射线波长色散硫分析仪

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射线波长色散硫分析仪相关的厂商

  • 青岛佳鼎分析仪器有限公司
    青岛佳鼎分析仪器有限公司创建于2011年，公司主营实验室分析检测仪器设备，以实验室整体建设为发展方向。公司目前涉及电子电器、医药生物、石油化工、食品、机械、新材料、环境、科研高校等诸多领域。联合山东医药化工设计院，美国安捷伦、美国热电、日本岛津、江苏天瑞等众多品牌及多个重点实验室从实验室布局设计出图、基础设施建设、仪器设备供应、方法开发建立、后期运营管理，形成完整的专业实验室建设体系，达到一站式服务，为众多行业客户提供更为完善的整体解决方案。公司主营产品分为四大类，光谱仪、色谱仪、质谱仪和环境在线检测。能量色散X荧光光谱仪（EDX）、波长色散X荧光光谱仪（WDX）、等离子体发射光谱仪(ICP)、光电直读光谱仪(OES）、原子吸收分光光度计(AAS)、原子荧光光谱仪(AFS)、拉曼光谱仪（Raman)、碳硫分析仪(CS)、红外光谱仪、矿浆载流分析仪(OSA)、气相色谱仪(GC)、液相色谱仪(LC)、气相色谱-质谱联用仪（GC-MS)、液相色谱-质谱联用仪（LC-MS)、电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）、水质在线分析仪（WAOL）；
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  • 苏州华谱科学仪器有限公司
    苏州华谱科学仪器有限公司是一家高科技分析仪器企业，总部坐落于风景秀丽的江南水乡花园城市苏州。是一家专业从事以进口设备的销售为主导，为客户提供具有国际竞争力的产品及配套服务。在分析仪器行业尤其是光谱分析领域享有盛誉主要产品包括：手持式X荧光光谱仪，台式X荧光光谱仪，波长色散X射线光谱仪，直读光谱仪，移动式光谱仪，X射线涂镀层测厚仪，电感耦合等离子体发射光谱仪，原子吸收光谱仪，激光诱导击穿光谱仪等等。
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  • 上海爱斯特电子有限公司 铜牌20年
    400-860-5168转0738
    公 司 简 介 上海爱斯特电子有限公司主要从事各种电子仪器特别是X射线类仪器的开发和生产。公司位于人杰地灵的金山区，在国家高速公路G1503亭枫公路出口旁，公司占地12亩，厂房面积7500平方米，固定资产超亿元。公司骨干源于原核工业部263厂，为具有数十年X射线类仪器研制经验的高级技术人员，公司员工80%以上为具有本科以上学历的工程技术人员，具有雄厚的实力。公司自1992年成立以来，已生产DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、硫钙铁分析仪、多元素分析仪、波长色散光谱仪等一万多台，在销售数量上取得了国内外生产X荧光光谱仪的企业从未有过的辉煌。公司还大量生产X射线灌装液位计、X射线测厚仪等。公司用户遍布全国各地，在建材行业，全国有70%以上的水泥厂已使用本公司的XRF分析仪，在石油、环保行业，本公司的X荧光测硫仪市场占有率亦达50%以上，名列前茅。目前公司还涉足冶金、化工、地质、矿山、电子电气、食品机械等多个行业。本公司自1995年起即为上海市高新技术企业，产品按ISO9001质保体系生产，公司每年的科技投入占销售额的15%以上。公司产品无论技术、质量、市场占有率均居国内领先地位，拥有多项专利，部分产品达到甚至超过国外同类产品。其中DM2100型X荧光多元素分析仪被认定为上海市高新技术成果转化项目，并获上海市科技创新基金和国家发明专利。目前本公司所有产品均已不使用同位素放射源，并自获得全国第一张辐射豁免证书后，公司大部分仪器均已获得辐射豁免证书，均为真正绿色环保产品。 主要产品有： 1． DM8116型MWDXRF微量测硫仪。满足国V、国VI对车用汽柴油超低S检测要求，具有超低检测限（300s）：0.33 ppm。它采用单色激发波长色散X射线荧光(MWDXRF)分析技术, 高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体。它主要用于测量石油及其制品（及其他液体）中S的含量。它符合标准：GB/T 11140、ISO20884、SH/T 0842、ASTM D2622、ASTM D7039、ASTM D7220。2． DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪。满足国V、国VI对车用汽柴油超低S检测要求，具有超低检测限（300s）：Si: 0.7ppm， P: 0.4ppm，S: 0.15ppm，Cl: 0.08ppm。它采用单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术，高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体，高计数率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探测器。它主要用于测量石油及其制品（及其他液体）中Si、P、S、Cl等的含量。它符合标准：GB/T 11140、ISO 20884、ASTM D2622、ASTM D4929、ASTM D7039、ASTM D7220、ASTM D7757、ASTM D7536、ISO 15597、ASTM D6481。3． DM8000型X荧光光谱仪。采用波长色散X射线荧光分析技术(WDXRF)，多道同时测量从Na到U的任意十种元素，对大多数元素分析的含量可低至ppm高至100%。关键部件采用进口产品，如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管，Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗，恒温室温度控制精度小于0.1℃，流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa，由此使本光谱仪具有极高的精度和准确度，达到国际先进水平。4． DM1260型X荧光测硫仪(2019款）。是为满足2019版本的GB/T17040而改进推出的。采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术。它主要用于测量石油及其制品（及其他液体）中S的含量，也能测量煤、碳黑等固体材料中的全硫（S）的含量。它符合标准：GB/T 17040、GB/T 17606、ASTM D4294、ISO 20847。5． DM2100型X荧光多元素分析仪。它是本公司在国内最先开发完成的管激发小型X荧光分析仪，达到甚至超过国外同类仪器的技术水平，是在同档次中唯一得到广大用户认可的，能同时测量Al、Si、S、Ca、Fe的X荧光多元素分析仪。其价格仅为国外的四分之一，目前已有近千家水泥厂使用。6． DM 1240型X荧光硫钙铁分析仪(2014款）。是因水泥企业的要求而研制出的定量分析仪器，主要用于测量熟料和水泥等物料中SO3、CaO、Fe2O3的含量，并通过测量熟料和水泥中CaO的含量来确定混合材的参杂量，通过测量水泥中SO3的含量来控制水泥的质量。7． DM6100型X射线测厚仪。用于钢带、铜带、铝带、铝箔等的非接触式在线厚度测量，填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白，性价比大大优于以同位素放射源作射源的测厚仪，价格仅为国外同类产品的五分之一。本公司还提供非标准型的，可满足绝大部分需用X射线测厚仪的用户的要求。8． DM5110型灌装液位检测仪。管激发，不含同位素放射源，测灌装流水线容器的液位。它是用于饮料、酒行业的质量监控仪器，在国内市场占30%以上的份额，已有数百家厂家使用。9． DM3300型全自动氧弹热量仪。采用当前国际上最先进的电子技术，适应环境能力强，自动化程度高。精心编制的测量程序使测量精度大大提高。液晶显示器全中文菜单操作更简便。适用于水泥厂、电厂、煤矿、洗煤厂、制砖厂、化工厂等产煤用煤企业，应用范围广泛。10．DM2300型X荧光分析仪。采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术，能分析从铝(原子序数13)到铀(原子序数92)的所有元素，对大多数元素分析的含量可低至1ppm高至100%，还能进行镀层厚度测量。专门针对RoHS/ELV/玩具/包装/首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量。11． DM1200型钙铁分析仪(2014款）。它是本公司的拳头产品，在国内市场占据70%以上的份额，行销全国各地水泥企业，从十几年前第一代的DM1001、第二代的DM1010、第三代DM1010A到第四代DM1200，本公司已生产近五千台钙铁分析仪，用户近四千多家，可以说在销售数量上取得了国内外生产X荧光分析仪的企业从未有过的辉煌，成为在国内外生产钙铁煤分析仪(X荧光分析仪的一种)最多的企业。它与前三代最大的不同在于它不含同位素放射源，是在全国最先推出的不含同位素放射源的钙铁分析仪。它的另一特点是最快15秒给出结果，分析时间仅为前三代和国内同行的四分之一。12． DM1250型X荧光测硫仪(2014款）。它主要用于测量水泥中的SO3的含量，也能测量煤、碳黑等固体材料中的全硫（S）的含量。它符合国家标准GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。13． DM1230型X荧光铝硅分析仪(2014款）。是本公司推出的国内首创的一种不含放射性同位素的X荧光铝硅分析仪。当本仪器与本公司的钙铁分析仪一起使用时可用同一个样品，与DM2100型X荧光多元素分析仪相比，虽然使用麻烦了一点，但价格不到一半，且由于结构简单可靠性更高了。14．DM5200型χ-γ辐射仪。它是一种环境监测用χ-γ辐射空气吸收剂量率仪，广泛用于建筑材料、进出口商品、运输物品、核医疗、同位素应用的等需要测量放射性剂量率水平的场合。 最近将要推出的主要产品有： 1． DM1262型便携式X荧光测硫仪。具有较低检测限（300s）：3.9ppm。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术。它主要用于现场测量石油及其制品（及其他液体）中S的含量，也能测量煤、碳黑等固体材料中的全硫（S）的含量。它符合标准：GB/T 17040、GB/T 17606、ASTM D4294、ASTM D7212、ISO 20847。2019年12月起销售。2. DM2500型MEDXRF水泥全元素光谱仪。采用双曲面晶体和二次靶相结合的单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术。它主要用于水泥企业测量Na以上所有元素的含量。具有高精度、小型化等特点。它符合国家标准GB/T 176。2019年12月起销售。3. DM2402型便携式MEDXRF微量测硫氯仪。满足国V、国VI对车用汽柴油超低S检测要求，具有超低检测限（300s）：S: 0.5ppm，Cl: 0.3ppm。小巧轻便，仅5kg左右，便于携带，特别适合对燃料油等油品中的硫含量进行现场分析，如对船舶燃料油的硫检测和燃料油流通环节的硫检测。它采用单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术，高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体，高计数率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探测器。它主要用于现场测量石油及其制品（及其他液体）中S、Cl的含量。它符合标准：GB/T 11140、ISO 20884、ASTM D2622、ASTM D4929、ASTM D7039、ASTM D7220、ASTM D7536、ISO 15597。2019年12月起销售。4． DM8117型MWDXRF微量测氯仪。具有超低检测限（300s）：0.2 ppm。它采用单色激发波长色散X射线荧光(MWDXRF)分析技术, 高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体。它主要用于测量石油及其制品（及其他液体）中Cl的含量。它符合标准：ASTM D4929、ASTM D7536、ISO 15597。2020年3月起销售。5． DM2600型便携式MEDXRF重元素光谱仪。它采用多单色激发能量色散X射线荧光(MMEDXRF)分析技术，高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体，高计数率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探测器。它主要用于现场测量土壤、空气、水、食品等中重元素的含量。它符合标准：GB15618、HJ780、ISO 13196、ISO 18227、LS/T 6115、GB5749、HJ829、HJ830、ISO 15597。2020年6月起销售。6． DM8133型MWDXRF微量测硫氯仪。满足国V、国VI对车用汽柴油超低S检测要求，具有超低检测限（300s）：S: 0.33ppm，Cl: 0.2ppm。它采用单色激发波长色散X射线荧光(MWDXRF)分析技术, 高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体。它主要用于测量石油及其制品（及其他液体）中S、Cl的含量。它符合标准：GB/T 11140、ISO 20884、ASTM D2622、ASTM D4929、ASTM D7039、ASTM D7220、ASTM D7536、ISO 15597。2020年7月起销售。 代理品牌及产品有： 上海盛力仪器有限公司生产的：SL201型 半自动压样机，SL301型 样品粉碎机，SL401型 循环水制冷机组，SL501系列 行星式球磨机。 上海宇索实业有限公司生产的：DY511型 全自动多头熔样机，DY501型 电热熔融设备，DY521型 全自动熔样机。
    主营产品： 能散型XRF   石油测硫仪   饮用酒检测仪   在线测厚仪  
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射线波长色散硫分析仪相关的仪器

  • ARL Optim’X波长色散X射线荧光光谱仪 400-803-2776
    仪器简介：传承了波长色散荧光光谱仪产品创新和领导地位的传统，赛默飞世尔科技开发了四款可预校准的分析仪，采用交钥匙工程解决方案以满足燃料和油品中的硫分析、炉渣分析、熟料和水泥分析以及中心实验室中多种材料分析。安装快速、方便，且工厂采用一系列参考样品精心调校该系列仪器，并可以在现场使用用户自己的标样进行最佳化，以提供精确、可靠的解决方案。 对于重、轻燃料及油品中超低硫元素分析，Thermo Scientific ARL OPTIM'X 硫分析仪是一款紧凑、快速、可靠的波长色散荧光光谱仪，并配置了专用固定分析通道。 Thermo Scientific ARL OPTIM'X 水泥分析仪可对水泥工业中原材料及产品中主量和少量氧化物进行可靠的分析。 对于金属工业中样品的常规分析，Thermo Scientific ARL OPTIM'X 炉渣分析仪可以对炉渣中主量和少量氧化物进行精确分析。此外，Thermo Scientific ARL OPTIM'X 可应用与玻璃、陶瓷、耐火材料等产品中主次量氧化物分析；也可应用于食品工业奶粉和谷物中主次量营养成份分析。 Thermo Scientific ARL OPTIM'X Optiquantometer是一款功能强大的仪器，可以分析从F到U多达73种元素，涵盖了导体和非导体材料。它专为中心实验室而设计，能作为湿法化学分析或ICP和AA分析仪的有力补充。 这一精巧的仪器能提供持续稳定的分析性能，且无需冷却水，且其功能强大、界面友好的Thermo Scientific OXSAS操作软件为荧光光谱仪的操作和数据处理提供了强有力的支持。 技术参数：l 分析元素：F~U含量范围：ppm~100% l 端窗型X光管，铍窗厚度75mm，50W的功率激发相当于200W l 光谱室真空恒温控制,晶体有独立的温控系统,确保分析的稳定性和可靠性 l 无需外循环水冷 l 独特的扫描和/或固定道相结合的能力 l 标配1位进样器，可选配13位自动进样器 l 全新的OXSAS分析软件 主要特点：1. 创新的UCCO&trade技术（超短距光学耦合技术） 2. 工业专用分析仪，用于满足冶金、石化、水泥和中心实验室的分析检测需求 3. 可选分析软件包OptiQuant ，在没有标准样品，或者标样样品较少，或者形状不规则时，在很短时间内完成多达73个元素的无标样分析 4. 工厂采用一系列参考样品精心调校该系列仪器，并可以在现场使用用户自己的标样进行最佳化，以提供精确、可靠的解决方案 5. 超薄窗X射线管，具有理想的分析灵敏度 6. 光谱室和晶体的双重恒温控制系统，保证了仪器杰出的稳定性和重复性，以满足ASTM和ISO规范 7. 扫描和/或固定道相结合的能力,元素范围可从F到U （C元素选加固定道） 8. 仪器能提供持续稳定的分析性能，且无需冷却水 9. Thermo Scientific OXSAS操作软件为荧光光谱仪的操作和数据处理提供了强有力的支持
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    厂商： 赛默飞世尔科技元素分析(Elemental)
    品牌： 赛默飞/Thermo Fisher
    型号： ARL Optim’X
    价格： 面议
  • 布鲁克X射线荧光光谱仪 台式波长色散型S6 JAGUAR 400-632-6288
    ▲S6 JAGUAR2018年6月11日，在德国法兰克福2018国际化学工程、环境保护和生物技术展览会（ACHEMA）上，布鲁克公司宣布推出 S6 JAGUAR，一台功能强大的台式波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）。S6JAGUAR 扩展了布鲁克XRF分析仪器产品线，它结合了大型波长色散X 射线荧光仪的优异分析性能和台式能量色散型X射线荧光光谱仪的简单易用性。400W 大激发功率S6 JAGUAR 采用紧密的WDXRF光路，和高达400W 的激发功率，比其他紧凑型 WDXRF 仪器具有更好的分析灵敏度和更快的测量速度。相对于200W 或 50W 的WDXRF仪器，测量时间能成倍地缩短，测量精密度大幅度提高。高灵敏度的固态探测器 HighSense XETM新的探测器技术：固态探测器适合检测中间元素和重元素计数线性范围高到 2000 kCPS能量分辨率比闪烁计数器提高了1倍，明显降低了高次线和晶体荧光的影响高灵敏度的WDXRF光路紧密的WDXRF 光路包括最多4种尺寸的面罩、最多4种分光晶体、2个高灵敏度探测器，为科研和工业分析提供了强大并灵活的分析功能。S6 JAGUAR 可快速分析氟（F）到镅（Am）之间的多元素，含量范围从 ppm 到 百分之百。另外，S6JAGUAR 使用新软件— SPECTRA.ELEMENTS，以及基于基本参数的无标样定量分析软件 SMART-QUANT WD。通过 AXSCOM 接口，还可以将 S6 JAGUAR 集成到自动化分析系统。
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    厂商： 布鲁克衍射荧光事业部(Bruker AXS)
    品牌： 布鲁克/Bruker
    型号： S6 JAGUAR
    价格： 面议
  • 天瑞仪器顺序式波长色散X荧光光谱仪WDX4000 400-892-9759
    WDX-4000 是江苏天瑞仪器股份有限公司在多年同时式波长色散X射线荧光光谱仪的研发和产品化基础上，在国家重大科学仪器设备开发专项（项目编号：2011YQ170065）资金支持下，融合独有的科技创新和发明，推出的商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪。WDX-4000通过了《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》的测试，能检测元素周期表上从Be-4到U-92的元素，可应用于地质、水泥、钢铁和环保等领域。WDX-4000采用大量通用化的设计，可以提供给客户经济便捷的维护。性能特点:创新的测角仪设计专利保护的创新型钢带传动系统，可以提供稳定、无回程间隙的旋转运动，以保证高精度的角度定位要求；θ/2θ两轴独立运动，并配合伺服电机和圆光栅构成闭环系统；永磁式交流伺服电机提供业界顶级的高速平滑运动；圆光栅测角重复性可达±0.0002度，精度达±0.0006度，足以保证优异的角度测量性能；数字多道分析仪12位，80M/s的模数转换采样率，是业界高分辨率的信号采样系统，保证了信号采集的完整性基于高速FPGA框架以及可靠的数字信号处理算法，4096道分析系统足以从噪声中筛选正确的X射线信号大动态范围测量，有效减少了探测器增益调节次数X射线光管和高压标准的4kW大功率电源系统，支持高灵敏度的痕量检测以及更快的检验速度50um/75um的铍窗厚度保证超高的X射线穿透率，尤其适合低能X射线穿过高压电源电压和电流高可达60kV和160mA，用户可根据实际需要灵活设置电压和电流参数双通道水冷系统，电导率保持在1uS以下，以大限度延长光管工作寿命其他多可支持10块晶体，可根据客户需求提供专门优化的人工多层膜晶体，以提升轻元素的检测能力薄可达0.3um的正比流气计数器窗膜，极大提升了轻元素的光通量其他：光谱室温度控制稳定性在±0.05C以内晶体、准直器和滤光片都采用自动切换控制软件完整而丰富的软件功能32位软件系统，优异的可操作性和人机交互界面成熟的经验系数法配合标准样品提供准确可靠的检测数据基本参数法可提供多样化的分析手段，可进行无标样的半定量和定量分析集成的SQLite数据库用于保存实验数据，方便数据查询和管理技术指标进样系统样品形式：固体样品尺寸：大51.5 mm × 40 mm样品重量：重500g进样系统：双进样系统，标备除尘过滤器和预抽真空系统；一个样品测量的同时给另一个样品预抽真空，互不干扰自动进样机：自动机械手进样系统，多可装168个样品自旋装置：3种自旋速度(低、中、高)X射线光管铍窗：50um/75um超薄铍窗，用以保证X射线的高通过率阳极靶材料：标配铑靶，可选铜靶、钼靶、钨靶，铬靶，铂靶等工作模式：样品进样时保持工作状态不变水冷系统：双路水循环系统，电导率保持在1uS以下高压电源输出方式：1kV和1mA的标准调节单位，通过12位DA进行精细调节长时间稳定性：0.01%/8 hours温度稳定性：50 ppm/C(20 ppm/C可选).数据功率：4kWKV/mA范围：电压20-60KV，电流10-140mA；大电压75kV，大电流160mA可选.测角仪工作模式：创新型钢带传动系统，无摩擦，无回程间隙，带有圆光栅反馈，θ/2θ两轴独立运动大转角速度：6000 2θ/min测角精度：0.006° θ / 2θ测角重复性：0.0002° θ / 2θ步进角度：小 0.0001°，大1°角度扫描范围：流气比例计数器:12° to 150°@2θ闪烁计数器: 0° to 120°@2θ光路准直器面罩：单面罩，(其他尺寸27， 32 or 50mm可选)主准直器：多可装3个: 100， 150， 300， 550， 700 or 4000 um， 可选主滤光片：多4片: Pb，Al，Cu等元素可选晶体：多10个: LiF420，LiF220，LiF200，Ge111，PE002，InSb， TIAP，以及用于轻元素测量的各种人工多层膜晶体.探测器：流气比例计数器 (FPC)， 可配0.3um厚的窗膜闪烁计数器 (SC)光室真空度：15Pa信号处理数字多道分析仪：12位，80M/s采样速度，4096道分析能力，采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信号和噪声分离大计数率：流气比例计数器:2Mcps闪烁计数器: 1.5Mcps脉冲漂移和增益校正：自动时间校正：自动
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    厂商： 江苏天瑞仪器股份有限公司
    品牌： 天瑞仪器/skyray instrument
    型号： WDX4000
    价格： 150万 - 200万元
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射线波长色散硫分析仪相关的资讯

  • 美国XOS公司新一代R系列单波长色散X射线荧光分析仪正式发布
    美国XOS公司正式宣布推出全新一代石化行业R系列单波长色散X射线荧光分析仪，并开始逐步替代原仪器型号。全新一代的单波长色散X荧光分析仪不但保留了原仪器型号引以为傲的技术特点，并针对用户需求，进一步提升仪器性能和操作体验，拓展软件功能，加强存储能力，并简化维护需求，使得维护成本及时间大大降低。新系列产品型号均将采用10英寸彩色触控显示屏，全新软件设计，可存储至少50000条历史记录，及30条校准曲线，可选配自动进样器（传统XRF样品杯和Accucell样品杯），条形码扫码器，及不同类型打印机，并且可实现校准数据及图表的在线打印。图：R系列单波长色散X射线荧光分析仪软件操作乔伊科内费尔Joey Konefal美国XOS公司研发副总裁“我们对界面进行了全面改造，为客户提供更佳的用户体验。通过实验室管理系统（LIMS）扩展连接和更灵活的打印扩展选项使得仪器的数据管理能力得到了显著增强。”“We have overhauled the interface to offer the best user experience for our customers,” “Data management has been significantly enhanced with expanded connectivity through LIMS and more flexible printing options.”Jason Choi美国XOS公司销售副总裁“XOS的客户已经开始期待我们的分析仪器成为该技术的黄金标准，而新一代R系列分析仪正是如此。”。“XOS customers have come to expect the gold standard from our analytical instruments, and the R Series analyzers deliver just that.”截至目前，新一代R系列产品包括如下型号：新一代R系列产品型号仪器名称型号单波长色散X射线荧光总硫分析仪Sindie R2 / Sindie R3单波长色散X射线荧光总氯分析仪Clora / Clora 2XP单波长色散X射线荧光硫氯分析仪Sindie +Cl如需了解更多有关美国XOS新一代R系列单波长色散X射线荧光分析仪的信息，欢迎联系我们。
    时间： 2023-07-05
    作者： 仪真分析仪器
  • 【标准解读】轻质油品中氯含量的测定 单波长色散X射线荧光光谱法
    X射线荧光光谱法是一个非常成熟的检测技术，它的原理是样品在X射线照射下产生元素特征X射线荧光，通过建立标准曲线来确定样品中元素浓度与强度的关系，在相同条件下测量未知样品，就可以得到样品的组成信息。XRF的优点是样品不需要前处理，分析速度快，可实现多元素的同时测量，但也有个缺点就是它的基体干扰严重。XRF在石化行业液体样品中测定方法的汇总NB/SH/T 0977-2019《轻质油品中氯含量的测定 单波长色散X射线荧光光谱法》标准规定了采用单波长色散X射线荧光光谱法（MWDXRF）测定轻质油品中氯含量的方法。本标准适用于汽油、柴油、石脑油、喷气燃料及馏分油等，也可用于测定氧质量分数小于5%的含氧汽油及生物柴油调和燃料。单色X射线激发去掉背景过程，简化基体校正，信噪比夜有所改善。氯含量测定范围为4.2mg/kg~430 mg/kg。另外与本标准中方法相同的标准还有NB/SH/T 0842-2017和NB/SH/T 0993-2019，分别是检测轻质液体燃料中硫的含量和汽油及相关产品中硅的含量。制定背景石油炼制过程中，油品中氯的存在会造成催化剂中毒；加工过程当中，氯的存在可能造成装置腐蚀，压缩机堵塞等；成品油使用过程中，氯的存在会造成储罐腐蚀、发动机磨损等。GB 17930-2016《车用汽油》规定，车用汽油中不得人为加入甲缩醛、苯胺类、卤素以及含磷、含硅等化合物，于是就需要一种快速、准确、灵敏的检测油品中氯含量的方法。现状分析国内外检测氯含量的标准方法方法1-5方法6-9检测样品含氯化合物转化为氯离子直接检测氯元素优点检测限较低无需前处理，操作简单方便缺点前处理复杂，使用大量试剂检测限较高制定过程标准在编制过程中主要参考了标准ASTM D7536-16，但又与有以下区别：1.适用范围从有芳烃类化合物扩大为轻质油品，包括汽油、柴油、石脑油、喷气燃料及馏分油等2.测定范围由0.7 mg/kg ~10.0 mg/kg变成了4.2 mg/kg~430 mg/kg3.按照GB/T 6683 给出了此方法的精密度公式4.增加了元素干扰适用范围参考以下标准，并结合精密度实验确定方法的适用范围。参考标准样品特点ASTM D7536芳烃类样品组成单一、馏分较窄，同时标样与样品的组成基本一致检出限为0.2 mg/kgASTM D7039轻质油品馏分较宽，样品组成相对复杂，杂原子较多，且标样与样品的组成并不完全一致测定下限为3.2mg/kgASTM D5808当氯含量小于5mg/kg时，优先选用库仑法（精密度更高）检测下限为0.5mg/kg采用XOS公司CLORA型号仪器在7个实验室对17个不同的样品（包括石脑油、汽油、馏分油、喷气燃料、柴油以及煤油）进行精密度实验，最终确定了测定范围是4.2 mg/kg -430 mg/kg，再分别对重复性和再现性进行测试，测试结果都在允差范围内。对不同类型的样品进行测定，回收率均在±10%以内；还与微库仑法进行了比对，相对偏差也在±10%以内。标准NB/SH/T 0977-2019主要内容仪器设备：分为MWDXRF、样品盒和样品膜。单波长色散X射线荧光光谱仪，包括 a)X射线源；b)入射光单色器；c) 光路；d) 固定道单色器；e)探测器。另外，样品盒建议一次性使用。要特别注意的是：建立标准曲线和测定样品时应在相同条件下进行。校准过程：建立标准曲线用工作溶液浓度应能涵盖待测试样的浓度，于是需要制定了高含量与低含量两条曲线。 试验过程：1.将试样从样品盒开口端倒入盒中，一般装入量为样品盒的3/4高度处，最小为5mm高度。2.将新的样品膜盖在样品盒开口端，并固定牢固。装好后要确保样品盒中的试样不渗漏，如有任何情况的渗漏均需重新制备样品。3.分析试样和用来建立校准曲线的标准工作溶液应使用相同批次的样品膜和样品盒。测定每一个样品都要使用新的样品膜，样品膜要绷紧，保证膜上没有气泡、褶皱，且保持干净，避免用手接触样品盒内壁、样品膜及仪器的X射线透光窗。4.试样倒入样品盒并用样品膜封好后，在样品盒上开一个小气孔以防止样品挥发造成样品膜弯曲。5.试样装入样品盒后，需立即分析。试样在样品盒中的存放时间越短越好。6.按照建立校准曲线的条件测定试样，得到试样氯荧光强度的总计数。用总计数值除以总计数时间，得到试样的Rs。元素干扰的考察：氧含量超过5%，干扰严重硫含量小于1%，无明显干扰氮含量小于2000mg/kg，没有明显干扰（作者：中国石化石油化工科学研究院 范艳璇工程师）
    时间： 2021-07-12
    作者： 张小鱼
  • 单波长色散XRF在油品分析领域的应用优势及进展
    p style=" text-align: justify text-indent: 2em " X射线自1895年德国物理学家伦琴发现以来，历经100多年的发展，已经广泛应用于化学、医药、金属、材料、地质、考古等科学领域，其无损、快捷、准确等特点也得到了广大用户的认可与青睐。X射线用于检测分析领域最多也是被大家所熟知的是X射线衍射技术，主要用于晶体结构解析、晶粒大小分析、物相定性定量分析等。X射线荧光分析技术(XRF)是X射线衍射技术发展的一个分支，根据光的波粒二象性，又可分为波长色散X射线荧光（WD XRF）和能量色散X射线荧光（ED XRF）。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 单波长色散X射线荧光（MWD XRF）是波长色散X射线荧光（WD XRF）的一种，由于其采用独特的专利技术DCC双曲面弯晶和单波长光路系统，从而达到了更低的信噪比和更优异的检测下限。传统的波长色散XRF的光路示意图见图1，主要由：X射线管、样品室、分光晶体、检测器等主要部件组成，其它部件还有滤光片(位于X光管和样品之间，用于降低背景干扰谱线)、准直器（初级准直器位于样品和分光晶体之间，次级准直器位于分光晶体和检测器之间，目的是获得几近平行的光束，以满足布拉格衍射条件）， 而且光路及检测系统往往需要充惰性气体以便降干扰降到最低，而且由于其采用高功率的X光源，往往还需要外接冷却系统或者电子冷却系统。如果测定单元素的话，由于背景信号较高，需要测定并扣除。 /p p style=" text-align: center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/0db63bb7-78fe-4b27-864f-1bf670936a54.jpg" title=" 1.png" alt=" 1.png" / /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " span style=" text-indent: 2em " 图1 波长色散X射线荧光（WD XRF）光路示意图 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 单波长色散X射线荧光（MWD XRF）是使用单波长光激发的波长色散X射线荧光。第一台采用MWD XRF技术的仪器是Sindie& reg 硫分析仪，最早由美国XOS公司于2003年正式发布。作为MWD XRF技术的核心并且有专利保护的光路示意图请见图2，与图1传统波长色散X射线荧光的光路系统相比，通过两块双曲面弯晶（DCC），无需准直器系统，X光源发射的含有散射的多色X射线通过第一块DCC光学元件将X射线单色化（过滤），按照布拉格定律, 选出特定激发X谱线并且聚焦到被测样品上，第二块DCC光学元件消除散射光，并进一步降低背景，无需扣除背景即可使检测下限达到更低，收集到的X射线具有高信号，低背景比，从而达到更低的检测限、更稳定的分析结果。 /p p style=" text-align: center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 443px height: 225px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/154a772b-77fc-423e-90b0-adae6029600d.jpg" title=" 2.png" alt=" 2.png" width=" 443" height=" 225" / /p p style=" text-align: center " span style=" text-indent: 0em " 图2 单波长色散X射线荧光（MWDXRF）光路示意图 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 由于采用单波长激发并按波长色散原理进行待测元素的特征荧光 X 射线检测，极低的背景带来极低的检出限，将X射线荧光光谱分析的领域由微量(ppm 级)延伸到痕量(亚ppm到 ppb 级)。结合 X 射线荧光光谱分析技术快速、无损的优点， 单波长激发波长色散 X 射线荧光光谱仪在多个领域已经得到广泛的应用。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 21世纪初的前十年，是国内传统大型国有石油化工企业人员改革及结构调整的关键时期，在分析检测人员精简、对生产过程监测与控制的要求越来越高、分析检测任务越来越重的大环境下，市场对自动化程度更高、操作更简单、分析结果更稳定的分析仪器的需求也越来越迫切。第一台单波长色散X射线荧光硫分析仪Sindie& reg 自2003年诞生以来，正好满足了国内市场对高效快捷的低硫含量分析仪的需求，从2007年开始，对XOS Sindie系列台式硫分析仪的需求逐年增加，并于2010年发布了采标自ASTM D7039-07标准的《NB/SH/T 0842-2010 汽油和柴油中硫含量的测定 单波长色散X射线荧光光谱法》，并且伴随着国内车用汽柴油标准中对硫含量的限值越来越低（车用汽柴油中硫含量由国IV标准的≤50ppm降到国V、国VI的≤10ppm），XOS的在线单波长总硫分析仪Sinide Online系列在S-Zorb脱硫工艺和加氢脱硫工艺也得到了广泛应用，近几年随着单波长Clora氯分析仪的普及市场对硅元素分析的需求，于2019年发布了均采用MWD XRF技术的方法标准《NB/SH/T 0977 轻质油品中氯含量的测定 单波长色散X射线荧光光谱法》和《汽油及相关产品中硅含量的测定 单波长色散X射线荧光光谱法》。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 图3是2017年使用MWD XRF方法ASTM D7039（NB/ SH/T 0842）、WD XRF方法ASTM D2622（GB/T 11140）及紫外荧光UVF方法ASTM D5453（SH/T 0689）测定硫含量的统计数据，平均来看，MWDXRF技术拥有更优越的精准度。 /p p style=" text-align: center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 453px height: 276px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/89d460b4-94f7-4a0f-aefd-d212ef25a48a.jpg" title=" 3.png" alt=" 3.png" width=" 453" height=" 276" / /p p style=" text-align: center " span style=" text-align: center text-indent: 0em " 图3 MWDXRF、WDXRF和UVF方法测定硫含量的对比 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 图4是在超低硫含量柴油（ULSD）能力验证项目中，2015-2017年统计的MWD XRF方法ASTM D7039（NB/ SH/T 0842）、WD XRF方法 ASTM D2622（GB/T 11140）及UVF仲裁方法ASTM D5453（SH/T 0689）的分析数据，从中可以看到，MWDXRF技术与紫外荧光法（UVF）拥有相近的精准度。 /p p style=" text-align: center" img style=" width: 465px height: 261px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/0eca0311-c0e4-45d9-8160-e74910d6b241.jpg" title=" 4.png" width=" 465" height=" 261" / /p p style=" text-align: center " span style=" text-indent: 2em " 图4 MWDXRF、WDXRF和UVF测定超低硫的数据对比 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 图5是从2016年秋季到2018年秋季期间使用单波长X射线荧光MWD XRF方法ASTM D7536（NB/SH/T 0977）和传统的库仑法ASTM D5808测定小于1ppm氯含量的对比表。图6是使用单波长XRF方法测定汽油、VGO、石脑油、矿物油超低氯含量的分析数据。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " img style=" width: 385px height: 345px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/74007693-8acb-4fbb-881a-e47721ad8850.jpg" title=" 5.png" width=" 385" height=" 345" / br/ /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " 图5 MWDXRF和库仑法测超低氯含量的数据对比 /p p style=" text-align: center" img style=" " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/847419a5-e4a7-42eb-8724-278bd16372c3.jpg" title=" 6.png" / /p p style=" text-align: center " span style=" text-align: center text-indent: 0em " 图6 MWDXRF测定不同油品中超低氯含量的分析数据 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 图7是单波长X射线荧光测硅含量的方法ASTM D7757（NB/SH/T 0993）的方法曲线和精密度的数据，校准曲线使用最小二乘回归校准方程，线性较好，并易于设置。线性R 值可达0.999 或更好。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " img style=" width: 635px height: 254px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/9fb15fc3-c1b8-4b0d-8f24-72cda3541a5d.jpg" title=" 7.png" width=" 635" height=" 254" / br/ /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " 图7& nbsp MWD XRF测硅的标准曲线和分析汽油样品的重复性、再现性数据 br/ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 通过以上数据情况，可明显看出，单波长色散X射线荧光技术，相对于传统的波长色散X射线荧光技术，除无需外接气源及冷却系统之外，还拥有更好的检测下限、稳定性和再现性，可以作为紫外荧光、库仑法及ICP等传统分析方法的有效补充，而且已经得到了广大油品分析用户的认可与肯定，加上X射线分析技术无损、快捷、操作简单等优异特性，对石油化工企业日益增加的样品分析任务及更加精简的人力物力的现状及发展趋势来说，可以大大提高分析效率，有效及时地满足工艺生产的需要。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " XOS公司是单波长色散技术的发明者，作为拥有该专利技术的唯一厂家，自从2003年第一台单波长色散XRF分析仪-XOS Sindie& reg 诞生至今，不断进行技术革新，在MWD XRF技术发展了近20年的期间，推陈出新，把单波长激发技术用到了极致，推出了性能稳定，检出限低的仪器。陆续有单波长Clora& reg 氯分析仪、Phoebe磷分析仪及Signal硅元素等单元素分析仪及Sindie+Clora、Sindie+Pb等双元素分析仪面世，已经给广大的油品分析客户带来了更加方便、快捷、准确的轻质非金属元素的分析解决方案，并且已经得到ASTM 方法标准委员会和国内石化行业标准的认可（ASTM D7039| NB/SH/T 0842、ASTM D7536| NB/SH/T 0977、ASTM D7757| NB/SH/T 0993）。 XOS的单波长色散XRF产品，均具有专利的单波长光路系统，见下图，可以给客户带来专业、正宗并且严格符合上述方法标准的检测技术。这些产品目前得到超过600家石化相关客户的青睐和信任，美国XOS公司全权委托上海仪真分析仪器有限公司作为其中国区的独家合作伙伴，负责技术推广，产品销售和售后服务。 /p p style=" text-align: center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 578px height: 293px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/869a930b-d014-4e8b-ae7a-59dd62b444f5.jpg" title=" 8.png" alt=" 8.png" width=" 578" height=" 293" / /p p style=" text-indent: 2em " span style=" text-align: justify text-indent: 2em " 单波长色散XRF主要用于测定个别痕量非金属元素的测定，主要在分析人员少、样品分析任务重的单位，比如石油化工企业油品化验室、出入境检验检疫化矿分析室等。目前单波长色散XRF在满足单波长光路系统的基础上，通过在样品之后增加双曲面弯晶及检测器的方法，逐渐向1次可分析双元素（见下图a）以及使用双晶体扣除干扰以达到更低检测限的技术（见下图b），但由于其采用的固定道检测光路，所以在一定程度上也限制了向两种元素以上分析的可能性，除非仪器做的更大、成本更高，从而可能会失去跟传统高功率X射线的竞争优势。 /span /p p br/ /p p style=" text-align: center" img style=" width: 499px height: 232px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/8f0ed5ec-ded7-4a7a-96e1-d194af591eda.jpg" title=" 9.png" width=" 499" height=" 232" / /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " 图a 单波长硫+氯（Sindie+Clora） /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " img style=" width: 493px height: 200px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/0665ccb5-8300-44e3-9cf0-6a66914c7210.jpg" title=" 10.png" width=" 493" height=" 200" / br/ /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " 图b 单波长超低氯（Clora 2XP） /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 对于单波长色散XRF的技术发展，由于单波长色散XRF相对于传统的X射线荧光仪器，更小巧、功率更低，成本最高的还是在于光路系统，光路系统中的DCC双曲面弯晶是核心部件，如何提高其性能、降低其成本是关键，另外还可以增加更加先进、更低成本的自动多位样品系统，以便应对竞争日益激烈的市场环境。未来单波长色散XRF的趋势还是向更低检测限、更好重复性和再现性的方向发展，接近或超越传统的分析方法，比如硫元素的仲裁UVF方法、氯元素的库仑方法及硅元素的ICP-OES方法，并成为仲裁方法。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 214px height: 282px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/b4e2bff5-a53c-4393-bae7-af7646ae4b85.jpg" title=" 11.png" alt=" 11.png" width=" 214" height=" 282" / /p p style=" text-align: center " span style=" text-indent: 0em " （作者：上海仪真分析仪器有限公司 XOS市场开发经理 党相锋） /span /p
    时间： 2020-09-14
    作者： 吴优
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    波长色散X射线荧光光谱仪是我公司总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训,并吸收与参照国际先进技术基础上，深入进行产业化研发形成的高科技产品，各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，例如建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素如S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具，也应用于大专院校和科研单位。●AL-BP-9010A非常适合在大、中、小型水泥厂（单、双窑）做质量过程控制使用。可用于分析原料（如石灰石、沙土、矾土、菱镁矿和其他矿物）中主量和次量氧化物的分析 生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常规元素的测定。●钢铁行业的应用：依据GB/T 223.79-2007测定Si、Mn、P、S、Cu、A、Ni、Cr、Mo、V、Ti、W、Nb元素。●其它行业的应用：石油中的S、P测定，玻璃、陶瓷、有色金属、矿业、地质、化工、质量检验等。水泥行业应用：波谱仪系统主要由样品制备设备（包括振动磨、压片机）、波谱仪主要、计算机系统（主要包括主机、监视器、打印机、键盘、数据通讯接口）等，与其他相关设备配合构成波谱仪生料质量控制系统。波谱仪主要用于生料化学成分的分析，以实现原料配比的在线自动化控制，保证入窑生料率值的标准偏差达到规定指标；同时，X荧光分析仪也可用于各种原料、燃料、熟料、水泥的离线分析。本仪器是同时式波长色散型光谱仪，可装载10个以上（含10个）分析通道用于多元素同时测定，元素分析范围为钠到铀，元素预设范围为水泥10大元素Ca、Fe、Si、Al、Na、Mg、S、K、Cl、P，分析速度小于2分钟。输入电源为单相220/240VAC，并由主机向PC机和打印机供电。
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    虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（WD-XRF）X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，最后得到的波谱或者能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，ED-XRF（波谱）与ED-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。　　（一）原理区别　　X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。　　（二）结构区别　　波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为２～３千瓦。但X-射线管的效率极低，只有１％的电功率转化为X-射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X-射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有如下优点：　　①仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。　　②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。　　③在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱（包括背景）的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。　　④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，见笑了偶然错误判断某元素的可能性。（选自网络，侵删）

  • 波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别

    一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

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