搜索
我要推广仪器
下载APP
首页
选仪器
耗材配件
找厂商
行业应用
新品首发
资讯
社区
资料
网络讲堂
仪课通
仪器直聘
市场调研
当前位置:
仪器信息网
>
行业主题
>
>
射线荧光镀层厚度测量
仪器信息网射线荧光镀层厚度测量专题为您提供2024年最新射线荧光镀层厚度测量价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括射线荧光镀层厚度测量参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的射线荧光镀层厚度测量您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合射线荧光镀层厚度测量相关的耗材配件、试剂标物,还有射线荧光镀层厚度测量相关的最新资讯、资料,以及射线荧光镀层厚度测量相关的解决方案。
射线荧光镀层厚度测量相关的方案
X射线荧光分析仪测量镀层厚度
奥林巴斯VANTA手持式光谱分析仪(HHXRF)的镀层模式能够分析多层镀层材料,基体可以是任何类型的材料,不局限于金属。
EDX分析柔性线路板的镀层厚度
电子电气产品正在往轻量化、小型化、可折叠、便携带等方向发展,例如OLED柔性显示屏技术、可折叠、可穿戴新型电子装备等等。柔性线路板体积小、重量轻、厚度薄,可弯曲的优点,可以满足OLED产品的特点要求,是关键支撑技术之一。柔性线路板上的金属镀层、连接线等的质量,会影响到使用性能。能量色散型X射线荧光分析仪可以检测柔性线路板的金属镀层厚度、镀层构成元素成分,具有分析速度快,分析灵敏度高的优点。
涂镀层厚度及其成分检测解决方案
XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款高性能镀层测厚仪,该产品采用进口定制Fast-SDD探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法,无需标样,可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器,电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
如何使用涂层测厚仪检测机械上涂镀层厚度的实验操作步骤
如何使用涂层测厚仪检测机械上涂镀层厚度的实验操作步骤
QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
通过SFT9500、SEA1200VX对化学Ni镀层中的Pb进行测量
化学Ni镀层在塑料和陶瓷等绝缘体的材料中也能进行镀层处理。除Ni-P之外、也有Ni-B等的镀层,Ni-P镀层使用较为广泛。这个镀层虽然有良好的功能性,但是电镀液的稳定剂里使用了含有Pb等的重金属物质,由于近年来对应RoHS指令,要求了对镀层中的Pb等限制物质进行管理。另外,Ni-P合金的电镀层也要求对P的浓度进行测量。可使用X射线荧光分析仪进行产品管理,所以介绍一下这方面的测量例子。
利用金相显微镜测量微米级膜层厚度
金相显微镜主要用于金属的相结构分析。也可以利用各种平面分析系统进行膜层的厚度测量,并且精度很高,最小误差约为±0.8μm,可作为金属镀层和氧化膜层的仲裁测量。
【天研】磁性涂镀层测厚仪主要功能及作用
磁性涂镀层测厚仪采用磁性测量方法,可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室,也可用于工程现场。它是检测行业的重要仪器。
太赫兹技术测量车身涂层的厚度
检测方法优势:非接触式无损测厚;太赫兹对于非极性材料具有优异穿透性,可以穿透多种涂层,适配多种基底(金属、塑料和复合材料);可测多层厚度;没有电离辐射方案性能优势:快速精确—测厚精度最优1um,单点测量时间0.5-5s全层厚度—专利测厚算法,一次测量得到每一层涂层的厚度,可测层数高达5层精准定位—三角激光定位系统,结合振动补偿软件系统,保证垂直表面的法向误差小于0.2°易于自动化—测量头仅3kg,适合任何传统机械手臂集成大数据分析—专业的大数据分析平台软件,收集生产和制造过程中所有信息,可追溯,输出报告与警报通知操作简单—测量过程无需停止重新校准,有新颜色自动校准系统
【天研】涡流涂镀层测厚仪工作原理及使用方法介绍
涡流涂镀层测厚仪分体N1型探头,检测非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。
钢样品表面镀层的超显微硬度测试
对于一些特殊的镀层,由于镀层本 身厚度较小,若是采用太大的加载力导致压痕太大,则无法准确判断镀层的硬度性能。岛津DUH型动态超显微硬度可以对这类厚度较 小的镀层进行准确的硬度测量。
涂层测厚仪测量涂层厚度步骤
涂层测厚仪是一种用于测量涂层厚度的仪器,广泛应用于金属、塑料、玻璃等表面涂层的测量。
MC方案:薄膜叠层厚度测量
介绍了在电介质和半导体薄膜叠层的情况下测量薄膜厚度的WLRS。所有的测量都是在400-1000nm光谱范围内用fr-basic进行的。反射探头的有效光斑直径为1毫米。样品为Si3N4/SiO2、聚Si/Si3N4/SiO2、PMMA/聚Si/Si3N4/SiO2组成的Si晶圆。在所有测量中,使用高反射镀铝镜(NT01-913-533,Edmund光学)进行参考测量。
非接触式无损测量粘胶剂涂层厚度
如今粘胶剂在实际生产中应用越发广泛,特别是在汽车、手机、通讯基站等国家重点行业。例如,在汽车及其零配件中共有100多种橡胶金属化合物需要通过硫化粘胶剂进行粘接,若粘胶剂涂层过厚会增加干燥时间或出现涂层开裂 若涂层过薄会导致零部件容易脱胶,不能正常工作等情况。显然,无损测量粘胶剂的涂层厚度在生产过程中是关键环节之一。
浪声镀层分析仪在五金行业镀层检测中的应用
镀层工艺被广泛应用于五金制品中,科学技术与现代工业的发展对五金制品质量标准和控制越来越严格,进而对镀层技术发展和质量控制也越来越标准化。不同镀层产品的质量检查的内容因零件和镀层而异,但镀层的外观、厚度、耐蚀性和与基体金属的结合力是所有镀层都必须检查的内容。其中镀层的厚度是镀件品质的最重要保证因素。
镀铝层厚度对镀铝薄膜水蒸气透过率的影响分析
镀铝层厚度对镀铝薄膜的阻隔性具有重要影响。本文通过对镀铝层厚度不同的两种VMBOPP样品水蒸气透过率的测试,研究了镀层厚度对镀铝膜阻湿性能的影响,并介绍了试验原理、设备C330H水蒸气透过率测试系统的参数及适用范围、试验过程等内容,为镀铝薄膜水蒸气透过率的研究及质量监控提供参考。
X射线荧光光谱仪测定浮法玻璃渗锡量
将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中,理想的情况是玻璃经平面成型抛光,从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡,成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大,且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化,形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数,通过波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃,X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息,进而算出较为通俗的厚度计量单位(ug/cm2),适用于玻璃表面的锡层厚度分析,从而达到快速控制生产的目的。
【设备更新】纸张厚度测量仪检测印刷纸的单层厚度
三泉中石生产的纸张厚度测量仪CHY-U适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。本文借助纸张厚度测量仪CHY-U测试纸张的厚度。
铈对化学沉积Co-Ni-B合金镀层结构的影响
研究了稀土Ce对化学镀C0-Ni-B合金层组织结构的影响。采用x-射线衍射仪、电感耦合等离子发射光谱仪、透射电镜和原子力显微镜考察了合金镀层的成分、结构和表面形貌。 只做学术交流,不做其他任何商业用途!版权归原作者所有!
使用配备 UMA 附件的 Cary 5000 测量折射率薄膜厚度
采用配备全能型测量附件包的 Cary 5000 分光光度计测量了两种样品的折射率。其中一个样品为纳米复合涂层:石英基底(可见光范围内透明)上的 Zr-Si-B-(N) 薄膜。第二个样品为单晶硅基底(可见光范围内不透明)上的铌酸锂 LiNbO3 层状结构。计算出了两个样品的折射率,准确度为 ± 0.01。根据所测定的折射率,计算了两个样品的薄膜厚度。
对固化前的粉末涂层厚度进行在线过程控制测量
德国Markdorf J. Wagner技术实验室的测试表明,CoatMaster在线非接触式实时测厚系统非常适合于在线过程控制未固化状态下粉末涂层厚度。该测量是在带有粉末涂料的移动铝型材上进行的。由于 CoatMaster直接安装在粉末涂装室的出口处,因此在涂上涂层后和固化前可立即进行测量。不同的型材悬挂在框架中,并在运输带上以1.8米/分钟的速度移动。一旦有工件经过,触发光栅传感器的信号进行自动测量。
MC方案:汽车透明漆层厚度的测定
透明涂层的厚度均匀性(保护汽车漆层的层),是汽车最终表面质量的关键。因此,厚度测定是汽车喷漆过程中必须监测的一个重要参数。在本应用说明中,使用参数fr工具演示了二手车不同部位透明涂层厚度的测量。
MC方案:钙钛矿薄膜厚度的测量
钙钛矿广泛用于太阳能电池的开发。由于这些类型的太阳能电池具有良好的光伏性能,因此对它们进行了系统的研究。钙钛矿薄膜的厚度和形态是影响太阳能电池性能的重要因素。特别地,人们发现,当钙钛矿的厚度小于400nm时,钙钛矿太阳能电池的效率很大程度上取决于薄膜厚度;而当钙钛矿的厚度大于400nm时,效率则很大程度上取决于钙钛矿层的薄膜形态。在本应用说明中,我们使用FR工具测量钙钛矿薄膜的厚度。
Hitachi EA1400表面金属分析–化学镀镍厚膜与XRF应用
Hitachi EA1400能够为金属涂层的严格质量控制提供可靠的解决方案。X射线荧光(XRF)膜厚分析技术,能够准确地分析材料的元素组成,并同步测量涂层的厚度和成分,可提供高效且精确的解决方案。
使用iEDX150WT应对IPC4554浸锡镀层测试应用方案
IPC发布的IPC-4554印制板浸锡规范(以下简称规范),旨在帮助印制板制造商在PCB生产过程中改进工艺环节,提升产品可靠性。在规范中,IPC详细的描述每种类型的金属镀层表面适合的厚度,包括如何使用XRF分析仪准确测量厚度,且包含应满足XRF分析仪准确测量所需的条件。
钢帘线黄铜镀层物相分析
使用岛津XRD-7000测试了某钢帘线样品,对钢帘线镀层进行了物相解析,并对得到的谱图进行了Rietveld精修,拟合结果良好,Rwp为5.4%,通过精修给出了镀层中各物相的含量。这些结果对于指导钢帘线电镀工艺优化或镀层质量评价有着重要意义。
MC方案:薄和超薄金属薄膜的厚度测量
薄膜厚度对涂层的性能,特别是薄膜和超薄薄膜的性能至关重要。因此,采用非常精确和无损的方法来表征此类薄膜是非常重要的。薄膜厚度的光学测定方法具有非接触、无损、快速、准确、灵敏、重现性好等优点。在本应用说明中,我们使用FR工具测量金属薄膜和超薄薄膜的厚度。
天津兰力科:稀土La 对电沉积Ni2P 电磁屏蔽镀层组织结构的影响
借助等离子发射光谱仪、电子能谱仪、X2射线衍射仪、透射电子显微镜和扫描电子显微镜等分析了稀土La对电沉积Ni2P 合金镀层的化学成分、晶体结构和表面形貌的影响。结果表明:在电沉积镀液中添加少量稀土La ,改变了电极界面双电层结构,使镀层表面更为平整 稀土元素La 进入镀层后,微晶态结构的Ni2P 合金转变成了非晶态结构的Ni2P2La 合金。
MC方案:评估生物分子层厚度
引入WLRS用于测量各层的厚度,评价生物分子固定在固体表面上的有效性及其与相应生物分子的后续反应。特别研究了兔(RgG)和小鼠γ -球蛋白(MgG)的吸附及其与互补抗体的反应。通过配备有0.35nm光学分辨率的VIS-NIR光谱仪和白光卤素灯的FR-Basic进行测量。基板是厚度约为1000nm的热生长SiO2薄膜的硅晶片。
MC方案:精确的非接触式在线PET薄膜厚度测量
FR-inLine是一种在线非接触式测厚仪,用于实时测量透明和半透明的单层或多层薄膜的厚度,以及以片状或带状形式生产的大多数材料的厚度。在本应用说明中,我们演示了使用FR工具在线测量PET薄膜的厚度。
相关专题
帕纳科革命性新品Zetium X射线荧光仪
马尔文帕纳科超级品牌日
聚焦2012年度国家重大科学仪器设备开发专项
锂电检测技术系列专题之成分分析
仪器导购周刊第九期—激光粒度仪
原子荧光光谱仪导购专刊
方兴未艾,XRF新进展
高分子表征技术
图文详解:欧洲“毒鸡蛋”事件风险及相关检测
“荧光蘑菇”引发博弈 谁该反思
厂商最新方案
相关厂商
丹东辽东射线仪器有限公司
丹东奥龙射线仪器集团有限公司
依科视朗(北京)射线设备贸易有限公司上海分公司
苏州三值精密仪器有限公司销售总部
深圳市德谱仪器有限公司无锡分公司
上海科颐维电子科技有限公司
丹东市通广射线仪器有限公司
布鲁克衍射荧光事业部(Bruker AXS)
深圳市锦贤科技有限公司
广州明阳机电有限公司华南
相关资料
X射线荧光分析仪测量镀层厚度
日本精工SFT萤光X射线进行电镀层厚度测量
镀层厚度的X射线衍射法测量
金属镀层.镀层厚度测量.X射线光谱测定法
X射线荧光涂镀层厚度/成份分析仪
X射线荧光镀层厚度及分析解决方案
X射线荧光光谱法测定Zn镀层质量厚度及计算谱线选择问题研究
X射线荧光光谱法测定Zn镀层质量厚度及计算谱线选择问题研究
JBT 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分:镀层厚度分析仪.pdf
用X射线光谱法测量涂层厚度的标准试验方法