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自动衍射光强实验装置

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  • 夫琅禾费单缝衍射光强分布matlab分析

    [font=&]【题名】:[color=#333333][size=24px] [/size][size=16px]夫琅禾费单缝衍射光强分布matlab分析[/size][/color][/font] [font=&]【全文链接】: https://www.docin.com/p-1900043334.html?docfrom=rrela[/font]

  • 【讨论】衍射实验技术接龙游戏[每位有效回复者将得到本人赠送的10个积分,两位回复者每人已经得到10分]

    系统地表述知识也是学习的一种方法。我们不妨一起来做一个主题。大家来说衍射仪和衍射技术。只要你找到一个可以说话的主题,把你的知识,经历,经验,教训说出来,你就可以接上一段。比如你对衍射仪某个部分的了解,用衍射方法解决了你的某个问题。一种特殊的操作方法。如果你实在没话说,就不说好了,不要说“顶”,“好”之类的空话。好吗?为了鼓励大家的积极性,将从本人的积分中赠送每位参与者10个积分。先已放进来100分了,如果有更多的参加,将继续增加奖励分。我先来:一 衍射光源X射线管就象一个真空二极管,一头是阴极,另一头是阳极。阴极就是金属钨丝,阳极也是一块金属,最常用的就是铜,也有用铁,钴,钼的。如果给钨丝通上电流,就会产生电子。如果在阴极和阳极之间加上一个高电压,阴极产生的电子就会作定向运动,从阴极飞向阳极。电子在运动过程中在电场的作用下加速。当碰到阳极后,电子的动能损失。一方面使阳极发热,另一方面会产生X射线。X射线的产生效率非常低,一般只有1%的电子能量能转换成射线。99%的能量变成了热量,使得阳极在极短的时间内能被熔化掉。所以,我们得给阳极通水冷却。记得原来有一台60年的菲利普衍射仪。因为年纪有点大了,老是缺牙少胳膊的。但人家就是还能用。水压报警坏了,干脆拆掉,装个门铃来报警。但是,门铃只能报告是不是停水了,不能自动关高压。所以得有个人守着。有一天,一个研究生做实验时要如厕了。如厕回来的路上正好碰到个人说上了两句。回到实验室时,发现光管不亮了。因为正好这会停了一下水。如果阳极固定不动,电子老射到阳极的同一个地方,冷却水的冷却效果不是很理想。反之,如果阳极转动,电子则在不同的时候射到阳极的位置是不同的。有一个冷却时间来接受下一次电子轰击。因此,就有了固定靶和转动靶两种光管。转动靶的光管功率因此可以提高很多。目前,固定靶的功率大约是2KW,而转动靶的功率一般是18KW。因为转动靶不能在出厂时做成真空密封,因此,衍射仪上就多出来一个部件,即真空系统。需要给光管不断地抽真空。真空系统一般由两级真空来维持,即机械泵和分子泵。分子泵的转速可高了。如果突然让它停下来,比如说突然停电,可不好。弄不好会让分子泵的叶片损坏,转不动了。使用高功率光管的好处有很多。一个是因为功率高,光强度大,一般计数都在几万或几十万以上,图谱可好看了。因为线条光滑得多。二是对于微量相的考察会好一些。如果使用较慢的扫描速度,加上高功率光管。衍射强度计数高。微量相会有明显的衍射峰出现。X射线衍射方法并不能证明某个相的不存在。这是因为含量太低时,物相的衍射峰就可能不出现。一般衍射仪要求含量在10%左右或更高。高功率的衍射仪会好一些。比如,对于硅,含量在1%左右是可以看到衍射峰的。三是不用换光管。一般光管只能用个三年,一支进口的光管也是几万人民钞。弄坏了个可心痛了。转动靶的光管只需要揭开盖子,换根灯丝(阴极)就好了。四是数据质量可好了。现在有很多人在做全谱拟合,需要高精度高稳定度高强度的衍射数据。使用高功率的衍射仪完全可以达到要求。如果使用固定靶测量的数据。可靠性可不高。为了获得相同的效果,必须延长收谱时间。可费心了。还有一种更高功率的真空,当然不是光管。是同步辐射装置。功率同X射线管可不是同一数量级的。大得没法比。它可以直接穿透涂层(比薄膜厚多了),可以测量好深好深位置的东西。真是太好了。我们国家现在已经有好几个地方可以申请做实验了。如果选题好,说不定不但不要你的实验费,帮你出车马费,还会请你吃饭呢。除了X射线可以做衍射外,电子衍射大家肯定都知道。TEM不是可以打斑点吗?另外还有中子衍射。方法与X射线衍射差不多。但是,功率不高。不过,人家可以测磁矩呀。我说完了,下面谁来?讲完了,记得给下面的人出题目。下一主题可选:1)样品制备2)光路3)辐射损伤与防护

  • 【讨论】分光光度计入射狭缝的衍射对仪器性能有影响吗?

    【讨论】分光光度计入射狭缝的衍射对仪器性能有影响吗?

    前几天与祥子讨论了比色皿的界面反射与光强损失问题,虽然在搞专业光学仪器人员看来,这可能只是简单的问题,但是对于我们这些“未入流”的人来说,也算是有点深度的基础问题了。讨论过程中感到祥子确实认真,善于查阅/运用资料,很有见地,真是受益良多啊!近两天,与一位搞等离子体物理方面研究的老师讨论问题,顺便到他实验室看看,见到一个演示狭缝衍射的简易装置,大概是上实验课用的。那装置里的狭缝与分光光度计单色器里的狭缝好像也差不多。回来后不由想到,我们使用的分光光度计从来没人提到过衍射问题,这会有什么问题吗?回家想试试,就随手拿张比较薄的名片纸用剪刀剪了个细缝,大约0.3mm宽度(大约相当于一些分光光度计上0.5-1nm狭缝宽度吧),用电熨斗熨平整,作为狭缝。光源要单色光,就用激光笔吧,图像就投射到墙上。一试可试出疑问来了,以下是当场用相机拍下的两个图像。狭缝是垂直放的,距离墙约80cm,因为激光是良好的平行光,因此光源与狭缝距离没什么影响:红色激光笔,波长650nmhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/12/201012012306_263697_1633752_3.jpg绿色激光笔,波长523nmhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/12/201012012309_263698_1633752_3.jpg图中,主光斑两边的衍射斑都非常明显,只是由于自剪的狭缝质量较差,其中有一些纤毛,散射了部分光线,因此上下方都能看到不少散射光。在室内灯光下,可以明显看到的衍射斑总的宽度约有5cm,关了灯看大约有7cm以上。如果将狭缝与投影墙的距离缩小到10cm,看得见的总宽度也有1cm左右。10cm距离,这个长度在分光光度计的狭缝到比色皿算个中等距离吧,有些双样品室的距离约有30cm。一般比色皿架窗口宽度大约8mm。这样问题就来了:1. 投射到比色皿上的光束是不是也有这样衍射斑,或者太暗了看不出1、2、3级衍射?我想应该有衍射。2. 被比色皿架挡住的部分衍射光是不是会增加杂散光?是不是仪器设计者应该尽可能将狭缝、比色皿、检测器距离设置得近些,减少被挡住的衍射光?3. 比色皿架位置的定位是不是变得非常重要了,因为少许定位不准,就可能造成衍射斑被阻挡情况变化,这是不是导致测试偏差大的因素?不知道各位版友,特别是熟悉仪器的版友如何看这个问题。

  • 【讨论】X射线衍射仪的搬迁及实验室布置?

    单位要搬迁,于是设备也要迁移,实验室要重新布置,想一想,对于衍射仪及其实验室来说这真是个问题,不知大伙有没有这方面的经验,在此互相学习一下。 X射线衍射仪的整套设备我觉的可以分成三大部分:1、冷却部分:我使用的是压缩机水冷却,又噪音,而且会产生热,唉,说了几次换分体式(如分体空调一样),可惜没成行。2、衍射仪部分:嘻嘻,大家都知道,会有X光。3、计算机部分:我们主要在此工作。 此外,还要有样品制备处理。 以上,对于一个试验室,应该怎样划分空间,尤其计算机部分和衍射部分的安全距离最好是多少呢? 对于衍射仪搬迁要注意什么,设备要怎样包装?

  • 推荐X射线粉末衍射仪等招标

    X射线粉末衍射仪等招标公告 (权限申请中)1 自动X射线粉末衍射仪 X射线粉末衍射仪主要用于研究物质晶体结构、物相分析、测定点阵参数等。主要技术规格1.高稳定X射线发生器1.1 额定功率:3KW, 最大管电压:60KV, 最大管电流:50mA1.2 稳定度:≤±0.01%(电源电压浮动10%)1.3 管电压和电流升降由计算机自动控制1.4 高压电缆:100KV介电强度,长度2米1.5 保护及报警装置KV过高,KV过低保护 整机过电流保护:20AX射线管功率超限保护 冷却水断水保护整机机柜全部安全防辐射保护,带窗口连锁,在防辐射外罩外射线剂量低于2.5μSv/小时2.X射线管2.1Cu 靶(国产),2.0KW,1×10mm焦点3.测角仪测角仪方式:卧式,水平扫描扫描半径:180mm准确度:±0.01° 狭缝:发散狭缝,接收狭缝,防散射狭缝 滤片:Ni、Fe4.X射线强度测量系统检测器:闪烁计数器 计算机自动控制 线性脉冲放大幅度分析器高压稳压电源5操作控制系统5.1 微型计算机:品牌PC机,17’彩显。5.2 打印机: A4 HP激光打印机5.3 前级控制机,计算机串行接口,RS485通讯6.操作分析系统及应用分析软件(Windows版本)BD2000衍射仪操作系统 BD2000衍射图谱分析系统图谱分析 数据查询6.1 粉末衍射分析应用软件定性物相分析及PDF卡片库(1—89集) 定量物相分析未知衍射图指标化 晶胞参数精密修正6.1.1 多重峰分离(峰形分析)衍射峰Kα2扣除7.冷却水循环系统分体式结构:压缩机壁挂室外 制冷量每小时3200W 1 台 2 光斑分析仪 1. M2因子测量系统光谱范围:250-2400nm • 分析激光束的传输特性,预测激光束的聚焦能力• 可测量脉冲或连续激光• 高精确度、高稳定性、全自动快速测量• 可直观地目视检测不同位置光束外形变化• 直接得到M2因子、光束发散角、束腰半径和位置、光斑分布、对称性等参数• M2-200-ACC-BB2. LBA-710PC-D 光束分析系统• 含图像采集板卡和测试分析软件,齐全的软件功能和强大的数据处理能力• 可测量连续和脉冲激光• 二维/三维显示光束横模(光束轮廓和能量分布)• 峰值功率及峰值位置 光斑大小及光斑椭圆度• 光束发射稳定性和均匀性 与高斯光束匹配情况分析• 光束发散角测量• LBA-710PC-D 附件:1)数字硅CCD-6612摄像仪及数据线光谱范围:190-1100nm 像素数:650×494 像素大小:9.9×9.9μm2)光束采样/分析系统 10位数字采集卡及光束质量分析测试软件3)光采集与可调光束衰减器 石英分束衰减器及不同衰减程度的中性密度滤波片组 工作波长:400-2400nm 1 台 3 单光子计数实验系统 主要技术指标 光谱采集范围: 360-650 nm积分时间:0-30 min(1ms/档,可调) 最大计数:≥107域值电压:0-2.56 V(10mV/档,可调)暗 计 数:≤30CPS/S (探测器CR125 -20℃) 2 套顺祝 商棋刘飞------------------------------------------------------------北京智诚风信网络科技有限公司地址:北京海淀区五道口华清商务会馆1606室邮编:100084电话:86-010-82863476-25 13521383769传真:86-010-82863479Email: liufei@bidchance.com网址: http://www.bidchance.com

  • 张振义-新一代单晶衍射仪解决方案:空前提高您的工作效率 网络会议_仪器信息网

    主题讲座:新一代单晶衍射仪解决方案:空前提高您的工作效率主讲老师:张振义(张振义博士,Bruker AXS SCD单晶应用科学家,负责中国区的小分子晶体学和蛋白质晶体学的技术支持工作。在晶体学领域具有10年的研究经历,涵盖蛋白质晶体学,蛋白质和药物小分子复合物以及小分子晶体结构的研究。)讲座内容:本次讲座将为您带来最新单晶衍射技术的精彩介绍,让您的工作变得更加得心应手,效率更高。  布鲁克公司一直致力于在光源和探测技术上革命性的创新,在材料研究、晶体结构研究等领域给用户提供了一系列解决方案,引领者单晶衍射仪的潮流。最新推出新一代PHOTON II探测器,自动化程度更高,易学易用,在提升用户工作效率方面有着惊人的进步。该探测器使用了最前沿的用于四代同步辐射光源的CPAD(电荷积分像素阵列)技术,将实验室探测器的技术提升到了一个新的高度:最大的单片有效区域,最高的动态范围,单光子的检测效率。同时布鲁克公司推出新一代,光强度媲美转靶的微焦斑光源:I?S 3.0。这些新技术的应用将为您的晶体学的实验带来质的飞跃。  真诚期待与您相会。涉及领域:生物化学、仪器仪表、材料分析等报名链接(免费):http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/1798

  • 【原创】张振义-新一代单晶衍射仪解决方案:空前提高您的工作效率 网络会议_仪器信息网

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  • 【分享】X射线衍射分析的实验方法及其应用

    【分享】X射线衍射分析的实验方法及其应用

    自1896年X射线被发现以来,可利用X射线分辨的物质系统越来越复杂。从简单物质系统到复杂的生物大分子,X射线已经为我们提供了很多关于物质静态结构的信息。此外,在 各种测量方法中,X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。由于晶体存在的普遍性和晶体的特殊性能及其在计算机、航空航天、能源、生物工程等工业领域的广泛应用,人们对晶体的研究日益深入,使得X射线衍射分析成为研究晶体最方便、最重要的手段。本文主要介绍X射线衍射的原理和应用。[B]1、 X射线衍射原理[/B]  1912年劳埃等人根据理论预见,并用实验证实了X射线与晶体相遇时能发生衍射现象,证明了X射线具有电磁波的性质,成为X射线衍射学的第一个里程碑。当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理 。衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示:[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/11/200811191408_119327_1703280_3.jpg[/img]

  • 【求助】衍射仪的水循环系统不制冷了?

    德国布鲁克公司的D8衍射仪,衍射仪工作时附带的水冷系统超过25度时应该自动制冷的,但是现在温度超过时仍然不制冷,以致仪器不能正常工作,那位知道到底是哪里出了问题?或者碰到过类似的情况,如何解决?谢谢!

  • xrd能自动标出每个衍射峰对应的物质成分吗?

    xrd能自动标出每个衍射峰对应的物质成分吗?,因为在可信度小于10中,有好几种物质。虽然通过ID峰,可以知道每个角对应的物质。可是,如何在图中标出来呢?我一点击d按钮,则所有的物质都一起标在峰上了(好几种),如何只出现峰对应的唯一一种物质呢?[em04] [em09]

  • 【原创】CCD相机能拍摄衍射花样吗?

    本文讨论的CCD相机限于经验仅指Gatan 794,DIFPACK是衍射校正等用途的软件插件。一般来说,CCD相机的感光材料很脆弱,强光束容易造成CCD相机的象素点的损伤,但是如果用底片拍摄衍射点会有一些限制:比如如果衍射点非常弱,或者样品不稳定,如果记录到底片上,曝光时间必然要11-16s才行,这样就会造成底片质量上的弱势。那么CCD相机的抓拍功能能不能用来拍摄衍射花样呢?个人认为,CCD相机的设计中已经考虑到衍射花样的拍摄。如果用过CCD相机的用户就会知道一般的软件里面都有一个防止光漫溢的选项,这个选项就是为了拍摄强光下的图像或者衍射花样特殊设计的。我也咨询过一些工程师,他们说其实CCD相机不像原来厂商宣传的那么脆弱,只是怕有些用户不小心用了特别强的光来照射损伤元件。他们建议把衍射光斑调节到很弱,然后增加曝光时间,一般选2-3s,那么就可以拍摄衍射花样。注意,这里说的是不用beam stopper的那种,如果用beam stopper的话,我想光强还能增加一些。还有一个,对于样品的选择也有讲究,如果样品足够大,选区光阑的范围最好不要露出非样品区域(一般是空白或者是无定型碳膜),那么就会让中间的透射斑点变的稍微弱些,拍摄的花样会好些。当然考虑到厚度对衍射的影响,这个区域不宜太厚。至于测量d值,完全可以通过标准物质的衍射花样来校正。如果你同时买了DIFPACK,那么这个就很容易做到。 个人的一些见解,欢迎指正。[em01] [em01]

  • 【资料】X-射线衍射法进行物相分析实验

    学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理;掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤;给定实验样品,设计实验方案,做出正确分析鉴定结果。学习和掌握用X射线衍射谱计算多晶体的晶格常数

  • 激光粒度分析中的二次衍射

    激光粒度分析中的二次衍射

    激光粒度分析中的二次衍射任中京(山东建材学院,济南,250022) 摘要本文计论了双层颗粒群产生的二次衍射,并给出了二次衍射复场分布的表达式,同时讨论了二次衍射与颗粒浓度之间的关系,找到了抑制二次衍射的最佳浓度。本文结论对于提高激光粒度仪的测量准确度具有重要意义。关键词激光:粒度分析;二次衍射引言各种激光粒度分析仅均是通过检测颗粒群的衍射谱来分析颗粒大小及其分布的。为获得正确的衍射谱。需要颗粒群散布在同一平面上。而事实上,颗粒群在检测区内很难呈二维分布。对于动态颗粒群更是如此。只要颗粒群不满足二维分布的要求,那么经颗粒衍射的光,就有可能再次发生衍射.我们把此种衍射称为二次衍射。在激光粒度分析中,二次衍射是测量误差的主要来源。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441910_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441911_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441912_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441913_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441914_388_3.jpg我们注意到衍射谱归一化总能量恰好等于入射光强度I0,这是物空间与频谱空间能量守恒的结果。 (18)式定量地给出了衍射谱中各种成分之间的比例关系,为我们研究抑制二次衍射的途径提供了依据。3 抑制二次衍射的最佳浓度从(18)式可见,在衍射谱中有三种成分同时共存,它们对粒度分析的作用各不相同:透射项对粒度分析没有贡献,应尽量减少;一次衍射谱是粒度分析的依据,要尽可能增强;二次衍射谱的作为一种宽带噪声叠加在之上,应尽力抑制。此三者在谱面上的分布如图 4所示。为了找到一个抑制二次衍射的最佳比例,我们把各项强度随 K值变化的规律及典型值列于表2,取I0=I,并绘出曲线。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281101_441915_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281101_441916_388_3.jpg4 结论综上所述,二次衍射谱是一次衍射谱的卷积,是叠加在一次衍射谱上的宽带噪声。二次衍射强度正等于颗粒在光轴方向重叠的几率。理论分析表明:当颗粒在分散介质中的体积浓度C0=0.17时,二次衍射可以得到有效地抑。本文讨论仅限于二次衍射,对于三维分布题粒产生的高次衍射,有待进一步研究。参考文献l J.W.顾德门.付立叶光学导论。北京:科学出版社,19792 REN,Z.J.eta1.PARTICUOIAJGY,1988

  • 一组衍射值的分析

    我得到一组电子衍射算出的d值,急于分析结果。日以继夜闭关忙忽了好几天,下载试验了n种软件,还是没能找出结构,别无它法,只能在这里求高人赐教,如有回复,万分感谢!样品是极小结晶的硫化镍,SEM测试原子比例大概是: Ni:S=1.1:1,但很不精确.这些d值是好几张相似多晶衍射图的平均值。我贴了其中一张衍射图在下面。如有高人帮忙,万分感谢!2.243强1.972很强1.8483很强1.5433弱1.3709宽线1.1654弱1.05强0.9673很弱0.8568很弱

  • 【求助】X射线衍射仪检测问题?

    用于理学大功率X射线衍射仪冷却水装置的净水阴阳离子树脂, 型号是什么呀。是不是只要是阴阳离子树脂就可以?水冷机是众合BLK-25FF型水冷机组

  • 纳米分辨率高精度激光衍射法在碳纤维细丝直径测量中的应用

    纳米分辨率高精度激光衍射法在碳纤维细丝直径测量中的应用

    [align=left][b][color=#339999]摘要:碳纤维单丝热膨胀系数是碳纤维复合材料设计、生产与可靠性和寿命评估的重要参数,本文针对单丝径向高温热膨胀系数测试这一难题提出了相应的解决方案。解决方案的核心内容是基于激光衍射法和高温辐射加热,并采用衍射轮廓拟合技术以及相应的校准、真空温度控制等技术,可实现几个纳米的测量分辨率。此解决方案不仅可以测量各种粗细单丝的直径及其热膨胀,还可以拓展应用于细丝的直径分布、截面形状和径向热膨胀测量。[/color][/b][/align][align=center][size=16px] [img=碳纤维单丝径向高温热膨胀系数激光衍射法测试解决方案,600,360]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/05/202305300838571272_2512_3221506_3.jpg!w690x414.jpg[/img]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/size][/align][size=18px][color=#339999][b]1. 项目背景[/b][/color][/size][size=16px] 随着碳纤维增强复合材料应用的扩大,其设计也变得越来越精密。温度变化引起的热应力是复合材料设计中需要考虑的重要因素之一,而碳纤维的热膨胀系数是控制热应力的基本物理性能值。另外,碳纤维的热膨胀系数不仅是复合材料设计中的重要参数,也是预测制造工艺、可靠性和寿命的重要参数。[/size][size=16px] 由于碳纤维一般具有很强的方向性,其热膨胀系数主要包括轴向和径向热膨胀系数。本文将针对1~10微米直径的碳纤维单丝,提出径向热膨胀系数测试方法,特别是提出高温下径向热膨胀系数测试的解决方案。[/size][size=18px][color=#339999][b]2. 激光衍射法测量原理[/b][/color][/size][size=16px] 在假设碳纤维单丝是直径均匀、截面积形状为圆形细丝的前提下,按照热膨胀系数的定义,碳纤维单丝高温热膨胀系数的测试可以归结为不同温度下单丝直径的测量问题,具体测试涉及到单丝温度和单丝直径的精确测量。[/size][size=16px] 对于微小细丝直径的测量,只能选择非接触光学测量方法。可选择的测试方法主要有显微镜观测法、光学投影法和激光衍射法,但由于碳纤维测试需要涉及到高温和真空环境,显微镜直接观察方法很难实现较高温度,而投影法则是无法达到纳米量级的测量精度,因此本项目将选择激光衍射法,以实现纳米精度的单丝直径测量。[/size][size=16px] 激光衍射测量原理如图1所示。单色激光垂直照射被测细丝后在焦平面上形成衍射图形,通过对图形参数等的测量,可准确测得细丝直径。[/size][align=center][size=16px][img=01.激光衍射线径测量原理图,550,329]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/05/202305300841272151_4630_3221506_3.jpg!w690x413.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图1 激光衍射法细丝直径测量原理图[/b][/color][/size][/align][size=18px][color=#339999][b]3. 细丝径向热膨胀测量装置[/b][/color][/size][size=16px] 基于激光衍射法的细丝径向高温热膨胀系数测量装置结构如图2所示。整个测量装置包括水冷真空系统、样品装置、温控加热装置和激光衍射测量装置四部分。[/size][align=center][size=16px][img=02.单丝碳纤维高温径向热膨胀系数激光衍射法测量装置结构示意图,500,452]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/05/202305300841487917_7673_3221506_3.jpg!w690x625.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图2 单丝碳纤维高温径向热膨胀系数激光衍射法测量装置结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px][color=#339999][b](1)水冷真空系统[/b][/color][/size][size=16px] 真空系统由水冷真空腔体内、真空泵和真空度控制系统构成。在整个高温测试过程中,需要对真空腔体抽真空,以便在整个高温测试过程中形成真空环境避免碳纤维细丝样品的氧化或烧断。真空腔体壁内通循环冷却水以对内部高温形成热防护。同时还需对循环冷却水温度和腔体内部真空度进行精密恒定控制,使得腔体温度和内部真空度所引起的腔体变形和光学窗口倾斜始终保持恒定和可重复。[/size][size=16px][color=#339999][b](2)样品装置[/b][/color][/size][size=16px] 采用悬空水平方式固定被测细丝碳纤维样品,细丝样品一端采用螺接压紧方式固定,另一端经过滑动装置采用砝码拉近,通过砝码重量提供的微小张力始终使细丝样品处于水平拉直状态。对于不同强度和粗细的碳纤维细丝,可通过更换砝码来提供不同的拉紧张力。[/size][size=16px][color=#339999][b](3)温控加热装置[/b][/color][/size][size=16px] 采用细管加热炉对整个样品进行辐射加热,测试过程中的温度变化按照步进台阶式形式变化,在每个设定点温度恒定后再进行激光衍射测量。这种加热方式的优点是用加热炉内的温度代替被测样品温度,由此可避免对细丝样品温度进行直接测量的困难性。[/size][size=16px][color=#339999][b](4)激光衍射测量装置[/b][/color][/size][size=16px] 激光衍射测量装置主要由激光源、衍射图像传感器和计算机图像分析系统组成。激光源和图像传感器分别水平布置在真空腔体的两侧,激光束垂直照射在被测细丝上,所形成的衍射图像由传感器接收。[/size][size=18px][color=#339999][b]4. 衍射轮廓的高精度测量[/b][/color][/size][size=16px] 细丝直径测量中采用激光衍射装置和图像传感器获得的衍射轮廓如图3所示。纤维直径根据测量衍射轮廓的第一个暗条纹之间距离,并由衍射公式计算获得。但如果直接采用图像传感器的固有位置分辨率,则只能获得10nm左右的直径测量分辨率,这显然无法获得足够高的直径变化检测精度。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=03.图像传感器衍射轮廓示意图,550,402]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/05/202305300842072248_1383_3221506_3.jpg!w690x505.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图3 图像传感器衍射轮廓示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 为进一步提高细丝直径测量的分辨率,本文提出了以下几方面具体措施:[/size][size=16px] (1)对图3所示的衍射轮廓进行细分,具体细分技术是对衍射轮廓曲线进行参数拟合,拟合中需考虑衍射光以及背景光强度,如光学元件和窗口的散射光以及样品在高温下发出的光。[/size][size=16px] (2)采用已知直径的细丝对成像物镜的焦距进行高精度标定,减小系统误差。[/size][size=16px] (3)在CCD 前增加滤光片,在成像物镜前增加一平行于衍射方向的长条状光阑。[/size][size=16px] 通过上述措施,可将激光衍射法细丝直径测量的分辨率提高到几个纳米范围内。[/size][size=18px][color=#339999][b]5. 总结[/b][/color][/size][size=16px] 本文所述解决方案,除了可以实现1~10微米量级粗细的碳纤维单丝直径和热膨胀系数测试之外,还具备以下几方面的测试能力:[/size][size=16px] (1)本文所述解决方案在设计的同时,还同时考虑了碳纤维轴向方向上热膨胀系数测试功能的实现,即采用激光干涉法测试细丝样品在轴向方向上收缩和膨胀过程中的位移变化。在真空腔体形状和空间尺寸上都考虑了激光干涉法位移测量装置的布置,采用相同的加热和测温装置也可提供碳纤维细丝轴向热膨胀所需的温度变化和测量。[/size][size=16px] (2)由于具有几个纳米的超高分辨率,通过增加扫描装置,此解决方案可以用于碳纤维单丝外径分布和外径形状的测量。[/size][size=16px] (3)为各种粗细的线状材料外径测量提供了一种高精度的激光衍射测量方法,非接触光学测试方法和高温加热能力,也可推广应用到低温范围内的测试应用。[/size][align=center][color=#339999][b][/b][/color][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]~~~~~~~~~~~~~~~~~[/b][/color][/size][/align]

  • 衍射花样的标定问题

    本人第一次做透射.对一未知晶体结构及物相进行选区电子衍射,做实验的老师帮我调出了三张衍射花样和一张明场像图.我看了一下教科书,书上是这么写的:对于未知晶体结构衍射花样的标定,首先测定低指斑点的R值,应在几个不同的方位摄取电子衍射花样,保证能测出最前面的8个R值.然后根据R值计算出各个d值.最后根据d值查ASTM卡片.请问:第一步中的低指数斑点,在衍射花样中是如何确定哪些R值是低指数呀?另问:如果所测的相是新相,在ASTM卡中没有,则又如何根据这三张衍射花样确定这个相的晶系呀?谢谢各位高手

  • 【求助】求理学X射线衍射仪净水阴阳离子树脂型号

    用于理学大功率X射线衍射仪冷却水装置的净水阴阳离子树脂, 型号是什么呀。是不是只要是阴阳离子树脂就可以?水冷机是众合BLK-25FF型水冷机组[color=#fe2419]===========版主模式==========以后标题请跟内容吻合, 给你改过来了[/color]

  • 【资料】x射线衍射中单晶衍射与多晶衍射的区别!

    [size=4][font=楷体_GB2312]X射线衍射法因晶体的是单晶还是多晶分为x射线单晶衍射法和X射线多晶衍射法。  [b]单晶X射线衍射分析的基本方法[/b]为劳埃法、周转晶体法和四圆单晶衍射仪法。书上还会有别的方法,因不太常用在此不再啰述。现在最常用的是四圆单晶衍射仪测单晶。  [b]劳埃法[/b]改变波长、以光源发出连续X射线照射置于样品台上静止的单晶体样品,用平板底片记录产生的衍射线。根据底片位置的不同,劳埃法可以分为透射劳埃法和背射劳埃法。背射劳埃法不受样品厚度和吸收的限制,是常用的方法。劳埃法的衍射花样由若干劳埃斑组成,每一个劳埃斑相应于晶面的1~n级反射,各劳埃斑的分布构成一条晶带曲线。  [b]周转晶体法[/b]:周转晶体法以单色X射线照射转动的单晶样品,用以样品转动轴为轴线的圆柱形底片记录产生的衍射线,在底片上形成分立的衍射斑。这样的衍射花样容易准确测定晶体的衍射方向和衍射强度,适用于未知晶体的结构分析。周转晶体法很容易分析对称性较低的晶体(如正交、单斜、三斜等晶系晶体)。  [b]四圆单晶衍射仪法[/b]是转动晶体。以四个圆的转动变量φ、χ、ω和2θ进行晶体和计数器的转动,以实现倒格点与埃瓦尔德(Ewald)衍射球球面相遇产生衍射的必要条件。φ圆对应于安置晶体的测角头的自转转动,χ圆对应于测角头在其所坐落的仪器金属χ环内侧圆上的转动,ω圆对应于金属χ环绕中垂线(Z轴)进行的转动,2θ圆则对应于为保持衍射方向相对于入射X射线为2θ的角度所需进行计数器的转动。是常用的测量单晶衍射的方法[/font][/size]

  • 【分享】X射线衍射仪

    [url=http://baike.baidu.com/image/8b527d278fe8dd10918f9de9][img]http://imgsrc.baidu.com/baike/abpic/item/8b527d278fe8dd10918f9de9.jpg[/img][/url]X射线衍射仪是利用[url=/view/59839.htm]衍射[/url]原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域.  X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业。  基本构造 X射线衍射仪的形式多种多样, 用途各异, 但其基本构成很相似, 图4为X射线衍射仪的基本构造原理图, 主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。  (3) 射线检测器 检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。  (4) 衍射图的处理分析系统 现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。

  • 衍射花样标定d值与PDF卡片的对应关系?

    第一次做透射电镜,做衍射花样标定的时候遇到麻烦了,也看了论坛的一些贴子,但还是想明确一下。我是用老师给的一个小软件,先假设是某一物相,确定晶格常数,然后测量一个平行四边形中三个斑点的晶面间距及夹角,软件会自动找出该物相在一定的晶面间距和夹角误差范围内的所有晶面,然后我去与PDF卡片对应,问题就是PDF卡片中的d值是不全的,会有对应不上的晶面,没有的d值应是消光的晶面吧,论坛的帖子里说衍射斑点可能出现PDF卡片里消光的晶面,既然不是一一对应的那该怎么确定是否存在这种物相呢?

  • 【求助】还是衍射环的问题

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  • 【求助】怎样判断衍射花样和模拟的衍射花样是一致的?

    [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2007/02/200702261345_42699_1721900_3.gif[/img]如图,假设模拟的衍射花样是这样.那么真实的衍射花样是什么样?其中比较暗的部分是不是看不到? 还是说很难分辨亮度的差别?另外,如何在众多衍射中找到和模拟衍射花样一致的那个晶带轴.请大家给点经验之谈.多谢/[em61] [em61] [em61]

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