夏克哈德曼波前分析仪

Thermo Scientific 1064Defender 拉曼分析仪消除化学品鉴定中的不确定性明确的结果，高度的灵活性。Thermo Scientific™ 1064Defender™ 拉曼分析仪为您提供一种灵活的工具，能够满足您所在机构的化学品鉴定需求。1064Defender 拉曼分析仪允许用户根据需求对扫描配置文件和数据库进行定制，为可靠和高效决策提供明确的结果。非接触式瞄准扫描，可保证用户安全- 提高了对海洛因及其他荧光材料的鉴定能力，防止发生接触危害- 筛查模式给出警报、警告或无危险的明确结果，确保用户在鉴定物质时无需猜测即可采取适当的行动灵活性——通过自定义界面——确保您与仪器配合默契- 3 级控制——管理员、操作员和管理人员- 2 种扫描模式可满足高级用户使用——鉴别和筛查模式- 模块化和灵活性——设备具有适应未来需求的能力，可应对不断变化的威胁，保护执法人员和公众安全可靠的监管链- GPS 和数码相机可戳记时间和位置- 唯一用户账户和密码——确保您的数据处于安全的锁定状态- 用户生成元数据- 仪器日志——记录谁在什么时间扫描了什么物质设计引领生活- 可拆卸式充电电池- 通过连接 Wi-Fi 分享数据- 防水等级-IP68 级- 符合 MIL-STD-810H- WebUI 可实现轻松设置一个包含管制物质、稀释剂和前体的综合库- 用户自定义库- 定期更新，确保您可轻松应对新出现的威胁清晰直观的界面鉴别模式• 高级用户的理想之选• 化学品信息• 支持仔细研究分析的功能对未知化学品进行详细分析筛查模式• 所有级别用户适用• 发现警戒物质时通知用户• 无需解释即可确定下一步行动监测是否存在重要的目标化学物质网页界面通过Wi-Fi 和 USB 连接管理您的仪器：• 用户• 设置• 数据库• 数据• 无需下载到 PC 上• 可通过 PC 浏览器访问非接触式瞄准扫描1064Defender 擅长分析荧光物质。1064Defender分析仪可通过抑制背景荧光对常见麻醉药品进行全自动鉴定。鉴定物质时，获取清晰的光谱峰非常重要。一些物质的指纹光谱难以识别。

TruScan分析仪的设计旨在满足制药行业的特定需要，能在有需要的现场直接进行化学品的鉴别检验，从而减少原材料检验的时间和成本。TruScan RM 分析仪是本公司新一代拉曼光谱仪，在速度和易用性上有显著提升，同时设计更为紧凑。 &bull 拉曼光谱&bull 药品、保健品和消费者健康&bull 符合美国食品药品管理局（FDA）相关准则，便于在GMP环境中实施microPHAZIR分析仪是一台小型的手持式近红外（NIR）光谱仪，具备瞄准式扫描功能。该分析仪使用户能迅速筛查和识别药品与保健品原材料、工业化学品以及更多材料。 &bull 近红外光谱&bull microPHAZIR AS&ndash 石棉筛查&bull microPHAZIR GP&ndash 通用近红外光谱仪&bull microPHAZIR PC&ndash 塑料与地毯回收&bull microPHAZIR RX&ndash 制药与消费者健康&bull 简洁的瞄准式扫描设计制药原辅料鉴别 原辅料检验与定性确认是质量控制流程中的关键步骤，其对消费者安全以及生产速度和成本有着巨大影响。随着监管压力的不断增加以及精益生产的大势所趋，采取有效方式进行准确的来料鉴别变得比以往更为紧迫。 使用Thermo Scientific的TruScan和TruScanRM分析仪（基于拉曼光谱）以及microPHAZIR RX （基于近红外光谱）后，药品与保健品制造商可以在收货处进行快速的原材料鉴别，鉴并在数秒内得出结果。非专业技术人员也可轻松地操作，用这些分析仪进行非破坏性分析，并可透过塑料或玻璃容器进行检测，从而实现原辅料快速放行，并投入生产。每台分析仪均支持21CFRpart11、USP 和EP 规范。保健品原材料鉴别 随着消费者日益关注膳食补充剂的质量、效力和标签标示的有效成分，美国食品药品管理局（FDA）已对制造业规范执行了更为严格的控制。因此，全球保健品制造商正在寻求可让他们进行准确的进货原材料检验的技术，以确保成品的质量和效力。 TruScan 和TruScanRM分析仪（基于拉曼光谱）以及microPHAZIR&trade RX （基于近红外光谱）可实现快速、准确的物料确认－通常可在数秒内完成－既轻松又方便。这些极具成本效益的解决方案非常适合用于识别氨基酸、大多数维生素以及在膳食补充剂生产中常用的许多其他原材料。此外，TruScan 和microPHAZIR&trade RX的设计旨在满足现行良好作业规范（cGMP）的严格要求，并符合21CFRPart11规范。包装材料鉴别 尽管不为消费者所关注，但药品包装还是要经过精心设计，为药片、药丸、胶囊等药剂提供保护。除了保护药品不受物性损害、自然化学降解和环境污染外，包装在证明供应链中的温度控制和生产灭菌方面也发挥着重要作用。根据制药产品包装方面的联邦法规，用于暂时或永久储存药品的组件，如泡罩、薄膜、塑料容器或小瓶，在使用前必须由质量控制部进行鉴别（参见21CFRPart211.84）。这与构成药品的原辅料要求是一致的。 我们的手持式拉曼和近红外分析仪可正确鉴别用于生产药品和保健品行业中成品包装的常见聚合物。打假 假冒药品正成为一种致命且在不断增长的全球性问题。迄今打击假冒药品的措施主要是集中在制作难以仿冒的产品包装上。然而，在许多地方，药品并非放在其原始包装中出售的，而且制假者已变得非常擅于模仿，即使是最为复杂的包装。消除市场中假冒药品的一种最有前途的做法就是鉴别药物本身的剂型，以确认其来源。 我们的手持式拉曼和近红外光谱仪可帮助识别和排除危险的假药或劣药，以保障供应链的可靠性，确保病人的安全。

创新点：消除化学品鉴定中的不确定性 明确的结果，高度的灵活性。 Thermo Scientific&trade 1064Defender&trade 手持拉曼分析仪为您提供一种灵活的工具，能够满足您所在机构的化学品鉴定需求。1064Defender 手持拉曼分析仪允许用户根据需求对扫描配置文件和数据库进行定制，为可靠和高效决策提供明确的结果。产品介绍：Thermo Scientific&trade 1064Defender&trade 拉曼分析仪为您提供一种灵活的工具，能够满足您所在机构的化学品鉴定需求。1064Defender 拉曼分析仪允许用户根据需求对扫描配置文件和数据库进行定制，为可靠和高效决策提供明确的结果。

法国Phasics公司波前分析仪 公司成立于2003年，从法国科学研究中心LULI实验室分拆出来，技术源于法国国家航天实验室。其独特四波横向剪切干涉技术，克服了夏克-哈特曼技术的限制，具有高分辨率、高动态范围、高稳定性、易使用、零色差等特点。 Phasics公司的波前分析仪结构紧凑，在没有中继光学器件的情况下可对激光进行直接测量：位相、泽尼克/勒让德系数、斯特列尔比、PSF、光斑直径、束腰位置、M2等全方位的激光参数信息。Phasics以客户为中心，关心满足所有需求：其强大的研发团队不断开发创新功能和探索新应用，并根据客户要求定制标准配置。 1、主要应用 激光 自适应光学及等离子体检测 光学元件及光学系统计量 微观材料检测 2、技术参数型号波段口径空间分辨率相位分辨率取样分辨率绝对精度采样速率实时处理速率SID4-UV-HR190-400nm13.8×10.88mm38.88um1nmRMS355x28010nmRMS30fps＞3fpsSID4-UV250-400nm7.4×7.4mm29.6um2nmRMS250x25010nmRMS30fps＞2fpsSID4-sC8400-1050nm16.61×14.04mm19.5um＜1nmRMS852x720NA40fps10fpsSID4-Bio400-1100nm11.84×8.88mm取决显微镜放大倍率＜1nmRMS400x300NANANAfpsSID4-HR400-1100nm11.84×8.88mm29.6um2nmRMS400x30015nmRMS10fps3fpsSID4400-1100nm4.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS40fps＞10fpsSID4-UHR400-1100nm15.16×15.16mm29.6um（可拓展至22.2um）2nmRMS512x512 (可拓展至666x666）15nmRMS8fps1fpsSID4-V400-11004.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS60fps＞10fpsSID4-SWIR900-1700nm9.6×7.68mm120um＜2nmRMS80x6415nmRMS30fps7fpsSID4-eSWIR900-2350nm9.6×7.68mm120um＜6nmRMS80x64＜40nmRMSNA10fpsSID4-SWIR-HR900-1700nm9.6×7.68mm60um2nmRMS160x12815nmRMS30fps7fpsSID4-DWIR3-5um 8-14um10.88×8.16mm68um25nmRMS160x12075nmRMS50fps＞10fpsSID4-LWIR8-14um16×12mm100um25nmRMS160x12075nmRMS24fps10fps3、Phasics还可以基于现有的波前分析仪根据客户要求定制各种测量系统。1）多色动态干涉仪Kaleo MultiWAVE主要特点：最高可以集成8个波长波长可以覆盖紫外到中远红外透射波前误差和反射波前误差均可测量纳米级相位分辨率＞500条纹数超高的动态范围 最高130mm的有效口径RMS重复精度＜0.7nm(＜λ/900)精度80nm PV动态范围500条纹数可测反射率范围4%-100%光学结构双通道波长数量1-2，最高至8波长范围193-14um有效口径130mm视场角对准±2°可调对角范围±2.5m2）全自动镜头质量检测工作站Kaleo MTF主要特点：同轴（＜1%）和离轴（＜2%）MTF精确测量大视场角测量（广角镜头、鱼眼… … ）汽车/移动物镜的轻松镜头定位适应生产环境全自动测量，一次采集可以得到完整的测试参数共轴OPD精度＜20nmRMS共轴重复精度＜0.5%离轴重复精度＜1%MTF最大截止频率1000lp/mmEFL重复精度0.5%共轴OPD重复精度＜5nmRMS光学设置有限到无限配置波长405-940nm,最高8波长入射直径最高8.8mmf#＞1.7焦距5-40mm法兰焦距8-33mmFOV可至±90°主射线角可至50°更多信息，请与我们联系！

PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器关键词：分析仪，PHASICS波前分析仪，波前传感器，波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简单等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！PHASICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。图1 波前校正前与校正后对比 PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。 第一部 产品介绍 SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测等）。特点：u 高分辨率（250x250）u 通光孔径大（8.0mmx8.0mm）u 覆盖紫外光谱u 灵敏度高（0.5um）u 优化信噪比 图2 SID4-UV波前分析仪 SID4 波前传感器可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布，波前像差，激光的M2，泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。特点：? 波长范围：400-1100nm? 分辨率高（160x120） ? 消色差 ? 测量稳定性高 ? 对震动不敏感 ? 操作简单 ? 结构紧凑，体积小 ? 可用笔记本电脑控制 图3 SID4位相检测 SID4-HR 波前相差仪可用于检测各种透镜，光学系统的检测，可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像：传函仪、干涉仪，具有操作简便，测量精度高，参数输出方便等优点，正在被越来越多的客户推崇。特点：u 波长范围：400-1100nmu 高性能的相机，信噪比高u 实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）u 曝光时间极短,保证动态物体测量u 操作简单 图4 SID4-HR图5 SID4-HR传递函数检测 SID4 NIR 波前分析仪主要针对1550 nm（1.5um-1.6um）激光的检测，具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。特点：2 高分辨率（160x120） 2 快速测量 2 性价比高 2 绝对测量 2 对振动不敏感 图6 SID4 NIR激光波前检测 SID4 DWIR 波前仪具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um 和8-14um的波前位相，强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。特点：u 光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。 u 光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等u 高分辨率（96x72） u 可实现绝对测量u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量，无需额外中转透镜 u 快速测量 对振动不敏感 u 可实现离轴测量 u 性价比高 图7 SID4 DWIR SID4产品型号参数汇总型号SID4SID4-HRSID4 UV-HRSID4 NIRSID4 DWIRSID4-SWIR孔径尺寸（mm2）3.6 x4.88.9 x11.88.0 x8.03.6x4.813.44x10.089.6x7.68空间分辨率(um)29.629.63229.6140120测量点数160x120300x400250x250160x12096x7280X64波长范围350-1100 nm350-1100 nm190-400 nm1.5-1.6μm3-5μm 8-14μm0.9- 1.7μm精准度10nm RMS10nm RMS10nm RMS15nm RMS75nm RMS10nm RMS动态范围100μm500μm200um100μm/~100μm采样速度60 fps10 fps30 fps60 fps50 fps60fps处理速度10fps3 fps1fps10fps20 Hz10Hz 第二部 SID4波前分析仪控制软件 SID4波前分析仪控制软件SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图，测量光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用，选配合适的可变形镜或相位调制器，提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠，高精度的解决方案。图8 SID4控制界面SID4光学测量软件KaleoPhasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合，可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟，我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系数，曲率半径，PSF等。 第三部 SID4波前分析仪与传统哈特曼波前分析仪比较 与传统哈特曼波前传感器测量结果对比： 技术参数对比：PHASICSShack-Hartmann区别技术剪切干涉微透镜阵列PHASICS投放市场时，已经申请技术专利，是对夏克-哈特曼技术的升级重建方式傅里叶变换分区或模式法夏克-哈特曼波前探测器，局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似，误差大强度对强度变化不敏感对强度变化灵敏PHASICS测量精度高，波前测量不依赖于强度水平校准用针孔校准、方便快捷安装困难，需要精密的调节台PHASICS使用方便取样点SID4-HR达300X400测量点128X128测量点（多个微透镜）PHASICS具有更高的分辨率数值孔径NA：0.5NA：0.1PHASICS动态范围更高分辨率29.6μm115μmPHASICS具有更高的空间分辨率测量精度2nm RMS5nm RMSPHASICS更好的测量精度获取频率60fps30fpsPHASICS获取速度快处理频率10Hz30HzPHASICS可满足大部分处理要求消色差无需对每个波长进行校准需要在每个波长处校正PHASICS更灵活，可以测试宽波段，而不需要校准 第四部 应用领域 ? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域OKO 可变形镜数字波前分析仪XY系列向列液晶空间光调制器XY系列铁电液晶空间光调制器

法国Phasics推出真空环境兼容波前分析仪SID4-V 为满足广大客户在真空环境中对激光光束质量，气流，等离子体密度测量分析，以及光学系统装配的需求。法国phasics推出了新型高精度波前分析仪sid4-v，是目前市场上仅有一款可应用于真空度在10-6 mbar环境中的波前分析仪，广泛应用于高功率激光测试中。产品特点：可适用于＞10-6mbar真空环境高分辨率160×120相位像素光谱范围从400 nm到1100 nm可测量发散光束热和机械真空不改变测试结果真空循环下无任何性能下降真空和常压下均可使用 产品参数：真空相容性10-6mbar波长范围400 - 1100 nm通光孔径3.6 x 4.8 mm2空间分辨率29.6 μm采样点（相位/强度）160 x 120 ( 19 000 points)相位相对灵敏度 2 nm rms相位精度10 nm rms动态范围 100 μm采样频率 100 fps实时分析频率 10 fps (full resolution)数据接口giga ethernet尺寸(w x h x l)54 x 46 x 75.3 mm重量~250 g关于phasics：法国phasics公司自主研发的波前传感器是基于其专利的四波横向剪切干涉技术。相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析等提供了全新的解决方案。 法国phasics波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统oa-sys，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求。波前分析仪主要应用领域：1. 激光光束参数测量：相位（2d/3d），m2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数2. 自适应光学：焦斑优化，光束整形3. 元器件表面质量分析：表面质量（rms，ptv，wfe），曲率半径4. 光学系统质量分析：mtf, psf, efl, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制5. 热成像分析，等离子体特征分析6. 生物应用：蛋白质等组织定量相位成像SID4 V VacuumPhasics is innovating by proposing the first off-the-shelf vacuum compatible wavefront sensor on the market. The SID4 Vis designed to perform wavefront measurements under high vacuum. the wavefront measurement is realized in-situ in the same condition as the experiment. Our new SID4 V vacuum wavefront sensor is also used to characterize laser beams after compression inside the compressor vessel. Finally, gas jet and plasma density are now measured as close to the target as possible.BENEFITS: With Phasics’s unique strategy it’s now possible to correct the aberrations of every single optical element up to the target location inside the vacuum chamber.Key FeaturesVACUUM COMPATIBLE & HIGH RESOLUTION | DESIGNED FOR VACUUM DOWN TO 10-6 mbarVacuum compatibility 10-6 mbarHigh resolution 160 x 120 phase pixelsSpectral range from 400 nm to 1100 nmDiverging beam compatibleInvariant to thermal and mechanical vacuum constraintsTolerates vacuum-cycles without any performance decreaseBoth functional under vacuum and atmospheric pressureLow outgassing SpecificationsVacuum compatibility 10-6 mbarWavelength range400 - 1100 nmAperture dimension4.73 x 3.55 mm2maximum NA (optional software necessary)0.2Spatial resolution29.6 μmPhase & intensity sampling160 x 120Accuracy15 nm RMSResolution (Phase)2 nm RMSAcquisition rate60 fpsReal-time processing frequency7 Hz (full resolution)InterfaceGiga EthernetMTBF 10 yearsDimensions (w x h x l)54 x 46 x 75.3 mmWeight~ 250 g SID4 Density softwareIntroductionSID4 DENSITY software package supports the whole process to measure gas and plasma electron density. It calculates density maps from phase acquisition. It also offers various options for acquisition and data analysis.SpecificationsWORKING CONDITIONSApplicationAny axisymmetric monoatomic gas jet/plasma for inverse-Abel transform analysisProbe sourceWhite light (halogen), LED, laser or fs-laserPressureFrom 2 to 300 barsPlasma lengthDepends on the imaging system (typically 2 mm long and diameter of 0.2 mm)SOFTWAREAcquisitionReal Time, programmed, triggerSettingsWavelength, magnification, jet direction, gas typeAnalysisDensity map & profiles, Symmetrization, filtersPerformances such as the spatial resolution or the density resolution entirely depend on both the optical set-up (imaging system, probe source) and the injected gas (molar refractivity). Please contact us for an estimation of specifications for your set-up. As an example, for an laser produced plasma using an Argon gas jet at working pressure between 2 and 300 bars, the lowest measured Argon density in a single shot is: 1017 particles/cm3 with a nozzle of 1.5 mm diameter.

Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR【Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要特点160 × 120 高相位取样分辨率1550 nm 高性价比解决方案体积轻小便于光学系统内集成二、SID4-NIR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。 三、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR应用领域激光 |自适应光学及等离子体检测 |光学计量及光学系统对准四、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要规格波长范围1.5-1.6 μm靶面尺寸4.73 x 3.55 mm2空间分辨率29.6 μm取样分辨率160 x 120相位分辨率 11 nm RMS绝对精度15 nm RMS取样速度 60 fps实时处理速度 10 fps (全分辨率下)*接口种类FireWire IEEE1394B五、更多参数选型

意大利SpotOptics夏克-哈特曼波前传感器Spot Optics 夏克-哈特曼波前传感器可覆盖超宽光谱多波长，包括紫外（157nm-400nm）、可见近红外（400-1064nm）、短波红外（900-1700nm）、中波红外（2-5.4μm）和长波红外（8-14μm）。测量时不受口径限制（如果扩束系统受限，用准直物镜确保与传感器NA匹配）；实现轴上和轴外波前测量，甚至扫描全视场，以及多视场同时测量；可测量多种出瞳形状：圆形、椭圆形、带中心遮拦（中心孔）、六边形等；提供Single Pass、Double Pass两种测量光路来已满足不同应用要求；IOPTINO系列波前传感器+电子自准直仪双通道，结构紧凑，尺寸仅150x100x50mm, 重量400g；电子自准直仪可用于光路调试。Spotoptics波前传感器中的微透镜阵列可自行更换，以满足不同波长的测量需求。 Spotoptics OMI系列波前传感器灵活多变用于研发、还有Optino、OPAL300、5 Stars、STELLA系列等波前测量系统应用于快速量产； 应用范围激光方面：可进行激光光束波前及光束质量分析，mW～MW，支持10.6um CO2激光；可替代光束质量分析仪使用，获得比光束质量分析仪更完整的激光波前信息；天文望远镜：用于大型天文望远镜共位相误差测量，自带主动温度补偿；美国6.5米毫米波望远镜使用puntino测量波前；高速测量：实时显示测量结果，较高速波前采集频率达到8000 Hz，可应用于分析ms级响应的液体镜头；还可进行变温下FFL变化量测试；变温下MTF测量；其他应用：用于主动光学系统、自适应光学系统；光学元件均匀性测量，非球面等；非破坏性光学元件折射率测量，非球面测量等。 对比试验数据（测试波长：632.8 nm）：

Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR产品负责人：姓名：沈工(Max)电话：（微信同号）邮箱：【Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR简介】 随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics高分辨率紫外波前传感器/ 波前分析仪SID4-UV-HR主要特点 低至190nm波长感光灵敏1 nm RMS高相位灵敏度355 x 280超高相位取样分辨率二、SID4-UV-HR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，SID4-UV非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。 三、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR应用领域紫外光学测量| 光刻或半导体应用紫外激光表征| 透镜和晶圆的表面面型检测| 自适应光学四、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR主要规格波长范围190 - 400 nm靶面尺寸13.8 x 10.88 mm2空间分辨率38.88 μm取样分辨率355 x 280相位分辨率1 nm RMS绝对精度10 nm RMS取样速度30 fps实时处理速度 3 fps (全分辨率下)*接口种类CameraLink五、更多参数选型

哈特曼波前测试仪 　　WFS150系列Shack-Hartmann波前测试仪，提供了精确、快速的波前测量和光束的强度分布。该仪器是通过分析经微透镜阵列成像于CCD的光斑场的位置和强度进行测量的。使用Thorlabs提供的Shack-Hartmann波前测试仪，可以动态的优化激光波前、测量光学元件波前差，为自适应光学控制提供实时的反馈。 　　Shack-Hartmann波前测试仪由前端带微透镜阵列的高精度的USB2.0（1.3M 像素）CCD相机和软件包组成。全功能的控制和分析软件具有良好的用户界面，菜单包括相机设置、标定、分析和显示项等。CCD相机SM1螺口可方便固定ND滤光片以防CCD像素饱和，及透镜套管以减少散射光，并可用于其他元件的固定。 WFS150系列特点： 实时照射和相位测量 CW或脉冲光源 CCD相机指标： 型号：DCU224M 分辨率：1280× 1024 快门速度：83-1460ms 最大帧率：15帧/秒 尺寸：34× 32× 48.3mm 接口：USB2.0 软件特点： 计算参量 照射和相位分布 模式或区域的重建波前 波前RMS 斜度、聚焦、像散，慧差、球差及高阶像差等Zernike和傅立叶表示 显示/输出： 初始点场成像 强度分布 重建3D波前 表列高度输出 微透镜阵列特征 型号 微透镜阵列有效焦距 特点 WPS150 MLA150-7AR .7mm AR膜（400-900nm） WPS150C MLA150-5C 5.2mm 铬掩模（200-1100nm） 　　Thorlabs提供两种型号的Shack-Hartmann波前分析仪。WPS150，带400-900nm增透膜微透镜阵列，适合对反射敏感的应用领域。WPS150C，由铬掩模微透镜阵列组成，阻止透镜间光传输，具有很宽的光谱范围（200-1100nm），但表现出较强的光反射。

美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2DTM系列波前分析仪（CLAS-2D™ , CLAS-XP™ , CLAS-HP™ , CLAS- NearIR-320™ , CLAS-NearIR-640™ ）能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数，例如波前倾斜，峰谷误差，均方根波前误差，像散，球差，聚焦误差/准直。LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪，光束质量分析仪，自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用独特的算法能够精确测量三个波段的波前参数：300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。另外, 美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。波前分析仪产品特点：CLAS-2DTM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。波前分析仪应用范围：? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域 CLAS-2DTM产品型号汇总 COMPLETE CLAS-XP System型号81000-0081000-4681000-4781000-4881000-4981000-50焦距（mm）2.02.0474.758.1915.4825.08灵敏度λ/30λ/30λ/50λ/100λ/150λ/200动态范围120λ120λ80λ60λ40λ30λ透镜尺寸（mm）0.0720.0720.1080.1440.1980.252透镜阵列102*102102*10268*6851*5137*3729*29 COMPLETE CLAS-HP System型号81000-2081000-2181000-2381000-24焦距（mm）4.987.7819.9229.62灵敏度λ/100λ/150λ/200λ/250动态范围211λ169λ105λ115λ透镜尺寸（mm）0.1120.1400.2240.280透镜阵列128*128102*10264*6451*51 COMPLETE CLAS-Near IR 320 System型号81000-3281000-3381000-3481000-3581000-3681000-27焦距（mm）25.6936.9911.4417.8725.749.3灵敏度λ/83λ/100λ/46λ/58λ/70λ/50动态范围44λ37λ78λ63λ53λ55λ透镜尺寸（mm）0.4000.4800.3200.4000.4800.225透镜阵列24*1920*1630*2424*1920*1671*56

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

Hartmann - Shack波前传感器/波前分析仪是专用于激光束性能的综合表征，对激光辐射传播行为预测以及光束质量因子M² 的确定，从同时记录强度和相位分布光束质量可以通过菲涅耳-基尔霍夫积分计算沿光束路径的任何位置，特别是焦平面。系统基于微透镜阵列，将入射波分散成大量的次级光波。用相机检测每个独立聚焦点的强度和位置，通过单次测试便能重构光束剖面和波前。 主要功能 光束传播（NIR~EUV） 基于ISO光束参数分析 M² 光束质量因子实时测量 聚焦性能检测 光学测试/Zernike分析主要特点 单次测试可获得所有光束参数 光谱范围: 1100nm~1nm 动态范围：up to 100λ 灵敏度：100pm 多种规格微透镜阵列和相机可选 客户方案定制光束测试软件测试基于ISO标准ParameterStandardBeam diameter光束直径ISO 11146DivergenceISO 11146Beam profile光束剖面ISO 13694Pointing 指向/ pos. Stability位置稳定性ISO 11670M2 质量因子/ Focusability聚焦性ISO 11146Wavefront 波前 / Phase distribution相位分布ISO 15367Coherence 相干-Around 20 various camera types are supported

一, Dynamic Optics 夏克-哈特曼 快速CMOS波前传感器 Dynamic Optics Shack Hartmann 夏克-哈特曼波前传感器使用起来方便灵活快捷。它可以高精度地测量波前畸变。Photon Loop软件可以与任何类型的相机接口，并控制任何类型的变形镜。我们的波前传感器可以在任何光谱范围内进行测量，具有很高的分辨率、精度和帧率。技术参数快速CMOS传感器即插即用的解决方案，具有出色灵敏度这款波前传感器在可见-近红外光谱范围内具有出色的灵敏度、帧率和准确性。它是计量学和可变形镜控制的理想选择。 产品应用精确波前测量快速像差采集闭环自适应光学系统光学元件质量检验关键规格高精度(高达λ/200)快速捕获(最高1 kHz)价格优惠 快速CMOS传感器 描述数据小透镜阵150 um间距，5.2mm焦距(可定制)帧频500fps，100个质心(要求1kHz)传感器尺寸9mm x 7.13mm孔径:9mm触发器外部触发器5V通信USB 3.0变形镜控制控制器比例积分控制器校准影响功能和Hadamard控制闭环和开环编程可通过TCP-IP进行编程与其他变形镜的兼容性Alpao、Adaptica、OKO、BMC、Thorlabs和Dynamic Optics 短波红外（SWIR）光谱范围的理想解决方案这款波前传感器具有出色的灵敏度、帧速率和精度。它是计量和变形镜控制的理想选择。 描述数据小透镜阵150um间距，5.2mm焦距(可定制)帧频600fps(全帧)传感器尺寸640 x 512(15um)沟通USB 3.0或摄像头链接变形镜控制控制器比例积分控制器校准影响功能和Hadamard控制闭环和开环设计可通过TCP-IP进行编程与其他变形镜的兼容性Alpao、Adaptica、OKO、BMC、Thorlabs和Dynamic Optics 二,ISDI 晶圆级CMOS图像传感器ISDI是高性能CMOS图像传感器领域的创新者，提供定制传感器设计和标准产品。产品范围包括专用设计到大批量制造。ISDI成立于2010年，团队由一群在CMOS图像传感器方面拥有丰富知识和经验的半导体设计师组成，他们从科研项目获得了经验。自成立以来，ISDI已从科学传感器的设计师发展为广泛应用的晶圆级成像设备的制造商。数字接口设计可以直接连接到FPGA或ASIC。对于50μm和100μm传感器，开发板可配备相机链、USB或GigEVision连接，用于快速评估传感器性能，这些也可作为成像系统硬件快速原型设计的参考。所有传感器均设计用于X射线环境下的低噪声操作，适用于光纤板（FOP）键合或直接沉积型闪烁体。ISDI 晶圆级CMOS图像传感器,ISDI 晶圆级CMOS图像传感器通用参数CMOS图像传感器: 产品系列多功能、功能丰富的图像传感器，结合了ISDIZhuan利的抗辐射低噪声像素结构。特点:滚动快门曝光可切换高低满井来提高和降低灵敏度芯片上的温度传感器动态可编程感兴趣区域(ROI)有效面积 (h x v) cm分辨率(h x v)最大帧率( fps)数据输出包装尺寸(cm)单芯片ADCRow time ( ROI) µ s低满井Low full well高满井High full well低频焊LFW 高频焊HFWTY-222221.7 x 22.02173 x 220111268 x LVDS27.0 x 21.8 16/14 bit 8.2 360 ke- 3.2 Me- 72.7dB 81.0dBTY-151114.5 x 11.01451 x 110011222 x LVDS14.5 x 13.5TY-141214.0 x 12.01401 x 120011618 x LVDS14.0 x 14.4TY-11077.2 x 11.1721 x 111011212 x LVDS7.2 x 13.5HP-161516.1 x 15.01610 x 15009224 x LVDS16.1 x 17.6 14 bit 7.1 365 ke- 3.0 Me- 70.2dB 73.6dBHP-230123.3 x 0.762331 x 7648044 x LVDS23.5 x 6.1HP-150114.8 x 0.761484 x 7648028 x LVDS15.0 x 6.1IS-313130.9 x 30.73095 x 307366300 x CMOS31.2 x 35.5 14 bit 9.8 410 ke- 2.6 Me- 72.0dB 74.0dBIS-212120.6 x 20.52063 x 204966200 x CMOS20.6 x 25.3IS-151010.3 x 15.31031 x 15366650 x CMOS10.3 x 17.7IS-051010.3 x 5.11031 x 51219850 x CMOS10.3 x 7.4IS-151211.5 x 14.81537 x 198430 (86 @ 2*2 binning)6 x analogue11.5 x 16.3none17 290 ke- 2.8 Me- 70.5dB 74.4dBIS-120711.5 x 6.51537 x 86468 (192 @ 2*2 binning)6 x analogue11.5 x 7.9none17PS-282428.0 x 24.05606 x 48022972 x LVDS28.1 x 28.814 bit14.2 260 ke- 2.0 Me- 69.9dB 73.6dBPS-141214.0 x 12.02802 x 24002918 x LVDS14.1 x 14.414 bit14.2PS-120611.96 x 6.02391 x 12005916 x LVDS12.0 x 8.414 bit14.2PS-06065.4 x 6.01071 x 1200598 x LVDS5.35 x 8.414 bit14.2IS-131313.0 x 13.02600 x 260016 (30 @ 2*1 binning)7 x analogue13.1 x 15.5none24150 ke-2.0 Me-64.4dB75.1dB三, Pulstec PWS-1000 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mmPULSTEC该传感器基于Shack-Hartmann方法，能够实时测量光源和光学像差。它能够测量Zernike多项式项(15/24/36)，赛德尔像差因子和一般波前磨损。它还具有干涉条纹、二维/三维相位图、强度分布和点扩散函数等功能。测试结果(好或不好)可以按给定值测量。Pulstec PWS-1000 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm,Pulstec PWS-1000 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm产品特点高速处理，实时测量:图形3Hz，数值10hz。适用于对相干性不敏感的各种光束测量。设计紧凑轻巧，适用于各类设备。采用IEEE1394接口，方便接入电脑。产品应用通过波前测量确定光束质量光学透明元件测试自适应光学波前传感器光学反射组件测试通用参数测量波长400-800nm *1激光束直径2.0-4.6mm精确性1/100λ RMS (3σ) *2可重复性1/5002RMS (3σ) *2数据更新Max. 10Hz外部界面IEEE1394 (6pin)*1 需要获取每个波长的参考值。*2受光束强度分布影响，jue对波前误差测量环境。相关产品参考激光二极管源点源 (Point Source)平行光源波长405±5nm650 ＋5/-0nm780±5nm405±5nm650 ＋5/-0nm780±5nm波长差＜1／50λ RMS偏振圆形标准差激光功率控制自动电源控制 (APC)激光温度控制比例积分控制激光头尺寸179× Φ 44.5mm (L× Φ)253× Φ44.5mm (L× Φ )激光器重量大约 1.0kg大约1.4kg驱动器尺寸152×61.5×167mm (W×H×D)驱动器重量大约1.2kg电源供给AC 100-240V／50-60Hz (30W)NA0.9准直镜波长405nm和655nm焦距2.4mm (@405nm)/ 2.54mm (@655nm)数值孔径(NA)o.9(405nm)/0.7(@655nm)作业距离超过1.0mm重量大约150g玻璃盖板波长405nm655nm基板厚度 0.0875mm0. 1mm0.6mm

Shack-Hartmann 波前传感器产品特点：●对机械噪声和振动不敏感●宽波长范围●可测连续、脉冲辐射，包括飞秒脉冲●可测波前形状、光斑强度，同时估算光斑质量●传感器可以容易地集成到自适应光学系统（AOS）产品应用：●科学研究中心，教学和研究实验室●生产激光系统和激光设备工具的公司●使用激光辐射作为设备的生产企业，特别是需要精密光束控制的企业●研发光学测试设备的生产企业●医学治疗和诊断中心性能参数：型号11WFS-prime波长范围，nm400-1100传感器口径（格式），mm1/3”(1/2”)-4.5x2.8(6.4x4.8)相机分辨率744x480像素（基础版本1/3”相机）微透镜阵列参数（间距-焦长，mm）0.15-6（基础版本）微透镜个数30x18（42×32）帧速60Hz波前精度Wavelength/10倾斜波前动态范围Wavelength*50尺寸55×55×70mm测量结果显示：表格显示：PV，RMS。根据Zernike模型的波前像差系数（最高36），赛德尔像差系数（倾斜、散焦、像散、慧差、球差），激光光斑特性参数。图形窗口：哈特曼图形光束相位和强度分布的多种3D、2D图像（灰度图或彩图），合成条纹和梯度图根据数据的获取而改变。光束的点分布函数提供焦点的强度分布。不同的光束口径（圆形、椭圆、矩形、多边形）。验证选项。报告以多种格式保存，可以打印图片。 软件：用户友好图形化界面，有菜单、热点按钮、帮助。附件：1）光学接口：用于光束准直的调整系统，最高100mm2）中性密度滤光片（30%，1%，0.1%，?25mm，光学质量λ/10）带装配3）平面参考波阵面源（准直器，单波长光纤耦合激光器，支架）4）STANDA面包板和光机械

法国ALPAO的WFS-VIS &WFS-SWIR是两款基于Shack-Hartmann原理的波前传感器，主要用于实时测量大气湍流引起的波前失真。两款产品分别适用于可见光波段和近红外波段，其中，WFS-SWIR使用优异的InGaAs传感器。Alpao波前传感器具有高灵敏度和高工作频率的显著优点，而且专门针对延迟进行了优化，以满足用户在严苛条件下的要求。 哈特曼波前传感器WFS-SWIR核心特点：l 高灵敏度：量子效率QE70%@1500nml 高工作频率：高达3kHzl 优化大气校正 哈特曼波前传感器型号及参数：ModelSWIR WFS-69SWIR WFS-97SWIR WFS-277SWIR WFS-468Sensor typeInGaAsAcquisition frequency3kHz2kHz1kHzSensor maximum quantum efficiency90% at 600nmNumber of microlenses8x810x1016x1623x23Microlens pitch240μm264μm240μm167μmSpectral range0.9μm - 1.7μmInterfaceCamera LinkDynamic in tip-tilt / focus (PtV)1 0μm10μm15μm10μmResidual WFE error on closed loop *20nm RMSAbsolute precision *λ/20 RMSRepeatability *10nm RMSTypical noise (RMS) 700 electron(low gain)Typical noise (RMS) 150 electron(high gain)Operating temperature0°C to 30°CRecommended DMDM69DM97DM277DM468备注*: 在良好的光量条件下且没有波前扰动。

型号波长μm孔径mm2空间分辨μm采样点精度/绝对精度nm RMS分辨率/灵敏度nm RMS动态范围μm采样频率fpsSID4 UV0.25-0.47.4 x 7.429.6250x25010210030SID4 UV-HR0.19-0.48.0x8.032250x250100.510030SID40.4-1.13.6x4.829.6120x16010210060SID4 HR0.4-1.18.9x11.829.6300x40015250010SID4-sC80.45-116.6 x 14.019.5852 x 72010110040SID4 NIR1.5-1.63.6x4.829.6120x160151110060SID4 SWIR0.9-1.77.68x9.6012064x80152100120SID4 SWIR-HR0.9-1.77.68x9.6060128x160152100120SID4-eSWIR1.0-2.359.6x7.6812080x6464010060SID4 DWIR3-5&8-148.16x10.8868120x160752510050SID4 LWIR8–1412x16100120x160752510024SID4 V Vacuum0.4-1.13.55x4.7329.6120x16015210060For high vacuum: Vacuum compatibility 10-6 mbar maximum NA:0.2 MTBF10 years产品介绍：法国PHASICS 的波前分析仪，基于其波前测量专利——四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作为夏克-哈特曼技术的改进型，这种独特的专利技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。主要应用领域：激光光束参数测量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数自适应光学：焦斑优化，光束整形元器件表面质量分析：表面质量（RMS，PtV，WFE），曲率半径光学系统质量分析：MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制热成像分析，等离子体特征分析生物应用：蛋白质等组织定量相位成像产品特点：高分辨率：最多采样点可达120000个可直接测量：消色差设计，测量前无需再次对波长校准消色差：干涉和衍射对波长相消高动态范围：高达500μm防震设计，内部光栅横向剪切干涉，对实验条件要求简单，无需隔震平台也可测试一，四波横向剪切干涉技术背景介绍Phasics四波横向剪切干涉：当待测波前经过波前分析仪时，光波通过特制光栅（图1）后得到一个与其自身有一定横向位移的复制光束，此复制光波与待测光波发生干涉，形成横向剪切干涉，两者重合部位出现干涉条纹（图2）。被测波前可能为平面波或者汇聚波，对于平面横向剪切干涉，为被测波前在其自身平面内发生微小位移发生微小位移产生一个复制光波；而对于汇聚横向剪切干涉，复制光波由汇聚波绕其曲率中心转动产生。干涉条纹中包含有原始波前的差分信息，通过特定的分析和定量计算梳理（反傅里叶变换）可以再现原始波前（图3）。技术优势高采样点：高达400*300个采样点，具备强大的局部畸变测试能力，降低测量不准确性和噪声；同时得到高精度强度分布图。消色差：干涉和衍射相结合抵消了波长因子，干涉条纹间距与光栅间距完全相等。适应于不多波长光学测量且不需要重复校准，可直接测量高动态范围波前：可见光波段可达500μm的高动态范围；可测试离焦量，大相差，非球面和复曲面等测。

Phaseform是从德国弗莱堡大学微系统工程系(IMTEK)的微光学实验室衍生出来的一家高科技公司。Phaseform的目标是使得AO变得经济实用，并将数十年的尖端AO研究成果与创新的产品和技术结合起来。Phaseform立志成为自适应光学技术领域的领军企业，在自适应光学新时代实现持续创新的清晰愿景。Phaseform基于创新的硬件和软件组件开发折射自适应光学(Adaptive optics 简称AO)系统。AO方法的核心是一种新型的光流体微系统技术，称之为可变形相板(Deformable Phase Plate 简称DPP)。其独特的功能将可变形反射镜和透射式液晶空间光调制器的优点结合在精巧的结构中，从而为新型超紧凑，高效，透明波前调制器铺平了道路。Phaseform的可变形相位板(DPP)是一种新型的全透射式微型波形调制器，它可以进行动态、实时的像差校正，而且就像普通透镜一样，可以直接放置在光束路径中。 DPP技术关键特点-透射：DPP采用折射方式工作，它偏振无关且透明，使得新型连续片波面调制器无需折束光学器件即可插入任何光束路径。-紧凑：DPP 允许超小尺寸设备和全新的自适应光学系统设计。-高分辨率：DPP 在可见光范围内的多个波长上提供高空间频率校正（包括球差）。-可扩展：DPP采用MEMS微纳加工、高精度组装和光流体封装方法（一种强大且可扩展的技术）创建。DPP技术应用-生命科学与显微镜-视觉科学与眼科学-材料科学与半导体-3D 微纳米打印-AR、VR、MR-天文学高空间频率波前校正DPP 可以在水平和垂直方向上以开环方式复制 Zernike 模式，最高可达 7 阶径向模式。同时注意一阶和二阶球面模式的保真度和振幅，在许多成像场景中都至关重要。Phaseform DPP的大部分电极位于清晰的瞳孔内，在透射、紧凑和高效的设备中提供了连续片可变形反射镜的多功能性。DPP数字模型Phaseform提供了使用DPP技术的数字模型的机会。利用该模型，可以分析和优化DPP引入的相位调制对波前像差、光束整形和自适应光学应用等各种光学参数的影响。DPP和光线追踪模拟之间的这种集成使得能够在虚拟环境中探索、改进和完善光学设计，从而大大减少了对昂贵的物理原型的需求。产品规格光学参数外壳尺寸

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理 法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

SID4 HR 为要求最为苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 µm PV）。 它的大相机靶面和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散角的光束，而无需添加任何中继镜或准直光学系统。主要特点416 x 360超高相位取样分辨率9.98 x 8.64 mm² 大分析靶面可接收最高至NA=0.8高数值孔径发散光束产品应用• 激光，自适应光学及等离子体检测• 光学元件及光学系统计量• 微观材料检测SID4 SWIR HR光谱 短波红外 (900 - 1700 nm)SID4 SWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。 主要特点覆盖 0.9 to 1.7 µm 短波红外波段160 x 128 高相位分辨率高感光灵敏度 - 可适用于低功率红外光源测试应用• 激光，自适应光学及等离子体检测 • 光学元件及光学系统计量 SID4 DWIR光谱 中红外 (3 - 5 µm) 远红外 (8 - 14 µm)SID4 DWIR是市面唯一一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39 µm或10.6 µm激光和光学系统。主要特点160 x 120 高相位分辨率中远红外双波段2合1高数值孔径测量无需过渡镜产品应用• 激光，自适应光学及等离子体检测 • 光学元件及光学系统计量KALEO套件光谱 紫外(190 - 400 nm) 可见光 - 近红外 (400 - 1100 nm) 短波红外 (900 - 1700 nm) 中红外 (3 - 5 µm)Kaleo套件是用于光学计量的模块化系统。 它由多种相互兼容的模块组合而成，可让用户搭建一个经济有效，体积紧凑且易于使用的完整光学测试系统。该系统可适应各种测量场景，确保从研发至生产等不同阶段样品的光学品质鉴定。该系统单次采集即可获得待测样品的所有光学特征，包括：波前像差，MTF，PSF等。 主要特点多功能性：覆盖从紫外到红外多个波段的独立解决方案及兼容模块强大独特的波前技术：兼顾高分辨率、高动态范围及纳米级相位灵敏度操作简易：系统紧凑且便于快速对准产品应用• 光学元件及光学系统计量

NightN-波前传感器-Shark-Hartnamm产品型号：Shark-Hartnamm产品介绍：NightN的主要兴趣领域是设计用于控制和高功率激光束（包括飞秒光束）的复杂自适应光学系统、自适应成像系统，以及构建特定的自适应激光干涉仪。我们也对将我们的技术应用于天文和医学目的感兴趣。当然，我们自适应系统开发的基础是有源反射镜，特别是带有电子控制块的多元件双压电晶片校正器。我们设计了用于波前分析的 Shack-Hartmann 波前传感器和 M 方传感器以及人眼自适应像差计。Shack-Hartmann波前传感器设计用于测量波前光束参数。性能特点：脉冲和 CW 激光束诊断参数：产地：俄罗斯相位测量范围 - 高达 15μ测量精度 - λ/100 (RMS)输入光束直径 - 4...100 mm 及以上工作子孔径数量：400起工作波长范围：400nm – 1100nm采集频率/帧率：高达 60 Hz是否进口：是封装：厂家制定性能：良好可靠性：高

ＳＩＤ４　ＵＶ－ＨＲ（紫外光） 基于相位的专利技术, 在190纳米到400纳米波段，SID4 UV-HR波前分析仪（在紫外光谱范围内）具有超高的分辨率(250 x250)和极高的灵敏度(0.5 nm RMS)。因此SID4 UV-HR是完全适应光学组件描述(用于光刻、半导体)和表面检测(镜头,晶片……)主要特点．超高分辨率　２５０×２５０．高灵敏度　　０．５ｎｍ RMS．大型分析孔　８．０×８．０ｍｍ.可以直接对光学器件表面进行测量　推荐用途．紫外激光器：光束的测量和校正．光学：紫外线光学（半导体）测试和表面测量。ＳＩＤ４　ＵＶ－ＨＲ的详细规格ＳＩＤ４　UV-HR单位数据波长范围nm190-400框口尺寸mm^28.0*8.0空间解析度Um32相位和强度抽样250*250分辨率nmRMS0.5精密度nmRMS10采集率fps 30实时处理频率fps1尺寸(w*h*l)mm95*105*84重量g900

主要特点 压电驱动微动平台，装配CCD相机 光束方向快速移动 临近位置光束剖面/形貌分析 波前推导CCD像素级分辨 光束传播参数分析（M2、瑞利长度、束腰直径） Zernike分析畸变控制 采用自我参考法 无光束相干要求 紧凑式设计，在线检测操作原理技术规格 CCD相机USB3.0通讯 空间分辨率10um 多种传感器覆盖光谱范围：1100nm (NIR) to 1nm (soft x‐rays) 实时波前分析 测试依据ISO标准 光束测试软件测试基于ISO标准 ParameterStandardBeam diameter光束直径ISO 11146DivergenceISO 11146Beam profile光束剖面ISO 13694Pointing 指向/ pos. Stability位置稳定性ISO 11670M2 质量因子/ Focusability聚焦性ISO 11146Wavefront 波前 / Phase distribution相位分布ISO 15367Coherence 相干-Around 20 various camera types are supported

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g