当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

全电动宏观比对显微镜

仪器信息网全电动宏观比对显微镜专题为您提供2024年最新全电动宏观比对显微镜价格报价、厂家品牌的相关信息， 包括全电动宏观比对显微镜参数、型号等，不管是国产，还是进口品牌的全电动宏观比对显微镜您都可以在这里找到。 除此之外，仪器信息网还免费为您整合全电动宏观比对显微镜相关的耗材配件、试剂标物，还有全电动宏观比对显微镜相关的最新资讯、资料，以及全电动宏观比对显微镜相关的解决方案。

全电动宏观比对显微镜相关的论坛

  • 电动显微镜载物台特点及参数

    [url=http://www.f-lab.cn/microscopestages/scanplus100.html][b]电动显微镜载物台Scanplus100[/b][/url]集成了测量系统，实现显微镜和样品的精确定位，提供75x50mm的行程范围，最小步进高达0.05微米，定位进度高达1微米，是全球领先的[b]自动显微镜载物台品牌[/b]。[b]电动显微镜载物台Scanplus100产品特点[/b]集成高精度测量系统实现全球最高定位精度和测量精度具有定位测量功能德国圆角的平面人体工程学设计显微镜载物台插入配件可更换设计，具有多种stage inserts 选配，满足显微镜应用电机/编码器电缆前右部连接，符合操作人员习惯集成电子位移台识别系统，自动识别扫描台及其控制器配备高精度特定型号控制，可享受全球5年超长质保[b]电动显微镜载物台Scanplus100参数[/b]行程范围：100x100mm行进速度：最大240mm/s重复定位精度：1um精度：+/-1um分辨率：0.05um (最小步进）正交性：10arcsec驱动电机：2两相步进电机位移台开口：160x116mm材质：高级铝表面处理：氧化涂层，黑漆自重：~2.6kg电动显微镜载物台Scanplus系列集成融入了测量系统，专业为显微镜自动样品定位和精密样品定位应用设计，专业为全球主流显微镜品牌配套，独具的测量系统功能是全球领先的超精密定位测量系统，极大提高测量精度。电动显微镜载物台Scanplus采用全球领先的德国长期润滑系统，确保长期使用而不需维护.更多载物台官网：[url]http://www.f-lab.cn/microscope-stages.html[/url]

  • 荧光宏观成像系统简介

    [url=http://www.f-lab.cn/microscopes-system/macroscopic-imaging.html][b]荧光宏观成像系统[/b][/url]macroscopic imaging专业为心脏成像 cardiac imaging而设计,[b]荧光宏观成像系统[/b]macroscopic imaging和光学映射,光学图谱技术厂用于整体荧光显微镜和荧光成像系统中。[b]荧光宏观成像系统[/b]macroscopic imaging集成了高科技高强度光源照明样品或反射照明样品，结合高数值孔径镜头,CCD相机和光电二极管探测器。宏观成像系统实验通常采用双波长，这样可测量细胞内钙离子和膜电位。宏观成像系统提供固定或可变的镜头系统，捕捉视场从4x4mm到50x50mm,并且可根据用户实验而增加放大成像器。[img=宏观成像系统]http://www.f-lab.cn/Upload/macroscopic-imaging.jpg[/img]荧光宏观成像系统：[url]http://www.f-lab.cn/microscopes-system/macroscopic-imaging.html[/url][b][/b]

  • 【分享】宏观量子隧道效应

    【分享】宏观量子隧道效应

    隧道效应目录 定义 概述 原理 发现者 用途 隧道二极管 隧道巨磁电阻效应 宏观量子隧道效应 　　　　隧道效应　　 tunnel effect编辑本段定义　　由微观粒子波动性所确定的量子效应。又称势垒贯穿 。考虑粒子运动遇到一个高于粒子能量的势垒，按照经典力学，粒子是不可能越过势垒的；按照量子力学可以解出除了在势垒处的反射外，还有透过势垒的波函数，这表明在势垒的另一边，粒子具有一定的概率，粒子贯穿势垒。理论计算表明，对于能量为几电子伏的电子，方势垒的能量也是几电子伏 ，当势垒宽度为1埃时 ， 粒子的透射概率达零点几 ；而当势垒宽度为10时，粒子透射概率减小到10-10 ，已微乎其微。可见隧道效应是一种微观世界的量子效应，对于宏观现象，实际上不可能发生。　　在势垒一边平动的粒子，当动能小于势垒高度时，按经典力学，粒子是不可能穿过势垒的。对于微观粒子，量子力学却证明它仍有一定的概率穿过势垒，实际也正是如此，这种现象称为隧道效应。对于谐振子，按经典力学，由核间距所决定的位能决不可能超过总能量。量子力学却证明这种核间距仍有一定的概率存在，此现象也是一种隧道效应。 　　隧道效应是理解许多自然现象的基础。编辑本段概述　　在两层金属导体之间夹一薄绝缘层，就构成一个电子的隧道结。实验发现电子可以通过隧道结，即电子可以穿过绝缘层，这便是隧道效应。使电子从金属中逸出需要逸出功，这说明金属中电子势能比空气或绝缘层中低．于是电子隧道结对电子的作用可用一个势垒来表示，为了简化运算，把势垒简化成一个一维方势垒。 　　所谓隧道效应，是指在两片金属间夹有极薄的绝缘层（厚度大约为1nm（10-6mm），如氧化薄膜），当两端施加势能形成势垒V时，导体中有动能E的部分微粒子在E＜V的条件下，可以从绝缘层一侧通过势垒V而达到另一侧的物理现象。 　　产生隧道效应的原因是电子的波动性。按照量子力学原理，有能量（动能）E的电子波长=（其中，——普朗克常数；——电子质量；E——电子的动能），在势垒V前：若E＞V，它进入势垒V区时，将波长改变为λ′=；若E＜V时，虽不能形成有一定波长的波动，但电子仍能进入V区的一定深度。当该势垒区很窄时，即使是动能E小于势垒V，也会有一部分电子穿透V区而自身动能E不变。换言之，在E＜V时，电子入射势垒就一定有反射电子波存在，但也有透射波存在。编辑本段原理　　经典物理学认为，物体越过势垒，有一阈值能量；粒子能量小于此能量则不能越过，大于此能量则可以越过。例如骑自行车过小坡，先用力骑，如果坡很低，不蹬自行车也能靠惯性过去。如果坡很高，不蹬自行车，车到一半就停住，然后退回去。　　量子力学则认为，即使粒子能量小于阈值能量，很多粒子冲向势垒，一部分粒子反弹，还会有一些粒子能过去，好像有一个隧道，故名隧道效应（quantum tunneling）。可见，宏观上的确定性在微观上往往就具有不确定性。虽然在通常的情况下，隧道效应并不影响经典的宏观效应，因为隧穿几率极小，但在某些特丁的条件下宏观的隧道效应也会出现。编辑本段发现者　　1957年，受雇于索尼公司的江崎玲於奈（Leo Esaki，1940～）在改良高频晶体管2T7的过程中发现，当增加PN结两端的电压时电流反而减少，江崎玲於奈将这种反常的负电阻现象解释为隧道效应。此后，江崎利用这一效应制成了隧道二极管（也称江崎二极管）。 1960年，美裔挪威籍科学家加埃沃（Ivan Giaever，1929～）通过实验证明了在超导体隧道结中存在单电子隧道效应。在此之前的1956年出现的“库珀对”及BCS理论被公认为是对超导现象的完美解释，单电子隧道效应无疑是对超导理论的一个重要补充。 1962年，年仅20岁的英国剑桥大学实验物理学研究生约瑟夫森（Brian David Josephson，1940～）预言，当两个超导体之间设置一个绝缘薄层构成SIS（Superconductor-Insulator- Superconductor）时，电子可以穿过绝缘体从一个超导体到达另一个超导体。约瑟夫森的这一预言不久就为P.W.安德森和J.M.罗厄耳的实验观测所证实——电子对通过两块超导金属间的薄绝缘层（厚度约为10埃）时发生了隧道效应，于是称之为“约瑟夫森效应”。 宏观量子隧道效应确立了微电子器件进一步微型化的极限，当微电子器件进一步微型化时必须要考虑上述的量子效应。例如，在制造半导体集成电路时，当电路的尺寸接近电子波长时，电子就通过隧道效应而穿透绝缘层，使器件无法正常工作。因此，宏观量子隧道效应已成为微电子学、光电子学中的重要理论。编辑本段用途　　隧道效应本质上是量子跃迁，电子迅速穿越势垒。隧道效应有很多用途。如制成分辨力为0.1nm（1A）量级的扫描隧道显微镜，可以观察到Si的（111）面上的大元胞。但它适用于半导体样品的观察，不适于绝缘体样品的观测。在扫描隧道显微镜（STM）的启发下，1986年开发了原子力显微镜（AFM），其工作原理如图5所示。利用金刚石针尖制成以SiO2膜或Si3N4膜悬臂梁（其横向截面尺寸为100μm×1μm，弹性系数为0.1～1N/m），梁上有激光镜面反射镜。当针尖金刚石的原子与样品的表面原子间距离足够小时，原子间的相互作用力使悬臂梁在垂直表面方向上产生位移偏转，使入射激光的反射光束发生偏转，被光电位移传感器灵敏地探测出来。原子力显微镜对导体和绝缘体样品都适用，且其分辨力达到0.01mm（0.1A），可以测出原子间的微作用力，实现原子级表面观测。　　[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191651_624047_1602049_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/200811517289_01_1602049_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2008115172816_01_1602049_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2008115172825_01_1602049_3.jpg[/img]

  • 北京纳米跃升工程在宏观尺度超润滑领域取得突破

    塑料问答：近日，在北京市科委支持下，清华大学化工系魏飞教授团队与清华大学微纳米力学与多学科交叉创新研究中心、北京大学信息学院合作，在超润滑领域取得重大突破，在世界上首次检测到了大气环境下厘米以上长度碳纳米管管层间的超润滑现象。所实现的超润滑尺度比以前报道结果的最高值高出3个数量级，同时所得到的摩擦剪切强度比以前报道结果的最低值降低了4个数量级。相关成果发表在国际纳米领域权威学术期刊《自然—纳米技术》上。　　摩擦现象一直是人类面临的最具挑战性的问题之一。全世界约1/3至1/2的一次性能源由摩擦过程消耗；工业发达国家因摩擦磨损造成的损失高达GDP的5%-7%。在微观尺度，由于材料比表面积增大，使得摩擦现象更加显著，界面摩擦成为制约器件性能和寿命的关键因素。解决摩擦磨损问题的根本途径是实现固体界面之间的极低摩擦甚至零摩擦，即超润滑。过去二十年中所发现的超润滑现象主要是在纳米尺度和高真空条件下实现的，实现宏观尺度上的超润滑不仅要求固体表面具有超高的模量，而且要求在宏观尺度上原子级平整，无缺陷与位错，如此苛刻的条件使得人们普遍认为大尺度下几乎不可能实现超润滑。　　碳纳米管从结构上看是由石墨烯卷曲而成，理论研究表明，当碳纳米管存在哪怕只有一个原子级别的缺陷时，其管壁间摩擦力就会急剧增大。经过近十年的努力，魏飞教授团队在制备长达数厘米且无缺陷的碳纳米管的制备方面取得了一系列突破，发展了单根碳纳米管的纳米颗粒标记技术，这些工作为宏观尺度超润滑工作奠定基础。在上述基础上，魏飞团队首先在光学显微镜下通过用微弱气流吹动碳纳米管的方法观察到了碳纳米管管壁之间快速相对运动的奇妙现象，进而利用扫描电镜下的微纳米操纵平台进行双壁碳纳米管内层的可控抽出，并测量了管壁间的超低摩擦力。研究发现，双壁碳纳米管的管壁之间存在着超低的摩擦力，并且这种摩擦力与碳纳米管的长度没有关系，即无论多长的碳纳米管，其内层都可以被轻易地抽出来。　　这项工作被《自然—纳米技术》杂志审稿人评价为里程碑式原创性工作，对于研究和控制摩擦力做出了重大的、创造性的贡献，为下一代全碳电子器件构筑、超润滑机械开发以及超高速微纳米机械、电子器件制备提供了基础。转自塑料问答

  • 光学显微镜的金相检验基础

    金相检验是用肉眼、放大镜或光学金相显微镜观察金属材料的组织(或缺陷)及其变化规律的一种材料物理试验。通过光学金相检验可以控制加工工艺，保证产品质量；找出机器零部件的失效原因，以提高产品的性能和寿命；研究材料的组织和成分与性能之间的关系，为发展新工艺、新材料、新设备提供依据。光学金相检验一般都应参照相应的检验标准，如晶粒度标准、夹杂物标准、宏观检验标准和马氏体级别标准等来进行。光学金相检验包括宏观检验和显微组织检验两部分。30倍以下的放大镜检测宏观组织和缺陷。这种检验所需设备简单，故应用广泛。常用方法有侵蚀法、断口法和印痕法。①侵蚀法:包括热酸蚀、冷酸蚀、电解酸蚀等。应用化学药品进行侵蚀以显示金属铸锭、铸件或型材等的宏观组织和缺陷，如偏析、疏松、夹杂、缩孔、气泡、裂缝、折叠、表面脱碳、发纹和粗晶等。不锈钢方锭横截面，经5078℃时侵蚀20]为1Cr13不锈钢方锭用热酸蚀法显示的宏观组织照片。从图不锈钢方锭横截面,经5078℃时侵蚀20]中可看出因激冷形成的表层细等轴晶区、向着锭心成长的柱状晶区和内部粗等轴晶区，以及锭心处串联成海绵状的疏松缺陷。]②断口法:,以观察断口的组织和缺陷。这种方法对显示晶粒粗细、渗层厚度、分层、白点、裂缝等特别适用。图2 [用断口法显示的钢材纵向断口上的白点]为用断口法显示的钢中白点（发裂）缺陷。白点还可通过酸蚀法在横向试片上显示，但不如在纵向断口上显示得清楚和直观。③印痕法：主要指钢铁检验中应用的硫印和磷印法。硫印法是将经2～5％硫酸水溶液浸润过的相纸覆于钢铁试片表面上，使试片中的硫化物与相纸上的溴化银作用而生成硫化银沉淀的斑点，从而显示出硫的多少和分布状况。磷印的原理与硫印相似，但其图象所显示的是磷的分布情况。各种宏观检验方法各有一定的适用范围须根据检验目的不同而进行选择。利用金相显微镜来观察、分析金属材料的显微组织和微观缺陷。检验内容包括测定各组成相和夹杂物的种类、分布和形态特征，有无孔隙、裂纹等存在并确定其数量和分布情况。检验目的是通过这些观察和分析，进一步了解金属材料的各种显微组织和微观缺陷的形成规律以及它们与各种性能之间的关系。金相显微镜的放大倍率一般不超过2000倍，其分辨极限约为0.2微米。在检验孔隙和夹杂物时,通常先在材料或机件上具有代表性的部位取样，然后经磨平、抛光即可观察。如欲检验显微组织，则还须将金相试样再用化学或其他物理方法进行组织显示，具体方法视检验目的而定。在工业用金属材料中以钢铁应用最广，它们在加热和冷却过程中形成各种具有不同性能的显微组织。常见的钢铁显微组织有铁素体、奥氏体、渗碳体、珠光体、贝氏体和马氏体。①铁素体：碳溶解在具有体心立方晶体结构的铁中所形成的固溶体。铁素体一般硬度较低，塑性较好。经硝酸溶液侵蚀后，铁素体晶粒在显微镜下呈均匀白亮的多边形.由于各晶粒取向不同，相互间常有明暗之分。因含碳量的变化和冷却条件的不同，铁素体还可能以网状、针状、片状等形态出现。②中,有时也可能在室温时稳定存在,如高锰钢，Cr18-Ni8。在显微镜下一般也呈多边形，但晶界较铁素体晶界平直。奥氏体塑性较好，但强度较低。③渗碳体：碳与铁的间隙型化合物(Fe3C)，属复杂斜方晶体结构，含6.67％的碳。硬度高，塑性和韧性很低，不受硝酸酒精溶液侵蚀，故在显微镜下呈白亮色。其形态有条块状、细片状、针状和球状等。它是碳钢中的主要强化相，其形态、大小、数量、分布等对钢的性能有很大影响。④珠光体：奥氏体从高温冷却下来所形成的铁素体和渗碳体的两相共析组织，其疏密程度受形成时过冷度的影响,,强度和硬度也越高。为钢中的片状珠光体，呈指纹状的层状排列，其中细条状者为渗碳体，白色基底为铁素体。⑤贝氏体：过冷奥氏体在中温区域转变而成的铁素体和渗碳体两相混合组织（有时可能有奥氏体）。主要有上贝氏体（羽毛状）、下贝氏体（针状）和粒状贝氏体3种形态。上贝氏体形成温度较高,下贝氏体形成温度较低，粒状贝氏体则是某些合金钢在一定冷速范围内连续冷却过程中形成的。钢中的下贝氏体组织，呈黑色针状。⑥中的过饱和固溶体，是奥氏体在很大的过冷度条件下形成的低温转变产物。按含碳量的不同主要有低碳马氏体和高碳马氏体两种形态。前者在金相显微镜下呈细条状并同向成束排列，故又称板条状马氏体。在一个奥氏体晶粒中可出现多个不同位向的马氏体束。它有较好的强度和韧性，是低碳钢和低合金钢中具有良好性能的组织。高碳马氏体相互交叉成针状或竹叶状,故又称针状马氏体。在针叶之间常有残余奥氏体存在。针状马氏体脆性大，硬度高，一般须经回火后使用。

  • 脑切片共聚焦显微镜

    [url=http://www.f-lab.cn/microscopes-system/rs-g4.html][b]脑切片共聚焦显微镜[/b][/url]是专业为大脑研究设计的[b]脑切片共聚焦成像显微镜[/b],非常适合大面积[b]脑切片共聚焦成像[/b],具有[b]共聚焦反射成像[/b]CRM和[b]共聚焦荧光成像[/b]CFM模式,[color=#333333][color=#333333]方便获得活体组织共聚焦图像.[/color][/color]脑切片共聚焦显微镜采用全球领先的图像缝合技术和条带图像镶嵌技术,快速创建亚像素精度的细胞尺度图像,并能够快速从脑切片图像中定位某个区域.脑切片共聚焦显微镜还可以用于动物研究,得益于其较大的成像视场,能够快速获得动物各个生长阶段的共聚焦图像和荧光细胞突出的图像,成像面积覆盖微米分辨率到30x30mm,实现微观成像和宏观成像.脑切片共聚焦显微镜还提供785nm和830nm激光,用于动物活体成像,成像传统深度高达250微米.脑切片共聚焦显微镜可广泛用于病理学研究,提供共聚焦反射成像CRM和共聚焦荧光成像CFM,有效获得活体组织图像.[img=脑切片共聚焦显微镜]http://www.f-lab.cn/Upload/RS-G4.jpg[/img][img=脑切片共聚焦显微镜]http://www.f-lab.cn/Upload/rsg4brain-section-.JPG[/img]脑切片共聚焦显微镜：[url=http://www.f-lab.cn/microscopes-system/rs-g4.html][b]http://www.f-lab.cn/microscopes-system/rs-g4.html[/b][/url]

  • 金相显微镜分析材料显微组织应注意的若干特性

    金相显微镜分析材料显微组织应注意的若干特性： 金相显微镜光学金相组织呈板条状，为板条马氏组织，X-射线衍射物相分析及透射分析表明，淬火组织中还存在残余奥氏体，残余奥氏体主要存在于马氏体板条之间，用X射线法定量测试残余奥氏体含量为4.5%。淬火后低温回火处理可以提高马氏体板条间残余奥氏体的稳定性，改善材料的强韧性。另外，马氏体板条之间存在的奥氏体薄膜，是韧性相，金相显微镜在外力作用下会发生塑性变形和相变诱发塑性效应（TRIP效应，消耗能量，阻碍裂纹的扩展或使裂纹尖端钝化，获得较好强韧性配合。因此淬火回火后强度较高的同时，冲击韧度值也较高，这与淬火后形成的马氏体组织存在残余奥氏体有关。在实际金相分析研究中，适当注意材料显微组织的如下特点是很有好处的，尤其有助于实验方案设计的系统性和严谨性，以及减少对表观显微组织形态的误解和不合理分析的可能性。1、材料显微组织结构的多尺度性：原子与分子层次，位错等晶体缺陷层次，晶粒显微组织层次，细观组织层次，宏观组织层次等；2、材料显微镜组织结构的不均匀性：实际显微组织常常存在几何形态学上的不均匀性，化学成分的不均匀性，微观性能（如显微硬度、局部电化学位）的不均匀性等；3、材料显微组织结构的方向性：包括晶粒形态各向异性，低倍组织的方向性，晶体学择尤取向，材料宏观性能的方向性等多种方向性，应予以分别分析和表征；4、材料显微组织结构的多变性：化学组成改变，外界因素及时间变化引起相变和组织演变等均可能导致材料显微组织结构变化，从而，除需要对静态显微组织形态进行定性、定量分析外，应注意是否存在对固态相变过程、显微组织演变动力学和演变机理研究的必要；5、材料显微组织结构可能具有的分形（fractal）特性和特定金相观测可能存在的分辨率依赖特性：可能导致其显微组织定量分析结果强烈依赖于图像分辨率，当进行材料断口表面组织形态进行定量分析以及对显微组织数字图像文件进行存储和处理时更应注意这一点；6、材料显微组织结构非定量研究的局限性：虽然显微组织的定性研究有时尚可满足材料工程的需求，但材料科学分析研究总是还需要对显微组织几何形态的科学进行定量测定以及对所得定量分析结果的进行误差分析。

  • 金相显微镜分析材料显微组织应注意的若干特性

    分析材料显微组织应注意的若干特性 金相显微镜光学金相组织呈板条状，为板条马氏组织，X-射线衍射物相分析及透射分析表明，淬火组织中还存在残余奥氏体，残余奥氏体主要存在于马氏体板条之间，用X射线法定量测试残余奥氏体含量为4.5%。淬火后低温回火处理可以提高马氏体板条间残余奥氏体的稳定性，改善材料的强韧性。另外，马氏体板条之间存在的奥氏体薄膜，是韧性相，金相显微镜在外力作用下会发生塑性变形和相变诱发塑性效应（TRIP效应，消耗能量，阻碍裂纹的扩展或使裂纹尖端钝化，获得较好强韧性配合。因此淬火回火后强度较高的同时，冲击韧度值也较高，这与淬火后形成的马氏体组织存在残余奥氏体有关。在实际金相分析研究中，适当注意材料显微组织的如下特点是很有好处的，尤其有助于实验方案设计的系统性和严谨性，以及减少对表观显微组织形态的误解和不合理分析的可能性。 1、材料显微组织结构的多尺度性：原子与分子层次，位错等晶体缺陷层次，晶粒显微组织层次，细观组织层次，宏观组织层次等； 2、材料显微镜组织结构的不均匀性：实际显微组织常常存在几何形态学上的不均匀性，化学成分的不均匀性，微观性能（如显微硬度、局部电化学位）的不均匀性等； 3、材料显微组织结构的方向性：包括晶粒形态各向异性，低倍组织的方向性，晶体学择尤取向，材料宏观性能的方向性等多种方向性，应予以分别分析和表征； 4、材料显微组织结构的多变性：化学组成改变，外界因素及时间变化引起相变和组织演变等均可能导致材料显微组织结构变化，从而，除需要对静态显微组织形态进行定性、定量分析外，应注意是否存在对固态相变过程、显微组织演变动力学和演变机理研究的必要； 5、材料显微组织结构可能具有的分形（fractal）特性和特定金相观测可能存在的分辨率依赖特性：可能导致其显微组织定量分析结果强烈依赖于图像分辨率，当进行材料断口表面组织形态进行定量分析以及对显微组织数字图像文件进行存储和处理时更应注意这一点； 6、材料显微组织结构非定量研究的局限性：虽然显微组织的定性研究有时尚可满足材料工程的需求，但材料科学分析研究总是还需要对显微组织几何形态的科学进行定量测定以及对所得定量分析结果的进行误差分析。

  • 宏观断口分析用放大镜有么？

    各位行家，不知有没有宏观断口分析用的放大镜系列呢？或者大家在观察宏观断口时都用什么设备呢？呵呵，扫描电镜是买不起滴！大家给点建议吧！

  • 【分享】原子力显微镜

    【分享】原子力显微镜

    原子力显微镜　　原子力显微镜　　atomic force microscope　　一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面结构信息。它主要由带针尖的微悬臂　　、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。 　　原子力显微镜:是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时,其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲,偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表面的形貌或原子成分.　　优点与缺点　　相对于扫描电子显微镜，原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子，甚至活的生物组织。　　和扫描电子显微镜(SEM)相比，AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢，受探头的影响太大。[~116643~][~116644~][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191651_624039_1602049_3.jpg[/img]

  • 【讨论】原子力显微镜

    【讨论】原子力显微镜

    原子力显微镜（atomic force microscope，简称AFM）利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德?宾宁与斯坦福大学的Calvin Quate于一九八五年所发明的，其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜（SPM）的观测方法。原子力显微镜（AFM）与扫描隧道显微镜（STM）最大的差别在于并非利用电子穿隧效应，而是检测原子之间的接触，原子键合，范德瓦耳斯力或喀希米尔效应等来呈现样品的表面特性。1. 工作原理原子力显微镜的原理示意图： Detector and Feedback Electronics 侦检器及回馈电路； Photodiode 感光二极管； Laser 激光器； Sample Surface 样品表面； Cantilever & Tip 微悬臂及探针； PZT Scanner 压电扫描器 AFM的关键组成部分是一个头上带有一个用来扫描样品表面的尖细探针的微观悬臂。这种悬臂大小在数十至数百微米，通常由硅或者氮化硅构成，其上载有探针，探针之尖端的曲率半径则在纳米量级。当探针被放置到样品表面附近的地方时，悬臂会因为受到探针头和表面的引力而遵从胡克定律弯曲偏移。在不同的情况下，这种被AFM测量到的力可能是机械接触力、范德华力、毛吸力、化学键、静电力、磁力（见磁力显微镜）喀希米尔效应力、溶剂力等等。通常，偏移会由射在微悬臂上的激光束反射至光敏二极管阵列而测量到，较薄之悬臂表面常镀上反光材质（ 如铝）以增强其反射。其他方法还包括光学干涉法、电容法和压电效应法。这些探头通常由采用压电效应的变形测量器而制得。通过惠斯登电桥，探头的形变何以被测得，不过这种方法没有激光反射法或干涉法灵敏。 当在恒定高度扫描时，探头很有可能撞到表面的造成损伤。所以通常会通过反馈系统来维持探头与样品片表面的高度恒定。传统上，样品被放在压电管上并可以在z方向上移动以保持与探头之间的恒定距离，在x、y方向上移动来实现扫描。或者采用一种“三脚架”技术，在三个方向上实现扫描。扫描的结果S(x,y)就是样品的表面图。AFM可以在不同模式下运行。这些模式可以被分为接触模式（Contact Mode）、非接触（Non-Contact Mode）、轻敲模式(Tapping Mode)、侧向力(Lateral Force Mode)模式。2. 优点与缺点 相对于扫描电子显微镜，原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子，甚至活的生物组织。和扫描电子显微镜(SEM)相比，AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢，受探头的影响太大。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812311440_127077_1664664_3.jpg[/img]

  • 【求购】诚恳的向各位高手请教选购显微镜的问题，请指点，谢谢！

    诚恳的向各位高手请教选购显微镜的问题，请指点，谢谢！我公司是厦门一家生产多晶硅太阳能电池片的专业公司，因为刚起步，所以目前欲购一台显微镜。这种多多晶硅太阳能电池片的大小为156mm X 156mm，厚度不到200—300um，质量10g左右。从宏观上看、摸，这种硅片都是很平滑的，但实际上，经过处理后的这种电池片的表面连续布满了小凹坑，深度大约是1—6微米，宽度大约是1—6微米，而这个正是我们所需要通过显微镜能直接目视观测到的。因此，我们对显微镜（系统）的最低要求是：1、总放大倍数能达到500倍，1000倍也可以。 2、显微镜的载物台必须能放得下这个电池片，而且能保证在所需的精度条件下，能通过自动或手动调节的方式，能观测到电池片的全部表面状况，就是行程一定要比较大。3、明暗场、偏光观察方式（如果有高手，也可以给我们提出合理的观察方式）。4、带摄像头（300万物理像素，500万物理像素也可以）。5、软件能测量太阳能电池硅片的深度（就是硅片表面深度大约是1—6微米，宽度大约是1—6微米）。6、即使不能精确或绝对测量硅片表面的深度，也请按照其他要求给出配置和报价。 目前情况是：蔡司的推荐Axio Imager.A2 Vario；徕卡的推荐DM2500M；奥林巴斯的推荐MX51；尼康的推荐LV150。因为我以前没有长期使用这样显微镜的经验，对很多方面都缺乏了解。所以，面对这四款我很难下决定。在这个论坛，我也有一段时间了，知道这里有很多高手。所以，我在这里诚恳的向大家寻求帮助，希望大家能给出一个公正、合理的评判，让我可以负责的选一款能满足我们要求、适合我们经济承受能力的显微镜来。当然，销售人员也可以推荐的品牌，只要说的在理就行。如果不方便，请给我发邮件douglas.dou@xiamensona.com。请大家不吝赐教！再次谢谢各位！

  • 【原创】偏光显微镜观察 研究地质矿物学

    [color=#000000][font=宋体]矿物学 mineralogy [/font][font=宋体]　[size=3]偏光显微镜[/size][size=3] [/size]研究矿物的物理性质、化学成分、晶体内部结构以及自然界的产状和分布，并根据形成的物理化学条件研究其成因，利用矿物的成分和特殊性能，研究其用途的学科。 [/font][font=宋体]　　简史 矿物学是地质学的基础分支学科。在石器时代 ，人类已利用多种矿物制造工具和饰物，但在19世纪以前，矿物学的发展却很缓慢，它基本处于对矿物的记载和表面特征的描述方面。19世纪中期以后，研究手段经历了几次重大突破，推动了矿物学的发展。1857年英国学者H.C.索比制成了[size=3]显微镜[/size][size=3] [/size]的偏光装置，推进了对矿物的光学性质等实质问题的研究和鉴定，光性矿物学这一经典方法沿用至今；1912年德国学者M.T.F.von劳厄成功地进行了对晶体的X射线衍射的实验，从而使晶体结构的测定成为可能，使矿物学研究从宏观进入到微观的新阶段，建立了以成分、结构为依据的矿物晶体化学分类。20世纪中期以来，固体物理、量子化学理论以及波谱、电子显微分析等微区、微量分析技术被引入，使矿物学获得新进展，建立了矿物物理学（主要研究内容为矿物的化学键理论，矿物谱学、能量状态，实际矿物晶体的缺陷，矿物物理和化学性质，高压矿物物理等）。矿物原料、材料广泛的开发利用，推动了实验矿物学的研究，如矿物的人工合成，高温、高压实验和天然成矿作用模拟等。矿物学、物理化学和地质作用的研究相结合，使成因矿物学和找矿矿物学逐步形成，从而在矿物资源的寻找与开发方面获得了更广泛的应用。当前，矿物学的研究领域已由地壳矿物到地幔矿物和其他天体的宇宙矿物；由天然矿物到合成矿物。研究内容由宏观向微观纵深发展，由主要组分到微量元素；由原子排列的平均晶体结构到局部的晶体结构和涉及原子内电子间及原子核的精细结构。在应用领域，矿物已不仅在于把它作为提取某种有用成分的原料，还在于从中获得具有各种特殊性能的矿物材料，其发展具有广阔的前景。 [/font][font=宋体]　　研究方法 主要有野外研究和室内研究两大部分。前者包括野外地质产状调查和矿物样品的采集等。室内研究方法很多。如手标本的肉眼观察，包括双目[size=3]显微镜[/size]下观察和简易化学试验的基础研究，在偏光和反光[size=3]显微镜[/size]下矿物基本光学参数的测定，用于矿物种的鉴定。矿物晶体形态的研究，包括用反射测角仪进行晶体测量和用干涉[size=3]显微镜[/size]、扫描电子[size=3]显微镜[/size]对晶体表面微形貌的观察。矿物化学成分的检测方法有：光谱分析、常规化学分析、[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱[/color][/url]、激光光谱 、X 射线荧光光谱和极谱分析，电子探针分析，中子活化分析等 。物相分析和矿物晶体结构研究中，最常用的是粉晶和单晶的X射线分析，用于测定晶胞参数 、空间群和晶体结构 。尚有红外光谱测定原子基团；穆斯堡尔谱测定铁等的价态和配位；用可见光吸收谱进行矿物颜色和内部电子构型的定量研究；以核磁共振测定分子结构；顺磁共振测定晶体结构缺陷。以热分析法研究矿物的脱水、分解、相变等。此外，透射电子[size=3]显微镜[/size]的高分辨性能可用来直接观察超微结构和晶体缺陷 。还有一些专门研究法，如包裹体研究，同位素研究；把矿物作为材料的物理化学性能的试验等。[/font][/color][size=3][font=Times New Roman][/font][/size]

  • 【原创大赛】堆焊宏观金相检验试件的制备过程~~~

    【原创大赛】堆焊宏观金相检验试件的制备过程~~~

    看了titi的帖子http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20110929/3562616/，正好手头正在做个堆焊试件的宏观金相检验，顺便拍了制样过程，来与大家分享下吧http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif 先介绍下堆焊工艺，堆焊是一种应用较为广泛的焊接方法，可以获得性能优良的抗腐蚀、耐磨损的堆焊层，从而保护设备的安全及有效运行。石油化工生产中运用的这类工艺比较多。 这2天我们正在做堆焊的工艺评定，选用的基材为碳钢，用不锈钢焊条对其进行堆焊，按技术要求需做堆焊层的化学分析实验，堆焊后的金属弯曲工艺试验和堆焊截面宏观金相试验。对于宏观金相试验，主要观察堆焊结合面是否有焊接裂纹等其它缺陷。试件（见图1）。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110021054_320744_1622447_3.jpg 图1为送检试件，绿线为宏观检查面试件做宏观金相所需用的材料（见图2），选用的是180#、220#粗磨砂纸、300#、400#、600#金相砂纸，氧化铬抛光粉、硝酸酒精腐蚀剂和镊子、脱脂棉、无水乙醇等用品。晕，居然照片里没拍无水乙醇~~http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110021138_320752_1622447_3.jpg 图2试验所需用品由于是宏观检验，抛光要求不高，所以采用氧化铬粉抛光就可以满足试验观察要求。各项准备工作都处理好，开始磨制试样吧~~~一、粗磨 机加工切好的试件去油清洗，擦净，将粗磨180#砂纸剪成圆状，粘贴在抛光盘，然后将试件轻轻压入，进行磨制见（图3）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110021630_320775_1622447_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110021630_320776_1622447_3.jpg 图3 180#砂纸磨制磨制到试件表面的机加工痕迹全部消除时，即可停止，然后进行下一道200#砂纸的磨制，在这道砂纸磨制的时候，试件应旋转90度，这样做有利于磨光程度的检查，磨去上道砂纸留下的粗磨痕。（见图4）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110021642_320777_1622447_3.jpg图4 试样旋转90度磨制二、精磨试样通过粗磨后，表面的粗大磨痕已经消失，进行精磨，精磨的目的是消除粗磨时留下的较深的磨痕，为下一步抛光打好基础。精磨通常是金相砂纸。金相砂纸的磨料有人造刚玉、碳化硅、氧化铁等，性均极硬，呈多边棱角，具有良好的切削性能。我们使用粒度为300、400、600三种。金相细砂纸在使用前，先要清洁处理，我们采用2张同号砂纸，相互进行轻微的摩擦，然后轻轻拍打去除表面污物，这样对除去砂纸中的粗磨粒效果很好（见图5），然后将砂纸粘贴在抛光盘上。对试样进行磨制，同样磨制完一道砂纸后，下下道砂纸的磨制中，试样也要旋转90度（见图6），以达到上道磨痕的清除。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110021708_320781_1622447_3.jpg图5 去除砂纸表面污物http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031007_320903_1622447_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031008_320904_1622447_3.jpg 图6金相细砂纸的精磨通过600#号砂纸的精磨，试件表面粗大磨痕已经消失（见图7），光洁度增加，表面光洁平整，在光线下看只有细小的细磨痕，这时就可以进行试件的抛光。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031017_320907_1622447_3.jpg图7 磨制好的试样三、抛光抛光的目的是要尽快把磨光留下的细微磨痕成为光亮无痕的镜面，并使抛光产生的变形层不影响显微组织的观察。用机械抛光，上面铺以抛光布。粗抛采用粗呢绒布。抛光液为氧化铬，在水中加入粒度为0.3-1.0微米的AL2O3悬浮液，抛光时间不宜过长，以磨痕全部消除呈镜面即可停止，清洗干燥后备用。（见图8、图9、图10）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031029_320914_1622447_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031030_320915_1622447_3.jpg 图8配制抛光液和将抛光液导入抛光盘中http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031031_320916_1622447_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031031_320917_1622447_3.jpg 图9试样抛光和抛好的试样http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031033_320918_1622447_3.jpg图10，试样抛好后进行冲洗，并吹干四、腐蚀试样机械抛光后，将抛光好的样品磨光面在化学腐蚀剂中腐蚀一定时间，从而显示出其试样的堆焊结合面形貌。其操作方法是：将已抛光好的试样用水冲洗干净或用酒精擦掉表面残留的脏物，然后将试样磨面用镊子夹住棉花球沾取腐蚀剂在试样磨面上擦拭，抛光的磨面即逐渐失去光泽；待试样腐蚀合适后马上用水冲洗干净，用滤纸吸干或用吹风机吹干试样磨面，即可放在显微镜下观察。（见图11、图12）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031736_320961_1622447_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031736_320962_1622447_3.jpg图11将冲净的试样磨面用镊子夹住棉花球沾取腐蚀剂在试样磨面上擦拭至表面显示堆焊结合面即可。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031908_320964_1622447_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031908_320965_1622447_3.jpg 图12试件腐蚀好后用清水、无水乙醇冲洗干净，然后用吹风机吹干。哈，堆焊宏观试样制备大功告成，可以直接清晰的看到堆焊层和基层的结合面啦，可以进入宏观检验的环节中~~~（见图13）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110031914_320967_1622447_3.jpg图13,制备好的试样。那，这个整个制样过程就是这样啦，由于是宏观检验，要求不是很严格，所以制样也较为轻松，对于制样欢迎大家共同探讨。

  • 【网络会议】：2015年06月11日 10:00 原子力显微镜在生物学研究中的应用

    【网络会议】：原子力显微镜在生物学研究中的应用【讲座时间】：2015年06月11日 10:00【主讲人】：叶鸣（博士，布鲁克纳米表面分析部应用科学家。2010年毕业于中国科学院上海应用物理研究所，获得无机化学博士学位。博士期间主要从事基于原子力显微镜(AFM)的生物分子自组装研究。后加入德国马克斯普朗克聚合物研究所，Butt教授课题组从事功能性表面，界面物理方向博士后研究；现主要从事AFM相关的应用技术支持；具有长达10年的AFM应用经验。）【会议介绍】 随着生物学研究逐渐从宏观进入微观水平，高分辨率显微技术的应用越来越广泛。相比于其他显微镜技术（如电镜、激光共聚焦等），原子力显微镜能够在气相、液相、真空、高/低温等多种环境条件下工作，并且制样简单，操作方便，已经成为纳米/微米生物学领域最重要的研究工具。本报告是布鲁克公司2015年原子力显微镜测量技术系列讲座之一，主要内容包括布鲁克公司原子力显微镜技术在生物学研究领域中的广泛应用及最新研究进展，以及Bruker最新型Bioscope Resolve生化型原子力显微镜的革命性功能进展。抛砖引玉，希望能够对大家的科研工作有所助益。报告内容：1. 原子力显微镜测试技术的特点和优势 2. 原子力显微镜在生物学研究中的应用 3. 生物型原子力显微镜最新进展 -------------------------------------------------------------------------------1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间：2015年06月11日 9:304、报名参会：http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/14535、报名及参会咨询：QQ群—379196738

  • 羊毛的宏观形态特征是怎样的

    羊毛的宏观形态特征是怎样的 从横截面面看。接近圆形，纤维越细则圆，从纵面看，据有天然卷曲，毛干上覆盖有一层具有方向性的鳞片，羊毛纤维由外向内由鳞片层，皮质层或髓质层组成。鳞片在羊毛表面的分布随羊毛的粗细和羊种而变。一种细羊毛比粗羊毛的排列密度打，可见高度小，该层的主要作用是保护羊毛，皮质层的正偏质细胞在羊毛中呈双侧分布，并在纤维纵轴方向具有螺旋旋转，毛纤维的髓质层中髓质细胞的共同特点是薄壁细胞，椭球型或圆角立形。

  • 显微镜：探索微观世界的奇妙工具

    显微镜：探索微观世界的奇妙工具在人类探索自然的漫长历程中，显微镜无疑是一把开启微观世界大门的钥匙。它以其独特的放大能力，让我们得以窥见那些肉眼无法察觉的奇妙景象——细胞的结构、微生物的形态、甚至是分子与原子层面的奥秘。本文将深入介绍显微镜的发展历程、基本构造、工作原理以及它在科学研究、医学诊断、工业检测等多个领域中的广泛应用。https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/09/202409190935059333_5216_6742570_3.jpeg一、显微镜的历史沿革显微镜的发明可以追溯到17世纪初，荷兰眼镜商汉斯利伯希是公认的现代显微镜之父。他通过组合两片凸透镜，制成了世界上第一台复合显微镜，虽然其放大倍数有限，但已足以让人们初窥微观世界的神秘面纱。随后，罗伯特胡克、安东尼范列文虎克等科学家对显微镜进行了不断改进，大大提高了其放大倍数和成像质量，为后来的微生物学、细胞学等学科的发展奠定了坚实基础。二、显微镜的基本构造现代显微镜的结构复杂而精密，主要由光学系统、机械系统和照明系统三大部分组成。 ? 光学系统：是显微镜的核心部分，包括物镜、目镜和镜筒等组件。物镜位于标本下方，负责将标本放大并成像；目镜则位于观察者眼睛上方，进一步放大物镜形成的图像供人眼观察。镜筒则连接物镜和目镜，确保光线能够准确传输。 ? 机械系统：用于调节显微镜的位置和角度，包括底座、支架、载物台、调节旋钮等部件。通过这些部件的精确调节，可以实现对标本的精确定位和观察。 ? 照明系统：为显微镜提供充足的光源，确保标本能够被清晰照亮。常见的照明方式有透射照明和反射照明两种，分别适用于透明和不透明标本的观察。 三、显微镜的工作原理显微镜的工作原理基于光的折射和放大原理。当光线通过物镜时，由于物镜的凸透镜特性，光线会发生折射并聚焦于一点形成实像。这个实像随后被目镜进一步放大并投射到观察者的视网膜上形成虚像。通过调节物镜和目镜的焦距以及载物台的位置，可以实现对标本不同深度和层次的观察。四、显微镜的应用领域显微镜在科学研究、医学诊断、工业检测等多个领域中发挥着不可替代的作用。 ? 科学研究：在生物学、医学、材料科学等领域中，显微镜是研究微观结构和功能的重要工具。例如，通过电子显微镜可以观察到细胞的超微结构；通过荧光显微镜可以研究生物分子的分布和相互作用。 ? 医学诊断：显微镜在病理学、微生物学等医学领域中具有广泛应用。医生可以通过显微镜观察患者的组织切片或体液涂片来诊断疾病；同时也可以通过显微镜检测细菌、病毒等微生物的存在和类型。 ? 工业检测：在半导体制造、精密机械加工等行业中，显微镜被用于检测产品的微观缺陷和表面质量。通过显微镜的高精度成像能力可以实现对产品质量的严格控制和优化生产流程。 五、结语显微镜作为探索微观世界的重要工具不仅揭示了自然界的无限奥秘也推动了科学技术的飞速发展。随着科学技术的不断进步和创新显微镜的性能和应用范围也在不断拓展和提升。未来我们有理由相信显微镜将继续在各个领域中发挥重要作用为我们揭示更多未知世界的秘密。

  • 【原创大赛】巧妙解决显微镜软件冲突、白平衡失调问题

    【原创大赛】巧妙解决显微镜软件冲突、白平衡失调问题

    失效分析的重点离不开对失效件在宏观与微观下的观察，然而宏观与微观下不同放大倍数下的观察需要选用不同的显微镜来进行。因工作需要中心站新购回体视显微镜、视频显微镜，与原有的金相显微镜、扫描电镜构成一套失效分析观察系统。但每台显微镜都各自配有软件及电脑，实际失效分析中要在几台电脑中重复操作，观察保存的图片若共用时也需要来回的转存，工作起来费力又费时。若能将几种显微镜配套软件进行优化、整合集中在一台电脑中，效果很明显：一是提高工作效率；二是优化资源配置；三是降低人工成本。集中后发现体视显微镜观察时调整亮度过程中，白平衡失常，图像偏绿。金相显微镜与体视显微镜视频头使用冲突，不能正常显示图像。经多次试验及重装各种配套软件，均不能完全解决问题，几套软件不能实现共存运行的目的。1、问题特征分析 先简单介绍下视频采集设备，其分类、作用及效果1）视频采集设备什么是视频采集设备呢？通俗地说，视频采集设备就是将摄像机、摄像头、电视机等输出的视频数据或者视频音频的混合数据输入电脑并转换成电脑可辨别的数字数据存储在电脑硬盘中,成为可编辑处理的视频数据文件的设备。2）视频采集设备分类视频采集设备依据视频讯号的来源可分为模拟与数字两大类，模拟视频讯号联接包括AV复合接口、S端子超级视频接口及分量接口，而数字视频讯号连接包括USB、IEE1394及SDI接口。不同档次的视频采集设备具有不同质量的采集压缩性能。3)图像采集的作用与效果图像采集就是从连续的视频图像采集图像。摄像头的作用是将显微镜的光信号转化为视频信号，再由采集卡将视频信号转化为数字信号，输入到计算机里进行处理。数码相机则直接将光信号转化为数字信号输入到计算机进行处理。一般情况下，系统只同时支持一个视频源，要用多个，恐怕还得想其它办法。4）多个视频软件整合后的缺陷将体视显微镜、金相显微镜、视频显微镜软件安装在同一台电脑时，软件均能正常安装，并未提示软件驱动有冲突，然而在运行体视显微镜软件后发现图像随亮度表现出白平衡失调，图像明显偏绿（图1），而在运行金相显微镜软件时提示选择视频源（图2），可除选择MD-30 USB2.0 Camera1.0（32-32）外，选择其余两个视频源没有显示（图3），而其显示的图像却是体视显微镜下的物体图像（图4），无法进行金相分析工作。虽经多次试验及重装各种配套软件，均不能完全解决问题，仅能保证一套软件正常运行，三套软件不能实现共存运行。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312131324_481872_2193245_3.jpg2、制定解决方案1）经仔细分析及查阅大量的相关资料，利用系统对软件中视频捕获源的确认，终于找到解决突破口，利用兼容DirectX和TWAIN的设备驱动，对软件中视频捕获源的分别识别和指认，实现体视显微镜与金相显微镜视频驱动混用，在体显软件中，将视频捕获源进行指定为DP206，不使用Twain捕获，金相显微镜软件中，使用Twain进行捕获，视频源选择C5驱动，恢复正常功能。2）解决的原理 TWAIN界面属于类似于DirectX为一种中介服务。主要是摄像头有太多款，而不是每一个支持扫描或是摄像功能的系统软件都支持每一款扫描仪和摄像头。所以微软就推出了TWAIN的服务。就是硬件有自己的驱动需要安装，而有个TWAIN的界面供系统里面的软件透过TWAIN服务来直接运行硬件里面的设定和服务。这么做，摄像头就可以不需要知道系统里面有什么样的软件可以使用，软件也不需要知道你的摄像头是哪一个厂家或是支持什么样的服务，全部都是透过TWAIN的服务达到的。巧妙的利用系统提供的TWAIN与DirectX服务，将多个视频源进行区分并为相应的软件来调用，达到预期目的。而视频显微镜选用的是新型无线传输方式，与TWAIN与DirectX服务不冲突，可由安装厂家提供的驱动程序解决。3、实施效果按照上述解决方案实施后，能实现三套软件共存运行，可体显的白平衡问题依然存在。通过对TWAIN界面菜单的研究（图5），在体视显微镜软件设置中点击白平衡，取消AE选项，对RGB与gama值进行调整，体视显微镜色彩调节恢复正常（图6）。至此三套软件在同一系统下共存运行圆满达成（图7、图8）。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312131324_481873_2193245_3.jpg4、经验盘点金相显微镜与体视显微镜视频头使用冲突，不能正常显示图像，体视显微镜白平衡失调，图像偏绿问题为多台显微镜在同一台电脑集中安装后，视频捕获源与配套分析软件冲突引起的问题，巧妙解决后能有效提高工作效率，降低成本，实现事半功倍的效果。现各种显微图片分析结果可直接共用，对失效分析及材料化验提供有力支撑。

  • 电子显微镜的现状与展望（ZT）

    摘要:　本文扼要介绍了电子显微镜的现状与展望。透射电子显微镜方面主要有：高分辨电子显微学及原子像的观察，像差校正电子显微镜，原子尺度电子全息学，表面的高分辨电子显微正面成像，超高压电子显微镜，中等电压电镜，120kV,100kV分析电镜，场发射枪扫描透射电镜及能量选择电镜等，透射电镜将又一次面临新的重大突破；扫描电子显微镜方面主要有：分析扫描电镜和X射线能谱仪、X射线波谱仪和电子探针仪、场发射枪扫描电镜和低压扫描电镜、超大试样室扫描电镜、环境扫描电镜、扫描电声显微镜、测长／缺陷检测扫描电镜、晶体学取向成像扫描电子显微术和计算机控制扫描电镜等。扫描电镜的分辨本领可望达到0.2—0.3nm并观察到原子像。 关键词　透射电子显微镜　扫描电子显微镜　仪器制造与发展 中图法分类号　TN16　O766.1　Q336 　　 电子显微镜(简称电镜，EM)经过五十多年的发展已成为现代科学技术中不可缺少的重要工具。我国的电子显微学也有了长足的进展［1］。电子显微镜的创制者鲁斯卡(E.Ruska)教授因而获得了1986年诺贝尔奖的物理奖［2］。 　　电子与物质相互作用会产生透射电子，弹性散射电子，能量损失电子，二次电子，背反射电子，吸收电子，X射线，俄歇电子，阴极发光和电动力等等。电子显微镜就是利用这些信息来对试样进行形貌观察、成分分析和结构测定的。电子显微镜有很多类型，主要有透射电子显微镜(简称透射电镜，TEM)和扫描电子显微镜(简称扫描电镜，SEM)两大类。扫描透射电子显微镜(简称扫描透射电镜，STEM)则兼有两者的性能。为了进一步表征仪器的特点，有以加速电压区分的，如：超高压(1MV)和中等电压(200—500kV)透射电镜、低电压(～1kV)扫描电镜；有以电子枪类型区分的，如场发射枪电镜；有以用途区分的，如高分辨电镜，分析电镜、能量选择电镜、生物电镜、环境电镜、原位电镜、测长CD-扫描电镜；有以激发的信息命名的，如电子探针X射线微区分析仪(简称电子探针，EPMA)等。 半个多世纪以来电子显微学的奋斗目标主要是力求观察更微小的物体结构、更细小的实体、甚至单个原子，并获得有关试样的更多的信息，如标征非晶和微晶，成分分布，晶粒形状和尺寸，晶体的相、晶体的取向、晶界和晶体缺陷等特征，以便对材料的显微结构进行综合分析及标征研究［3］。近来，电子显微镜(电子显微学)，包括扫描隧道显微镜等，又有了长足的发展。本文仅讨论使用广泛的透射电镜和扫描电镜，并就上列几个方面作一简要介绍。部分透射电镜和扫描电镜的主要性能可参阅文献［1］。 透射电子显微镜 1、高分辨电子显微学及原子像的观察 材料的宏观性能往往与其本身的成分、结构以及晶体缺陷中原子的位置等密切相关。观察试样中单个原子像是科学界长期追求的目标。一个原子的直径约为1千万分之2—3mm。因此，要分辨出每个原子的位置需要0.1nm左右的分辨本领，并把它放大约1千万倍。70年代初形成的高分辨电子显微学(HREM)是在原子尺度上直接观察分析物质微观结构的学科。计算机图像处理的引入使其进一步向超高分辨率和定量化方向发展，同时也开辟了一些崭新的应用领域。例如，英国医学研究委员会分子生物实验室的A.Klug博士等发展了一套重构物体三维结构的高分辨图像处理技术，为分子生物学开拓了一个崭新的领域。因而获得了1982年诺贝尔奖的化学奖，以表彰他在发展晶体电子显微学及核酸—蛋白质复合体的晶体学结构方面的卓越贡献［4］。 用HREM使单个原子成像的一个严重困难是信号／噪声比太小。电子经过试样后，对成像有贡献的弹性散射电子(不损失能量、只改变运动方向)所占的百分比太低，而非弹性散射电子(既损失能量又改变运动方向)不相干，对成像无贡献且形成亮的背底(亮场)，因而非周期结构试样中的单个原子像的反差极小。在档去了未散射的直透电子的暗场像中，由于提高了反差，才能观察到其中的重原子，例如铀和钍—BTCA中的铀(Z＝92)和钍(Z＝90)原子［5］。对于晶体试样，原子阵列会加强成像信息。采用超高压电子显微镜和中等加速电压的高亮度、高相干度的场发射电子枪透射电镜在特定的离焦条件(Scherzer欠焦)下拍摄的薄晶体高分辨像可以获得直接与晶体原子结构相对应的结构像。再用图像处理技术，例如电子晶体学处理方法，已能从一张200kV的JEM-2010F场发射电镜(点分辨本领0.194nm)拍摄的分辨率约0.2nm的照片上获取超高分辨率结构信息，成功地测定出分辨率约0.1nm的晶体结构［6］。 2.像差校正电子显微镜 电子显微镜的分辨本领由于受到电子透镜球差的限制，人们力图像光学透镜那样来减少或消除球差。但是，早在1936年Scherzer就指出，对于常用的无空间电荷且不随时间变化的旋转对称电子透镜，球差恒为正值。在40年代由于兼顾电子物镜的衍射和球差，电子显微镜的理论分辨本领约为0.5nm。校正电子透镜的主要像差是人们长期追求的目标。经过50多年的努力，1990年Rose提出用六极校正器校正透镜像差得到无像差电子光学系统的方法。最近在CM200ST场发射枪200kV透射电镜上增加了这种六极校正器，研制成世界上第一台像差校正电子显微镜。电镜的高度仅提高了24cm，而并不影响其它性能。分辨本领由0.24nm提高到0.14nm［7］。在这台像差校正电子显微镜上球差系数减少至0.05mm(50μm)时拍摄到了GaAs〈110〉取向的哑铃状结构像，点间距为0.14nm［8］。 3、原子尺度电子全息学 Gabor在1948年当时难以校正电子透镜球差的情况下提出了电子全息的基本原理和方法。论证了如果用电子束制作全息图，记录电子波的振幅和位相，然后用光波进行重现，只要光线光学的像差精确地与电子光学的像差相匹配，就能得到无像差的、分辨率更高的像。由于那时没有相干性很好的电子源，电子全息术的发展相当缓慢。后来，这种光波全息思想应用到激光领域，获得了极大的成功。Gabor也因此而获得了诺贝尔物理奖。随着Mollenstedt静电双棱镜的发明以及点状灯丝，特别是场发射电子枪的发展，电子全息的理论和实验研究也有了很大的进展，在电磁场测量和高分辨电子显微像的重构等方面取得了丰硕的成果［9］。Lichte等用电子全息术在CM30 FEG/ST型电子显微镜(球差系数Cs＝1.2mm)上以1k×1k的慢扫描CCD相机，获得了0.13nm的分辨本领。目前，使用刚刚安装好的CM30 FEG/UT型电子显微镜(球差系数Cs＝0.65mm)和2k×2k的CCD相机，已达到0.1nm的信息极限分辨本领［10,11］。

Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ，All Rights Reserved版权所有，未经书面授权，页面内容不得以任何形式进行复制