数字式电阻电容测试仪

数字式绝缘电阻测试仪 温度影响温度对不同物质的电阻值均有不同的影晌。导电体 在接近室温的温度，良导体的电阻值，通常与温度成线性关系：ρ=ρ0(1+αt)上式中的 a 称为电阻的温度系数。未经掺杂的半导体的电阻随温度升高而下降：有掺杂的半导体变化较为复杂。当温度从零度上升，半导体的电阻先是减少，到了绝大部分的带电粒子 （电子或电洞/空穴） 离开了它们的载体后，电阻会因带电粒子的活动力下降而随温度稍为上升。当温度升得更高，半导体会产生新的载体 （和未经掺杂的半导体一样） ，原有的载体 （因渗杂而产生者） 重要性下降，于是电阻会再度下降。绝缘体和电解质 绝缘体和电解质的电阻与温度的关系一般不成比例，而且不同物质有不同的变化，故不在此列出概括性的算式概述 本仪器既可测量超高电阻，又可测极微弱电流。具有精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便, 适用于防静电产品 如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外，还能直接测量电流如电子器件暗电流等。 符合标准：GB/T 1410-2006 固体绝缘材料 体积电阻率和表面电阻率试验方法GB 12014 防静电工作服GB/T 20991-2007 个体防护装备 鞋的测试方法GB 4385-1995 防静电鞋、导电鞋技术要求GB 12158-2006 防止静电事故通用导则GB 4655-2003 橡胶工业静电安全规程GB/T 12703.4-2010 纺织品 静电性能的评定 第4部分 电阻率GB/T 12703.6-2010 纺织品 静电性能的评定 第6部分 纤维泄漏电阻GB 13348-2009 液体石油产品静电安全规程GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法GB/T 18044-2008 地毯 静电习性评价法 行走试验GB/T 18864-2002 硫化橡胶 工业用抗静电和导电产品 电阻极限范围GB/T 22042-2008 服装 防静电性能 表面电阻率试验方法GB/T 22043-2008 服装 防静电性能 通过材料的电阻（垂直电阻）试验方法GB/T 24249-2009 防静电洁净织物GB 26539-2011 防静电陶瓷砖 Antistatic ceramic tilesGB/T 26825-2011 抗静电防腐胶GB 50515-2010 导（防）静电地面设计规范GB 50611-2010 电子工程防静电设计规范GJB 105-1998-Z 电子产品防静电放电控制手册GJB 3007A-2009 防静电工作区技术要求GJB 5104-2004 无线电引信风帽用防静电涂料及风帽静电性能通用要求标准配置：1,测试仪器：1台2,电源线：1条3,测量线：3根（屏蔽线,测试接线,接地线）4,使用说明书：1份5，电极：1套参数：01电阻测量范围1×104Ω ～1×1018 Ω 02电流测量范围2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ 03显 示 方 式数字液晶显示 04 测试电压（V） DC—10VDC—50VDC—100VDC—500VDC—1000V（任意切换） 05基本准确度1% (*注) 06使用环境温度：0℃～40℃，相对湿度80% 07供电形式AC 220V，50HZ，功耗约5W 08仪器尺寸285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm 09仪器质量约5KG注意事项仪器使用前请仔细阅读以下内容，否则将造成仪器损坏或电击情况。1.检查仪器后面板电压量程是否置于10V档，电流电阻量程是否置于104档。2.接通电源调零，（注意此时主机不得与屏蔽箱线路连接）在“Rx”两端开路的情况下，调零使电流表的显示为0000。然后关机。3.将待测试样平铺在不保护电极正中央，然后用保护电极压住样品，再插入被保护电极（不保护电极、保护电极、被保护电极应同轴且确认电极之间无短路）。 4.测体积电阻时测试按钮拨到Rv边，测表面电阻时测试按钮拨到Rs边，5.接好测试线，将测试线将主机与屏蔽箱连接好。量程置于104档，打开主机后面板电源开关按钮。从仪器后面板调电压按钮到所要求的测量电压。(比如：GBT 1692-2008 硫化橡胶 绝缘电阻率的测定 标准中注明要求在500V电压进行测定，那么电压就要升到500V)6.电流电阻量程按钮从低档位逐渐拨档，每拨一次停留1-2秒观察显示数字，当被测电阻大于仪器测量量程时，电阻表显示“1”，此时应继续将仪器拨到量程更高的位置。测量仪器有显示值时应停下，在1min的电化时间后测量电阻，当前的数字乘以档次即是被测电阻。7.测试完毕先将量程拨至（104）档，然后将测量电压拨至10V档， 后将测试按钮拨到中央位置后关闭电源。然后进行下一次测试。8.应在“Rx”两端开路时调零，一般一次调零后在测试过程中不需再调零。9.禁止将“RX”两端短路，以免微电流放大器受大电流冲击。10.不得在测试过程中不要随意改动测量电压。11.测量时从低次档逐渐拨往高次档。12.接通电源后，手指不能触及高压线的金属部分。13.不得测试过程中不能触摸微电流测试端。14.在测量高阻时，应采用屏蔽盒将被测物体屏蔽。15.严禁在试测过程随意改变电压量程及在通电过程中打开主机。16.严禁电流电阻量程未在104档及电压在10V档，更换试样。主要特点 电阻测量范围 1×104Ω ～1×1018 Ω； 电流测量范围 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ； 体积小、重量轻、准确度高； 独特的被测电阻、和流过电阻的电流双显示，使操作测量更加方便； 性能稳定、读数方便； 既能测电阻又能测电流； 测试电压有六种选择DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V； 使用操作简便，在任何电阻量程和测试电压下均直接读显示数字结果，免去要乘以一个系数的麻烦，使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。

电容电阻电感频率表数字万用表绝缘电阻测试仪DT-5505CEM DT-5500/5505数字绝缘电阻测试仪双注塑机壳、高安全性能、高精度测量，使测量更加安全和精准。符合CAT III 1000V，IEC-610-02-031等国际安全标准，同时体积小巧便于携带，可以适用于各种电器设备及绝缘材料的绝缘电阻测量，是对各种电气设备故障检修和设备维护进行保养、试验及检测的工具。电容电阻电感频率表数字万用表绝缘电阻测试仪DT-5505特性双注塑机壳，坚固耐用，提升用户在测量端的安全性能一键式测量，方便快捷LCD背光显示，易于在各类环境下读数高安全性能设计相对清零功能，及时将显示清零后进行直接测量最大、最小值数据记录200mA通断性测量数据保持和锁定功能方便测量时及时查看数据超量程提示自动关机符合CAT III 1000V安全等级低电提示电路自检功能，如大于30V则禁止测试，提升测试人员使用安全电容电阻电感频率表数字万用表绝缘电阻测试仪DT-5505技术指标 电容电阻电感频率表数字万用表绝缘电阻测试仪DT-5505配件表笔，鳄鱼夹表笔，挂带，6节“AA”电池，皮包，彩盒。

可测参数： Ciss/Coss/Crss/Rg MOS管结电容测试可测器件： IGBT，二极管，氮化镓、碳化硅 MOSFET 等 测试频率：1MHz 测试电压范围：Vds 0~1200V，Vgs ±25V信号电压范围：1mV~1000mV Rg 范围：≤300Ω测试精度：0.01pf 华科智源栅极电阻/栅极电容测试仪特点： 1，测试速度快。 2，可点测和扫描曲线。3，测试精度高，测试结果稳定精准。4，可随时保存数据和波形，可直接生成规格书用的图片或 CSV 描点文件。

鼎创电科数字接地电阻测试仪主要特点BY2571 数字接地电阻测试仪适用于电力、邮电、铁路、通信、矿山等部门测量各种装置的接地电阻以及测量低电阻的导体电阻值；本表还可测量土壤电阻率及地电压。 结构上采用高强度铝合金作为机壳，电路上为防止工频、射频干扰采用锁相环同步跟踪检波方式并配以开关电容滤波器，使仪表有较好的抗干扰能力。 采用DC/AC变换技术将直流变为交流的低频恒定电流以便于测量。 允许辅助接地电阻在0～2kΩ（RC），0～40kΩ（RP）之间变化，不至于影响测量结果。本仪表不需人工调节平衡，3(1/2)位LCD显示，除测地电阻外，还可测低电阻导体电阻、土壤电阻率以及交流地电压。如若测试回路不通表头显示“1”代表溢出，符合常规测量习惯。

导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。

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GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，运输工具杆塔组立和架线设备，金属抱杆许用轴压大于100kN（容许吊重大于30kN），金属抱杆许用轴压不大于100kN（容许吊重不大于30kN）大型牵引机280kn，大型张力机180kn（4*4.5kn），中型牵引机80kn中型张力机60kn，绝缘油、气施工设备，真空滤油机净油能力6000L/H真空度小于60pa干燥空气发生器，露点小于-40度，参考流量2m3/min，SF6气体回收装置抽气速率大于等于40m3/h，SF6气体抽真空充气装置抽气速率≥45L/s，真空泵大于等于4000m3/h，线路维修施工设备，双钩15~20kN，卡线器，紧线器10~15kN，起重滑车20~50kN，放线滑车，机动绞磨机50kN，手扶绞磨机50kN，电动绞磨机50kN，放线架60kN，手动液压机240kN，断线器，油压分离式穿孔工具0~120mm，导线压接机1000-1250kN，导线压接机2000kn，导线压接机600kN，液压压接钳160kN，液压压接钳600kN，电缆压接钳200-300mm2，电缆压接钳90-200mm2，电缆压接钳16-90mm2，液压弯排机适用排宽度50-125mm，厚度5-12mm，电焊机≥400A，测量、试验及动力设备，GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，接地电阻测试仪，绝缘电阻测试仪，钳型电流表，发电机3kw8kw12kw，电缆引线器160m，电缆引线器100m，电缆输送机5kn，电缆牵引机3kn有毒、易燃、易爆气体检测仪数字式真空计0-1000pa，线缆轻质切刀，线缆软质切刀，力矩扳手，电缆剥皮工具，介质损耗测试仪，高压发生设备，直流高压发生器DC:300kV/5mA，DC:250kV/5mA，DC:200kV/3mA，DC:120kV/2mA，DC:60kV/2mA，AC：10kVA/100kV，AC：6kVA-10kVA/50kV，AC：5kVA/50kV，变频串联谐振试验成套装置4000kVA/800kV /5A 30~300Hz，2000kVA/400kV /5A 30~300Hz，500kVA/200kV /2.5A 30~300Hz，75kVA/75kV/1A 30~300Hz局部放电成套装置400kw以上，频率大于100hz电源，感应耐压试验装置15kVA/600V 150Hz电气测量仪器高压介质损耗测试仪抗干扰变频，回路电阻测试仪DC:≥100A互感器伏安特性测试仪500V/5A，地网接地电阻测试仪，电容电感测试仪三相同时测量，测量用电流互感器0.2级，变压器直流电阻测试仪DC：≤1A，变压器变比测试仪数字式，变压器有载分接开关特性测试仪I≥1A，变压器综合参数测试仪AC：500V/60A断路器特性测试仪氧化锌避雷器阻性电流测试仪，单相继电保护测试仪两相电流、两相电压，大电流发生器500A/5V，雷击计数器动作测试仪，绝缘电阻测试仪DC：0~5000V 200G（MΩ）短路电流≥3mA。电缆识别仪，油、气试验仪器，色谱仪，闭口闪点仪酸值测定仪，PH测定仪，绝缘油介电强度测试仪，常用仪器仪表，兆欧表DC：5000V，兆欧表DC：2500V，兆欧表DC: 500V，万用表单臂电桥，双臂电桥，数字式双钳相位伏安表,测量电流小于50m，相序表，钳型电流表，直流稳压稳流电源220V/110V/5A，电流互感器二次回路负载测试仪20V/5A，三相调压器15kVA。承办一级、二级、三级、四级、五级电力承装承修承试资质升级。

多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原 FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-4～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原

电阻率测试仪,四探针方阻电阻率测试仪, 适用范围Widely used：1.覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等， 功能描述Description：四探针单电测量方法液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出.选配：PC软件进行数据管理和处理.提供中文或英文两种语言操作界面选择 满足标准：1.硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）.2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》. FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪,四探针测量仪,探针测试仪,导体电阻,体积电阻测试仪,四探针法测电阻,方块电阻测试仪,薄膜或涂层方块电阻测试仪

该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。

R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。.定。欧娇表，能指示阻值高达10°日的漏电阻，温度针0℃-40℃，小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果，甲醇、99.5%，干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45"~150°角的圆罐形破化鸭振针，针实半径分别为35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)电压表输入阻抗会引入测试误差，硅片几何形状，表面粘污等会影响测试结果，R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.，见式(3).试剂优级纯，纯水，25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R，(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃，具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上，试样放置的时间应足够长，到达热平衡时，试样温度为23 ℃±1℃.接通电流，令其任一方向为正向，调节电流大小见表1测量范围电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□电 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)直 径：A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm， 方测试台直接测试方式180mm×180mm， 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 测量方位: 轴向、径向均可覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

霸州市联科电力工具有限公司是生产电力施工工具和电力测试仪器的厂家，代理代办电力1-5级承装承修承试资质升级。欢迎客户前来咨询。GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，运输工具杆塔组立和架线设备，金属抱杆许用轴压大于100kN（容许吊重大于30kN），金属抱杆许用轴压不大于100kN（容许吊重不大于30kN）大型牵引机280kn，大型张力机180kn（4*4.5kn），中型牵引机80kn中型张力机60kn，绝缘油、气施工设备，真空滤油机净油能力6000L/H真空度小于60pa干燥空气发生器，小于-40度，参考流量2m3/min，SF6气体回收装置抽气速率大于等于40m3/h，SF6气体抽真空充气装置抽气速率≥45L/s，真空泵大于等于4000m3/h，线路维修施工设备，双钩15~20kN，卡线器，紧线器10~15kN，起重滑车20~50kN，放线滑车，机动绞磨机50kN，手扶绞磨机50kN，电动绞磨机50kN，放线架60kN，手动液压机240kN，断线器，油压分离式穿孔工具0~120mm，导线压接机1000-1250kN，导线压接机2000kn，导线压接机600kN，液压压接钳160kN，液压压接钳600kN，电缆压接钳200-300mm2，电缆压接钳90-200mm2，电缆压接钳16-90mm2，液压弯排机适用排宽度50-125mm，厚度5-12mm，电焊机≥400A，测量、试验及动力设备，GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，接地电阻测试仪，绝缘电阻测试仪，钳型电流表，发电机3kw8kw12kw，电缆引线器160m，电缆引线器100m，电缆输送机5kn，电缆牵引机3kn有毒、易燃、易爆气体检测仪数字式真空计0-1000pa，线缆轻质切刀，线缆软质切刀，力矩扳手，电缆剥皮工具，介质损耗测试仪，高压发生设备，直流高压发生器DC:300kV/5mA，DC:250kV/5mA，DC:200kV/3mA，DC:120kV/2mA，DC:60kV/2mA，AC：10kVA/100kV，AC：6kVA-10kVA/50kV，AC：5kVA/50kV，变频串联谐振试验成套装置4000kVA/800kV /5A 30~300Hz，2000kVA/400kV /5A 30~300Hz，500kVA/200kV /2.5A 30~300Hz，75kVA/75kV/1A 30~300Hz局部放电成套装置400kw以上，频率大于100hz电源，感应耐压试验装置15kVA/600V 150Hz电气测量仪器高压介质损耗测试仪抗干扰变频，回路电阻测试仪DC:≥100A互感器伏安特性测试仪500V/5A，地网接地电阻测试仪，电容电感测试仪三相同时测量，测量用电流互感器0.2级，变压器直流电阻测试仪DC：≤1A，变压器变比测试仪数字式，变压器有载分接开关特性测试仪I≥1A，变压器综合参数测试仪AC：500V/60A断路器特性测试仪氧化锌避雷器阻性电流测试仪，单相继电保护测试仪两相电流、两相电压，大电流发生器500A/5V，雷击计数器动作测试仪，绝缘电阻测试仪DC：0~5000V 200G（MΩ）短路电流≥3mA。电缆识别仪，油、气试验仪器，色谱仪，闭口闪点仪酸值测定仪，PH测定仪，绝缘油介电强度测试仪，常用仪器仪表，兆欧表DC：5000V，兆欧表DC：2500V，兆欧表DC: 500V，万用表单臂电桥，双臂电桥，数字式双钳相位伏安表,测量电流小于50m，相序表，钳型电流表，直流稳压稳流电源220V/110V/5A，电流互感器二次回路负载测试仪20V/5A，三相调压器15kVA。承办一级、二级、三级、四级、五级电力承装承修承试资质升级。

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GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，运输工具杆塔组立和架线设备，金属抱杆许用轴压大于100kN（容许吊重大于30kN），金属抱杆许用轴压不大于100kN（容许吊重不大于30kN）大型牵引机280kn，大型张力机180kn（4*4.5kn），中型牵引机80kn中型张力机60kn，绝缘油、气施工设备，真空滤油机净油能力6000L/H真空度小于60pa干燥空气发生器，露点小于-40度，参考流量2m3/min，SF6气体回收装置抽气速率大于等于40m3/h，SF6气体抽真空充气装置抽气速率≥45L/s，真空泵大于等于4000m3/h，线路维修施工设备，双钩15~20kN，卡线器，紧线器10~15kN，起重滑车20~50kN，放线滑车，机动绞磨机50kN，手扶绞磨机50kN，电动绞磨机50kN，放线架60kN，手动液压机240kN，断线器，油压分离式穿孔工具0~120mm，导线压接机1000-1250kN，导线压接机2000kn，导线压接机600kN，液压压接钳160kN，液压压接钳600kN，电缆压接钳200-300mm2，电缆压接钳90-200mm2，电缆压接钳16-90mm2，液压弯排机适用排宽度50-125mm，厚度5-12mm，电焊机≥400A，测量、试验及动力设备，GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，接地电阻测试仪，绝缘电阻测试仪，钳型电流表，发电机3kw8kw12kw，电缆引线器160m，电缆引线器100m，电缆输送机5kn，电缆牵引机3kn有毒、易燃、易爆气体检测仪数字式真空计0-1000pa，线缆轻质切刀，线缆软质切刀，力矩扳手，电缆剥皮工具，介质损耗测试仪，高压发生设备，直流高压发生器DC:300kV/5mA，DC:250kV/5mA，DC:200kV/3mA，DC:120kV/2mA，DC:60kV/2mA，AC：10kVA/100kV，AC：6kVA-10kVA/50kV，AC：5kVA/50kV，变频串联谐振试验成套装置4000kVA/800kV /5A 30~300Hz，2000kVA/400kV /5A 30~300Hz，500kVA/200kV /2.5A 30~300Hz，75kVA/75kV/1A 30~300Hz局部放电成套装置400kw以上，频率大于100hz电源，感应耐压试验装置15kVA/600V 150Hz电气测量仪器高压介质损耗测试仪抗干扰变频，回路电阻测试仪DC:≥100A互感器伏安特性测试仪500V/5A，地网接地电阻测试仪，电容电感测试仪三相同时测量，测量用电流互感器0.2级，变压器直流电阻测试仪DC：≤1A，变压器变比测试仪数字式，变压器有载分接开关特性测试仪I≥1A，变压器综合参数测试仪AC：500V/60A断路器特性测试仪氧化锌避雷器阻性电流测试仪，单相继电保护测试仪两相电流、两相电压，大电流发生器500A/5V，雷击计数器动作测试仪，绝缘电阻测试仪DC：0~5000V 200G（MΩ）短路电流≥3mA。电缆识别仪，油、气试验仪器，色谱仪，闭口闪点仪酸值测定仪，PH测定仪，绝缘油介电强度测试仪，常用仪器仪表，兆欧表DC：5000V，兆欧表DC：2500V，兆欧表DC: 500V，万用表单臂电桥，双臂电桥，数字式双钳相位伏安表,测量电流小于50m，相序表，钳型电流表，直流稳压稳流电源220V/110V/5A，电流互感器二次回路负载测试仪20V/5A，三相调压器15kVA。承办一级、二级、三级、四级、五级电力承装承修承试资质升级。

覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… … R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。.定。欧娇表，能指示阻值高达10°日的漏电阻，温度针0℃-40℃，小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果，甲醇、99.5%，干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45"~150°角的圆罐形破化鸭振针，针实半径分别为35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)电压表输入阻抗会引入测试误差，硅片几何形状，表面粘污等会影响测试结果，R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.，见式(3).试剂优级纯，纯水，25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R，(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃，具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上，试样放置的时间应足够长，到达热平衡时，试样温度为23 ℃±1℃.接通电流，令其任一方向为正向，调节电流大小见表1测量范围电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□电 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)直 径：A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm， 方测试台直接测试方式180mm×180mm， 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 测量方位: 轴向、径向均可

瑞柯牌熔炼表面比电阻测试仪，合金类箔膜四探针电阻率测试仪熔炼电阻测试仪 ，金属化标签电导率测试仪FT-371超高阻双电四探针测试仪一、概述：本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率， 可以测试到1010Ω方阻值，是目前同行业中能测量到的 方阻值，选购：本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。二、广泛用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等三、参数资料1.方块电阻范围：101～2×1010Ω/□2.电阻率范围：102～2×1011Ω-cm3.测试电流范围：1mA ---1pA 4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：108Ω以下≤5% ；108Ω以上≤20%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 2.方形探头； 3.直线形探头； 4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；智慧之原

霸州市联科电力工具有限公司是生产电力施工工具和电力测试仪器的厂家，代理代办电力1-5级承装承修承试资质升级。欢迎客户前来咨询。GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，运输工具杆塔组立和架线设备，金属抱杆许用轴压大于100kN（容许吊重大于30kN），金属抱杆许用轴压不大于100kN（容许吊重不大于30kN）大型牵引机280kn，大型张力机180kn（4*4.5kn），中型牵引机80kn中型张力机60kn，绝缘油、气施工设备，真空滤油机净油能力6000L/H真空度小于60pa干燥空气发生器，小于-40度，参考流量2m3/min，SF6气体回收装置抽气速率大于等于40m3/h，SF6气体抽真空充气装置抽气速率≥45L/s，真空泵大于等于4000m3/h，线路维修施工设备，双钩15~20kN，卡线器，紧线器10~15kN，起重滑车20~50kN，放线滑车，机动绞磨机50kN，手扶绞磨机50kN，电动绞磨机50kN，放线架60kN，手动液压机240kN，断线器，油压分离式穿孔工具0~120mm，导线压接机1000-1250kN，导线压接机2000kn，导线压接机600kN，液压压接钳160kN，液压压接钳600kN，电缆压接钳200-300mm2，电缆压接钳90-200mm2，电缆压接钳16-90mm2，液压弯排机适用排宽度50-125mm，厚度5-12mm，电焊机≥400A，测量、试验及动力设备，GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，接地电阻测试仪，绝缘电阻测试仪，钳型电流表，发电机3kw8kw12kw，电缆引线器160m，电缆引线器100m，电缆输送机5kn，电缆牵引机3kn有毒、易燃、易爆气体检测仪数字式真空计0-1000pa，线缆轻质切刀，线缆软质切刀，力矩扳手，电缆剥皮工具，介质损耗测试仪，高压发生设备，直流高压发生器DC:300kV/5mA，DC:250kV/5mA，DC:200kV/3mA，DC:120kV/2mA，DC:60kV/2mA，AC：10kVA/100kV，AC：6kVA-10kVA/50kV，AC：5kVA/50kV，变频串联谐振试验成套装置4000kVA/800kV /5A 30~300Hz，2000kVA/400kV /5A 30~300Hz，500kVA/200kV /2.5A 30~300Hz，75kVA/75kV/1A 30~300Hz局部放电成套装置400kw以上，频率大于100hz电源，感应耐压试验装置15kVA/600V 150Hz电气测量仪器高压介质损耗测试仪抗干扰变频，回路电阻测试仪DC:≥100A互感器伏安特性测试仪500V/5A，地网接地电阻测试仪，电容电感测试仪三相同时测量，测量用电流互感器0.2级，变压器直流电阻测试仪DC：≤1A，变压器变比测试仪数字式，变压器有载分接开关特性测试仪I≥1A，变压器综合参数测试仪AC：500V/60A断路器特性测试仪氧化锌避雷器阻性电流测试仪，单相继电保护测试仪两相电流、两相电压，大电流发生器500A/5V，雷击计数器动作测试仪，绝缘电阻测试仪DC：0~5000V 200G（MΩ）短路电流≥3mA。电缆识别仪，油、气试验仪器，色谱仪，闭口闪点仪酸值测定仪，PH测定仪，绝缘油介电强度测试仪，常用仪器仪表，兆欧表DC：5000V，兆欧表DC：2500V，兆欧表DC: 500V，万用表单臂电桥，双臂电桥，数字式双钳相位伏安表,测量电流小于50m，相序表，钳型电流表，直流稳压稳流电源220V/110V/5A，电流互感器二次回路负载测试仪20V/5A，三相调压器15kVA。承办一级、二级、三级、四级、五级电力承装承修承试资质升级。

1:便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由宽的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。对1～100&Omega &bull cm标准样片的测量瓿差不过± 3%，在此范围内达到家标准机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9&Omega &bull cm。可测方块电阻：0.1～1999&Omega /口当被测材料电阻率&ge 200&Omega &bull cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA 连续可调10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流度：各档均优于± 0.1%适合测量各种厚度的硅片（3） 直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100&mu v准确度：0.2%（± 2个字）（4） 供电电源：AC：220V ± 10% 50/60HZ 率8W（5） 使用环境：相对湿度&le 80%（6） 重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210× 100× 深240（mm）（7）KD探针头压痕直径：30/50&mu m间距：1.00mm探针合力：8± 1N针材：TC2:· 数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-100C为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照家标准GB/T1553&ldquo 硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法&rdquo 。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。 KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：1、 可测量太阳能多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管硅单晶的少子寿命。2、 可测量太阳能单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。4、配置两种波长的红外光源：a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深&ge 500&mu m，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅&asymp 30&mu m，但光强较强，有利于测量低阻太阳能硅晶体。5、测量范围宽广测试仪可直接测量：a、研磨或切割面：电阻率&ge 0.3&Omega &bull ㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。b、抛光面：电阻率在0.3～0.01&Omega &bull ㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。寿命可测范围 0.25&mu S&mdash 10ms 温馨提示：以上产品资料与图片相对应。

ST2258C型多功能数字式电阻率、薄膜方阻测试仪简介一、结构特征 二、概述 2.1基本功能和依据标准：ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.2仪器成套组成：由ST2258C四探针主机、选配的四探针探头、选配四探针测试台等部分组成。2.3优势特征：1：本测试仪特赠设测试结果自动分类功能，可分类10类。2：可定制USB通讯接口，便于其拓展为集成化测试系统中的测试模块。3：8档位超宽量程。 同行一般为五到六档位。4:仪器小型化、手动/自动一体化。5:仪器操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便而且免除模拟定位器的不稳定。2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》1配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜， 如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。3配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。。2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表》四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）或SZT-F型（太阳能电池片）测试台。二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。 2.6适用范围：仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试三、基本技术参数 1.测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级）电 阻：10.0×10-6～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103 Ω（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6～ 0.01×103Ω）电 阻 率：10.0×10-6～ 200.0×103Ω-cm 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103 Ω-cm（1.0×10-6～ 20.00×103Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103Ω-cm）方块电阻：50.0×10-6～ 900.0×103Ω/□ 分辨率5.0×10-6～ 0.5×103 Ω/□（5.0×10-6～ 100.0×103Ω/□ 分辨率0.5×10-6～ 0.1×103 Ω/□）2.材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)直 径： SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限长(高)度： 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.测量方位: 轴向、径向均可3.3量程划分及误差等级满度显示200.020.002.000200.020.002.000200.020.00测试电流0.1μA1.0μA10μA100μA1.0mA10mA100mA1.0A常规量程kΩ-cm/□kΩ-cm/□Ω-cm/□mΩ-cm/□基本误差±2%FSB±4LSB±1.5%FSB±4LSB±0.5%FSB±2LSB±1.0%FSB±4LSB3.4四探针探头（选配其一或加配全部）(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调3.5.电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：3.6.外形尺寸、重量：主 机： 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）， 净 重：≤2.5kg

绝缘电阻测试仪，通常被称为兆欧表或高阻计，广泛用于测量发电机、马达、电源变压器、配线、电器和其它电气装置（如控制、信号、通信和电源的电缆）的绝缘电阻。它们往往被用于例行维护程序中来指示电机在数月或数年内绝缘电阻的变化。绝缘电阻发生大的变化，就可能预示着潜在的故障。所以，就需要对兆欧表进行定期校准，以确保仪表本身没有随时间发生变化。类型：数字式电阻测量仪表 测量范围：5689（MΩ）电　源：6 9测试电压：6 754（V）精度：67重复误差：09环境温度：436相对湿度：758校准周期：98765重量：3（kg）品牌：数字兆欧表,绝缘电阻测试仪AR-907A+型号：数字兆欧表,绝缘电阻测试仪AR-907A+输出电压100V/250V/500V/1000V/2500V测量范围100V:0.0~199.9MΩ250V:0.0~499.9MΩ500V:0.0~999.9MΩ1000V:0.0~19.9GΩ2500V:0.0~49.9GΩ精准度±5%rdg±5dgtAC/DC电压测试30~600V分辨率1.0V过载保护AC 1200V/10秒耐电压AC 8320V/5秒绝缘阻抗1000MΩ短路电流1.3mALCD背光有工作环境0~50℃存储温度-20~70℃电源AA*6 电池 产品净重330g 产品尺寸173*101*55mm 标准外箱容量12PCS 标准外箱尺寸46.5*38*22cm 标准外箱毛重11KG

GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，运输工具杆塔组立和架线设备，金属抱杆许用轴压大于100kN（容许吊重大于30kN），金属抱杆许用轴压不大于100kN（容许吊重不大于30kN）大型牵引机280kn，大型张力机180kn（4*4.5kn），中型牵引机80kn中型张力机60kn，绝缘油、气施工设备，真空滤油机净油能力6000L/H真空度小于60pa干燥空气发生器，露点小于-40度，参考流量2m3/min，SF6气体回收装置抽气速率大于等于40m3/h，SF6气体抽真空充气装置抽气速率≥45L/s，真空泵大于等于4000m3/h，线路维修施工设备，双钩15~20kN，卡线器，紧线器10~15kN，起重滑车20~50kN，放线滑车，机动绞磨机50kN，手扶绞磨机50kN，电动绞磨机50kN，放线架60kN，手动液压机240kN，断线器，油压分离式穿孔工具0~120mm，导线压接机1000-1250kN，导线压接机2000kn，导线压接机600kN，液压压接钳160kN，液压压接钳600kN，电缆压接钳200-300mm2，电缆压接钳90-200mm2，电缆压接钳16-90mm2，液压弯排机适用排宽度50-125mm，厚度5-12mm，电焊机≥400A，测量、试验及动力设备，GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，接地电阻测试仪，绝缘电阻测试仪，钳型电流表，发电机3kw8kw12kw，电缆引线器160m，电缆引线器100m，电缆输送机5kn，电缆牵引机3kn有毒、易燃、易爆气体检测仪数字式真空计0-1000pa，线缆轻质切刀，线缆软质切刀，力矩扳手，电缆剥皮工具，介质损耗测试仪，高压发生设备，直流高压发生器DC:300kV/5mA，DC:250kV/5mA，DC:200kV/3mA，DC:120kV/2mA，DC:60kV/2mA，AC：10kVA/100kV，AC：6kVA-10kVA/50kV，AC：5kVA/50kV，变频串联谐振试验成套装置4000kVA/800kV /5A 30~300Hz，2000kVA/400kV /5A 30~300Hz，500kVA/200kV /2.5A 30~300Hz，75kVA/75kV/1A 30~300Hz局部放电成套装置400kw以上，频率大于100hz电源，感应耐压试验装置15kVA/600V 150Hz电气测量仪器高压介质损耗测试仪抗干扰变频，回路电阻测试仪DC:≥100A互感器伏安特性测试仪500V/5A，地网接地电阻测试仪，电容电感测试仪三相同时测量，测量用电流互感器0.2级，变压器直流电阻测试仪DC：≤1A，变压器变比测试仪数字式，变压器有载分接开关特性测试仪I≥1A，变压器综合参数测试仪AC：500V/60A断路器特性测试仪氧化锌避雷器阻性电流测试仪，单相继电保护测试仪两相电流、两相电压，大电流发生器500A/5V，雷击计数器动作测试仪，绝缘电阻测试仪DC：0~5000V 200G（MΩ）短路电流≥3mA。电缆识别仪，油、气试验仪器，色谱仪，闭口闪点仪酸值测定仪，PH测定仪，绝缘油介电强度测试仪，常用仪器仪表，兆欧表DC：5000V，兆欧表DC：2500V，兆欧表DC: 500V，万用表单臂电桥，双臂电桥，数字式双钳相位伏安表,测量电流小于50m，相序表，钳型电流表，直流稳压稳流电源220V/110V/5A，电流互感器二次回路负载测试仪20V/5A，三相调压器15kVA。承办一级、二级、三级、四级、五级电力承装承修承试资质升级。

FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪应用说明：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择，二．描述：采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响 规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω /□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流 0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA0.1μA.μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA0.1μA、1μA、10μA，100μA，1mA，10mA，100mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1% ±0.2% ±0.2% ±0.3% ±0.3% ±0.3% 5.电阻精度 ≤0.3% ≤0.3% ≤0.3% ≤0.5% ≤0.5% ≤0.5% 6.显示读数屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：30W 9.误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.111.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作：1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，压强 配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

四探针 方阻 电阻率测试仪双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。FT-340系列双电测四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。 四探针 方阻 电阻率测试仪规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻范围10-5～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-6～2×106Ω-cm10-5～2×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围0.1μA,μA,0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA,μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W 9.整机不确定性误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针 方阻 电阻率测试仪FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪FT-340 Series Double electric four-probe resistance ratio tester一.应用说明Widely used：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择，二．描述Description：采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.规格型号/ modelFT-341 FT-342 FT-343FT-345 FT-346FT-3471.方块电阻sheet resistance 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω /□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率Resistivity 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm6.显示读数display屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivityFT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪.型号及参数Models and technical parameters规格型modelFT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方块电阻范围Sheet resistance 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率范围Resistivity 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×105Ω-cm6.显示读数display液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity7.测试方式test mode普通单电测量general single electrical measurement温馨提示：半导体材料测量，我们提供四探针法，低阻，高阻，双电组合法，普通单电法，以及高温电阻率测试仪系列，欢迎和我们保持联系---瑞柯仪器温馨提示：半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试，四探针测试仪根据量程可以划分为，低阻四探针测试仪测到-6次方；高阻四探针测试仪测到7次方至9次方；，双电测四探针测试仪测到-5次方到5次方，单电测四探针测试仪-5次方到5次方，我们解决半导体材料电性能测量问题，上述都是我们产品，欢迎和我们交流—瑞柯仪器双电测四探针测试仪

产品型号名称：LST-121/LST-212电阻率测试仪一、电阻率测试仪概述 本仪器既可测量超高电阻，又可测极微弱电流。采用了大规模集成电路以及新的技 术，使仪器体积小、重量轻、准确度高。以数字液晶显示电阻并同时直接显示流过被测电阻的电流。电阻量程从1×104Ω ～1×1018Ω， 电流测量范围 为1 ×10-4A ～1 ×10-16A。机内测试电压为DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。 本仪器具有精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便, 适用于防静电产品 如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外，还能直接测量电流如电子器件暗电流等。二、电阻率测试仪主要特点 电阻测量范围 1×104Ω ～1×1018 Ω； 电流测量范围 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ； 体积小、重量轻、准确度高； 独特的被测电阻、和流过电阻的电流双显示，使操作测量更加方便； 性能稳定、读数方便； 既能测电阻又能测电流； 测试电压有六种选择DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V； 使用操作简便，在任何电阻量程和测试电压下均直接读显示数字结果，免去要乘以一个系数的麻烦，使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。三、电阻率测试仪主要应用范围 材料高阻测试测量如防静电产品（防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等）电阻值的检测； 材料体电阻(率)和表面电阻(率)测量； 电化学和材料测试,以及物理,光学和材料研究 微弱电流测量如光电效应和器件暗电流测量。 四、电阻率测试仪技术指标 1. 电阻测量范围： 1×104Ω ～1×1018Ω，分为十个量程。2. 电流测量范围为2×10-4A ～1×10-16A3. 全数字液晶屏显示。4. 准确度: 准确度优于下表量程 有效显示范围 20～30℃ RH80%1040.01~19.991%1050.01～19.991%1060.01～19.991%1070.01～19.991%1080.01～19.995%1090.01～19.995%1010 0.01～19.995%+2字1011 0.01～19.995%+2字10120.01～19.995%+5字10130.01～19.9910%+5字10140.01～19.9910%+5字1014以上0.01～19.9910-15%+5字超出有效显示范围时误差有可能增加，测试电流准确度与电阻相同，测试电压准确度为 10%5. 使用环境: 温度 -10℃～50℃相对湿度90%。6. 测试电压:DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%7. 供电形式: AC 220V，50HZ，功耗约10W。8. 仪器尺寸: 300ｍｍ× 280ｍｍ× 150 mm。9. 质量: 约3.0KG。五、电阻率测试仪工作原理 根据欧姆定律，被测电阻R等于施加电压V除以通过的电流I。即 VR= ---I 传统的仪器的工作原理是测量电压V固定，通过测量流过被测物体的电流I以标定电阻的刻度来读出电阻值。从上式可以看出，由于电流I是与电阻成反比，而不是成正比，所以电阻的显示值是非线性的，即电阻无穷大时，电流为零，即表头的零位处是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时，其电压V也会有些变化，所以普通的高阻计的精度是很难提高的。 LST-121/ATI-212体积、表面电阻率测定仪是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I，通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算，然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值，即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化，其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流Ｉ的变化而变，所以, 即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大，其测量精度很高。从理论上讲其误差可以做到零。而实际误差可以做到千分之几或万分之几。 六、电阻率测试仪使用方法 6.1接好电源线 确保电源为220VAC/50Hz 6.2接通电源 将电流电阻量程置于 104 档,电压量程置于10V，然后开机。6.3调零 在“Rx”两端开路的情况下,调零使电流表的显示为0000 .注意：在“Rx”两端不开路，如接在电阻箱或被测量物体上时调零后测量会产生很大的误差。一般一次调零后在测试过程中不需再调零。 完毕后关机。6.4连接线路 接好测试线，将测试线将主机与屏蔽箱连接好，测体积电阻时测试按钮拨到Rv边，测表面电阻时测试按钮拨到Rs边。然后开机。6.5选择合适的测量电压 电压选择开关在后面板，注意，在测试过程中不要随意改动测量电压，可能因电压的过高或电流过大损坏被测试器件或测试仪器 6.6测试 测量时从低档位逐渐拔往高D，每拨一次稍停留1～2秒以使观察显示数字， 当被测电阻大于仪器测量量程时，电阻表显示“1”，此时应继续将仪器拨到量程更高的位置，当测量仪器有显示值时应停下，当前的数字乘以档次即是被测电阻值。当有显示数字时不要再往更高次档拨，否测仪器会过量程，机内保护电路开始工作，仪器测量准确度会下降。 6.7 测试完毕将电阻电流量程拔至“104 ”档，电压量程调至10V后关闭电源 每测量一次均应将量程开关拨回到104“调零”档的量程位置以免开机或测量端短路时而损坏仪器。6.8 测量电流及1015Ω以上超高电阻的测量应用测量电流后用欧姆定律以电压除以电流计算电阻的方法，详见8.5节内容。6.8体积电阻和表面电阻转换 在测试过程中，使用屏蔽箱在进行体积电阻和表面电阻转换时，必须把电源关闭后进行档位转换，否则会导致电压冲击到主机无法显示或损坏。七、电阻率测试仪使用注意事项 高阻测量一定要严格按使用方法步聚进行，否则有可能造成仪器损坏或电人。 7.1 应在“Rx”两端开路时调零（主机开机） 如接在电阻箱或被测量物体上时调零后测量会产生很大的误差。一般一次调零后在测试过程中不需再调零，但改变测量电压后可能要重新调零。 7.2 禁止将“Rx”两端短路，以免微电流放大器受大电流冲击7.3 在测试过程中不要随意改动测量电压， 随意改动测量电压可能因电压的过高或电流过大损坏被测试器件或测试仪器，而且有的材料是非线性的，即电压与电流是不符合欧姆定律，有改变电压时由于电流不是线性变化，所以测量的电阻也会变化。 7.4 测量时从低次档逐渐拔往高次档 每拨一次稍停留1～2秒以便观察显示数字，当有显示值时应停下，记录当前的数字即是被测电阻值。若显示“1”时，表示欠量程应往高次档拔。直到有显示数字时为止。当有显示数字时不能再往高次档拨，否则有可能损坏仪器(机内有过电流保护电路)。除104 Ω档之外，当显示低于1.99，表示过量程应换低档! 7.5 大部分绝缘材料，特别是防静电材料的电阻值在加电压后会有一定变化而引起数字变化 由于本仪器的分辩率很高，因而会引起显示值的末尾几位数也变化，这不是仪器本身的问题，而是被测量对象的导电机理复杂而使得阻值有些变化。在这种情况下往往取2位有效数就够了。 7.6 接通电源后，手指不能触及高压线的金属部分 本仪表有二连根线:高压线(红)和微电流测试线。在使用时要注意高压线，开机后人不能触及高压线，以免电人或麻手。 7.7 测试过程中不能触摸微电流测试端 微电流测试端怕受到大电流或人体感应电压及静电的冲击。所以在开机后和测试过程中不能与微电流测试端接触，以免损坏仪表。 7.8 在测量高阻时，应采用屏蔽盒将被测物体屏蔽. 在测量大于1010 Ω以上时，为防止外界干扰面而引起读数不稳。 7.9 每次测量完时应将量程开关拨回“104 ”档再进行下次测试 在测量时应逐渐将量程开关拨到高阻档，测量完时应将电流电阻量程、电压量程开关拨回低档。以 确保下次开机时量程开关处在低阻量程档。八、典型应用 8.1 测量防静电鞋、导电鞋的电阻值 按照国家标准GB4386-84《防静电胶底鞋（靴）、导电胶底鞋（靴）电阻值测量方法》防静电鞋的电阻值必须为0.5.×105Ω1.0×108Ω范围内，导电鞋的电阻值必须不大于1.5X105欧姆.不仅制造厂在出厂时必须按这一标准检验，合格后才能出厂，在工厂使用过程中也必须按这一标准进行定期检验，合格后才能穿用。 制造厂测量新鞋的电阻值时，应将硫化后有新鞋放置24小时以上，然后在测量所要求的温度、湿度环境中放置2小时以后才能进行测量。使用单位在定期检测时应将鞋洗干净，其温湿度的要求及放置时间同上。测量环境要求为：温度：10℃ ～ 40℃相对湿度为40% ～ 70%。 由于HEST121型数字表面、体积电阻率测定仪是内部同时测量电压和电流，且直接显示出电阻值，所以不必另外使用电压表和电流表以及计算电阻值。 通常测试防静电鞋只用106、107、108Ω档，测试完毕将开关拨回104档。 根据上述测试的结果，根据标准来确定被测鞋是否合格或能否穿用。 8.2. 测量防静电材料的电阻及电阻率 一般防静电材料的电阻值在105 Ω～1010 Ω左右的范围内，其测量电极可采用三电极或二电极，其具体测量方法可参照有关的标准或有关资料。 8.3. 测量计算机房用活动地板的系统电阻值 按照国家标准ＧＢ6650-86《计算机房用活动地板技术条件》。采用该标准的电极（也可用三电极中的主电极）测量。 8.4. 测量绝缘材料电阻(率) 绝缘材料如塑料（聚乙稀，聚氯乙稀，尼龙等）橡胶等的电阻率很高，测量时应采取屏蔽措施，以免读数不稳甚至无法测量。测量时可采用三电极。具体方法可参照国家标准GB1410。 8.5. 测量电流及1014Ω以上超高电阻的测量 当测量超过1014Ω以上的超高电阻时,可以通过测量电流的方法,然后用欧姆定律求出超高电阻值。测量电流与测量电阻的方法基本相同， 例如：电流表头显示读数为1.234，量程位置处在10－8，则电流为 I=1.234×10-8 A利用欧姆定律VR= ---I可以计算出电阻值。利用测量电流的方法可测量超过1014Ω以上的超高电阻1015～1018Ω。九、电阻率测试仪器测量常见问题 9.1 为什么在测量同一物体时用不同的电阻量程有不同的读数？ 这是因为测量电阻时为防止过电压损坏仪器，如果出现过量程时仪器内保护电路开始工作，将测试电压降下来以保护机内放大器。在不同的电压下测量同一物体会有不同的结果。而且当测量电阻时若读数小于199，既只为三位数且*一位数为1 时，其准确度要下降。所以在测量电阻时当*一次读数从1 变为某一读数时，不应再往更高的量程扭开关以防对仪器造成过大的电流冲击。在实际使用时，即读数位数多的比读数位数少的准确度高。 9.2为什么测量一些物体的电流时用不同的量程也会出现测出结果相差较大？ 这是因为一般物体输出的电流不是恒定流，而仪器有一定内阻，若在仪器上所选量程的内阻过大以至于在仪器上的电压降影响被测物体的输出电流时会造成测量误差。一般电流越小的量程内阻越高，所以在测量电流时应选用电流大的量程。在实际使用时即只要电流表有读数时，读数位数少的小的比读数位数多的准确度高。 9.3为什么测量时仪器的读数总是不稳？ 一般的材料其导电性不是严格像标准电阻样在一定的电压下有很稳定的电流，有很多材料特别是防静电材料其导电性不符合欧姆定律，所以在测量时其读数不稳。 这不是仪器的问题，而是被测量物体的性能决定的。有的标准规定以测量1分钟时间的读数为准。通常在测量高电阻或微电流时测量准确度因重复性不好，对测量读数只要求2位或3位。另外在测量大电阻时如果屏蔽不好也会因外界的电磁信号对仪器测量结果造成读数不稳。 9.4为什么测量完毕时一定要将量程开关再拨到104档后才能关电源？ 这是因为在测量时被测物体及仪器输入端都有一定的电容，这个电容在测量时已被充电到测量电时的电压值，如果仪器不拨到104挡后关电源这个充电后的电容器会对仪器内的放大器放电而造成仪器损坏。当被测量物体电容越大，测试电压越高时，电容器所储藏的电能越大，更容易损坏仪器，特别是在电阻的高量程或电流的低量程时因仪器非常灵敏，仪器过载而损坏的可能性更大。所以一定要将量程开关再拨到104挡后才能关电源。 9.5 为什么在测量电阻过程中不要改变对被测物的测试电压？ 在测量电阻过程中如果改变对被测物的测试电压，无论电压变高或变低时都将会产生大脉冲电流，这个大的电流很有可能使仪器过量程甚至更损坏仪器。另一方面如果电压突然变化也会通过被测量物体的（分布）电容放电或反向放电对测量仪器造成冲击而损坏仪器。有的物体的耐压较低，当您改变测量电压时有右能击穿而产生大电流损坏仪器。如果要改变测量电压，在确保被测量物体不会因电压过高击穿时，要先将量程开关拨到104档后关闭电源，再从仪器后面板调整到所要求的电压。有的材料是非线性的，即电压与电流是不符合欧姆定律，有改变电压时由于电流不是线性变化，所以测量的电阻也会变化。 9.6为什么测量完毕要将电压量程开关再拨到10V档后关闭电源？ 这是因为机内的电容器充有很高的电压（高电压达1200V以上），这些电容器的所带的电能保持较长的时间，如果将电压量程开关再拨到10V档后关闭电源，则会将机内的高压电容器很快放电，不会在测量的高压端留有很危险的电压造成电击。如果仅拨电源线而不是将电压调至10V档，虽然断了电源，但机内高压电容器还有会因长时间保持很高的电压，将会对人员或其它物体造成电击或损坏。在仪器有问题时也不要随便打开机箱因机内高压造成电击，要将仪器找专业技术人员或寄回厂家修理。