荧光寿命成像显微系统

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2… 和三重态T1… ，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的第一个( 也是*一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合最终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的最高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。显微荧光寿命成像系统FLIM参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），最小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，最高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中最多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：1.通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。2.对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2…和三重态T1…，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的*一个( 也是唯一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合*终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。FLIM 应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5 m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的*高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的不二选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统 FLIM 软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中*多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：NO.1 通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。NO.2对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：测试案例

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

近年来，钙钛矿型闪烁体及钙钛矿型 X 射线直接探测器被广泛研究及报道。在发光闪烁体层面，钙钛矿纳米晶闪烁体通过溶液即可制得，成本极低，且具备全色彩可调谐辐射发光的特点。在直接探测层面，铅卤钙钛矿材料因其具备较大的原子序数、高吸收系数等优点，在 X 射线直接探测领域同样表现出非常优异的性能。卓立汉光能够提供基于 X 射线的稳态发光光谱，荧光寿命，瞬态光谱以及 X 射线探测成像的相关测量方案。能够提供全套涵盖 X 射线激发源、光谱仪、稳态及瞬态数据处理、成像测量（CMOS 成像，单像素成像，TFT 面阵成像）、辐射剂量表、辐射安全防护等，辐射防护防护满足国标《低能射线装置放射防护标准》（GBZ115-2023）。如下陈述我们几种测量方案及相关配置明细( 一 ) 稳态光谱及荧光寿命采集基于皮秒 X 射线和 TCSPC 测量原理的方法纳秒脉冲 X 射线 稳态和寿命测量数据( 二 ) X 射线探测成像X 射线探测成像光路图X 射线探测成像及脉冲 X 射线实现光电流衰减测量TFT 集成的面阵 X 射线成像 成像测量结果( 三 ) 技术参数稳态光谱及荧光寿命采集基于皮秒X 射线和TCSPC 测量原理的方法包含：皮秒脉冲激光器、光激发X 射线管、TCSPC 或条纹相机。 由皮秒脉冲激光器激发“光激发X 射线管”发射出X-ray 作用于样品上，样品发射荧光，经光谱仪分光之后，由探测器探测光信号，数据采集器读取数据。皮秒X 射线测量荧光寿命原理图纳秒脉冲X 射线150KV 纳秒脉冲X 射线* 安全距离要求：a：3 米，b：6 米，c：30 米稳态和寿命测量数据NaI 样品在管电压50KeV，不同管电流激发下的辐射发光光谱 纳秒X 射线激发的荧光衰减曲线X 射线探测成像X 射线探测成像光路图X 射线探测成像及脉冲X 射线实现光电流衰减测量TFT 集成的面阵X 射线成像TFT 传感芯片规格TFT 读取系统规格成像测量结果 CMOS 成像实物图分辨率指标：TYP39 分辨率卡的X 射线图像。测试1mm 厚的YAG(Ce) 时，分辨率可以优于20lp/mm 手机充电头成像测试密码狗成像测试技术参数稳态X 射线激发发光测量光源 能量：4-50KV，功率：0-50W 连续可调，靶材：钨靶，铍窗厚度 200μm样品位置辐射剂量：0-25Sv/h光路透射和反射双光路，可切换 光谱范围200-900nm（可扩展近红外）监视器内置监视器方便观察样品发光，可拍照快门可控屏蔽快门，辐射光源最大功率下，关闭快门，样品位置辐射剂量小于10uSv/h辐射防护满足国标《X 射线衍射仪和荧光分析仪卫视防护标准》（GBZ115-2023）样品支架配备粉末、液体、薄膜样品架成像测量模块成像面积：直径20mm（可定制更大面积：120mm×80mm）成像耦合光路附件，样品测试夹具相机参数：颜色：黑白，分辨率：20MP, 5472 (H) x 3648 (V)，像元尺寸：2.4μm×2.4μm，量子效率：84%@495nm，暗电流：0.001e-/pixel/s，制冷温度：-15℃，成像分辨率：优于20lp/mm瞬态X 射线激发发光测量光源皮秒脉冲X 射线源纳秒脉冲X 射线源*405nm ps 激光二极管：波长：100Hz-100MHz 可调，峰值功率：400mW@ 典型值，脉冲宽度：100ps光激发X 射线光管：辐射灵敏度：QE10%（@400nm），靶材：钨，操作电压：40KV，操作电流：10μA@ 平均值，50μA@ 最大值 电压：150KV脉冲宽度：50ns重复频率：10Hz平均输出剂量率：2.4mR/pulse数据采集器TCSPC 计数器条纹相机（同时获得光谱和寿命）示波器瞬时饱和计数率：100Mcps 时间分辨率(ps)：16/32/64/128/256/512/1024/…/33554432通道数：65535死时间：＜ 10ns支持稳态光谱采集数据接口：USB3.0最大量程：1.08μs @16ps，67.1μs@1024ps， 2.19s@33554432ps 光谱测量范围：200-900nm时间分辨率：=5ps,( 最小档位时间范围+ 光谱仪光路系统)探测器：同步扫描型通用条纹相机ST10测量时间窗口范围：500ps-100us( 十档可选)工作模式：静态模式，高频同步模式以及 低频触发模式；系统光谱分辨率：0.2nm@1200g/mm单次成谱范围：=100nm@150g/mm静态（稳态）光谱采集，瞬态条纹光谱成像及荧光寿命曲线采集模拟带宽：500 MHz通道数：4+ EXT实时采样率：5GSa/s( 交织模式），2.5GSa/s( 非交织模式)存储深度：250Mpts/ch( 交织模式)，125 Mpts/ch( 非交织模式) 寿命尺度500ps-10μs100ps-100μs 100ns-50msX 射线探测成像 方式CMOS 成像单像素探测器TFT 集成的面阵探测器配置成像耦合光路附件，样品测试夹具相机参数：颜色：黑白分辨率：20MP, 5472 (H) x 3648 (V) 像元尺寸：2.4μm×2.4μm量子效率：84%@495nm暗电流：0.001e-/pixel/s制冷温度：-15℃XY 二维电动位移台：XY5050：行程：X 轴50mm，Y 轴50mm，重复定位精度1.5μm，水平负载4Kg；XY120120：行程：X 轴120mm，Y 轴120mm，重复定位精度3μm，水平负载20KgTFT 阵列传感芯片（可提供直接型和间接型芯片）：背板尺寸（H×V×T）：44.64×46.64×0.5 mm，有源区尺寸（H×V）：32×32mm，分辨率（H×V）：64×64， 像素大小：500×500μmTFT 读出系统：成像规格：解析度：64 行×64 列，数据灰阶：支持256 灰阶显示，数据通信方式：WIFI 无线通讯，数据显示载体：手机/ 平板（Android 9.0以上操作系统、6GB 以上运行内存）辐射剂量测定辐射计量表探测器：塑料闪烁体, Ø 30x15 mm连续长期辐射：50 nSv/h ... 10 Sv/h连续短期辐射：5 μSv/h ... 10 Sv/h环境剂量当量测量范围：10 nSv ... 10 Sv连续的短时辐射响应时间：0.03 s相对固有误差：连续和短期辐射：±15% 最大137 Cs 灵敏度：70 cps/(μSvh-1 )剂量率变化0.1 to 1 μSv/h 的反应时间 ( 精度误差 ≤ ±10%) 2 s全光产额测量方案 闪烁晶体的光产额（也称为光输出或光子产额）是指晶体在受到电离辐射（如γ 射线、X 射线或粒子）激发后，发射光子（通常是可见光）的数量。光产额通常以每单位能量沉积产生的光子数来表示，单位可以是光子/MeV。光产额是衡量闪烁晶体性能的重要参数之一，它是衡量闪烁体材料性能的重要指标之一，也直接关系到该材料在实际应用中的灵敏度和效率。常见的闪烁晶体包括碘化钠（NaI），碘化铯（CsI），和氧化镧掺铈（LaBr3）等。不同的晶体材料会有不同的光产额，这取决于其发光机制、能带结构、以及材料的纯度和缺陷等因素。研究闪烁体材料的光产额对于提高其性能、拓展其应用具有重要的意义。一些常见闪烁晶体的光产额值如下：碘化钠（NaI(Tl)）：约38,000 photons/MeV氯化铯（CsI(Tl)）：约54,000 photons/MeV氧化铈掺杂的氧化镧（LaBr3）：约63,000 photons/MeV钇铝石榴石掺杂铈离子（YAG:Ce）：约14,000 photons/MeV 光产额越高，意味着该晶体能够在相同的能量沉积条件下产生更多的光子，从而在探测器中生成更强的信号，通常也会导致更好的能量分辨率。卓立汉光提供一整套包含同位素源、屏蔽铅箱（被测器件及光路）、光电倍增管、高压电源、闪烁体前置放大器、谱放大器、多道分析仪及测试软件，实现闪烁体的光产额测量。同位素源Na-22（或 Cs-137 可选），屏蔽铅箱（被测器件及光路），充分保证测试人员安全 光电倍增管 光谱范围：160-650nm，有效面积：46mm 直径，上升时间：≤ 0.8ns 高压稳压电源 提供：0-3000V 闪烁体前置放大器 :上升时间＜ 60ns积分非线性≤ ±0.02%计数率：250 mV 参考脉冲的增益偏移 0.25%，同时应用 65,000/ 秒的 200 mV 随机脉冲的额外计 数速率，前置放大器下降时间：信号源阻抗为 1 MΩ，则下降时间常数为 50 μs 谱放大器高性能能谱，适合所有类型的辐射探测器（Ge、Si、闪烁体等） 积分非线性（单极输出）: 从 0 到 +10V0.025%噪声：增益 100 时，等效输入噪声 5.0uV rms；手动模式下，增益＞ 1000 时，等效输入噪声 4.5uV rms；或者自动模式下，增益 100 时，等效输入噪声 6.0uV rms温度系数（0 到 50° C）单极输出：增益为 +0.005%/'C，双极输出：增益为 +0.07%/'C，直流电 平为 +30μV/° C误差：双极零交叉误差在 50:1 动态范围内 ±3 ns增益范围：2.5-1500 连接可调，增益是 COARSE（粗调）和 FINE GAIN（微调增益）的乘积。单极脉冲形状：可用开关为 UNIPOLAR（单极）输出端选择近似三角形脉冲形状或近似高斯脉冲形状。配置专用 3kv 高压电源 2K 通道多道分析仪ADC: 包括滑动标度线性化和小于 2us 的死区时间，包括存储器传输 积分非线性 : 在动态范围的前 99% 范围内≤士 0.025%。 差分非线性 : 在动态范围的前 99% 范围内小于士 1%。 增益不稳定性 : 士 50 ppm/° C死区时间校正 : 根据 Gedcke-Hale 方法进行的延长的实时校正。 USB 接口 :USB 2.0 到 PC 的数据传输速度最高可达 480Mbps操作电脑/ 光学平台 尺寸：1500*1200*800mm台面 430 材质，厚度 200mm，带脚轮。固有频率：7-18Hz，整体焊接式支架

[ 产品简介 ]蔡司推出的全新Lightsheet 7激光片层扫描显微系统，助您高效便捷地实现活体和透明化样品的多视角成像。全新设计的物镜能够精确匹配透明化样品的折射率，从厘米大尺寸的样品，到多维时空的活体成像，无论是观察长达数天的生物发育过程，还是捕捉快速运动的血流心跳，都能助您游刃有余完成。同时，无需频繁更换物镜和样品仓,“傻瓜式”上样为您解放双手，提升效率，在简单调焦中实现理想光切。无需再为制备样品而烦恼，无需再为繁琐操作而困扰，让蔡司的Lightsheet 7系统，以简便轻松的方式带您洞悉生物世界。[ 产品特点 ]&bull 成像更深、速度更快、极低的光损伤&bull 适用于不同透明化制样&bull 全新样品定位方法创建多视角 (Multiview）数据，灵活的观察视野&bull 高灵敏度，高信噪比&bull 专利扫描技术获得高质量图像[ 应用领域 ]&bull 发育生物学：胚胎发育、器官发育等动态过程快速成像&bull 大型固定样品结构成像&bull 不同透明化样品成像&bull 三维细胞培养&bull 植物学等生命科学领域研究拟南芥花的发育图像-样品：图片由捷克共和国布尔诺市马萨里克大学中欧技术研究院（CEITEC）的S. Valuchova、P. Mikulkova和K. Riha提供。用改良的iDISCO 方法对Thy1-EGFP 标记的鼠脑进行透明化处理，在高折射率溶液（RI=1.56）中用Fluar 2.5x/0.12 物镜进行成像。样品由美国加州大学欧文分校的S. Gandhi 和TranslucenceBiosystems 公司提供。神经元类器官成像，像素尺寸：222 x 222 x 567 nm。图像体积：1.66 x 0.66 x 1.6 mm。样品由奥地利维也纳市分子生物技术研究所的D. Reumann 和J. Knoblich 提供。

仪器简介：HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）荧光光谱仪器可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。在细胞科学、生物物理和材料科学领域，重要变化经常会发生在时间和空间的微小尺度里。时间分辨荧光显微镜是研究细胞结构和纳米材料领域中动态事件的有效工具。与传统的荧光强度成像（由荧光显微镜获得）不同，荧光寿命是荧光基团的一个内在特性，因此它的测量不受非均匀负载，光漂白，激发光不稳定和光散射的影响。更重要地是时间分辨测试通过辨别显微点在样品中的位置获得更多关于分子运动、尺寸、所处环境、相互作用和键合的信息。借助于共聚焦显微镜的力量，可以得到清晰的样品成像、测定细胞内的局部作用和细胞结构的动力学。HORIBA科学仪器部推出的DynaMyc是基于滤光片式，全自动共焦显微镜系统，可在微观尺寸下测试荧光寿命和强度。DynaMyc采用高灵敏度的时间相关单光子计数（TCSPC）技术，荧光寿命范围100ps~100&mu s。整机包括：模块光学部件和Olympus BX51显微镜。它的成像部分包含X,Y,Z自动快速扫描平台，以及共聚焦设计，可在微米级的空间分辨率条件下实现荧光寿命成像。DynaMyc是一款灵活的研究工具，针对您的不同应用需求，可选多种波长的皮秒脉冲激光二极管光源，涵盖较宽的光谱范围（270~980nm），宽重复频率可调（CW~100MHz），多种滤光片以及不同检测器可选。可配置高动态范围、低噪声、制冷型照相机和高强度荧光照明，获得宽场荧光成像。DynaMyc由DataStation软件交互控制的一款全自动系统。基于去卷积分析后，可以生成各种参数的成像图，例如，寿命，相对振幅，平均寿命和荧光强度。DynaMyc是研究蛋白动态结合或解离及FRET的理想工具。可选附件：l 物镜（60/100X可选）l 皮秒脉冲激光二极管光源（多种波长可选）l 制冷型荧光相机技术参数：l 样平台：分辨率0.5µ m，行程范围75 x 50 mml 时间相关单光子计数（TCSPC）技术，寿命范围100ps~10&mu sl 光谱检测范围：185-650 nm/300-850 nm（TBX快速检测器）l 可配置DeltaDiode 100MHz高频率激光器，连续输出CW可选l 单点、多点和荧光寿命成像三种数据采集模式l 专业DAS6寿命分析软件能够快速数据分析l 可实现宽场荧光成像（制冷型荧光相机可选） 主要特点：l 时间相关单光子计数（TCSPC）技术，寿命范围100ps~10&mu sl 全自动紧凑光学寿命模块，可自动切换滤光片，二向色滤光片和针孔l 光纤耦合不同激光二极管（370~980nm）l 共焦头单元可自动切换针孔（100~1000&mu m）l 激光二极管（DeltaDiode），高重复频率可调（~100MHz），CW或脉冲模式可调l 直观的数据采集和分析软件l 宽场荧光成像（制冷型荧光照相机可选）

激光扫描共聚焦显微镜（LSM）是生物化学，细胞生物学和其他相关生命科学领域中广泛使用的工具。 通过使用时间分辨技术，可以进一步增强这些显微镜的功能，并具有以下优点：基于荧光寿命的荧光共振能量转移(FRET)效率量化测量利用时间分辨成像测量环境参数(pH,离子浓度)寿命测量与荧光团浓度无关利用荧光寿命拆分发射光谱重叠的荧光分子减少所需检测器的数量——一个检测器足以根据不同荧光团的特定寿命通过模式匹配同时检测不同荧光团用荧光寿命区分荧光对弹性和拉曼散射及其他背景噪声造成的影响荧光寿命作为一个进一步的参数提高了分析测量的准确性该升级套件作为激光扫描显微镜升级部件，在增强了功能性的基础上，更使整个系统简单易用。作为交钥匙系统，它主要包含三个单元:皮秒脉冲激发源，单分子灵敏度检测器，以及时间相关单光子计数(TCSPC)模块。特点：FLIM, FRET, FCS的交钥匙系统紧凑、易用、免维护的组件，所有的升级系统各个配置都高度模块化，具有无限的灵活性最大4通道独立探测模块的高灵敏系统荧光寿命探测范围从100ps到微秒级别高端易用、匹配多种分析方式的数据收集和分析软件可用于各向异性和厚组织FLIM新功能：rapidFLIMHiRes——利用超快FLIM成像和出色的5 ps时间分辨率实现动态过程可视化应用：时间分辨荧光rapidFLIM - 重新定义动态FLIM成像标准荧光寿命成像（FLIM）磷光寿命成像（PLIM）荧光相关光谱（FCS）荧光寿命相关光谱（FLCS）荧光互相关光谱（FCCS）荧光共振能量转移（FRET）脉冲交替激发（PIE）激光切割/烧蚀模式匹配分析时间分辨光致发光（TRPL）TRPL 成像反聚束效应各向异性参数：激发系统激光耦合台，基于皮秒脉冲半导体激光器(功率/重复频率可调, 最大80MHz)375-900nm波长范围支持单通道或者多通道驱动可选：支持外接第三方激光器 (如钛蓝宝石飞秒激光器和超连续谱激光器)新品：采用LDH-D-TA-560的560 nm皮秒脉冲激发支持显微镜的厂家型号Nikon：AX，A1, C2+, C2, C1siOlympus: FluoView FV3000, FVMPE-RS, FluoView FV1200 (MPE), FluoView FV1000 (MPE)Scientifica：VivoScope, HyperScopeZeiss：LSM 980, LSM 880, LSM 780, LSM 710探测方式最多可支持4通道相互独立的探测模块共聚焦和NDD配置通过光纤与显微镜连接探测器单光子雪崩二极管(SPAD) 混合型光电倍增管(Hybrid-PMT) 光电倍增管(PMT)数据采集方式基于时间相关单光子计数(TCSPC)的TTTR测量模式 多达四个通道的同时数据采集采集和软件SymPhoTime 64支持显微镜的厂家型号：AX，A1，C2+, C2，C1siFluoView FV3000FVMPE-RSFluoView FV1200 (MPE)FluoView FV1000 (MPE)HyperScopeVivoScopeLSM 980LSM 880LSM 780LSM 710

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。l S&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l 根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l 在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l 显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/ l 变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/ l 适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。l Monovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；l 应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等MonoVista CRS+ 特点：激光器深紫外到近红外波长范围多达内置4个波长激光器，外置外接大型激光器紫外和可见光/近红外双光束路径自动控制激光选择自动对准，聚焦和校准功能超高拉曼光谱分辨率 ＜0.9cm-1 @ 633 nm低波数拉曼,可测试到 +/- 10 cm-1高波数范围: 9000cm-1（@ 532nm）热电制冷和液氮制冷探测器正置/倒置/双显微镜空间分辨率：XY 1um Z 2um步进电机和压电驱动XYZ位移台快速3D拉曼Mapping荧光寿命成像Mapping功能集成控制液氮温度冷热台集成液氦温度低温恒温器可结合拉曼成像和原子力显微镜成像自动控制的偏振光谱功能L-Crystine的超低波数拉曼（正反斯托克斯）CCL4的超高拉曼分辨率TCSPC荧光寿命测试功能2 激光波长从375纳米到810纳米2 时间通道数：65536 ,分辨精度：4ps 2 各通道采集延时调节范围 ：± 100 ns，2 寿命时间抖动误差：12ps2 最大计数率：10MHz 最大同步率：84 MHz2 多种探测器选项，探测器通道：2个2 二维寿命成像，XY扫描压电位移台2 扫描台，范围可达几厘米，XY扫描精度优于500nm 2 固有响应时间：95ns2 仪器响应函数（IRF）200ps荧光寿命测试曲线荧光寿命MappingVistaControl硬件控制界面拉曼Mapping与显微图像对比MonoVista CRS+ 定制系统应用案例Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。 显微拉曼荧光寿命成像系统，型号：MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。lS&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/l变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/l适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。 lMonovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等。 低波数性能： Stokes/Anti-Stokes spectrum from L-Cystine显微拉曼荧光寿命成像系统特点：l深紫外到近红外波长范围l多达 4 个集成多线激光器，可选配外接大型激光器端口l紫外和可见光/近红外双光束路径l自动控制激光选择l自动对准，聚焦和校准功能l超高拉曼光谱分辨率，例如 FWHM＜25px -1 @ 633 nml利用低波数拉曼附件，低波数可测试到 +/- 10 cm-1 l高波数范围可达 225000px-1（@ 532nm），适用于光致发光l热电制冷和液氮制冷探测器l正置/倒置/双显微镜l步进电机和压电驱动 XYZ 位移台l快速拉曼 mappingl集成控制加热/冷却台，液氦温度低温恒温器l可结合拉曼成像和原子力显微镜成像l自动控制的偏振光谱功能 硬件与激光选择软件自动切换 荧光扣减与背景抑制功能 同一样品不同成分的拉曼成像图显微拉曼荧光寿命成像系统定制应用案例 Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

荧光寿命成像显微镜TauMap功能介绍提供激光器系统，激光器件，光学精密仪器设备，流动可视化测量和分析设备的最新进展和前沿应用信息 荧光寿命成像显微镜TauMap荧光寿命成像显微镜（FLIM）/荧光相关光谱（FCS）/荧光能量共振转移FRTE单细胞，细胞膜和组织的时间分辨荧光成像，用于生物，制药和医学研究:活体内分子和离子动力学的成像观测活体细胞中蛋白质相互作用的可视化倍频和荧光显微镜荧光寿命成像显微镜 (FLIM)荧光能量共振转移 (FRET)

激光共焦多维成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下特殊需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像； 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（可以选择双光子功能）激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS），FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

激光共焦多维荧光成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像；266nm 355nm 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（单/双光子功能） 激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS）， FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64是一款集数据采集和分析为一身的软件，它被用来控制，，及升级系统这三种显微共聚焦系统，和其他设备。该软件需要在位操作系统下工作，拥有简单易懂的用户操作界面。结构清晰，功能强大，使用户可以更高效的获取数据分析结果，并可以通过模式更加直观的管理数据。最后，通过基于语言的用户自定义编译脚本功能，用户可以任意改变分析和测量的具体步骤。特点：功能强大的64位数据采集和分析软件单点，2D，和3D的TTTR数据采集，包含有可在线预览FLIM，FCS，time trace和TCSPC数据的功能FLIM、快速FLIM和FLIM-FRETFCS、FCCS、FLCS、PIE-FCS，符合相关，总相关分析FRET、PIE-FRET荧光随时间的分析及单分子荧光爆发现象分析各向异性分析TCSPC寿命拟合，包括先进的误差分析基于"STUPSLANG"语言的用户自定义编译脚本功能应用：荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64可以被用于时间分辨共聚焦数据采集实验，如：时间分辨荧光荧光寿命成像(FLIM)磷光寿命成像(PLIM)荧光相关光谱(FCS)荧光寿命相关光谱(FLCS)荧光共振能量转移(FRET)超分辨显微(STED)双聚焦荧光相关光谱(2fFCS)脉冲交错激发(PIE)单分子探测/光谱学Pattern Matching分析时间分辨磷光(TRPL)TRPL成像镧化物上转换反聚束参数：数据采集可联用TCSPC模块HydraHarp 400, PicoHarp 300, TimeHarp 260, MultiHarp 150，TimeHarp 200 (仅数据导入)可联用荧光系统MicroTime 200 MicroTime 100激光扫描显微系统 (LSM)，支持Nikon, Olympus或 Zeiss品牌 单独的 TCSPC 模块 通过TCP/IP接口远程控制 (支持ZEN和 NIS Elements)探测通道数量1 到 8 detectors采集模式单点采集，多点采集，2D成像(XY，XZ，YZ)，3D成像(XYZ)，定时成像(XYT)，用于调节系统时使用的示波器模式采集预览FLIM, FCS, FLCS 和FCCS, Time Trace, TCSPC柱状图 最多同时在线显示4种数据自动化测量Z轴逐层成像, 定时成像, 图片缝合, 多点测量硬件控制PDL 828 "Sepia II" 激光驱动器 E-710, E-725, E-727和宽范围扫描仪控制器(Physik Instrumente)MicroTime 200的快门系统 MicroTime 200 中宽视场荧光相机IDS uEye USB3数据分析总体特点时间门控 BinningTCSPC binning TCSPC拟合(1到5多指数衰减拟合)最小平方拟合, 最大可能性估算拟合, IRF解卷积拟合，尾部拟合，自举误差分析TCSPC曲线的全局化分析图形化交互界面成像FLIM, FLIM-FRET, 荧光强度FRET, 各向异性成像, (时间门控) 荧光强度成像Pattern Matching, 快速Pattern Matching 可调寿命颜色分配及对比度 特定区域分析 (ROI)用于相位分析的 Bin输出（通过荧光动力学实验室开发的第三方软件Globals）相关分析FCS, FCCS, FLCS, PIE–FCS STED-FCS, STED-FLCS FCS 拟合 (拟合模型: 扩散常数, 三重态, 构象分析, 质子化, 高斯PSF, 用户自定义, 自举误差分析) 全局分析 FCS校准 反聚束/符合相关，总相关FRETPIE (脉冲交错激发) 渗滤校正 FLIM-FRETSTEDSTED, 门控STED, STED-FLIM, 交错脉冲 STED及共聚焦, 分辨率估计荧光强度Trace分子闪烁(On/Off 柱状图), 计数率柱状图 (PCH), 爆发量柱状图, 强度门控制TCSPC, 荧光寿命 Traces, 寿命柱状图, BIFL稳态各向异性包含物镜校正系数导出数据格式BMP, ASCII, TIFF, BIN用户自定义脚本译 (STUPSLANG)用户自定分析步骤, 拟合功能, 多条件筛选 整合控制外部其他器件

激光共焦多维成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下特殊需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像； 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（可以选择双光子功能）激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS），FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2…和三重态T1…，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的*一个( 也是唯一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合*终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。FLIM 应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5 m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的*高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的不二选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统 FLIM 软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中*多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：NO.1 通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。NO.2对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：测试案例

武汉东隆科技为德国PicoQuant的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！单分子时间分辨共聚焦荧光显微系统MicroTime 200在许多尖端科学领域，单分子研究具有重要意义。例如分子运动的量化研究和分子交互性的研究。这些研究领域对设备仪器的灵活性和多样性提出了更高的要求。德国PicoQuant公司的Micro Time 200系统的多功能性恰好可以胜任这些工作。作为当前世界顶尖的时间分辨共聚焦荧光显微成像系统，Micro Time 200具备了针对单分子级别相关实验和分析的能力。 Micro Time 200可选配多种波长的皮秒二极管激光光源，还拥有皮秒级别的时间分辨率，支持最多4个完全独立的探测通道，可以全面支持当今生物和物理方面的单分子研究课题，如FLIM，FRET，FCS（包含自相关和互相关）以及各向异性的研究，以及同时进行AFM/FLIM或者深紫外探测。同时配备了稳定， 精确的扫描系统， 完美满足单分子应用需求。MicroTime200家族又新增了空间分辨率高达50nm的MicroTime 200受激发射减损超分辨时间分辨共聚焦荧光显微系统（STED）。该系统配套的SymPhoTime 64能够提供强大、全面的数据采集和处理功能，而且针对以上提到的实验，提供了一键式运行模块，最大程度降低了操作的复杂程度，进一步提高了实验效率，是荧光相关领域研究的绝佳选择。特点：集成激发光源, 倒置显微镜和多通道探测模块的一体化系统375nm-900nm多波段皮秒脉冲激光器最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元针对FCS和FLIM快速动力学研究，有时间相关单光子计数（TCSPC）和TTTR两种模式适用于2D和3D寿命成像和精确点定位的压电平移台两个额外光路输出口用于拓展应用匹配有进阶易用型数据采集、分析和可视化软件SPT64双聚焦FCS、AFM/FLIM联用和深紫外激发的独特升级可提供STED附件，用于超分辨率成像FLIMbee 振镜扫描附件，具有出色的扫描速度灵活性和优秀的空间精度可以通过使用FLIMbee振镜在X轴上进行线扫描来实现scanning FCS测量基于后口激发的“二维载流子扩散成像”套件功能：荧光寿命成像（FLIM）及深层组织FLIM荧光共振能量转换FRET 及脉冲交错激发FRET（PIE-FRET）荧光强度相关光谱（FCS）及互相关光谱（FCCS）荧光寿命相关光谱（FLCS）及互相关光谱（FLCCS）双聚焦FCS各向异性检测深紫外探测串序脉冲荧光分析（Burst Analysis）参数：激发系统光纤整合型皮秒脉冲半导体激光器（功率/重复频率可调, 最大80MHz）支持外部激光器（如钛蓝宝石激光器）375~900nm波长范围支持Solea超连续白光光源支持单通道或者多通道驱动支持266nm紫光激发显微镜OlympusIX73或IX83倒置显微镜预留左侧和背面接口，可做拓展应用（如TIRF）包含透射照明部件独特的25x25mm手动样品固定台标准样品架（用于20x20mm载玻片）可选落射荧光照明可选低温恒温器用于低温型实验可选与原子力显微镜整合物镜规格标准20x和40x物镜可选多种高端特殊物镜（水/油镜, 红外/紫外强化, 超长工作距离型等）扫描台80 μm x 80 μm规格2D压电扫描台（1nm定位精度）PIFOC 3D立体成像（行程80 μm，定位精度1nm）80 μm x 80 μm物镜扫描（1nm定位精度）可选厘米级别大范围扫描台主要光学部件最多可支持4通道的共聚焦探测模块多种规格的分光部件额外的输出接口易于更换型二向色镜支架模块用于光斑分析的CCD相机和光电二极管所有光学元件都可替换和调整探测器单光子雪崩二极管（SPAD）混合型光电倍增管（Hybrid-PMT）光电倍增管（PMT）数据采集方式基于时间相关单光子计数TCSPC 的TTTR测量模式独立4通道同步采集分析软件SymPhoTime 64

清晰的对比，即时产生寿命成像STELLARIS 8 FALCON（FAst Lifetime CONtrast，快速寿命对比）是功能成像的未来发展方向。 利用荧光寿命成像的强大性能来研究细胞生理学并探索活细胞动力学。 STELLARIS 8 FALCON 是一款完全整合的荧光寿命成像 (FLIM) 解决方案，以视频速率进行荧光寿命成像来研究活细胞的快速动力学。STELLARIS 8 FALCON 为您的成像增加了一个新的对比维度，实现生物传感以及跟踪蛋白质之间的相互作用。 现在，荧光寿命成像信息可用于STELLARIS 8 系统的所有模块。您现在可以： 通过 FLIM-FRET（荧光共振能量转移）跟踪分子间的快速相互作用。 使用生物传感器检测代谢状态和微环境的变化 通过寿命对比区分多个荧光团 经过简单的培训即可获得荧光寿命成像数据HeLa 细胞中的笼锁cAMP（环磷酸腺苷），表达 EPAC mT2-dVenus FRET 传感器。 EPAC对紫外线介导的cAMP（环磷酸腺苷）解笼锁的反应（中心区域）。 视频采集速度4帧/秒。 图像大小： 256 x256 像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。 由荷兰阿姆斯特丹癌症研究所的Kees Jalink和Bram van den Broek提供。通过 FLIM-FRET 跟踪分子间相互作用现代科研工作研究分子间如何进行相互作用来完成重要任务。 FLIM-FRET 是探索这种相互作用的金标准。STELLARIS 8 FALCON 为 FLIM 仪器设定了新的速度标准。它能在高度动态的细胞事件中完成荧光共振能量转移 (FRET)实验。 您可以在日常实验中采集和分析 FRET 数据。用凝血酶活化肽刺激后的钙振荡。 单个细胞中的响应被记录为寿命变化。 视频以4 pfs速率拍摄。 图像大小： 256 x 256个像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。 由荷兰阿姆斯特丹癌症研究所的Kees Jalink和Bram van den Broek提供。用生物传感器监测细微而快速的变化生物传感器是代谢活动、信号传导机制、酸碱度和微环境变化的强大报告元件。STELLARIS 8 FALCON 可提供荧光寿命中包含的信息，即使在膜电位动力学这类高速事件中也不例外。 这些信息是 STELLARIS 8 系统提供的光谱荧光强度成像和TauSense模式的有力补充。非生理条件下哺乳动物细胞的自发荧光 （酸碱度为 8.5）。 信号与内源性 NAD/NADH 的变化相关。 氧化应激的发展表现为荧光寿命随时间缩短。 原始图像大小： 512 x 512 像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。更可靠、更灵敏的代谢成像自发荧光 在传统成像中可能是一个问题。 STELLARIS 8 FALCON 可将其转化为有价值的信息。 您现在可以将自发荧光转化为代谢状态、细胞分化和癌症发展的报告元件。此外，STELLARIS 8 FALCON 能够对活组织进行成像对比，而荧光标记通常是非特异性的，或者会破坏生理条件。超越光谱选项的荧光基团分离荧光标记是区分细胞内结构的标准方法。 光谱分离方法非常强大，但有时当发射光谱太接近时，这个方法就会受到限制。使用 STELLARIS 8 FALCON，您可以充分利用荧光寿命成像的潜力，使用指数拟合、谱图拟合和新的 FLIM 相量分离分析功能来分离多个荧光探针。交互式图像： 通过寿命对比加以区分的细胞骨架结构。 波形蛋白用Alexa Fluor 555（绿色）免疫标记，微管蛋白用Alexa Fluor 546（蓝色）免疫标记。 荧光基团的光谱非常相似，但它们可通过荧光寿命信息区分。 图像大小： 512 x 512 像素。含有Alexa Fluor 555（绿色）溶液中的荧光珠（品红色）单通道图像。 基于荧光寿命的荧光基团分离可以在不同的速度下进行，例如 16帧/秒（上）、27帧/秒（视频速率，中）和 83帧/秒（超快，下）。 通过寿命信息进行染料分离明显比强度信息（灰度）更有优势。 视频展示了寿命组分的逐像素拟合。 帧大小： 512 x 64 像素。 比例尺： 10微米。使用 STELLARIS 8 FALCON 进行快速寿命成像STELLARIS 8 FALCON 显微镜克服了FLIM的速度限制，可快速提供寿命数据。到目前为止，由于FLIM的技术限制，从快速过程的荧光寿命数据中获取功能信息仍有很大难度。 FLIM采集速度比记录共聚焦强度至少慢10倍。使用 STELLARIS 8 FALCON 快速荧光寿命对比成像， 您能够以适当的速度跟踪细胞的动态过程。 这是因为采用了一种新的时间测量方法，即采用 TCSPC（时间相关单光子计数）技术和智能的数据处理和分析算法。轻松采集复杂样本。 高分辨率小鼠胚胎成像，由包含1.9亿像素的722张图像拼接而成。 通过四个特有荧光寿命拟合的FLIM数据，彩色编码。 采集时间： 1小时23分。 分析时间： 1小时一体化的多模态成像STELLARIS 8 FALCON 使 FLIM 与其他模态的结合变得十分简单。 一直以来，研究人员都不得不处理复杂的布线和繁琐的文件传输工作。 使用 STELLARIS 8 FALCON，您可以将寿命信息整合到标准的共聚焦工作流程中。STELLARIS 8 FALCON 可完全整合到 LAS X 采集与分析软件中。 它既可以同时记录4个光谱通道，又可先后记录多达10个通道的荧光寿命成像。 使用 STELLARIS 8 FALCON，您能够在 3D 层扫、延时序列乃至大型拼接成像方式中获得荧光寿命信息。使用 LAS X NAVIGATOR，您可以将观察区域扩大10,000 倍，更快地识别感兴趣的区域，以全新的方式研究样本。Alexa555-鬼笔环肽和 H2B-mCherry 标记的细胞。 使用 FLIM phasors 执行组分离。 相量图清晰地显示了两种寿命分布。 样本提供方： 德国康斯坦茨大学生物系 Martin Stö ckl 博士。通过相量简单确定寿命使用 STELLARIS 8 FALCON 的 FLIM 相量图进行分析，可显示寿命分量的 2D 图。 通过 FLIM 相量分析，您可以跟踪微环境变化，选择多路信号的组分来确定 FRET 效率。一键式设计，让您能够专注于科学研究： 由 LAS X 软件控制的 STELLARIS 8 FALCON只需点击一下即可获得您需要的结果使用 LAS X 软件，只需点击一下即可获得荧光寿命成像，方法与常规光谱成像相同。即使您将显微镜当作一种辅助技术，您也可以找到重要的内容，并立即开始成像。更专业的功能可作为工作流程提供，为您实现方便的自动化工作。

产品介绍随着二维材料研究的蓬勃发展，其材料性能及器件工作机制都与传统半导体材料和器件有很大差异，光电流成像显微系统成为研究材料性能和检测材料光电流强度分布的重要设备，既可以用于测量光电材料的光电响应信号，又可以表征材料的光电性质。托托科技致力于开发具有高性能、高稳定性和高灵活度的微区光电流成像显微系统，系统采用双层平台机构，空间大，提供更多组合可能性，可搭配激光合束模组、高精度XY运动台、电磁场系统、低温恒温系统、锁相放大器、光谱仪系统等。系统兼容磁场、电场、低温，实现对二维材料磁、光、电、温度的调制。我们提供完整的NI Labview控制程序以方便用户的使用。软件包将所有系统中的测试设备统一控制，可以实现四种变量任意组合的光电流测试，即可以一次性测量不同变量下的光电流信号。系统结构图增强版系统外观如下，各个产品应客户要求，略有区别。产品亮点1、超宽谱激光兼容2、高精度XY运动台3、光路准直共路4、可搭配源表/探针台5、可搭配光谱仪系统/探测器6、高稳定性，操作便捷扫描数据参考Bi2Se3薄膜的光电流扫描数据(Nat. Comm. 9, 2492 (2018)) WTe2薄膜的光电流映射数据 (Nano Lett. 19, 2647 (2019)) 系统升级选项 1、搭配低温恒温系统 (5k -500k) 2、时间分辨光电流 3、荧光测试功能 4、磁场整合关键技术指标(TTT-03-PC)成像系统显微镜Carl Zeiss 正置式显微镜照明光源LED照明光源物镜5X、20X、100X，可选配多种倍率、超长焦距物镜反射式物镜，覆盖全波段相机彩色CMOS相机 (1920*1080 像素)激光耦合输入常规波长范围400 ~ 2000 nm (典型可见光：405nm、473nm、532nm、671nm，近红外：808nm、1064nm、1342nm、1550nm、1950nm)可选波长中红外激光器：4um-12um，间隔1um其他选配光源可选配光纤接口，支持光纤导入准直激光装配类型单个激光器，或者激光合束模组(支持四个激光器准直共路)扫描平台位移台类型高负载、高精度XY运动台，直线驱动，闭环反馈扫描范围100mm*100mm扫描精度50nm双向可重复性±0.5um广泛测试环境Keithley 2400或用户需求可选配探针台或者PCB板连接源表，提供电压输入及探测可搭配电磁铁、低温恒温系统可选配锁相放大器、斩波器可搭配光谱仪系统、各种探测器等检测设备其他参数软件基于labview的全自动软件设备尺寸140 cm * 100cm * 170cm附属配件光学平台、电脑、无线鼠标备注:1、订购时指定激光类型。2、设备可配置多种电学仪表。安装要求温度20 – 40℃湿度RH 60 %电源220 V, 50 Hz应用实例系统的典型应用包括但不限于：1、表征自旋累积、自旋寿命2、表征光电流3、表征反射谱

时间相关单光子计数相机——宽场荧光寿命成像FLIM姓名：谷工(Givin) 电话： 邮箱：光子计数是获得尽可能多的光所带来的信息的方法。在这里，我们提出的时间相关单光子计数相机系统不仅可以检测单个光子的到达时间，而且可以像相机一样直观地定位。单光子计数相机LINCam可以将任何简单的广域显微镜扩展成强大的荧光寿命成像系统。时间相关单光子计数相机LINCam是一种解决无扫描时间相关的单光子计数问题的相机。这款时间相关单光子计数相机可以精确地分辨单个光子的X和Y位置，拥有1000*1000像素的CCD和50ps的精确时间分辨能力。与脉冲光源配合时，时间相关单光子计数相机LINCam使任何传统的荧光显微镜成为一个强大的寿命测量仪器。带有现成光学元件的单光子计数相机LINCam也是激光雷达等宏观应用的解决方案。应用领域：宽视场荧光寿命显微成像FLIM光照明3D FLIM时间相关拉曼显微时间飞行测量弱光观测宽场TCSPC荧光寿命显微成像FLIM谷百合样本荧光寿命成像的示例：强度图像(a)是获得光子的位置的直方图。荧光寿命分析揭示了四个组成部分：τ1=0.19ns；τ2=0.67ns；τ3 = 1.95ns；τ4 = 3.75ns。所得到的叠加图像(b)显示了强度图像和平均寿命。数据采集处理：采集系统集成了时幅转换器TAC、模数转换器ADC、电源供应、参考信号恒比鉴别器CFD等功能。技术参数：

次世代荧光寿命成像相机/FLIM相机Lambert Instrument推出的Toggel是一款次世代荧光寿命成像相机/FLIM相机，它结合卓越的光灵敏度和易于获取的图像和数据分析等优点，简化了研究人员和成像中心的功能成像。次世代荧光寿命成像相机应用：活细胞成像Live-cell imaging使用内置的延时功能跟踪示例中的生命周期如何随时间变化。只需设置两次测量之间的持续时间和时间，我们的软件就可以完成其余的工作。这个视频截图是HeLa细胞的延时拍摄。加入异丙肾上腺素150秒后，cAMP迅速增加，荧光寿命相应延长。随后cAMP分解，荧光寿命逐渐降低。FLIM数据由荷兰癌症研究所提供。单图像荧光寿命成像Single-image FLIM演示了Lambert仪器荧光寿命成像相机Toggel用于单图像FLIM (siFLIM)检测组胺诱导的Ca2+浓度变化。加入组胺后，Ca2+水平出现微小振荡(~2.5 s周期)。这种微小而快速的瞬变现象被传统的FLIM记录下来时是完全不被注意的。细菌研究GFP-tagRFP荧光团被连接的枯草芽孢杆菌细胞与GFP-tagRFP荧光团被分裂的枯草芽孢杆菌细胞以1:1的比例混合 导致两种细胞的混合，一种是由于tagRFP的猝灭而导致GFP荧光寿命较短，另一种是GFP荧光寿命较长。图片由格罗宁根大学提供高通量筛选阿姆斯特丹大学的研究人员开发了一种多位置荧光寿命成像(FLIM)筛查方法来筛查明亮的FPs。然而，该方法可以应用于任何荧光寿命是一个重要参数的实验。次世代荧光寿命成像相机Toggel图片库下面的图像是用Toggel记录的，并在Toggel附带的LIFA软件中处理的。在ImageJ中对寿命图像进行拼接。次世代荧光寿命成像相机配置方案宽场荧光显微Widefield在宽视场显微镜上，荧光寿命成像相机Toggel结合多通道LED光源提供了一个强大而紧凑的FLIM解决方案。Toggel兼容广域显微镜的相机端口，而多通道LED光源兼容广域显微镜的标准荧光端口。转盘共聚焦荧光显微Spinning-disk confocal作为一种基于相机的系统，Lambert仪器用于频域FLIM的LIFA系统与多光束共焦显微镜技术兼容，知名的横河CSU旋转圆盘系列(基于Nipkow圆盘扫描仪)，以及Visitech International的VTInfinity系列。全内反射荧光显微Total Internal Reflection Fluorescence (TIRF)全内反射荧光(TIRF)显微镜便于极高对比度的可视化，因此在覆盖玻璃附近的荧光灵敏度很高。通常，靠近盖玻片的光学部分约为100纳米。TIRF和频域FLIM的独特组合使得测量寿命成为可能，例如，覆盖玻璃附近的小焦点粘连。次世代荧光寿命成像相机用户应用文献：Lability of Stationary and Time-Resolved Optical Properties of the Conformationally Locked CFP Chromophore Derivative（构象锁定CFP发色团衍生物的稳态和时间分辨光学性质的不稳定性）Advanced Imaging Techniques Enhance Fluorescence SensingsiFLIM: single-image frequency-domain FLIM provides fast and photon-efficient lifetime data（siFLIM:单图像频域FLIM提供快速和光子效率的寿命数据）Single Cell FRET Analysis for the Identification of Optimal FRET-Pairs in Bacillus subtilis Using a Prototype MEM-FLIM System（利用原型MEM-FLIM系统进行枯草芽孢杆菌中蕞优FRET对的单细胞FRET分析）荧光寿命成像相机TOGGEL规格指标：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密、先进激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

荧光寿命成像FLIM入门套件昊量光电新推出的荧光寿命成像FLIM入门套件代表了一个完整的仪器解决方案，专门为追求单光子FLIM成像和荧光寿命光谱应用而设计。 荧光寿命成像FLIM入门套件核心参数：-蕞小可分辨荧光寿命50ps-激光波长:405、445、488、520、635和850nm或其-脉冲持续时间降至50ps (FWHM)- FC/PC光纤耦合单光子SPAD探测器，具有7 cps暗计数和 200ps时间抖动- SPAD传感器光谱响应从370nm到900nm，峰值灵敏度在450nm-可定制的基于FPGA的技术多达25个荧光输入通道-即插即用的USB 3.0 SuperSpeed micro-B PC接口-包括成像和光谱软件 荧光寿命成像FLIM入门套件组成模块：荧光寿命成像FLIM数据采集卡tdc我们的紧凑型，便携式，USB驱动的数据采集卡专为荧光寿命成像和光谱测量而设计。便携式和即插即用基于FPGA的可定制技术尺寸101 x139x28mmUSB供电重量轻(仅120克)USB 3.0超高速接口蕞小可分辨荧光寿命50ps蕞小时仓宽度为24或48ps定时精度(σ/√2)300ps失效时间1.5ns蕞小像素停留时间1µ s 光纤耦合皮秒脉冲激光器模块我们的单模光纤耦合皮秒脉冲激光模块可以在各种波长提供低至50ps的短光脉冲，峰值功率高达150mW。激光二极管增益开关技术可选波长:405、445、488、520、635和850nm尺寸135×110×50 mm独立模块，无需计算机连接FC/PC光纤耦合激光二极管 SPAD单光子探测器我们的USB供电的光纤耦合单光子SPAD探测器是专门为时间分辨荧光寿命成像和光谱测量而设计的。由于其便携和轻便的大小，它允许没有先例的时间标记。单光子雪崩二极管技术USB供电，便携式尺寸100 x60x30mmTE-cooled传感器FC/PC光纤耦合探测器器 荧光寿命成像FLIM软件FLIM软件旨在简化荧光寿命光谱和成像实验的数据采集、重建和分析。该环境提供了一个用户友好的界面和任何用户都可以使用的直观工具。实时成像和荧光衰减直方图数据重建实时FLIM相量图分析人工智能驱动的相量图分析技术用于数据采集和重构的软件API (Rust, C, c++， c#， Python, node.js， .NET)MATLAB, Python, HDF5， .SVG flim相量和成像数据导出云数据存储支持平台:Windows、Linux 更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

功能：微区荧光寿命衰减曲线测量；微区PL谱激发光斑：＜1um；光学相机视场：小于0.5mm荧光寿命范围达：5ps--10s，最宽的测量区间 全集成的基于PC软件系统，确保数据质量；可选：1. 高脉冲激光光源；可选266-1030nm波长光源，可接入4个激光器；2. 可选配：液氮变温控制工作台；3. 可升级选配：自动工作台, 获得FLIM功能；4. 皮秒检测器（波长和冷冻可选）；5. 时间分辨率≤1ps；6. 时间抖动 jitter time ＜10ps；7. 计时速率＞65MHz/channel 8. 同时采集信号通道≥8 channel；9. 微区光谱波长范围：360-1100nm；10. 寿命采集波长范围：400-1050nm；（可选红外二区波段）11. 分光，可以选用扫描单色仪；也可以采用滤光片；推荐理由：深紫外和红外激发波长可兼顾；微区荧光寿命；荧光寿命动力学；TCSPC 时间相关单光子计数技术；Picosecond to millisecond TCSPC (time-correlated single-photon counting) for measuring fast fluorescence decays

教学型金相荧光共聚焦显微系统是杭州柏纳推出的高性价比荧光共聚焦显微镜，可实现宽场荧光成像， 荧光共聚焦成像，金相共聚焦成像等功能，不仅可以观察固定的细胞、组织切片，还可以对活细胞的结构、分子、离子进行实时动态观察和检测。高性价比更可用于显微系统的实验教学。主要特点：l 宽场模式和共焦模式可切换；l 高性价比：单通道荧光成像，可自行更换光源l 光路可视化l 单层实时扫描成像、单层连续扫描成像、三维层析扫描成像；l 高分辨率：XY方向上的分辨率可达到200nm，Z向分辨率可达330nml 可选配细胞样本和荧光颗粒主要应用：1. 物理光学专业实验教学：激光共聚焦显微镜原理、光路结构；显微镜宽场模式与共聚焦模式的区别；荧光特性研究；2. 生物医学专业实验教学：细胞形态学分析，三维图像重组；细胞、亚细胞结构观察定位；活细胞实时动态监测；荧光漂白实验等。主要参数：教学型金相荧光共聚焦显微系统激光光源标配：488纳米（10mW）；选配：405 纳米（10mW）；638 纳米（10mW）； 模拟/TTL电平调制； 强度可调（0-100%）； 单模光纤，FC/PC 连接器。分辨率XY方向上的分辨率可达到200nm，Z向分辨率可达330nm扫描参数双轴XY高速光学扫描振镜 扫描像素：4096 x 4096；扫描速度： 4fps（512 x 512）扫描模式XY，XYT、XYZ（FPP （固定像素和 扫描层）模式，FSP （固定扫描范围）模式）针孔选择电动针孔，无极变速，调节范围0-1mm，可控精度1umXY平移台手动XY平移台：25 × 25 mm，最小步进：1μm电控Z轴：最小步进：20nm物镜10X，40X，100x 软件功能单层实时扫描成像、单层连续扫描成像、三维层析扫描成像相机实时监测Z轴调焦图像轮廓曲线标定，图像画面调整，图像打开保存等功能

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

德国徕卡显微系统Leica徕卡显微系统: Leica Microsystems徕卡显微系统是全球显微镜与科学仪器供应商。徕卡显微成像系统的历史可追溯到19世纪，作为德国的光学制造企业，徕卡显微成像系统拥有160年显微镜生产历史，逐步发展成为显微成像系统行业的全球领导厂商。徕卡显微成像系统一贯注重产品研发和新技术应用，并保证产品质量一直走在显微镜制造行业的前列。 一、微观结构成分分析解决方案 DM6 M LIBS将目视检验和定性化学检验组合在一个工作步骤中，与使用传统 SEM/EDS 检验相比， 测定微观结构成分的时间可节省 90%。集成激光光谱功能可在一秒钟内针对您在显微镜中看到的材料结构提供准确的化学元素图谱。DM6 M LIBS 二合一解决方案可助您执行物相的结构和元素/化学分析，例如矿石、合金、陶瓷等。无需进行样品制备，也无需在 2 个或更多设备之间进行转移。整个分析工作流程全部在一台仪器上完成。LIBS：您的化学分析研究利器DM6 M LIBS 解决方案运用激光诱导击穿光谱 (LIBS) 使定性化学分析成为可能。单击即可触发分析，激光将穿透样品上的瞄准点。一个等离子体将会产生，然后分解。产生的特征光谱显示材料中的元素的分布图谱。软件将图谱与已知的元素和化合物数据集进行对比，从而确定微观结构的成分。数据集可以随着用户获得的具体材料结果得到扩充。 二、徕卡DM4 M&徕卡DM6 M正置显微镜 工业测量正置显微镜使用 Leica DM4 M 进行手动例程检查使用 Leica DM6 M 进行全自动材料分析Leica DM4 M 正是为您打造的手动编码日常检查系统。l 2-齿轮手动调焦驱动器l 6 位或 7 位编码物镜转盘l 手动 3 叠式载物台，6 个符合人体工学设计的可编程按钮l 照明管理系统l 对比度管理器l LED 照明装置可实现所有对比度模式l 相衬模式：明场、暗场、微分干涉相衬、偏振、荧光l Leica Application Suite (LAS) 软件 Leica DM6 M 正是能够实现精度和可复制性的检查系统。 l 2-齿轮高精度电动调焦驱动器l 6 位或 7 位电动物镜转盘l 手动或电动扫描平台l 触屏控制l 照明管理系统l 对比度管理器l LED 照明装置可实现所有对比度模式l 相衬模式：明场、暗场、微分干涉相衬、偏振、荧光l Leica Application Suite (LAS) 软件三、工业倒置显微镜 Leica DMi8 M / C / A徕卡倒置式显微镜助您加速工作流程徕卡倒置式显微镜可以为您节省时间和资金。区别于正立式显微镜，您可直接将样品置于载物台对其表面对焦一次，然后在所有放大倍率下对焦，并对后续样品进行操作。由于物镜位于载物台下方，与样品发生碰撞的危险大大降低。 Leica DMi8 M 系统l 受益于经济实用的 Leica DMi8 手动版l 手动 2 档l 6 位 M25 物镜转盘l UC-3D 照明装置l 对比技术：明场、偏振、微分干涉相衬 (DIC)l LED 照明装置可实现所有对比度模式l 照明控制l Leica Application Suite (LAS) 软件四、Leica DM2700 M 正置金相显微镜徕卡 DM2700 M 正置金相显微镜由高质量的徕卡光学元件以及先进的通用白光 LED 照明组成。对于金相学、地球科学、法医检查以及材料质控和研究来说，它是进行所有类型常规检查的理想工具。徕卡 DM2700 M 向您展示了显微镜高境界的简单可靠性，还能够帮助您改进工作流程。

清晰的对比即时产生寿命成像 STELLARIS 8 FALCON STELLARIS 8 FALCON（FAst Lifetime CONtrast，快速寿命对比）是功能成像的未来发展方向。 利用荧光寿命成像的强大性能来研究细胞生理学并探索活细胞动力学。 STELLARIS 8 FALCON 是一款完全整合的荧光寿命成像 (FLIM) 解决方案，以视频速率进行荧光寿命成像来研究活细胞的快速动力学。STELLARIS 8 FALCON 为您的成像增加了一个新的对比维度，实现生物传感以及跟踪蛋白质之间的相互作用。 现在，荧光寿命成像信息可用于STELLARIS 8 系统的所有模块。您现在可以： 通过 FLIM-FRET（荧光共振能量转移）跟踪分子间的快速相互作用。 使用生物传感器检测代谢状态和微环境的变化 通过寿命对比区分多个荧光团 经过简单的培训即可获得荧光寿命成像数据猫眼组织切片。 同时进行的光谱（灰色）和 FLIM（彩色）共聚焦成像显示了寿命对比情况。 使用 STELLARIS 8 FALCON 和 LAS X 软件采集和显示。通过 FLIM-FRET 跟踪分子间相互作用现代科研工作研究分子间如何进行相互作用来完成重要任务。 FLIM-FRET 是探索这种相互作用的金标准。STELLARIS 8 FALCON 为 FLIM 仪器设定了新的速度标准它能在高度动态的细胞事件中完成荧光共振能量转移 (FRET)实验。 您可以在日常实验中采集和分析 FRET 数据。HeLa 细胞中的笼锁cAMP（环磷酸腺苷），表达 EPAC mT2-dVenus FRET 传感器。 EPAC对紫外线介导的cAMP（环磷酸腺苷）解笼锁的反应（中心区域）。 视频采集速度4帧/秒。 图像大小： 256 x256 像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。 由荷兰阿姆斯特丹癌症研究所的Kees Jalink和Bram van den Broek提供。用生物传感器监测细微而快速的变化生物传感器是代谢活动、信号传导机制、酸碱度和微环境变化的强大报告元件。STELLARIS 8 FALCON 可提供荧光寿命中包含的信息，即使在膜电位动力学这类高速事件中也不例外。 这些信息是 STELLARIS 8 系统提供的光谱荧光强度成像和TauSense模式的有力补充。用凝血酶活化肽刺激后的钙振荡。 单个细胞中的响应被记录为寿命变化。 视频以4 pfs速率拍摄。 图像大小： 256 x 256个像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。 由荷兰阿姆斯特丹癌症研究所的Kees Jalink和Bram van den Broek提供。 更可靠、更灵敏的代谢成像自发荧光 在传统成像中可能是一个问题。 STELLARIS 8 FALCON 可将其转化为有价值的信息。 您现在可以将自发荧光转化为代谢状态、细胞分化和癌症发展的报告元件。此外，STELLARIS 8 FALCON 能够对活组织进行成像对比，而荧光标记通常是非特异性的，或者会破坏生理条件。非生理条件下哺乳动物细胞的自发荧光 （酸碱度为 8.5）。 信号与内源性 NAD/NADH 的变化相关。 氧化应激的发展表现为荧光寿命随时间缩短。 原始图像大小： 512 x 512 像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。超越光谱选项的荧光基团分离荧光标记是区分细胞内结构的标准方法。 光谱分离方法非常强大，但有时当发射光谱太接近时，这个方法就会受到限制。使用 STELLARIS 8 FALCON，您可以充分利用荧光寿命成像的潜力，使用指数拟合、谱图拟合和新的 FLIM 相量分离分析功能来分离多个荧光探针。交互式图像： 通过寿命对比加以区分的细胞骨架结构。 波形蛋白用Alexa Fluor 555（绿色）免疫标记，微管蛋白用Alexa Fluor 546（蓝色）免疫标记。 荧光基团的光谱非常相似，但它们可通过荧光寿命信息区分。 图像大小： 512 x 512 像素。使用 STELLARIS 8 FALCON 进行快速寿命成像STELLARIS 8 FALCON 显微镜克服了FLIM的速度限制，可快速提供寿命数据。使用 STELLARIS 8 FALCON 快速荧光寿命对比成像， 您能够以适当的速度跟踪细胞的动态过程。 这是因为采用了一种新的时间测量方法，即采用 TCSPC（时间相关单光子计数）技术和智能的数据处理和分析算法。STELLARIS 8 FALCON 可完全整合到 LAS X 采集与分析软件中。 它既可以同时记录4个光谱通道，又可先后记录多达10个通道的荧光寿命成像。 使用 STELLARIS 8 FALCON，您能够在 3D 层扫、延时序列乃至大型拼接成像方式中获得荧光寿命信息。一体化的多模态成像STELLARIS 8 FALCON 使 FLIM 与其他模态的结合变得十分简单。 一直以来，研究人员都不得不处理复杂的布线和繁琐的文件传输工作。 使用 STELLARIS 8 FALCON，您可以将寿命信息整合到标准的共聚焦工作流程中。使用 LAS X NAVIGATOR，您可以将观察区域扩大10,000 倍，更快地识别感兴趣的区域，以全新的方式研究样本。轻松采集复杂样本。 高分辨率小鼠胚胎成像，由包含1.9亿像素的722张图像拼接而成。 通过四个特有荧光寿命拟合的FLIM数据，彩色编码。 采集时间： 1小时23分。 分析时间： 1小时通过相量简单确定寿命使用 STELLARIS 8 FALCON 的 FLIM 相量图进行分析，可显示寿命分量的 2D 图。 通过 FLIM 相量分析，您可以跟踪微环境变化，选择多路信号的组分来确定 FRET 效率。即使您将显微镜当作一种辅助技术，您也可以找到重要的内容，并立即开始成像。 Alexa555-鬼笔环肽和 H2B-mCherry 标记的细胞。 使用 FLIM phasors 执行组分离。 相量图清晰地显示了两种寿命分布。 样本提供方： 德国康斯坦茨大学生物系 Martin St?ckl 博士。 只需点击一下即可获得您需要的结果使用 LAS X 软件，只需点击一下即可获得荧光寿命成像，方法与常规光谱成像相同。更专业的功能可作为工作流程提供，为您实现方便的自动化工作。一键式设计，让您能够专注于科学研究： 由 LAS X 软件控制的 STELLARIS 8 FALCON

DeltaHub——DeltaFlex的关键部件 超短的死时间（10ns）：配合高重复频率的激光光源和高速检测器，可实现无损失的光子计数，达到快速采集数据和准确的分析结果。 超快寿命测试技术：真正实现了荧光寿命动力学测试，采集时间低至1ms（全球同类产品中 快），支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。新型脉冲半导体光源 DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源（四大类型，百种可选），即插即用，无需校准，而且终身免维护。 其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz，是超快寿命测试的 选择光源，同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比，SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围，以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。科研级模块化设计 在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器，即可实现11个数量级（25ps-1s）范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计，配合全新的F-Link技术，可自动识别各类部件，软件直接接入、附件即插即用，能够无限满足升级需求。尤其是其中采用了行业优先的寿命拟合软件，没有费用开放数十种主流专业拟合功能，可单独于仪器操作。 多种光谱仪可选，配合像差校正光栅，覆盖200-1600nm宽光谱范围，完美实现时间分辨发射谱功能，支持100条发射波长动态连续监测，软件自动获得衰减相关光谱参数。 荧光寿命技术是科研中强有力的工具，可广阔用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。主要应用：FRET(Forster共振能量转移)Stern-Volmer猝灭稀土发光时间分辨和磷光各向异性分子互作，蛋白结构变化太阳能材料单线态氧测试光物理技术参数：基于滤光片或单色仪实现波长选择皮秒超快集成化PPD光子检测模块（标配）可升级NIR检测器（~1700nm）综合分析受命拟合软件，开放数十种拟合功能标准液体样品架，加载温度传感器和搅拌装置大尺寸样品仓，配置高效UV级光学部件F-Link即插即用型交互界面主要特点：超宽寿命测试范围25ps-1s 超快测试时间（低至1ms），完美实现动态反应分析超微量样品测试，低至1μL综合分析软件，5指数寿命拟合高稳定性设计，使用维护简单高度自动化，一键测量分析大尺寸样品仓设计，强劲的附件兼容能力高性能荧光、磷光寿命测试功能

Argolight宽场显微荧光成像校准片“让每一个产生的图像都有价值”，“防止不良图像的发生和浪费您的时间”，“不要让不良数据减慢你的研究速度”法国Argolight公司的砖利产品，为荧光系统提供质量控制解决方案(硬件和软件)，帮助显微镜/荧光系统/荧光载玻片扫描设备/荧光微孔板读取设备的用户和制造商评估其成像仪的再现性/重复性，实施质量控制。它们通过防止使用成像质量不佳时的成像仪，来帮助节省时间和金钱。我们在载玻片中设计的图样允许用户用单一设备对他们的系统进行广泛的测试。该产品超稳定，荧光图样终身有效。Argolight宽场显微荧光成像校准片硬件：型号：Argo-LM Slide V2适用于：低放大倍率显微系统，放大倍率 5x to 20x, 例如：宽场显微镜 AxioScope AxioObserver lines, LS line, Revolve line, Eclipse line, IExplore BX lines每张Argo-LM载玻片包含5个荧光显微图案。每一种图案都可以用免费的配套软件来处理，以检测显微镜性能的像差和漂移。用户可以在问题影响图像质量前发现显微设备问题，和/对图像进行故障排除。荧光寿命终身存在尺寸:75 x25x1.5毫米材料:阳极氧化铝外壳，AG03玻璃芯激发范围:连续250-650 nm发射范围:连续从激发波长加15nm，到800nm浸渍介质相容性:干燥，油:无限制，水物镜:每次小于20分钟储存条件:室温(10-40℃)，正常相对湿度(20- 70% RH)成像技术兼容性:任何基于荧光的成像，但基于损耗的和多光子成像除外光暴露损伤阈值:50 GW/cm2辐照度(峰值或平均)Argolight宽场显微荧光成像校准片软件：在同一软件中执行图像分析并管理质量数据打开专有格式，无需插件记录在案的算法和开放格式导出Argolight Daybook软件有两步过程，将图像分析和数据管理联系起来。自动图像处理分析图案图像与其特征之间的差异。然后，该软件表达了由科学文献、专家或制造商支持的值的不同。这些值可以存储在数据库中，允许它们以清晰和按时间顺序显示。然后，您可以将这些测量值与用户或制造商定义的公差进行比较，以评估显微镜的质量。完整的荧光质量管理解决方案校准和监测荧光系统的帷一方法是重现我们想要测量的特征，并使这些特征非常稳定和完全已知。该解决方案允许您监控系统的校准，量化偏差，重要的是纠正它。Argolight使用砖利技术将荧光特征诱导到玻璃中。这些模式可以复制细胞的大小和荧光强度的特征，这是完全已知的和稳定的。结合我们的软件，我们提供了一个完整的荧光质量管理解决方案。诱导荧光模式Argolight使用了一种名为“荧光刷”的创新砖利技术。该技术在透明材料(从亚微米到厘米尺度)内部以3D方式诱导荧光模式。这项技术结合了尖端的光化学、光学和材料科学。“荧光刷”是一种非漂白技术:所有图案都是稳定的，可重复使用。生产技术载玻片的核心由Argolight工厂生产的特殊玻璃基板组成，以确保均匀性和纯度。这种玻璃的配方是我们的科学家经过10多年的研究开发出来的。玻璃被放置在金属载体上，具有与标准显微镜载玻片相同的尺寸(75毫米× 25毫米)，除了它的厚度是1.5毫米。在整个过程中，所有3个维度的精度都保持在10微米以下，以确保高水平的组装。然后在Argolight用光子学方法诱导出这些图案。然后用尖端测量系统来表征载玻片的图案和物理特性。每个载玻片都经过测试和内部质量控制，以确保有意义的测试结果。有300多家客户使用我们的产品。加入他们一起应对重复性困扰。资料– from National Metrology Institutes such as the BAM / Federal Institute for Materials Research and Testing: http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/15986157– from microscopes manufacturers such as Carl Zeiss Microscopy: http://link.springer.com/chapter/10.1007/4243_2008_026#page-1-我们的解决方案符合ISO 21073:2019“用于生物成像的荧光共聚焦显微镜光学数据” 文献Quality Assurance Testing for Modern Optical Imaging Systems更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

显微拉曼荧光成像综合测试系统功能： 显微荧光，显微拉曼，显微荧光寿命； 荧光寿命成像FLIM/PLIM，快速拉曼成像； 微区透射吸收；微区反射吸收； 上转换光谱及寿命，成像； 超高压附件耦合；技术参数： 空间分辨率＜1μm 光谱分辨率 ≤1cm-1 光谱及寿命测试波长范围：250-1650nm； 荧光寿命：100ps-10ms全时域测试； 可扩展低温到4k-550k, 高压GPa MPa； 最多耦合拉曼激光4个波长；荧光寿命激光4个； 最短激励波长：266nm；