散射式扫描近场显微镜

GeminiSEM 系列产品高对比度、低电压成像的场发射扫描电子显微镜为对任意样品进行高水准的成像和分析而生蔡司GeminiSEM 系列产品具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在较低的加速电压下仍可呈现给您更强的信号和更丰富的细节信息，其创新设计的NanoVP可变压力模式，甚至让您在使用时拥有在高真空模式下工作的感觉；更强的信号，更丰富的细节GeminiSEM 500 为您呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息，尤其在低的加速电压下，在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。经优化和增强的Inlens探测器可高效地采集信号，助您快速地获取清晰的图像，并使样品损伤降至更低；在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度，二次电子图像分辨率1 kV达0.9nm，500 V达1.0 nm，无需样品台减速即可进行高质量的低电压成像，为您呈现任意样品在纳米尺度上更丰富的细节信息；应用样品台减速技术-（Tandem decel），可在1 kV下获得高达0.8nm二次电子图像分辨率；创新设计的可变压力模式-NanoVP技术，让您拥有身处在高真空模式下工作的感觉。洞察产品背后的科技Gemini电子光学系统Gemini 1类型镜筒 -延续创新和发展如今，扫描电子显微镜（SEM）在低电压下的高分辨成像能力，已成为其在各项应用领域中的标准配置。低电压下的高分辨率成像能力，在以下应用领域中扮演着尤为重要的角色：电子束敏感样品不导电样品获取样品极表面的真实形貌信息Gemini的革新电子光学设计，应用高分辨率电子枪模式、Nano-twin lens物镜(GeminiSEM 500)、以及Tandem decel样品台减速技术（选配），有效提高了在低电压时的信号采集效率和图像衬度。高分辨率电子枪模式：缩小30%的出射电子束能量展宽，有效地降低像差；获得更小的束斑。Nano-twin lens物镜： 优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率； 提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。Tandem decel样品台减速技术，进一步提高对适用样品在低电压甚至极低电压下的分辨率：Tandem decel减速技术将镜筒内减速和样品台偏压减速技术相结合，有效地实现低着陆电压；使用1 kV及以下更低电压时，镜筒内背散射探测器的检测效率获得更好地增强，低电压下的分辨率得到进一步提高。对适用的样品可以加载高达-5 kV的样品台偏压，在低电压下获得更高质量的图片优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率；提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。技术参数：基本规格蔡司 GeminiSEM 500热场发射电子枪，稳定性优于0.2 %/h加速电压0.02 - 30 kV探针电流3 pA - 20 nA（100 nA配置可选）存储分辨率最高达32k × 24k 像素放大倍率50 – 2,000,000标配探测器镜筒内Inlens二次电子探测器样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器可选配的项目NanoVP可变压力模式高效VPSE探测器（包含在NanoVP可变压力选件中）局部电荷中和器镜筒内能量选择背散射探测器环形STEM探测器（aSTEM 4）EDS能谱仪EBSD探测器(背散射电子衍射)可订制特殊功能样品台环形背散射电子探测器阴极射线荧光探测器

国仪量子高速扫描电子显微镜HEM6000HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术，实现了高速图像采集和成像，同时保证了纳米级分辨率。面向应用场景的自动化操作流程设计，使得大面积的高分辨率图像采集工作更高效、更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。 产品优势 高速自动化 全自动上下样流程和采图作业，综合成像速度优于常规场发射扫描电镜的5倍大场低畸变跟随扫描场动态变化的光轴，实现了更低的场边缘畸变低压高分辨 样品台减速技术，实现低落点电压，同时保证高分辨率应用领域应用案例大规模成像规格书 关键参数 分辨率 1.3nm @ 3 kV，SE；2.2 nm @ 1 kV，SE； 1.9nm @ 3 kV，BSE；3.3 nm @ 1 kV，BSE；加速电压 100 V~6 kV(减速模式) 6 kV~30 kV(非减速模式) 放大倍率 66~1,000,000x 电子枪类型 高亮度肖特基场发射电子枪 物镜类型 浸没式电磁复合物镜 样品装载系统 真空系统 全自动控制，无油真空系统 样品监控 样品仓监控水平摄像头 ； 换样仓监控垂直摄像头样品最大尺寸 直径4英寸 样品台 类型 电机驱动3轴样品台（*可选配压电驱动样品台） 行程 X、Y轴：110mm；Z轴：28mm；重复定位精度 X轴：±0.6 um；Y轴：±0.3 um 换样方式 全自动控制 换样时间 ＜15 min 换样仓清洗 全自动控制等离子清洗系统 图像采集与处理 驻点时间 10 ns/pixel 图像采集速度 2*100 M pixel/s 图像大小 8K*8K 探测器和扩展 标配 镜筒内混合电子探测器 选配低角度背散射电子探测器 镜筒内高角度背散射电子探测器 压电驱动样品台 高分辨大场模式样品仓等离子清洗系统 6英寸样品装载系统主动减震台 AI降噪；大图拼接；三维重构 软件 语言 中文 操作系统 Windows 导航 光学导航、手势快捷导航 自动功能 自动样品识别、自动选区拍摄、自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散服务扫描电子显微镜实验室 我们在合肥、无锡、广州和上海设有扫描电子显微镜实验室，实验室配备多名电镜技术专家和高级电镜应用工程师，提供包含电 镜应用技术开发、样品拍摄在内的多种服务。主要应用领域有锂电池、新型纳米材料、半导体材料、矿物冶金、地质勘探、生物医药等。 实验室依托国仪量子电镜产品，在电镜应用领域开展具有自主知识产权的科研项目，致力于实现科学研究和人才培养的目标。与此同时，实验室也为有电镜应用需求的科研院所、大专院校、企事业单位提供优质的服务。

2015年Anasys发布了最新一代产品nanoIR2-s，在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上增加了散射近场光学成像和光谱功能（s-SNOM）。实现了同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM两种技术。仪器的空间分辨率达到10nm，广泛用于各种聚合物、有机无机复合材料、生物样本、半导体、等离子体、纳米天线等。纳米红外&散射近场光学成像和光谱系统(nanoIR2-s)AFM-IR &s-SNOM l AFM-IR 消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合，没有吸收峰的任何偏移l s-SNOM使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射，空间分辨率由AFM针尖的曲率半径决定l 专利技术实现智能的光路优化调整，无需担心光路偏差拖延你的实验进度l 最准确的定性微区化学表征，得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可l 简单易用的操作，被三十多位企业用户和近百位学术界所选择l 基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）10纳米空间分辨率化学成像和光谱石墨烯等离子体 高分辨率成像 石墨烯表面等离子体的近场相位和振幅成像；优于10nm的光学成像PTFE的nano FTIR光谱显示相干分子振动时域图（上图）,和相应的近场光谱（下左图）。pNTP分子层的近场光谱（图下右）。

扫描电子显微镜可对材料的表面进行高倍率观察及高精度元素分析，在纳米技术、生命科学、产品设计研发及失效分析等领域有着广泛的应用。 近年来，扫描电镜观察表面精细结构及元素分析的需求日趋增加，而越来越多的用户希望能在生产线、品保检验线和办公区等有限的空间里使用扫描电子显微镜。因此，体积小、操作简便、分辨率高的扫描电子显微镜备受关注。FlexSEM 1000主机宽450mm、长640mm，相比SU1510型号体积减小52%，重量减轻45%，功耗减小50%，且配备标准化的电源接口。主机与供电单元可分离，安装非常灵活。 FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD*2），可在低加速/低真空下观察时实现清晰的画质全新的用户界面，无论用户的熟练程度如何，都可实现高画质和高处理能力全新的定位功能“SEM MAP”，支持观察时的视野搜索和样品定位大直径（30毫米2）无氮EDS检测器，可快速进行元素分析*2*1设置到桌面上时，请将机体与电源盒分离*2选项

Molecular Vista 散射式扫描近场光学显微镜 ——10nm以下空间分辨可见-红外成像与光谱采集随着近些年对于纳米光子学、表面等离极化激元、二维材料以及范德华异质结构等领域的深入研究，扫描近场光学显微镜 (Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM) 已成为研究这些领域的不可或缺的表征手段。虽然扫描近场光学显微镜在散射式模式(s-SNOM)下的空间分辨率有了很大的提升，但是在实际使用上仍然得十分繁杂。在这一背景下，美国Molecular Vista应运而生，推出了全新一代散射式扫描近场光学显微镜Vista-SNOM！有别于传统的扫描近场光学显微镜，Vista-SNOM基于专利的光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术，通过检测探针与样品之间的偶极交互直接获得样品表面的场强分布，无需远场光学探测器。这不仅杜绝了远场信号的干扰，也无需像SNOM那样配置多个不同波段光学探测器。光诱导力显微镜的检测端可无缝适应紫外～射频，用户仅需考虑如何将激发光激发至样品。Vista-SNOM在光诱导力显微镜模式下实测的场强结果与模拟结果高度吻合，同时也具备了s-SNOM模式。这使得科研人员可以将PiFM场强结果与s-SNOM场强结果进行对比分析。s-SNOM 散射式扫描近场光学显微镜案例下图为金铝二聚体分别在480nm和633nm不同偏振方向激发后的场强分布，图a,b的实测场强与图c,d的理论模拟是否吻合，金铝二聚体间隔仅为5nm!摘自“Wavelength-dependent Optical Force Imaging of Bimetallic Al-Au Heterodimers, Nano Lett. 2018”上面提到拉曼信号的增强主要源于局域表面等离子体共振(LSPR)的电磁场增强，下图为基于银颗粒阵列的表面增强拉曼衬底(SERS)的场强分布，图f的FWHM结果显示光诱导力显微镜实现了3.1nm的空间分辨。摘自“Fabrication and near-field visualization of a waferscale dense plasmonic nanostructured array, RSC Adv. 2018”

**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验，必须将点光源靠到样品表面纳米距离，然后点光源扫描样品表面，再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针，从亚光波长孔径的探针尖端发出，NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制，因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验，通常有四种NSOM操作模式： * 透射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明，光通过样品并与样品相互作用后被收集探测；* 反射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明，光从样品表面反射并被收集探测；* 收集模式成像&mdash &mdash 样品经远场光源照明(从上或下面均可)，探针将光信号从样品表面收集；* 照明收集模式成像&mdash &mdash 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光； 在近场光学领域，部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成，因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测，通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数：原子力扫描表征-接触模式（可选）-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射，反射，收集，激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体，使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射，例如应变硅纳米刻蚀-纳米&ldquo 笔&rdquo 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等，并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强，通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 （3D 扫描台&trade ）-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台（3D 扫描台&trade ）模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位： XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位：-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈（标准）-激光反射反馈（可选）常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品：例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针，针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率；50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米（RMS）-XY 横向分辨率：根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高，要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 º C-测量阻值改变速率为0.38 &Omega /º C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学，共聚焦光学，近场，微区拉曼，扫描电子显微镜（SEM）或者聚焦离子束（FIB）整合优势 -样品扫描台上下光路开阔，可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将多形式的光学显微镜整合在一起，包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了多种标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有多种常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置，下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描，无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT， APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点： 独特的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试，光纤探针各自独立控制，可以同时分别、独立进行如滴液、加压，电学，热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔，可以将上，下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上，在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描，光学测量，力学测量，热学电学测量等测试手段，节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换，不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是优势技术，并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作，即可以探针不动，样品移动；或者样品不动，探针移动。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高，Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台，XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式，在所有AFM 电镜中是独特的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈，具有噪音大，调试困难，受干涉情况；尤其在液体中或者做光学测试的时候，例如近场光学，AFM-Raman测试中，容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病，安装简单，结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道，光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型，用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针，也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针，提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um，非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌，而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道，可同时和正置与倒置显微镜配合使用，实现透射式、反射、照明模式、收集模式（Nanonics独有的）等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能，这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性，可与拉曼光谱仪整合，例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描，拉曼Mapping，自动共聚焦，提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman，并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台，AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品，这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术，与其他涂层探针相比，不会因在长时间使用后，受到激光影响而脱落，更为稳定，效率更高。配合独特的扫描台设计，可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其独特功能。

仪器简介：我们的创新NANONICS IMAGING LTD.一直是扫描探针显微镜（SPM）领域中将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)技术完美结合的领头羊之一。公司成立于1997年，在过去的十年里我们将新的概念应用到SPM系统中从而开拓了SPM市场领域一个新的视角。 Nanonics使用悬臂近场光学探针为业内提供了近场光学成像；同时也引入了双探针技术、样品扫描AFM系统；提供近场光学（NSOM）/原子力显微镜（AFM）低温系统，Raman-AFM系统，多探针AFM系统和扫描电镜（SEM）/AFM系统。NANONICS是业界成立最久并且对此类系列产品经验最丰富的公司之一，其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统推动下，今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统领导着市场。NANONICS凭借实力和品质，其产品涉足的领域从科研到工业，从生物学到半导体，从化学制品到无线电通讯，应用范围极其广泛。 我们的理念 提供SPM，近场光学和显微镜整合方案 Nanonics 致力于制造世界级领先的SPM仪器，我们将SPM技术和其它显微镜表征技术整合在一起。在纳米科技表征技术领域中，为用户提供一个开放并极具潜力的SPM表征技术平台。 我们的技术作为一家商业公司，我们有着自己独特的技术优势。我们能提供大量种类齐全的纳米探针。包括专利的悬臂近场光学（NSOM）探针到热学，电学探针。这些外露光学探针的运用结合具有专利保护的3D平面扫描技术为我们的系统提供了一个广阔开放的光学平台 这是我们能够将AFM技术和其它显微镜表征技术完美结合的重要原因。 我们的团队 我们拥有一支世界级的专家团队为我们提供创新技术和高性能的产品。在过去的十年里我们拥有40多名员工并且组建了SPM专家和科学家团队。 团队直接由近场光学奠基人之一的Aaron Lewis 教授带领十五名科学家为全球客户提供以SPM为平台的产品和技术支持。 我的技术服务我们致力于提供客户高性能的业内领先级产品和高附加值的技术支持。从系统安装开始，我们就区别于其它竞争对手，为你提供高素质的技术专家安装设备，提供SPM技术领域的专家指导。通过一对一的与客户沟通帮助客户使用仪器。Nanonics在业内已经有一大批客户并且客户通过使用我们的仪器发表了不少好的文章。这些客户和客户的成绩也同样见证了我们为客户提供了的完整的SPM和其他表征整合方案和技术支持。**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验，必须将点光源靠到样品表面纳米距离，然后点光源扫描样品表面，再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针，从亚光波长孔径的探针尖端发出，NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制，因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验，通常有四种NSOM操作模式： * 透射模式成像 样品经过探针照明，光通过样品并与样品相互作用后被收集探测；* 反射模式成像 样品经过探针照明，光从样品表面反射并被收集探测；* 收集模式成像 样品经远场光源照明(从上或下面均可)，探针将光信号从样品表面收集；* 照明收集模式成像 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光； 在近场光学领域，部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成，因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测，通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数：原子力扫描表征-接触模式（可选）-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射，反射，收集，激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体，使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射，例如应变硅纳米刻蚀-纳米笔 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等，并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强，通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 （3D 扫描台&trade ）-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台（3D 扫描台&trade ）模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位： XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位：-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈（标准）-激光反射反馈（可选）常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品：例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针，针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率；50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米（RMS）-XY 横向分辨率：根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高，要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 C-测量阻值改变速率为0.38 C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学，共聚焦光学，近场，微区拉曼，扫描电子显微镜（SEM）或者聚焦离子束（FIB）整合优势 -样品扫描台上下光路开阔，可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将所有形式的光学显微镜整合在一起，包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了所有标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有所有常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置，下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描，无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT， APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点： 独有的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试，光纤探针各自独立控制，可以同时分别、独立进行如滴液、加压，电学，热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔，可以将上，下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上，在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描，光学测量，力学测量，热学电学测量等测试手段，节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换，不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是目前市场上的优势技术，并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作，即可以探针不动，样品移动；或者样品不动，探针移动，其它厂家无法提供这种独特的扫描方式。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高，Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台，XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式，在所有AFM 电镜中是独一无二的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈，具有噪音大，调试困难，受干涉情况；尤其在液体中或者做光学测试的时候，例如近场光学，AFM-Raman测试中，容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病，安装简单，结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道，光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型，用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针，也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针，提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um，非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌，而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道，可同时和正置与倒置显微镜配合使用，实现透射式、反射、照明模式、收集模式（Nanonics独有的）等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能，这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性，可与任何拉曼光谱仪整合，例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描，拉曼Mapping，自动共聚焦，提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman，并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台，AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品，这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术，与其他涂层探针相比，不会因在长时间使用后，受到激光影响而脱落，更为稳定，效率更高。配合独特的扫描台设计，可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其它厂家不具备的特点。

超高分辨散射式近场光学显微镜-neaSNOMneaSNOM是德国neaspec公司推出的第三代散射式近场光学显微镜（简称s-SNOM），其采用了专利化的散射式核心设计技术，极大的提高了光学分辨率，并且不依赖于入射激光的波长，能够在可见、红外和太赫兹光谱范围内，提供优于10nm空间分辨率的光谱和近场光学图像。由于其高度的可靠性和可重复性。neaSNOM业已成为纳米光学领域热点研究方向的首选科研设备，在等离基元、纳米FTIR和太赫兹等众多研究方向得到了许多重要科研成果。最近，neaspec公司成功开发了可见至太赫兹高分辨光谱和成像综合系统，将上述sSNOM功能与纳米红外（FTIR）、针尖增强拉曼（TERS）、超快光谱（ultrafast）和太赫兹光谱（THz）进行联用，可以为广大科学工作者在等离子激元、二维材料声子极化、半导体载流子子浓度分布、生物材料红外表征、电子激发及衰减过程等的研究上提供相关支持。neaSNOM技术特点和优势：neaSNOM是目前世界上唯一成熟的s-SNOM产品专利保护的散射式近场光学测量技术—独有的极高10 nm空间分辨率专利的高阶解调背景压缩技术—在获得10nm空间分辨率的同时保持极高的信噪比专利保护的干涉式近场信号探测单元专利的赝外差干涉式探测技术—能够获得对近场信号强度和相位的同步成像专利保护的反射式光学系统—用于宽波长范围的光源：可见、红外以至太赫兹高稳定性的AFM系统，—同时优化了纳米尺度下光学测量双光束设计—极高的光学接入角：水平方向180°，垂直方向60°操作和样品准备简单—仅需要常规的AFM样品准备过程neaSNOM重要应用领域：表面等离激元石墨烯六方氮化硼光电流/太赫兹化学过程高分子/生物材料应用案例Science：石墨烯莫尔(moiré）超晶格纳米光子晶体近场光学研究光子晶体又称光子禁带材料。从结构上看，光子晶体是一类在光学尺度上具有周期性介电结构的人工设计和制造的晶体，其物理思想可类比半导体晶体。通过设计，这类晶体中光场的分布和传播可以被调控，从而达到控制光子运动的目的，并使得某一频率范围的光子不能在其中传播，形成光子带隙。光子晶体中介质折射率的周期性结构不仅能在光子色散能带中诱发形成完整的光子带隙，而且在特定条件下还可以产生一维（1D）手性边界态或具有Dirac（或Weyl）准粒子行为的奇异光子色散能带。原则上，光子晶体的概念也适用于控制“纳米光”的传播。该“纳米光”指的是限域在导电介质表面的光子和电子的一种耦合电磁振荡行为，即表面等离子体激元（SPPs）。该SPP的波长，λp，相比入射光λ0来说最多可减少三个数量级。如果要想构筑纳米光子晶体，我们需要在λp尺度上实现周期性介电结构，传统方法中采用top-down技术来构建纳米光子晶体，该方法在加工和制造方面具有较大的限制和挑战。2018年12月，美国哥伦比亚大学D.N. Basov教授在Science上发表了题为Photonic crystals for nano-light in moiré graphene superlattices的全文文章。研究者利用存在于转角双层石墨烯结构（twisted bilayer grapheme, TBG）中的莫尔（moiré）超晶格结构，成功构筑了纳米光子晶体，并利用德国neaspec公司的neaSNOM纳米高分辨红外近场成像显微镜研究了其近场光导和SPP特性，证明了其作为纳米光子晶体对SPP传播的调控。纳米近场成像对钙钛矿太阳能电池的研究苏州大学Q.L. Bao教授等人在钙钛矿结构微纳米线的光电转换离子迁移行为和载流子浓度分布等领域作出了突出贡献。2016年，发表在ACS Nano上的钙钛矿结构微纳米线的光电转换离子迁移行为的研究中，作者利用Neaspec公司的近场光学显微镜neaSNOM发现：1. 未施加外场电压时， 该微纳米线区域中载流子密度（图1 g. s-SNOM振幅信号）和光折射率（图1 g. s-SNOM相位信号）较均匀；2. 施加外场正电压时，该区域中载流子密度随I-离子（Br?）的迁移而向右移动（图1 h. s-SNOM振幅信号），其光折射率随随MA+离子（CH3NH3+）的迁移而向左移动（图1 g. s-SNOM相位信号）较均匀；3. 施加外场负压时，情况正好与施加正电压时相反（图1 i）。该研究显示弄清无机-有机钙钛矿结构中的离子迁移行为对于了解钙钛矿基的特殊光电行为具有重要意义，进而为无机-有机钙钛矿材料的光电器件应用打下了坚实的基础。图1.SNOM测量钙钛矿结构微纳米线的光电转换的离子迁移行为。d-f. 离子迁移测量示意图；g-i,相应的s-SNOM光学信号振幅和相位图2017年， Q.L. Bao教授等人发表在AdvanceMaterials的文章中再次利用Neaspec公司的近场光学显微镜neaSNOM，首次在实验中研究了太阳能电池表面钙钛矿纳米粒子涂层的载流子密度。结果显示：钙钛矿纳米粒子覆盖区域近场信号强度高于Si/SiO2区域中信号强度（参见下图2 b 图2 a为对应区域的形貌）。另外作者也研究了增加光照的时间的影响（参见下图2 c, d）。其结果显示：近场信号强度随光照时间增加，从12.5 μV (黄色，0 min) 增加到 14.4 μV (红色, 60 min)，该近场信号反映了可移动自由载流子密度的变化。最终，红外光neaSNOM研究结果证明：随光照时间增加，太阳能电池表面的钙钛矿纳米粒子涂层富集和捕获了大量的电子。参考文献：1、Wang Y.H. et. al. The Light-InducedField-Effect Solar Cell Concept - Perovskite Nanoparticle Coating IntroducesPolarization Enhancing Silicon Cell Efficiency. Advanced Material 2017, First published: 3 March 2017 DOI: 10.1002/adma.201606370.2、Zhang Y.P. et. al. Reversible StructuralSwell?Shrink and Recoverable Optical Properties in Hybrid Inorganic?OrganicPerovskite. ACS Nano 2016,10, 7031?7038.丝纤蛋白电调控构象转变及其光刻应用的纳米红外研究中科院微系统所陶虎教授带领的研究团队利用neaspec公司的近场光学显微镜（neaSNOM）高化学敏感和10 nm空间分辨的优势，在纳米尺度近分子水平研究了电调控下丝蛋白中的多形态转变。 该研究在纳米尺度实现了蛋白质结构转换的探测，结合纳米精度的电子束光刻技术能为我们在二维及三维尺度实现丝蛋白的结构控制提供有力的方法；同时该工作为开启纳米尺度的蛋白质结构研究和探究蛋白质电诱导构象变化的临界条件铺平了道路；为未来设计基于蛋白质的纳米结构提了供新的规则。参考文献：1. Nanoscale probing of electron regulated structural transitions in silk proteins by near field IR imaging and nano-spectroscopy， Nature Comm. 7:130792. Precise Protein Photolithography (P3): High Performance Biopatterning Using Silk Fibroin Light Chain as the Resist, Adv. Sci. 2017, 1700191可调谐低损耗一维InAs纳米线的表面等离激元研究亚波长下光的调控与操纵对缩小光电器件的体积、能耗、集成度以及响应灵敏度有着重要意义。其中，外场驱动下由电子集体振荡形成的表面等离激元能将光局域在纳米尺度空间中，是实现亚波长光学传播与调控的有效途径之一。然而，表面等离激元技术应用的最关键目标是同时实现：①高的空间局域性，②低的传播损耗，③具有可调控性。但是，由于金属表面等离激元空间局域性较小，在长波段损耗较大且无法电学调控限制了其实用化。由中科院物理所和北京大学组成的研究团队报道了砷化铟（InAs）纳米线作为一种等离激元材料可同时满足以上三个要求。作者利用neaspec公司的近场光学显微镜（neaSNOM, s-SNOM）在纳米尺度对砷化铟纳米线表面等离激元进行近场成像并获得其色散关系。通过改变纳米线的直径以及周围介电环境，实现了对表面等离激元性质的调控，包括其波长、色散、局域因子以及传波损耗等。作者发现InAs纳米线表面等离激元展现出：①制备简易，②高局域性，③低的传波损耗，④具有可调控性，这为用于未来亚波长应用的新型等离子体电路提供了一个新的选择。该工作发表在高水平的Advanced Materials 杂志上。参考文献：Tunable Low Loss 1D Surface Plasmons in InAs Nanowires，Yixi Zhou, Runkun Chen, Jingyun Wang, Yisheng Huang, Ming Li, Yingjie Xing, Jiahua Duan, Jianjun Chen, James D. Farrell, H. Q. Xu, Jianing Chen， Adv. Mater. 2018, 1802551范德华材料异质结构的近场纳米成像研究范德华材料拥有一整套不同的激元种类，在所有已知材料中的具有最高的自由度。德国neaspec公司提供的先进近场成像方法（s-SNOM）允许极化波在范德华层或多层异质结构中传播时被激发和可视化，从而被广泛应用到范德华材料激元的研究中，为研究人员对范德华材料体系中激元的激发、传播、调控等研究提供了有力的工具。另一方面，范德华材料系统中激元的优点是它们具有的电可调性。此外，在由不同的范德华层构成的异质结构中，不同种类的激元相互作用，从而可以在原子尺度上实现激元的完美控制。德neaspec公司提供的纳米光谱（nano-FTIR）和纳米成像成功被研究人员用于激元的调控等研究中，通过实验证实，研究人员已经成功开启了操控激元相关纳米光学现象的多种途径。范德华材料中激元的先进近场光学可视化成像研究：A、石墨烯中Dirac等离激元；B、 石墨烯纳米共振器边缘的等离激元；C、碳纳米管中的一维等离激元；D、 石墨烯-六方氮化硼moiré 超晶格体系中的超晶格等离激元；E、六方氮化硼上石墨烯的杂化等离子-声子激元；F、WSe2中的激子激元；G、 双曲六方氮化硼中的声子激元及波导传播参考文献：Basov, D. N et. al Polaritons in van der Waals materials, Science, 354, aag1992(2016). DOI: 10.1126/science.aag1992发表文章部分最新发表文章：Science (2017) doi:10.1126/science.aan2735Tuning quantum nonlocal effects in graphene plasmonicsNature Nanotechnology (2017) doi:10.1038/nnano.2016.185Acoustic terahertz graphene plasmons revealed by photocurrent nanoscopyNature Photonics (2017) doi:10.1038/nphoton.2017.65Imaging exciton–polariton transport in MoSe2 waveguidesNature Materials (2016) doi:10.1038/nnano.2016.185Acoustic terahertz graphene plasmons revealed by photocurrent nanoscopyNature Materials (2016) doi:10.1038/nmat4755Thermoelectric detection and imaging of propagating graphene plasmons国内用户最新发表文章：Nat. Commun. 8, 15561(2017)Imaging metal-like monoclinic phase stabilized by surface coordination effect in vanadium dioxide nanobeamAdv. Mater. 29, 1606370 (2017)The Light-Induced Field-Effect Solar Cell Concept –Perovskite Nanoparticle Coating Introduces Polarization Enhancing Silicon Cell EfficiencyLight- Sci & Appl 6, 204 (2017)Effects of edge on graphene plasmons as revealed by infrared nanoimaging Light- Sci & Appl，中山大学accepted (2017)Tailoring of electromagnetic field localizations by two-dimensional graphene nanostructures Nanoscale 9, 208 (2017) Study of graphene plasmons in graphene–MoS2 heterostructures for optoelectronic integrated devices Nano-Micro Lett. 9,2 (2017) Molybdenum Nanoscrews: A Novel Non-coinage-Metal Substrate for Surface-Enhanced Raman Scattering J. Phys. D: Appl. Phys. 50, 094002 (2017) High performance photodetector based on 2D CH3NH3PbI3 perovskite nanosheets ACS Sens. 2, 386 (2017) Flexible, Transparent, and Free-Standing Silicon Nanowire SERS Platform for in Situ Food Inspection Semiconductor Sci. and Tech.32,074003 (2017) PbI2 platelets for inverted planar organolead Halide Perovskite solar cells via ultrasonic spray deposition

alpha300 RS – 原位关联的拉曼和扫描近场光学图像 对于拥有挑战性实验要求的用户来说，alpha300 RS将共聚焦拉曼图像及突破光学衍射极限的扫描近场光学显微镜结合在一起。Alpha 300RS在一台设备上继承了所有的Alpha 300R显微拉曼功能，Alpha 300S扫描近场光学显微镜功能和许多AFM操作模式。 Alpha 300S扫描近场光学显微镜主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 S (近场) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析（拉曼）和超高分辨率表面成像（近场）的结合l 只需要转动物镜转盘即可在两种技术间轻松切换l 两种测量间无需移动样品 Alpha 300S扫描近场光学显微镜应用实例 剥离石墨烯的表面拓扑结构VS拉曼图像左图：表面拓扑结构及沿蓝线的轮廓曲线右图：石墨烯G峰沿红线的强度变化曲线 Alpha 300S扫描近场光学显微镜性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪，专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 近场显微镜操作模式l 扫描近场光学显微镜模式：底部激发顶部收集（远场激发近场收集）模式，顶部激发底部收集（近场激发远场收集）模式，探针收集（近场激发近场收集）模式l 共聚焦(CM)模式：透射，反射，荧光（可选）l 近场-原子力联用：Alpha 300A的所有模式均可选l 固定底部透射照明l 全内反射照明模式（可选） 原子力显微镜操作模式l 接触模式l 横向力模式l 其他可选 各类拉曼升级选项（如true surface等）l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台，可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选，如暗场，像差，偏光，微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR)，均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合，70%超高光通量l 优异的成像质量，光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集，处理软件

WITec alpha 300S独特的悬臂式扫描近场光学显微镜alpha 300S一款操作简易的扫描近场光学显微镜（SNOM），采用独特设备的中空悬臂式近场探针实现超越衍射极限的光学分辨率。alpha 300S系统也具备优越的兼容性和扩展性，可与共聚焦光学/拉面显微镜及原子力显微镜集成在同一台仪器上，仅需旋转物镜转轮即可实现不同模式切换。WITec alpha 300S是一种纯近场光学显微镜，在很多样品上都可获得一致的超高分辨率，并且拥有透射与反射式两种模式。该近场光学显微镜不同于其他的超分辨显微镜，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于荧光染料分子的可选种类及特殊的激发光源。 alpha300S 系统采用软件可控的快速自动进针及调节等自动测试流程，操作非常简便、直观。 由于近场光学信号极其微弱，alpha300 S 近场光学显微镜配备高灵敏单光子计数的光电倍增管或雪崩二极管，并同时提供检测器快速超载保护。更重要的是，UHTS 光谱仪可与 alpha300S系统兼容，实现近场光谱与成像测量。 关键特性：突破衍射极限的空间光学分辨率（横向约 60 nm)独家专利的 SNOM 探针技术在空气与液体中均可使用包含多种原子力与光学显微镜模式非破坏性、无需标记的超高分辨成像技术，基本不需要样品制备可升级到关联的共聚焦拉曼成像和近场拉曼成像集成三种技术到一台仪器上：共聚焦显微镜, AFM 和 SNOM技术参数：1）工作模式：近场显微镜，共聚焦显微镜，原子力显微镜三种工作模式； 2）近场光学显微镜分辨率：为50nm 3) 共聚焦拉曼显微镜分辨率：200nm 4) 扫描台扫描范围：100 x 100 x 20 μm 5）探测器：光电倍增管（PMT）或雪崩二极管（APD）

超高分辨散射式近场光学显微镜 - neaSNOM产品简介： neaSNOM是德国neaspec公司推出的三代散射式近场光学显微镜（简称s-SNOM），其采用了散射式核心设计技术，大的提高了光学分辨率，并且不依赖于入射激光的波长，能够在可见、红外和太赫兹光谱范围内，提供优于10nm空间分辨率的光谱和近场光学图像。由于其高度的可靠性和可重复性，neaSNOM业已成为纳米光学领域热点研究方向的重要科研设备，在等离基元、纳米FTIR和太赫兹等众多研究方向得到了许多重要科研成果。近，neaspec公司成功开发了可见至太赫兹高分辨光谱和成像综合系统，将上述s-SNOM功能与纳米红外（FTIR）、针增强拉曼（TERS）、超快光谱（ultrafast）和太赫兹光谱（THz）进行联用，可以为广大科学工作者在等离子激元、二维材料声子化、半导体载流子浓度分布、生物材料红外表征、电子激发及衰减过程等的研究上提供相关支持。技术特点和优势： neaSNOM是目前上非常成熟的s-SNOM产品散射式近场光学测量技术—有的高10 nm空间分辨率高阶解调背景压缩技术—在获得10nm空间分辨率的同时保持高的信噪比干涉式近场信号探测单元的赝外差干涉式探测技术—能够获得对近场信号强度和相位的同步成像 保护的反射式光学系统 —用于宽波长范围的光源：可见、红外以至太赫兹高稳定性的AFM系统—同时优化了纳米尺度下光学测量 双光束设计 —高的光学接入角：水平方向180°，垂直方向60° 操作和样品准备简单 —仅需要常规的AFM样品准备过程 重要应用领域： 部分发表文章：Science (2017) doi:10.1126/science.aan2735Tuning quantum nonlocal effects in graphene plasmonicsNature Nanotechnology (2017) doi:10.1038/nnano.2016.185Acoustic terahertz graphene plasmons revealed by photocurrent nanoscopyNature Photonics (2017) doi:10.1038/nphoton.2017.65Imaging exciton–polariton transport in MoSe2 waveguidesNature Materials (2016) doi:10.1038/nnano.2016.185Acoustic terahertz graphene plasmons revealed by photocurrent nanoscopyNature Materials (2016) doi:10.1038/nmat4755 Thermoelectric detection and imaging of propagating graphene plasmons国内用户发表文章：Nat. Commun. 8, 15561(2017)Imaging metal-like monoclinic phase stabilized by surface coordination effect in vanadium dioxide nanobeamAdv. Mater. 29, 1606370 (2017) The Light-Induced Field-Effect Solar Cell Concept –Perovskite Nanoparticle Coating Introduces Polarization Enhancing Silicon Cell EfficiencyLight- Sci & Appl 6, 204 (2017)Effects of edge on graphene plasmons as revealed by infrared nanoimagingLight- Sci & Appl，中山大学accepted (2017)Tailoring of electromagnetic field localizations by two-dimensional graphene nanostructuresNanoscale 9, 208 (2017)Study of graphene plasmons in graphene–MoS2 heterostructures for optoelectronic integrated devicesNano-Micro Lett. 9,2 (2017)Molybdenum Nanoscrews: A Novel Non-coinage-Metal Substrate for Surface-Enhanced Raman ScatteringJ. Phys. D: Appl. Phys. 50, 094002 (2017)High performance photodetector based on 2D CH3NH3PbI3 perovskite nanosheetsACS Sens. 2, 386 (2017)Flexible, Transparent, and Free-Standing Silicon Nanowire SERS Platform for in Situ Food InspectionSemiconductor Sci. and Tech.32,074003 (2017)PbI2 platelets for inverted planar organolead Halide Perovskite solar cells via ultrasonic spray deposition部分用户好评与列表（排名不分先后）neaspec公司产品以其稳定的性能、高的空间分辨率和良好的用户体验，得到了国内外众多科学家的认可和肯定......Prof. Dmitri Basov美国 加州大学 University of California San Diego"The neaSNOM microscope with it’s imaging and nano-FTIR mode is the most useful research instrument in years, bringing genuinely new insights."Dr. Jaroslaw Syzdek美国 劳伦斯伯克利实验室 Lawrence Berkeley National Laboratory "We were looking for a flexible research tool capable of characterizing our energy storage materials at the nanoscale. neaSNOM proofed to be the system with the highest spatial resolution in infrared imaging and spectroscopy and brings us substantial new insights for our research” 陈焕君 教授 中山大学Sun Yat-sen University "The neaSNOM microscope boosted my research in plasmonic properties of noble metal nanocrystals, optical resonances of dielectric nanostructures, and plasmon polaritons of graphene-like two dimensional nanomaterials."Prof. Rainer HillenbrandResearch CenterCo-Founder and Scientific Advisor"After many years of research and development in near-field microscopy, we finally made our dream come true to perform infrared imaging & spectroscopy at the nanoscale. With neaSNOM we can additionally realize Raman, fluorescence and non-linear nano-spectroscopy." Dr. Dangyuan LeiThe Hong Kong Polytechnic UniversityDepartment of Applied PhysicsHong Kong "We propose to establish a complete set of nano-FTIR and scattering-type SNOM in order to stay competitive in nanophotonics research as well as to maintain our state-of-the-art design and fabrication of novel nanomaterials. Only because of the unique technology from neaspec we were able to win this desirable university grant."Prof. Dan MittlemanBrown UniversitySchool of EngineeringUSA "The neaSNOM near-field microscope and it’s user-friendly software offer us an incredible flexibility for the realization of our unique experiments – without compromises in robustness, handling and ease-of-use."Dr. Raul FreitasCentro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM)Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS)Brazil "The great stability and robustness of the neaSNOM are key features for serving our diverse user’s demands. The neaSCAN software is user-friendly and intuitive allowing fresh users to quickly start measuring." Prof. Dr. Rupert Huber University of Regensburg Department of Phyics Germany "The unique dual beam-path design of the neaSNOM near-field microscope makes neaspec the natural choice for ultrafast spectroscopy at the nanoscale."国内部分用户（排名不分先后）：清华大学东南大学中科院物理所 中科院上海技物所香港理工大学 中山大学苏州大学 中科院大连化物所中国科学技术大学都师范大学四川大学 南开大学纳米科学中心中科院成都光电所 北京师范大学

NTEGRA Spectra系统简介： NTEGRA Spectra - AFM / CONFOCAL RAMAN & FLUORESCENCE / SNOM / TERS 它将原子力显微镜、扫描近场光学显微镜，激光共聚焦显微镜、荧光光谱和拉曼光谱等各种分析手段完美地结合到一起。借助于针尖增强拉曼散射效应（TERS），其拉曼散射光谱和图像测量的分辨率达到了50nm！ Confocal optical microscopy/spectroscopy system NTEGRA Spectra系统将激光共聚焦显微镜、拉曼光谱、光学显微镜和扫描探针显微镜完美结合，提供了荧光光谱与Raman散射的空间3D分布测量，而扫描探针显微镜也兼备了纳米压痕、纳米操纵和纳米刻蚀加工等功能！ Scanning probe microscopy system NTEGRA Spectra在进行光学观测的同时，NTEGRA Spectra系统也可以通过多种模式对样品进行SPM表征，包括：原子力显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜、扫描隧道显微镜、扫描近场光学显微镜、力曲线等等多大40种功能。这种独有的设计将光学与探针方法联合的设备，赋予了用户对样品同时进行多种性能表征的能力，使得用户可以观测样品的光学性质、化学性能、电学性质、力学性质和磁学性质等等！ System for the investigation of optical properties beyond the diffraction limit NTEGRA Spectra系统区别于其他光学设备的性能在于它能在超过衍射极限的分辨率下，对样品光学性质进行研究。扫描近场光学显微镜与局域的针尖增强拉曼散射效应使得用户可以对光转移、光散射和光极化进行成像，其Raman散射的空间分辨率达到了50nm！ NTEGRA Spectra系统的工作模式 原子力显微镜（力学、电学、磁性质等，纳米操作等多大40种功能） 扫描近场光学显微镜（透射、反射、收集、荧光） 激光共聚焦显微镜、共聚焦拉曼成像、荧光成像、光学成像 针尖增强拉曼散射-TERS（正置+倒置）扫描近场光学显微镜 ( SNOM / NSOM ) 环境控制：温度、气氛控制、液相操作、电化学环境、外加磁场不仅能将原子力显微镜-近场光学显微镜-光学显微镜-共聚焦显微-拉曼光谱完美的联用。此外每个功能还能单独使用即提供了：独立的AFM/独立的SNOM/独立的光学显微镜/独立的共聚焦显微镜/独立的拉曼光谱，所有功能都能在同一个软件下实现联用，并且能够同时得到测量结果。为了更好的体现Ntegra 的扩展性，该系统不但能和NT-MDT 的拉曼系统联用， 也同和市场上主流的拉曼进行联用，例如Renishaw，JY 等拉曼系统联用。

太赫兹近场显微镜TeraCube利用高性能太赫兹探针，结合时域泵浦探测系统成为THz近场系统可以进行高分辨率的成像研究。TeraCube Scientific和新的TeraCube Scientific M2是全自动太赫兹近场扫描系统，可以在光学实验室中运行。这两种系统都可以在距离样品表面受控的距离内对太赫兹场分布进行时域测量。TeraSpike近场微探针通过对平面样品传输宽带太赫兹脉冲进行成像。THz近场显微镜主要特点：▅ 通过同步运动控制和实时位置检测实现连续运动扫描的高速数据采集▅ 结构或弯曲样品在恒定微探针/表面距离下自适应太赫兹表面扫描的光学样品形貌检测▅ 用于偏振相关测量的线偏振和圆偏振太赫兹发射器▅ 高性能太赫兹发射器/探测器组件，加上高动态范围锁定检测，可获得卓越的信号质量▅ 用于监测微探针尖duan和样品位置的集成ccd摄像头模块▅ 集成CCD摄像头模块，用于监测微探针尖duan和样品位置系统控制和测量自动化软件，带有易于操作的图形用户界面，安装于配套PC▅ 软件实现对准监控功能和系统检测▅ 软件辅助微探针针尖到样品表面控制▅ 用于快速光学对准的时域信号预览模式▅ 数据导出为纯文本或Matlab兼容格式▅ 激光防护和防尘系统外壳▅ 开放式可扩展实验室型系统平台THz近场显微镜技术参数：THz近场显微镜安装要求：振动阻尼光学台，1.5米x 1米x 1米的系统放置空间；3B级或以上激光实验室规范THz近场显微镜应用：▅ 太赫兹超材料研究及传感应用 ▅ 半导体晶圆检验 ▅ 薄层电阻成像▅ 石墨烯分析 ▅ 太赫兹器件特性 ▅ 微观结构分析▅ 无损检测另外，我们可以根据客户要求，结合AFM原子力显微镜技术，配置相应的散射式THz近场成像系统。关于昊量光电：昊量光电 您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外创新性的光电技术与可靠产品！与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务，助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念！您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询，我们将竭诚为您服务。

WITec alpha 300S是一种纯近场光学显微镜，在很多样品上都可获得一致的超高分辨率，并且拥有透射与反射式两种模式。该近场光学显微镜不同于其他的超分辨显微镜，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于荧光染料分子的可选种类及特殊的激发光源。 alpha300S 系统采用软件可控的快速自动进针及调节等自动测试流程，操作非常简便、直观。由于近场光学信号极其微弱，alpha300 S 近场光学显微镜配备高灵敏单光子计数的光电倍增管或雪崩二极管，并同时提供检测器快速超载保护。更重要的是，UHTS 光谱仪可与 alpha300S系统兼容，实现近场光谱与成像测量。关键特性：突破衍射极限的空间光学分辨率（横向约 60 nm)独家专利的 SNOM 探针技术在空气与液体中均可使用包含多种原子力与光学显微镜模式非破坏性、无需标记的超高分辨成像技术，基本不需要样品制备可升级到关联的共聚焦拉曼成像和近场拉曼成像集成三种技术到一台仪器上：共聚焦显微镜, AFM 和 SNOM

Nanonics多探针平台在纳米材料表征和加工应用中的独特性石墨烯的发现开启了新一代材料的进化史.这引领了低维度纳米材料和混合材料的多样发展.这些材料的发现也导致了对研究平台的反思,新的平台必须适应这些下一代基础材料的纳米表征和加工,以及相应的应用和新器件开发. 对于这种平台的一个基本的要求就是具有能将纳米成像和纳米操作以及其他探测台整合的能力.在Nanonics Imaging Ltd公司进行这一开拓之前,这种联用通常需要在线的扫描电镜（SEM）来有效的指导纳米操作探针进行纳米材料的研究。FEI Inc公司提供的SEM集成纳米操作台正是实例。但是，即使有SEM的指导的纳米操作台也会对这种纳米材料造成物理损伤或者引入有害的电荷。用户真正需要的是能够在原子级别来反映样品结构和性能的平台，这涵盖了高灵敏度的电学，热学，光学甚至化学的纳米表征。这正是Nanonics Imaging Ltd. MultiProbeMultiView 4000 (MV 4000)平台的独特之处。 这个多探针平台可以充分的集成所有扫描探针显微镜的功能，包括结构和性能的纳米成像。 同时保证纳米探针的超精细分辨率，又不会引入电子束伤害。并可以有效地使用常规的纳米探针用于纳米操作应用。因此，Nanonics多探针平台将多探针AFM探针同时用于结构和性能应用测试，并将先进的纳米操作台开放的联用起来。这项技术将扫描探针显微镜和探针塔的所有优势结合了起来。 为了提供这样的系统，Nanonics不仅在仪器设计方面取得了突破，而且还开拓了NanoToolKitTM专利探针的设计用于超精细的结构和性能成像。这些探针实现了一个探针能够真正的碰触另外一个探针。 这甚至可以允许一个AFM探针对另外一个AFM探针或者纳米操作探针进行成像。纳米操作探针和AFM探针的区别是不具有反馈和成像功能。 为了开启这一新领域，Nanonics在建立之后的20年中一直致力于研究现有单探针或多探针AFM设备中灵敏的AFM反馈机制。这种方法采用了音叉反馈。这种反馈机制非常的灵敏，甚至允许用户用于研究单个光子的作用力。 除了使用这种特有的成像模式，Nanonics平台也可以使用常规的AFM激光反馈模式和AFM硅悬臂达到出色的AFM扫描效果。这种悬臂探针需要反射的激光用于反馈调节。另外，这些探针无法相互之间接触因此无法进行多探针应用，这是他的固有限度。并且由于这种反馈机制明显很低的力灵敏度，纳米材料和元器件的研究并不想采用。 一个主要的局限是这种基于激光束的反馈会在材料上引入电荷，在基本表征测试中引入背景噪音。这些电荷会掩盖这些材料与众不同的物理现象。因此，能够在没有干扰的情况下测试电学，热学和光学特性是对于理解材料基本物理和器件功能必不可少的要求。除却多探针的优势以外，不束缚于外部激光反馈干扰的测试这些功能特性与传统的AFM技术相比具有更大的优势。 无光学干扰的优势对于多探针AFM集成的功能测试也尤其重要，如此探针才能真正物理意义上的接触彼此。这才能实现在两个探针纳米量级的距离变化情况下进行传导机制的测试。 因此，Nanonics多探针集成SPM平台实现了多种独特的测试功能。这是首个被引入国家科学基金会支持的报告的系统。Nanonics平台还在多个方面继续创新。首先，在这些研究中真空环境搭配加热/制冷的环境控制具有重要意义。Nanonics平台可将环境控制与扫描探针显微镜领域的成像功能结合。在我们的研究中需要将温度升至最高350摄氏度，这通过Nanonics平台是可以实现的。这一需求还需要搭配改进后的常规纳米操作台用于样品的精确操纵，这也可以通过Nanonics的系统来实现。而且，这些系统的设计都保证了完全开放自由的光学轴。这使标准的研究级光学显微镜可以与系统完美集成，用于从高真空系统的上方和下方观察样品。这种光学的灵活性在以往从未被实现。为了实现这一目的，SPM系统的结构和探针的设计都必须保证没有任何光学吸收，这对于器件研究尤为重要。传统AFM系统中都无法实现这样沿着光轴上下观察的设计。Nanonics系统提供的全视野不仅对于上述提到的未来升级非常必要，而且利用研究级高放大倍数的光学显微镜用户可以快速的将探针之间的距离缩短到微米量级。当然，所有的功能都同时保证AFM扫描的极限噪音在0.2nm级别伸直更低。新一代材料研究的中心还在于在线光谱表征。这些材料都具有很多重要的光谱特性，是非常必要的表征手段。除此之外，光致发光和振动光谱的研究也很必要。Nanonics是在1990年度就将振动光谱和扫描探针显微镜联用起来的公司。为了这一联用，Nanonics研发了第一台探针和样品都可以扫描的系统。样品扫描对于振动光谱是必要的，而Nanonics这种联用系统的首篇文章在1999年就发表了。这种联用功能现在可以复制到多探针系统上，实现了基于上述所有扫描探针，探针台，和真空功能的化学表征，用于研究材料在电运载过程中的化学性质改变。自从开发了第一套集成扫描探针和振动光谱联用系统，Nanonics多年来也一直努力创新于近场扫描成像领域，将独特的等离子探针引入振动光谱测试，实现纳米级别的振动光谱联用，如TERs（针尖增强拉曼测试）。 Nanonics在近场光学成像领域的专业性早已获得世界范围内的认可，使用多探针系统的成果也很广泛的用于顶级文章的发表。这些功能考虑到了纳米光学成像的多样性。针对这些新材料，还有一个重要应用就是使用纳米光源在没有背景干扰的情况下激发纳米光电效应。这对于研究这些低维度材料及其合成材料在金属接触的局部效应下的能量级非常必要。最后，多探针表征和纳米加工的特有结合也可以通过这个平台实现。在最近发表的一篇文章中，具有Nanonics NanoToolKitTM专利设计的纳米加工探针用于在纳米级别氧化一个纳米结构，并记录由于氧化引起的化学势变化。市面上其他能提供气体纳米加工的系统都结合了SEM和聚焦离子束技术，如FEI Inc和Hitachi High-Technology Corporation公司提供的双束产品。这种设备的价格都超过了一百万美金，并且不能提供实时在线测试以及其他Nanonics平台提供的很多优势。比如上面Patsha用户发表的文章中强调的扫描探针显象模式中的在线化学势成像是这种双束系统所不能提供的。总而言之，专利获奖的Nanonics探针平台可以允许科研人员有效的完成多种独特的测试表征功能。

Nanonics公司历史：Nanonics Imaging Ltd.公司在过去的20年一直是近场光学领域的佼佼者，在近场系统领域在市场上具有最丰富的经验和最多的文献发表。经过几十年的发展Nanonics研发了市场上先进的功能性SNOM系统。孔径式SNOM系统，多探针SNOM系统和无孔径散射式SNOM系统可用于UV，可见光，红外和太赫兹波段。设计和集成：最灵活的光路集成，适用于所有操作模式MV2500适用于所有光学照明和收集模式的SNOM/AFM扫描台： 上方-侧面-下方照明/收集光路： MV2500的设计提供给用户针对每个样品不同需求选择最好模式的能力。纳米级别的红外测试需求和现有样品的多样性决定了能够使用多种照明和收集模式来探测样品是非常重要的。 MV2500就可以满足多种照明和收集模式，这完善了纳米级别的红外测试。AFM扫描台：灵活的扫描功能和简单的使用成就了优秀的红外SNOM系统 MV2500的灵活性扩展了扫描探针的工作模式，提供给用户适用于任何样品的极致的控制权限和灵活性。 关键功能包括：l 探针和样品扫描：MV2500具有两个扫描台，一个用于探针扫描功能，另一个用于样品扫描功能。关键优势：n 每个扫描台的XYZ扫描范围都是85*85*85μmn 针尖和样品可以独立扫描。软件控制非常简易。n 组合式扫描范围：两个扫描台的扫描范围可以叠加用于大范围扫描。n XY和Z方向的扫描可以独立控制，如可以用样品扫描XY方向，而探针进行Z方向的反馈，针对特殊的实验设计。n 两个扫描台都可以用于快速和精确的探针或样品位置定位-这能实现针尖和激光相互作用的绝佳优化。 l 音叉（TF）反馈：n 音叉反馈不使用激光光束作为反馈方式，避免样品或光学信号与其互相干扰。n 音叉反馈是现有的最灵敏的AFM反馈方式，在空气和液体环境下都可达到优秀的AFM成像效果。音叉反馈可以用于非常柔软的样品并可具有低至pN级别的力学灵敏度。l 可定制的LabView软件和控制器：软件基于LabView系统，允许用户设计脚本控制多种光谱仪和激光器。

alpha300 RS – 原位关联的拉曼和扫描近场光学图像 对于拥有挑战性实验要求的用户来说，alpha300 RS将共聚焦拉曼图像及突破光学衍射极限的扫描近场光学显微镜结合在一起。Alpha 300RS在一台设备上继承了所有的Alpha 300R显微拉曼功能，Alpha 300S扫描近场光学显微镜功能和许多AFM操作模式。 主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 S (近场) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析（拉曼）和超高分辨率表面成像（近场）的结合l 只需要转动物镜转盘即可在两种技术间轻松切换l 两种测量间无需移动样品 应用实例 剥离石墨烯的表面拓扑结构VS拉曼图像左图：表面拓扑结构及沿蓝线的轮廓曲线右图：石墨烯G峰沿红线的强度变化曲线 性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪，专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 近场显微镜操作模式l 扫描近场光学显微镜模式：底部激发顶部收集（远场激发近场收集）模式，顶部激发底部收集（近场激发远场收集）模式，探针收集（近场激发近场收集）模式l 共聚焦(CM)模式：透射，反射，荧光（可选）l 近场-原子力联用：Alpha 300A的所有模式均可选l 固定底部透射照明l 全内反射照明模式（可选） 原子力显微镜操作模式l 接触模式l 横向力模式l 其他可选 各类拉曼升级选项（如true surface等）l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台，可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选，如暗场，像差，偏光，微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR)，均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合，70%超高光通量l 优异的成像质量，光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集，处理软件

JCM-6000型Neoscope台式扫描电子显微镜，补充和发展了光学显微镜和传统扫描电子显微镜。该Neoscope可像数码相机一样操作简单，在轻松获得大倍数图像的同时，保持着高分辨率和大景深，具有扫描电子显微镜的强大光学性能。 无论是熟练的电子显微镜操作人员将JCM-6000作为简单的筛选设备，还是实验室技术人员将JCM-6000作为高分辨率的显微镜来取代光学显微镜，该Neoscope都有助于加快在生命科学、刑事科学取证以及加工材料的缺陷分析方面的研究步伐；同时，也主要应用于岩石矿物、储藏、矿物鉴定、矿床、能源等研究必备仪器。 该Neoscope在自动对焦、自动衬比和自动亮度控制等基础方面，操作都非常简单。无需进行涂层或干燥等特殊的样品处理准备。高真空和低真空两种操作模式以及三种加速电压设置，适用于多种应用领域，所有这些都可在预先设定的方案文件中进行编程。 该Neoscope将时尚外观与超强性能融为一体，全新的触摸屏GUI界面，操作更加形象直观。无需变更透镜，能放大10X-40，000X的倍率，二次电子和背散射电子成像、三种可选的加速电压使从载样到成像的操作可在三分钟内完成。双画面显示，可以并列显示实时图像和储存图像，能一边比较图像一边进行观察。选配件-马达驱动倾斜/旋转样品架能够倾斜/旋转景深大、立体感强的图像进行观察.将时尚外观与超强性能融为一体 ● 新颖的“图形用户界面”（GUI），触摸屏操作舒适方便 ● 图像观察景深大、富有立体感。 ● 通过背散射电子像能够观察成分的分布 ● 具有尺寸测量功能 ● 能够倾斜、旋转样品进行观察（选配） 结构紧凑，安置方便，外观简约，设计时尚● JEOL标志灯点亮，表示电源启动成功● 简洁的机体正面，LED显示仪器的状态 全新的触摸屏GUI界面操作更加形象直观，不仅操作界面简明易懂，触摸式操作更加直观方便。双画面显示可以并列显示实时图像和储存图像。能一边比较图像一边进行观察。选配件 ● 马达驱动倾斜/旋转样品台（ Tilting and Rotating Motor-Drive Holder） 选配件―马达驱动倾斜/旋转样品架深受好评， 能够倾斜和旋转景深大、立体感强的图像进行观察。观察实例（样品：印刷电路板的通孔 放大倍率：ｘ30）7 倾斜后（30度） 倾斜前（0度）● 能谱仪（EDS） 能够进行元素分析。采用日本电子公司制造的EDS，安心可靠 。 售后服务反应迅速。 JCM-6000 规格 放大倍数 ×10 &sim ×60,000 (二次电子) ×10 &sim ×30,000 (背散射电子) 观察模式 高真空模式 / 低真空模式 电子枪 灯丝与韦氏帽集成一体的小型电子枪 （ filament and Wehnelt integrated grid） 加速电圧 15kV / 10kV / 5kV　3档切换 (二次电子) 15kV / 10kV 2档切换 (背散射电子) 样品台 X-Y轴手动控制　X方向　35mm、Y方向　35mm 最大样品尺寸 直径70mm、高度50mm 工作距离 （WD) 7～53mm 信号检测 高真空（二次电子、背散射电子）、低真空（背散射电子） 数据显示/ 显示内容 加速电圧、倍率、微米条、微米值等 文件格式 BMP、TIFF、JPEG 图像内存像素 640ｘ480像素、1280ｘ960像素 拍摄条件 高速、低速１、低速２ 旋转功能 扫描旋转（90°/步、1°/步可选） 图像电位移 电位移功能 图像保存 拍摄（扫描）结束后，能自动编号、自动保存文件。 操作系统　OS Windows 7 自动功能 自动聚焦、自动消像散 自动衬度/亮度、 自动电子枪对中 配置 主机、电源箱、PC?LCD、机械泵 操作 触摸屏、鼠标 选配件 马达驱动倾斜/旋转样品架、能谱仪（EDS） 主机 330（W）×490（D）×430mm（H） 输入电源 单相AC100V（700VA）、120V（840VA）、220V（880VA）、240V（960VA） 波动±10％以内、接地 室温 15℃～30℃ 湿度 60％以下

仪器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um 扫描范围：90× 90× 9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：&le 0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM，专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作，并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品，在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用，专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用，且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面（也适用于电镜）。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。 扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。

sMIM是由美国PrimeNano公司联合美国顶尖高校（斯坦福大学）发展起来的一款基于AFM的电学测量设备。在测量样品表面形貌的同时得到样品的电学性质，如导电率，介电常数，载流子浓度，载流子类型等。sMIM基于微波频率的阻抗测量，具有良好空间分辨率和电学分辨率，无需样片制备等优点，适用于各类材料包括导体、半导体、绝缘体/电介质、掩埋式结构等材料，在半导体，相变材料，纳米科学，铁电材料等科研领域有着非常重要的应用（如下图所示）。利用sMIM技术取得的科研成果已经发表在著名的国际期刊，例如Science, Nature, Physics Review Letters, Nano Letters 等 sMIM 应用原理 传送微波信号到针尖，微波在针尖部位行成近场电磁场与样品表面和近表面相互作用，相互作用后，反馈微波信号，针尖移动，反馈微波的振幅、相位随着针尖的电信号变化而变化，软件进行信号校准、分析，进行电容、电阻率和形貌同步成像。 6种信号反馈通路Method半导体导体电介质绝缘体包埋结构样品分辨率动态模式CAFM×√×××××SCM√××××××SSRM√√×××××Scanwave√√√√√√√ 半导体领域-半导体器件sMIM技术可以用来测量半导体器件的电学性质，包括载流子浓度分布，载流子类型，金属结构，介质层（绝缘体）结构等。利用sMIM对材料局域进行纳米尺度下的C-V曲线测量。可以应用在器件表征，失效分析等。以下我们给出几个典型的例子。绝缘栅极晶体管 以上左图中为绝缘栅双极晶体管的SEM照片和利用其他技术测量得到的图形；右图中为利用sMIM技术得到的图像。比较结果我们可以看出，sMIM技术显示了器件的更多细节，并且图像更加清晰。sMIM中不仅显示了载流子的类型和浓度分布，并且显示了金属结构，多晶硅结构和氧化层结构以及氧化层中的缺陷。 CMOS感光器件图中为扫描全局快门CMOS感光器件表面的图像，扫描区域大小为5 µ m x 5 µ m。图中数字所对应的区域1是用于存储的n型的扩散区域； 2是光阴极n型扩散区域；3是浅沟道隔离绝缘区域；4是金属接触区域；5是阴极周围的p型衬底。sMIM-C图像清晰地显示了各种材料。 利用sMIM-C信号，我们可以进行纳米尺度下特定位置的C-V曲线测量。 特定位置的C-V曲线测量可以对半导体器件进行失效分析。如右下图是对于不同点的测量得到的 C-V曲线。C-V曲线#1和C-V曲线#2显示被测区域是n型半导体，与器件结构1用于存储的n型的扩散区域和2光阴极n型扩散区域相吻合。 C-V曲线#5显示被测区域是p型半体与器件结构5阴极周围的p型衬底相吻合。C-V曲线#3是平的，说明被测区域是非半导体材料，与器件结构3浅沟道隔离绝缘区域吻合。铁电材料和磁性材料 sMIM可以用来测量铁电材料和磁性材料畴和畴壁的电学性能。 LiTaO3 上图是对于LiTaO3铁电材料的扫描结果。sMIM技术可以在一次扫描过程中同时得到材料的表面形貌，PFM图像和导电性分布的sMIM图像。PFM图像清晰的给出了铁电材料中不同的畴分布。从sMIM图像中可以看到畴壁是导电的。 石墨烯 上图中是利用sMIM技术测量得到的石墨烯的导电性质。sMIM图像清晰的显示了石墨烯上超晶格结构的摩尔纹。其摩尔纹结构的尺寸为14nm。 透过表面测量 sMIM中的微波信号可以穿透介质层，从而测量表面一下的材料的电学性能sMIM可以穿透介质层，扫描表面以下的材料的性质。上图利用sMIM测量银在溶液中电化学生长的过程 。（Seeing through Walls at the Nanoscale: Microwave Microscopy of Enclosed Objects and Processes in Liquids. ACS Nano 10, 3562–3570 (2016).）

仪器简介：以Zeiss显微镜为基础，近场激发光路为正置共焦显微镜加特殊设计的近场物镜头，采用悬臂梁近场光学针尖，近场光激发强度高于光纤针尖2-3个数量级，很大程度改善了近场光学显微镜信号过弱的问题，坚固的近场针尖加柔韧的悬臂梁，经典的原子力显微镜反馈模式，带来逼近和测量时的优异的安全性和稳定性； AlphaSNOM集中而且不相互干扰地提供了共焦光学、近场光学、原子力三种显微测试模式，各取三种显微模式之所长，相互比较，相互验证.

什么是扫描电子显微镜，泽攸科技小编给大家介绍一下扫描电子显微镜。1930年代和1940年代，除透射电子显微镜外，其他类型的电子显微镜，如扫描、发射、反射、场发射等也相继在德国提出和试验。 经过一段时间的断断续续，扫描电镜再次受到关注，在解决了一些关键技术问题后，发展迅速。 他可以直接观察块状物质的表面，并提供具有很强三维效果的图像。 因此，在科研和工业中得到了广泛的应用。 它已成为生产量很高的电子显微镜。接下来泽攸科技小编带大家深入探讨一下，什么是扫描电子显微镜。扫描电子显微镜（SEM）是介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察方法。 它利用聚焦的很窄的高能电子束对样品进行扫描，通过电子束与物质的相互作用，激发各种物理信息，对信息进行采集、放大、再成像，以观察表征物质的微观形态。扫描电子显微镜基本的功能仍然是放大镜的功能，它实现了人眼和光学显微镜无法观察到的样品更详细的特征。 广泛应用于材料科学研究、生物学、工业制造等领域。ZEM台式扫描电子显微镜扫描电子显微镜的制造是基于电子和物质的相互作用。 当一束高能入射电子轰击材料表面时，激发区会产生二次电子、俄歇电子、特征X射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子以及可见光、紫外光和红外光。 该区域产生的电磁辐射。 同时，还可以产生电子-空穴对、晶格振动（声子）和电子振荡（等离子体）。 原则上，可以利用电子与物质的相互作用来获得被测样品本身的各种物理化学性质，如形貌、成分、晶体结构、电子结构、内部电场或磁场等。扫描电子显微镜对我们来说似乎有点陌生，但它存在于我们的生活中。 我们需要进一步了解它，才能更好地利用它为人类创造价值。 希望今天小编介绍的关于什么是扫描电子显微镜的内容能给您的生活带来更多的帮助，从而在生活中取得进步。本文就是泽攸科技小编介绍的扫描电子显微镜，如果需要了解扫描电镜产品的价格请咨询：（微信同号）。 原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

超高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X是一款先进的分析仪器，它结合了场发射技术和高分辨率成像能力，为用户提供了一个强大的工具来观察和分析各种材料的微观结构。该显微镜具有以下特点：1. 场发射电子源：采用先进的场发射电子源，提供稳定的高亮度电子束，从而实现高分辨率成像。2. 高分辨率成像：SEM5000X能够达到极高的空间分辨率，即使在高放大倍数下也能清晰地观察样品表面的细节。3. 多种探测器：配备了多种探测器，包括二次电子探测器、背散射电子探测器等，能够提供丰富的样品表面信息。4. 易于操作的用户界面：拥有直观的用户界面和先进的软件，使得操作简便，即使是初学者也能快速上手。5. 强大的分析能力：除了成像功能外，SEM5000X还支持多种分析技术，如能谱分析(EDS)、电子背散射衍射(EBSD)等，为材料研究提供全面的数据支持。6. 灵活的样品室：样品室设计灵活，能够适应各种尺寸和形状的样品，方便用户进行多样化的实验。7. 高性能的真空系统：采用高效的真空系统，确保在最佳的真空环境下进行成像，减少样品污染和电子束散射。SEM5000X适用于材料科学、生物学、地质学、半导体工业等多个领域的研究和质量控制，是科研和工业领域不可或缺的精密分析工具。当然，以下是关于超高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X产品介绍的继续内容：8. **自动化与智能化**：SEM5000X融入了先进的自动化和智能化技术，支持自动聚焦、自动寻找样品区域、自动调整参数等功能，大大提高了实验效率和准确性。同时，通过集成的人工智能算法，能够自动识别和分类样品特征，为用户提供更深入的数据分析支持。9. **广泛的应用范围**：这款显微镜不仅适用于固体材料的表面形貌观察，还能对材料的微观结构、化学成分、晶体取向等进行深入分析。在纳米科技、生物医学、环境科学等领域，SEM5000X都发挥着重要作用，帮助科研人员揭示物质的本质和特性。10. **可靠的稳定性和耐用性**：SEM5000X采用高品质的材料和精密的制造工艺，确保了设备的稳定性和耐用性。即使在长时间连续工作的情况下，也能保持优异的性能表现，为用户提供可靠的分析结果。11. **专业的技术支持和服务**：作为金山办公与合作伙伴共同开发的AI工作助理，我们深知技术支持和服务对于用户的重要性。因此，我们提供全方位的技术支持和服务，包括设备安装调试、操作培训、故障排查等，确保用户能够顺利使用SEM5000X进行科研工作。12. **持续的技术升级和更新**：随着科技的不断发展，我们将不断对SEM5000X进行技术升级和更新，引入更先进的成像技术和分析功能，以满足用户日益增长的需求。同时，我们也将积极听取用户的反馈和建议，不断优化产品性能和服务质量。综上所述，超高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X是一款集高性能、高可靠性、高智能化于一体的先进分析仪器。它将成为您科研道路上的得力助手，助您探索微观世界的奥秘。

日立高新扫描电子显微镜S-3700N适合用于研究大件，较重，较高的样品。 ▲最大样品直径达300mm。▲可观察范围直径达203mm。▲可对高达110mm的样品进行观察和能谱分析。▲通用型接口布局满足各种分析用途。 特点特大型的样品室可装载最大直径达300 mm的样品，还可同时安装EDX/WDX/EBSD等配件。其可载样品高度可达110 mm。5轴马达驱动优中心倾斜、旋转、图像导航系统、样品台追踪、轨迹存储与中心复位等样品台的马达控制功能一应俱全。S-4800，SU-70及S-3400N均具有用户友好的GUI设计，这使得操作者经过简单培训即可操作。显示系统有全屏显示，无闪烁，高像素和实时图像显示等优异的性能，它还可以实时信号混合并同时显示两个不同的检测器观测到的互不相同的样品信息。可变压模式不需要金属喷涂，可以直接观察不导电样品。高灵敏度半导体背散射电子检测器可以在快速扫描模式下运行，这使得寻找大尺寸样品中感兴趣的区域更为简单和便利。标准配备涡轮分子泵(TMP)，其清洁和干燥的真空条件最大限度地减少了样品污染。区别于传统的扩散泵扫描电子显微镜，此款产品不需较大的加热功率或循环水箱，从而使得它成为一款节能，生态环保的扫描电子显微镜。规格项目描述分辨率二次电子分辨率30kV时，3.0nm(高真空模式)3kV时，10nm(高真空模式)背散射电子分辨率30kV时，340nm(低真空模式)放大倍率×5-×300，000加速电压0.3-30KV低真空范围6-270pa图形菜单图像移动±50μm（WD=10mm）最大样品尺寸Ф300mm样品台X150mmY110mmZ5-65mmR360°T-20°-90°观测区域Ф203mm（可旋转）最大高度110mm（WD=10mm）样品台控制计算机控制5轴马达驱动优中心电子光学电子枪预对中钨灯丝物镜光阑可移动式4孔物镜光阑枪偏压带可控4偏压检测器埃弗哈特 索恩利二次电子检测器高灵敏度半导体背散射电子探测器，五分割分析位置WD=10mm 取出角=35°显示器自动合轴自动设定束流，自动合轴自动图像调整自动聚焦，自动消像散/聚焦，自动调整亮度和对比度存储图像精度640×480像素，1280×960像素，2560×1920像素，5120×3840像素图像文件格式BMP，TIFF，JPEG图像显示模式全屏显示1280×960像素，小屏显示640×480像素，双屏显示640×480像素×2，信号混合模式真空系统操作全自动程序涡轮分子泵210L/sec.×1机械泵135L/min.(162L/min.60Hz)×1安全措施断电保护，漏电保护辅助功能光栅旋转，动态消像散动态聚焦/倾斜补偿功能自由排版打印功能，字母/数字功能三维动画维修指南导航，测量方便，倾斜画面

Scanning Microwave Impedance Microscopy，简称为sMIM，扫描微波阻抗显微镜，让您的AFM成为专业的电学显微镜！ 50nm超高分辨率，~100nm内部电学探测，导体、半导体、绝缘体的广泛适用度，为您提供电导率、介电常数、掺杂浓度纳米级高灵敏度电学表征成像的解决方案。 Scan Wave™ 可应用于多种领域材料的研究和发展：微电子材料，铁电材料，工业材料，以及石墨烯、碳纳米管，2D半导体、纳米材料等新星材料等。 独立扫描模块，包括微波信号发生器、探针干涉模块、自主专利同轴屏蔽探针、以及微波近场软件，可应用于各种AFM平台。特殊MEMS结构探针，有效避免散杂磁场的干扰 专业多功能自由切换电学显微镜测试功能体验 sMIM-C成像：介电常数、电容变化； sMIM-R成像：电导率、电阻率变化； dC/dV 振幅：载流子浓度； dC/dV 相位：载流子类型+/- ； dR/dV 振幅：相关损失系数； dR/dV 相位：相关损失系数 高精度电学测试，50nm分辨率； 工业级高灵敏度、低噪音，“Hard stuff”材料电学测试不再是难题； 可实现表面下成像、检测（100nm) 不同材料同步测量：导体、半导体、绝缘体、电介质都可以实现，不同的材料甚至分类都可以 在一次扫描中观测。 简易操作：不需要样品特别处理，不需要将样品放置在导电或电流中，人性化软件设计，操作简单。 接触和非接触模式多种扫描模式：即使在做力曲线，只要你想实现，就可以获得电学数据；

捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机JSM7000F采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配了TTLS系统（Through-The-Lens System），因此无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。产品规格：主要选配件可插拔式背散射电子探头（RBED）高位二次电子探头（USD）低真空二次电子探头（LV-SED）能谱仪（EDS)波谱仪（WDS）电子背散射衍射系统（EBSD)阴极荧光系统（CLD）样品台导航系统（SNS）电子束曝光系统 产品特点：捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配TTLS系统（Through-The-Lens System），无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。此外，保证300nA的最大束流，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，具有充实的自动功能和易用性，是新一代的多功能场发射扫描电镜。＜特点＞捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的主要特点有：应用了浸没式肖特基电子枪技术的电子光学系统；利用GB（Gentle Beam 模式）和各种检测器在低加速电压下能进行高分辨观察和选择信号的TTLS系统（Through-The-Lens System）；电磁场叠加的混合式物镜。 浸没式肖特基电子枪浸没式肖特基场发射电子枪为日本电子的专利技术，通过对电子枪和低像差聚光镜进行优化，能有效利用从电子枪中发射的电子，即使电子束流很大也能获得很细的束斑。因而可以实现高通量分析（EDS、WDS面分析、EBSD分析等）。 TTLS（through-the-lens系统）TTLS（through-the-lens系统）是利用GB(Gentle Beam 模式）在低加速电压下能进行高分辨率观察和信号选择的系统。 利用GB（Gentle Beam 模式）通过给样品加以偏压，对入射电子有减速、对样品中发射出的电子有加速作用，即使在低加速电压（入射电压）下，也能获得信噪比良好的高分辨率图像。 此外，利用安装在TTLS的能量过滤器过滤电压，可以调节二次电子的检测量。这样在极低加速电压的条件下，用高位检测器（UED）就可以只获取来自样品浅表面的大角度背散射电子。因过滤电压用UED没有检测出的低能量电子，可以用高位二次电子检测器（USD，选配件）检测出来，因此捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F能同时获取二次电子像和背散射电子像。 混合式物镜（电磁场叠加）捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的物镜采用了本公司新开发的混合式透镜。 这种混合式透镜是组合了磁透镜和静电透镜的电磁场叠加型物镜，比传统的out-lens像差小，能获得更高的空间分辨率。 捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F仍然保持了out-lens的易用性，所以可以观察和分析磁性材料样品。日本JEOL热场发射扫描电子显微镜捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F 信息由科沃安科技（苏州）有限公司为您提供，如您想了解更多关于日本JEOL热场发射扫描电子显微镜捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F 报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

当您需要研究传统荧光显微成像方法无法成像的结构时，通过STELLARIS 8 CRS相干拉曼散射显微镜，您可以在工作流程中实现无标记化学成像，应对那些具有挑战性的研究问题。在STELLARIS 8 CRS中，您可以使用不同模块对各种样本进行高速高分辨率成像： 受激拉曼散射(SRS)、相干反斯托克斯拉曼散射 (CARS) 、二次谐波成像(SHG)、双光子荧光和可见光共聚焦荧光。使用这些模块可以最大限度地利用从样本中获得的信息。叠加图像显示了完好无损的未标记斑马鱼眼睛。 绿色： 脂质成分的受激拉曼散射 (SRS) 成像（波数为 2850 cm⁻ ¹ ）。 红色： 蛋白质组分的 SRS 图像（波数为 2935 cm⁻ ¹ ）。 蓝色：二次谐波信号，主要来自巩膜和角膜。 样本由Elena Remacha Motta和法国斯特拉斯堡遗传与分子细胞生物学研究所(IGBMC) Julien Vermot提供。获得用传统方法无法实现的目标成像能力尽管传统的荧光显微成像方法是非常成功的研究工具，但是可成像的目标类型和数量有限。 STELLARIS 8 CRS可帮助您克服以下限制： 对目标事件和结构的化学键直接成像，而传统方法基本上无法做到这一点； 三维图像信息，即使在复杂的3D样本内也能观察到微小细节； 无论以视频码率成像还是长时间观察敏感样本，都尽可能使样本保持接近生理条件，在动力学研究中将扰乱性刺激降到最低限度。多色SRS成像展示了拉曼标记药理学化合物（黄色，SRS成像，波数为2230 cm⁻ ¹ ）在无标记细胞样本内的内源性脂质和蛋白质环境中的亚细胞分布。 样本由Dewpoint Therapeutics GmbH的Matthä us Mittasch博士提供。对结构和事件进行成像，无需荧光染料使用STELLARIS 8 CRS显微镜，用户可以利用结构和事件的化学特性对其进行成像和区分。 通过这种方式，可以获得传统方法无法获取的大量生化、代谢和药代动力学信息。 样本内不同分子特有的内在振动状态不同，CRS利用这种振动差异形成图像中的对比度。 因此不需要对样本染色，从而消除了基于染料的成像方法的缺点，例如光漂白和染色导致的假象。脑组织的三维成像： 200微米厚的小鼠脑切片的Z轴层扫图像，SRS成像同时显示有髓轴突（橙色）和来自Thy1-YFP标记神经元（青色）的双光子荧光。 样本由德国慕尼黑工业大学神经细胞生物学研究所Monika Leischner-Brill博士提供。内置的3D样本三维成像功能 STELLARIS 8 CRS非常适合直接利用3D样本（例如组织、类器官或较小的整个模式生物）的化学特性进行亚细胞分辨率成像。 CRS的3D成像天然无需后期处理，这是因为这种方法结合了以下两个特点： CRS信号通过仅在激发激光的焦点体积内发生的非线性光学效应生成，提供真正的三维图像信息。用于激发CRS的近红外激光束以极小的扰动在整个样本中传播，因此在完整的3D样本内也能高效成像。活体小肠类器官亚细胞动力学的无标记研究。 SRS信号的延时视频（波数为2940 cm&minus 1）显示了内源性蛋白质和脂质，有助于深入了解此模型系统中的上皮细胞组织和脂滴动力学。 样本由荷兰根特大学Ruslan Dmitriev博士提供。在尽可能接近生理条件的情况下对活体样本成像CRS高效激发的分子键可以前所未有的速度实现化学特异性图像反差。 它能够以视频码率对活体样本成像。 STELLARIS 8 CRS搭载徕卡高速共振扫描头，可以对许多样本形态进行常规和高速成像。 除了速度外，温和成像对于在长时间观察中保护活体样本同样至关重要。 非染色方法与近红外激光相结合，可将光毒性和光损伤保持在最低水平。 无标记脑组织中的β-淀粉样蛋白和相关病理性脂质沉积物成像。 光谱分析显示，与附近的健康大脑结构相比，膜脂质富集，胆固醇减少，这为研究脂质代谢与阿尔茨海默病病理之间的关系提供了新的机会。 样本由德国波恩神经退行性疾病研究中心Martin Fuhrmann博士和Andrea Baral博士提供。探索形态化学和功能信息在成像实验中的潜力为了解决生命科学和基础医学研究中极具挑战性的问题，通常必须最大限度地利用从样本中获得的信息。 这通常包括需要对非传统目标成像，例如脂质代谢的变化。STELLARIS 8 CRS为您提供了一个完全集成的系统， 让您除了共聚焦荧光强度和寿命信息以外，还可以获取和关联各种生化与生理对比，从而充分利用实验样品。对未经处理的新鲜苹果片的内源性生化组分进行成像。 (A)SRS光谱层扫图像的代表性图像。 (B) (A)中所示感兴趣区域的SRS光谱。 黄色：最外层的果皮，包含蜡质相的长链饱和脂肪酸。 绿色、红色：内表皮层由短链不饱和脂肪酸构成。 蓝色、紫红色：多酚化合物。 青色：由多糖构成的细胞壁。 橙色：类胡萝卜色素。 (C) 8色光谱分解结果，显示不同的生化结构。获取样本生化组分 的相关信息形态和生化信息的组合对于了解健康的生物功能以及由疾病引起的任何变化至关重要。STELLARIS 8 CRS以前所未有的空间分辨率提供无标记的化学对比成像。 从亚细胞器到组织中的细胞群，以及会改变组织功能的病理结构，使用CRS可在许多空间尺度上探测生物功能。 无标记SRS成像显示了多细胞皮肤癌球状体模型的核壳结构，展示了出乎意料的富脂细胞表型（分离的亮黄色细胞）的外观。 样本由德国曼海姆应用技术大学Julia Klicks博士和Rüdiger Rudolf教授提供。展示与发育和疾病相关的新维度对细胞表型和代谢状态直接成像，对于了解健康和疾病状态下的生物过程至关重要。 样本处理可能会改变这些属性，因此无标记方法可能更加合适。CRS成像提供了光谱功能，支持您在尽可能接近真实情况的条件下详细研究样本。 将可见共聚焦荧光显微成像与通过SRS进行的多色化学成像相结合，并通过SHG增加物理对比度，对小鼠颅骨外植体中的成骨进行多模态光学成像。 在单个样本中可以看到成骨细胞的位置、细胞外胶原纤维的沉积和骨矿物质的形成。 此外，可以主要在分散于整个发育期骨结构中的孤立成骨细胞内观察到富含脂质的结构。 样本由德国德累斯顿MPI-CBG研究所的Jacqueline Tabler和Sebastian Bundschuh提供。将共聚焦荧光成像与 化学成像相结合STELLARIS 8 CRS将多种成像方法紧密集成到共聚焦系统中，使您以无与伦比的方式观察到样本的多种生物维度。 这些方法可以通过生化、生理和分子对比来实现多模态光学成像。 受激拉曼散射(SRS) 相干反斯托克斯拉曼散射(CARS) 单光子或多光子荧光 二次谐波成像(SHG) 使用红外线(IR)、可见光(VIS)和紫外线(UV)激光器以同时或序列模式成像左上： 脑组织脂质的CARS显微图像，显示了富含脂质的白质和灰质区域。 右上： 平均光子到达时间的图像显示，富含脂质的白质的光子到达时间较短，灰质的光子到达时间较长。 该结果表明，瞬时CARS信号伴有寿命特定的双光子自发荧光信号。 下排： 基于寿命的瞬时CARS信号和自发荧光信号分离，平均到达时间为1.9纳秒。 右： 叠加图像。了解振动和寿命成像带来的新可能性 许多生物样本会呈现由内源性荧光团或特异荧光标记发射的荧光。 SRS信号不受荧光影响，但CARS信号可能会发生一定程度的荧光串扰。STELLARIS平台中的TauSense工具可以帮助解决此问题。 通过使用基于荧光寿命的信息，您可以将瞬时CARS信号与荧光信号分离。浸入水中的十二烷（一种完全饱和的碳氢化合物，青色）与亚油酸（一种多不饱和脂肪酸，紫红色）液滴的SRS图像和光谱。 1660 cm⁻ ¹ 至1440 cm⁻ ¹ 的强度比率可量化脂质不饱和度。通过固有可 量化数据提高工作效率STELLARIS 8 CRS 提供了STELLARIS平台具备的所有多样性和易用性。 这一集成系统让您可以处理各种具有挑战性的样本，并帮助您最大限度地利用CRS成像的优势，包括从比率和光谱成像方法中获得固有可量化数据。 在直观的ImageCompass用户界面中点击几下即可获得CRS图像。使用完全整合的系统轻松设置实验ImageCompass用户界面提供一种既方便又直观的CRS显微成像方法，使专家和新手都可以完全控制实验的每个方面。此外，ImageCompass集成了CRS激光控制功能，用户只需点击几下鼠标便可从单化学键成像转换为光谱成像或多模态成像。 大面积样本的自动成像： 此处显示了整个小鼠脑切片的高分辨率区块扫描。 对高脂肪饮食和常规饮食中生长的小鼠的对应皮质组织区域进行比较，发现高脂肪饮食的小鼠出现富含脂质的病理性动脉斑块，而常规饮食的小鼠则没有。 样本由德国莱比锡大学的Judith Leyh和Ingo Bechmann教授提供。在大型复杂样本中轻松导航LAS X Navigator是功能强大的工具，可让您从逐个图像的搜索方式快速转变为查看整个样本概况的模式。 CRS多位置实验与Navigator完全集成，因此您可以对大型样本执行完整的区块扫描，获得选择感兴趣区域所需的全部信息，以便随后作更详细的研究。SRS光谱成像提供关于脑结构化学组分的详细信息。 左： SRS图像显示了健康、富含脂质的白质结构（顶部）和β淀粉样蛋白（左下）周围的病理性脂质沉积物。 右： SRS光谱显示，与富含胆固醇的白质相比，病理性沉积物富含膜脂（鞘磷脂、卵磷脂）。来自高光谱或比率成像的可量化信息CRS灵感源自拉曼光谱学界开发的各种方法，支持比率和光谱成像，能够提供样本的可重现、可量化的化学组分信息。 这些基本的量化工具集成在LAS X软件中。

场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro是一款先进的分析仪器，它结合了场发射电子源的高亮度和高分辨率特性，为用户提供卓越的表面成像和微区分析能力。该设备适用于材料科学、生物学、地质学等多个领域的研究和质量控制。SEM4000Pro采用了最新的电子光学系统设计，能够达到亚纳米级别的分辨率，即使在高放大倍数下也能提供清晰、细腻的图像。其独特的场发射电子枪技术，确保了稳定的高亮度电子束输出，从而获得高质量的图像和分析数据。此外，SEM4000Pro配备了先进的电子探测器系统，包括二次电子探测器、背散射电子探测器等，能够满足不同样品的成像需求。用户可以通过这些探测器获取样品表面的形貌、成分和晶体结构等信息。该显微镜还具备强大的样品处理能力，支持多种样品的加载，包括固体、粉末、薄膜等，并且具有高真空和低真空模式，以适应不同样品的测试环境。用户界面友好，操作简便，配合智能软件系统，可以轻松完成样品的定位、成像和分析。总之，场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro是科研和工业领域中不可或缺的精密分析工具，它以卓越的性能和广泛的适用性，为用户提供了深入研究材料特性的强大支持。当然，以下是关于场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro产品介绍的续写：除了上述的卓越性能外，SEM4000Pro还具备一系列高级功能，进一步提升了其在科研和工业应用中的价值。首先，该显微镜支持三维成像技术，通过收集不同角度的二次电子信号，可以重建出样品表面的三维形貌。这一功能对于研究复杂结构材料的表面形态、孔隙分布等具有重要意义，为科研人员提供了更加直观、全面的样品信息。其次，SEM4000Pro还配备了能量色散X射线光谱仪（EDS）等附件，能够在观察样品形貌的同时，进行元素成分分析。通过EDS分析，用户可以快速获取样品表面的元素种类、含量及分布信息，为材料表征和性能研究提供有力支持。此外，该显微镜还具备自动化控制和远程操作功能。用户可以通过计算机远程控制显微镜的各项参数，实现样品的自动扫描、成像和分析。这一功能不仅提高了工作效率，还降低了操作难度，使得更多科研人员能够轻松上手使用。在维护和保养方面，SEM4000Pro也表现出色。其设计充分考虑了易维护性和耐用性，使得设备的日常维护和保养变得简单快捷。同时，金山办公及其合作伙伴还提供专业的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中遇到任何问题都能得到及时解决。综上所述，场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro凭借其卓越的性能、丰富的功能、便捷的操作以及专业的售后服务，成为了科研和工业领域中备受推崇的精密分析工具。无论是材料科学家、生物学家还是地质学家，都能在这款设备的帮助下，深入探索未知领域，推动科学研究的进步和发展。

SU-70电子显微镜是一种新概念扫描电子显微镜，它采用了日立经过实地验证的 "semi-in-lens"超高分辨率技术以及肖特基热场发射电子枪技术。除了具有超高分辨率（1.0 nm/15 kV，1.6 nm*/1 kV）的特点外，它还借助声名远播的SuperExB功能可观察减轻荷电图像，成分构成对比图像，超低加速电压图像*。肖特基场发射电子枪的探针电流为100 nA，可进行各种各样的分析操作（X 射线能谱仪*, X射线波谱仪*,电子背散射衍射系统*等）。