中远红外反射率测试仪

● SPECTRAFIRE 解决了远红外测试时使用积分球造成 的能量损耗问题。● SPECTRAFIRE可以测试毛玻璃、半透明聚合物薄膜 等非透明样品● SPECTRAFIRE可以容易的安装到客户现有的Thermo Nicolet FTIR 红外光谱仪上 SPECTRAFIRE 是一个远红外反射率测试附件，可装配到 Thermo-Nicolet 的FTIR 光谱仪上，使用傅里叶变 换的方法进 行光谱半球反射率测试，其中使用了AZ 公司专利 的 ellipsoidal Collection半球能量收集技术，避免了传统的积分球技术对能 量的吸收损耗问题。仪器可从1.67um 到40um的范围内扫描测 试近法向半球反射率。所有的空间都可以被清除以最小化由于水和CO2造成的信号损失。法向发射率根据测试的光谱反射率数据和黑体曲线进行计算。SPECTRAFIRE 有2种测试模式，绝对测量模式和相对测量 （差分式）模式。在绝对测量模式中，近法向如射，半球反射率通过与配有校正臂的内置探测器直接测到。在这种情况下，无需校正。在相对测量（差分式）模式下，内置校正臂不起作用，而是提供一个参考样品进行背景扣除，然后测试样品。此外，该系统通过特殊标定的参考根据样品的光谱，来得到不透明样品的总半球发射率。使用Spectrafiar计算发射率并不需要知道光源的光谱，也不一定需要限定光源的色温在300K. SPECTRAFIRE 还可以用于正确的测量300K以外的发射率和非灰体的 发射率。准直的红外光束从Nicolet红外光谱仪进入到SPECTRAFIRE左边的入口处。通过一个离轴抛物面镜将该光束汇聚到样品上。样品口在系统的顶部，样品置于专利的收集器的顶部。入射光经样品反射并被收集汇聚到探测器上。探测器的信号由FTIR光谱仪进行处理。.在收集器里还内置一个光束偏离装置，用于绝对测量时的背景扣除。该偏离装置的反射率完全匹配收集器的反射率 。仪器里面的所有光学元件都镀了非保护性金膜，以获得在测试光谱范围内的最大反射率。Spectral resolution0.5 to 32/cmSpectral range2.5 to 40 microns (4000 to 250 cm -1 wave number)Sample size and geometry&ge 0.33 inches (8.3 mm) diameterDimensions: FTIR with SPECTRAFIRE attached.-Footprint: 33 x 25 inches-Height: 13.5" at the SPECTRAFIRE sample portElectrical requirement for Nicolet120 VAC, 60 HzWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably.

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪 符合标准 ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射 波段区间 335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm IR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间10秒/次；90秒预热 光源 VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

410Vis-IR可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点n在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率n半球热辐射的预测n测量太阳能吸收/反射n在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量n可测量光谱范围：从可见到中远红外nNIST可溯源标准n快速和便携式使用nPDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域n航空工业n天文望远镜检查n涂层领域n太阳能领域优化太阳能利用性能n节能建筑n光学材料质量控制技术参数410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

一.产品描述ATG2810 是一款反应速度快、体积小、高稳定的中远红外仪器光源系统，抗震、抗冲击、性能强，可以充分保证实验条件的一致性。实现了其他光源所不能比拟的长寿命（5千小时以上），高稳定性、高均匀性、无闪烁。该光源主要集中在中远红外区域，且具有完美的光谱曲线，非常适合用于吸光度的检测。ATG2810可进行SMA905输出光，经过了精密的调节，以最大光通量与光纤连接。ATG2810也可以自由空间输出光源。ATG2810可以实现光输出强度任意调节，便于控制且具有良好的色温和显色性、光衰小等特点，可广泛应用于传统桌面型光谱仪器及现场便携式微型光谱仪器。二.产品应用l 波段：1-12 uml 高稳定性，每小时漂移不超过0.2%l 体积小l 光源寿命：5000小时l 预热时间：30 sl 光效率：61.451 lm/wl 发光位置精确，位置±0.127l 光强输出：0-100%线性调节三.产品应用l 光谱在线测量l 吸光度分析l 反射率分析l 工业自动化l 光电化学测试l 透射率/反射率分析图1 ATG2810 的输出光谱图图2 ATG2810的输出功率稳定性（变化率0.13%）

优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯，或者卤钨灯，作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一：布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求，计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源，光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球，3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050，波长范围350-1050nm，分辨率最小0.6nm，美国产进口600线光栅4. 搭配电脑，数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置1000ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率应用举例二：高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（下面一条曲线），350-1000nm范围反射率72%， 样品2（上面一条曲线），350-1000nm范围反射率 82%，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率测试二过程，相对于黑板1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置黑板，采集参比光谱3. 移除黑板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（上面一条曲线），350-1000nm范围相对于黑板的反射率， 样品2（下面一条曲线）相对于黑板的反射率，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三：薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物薄膜的光谱

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准 n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE 0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量，有Spectraflect® 和Infragold® 涂层可供选择。Spectraflect® 在300-2400nm范围具有高反射率；Infragold® 在波长为 0.7um-20um范围内效果最好。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构，RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集大角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器最大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。产品特性：1.独特的设计满足了客户多样化的需求2.业界高度认可的反射率测量结构设计应用领域：1.材料反射率和透射率2.不透明物体的反射率3.混浊样品的透过率4.颜色特性5.反射系统设计6.红外反射7.反射率与角度的关系适用于固体、浑浊液体、粉末和薄膜不透明样品反射率等太阳能等材料发射率透过率测量漫反射率测量漫透射率测量半球反射率测量散射光测量吸收测量测量光谱反射率光谱透过率透过色特性测定反射系统设计红外反射率反射率随角度变化不同规格尺寸的积分球? 1、最小到2英寸，最大到76英寸或更大? 2、各种内部反射涂层的积分球? 3、Spectraflect（经济实用型）? 4、Duraflect（防水、防潮、耐腐蚀型）? 5、Spectralon（高反射率、宽光谱范围，）? 6、Infragold（近红外/中红外波段适用）

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制仪器特点 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射 NIST标准 快速、便携 PDA触摸屏操作，内置SD卡 计算半球反射比技术参数 410-Solar 便携式太阳能反射率仪 符合标准 ASTM E903、ASTM C1549 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 20°入射角的积分总反射比 输出参数 总反射，漫反射，和20°角的镜面反射 波段 7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm 入射角 20°法线入射角 样品表面： 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 BEAM SPOT SIZE 0.250”直径，20°入射角 BEAM ANGLE 3°半锥角 测量时间 10秒/次；90秒预热 VIS-NIR源 钨灯 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 总反射比 输出参数 绝对反射比 波段 6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm 入射角 20°和60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR源 Kanthal合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃； 操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

410 - Vis 便携式可见/近红外反射计Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers 410-Vis测量400 &ndash 1100 nm波谱范围内4个波段的总反射率。可输出20度入射角的总反射、散射反射和镜面反射数据。一次测量循环可以输出12个数据点。测量操作简单，只需扣动仪器扳机即可，数据记录并可以图表或数字形式显示在显示屏上。是一款真正便携、电池操作、内置PDA的反射计。 特点：测量400 &ndash 1100 nm范围4个波段的反射率测量总反射、漫反射和镜面反射电池操作、完全便携测量大目标反射率无须仪器调准可野外工作测量绝对反射率值

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）Apollo(阿波罗）是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器，被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户：英国国家美术馆，荷兰国立博物馆，美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画，唐卡作品，图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像，Apollo（阿波罗）是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。仪器性能 n 基于修正的积分球方法（与NRL和NIST合作）n 采用6个探测器测量0.9~12μm范围内6个波段的反射率 n 20°和60°入射角测量反射率n 每个测量周期记录12个数据点n 便携，测量准确，软件操作方便 主要特点n 光谱范围覆盖NIR-SWIR-MWIR-LWIRn 响应快速，测量准确n 高精度，测量头可更换n 电池操作，简单方便n 触摸屏可野外现场测量n 可同时提供十种设备运行信息n NIST校准技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法总反射比输出参数绝对反射比 波段6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm入射角20°和60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源Kanthal合金测量探头模块化设计，测量头可更换 操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

反射/透射率积分球应用领域：材料的反射率/透射率测量不透明物体的反射率测试 浑浊样品的透射率测试颜色属性测试反射系统设计红外反射反射率与角度的关系 Labsphere的反射/透射率积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。积分球内部涂料有两种选择：Spectraflect涂料，在300 – 2400 nm波长范围内效果较好；Infragold涂料适用于波长0.7 - 20 μm范围。 RT积分球有5个1英寸开口，可容纳样品和9°反射光束，在球的顶部有一个0.5英寸探测器口，镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。 RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。积分球有5个开口可调节样品，顶部的中心安装平台装有参考光束，积分球底部有一个0.5英寸的探测器端口。 RT积分球和RTC积分球均能做任何几何角度测量。RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构和排出镜面反射9°/d结构；RTC除上述功能外还可测量变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃结构有助于收集大角度散射，挡板采用最小化设计，使得探测器能够非常大程度地看到球内壁表面。探测器口位于球的顶部和底部，使用挡板遮挡防止样品和参考口光束直接照射。RT-060-SF及RT-060-IG反射/透射率测试积分球 Labsphere的RT-060-XX积分球有5个1英寸的开口容纳样品和9°双光束结构结构中参考光束，也包括用于9°单光束结构测量中的端盖。两个1英寸的样品支架用于安装样品和反射/透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口，探测罩用以限制探测器视场范围。镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量，包括非镜面反射测量，前散射和背散射测量，以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许有效的积分。为了保证高积分球效率，总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件，由支杆底座和1/4-20支架组成，方便调节积分球的高度。 RTC-060-SF 和 RTC-060-IG反射率透射率积分球增加了中心样品架，方便用户测量反射率与辐射入射角度的关系，一些情况下，还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸、两个1.25英寸的开口。中心样品台安装在积分球的顶部，0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩用于限制探测视场范围。 RTC 系列积分球配件包括四个样品架: 一个中心样品架，两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架，同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸，最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50"x 2"x 0.125”的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器，可以承装液体和粉末，用于测试吸收和散射特性。订购信息及规格

集总透过率、可见光透射比、总吸光度、L 、A、 B、sRGB等参数光谱透反射率测试仪集光谱、透过率、反射率、饱和度、L、A、B等参数采用5英寸大屏，各测量参数及曲线实时显示，使用方便快捷，可直接测试 材料和镜片的透过率测试。

反射率/透射率积分球 最适宜测量内容： 材料反射率和透射率 不透明物体的反射率 混浊样品的透过率 颜色特性 反射系统设计 红外反射 反射率与角度的关系 Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。可提供两种积分球涂层：Spectraflect，在300-2400nm防范围具有高反射率；Infragold，设计工作在0.7um-20um。 RT积分球有5个1inch开口可容纳样品和9° 反射光束的结构。在球的顶部有一个0.5inch探测器口。镜面光束光阱用于去除镜面反射束的方法。RTC积分球则在积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。探测器端口在底部。 RT积分球可以测量镜面反射9° /h结构和排除镜面反射9° /d结构。RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许探测器最大限度地看到球表面。探测口位于球的顶部和底部，并被挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 RT--060-SF和RT-060-IG反射率透射率积分球 Labsphere 的 RT-060-XX 积分球具有五个1英寸直径的口来容纳样品和9° 双光束结构中参考光束，同样包括用于9° 单光束结构测量中的端口盖。与积分球一起的两个1英寸样品架用于安装样品和放射率透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口，探测罩限制探测视场范围。还包括一镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量，包括非镜面反射测量，前散射和背散射测量，以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许有效的积分。为了保证高积分球效率，总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件，由支杆底座和1/4-20支架组成，这样积分球的高度可以方便调节。 RTc-060-SF 和 RTc-060-IG 具有中心支架的反射率透射率积分球 增加了中心样品架，Labsphere RTc-060-XX 用户能够测量反射率与辐射入射角度的关系，一些情况下，还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸直径的口，两个1.25英寸直径的口。中心样品台安装在积分球的顶部，0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩限制探测视场范围。RTC 系列积分球配件包括四个样品架:一个中心样品架，两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架，同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸，最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50&rdquo x 2&rdquo x 0.125&rdquo 的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器，可以承装液体和粉末，用于测试吸收和散射特性。 系统指标 型号RT-060-SFRT-060-IGRTC-060-SFRTC-060-IG积分球直径6 inches6 inches6 inches6 inches积分球涂料SpectraflectInfragoldSpectraflectInfragold® 光谱范围250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m探测口直径0.5 inch0.5 inch0.5 inch0.5 inch样品和参考口FiveFiveFiveFive样品和参考口直径(数量)1 inch (5)1 inch (5)1 inch (3)1.25 inch (2)1 inch (3)1.25 inch (2)积分球支架1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座可调 H 型支架结构可调 H 型支架结构预定编号AS-02484-100AS-02485-100AS-02484-000AS-02485-000 可选配件 KI-120, Kohler Illuminator套件 AS-02509-100 反射率可选择的标准反射板 个人选择 SC 6000 辐射度计/光度计 系统控制 AS-02702-000 Labsphere 探测器配件 个人选择 CSMH-RTC-CLIP-SF, 夹式中心样品架 AS-02759-000 CSMH-RTC-CUV-SF, 槽式中心样品架 AS-02728-000 PA-100-74S, 连接积分球与OOI 74系列的准直镜头适配器 AS-02764-000

中远红外激光（波长1 - 10微米）（如量子级联激光、OPO激光等）在气体检测、红外光谱等领域有非常广阔的应用。中远红外激光的波长和光谱测量可以采用光栅单色仪、干涉仪、傅里叶变换光谱仪等方法，但针对低重复频率的脉冲激光，高分辨、精确测量中远红外一直是个难题。基于多年激光波长计、频谱仪的经验，Bristol推出772型中远红外专用激光频谱仪，最低可测量100Hz重复频率激光的光谱，为中远红外激光研发生产、红外TDLAS等领域客户提供全新的有力工具。 l 连续及脉冲激光频谱、波长测量l 1 - 12 微米测试范围l 4GHz光谱分辨率l ±0.01nm波长准确度l 20dB光学抑制 772型中远红外专用激光频谱仪详细参数： 型号772B-MIR激光类型连续或脉冲（重频=100Hz）波长测试范围1 - 12μm精度±10ppm±0.08nm @ 8μm±0.0125cm-1@1250cm-1±875MHz @ 37THz光谱分辨率4GHz校准内置持续校准显示8位nm，μm， cm-1，GHz，THz光学抑制20dB (30,000脉冲)最小输入功率0.005 - 2.5μW测量时间测量脉冲个数的两倍输入自由光输入，带辅助可见准直光测量示例：50ns脉宽QCL脉冲激光不同重频的测试结果：

蓝菲光学LFHH-1000手持光谱反射率测试仪基于安卓平台集成了可见到近红外CCD光谱仪，获取反射光谱并计算反射率。便携式的设计便于应用于多种场景，特别是户外使用。测试数据可以保存或上传，便于离线分析。反射率测试应用广泛，可以用来分析物体表面颜色，物质构成甚至土壤或植被状态等。采用光谱仪测试反射率可以迅速准确的一次性获取一段光谱上的反射率。蓝菲光学拥有逾40年的光谱分析系统设计与应用经验。LFHH-1000是蓝菲光学将传统的光谱仪与安卓移动设备相结合的产品，旨在为用户带来便捷的测试体验。LFHH-1000完全基于安卓系统开发，外形如普通手机，使用简易明了，无需培训即可上手。除了测试光谱外，还内置了反射率计算功能，可以将待测物光谱与蓝菲标准白板光谱进行比较，直接获取并显示反射率。LFHH-1000除了标配25°接受角的收光元件外还可以外接SMA905光纤，方便用户完成特殊的测试需求。蓝菲光学Spectralon标准白板是业界普遍使用的参考板，提供不同的尺寸和反射率选择，并且可以选择NIST可溯源的反射率数据。为精确测量反射率提供可靠保障。系统特点便携式设计，使用与手机类似可视化操作，现场得到光谱反射率25°角收光，提高进光量SMA905接口，可扩展其他探测形式GPS定位，测试地理位置直接获取数据拷贝功能长达6小时不需充电软件暗电流扣除功能规格参数型 号:LFHH-1000料 号:LAA-00101-100探测器:Hamamatsu S11639光谱范围（nm）:350-1050像素:2048*1光谱分辨率(nm):约1.5信噪比：300:1波长准确性:0.2nmA/D采样:16bit收光角度:25°暗电流修正:软件积分时间（ms）: 10-65标准板大小（cm）:30*30标准板反射率：99%，其他反射率可选供电:内置锂电池仪器尺寸(L*W*H/cm):17.5*9*3.5仪器重量（kg）:1

红外镀金积分球，适用于大功率光源测量 XME-2204 描述红外镀金积分球，其稳定的特性和较强的耐受能力，取决于内部涂覆的一种镀金漫反射层。该镀金漫反射涂料是一种电镀化学的漫反射镀金涂层，具有极佳的稳定性、且在真空环境下无出气现象，使用10.6µ m的CO2激光测得其损伤阈值大约为19.3J/cm2，高于普通镀金板表面的平均水平，使用冷却措施的还可以提高激光损伤阈值。镀金涂层在1000nm以上的典型的漫反射率高于94%，可以镀在金属表面如铝、镍、铁、铜以及钨上。积分球使用铝合金作为基底材料。特点高漫反射率，高朗博特性，耐用，易清洗镀金涂层比普通涂层红外反射率要高很多镀金涂层受长期光照后，不会出现黄斑和焦灼污渍，不会影响反射率应用近红外/中远红外应用，激光测试，反射率测试。技术参数镀金材料反射率 更多精彩内容，请关注下方！

中远红外光束质量分析仪Wincam-IR-BB在中远红外（2-16um）拥有高分辨率的光束分析系统 Wincam-IR通过成像的解决方法实现对中远红外波段的激光器的光束分析，17um的象元，可测波长范围2-16um，并且有一个集成的快门。Wincam拥有极佳的光束轮廓分析的能力，有着超过1000:1的信噪比，可以实现ISO11146测量光束质量因子。基于微测热辐射计的相机有超高的灵敏度，集成的快门可以实现完全自动的非均匀性校准。 Wincam-IR拥有所有相机分析仪的特色功能，并且可定制性高，以用户为中心的免费操作软件，无限制的软件安装和免费的更新。软件配合使用M2DU平台可以实现测量光束的M2因子。在高功率激光器测量方面，我们提供各种取样，吸收，反射衰减器来增加我们相机分析仪的最高功率限制。系统特色：2-16um超宽波长范围的热辐射探测器640*480,17um的象元10.8*8.2mm的有效口径低辐射度能力：~75uW/cm2在5x 峰值间噪声30FPS（7.5FPS 输出）通过USB3.0供电；不需要其他电源块没有斩波片/TEC集成快门允许 # 动态噪声和基线校准软件 # 自动化的不均匀校准（NUC non-uniformity correction）≥1000:1 信号均方根噪声14-bit ADC14ms热时间常数 #测量脉冲激光 PRR≥1KHz并行取值在多个相机上光束传播分析 #ISO11146M2 选项 #光束发散角测量 #寻找焦点 WinCamD-FIR8-14-HR – 8 to 14 μm System Si Microbolometer Beam Imaging Camera, 8 – 14 μmPort-powered USB 2.0主要特点： 8 to 14 μm Si 微测热辐射计 640 x 480, 13.4 x 10.8 mm 有效区域 17 μm pixels 供电通过 USB 2.0 便捷的 3 m电缆线, 不需要电源块 14-bit ADC, 4 MB image buffer & on-board 微热辐射计 10 ms 时间常数 无斩波片 – 测量连续或脉冲光束 室温下工作 – 无需冷却 应用范围： MIR/FIR/CO2激光器光斑分析 二氧化碳激光器和激光系统的现场维修 光学部件&仪器校准 光束偏移 & 记录 高分辨率红外成像 详细参数： 强大的光束分析软件：

Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量，Spectraflect和Infragold涂层可供选择。Spectraflect在300-2400nm范围具有高反射率；Infragold适用于 0.7um-20um范围。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构，RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 应用领域：材料反射率和透射率不透明物体的反射率混浊样品的透过率 颜色特性反射系统设计红外反射反射率与角度的关系 不同用途的积分球1、通用型积分球2、反射透射率测量积分球3、光测量积分球4、均匀光源积分球不同规格尺寸的积分球1、积分球尺寸2英寸-76英寸或更大2、各种内部反射涂层的积分球3、Spectraflect（经济实用型）4、Duraflect（防水、防潮、耐腐蚀型）5、Spectralon（高反射率、宽光谱范围）6、Infragold（近红外/中红外波段适用）

简介：本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种物体的放射率。是本公司自身的产品。本测量器早已经由宇宙开発、原子力、半导体产业等的尖端技术分类上所采用。从研究开発应用至生产线上的应用等，可供活用的范围非常广泛。选配记录器，可将所测量值记录并连接PC获取数据及绘制曲线，分析放射曲线、最大、最小、平均值。应用：●在机器的热设计中必须使用的零件的放射率测量●藉由放射温度计的测量物体来补正放射率●各种零件的加工／处理前后的放射率比较●其他、从零件的放射率求取物体本身的放射率等●材料科学院、实验领域必须的检测分析设备产品构成：１．红外线照射源藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在试料中集中照射。２．红外线检验素子从试料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。注：比率是依据光学系的构造来决定。３．放射率演算回路 从反射能量检验器的输出，演算试料的放射率。注：试料的反射率和放射率的关系式如下：r &epsilon &epsilon ＝１－r４．放射率表示値的校正利用附属的放射率基准片（&epsilon ＝０．０６与０．９４）做校正测量原理：利用恒温放射的远红外线放射源，将能量照射后计算所反射的能量。测量波长：2-22&mu ｍ测量范围：0.00-1.00额定精度： ± 0.01测量面积：&Phi 15mm测量距离：12mm（固定侦测头的脚柱部）被测物温：10-40℃（室温）输　　出：0-0.1V，0-1V（满载）使用温度：10-45℃使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）使用电源：AC100V ± 10%，50/60Hz外型尺寸：侦测头&Phi 51X137mm（0.5Kg） 本　体H170X W306ｘD230mm（5Kg）附属装置：放射率0.94、0.06基准片各一片。使用此产品的部分客商：北芝电机、象印魔法瓶、新力电器、夏普电机、新日本制铁、三菱重工、丰田合成、旭硝子、住友金属、东芝电机、柯尼卡、信越化学、岛津制造所、住友特殊金属等。

SOC410 VIS-IR便携式发射率和太阳能反射率仪 　　SOC410VIS-IR可见-红外发射率/反射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量包括13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335 nm至2500 nm，红外测量头测量范围为1.5&mu m至远红外。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20° 和60° 两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。该光谱仪还配备了NIST可溯源校准标样。 产品特点：　　&diams 　在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率　　&diams 　半球热辐射的预测　　&diams 　测量太阳能吸收/反射　　&diams 　在335至2500 nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量　　&diams 　可测量光谱范围：从紫外到远红外　　&diams 　NIST可溯源标准　　&diams 　快速和便携式使用产地：美国SOC

一, 2000nm超快激光器专用空芯保偏光纤跳线 (带FC型连接器,可定制波长.)用于超快激光器光束传输的空芯光纤跳线,这款保偏光纤跳线是非线性成像光学相干断层扫描（OCT）、无失真超快激光光纤传输、传感器和光谱学应用的理想选择。2000nm超快激光器专用空芯保偏光纤跳线 (带FC型连接器,可定制波长),2000nm超快激光器专用空芯保偏光纤跳线 (带FC型连接器,可定制波长)技术参数特点：可定制波长的空芯光纤近单模光纤制导宽光谱范围低色散、低损耗标准连接器自定义选项:对齐、耦合和准直带FC型连接器的保偏光纤跳线典型远场输出图像物理性能跳线长度2,3,5m/1)连接器FC, SMA (1线盘直径6mm光学性质中心波长532nm 800m 1030nm 2μm1)传输效率90%光纤模场直径(1/e”)具体看光纤参数100fs时的输入能量1μJ.输入功率5W二, 高透射率 多晶中远红外光纤连接器 FlexiRay 3 - 17 μm筱晓光子公司提供FlexiRay光纤连接器，宽中红外光谱范围是3 - 17 μm。FlexiRay光纤连接器基于多晶红外(PIR-)光纤，广泛应用于中红外光传输、光谱、远距离温度传感等领域。多晶红外光纤连接器有各种标准直径，不同的连接器(SMA-905, FC/PC, FC/APC)和几种类型的保护套。我们先进的制造技术确保了连接器套圈内精确的光纤位置和完quan的光纤端面质量。装运前，每根光纤连接器都会经过详细的质量监控。高透射率 多晶中远红外光纤连接器 FlexiRay 3 - 17 μm,高透射率 多晶中远红外光纤连接器 FlexiRay 3 - 17 μm技术参数产品应用:中红外光谱灵活的红外高温测量灵活的红外成像系统量子级联激光器的功率传输CO和CO2激光器的功率传输产品特点:3 - 17µ m范围内的高透射率9 - 13μm时，低光损耗0.2 - 0.3 dB/m纤芯/包层结构，纤芯直径范围为240至860µ m最小老化效应不吸水且无毒不同长度多晶光纤的透射光谱(标准质量等级)不同长度多晶光纤的透射光谱(光谱质量等级)产品规格光纤类型 多晶阶跃折射率多模波长范围 3 - 17μm纤芯/包层尺寸(µ m) 参见标准光纤参数 有效数值孔径0.30±0.03最小弯曲半径（取决于保护套） PEEK管–130mm ,金属PVC涂层管–80mm ,不锈钢管–80mm ,不锈钢硅涂层管–130mm 连接器SMA-905, FC-PC 或 FC-APC 温度范围 -50℃至+80℃ *对于高温或低温应用，请向我们询价。电缆和光纤的温度范围不一样 长度≤ 15m，取决于光纤直径三, 780nm 镀增透膜光纤跳线光纤跳线(又称光纤连接器)是指光缆两端都装上连接器插头，用来实现光路活动连接。筱晓光子的光纤跳线两端都是高质量、窄插销的陶瓷FC/AFC接头这款光纤跳线两端光纤端面镀有增透膜。由我们的设备生产，每根跳线都在规格标签中列出的测试波长进行单独测试，保证光纤和光纤连接时的消光比和低背反射（回波损耗）。光纤类根据数量价格,合同金额原则上不低于3500元 780nm 镀增透膜光纤跳线,780nm 镀增透膜光纤跳线通用参数产品特点：●光纤端面镀增透膜●单层增透膜● 典型的60 dB回波损耗● 陶瓷插芯，角度8° (APC)● Ø 3 mm外部保护层● 提供定制跳线产品应用光纤通信系统光纤接入网光纤数据传输 光纤CATV局域网(LAN)测试设备光纤传感器 技术参数：型号MPC-TAR-80-SM-780-2-1-FC/APC测试波长780nm工作波长770 - 1100nm截止波长720 ± 50nm光纤类型HI780镀膜材料光纤端面（带陶瓷插芯）增透膜类型AR膜透射率要求0.1-99.9%最大插入损耗0.5 dB模场直径4.6±0.5um@780nm数值孔径0.14回波损耗60 dB Typical光纤接头FC/APC-FC/APC（FC/PC-FC/PC，FC/APC-FC/PC）可选光纤长度1米（长度可定制）松套管类型900um/2mm/3mm松套管可选操作温度0 to 70 ℃存储温度-45 to 85 ℃ 四,Mid-IR中红外单模空芯光纤连接器(SMA跳线 内径 200um, λ 5-12 µ m)单模光纤跳线,提供具有高斯光束轮廓的中红外激光束的两个标准选项。Mid-IR中空光纤的相对光谱透射率取决于中空光纤内部介质层的厚度。可以调整为一个特定的波长范围，较厚的涂层提供更好的传输较长的波长。我们提供4种标准的涂层选择。替代结构可用于其他波长区域，包括UV，可见光/近红外和太赫兹。中空光纤(即波导)是许多需要远程激光束传输的中红外应用的理想解决方案。Mid-IR中红外单模空芯光纤连接器(SMA跳线 内径 200um, λ 5-12 µ m),Mid-IR中红外单模空芯光纤连接器(SMA跳线 内径 200um, λ 5-12 µ m)技术参数中红外中空光纤空芯光纤（即波导）是许多需要远程激光束传输的中红外应用的理想解决方案。好处包括：透射率高λ=2-16μm单模选择λ≥5μmm 非高斯光束的滤波 耦合效率高( 95%)大功率(可达100w CW)无尽头反射结实耐用且灵活内部绝缘涂层中空纤维的相对光谱透射率取决于沉积在中空纤维内部的介电层的厚度。该厚度是我们可以完quan控制的参数，并且可以针对特定波长范围进行调整，使用较厚的涂层可为更长的波长提供更好的透射率。我们提供 4 种标准涂层选项，涵盖整个中红外。其他波长区域（包括 UV、可见光/NIR 和 THz）可使用替代结构。技术参数玻璃塑料内部直径(ID)200μm300μm500μm750μm1000μm1500μm典型的损失(直接)*4 dB/m1 dB/m0.5 dB/m0.2 dB/m0.1 dB/m0.2 dB/m单模范围λ≥4μmλ≥8μmλ≥12μm---输出发散1/2角**50 mRad40 mRad30 mRad30 mRad30 mRad30 mRad最小弯曲半径5 cm5 cm10 cm20 cm50 cm5 cm最大功率* * *5 W10 W30 W50 W100 W30 W补充电缆长度0.1-1.0 m0.1-2.0 m0.1-5.0 m0.1-5.0 m0.1-5.0 m0.1-5.0 m五 ,日本精工光纤适配器 (光纤连接器/法兰盘)精工法兰以其独te加工精度保证了产品可以支持多次插拔且差损很低。我们有专门FC/APC以及FC/PC的接头做相应的优化。保证以最小的差损来连接光路，同时我们还针对光纤连接头的卡槽做了两种设计一种是窄带，一种是宽带。窄带可以保证保偏光纤对轴有更高的精度。光纤类根据数量价格,合同金额原则上不低于3500元 日本精工光纤适配器 (光纤连接器/法兰盘),日本精工光纤适配器 (光纤连接器/法兰盘)产品特点● 小型化结构设计● 有宽Key窄key可以选择● 日本精工全进口产品应用● 连接器● 法兰输出接口技术参数参数数值测试波长(nm)1550 or 1310插入损耗 (dB)≤0.2端口及工作方式FC/APC/单模测试光源LD-PD台式光源封装尺寸(mm)如下图七, 200/300/400/600um大芯径多模光纤连接器（适用波长范围300-1800nm）VIS-FCL–LMA系列大芯径光纤连接器，性能优良，不同于广泛应用于光纤通信系统中的多模光纤（50/125, 62.5/125），大芯径光纤通常用于传输较大的激光功率以及特殊的工作波段。同时，由于光纤芯径大，数值孔径高等特点，大芯径光纤分光的均匀性及稳定受到多种因素的干扰（例如激光器模式、激光注入方式等）。多年的高能激光传输实验基础的积淀以军yong器件可靠性的研究，我们已经能提供芯径125um到1500um的光纤连接器产品，以及全波长工作的大芯径光纤产品，产品具备极gao的抗高功率激光冲击能力和高的环境可靠性。公司自成立以来，不断投入研发力量，在特种大芯径光纤分路器熔融工艺、产品封装工艺等方面进行优化提升。在产品小型化、多芯光纤一次熔融成型、激光模式敏感去除等方面取得了突破性进展。已为多家国内外客户提供大芯径光纤分路器产品。光纤类根据数量价格,合同金额原则上不低于3500元 200/300/400/600um大芯径多模光纤连接器（适用波长范围300-1800nm）,200/300/400/600um大芯径多模光纤连接器（适用波长范围300-1800nm）产品特点● 支持100um，200um，330um，400um，600um纤芯光纤加工定制● SMA905高精度了连接头● 每个分路器附带各自的测试报告● 操作功率：10W产品应用● 可见光通讯● 功率监控● 光学分路● 测试仪器技术参数VIS-FCL–LMA-300光谱参数校准中心波长830nm工作范围300-1800nm插入损耗＜0.5dB回波损耗＞55dB光纤类型200/230 NA0.37 or 400/440 NA0.22 or 600/630 NA0.22 or 105/125 NA0.22可以制作结构SMA905-SMA905操作功率10w连接头SMA905工作温度-10-+150℃存储温度-45-+85℃PDL≤ 0.15 dB均一性≤ 1.0 dB尺寸信息封装尺寸3mm黑色管尾纤长度0.5-10m可以定制备注：1、所有的测试结果并不包含接头 2、更好的参数或者其他需求我们可以接受定制

由于镀金膜表面质地非常软，需在外层镀上保护膜以防刮防潮， 镀金外反射镜采用金膜表面镀二氧化硅，这种既能保护膜层又能保证金膜的性能。0.75μm-20μm波段反射率大于96%。

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）是采用红外反射成像技术扫描系统，被广泛用于材料鉴定分析，也适用于油画，壁画，唐卡等艺术品修复及研究，文物保护，考古发掘研究。我们的用户：斯坦福大学，剑桥大学，牛津大学，伦敦苏富比拍卖行，伦敦大学学院，大英博物馆，英国国家美术馆，荷兰国立博物馆（Rijksmuseum），美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆，洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆，挪威国家博物馆，梵高美术馆，德国汉堡美术馆，纽约大学美术学院，法国Arcanes，等等Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射扫描成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部机械微动扫描光学机构和红外面阵列传感器，在900-1700um的红外光谱波段，生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。 Apollo红外反射成像仪的扫描系统可以用于研究艺术作品的各个方面。不仅可以研究作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以实现多个光谱波段下的图像采集分析，高达65000级灰度图像，可以轻松区分不同物质和材料。如果您想采集到用于细节分析，目标识别鉴定等应用高对比度和高分辨率的红外反射图像，Apollo（阿波罗）是适合您的红外反射扫描成像系统Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-25分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

中远红外光束质量分析仪宽带2-16 微米中远红外光束质量分析仪产品特点：宽带 2-16μm 微测热辐射计640 x 480, 10.88 x 8.16 mm 探测器17 μm 像元大小USB3.0,3 米数据线7.5Hz 频率自动化NUC 集成快门14-bit ADC14 ms 积分时间，脉冲测量重复频率可达1kHz无需斩波器和TEC 制冷加套件可用于M2 测量 应用： l 中远红外，CO2 激光器光束质量分析l 实时监控中远红外，CO2 激光或者激光系统l 光学装配或者仪器校准l 光束漂移/记录 产品参数： 波段范围2-16μm分辨率640*480探测面大小10.88 x 8.16 mm像元大小17μm刷新频率7.5Hz信噪比1000:1数模转换14位脉冲激光测量1kHzM2测量标准ISO11146 应用： l 中远红外，CO2 激光器光束质量分析l 实时监控中远红外，CO2 激光或者激光系统l 光学装配或者仪器校准l 光束漂移/记录 产品参数： 波段范围2-16μm分辨率640*480探测面大小10.88 x 8.16 mm像元大小17μm刷新频率7.5Hz信噪比1000:1数模转换14位脉冲激光测量1kHzM2测量标准ISO11146

为提高太阳电池的光电转换效率，在制程上需要减少太阳光入射电池后被表面反射所造成的损失，本测试仪针对这一制程上的需求及太阳电池绒面特性，采用D8积分式光学结构，测量材料表面的反射率，对太阳电池制程中的工艺改进，提供有效的分析手段。 产品特点：大功率的稳态太阳光模拟光源配置应用在科研级的分光及探测系统对比测量标准溯源至NIST简洁美观的专利设计去除影响测试结果的多余结构，减少系统误差优化传统的测试结构，提高测量的不确定度及重复性粗大误差自动去除，线性误差、周期误差等的自动校正可扩展增加温控、真空吸附等辅助结构 技术参数：波长范围350-1050nm(可扩展)测试样品尺寸&le 156x156mm(可扩展)测试模式Mapping系统重复性1%反射率范围0-100%单点测试时间＜3s校正时间＜15s杂散光1x10-3取样孔径&Phi 10mm校准板标准白板（溯源NIM）