三维动态应变测量系统

ARAMIS三维运动和变形非接触测量系统应用材料测试零件测试和分析强度分析振动分析耐久性分析碰撞分析特点解决接触式无法解决的问题描述 ARAMIS系统可以获得动静态加载下的试样和零件的三坐标、三维位移和变形速度、加速度、应变率，以及6自由度测量结果。通过这些测量数据，人们可以获得材料力学参数，验证有限元计算结果，记录组件碰撞，跟踪运动轨迹，和分析零件变形。ARAMIS是运用数字图像相关技术的非接触式光学测量方式，不受被测材料限制。 ARAMIS将全场测量和标靶点测量技术完美结合起来，测量范围涵盖几毫米的试样到数十米的结构件。无需对试样进行复杂和费时的制备，不受试样的几何形状及温度局限。测量精度高，分辨率可以达到亚微米级。主要参数：产品型号 ARAMIS 3D性能指标相机传感器CCD相机分辨率2752x2200pixel测量面积10x8~5000x4000应变测量范围0.005%~2000%应变测量准确性0.005%照明双蓝光补光灯频率100Hz控制器可选配工作温度5~40℃供电电源90~230VAC测量头尺寸和重量220 mm x 185 mm 6.0kg

三维视觉显微应变测量系统是一款基于双目三维DIC技术的非接触式应变仪，通过高精度的体式显微镜，配合原位加载台或冷热台，可实现微米级微观试样加载过程的图像采集，系统软件完成对图像的计算，并实时输出测量的变形结果。应用领域测量微小试样的三维应变，适用于生物材料、半导体材料、电子产品、碳纤维材料和零件的抗拉、抗压、抗弯、受热变形等领域技术亮点高低温加载环境0.1μm位移精度100μm级显微应变测量 产品优势1. 配置超高精度显微标定板；2. 可实现200倍的显微测量；3. 不受温度限制，可实现高低温状态下测量，可测量温度范围-190℃至600℃；4. 不受应变范围限制，可测量应变范围0-1000%。技术参数

XTDIC-STROBE系列三维动态测量系统

XTDIC-micro系列显微应变测量系统

海塞姆高速DIC三维光学应变测量仪，采用单目三维DIC技术，使得高速DIC测试仅需要一套高速相机和镜头，大大降低了系统成本，百万像素采样频率最高可达700万HZ。应变仪光路具有广泛的适应性，匹配市面上常见的高速相机和镜头。设备体积小，便于狭小空间及小视野范围的测量，适合霍普金森杆冲击、高速振动等测试。应用领域：高速拉伸、落锤冲击、霍普金森杆冲击、碰撞、爆炸、振动等产品优势：● 仅需要一套高速相机和镜头● 安装调试简单● 全场测量● 三维测量● 不受温度限制，可实现高低温状态下测量，可测量温度范围-200℃——2300℃● 不受应变范围限制，可测量应变范围：0.005%—2000%● 不受应变方向限制，可同时实现多个方向的变形和应变测量● 标准化测量，无需标定技术参数

XTSM板料成形网格应变测量系统

海塞姆视觉应变仪超高分辨率版是一款基于单目三维DIC技术的变形测试系统，可以采用单相机实现三维全场应变测量。通过应变仪测量头可实现试样加载过程的图像采集，应变仪软件完成对图像的计算，并输出测量的变形结果。尤其适合高分辨率、大视野测试需求。应用领域：拉压弯扭、静刚度、静强度、疲劳、落锤、冲击、抗震、风洞等产品优势：1. 可进行温度场耦合；2. 可实现被测物多相机点云的拼接结果；3. 可实现点云数据导出，并导入CAD数据对比分析；4. 集成激光测距仪，可快速精准确认测量距离；5. 集成温度传感器和温控系统，消除设备温度变化对测量精度的影响；6. 可支持Abaqus软件Odb结果与DIC计算结果进行对比分析；7. 不受应变范围限制，可测量应变范围：0.005%-2000%；8. 不受温度限制，可实现高低温状态下测量，可测量温度范围-190℃至2300℃；9. 集成式光源，具有光场塑性技术，形成均匀矩形光测；10. 集成姿态传感器，可实时获取测量头姿态，通过算法修正设备自身姿态变化导致的精度误差。技术参数

ARAMIS三维运动和变形测量系统用于材料测试、零件分析、碰撞和6自由度评估及光学三维变形分析等。功能特点：从数字立体图像到三维测量数据ARAMIS系统可以获得动静态加载下的试样和零件的三坐标、三维位移和变形速度、加速度、应变率，以及6自由度测量结果。通过这些测量数据，人们可以获得材料力学参数，验证有限元计算结果，记录组件碰撞，跟踪运动轨迹和分析零件变形。亚像素精度的图像处理试样加载过程中，ARAMIS系统高分辨率或高速相机，对表面进行连续的拍照测量。通过数学调整计算，精确确定测量头的标定状态，相机位置以及镜头光学畸变参数。测量头技术材料研究和零件测试在产品开发过程中起着至关重要的作用。ARAMIS 3D Camera可以获得材料的力学性能参数，和产品在加载下的力学行为。这些结果帮助人们分析产品的耐久性，获取几何形貌，以及可靠的数学仿真和验证结果。LiveARAMIS的Live功能支持在线测量、定位和运动分析。可配合使用探针和适配器进行测量。零件在线测试可应用于耐久性测试、疲劳测试、风洞测试，以及振动测试。同时，测量结果不仅可以在线观看，还可以通过数字模拟接口发送给其他程序，由其他程序进行在线处理。TRITOP摄影测量法/系统测量几十米的大物体时，使用数字摄影测量法，可以把几个ARAMIS项目合并到骊个坐标系里，也就是说把几个不同的局部区域 ARAMIS测量结果拼接成一个整体，然后进行分析。测量、分析、报告l参数化-使用GOM参数化功能，每一个元素的创建路径都可以保存在软件里。l时间轴-通过把时间轴嵌入图形界面，可以清晰地管理含有多个测量阶段的项目，例如变形分析。lI-Inspect-I-Inspect控制模块意思是悬浮智能检测模块，它一步步地指引用户完成检测。l数字图像相关-这是一种非接触式获得三坐标值，三维运动表面变形和应变的测量技术，主要用于材料和零件测试。l位移/运动和变形分析，用于组件概念进行分析。l客户定制化的数学计算方法l图像映射-通过图像映射，测量结果可以直接显示在对应的图像上，便于使用者观看和理解测量结果。

基于双目三维DIC技术的变形测试系统，用于大尺寸或大范围结构测试中三维全场位移、应变测量、速度、加速度计算，运动追踪及轨迹分析。应用领域高速加载、疲劳、振动、碰撞、静刚度、静强度产品优势1. 可实现有限元分析验证；2. 可进行自振频率、阻尼比、振幅等模态分析；3. 可采用高速相机进行高频率图像采集；4. 具备外部信号触发功能；5. 不受应变范围限制，可测量应变范围：0.005%-2000%；6. 不受应变方向限制，可同时实现多个方向的变形和应变测量。技术参数

三维细胞共培养系统产品型号：NK-PS220血管内皮细胞并非独立存在，内皮细胞在受到血流剪切力作用的同时又受到血管压力与血管形变的作用，在内皮细胞的研究过程中从静态到动态的改变，我们为此不断的摸索模拟实现内皮细胞受到的真实物理血管环境。推出的这款三维细胞共培养系统可以实现对内皮细胞施加流体剪切力刺激的同时，内皮细胞与平滑肌细胞进行共同培养，可以用来研究内皮细胞在受到流体剪切力刺激下所分泌的各种因子对平滑肌细胞的影响，同时也可以研究平滑肌细胞对内皮细胞的反向作用，这是在单独培养内皮细胞或者平滑肌细胞时没法实现的。三维细胞共培养系统的优势在于，不但可以使内皮细胞受流体剪切力影响，同时也可以施加既定的压力在内皮细胞与平滑肌细胞上，使内皮细胞在生理的流体剪切力和压力作用下，平滑肌在生理压力作用下进行共培养。这是目前国内外仅有的流体剪切力与压力环境下对血管内皮细胞与平滑肌细胞实现共培养的仪器。对于科研实验领域，仪器的超越，更有助于科研研究。有需要的用户请联系我们。三维细胞共培养系统参数： 剪切力范围：0-30达因/平方厘米；压力范围：80-120mmHg；细胞培养面积：1200平方毫米；培养液使用量：50ml左右。Naturethink是国内较早从事仿生细胞培养仪器研发与销售的企业，多年的技术沉淀，使得我们在人体仿生环境培养领域拥有独立自主的研发能力，并拥有核心技术；同时我们为用户提供仪器设备的改进、设计及研发服务。

ANEST三维超声风向风速测量系统一、概述系统由Evolution数据采集器和ANest三维超声传感器组成。ANEST三维超声传感器用于测量风的速度和方向以及声速分量（温度和声速），能够测量风沿x、y、z三个正交轴的特性及其笛卡尔坐标的结果。系统广泛应用于气象学、气候学、科研站点等领域。传感器结构坚固，耐用。线性，准确，在所有条件下都可靠，具有高动态响应，且配有电气保护，提供各种信号输出。Evoution数据采集器是一款模块化高精度数据采集器，Linux操作系统，可通过web进行配置，采集、处理、编程、存储、警示，数据处理和传输等功能，是一款可靠先进的数据设备。二、特色测量x、y、z（3D）三个轴的风传感器无移动部件，维护成本低坚固耐用，恶劣环境下持续运行分辨率达0.01m/s，1°风向，具有温度补偿，精度达2%读数测量范围内可靠准确，无需额外校准内置罗盘自动对准磁北低功耗（＜2.5W）内置加热装置 三、技术参数1、ANEST传感器测量范围：风速0~70m/s；风向0~360°；天顶角±60°；声速300~380m/s；超声温度-40~60℃分辨率：风速0.01m/s，风向0.1°，天顶角0.1°，声速0.1m/s，超声温度0.1℃精度：风速±2%读数；风向±1°，天顶角±1°，声速±1%读数，超声温度±1℃可用参数：风速风向及U-V信号输出：RS485，模拟电压，模拟电流供电：12~30VDC耗电：2.5W重量：1650g2、Evolution数据采集器一款高精度模块化数据采集器，Linux操作系统，内置web服务器和PHP解释器，可通过web配置数采。多通道、多用途，高精度测量模拟信号、数字信号、频率和串行信号；8个差分或16个单端模拟输入，4个模拟输出，5个数字输入，4个数字输出，7个可配置通信端口（2*USB、2*RS232、1*Ethernet、1*SDI12、1*RS485；24位高精度；供电方式多样：太阳能板、12V电池、外部供电系统等；功耗＜1W；三层内部存储：内部、外部和USB（512G）；2*24显示屏；DIN安装轨道等四、产地 意大利

是一款采用三维视频来量化分析试样的表面应变当物体采用黑白随机图案，软件通过数字图像关联（DIC）方法测量位移和应变。软件由DITECT公司开发，该公司开发的多种测量解决方案价格低，易使用，快速精确， 用户广泛采用。l 多种物质如金属，塑料，木头，混凝土，玻璃，橡胶等都能测定。2D DIC 和 3D DIC (立体)都可提供。2D测量仅需一个相机，3D全场测量需要两个以上相机。l 可以提供全套系统包括高速相机和照明设备，也可单提供软件DIPP-Strain 2D （平面位移） 物体由单台相机拍摄，通过测量物体表面随机图案变化来测量形变。输出数据：相关产品：DITECT 高速相机， X-ViewerAD 高速模拟同步输入系统推荐OSWindows 10/11 Home/Pro (64bit)CPUIntel Core i5 or higher (multicore)HDD10 GB or moreRAM8GB or moreDisplayResolution 1920 x 1080 or better主要输出结果2DX-direction strain, Y-direction strain, shear train, major strainStereoVolumetric strain, logarithmic strain, deformation gradient tensor输入格式AVI, WMV, MPEG, CINE, JPEG, BMP, GIF, TIFF, PNG输出格式AVI, WMV, MP4, JPEG, BMP, PNG

NimbleTrack灵动式三维扫描系统全球首发，领跑工业计量“无线”新时代！2024年4月9日，思看科技（SCANTECH）正式发布NimbleTrack灵动式三维扫描系统。NimbleTrack集全无线、不贴点、双边缘计算、一体成型架构于一身，精准驾驭中小型场景动态三维测量，领跑工业计量“无线”新时代！灵动式三维扫描系统NimbleTrack，轻巧身型，自在随行，集全无线、多功能等超凡性能于一身，精准驾驭中小型测量场景，成就绝妙之作。其扫描仪和跟踪器深度集成高性能芯片与嵌入式电池模组，实现了全域无线测量和高速稳定的数据传输，开启工业计量智能无线新时代。整套系统巧妙融合了思看科技的自研生态圈，多种功能形态随心变幻，万般场景灵活应对，以极致技术成就极致性能。轻装上阵 即开即扫NimbleTrack超轻型机身，以极致细节重构性能想象，解锁性能美学的超然进化实力。跟踪器仅重2.2kg，身长57cm，恣意穿梭于各类场景，轻装上阵；扫描仪仅重1.3kg，单手掌控游刃有余，轻松完成长时间测量任务。标配一体式便携安全防护箱，兼顾轻型化与紧凑型，容纳万象，灵动出鞘，带上它，即开即扫，尽显轻盈畅快之感。一体成型 稳如堡垒扫描仪采用全新的碳纤维框架一体成型技术，兼备轻量化和高强度性能，在加工工艺上颠覆了传统组装式框架的装配技术，实现了超高结构稳定度和超强温度稳定性，使得一次校准即可长时间内保持良好的精度范围，让每一次扫描都尽在掌控。 双内置电池 真正全无线全栈无线三维扫描系统，无线数据传输、零线缆供电，可满足无电、用电不便等应用场景，开启工业计量无线新时代。扫描仪隐藏式电池仓设计，优雅无束缚；跟踪器双循环电池仓设计，供电不间断，无线转站更顺畅。双边缘计算 性能狂飙扫描仪和跟踪器均搭载新一代高性能边缘计算模组，运算效率跃升至全新高度，解锁120 FPS高帧率流畅测量体验，每一帧都行云流水，驾驭自如。扫描时无需外接电源、贴点，与市面上现有的手持式三维扫描仪相比，整体扫描流程大幅简化，复杂场景更显从容，是当之无愧的效率担当。计量基因 精益求精 依托思看科技计量级产品成熟强大的系统架构和自研算法，最高精度可达0.025mm，在标准跟踪范围内，体积精度可达0.064 mm，精准有实力，还原肉眼可见的细微处。万般场景 挥洒自如NimbleTrack三维扫描系统小巧灵动，轻盈穿梭。面对狭小空间或视角遮挡处，扫描仪可无线单独使用，实现最高0.020 mm的高精度扫描。面对大范围测量场景，跟踪器即刻化身远距离红外标记点扫描利器，精准把控全局精度。智能边界检测模块可选配智能边界探测模块，利用高性能灰阶边缘算法，自动采集孔、槽、切边等特征的三维数据，快速获取高精度的尺寸和位置度信息。 i-Probe500 跟踪式测量光笔面对隐藏点或基准孔等难以触达之处，可选配便携式测量光笔i-Probe，设备支持有线或无线传输，为精密测量提供全方位的数字化解决方案。多台跟踪器级联 支持多台跟踪器级联工作，大幅扩展扫描范围，有效应对大型工件扫描场景。搭载自动化设备 搭载全新定制化三维扫描仪，为自动化解决方案量身定制装夹方式，使其更加适配各类型机器人；360度均匀分布的标记点岛结构，实现全方位精准跟踪，打造高效的自动化批量检测系统。拓展应用生态NimbleTrack是工业级三维扫描领域真正实现全无线测量的产品，凭借智能无线、不贴点、高精度、高便携性等优势，适用于各类应用场景，尤其是尺寸在40mm-2000mm之间的中小型工件，如汽车四门两盖、内饰座椅、压铸件以及新能源电池盒等。在航空飞行器检修和文物数字化等不适宜贴点的情况下，NimbleTrack表现出色。此外，它也非常适合于车间现场，特别是那些无法方便连接电源或电缆的环境，比如野外测量石油管道的腐蚀情况以及高空作业等。关于思看科技思看科技是面向全球的三维视觉数字化综合解决方案提供商，主营业务为三维视觉数字化产品及系统的研发、生产和销售。公司深耕三维视觉数字化软硬件专业领域多年，产品主要覆盖工业级高精度和专业级高性价比两大差异化赛道，主要产品涵盖便携式3D视觉数字化产品、跟踪式3D视觉数字化产品、工业级自动化3D视觉检测系统和专业级彩色3D视觉数字化产品等。公司产品广泛应用于航空航天、汽车制造、工程机械、交通运输、3C电子、绿色能源等工业应用领域，以及教学科研、3D打印、艺术文博、医疗健康、公安司法、虚拟世界等万物数字化应用领域，致力于提供高精度、高便携和智能化的三维视觉数字化系统解决方案，打造三维视觉数字化民族品牌。

XTDP三维光学摄影测量系统

系统简介 基于各类虚拟仪器总线平台分别搭建的不同类型的模块化、集成化的动态应变测试系统，我们为您提供一整套从应变片、硬件到控制分析软件的动态应变测试解决方案，使您能够轻松完成从动态应变信号的采集、专业分析及报告输出等一系列工作。 系统特点1、 高度集成的测量系统，创造性的采用硬件开放式模块化架构，可将应变片/应变式传感器、应变信号调理模块/仪器、不同型号的数据采集模块/仪器自由组建到一套系统内；2、 大容量板载缓存，可长时间记录波形变化数据，并支持实时采集、显示和存储；3、 高动态范围，高速采样率、高精度A/D，能够及时、精细地捕捉到动态应变信号；4、 专业的动态应变分析软件；5、 既可本地操作，也可远端控制。既可单台使用，也可多台扩展分布式使用。完全满足您的使用要求。典型应用1、 力学测量：结构载荷动态应力、试件强度、疲劳试验等力学动态应变测量；2、 压力测量：建筑结构抗压、动态压力、爆压等工程机械类动态应变测量；3、 其它测量：其它通用动态应变测量。动态应变测试

精准无误的三维分析GOM三维相机系统ARAMISSRX是一套用于全场型面和基于点的测量的高分辨率三维相机系统。测头每秒拍摄多达2000幅图像，其结构坚固，过程稳定，操作方便，是满足工业环境高端应用需求的的理想测量系统。全方位卓越性能展现高分辨率ARAMISSRX采用最新相机技术，包含左右两台1200万像素相机。不仅能够侦测细微应变，还可以侦测大范围内的局部应变效果。结构坚固坚固的壳体设计保障系统运行高度稳定，同时减少测头标定需求，适合工业环境中的应用。快速设置操作方式灵活。通过可更换的相机架和预设并经过认证的测量镜头，使用者可以快速调整测量区域。过程稳定系统内置的GOM测试控制器可控制测量头动向，确保软硬件之间的通讯稳定。相机内设触发分配功能用以控制图像采集，保障系统运行稳定如一。超高采样频率，适合高速应用ARAMISSRX在全分辨率下图像记录速度可以达到335Hz。降低图像分辨率的情况下，最高记录速度可达到2000Hz。这使得系统能够采集零部件在整个变形和失效过程中的详细图像数据8GB内存，专为高端应用设计ARAMISSRX尤其适合需要同时采集高速图像序列和测量局部效应的高端应用。8G内存支持系统在高分辨率状态下持续高速摄像。高清HD模式，为碰撞应用研发专为碰撞测试应用研发的HD模式可提供最佳图像比例，且图像记录速率高达到1000Hz，因此系统可在高分辨率下全面分析高速图像序列。先进光线技术蓝光技术由于测量头采用细条蓝光，因此在图像采集过程中能够有效过滤周围环境光干扰。其光源投射范围广，亮度强，能为10mmx10mm至5mx5m范围内的测量区域提供最佳照明，并大大减少曝光时间。追踪点灯支持大范围全局测量追踪点灯适用于大至5mx5m的大面积区域照明，并为运动分析中基于点的测量提供优化。双光源配置和参考点标使系统可以在完整记录高速运动物体的同时，将曝光时间缩短至微秒以内。光线投影头帮助局部细节捕捉光线投影头适用于1mx1m以下的小范围测量，使用者可根据不同测量任务灵活调整照明区域。蓝光技术确保在测量过程中稳定投射均匀光线，使系统无论在何种环境下都能执行精确测量。技术参数ARAMISSRXARAMISSRX–8GB相机分辨率4096×3068像素4096×3068像素帧频（fps）75fps@全分辨率115fps@2/3分辨率230fps@1/3分辨率480fps@1/6分辨率490fps@HD格式(1920×1000)335fps@全分辨率500fps@2/3分辨率1000fps@1/3分辨率2000fps@1/6分辨率1000fps@HD格式(1920×1000)相机支架（mm）180/300600/1200/1600180/300600/1200/1600

中图仪器SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统基于白光干涉原理，能以3D非接触方式对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能； (4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1）白光干涉三维形貌测量系统采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。SuperViewW白光干涉仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：部分技术指标 型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

TubeScan三维光学弯管测量系统

应用　　Bertec公司的4060系列测力台完美适用于步态、平衡、体育运动、人机工效等领域中的静态和动态分析。Bertec三维测力平台应用了应变原理，先进的电子技术、创新的机械设计、高品质的制造水平，使Bertec测力平台自诞生之始便处于业内领先水平，广泛适用于任何临床或科研应用。　　　　设计　　Bertec测力平台由精密设计的应变载荷传感器构成，这些传感器可精准地测量六个分量：三个正交力以及每个轴的力矩。每块测力平台均内置一个16-bit数字增益放大器以及信号调节单元，摆脱了传统测力平台对标定矩阵的依赖。系统支持使用超长输出线缆而不会有任何的信号衰减。其中数字输出可直接通过USB连接传输至您的计算机。对于模拟输出，我们提供两种选项：6个独立的BNC输出，或7个独立的裸线输出。系统自带支持快速数据采集的软件包，免去了自行编写软件的繁琐工序。Bertec拥有自己的软件库和设备驱动，以满足自主开发数字数据采集软件的科研工作者们的需求。　　特性　　4060-08测力台拥有轻量的铝制表面，重量轻巧而又经久耐用。具有两个标准载荷范围（5,000N，10,000N），并支持定制载荷范围。先进的电子设计使其可在力台内部校正串扰，使得输出信号为真实的直读数据。极高的分辨率和自然频率是Bertec测力平台的标准。4060-08可提供两种不同的安装固定版本：底部安装和顶部安装。支持与Delsys表面肌电测试系统，三维运动捕捉系统进行同步采集。技术参数：　　* 静态分辨率：静态信号下的峰间噪声幅度　　** 分辨率：此处即内置数字化的灵敏度，表示每LSB（最低有效位）数字化信号对应的力学量化信号（以N或lb为单位）　　? FSO：满量程输出　　安装位置，mm(in)　　底部安装╪：A=24(0.94)，B=29(1.13)　　C=552(21.74)，D=343(13.50)　　顶部安装╪：A=110(4.33)，B=67(2.64)　　C=380(14.97)，D=266(10.47)　　L=600(23.62)，W=400(15.75)　　╪需配合Bertec安装板使用时，底部安装版本需要4枚M8×1.25螺栓和平垫圈。顶部安装必须配合使用4枚受载弹簧M8螺栓。

为大尺寸工件加工提供非接触准确测量布鲁克的NPFlex 三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了灵活的非接触式的方案，可广泛用于医疗植入，航空航天、汽车或加工上的大型、异型工件的测量。基于白光干涉原理，NPFlex 为用户提供超过接触式方法所能达到的更大数据量、更高分辨率和更好的重复性，使它成为互补型的测量方案。 开放式的龙门设计克服了以往某些零件由于角度或取向造成的测量困难，现在NPFlex可实现超过300度的测量空间。NPFlex的灵活性、数据准确性和测试效率为加工行业提供了一种简单的方法，来实现其更苛刻的加工要求、加工工艺和更好的终端产品。 布鲁克NPFLEX 三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了灵活的非接触式的方案，超过300度的测量空间，克服了以往由于零件某些角度或取向问题造成的测量困难。NPFLEX是台针对大型、异型工件进行非接触测量，获得微米级、毫米级样品形貌特征的三维表面测量系统。 其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度 空间设计使得可测零件（样品）更大、形状更多 开放式龙门、定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位 三维表面信息测量 每次测量均可获取多种分析结果 更容易获得更多的测量数据来帮助分析 垂直方向可达纳米级分辨率，提供更多的细节 干涉技术实现每一个测量象素点上亚纳米级垂直分辨率 工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供 快速获取测量数据，测试过程迅速 少的样品准备时间和测量准备时间 比接触法测量（一条线）更大的视场（一个面）获得表面更多的数据

FASTRAK电磁式三维数字测量建模系统十分便携且易于设置，可提供无与伦比的精度。是用于脑电图定位、逆向工程、快速成型和CAD的可靠设备。工作原理FASTRAK采用单一电磁源，可通过我们的数字化探针对点进行数字化。电磁源会发出电磁场，探针和选配传感器从电磁场中进行全方位六自由度（6DOF）跟踪。用户可选择使用附带的手动/脚踏开关来代替探针上的内置按钮。按下按钮即可捕捉到点，操作十分简易！产品特性实时数据多达3个附加传感器几乎无延迟不遮挡视线随附用户软件（PiMgr）数据可重复全套软件开发工具包设置简单技术成熟、可靠可扩展的数字化系统组件标准的FASTRAK三维数字测量建模系统包含一个系统电子单元（SEU）、8英寸的探针、2英寸的电磁源（TX2）和手动/脚踏开关。如需额外的运动跟踪，可通过增加传感器（最多三个）或升级到更大的电磁源来轻松扩展系统功能。

该客户是一家专业从事铸件加工的企业，为进一步提高生产加工效率，客户希望使用先进的测量手段进行测量，并完成CAD数模的创建。测量工件如下图。东莞三维扫描尺寸测量检测服务传统测量手段客户之前一直用三坐标测量机进行测量，但是效率不高， 后来经过朋友介绍，了解到可以通过三维扫描、逆向工程手段得到CAD数模。解决方案我们使用三维扫描仪进行三维数据采集，它的蓝色激光可以更好的采集工件的细节特征，它的测量速度高达130万次每秒，可以更高效的完成数据的采集。扫描数据可以直接用于快速成型和FEA有限元分析，或者结合三维设计软件，完成三维扫描逆向设计，为批量生产提供数据。具体操作1.连接设备，贴定位标点，采集工件表面的三维数据。东莞三维扫描尺寸测量检测服务扫描数据2.根据扫描数据创建CAD模型。手持式三维扫描仪铸件数据采集扫描全尺寸逆向建模方案逆向建模结果3.分析扫描数据和CAD模型的偏差。东莞三维扫描尺寸测量检测服务检测逆向结果手持式三维激光扫描仪可以高效地测量出工件的三维数据，方便我们对成型工件CAD数模的重建，解决了制造业关键的工业设计难题。三维扫描技术大大提升模具生产水平和机械制造水平。三维激光扫描仪的三大特点1、精确性、可靠性、分辨率不论测量安装质量以及用户经验如何， 始终可实现精 确测量，同时提供高分辨率和可追踪结果。以动态参考为特点，扫描仪和部件都可在测量期间移动，且可以确保扫描精确、高质量。? 精度：0.025 mm? 体积精度：0.020 + 0.040 mm/m (0.0008 in + 0.0005 in/ft)SAOMIAO3D,CN? 验收测试依据：VDI/VDE 2634 第3部分ISO 17025 认证实验室? 细节高分辨率2、便携性本手持式 3D 扫描仪是一款独立操作的设备，无需使用三脚架或外部跟踪设备即可操作可装入小型手提箱、随处携带、在任何环境条件下 使用，性能不会受到影响。东莞三维扫描尺寸测量检测服务? 轻量：0.94 kg (2.1 lb)? 自定位和动态参考? 可装入手提箱? 将其带到任何所需的地方3、更快的 3D 扫描流程3D 扫描仪以多条激光十字线和自动网格生成为特点，可实现从安装、扫描到存档的快速工作流。? 直接可用的文件? 高测量速率：高达 1,300,000 次测量/秒? 11条激光十字线，扫描区域广? 快速安装：安装运行可在2分钟内完成嘉绎科技专注三维扫描3D打印，拥有高精度三维扫描仪3D打印机

即使在高浓度下，无误差DLS粒度测量NanoLab 3D是一款紧凑型动态光散射（DLS）粒度测量仪器，基于开创性的专利调制三维互相关技术（Modulated 3D Cross-Correlation）。它有效地抑制了多重光散射，因此大多数样品不再需要样品稀释。传统的DLS仪器可能有多重散射光的影响，导致粒度测量结果错误的风险，而不会提醒用户。特别是对于高浓度样品，必须要复杂的样品制备和稀释。这正是我们的NanoLab 3D的用武之地。- 它能测量什么？&bull 颗粒大小&bull 多分散性&bull 粘度- 特点&bull 先进的DLS粒度测定：Cumulant和CORENN分析&bull DLS微粘度测定&bull 适用于稀释和高浓度样品&bull 样品体积小—低至4µ L（可选）&bull 粒径从0.3 nm到10µ m&bull 温度范围：4℃至85℃*&bull 监控与时间相关的过程&bull 紧凑而坚固的设计&bull 为所有客户提供在线支持&bull 符合ISO 22412* 满足这些规范要求在23℃或以下的环境温度 - 动态光散射（DLS）动态光散射是测量纳米颗粒分散体系粒度的技术。在布朗运动的驱动下，颗粒在介质中移动，并导致散射光的强度波动，这些波动的统计数据反映在相关函数中。由于颗粒的大小影响颗粒的运动，从而影响统计数据，DLS可以从获得的相关函数中提取颗粒的大小分布。- 你能相信你的测量结果吗？与常规DLS仪器不同，NanoLab 3D使用高频率调制的两个激光束。因此，仪器同时进行两次光散射实验。通过对两个实验的信号进行互相关，我们可以消除多重散射来提高精度，否则会因未充分稀释样品导致无法检测的误差！只有调制三维技术（Modulated 3D）才能完全消除高浓样品中产生的多重散射，从而实现最高浓度的测量，进而保证测量的可信度。 - 微流变技术-零剪切粘度利用调制三维技术（Modulated 3D），还可以通过测量添加到样品中的示踪粒子的扩散来确定零剪切粘度，测得的粘度范围约为0.01cP至1000cP或更高！DLS微粘度测定法适用于各种样品，NanoLab 3D在使用极低体积表征高浓度蛋白质溶液方面特别强大，对样品没有外部扰动，也没有有害的表面影响。- 强大的分析工具我们为没有经过专门培训的专家和初学者设计了LsLab软件。比如，从一个简单但可靠的测量，到一系列复杂的多重测量，只需点击几下即可配置。强大的分析工具允许高度自定义的数据显示和导出，同时将所有结果保存在有序和全面的数据库中。分析工具包括Cumulant分析和LSI独有的CORENN算法。 - 算法-多分散性CORENN算法是一种新的机器学习算法，用于从DLS测量中提取粒度分布（PSD）。CORENN是一种利用先进的信号近似技术和对信号噪声的独特理论估计的DLS反演算法，可以得到极其可靠的结果。这种稳健的方法使最终用户能够从真实的DLS实验中获得真实的粒度分布（PSD）。下图显示了4nm和45nm的颗粒混合物的DLS测量结果，只有CORENN算法能够准确得到这两个分布。- 使用Stop-Flow Cell选配项控制流程Stop-Flow Cell是一个单独的选配项，可以通过Idex 6-32平底连接器连接到外部回路，适用于外径为1/16"的管道。由于无需稀释的调制三维动态光散射测量技术，与Stop-Flow Cell相结合的NanoLab 3D首次允许将DLS用于在线过程控制。

用途JSS手持激光三维扫描系统是一款便携式手持三维激光测量仪，符合德国VDI/VDE 2634标准，具有大范围调整激光扫描、最高0.03mm测量精度，自定位、动态实时识别，抗干扰能力强、精度可靠，轻巧便携的特点，广泛应用于产品分析测量、逆向及工业设计、零部件到CAD检测、初样检测（FAI)、仿真分析（FEA）、磨损分析及修复、快速制造、3D打印、文化遗产及珍贵文物的存档、修复等行业。 产品特点超便携手持三维激光测量系统极速测量，大范围调整扫描交叉激光线、抗干扰能力强工业级测量、最高可达0.03mm测量精度坚固耐用，轻巧便携（小于1kg）自定位、动态实时识别狭小空间应对自如精度可靠，依据德国VDI/VDE 2634标准测试 技术参数 产品型号JSS 330JSS 550扫描形式手持激光三维扫描扫描速度265000次/秒430000次/秒激光类别GLASSⅡ（人眼安全）测量精度最高0.03mm体积精度Ⅰ（单独使用）0.02mm+0.08/m0.02mm+0.1/m体积精度Ⅱ（配合三维摄影测量系统）0.02mm+0.025/m景深250mm有效工作距离200-450mm支持数据格式ASC等工作温度－10°C—45°C激光器JSS 330：6束交叉激光线JSS 550: 10束交叉激光线

2.砂岩劈裂试验

中图仪器SuperViewW白光干涉仪三维表面形貌测量系统让轮廓测量价格更为实惠。应用领域广泛，操作简便，可自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，适用于各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、孔隙间隙、台阶高度、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、波纹度、面形轮廓、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。SuperViewW白光干涉仪三维表面形貌测量系统采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高。除初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。应用领域对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperViewW白光干涉仪三维表面形貌测量系统的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

仪器简介：系统简介 ： INSTRON应变片测量系统是针对复合材料测试过程中不便于使用引伸计而研制的 应变测量系统。通过在试样上粘贴应变片，配合INSTRON仪器用来测试复合材料的拉伸模量、泊松比、拉伸断裂延伸率、拉伸强度以及压缩模量、压缩断裂延伸率等。能通过INSTRON Bluehill软件实现实时显示及图形处理。 系统原理及基本要求： 在试样上按照不同的测试要求及标准粘贴应变片；将应变信号输入到应变信号采集放大器（动态应变仪）；将动态应变仪的信号输入到INSTRON应变接口（或多通道数据采集器），通过INSTRON控制器实现Bluehill 软件控制。 系统要求：INSTRON仪器需配备1-2个应变接口。技术参数：系统组成： 1. 4通道动态电阻应变仪； 2. 相应标准电桥盒； 3. 标准应变信号发生器； 4. INSTRON应变控制盒（2个）。 复合材料相关测试标准及夹具实现 1. 拉伸、纵横剪切实验课通过INSTRON 2736-005 夹具实现； 2. ISO14126 压缩模量、强度夹具；

陆经理 一五六 五O伍八七OO三功能介绍： 全自动实时激光测量动态盘煤系统解决方案适用于封闭煤场的自动盘煤和数字化煤场的三维煤场动态呈现。系统将带有云台的激光扫描仪装置安装在煤场的顶部马道上，通过云台控制激光扫描仪360度旋转，对煤堆进行扫描盘点。同时，结合斗轮机的识址定位功能，如果发现有斗轮机大臂在所测区域的上方，提醒斗轮机进行避让，然后进行一键式盘点。盘点完成后，通过无线数传电台或光纤通信方式将数据传输至集控室服务器，进行数据解析、计算与建模合成，生成煤场的三维立体图形，计算出煤场的体积，并根据煤堆密度得出煤场的储煤量。 产品特点： 全覆盖、全自动化测量盘煤，无盲区，无死角； 具有煤堆区域分割功能，能够一次测完全场的所有料堆后，根据 分割线的位置将图形上的料堆进行分割计算，计算出不同料堆的 各自体积，并在三维图形上用颜色区分； 自动化程度高，全部测量数据由扫描仪自动采集； 生成的三维图形可放大、缩小、平移、多方位旋转查看。 操作简便，每步操作均有中文提示和说明，易学易会； 具有日期文件夹管理功能； 可以生成煤堆高度图、剖面图并可在高度图上查看煤堆高度，校 核盘煤的准确性； 可生成三维立体盘煤报表，生成图形可设置为渲染图或网格图； 可实现现场盘煤和远程控制盘煤； 不受机械条件与煤场环境影响，可存煤； 测量精度不受外界磁场干扰； 测量的相对精度优于0.5%。供电电压24VDC检测距离2.5 ~ 250 m扫描角度水平 360°光源类型红外线（905nm）激光等级1，对人眼安全（IEC 60825-1:2014）角分辨率0.125 / 0.1875 / 0.25 / 0.375 / 0.5 / 0.75 / 1°扫描频率5 ~ 15 Hz通信接口以太网防护等级IP67工作温度-25℃~ +50℃

GOM三维相机系统ARAMISAdjustableARAMISAdjustable适用于二维和三维分析的模块化测量系统可扩展的ARAMISAdjustable相机系统是GOM旗下一款经济型入门级测量系统。该系统为静态和动态组件应力分析提供精确的二维和三维坐标，适用于各类不同的测量任务。可扩展的模块化系统想要开启专业计量测试，却受预算限制？ARAMISAdjustable支持您定制化配置系统。当计量需求增长，系统也可以随之扩展，比如二维测量头可以轻松叠加到三维测量系统上。其它系统组件比如GOM测试控制器，双LED照明灯和应用软件也可以被轻松集成到一起。相机系统二维测头expandto三维测头图像记录SensorDriverARAMIS2DexpandtoSensorDriverARAMIS图像处理GOMCorrelateexpandtoGOMCorrelatePro培训eLearningexpandtoGOMTraining技术支持线上技术支持expandtoGOM技术支持

产品简介：布鲁克NPFLEX 三维表面测量系统--针对大样品设计的非接触测试分析系统详情页介绍:布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力，实现更快的测量时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，这套非接触系统提供的技术性能超出了传统的的接触式坐标测量仪（CMM）和工业级探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验，NPFLEXTM是第一个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统，而且能够高效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息。&bull 灵活测量大尺寸、特殊角度的样品&bull 高效的三维表面信息测量&bull 垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节&bull 快速获取测量数据，测试过程迅速高效测量不同尺寸、规格的样品，操作灵活，精确高效 通常情况下，测量比较大的样品或者特殊形状、特定表面的样品时，往往花费较长的时间对样品进行切割处理，才可进行测量。如今，开发出新型的NPFLEX测量系统，拥有超大测量空间，最高可测13英寸，这种创新性的空间设计，可以测量更大尺寸、更复杂形状的样品。开放式龙门、定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位。开放式结构与Bruker的专利头部调节 tip/tilt测量头，包含理想的数值孔径及实现了更长的工作距离下测量。这使得NPFLEX善于测量深沟，高纵横比的孔洞，或表面高低起伏比较大的样品。卓越品质，坚固耐用NPELEX整体设计坚固耐用，大理石机台可以承受最重高达170磅的重量。开放式龙门设计可以灵活性测量表征更大的面型和更难测的角度。客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松的转换测量方向，表征样品的不同位置。在实验过程中，使用NPFLEX，对于样品大小，取样过程以及实验环境的要求，都相对宽松很多，使得实验可以灵活简便的完成，帮助生产者获得产品性质的精密数据。 NPFLEX在基本配置的基础上，还有很多备选的配件和配置方案，满足不同客户的测量需求： &bull 可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位，测量样品的侧壁、倾斜表面以及斜面边缘，重复性好。 &bull 获得研发大奖的透过透明介质测量模块(Through Transmissive Media，TTM)模块,，结合环境测试腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可对样品进行加热或者冷却，进行原位测量。 &bull 可选的折叠镜头能够测量碗状样品的侧壁和底部孔洞。 纳米级分辨率的三维表面信息测量NPFLEX测试系统采用白光干涉原理，在每一个测量点可以实现表面形貌的三维信息收集，且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针曲率半径的局限，高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果，更多的测量数据来帮助分析样品性质。 快速获取数据，保证测试迅速高效NPFLEX三维测量系统，能够灵活高效的获取大量测试数 据。大大缩短了样品制备时间和测量方案设置时间，操作者可以快速更换样品，而且无需全面掌握样品形状和表面形貌的前提下，对样品的不同表面进行测量。仅需要不到15秒的时间，就可以出色地完成一个测量点的数据采集和分析工作。自动对焦，光强调节以及其他配套软件功能，大大节约了测试分析时间，而且可以根据操作者的实验需求，量身定做最优化的实验方案，而不影响数据的精度和质量。利用NPFLEX可以高效、快捷、灵活、准确地获得大型零部件的高精度测量结果，提供一站式的测量解决方案。 应用领域举例：&bull 研发领域--在研发实验室，要求仪器的测量操作过程和数据分析过程都要灵活高效精确，基于白光干涉原理设计出来的这台NPFLEX 非接触三维光学轮廓仪，就可以在这种要求下完成对样品不同尺寸和形状表面进行表征，其测试性能远远优于探针式或者其他类型的轮廓仪。&bull 生产过程和产品质量监控--机密加工行业需要高效精确的测量仪器，检测所生产的部件质量和性能是合乎出场要求的。与同类检测手段相比较，NPFLEX可以提供更高效精确的产品表面性质测量，严格控制产品指标。 &bull 失效分析--NPFlex卓越的测量性能，加之纳米级的超高分辨率，帮助操作人员高效灵活地完成样品表面非接触式三维形貌测量，样品安全无损，多重数据分析，获得全面准确的样品信息。结合具体的测量参数，分析样品形貌图像，就可以迅速获得零件的全部失效分析报告。