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探针探针原子力显微镜

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探针探针原子力显微镜相关的论坛

  • 【分享】关于布鲁克台阶仪探针、原子力显微镜AFM/SPM探针

    提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作常见的探针类型:(1)、导电探针(电学):金刚石镀层针尖,性能比较稳定(2)、压痕探针:金刚石探针针尖(分为套装和非套装的)(3)、氮化硅探针:接触式 (分为普通的和锐化的)(4)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

  • 世界最高水平探针:碳纳米管原子力显微镜探针隆重上市!

    世界最高水平探针:碳纳米管原子力显微镜探针隆重上市!超高分辨率,超长使用寿命!CNT AFM probes CNT probes from us include two series: high resolution and high aspect ratio applications. http://www.appmaterials.com/news.files/cnt%20afm%20probe2.jpg http://www.appmaterials.com/news.files/cnt%20afm%20probe3.jpg Tip features:A carbon nanotube/nanocone of 2 nm radius of curvature right at the apex of regular silicon probe, either tapping or contact mode. Probe with perfect alignment,orientation of CNT is better than ±5º. Tightly controlled CNT length, 0.6µm±200nm, 1.5µm±200nm, 5µm±500nm. Very high resolution (2nm ROC versus 10nm ROC of regular probe). Long lifetime (Months versus hours of regular probe). CNT probes are in stock and ready to ship with highly competitive price.

  • 求购扫描探针-原子力显微镜

    领导要求调查一下扫描探针(原子力)显微镜,打算购买一个,我看了一下,国内外的很多家单位都有产品,这下不知道怎么搞了,也不知道性能上怎么区分啊。我们的要求是首先满足最低要求,能观测三维形貌,测量厚度,其次再考虑其他的功能模块。也就是说满足首先条件,预留其他功能窗口,大家帮忙推荐一下。也可以直接发我的信箱guigxms@163.com,宋。谢谢

  • 【分享】原子力显微镜(AFM)探针

    [color=black][size=3][font=宋体]原子力显微镜的探针主要有以下几种:[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]([/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]1[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体])、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]非接触[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]/[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]轻敲模式针尖以及接触模式探针:最常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用于表面形貌观察。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]([/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]2[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体])、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]导电探针:通过对普通探针镀[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]10-50[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]纳米厚的[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Pt[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体](以及别的提高镀层结合力的金属,如[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Cr[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体],[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Ti[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体],[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Pt[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Ir[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等)得到。导电探针应用于[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]EFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体],[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]KFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体],[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]SCM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等。导电探针分辨率比[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]tapping[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]contact[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]([/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]3[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体])、磁性探针:应用于[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]MFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体],通过在普通[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]tapping[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]contact[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]模式的探针上镀[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Co[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Fe[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]([/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]4[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体])、大长径比探针:大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]9μm[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体];长径比[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]5:1[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体];针尖半径[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]10nm[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]([/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]5[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体])、类金刚石[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]AFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]探针[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]/[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color]

  • 扫描探针显微镜一套

    山东大学从美国维柯公司DI分部购进扫描探针显微镜一套,该设备是属于多功能配套设备。它包含如下功能:①原子力显微镜;②隧道力显微镜;③电力显微镜;④磁力显微镜;⑤摩擦力显微镜。工作模式可分为:接触式,非接触式,敲打式,力调制等。功能之全是国际上一流的。为此,山东大学于2001年9月9日派遣任可、刘宜华、孙大亮三人赴美国圣巴巴拉市维柯公司DI分部接受培训(扫描探针显微镜生产厂家为美国、、、、、、、

  • 8个国家前沿专家齐聚线上——扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛

    [font=&]【扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛】[/font][font=&]8个国家前沿专家齐聚线上[/font][font=&]——第二届SPM纳米科学中国论坛 (NSSC 2020)——[/font][font=&]直播时间:12月10日[/font][font=&]会议形式:线上免费参会,英文[/font][font=&]会议主席:Mario Lanza教授,惠飞博士[/font][font=&]部分报告:[/font][font=&]【1】特邀嘉宾视频专访:导电原子力显微镜发明人专访---Sean Joseph O’Shea(A*STAR, Singapore)[/font][font=&]【2】使用扫描探针显微镜表征纳米电子材料和器件的最新趋势---Günther Benstetter(Deggendorf Institute of Technology, Germany)[/font][font=&]【3】电子原子力显微镜纳米电子学研究---Umberto Celano(IMEC, Belgium)[/font][font=&]【4】具有自优化和精确扫描控制的非接触式原子力显微镜及定量纳米测量---Sangjoon Cho(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【5】电子器件的纳米尺度热成像---Miguel Munoz Rojo(University of Twente, Netherlands)[/font][font=&]【6】 导电原子力显微镜及纳米电子学二维材料和异质结构研究——Filippo Giannazzo(National Research Council of Italy, Italy)[/font][font=&]【7】用于栅极介电可靠性分析的导电原子力显微镜---Alok Ranjan(Singapore University of Technology and Design, Singapore)[/font][font=&]【8】氟化钙:一种优秀的二维电子学高介电介质---Chao Wen(Soochow University, China)[/font][font=&]【9】Park原子力显微镜现场演示:使用KPFM进行表面电势映射的比较研究---Charles Kim(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【10】圆桌论坛---Moderator: Mario Lanza Panelist: Umberto Celano, Filippo Giannazzo, Miguel Munoz Rojo, Sang-joon Cho[/font][font=&]更多关于SPM技术及应用前沿,欢迎线上参会关注![/font][font=&]马上报名:[/font][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs][color=#3333ff]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs[/color][/url]

  • 8个国家前沿专家齐聚线上——扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛

    [font=&]【扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛】[/font][font=&]8个国家前沿专家齐聚线上[/font][font=&]——第二届SPM纳米科学中国论坛 (NSSC 2020)——[/font][font=&]直播时间:12月10日[/font][font=&]会议形式:线上免费参会,英文[/font][font=&]会议主席:Mario Lanza教授,惠飞博士[/font][font=&]部分报告:[/font][font=&]【1】特邀嘉宾视频专访:导电原子力显微镜发明人专访---Sean Joseph O’Shea(A*STAR, Singapore)[/font][font=&]【2】使用扫描探针显微镜表征纳米电子材料和器件的最新趋势---Günther Benstetter(Deggendorf Institute of Technology, Germany)[/font][font=&]【3】电子原子力显微镜纳米电子学研究---Umberto Celano(IMEC, Belgium)[/font][font=&]【4】具有自优化和精确扫描控制的非接触式原子力显微镜及定量纳米测量---Sangjoon Cho(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【5】电子器件的纳米尺度热成像---Miguel Munoz Rojo(University of Twente, Netherlands)[/font][font=&]【6】 导电原子力显微镜及纳米电子学二维材料和异质结构研究——Filippo Giannazzo(National Research Council of Italy, Italy)[/font][font=&]【7】用于栅极介电可靠性分析的导电原子力显微镜---Alok Ranjan(Singapore University of Technology and Design, Singapore)[/font][font=&]【8】氟化钙:一种优秀的二维电子学高介电介质---Chao Wen(Soochow University, China)[/font][font=&]【9】Park原子力显微镜现场演示:使用KPFM进行表面电势映射的比较研究---Charles Kim(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【10】圆桌论坛---Moderator: Mario Lanza Panelist: Umberto Celano, Filippo Giannazzo, Miguel Munoz Rojo, Sang-joon Cho[/font][font=&]更多关于SPM技术及应用前沿,欢迎线上参会关注![/font][font=&]马上报名:[/font][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs][color=#3333ff]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs[/color][/url]

  • 【注意】扫描探针显微镜版讨论范围(发贴有惊喜哦!)

    扫描探针显微镜同其它的显微镜相比,历史比较短,只有20年的时间,大家了解的少一些,这个版也相对冷清了一些,但是发展相当迅速,大有取代SEM的趋势(大胆!^_^)。希望大家多发贴,发贴的内容主要集中在以下方面:1. 扫描隧道显微镜(STM)的构造、原理;2. 原子力显微镜(AFM)的构造、原理;3. 其它扫描探针显微镜,如MFM,EFM,LFM等的结构和原理;4.扫描探针显微镜的各种成像模式:如接触模式,轻敲模式,非接触模式以及相位成像模式等等;5.扫描探针显微镜的各种模式的技巧;6.各类扫描探针显微镜在各个方面的应用:物理,化学,材料,生物等等,包括各种制样技术;7.纳米蚀刻,纳米操纵等等;8.扫描探针显微镜的发展方向。 欢迎补充!欢迎交流![em61] [em61] [em61] [em61] [em61]

  • 8个国家前沿专家齐聚线上——扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛

    [font=&]【扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛】[/font][font=&]8个国家前沿专家齐聚线上[/font][font=&]——第二届SPM纳米科学中国论坛 (NSSC 2020)——[/font][font=&]直播时间:12月10日[/font][font=&]会议形式:线上免费参会,英文[/font][font=&]会议主席:Mario Lanza教授,惠飞博士[/font][font=&]部分报告:[/font][font=&]【1】特邀嘉宾视频专访:导电原子力显微镜发明人专访---Sean Joseph O’Shea(A*STAR, Singapore)[/font][font=&]【2】使用扫描探针显微镜表征纳米电子材料和器件的最新趋势---Günther Benstetter(Deggendorf Institute of Technology, Germany)[/font][font=&]【3】电子原子力显微镜纳米电子学研究---Umberto Celano(IMEC, Belgium)[/font][font=&]【4】具有自优化和精确扫描控制的非接触式原子力显微镜及定量纳米测量---Sangjoon Cho(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【5】电子器件的纳米尺度热成像---Miguel Munoz Rojo(University of Twente, Netherlands)[/font][font=&]【6】 导电原子力显微镜及纳米电子学二维材料和异质结构研究——Filippo Giannazzo(National Research Council of Italy, Italy)[/font][font=&]【7】用于栅极介电可靠性分析的导电原子力显微镜---Alok Ranjan(Singapore University of Technology and Design, Singapore)[/font][font=&]【8】氟化钙:一种优秀的二维电子学高介电介质---Chao Wen(Soochow University, China)[/font][font=&]【9】Park原子力显微镜现场演示:使用KPFM进行表面电势映射的比较研究---Charles Kim(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【10】圆桌论坛---Moderator: Mario Lanza Panelist: Umberto Celano, Filippo Giannazzo, Miguel Munoz Rojo, Sang-joon Cho[/font][font=&]更多关于SPM技术及应用前沿,欢迎线上参会关注![/font][font=&]马上报名:[/font][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs][color=#3333ff]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs[/color][/url]

  • 8个国家前沿专家齐聚线上——扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛

    【扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛】8个国家前沿专家齐聚线上——第二届SPM纳米科学中国论坛 (NSSC 2020)——直播时间:12月10日会议形式:线上免费参会,英文会议主席:Mario Lanza教授,惠飞博士部分报告:【1】特邀嘉宾视频专访:导电原子力显微镜发明人专访---Sean Joseph O’Shea(A*STAR, Singapore)【2】使用扫描探针显微镜表征纳米电子材料和器件的最新趋势---Günther Benstetter(Deggendorf Institute of Technology, Germany)【3】电子原子力显微镜纳米电子学研究---Umberto Celano(IMEC, Belgium)【4】具有自优化和精确扫描控制的非接触式原子力显微镜及定量纳米测量---Sangjoon Cho(Park Systems, Korea)【5】电子器件的纳米尺度热成像---Miguel Munoz Rojo(University of Twente, Netherlands)【6】 导电原子力显微镜及纳米电子学二维材料和异质结构研究——Filippo Giannazzo(National Research Council of Italy, Italy)【7】用于栅极介电可靠性分析的导电原子力显微镜---Alok Ranjan(Singapore University of Technology and Design, Singapore)【8】氟化钙:一种优秀的二维电子学高介电介质---Chao Wen(Soochow University, China)【9】Park原子力显微镜现场演示:使用KPFM进行表面电势映射的比较研究---Charles Kim(Park Systems, Korea)【10】圆桌论坛---Moderator: Mario Lanza Panelist: Umberto Celano, Filippo Giannazzo, Miguel Munoz Rojo, Sang-joon Cho更多关于SPM技术及应用前沿,欢迎线上参会关注!马上报名:[url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs][color=#3333ff]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs[/color][/url]

  • 8个国家前沿专家齐聚线上——扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛

    [font=&]【扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛】[/font][font=&]8个国家前沿专家齐聚线上[/font][font=&]——第二届SPM纳米科学中国论坛 (NSSC 2020)——[/font][font=&]直播时间:12月10日[/font][font=&]会议形式:线上免费参会,英文[/font][font=&]会议主席:Mario Lanza教授,惠飞博士[/font][font=&]部分报告:[/font][font=&]【1】特邀嘉宾视频专访:导电原子力显微镜发明人专访---Sean Joseph O’Shea(A*STAR, Singapore)[/font][font=&]【2】使用扫描探针显微镜表征纳米电子材料和器件的最新趋势---Günther Benstetter(Deggendorf Institute of Technology, Germany)[/font][font=&]【3】电子原子力显微镜纳米电子学研究---Umberto Celano(IMEC, Belgium)[/font][font=&]【4】具有自优化和精确扫描控制的非接触式原子力显微镜及定量纳米测量---Sangjoon Cho(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【5】电子器件的纳米尺度热成像---Miguel Munoz Rojo(University of Twente, Netherlands)[/font][font=&]【6】 导电原子力显微镜及纳米电子学二维材料和异质结构研究——Filippo Giannazzo(National Research Council of Italy, Italy)[/font][font=&]【7】用于栅极介电可靠性分析的导电原子力显微镜---Alok Ranjan(Singapore University of Technology and Design, Singapore)[/font][font=&]【8】氟化钙:一种优秀的二维电子学高介电介质---Chao Wen(Soochow University, China)[/font][font=&]【9】Park原子力显微镜现场演示:使用KPFM进行表面电势映射的比较研究---Charles Kim(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【10】圆桌论坛---Moderator: Mario Lanza Panelist: Umberto Celano, Filippo Giannazzo, Miguel Munoz Rojo, Sang-joon Cho[/font][font=&]更多关于SPM技术及应用前沿,欢迎线上参会关注![/font][font=&]马上报名:[/font][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs][color=#3333ff]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs[/color][/url]

  • 【分享】AFM探针分类及各探针优缺点

    AFM探针分类及各探针优缺点   AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。   利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜,如AFM(范德法力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。   原子力显微镜的探针主要有以下几种:   (1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:最常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。   (2)、 导电探针:通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Cr,Ti,Pt和Ir等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。   (3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。   (4)、大长径比探针:大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm;长径比5:1;针尖半径 10 nm。   (5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。   还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针

  • 欢迎unht担任显微镜-扫描探针显微镜SPM/AFM版主

    欢迎unht担任显微镜-扫描探针显微镜SPM/AFM版主!我们希望有更多的热心用户能加入到版主队伍中来,也希望在职的版主能在版面中发现有能力的热心用户推荐给我们。论坛正在招募版主,有兴趣的用户请参见这个帖子:http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20071101/1042199/

  • 【求助】【扫描探针显微镜SPM/AFM】 诚征版主加盟

    仪器论坛材料表征版区自设立以来,在各位版主以及板油的默默支持下,版面逐渐繁荣以及专业。为了提高扫描探针显微镜SPM/AFM版的活跃讨论气氛,提高技术帖子的质量,为了更好的为版友服务,欲招聘版主多名,具体要求如下:招聘条件:1.熟悉扫描探针显微镜SPM/AFM方面的理论知识和实际操作;2.能带动板油发些扫描探针显微镜SPM/AFM等方面内容的话题讨论、活动等的帖子3.业余时间较多,方便上网,能够及时的解答版友的提问,处理版务;4.工作热情积极。版主福利:1.版主每个月都有工资,以积分声望的方式发放;http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20090515/1891006/2.版主可以拥有参加每年论坛年会的机会;http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20070719/914329/3.版主可以参加论坛不定期组织的版主聚会;4.版主可以拥有进入版主资源共享FTP中下载和分享各种资料;5.版主可以参加优秀版主的评选。自2011年开始,每4个月进行一次优秀版主评选,一年评3次,我们对优秀版主进行现金奖励。http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20110212/3122148/6. 版主可以免费或优惠的参加仪器信息网举办的线下活动和培训班只要你有时间,有精力,能活跃本版,均可在此跟帖,我们将有积分奖励,也可以直接与我站内短信联系。申请版主的要求:1、申请人必须是非仪器厂商的工作人员;(硬性要求,如果您是仪器公司的工作人员可申请版面专家哦)2、对本版面有浓厚的兴趣,自愿、义务、积极、负责地为版友服务;3、具有较充足的上网时间,具备一定的相关专业技术水平和专业知识;4、申请版主必须是本网的认证VIP会员(如果您还不是认证VIP会员,可申请认证即可)。版主的职责:1、主要负责对本版版面的日常事务管理和维护工作;2、帮助和积极引导板油,使论坛向着深度专业化的技术讨论方向发展; 【版面现有管理团队】版面版主:unht版面专家:hitttr

  • 使用过扫描探针显微镜SPM/AFM的版友,请进此贴获取积分!---长期有效

    此贴最主要的目的是聚集有扫描探针显微镜SPM/AFM使用经验的版友,方便大家的讨论,其次才是显微镜的统计。人多力量大,有关扫描探针显微镜SPM/AFM的问题也好知道向哪些战友求助,交流和讨论!格式如下:编号:(1)显微镜型号:(2)主要用途:(3)你的经验感受:多少写两句http://assets.dxycdn.com/third-party/xheditor/xheditor_emot/default/tongue.gif(4)相关资料(5)其他加分说明:(1)完成1.2项的,加2分;注意一定要加编号,重复的仪器不加分!(2)如果能提供经验感受的,即第3点,则至少再追加5分;每个战友得分最多10分。(3)相关资料的内容:在我看来就是战友觉得有用的,而且与描探针显微镜SPM/AFM有关的,比如使用方法,技巧等。 (4)哈哈,想想就兴奋,有那么多的战友用过描探针显微镜SPM/AFM,如果有问题需要讨论的话,岂不是很热闹,问题解决会更快了。呵呵,还是那句话,我为人人,人人为我,人多力量大,三个臭皮匠赛过诸葛亮! (5)本贴的最主要的目的是聚集有描探针显微镜SPM/AFM使用经验的战友,方便大家的讨论,其次才是显微镜的统计。 (6)如果您的经验整理成文可以参加第四届原创大赛哦~~参赛即可有礼品哦……

  • 请unht领取原创作品《Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用》的奖励!

    作品链接:Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用unht让我们见识了又一窥探微观的工具——扫描探针显微镜(原子力显微镜),并利用flatten这一后期处理技术,最大程度地还原样品的真实情况。喜欢它就投它一票!http://simg.instrument.com.cn/bbs/081223/images/vote_topic.gif第六届原创大赛7月电镜版区投票帖预祝获奖!unht,这168积分就是你的啦!

  • AFM在接触模式下探针的选择问题

    大家好,我是新手,最近在准备实验的过程中遇到了一些问题,在网上一直找不到答案,特向各位请教。 最近在做一个测量弹性系数的实验,需要用到原子力显微镜的接触模式,同时对探针的弹性系数要求比较大,约为1~5N/m。接触式探针的弹性系数一般小于1N/m,不能满足实验要求,请问弹性系数较大的轻敲式探针可以用于AFM的接触模式吗? 另外,厂家提供的探针弹性系数为一个范围值,需要怎样测定探针的准确弹性系数,可以用共振法测得共振频率,再结合探针的外形尺寸来测得弹性系数吗?

  • 哈工大专家发现高效去除AFM探针表面污染物新方法

    美国材料研究学会(MRS)官方网站日前在“材料研究当前新闻”栏目中,以《光栅刷子能清洁原子力显微镜的探针针尖》为题,报道了哈尔滨工业大学化工学院催化科学与工程系教授甘阳与墨尔本大学教授弗兰克斯合作发表在国际学术期刊《超显微术》(Ultramicroscopy)上的原创性研究成果。  该报道称:“清洁原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)针尖是AFM可靠成像和力测量的关键。研究者现在发现,具有超尖刺突的标定光栅作为‘刷子’,可用来机械清除AFM探针上的污染物,这是通过把探针在加大力的恒力模式下扫描刺突来实现。这一方法不但能用来无损、高效地去除有机和无机污染物,而且可实现污染物去除和探针研究的一步完成。此外,该方法既可用来清洁胶体/颗粒探针,也可以用来清洁标准AFM针尖。”  甘阳认为,作为一种新型的表面污染物“定点”清除方法,该方法的应用远不限于清洁原子力显微镜探针,更有望在广泛的表界面研究、微电子等领域中得到广泛应用。  这篇论文在爱思唯尔(Elsevier)出版社2009年第三季度的“25篇最热门论文”中列《超显微术》的第一位。《超显微术》是Elsevier出版的显微研究领域的国际著名期刊。

  • 【原创】比较下国内扫描探针显微镜

    我想问下大伙,有没有知道上海卓伦的扫描探针显微镜好用还是中科奥纳的扫描探针显微镜好用呢?另大家还有没有人知道国内有没有做得比较成熟的显微镜厂商呢?希望大家踊跃发言。

  • 谁家可以测原子力显微镜探针力常数

    最近做完一组生物力学数据,因为用了好几根针测的,还有不同牌子的,现在各个数据间要对比,因此需要探针的具体力常数,而不是上面标好的,我用的本原spm5500,这个机器貌似不带这功能,谁家可以测,求帮助

  • 欢迎Ins_2afd51b8担任电子显微镜-扫描探针显微镜SPM/AFM版主

    欢迎[url=https://www.instrument.com.cn/bbs/user.asp?username=Ins_2afd51b8]Ins_2afd51b8[/url]担任电子显微镜-扫描探针显微镜SPM/AFM版主!我们希望有更多的热心用户能加入到版主队伍中来,也希望在职的版主能在版面中发现有能力的热心用户推荐给我们。论坛正在招募版主,有兴趣的用户请参见这个帖子:[url=https://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20071101/1042199/]https://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20071101/1042199/[/url]

  • 【讨论】原子力显微镜

    【讨论】原子力显微镜

    原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德?宾宁与斯坦福大学的Calvin Quate于一九八五年所发明的,其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜(SPM)的观测方法。原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)最大的差别在于并非利用电子穿隧效应,而是检测原子之间的接触,原子键合,范德瓦耳斯力或喀希米尔效应等来呈现样品的表面特性。1. 工作原理原子力显微镜的原理示意图: Detector and Feedback Electronics 侦检器及回馈电路; Photodiode 感光二极管; Laser 激光器; Sample Surface 样品表面; Cantilever & Tip 微悬臂及探针; PZT Scanner 压电扫描器 AFM的关键组成部分是一个头上带有一个用来扫描样品表面的尖细探针的微观悬臂。这种悬臂大小在数十至数百微米,通常由硅或者氮化硅构成,其上载有探针,探针之尖端的曲率半径则在纳米量级。当探针被放置到样品表面附近的地方时,悬臂会因为受到探针头和表面的引力而遵从胡克定律弯曲偏移。在不同的情况下,这种被AFM测量到的力可能是机械接触力、范德华力、毛吸力、化学键、静电力、磁力(见磁力显微镜)喀希米尔效应力、溶剂力等等。通常,偏移会由射在微悬臂上的激光束反射至光敏二极管阵列而测量到,较薄之悬臂表面常镀上反光材质( 如铝)以增强其反射。其他方法还包括光学干涉法、电容法和压电效应法。这些探头通常由采用压电效应的变形测量器而制得。通过惠斯登电桥,探头的形变何以被测得,不过这种方法没有激光反射法或干涉法灵敏。 当在恒定高度扫描时,探头很有可能撞到表面的造成损伤。所以通常会通过反馈系统来维持探头与样品片表面的高度恒定。传统上,样品被放在压电管上并可以在z方向上移动以保持与探头之间的恒定距离,在x、y方向上移动来实现扫描。或者采用一种“三脚架”技术,在三个方向上实现扫描。扫描的结果S(x,y)就是样品的表面图。AFM可以在不同模式下运行。这些模式可以被分为接触模式(Contact Mode)、非接触(Non-Contact Mode)、轻敲模式(Tapping Mode)、侧向力(Lateral Force Mode)模式。2. 优点与缺点 相对于扫描电子显微镜,原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像,AFM提供真正的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳,这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三,电子显微镜需要运行在高真空条件下,原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子,甚至活的生物组织。和扫描电子显微镜(SEM)相比,AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢,受探头的影响太大。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812311440_127077_1664664_3.jpg[/img]

  • 【原创大赛】Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用

    【原创大赛】Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用

    首先普及一下扫描探针显微镜的知识:http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09502.gif 原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是20世纪80年代初问世的扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)的一种。1986年,Dr.Binning 因发明扫描探针显微镜而获得诺贝尔物理奖。这种显微镜可以直接观察物质的分子和原子,为进一步探索微观世界提供了理想的工具,对于材料的研制开发,生物分子的表征起到了巨大的作用。进入正题 http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09503.gif Flatten原理:对每条扫描线上没有被MASK的数据根据最小二乘法计算出一个拟合的多项式,然后把这条扫描线上所有的数据点减去此多项式。 用途:用来去除由于扫描管垂直方向的漂移,扫描过程中出现的跳线,扫描管的弧线运动等原因而引起的扫描线之间产生的垂直方向错位。 上面只有文字的描叙有点抽象了http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09512.gif那让我们来看看它神奇的效果吧,有图有真相http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09507.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051727_449680_2224533_3.jpg (Flatten前的图片)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051728_449682_2224533_3.jpg (Flatten前要框住亮点)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051730_449684_2224533_3.jpg (Flatten后)在来看看它3D图的变化http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051731_449686_2224533_3.jpg Flatten前http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051732_449687_2224533_3.jpg Flatten后 很明显Flatten前后的差别,当然有人会问你这样Flatten之后是不是图像变得不真实了呢?那么我们在Flatten时应该注意这些事项: 在做flatten时,一定要把图象中不在同一平面内的特征stopband框起来,然后再进行处理,否则在具有高特征区域的水平线上会处理低的区域;而在具有低特征区域的水平线上会出现高的区域。对图像分析产生的影响:由于flatten去除了扫描线与扫描线之间的垂直方向的offset,它同时也就修改了图象Y方向的信息,所以在分析图象时要注意到这点,比如1. 在做roughness分析时,flatten对结果的影响会很大。2. 在测量台阶高度时,如果扫描方向与台阶垂直,flatten没有什么影响;但是如果扫描方向与台阶平行,用flatten处理图象则会产生很大的影响。以上就是我对Flatten的神奇效果的理解http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/e

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