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原位红外表征真空系统

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原位红外表征真空系统相关的仪器

  • FI-RXF100-R-T双通道、双样品腔傅里叶红外光谱仪,是顺应市场需要推出的一款国产化研究型红外光谱分析系统,紧凑轻盈、灵活高效,可以满足透射、ATR测量、漫反射、镜反射等多种测量模式的任意组合,且无需频繁更换附件。满足第三方实验室固、液、气体样品的测量及科研院所对各类催化剂原位表征的需要。FI-RXF100-R-T创新性地设计出2个独立的、等效的样品腔,且不会额外增加仪器的体积,双通道自动切换技术,可以极大提高用户的测量效率;该系统配置高灵敏度液氮冷却MCT检测器及室温DLaTGS检测器,方便用户对不同的应用场景均可实现最优化测量。产品特点 双通道、双样品腔设计,相互独立且等效使用; 软件自动切换通道,方便快捷; 软件自动选择不同的扫描速度,可选择2.5K~60K等6挡速度; 软件自动进行K-M变换,更方便用户比较漫反射谱图的变化; 全自动采集及连续采集模式,满足在线分析和原位测量的需求; 随时保存或调入背景谱图进行分析,软件可提示背景有效时间; 样品腔宽敞通透,兼容各类大型红外附件; 大型附件不用频繁更换,光路准直性好; 防潮性ZnSe分束器,可免除用户的维护强度; 低温检测器和室温检测器的配合,使用户的检测效果更加优化; 适合各类催化剂的表征应用,原位反应池的气路、水路及电路等外围连接装置可以长久安置,不用担心更换; ATR测量和其他测量模式,可以平行并存,极大提高测试效率;FI-RXF100-R-T 在催化剂表征中的应用在催化研究领域,傅里叶变换红外光谱仪的应用越来越受到研究人员的重 视。一方面,红外表征催化剂的方法简单,速度快,而且几乎没有任何耗 材(正常的液氮消耗除外);另一方面,红外表征催化剂的方法很成熟, 已经被众多研究者所认可。目前,市场上使用红外法来研究催化剂的方式主要有:原位红外漫反射和 原位红外透射。这两种方法可以为用户提供以下信息: 研究催化剂的化学反应动力学 用于在线研究催化剂在高温或高压或高真空环境下的催化性能 获得催化反应的反应机理和反应过程 通过对探针气体分子与催化剂在不同温度下的吸附和脱附实验,可以了解催化剂表面的吸附活性位和吸附性能 对催化剂的酸碱性能进行有效表征 为制备新型的催化剂提供实验数据 实现对催化剂样品的成分鉴定和结构分析下图为中国科学院某研究所使用FI-RXF100-R-T对不同的催化剂进行原位漫反射和原位透射的表征现场。FI-RXF100-R-T 在多任务检测中的应用实验室检测人员往往会接到各类不同的样品测试需求,比如固体、液体、气体样品的测量,或者对样品进行不同的分析,透射或者ATR反射测量,这种情况下,更换不同的红外制样附件,耗时且易出错。FI-RXF100-R-T可以根据客户实际需求来配置固定的附件,自动实现光路的切换,准确高效。 可加热的原位透射池 高温/真空原位漫反射红外池 高温/高压原位漫反射红外池 低温/真空原位漫反射红外池 材料的绝对透过率(平行光入射) 材料漫透射测量(积分球附件) 材料的反射率测量(反射角度 10°、30°、45°、80°及变角附件等) ATR 测量(晶体可选:金刚石、硒化锌、锗晶体等) 常规固体、液体、气体样品的透射表征产品参数 项目FI-RXF100-R-T 主要参数通道/腔体全自动切换的双通道、双样品腔光谱范围5000-500cm-1 光谱分辨率≤0.5cm -1波数精度≤0.01cm-1 干涉仪国产高稳定立体角镜干涉仪,恒久准直,使用寿命大于 10 年分束器国产中红外专用硒化锌(ZnSe)防潮分束器 检测器1、高灵敏度液氮冷却 MCT 检测器,内置 ADC,液氮保持长达10 小时,标配面板防冻裂设计;2、防潮型高灵敏度 DLaTGS 检测器,内置 ADC红外光源长寿命中红外陶瓷光源,工作温度 1550K激光器固体激光器,10 年质保测量技术双通道测量技术,可以极大提高测量效率;独立、等效的双样品腔结构可以满足透射、ATR 测量、漫反射、镜反射等多种测量模式的任意组合,且无需频繁更换附件。满足实验室固、液、气体样品的测量及各类原位表征的需要。软件1、Win10 操作系统下的全中文版处理软件,功能包括:红外光谱测量功能、光谱数据预处理功能、谱图快速比较功能、标准谱峰检索功能、用户自建标准谱库功能、定量分析功 能、自动扣除金刚石/CO2 吸收峰功能、智能峰位识别报警功能、一键式测评功能、报告自动生成及打印功能等。2、可实现自动切换通道,配置 20K、40K、60K 等不同的快速扫描速度及漫反射测量 K-M 数据自动变换功能。3、可以实现全自动软件采集及连续采集,满足在线分析和原位测量的需求。数据库可根据用户需要,配置相应的的红外谱图数据库尺寸750 mm×515 mm×223 mm主机配置清单名称型号数量备注傅里叶红外光谱仪FI-RXF100-R-T1 台主机液氮检测器-1 套包含室温检测器-1 套包含干燥剂管-2 个包含电源线/网线-1 套包含电脑-1 套可选原位漫反射附件,可配置高温、低温、高压反应池-1 套可选原位透射附件(固液吸附、气固吸附)-1 套可选温控系统-1 套可选 配气系统-1 套可选循环水系统-1 套可选真空泵系统-1 套可选 其他可用于原位催化研究的主机除此之外,还提供其他高灵敏度红外主机用于催化剂的原位表征,比如:FI-RXF100-R 和 FI-RXF200。下图为某大学的客户使用 FI-RXF100-R 及原位漫反射池进行研究。
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  • 一体化设计、全密封结构,集成了防潮型 ZnSe 分束器和高灵敏度的检测器。宽敞的样品仓可与用户的红外透射池/ATR 附件/漫反射池完美匹配。即使实验中涉及的原位漫反射附件,如温控仪、管线等辅助设备都可以合理放置,不占用实验室有限的空间资源,使得整个原位红外装置简洁紧凑。FI-RXF100-R 额外配置了外置式可调节的高精度光圈,用户可以根据样品的特性(如厚度、颜色等)随时调节光圈大小,而无需在软件中进行选择,这样的设计配合不同档位的增益功能,可以让用户实时、快速地看到样品最大的红外光通量,获取最佳的信噪比。FI-RXF100-R 还可以安装其他各类原位红外漫反射附件或者原位吡啶吸附池等与催化剂表征相关的的红外装置。会按照您不同的科研项目,实现您个性化的实验需求。硬件特点干涉仪:具有优异的性能、良好的可靠性、完美的稳定性和极强的抗干扰性能;提供 10年期的质量担保光学系统:全部使用金反射镜,反射率比铝镜高 5 %以上;抗氧化性强,光学性能更稳定检测器:可选高灵敏度 DLaTGS、电子制冷 MCT、液氮制冷 MCT 等固态激光器:性能稳定,使用寿命达 10 年以上光源:高性能,使用寿命长FI-RXF100-R傅里叶变换红外光谱仪的应用领域:红外光谱仪可以采用不同的红外测量模式,比如固体透射、ATR 反射、漫反射等。固体透射: 各种固体粉末的压片; 薄膜材料的定性分析; 热压成膜定量分析; 可透红外光的材料,如各类玻璃、翡翠、晶体材料、功能改性材料等;固体 ATR 测量: 各类粉末样品,无需压片,直接测量; 不规则形状的样品,测后不破坏样品; 各类聚合物、纤维、薄膜等高聚物样品; 各种O 型圈、橡胶类样品; 其他透射难以测量的样品;液体透射: 密封液体池定量测量有机溶液、易挥发溶剂; 拆卸液体池,可改变光程,定量分析; 各类润滑油的定量分析; 在红外窗片上形成液膜进行定性分析;气体测量: 直通式气体池,玻璃或不锈钢材质,可选温控,光程可选 1.5 厘米、3 厘米、5 厘米、7 厘米等, 适合用户测量高浓度气体; 多次反射式气体池:不锈钢材质,可选温控,光程可选 50 厘米、100 厘米、5 米、定制光程等, 适合用户测量低浓度气体; 防腐气体池:可为用户定制特种材质的气体池,比如 热红联用、腐蚀性气体的测量;原位红外原理红外光谱的采集需要首先测量背景光谱,然后再采集样品谱图,系统会自动计算得到样品的透过光谱或者吸收光谱,这两种谱图形式可以相互转化。因此,如果用户想获得催化剂本身的谱图,那么就需要以氮气为背景测量空白光路,然后再测量催化剂的薄片即可。如果用户研究催化剂的吸附/脱附性能,那么我们可以直接以催化剂样品作为背景来测量,然后再通入探针分子进行吸附/脱附,这样获得的就是探针分子在催化剂表面的红外吸收。FI-RXF100-R 定制红外具备宽敞的样品空间,可以实现原位透射测量,也可以进行原位漫反射测量。下图为原位漫反射测量的示意图,配置有冷却水循环系统和高精度温控系统。FI-RXF100-R 在催化剂表征中的应用在催化研究领域,傅里叶变换红外光谱仪的应用越来越受到研究人员的重视。一方面,红外表征催化剂的方法简单,速度快,而且几乎没有任何耗材(正常的液氮消耗除外);另一方面,红外表征催化剂的方法很成熟,已经被众多研究者所认可。目前,市场上使用红外法来研究催化剂的方式主要有:原位红外漫反射和原位红外透射。这两种方法可以为用户提供以下信息: 研究催化剂的化学反应动力学 用于在线研究催化剂在高温或高压或高真空环境下的催化性能 获得催化反应的反应机理和反应过程 通过对探针气体分子与催化剂在不同温度下的吸附和脱附实验,可以了解催化剂表面的吸附活性位和吸附性能 对催化剂的酸碱性能进行有效表征 为制备新型的催化剂提供实验数据 实现对催化剂样品的成分鉴定和结构分析 FI-RXF100-R其它相关应用领域 可加热的原位透射池 高温原位漫反射红外池 材料的绝对透过率(平行光入射) 材料漫透射测量(积分球附件) 材料的反射率测量(反射角度 10°、30°、45°、80°及变角附件等) ATR 测量(晶体可选:金刚石、硒化锌、锗晶体等) 常规固体、液体、气体样品的透射表征 特别适用于: 定制化附件的应用 条件苛刻的测试环境主要技术性能光谱仪参数干涉仪:立体角镜迈克耳逊干涉仪,能适应各类现场分束器:硒化锌防潮分束器及防潮窗片红外光源:空冷陶瓷光源,1550K检测器:高灵敏度DLaTGS 检测器、或者可选液氮冷却 MCT 检测器光谱范围:8000~350cm-1/5000~500cm-1光谱分辨率:优于0 . 5 cm-1波数精度:优于 0.01 cm-1尺寸(长宽高):685 mm X 415 mm X 223mm重量:25kg原位漫反射系统反应池采用耐化学腐蚀的不锈钢制成,搭配可拆卸的不锈钢圆顶,圆顶带有两个 BaF2 红外透射窗一个蓝宝石测量窗口,可通过第三窗口引入触发光进行光化学、光催化原位表征。反应池运行温度和压力范围宽,温度范围室温 C -800°C,压力范围 133 kPa (1 ktorr) -0.133 mPa (10-6 torr),含水冷快速接头,两路K 型热电偶,三路反应气接口,可通过卡套、快插、KF 真空接头等方式与真空、配气系统相连接,兼容拉曼和红外漫反射测量。
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  • TriboLab CMP 利用其前身产品 (Bruker CP-4) 超过 20 年的 CMP 领域专业知识,为业界领先的 TriboLab 平台带来了一套完整的功能。基于本套设备产生的高精度和高可重复性使得在整个 CMP 流程中能够进行高效的鉴别、检查和连续功能测试。TriboLab CMP 是市场上唯一能够提供广泛的抛光压力 (0.05-50 psi)、速度(1 至 500 rpm)、摩擦、声发射和表面温度测量的工艺开发工具,可准确、完整地描述 CMP 工艺和耗材。用于 CMP 的小型研发规模专业系统布鲁克的TriboLab CMP工艺和材料表征系统是专为晶圆抛光工艺而设计,是具有可靠、灵活和高效的台式设备。重现全尺寸晶圆抛光工艺条件,无需在生产设备上停机提供无与伦比的测量可重复性和细节检测允许在小样品上进行测试,比全晶圆测试节省大量成本板载诊断系统可以更好地了解抛光过程比市场上任何其他系统提供更多的瞬态抛光过程的参数从接触抛光盘开始直至整个测试过程都能收集数据通过更完整、更详细的数据实现早期流程开发决策具有灵活的样品类型、尺寸和安装配置抛光任何平面材料,几乎能使用任何修正盘,任何抛光液,和任何抛光垫轻松使用 100 mm 以下的小尺寸晶圆可同时安装多个样品,测试更灵活
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  • 材料表征 400-801-8117
    产品包括实验室加工设备药物制剂工艺设备旋转流变仪粘度计更多信息:请访问赛默飞世尔科技材料表征的展台,展位号:SH100279。或使用简易域名登陆:http://mctc.instrument.com.cn。
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  • 闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光(探测器灵敏波段)的材料,可分为有机和无机两大类,按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁,且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时,一个X射线光子,可以产生多个光子,与紫外可见光不同,因为X射线的能量足以使物体电离,使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子,通过产生俄歇电子,康普顿散射等产生更多的电离电子(二次电子),二次电子热能化退至激发能级,通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上,闪烁体是核医学影像设备的核心部件,通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料,它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息,是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门,在辐射光源最大功率下关闭快门时,样品位置辐射剂量小于10uSv/h,辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时,分辨率可以达到20pl/mm以上。
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  • 真空型傅里叶变换红外光谱仪FI-RXF300V,是全新推出的一款高端研究级红外光谱仪。与传统的红外光谱仪不同,真空红外,顾名思义,就是采取全真空光学设计,所有红外光路及样品均处于真空环境中,测试过程无需担忧大气中 CO2 和水蒸气的强吸收带来的影响。这种设计,既提高了整体光路的光通量,又有利于检测诸如单分子层薄膜的弱信号。目前,真空型红外已经广泛应用在纳米表面分析、聚合物工业、材料科学、制药、半导体及催化等领域。FI-RXF300V 真空型红外光谱仪,整机采用全铸铝材质,独立式光学腔设计,配置无油减震泵,可对整体光学腔进行快速抽真空,并实时显示真空度。主机配置有密封隔离罩,用户可以单独对样品腔进行真空操作,极大提高用户的测样效率。FI-RXF300V 真空型红外光谱仪,可选配近-中-远全红外波段,标配独特的红外元器件,一次测量即可采集样品的中红外及远红外谱图,覆盖 6000-50cm-1 光谱范围,获得样品分子全部的振动和转动结构信息,而无需担心远红外波段强烈的水蒸气吸收干扰。此外,FI-RXF300V 可以配置外置水冷汞灯光源及液氦 Bolometer 检测器,使用户的测量范围扩展到 10 cm- 1,达到太赫兹的研究波段。同时,用户可以更换近红外光学系统,软件自动切换光路,使光谱范围达到 12500cm- 1,在同一光学平台上,真正实现远、中、近红外谱区的研究。除了标配的光路之外,FI-RXF300V 可以配置多个外接光路口,连接各种外置光学腔,比如 UHV 真空密封腔、低温杜瓦、高温发射红外腔、外置样品腔、外置检测器腔等,极大丰富了研究者的光学平台和研究领域。FI-RXF300V 配置有各类无机化合物、有机金属络合物、聚合物、添加剂、有机化合物等红外光谱数据库,数据库全部显示中文名称。此外,软件提供用户快速自建库功能,允许用户开发新的中文数据库,以便不断更新自我检测能力。真空型傅里叶变换红外光谱仪FI-RXF300V产品特点● 全真空的光学设计,真空度≤0.2mbar;● 软件自动切换近、中、远谱区检测器和光源覆盖整个红外谱区 12,500-10cm-1;● 一次测量获取中、远谱区的光谱信息: 6,000-50cm- 1;● 高光谱分辨率: ≤0.25cm-1 ● 去除大气中水蒸汽、CO2 的强吸收干扰;● 不受实验室环境温度变化的影响;● 光通量更高,更灵敏;● 稳定性更高,可重复性更好;● 可配备纯金刚石晶体的 ATR 附件,实现真空状态下测量;● 可整体或单独对样品腔进行抽真空,提高测试效率 ● 可配置多个外接光路口,连接各种外置光学腔,如 UHV 真空密封腔、低温杜瓦、高温发射红外腔、外置样品腔、外置检测器腔等 ● 可连接长光程气体池,测量高分辨气体光谱。真空型傅里叶变换红外光谱仪FI-RXF300V产品参数项目FI-RXF300V 技术参数光谱范围6000-50cm-1 (可扩展至 12500-10 cm-1)光谱分辨率≤0.25cm-1波数精度优于 0.01cm-1仪器设计全真空型铸铝一体成型,独立式光学腔设计,真空度≤0.2mbar干涉仪国产高稳定立体角镜干涉仪,恒久准直,使用寿命大于 10 年分束器国产宽范围中远红外分束器(可选择溴化钾、氟化钙、石英、硒化锌等分束器)检测器标准配置中远红外DLaTGS 检测器,内置 ADC(可选择铟镓砷、MCT、Bolometer 等检测器)红外光源长寿命中红外陶瓷光源(可选配水冷汞灯光源和钨丝灯光源)激光器He-Ne 激光器,633nm连接方式标准网线数据接口ATR 附件配备国产纯金刚石晶体,耐磨损、抗腐蚀、易清洗,可以满足固、液样品的快速测量需求 软件Win10 操作系统下的全中文版处理软件,功能包括:红外光谱测量功能、光谱数据预处理功能、谱图快速比较功能、用户自建标准谱库功能、定量分析功能、自动扣除金刚石/CO2 吸收峰功能、智能谱图识别功能、一键直达式测评存功能、报告自动生成及打印功能等数据库配置专业的红外谱图数据库,超过 10,000 张,包括各类无机化合物、有机金属络合物、聚合物、添加剂、有机化合物等物质的谱图主机重量100kg(取决于具体配置)工作温度+15°C 至+35°C 配置清单名称型号数量备注真空型傅里叶变换红外光谱仪FI-RXF300V1 台主机防震无油泵-1 个附件充电线-1 个备用件应用领域● 自组装超薄膜研究● UHV 真空密封超高真空腔● 低温基质隔离● 硅单晶中 III、V 族杂质的定量(B,P,Al,Sb,As,Ga,In)● 真空环境下对催化剂进行原位漫反射表征● 无机及有机配位化合物的研究● 分子晶体的晶格振动吸收● 气体分子的纯转动光谱的研究
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  • 优势特点1)样品处理开始后样品池中真空度可达到10-3 Pa;2)样品测量过程中各样品可同时或分别进行预处理、吸附、脱附探针分子;3)测量所需探针分子为酸性或碱性分子,高硼硅玻璃材质避免了各类气体的相互污染;4)真空处理系统由机械泵与玻璃四级扩散泵串联组成,可满足样品测试所需的高真空度的要求,具有抽速快、体积小、噪音低、操作简单、使用方便等特点;5)低真空部分主要是抽除系统中的高浓度气体或吸附的残余气体;6)各部分节门选用高硼硅玻璃节门,满足系统高真空的要求,透明性操作,便于调试;7)真空测量仪使用数显高精密真空计;8)本系统所配透过式石英红外吸收池,可对样品进行陪烧、流动氧化还原、抽空脱气、吸附反应等处理过程,可随时移入或移出到红外光谱仪的光路中进行实验,对样品的加热温度可达450度;9)波纹管更换方便。10)高真空系统和原位红外吸收池可按客户要求进行更改和定制。产品应用1 吸附态研究和催化剂红外光谱表征红外光谱已经广泛应用于催化剂表面性质的研究,其中有效和广泛应用的是研究吸附在催化剂表面的所谓“探针分子”的红外光谱,如:NO、CO、CO2、NH3、C3H5N等,红外光谱表征可以提供催化剂表面尤其是原位反应条件下催化剂表面存在的“活性中心”和表面吸附物种的信息,因此对于揭示催化反应机理十分重要。1.1 CO吸附态研究CO具有很高的红外消光系数,其未充满的空轨道很容易同过渡金属相互作用,同时许多重要的催化反应如羰基合成、水煤气合成、费托合成等均与CO密切相关,因此,研究CO在过渡金属表面的吸附态是一项十分广泛的研究课题。1.2催化剂表面组成测定合金催化剂表面组成与体相组成的差异会导致催化剂的性能显著不同,因此,测定催化剂的表面组成对理解反应的活性位相当重要。利用两种气体混合物在双组份过渡金属催化剂表面上的竞争吸附,并通过红外光谱测定其强度,可以方便地测定双金属负载催化剂的表面组成。典型的例子是CO和NO在Pt-Ru双金属催化剂上共吸附的红外光谱。1.3几何效应和电子效应研究在高分散金属催化剂中引入第二金属组元,由于金属间的几何效应和电子效应可显著改变催化剂的吸附性能从而改变催化活性。如在Pd-Ag/SiO2催化剂体系中,Ag对Pd起稀释作用,当Ag含量增加,成双存在的Pd浓度减少,因而桥式CO减少,线式CO增加,说明几何效应改变了CO在Pd-Ag/SiO2体系中的吸附性能,同时,随Ag含量的增加,CO吸附谱带红移加大,说明Pd-Ag之间存在电子效应。1.4吸附分子相互作用研究CO吸附在过渡金属表面时存在d-π反馈,nco同d-π反馈程度有有关,而d-π反馈程度与金属本身的d轨道情况有关,因此,通过CO吸附态的红外吸收光谱的化学位移,可以考察其它分子与CO共同吸附时导致的分子与金属组元之间的电子转移过程。如:当能够给出电子的Lewis碱与CO共吸附在Pt上时,根据d-π反馈原理,吸附在Pt上的CO伸缩振动向低波数位移,而当能够接受电子的受体与CO共吸附在Pt上时,根据d-π反馈原理,吸附在Pt上的CO伸缩振动向高波数位移。2 氧化物、分子筛催化剂的红外光谱表征2.1 固体表面酸性测定固体表面酸性位一般可看作是氧化物催化剂表面的活性位。在众多催化反应如催化裂化、异构化、聚合等反应中烃类分子与表面酸性位相互作用形成正碳离子,该正碳离子是反应的中间物种。正碳离子理论可以成功解释烃类在酸性表面上的反应,也对酸性位的存在提供了有力证明。为了表征固体酸催化剂的性质,需要测定表面酸性位的类型(Lewis酸,Bronsted酸)、强度和酸量。测定表面酸性的方法很多,如碱滴定法、碱性气体吸附法、热差法等,但这些方法都不能区分L酸和B酸部位。红外光谱法则广泛用来研究固体催化剂表面酸性,它可以有效区分L酸和B酸,在该方法中,常用碱性吸附质如氨、吡啶、三甲基胺、正丁胺等来表征酸性位,其中应用比较广泛的是吡啶和氨。2.2 氧化物表面羟基的研究氧化物尤其是大比表面的氧化物的表面结构羟基同许多催化反应如脱水反应、甲酸分解反应等有关,而表面结构羟基的性质又同表面酸性有密切的关系,多年来,人们对氧化物表面羟基进行了大量的研究,其中大部分研究着眼于氧化物表面羟基的结构、性质以及同酸性中心的关系,进而同催化剂的反应性能相关联。研究催化剂表面结构羟基的方法很多,但卓有成效的是红外光谱法。2.3 氧化物表面氧物种研究甲烷是烃类分子中结构简单、对称、化学惰性的分子,从基础研究角度认识以甲烷为代表的低碳烃类活化机理具有极大的学术意义。但是,甲烷分子很难吸附在催化剂表面上,因此很难直接观察到它在氧化物表面的活化过程。而氧化物表面(尤其碱性氧化物表面)的氧物种研究由于表面存在一层稳定的碳酸盐使得对其研究十分困难。鉴于上述原因,氧化物表面氧物种的研究一直没有取得重大进展。近年来采用了“化学捕集”技术、同位素交换技术和低温原位红外光谱方法相结合应用于上述研究取得了一些关于表面氧物种和甲烷活化的重要信息。3 原位红外光谱应用于反应机理研究长期以来人们研究了各种分子在催化剂表面的吸附态并获得了许多重要的信息,但是这些信息都是在反应没有发生时测得的。而反应条件下的吸附物种的类型、结构、性能与吸附条件下的吸附物种的类型、结构、性能有很大差别,因此,仅利用吸附条件下分别测得的吸附物种信息无法准确阐明反应机理,为此,进行反应条件下吸附物种的研究十分必要。而在反应条件下催化剂表面吸附的物种并未都参与反应,因此如何在多种吸附物种中识别出参与反应的“中间物种”是非常重要的课题。原位红外光谱可以测量催化剂在反应状态下吸附物种的动态行为,因此可以获得催化剂表面物种的动态信息,并可据此推断反应机理。详细介绍原位红外光谱表征高真空系统是用于测定催化剂表面组成、吸附、酸性、物种、表面羟基及反应机理的专用设备,包括高真空系统和原位红外吸收池两部分,可以配合Bruker布鲁克等主要红外光谱仪进行氨、吡啶、一氧化碳、一氧化氮、甲醇、乙醇等化合物的化学吸附测定及反应机理研究。催化剂表征对于了解催化剂结构和组成在预处理、诱导期和反应条件下以及再生过程中所发生的变化是至关重要的。催化反应机理的知识、特别是结构、动态学和沿催化反应途径中生成的反应中间物的能量学可为开发新催化剂和改良现有催化剂提供更深刻的认识。原位谱学观察又是阐明反应机理、分子与催化剂相互作用的动态学和中间物结构的有效技术。这些研究还可以提供有关催化剂和底物相互作用及有关活化势垒的热力学方面信息。反应机理和动力学的研究,特别是对催化反应中间物的原位观察,对发展催化科学是非常必要的。因为这样的研究结果提供了催化作用的全面知识,并有助于阐明催化剂结构和功能的关系。高真空系统由玻璃四级扩散泵、真空泵、精密真空表、电离规、集气瓶、球形安瓶、制备瓶、可伐、真空活塞等组成。该系统的高真空是通过一台优质低噪声的机械泵和一台玻璃四级扩散泵组成的机组而获得。原位红外吸收池由石英制成,分样品台和真空密封窗口两部分。样品台带有加热组件、热电偶、冷却系统和气体引入系统;真空密封窗口由冷却系统和CaF2窗片组成。该吸收池采用透射模式进行红外光谱表征,可对样品进行焙烧、流动氧化还原、抽空脱气、吸附反应等处理过程,可随时移入或移出到红外光谱仪的光路中,也可利用配备的延长管路进行原位表征实验。样品的加热采用程序升温方法控制温度,温度可达450℃。标准配置的吸收池窗口材料为CaF2,工作区间为4000—1000cm-1,也可按用户需要配置其他窗口材料。表1 红外窗口材料的性质材料使用范围cm-1反射损失*(1000cm-1)溶解度 g/100ml@20oC相对价格物理性质NaCl5000至6257.5%401.0溶于水,硬但易抛光和切割,潮解慢KBr5000至4008.5%701.2溶于水,较软但易抛光和切割,潮解慢,价格高,范围宽CsI5000至18011.5%807.8溶于水,软且易划伤,不能切割,潮解慢CaF25000至10005.5%难溶3.5难溶于水,耐酸碱,不潮解,忌用于铵盐溶液BaF25000至7507.5%不溶6.2类似于CaF2,对热和机械振动敏感SrF25000至8506%不溶5.1类似于CaF2,对热和机械振动敏感AgCl5000至45019.5%不溶6.6不溶于水但溶于酸和NH4Cl溶液,可延展,长期暴露于紫外光变暗,腐蚀金属及合金AgBr5000至28025%难溶难溶于水,软且易划伤,冷变形长期暴露于紫外光变暗KRS-55000至25028%0.19.1微溶水,溶于碱但不溶于酸, 软且易划伤,冷变形,剧毒Infrasil(SiO2)5000至2850NA不溶不溶于水,溶于HF溶液,微溶于碱难切割Poly-ethylene625至10NA不溶1.6不溶于水,耐溶剂,软易溶胀,难清洗,可压片*两个面上的反射损失, NA 不透明. 玻璃高真空系统部分组成及说明请参阅图1所示,本玻璃高真空实验测试系统,主要应用红外光谱催化剂原位表征、催化剂表面吸附物种和催化剂表征方面(探针分子的红外光谱)以及反应动态学方面的研究。该系统包括由机械真空泵A,真空波纹管B,可伐KF接头C,缓冲球D,组成一级真空泵,用于抽取低真空段,该部分真空可以抽取到1.0Pa;玻璃扩散泵E,用于提升真空度,提升真空度到10-2-10-3Pa,此为二级真空泵,液氮冷阱F,用于冷却系统中杂质气体,也有利于帮助提高真空度;真空规管G和精密真空表J,分别用于测量系统的高真空度及低真空度;玻璃球瓶H、I为储气瓶,用于储存备用纯化好的气体;玻璃管P为高真空部,为工作玻璃管,为该系统的核心部分;玻璃管Q为低真空部,用于连接测试样品池M,进气接口L,为工作管P服务,并实现高低真空的转换;玻璃制备瓶K,用于气体的纯化与制备;制备安瓶N,用于液体的纯化与制备;该系统全部采用玻璃真空阀门,更好的保证了气密性,02,03为三通玻璃真空阀门(详图2),01、04、05、06、07、08、09、10、11为二通玻璃真空阀门(详图3)。本实用新型中所采用的管路均为玻璃管路,所采用的阀门均为玻璃高真空阀门,真空阀门可以保证系统使用过程中不会产生漏气或缓慢渗漏的情形。图1-C中不锈钢管与玻璃管路采用可伐(Kovar)连接。
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  • ICCS 催化剂原位表征系统综合催化剂表征Micromeritics 催化剂原位表征系统(ICCS)给研究者提供一个先进的工具来研究在精确控制有代表性的工艺条件下反应结果与关键参数(如活性位点数量)的关系。ICCS 是一套独立的配件,可附加在微型反应器这类动态实验室设备上。为其增加两类动态化学吸附分析功能: 程序升温分析(TPx)和脉冲化学吸附。反应前可在新鲜催化剂上进行化学吸附分析。反应后,无需从反应管中取出样品即可对催化剂再次进行化学吸附分析。通过这种对同一个样品原位的分析,消除空气中气体及水分等对样品的污染,可详细对比使用前和使用后的催化剂活性位点的变化,可轻松获得程序升温分析和脉冲化学吸附数据,确保数据的完整性。 ICCS 包括:高精度、高灵敏度的热导检测仪(TCD)监测流经反应管气体浓度的变化内置 Peltier 冷阱控温准确可在 -20°C 至 65°C 内工作以去除可冷凝的液体(例如,在还原氧化物过程中产生的水)两个用于精确控制气体的质量流量控制器(通过反应器系统进行压力控制)交互式报告和控制系统,具有功能丰富且直观的图形用户界面,轻松进行实验设计和结果分析支持:在具有代表性的工艺条件下对样品进行安全、高效和全面的表征,最高压力可达 20 bar表征功能包括脉冲化学吸附、程序升温还原(TPR)、脱附(TPD)和氧化(TPO)以及物理吸附(可选)在反应前后以及再生后对同一催化剂样品进行多次表征,以研究反应、失活和再生机制
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  • 原位红外反应系统是利用傅里叶变换红外光谱仪对催化剂或物料在多环境下的性能进行原位评价的设备,对催化剂/物料在多种条件下性能进行原位评价的仪器。可方便地跟踪鉴定反应中间态和产物,从而为催化反应体系反应机理的考察给出直接的证据。原位红外漫反射主要用于气固相催化的表征和催化反应的研究,如催化剂表面羟基的鉴别、催化剂表面物种吸附态研究、催化剂表面酸碱性的表征。该反应系统可应用于真空到高压环境,温度高达500°C(真空下),是研究多相催化、气固相互作用、光化学反应和氧化机理等方向的理想选择。目前已应用于光催化降解气相有机物、热催化(CO+H2、CO2+H2)等领域的气固界面反应的红外光谱研究。 产品参数:池体主要采用316L不锈钢材质,最高耐温500℃,耐压3Mpa;/ 哈氏合金材质,最高耐温800℃,耐腐蚀;反应池可以配备高精度触摸屏温控仪进行精确控温和加热,同时利用冷却循环装置对反应池外部进行降温;反应池腔帽有三个窗口,其中两个为红外窗口,另一个为石英窗口,用于引入外部光源(光催化激发光源)或作为观察窗口使用;提供三个入口/出口,用于抽空池体和引入气体,可在反应池中形成VOCs、CO2等反应气,反应尾气先通入安全瓶再经特定溶液吸收后排 至室外,各路气体均通过质量流量计来控制流量,反应气路操作界面方便友好,易于操作;可定制各类光学窗口,可选配高温拉曼池盖。详情可登录合肥原位科技有限公司网站。
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  • 原位红外电化学ATR可以获得电极表面吸附物种的取向、排列、覆盖等状态信息,是从分子水平研究电极过程的一种有效手段,其中衰减全反射模式的表面增强光谱,由于表面选律简单、表面信号强、传质容易以及受本体溶液干扰小的优点,特别适合实时检测电极表面动态过程。该原位反应系统引入了三电极和气体接口,可以在施加外偏压的条件下,向溶液中通入CO2、N2等反应气体,实现光(电)催化原位红外光谱表征。在此基础上,通过在单晶硅表面蒸镀(或溅射等)金层,引入表面等离子共振波,实现表面增强效应,增强该原位表征的信号。详情可登录“合肥原位科技有限公司”网站。
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  • 碳纳米管和石墨烯性能表征系统随着纳米技术的不断发展,碳纳米管和石墨烯的性能越来越受到科研人员的关注。然而,对于碳纳米管和石墨烯性能表征一直是困扰碳纳米管和石墨烯技术研究和应用的主要障碍。目前,碳纳米管和石墨烯测量方法是光谱测量技术。相对其他测量方法,该技术主要有以下的优点: 1、较高灵敏度,即使碳纳米管和石墨烯的含量很低也能测量。2、较高测量精度,对碳纳米管的(n,m)分辨率很高3、对待测样品要求低,可直接分析含较多杂质的样品。4、测量设备相对简单,准备待测样品非常容易。 5、数据处理简单,测量结果无需考虑背景减除。对于碳纳米管和石墨烯的表征,虽然光谱测量技术有很大的优点,但是测量过程还是有些问题,如获取数据速度太慢,测量灵敏度不是很高,手工处理数据非常繁琐且容易出错等等。著名的碳纳米管专家美国莱斯大学的R. Bruce Weisman和Sergei M. Bachilo教授针对这些问题开发了碳纳米管专用的测量系统NS3,使得NS3系统成为碳纳米管和石墨烯专用测量系统,可对碳纳米管和石墨烯进行吸收、荧光和拉曼光谱测量。Nano Spectralyzer (NS3)系统NS3上的测量结果:碳纳米管的近红外发射光谱 应用领域:1. 测量碳纳米管(n,m)分布2. 监测碳纳米管和石墨烯品质的稳定性3. 测量化学反应和物理作用的动态过程主要特点:1. 高度集成化,体积小巧2. 操作简单,使用方便3. 仅需要很少的样品4. 高测量灵敏度和测量速度5. 简单的操作界面,全自动测量和数据分析6. 同时测量样品近红外波长的吸收和发射光谱7. 采用电制冷材料冷却近红外光谱探头,无需使用液氮主要技术指标:荧光光谱测量:可见区发射谱探测范围: 400-900nm近红外发射谱探测范围: 900-1600nm可选近红外发射谱探测范围: -2000nm吸收谱测量:紫外吸收谱探测范围: 210-450nm可见吸收谱探测范围: 400-900nm红外吸收谱探测范围: 900-1600nm可选红外发射谱探测范围: -2000nm 拉曼光谱测量:拉曼光谱探测范围: 150-3000cm-1激发光源波长: 532和/或671nm
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  • 系统应用CEL-HPATR4000高压原位红外光谱测试系统(HP ATR FT-MIR)能够在真实的实验条件下、在较宽的压力和温度范围内、在充分搅拌下,在线监测高压/超临界(SCF)体系物理转变或化学反应微观动态过程诱导的高压原位红外光谱监测仪器。该仪器能够在0.1~40 MPa、20~200℃以及在0~1000 rpm的磁力搅拌下稳定工作,探测高压/超临界体系的相行为以及各组分之间的相互作用,监测活性物种的产生及其随压力、温度、时间等的衍变,研究微观动态变化过程的动力学和机理。 背景说明有机官能团红外光谱的特征峰会随分子间或分子内的相互作用而发生极其细微的变化,高压原位红外光谱可实时监测超临界二氧化碳(scCO2)体系中的物理过程或化学反应过程中红外吸收光谱的变化,动态指示相应的二组分体系分子间相互作用的衍变过程,这有助于探究分散质在气态及scCO2中微观的溶剂化作用机理,揭示亲CO2的物质易溶于scCO2的本质。高压原位光谱是一种可用于在线监测超临界体系中进行的物理转变或者化学反应过程的高压实验技术。实时探测超临界流体(SCF,Supercritical Fluids,二氧化碳、水、氨、乙烷、乙烯、戊烷等)体系的相行为及各组分之间的相互作用,探索温度及压力等条件对其影响机制。该技术对于认识SCF体系的变化规律、调控反应过程、促进SCF技术的应用等方面具有重要作用。红外光谱(IR)是分子选择性吸收红外福射、振动能级跃迁产化的分子吸收光谱。并且红外光谱具有特征性强、扫描速度快、操作简便及能分析各种状态下的样品的优点,是基团分析、分子结构表征及化合物鉴定的一种有效方法。由于IR光谱具有上述特点,应用IR光谱呈现的分子结构信息,能够很清楚地分析化学反应历程及各组分间的相互作用。尤其是能在不同温度、压力等反应条件下,体系分子间相互作用会使得相互作用分子的电子分布将不可避免的发生改变,导致分子内部一些化学键的键长和极性稍微改变。化学键的键长、极性和强度变化也会引起溶质中相关共价键的振动吸收频率和(或)强度随之而发生敏感的变化,并且能够实时采用红外光谱技术灵敏的监测,用分子振动来阐述化学反应历程及其间各组分相互作用的机制。这对深刻认识化学反应实质,无疑具有重要意义。FT-IR对极性共价键非常敏感,因此FT-IR就成为一种探究分散质-scCO2体系的分子间相互作用的有效技术手段。HP ATR FI-IR可测量高浓度样品,实时监测scCO2体系中的物理化学变化过程中红外吸收光谱的变化。因此,HP ATR FI-IR被认为是研究scCO2体系溶剂化作用和化学反应过程的有效方法。因此自主设计研发的高压原位中红外光谱在线监测装置(HP ATR FT-MIR)可以在不同压力或温度条件下,实时在线监测scCO2与分散质组成的二组分体系的相行为及溶剂化作用过程。 技术优势CEL-HPATR4000高压原位红外光谱测试系统(HP ATR FT-MIR)采用在高压反应釜的内部设置相对独立的红外传感器,将红外光传感元件衰减全反射晶体从高压样品池底部的承压壳体中剥离。红外传感器采用耐压性能和中红外光透过性能好、折射率高的晶体材料作为衰减全反射棱镜,减小衰减全反射棱镜的体积以及红外传感器的承压截面面积,提高了系统的耐压性能;采用反射仓、光导纤维以及红外传感器设置分析光路,将红外光谱仪的红外发光器发出的中红外光经反射仓和光导纤维传输到红外传感器探测平面上实现与高压反应釜内部待测样品的有效耦合,使通过红外传感器的分析光路相对独立而不受高压反应釜位置偏移等因素的影响,克服了现有衰减全反射式高压原位红外监测装置结构复杂、光路校准繁琐、检测不准确的弊端;采用在高压反应釜( 高压红外样品池) 的下方设置电磁搅拌器,在监测过程中对待测样品进行搅拌,提高了传质扩散速率及测试效率、改善待测样品中各组分混合的均匀性、提高在线光谱测试结果的代表性和重现性。CEL-HPATR4000高压原位红外光谱测试系统(HP ATR FT-MIR)具有设计合理、使用方便、监测准确等优点,可用于高压和超临界条件下的物理转变和化学反应过程的在线监测。 技术参数规格参数红外高压样品池(反应釜)50ml,标配316L不锈钢 (选配哈氏合金)样品池蓝宝石视窗 2个适用体系超临界体系、高压体系、均相反应体系适用光谱范围4000~500cm-1磁力搅拌1500rpm压力40Mpa温度200℃(473K),PID控制,程序升温光纤双头导光纤维,红外传感器1套阀门管路美国世伟洛克Swagelok,1/16inch高压液体进料泵美国SSI Series Ⅱ选配FT-IR红外光谱仪(PE、岛津、布鲁克、热电等) 高压原位HP ATR FT-MIR光谱系统示意图1.二氧化碳气瓶,2.冷却泵,3.高压注射泵,4.计量泵,5.气液三通阀,6.真空泵,7.氮气三通阀门,8.氮气瓶,9.压力传感器,10.进样阀门,11.ATR红外传感器,12.排气阀门,13.测温热电偶,14.IR光导纤维,15.反射仓,16.计算机,17.FT-IR红外光谱仪,18.高压反应釜(红外样品池),19.加热器,20.磁力搅拌,21.控温热电偶,22.控制器,22-1.电磁揽拌器调速器,22-2.温度控制器,22-3.温度显示器,22-4.压力显示仪。不同压力下FP2-COOH+scCO2体系的原位红外光谱
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  • 一体化设计、全密封结构,集成了防潮型 ZnSe 分束器和高灵敏度的检测器。宽敞的样品仓可与用户的红外透射池/ATR 附件/漫反射池完美匹配。即使实验中涉及的原位漫反射附件,如温控仪、管线等辅助设备都可以合理放置,不占用实验室有限的空间资源,使得整个原位红外装置简洁紧凑。FI-RXF100-R 额外配置了外置式可调节的高精度光圈,用户可以根据样品的特性(如厚度、颜色等)随时调节光圈大小,而无需在软件中进行选择,这样的设计配合不同档位的增益功能,可以让用户实时、快速地看到样品最大的红外光通量,获取最佳的信噪比。FI-RXF100-R 还可以安装其他各类原位红外漫反射附件或者原位吡啶吸附池等与催化剂表征相关的的红外装置。会按照您不同的科研项目,实现您个性化的实验需求。硬件特点干涉仪:具有优异的性能、良好的可靠性、完美的稳定性和极强的抗干扰性能;提供 10年期的质量担保光学系统:全部使用金反射镜,反射率比铝镜高 5 %以上;抗氧化性强,光学性能更稳定检测器:可选高灵敏度 DLaTGS、电子制冷 MCT、液氮制冷 MCT 等固态激光器:性能稳定,使用寿命达 10 年以上光源:高性能,使用寿命长FI-RXF100-R傅里叶变换红外光谱仪的应用领域:红外光谱仪可以采用不同的红外测量模式,比如固体透射、ATR 反射、漫反射等。固体透射: 各种固体粉末的压片; 薄膜材料的定性分析; 热压成膜定量分析; 可透红外光的材料,如各类玻璃、翡翠、晶体材料、功能改性材料等;固体 ATR 测量: 各类粉末样品,无需压片,直接测量; 不规则形状的样品,测后不破坏样品; 各类聚合物、纤维、薄膜等高聚物样品; 各种O 型圈、橡胶类样品; 其他透射难以测量的样品;液体透射: 密封液体池定量测量有机溶液、易挥发溶剂; 拆卸液体池,可改变光程,定量分析; 各类润滑油的定量分析; 在红外窗片上形成液膜进行定性分析;气体测量: 直通式气体池,玻璃或不锈钢材质,可选温控,光程可选 1.5 厘米、3 厘米、5 厘米、7 厘米等, 适合用户测量高浓度气体; 多次反射式气体池:不锈钢材质,可选温控,光程可选 50 厘米、100 厘米、5 米、定制光程等, 适合用户测量低浓度气体; 防腐气体池:可为用户定制特种材质的气体池,比如 热红联用、腐蚀性气体的测量;原位红外原理红外光谱的采集需要首先测量背景光谱,然后再采集样品谱图,系统会自动计算得到样品的透过光谱或者吸收光谱,这两种谱图形式可以相互转化。因此,如果用户想获得催化剂本身的谱图,那么就需要以氮气为背景测量空白光路,然后再测量催化剂的薄片即可。如果用户研究催化剂的吸附/脱附性能,那么我们可以直接以催化剂样品作为背景来测量,然后再通入探针分子进行吸附/脱附,这样获得的就是探针分子在催化剂表面的红外吸收。FI-RXF100-R 定制红外具备宽敞的样品空间,可以实现原位透射测量,也可以进行原位漫反射测量。下图为原位漫反射测量的示意图,配置有冷却水循环系统和高精度温控系统。FI-RXF100-R 在催化剂表征中的应用在催化研究领域,傅里叶变换红外光谱仪的应用越来越受到研究人员的重视。一方面,红外表征催化剂的方法简单,速度快,而且几乎没有任何耗材(正常的液氮消耗除外);另一方面,红外表征催化剂的方法很成熟,已经被众多研究者所认可。目前,市场上使用红外法来研究催化剂的方式主要有:原位红外漫反射和原位红外透射。这两种方法可以为用户提供以下信息: 研究催化剂的化学反应动力学 用于在线研究催化剂在高温或高压或高真空环境下的催化性能 获得催化反应的反应机理和反应过程 通过对探针气体分子与催化剂在不同温度下的吸附和脱附实验,可以了解催化剂表面的吸附活性位和吸附性能 对催化剂的酸碱性能进行有效表征 为制备新型的催化剂提供实验数据 实现对催化剂样品的成分鉴定和结构分析 FI-RXF100-R其它相关应用领域 可加热的原位透射池 高温原位漫反射红外池 材料的绝对透过率(平行光入射) 材料漫透射测量(积分球附件) 材料的反射率测量(反射角度 10°、30°、45°、80°及变角附件等) ATR 测量(晶体可选:金刚石、硒化锌、锗晶体等) 常规固体、液体、气体样品的透射表征 特别适用于: 定制化附件的应用 条件苛刻的测试环境主要技术性能光谱仪参数干涉仪:立体角镜迈克耳逊干涉仪,能适应各类现场分束器:硒化锌防潮分束器及防潮窗片红外光源:空冷陶瓷光源,1550K检测器:高灵敏度DLaTGS 检测器、或者可选液氮冷却 MCT 检测器光谱范围:8000~350cm-1/5000~500cm-1光谱分辨率:优于0 . 5 cm-1波数精度:优于 0.01 cm-1尺寸(长宽高):685 mm X 415 mm X 223mm重量:25kg原位漫反射系统反应池采用耐化学腐蚀的不锈钢制成,搭配可拆卸的不锈钢圆顶,圆顶带有两个 BaF2 红外透射窗一个蓝宝石测量窗口,可通过第三窗口引入触发光进行光化学、光催化原位表征。反应池运行温度和压力范围宽,温度范围室温 C -800°C,压力范围 133 kPa (1 ktorr) -0.133 mPa (10-6 torr),含水冷快速接头,两路K 型热电偶,三路反应气接口,可通过卡套、快插、KF 真空接头等方式与真空、配气系统相连接,兼容拉曼和红外漫反射测量。
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  • TriboLab CMP 利用其前身产品 (Bruker CP-4) 超过 20 年的 CMP 领域专业知识,为业界领先的 TriboLab 平台带来了一套完整的功能。基于本套设备产生的高精度和高可重复性使得在整个 CMP 流程中能够进行高效的鉴别、检查和连续功能测试。TriboLab CMP 是市场上唯一能够提供广泛的抛光压力 (0.05-50 psi)、速度(1 至 500 rpm)、摩擦、声发射和表面温度测量的工艺开发工具,可准确、完整地描述 CMP 工艺和耗材。用于 CMP 的小型研发规模专业系统布鲁克的TriboLab CMP工艺和材料表征系统是专为晶圆抛光工艺而设计,是具有可靠、灵活和高效的台式设备。重现全尺寸晶圆抛光工艺条件,无需在生产设备上停机提供无与伦比的测量可重复性和细节检测允许在小样品上进行测试,比全晶圆测试节省大量成本板载诊断系统可以更好地了解抛光过程比市场上任何其他系统提供更多的瞬态抛光过程的参数从接触抛光盘开始直至整个测试过程都能收集数据通过更完整、更详细的数据实现早期流程开发决策具有灵活的样品类型、尺寸和安装配置抛光任何平面材料,几乎能使用任何修正盘,任何抛光液,和任何抛光垫轻松使用 100 mm 以下的小尺寸晶圆可同时安装多个样品,测试更灵活
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  • TELSTAR 冻干工艺实验室拥有TELSTAR 中试工艺摸索型冻干机 LB 4PS 、 LB MINI;配置热电偶温度探头、自动参气、电容真空计、符合21CFR PART 11的工艺摸索软件;配置:升华界面温度软件、介入成核 等配置提供:冻干样品关键温度测试、冻干工艺摸索、优化、表征、放大等系列服务;设备:拥有TELSTAR 中试工艺摸索型冻干机 LB 4PS 、 LB MINI;配置热电偶温度探头、自动参气、电容真空计、符合21CFR PART 11的工艺摸索软件;配置:升华界面温度软件、介入成核 等配置Linkam 冻干显微镜;梅特勒 DSC;水分仪;灌装机;轧盖机;生物安全柜;超低温冰箱;等系列冻干工艺开发辅助设备。服务:冻干前后样品分析:冻干样品关键温度测试:塌陷温度(Tc)、玻璃态转变温度(Tg'、Tg)、共晶点温度(Teu)、初始融化温度;冻干工艺摸索:初始冻干工艺设计;冻干工艺优化;冻干工艺表征;冻干工艺放大;冻干样品缺陷问题解决;冻干工艺咨询:单小时咨询服务;8小时咨询服务包;16小时咨询服务包;长期顾问服务。冻干工艺培训:8小时线下冻干会议;16小时线下冻干会议;企业定制内训;
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  • MagnebotiX磁控微纳操纵/表征系统产品介绍磁控微纳操纵/表征系统是基于磁场控制的微纳操作系统,通过五自由度磁场发生器,结合磁控算法及软件,可实现对磁性操控介质(如微小磁珠、磁 性无缆探针)运动轨迹和力学控制,在显微医学、纳米技术 基础和应用研究领域有着广泛应用。产品特性● 可实现5自由度的磁场控制● 可在微米到毫米级大小范围的物体上同时施加力和力矩● 超大球形工作空间,直径可达130毫米● 可与主流显微镜品牌和型号高度兼容应用案例生物力学 可实现在单细胞水平进行多种非接触操作方案。 巨噬细胞开始与磁性靶体相互作用 用磁珠探测微小组织 医学微操作 采用 OctoMag型磁控系统可以操纵磁性微探针,对小动物进行体内微创靶向给药。 磁性操纵微型机器人 靶向给药 微纳机器人研究 用于各种磁控微机器人 操作及其控制方案的研 究和二次开发。 磁共振微型机器人 螺旋形微型机器 磁控微机器人进行微装配操作 软件控制界面l 开环控制模式(遥杆控制)l 闭环控制模式l 自动化操控l 软件二次开发工具包l 实时显微成像显示规格参数产品型号MFG-100系统OctoMag系统工作空间直径10mm130mm磁场强度40mT50mT磁场梯度2T/m2T/m磁场频率2000Hz at 2mT10Hz外形尺寸250x275x110mm560x560x550mm系统重量4.5Kg40Kg
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  • MagnebotiX磁控微纳操纵/表征系统 产品介绍MagnebotiX磁控微纳操纵/表征系统是基于磁场控制的微纳操作系统,通过五自由度磁场发生器,结合 磁控算法及软件,可实现对磁性操控介质(如微小磁珠、磁 性无缆探针)运动轨迹和力学控制,在显微医学、纳米技术 基础和应用研究领域有着广泛应用。产品特性● 可实现5自由度的磁场控制● 可在微米到毫米级大小范围的物体上同时施加力和力矩● 超大球形工作空间,直径可达130毫米● 可与主流显微镜品牌和型号高度兼容应用案例生物力学 可实现在单细胞水平进行多种非接触操作方案。 巨噬细胞开始与磁性靶体相互作用 用磁珠探测微小组织医学微操作 采用 OctoMag型磁控系统可以操纵磁性微探针,对小动物进行体内微创靶向给药。 磁性操纵微型机器人 靶向给药 微纳机器人研究 用于各种磁控微机器人 操作及其控制方案的研 究和二次开发。 磁共振微型机器人 螺旋形微型机器 磁控微机器人进行微装配操作软件控制界面l 开环控制模式(遥杆控制)l 闭环控制模式l 自动化操控l 软件二次开发工具包l 实时显微成像显示 规格参数产品型号MFG-100系统OctoMag系统工作空间直径10mm130mm磁场强度≦40mT50mT磁场梯度2T/m2T/m磁场频率2000Hz at 2mT10Hz外形尺寸250x275x110mm560x560x550mm系统重量4.5Kg40Kg
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  • 材料表征 400-801-8117
    产品包括实验室加工设备药物制剂工艺设备旋转流变仪粘度计更多信息:请访问赛默飞世尔科技材料表征的展台,展位号:SH100279。或使用简易域名登陆:http://mctc.instrument.com.cn。
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  • 产品简介当前通用的磁光克尔测试方法主要分为两种,一种是以激光和光电探测为主的MOKE高精度磁滞回线扫描,另一种是将光学成像技术与磁光克尔效应结合,形成高分辨率磁光克尔显微镜。前者具有高精度优势,但不具备空间成像能力和微区定点探测能力 后者则具有高分辨率成像和微区探测能力,但由于采用相机作为信号采集单元,探测精度不如前者。低温强磁场激光克尔显微成像系统-二维铁磁材料表征利器是针对二维铁磁材料磁性弱样品尺寸小、部分样品不导电、矫顽场高、居里温度低等特性开发的一款功能强大的表征系统,低温强磁场激光克尔显微成像系统-二维铁磁材料表征利器磁性探测精度高、能够微区定点测量和光斑位置定位、具备较高磁场和宽温区变温,可以满足大部分维铁磁材料的磁特性表征需求。主要技术指标激光光斑:5 umMOKE测试:可测试面内和垂直磁各向异性样品,克尔转角分辨率优于1mdeg磁场范围:最大1.4T变温范围:5 K-800 K
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  • 闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光(探测器灵敏波段)的材料,可分为有机和无机两大类,按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁,且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时,一个X射线光子,可以产生多个光子,与紫外可见光不同,因为X射线的能量足以使物体电离,使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子,通过产生俄歇电子,康普顿散射等产生更多的电离电子(二次电子),二次电子热能化退至激发能级,通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上,闪烁体是核医学影像设备的核心部件,通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料,它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息,是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门,在辐射光源最大功率下关闭快门时,样品位置辐射剂量小于10uSv/h,辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时,分辨率可以达到20pl/mm以上。
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  • 该系统是Coesfeld与德国达姆施塔特工业大学联合开发的,由德累斯顿莱布尼兹聚合物研究所用来表征橡胶材料的裂纹增长及其评价。 该系统有静态测试和动态测试2个机型。系统特点: 1. 包含4台电机驱动装置;2. 每台驱动装置配备了一套位移和力传感器;3. 应变和力的测量;4. 通过移动的样品夹具实现力的最佳分布。 23-500-000双向拉伸静态实验机型号:Biax S5, Biax S10, Biax S20主要应用:通过双向拉伸、蠕变、应力松弛测量来表征塑料和弹性体的。主要参数:最大力值分别是5kN/ 10kN/ 20kN力值精度:0.2力值采样频率:1000Hz行程:200mm精度:0.25μm拉伸速度:60mm/min(120mm/min手动设置)采样精度:1000Hz 61-490双向拉伸动态实验机型号:Biax 800, Biax 1800, Biax 6000主要应用:通过双向拉伸的实验方法测量并表征弹性体的疲劳和裂纹增长。主要参数:最大力值分别是800kN/ 1800kN/ 6000kN力值精度:0.2力值采样频率:1000Hz行程:50mm精度:0.25μm拉伸速度:1mm/s采样精度:1000Hz
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  • 云必真空设备原位进样系统MUST IN2 功能保证敏感样品在不接触空气和湿气的情况下,从手套箱传输到真空设备,以避免氧气、水分或灰尘等对样品造成污染。 操作流程第一步:放样品在手套箱内制备好样品,将样品装入带有惰性气体保护的原位进样系统;第二步:运样品系统气密性好,可远距离移动;第三步:装样品系统像一个大样品一样安装在真空设备样品座上,整个系统将与载物台一起在样品室中移动;第四步:进样品仪器抽真空的过程中,系统在不使用电驱动的方式打开,最大程度减少系统对仪器的电磁干扰;第五步:分析样品系统打开以后,分析仪器就可以对样品开展分析工作。 原位分析附件1、高温附件(室温至+100℃,特殊温度可定制)直接内置于原位进样系统里,无需外接其他附件。系统内允许温度快速变化,并使用作为该组件一部分的控制器在±1℃内进行精确控制。2、充放电附件可保证固态电池、动力电池、锂离子电池等样品在原位进样情况下,还能开展充放电测试。利用充放电附件可观察其在充放电过程中,成分、形貌、结构等性能持续的发生变化,得到丰富的原位测试数据。3、力曲线附件主要是在高低温附件、充放电附件基础上增加了力曲线功能。样品在高低温、充放电状态下内部会膨胀或发生形变,就会产生力,结合温度、充放电的变化,就能得到完整的不同工况下的样品力曲线图形。 原位互联原位进样系统可以保证同一个样品,在各种设备之间原位转移、原位分析,以低成本达到原位互联的效果。在使用原位进样系统的基础上,真空设备分析完样品,可以使用惰性气体破坏真空,原位进样系统自动关闭舱门,达到密闭效果,从而可以转移到其他真空设备上开展其他分析工作。 性能优势1、无磁性所有部件均为非磁性材料,不影响真空设备观测准确性。2、体积小巧高度仅20mm,长度不超过50mm。3、高度匹配定制化安装底座,可在真空设备底座上稳定锁定。4、自动开启原位进样主盒放入真空设备腔内,真空开启后,观测舱自动打开。5、功能全面可同时实现对样品的充放电、加压、制冷、加热及环境参数测量等功能。 性能参数 样品进入方式:原位进样系统装配于真空设备样品座上进入 系统打开方式:气动方式打开,避免电磁干扰 样品放置方式:竖直放置,可选水平放置 外壳材质:铜材质,表面特殊处理,内部表面抛光 外壳尺寸:L50xW50xH20mm(可定制) 腔内尺寸:L20×W30×H15mm(可定制) 样品尺寸:L10×W10×H5mm(可定制) 可选附件1、高温附件 温度范围:室温至+100℃,特殊温度可定制 温度精度:±1℃ 显示分辨率:1℃ 温度稳定性:1℃ 加热/冷却速率:每分钟30℃2、充放电附件功能视外接充放电设备而定3、力曲线附件 加压范围:0-250N 外部控制箱 适用仪器本系统适用于真空设备, 如扫描电子显微镜、电子探针显微镜、X射线光电子能谱仪、离子研磨仪等仪器。
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  • 厂家正式授权代理商:岱美有限公司联系电话:,(贾先生)联系地址:北京市房山区启航国际3期5号楼801公司网址:ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希腊雅典,是NCSR' Demokritos' 的微电子研究所的第一家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技术是白光反射光谱(WLRS),它可以在几埃到几毫米的超宽范围内,准确而同时地测量堆叠的薄膜和厚膜的厚度和折射率。 FR-Mic: 微米级薄膜表征-厚度,反射率,折射率及消光系数测量仪一、产品简介: FR-Mic 是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,要求的光斑尺寸小到几个微米,如微图案表面,粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台专用计算机控制的 XY 工作台,使其快速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。o 实时光谱测量o 薄膜厚度,光学特性,非均匀性测量,厚度映射o 使用集成的, USB 连接高品质彩色摄像机(CCD)进行成像 二、应用领域 o 大学 & 科研院所o 半导体(氧化物、氮化物、硅、电阻等)o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材(衬底)上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学( parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求,请与我们取得联系) 三、产品特点o 单点分析(无需预设值)o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k,颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数 FR-Scanner 自动化超高速精准薄膜厚度测量仪 一、产品简介: FR-Scanner 是一种紧凑的台式工具,适用于自动测绘晶圆片上的涂层厚度。FR-Scanner 可以快速和准确测量薄膜特性:厚度,折射率,均匀性,颜色等。真空吸盘可应用于任何直径或其他形状的样片。 独特的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此,在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。FR-Scanner 通过高速旋转平台和光学探头直线移动扫描晶圆片(极坐标扫描)。通过这种方法,可以在很短的时间内记录具有高重复性的精确反射率数据,这使得FR-Scanner 成为测绘晶圆涂层或其他基片涂层的理想工具。测量 8” 样片 625 点数据60 秒 二、应用领域o 弯曲基材(衬底)上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学( parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 半导体生产制造:(光刻胶, 电介质,光子多层结构, poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值)o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k,颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数FR-Scanner: 自动化超高速薄膜厚度测量仪 FR-pOrtable:一款USB驱动的薄膜表征工具 一、产品简介: FR-pOrtable 是 一 款独 特 的 便 携 式 测 量 仪器 , 可 对 透 明 和 半 透明 的 单 层 或 多 层 堆 叠薄 膜 进 行 精 确 的 无 损(非接触式)表征。使用 FR-pOrtable,用户可以在 380-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量及薄膜厚度测量。二、应用领域o 大学 & 科研院所o 半导体(氧化物、氮化物、硅、电阻等)o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材(衬底)上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学( parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求,请与我们取得联系) 三、应用领域 FR-pOrtable的紧凑尺寸以及定制设计的反射探头以及宽带长寿命光源确保了高精度和可重复的便携式测量。 FR-Portable既可以安装在提供的载物台上,也可以轻松转换为手持式厚度测量工具。放置在待表征的样品上方即可进行测量。 FR-Portable是用于工业环境(如R2R、带式输送机等)中涂层实时表征的可靠而精确的测厚仪。四、产品特点o 一键分析 (无需初始化操作)o 动态测量o 测量光学参数(n & k, 颜色),膜厚o 自动保存演示视频o 可测量 600 多种不同材料o 用于离线分析的多个设置o 免费软件更新服务 五、技术参数FR-pRo: 按需可灵活搭建的薄膜特性表征工具一、产品简介: FR-pRo 是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备,用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层.FR-pRo 是为客户量身定制的,并广泛应用于各种不同的应用 。 FR-pRo 可由用户按需选择装配模块,核心部件包括光源,光谱仪(适用于 200nm-2500nm 内的任何光谱系统)和控制单元,电子通讯模块此外,还有各种各种配件,比如:? 用于测量吸收率/透射率和化学浓度的薄膜/试管架,? 用于表征涂层特性的薄膜厚度工具,? 用于控制温度或液体环境下测量的加热装置或液体试剂盒,? 漫反射和全反射积分球通过不同模块组合,最终的配置可以满足任何终端用户的需求 二、应用领域o 弯曲基材(衬底)上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学( parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )O 半导体生产制造:(光刻胶, 电介质,光子多层结构, poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值)o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k,颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数
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  • CFC 多功能聚烯烃分析表征仪产品介绍 多功能聚烯烃综合表征分析仪CFC是应用升温淋洗分级技术(TREF)和凝胶渗透色谱技术(GPC)的一台全自动联用分析仪,可同时实现对分子量及其分布(MWD)和化学组分及其分布(CCD)的表征。CFC可在较短时间内完成复杂的共聚单体的化学组分和分子量及其分布表征(过去通常需要耗费几天时间)以及复杂聚烯烃共混产品的详细分析。 一、CFC功能: 1、可得到温度、分子量和化学组分分布数据的三维谱图,像超级显微镜一样把样品的微观结构进行全面剖析;即可以看到每个温度下各个化学组分的分子量及其分布和千碳甲基数,也可以详细了解每个分子量组分的化学组分构成。2、配置42位自动进样器,可一次性运行42个样品;3、选配组分检测器可直接获得CH3/1000C信息;4、选配低温附件,对于低结晶度的样品,可控温低至-20oC;5、具备远程控制、诊断功能; 二、CFC特点 1、台式、全自动分析; 2、分析过程无需人工接触溶剂,符合HSE要求,溶剂消耗少; 3、仪器软件设计非常友好,方便操作; 4、仪器易于使用、维护;5、选配氮气附件,可以降低氧化降解;6、样品采用温和振荡模式,可降低样品剪切降解; 三、应用实例 对于既有聚丙烯,又有聚乙烯还有乙丙共聚物,附带掺杂各种小分子聚合物以及石蜡等这类复杂样品的表征,如果采用传统分析方法,根本无法了解此聚合物的情况,更不用说知道其详细组成情况了。但采用多功能聚烯烃表征分析仪CFC,不但能够了解其组成情况,还能够详细地知道每个组分的分子量及支链分布情况,就像用一个超级显微镜一样看得清清楚楚。图1是某个牌号树脂的CFC分析结果3D图,我们可以根据温度、分子量及支化度信息等判断其具体组成,同时也能看到每个温度下的化学组成结构和同一分子量下的化学组成结构。 图1 某牌号树脂CFC分析结果
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  • 中图仪器VT6000材料性能表征共聚焦测量显微镜基于光学共轭共焦原理,以转盘共聚焦光学系统为基础,结合精密纵向扫描,以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像,一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能1)3D测量功能:设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能;2)影像测量功能:设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能,可进行长度、角度、半径等尺寸测量;3)自动拼接功能:设备具备自动拼接功能,能够实现大区域的拼接缝合测量;4)数据处理功能:设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能;5)分析工具功能:设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;6)批量分析功能:设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能,可实现批量数据文件的快速分析功能;7)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;8)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;9)镜头安全功能:设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。自设计之初,VT6000材料性能表征共聚焦测量显微镜便定下了“简单好用"四字方针的目标。1)结构简单:仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成,控制单元集成在设备主机之内,亦可采用笔记本电脑驱动,实现了“拎着走"的便携式设计;2)真彩图像:配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像,对细节的展现纤毫毕现;3)操作便捷:采用全电动化设计,并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换,图像视窗和分析视窗同界面的设计风格,实现了所见即所得的快速检测效果;4)采用自研的电动鼻轮塔台,并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化,确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。VT6000材料性能表征共聚焦测量显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。不同应用场景下的3D形貌主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中,其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。3D形貌图片:影像测量功能界面部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 超高分子量聚烯烃材料分子量及其分布的表征超高分子量聚烯烃分子量及其分布的表征一直是超高分子量聚烯烃材料开发和加工应用的障碍,因为没有很好的方法来得到分布的数据,只能采用传统的黏度法来获得粗略的黏均分子量的数据,而采用我公司配置了专用IR5检测器和超高分子量色谱柱的高温凝胶色谱仪可以轻松方便地获得超高分子量聚烯烃的分子量及其分布的数据,如果需要也可以得到支化度的信息,成为超高分子量聚烯烃材料研发和加工应用的强有力的手段。
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  • 产品简介通过MEMS芯片在原位样品台内构建热、电复合多场自动控制及反馈测量系统,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 我们的优势 优异的电学性能1.采用模拟校验unique设计的芯片电极,电场分布均匀、电位稳定,芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达皮安级。2.MEMS微加工特殊设计,在加热过程中可同时进行电学试验和表征,不影响温度稳定性。优异的热学性能1.高精密红外测温校正,微米级高分辨热场测量及校准,确保温度的准确性。2.四电极的超高频控温方式,排除导线和接触电阻的影响,测量温度和电学参数更精确。3.采用高稳定性贵金属加热丝(非陶瓷材料),既是热导材料又是热敏材料,其电阻与温度有良好的线性关系,加热区覆盖整个观测区域,升温降温速度快,热场稳定且均匀,稳定状态下温度波动≤±0.01℃。4.采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式,高频反馈控制消除误差,控温精度±0.01 ℃。5.多级复合加热MEMS芯片设计,控制加热过程热扩散,极大抑制升温过程的热漂移,确保实验的高效观察。6.加热丝外部由氮化硅包覆,不与样品发生反应,确保实验的准确性。智能化软件和自动化设备1.人机分离,软件远程控制实验条件,程序自动化控制倾转角度。2.自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等,同时可手动控制目标温度及时间,在程序升温过程中发现需要变温及恒温,可即时调整实验方案,提升实验效率。3.内置绝对温标校准程序,每块芯片的每次控温都能根据电阻阻值变化,重新进行曲线拟合和校正,确保测量温度精确性,保证高温实验的重现性及可靠性。4.全流程配备精密自动化设备,协助人工操作,提高实验效率。技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金电极数4视窗膜厚无膜或20nm漂移率<0.5 nm/min(稳定状态)倾转角α ≥ ±25°,β ≥ ±25°(实际范围取决于极靴型号)适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS/SAED支持升温过程及高温检测应用案例Ag2Te基热电材料随电压变化情况0.4v电压Ag2Te基热电材料高分辨Ag2Te 基热电材料由于能够通过内部载流子的运动实现电能和热能之间的相互转换 因此,在进行施加电压实验过程中会出现随着电压的增大,样品自身温度升高的现象 研究得知随着电压持续升高,样品表面结构变化明显,纹路由不规则块状演变成条状或消失。而且,通过降低电压的过程,我们发现该材料升高或降低电压时,表面结构发生变化的过程是可逆的,表明该材料具有优异的热电性能和重复使用性能。
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  • 在材料生产检测领域中,纳米材料表征共聚焦显微镜用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。它基于光学共轭共焦原理,结合精密纵向扫描,以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能;(2)设备具备自动拼接功能,能够快速实现大区域的拼接缝合测量;(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件,预先设置好配置参数再进行测量,软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能,即可快速实现批量测量功能;(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能;(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能,可实现批量数据文件的快速分析功能;VT6000纳米材料表征共聚焦显微镜在陶瓷、金属、半导体、芯片等材料科学及生产检测领域中具有广泛的应用。应用领域 对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:性能特色1、高精度、高重复性1)以转盘共聚焦光学系统为基础,结合高稳定性结构设计和3D重建算法,共同组成测量系统,保证仪器的高测量精度;2)隔震设计能够消减底面振动噪声,仪器在嘈杂的环境中稳定可靠,具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1)测量与分析同界面操作,无须切换,测量数据自动统计,实现了快速批量测量的功能;2)可视化窗口,便于用户实时观察扫描过程;3)结合自定义分析模板的自动化测量功能,可自动完成多区域的测量与分析过程;4)几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全;5)一键分析、多文件分析,自由组合分析项保存为分析模板,批量样品一键分析,并提供数据分析与统计图表功能; 6)可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,保护仪器,降低人为操作风险。VT6000纳米材料表征共聚焦显微镜显微成像主要采用3D捕获的成像技术,使其具有较高的三维图像分辨率。横向分辨率更高,所展示的图像形态细节更清晰更微细,能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度:半导体后道制造中,在将晶圆分割成一片片的小芯片前,需要对晶圆进行横纵方向的切割,为确保减少切割引发的崩边损失,会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽,在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中,栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力,直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外,太阳能电池制作过程中,制绒作为关键核心工艺,金字塔结构的质量影像减反射焰光效果,是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力,能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 高熔体强度聚烯烃材料分子量和长短支链及其分布的表征影响聚烯烃材料熔体强度的因素很多,其中分子量及其分布,长支链及其分布,短支链及其分布的数据对于判断熔体强度差异化原因至关重要,因此如何全面快速得到这些数据,对材料研发和加工应用人员意义重大。我公司通过采用配备IR5检测器、黏度检测器和组分检测器的高温凝胶色谱仪,可以得到这些数据,为研发人员提供了可靠的科学依据。
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  • 中图仪器VT6000材料表征3d共聚焦形貌显微镜基于光学共轭共焦原理,结合精密纵向扫描,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,可以获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量。VT6000材料表征3d共聚焦形貌显微镜在半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中,可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能;(2)设备具备自动拼接功能,能够快速实现大区域的拼接缝合测量;(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件,预先设置好配置参数再进行测量,软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能,即可快速实现批量测量功能;(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能;(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能; (6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能,可实现批量数据文件的快速分析功能;功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择,适应多种现场应用环境;2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能,双重保护;3、分析功能丰富3D:表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析;2D:剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用领域VT6000材料表征3d共聚焦形貌显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 应用范例:应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度:半导体后道制造中,在将晶圆分割成一片片的小芯片前,需要对晶圆进行横纵方向的切割,为确保减少切割引发的崩边损失,会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽,在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中,栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力,直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外,太阳能电池制作过程中,制绒作为关键核心工艺,金字塔结构的质量影像减反射焰光效果,是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力,能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他VT6000共聚焦显微镜能够清晰地展示微小物体的图像形态细节,显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点,能够有效提高工作效率,更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜,能有效提高工作效率,实现更准确的操作。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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