相位波前角色散测量仪

天津瑞利光电科技有限公司优势经销美国LUMETRICS波前测量仪ClearWave Plus产品型号：ClearWave Plus关键字：LUMETRICS波前测量仪ClearWave Plus关键字描述：这为隐形眼镜制造商提供了中心厚度（CT），矢状高度（SAG），直径，曲率半径以及所有当前需要三个独立系统才能获得的所有波阵面测量值。产品介绍：ClearWave Plus是隐形眼镜制造商的计量解决方案，可同时测量以下各项：球体，圆柱体，轴Zernike WaveFront像差直径，CT，凹陷标签功率所有这些操作都只需一个按钮即可实现。ClearWave Plus将改良的ClearWave与行业标准OptiGauge厚度测量系统结合使用。这为隐形眼镜制造商提供了中心厚度（CT），矢状高度（SAG），直径，曲率半径以及所有当前需要三个独立系统才能获得的所有波阵面测量值。由于ClearWave和OptiGauge系统已在全球的隐形眼镜制造商的研发实验室和生产设施中实施，因此Lumetrics是眼科相关测量解决方案的提供商。 ClearWave Plus在单一的操作员友好型解决方案中提供了这些产品中更好的产品，从而减少了对隐形眼镜的处理。ClearWave Plus设计用于快速，准确地检查隐形眼镜。参数：高分辨率ClearWave波前传感器（标准）：101x101小透镜阵列网格视野：10.4 x 10.4毫米空间分辨率：0.104毫米球面范围：-74至+37 D（典型湿镜）干球范围为+8至-16屈光度圆柱体范围：典型湿镜±27 D干圆柱范围为6（+/- 3）屈光度球面像差精度0.004（干）球差重复精度0.002 um（干）棱镜测量：棱镜测量0至3棱镜屈光度，适用于干镜棱镜精度0.1棱镜屈光度棱镜重复性0.05棱镜屈光度尺寸测量：直径max.20mm，±25μm厚度和CT-方法论-低相干干涉法-精度0.1μm-重复性0.1μm-测量波长1310nm天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国家原装进口的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

Thorlabs WFS20-K1波前传感器 光学测量仪特性三种小型传感头选项：通用型*大孔径，11.26 mm方形区域*高速度，帧率高达1120 fps包含高质量光刻微透镜阵列(MLA)安装在可更换的磁性支架中针对传感头单独校准套件包含传感头组件和额外的300 µ m微透镜阵列实时测量波前和强度分布适用于连续或脉冲光源USB连接便于PC操作通过TCP/IP实时数据读取灵活的软件选项GUI软件仪器驱动程序包，用于C编译器LabWindows&trade /CVILabVIEW&trade DataSocket实时数据传输.Net用于波前传感器的光学调整架，单独提供Thorlabs的快速Shack-Hartmann波前传感器能够精确测量入射光束的波前形状和强度分布。这些波前传感器包含CMOS传感头和微透镜阵列(MLA)，封装在便于存储和携带的外壳中。波前传感器的性能由传感头和MLA的组合共同确定。我们提供三种传感头：通用型、大孔径和高速度版本。同样，也提供三种不同微透镜间距和焦距的MLA选项，以便根据应用实现最佳准确度和波前动态范围。这些波前传感器的型号包含前缀和后缀，前缀表示传感头类型(WFS30*、WFS40*或WFS20)，后缀表示MLA类型(-5C、-7A或-14AR)或套件类型(-K1或-K2)。套件包含一个传感头和两个MLA。每种传感头用的触发电缆单独出售，使用TTL触发信号时可以另外购买。发货清单标签里面列出了每种型号中所含元件的清单。

PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器关键词：分析仪，PHASICS波前分析仪，波前传感器，波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简单等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！PHASICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。图1 波前校正前与校正后对比 PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。 第一部 产品介绍 SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测等）。特点：u 高分辨率（250x250）u 通光孔径大（8.0mmx8.0mm）u 覆盖紫外光谱u 灵敏度高（0.5um）u 优化信噪比 图2 SID4-UV波前分析仪 SID4 波前传感器可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布，波前像差，激光的M2，泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。特点：? 波长范围：400-1100nm? 分辨率高（160x120） ? 消色差 ? 测量稳定性高 ? 对震动不敏感 ? 操作简单 ? 结构紧凑，体积小 ? 可用笔记本电脑控制 图3 SID4位相检测 SID4-HR 波前相差仪可用于检测各种透镜，光学系统的检测，可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像：传函仪、干涉仪，具有操作简便，测量精度高，参数输出方便等优点，正在被越来越多的客户推崇。特点：u 波长范围：400-1100nmu 高性能的相机，信噪比高u 实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）u 曝光时间极短,保证动态物体测量u 操作简单 图4 SID4-HR图5 SID4-HR传递函数检测 SID4 NIR 波前分析仪主要针对1550 nm（1.5um-1.6um）激光的检测，具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。特点：2 高分辨率（160x120） 2 快速测量 2 性价比高 2 绝对测量 2 对振动不敏感 图6 SID4 NIR激光波前检测 SID4 DWIR 波前仪具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um 和8-14um的波前位相，强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。特点：u 光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。 u 光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等u 高分辨率（96x72） u 可实现绝对测量u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量，无需额外中转透镜 u 快速测量 对振动不敏感 u 可实现离轴测量 u 性价比高 图7 SID4 DWIR SID4产品型号参数汇总型号SID4SID4-HRSID4 UV-HRSID4 NIRSID4 DWIRSID4-SWIR孔径尺寸（mm2）3.6 x4.88.9 x11.88.0 x8.03.6x4.813.44x10.089.6x7.68空间分辨率(um)29.629.63229.6140120测量点数160x120300x400250x250160x12096x7280X64波长范围350-1100 nm350-1100 nm190-400 nm1.5-1.6μm3-5μm 8-14μm0.9- 1.7μm精准度10nm RMS10nm RMS10nm RMS15nm RMS75nm RMS10nm RMS动态范围100μm500μm200um100μm/~100μm采样速度60 fps10 fps30 fps60 fps50 fps60fps处理速度10fps3 fps1fps10fps20 Hz10Hz 第二部 SID4波前分析仪控制软件 SID4波前分析仪控制软件SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图，测量光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用，选配合适的可变形镜或相位调制器，提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠，高精度的解决方案。图8 SID4控制界面SID4光学测量软件KaleoPhasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合，可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟，我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系数，曲率半径，PSF等。 第三部 SID4波前分析仪与传统哈特曼波前分析仪比较 与传统哈特曼波前传感器测量结果对比： 技术参数对比：PHASICSShack-Hartmann区别技术剪切干涉微透镜阵列PHASICS投放市场时，已经申请技术专利，是对夏克-哈特曼技术的升级重建方式傅里叶变换分区或模式法夏克-哈特曼波前探测器，局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似，误差大强度对强度变化不敏感对强度变化灵敏PHASICS测量精度高，波前测量不依赖于强度水平校准用针孔校准、方便快捷安装困难，需要精密的调节台PHASICS使用方便取样点SID4-HR达300X400测量点128X128测量点（多个微透镜）PHASICS具有更高的分辨率数值孔径NA：0.5NA：0.1PHASICS动态范围更高分辨率29.6μm115μmPHASICS具有更高的空间分辨率测量精度2nm RMS5nm RMSPHASICS更好的测量精度获取频率60fps30fpsPHASICS获取速度快处理频率10Hz30HzPHASICS可满足大部分处理要求消色差无需对每个波长进行校准需要在每个波长处校正PHASICS更灵活，可以测试宽波段，而不需要校准 第四部 应用领域 ? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域OKO 可变形镜数字波前分析仪XY系列向列液晶空间光调制器XY系列铁电液晶空间光调制器

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

哈特曼波前测试仪 　　WFS150系列Shack-Hartmann波前测试仪，提供了精确、快速的波前测量和光束的强度分布。该仪器是通过分析经微透镜阵列成像于CCD的光斑场的位置和强度进行测量的。使用Thorlabs提供的Shack-Hartmann波前测试仪，可以动态的优化激光波前、测量光学元件波前差，为自适应光学控制提供实时的反馈。 　　Shack-Hartmann波前测试仪由前端带微透镜阵列的高精度的USB2.0（1.3M 像素）CCD相机和软件包组成。全功能的控制和分析软件具有良好的用户界面，菜单包括相机设置、标定、分析和显示项等。CCD相机SM1螺口可方便固定ND滤光片以防CCD像素饱和，及透镜套管以减少散射光，并可用于其他元件的固定。 WFS150系列特点： 实时照射和相位测量 CW或脉冲光源 CCD相机指标： 型号：DCU224M 分辨率：1280× 1024 快门速度：83-1460ms 最大帧率：15帧/秒 尺寸：34× 32× 48.3mm 接口：USB2.0 软件特点： 计算参量 照射和相位分布 模式或区域的重建波前 波前RMS 斜度、聚焦、像散，慧差、球差及高阶像差等Zernike和傅立叶表示 显示/输出： 初始点场成像 强度分布 重建3D波前 表列高度输出 微透镜阵列特征 型号 微透镜阵列有效焦距 特点 WPS150 MLA150-7AR .7mm AR膜（400-900nm） WPS150C MLA150-5C 5.2mm 铬掩模（200-1100nm） 　　Thorlabs提供两种型号的Shack-Hartmann波前分析仪。WPS150，带400-900nm增透膜微透镜阵列，适合对反射敏感的应用领域。WPS150C，由铬掩模微透镜阵列组成，阻止透镜间光传输，具有很宽的光谱范围（200-1100nm），但表现出较强的光反射。

一, 单模/保偏全光纤移相器 1550nm (相位调制器)全光纤移相器是一种结构紧凑、操作简单、全光纤的宽带操作设备。对引脚施加电压，可以对通过该装置的相移进行可控的修改。移相器提供相位改变量高达50rad。没有在线接口，允许利用光纤的全功率处理能力，并提供几乎为零的额外损耗和PDL。单模/保偏全光纤移相器 1550nm (相位调制器),单模/保偏全光纤移相器 1550nm (相位调制器)通用参数产品特点：全光纤简单电流控制50rad 的相移量 低插入损耗 低驱动电压产品应用：干涉仪稳定器 干涉传感器 光纤相位控制技术参数参数单位指标波长范围1nm1300 - 1610插入损耗2dB0.01总相移radians50 150 or on request时间常数（10%至90%）ms800回波损耗dB70驱动电流mA0 - 65最高电压V0 - 5工作温度范围0C-5 to 70储存温度-40 to +85光纤类型SMF28, PANDA输入和输出光纤的长度mm 1000规范说明1设备将在全波长范围内运行。也可定制其他波长范围。2损耗不包括连接器 二, 透射式波前调制器透射式波前调制器Delta7，它配备了专用的驱动器和控制软件。这款创新性的透射式波前调制器基于可变形相位板Deformable Phase Plate (DPP)技术，其独te的特点将可变形镜和透射式液晶空间光调制器的优点以紧凑的形式结合起来，成为一种新型的超紧凑、高效、透明的透射式波前调制器。透射式波前调制器,透射式波前调制器通用参数产品特点折射式光流波前调制器63致动器可变形相位板（DPP）径向Zernike模式修正到7阶孔径10 mm可共用的 带30 mm光笼系统包括驱动电子设备和开环控制软件下图分别是：可变形镜，液晶空间光调制器，透射式波前调制器波前调制器(WM)是一种用于局部改变光路长度(OPL:几何长度和折射率的乘积)的有源器件。目前主导该领域的WM有两种流行类型:液晶空间光调制器(LC-SLM)和可变形镜(DM)。前者使用密集填充的LC元件来局部修改OPL。因此，它们具有很高的空间分辨率，可以再现离散的相位跳跃，但容易产生衍射损失。此外，相位调制与偏振调制是耦合的，只有通过滤掉偏振分量才能避免这一点，这会导致光效率的显著损失。可变形镜(DM)提供高速、大振幅、波长和偏振无关的波前调制，从根本上解决了LC-SLM的主要缺点。然而，对于许多应用来说，可变形镜的反射特性带来了系统规模大、复杂性和成本方面的缺点。可变形相位板(DPP)是一种新型的全透射超小型化波形调制器。它可以进行动态、实时的像差校正，但就像普通透镜一样，可以直接放置在光束路径中。DPP技术的关键技术特点可归纳如下:透射式：它是偏振无关和透明的，这种新型波前调制器可以插入到任何光路中，而不需要光束反射折叠。紧凑：它有非常小的尺寸，允许非常紧凑的系统设计。高分辨率：DPP可在可见范围内的多个波长范围内提供高空间频率校正(包括球差)。可扩展：晶圆级制造、光流控封装和高精度组装使其成为一种强大的可扩展技术。

Phaseform是从德国弗莱堡大学微系统工程系(IMTEK)的微光学实验室衍生出来的一家高科技公司。Phaseform的目标是使得AO变得经济实用，并将数十年的尖端AO研究成果与创新的产品和技术结合起来。Phaseform立志成为自适应光学技术领域的领军企业，在自适应光学新时代实现持续创新的清晰愿景。Phaseform基于创新的硬件和软件组件开发折射自适应光学(Adaptive optics 简称AO)系统。AO方法的核心是一种新型的光流体微系统技术，称之为可变形相板(Deformable Phase Plate 简称DPP)。其独特的功能将可变形反射镜和透射式液晶空间光调制器的优点结合在精巧的结构中，从而为新型超紧凑，高效，透明波前调制器铺平了道路。Phaseform的可变形相位板(DPP)是一种新型的全透射式微型波形调制器，它可以进行动态、实时的像差校正，而且就像普通透镜一样，可以直接放置在光束路径中。 DPP技术关键特点-透射：DPP采用折射方式工作，它偏振无关且透明，使得新型连续片波面调制器无需折束光学器件即可插入任何光束路径。-紧凑：DPP 允许超小尺寸设备和全新的自适应光学系统设计。-高分辨率：DPP 在可见光范围内的多个波长上提供高空间频率校正（包括球差）。-可扩展：DPP采用MEMS微纳加工、高精度组装和光流体封装方法（一种强大且可扩展的技术）创建。DPP技术应用-生命科学与显微镜-视觉科学与眼科学-材料科学与半导体-3D 微纳米打印-AR、VR、MR-天文学高空间频率波前校正DPP 可以在水平和垂直方向上以开环方式复制 Zernike 模式，最高可达 7 阶径向模式。同时注意一阶和二阶球面模式的保真度和振幅，在许多成像场景中都至关重要。Phaseform DPP的大部分电极位于清晰的瞳孔内，在透射、紧凑和高效的设备中提供了连续片可变形反射镜的多功能性。DPP数字模型Phaseform提供了使用DPP技术的数字模型的机会。利用该模型，可以分析和优化DPP引入的相位调制对波前像差、光束整形和自适应光学应用等各种光学参数的影响。DPP和光线追踪模拟之间的这种集成使得能够在虚拟环境中探索、改进和完善光学设计，从而大大减少了对昂贵的物理原型的需求。产品规格光学参数外壳尺寸

美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2DTM系列波前分析仪（CLAS-2D™ , CLAS-XP™ , CLAS-HP™ , CLAS- NearIR-320™ , CLAS-NearIR-640™ ）能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数，例如波前倾斜，峰谷误差，均方根波前误差，像散，球差，聚焦误差/准直。LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪，光束质量分析仪，自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用独特的算法能够精确测量三个波段的波前参数：300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。另外, 美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。波前分析仪产品特点：CLAS-2DTM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。波前分析仪应用范围：? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域 CLAS-2DTM产品型号汇总 COMPLETE CLAS-XP System型号81000-0081000-4681000-4781000-4881000-4981000-50焦距（mm）2.02.0474.758.1915.4825.08灵敏度λ/30λ/30λ/50λ/100λ/150λ/200动态范围120λ120λ80λ60λ40λ30λ透镜尺寸（mm）0.0720.0720.1080.1440.1980.252透镜阵列102*102102*10268*6851*5137*3729*29 COMPLETE CLAS-HP System型号81000-2081000-2181000-2381000-24焦距（mm）4.987.7819.9229.62灵敏度λ/100λ/150λ/200λ/250动态范围211λ169λ105λ115λ透镜尺寸（mm）0.1120.1400.2240.280透镜阵列128*128102*10264*6451*51 COMPLETE CLAS-Near IR 320 System型号81000-3281000-3381000-3481000-3581000-3681000-27焦距（mm）25.6936.9911.4417.8725.749.3灵敏度λ/83λ/100λ/46λ/58λ/70λ/50动态范围44λ37λ78λ63λ53λ55λ透镜尺寸（mm）0.4000.4800.3200.4000.4800.225透镜阵列24*1920*1630*2424*1920*1671*56

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR【Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要特点160 × 120 高相位取样分辨率1550 nm 高性价比解决方案体积轻小便于光学系统内集成二、SID4-NIR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。 三、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR应用领域激光 |自适应光学及等离子体检测 |光学计量及光学系统对准四、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要规格波长范围1.5-1.6 μm靶面尺寸4.73 x 3.55 mm2空间分辨率29.6 μm取样分辨率160 x 120相位分辨率 11 nm RMS绝对精度15 nm RMS取样速度 60 fps实时处理速度 10 fps (全分辨率下)*接口种类FireWire IEEE1394B五、更多参数选型

光弹性系数测量仪姓名：田工(Allen)电话：（微信同号）邮箱：光弹性系数是材料的特性常数 主要是透明材料在受力后，会出现各项异性产生双折射现象。通过光弹性系数以及双折射测量，可以获得材料内部残余应力(Mpa)的值昊量光电提供的设备通过高精密应力双折射测量，可以实现对设备实时应力双折射值（nm）观测采集。于此同时，光弹性系数测量仪 通过高精度加压加力装置，同时获得外部压力（Mpa), 从而获得材料在一定压力下，对应光程差转换常数(nm/Mpa）光弹性系数测量仪产品通过共径干涉仪和基于傅立叶分析法，实现以速度快，精度高，不受振动和空气波动等干扰等特点的双折射测量，系统采用高稳定激光光源（2mw），实现优化化光学元件配置，实现长期几乎免维护时间光弹性系数测量仪参数:变形方式：拉伸/压缩测量样品尺寸：用于拉伸试验：10 x 80 mm用于压缩测试：Φ20mm，薄15mm厚度：0.3 至 15 毫米驱动系统：步进电机左右螺杆同时驱动拉伸压缩距离：100 毫米称重传感器：额定 50 N（可更换为 200 N、1000 N）恒温层控温：室温-200℃温控精度：±1℃光弹性系数测量仪可测量内容：光学特性 光弹性常数、双折射机械性能弹性模量（杨氏模量）、断裂强度通过这些测量，可以进行弹性区域的形态分析以及拉伸特性和取向特性的分析。 光弹性系数测量仪补充基本原理:让具有双折射的样品通过两频正交线偏振光（STZL 振荡光），使其主轴与偏振面重合。每个偏振分量通过样品的速度在样品的“双折射快轴”和“慢相”方向之间不同。因此，通过样品后，会出现“相位差”。通过使用光学外差干涉法检测相位差，可以高精度地定量测量样品的双折射量。外差干涉法测量双折射：通过叠加两个频率略有不同的波，可以观察到等于频率差异的“拍频”。从这个拍品中提取必要的信息称为外差法。由于光也是一种波，它自然会产生“频率“从“光学节拍”中提取信息称为光学外差干涉法。在调音中，我们经常使用音叉。考虑用它来调整你的吉他。一开始，如果在琴弦松动的情况下拨动琴弦同时使音叉发出声音，将分别听到琴弦的声音和音叉的声音。当琴弦逐渐拉紧时，整体听起来像是一个声音，但如果仔细聆听，您会发现声音以非常快的周期重复强弱（状态 1）。随着琴弦进一步拉紧，声音强度的周期逐渐变长（状态 2），最终声音的强度完全消失（状态 3）。这种声音的强度称为“节拍”。当两种声音（波）的频率不同时，感觉节拍就是不同的频率。当音叉音与弦音的频差较大时（状态1），节拍周期快（节拍频率大）。随着两个声音之间的频率差变小（状态 2），节拍周期变慢（节拍频率变小）。这样，两波重叠就产生了“拍”，拍的频率就等于两波的频率差。在这种情况下，音叉的频率是恒定的，因此如果将其视为参考信号，则可以通过拍频来区分（=检测）琴弦的频率，即声音的周期强度。在光的情况下，会发生与声音相同的现象。也就是说，当两种频率略有不同的光叠加时，就会产生与不同频率相等的光拍。这种称为“光节拍”，而光节拍的频率有时简称为“节拍频率”。光节拍被检测为光强度的周期性变化（明暗变化）。如果您向两个光之一提供一些信息，该信息将相应地出现在光学节拍中。这里的信息意味着为光的振幅、相位和频率提供某种信号。换句话说，当一个光具有某些信息时，可以在该光上叠加另一个“参考”光（这称为参考光）并从光拍频信号中提取信息。这种信号检测方法称为“光外差干涉法”。光学外差干涉测量具有以下特点。通过使用锁定放大器等检测信号，可以进行高精度、高灵敏度的测量。当信号信息仅为相位信息时，不受干扰引起的信号光强度波动的影响。它不受不同频率的信号分量（一般是噪声）的影响。通过增加参考光的强度，可以检测到微弱的信号。等等通过相关计算公式最终可以获得待测双折射：主轴方向的同时测量：但是，在上述方法中，（1）必须事先获得样品的双折射主轴方向，（2）主轴方向必须与振荡STZL 的偏振面... 因此，在围绕光轴旋转STZL振荡光的偏振面的同时检测相位差，同时获得双折射量及其主轴方向。为了使偏振面绕光轴旋转，我们利用了半波片的“将发射偏振面旋转了入射偏振面与波片主轴夹角的两倍”的特性。该图显示了使用光学外差法同时测量双折射量及其主轴方向的光学系统。在这种光学外差干涉仪中，STZL 振荡光的两个偏振分量通过完全相同的光路，从光源到光电探测器。因此，扰动的影响——例如振动和空气波动——将影响完全相同的两个极化分量。结果，由这些干扰引起的所有噪声分量都被抵消了，而光差拍信号根本不受影响。一般的光学干涉仪都需要实验设备来去除振动和空气波动，但根据这种测量方法，这种设备是不需要的。这是进行光学测量的一大优势。辅助信息：双折射当光从空气进入透明材料时，光在边界处发生弯曲。换句话说，行进方向发生了变化。这是由于空气和透明材料的不同特性。在我们周围的环境中，当我们进入浴缸或游泳池时，我们可以通过让我们的手臂看起来弯曲在水面上来体验它，水中的东西看起来比实际更近或更大。当光以这种方式进入不同的物质（例如，从空气到水）时，光传播的方向发生弯曲，称为“光的折射”。那么光为什么会折射呢？原因是光通过材料时，其通过的速度不同。从感官上来说，我们可以理解，在水中行走和在陆地上行走，在陆地上的速度要快得多。由于水的密度比空气大，阻力相应增加，所以你不能走得快。粗略地说，你可以用同样的方式来思考光。“当光线穿过致密的材料时，通过的速度会变慢。”如下图A所示，尝试将手腕浸入水中。然后，如果像 b 一样将手移向黄色箭头，由于水的阻力，手会自然弯曲。那时，手背会略微朝下。其实光行进的方向可以用这种方向来表示。在光的情况下，手背的方向称为“波前”。换句话说，当光线进入折射率高的地方时，光线的波阵面由于其电阻而弯曲，结果光线的行进方向发生弯曲。这就是光的折射。折射度因物质而异，每一种都有唯yi的值。

别名：弱吸收测量仪，强激光材料性能测试仪，高功率激光薄膜光热弱吸收测量仪，光学薄膜微弱吸收测量仪，光学材料光热效应测量仪主要特点： 光热效应测量 激光诱导波前形变测量（Hartmann‐Shack）传感器 测量分辨率10pm (~ λ/10,000) 实时吸收测量：ppm级灵敏度 Relaxation of wavefront deformation after heating pulse Thermal lens in fused silica @193nm 主要应用： 光学材料测试 透镜热分析 复杂光学瞬态畸变（如：F‐Theta平场聚焦镜头） 质量控制 高功率激光器（固体激光器、准分子激光器、CO2激光器等）光束测试软件 测试基于ISO标准ParameterStandardBeam diameter光束直径ISO 11146DivergenceISO 11146Beam profile光束剖面ISO 13694Pointing 指向/ pos. Stability位置稳定性ISO 11670M2 质量因子/ Focusability聚焦性ISO 11146Wavefront 波前 / Phase distribution相位分布ISO 15367Coherence 相干-Around 20 various camera types are supported

法国Phasics公司波前分析仪 公司成立于2003年，从法国科学研究中心LULI实验室分拆出来，技术源于法国国家航天实验室。其独特四波横向剪切干涉技术，克服了夏克-哈特曼技术的限制，具有高分辨率、高动态范围、高稳定性、易使用、零色差等特点。 Phasics公司的波前分析仪结构紧凑，在没有中继光学器件的情况下可对激光进行直接测量：位相、泽尼克/勒让德系数、斯特列尔比、PSF、光斑直径、束腰位置、M2等全方位的激光参数信息。Phasics以客户为中心，关心满足所有需求：其强大的研发团队不断开发创新功能和探索新应用，并根据客户要求定制标准配置。 1、主要应用 激光 自适应光学及等离子体检测 光学元件及光学系统计量 微观材料检测 2、技术参数型号波段口径空间分辨率相位分辨率取样分辨率绝对精度采样速率实时处理速率SID4-UV-HR190-400nm13.8×10.88mm38.88um1nmRMS355x28010nmRMS30fps＞3fpsSID4-UV250-400nm7.4×7.4mm29.6um2nmRMS250x25010nmRMS30fps＞2fpsSID4-sC8400-1050nm16.61×14.04mm19.5um＜1nmRMS852x720NA40fps10fpsSID4-Bio400-1100nm11.84×8.88mm取决显微镜放大倍率＜1nmRMS400x300NANANAfpsSID4-HR400-1100nm11.84×8.88mm29.6um2nmRMS400x30015nmRMS10fps3fpsSID4400-1100nm4.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS40fps＞10fpsSID4-UHR400-1100nm15.16×15.16mm29.6um（可拓展至22.2um）2nmRMS512x512 (可拓展至666x666）15nmRMS8fps1fpsSID4-V400-11004.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS60fps＞10fpsSID4-SWIR900-1700nm9.6×7.68mm120um＜2nmRMS80x6415nmRMS30fps7fpsSID4-eSWIR900-2350nm9.6×7.68mm120um＜6nmRMS80x64＜40nmRMSNA10fpsSID4-SWIR-HR900-1700nm9.6×7.68mm60um2nmRMS160x12815nmRMS30fps7fpsSID4-DWIR3-5um 8-14um10.88×8.16mm68um25nmRMS160x12075nmRMS50fps＞10fpsSID4-LWIR8-14um16×12mm100um25nmRMS160x12075nmRMS24fps10fps3、Phasics还可以基于现有的波前分析仪根据客户要求定制各种测量系统。1）多色动态干涉仪Kaleo MultiWAVE主要特点：最高可以集成8个波长波长可以覆盖紫外到中远红外透射波前误差和反射波前误差均可测量纳米级相位分辨率＞500条纹数超高的动态范围 最高130mm的有效口径RMS重复精度＜0.7nm(＜λ/900)精度80nm PV动态范围500条纹数可测反射率范围4%-100%光学结构双通道波长数量1-2，最高至8波长范围193-14um有效口径130mm视场角对准±2°可调对角范围±2.5m2）全自动镜头质量检测工作站Kaleo MTF主要特点：同轴（＜1%）和离轴（＜2%）MTF精确测量大视场角测量（广角镜头、鱼眼… … ）汽车/移动物镜的轻松镜头定位适应生产环境全自动测量，一次采集可以得到完整的测试参数共轴OPD精度＜20nmRMS共轴重复精度＜0.5%离轴重复精度＜1%MTF最大截止频率1000lp/mmEFL重复精度0.5%共轴OPD重复精度＜5nmRMS光学设置有限到无限配置波长405-940nm,最高8波长入射直径最高8.8mmf#＞1.7焦距5-40mm法兰焦距8-33mmFOV可至±90°主射线角可至50°更多信息，请与我们联系！

SoLu-BLu CH4 浅水型甲烷测量仪名称：浅水型甲烷测量仪 型号：SoLu-BLu 产地：加拿大简介 ： Pro-Oceanus公司的Solu-Blu™ CH4浅水型甲烷测量仪是测量浅水区域甲烷浓度测量仪器，小巧轻便，即插即用、极少维护、快速提供长时间的高精度CH4浓度变化数据、费用低。广泛应用浅海、近海、水产养殖业以及实验室等领域。Solu-Blu™ CH4浅水型甲烷测量仪采用快速膜渗透平衡测量技术，通过一个先进的基质膜到达仪器内部的非色散型红外探测器，进行测量，无需化学试剂。仪器不受生物附着影响，即使在生物附着比较严重的河流湖泊中，也能长期保持稳定。且仪器内置自动零点校准功能，以提供长期稳定可靠的CH4测量数据。鉴于Solu-Blu™ CH4浅水型甲烷测量仪的高精度以及长期稳定性，被广泛应用于浅海、近海、海岸带、河流以及湖泊中CH4的精确测量。标准测量范围从0-30ug/L，可达0-30mg/L，为近海、湖泊及水产养殖等行业提供高性价比的解决方案。特点：可单独测量水中CH4浓度，精度高，分辨率高；可应用于近海、湖泊及水产养殖等领域；采用快速膜渗透平衡测量技术，内置非色散型红外CH4探测器，不需要化学试剂；不需要使用昂贵的校准气体；不受生物附着影响，长期稳定性好，维护费用低；耗电低，适合水下长期测量；供电后立即开始工作，不需要现场使用电脑控制；菜单式控制界面，操作简单方便；技术参数：Solu-Blu™ CH4型号SoLu-BLu CO2工作条件-2℃~40℃ 潜水深度0-50m测量范围0-30mg/L ，0-3 mg/L ，0-300 ug/L ， 0-10000uatm精度+- 3 %电源7 to 24 VDC直径5cm长度26cm传感器重量300g （不含电缆）采样速率2秒输出信号RS232, 0-5V , 4-20MA点将科技-心系点滴，致力将来！www.Dianjiangtech.comtable： (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信，获取更多服务：

Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR产品负责人：姓名：沈工(Max)电话：（微信同号）邮箱：【Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR简介】 随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics高分辨率紫外波前传感器/ 波前分析仪SID4-UV-HR主要特点 低至190nm波长感光灵敏1 nm RMS高相位灵敏度355 x 280超高相位取样分辨率二、SID4-UV-HR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，SID4-UV非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。 三、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR应用领域紫外光学测量| 光刻或半导体应用紫外激光表征| 透镜和晶圆的表面面型检测| 自适应光学四、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR主要规格波长范围190 - 400 nm靶面尺寸13.8 x 10.88 mm2空间分辨率38.88 μm取样分辨率355 x 280相位分辨率1 nm RMS绝对精度10 nm RMS取样速度30 fps实时处理速度 3 fps (全分辨率下)*接口种类CameraLink五、更多参数选型

SID4 HR 为要求最为苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 µm PV）。 它的大相机靶面和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散角的光束，而无需添加任何中继镜或准直光学系统。主要特点416 x 360超高相位取样分辨率9.98 x 8.64 mm² 大分析靶面可接收最高至NA=0.8高数值孔径发散光束产品应用• 激光，自适应光学及等离子体检测• 光学元件及光学系统计量• 微观材料检测SID4 SWIR HR光谱 短波红外 (900 - 1700 nm)SID4 SWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。 主要特点覆盖 0.9 to 1.7 µm 短波红外波段160 x 128 高相位分辨率高感光灵敏度 - 可适用于低功率红外光源测试应用• 激光，自适应光学及等离子体检测 • 光学元件及光学系统计量 SID4 DWIR光谱 中红外 (3 - 5 µm) 远红外 (8 - 14 µm)SID4 DWIR是市面唯一一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39 µm或10.6 µm激光和光学系统。主要特点160 x 120 高相位分辨率中远红外双波段2合1高数值孔径测量无需过渡镜产品应用• 激光，自适应光学及等离子体检测 • 光学元件及光学系统计量KALEO套件光谱 紫外(190 - 400 nm) 可见光 - 近红外 (400 - 1100 nm) 短波红外 (900 - 1700 nm) 中红外 (3 - 5 µm)Kaleo套件是用于光学计量的模块化系统。 它由多种相互兼容的模块组合而成，可让用户搭建一个经济有效，体积紧凑且易于使用的完整光学测试系统。该系统可适应各种测量场景，确保从研发至生产等不同阶段样品的光学品质鉴定。该系统单次采集即可获得待测样品的所有光学特征，包括：波前像差，MTF，PSF等。 主要特点多功能性：覆盖从紫外到红外多个波段的独立解决方案及兼容模块强大独特的波前技术：兼顾高分辨率、高动态范围及纳米级相位灵敏度操作简易：系统紧凑且便于快速对准产品应用• 光学元件及光学系统计量

法国Phasics推出真空环境兼容波前分析仪SID4-V 为满足广大客户在真空环境中对激光光束质量，气流，等离子体密度测量分析，以及光学系统装配的需求。法国phasics推出了新型高精度波前分析仪sid4-v，是目前市场上仅有一款可应用于真空度在10-6 mbar环境中的波前分析仪，广泛应用于高功率激光测试中。产品特点：可适用于＞10-6mbar真空环境高分辨率160×120相位像素光谱范围从400 nm到1100 nm可测量发散光束热和机械真空不改变测试结果真空循环下无任何性能下降真空和常压下均可使用 产品参数：真空相容性10-6mbar波长范围400 - 1100 nm通光孔径3.6 x 4.8 mm2空间分辨率29.6 μm采样点（相位/强度）160 x 120 ( 19 000 points)相位相对灵敏度 2 nm rms相位精度10 nm rms动态范围 100 μm采样频率 100 fps实时分析频率 10 fps (full resolution)数据接口giga ethernet尺寸(w x h x l)54 x 46 x 75.3 mm重量~250 g关于phasics：法国phasics公司自主研发的波前传感器是基于其专利的四波横向剪切干涉技术。相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析等提供了全新的解决方案。 法国phasics波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统oa-sys，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求。波前分析仪主要应用领域：1. 激光光束参数测量：相位（2d/3d），m2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数2. 自适应光学：焦斑优化，光束整形3. 元器件表面质量分析：表面质量（rms，ptv，wfe），曲率半径4. 光学系统质量分析：mtf, psf, efl, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制5. 热成像分析，等离子体特征分析6. 生物应用：蛋白质等组织定量相位成像SID4 V VacuumPhasics is innovating by proposing the first off-the-shelf vacuum compatible wavefront sensor on the market. The SID4 Vis designed to perform wavefront measurements under high vacuum. the wavefront measurement is realized in-situ in the same condition as the experiment. Our new SID4 V vacuum wavefront sensor is also used to characterize laser beams after compression inside the compressor vessel. Finally, gas jet and plasma density are now measured as close to the target as possible.BENEFITS: With Phasics’s unique strategy it’s now possible to correct the aberrations of every single optical element up to the target location inside the vacuum chamber.Key FeaturesVACUUM COMPATIBLE & HIGH RESOLUTION | DESIGNED FOR VACUUM DOWN TO 10-6 mbarVacuum compatibility 10-6 mbarHigh resolution 160 x 120 phase pixelsSpectral range from 400 nm to 1100 nmDiverging beam compatibleInvariant to thermal and mechanical vacuum constraintsTolerates vacuum-cycles without any performance decreaseBoth functional under vacuum and atmospheric pressureLow outgassing SpecificationsVacuum compatibility 10-6 mbarWavelength range400 - 1100 nmAperture dimension4.73 x 3.55 mm2maximum NA (optional software necessary)0.2Spatial resolution29.6 μmPhase & intensity sampling160 x 120Accuracy15 nm RMSResolution (Phase)2 nm RMSAcquisition rate60 fpsReal-time processing frequency7 Hz (full resolution)InterfaceGiga EthernetMTBF 10 yearsDimensions (w x h x l)54 x 46 x 75.3 mmWeight~ 250 g SID4 Density softwareIntroductionSID4 DENSITY software package supports the whole process to measure gas and plasma electron density. It calculates density maps from phase acquisition. It also offers various options for acquisition and data analysis.SpecificationsWORKING CONDITIONSApplicationAny axisymmetric monoatomic gas jet/plasma for inverse-Abel transform analysisProbe sourceWhite light (halogen), LED, laser or fs-laserPressureFrom 2 to 300 barsPlasma lengthDepends on the imaging system (typically 2 mm long and diameter of 0.2 mm)SOFTWAREAcquisitionReal Time, programmed, triggerSettingsWavelength, magnification, jet direction, gas typeAnalysisDensity map & profiles, Symmetrization, filtersPerformances such as the spatial resolution or the density resolution entirely depend on both the optical set-up (imaging system, probe source) and the injected gas (molar refractivity). Please contact us for an estimation of specifications for your set-up. As an example, for an laser produced plasma using an Argon gas jet at working pressure between 2 and 300 bars, the lowest measured Argon density in a single shot is: 1017 particles/cm3 with a nozzle of 1.5 mm diameter.

中红外FROG超短脉冲测量仪所属类别： ? 光学/激光测量设备 ? 超短激光脉冲测量系统 所属品牌： 产品简介 中红外FROG超短脉冲测量仪 中红外FROG超短脉冲测量仪，能够覆盖传统超短脉冲测量仪无法测量的2000nm-3400nm中红外波长范围，最短测量脉宽12fs,并拥有高分辨率，动态范围达到75dB。 红外超短脉冲测量仪，超快脉冲测量仪，超短脉冲测量仪，FROGScan，频率分辨光学快门，FROG,飞秒激光脉冲测量,Grenouille 中红外FROG超短脉冲测量仪，能够覆盖传统超短脉冲测量仪无法测量的2000nm-3400nm中红外波长范围，最短测量脉宽12fs,并拥有高分辨率，动态范围达到75dB。 中红外FROG超短脉冲测量仪可以通过自由更换SHG晶体及光谱仪拓展探测范围，大幅降低多波段超短脉冲测量的采购成本 应用: 1. 改善激光系统2. 测量脉冲啁啾计算色散补偿量3. 实时测量数皮秒啁啾短脉冲4. 实时测量脉宽低至12fs的脉冲5. 测量其它FROG系统无法测量的复杂脉冲 工作原理: 将待测脉冲经分束器分为两束，一束作为探测光，另一束作为光开关，并且让作为开关的光射入到高速、高精度光延迟线，引入一个时间延迟τ，然后再让两束光聚焦在一块SHG二倍频晶体，产生相互作用。脉冲重叠区域的SHG信号光谱通过海洋光学USB4000或USB2000+光谱仪进行展开，用CCD进行测量，得到相互作用的光强随频率和时间延迟变化的空间图形，称为FROG迹线。利用脉冲迭代算法从FROG迹线中恢复脉冲的振幅和相位分布。 产品特点: 1. 实时测量系统，使用高度精确，高速的机械光学延迟，比其它光延迟线快至少10倍。2.因为集成一个16位数据接收器，具有比同类产品更高的动态范围，可以测量高度规整的脉冲和高阶相位畸变。3. F脉冲测量系统可以通过灵活更换SHG晶体和光谱仪测量波长范围450nm-3400nm和12fs到数十皮秒脉宽范围的脉冲。4.可同时测量脉冲长度与带宽。4.和配套的软件VideoFROGScan，使用的专利PCGP算法还原脉冲，这一算法是SHG FROG还原的最稳健算法，并且VideoFROGScan包含所有实时脉冲测量和分析所需的特性。 VideoFROG Scan Software 多功能数据采集，处理和显示软件。 超快激光脉冲测量系统中，软件和硬件装置同样重要。VideoFROG Scan是最佳的实时FROG脉冲测量软件,包含所有实时脉冲测量和分析所需的特性，允许FROG Scan直接接入到用户的实验中。VideoFROGscan虽然操作简单，但包含极其强大的功能，能够很容易测量复杂脉冲。 软件特色： 1.VideoFROG Scan软件不仅控制硬件，还为用户独特的应用提供信息摘要，使用户能够很容易的控制和评估测量过程。VideoFROG scan的概括面板提供了这些特性的显示，并且便捷的选项界面能够获得更多信息。通过鼠标点击显示主菜单上的提示框和帮助说明，将提供每一个您想知道的条目。2.使用弹出窗口，可以很容易聚焦到最相关问题的信息。利用这一功能您也可以定制显示布局。您可以将它们移动到前面，重新排列，调整大小和最小化。平面图向您提供完整的控制结果显示的方式。3.软件可以显示瞬时脉冲波形的同时显示脉冲频谱，您还可以还可以聚焦在监视的瞬时光谱中感兴趣的区域，或仅简单的监控脉冲统计。4.选项式用户界面使软件操纵简单明了。您可以更容易注意到当前您所需的信息，不同的部分为您提供您的激光器工作的独特视图，无论是脉宽，脉冲波形，谱形，谱宽，视场，或FROG迹线。指针放在显示脉冲上可以得到监视运行中的数据分析。缩放控制可以让您选择需要看到布局中任意区域。 相关产品 FROG 超短脉冲测量分析仪 光延迟线 自相关仪 自相关仪

液晶相位调制器PLM基于液晶的电光调制器相位调制器PLM不需要机械运动部件就能调节相位延迟。其基本原理是通过电压控制液晶层的双折射。施加合适的电压可以在PLM上对双折射进行调制，从而使O光和E光产生相位移动。相位差取决于液晶的光学属性、偏振方向和所施加的电压。 规格 选配件增透膜其它通光孔径 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

??集成光相位调制器?基于波导的电光调制器集成光相位调制器是一种紧凑的光纤耦合电光调制器，它的工作基于MgO:LiNbO3和LiNbO3晶体。它能提供最快的电光响应，允许相位调制的频率高达GHz范围。调制器可处理的波长位于可见光和红外光谱范围。标准设计的调制器使用保偏单模光纤耦合光输入输出。它们也能与光纤系统或者不同类型的接头配置使用。每个调制器可根据特殊要求配置模拟放大器。 优势VIS或IR光谱应用高调制响应单模光纤耦合调制电压低应用模拟和数字调制边带发生干涉计量学OCT 规格 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理 法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

仪器简介：ESPI（Eletronic Speckle Pattern Interferometry）电子散斑干涉技术是以激光散斑作为被测物场变化信息的载体，利用被测物体在受到激光照射后产生干涉散斑场的相关条纹来检测双光束波前后之间的相位变化。电子散斑干涉技术（ESPI）是一种非接触式全场实时测量技术，可完成位移、应变、表面缺陷和裂纹等多种测试，其具有通用性强、测量精度高、测量简便等优点。Dantec Q-300 ESPI是丹迪公司研发生产的一款用于试件高灵敏度的三维位移、变形和应变分析的光学仪器。技术参数：测量维度：一维、二维、三维测量区域：最大可达200mm×300mm测量精度：位移（0.03—0.1μm可调），应变（0.005%—100%）主要特点：高速、精度高、无接触、方便使用

仪器简介：ESPI（Eletronic Speckle Pattern Interferometry）电子散斑干涉技术是以激光散斑作为被测物场变化信息的载体，利用被测物体在受到激光照射后产生干涉散斑场的相关条纹来检测双光束波前后之间的相位变化。电子散斑干涉技术（ESPI）是一种非接触式全场实时测量技术，可完成位移、应变、表面缺陷和裂纹等多种测试，其具有通用性强、测量精度高、测量简便等优点。Dantec Q-300 TCT ESPI是丹迪公司研发生产的一款用于试件热膨胀效应的高灵敏度的三维位移、变形和应变分析的光学仪器。技术参数：测量维度：一维、二维、三维测量区域：0.7mm×1mm—40mm×50mm测量精度：位移（0.01—0.1μm可调），应变（0.005%—100%）加热装置：最高300℃，加热功率200W，加热速度30℃/min主要特点：精度高、无接触、方便使用

测量器具（也称计量器具）是测量仪器和测量工具的总称。通常把没有传动放大系统的测量工具成为量具，如游标卡尺、直角尺和量规等；把具有传动放大系统的测量器具成为量仪，如机械式比较仪、测量仪、投影仪和影像测量仪。接下来妙机小编就和大家浅谈一下量具、量仪和三次元测量仪的相关知识。　　按照结构和工作原理划分，计量器具又分为机械式、光学式、气动式、电动式、光电式计量器具。　　光电式计量器具是利用光学方法放大或瞄准，通过光电元件再转换为电量急性检测，以实现几何量测量的计量器具，如光电显微镜、光电测长仪等，三次元测量仪器也是属于这一类。　　三次元测量仪是现代光电技术发展的结晶，在量具量仪等诸多计量器具的种类之中，三次元测量仪因为自动化的坐标测量方式使得综合测量在精益制造领域得以施展。配合ＯＧＰ的SmartPorfile综合测量评价软件,更可以跨越不同量仪的测量方式的限制而达到产品尺寸的全方位评价。　　综合上三次元测量仪厂家小编给大家讲的知识，相信大家对这方面的资讯已经非常了解，如有疑惑可以关注我们妙机科技的咨询了解，我们将竭诚为您服务。妙机科技采用创新性的SIC（SysteminCase）设计理念，将全自动测量仪常用的各种电路模块整合在一个盒子里，解决了过去板卡组件的系统繁杂，接线复杂，性能低下，故障率高的问题，使得全自动测量仪功能强大，结构简洁，高效可靠，易于接线和维护，从而率先推出龙门式全自动影像测量仪、一体式影像测量仪等高端重磅级测量设备，在全国乃至全球处于领先水平。

Solu-Blu™ CO2浅水型二氧化碳测量仪名称：浅水型二氧化碳测量仪 型号：Solu-Blu™ CO2 产地：加拿大简介： Pro-Oceanus公司的Solu-Blu™ CO2浅水型二氧化碳测量仪是测量浅水区域二氧化碳浓度测量仪器，小巧轻便，即插即用、极少维护、快速提供长时间的高精度CO2浓度变化数据、费用低。广泛应用浅海、近海、水产养殖业以及实验室等领域。Solu-Blu™ CO2浅水型二氧化碳测量仪采用快速膜渗透平衡测量技术，通过一个先进的基质膜到达仪器内部的非色散型红外探测器，进行测量，无需化学试剂。仪器不受生物附着影响，即使在生物附着比较严重的河流湖泊中，也能长期保持稳定。可以提供长期稳定可靠的CO2测量数据。鉴于Solu-Blu™ CO2浅水型二氧化碳测量仪的高精度以及长期稳定性，被广泛应用于浅海、近海、海岸带、河流以及湖泊中CO2的精确测量。标准测量范围从0-50mg/L，可达0-10000ua™ ，为近海、湖泊及水产养殖等行业提供高性价比的解决方案。特点：可单独测量水中CO2浓度，精度高，分辨率高；可应用于近海、湖泊及水产养殖等领域；采用快速膜渗透平衡测量技术，内置非色散型红外CO2探测器，不需要化学试剂；不需要使用昂贵的校准气体；不受生物附着影响，长期稳定性好，维护费用低；具备自动的压力、温度、湿度补偿功能；可通过外部输入盐度进行补偿；耗电低，适合水下长期测量；供电后立即开始工作，不需要现场使用电脑控制；菜单式控制界面，操作简单方便；技术参数：SoLu-BLu CO2型号SoLu-BLu CO2工作条件-2 ℃ ~ 40℃潜水深度0-50m测量范围0-50mg/L，0-2000 μatm ，0-5000 μatm ， 0-10000 μatm ，精度最大量程的 +- 3%电源7 to24 VDC直径5cm长度26cm传感器重量300 g （不含电缆）输出信号RS232,0-5VDC, 4-20mA点将科技-心系点滴，致力将来！ table： (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信，获取更多服务：

总部位于德国柏林科技园区的SENTECH仪器公司，已成为光伏生产设备世界市场之 一.我们是一家快速发展的中型公司，拥有60多名员工，他们是我们有价值的资产我们団 队的每个成员都为公司的成功做出贡献，我们总是在寻找与我们志同道合的新工作伙伴，我 们诚挚期待您的加入。薄膜测量仪器反射膜厚仪RM 1000和RM 2000扩展折射率指数测量极限我们的反射仪的特点是通过样品的高度和倾斜调整进行精确的单光束反射率测量，光学布局的高光导允许对n和kffl 行重复测量，对粗糙表面进行测量以及对非常薄的薄膜进行厚度测量. 紫外-近红外光谱葩围 RM 1000 430 nm-930 nm RM 2000 200 nm - 930 nm 高分辨率自动扫描 反射仪RM 1000和RM 2000可以选配x-y自动扫描台和自动扫描软件、用于小光斑尺寸的物镜和摄像机。综合薄膜测量软件FTPadv Expert宽光谱范围和高光谱精度 SENresearch4.0光谱椭偏仪覆盖宽的光谱范围，从190 nm（深紫外）到3500 nm（近红外）。 傅立叶红外光谱仪FTIR提供了高光谱分辨率用以分析厚度高达200|jm的厚膜。 没有光学器件运动（步进扫描分析器原理） 为了获得测量结果,在数据采集过程中没有光学器件运动。步进扫描分析器（SSA）原理是SENrsearch4.0光谱椭偏仪的一个独特特性。 双补偿器2C全穆勒矩阵测量 通过创新的双补偿器2C设计扩展了步进扫描分析器SSAJ京理，允许测量全穆勒矩阵。该设计是可现场升 级和实 现成本效益的附件。 SpectraRay/4综合椭偏仪软件 SpectraRay/4是用于先进材料分析的全功能软件包,SpectraRay/4包括用于与引导图形用户界面进 行研究的交互 模式和用于常规应用的配方模式.激光椭偏仪SE400adv亚埃精度稳定的氣氤激光器保证了 0.1埃精度的超薄单层薄膜厚度测量。 扩展激光欄偏仪的极限 性能优异的多角度手动角度计和角度精度优越的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折 射率、消光系数和膜厚. 高速测量 我们的激光椭偏仪SE 400adv的高速测量速度使得用户可以监控单层薄膜的生长和终点检 测，或者做样品均匀性的自动扫描。综合薄膜测量软件FTPadvExp测量n, k,和膜厚 该软件包是为R（入）和T（入）测量的高级分析而设计的。 查层膜分析 可以测量单个薄膜和层畳膜的每一层的薄膜厚度和折射率. 大量色散模型 集成的色散模型用于描述所有常用材料的光学特性。利用快速拟合算法，通过改变模型参数 将计算得到的光谱调整到实测光谱。

Femto Easy公司专注于超快测量学。总部位于法国波尔多，成立于2016年。产品广泛应用于物理，光学等科学研究，以及精密制造等工业领域。超快激光技术位居光子学技术的前沿，而测量超短脉冲则是一项复杂而具有挑战性的任务。很多时候，这项任务可能因其繁琐性而变为困扰。Femto Easy公司当前的产品线包括用于表征分析和管理超快激光的所有有用仪器。例如，时域测量（ROC和FROG）、光谱测量（MISS光谱仪）和空间测量（BeamPro）的创新设备。这些设备涵盖了从紫外到中红外的波长范围及从5飞秒到80皮秒的大脉冲持续时间范围。我们产品目录中新增了一款创新且精巧的频率转换器，可用于直接耦合您的超快激光器以产生谐波。 高分辨率FROG提供了关于所有重要脉冲特性重要的可视反馈，包括脉冲持续时间、光谱宽度、啁啾、脉冲前缘倾斜、相位调制、色散等特性。通过FROG设备可获取复杂形状的超短脉冲的强度和相位。FROG还可以分析完出完整的随时间变化的电场强度时间分布以及带有光谱相位信息的等效光谱。换句话说，FROG不仅能获得激光脉冲的时间和频率特性，还可获取持续时间和光谱相位等信息。 1.单次飞秒脉冲测量仪 飞秒脉冲测量仪FAST FROG基于二次谐波产生，其测量结果可靠且结构紧凑。波前分割技术和微型成像光谱仪等关键设计特性使得Fast FROG在非常易于使用且用途广泛的同时还可实现精确的测量。共有六种型号可供选择，在广域光谱范围内，涵盖了从5fs到10 ps的不同脉冲宽度范围。两款设计可用：一款主要依靠透射光学器件的设计适用于长脉冲，另一款采用完全消色差器件的设计适用于超短脉冲。 优势：◆实现逐个脉冲测量：实时逐个脉冲提取：强度和相位的时间分布、基频光谱和相位、啁啾、三阶色散、脉冲持续时间 ◆使用便捷且功能多样，其内置的高分辨率光谱仪能够提供前所未及的测量精度◆可用光谱范围广（480 – 2100 nm）◆用途广泛：可即时替换光谱仪以适用于不同波长范围◆与多种脉冲整形器兼容，可实现快速压缩◆适用于任何重复频率◆单脉冲提取可适用于最高125 kHz的激光重复频率（需订购增强探测和触发两项可选功能）最长脉冲时间150 fs250 fs500 fs1 ps3 ps5 ps10 ps可达到光谱范围(nm)480-2100480-2100480-2100480-2100480-2100480-2100800-2100光谱窗口 Δ (nm)580420420300300300300输入脉冲重复频率single-shot to GHz2单次脉冲测量最高125kHz的激光重复频率(具有触发和增强探测可选功能)或18kHz(不具触发和增强探测可选功能单次脉冲250μJ1μJ1μJ1μJ1μJ1μJ1μJ1 kHz10μJ100nJ50nJ50nJ50nJ50nJ50nJ50 MHz20nJ1nJ1nJ200pJ200pJ200pJ200pJ1 GHz不适用50pJ50pJ25pJ25pJ25pJ25pJ输入偏振线性竖直探测单元CMOS 12 Bits -3 Mpx -72 dBPC接口USB 3.1光束高度(mm)69-148尺寸(mm)326x194x129 产品可选功能◆附加晶体 ：默认的 Fast FROG 配置包括一个晶体。（不同晶体间切换仅需几秒）。◆额外的MISS 光谱仪 ：默认的 Fast FROG 配置包括一台成像光谱仪 MISS。◆光纤输入连接器：带光纤连接器的即插即用准直模块。◆增强检测：用更高性能的成像单元替换Fast FROG中嵌入的默认单元，以增强系统规格（更好的时间分辨率和光谱分辨率，单脉冲提取可于最高 125 kHz重频下实现。◆低能量：当激光功率太弱时，选购此内部模块可增加Fast FROG的灵敏度。◆低重复率：激光重复率低时可使用的同步模式。建议低于 200 kHz。 ◆相位匹配：默认 MS- FROG 配置适用于给定的中心波长。◆高动态范围：通过软件方式实现，将Fast FROG 信号采集的动态从12位增加到16位。◆相位环路：选购此项为 Fast FROG 主控软件添加执行脉冲整形器的频谱相位反馈回路的功能◆脉冲前缘倾角/空间啁啾测量：在软件中测量时空耦合。相应地校正FROG 轨迹以提高脉冲提取的准确性。◆外部触发器：将Fast FROG 探测动作与外部信号同步，以实现在重频最高 36 kHz 时的精确激光单脉冲提取 2.FROG 多次飞秒脉冲测量仪MS-FROG无疑是Femto Easy提供的功能最为全面的产品之一。公司自主设计的高分辨率光谱仪保证实验结果达到前所未有的精准度。MS-FROG专门为pJ至nJ 脉冲能量的激光源开发，可测量从 4 fs 到 80 ps 的脉冲。MS-FROG-SP 在精细扫描模式下的分辨率为 50 as，可以测量超短脉冲和宽脉冲。MS-FROG 集成了专门为 FROG 测量开发的内置光谱仪，保证了脉冲表徵应用所需的高光谱分辨率和最佳性能表现。 优势：◆自主研发的热插拔式光谱仪，并可根据需求进行定制且不受第三方组件规格的限制。◆易于更换以适用于不同波长范围。用户界面友好：无需校准且也无需调整。◆高灵敏度◆短飞秒脉冲与长皮秒范围测量的相结合◆可用光谱范围广（500 – 2100 nm）◆光谱窗口范围Δλ从 200至 700 nm◆可测量低于5飞秒的脉冲◆可提供光线输入接口（FC / APC，FC / PC）◆用途广泛：可即时替换光谱仪以适用于不同波长范围 MS-FROGMS-FROG-SPMS-FROG-LPMS-FROG-SLP最短脉冲时间10 fs- 50 fs4fs-20 fs20 fs4fs-20 fs最长脉冲时间40 pS40 pS80 pS80 pS精细扫描模式范围不适用 4-100 fs不适用4-100fs可达到光谱范围(nm)500-21002 光谱窗口 Δλ(nm)From 200 to 7002最小时间分辨率1 fsstandard:1 fsfine scan: 50 as2 fsstandard: 2 fsfine scan: 50 as扫描速度65 ps/s standard:65ps/sfine scan:400fs/s130 ps/sstandard:130 ps/sfine scan:400 fs/s输入脉冲重复频率 100 Hz to GHz31 MHZ50 pJ10 nJ50 pJ10 nJ100 MHz5 pJ1 nJ5 pJ1 nJ输入偏振线性数值探测单元CMOS 12 Bits -3 Mpx-72 dBPC接口USB 3.1光束高度(mm)69-148尺寸(mm)326 x194x129 产品可选功能:◆附加晶体：默认的 Fast FROG 配置包括一个晶体。如需扩展设备的波长范围，可订购额外晶体（不同晶体间切换仅需几秒）。◆额外的MISS光谱仪：默认的 Fast FROG 配置包括一台成像光谱仪 MISS。如需扩展设备的波长范围，可订购额外的即插即用MISS光谱仪并在系统内更换。◆光纤输入连接器：带光纤连接器的即插即用准直模块。可以安装在Fast FROG上，轻松将输入模式从自由空间切换到光纤并无需校准光路。◆低能量：当激光功率太弱时，选购此内部模块可增加Fast FROG的灵敏度。◆低重复率：激光重复率低时可使用的同步模式。建议低于 200 kHz。◆相位匹配：默认 MS- FROG 配置适用于给定的中心波长。通过相位匹配，可以调谐 SHG 晶体在测量不同中心波长时获得最佳信噪比。◆极少周期延长：将最短脉冲持续时间扩展到少周期脉冲范围。MS-FROG可达10fs，MS-FROG-SP与MS-FROG-SLP可达4fs。

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g