、部件、技术、方法、应用等。北京鉴知技术有限公司总经理 王红球本次会议中，北京鉴知技术有限公司王红球总经理分享了《基于大数据自动解析的在线光谱技术》（点击 回看 ）引发行业关注。会后，我们邀请北京鉴知技术有限公司向大家简单介绍他们在光谱技术及仪器研发应用方面的系列成果。1、典型仪器新品产品1，透射光谱仪：鉴知ST50S/90S/100S系列透射成像光谱仪是专门针对微弱信号检测的极致高性能光谱仪。ST50S/90S/100S系列光谱仪采用VPH体全息相位光栅，光栅衍射效率高达80%~90%，有更高的衍射效率；光路采用高数值孔径、零光学像差设计，可实现最佳的收集效率和理论极限分辨率；同时可兼容PI、ANDOR等科研级深度制冷相机，保证极佳的量子效率和暗电流噪声。产品2，OCT光谱仪：鉴知ST830E/850E系列光谱仪是光谱域OCT(SD-OCT)系统中的重要器件，决定了OCT系统的成像速度和信噪比随深度衰减程度等重要性能指标。它通过特殊的光路设计实现了波数线性的空间色散以及波数的等间隔采样。采集到的干涉光谱可以直接进行FFT无需波数重采样算法，极大降低了数据处理的复杂度，提升了系统的信噪比。此外，本产品还采用了体相位光栅(VPH)，在SD-OCT系统中信噪比可以达到110dB，获得了高质量的OCT/OCTA活体生物图像。2、解决方案（1）透射光谱仪支持多通道检测，体积紧凑便携，适合低浓度样品或微弱信号的工业检测，并可用于共聚焦拉曼分析，气体探测等。（2）OCT光谱仪可用于血管造影，激光振荡，实时3D成像，眼前房成像。3、合作需求对透射光谱仪和OCT感兴趣的老师，以及有相关典型应用的科研院所和老师可以与我们联系沟通，探索合作。附北京鉴知技术有限公司简介北京鉴知技术有限公司成立于2019年，源自同方威视技术股份有限公司与清华大学共建的安检技术研究院，是一家以光谱检测技术为核心的专业公司，产品广泛应用于缉私缉毒、液体安检、食品安全、药品检测等诸多领域，致力于为客户提供更先进的产品和更快捷的物质识别方案。公司专利累计申请数达200余件，所拥有的技术获得了国家科学技术委员会科技成果鉴定证书及中国专利优秀奖，相关产品获得了国际发明展览会金奖、北京市新技术新产品证书、中国科学仪器年度优秀新品奖、朱良漪分析仪器创新奖之“创新成果奖”等。公司拥有自主知识产权的五大系列十多个型号的拉曼光谱产品，产品类型包括手持拉曼、便携拉曼、台式显微拉曼，应用方向包括液体安检、毒品检测、食品安全检测、药品原辅料筛查、制药及化工在线检测等，覆盖海关、安检、轨道交通、食药检测、实验室应用等多个领域。

一、引言在评估包装密封性的过程中，真空衰减法密封仪和色水法密封试验仪是两种常用的检测方法。它们各自具有独特的检测原理和应用场景，但在检测效率方面存在差异。本文将对这两种仪器的检测效率进行比较，以便更好地了解它们在实际应用中的表现。二、真空衰减法密封仪的检测效率检测原理：真空衰减法密封仪基于真空传感技术，通过测量包装内部与外部之间的压力差来评估包装的密封性能。测试过程中，真空传感器会实时检测压力变化，并与预设的标准值进行比较，从而判断包装是否存在泄漏现象。检测速度：真空衰减法密封仪的检测速度较快，因为其在测试过程中可以自动化地进行数据记录和分析。根据参考文章2中的信息，第三代真空衰减技术灵敏度最大可达0.5μm（0.002ccm漏率），基于物理的基本原理进行泄漏检测，实现了最大限度地采用非破坏方式检测。这意味着在较短的时间内，真空衰减法密封仪可以完成大量的测试任务。应用优势：真空衰减法密封仪不仅检测速度快，而且具有高度自动化和智能化的特点。它能够减少人工干预，提高测试效率。此外，该测试仪还具有广泛的适用性，可适用于不同类型的药品包装，如玻璃瓶、塑料瓶、铝塑包装等。三、色水法密封试验仪的检测效率检测原理：色水法密封试验仪通过观察包装内液体渗出情况来判断密封性能。测试过程中，需要将待测包装充满色水，并观察是否有色水渗出。这种方法需要人工观察和判断，因此可能存在一定的主观性和误差。检测速度：与真空衰减法密封仪相比，色水法密封试验仪的检测速度较慢。首先，需要准备足够的色水并填充到待测包装中；其次，在测试过程中需要人工观察是否有色水渗出，这可能会耗费大量的时间和人力。应用局限性：色水法密封试验仪虽然适用于某些特定的包装类型，如塑料袋、瓶子等，但其应用范围相对有限。此外，由于需要人工观察和判断，该方法可能不适用于需要大量测试的情况。四、总结综上所述，真空衰减法密封仪在检测效率方面相较于色水法密封试验仪具有明显优势。其快速、准确、自动化的特点使得它能够在较短时间内完成大量的测试任务，并且具有广泛的适用性。因此，在需要高效、准确地评估包装密封性的场合中，真空衰减法密封仪是更为理想的选择。

2024甲辰龙年将至，这一年对于卓立汉光与仪器信息网都将是意义非凡的一年，我们共同迎来了25周岁生日，在此预祝我们生日快乐！25年来，我们全面见证了卓立汉光于光电行业的卓越成就，如今卓立汉光已成长为国内精密光学仪器和精密机械运动与控制技术产品的知名品牌。点击图片报名参与，重磅新品另有好礼相送 卓立汉光的闪耀，归功于25年来坚持自主研发创新的信念感。25年来，无论荧光，拉曼等光谱领域，还是形成系列化产品的位移台，光学调整架等招牌产品。“自主研发”是它们矢志不渝的坚守，助力国产仪器里程碑式的进步，并为国产替代，国产仪器产业建设的长足布局作出巨大贡献。至今产品行销海外，产品力与品牌特色亮点受到全球市场认可。2024年，卓立汉光将针对25周年举办一系列的品牌活动，聚焦光电行业，仪器应用与品牌前沿发展，敬请您的期待，即将于1月26日13：00举办的“卓立造，中国芯”——2024新品发布会为卓立汉光25周年系列活动的第一弹，开年大作自当诚意满满，总结来说：优秀产品重磅推出与技术干货倾情分享。卓立汉光邀请北京大学，中国海洋大学，中科院工程热物理所的多位知名专家为广大用户作出宝贵的技术应用报告，欢迎您届时收看！发布新品抢先看：01．2μm 掺铥光纤激光器无锡中镭光电-从光纤激光器到国产激光研发平台，立志于高端激光技术国产化，为国内激光工业领域提供具备良好品质和稳定供应链。产品涵盖2μm掺铥系列光纤激光器，高功率窄线宽系列光纤激光器等，并可满足科研及工业客户的特殊定制化需求。公司致力于成为高技术水平、高产品质量、高服务品质的科创技术型企业。02．实验室冷链安全监测产品及方案由温湿度监测、预警报警、历史数据查询分析、风险审计管理、开关门及断电监测等模块部分组成。该系统能将高精度监测与有效报警、报告和数据保存结合，将高智能传感器、最新的无线和有线通讯及网络技术集中应用于项目管理解决方案中。03．设备状态监测产品及解决方案 辅助人工巡检，赋能设备管理，守护设备健康；从传统的人工巡检模式，进入全新的无线监测时代，用户可实时了解设备运行状态，实现故障预诊、健康状态定级和智能化维护。工业级品质，高防护等级设计，轻松应对极端恶劣环境，产品稳定可靠。04．HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪采用全焦面非对称影像校正技术，光谱仪在宽波段范围内全焦面拥有极小的像差，整个像面上都呈现出近乎完美的影像效果，高光谱分辨率及光谱影像质量，让光谱分析测试突破极限。05．FI-RIR便携式红外拉曼一体机满足既需要拉曼有需要红外的用户，内置红外、拉曼数据库，可支持自建数据库，满足不同行业的现场鉴定，可广泛用于公安，环保、卫生、消防，安检，安监，海关，应急、出入境检验检疫等行业。06．高能量连续可调衰减器采用布儒斯特角起偏器与波片配合的方式，可实现高能量脉冲激光器的丝滑衰减，保证光斑衰减前后形貌一致，同时还能提高激光输出的偏振比；小巧体积，不偏转光路，可满足多种场景使用！07．TL-900 热释光测试系统专门为热释光测试而设计，可以对热释光样品进行热释光三维光谱热释光发光曲线，X射线荧光光谱测量，余辉衰减光谱的测量。辐照源可选择X 射线或者紫外光源，样品仓具备X 射线辐射防护，满足国标安全辐射剂量要求，快速加热模块实现多种升温速率控制，高灵敏度CCD 检测器可在快速升温过程中实时记录热释光的温度变化过程。08．T-lab系列 通用型条纹相机条纹相机是一种同时具备高时间分辨与高空间分辨的瞬态光学过程测量仪器。该系列条纹相机采用国际先进的同步型条纹管，扫描频率最高可达200MHz以上，时间分辨最高可达2ps.该产品集成了单次、低频触发扫描模块与高频同步扫描模块，可实现200nm到900nm光谱范围高分辨时域光谱测量；全新的T-lab 系列条纹相机真正实现了通用化，走进普通实验室。09．可见光分幅相机分幅相机是采用多路分光系统及快速光电子技术，整合2、4或8台像增强型门控相机于一体，实现高速分幅拍摄的一种超高速相机。短到1ns的帧频间隔，可以轻松实现10亿帧频的高速2幅、4幅，8幅，甚至16幅图像的单次极速拍照。主要用于观测极短过程的物理现象，例如 燃烧反应、放电、爆炸等；10．笼式系统提供更为便捷的方法来搭建各种光学系统。笼式系统使用四根坚固的不锈钢支杆，光学元件可以沿着公共的光轴安装，具有高灵活性和可精确定位的特点。可应用与高端科研仪器集成化的定制搭建，如空间光调制器、DMD衍射系统、白光干涉仪、生物传感器、多相机成像系统等。11．多种类高光谱智能一体机介绍 可见近红外高光谱相机（400-1700nm）：更高的光谱分辨率，更高的空间分辨率，单线扫描超过2k像素。光谱通道可抽行选择特定波段，以提高帧速。可广泛用于垃圾、塑料等工业分选领域。高光谱激光雷达热红外一体机：多元遥感探测新产品，集成了高光谱、激光雷达、热红外和可见光相机四种载荷，可挂载于无人机上同步采集数据，数据融合软件功能强大，可做多种数据的融合处理。便携式高光谱成像仪GaiaSmart-VN&NIR:最新一代便携式高光谱成像仪，可通过设备自带触摸屏幕进行操控、数据采集和图像结果查看及分析，高度一体化最新产品。机载叶绿素荧光光谱仪Gaiasky-SP-SIF：基于大疆M350 TRK的最新款机载叶绿素荧光光谱仪系统，搭配可锁定拍摄区域的可见光相机，实时获取感兴趣区域的叶绿素荧光数据。做到图谱对应的采集和保存。12．发光器件及发光材料IVL&量子效率&寿命光电综合测试系统：发光器件IVL测试系统：适用于钙钛矿，量子点，有机发光二极管及手性发光器件样品，亮度计和电源可根据需求进行选配，最小测试点可达0.064mm, 最小亮度：0.000137nit，光谱范围可扩展到近红外1080nm；可应用在手套箱环境内自动化测试。发光器件及材料量子效率测试系统：适用于溶液，粉末或薄膜样品或器件，样品治具可根据样品形态和尺寸进行定制，采用高反射率积分球及高灵敏度光谱仪，测试精度高，误差小。发光器件及模组寿命测试系统：多工位设计，可多样品同时测试，支持恒流、恒压、恒亮度模式，同样也支持脉冲模式，常温或高温通道可选，最多可扩展到512工位。AR/VR/XR测试：采用独特光学设计，模拟人眼的视场、大小、位置和调焦，专为 AR/VR/MR 类近眼显示器的光学测量而设计。客户指定的3-5 毫米入口瞳孔模拟人眼瞳孔的大小，可容纳500 - 2000 毫米的虚拟图像距离，可做光谱亮度，亮度，CIE 色度和CCT等参数测量。

如今，激光器已经广泛应用于通信、焊接和切割、增材制造、分析仪器、航空航天、军事国防以 及医疗等领域。激光的光束质量无论对于激光器制造客户还是激光器使用客户都是重要的核心指标之 一。许多客户依赖激光器的出厂报告，从而忽略了对于激光器光束质量测试的重要性，往往在后面激 光器使用过程中达不到理想的效果。通过下方的对比图可以看出，同样的功率情况下（100W），如果焦点产生微小的漂移，对于材 料加工处的功率密度足足变化了 72 倍！所以，激光器仅仅测试功率或能量是远远不够的。对于激光光束质量的定期检测，如激光光斑尺寸大小、能量分布、发散角、激光光束的峰值中心、几何中心、高斯拟合度、指向稳定性等等，都是非常必要的。我公司对于激光光束质量的测试有着丰富且**的经验，对于不同波长、不同功率、不同光斑大小的激光器都可以提供具有针对性的测试系统和方案。相机式光束分析仪相机式光束分析仪采用二维阵列光电传感器，直接将辐照在传感器上的光斑分布转换成图像，传输至电脑并进行分析。相机式光斑分析仪是目前使用*多的光斑分析仪，可以测试连续激光、脉冲激光、单个脉冲激光，可实时监控激光光斑的变化。完整的光束分析系统由三部分构成：（1）相机针对用户激光波长以及光斑大小不同的测量需求，SPIRICON 公司推出了如下几类面阵相机：● 硅基 CMOS 相机通常为 190nm ~ 1100nm；● InGaAs 面阵相机通常为 900 ~ 1700nm；● 热释电面阵相机则可覆盖13 ~ 355nm 及 1.06 ~ 3000μm。相机的芯片尺寸决定了能够测量的光斑的*大尺寸，而像素尺寸则决定了能够测量的*小光斑尺寸；通常需要 10 个像素体现一个光斑完整的信息。相机型号SP932ULT665SP504S波长范围190-1100nm340-1100nm芯片尺寸7.1×5.3mm12.5×10mm23×23mm像.大.3.45x3.45μm4.54×4.54μm4.5x4.5μm分.率2048x15362752×21925120×5120相机型号 XC-130 Pyrocam III HR Pyrocam IV波长范围900-1700nm13-355nm&1.06-3000µ m13-355nm&1.06-3000µ m芯片尺寸9.6*7.6mm12.8mm×12.8mm25.6mm×25.6mm像元大小30*30um75µ m×75µ m75µ m×75µ m分辨率320*256160×160320×320灵敏度64nw/pixel(CW)0.5nJ/pixel(Pulsed)64nw/pixel(CW) 0.5nJ/pixel(Pulsed)饱和度 1.3 μW/cm2 @ 1550 nm3.0W/cm2 (25Hz)4.5W/cm2（50Hz））3.0W/cm2 (25Hz)4.5W/cm2（50Hz）） （2）光束分析软件Spiricon 光斑分析软件BeamGage 界面人性化，操作便捷， 功能强大，其Ultra CAL**逐点背景扣除技术，可将测量环境中的杂散背景光完全扣除掉，使得测量结果真实，得到更精准的ISO 认证标准的光斑数据（详情见 ISO 11146-3-2004）。（3）附件针对用户的特殊要求或者激光的特殊参数设定，SPIRICON 公司推出了一系列光束分析仪的附件，如：分光器、衰减器、衰减器组、扩/缩束镜、宽光束成像仪、紫外转换模块等等。对于微米量级的光斑，传统面阵相机受到像素的制约，无法成像或者无法显示完整的光斑信息。我们有两类光束分析仪可供选择。狭缝扫描光束分析仪NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪，源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INC。PHOTON INC 自 1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪，在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR 可提供完备的光束分析解决方案。扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术，通过狭缝 / 小孔取样激光光束的一部分，将取样部分通过单点光电探测器测量强度，再通过扫描狭缝 / 小孔的位置，复原整个光斑的分布。扫描式光束分析仪的优点 :● 取样尺度可以到微米量级，远小于 CCD 像素，可获得较高的空间分辨率而无需放大；● 采用单点探测器，适应紫外 ~ 中远红外宽范围波段；● 适应弱光和强光分析；扫描式光束分析仪的缺点 :● 多次扫描重构光束分布，不适合输出不稳定的激光；● 不适合非典型分布的激光，近场光斑有热斑、有条纹等的状况。扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系；在很多应用，如小光斑测量（焦点测量）、红外高分辨率光束分析等方面，扫描式光束分析仪具备独特的优势。自研自产的焦斑分析仪系统及附件STD 型焦斑分析系统● 功率密度 / 能量密度较大，NA 小于 0.05（约 3°），且焦点之前可利用距离大于 100mm，应当考虑使用本型号。● L 型焦班分析系统的标准版，采用双楔，镜头在双楔之间。● 综合考虑了整体空间利用率、对镜头的保护等因素。● 可进一步升级成为双楔在前的型号，以应对特别大的功率密度 /● 能量密度。● 合适用户 : 科研和工业的传统激光用户，高功率高能量激光用户， 超长焦透镜用户，小 NA 客户。02 型焦班分析系统● 功率密度 / 能量密度较小，或 / 和 NA 大于 0.05（约 3°），或 / 和焦点之前可利用距离小于100mm，应当考虑使用本型号。● 比 STD 更好调节；物镜更容易打坏。● L 型焦班分析系统，采用双楔，镜头在双楔之前。如遇弱光，可定制将双楔换为双反射镜。● 02 型机架不用匹配镜头尺寸，通用，可按需选择镜头。● 非常方便对焦。● 合适用户 : 使用小于 100mm 透镜甚至显微镜头做物镜的用户（表面精密加工）；LD/ LED+ 微透镜的生产线做质检附件STA-C 系列 可堆叠 C 口衰减器&bull 18mm 大通光孔径。&bull 输入端为 C-Mount 内螺纹，输出端为 C-Mount 外螺纹。&bull 镜片有 1°倾角，因而可以堆叠使用。&bull 标称使用波段 350-1100nm。VAM-C-BB VAM-C-UV1 可切换式衰减模组&bull 18mm 通光孔径。&bull 标准品提供两组四片可推拉式切换的中性密度滤光片。&bull 用于需要快速改变衰减率的测量过程。&bull BB 表示宽波段，即 400-1100nm，提供 1+2、3+4 两组四片中性密度滤光片镜组。&bull UV1 表示紫外波段，即 350-400nm，提供 0.1+0.2、0.3+0.7 两组四片中性密度滤光片镜组。LS-V1 单楔激光采样模组&bull 20mm 大通光孔径。&bull 内置单片 JGS1 熔石英楔形镜采样片，易于拆卸和更换的楔形镜架。&bull 标称使用波段 190-1100nm。其他波段可定制。&bull 633nm 处 P 光采样率 0.6701%；S 光采样率 8.1858%。&bull 355nm 处 P 光采样率 0.7433%；S 光采样率 8.6216%。&bull 前端配模组母接口；后端配模组公接口及 C-Mount 外螺纹接口。DLS-BB 双楔激光采样模组&bull 15mm 通光孔径，体积紧凑。&bull 内置两片互相垂直的 JGS1 熔石英楔形镜采样片，无需考虑偏振方向。&bull 标称使用波段 190-1100nm，其他波段可定制。&bull 633nm 处采样率 0.05485%。&bull 355nm 处采样率 0.06408%。&bull 后端可配 C-Mount 外螺纹接口。SAM-BB-V1 SAM-UV1-V1 采样衰减模组&bull 20mm 大通光孔径。&bull BB 表示宽波段，即 400-1100nm，提供四个插槽和 0.3、0.7、1、2、3、4 六组中性密度滤光片镜组。&bull UV1 表示紫外波段，即 350-400nm，提供四个插槽和 0.1、0.2、0.3、0.7、1、2 六组中性密度滤光片镜组。&bull 前端配模组母接口；后端配 C-Mount 外螺纹接口。DSAM-BB DSAM-UV1 双楔采样衰减模组&bull 15mm 通光孔径，体积紧凑。&bull 内置两片互相垂直的 JGS1 熔石英楔形镜采样片，633nm 处采样率 0.05485%；无需考虑偏振方向。&bull BB 表示宽波段，即 400——1100nm，提供四个插槽和 0.3、0.7、1、2、3、4 六组中性密度滤光片镜组。&bull UV1 表示紫外波段，即 350——400nm，提供四个插槽和 0.1、0.2、0.3、0.7、1、2 六组中性密度滤光片镜组。&bull 后端配 C-Mount 外螺纹接口对于大功率激光器客户，如增材制造应用以及光纤激光器客户，我们还有专门的光束分析仪系统BeamCheck 和 BeamPeek 集成 CCD 光束分析仪直接探测高功率激光的光斑，以及一台功率计用于实时监测测量激光的功率。特殊的分束系统使其可以直接用于高功率激光，极小部分功率被分配给光束分析仪进行光斑分析，而大部分功率由功率计直接探测激光功率。可在近场或焦点处测量。BeamCheck 可持续测量不大于600W 的增材加工激光，BeamPeek 体积更为小巧，可测量*大1000W 的增材加工激光不大于2 分钟，然后自然冷却后进行下一轮测试。 型号BeamCheck BeamPeek波长范围1060-1080nm532nm 1030-1080nm功率测试范围0.1-600W10-1000W可持续测试性持续测试焦点漂移准确度±50µ m接口方式GigE Ethernet仪器尺寸406.4mm×76.2mm×79.4mm

一、项目基本情况1.项目编号：HYHA2024-3089项目名称：中国海洋大学深海电磁监测系统、岩石物理参数测量仪系统等设备采购项目预算金额：586.200000 万元（人民币）最高限价（如有）：586.200000 万元（人民币）采购需求：包号货物名称数量简要技术需求1深海电磁监测系统1套简要技术需求详见招标公告附件。2海底节点15台地层条件岩石声电渗联测系统1台岩石物理参数测量仪系统1台预算金额及最高限价：人民币586.20万元，其中：第一包：300.00万元，第二包：286.20万元。合同履行期限：合同签订后开始履行，至项目完成（质保期满）为止。本项目( 不接受 )联合体投标。2.项目编号：HYHA2024-3085项目名称：中国海洋大学水体吸收衰减测量系统、高性能电子束发射枪等设备采购项目预算金额：474.330000 万元（人民币）最高限价（如有）：474.330000 万元（人民币）采购需求：包号货物名称数量简要技术需求1水体吸收衰减测量系统1简要技术需求详见招标公告附件。2单频脉冲光纤激光光源及其稳频系统13电子束曝光控制台1●高性能电子束发射枪14教学实训智慧底座1预算金额及最高限价：人民币474.33万元，其中：第一包：50.00万元，第二包：50.33万元，第三包：276.00万元，第四包：98.00万元。合同履行期限：合同签订后开始履行，至项目完成（质保期满）为止。本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间：2024年10月14日 至 2024年10月18日，每天上午8:30至12:00，下午12:00至16:30。（北京时间，法定节假日除外）地点：邮箱（panghaosheng@sdhyha.com）方式：本项目采用网上获取方式（扫码填报信息+邮箱发送资料）： （1）扫码填报信息：投标人扫描附件二维码，选取所要参与的项目点击“我要缴费”，根据提示完善投标人信息后保存提交（经办人选择逄昊晟）。（2）投标人缴纳标书费。 （3）投标人将法人授权委托书原件和被授权人身份证原件的扫描件、标书费汇款凭证的扫描件发至邮箱（panghaosheng@sdhyha.com）。售价：￥300.0 元，本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。1.采购人信息名 称：中国海洋大学　　　　　地址：山东省青岛市崂山区松岭路238号　　　　　　　　联系方式：崔老师 0532-66781979　　　　　　2.采购代理机构信息名 称：海逸恒安项目管理有限公司　　　　　　　　　　　　地　址：山东省青岛市崂山区香岭路1号北大资源博雅3号楼22层2203室　　　　　　　　　　　　联系方式：逄昊晟、曹丽娜0532-85761207　　　　　　　　　　　　3.项目联系方式项目联系人：逄昊晟、曹丽娜电　话：　　0532-85761207

示波器概述示波器是一种用途十分广泛的电子测量仪器。它能把肉眼看不见的电信号变换成看得见的图像，便于人们研究各种电现象的变化过程。示波器是电子信息工业的基础设备，是应用最广泛的通用电子测试测量仪器，被誉为电子工程师的眼睛，其主要通过采集电路中的电信号并存储和显示，并对信号进行测量、分析和处理，主要用于研发领域。示波器可分为模拟示波器和数字示波器，数字示波器可以分为数字存储示波器（DSO），数字荧光示波器（DPO）和采样示波器等。主要参数1、带宽：输入一个正弦波，保持幅度不变，增加信号频率，当示波器上显示的信号是实际信号幅度的70.7%(即3dB衰减)的时候，该对应的频率就等于示波器带宽。100MHz的带宽在测量100MHz的正弦波时，幅度会下降到原来的0.7，但是100mhz带宽的示波器不能测100mhz的方波，因为方波由基波和奇次谐波组成，5次以下的谐波对方波波形影响很大，所有要较好的看清楚方波，示波器带宽至少要比待测波形频率大5倍。2、采样率：每秒采样多少个样点。根据香农定理，为了避免波形混叠，采样率应该大于波形频率的2倍。一般来说采样率是带宽的5倍即可，比如200M带宽的示波器，配1G采样率就可以了。追求更高的采样率无非为了抓小毛刺，但是这些高频毛刺在带宽层已经被滤掉了，更高的采样率并不能带来很好的收益。3、存储深度：表示示波器可以保存的采样点的个数。4、最高波形捕获率：波形捕获率表示示波器单位时间内捕获多少次波形，其单位在英文中写作“wfm/s”（wfm是waveform的简写）,中文现在一般就写作“次/秒”、“帧/秒”。 波形捕获率的倒数就是捕获周期。5、死区时间：数字示波器对波形样本后处理所需要的时间7、通道数：通道的数量8、底噪：在不连接任何信号的情况下，通过示波器测量得到的噪声一般被称作仪器的底噪声。底噪声的大小对测量微弱信号很重要，如果底噪声较大，达到了和被测信号类似的大小，信号将淹没在噪声中，无法得到有价值的信息。9、触发类型：由于信号无时无刻都在变化，如果一股脑的都把他们显示在示波器上，就会很乱，根本无法让我们看清楚，从而也就无法观察信号来解决问题。考虑到信号大多数时候都是以某种规律周期性出现的，因此我们只要找到他重复的规律，把每一次重复叠加显示在示波器上，信号就可以稳定观察了。这种把信号稳定显示就是触发，也叫同步扫描。仪器配件探头（电压探头、电流探头等）信号通过探头衰减成合适比例送入示波器前端。示波器能测多大电压一般取决于探头，探头通过衰减可以把上万伏的电压信号变成几十伏。模拟示波器早期的示波器利用狭窄的、由高速电子组成的电子束，打在涂有荧光物质的屏面上，就可产生细小的光点（这是传统的模拟示波器的工作原理）。在被测信号的作用下，电子束就好像一支笔的笔尖，可以在屏面上描绘出被测信号的瞬时值的变化曲线。模拟示波器采用的是模拟电路（示波管，其基础是电子枪）电子枪向屏幕发射电子，发射的电子经聚焦形成电子束，并打到屏幕上，屏幕的内表面涂有荧光物质，这样电子束打中的点就会发出光来。模拟示波器的组成1、显示电路：显示电路包括示波管及其控制电路两个部分。示波管是一种特殊的电子管，是示波器一个重要组成部分。示波管由电子枪、偏转系统和荧光屏3个部分组成。阴极射线示波管2、Y轴放大电路：由于示波管的偏转灵敏度甚低，所以一般的被测信号电压都要先经过垂直放大电路的放大，再加到示波管的垂直偏转板上，以得到垂直方向的适当大小的图形。3、X轴放大电路：由于示波管水平方向的偏转灵敏度也很低，所以接入示波管水平偏转板的电压（锯齿波电压或其它电压）也要先经过水平放大电路的放大以后，再加到示波管的水平偏转板上，以得到水平方向适当大小的图形。4、扫描同步电路：扫描电路产生一个锯齿波电压。该锯齿波电压的频率能在一定的范围内连续可调。锯齿波电压的作用是使示波管阴极发出的电子束在荧光屏上形成周期性的、与时间成正比的水平位移，即形成时间基线。这样，才能把加在垂直方向的被测信号按时间的变化波形展现在荧光屏上。5、电源供给电路：供给垂直与水平放大电路、扫描与同步电路以及示波管与控制电路所需的负高压、灯丝电压等。模拟示波器的特点模拟示波器天生具备概率显示的特点，由于荧光屏的余辉暂留，不同概率出现的波形事件会以不同亮度出现在屏幕上，但由于波形的再现过程无法停止，某些偶然出现的单次事件因不具备一定的持续性而无法显示。概率显示是一个很有用的功能，比如某个波形上一个不是每次都出现的毛刺，如果用DSO，则这个毛刺的显示会不停的抖动，如果你暂停显示，则可能没有毛刺，也可能有毛刺，你无法判断毛刺出现的概率，如果用ART，则这个毛刺的出现概率会以不同亮度显示，因为这个特性，目前在开关电源开发领域，模拟示波器以其低廉的价格被广泛使用。数字示波器数字示波器是由模拟前端、ADC、触发电路、数据处理和波形显示几部分组成。数字示波器一般支持多级菜单，能提供给用户多种选择，多种分析功能。还有一些示波器可以提供存储，实现对波形的保存和处理。目前高端数字示波器主要依靠美国技术，对于300MHz带宽之内的示波器，目前国内品牌的示波器在性能上已经可以和国外品牌抗衡，且具有明显的性价比优势。数字示波器的组成现代数字示波器主要由以下5个部分构成：一、信号调理部分。信号调理部分主要由衰减器和放大器组成。信号通过探头或者测试电缆进入示波器内部后，首先经过的是衰减器和放大器，先进行衰减再进行放大。衰减器可以调节，当衰减比调节的较大时，可以测试大幅度的信号，当衰减比调节的较小时，通过放大器的放大作用可以测试小幅度的信号。使用示波器时经常会调整垂直刻度旋钮，其实就是在调整示波器前端的放大器和衰减器。对于数字示波器来说，其前端的衰减器、放大器等电路都是模拟电路，而这些模拟电路决定了数字示波器最关键的指标——带宽。示波器带宽的单位为Hz。通常所说的示波器的硬件带宽就是指数字示波器前端放大器等模拟电路组成的系统的带宽，它决定该示波器能够测量到的最高的信号频率范围。二、采集部分。采集部分由模数转换器（ADC）组成。通过前端的衰减器和放大器把信号调整到合适的幅度后，信号就进行数字化。数字化的过程是通过ADC（模数转换器）完成的，数字示波器以很高的采样率对被测信号进行采样，把输入的连续变化的电压信号转换成一个个离散的数字化样点。经过模数转换后，所有的波形的处理和测量、分析等工作都是在数字域完成的。数字示波器对被测信号进行模数转换的最高速率称为采样率，这是数字示波器除带宽外的第二个关键指标，其单位为Sa/s（Sample/s，即每秒钟可以采样多少个样点），它决定了该示波器是否可以对输入的高频信号进行足够充分的采样。三、存储部分。存储部分由存储器组成。数字示波器在ADC后面都有高速缓存，用来临时存储采样的数据，这些缓存有时也称为数字示波器的内存。缓存的大小通常称为内存深度，是数字示波器第三个关键指标，其单位是Sample，即样点数，它决定了示波器一次连续采集所能采到的最大样点数。数字示波器的内存是非常高速的缓存，或者是通过高速解复用芯片控制的高速存储器，单位存储空间的实现成本很高，因此扩展存储深度的价格非常贵，完全不同于通常意义上所说的计算机的内存。四、触发部分。触发部分主要有触发电路组成。触发是示波器非常重要的特征，因为示波器具有强大的触发功能，所以能够用于异常信号的捕获和电路故障的调试。五、波形的重建与显示部分。数字示波器先把一段数据采集到其高速缓存中，然后停止采集，采集的数据传递到数据处理器，要先进行Sin（x）/x的正弦内插，或线性内插进行波形的重建，重建后的波形可以进行各种各样的参数测量、信号运算和分析等。高速数字示波器进行数据处理的处理器可以采用多种方式实现，一些便携式示波器采用嵌入式微处理器，而很多Windows平台的示波器则会使用X86平台的通用CPU。数据经过处理器处理后，最终要显示在示波器的屏幕上才能被人眼观察到，现代的示波器显示屏幕主要是液晶显示屏。不同种类的数字示波器数字存储示波器（DSO）数字存储示波器和模拟示波器电路类似，分为水平控制部分和垂直控制部分，比模拟示波器多了显示处理部分。垂直控制部分包括信号前置预处理电路（放大或者衰减）、垂直方向预放大电路、ADC、存储单元、数据处理部分；水平控制部分包括衰减和放大电路、触发比较电路、延迟电路以及采样控制电路；显示处理部分主要将采样数据经过处理后输出到显示器上。数字荧光示波器（DPO）DPO在示波器技术上有了新的突破，能够实时显示、存储和分析复杂信号，利用三维信息(振幅、时间、及多层次辉度，用不同的辉度显示幅度分量出现的频率)充分展现信号的特征，尤其采用的数字荧光技术，通过多层次辉度或彩色能够显示长时间内信号的变化情况。DSO采用串行处理结构捕获、显示和分析信号，DPO则采用并行处理结构执行这些功能。DPO结构要求使用独特的ASIC硬件采集波形图像，提供高波形捕获速率，实现更高的信号查看水平。这种性能提高了看到数字系统中发生的瞬态事件的概率，如欠幅脉冲、毛刺和跳变错误，实现了进一步的分析功能。混合域示波器（MDO）2011年8月31日，示波器的发明者泰克公司推出了全球第一款革新性的新类型仪器——该新类型示波器集示波器和频谱仪于一体，泰克公司给这种新类型示波器命名为混合域示波器（Mixed Domain Oscilloscope），它可以帮助工程师捕获时间相关的模拟、数字和射频信号，从而获得完整的系统级观测，帮助工程师快速解决复杂的设计问题。混合信号示波器（MSO）混合信号示波器，简称MSO（Mixed-Signal Oscilloscopes）。混合信号示波器这个称呼沿袭了原HP（今Agilent）在1996年推出54645D时的说法，当时混合信号mcu正在兴起，HP正是看好这个机会才推出了混合示波器，当时HP的宣传是，首先它是一台示波器，其次还能添加逻辑分析功能。可是在之后的10年时间内只有Agilent一家在推MSO，别的示波器厂家似乎无动于衷，就是Agilent自己也只是从Mega-Zoom1进化到Mega-Zoom2。直到2006年Tektronix推出MSO4000，经过铺天盖地的宣传，MSO才逐渐得到了重视，所有厂家的热情似乎也被点燃。大家争相推出新的型号，完整的低速串行协议的触发和解码功能也被引进，逻辑分析的功能得到了大大的加强。目前除了传统的示波器4强，一些新兴的厂商也推出了MSO，比如国内的Rigol、Owon，德国的Hameg，更有厂商推出了基于PC的MSO。采样示波器采样示波器的全名为等效时间采样示波器，主要针对周期信号测量设计。与实时示波器不同，采样示波器在每次触发信号到来时只对数据采样一次，下次触发时，在触发信号后添加一个很小的延迟对信号再进行采样，直到采样到一个完整的周期波形。所以采样示波器在采样时，必须有一个触发事件。采样示波器的优点是宽带高、成本低（不需要ADC芯片）、精度高以及可以直接进行光信号的测量。行业与上下游的关系资料来源：公开资料整理、Frost & Sullivan 《全球和中国电子测量仪器行业独立市场研究报告》电子测量仪器行业上游供应商主要有电子元器件厂商、电子材料厂商、机电产品厂商、机械加工厂商和电子组装厂商等。电子元器件方面涉及主动电子元器件与被动电子元器件两大类。主动电子元器件，即能够执行数据运算、处理的组件，在测量仪器中主要起到电信号的激发放大、振荡、电流控制等功能，其在示波器、波形发生器等电子测量仪器中广泛使用，主要包括 IC 芯片、二极管、三极管等，其特点是等效电路均含有受控电源，其中 IC 芯片对电子测量仪器的基本功能进行模块化整合，是实现测量及相关处理功能的重要核心单元。目前电子测量仪器芯片的供应商以国外厂商为主。被动电子元器件，即不含有受控电源的电路组件，主要包括 RCL（电阻、电容、电感）及被动射频元器件两大类，其中 RCL 可以在测试测量仪器中起到分压分流、滤波、稳流等功能，是电路的基本组成元件，被动射频元件包含滤波器、变压器、震荡器等，在射频类仪器、电源及电子负载中被广泛应用。电子测量仪器行业下游即应用市场。电子测量仪器客户群极其广泛，所有与电子设备有关的企业，几乎都需要使用电子测量仪器。典型的下游应用领域主要包括教育与科研、工业生产、通信行业、航空航天、交通与能源、消费电子等。市场概况示波器是应用最广泛的测量仪器产品，而其中数字示波器在市场规模、应用范围上均占主导地位。数字示波器自上个世纪七十年代诞生以来，其应用越来越广泛，已成为测试工程师必备的工具之一。随着近几年来电子技术取得突破性的发展，全世界数字示波器市场进一步扩大，而作为在世界经济发展中扮演重要角色的中国，飞速发展的电子产业也催生了更庞大的数字示波器需求市场。数字示波器作为主要的通用电子测量设备，在工业生产与制造中被广泛应用。根据Frost & Sullivan《全球和中国电子测量仪器行业独立市场研究报告》，全球示波器市场规模 2019 年达到 78.30 亿元，预计 2025 年将达到 113.01 亿元，年均复合增长率6.31%；中国示波器市场规模从2015年的19.97亿元增长至2019年的26.56亿元，年均复合增长率7.39%，预计将在2025年达到42.15亿元，年均复合增长率8.00%。随着电子工业的持续高速发展，信息技术产品的智能化、网络化以及集成化程度逐步提高以及半导体、5G、人工智能、新能源、航天航空等行业驱动，数字示波器具有良好的发展前景。全球示波器市场统计及预测（2015-2025E）（亿元）中国示波器市场统计及预测（2015-2025E）（亿元）数据来源：Frost&Sullivan《全球和中国电子测量仪器行业独立市场研究报告》行业竞争情况示波器行业市场较为集中，根据 Frost&Sullivan《全球和中国电子测量仪器行业独立市场研究报告》，2019年，排名前五的企业占据了全球市场的50.40%，占据了中国市场的43.1%。从全球市场销量来看，行业内优势企业是德科技、泰 克、力科、罗德与施瓦茨等企业垄断了大部分市场份额。由于半导体工艺、单功能模块技术、系统架构技术等限制，国际巨头凭借着多年的积累有着良好的优势，占据着市场前四的份额。随着电子产业测试需求的进步，特别是5G、云服务、视频流、物联网、新能源、消费电子等新兴领域市场的工业客户都需要面临接口速率提升所带来的更高测试要求，因此对中高端示波器产品的需求将与日俱增。由于2GHz带宽以上示波器核心芯片无法通过公开市场进行采购，国内示波器厂商主要集中在中低端示波器产品领域。随着中国加大对上游 ADC 芯片、FPGA等领域的投资，上游芯片供应商发展逐步崛起，国内示波器厂商正逐渐从经济型示波器向中高端型市场发展。国内已经有示波器厂商通过自研示波器核心芯片，特别是在模拟前端芯片和ADC芯片上，具有了自主研发芯片的能力，突破了带宽和采样率的技术壁垒，突破了示波器4GHz 带宽、20GSa/s 采样率的技术限制，初步具备在高端型4GHz以上带宽市场与国外龙头厂商竞争的能力。部分示波器企业介绍公司名称简介是德科技是德科技公司的业务起源于美国惠普公司，是惠普公司电子测量集团1999年经重组成为安捷伦科技、2014年再次分拆在纽交所上市（股票代码：KEYS）而成立的一家高科技跨国公司。公司总部位于美国加州圣罗莎市。业务涉及电子测量仪器、系统和相关软件，软件设计工具和服务等。泰克泰克成立于1946年，是世界第一台触发式示波器的发明者。泰克于2016年7月加入福迪威集团（英文名Fortive Corporation，美国纽交所上市代码FTV）成为该集团测试测量业务板块的重要组成部分。罗德&施瓦茨1933年罗德与施瓦茨公司(R&S)正式成立，总部位于德国。1985年起在北京正式开展技术服务并设立了第一家代表处，是在中国最早设立代表机构的100家外资企业之一。R&S公司向中国市场提供了众多高科技、高精度、高质量的无线通信，测试与测量和广播电视产品及解决方案。力科LeCroy成立于1964年，是一家专业生产示波器厂家。旗下生产有数字示波器、SDA系列数字示波器、混合信号示波器、模块化仪器、任意波形发生器。1976年公司将总部搬到了纽约州Chestnut Ridge地区并保持至今。2012年，力科与世界著名的高科技公司Teledyne合并，力科公司名称由LeCroy改名为Teledyne LeCroy。福禄克福禄克电子仪器仪表公司于1948年成立，Fortive 集团的全资子公司。福禄克总部设在美国华盛顿州的埃弗里特市。普源精电普源精电（RIGOL）创立于1998年，主要产品包括数字示波器、波形发生器、射频类仪器、电源及电子负载、万用表及数据采集器等。2019年公司推出了 “凤凰座 ”数字示波器核心芯片组，并成功实现了产品产业化。2022年3月1日，证监会同意普源精电首次公开发行股票的注册申请。鼎阳科技2002年，鼎阳科技创业者们成立研发工作室开始研发自主示波器。2007年与力科成为战略合作伙伴。2021年成功登录科创板，成为通用电子测试测量仪器行业首家A股上市公司。电科思仪电科思仪原为中电科仪器仪表有限公司，成立于2015年5月8日，本部位于山东青岛，2020年3月31日完成混改工商变更，成为混合所有制形式下的（国有控股）有限责任公司，2020年12月31日完成股改工商变更，更名为“中电科思仪科技股份有限公司”，成为股份有限公司,主要从事微波/毫米波、光电、通信、基础通用类测量仪器以及自动测试系统、微波毫米波部件等产品的研制、开发和批量生产，并为军、民用电子元器件、组件、整机和系统的研制、生产提供检测与应用，致远电子广州致远电子有限公司创立于2001年，作为智能物联生态系统产品与解决方案供应商，专注服务工业领域企业类用户，提供从感知控制、互联互通、边缘计算到ZWS IoT-PaaS云平台的产品与系统化方案。固纬电子固纬电子成立于1975年，是电子测试测量仪器领域的专业制造商，由最初的电源迅速发展到高精度电子测试测量仪器领域。如今，固纬电子涉及了从示波器、频谱分析仪、信号发生器、电源、基本测试测量仪器到电池测试系统等400多种产品。

p 　　 strong 仪器信息网讯 /strong 2018年4月10日，两年一度的德国analytica展会在慕尼黑开幕。借此盛会，布鲁克宣布推出INVENIO& #8482 傅立叶变换红外(FT-IR)研究光谱仪、CTX& #8482 X射线荧光(XRF)元素分析仪两款新品。 /p p style=" text-align: center" img title=" 1.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201804/insimg/b91d87a4-2b7e-406c-85db-d36a6d529f8f.jpg" / /p p style=" text-align: center " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " strong INVENIO傅立叶变换红外(FT-IR)研究光谱仪 /strong /span /p p 　　INVENIO 是布鲁克VERTEX 70全波长高端红外光谱仪的后继产品，许多创新技术可与成熟的Vertex 70技术相结合。如独特的Rocksolid& #8482 干涉仪和FM技术，可同时进行中远红外光谱分析 新的MultiTect& #8482 技术允许控制多达五个内部检测器，覆盖从远红外到紫外可见光谱的范围 DigiTect& #8482 探测器插槽则可为多种探测器提供更丰富的灵活性 智能INVENIO光束路径进一步提高了光通量和光谱灵敏度等。 /p p 　　除了性能和灵活性之外，INVENIO的一个主要目标是简化研究用户的工作流程。集成式触摸面板可为研发应用程序提供直观的配置设置和工作流程，系统也可切换至笔记本电脑操作。 Transit& #8482 通道可以轻松进行透射测量，无需从样品室中取出实验。 /p p 　　与其他研究FT-IR相比，INVENIO还设计了带电磁安装的电子编码光束窗口、自动内部衰减器轮和用于标准和客户特定滤波器的8位验证轮。 /p p style=" text-align: center" img title=" 1 (1).jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201804/insimg/35c1efb0-2d8b-41dc-9ae5-e054e45a75dd.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong span style=" color: rgb(0, 112, 192) " CTX& #8482 X射线荧光(XRF)元素分析仪 /span /strong /p p 　　新型CTX采用4W X射线源，采用布鲁克专利的SharpBeam& #8482 优化X射线几何结构，高性能硅漂移探测器(SDD)以及DetectorShield& #8482 防扎检测功能，可实现Wi-Fi，蓝牙与USB连接，其触摸屏用户界面还可提供测量控制和结果显示。此外，布鲁克的Toolbox PC软件可实现CTX的全面远程操作，可选PC软件包括Bruker的Artax& #8482 ，用于高级定性、半定量成分分析，以及用于用户定义的经验关联的EasyCal& #8482 。 /p p 　　CTX有多种配置，可针对不同行业和应用进行优化，如矿物和采矿、食品安全和农业、制药原料、贵金属、聚合物和船用燃油分析。它专门设计用于需要在杯子或袋子中进行样品制备和/或样品制备的应用，以及需要测量时间仅需几秒钟的小样品。 /p p 　　便携式台式XRF(CTX)重量不足7公斤，宽度仅为14厘米。虽然CTX主要设计用于移动和现场实验室，但它也非常适合中央实验室和工厂车间进行快速预筛选或常规分析，以及作为大型XRF或ICP / AA系统的备份。 br/ /p

1、应用背景 　　等离子体是区别于固体、液体和气体的第四种物质聚集状态。在高能环境下，原子的外层电子摆脱原子核的束缚成为自由电子，失去电子的原子变成带正电的离子，这个过程叫电离，这种电离气体就是等离子体，通常由带电离子、自由电子、基态/激发态分子原子和自由基等粒子组成。等离子体在自然界中广泛存在，如太阳、恒星、星际物质、闪电等都是等离子体。 　　激光诱导等离子体(Laser-Induced Plasma, LIP)是通过激光与物质相互作用产生的一种高温、高密度的等离子体状态物质。当高能量的激光脉冲照射到物体表面时，会使得物质迅速加热并部分或完全电离，形成等离子体。伴随形成的等离子体羽流的演化过程具有超高速、持续时间短(一般几百纳秒)、强自发光背景和小空间尺度的特点，这使得其观测变得具有挑战性。 　　本次实验采用中智科仪的逐光IsCMOS像增强相机(TRC411)，拍摄了激光诱导等离子体羽流的形貌演化过程。基于逐光IsCMOS像增强相机的纳秒级快门门控、高精度的时序同步技术和变延迟序列推扫功能，记录了等离子体羽流的完整演化过程。 2、实验方案 　　实验设备： 　　中智科仪逐光IsCMOS像增强相机，型号：TRC411-S-HQB-F F2UV100大通量紫外镜头。 　　实验室所用激光器为镭宝Dawa-200灯泵浦电光调Q纳秒Nd:YAG激光器，波长1064nm，重复频率1-20Hz。采用激光器Q-out输出触发TRC411相机的方式，对相机Gate通道进行变延迟序列推扫，寻找相机与激光器的同步时刻。 　　实验流程： 　　1.实验材料被激发的等离子体羽发光在200nm-500nm左右，因此在镜头前端安装一个430nm的带通滤光片，屏蔽掉1064nm的激发激光和其他杂散光。需要注意观察成像画面中是否有强反射材料，比如样品台的光滑金属反光面或螺丝帽等，为了防止这些强烈反射面的反射光对相机造成损害，需要使用黑色电工胶带将它们遮挡或覆盖。 　　2. 激光器的Q-out触发输出接到示波器，测得同步输出的TTL信号电平为5V@1MΩ，频率与激光输出频率匹配，均为5Hz。TRC411相机可接受的最大外触发信号电平为5V，保守起见，在触发线末端加入了6dB衰减器，将激光器Q-out输出电平减半。 　　3. 由于等离子体的发光强度较大，无法确定所使用的滤光片的衰减倍率是否足够，因此首先将镜头光圈调至最小，设置增益为1800，Gate时间13ns(对应光学门宽3ns)。 　　软件参数设置如下表： 　　4. 对Gate通道进行变延迟序列扫描，最终找到Gate延时起止时刻在700ns至1100ns之间时，可以捕获到等离子体的发光信号。 　　软件参数设置界面： 3、实验结果 　　序列采集SEQ曲线： 　　根据曲线可以看到实验材料被激发的等离子体发光持续时间约为400ns。 　　高功率纳秒脉冲激光激发产生的完整等离子体羽形貌演变过程： 4、结论 　　中智科仪逐光IsCMOS像增强相机具有短至纳秒级的快门，超短的门控可以屏蔽背景噪声，提高信噪比。相机内置的高精度时序控制器可以确保相机与脉冲激光器的同步工作，在确定的延迟捕获等离子体信号。相机的变延迟序列扫描功能可以使相机快速拍摄不同延迟时刻的等离子体信号，获得完整的等离子体演化过程。诸多优势展示了TRC411相机在等离子体诊断方面的重要应用价值。 　　免责说明：中智科仪(北京)科技有限公司公众号发布的所有内容，包括文字和图片，主要基于授权内容或网络公开资料整理，仅供参考。所有内容的版权归原作者所有。若有内容侵犯了您的权利，请联系我们，我们将及时处理。 5、解决方案 　　由中智科仪自主研发生产的逐光IsCMOS像增强相机采用高量子效率低噪声的2代Hi-QE以及第3代GaAs像增强器，光学门宽短至500皮秒 全分辨率帧速高达98幅/秒 内置皮秒精度的多通道同步时序控制器，由SmartCapture软件进行可视化时序设置，完全适合时间分辨快速等离子现象。 　　1. 500皮秒光学快门 　　以皮秒精度捕捉瞬态现象，并大幅降低背景噪声。 　　2.超高采样频率 　　逐光IsCMOS相机目前全分辨率下可达98帧，提供高速数据采集速率，同时可提供实验效率。此外设置使用其中16行的区域下，可以达到1300帧以上。 　　3.精准的时序控制 　　逐光IsCMOS像增强相机具有三路独立输入输出的时序同步控制器，最短延迟时间为10皮秒，内外触发设置可实现与激光器以及其他装置精准同步。 　　4. 创新“零噪声”技术 　　得益于单光子信号的准确识别，相机的暗噪声及读出噪声被完全去除。

仪器信息网讯 2024年1月26日， “卓立造，中国芯”——2024年度新品发布会暨卓立汉光25周年系列活动（第一辑）在北辰五洲皇冠国际酒店召开。100余位专家、用户及卓立汉光的相关领导、技术专家等出席活动。特别值得一提的是，该活动在仪器信息网3i讲堂、视频号等多渠道全球同步直播。据不完全统计，超万人次线上参与，引发热烈讨论与交流。新品发布会现场北京卓立汉光仪器有限公司总经理 张志涛致辞苏州惟光探真科技有限公司创始人 刘争晖致辞卓立汉光成立于1999年，以精密位移控制以及光谱仪模块和光谱仪系统为核心，并且为广大的科研和工业客户提供相应的产品和服务。卓立汉光总经理张志涛在致辞中讲到：“今年是卓立汉光成立的25周年，非常感谢在过去的发展历程当中，所有客户对卓立汉光的支持与帮助，以及所有员工对卓立汉光的贡献。未来我们将会继续加大在技术研发和市场应用端的投入，实现卓立汉光下一个腾飞的25年。”苏州惟光探真科技有限公司创始人刘争晖在致辞中谈到了国产仪器目前面临的问题，并就国产科学仪器如何发展壮大与大家进行了探讨。其介绍说，“国产仪器要发展壮大就要欢迎竞争和内卷，关注核心技术，关注软件和应用体验等。”此外，致辞中，刘争晖还就科学仪器转移转化的方式谈了自己的看法。重磅新品揭幕据张志涛介绍，本次发布会推出了十余款新品，主要分成两大类，核心配件及应用系统。其中，核心配件重点突破关键技术，为客户及卓立汉光自身系统开发提供基础保障。比如 Hipers 光谱仪，实现了全球领先的光谱成像效果，将在科研及生命科学应用发挥重大作用；应用系统以解决客户需求为目的，提供最终解决方案。比如高光谱系列智能一体机，实现数据的收集、分析、输出的一体化设计，方便客户使用。接下来的会议日程依次为大家揭晓了本次发布会的新产品和相关解决方案，包括HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪、Image-λ-RT系列可见-近红外高光谱相机、FI-RIR便携式红外拉曼一体机、2μm 掺铥光纤激光器、高能量连续可调衰减器、TL-900 热释光测试系统、T-lab系列通用型条纹相机、可见光分幅相机、CS系列30mm笼式组件、无线温振传感器等，并在现场进行了真机展示。一直以来，卓立汉光深耕科学仪器行业，而此次新品的集中发布就特别彰显了科学仪器的“中国力量”！据介绍，本次发布会推出的HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪、Image-λ-RT系列可见-近红外高光谱相机等已经实现国产替代，甚至超越国外品牌。Image-λ-RT系列可见-近红外高光谱相机（左）、HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪（右）第一排：Omni-λ300s”影像谱王”光栅光谱仪/光谱仪（左）、FI-RIR便携式红外拉曼一体机（右）；第二排：超快时间分辨光谱测试系统（左）、超快高速成像-分幅相机（右）第一排：GaiaSmart系列高光谱成像仪（左）、高光谱激光雷达热红外一体机-GaiaSky-Lidar（中）、无人机载日光诱导叶绿素荧光系统GaiaSky-Fluo（右）；第二排： 像素级控光影像整机（左）、高能量连续可变偏振分光器（中）、CS系列30mm笼式组件（右）第一排：无线分体式温振传感器VA350_ICP（左）、无线温振传感器VA325（中）、NB-loT无线温振传感器VA525（右）；第二排：无线网关BS910、BS913（左）、VT108无线温湿度监控器和VT112温湿度监控终端（中）、全自动微区光电系统（右）第一排：北京必创科技股份有限公司产品经理 邱航（左）、无锡必创测控科技有限公司副总经理及研发负责人 姚先华（右）；第二排：北京清智元视科技有限公司首席执行官 胡成洋（左）、北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家 覃冰（右）北京必创科技股份有限公司产品经理邱航分享了设备状态监测产品及解决方案；无锡必创测控科技有限公司副总经理及研发负责人姚先华介绍了实验室冷链安全监测产品及方案；北京清智元视科技有限公司首席执行官胡成洋对新品“像素级控光影像整机”—MetaCam进行详细讲解；北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家覃冰对TL-900热释光测试系统和基于振镜的FLIM系统进行详细介绍。北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家 吴京航（左）、湖北众韦光电科技有限公司 蔡梦豪（中）、江苏双利合谱科技有限公司总经理 张永强（右）北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家吴京航介绍了超快时间分辨光谱与高速成像产品；湖北众韦光电科技有限公司蔡梦豪分享了全自动微区光电系统；江苏双利合谱科技有限公司总经理张永强详细讲解了多种类高光谱智能一体机系统。北京卓立汉光仪器有限公司项目经理 佟飞（左）、无锡中镭光电科技有限公司研发总监 王旭（中）、北京卓立汉光仪器有限公司激光产品服务部总经理 张瑞宝（右）北京卓立汉光仪器有限公司项目经理佟飞介绍了全焦面影像校正光谱仪；无锡中镭光电科技有限公司研发总监王旭介绍了2μm波段光纤激光器新品；北京卓立汉光仪器有限公司激光产品服务部总经理张瑞宝分享了高能量连续可调衰减器。北京卓立汉光仪器有限公司工业分析仪器事业部总经理 李敏（左）、北京卓立汉光仪器有限公司光机机械工程师 曹佳宝（中）、北京卓立汉光仪器有限公司光色测量事业部总经理 韩莉（右）北京卓立汉光仪器有限公司工业分析仪器事业部总经理李敏讲解了便携式红外-拉曼检测系统；北京卓立汉光仪器有限公司光机机械工程师曹佳宝讲解了CS系列30mm笼式结构组件；北京卓立汉光仪器有限公司光色测量事业部总经理韩莉带来了发光材料及器件光色电综合测试方案。相关新产品的详细特点和性能优势请查看仪器信息网的视频回放。北京大学副研究员 洪浩（左）、中国科学院化学研究所研究员 张贞（中）、中国海洋大学副教授 夏呈辉（右）除了优秀产品重磅推出与技术干货倾情分享外，本次活动还诚邀业内重要专家现场分享，共话光电新品与未来。其中，北京大学副研究员洪浩以《二维材料界面非线性光学调控》为题进行报告分享；中国科学院化学研究所研究员张贞以《复杂界面分子结构非线性光谱研究》为题展开讨论；中国海洋大学副教授夏呈辉进行《多功能半导体铜基疏化物纳米晶体的精准制备及光电性质研究》的主题报告。北京卓立汉光仪器有限公司销售经理 刘沫主持活动合影留念25年的积累、25年的沉淀，25年的风雨兼程，卓立汉光在国产替代的道路上砥砺前行。25周年，也必将是一个新起点，就像张志涛在致辞中介绍的：2024年不光是卓立汉光成立25周年的重要时刻，也将定义为卓立汉光进军国际市场、打造国际知名品牌的元年。据悉，本次发布会是卓立汉光25周年庆典的一个开端，后面将展开卓立25周年的质量万里行回馈客户活动、逐梦光电﹣卓立汉光25周年特别用户研讨会、贯穿全年度的线上名师讲堂活动、线下区域性的用户交流活动等一系列的市场宣传和客户回馈活动，敬请期待！虎啸龙吟展宏图，2024甲辰龙年是卓立汉光的25周年，也是卓立汉光和仪器信息网携手同行的16年，更是品牌合作伙伴加深合作的新一年，期待双方强强联手，合作共赢！活动直播过程中，仪器信息网的3i讲堂和视频号分别为参会代表准备了有奖问答、红包雨等系列惊喜，现场氛围热烈非凡，更多精彩内容请查看：

阳离子无序岩盐 (DRS) 材料因具有优异的初始可逆性和较为容易的 Li+嵌入及较高速率的嵌入脱出结构，而被广泛应用和研究。然而，迄今为止，引入的所有 Li-rich氟氧化物都存在循环寿命短和严重的容量衰减等问题。在无序的岩盐结构中，锂离子的传输路径主要通过四面体位点的网络进行传输，在这个路径上没有过渡金属离子。没有过渡金属，就意味着没有静电排斥，有利于离子传输。而该类材料循环寿命短和严重的容量衰减等问题主要源于阴离子氧化还原问题。通过高价态Ti离子替代和F-离子替代，可有效的提升电池的循环寿命。基于此，德国卡尔斯鲁厄理工大学的Maximilian Fichtner教授及其他合作者成功的结合了利用高价Ti4+离子及部分F-离子取代O2等策略，使得该材料展现了长循环条件下更加优异的电化学性能和库伦效率。Ti4+离子的存在，使得正材料中无序岩盐结构的形成，而低价态F的存在可以实现电荷平衡（与Mn2+配位）。值得注意的是，该团队利用了台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS（台式easyXAFS300+，美国easyXAFS公司），成功的揭示了电化学反应中，Ti元素和Mn元素的价态变化，进一步验证了高价Ti离子和部分F离子替代后策略背后的作用机理，相关研究成果发表于Chemistry of Materials (https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.1c02334)。图1. (a) 不同Ti含量样品的Ti k edge XANES对比谱图（b）XANES放大图谱（c）不同Ti含量样品的Mn k edge XANES对比谱图（d）XANES放大图谱先，该课题组通过利用高能球磨法，制备了一系列的Li2MnIIIO2F，Li2Mn1/3IIMn1/3IIITi1/3IVO2F，Li2Mn1/2IITi1/2IVO2F, 和Li2Mn1/3IITi1/3IIITi1/3IVO2F样品，分别标记为0%Ti，33% Ti，50% Ti和66% Ti样品。该团队利用X射线吸收谱（台式easyXAFS300+，美国easyXAFS公司）来进行表面化学分析。如图1所示，1a展示了Ti k edge吸收谱，通过与标样的指纹峰对比，可以发现33% Ti，50% Ti样品的吸收边位置与TiO2接近，而66% Ti样品的吸收边位置向低能的Ti2O3靠近，图1b展示的更为清楚仔细。以上数据证明，33% Ti，50% Ti样品中的Ti离子主要以Ti4+存在，而66% Ti样品主要以Ti3+/4+混合态存在，且Ti3+的含量不容忽视。而图1c和1d展示是Mn k edge XANES谱图。0%Ti样品Mn的吸收边位置与Mn2O3接近，而66%Ti样品的吸收边位置与MnO接近。证明0%Ti和66%Ti样品中Mn的价态分别为+3价和+2价。而33% Ti和50% Ti样品中的Mn主要为+3价和+2价的混合价态。其中50% Ti样品的吸收边位置向MnO靠近，说明Mn(II)在50% Ti样品中的占比比66%Ti样品中的大。以上这些数据证实了研究人员的猜想，原始样品中的Ti原子主要倾向于+4价，而对于高Ti含量的样品，部分Ti原子会以+3价存在。而+4价Ti的存在会导致材料中+2价Mn的存在，进而促使材料整体容量的提升。通过Ti的替代作用，提供了网格结构框架，不仅可以有效的提升结构的稳定性，还可以实现整体的优异电化学性能。由其他数据及电化学性能表征可以得出，Li2Mn2/3Ti1/3O2材料的形成在材料的结构稳定性中起关键作用。使用优化的 Ti含量替代的样品，其容量可以在100 次循环后，仍保持为 192 mAh g−1 (∼653 Wh kg−1)，200次循环后保持136 mAh g−1 (∼462 Wh kg−1)，这为今后开发同时兼具良好的能量和功率密度提供了良好的技术支持。图2. easyXAFS公司的台式XAFS/XES谱仪实验室台式XAFS谱仪优势：1. 台式设计，可以在实验室内随时满足日常样品分析；2. LabVIEW软件脚本控制，附带7位自动样品轮, 可以同时进行多个样品或样品参数条件下的测试；3. 可集成辅助设备，搭配原位池，可实现高压、气体氛围、电化学等条件下的测试（已辅助客户成功验证），实现原位表征测试。4. 台式XAFS/XES谱仪具有XAFS和XES两种工作模式，可快速切换，满足不同科研试验需求 5. 台式XAFS/XES谱仪测得的谱图效果可以媲美同步辐射数据，如图3所示，其测得的Ni元素的EXAFS，Ce和U元素的L3-edge的XANES谱图数据与同步辐射光源谱图效果完全一致；图3. （a, b）台式XAFS/XES谱仪与同步辐射光源测得的Ni EXAFS及傅里叶变换后R空间对比谱图, （c、d）Ce和U L3-edge XANES谱图数据对比图6. 多种型号和配置可选，满足不同科研要求；7. 操作便捷，维护成本低，安全可靠. 参考文献：[1] Shirazimoghadam Y , Kharbachi A E , Fichtner M . Towards Better Stability and Reversibility of Mn2+/Mn4+ Double Redox Activity in Disordered Rocksalt Oxyfluoride Cathode Materials[J]. ECS Meeting Abstracts, 2021, MA2021-01(4):251-251.

武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪（OCI）是基于光频域反射技术（OFDR），单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断，并且能轻松测试出光纤链路损耗情况。据了解，光频域反射技术（OFDR）测试插损方式是依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差异，其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。通常高分辨率光学链路诊断仪（OCI）插损测量动态范围为18dB，反射式测量方式动态范围为9dB。当待测链路中累积损耗超出9dB时，超出部分瑞利散射信号会被设备底噪淹没，给测试带来误差。针对上诉情况，本文借助光纤环形器测试出大插损光链路单向累积损耗。首先，测试样品为可调光衰减器，借助环形器测试大插损装置如图1，将光纤环行器2端口接到OCI设备DUT口上，1端口和3端口分别与可调衰减器进出口连接。OCI设备输出光从环形器2端口进入，3端口输出，经过待测样品后进入端口1，最后从端口2返回OCI仪器。图1.借助环形器测试大插损装置示意图OCI测试整个光链路结果如图2，距离-回损曲线在2.95719m位置出现最大回损峰值，对应整个光传输链路。由于OCI仪器默认显示为反射式测量，而本链路中借助环形器是透射式测量，所以实际链路长度为显示距离的两倍5.91438m。同时，该位置积分回损为-25.69dB，是环形器和可调光衰减器单向累积损耗总和。图2.OCI测试环形器连接可调光衰减器结果图第二，使用OCI单独测试光纤环形器，损耗测试装置如图3。图3.环形器损耗测试装置示意图图4.OCI测试环形器结果图测试结果如图4，从图中可以看出距离-回损曲线在1.86088m位置出现最大回损峰值（实际光纤环形器光链路长度为3.72176m），回损为-2.55dB，是环形器单向累积损耗总和。可调光衰减器插损为23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。第三，使用功率计测试可调光衰减器插耗，测试装置如图5，测得可调光衰减器插耗为23.33dB，OFDR测量结果与功率计测量结果仅相差0.19dB。图5.功率计测试可调光衰减器损耗装置示意图改变可调光衰减器插损，按照上诉方法分别用OCI和功率计测试可调光衰减器插损值，下表为10次测量可调光衰减器插损值对比表。从对比表可以看出OCI和功率计测试可调光衰减器插损对比误差不超过0.3dB，且OCI测试值均比功率计测试值大，这是由于功率计测试链路时，比OCI测试链路多一个FC法兰。因此，借助光纤环形器，高分辨率光学链路诊断仪（OCI）可以透射式测量大插损链路总体损耗，测试结果和功率计测试结果对比准确。不同于OCI反射式测量光纤链路分布式损耗，OCI透射式测量光链路损耗是测试整个光纤链路的累积损耗总和。OCI透射式测量插损准确性依赖OCI测试回损（RL）的动态范围，动态范围高达60dB以上时，可实现超出动态范围的大插损光链路损耗测量，进一步扩展OFDR设备使用场景。

X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure，XAFS)作为一种先进的X射线应用技术(图1a)，近年来应用和影响十分广泛。然而，与大多数其他光谱方法不同，XAFS技术主要用于在的设施上进行的一些研究，即同步辐射光源，而不为一般实验研究人员所获得。为了方便研究人员在实验室内进行XAFS测试，在过去的几十年里，实验室用的台式XAFS仪器发展迅速，尤其是近期根据美国华盛顿大学Gerald Seidler教授等人的总体概念而设计成功的实验室用台式XAFS谱仪（图1b），它以罗兰环为基本几何构型，并使用球形弯曲晶体分析仪(SBCA)。2015年基于该设计的easyXAFS公司正式成立(图1c)，并在XAFS仪器的设计和性能方面进行了多方的改进，致力于商用实验室台式XAFS谱仪在全球的推广和应用。具体来说，他们在仪器内部集成了一个更高功率的X射线源，增长了光源和检测器支架的长度，通过旋转实现了SBCA位置的跟踪 (移除了一个机械自由度)，并采用了Gerald Seidler教授和Devon Moretensen博士共同提出的无倾斜光学对准技术，再次移除了两个额外的机械自由度。这些优化大地降低了仪器的机械自由度，实现了更大的计数率/光通量和更宽的布拉格角范围，仪器的稳定性显著增强且更易于使用，使扩展的X射线吸收精细结构(EXAFS)测量和分析次在实验室内成为了可能，适用于较宽的能量范围和解决各种实验室研究问题（详细请见图1 d-g）。图1. (a) XAFS技术示意图；（b）罗兰环单色器设计；（c）easyXAFS公司台式XAFS谱仪及创始人Devon Mortensen (d-g) XAFS300+型号XAFS谱仪内部结构图作为一项具前途的应用领域，电能储存的发展离不开XAFS谱学表征。X射线吸收近边结构（XANES）作为一种有力的表征，可在不同的细节水平上研究电池材料的电子特性。例如，常规方法使用XANES评估电池材料在循环过程中的氧化还原可逆性；此外，许多XANES的例子也表明其可解决更复杂的形态研究，包括镍钴铝氧化物正材料的锂化动力学，辨别在锂锰晶石电中的可溶锰离子，评估锂硫电池中硫化物沉淀和活性物质利用不足的情况，并作为预测锂硫电池的次优容量的重要依据。图2. (a) 使用台式XAFS谱仪和同步辐射光源获得的VOPO4电池电材料中V元素的K边的XANES谱图对比；（b）使用台式XAFS谱仪获得的NMC电池电材料中Ni元素在充放电状态下的K边的XANES谱图对比；（c，e, f）不同充电状态下NMC中Ni, Mo和Co元素的XANES谱图；（d）不同充电速率下Ni元素的K边位置对比多种因素表明锂离子电池(LIB)正材料可作为实验室X射线吸收谱仪的理想系统。这是因为典型的正金属氧化物层的厚度通常会给出X射线吸收边步长 ?μx ～1 - 2, 表明其进行XAFS分析研究是可行的。另外，目前锂电池正材料的电化学活性元素通常为3d过渡金属，其K边能量一方面足够高，使得一些空气衰减完全可以接受，另一方面又足够低，使SBCA和其它基于布拉格方程的能量分析器仍然有很好的效率。在这里，我们展示了几个XAFS研究的结果，这些包括一些代表性能源存储材料的XANES分析（图2a），原位电池研究（图2b-f），超电容器电材料研究（图3a-f）以及对照金属箔EXAFS谱图(图3 g-j)。这些研究结果有力地证明了实验室实用性XAFS光谱仪可以广泛适用于众多样品透射模式下的XAFS分析。 图2a中为使用实验室XAFS谱仪和同步辐射光源获得的VOPO4的XAFS谱图，两者非常一致，并且一些对阐明金属中心的分子对称性非常重要的XANES前边缘特征的细节信息也都可清晰获得体现。图2b为两种不同状态（充/放电）的NMC电材料中Ni金属的XANES，两者存在着非常明显的区别。其两个吸收峰边缘位置的明显变化, 通常可归因于Ni元素在充放电状态下氧化态的变化，证实了台式XAFS谱仪在锂电池正材料中特定元素氧化还原行为监测上的突出能力。另外，我们还证实，基于现代实验室日常分析的XAFS谱仪不仅可应用于非原位锂电池电材料的氧化态表征，也可用于与工业应用相关的标准锂电池包充放电速率影响的原位研究。如图2 c-f所示，使用台式XAFS谱仪在实验室环境下通过XANES进行研究，可以观察NMC电池材料中Ni元素在较高的电池充电速率下其氧化态的变化，甚至支持快速充放电研究, 并可拓展到其它储能研究中的应用（如超电容器）。华盛顿大学的曹国忠教授等人使用实验室台式XAFS研究了三种不同的类型导电聚合物(V?-V2O5/PANI, V?-V2O5/PEDOT和V?-V2O5/PPy)包裹的V2O5纳米纤维在聚合过程中在界面处生成?的情况（图3 a-f）。这些表面的V?会形成一个局部的电场，促进V?-V2O5/PPy纳米微粒的电荷转移动力学，且伴生的V4+和V3+还可以催化氧化还原反应，显著地提高超电容器的整体性能。通过对三种不同CP涂层的异同进行了比较和讨论发现，V?在CP中的分布取决于其聚合条件和包覆厚度。另外，研究人员将XAFS和XPS技术有机结合起来，全面的阐述了V?在表面层和体中的存在及其对电化学的影响，这种改善的电材料的电荷转移动力学有望用于下一代储能系统中。图3. (a-c) 使用台式XAFS谱仪得到的V?-V2O5/PANI, V?-V2O5/PEDOT和V?-V2O5/PPy中V元素的XANES谱图对比；（d）V?-V2O5/PANI的SEM图像及XANES；（e）KVOH和VOH的XRD和V元素的XANES谱图对比；（f）使用XPS和XANES表征V?-V2O5/PEDOT计算的得到的V2O5中氧空位的含量对比；（g-j）使用台式XAFS谱仪得到的V箔片的EXAFS谱图及其R和k空间变换谱图这种可以在不改变锂电池包结构或使用与快速充电应用相关的时间分辨技术下进行原位分析的技术，可以用来评估一些模型系统的充放电和健康状态。与传统同步加速器相比反馈速度更快，如带有多价电荷载体的电池或负离子氧化还原机制，在这些模型中电荷转移位点通常是不明确的。作为未来的发展方向, 基于实验室的XAFS研究模式可以作为电池退化机制研究的一个有用研究模型（其通常需要频繁和长期的XAFS分析和监测），加速新材料的发现和LIBs的操作模式的改进。参考文献：[1] An improved laboratory-based x-ray absorption fine structure and x-ray emission spectrometer for analytical applications in materials chemistry research. Rev. Sci. Instrum. 90, 024106 (2019).[2] Laboratory-Based X-ray Absorption Spectroscopy on a Working Pouch Cell Battery at Industrially-Relevant Charging Rates. Journal of The Electrochemical Society, 166 (12) A2549-A2555 (2019).[3] Interface Engineering V2O5 Nanofbers for High-Energy and Durable Supercapacitors. Small 2019, 15, 1901747.[4] Structural engineering of hydrated vanadium oxide cathode by K+ incorporation for high-capacity and long-cycling aqueous zinc ion batteries. Energy Storage Materials 29 (2020) 9–16.[5] Tailoring Energy and Power Density through Controlling the Concentration of Oxygen Vacancies in V2O5/PEDOT Nanocable Based Supercapacitors. ACS Appl. Mater. Interfaces 2019, 11, 16647?16655.[6] V2O5–Conductive polymer nanocables with builtin local electric field derived from interfacial oxygen vacancies for high energy density supercapacitors. J. Mater. Chem. A, 2019, 7, 17966.

一、产品介绍：超声探伤仪检定装置系统采用脉冲调制法对超声探伤仪的主要性能进行检定/校准，避免了探头对检定/校准的数据影响。该装置系统完全满足JJG 746-2004《超声探伤仪检定规程》的要求，可以作为计量标准装置对超声探伤仪的主要性能进行检定/校准，如：水平线性、垂直线性、动态范围、衰减器误差、zui大使用灵敏度等。二、技术参数频率范围：0.01 MHz～20 MHz频率稳定度：5×10-6频率准确度：5×10-6信号幅值范围：10mV～9V衰减范围：（0～101）dB衰减器分档形式：20 dB×2 10 dB×5 1 dB×10 0.1 dB×10衰减器误差：（0.5%*A±0.02dB），式中A为衰减量猝发音包含的正弦波个数：1～100个可调，正弦波失真度不大于0.5%声程范围：（50～6000）mm声速范围：（1000~9999）m/s信号输出模式：连续波、猝发音三、装置系统的基本操作超声波探伤仪检定装置系统属于精密仪器，要求稳压电源有地线。开启电源后，装置系统需要加载参数设置，如果加载成功进入选择界面，如图1所示；如果加载失败，进入故障警报界面。如果加载失败，可以通过点击“重新加载”进行重新加载系统参数；如果还是失败，请联系厂家进行维修或调校。选择界面中可以通过触摸屏进行操作，或者通过按键前4个按键（图3）进行操作，选择界面按键功能信息为上面标识部分，被选择的项目会变成绿色，反之是灰色；通过按键“确认”进入相应的功能界面。创新点：频率范围：0.01 MHz～20 MHz 频率稳定度：5× 10-6 频率准确度：5× 10-6 信号幅值范围：（-55 ～ +23）dB 衰减范围：（0～101）dB 衰减器分档形式：20 dB× 2 10 dB× 5 1 dB× 10 0.1 dB× 10 CTJ-5A超声波探伤仪检定装置

2月16日，从贵州电网公司信息中心获悉，该公司成立建设的通信仪器仪表实验室通过了国家质检总局对“通信专用光衰减标准装置”“通信光功率标准装置”“光时域反射计检定装置”“光通信用稳定光源检定装置”4项企业计量标准的考核，标志着该实验室正式投入使用，开展检定、校准工作。　　据了解，贵州电网公司通信仪器仪表实验室是贵州省、中国南方电网唯一获得通信计量标准的实验室，在全国电力行业通信仪器仪表计量实验方面也属首个。该实验室是以贵州电网公司信息中心技术骨干为核心搭建的通信仪器仪表检定校准及新技术应用实验室，于2015年1月经贵州电网公司考核认可。　　目前，该实验室已获得了国家质检总局授权贵州省质量监督局颁发的“光传输用稳定光源检定装置计量标准考核证书”“通信用光功率标准装置计量标准考核证书”“通信专用光衰减标准装置计量标准考核证书”“光时域反射计检定装置计量标准考核证书”，已具备按国家规程制度对贵州电网所辖各单位的通信用光源、光功率计、光衰减器及光时域反射计4类仪表开展检定、校准能力。同时，实验室培养国家计量检定员4名，并获得计量检定员证书。实验室对通信常用仪表计量工作的开展极大地提高了贵州电网通信仪表的计量精度，从而有效的提高贵州电网通信工作中的测量精度，确保通信建设、运维、抢修工作的顺利进行，保障电网通信安全可靠运行。

【引言】酿酒酵母菌是一种具有高工业附加值的菌种，其在真核和人类细胞研究等领域也有着非常重要的作用。酿酒酵母菌由于自身所在的细胞周期不同，遗传特性不同或是所处的环境不同可展现出球形单体，有芽双体或形成团簇等多种形貌。因此获得具有高纯度单一形貌的酿酒酵母菌无论是对生物学基础性研究还是对应用领域均有着非常重要的意义。 【成果简介】麦考瑞大学Ming Li课题组利用MicroWriter ML3小型台式无掩膜光刻机制备了一系列矩形微流控通道。在制备的微流控通道中，通过粘弹性流体和牛顿流体的共同作用对不同形貌的酿酒酵母菌进行了有效的分类和收集。借助MicroWirter ML3中所采用的无掩模技术，课题组轻松实现了对微流控传输通道长度的调节，优化出对不同形貌酵母菌进行分类的佳参数。 【图文导读】图1.在MicroWriter制备的微流控通道中利用粘弹性流体对不同形貌的酿酒酵母菌进行分类。（a）对不同形貌酿酒酵母菌，而非根据尺寸进行分类的原理图。微流控结构有两个入口，一个是用于注入酿酒酵母菌溶液，另一个用于注入聚氧乙烯（PEO）鞘液。除此之外，该结构还有一个微流控传输通道，一个扩展区和七个出口。所有的酵母菌初期排列在鞘液的边缘，在界面弹性升力和内在升力的共同作用下，酿酒酵母菌根据形貌在鞘液内被分类。（b）对酿酒酵母菌进行形貌分类的微流控通道设计图（左）和用MicroWirter ML3制备出的实际微流控通道（右）的对比。图中比例尺为10 μm。图2. 微流控传输通道的长度对不同形貌酿酒酵母菌分类的影响。（a）不同形貌的酿酒酵母菌在不同长度传输通道参数下的实际结果。黑色虚线代表传输通道的中心线。图中比例尺是50 μm。（b）不同形貌的酿酒酵母菌在侧向的分布结果，单体（蓝色），有芽双体（黄色）和形成团簇（紫色）。误差棒代表测量100次实验的分布结果。图3. PEO浓度1000 ppm，微流控传输通道长度15 mm，酵母菌流量为1μL/min, 鞘液流量为5μL/min的条件下不同形貌的酿酒酵母菌的分类和收集效果。（a）收集不同形貌酿酒酵母菌的七个出口。（b）不同形貌酵母菌在入口和出口的比较图。（c）实验表明不同形貌的酵母菌可在不同出口处进行收集。单体主要在O1出口，形成团簇的菌主要O4出口。（d）不同出口处对不同形貌的酿酒酵母菌的分类结果，单体（蓝色），有芽双体（黄色）和形成团簇（紫色）。（e）和（f）不同出口对不同形貌的酿酒酵母菌的分离和收集结果的柱状图。误差棒代表着三次实验的误差结果。 【结论】随着微流控在生物领域的应用逐渐增多，影响力逐渐扩大，如何快速开发出符合实验设计的原型微流控结构变得十分重要。由于实验过程中需要及时修改相应的参数，得到优化的实验结果，灵活多变的光刻手段显得尤为重要。从上文中可以看出，MicroWirter ML3小型台式无掩膜光刻机可以帮助用户快速实现原型微流控结构的开发，助力生物相关微流控领域的研究。 【参考文献】[1]. Liu P , Liu H , Yuan D , et al. Separation and Enrichment of Yeast Saccharomyces cerevisiae by Shape Using Viscoelastic Microfluidics[J]. Analytical Chemistry, 2021, 93(3):1586-1595.

示波器是电子工程师和维修人员的眼睛。没有示波器、频谱仪等观测仪表，判断电路工作状态是极其困难的。这样回答够明白了吧？示波器也是EE相关人员实操能力和理论基础水平的分水岭。电子科技大学硕士研究生复试时，很多导师曾经考的就是的是示波器工作原理和测试原理。可惜众高材生都答不上来。不要再哭穷了，示波器犯不着一两千块，五百元的50M带宽，200Ms采样的虚拟示波器足以胜任大部分学习中所需要的测量工作。比起各位的学习和生活开支，简直九牛一毛。对于大部分连操作都不熟悉的同学，你犯得着给他配1G以上带宽的示波器吗？我看大部分学习工作使用50M以的学生示波器就够了。哪个差不多的教研室和实验室没有个大几十万的示波器，那些评论区的一个个跟我们这些负责过采购工作的秀图秀报价、秀带宽和采样、秀Windows界面有意思吗？最常见的，示波器可以观察时钟信号、查看晶体振荡器工作是否正常，放大器的放大倍数足不足、是否饱和削顶、输入和输出信号的相位差，也可以观测SPI、I2C信号。我的第一台示波器是初中时收来的一台报废的日立 V1050F（双踪100M），在没有维修手册，只有万用表和示波器自带的校机方波的情况下，维修它的两个Y通道和电源耗费了一个懵懂的初中生不知多少时间和精力 高中时它也罢工过几次，不过都被我从生死线上拉回来了。贴张网图缅怀一下每天对着示波器捣鼓单边带短波电台、调试短波功率放大器的高中时光利用CRT示波器观察单边带信号（盗一张BG4REO的图）上面有答主回答说老长者万用表打天下。但那个时代和现在已经大不相同。修个半导体收音机，万用表判别工作点和电流、分辨个器件好坏确实可以胜任大部分工作。更早些时候，还有人不用万用表，用改锥打火、摸管子温度判断来修电子管收音机。现在的电子器材论其系统繁杂度和工作频率，已经远远不是一台黑白电视机、收音机能够比拟的。而且我相信，哪怕是维修黑白电视机的机械高频头，大家也会渴望有一台示波器的。在资源不足的情况下，用最少的器材胜任维修工作是那个艰难时期的无线电维修人员的必备技能，但是放在现在，很多EE等专业的本科、研究生，用示波器探头点一下看看就能解决的问题，非要复制粘贴到五个群里去提问，您不觉得这种人不管是智力还是其他知能方面水平都有问题吗？（笑）“电子系培养方案一周就够了”示波器不单纯是一个具有一定精度的电压—时间测量仪器，我认为示波器在很多场合都是时域分析的利器。建议大家在应用示波器进行电路调试和故障分析时，不要将示波器的用途局限在单纯观测信号流程中端口到端口的信号上。示波器可用于射频电路的调试和测量，常用的方法是直接在界面选择输入阻抗为50欧姆（通常示波器有50欧/1兆欧两档输入阻抗可选择），不过这种方法不能用于直接测量大功率射频信号，应适当串接衰减器。上古示波器Tek 2465B ，Y通道上方DC指示灯左边就是50欧输入阻抗指示，切换为50欧输入时才会亮起。射频电路的设计和调试中，大部分时候大家关注的是端口S参数、噪声和互调指标。但是仅仅在频域上进行分析，很难判断信号的时域形状（尤其是脉冲信号）。而示波器可以对射频脉冲信号包络进行提取和参数测量，这在雷达脉冲包络测试中很常见。早些时候测量雷达信号还要在输入端串接一个检波器，现在很多示波器都可以胜任雷达等脉冲信号的直接测量了。用示波器捕捉的四种不同包络形状的雷达信号来源：知乎，作者：外卖君

作者：马尔文仪器公司纳米颗粒及分子鉴定产品营销经理 Stephen Ball 　　动态光散射(DLS)是一项用于蛋白质、胶体和分散体的极具价值的粒度测量技术，其应用范围可轻松扩展到1 nm以下。本文中，马尔文仪器公司产品营销经理Stephen Ball将向您介绍DLS的工作原理，并就购买光散射系统时的关注事项为您并提供一些专业建议。 　　通过观察散射光，可以测定粒子分散体系或分子溶液的特性，如粒度、分子量和zeta电位。光散射系统充分挖掘利用这些特性之间关联，并在近几十年间经过不断完善，目前已经能为常规实验室应用提供高度自动化的检测。利用光散射仪器的检测快速而高效，可用来表征分散体系、胶体和蛋白质。 　　理论上，光散射仪器中使用的各种技术看起来可能很相似，但它们的功能和检测结果却在实际应用中千差万别，从而对仪器的寿命期价值产生显著影响。光散射系统中的组件和设计的差异也会导致数据质量及仪器适用范围产生很大的差异。例如，某些光散射系统可通过测量蛋白质电泳迁移率对蛋白质电荷以及粒度进行测定，从而成为生物制药应用中高效的选择方案。 　　撰写本文的目的在于为考虑采用动态光散射DLS技术的读者提供一个入门指南。本文将考察DLS的主要用途、应用领域，尤其会侧重系统设计中对于特定性能的重要性，从而为那些正为自身需求而关注DLS技术的用户提供背景信息和理论支持。 　　了解基本知识 　　当我们要开始对一种新的分析技术进行评估时，第一个重要步骤就是要了解它的基本工作原理。DLS的优势之一是它操作非常简单，而这直接源于它的测量原理。 　　由于热能，溶剂分子不断运动，和悬浮的颗粒物产生碰撞，使得分散体或溶液中的小颗粒做无规则的布朗运动。可以通过观测散射光随时间的波动性得到颗粒布朗运动的速度，这种技术被称为光子相关光谱法(PCS)或准弹性光散射法(QELS)，但现在通常称作动态光散射法(DLS)。 　　斯托克斯 - 爱因斯坦方程定义了颗粒布朗运动速度与颗粒大小之间的关系： 　　 　　其中，D = 扩散速度， k = 波尔兹曼常数，T = 绝对温度，h = 粘度，DH = 流体力学直径 　　上述关系式清楚地表示了在样品温度和连续相粘度已知的情况下，如何根据扩散速度测定粒径。尽管必须是控制检测温度，但很多商用仪器还是会对温度进行测量 而对于许多分散剂，尤其是水而言，粘度是已知的。在很多情况下，DLS实验所需的补充信息也仅仅是粘度测量。 　　DLS的优势 　　DLS固有的操作简便性意味着操作者无需具备很强的专业知识就能得到详尽而有用的数据，这个优点在最新的高度自动化系统中表现得尤为明显&mdash &mdash 一般分析只需要几秒钟的时间，并且分散剂的选择余地比较大，不管是水性还是非水性的，只要它们呈透明状并且不太粘稠，就都可以使用。这种测试方法所需的样品量也很小，最少时只需要几微升即可，这一点对于涉及宝贵的样品的早期研究而言是极具吸引力的。 　　实际上，DLS法在测量0.1 nm ~ 10 µ m范围的粒径时十分出色。它在测量小颗粒方面的能力尤为突出，对于绝大多数待测体系提供2nm及以上的准确、可重复的数据。从理论上讲，检测低密度分子的粒径仅仅受到仪器灵敏度的限制，但对致密颗粒而言，沉降是可能导致分析不准确的一个潜在问题。例如，对于密度为10g/ml的颗粒，最大检测粒径通常会限制在大约100nm以内。 　　无论是稀释样品还是混浊样品都可以用DLS法来进行测量，可分析的浓度范围最低可至0.1ppm，最高可达40%w/v。不过，由于样品浓度会大大影响其外观尺寸，因此当粒子含量较高时对样品的制备需要加倍小心。 　　上述适用的粒径和浓度范围以及该测量技术的高重现性(粒径20nm时可达到+/- 0.1nm)，使得DLS这种测量方法具有广泛的适用性。比如，它特别适合检测平均粒径的细微变化，这种变化可能会反映出胶体样品的稳定性 它也可以测得少量聚集体的出现。上述这些现象很有可能是某种样本解体的前兆，当用于药物的蛋白质研究时，这类情况的出现有可能对药物性能产生不利甚至有害的影响。 　　DLS法的局限性 　　DLS方法的大多数局限性可以或已经通过对实验操作过程进行改进，或对DLS技术进行改进来加以克服 但在区分仪器类型，尤其是对于那些要求异常苛刻的应用而言，它的局限性仍然值得我们加以关注。一般来说，DLS使用过程中遇到的大多数问题是出于以下原因： 　　&diams 存在较大的颗粒 　　超出仪器最高量程范围的颗粒应该事先被过滤掉。或者，如果大颗粒的存在量极少也可以通过软件进行处理。 　　&diams 沉淀 　　这种现象在较为致密的颗粒中尤其比较容易出现。提高分散液密度是比较有效的抑制方法(比如在系统中加入蔗糖)，但这种方法仅适用于密度不高于1.05 g/ml的样品体系。 　　&diams 分辨率较低 　　DLS不属于高分辨率的技术。当样品的粒度分布排列十分密集，且存在三种以上的粒度分布差异时，DLS 将无法对多重分散样品进行精确表征。在这种情况下，建议最好在测量之前对样品进行分离 而在测量方法上，则需要将DLS与制备技术如凝胶渗透法或尺寸排除色谱法(GPC / SEC)和(或)流场分离技术(FFF)联合使用。 　　&diams 多重光散射 　　多重散射是指从一个颗粒发出的散射光在到达探测器之前又会被其它粒子再次散射，在较致密的样品中，这种现象会使粒径计算的精确度受到影响。背散射检测器以大于90° 的角度进行测量，大大抑制了这一现象，从而扩大了该技术的测量范围。 　　&diams 分散剂的选择 　　虽然大多数分散剂都适用于DLS，但如果分散剂粘度大于100mPa.s，往往会影响测量的可靠性，另外分散剂对光的吸收也会对检测产生干扰。比如有色样品的散射光强度可能会有所降低。一种可行的解决方案是根据系统的灵敏度，采用不同的激光波长进行分析或对样品进行稀释。样品中的荧光也会对信噪比造成影响，但可以通过使用窄带滤波器来解决，以排除荧光杂散光的影响。 　　界定DLS检测仪的特性 　　上述的讨论是在对DLS仪器的界定特征进行检验的背景下展开的。对于任何分析技术，灵敏度都是最基本的要素，对于DLS系统，这方面的性能是由光学硬件和相应的设置来确定的。稀释度较高时，具有优越光学设置的系统能对较小的颗粒进行可靠测量，但对于在这些功能方面要求不高的应用而言，替代方案可能会更为经济。光学设置的主要元件包括： 　　&diams 激光源 　　具有低噪特性的稳定激光源最为合适，如某些氦氖气体激光器。也可以使用某些特定的固态激光器，但价格要贵得多 低成本的固态激光器使测量结果的精度和可重现性受到极大影响。 　　&diams 光学设置 　　光学设置的核心是进行测量的散射角。测量角固定于90o 时，可使系统简便而经济高效，为许多应用(见图1)提供合适的灵敏度级别。这类系统已得到广泛使用。 　　当实验需要灵敏度更高，或样品浓度更高时，最好选择较大的测量角度。例如马尔文仪器公司Zetasizer Nano系列激光粒度仪，采用非侵入式背散射检测器 (NIBS)，将测量角度调到175o(参见图1)，扩大了颗粒粒度与浓度的测量范围。由于入射光无需通过整个样品，因此显著减少了多重散射引起的测量不准确性，同样也排除了大灰尘颗粒的影响。 　　在上述两种类型的设置中采用了光纤光学收集组件，其提供的信噪比优于传统的相应部件，从而大大提高了数据质量。 　　&diams 检测器 　　检测器有两种类型：一种是便宜、灵敏度较低的光电倍增管PMT，另一种是较昂贵的、性能更好的雪崩光电二极管检测器(APD)。后者宣称效率高达65%，远远优于替代产品PMT4-20%的效率，从而使数据收集最大化，测量速度更快、质量更高。 　　要获得精确的DLS测量，另一项基本要求是必须对温度进行很好的控制。如同分散剂粘度一样，颗粒的布朗运动也直接和温度相关，因此温度控制较差造成的影响非常严重。例如，在环境温度下对水性体系进行测量，1oC的温度误差将导致2.4%的检测结果偏差，超过ISO13321 [1] 标准规定的+/-2% 或更新的 ISO 22412[2] 标准规定的范围。对于使用的各类比色皿，DLS仪器温度控制的合理目标是 +/-0.2oC。 　　比起在检测仪外部连接水浴装置，内置温度控制器在使用上更加方便，在测量精度、稳定性和重现性方面也更加可取。此外，具有高性能控制系统的仪器，既能进行快速的系统预热，又能迅速调整温度，从而对温度变化所产生的影响(如蛋白质热不稳定性)进行研究。 　　日常使用 　　当选择仪器时，评估整体性能特点尤为重要。然而，如果每天使用一个不太符合操作要求的系统所造成的不便会令人非常烦恼，甚至不想再去用它。因此，当需要在最终几个备选仪器之间进行选择时，以下几个问题是值得考虑一番的： 　　&diams 我最重要的需求是什么：速度还是准确性? 　　&diams 我的样品粒径的范围? 　　&diams 我要测量的样品属于什么类型，比如是否有毒?或者具有特别强的腐蚀性? 　　&diams 今后仪器的操作者是专家还是新手?他们具备多少关于光散射的专业知识? 　　速度与准确性 　　DLS测量通常成批进行，样品通常不同、且体积较小。测量时间一般按照能达到要求的重复性水平设置，但一般不大会超过几分钟。不过，分析效率可能因样品制备和系统清洗要求而有所不同，不同系统的使用方便性也会有较大的差异。如果DLS系统被用作 GPC/SEC 检测器，系统将设置为流体工作模式。由于样品流经仪器，为达到必要的精度，测量必须在短短几秒钟之内完成。 　　具有良好测试速度和准确性的仪器通常都价格较高，但考虑使用寿命期的成本更为重要。考虑到因不能满足重复性标准而进行反复实验所花费的时间和成本，以及因仪器装备不能满足常规实验室使用要求而造成的分析效率下降等因素，更昂贵一些的系统也许更能体现物有所值。 　　适用于各种样品类型的比色皿 　　大多数光散射系统在批量样品分析期间使用各种比色皿池或比色皿来盛放样品。它们通常是塑料(通常是聚苯乙烯)、玻璃或石英材质的，但大小各不相同。样品的最小用量取决于光学设置，通常为2-3 ml。不过，如果不考虑任何样品回收要求，也有一些系统测量只需要2µ l的样品用量。 　　一次性塑料比色皿无需清洗，消除了交叉污染的风险，特别适用于盛放有毒材料 有些比色皿只有50 &mu L大小。采用比色皿可以避免产生&lsquo 非比色皿&rsquo 系统(即把样品直接放在玻璃片上进行测量)因清洗不彻底而导致测量不准确的问题。石英比色皿具有更佳的测量质量，尤其是用于低浓度或小粒径样品时，这是因为石英材料具有优异的光学特性和抗划伤性。 　　减轻分析负担 　　光散射通常只是许多研究人员在实验室中常规使用的多种技术之一。仪器操作者可能不是光散射方面的专家，因而仪器操作的简便性是很有帮助的。 　　一些DLS系统在数据收集过程中即对数据进行评估，剔除因大颗粒存在而被污染的结果。这类些系统有助于提高样品制备的速度和容许范围。粒径大于10微米的颗粒主要发生向前散射，因此含背散射检测器的仪器对这些颗粒的存在不太敏感。测量浓度范围宽的系统尽可能降低了样品稀释的需求，进一步提高了测量效率。 　　大多数现代化测量系统在数据采集过程中都无需操作员干预，从而减少了分析师的工作量，并提高测量的可重复性。但是有些比较复杂的样本可能需要采用特殊方法进行测量，因此应在标准操作程序(SOPs) 中包含这些特殊方法，从而确保应用的标准化。 　　虽然自动测量现在已很普遍，但在内置数据分析支持程度方面，不同仪器之间的差异很大。如果是给非专业人员使用的光散射测量系统，那么含有内置数据分析和专家意见的先进软件将极富价值，就好像在电话另一端有一位可靠的、活生生的专家一样。 　　总结 　　DLS是一项比较成熟的技术，可为各种类型的样品进行粒径和分子尺寸测量。因此，在选择仪器时，必须将系统能力与用户要求紧密联系起来，使两者相匹配。光散射系统在测量粒径的同时，还可以测量分子量、蛋白质电荷和Zeta电位，甚至还能具有微流变学测量功能。 　　不同系统之间的灵敏度有很大差别，如同在高浓度下也能进行测量一样，也可对各种大小的颗粒或分子进行有效的测量。与那些90o 度探测器相比，背散射仪器具有很实际的优势。 　　除了性能以外，还有其它因素也会影响仪器使用寿命期内的价值，包括易于清洁 能获得的支持以及友好的用户软件界面。无论是什么规格的仪器，最好的建议是在购买前进行测试，看看你能否轻松得到有用的数据。DLS问世已经多年，因此不论你的用途是什么，你都可以期望拥有一套有使用针对性的、富有成效并且易于操作的测量系统。 　　结束 　　参考文献： 　　[1] ISO 13321 (1996) 粒度分析 - 光子相关光谱。 　　[2] ISO 22412 (2008) 粒度分析 - 动态光散射 　　[3] GPC / SEC静态光散射技术说明，(马尔文仪器公司白皮书)。下载网址：www.malvern.com/slsforgpc 　　[4] www.malvern.com/aurora 　　图片 　　图1：DLS系统的关键组件包括(1)激光器，(2)测量单元，(3)检测器，(4)衰减器，(5)相关器和(6)数据处理PC。探测器可置于90° 或更大的角度，例如这里所显示的NIBS检测器设置在175° 。 　　图2：在悬浮液稳定性研究中采用Zeta电位对粒子之间斥力进行量化 　　laser:激光器 　　attenuator:衰减器 　　detector:检测器 　　digital signal processor 数字信号处理器 　　correlator:相关器 　　Electrical double layer:双电层 　　Stern layer：严密电位层 　　Diffuse layer：扩散层 　　Negatively charged particle：带负电荷的颗粒 　　Slipping plane：滑动面 　　Surface potential：表面电位　　Zeta potential：Zeta电位 　　Distance from particle surface：到颗粒表面的距离

美国能源部SLAC国家加速器实验室的科学家制造出了世界上波长最短、最纯的X射线激光，这项成就实现了一个45年的预言，打开了向一系列新的科学发现进军的大门。相关研究发表在近日的《自然》杂志上。 　　X射线能帮助人们深入观察原子和分子世界。1976年科学家预言称，X射线激光能被用制造可见光激光的方法制造出，即通过原子内部电子从高能级向低能级跃迁，释放单色光的方法。为了制造这种原子激光，科学家利用强大的X射线脉冲从密封舱中的氖原子中敲除电子，从而在氖原子外壳上留下“小洞”。当电子再回落填补这些“小洞”时，大约有1/50的原子通过发出一个在X射线范围内的光子来回应。这样，X射线激发临近更多的氖原子释放更多的X射线，如此的多米诺效应将激光放大了2亿倍。 　　该研究领导者妮娜• 罗林格(Nina Rohringer)表示，未来她将制造波长更短、能量更高的原子X射线激光。 　　相关仪器：气体衰减器 　　完成人：妮娜• 罗林格课题组 　　实验室：美国劳伦斯利弗莫尔国家实验室 美国科罗拉多州立大学 美国NSF极紫外科学与技术工程研究中心 美国SLAC国家加速器实验室

随着同步辐射光源（Synchrotron X-ray light sources）的大量应用，XAFS技术（包含XANES（X-ray absorption near-edge structure）和EXFAS (Extended X-ray absorption fine structure )）逐渐发展成为一种非常实用的结构分析方法。XAFS对中心吸收原子的局域结构（尤其是在0.1 nm范围内）及其化学环境十分敏感，因而可以在原子尺度上给出某一特征原子周围几个临近配位壳层的结构信息，包括配位原子种类及其与中心原子的距离、配位数、无序度等，在物理、化学、材料、生物和环境科学等领域发挥着难以替代的作用。然而，由于XAFS技术通常依赖于同步辐射X射线光源，大地限制了XAFS技术在各领域的广泛应用。近年来，实验室用台式XAFS谱仪的出现，使得在实验室日常使用XAFS技术进行材料的精细结构分析成为了可能。2013年台实验室用台式XAFS谱仪诞生于美国华盛顿大学物理系Gerald T. Seidler教授课题组，并于2015年成立了easyXAFS公司，致力于实验室用台式XAFS谱仪在全球的推广和应用（图1）。台式XAFS谱仪采用了有的X射线单色器设计，无需使用同步辐射光源，在常规的实验室环境中即可实现X射线吸收精细结构的测量和分析，以高的灵敏度和光源质量，得到了可以媲美同步辐射水平的X射线吸收谱图，实现对元素的定性和定量分析、价态分析、配位结构解析等。图1. easyXAFS公司创始人Gerald Seilder教授及台式XAFS/XES谱仪实物图 实验室台式XAFS谱仪的多领域应用使用台式X射线吸收精细结构谱仪，研究人员将不再依赖同步辐射光源，可在实验室内日常使用XAFS技术研究材料中感兴趣的活性金属元素和电子结构信息，包括氧化态和化学键共价性(XANES)，以及配位数，电子授体和原子间距等(EXAFS)。主要用于催化剂、电池能源、陶瓷、环境材料、放射性核素、矿物、地质材料等价态和化学配位环境的变化表征。1. 电能存储作为一项具前途的应用领域，电能储存的发展离不开XAFS谱学表征。X射线吸收近边结构（XANES）作为一种有力的表征，可在不同的细节水平上研究电池材料的电子特性。例如，常规方法使用XANES评估电池材料在循环过程中的氧化还原可逆性（如图2）；此外，许多XANES的例子也表明其可解决更复杂的形态研究，包括镍钴铝氧化物正材料的锂化动力学，辨别在锂锰晶石电中的可溶锰离子，评估锂硫电池中硫化物沉淀和活性物质利用不足的情况，并作为预测锂硫电池次优容量的重要依据。图2. (a) 使用台式XAFS谱仪和同步辐射光源获得的VOPO4电池电材料中V元素的K边的XANES谱图对比；（b）使用台式XAFS谱仪获得的NMC电池电材料中Ni元素在充放电状态下的K边的XANES谱图对比；（c，e, f）不同充电状态下NMC中Ni, Mo和Co元素的XANES谱图；（d）不同充电速率下Ni元素的K边位置对比。 多种因素表明锂离子电池(LIB)正材料可作为实验室X射线吸收谱仪的理想系统。这是因为典型的正金属氧化物层的厚度通常会给出X射线吸收边步长 ∆µx ∼1 - 2, 表明其进行XAFS分析研究是可行的。另外，目前锂电池正材料的电化学活性元素通常为3d过渡金属，其K边能量一方面足够高，使得一些空气衰减完全可以接受，另一方面又足够低，使SBCA和其它基于布拉格方程的能量分析器仍然有很好的效率。华盛顿大学的曹国忠教授等人使用实验室台式XAFS研究了三种不同的类型导电聚合物(Vö-V2O5/PANI, Vö-V2O5/PEDOT和Vö-V2O5/PPy)包裹的V2O5纳米纤维在聚合过程中在界面处生成ö的情况（图3 a-f）。这些表面的Vö会形成一个局部的电场，促进Vö-V2O5/PPy纳米微粒的电荷转移动力学，并且伴随的V4+和V3+还可以催化氧化还原反应，结果显著地提高超电容器的整体性能。通过对三种不同CP涂层的异同进行了比较和讨论发现，Vö在CP中的分布取决于其聚合条件和包覆厚度。另外，研究人员将XAFS和XPS技术有机结合起来，全面的阐述了Vö在表面层和体中的存在及其对电化学的影响，这种改善的电材料的电荷转移动力学有望应用于下一代储能系统中。图3. (a-c) 使用台式XAFS谱仪得到的Vö-V2O5/PANI, Vö-V2O5/PEDOT和Vö-V2O5/PPy中V元素的XANES谱图对比；（d）Vö-V2O5/PANI的SEM图像及XANES；（e）KVOH和VOH的XRD和V元素的XANES谱图对比；（f）使用XPS和XANES表征Vö-V2O5/PEDOT计算的得到的V2O5中氧空位的含量对比；（g-j）使用台式XAFS谱仪得到的V箔片的EXAFS谱图及其R和k空间变换谱图。 2. 催化领域台式X射线吸收精细结构(XAFS)技术可以解决的催化科学相关问题有：1）深入研究催化剂材料的构效关系，是发表好文章的必备条件之一；2）深入开展催化剂表征研究，尤其是单原子催化剂，能够加强科研水平，为课题申请和顺利完成提供良好的技术支持；3）XAFS可与XPS技术结合使用，全方面的了解催化剂材料表面和体相中元素的价态和配位信息；4）可搭配定制XAFS原位反应池，实时监测催化反应中催化剂价态配位等信息的变化，为催化机理的阐释提供数据支持。图4. (a) 使用台式XAFS谱仪获得的Ni， Cu, Pt等材料的XANES和EXAFS谱图及其与同步辐射光源获得数据对比 3. 其他领域（地质，环境，放射化学等）除了能源存储之外，台式XAFS谱仪还被广泛应用于地质学，环境领域（XES，Cr/As元素的价态分析），放射化学（Ce， U元素的价态分析）等，如下图5所示。图5. 使用台式XAFS谱仪获得的不同矿石材料的Fe的XANES谱图, 不同材料Cr元素的XES谱图，以及材料中Ce和U元素的XANES谱图及其与同步辐射数据比较 4. X射线发射谱XES的应用除此之外，X射线发射谱（XES，X-ray emission spectroscopy）, 又可称为波长色散X射线荧光谱（WDXRF，Wavelength dispersive x-ray fluorescence spectroscopy）, 通过对特定元素内层电子受激发后外层电子弛豫过程中发射的X射线荧光能量和强度进行分析，也可以的给出分析原子的氧化态，自旋态，共价，质子化状态，配体环境等信息。由于不依赖于同步辐射，且得益于特有的单色器设计，可以在实验室内实现高分辨宽角高通量的XES元素分析（包括P, S, V，Zn, Cr, Ni, As, U, etc. ）。如图6所示，通过对不同化合物中P元素的特征Kα和Kβ轨道能的XES谱图进行定性和定量，可以方便的得到InP量子点中的P元素价态及表面缺陷信息，相比于NMR等技术更加简单方便。其他的实例还包括使用特征S元素的 Kα XES谱图对不同生物炭中的低含量S元素进行不同价态(氧化态)的定性定量分析，V, As, U, Zn的特征XES谱图，和通过Cr元素特征Kα XES谱图对塑料中重金属铬元素的价态进行分析等等。图6. 通过台式XAFS/XES谱仪测得的P元素特征Kα和Kβ轨道能的XES谱图对InP量子点表面缺陷进行定性和定量分析 实验室台式XAFS谱仪优势：1. 台式设计，可以在实验室内随时满足日常样品分析； 2. LabVIEW软件脚本控制，附带7位自动样品轮, 可以同时进行多个样品或样品参数条件下的测试；3. 可集成辅助设备，控制样品条件，适用于对空气敏感的样品的检测或一些原位测试，如原位的锂电池或电催化实验测试，监测电/催化材料的结构变化； 4. 台式XAFS/XES谱仪具有XAFS和XES两种工作模式，可快速切换，满足不同科研试验需求 5. 台式XAFS/XES谱仪测得的谱图效果可以媲美同步辐射数据，如图7所示，其测得的Ni元素的EXAFS，Ce和U元素的L3-edge的XANES谱图数据与同步辐射光源谱图效果完全一致；图7. 台式XAFS/XES谱仪与同步辐射光源测得的（a, b）Ni EXAFS, （c）Ce和U L3-edge XANES谱图数据对比6. 多种型号和配置可选，满足不同科研要求；7. 操作便捷，维护成本低，安全可靠； 参考文献：1. Guozhong Cao, et al., Energy Storage Materials 2020.2. Neil C. HYATT，et al., Journal of Geosciences, 2020.3. Jahrman, Seidler, et al., J. Electrochem. Soc. 2019.4. Jahrman, Holden, et al., Rev. Sci. Instrum. 2019.5. Bès, Ahopelto, et al., J. Nucl. Mater. 2018.6. Mundy, Cossairt, et al.,Chem Mater 20187. Jahrman, Seidler, and Sieber, Anal. Chem., 20188. Holden, Seidler, et al., J. Phys. Chem. A, 2018.9. Stein, Holden, et al., Chem. Mater., 2018.10. Padamati, Angelone, et al., JACS, 201711. Mortensen, Seidler, et al., Phys Rev B, 2017.12. Valenza, Jahrman, et al., Phys Rev A, 201713. Mortensen, Seidler, et al., XAFS16 conference proceedings.14. Seidler, Mortensen, et al., XAFS16 conference proceedings.15. Seidler, Mortensen, et al., Rev. Sci. Instrum. 2014.

- 20秒内获得高准确度的结果（例如：低合金钢）- 定期维护的工作量（火花台清洗）减少8倍- 元素在低合金钢中平均检测限改善2倍，元素在纯铝中的平均检测限改善5倍- 仪器的占地面积减少27%- 单一标样实现整个系统的标准化, 此项每天可节省30分钟工作时间作为电弧/火花创新技术，40多年来，SPECTRO全心投入开发出世界的发射光谱仪。今天，斯派克公司完美引入CMOS探测器技术，彻底改变了高端电弧/火花分析技术的走向及未来。在所有同类分析仪中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，元素检测限低至极限，同时她也可以提供超长的正常运行时间和非常具有前瞻性的灵活性。 SPECTROLAB S 拥有世界上基于CMOS的探测器的记录系统，该系统非常适合于高端金属分析。从微量元素到多基体应用，它提供了极其快速、高度准确、异常灵活的技术选择。样品的分析速度是仪器先进性的重要标志，SPECTROLAB S的推出完全满足了金属分析市场对速度的需求。例如：当检测低合金钢时，它可以在20秒或更短的时间内提供高准确度的测量值！从技术指标和实际使用效果看，SPECTROLAB S均是目前金属冶炼厂选的、高性能的光谱仪。对于金属再加工生产商、汽车和航空航天制造商、以及成品和半成品、电子产品、半导体等制造商来说，她给出的解决方案同样出色。创新点：独立双光室，确保所有分析谱线都获得最佳分辨率。 SPECTROLAB S 配备两套完整的专用光学系统。一个光室精确测量波长从120到240纳米（nm） 另一个光室，波长范围从210到800纳米（nm）。 两个光室都采用先进的CMOS检测器，具备恒温装置和压力补偿功能 2、等离子发生器数字光源和点火板 可靠的新型高能LDMOS等离子发生器光源，为SPECTROLAB S 输出超级稳定的火花放电，频率最高1000 Hz。结果：最短的测量时间（例如：分析低合金钢小于 20 秒）。该系统还允许特定应用的火花参数设置，以优化分析性能。 3、精密氩气控制系统 SPECTROLAB S 采用全新程控流量。软件根据分析程序精密设置氩气流量。节约了氩气消耗。氩气阀体直接耦合到火花台，无需管道连接。避免漏气。 4、火花台清理间隔大大延长 坚固的陶瓷内芯避免积尘粘附。流畅的气路设计确保了最少的粉尘残留（使得清理间隔时间延长了8倍）；对于大样品量输出的全自动光谱仪系统尤为重要。 5、快速读出系统 斯派克的GigE创新读出系统确保海量数据的极速处理，从而支持卓越的仪器性能表现。实现了独特的全光谱范围谱图记录。 6、超低检出限。SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技术，在关键元素的检测限方面，超越光电倍增管技术的性能。通过配置最佳参比通道，工作曲线可以最大程度获得优化。可以快速定量分析ppm量级的高纯金属或合金中的痕量元素。 SPECTROLAB S 台式直读光谱仪-华普通用

图1 用于光密箱内照度计校准光源照度计在使用前必须进行校准，以确保它们给出正确的结果。然而，在许多测试中，存在背景光。任何数量的背景光都可以到达传感器并影响校准数据。因此，客户要求 Labsphere （蓝菲光学）提供一个均匀校准光源，以防止背景辐射影响到校准。解决方案图2 Labsphere(蓝菲光学)用于光密箱内照度计校准光源标准的 Labsphere（蓝菲光学） HELIOS® V系列系统虽具有单个光源但动态范围出色，且可以满足了客户的光谱要求。将 Labsphere（蓝菲光学）积分球和框架朝下旋转到一个定制的密封暗箱中，在那里测试客户的照度计。带 90° 旋转镜的外置卤素灯用于微调灯泡亮度的手动衰减器校准硅探测器，可准确测量亮度带有快门滑块、针孔滑块和人眼滤光片的滤光片选择器 定制的不透光黑匣子外壳照度计安装平台高度可调密封的磁性检修门拉丝索环馈通，允许照度计的电缆在没有杂散光进入的情况下退出暗箱HELIOSense 软件用于控制和监控系统门打开，露出一个带有插槽平台和锁定夹，用于固定客户的照度计。两个小 L 型手柄可以转动来解锁平台，然后平台轻松向上滑动到测试位置。L 形手柄锁定平台到位，门关闭后，可以开始测试了。产品特点图3 可见波段光谱辐亮度图4 系统均匀性99.3%暗箱可防止任何背景辐射在测试过程中到达传感器，最大限度地提高校准的准确性具有 99.3% 的面均匀性和 99.3% 的角度均匀性，确保每次测试都能获得准确的结果Labsphere 与客户密切沟通，使客户能够收到与其内部组件相匹配的系统使用 Labsphere 的 HELIOSense 软件可以轻松实现组件控制以及实时数据收集和可视化提供完整的校准报告，包括光谱辐射、亮度、均匀性和色温

Solarbe(索比)光伏太阳能网讯：不管你是否相信，我们并不完全了解太阳能电池的工作原理，特别是有机薄膜太阳能电池。但最近加拿大、伦敦和塞浦路斯的科学家使用激光器，将一些光线引入来帮助制造更高效的太阳能电池板。 　　本周早些时候，来自蒙特利尔科学与技术设施委员会、英国伦敦帝国学院和塞浦路斯大学大学的科学家在《自然传播》上发表的一份新报告中解释他们的发现：&ldquo 我们的发现对机制理解所有的太阳能转换系统方面的分子细节的发电机制非常重要。&rdquo 第一作者，蒙特利尔大学Francoise Provencher称：&ldquo 我们几十年来致力理解有机光伏分子的工作原理图这一' 圣杯' ，终于取得重大进展。&rdquo 　　&ldquo 我们用飞秒激发拉曼光谱，&rdquo 来自科学和技术中央激光设施理事会的Tony Park说，&ldquo 飞秒激发拉曼光谱技术是一种先进的超快激光技术，它提供了在极快的化学反应里，化学键是如何变化的细节。分子与激光脉冲相互作用时，激光提供了分子的振动信息。&rdquo 　　Experimental setup used to map defect densities in organic thin films. A pulsed laser beam is used to raster-scan the material of interest, which is assembled in a field-effect geometry, allowing changes in current flow to be detected. The yellow zones indicate sites at which the defect density is particularly high. (Credit: Christian Westermeier) 　　表征薄膜电池表面活性层结构 　　由此获得的信息显示了太阳能电池中的分子演化过程。他们发现了两项重点：快速分子重排和极少量分子松弛和重组。重排或响应速度非常快 - 仅300飞秒(femtosecond)。研究人员表示，一飞秒相对于一秒的概念，就象是一秒相对于370万年。 　　&ldquo 在这些设备中，光吸收加速了电子和带正电荷物质的形成。最终要提供电力，这两个相互吸引的粒子就必须分开，电子必须离开。如果电子不能足够快地移开，则正电荷和负电荷就会简单地再结合，结果是什么变化也没有。太阳能设备的整体效率就在于正负电荷重新组合和分离的比例。&rdquo 斯塞浦路斯大学的Sophia Hayes解释说。 　　&ldquo 我们的研究结果为未来理解生产高效太阳能电池的系统的差别，或者理解那些系统应该有高发电效率却并没有表现出来的原因，提供了可能的路径。更多更深入的了解什么可行，什么不可行，对将来设计更好的太阳能电池将明显有益，&ldquo 蒙特利尔大学卡洛斯· 席尔瓦，也是这项研究的资深作者进一步表示。 　　慕尼黑Ludwig Maximilian大学Bert Nicket领导的科学家团队首次成功地用激光激发材料对有机薄膜太阳能电池的活性层进行了功能表征，&ldquo 我们已开发出一种方法用激光对材料进行光栅扫描，聚焦的光束通过旋转衰减器调制成不同的方式。这样我们就能够直接映射分布在有机薄膜上的缺陷空间分布，这是以前从未实现过的，&ldquo Christian Westermeier解释说。 　　太阳能电池通过光子激发分子产生自由电子和正电空穴，来将光能转换成电能。电荷载流子被电极捕获的时间和电池的活性层详细结构有关。原子规则排列中的缺陷会捕获载流子，也减少可用电流。新的映射方法使研究人员能够检测到与激光激发缺陷局部相关的电流变化。 　　该研究显示，在并五苯有机半导体中，这些缺陷往往集中在一定位置上。选择并五苯来实验，因为它是目前可用于有机半导体生产的导电最好的材料，理解这些表层热电的特别之处非常有意义。是什么在这些地方产生了缺陷?可能是由于化学污染，或是分子的排列不规则? 　　飞秒激发拉曼光谱这种新技术，为理解有机薄膜发电的深层机理提供了新的途径。