数显千分尺薄膜厚度计

我们要测铝板的厚度，但是工程师说要称重法测定比较准确，我们实验室人认为千分尺测量准确。所谓的称重法应用在铝箔是比较好。（比如每个合金型号都有其密度，通过密度算厚度）我们实验室一致认为千分尺准确，可是上面工程师认为称重法准确http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09501.gif

数显内径千分尺里的一个小光栅断了，需要更换配件，各位大神谁有这样的配件可以修的联系我。谢谢!

现有薄膜标准要求不能超过0.008mm，采用千分尺测量精度只能达到0.01mm，还能采用哪种仪器测量呢？

卡尺是全球范围内应用最为广泛的长度测量工具。它们结构简单，使用起来方便快捷，从而特别适合于尺寸的测量。各具特色的测量面和多样化的选择使得卡尺成为人们普遍使用的手持式测量工具。 TESA、ETALON、INTERAPID和ROCH这些著名品牌之所以为人们所公认，正是源自于我们所有的卡尺均具有出众的品质—对精密测量的高质量保证。导轨在尺身上的完美导向既保证了操作的流畅又能够防止测量爪的倾斜。 精调细选的材质、恰到好处的热处理和坚固耐用的设计，使得我们的卡尺在耐磨性和抗腐蚀性等方面具备了与众不同的优势。 对任何测量而言，快速方便地的读出被测值都是极为关键的，因而，除常规的游标卡尺外，我们还提供读数舒适方便的带表卡尺以及更为高级的防错读的数显卡尺。 精确测量需要千分尺，1848年，第一个这样的测量工具是由法国发明家Jean Laurent Palmer发明并获得了专利，被称为“带圆游标尺的螺纹卡尺”。今天，我们仍然利用这一典型特征制造外径千分尺。 千分尺引入机械世界开始于两个美国工程师Joseph R.Brown和Lucian Sharpe在1867年对巴黎展览会的访问。他们的注意力被Palmer的发明所吸引，并非常感兴趣。在对Palmer的设计加以改进之后被大批量的制造，并由这两位合伙人在市场上成功的推广。 当TESA SA决定制造外径千分尺时，他们重复了过去发生的故事，使该产品成为公司的第一个产品。因此无论您所测量的是内尺寸还是外尺寸，所有的TESA和ETALON千分尺在设计和质量上都是世界一流的。 个别情况除外（例如测量齿轮的千分尺），我们的千分尺遵循Abbe原则。千分尺心轴通过现代化磨床加工，螺纹的轮廓精度很高，螺距偏差可忽略不计，加工条件保证了千分尺极低的测量不确定度。源自TESA和ETALON强势品牌的千分尺都非常坚固、美观并符合人体工程学的要求。 除标准或特殊设计的外径千分尺以外，我们也提供微分头、深度千分尺、套装千分尺还有各种各样的配件，以及您进行校准所需要的任何部件。每个型号都可以提供模拟或数字显示的产品。电子测量系列的型号则包括RS232数据传输接口。孔的内部测量比工件外部测量要求更苛刻。不仅要满足测量所要求的严格公差，而且还必须要把那些对测量不确定度有直接影响的测量工具设计成可进入孔内进行检测的结构。三线接触测量的优点TESA IMICRO，[

卡尺是全球范围内应用最为广泛的长度测量工具。它们结构简单，使用起来方便快捷，从而特别适合于尺寸的测量。各具特色的测量面和多样化的选择使得卡尺成为人们普遍使用的手持式测量工具。 TESA、ETALON、INTERAPID和ROCH这些著名品牌之所以为人们所公认，正是源自于我们所有的卡尺均具有出众的品质—对精密测量的高质量保证。导轨在尺身上的完美导向既保证了操作的流畅又能够防止测量爪的倾斜。 精调细选的材质、恰到好处的热处理和坚固耐用的设计，使得我们的卡尺在耐磨性和抗腐蚀性等方面具备了与众不同的优势。 对任何测量而言，快速方便地的读出被测值都是极为关键的，因而，除常规的游标卡尺外，我们还提供读数舒适方便的带表卡尺以及更为高级的防错读的数显卡尺。 精确测量需要千分尺，1848年，第一个这样的测量工具是由法国发明家Jean Laurent Palmer发明并获得了专利，被称为“带圆游标尺的螺纹卡尺”。今天，我们仍然利用这一典型特征制造外径千分尺。 千分尺引入机械世界开始于两个美国工程师Joseph R.Brown和Lucian Sharpe在1867年对巴黎展览会的访问。他们的注意力被Palmer的发明所吸引，并非常感兴趣。在对Palmer的设计加以改进之后被大批量的制造，并由这两位合伙人在市场上成功的推广。 当TESA SA决定制造外径千分尺时，他们重复了过去发生的故事，使该产品成为公司的第一个产品。因此无论您所测量的是内尺寸还是外尺寸，所有的TESA和ETALON千分尺在设计和质量上都是世界一流的。 个别情况除外（例如测量齿轮的千分尺），我们的千分尺遵循Abbe原则。千分尺心轴通过现代化磨床加工，螺纹的轮廓精度很高，螺距偏差可忽略不计，加工条件保证了千分尺极低的测量不确定度。源自TESA和ETALON强势品牌的千分尺都非常坚固、美观并符合人体工程学的要求。[f

用平行平晶检千分尺的平行度，如何计算，请问条纹数如何看？有些条纹是圆形，有些是圆弧形，有些是直线，是否不管条纹形状都算一条? 计算公式为（m+n)r/2，r为所用光源的波长，那光源波长是多少呢，还请各们大神告之，谢谢！！

千分尺就是我们实验室里常见的螺旋测微器，它比游标卡尺更精密，测量长度可以准确到0.01mm。在不用时，我们常常会忘了对千分尺的正确保养，以至于在以后的工作中，千分尺渐渐的失去了精确度。首现，在存放的时候，我们要注意检查零位线是否准确，在测量时需把工件被测量面擦干净，工件较大时应放在V型铁或平板上测量，在拧活动套筒时，需用棘轮装置，不要拧松后盖，以免造成零位线改变，不要在固定套筒和活动套筒间加入普通机油，用后擦净上油，放入专用盒内，置于干燥处。

随着我国科技的发展，很多高科技的技术都已经慢慢的渗透到我们的工作和生活当中。薄膜在线测重仪就是其中一种，大成精密薄膜在线测重仪在制作产线上起到了很大的作用，它能精准的测量产品的重量，精度高达0.8‰。　　在正常生产过程中，每卷膜片要出货时，通常要取样用千分尺测量厚度。合格即可出货，不合格就不可以出货。 在测量膜片取样的同时，也可以对厚度系统进行校验。校验的方法为：http://www.dcprecision.cn/Uploads/201601/56a1a0aa23fb3.jpg 　　生产即将完毕时，手动控制冷轧机走带，将最后几片中即将用于出货取样的膜片停止于极片支撑小辊上；　　用激光测厚仪来回扫描该膜片；　　连续记录6趟扫描的均值，然后计算一个厚度均值；　　在扫描膜片处打上标示，走带，准备出货；　　取下刚才打标示的膜片取样，并用千分尺测量厚度，然后计算一个均值；　　千分尺测量的均值减去用激光测厚仪测量的均值，称为【E-B差值】；　　E-B差值衡量激光测厚仪的准确性，当该差值在某个比较小的范围【范围1】时，说明激光测厚仪准确无误，无须更改。如果该差值处于某个稍大的范围【范围2】时，说明激光测厚仪已经出现漂移，此时需要修改当前品种的标定b值系数，关系如下：　　【修改之后的b值】 = 【之前的b值】 + 【E-B差值】如果差值大于某个较大范围【范围3】时，说明激光测厚仪已经偏离了正常的使用范围，需要重新标定。

我需要购买精度比较高的量具，在选购过程中发现分厘卡和千分尺都有0.01mm的，这两种量具有什么区别吗？

我们想购买电子天平（220g，0.001g）、千分尺（0-25mm，0.001mm，数显，10个），各位大侠知道哪个品牌质量优而价格低吗。谢谢提供!

请问哪位有外径千分尺的行业标准啊，我在下载区没有看到，只有内径千分尺的行业标准，请帮忙

千分尺测量数据精度多少

急找外径千分尺的行业标准或校正标准

单位的千分尺经常有些小故障，像旋紧装置太松或者[font=宋体]拧不动，归零不到位等等。感觉[/font]送专业机构维修不是很必要，想自己找资料学习一下。坛子上有没有人能帮助解决？先谢过啦！找到一篇资料《千分尺修理方法要点》--《中国计量》2008年07期，没有账号下载，请帮忙！

三丰的千分尺，原来以为是没电了，换了电池也没用，一般都因为什么原因？怎么处理？谢谢

根据国标要求薄膜的测厚仪要精确到１um，可是现在用的千分尺之类只能达到１０um数量级，所以想请教大家究竟是用什么东西来测的，这种仪器贵吗，那里可以买到？谢谢

请问有没有千分尺如何调零的详细资料啊？最好有视频的，详细一点好，我有一把千分尺不能复零，不知道如何调回零位。是普通千分尺，没有数字和表的。请各位高手指教！！

我要进行通用量具（如：千分尺）比对工作；或测量审核工作；请问：哪家可以做。如何联系，流程是什么，谢谢！望指教！！！

因测量细漆包线要求的量具精度为1um，所以仪器的分辨率应达到0.1um，即四位小数。求助各位老师推荐万径千分尺或类似量具，多谢！！

我是新手,对X射线衍射仪 不太熟悉.听说用X射线衍射仪也可以测量薄膜厚度,不知道怎么测量?

关于如千分尺维修的内容发表在哪里好啊

请教一下，如果内尺寸千分尺只做校准，按环规送检的实测值来使用，标准环规可以选用4等吗？JJF1411-2013上给的是要3等

摘要: 借助于不同的色散公式， 运用改进的单纯形法拟合分光光度计测得的透过率光谱曲线， 来获得薄膜的光学常数和厚度。用科契公式分别对电子束蒸发的T i O 2和反应磁控溅射的S i3 N 4，以及用德鲁特公式对电子束蒸发制备的I T O薄膜进行了测试， 结果表明测得的光学常数和厚度， 与已知的光学常数以及台阶仪测得的结果具有很好的一致性。这种方法不仅简便， 而且不需要输人任何初始值， 具有全局优化的能力， 对厚度较薄的薄膜也可行。采用不同的色散公式可以获得各种不同薄膜的光学常数和厚度， 这在光学薄膜、 微电子和微光机电系统中具有实际的应用价值。

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=55786]千分尺检定规程[/url]

紫外分光光度计测薄膜的厚度nm级的,仪器是岛津UV3101,配有积分球,软件是老的,现在不能适WIN95以上的,求助有没有更新的软件

我现在需要测量ITO薄膜的厚度，透明的薄膜，大概200纳米左右。用椭偏仪行不行？是不是还需要薄膜的折射率？希望各位大侠指导一下[em61] [em09]

请问各位大侠：硅片的厚度和总厚度变化用千分尺测量外，现在比较主流的测试仪器是什么啊？？谢谢了！

小弟目前正在从事量具内校的工作,急需千分尺检定规程,望回复

请大家帮我分析一下，我想在玻璃或者硅上生长一层或多层金属氧化物薄膜，这些薄膜多数是半透明的，厚度在0.5-2微米之间，我希望能依靠一种光学显微镜对厚度有个大致的测量，然后根据结果改进我的实验参数，这就需要放大倍数在500倍以上，最好能达到1000倍甚至更高，但必须不能使用油镜。我看了江南永新和上海长方的显微镜资料，发现金相显微镜和偏光显微镜似乎对我有用，我对这两种显微镜的用途不甚了解，不知道该买哪一款。请热心的网友们帮我参谋参谋，谢谢了。