数字式脉冲周期测量仪

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=63574]数字式时间间隔测量仪[/url]

[align=center] [/align] [font=Tahoma, Helvetica, SimSun, sans-serif][size=18px][color=#444444]实验室分析测量仪器的校准周期，受其使用频繁程度、准确度要求、使用环境、使用性能等多因素的影响，可以说，确定校准周期是一项复杂的工作。很多分析人员在以下几个问题常有疑问，比如，如何确定校准周期的原则和方法? 确定校准周期有哪些现行的标准依据？实验室内部可以随意更改仪器设备的校准周期吗？ 标准文件中关于校准周期如何解释？ CNAS-CL01中5.10.4.4校准证书（或校准标签）不应包含对校准时间间隔的建议，除非已与客户达成协议。该要求可能被法规取代。明确规定校准实验室不能给出校准周期的建议。校准周期由实验室根据计量器具的实际使用情况，本着科学、经济和量值准确的原则自行确定。仪器在第一次校准之后，第二次校准时间先规定1年，1年后送校准实验室校准还是很“准”（与第一次校准比较在误差范围内），就可定2年了，依次类推，最长不能超过5年，但期间一定需安排期间核查，如果发现不稳定情况，就需重新校准。 校准周期的确定要有理有据 先说校准周期，也就是确认间隔，它是衡量计量工作质量的关键环节，关系到在用测量仪器的合格率。只有严格执行校准周期，才能保证科研生产等各项活动的顺利进行。为保证量值准确可靠，必须科学的确定校准周期。 校准周期不合理会怎样？ 随着时间的推移，测量仪器的校准周期是否合理，取决于校准合格率，也取决于仪器的历史校准记录，可将其作为最基本的依据。但随着时间的变化或是操作环境的变化，或者是测量仪器使用方式和条件的变化，可能导致仪器失准。因此，当测量仪器的一个校准周期过后，就该立即校准。另外，在有效校准期内，也应不定期抽查仪器偏离的状态。根据上述信息对校准周期做适当调整，适当延长或缩短校准周期。 确定校准周期的原则 确定校准周期必须遵循两条对立的基本原则： 一是在这个周期内测量仪器超出允许误差的风险尽可能最小； 二是经济合理，使校准费用尽可能最少。为了寻求上述风险和费用两者平衡的最佳值，必须使用科学的方法，积累大量的实验数据，经分析研究后确定。 必须按照校准规程规定的周期进行校准吗？ 用户的使用情况是千差万别的，若不加区别的一律机械的按照校准规程规定的周期进行校准，很难保证所有的测量仪器在校准周期内都是合格的。因此，必须按照测量仪器的实际使用情况确定校准周期。但是，由于实际情况相当复杂，要绝对正确确定校准周期，是难以办到的，只能要求大体上正确、合理，使实际情况更加完善、科学，更加经济合理。 注意：盲目的缩短校准周期将造成社会资源的浪费，对测量仪器的寿命、准确度及生产和人力也将带来不利影响。而单纯由于资金缺乏或人员不够而延长校准周期将是十分危险的，可能由于使用不准确的测量仪器带来更大的风险甚至严重的后果。 确定校准周期的依据 校准周期的确定需要各种专业知识，考虑多种因素。若超过一个周期，可能引起质量特性的恶化，那是由于机械磨损、灰尘、性能和实验频次等所致。对这些因素变化的敏感性取决于测量仪器的类型。质量好的，可能受的影响小一些；质量不好的，可能受的影响大一些。因此，各个实验室应根据实际情况，确定每种测量仪器的校准周期。 确定校准周期的依据是： 使用的频繁程度。使用频繁的测量仪器，容易使其计量性能降低，故可以缩短校准周期来解决。当然，提高测量仪器所用的原材料性质、制造工艺和使用寿命也是重要的手段。 测量准确度的要求。要求准确度高的单位，可适当缩短校准周期。各个单位要根据自己的实际情况决定，需要什么准确度等级，就选择什么等级。该高就高，该低就低，不盲目追求高准确度，以免造成不必要的损失；但精度过低，满足不了使用要求，给工作带来损失，也是不可取的。 使用单位的维护保养能力，如果单位的维护保养比较好，则适当缩短校准周期；反之，则长一些。 测量仪器的性能，特别是长期稳定性和可靠性的水平。即使同类型的测量仪器，稳定性、可靠性差的，校准周期应短一些。 对产品质量关系较大的， 以及有特殊要求的测量仪器， 其校准周期则相对短一些；反之， 则长一些。 如何科学地确定校准周期？ 统计法： 根据测量仪器的结构、预期可靠性和稳定性的相似情况，将测量仪器初步分组，然后根据一般的常规知识初步确定各组仪器的校准周期。对每一组测量仪器， 统计在规定周期内超差或其他不合格的数目，计算在给定的周期内，这些仪器与该组合格仪器总数之比。在确定不合格测量仪器时，应排除明显损坏或由用户因可疑或缺陷而返回的仪器。如果不合格仪器所占的比例很高，应缩短校准周期。如果证明不合格仪器所占的比例很低，则延长校准周期可能是经济合理的。如果发现某一分组的仪器(或某一厂家制造的或某一型号)不能和组内其他仪器一样工作时，应将该组划为具有不同周期的其他组。 小时时间法： 这种方法是确认校准周期以实际工作的小时数表示。可以将测量仪器与计时指示器相连，当指示器达到规定值时，将该仪器送回校准。这种方法在理论上的主要优点是，进行确认的仪器数目和确认费用与使用的时间成正比，此外可自动核对仪器的使用时间。例如我们使用某公司的示波器，不用连接计时器，可以直接在示波器上查到连续使用了多长时间，很方便管理。 但是，这种方法在实践中有下列缺点： (1)当测量仪器在储存、搬运或其他情况发生漂移或损坏时，则不应使用本方法； (2)提供和安装合适的计时器，起点费用高，而且由于可能受到使用者干扰而需要在监督下进行，又增加了费用。 比较法： 当每台测量仪器按规定的的校准周期进行校准，将校准数据和前几次的校准数据相比，如果连续几个周期的校准结果均在规定的允许范围内，则可以延长它的校准周期 如果发现超出允许的范围，则应缩短该仪器的校准周期。 图表法： 测量仪器在每次校准中，选择有代表性的同一校准点，将它们的校准结果按时间描点，画成曲线，根据这些曲线计算出该仪器一个或几个校准周期内的有效漂移量，从这些图表的数据中，可推算出最佳的校准周期。 常见疑问解惑Q&A 1.实验室设备的校准周期可以自己规定吗？ 一般设备校准后证书上都会推荐一年一校准，有人说一些设备事完全不用每年都校准的。设备的校准周期可以自己规定吗？如果按自己规定的周期校准的话评审组认可吗？ 最好是自己规定校准周期，因为校准周期是和设备的使用情况相关的。校准周期可以自己确定，但同时还要参照国内的计量法要求（如果你们申请的是CNAS认可）。其实在标准（ISO/IEC 17025）5.10.4.4中明确指明，校准证书不应该包含校准间隔的建议，但是如果与客户有协议，或被法律明确规定的除外。所以，可以调整设备校准周期，但前提是你们必须给出调整后的合理依据，否则，审核时仍然不会被接受。 2.校准的问题应该问仪器设备公司吗？ 校准公司不了解设备的使用频率、保养情况、使用环境等因素，他给你定的校准周期相对不合理，比如一把钢尺，保管得很好，一年就用两三次；另一把钢尺，随便放工作台上，一天8个小时都在用；校准公司给的校准周期肯定都是1年1次，这样对第一把尺子校准周期太短了，对第二把尺子校准周期又太长，三五个月可能就失准了。仅对于企业实验室，第三方实验室因为要通过资质认定，要求不一样，可能很多设备都需要检定。 3.校准周期和期间核查的联系？ 国家有规定在校准周期内，设备维修、跟关键换零部件、仪器迁移等要重新校准，在校准周期内还要进行设备的期间核查，来保证设备的稳态和准确性。如果设备，这里指的是设备而不是尺子、圆规等，自己定义校准周期则要小于国家规定的周期。 实验室可以根据仪器特点，使用频率等等特性，自定义校准周期，只要保证设备处于正确使用状态，能达到预期使用即可。通常需要提供期间核查等措施，来证明仪器处于良好状态。但校准周期也不是越长越好，因为时间越长，不确定度性越大。 小结 计量校准是提高实验室效率的重要环节，而确定校准周期是计量工作的一项关键环节，对产品质量和服务质量方面起着十分重要的作用，在确定测量仪器的校准周期时，要对测量仪器的实际使用情况进行科学分析后评估决定。[/color][/size][/font]

本文介绍一种用单片机制作的脉搏测量仪，只要把手指放在传感器内，很快就可以精确测出每分钟脉搏数，测量的结果用三位数字显示出来。　　电路工作原理　　电路原理见附图。电路由传感器电路、信号放大和整形电路、单片机电路、数码显示电路等四部分组成。file:///C:/Documents%20and%20Settings/Administrator/Local%20Settings/Temporary%20Internet%20Files/Content.IE5/O9EZM3GH/20100418141025_4599.jpg传感器由红外线发射二极管和接收二极管组成，测量原理如下：将手指放在红外线发射二极管和接收二极管之间，血管中血液的流量随着心脏的跳动变化，由于手指放在光的传递路径中，血管中血液饱和度的变化将引起光的传递强度变化，此变化和心跳的节拍相对应，因此红外接收二极管的电流也跟着心跳的节拍改变，使得红外接收二极管输出与心跳节拍相对应的脉冲信号。该脉冲信号经F1~F3、R3~R5。C1、C2等组成的低通放大器放大，F4、R6、R7、C3组成的放大器进一步放大后，送给由F5、F6、RP1、R8等组成的施密特触发器整形后输出，作为单片机的外部中断信号。电路中的可变电阻RP1用来调整施密特触发器的阈值压。　　IC2、X1、R10、C5等组成单片机电路。单片机对由P3.2输入的脉冲信号进行计算处理后，送到数码管显示。发光二极管VD3作脉搏测量状态显示，脉搏每跳动一次，VD3点亮一次。　　三只数码管VT1~VT3、R12-R21等组成数码显示电路。本机采用动态扫描显示方式，使用共阳数码管，P3.3~P3.5口作三只数码管的动态扫描位驱动码输出，通过三极管VT1-VT3驱动数码管。P1.0-P1.6口作数码管段码输出。　　软件设计　　程序用C语言编写，由主程序、外部中断服务程序、定时器TO中断服务程序、延时子程序等模块组成。主程序主要完成程序的初始化。外部中断0服务程序由测量、计算、读数等部分组成。定时中断服务程序由计时、动态扫描显示、无测试信号判断等部分组成。程序中用变量n对时间计数，用变量m对脉搏脉冲信号个数计数。　　从P3.2口输入的与脉搏相对应的脉冲信号作为外部中断0的请求中断信号，外部中断采用边沿触发的方式。由于脉冲信号的频率很低，所以不适宜用计数的方法进行测量，故而采用测脉冲周期的方法进行测量，即用脉冲来控制计时信号，通过计时数计算出脉冲周期，再由脉冲周期计算出频率，从P3.2口每输入一次脉冲信号就能显示一次脉搏数。　　定时器TO的中断时间为5ms，每中断一次计时变量n加1，因此计时的基本单位为5ms，例如一个脉搏脉冲周期对应的n值为240，则对应的时间为1.2s，由此可得每分钟脉搏数为50。如果n的值达到2000，即10秒钟仍没有发生外部中断，则表示没有脉搏脉冲信号输入，于是n被清零，测量结果显示也为0。　　读数采用三位数码显示。定时器TO每中断一次显示一个位，因此3次中断就可以刷新一次数据，即15ms刷新一次数据。安装与调试　　传感器的制作是一个关键。可将红外线发射二极管和接收二极管分别固定在一个塑料夹子的两侧，用时只需将夹子夹在手指上即可。制作时注意保证红外线接收二极管在使用时不要受到外界光线的干扰。　　调试的主要工作是通过对RP1的调节来调整电路的灵敏度，RP1的阻值越小灵敏度越高，反之灵敏度越低。调试时可通过VD3的发光状态进行观察，如果脉搏跳动时VD3不跟随发光，则说明灵敏度偏低，不易检测到脉搏信号；如果在没有脉搏跳动时VD3偶尔也点亮发光，说明灵敏度偏高，容易受到干扰。

实验室分析测量仪器的校准周期，受其使用频繁程度、准确度要求、使用环境、使用性能等多因素的影响，可以说，确定校准周期是一项复杂的工作。很多分析人员在以下几个问题常有疑问，比如，如何确定校准周期的原则和方法? 确定校准周期有哪些现行的标准依据？实验室内部可以随意更改仪器设备的校准周期吗？ [b]标准文件中关于校准周期如何解释？[/b] CNAS-CL01中5.10.4.4校准证书（或校准标签）不应包含对校准时间间隔的建议，除非已与客户达成协议。该要求可能被法规取代。明确规定校准实验室不能给出校准周期的建议。校准周期由实验室根据计量器具的实际使用情况，本着科学、经济和量值准确的原则自行确定。仪器在第一次校准之后，第二次校准时间先规定1年，1年后送校准实验室校准还是很“准”（与第一次校准比较在误差范围内），就可定2年了，依次类推，最长不能超过5年，但期间一定需安排期间核查，如果发现不稳定情况，就需重新校准。 [b]校准周期的确定要有理有据[/b] 先说校准周期，也就是确认间隔，它是衡量计量工作质量的关键环节，关系到在用测量仪器的合格率。只有严格执行校准周期，才能保证科研生产等各项活动的顺利进行。为保证量值准确可靠，必须科学的确定校准周期。 [b]校准周期不合理会怎样？[/b] 随着时间的推移，测量仪器的校准周期是否合理，取决于校准合格率，也取决于仪器的历史校准记录，可将其作为最基本的依据。但随着时间的变化或是操作环境的变化，或者是测量仪器使用方式和条件的变化，可能导致仪器失准。因此，当测量仪器的一个校准周期过后，就该立即校准。另外，在有效校准期内，也应不定期抽查仪器偏离的状态。根据上述信息对校准周期做适当调整，适当延长或缩短校准周期。 [b]确定校准周期的原则[/b] 确定校准周期必须遵循两条对立的基本原则： 一是在这个周期内测量仪器超出允许误差的风险尽可能最小； 二是经济合理，使校准费用尽可能最少。为了寻求上述风险和费用两者平衡的最佳值，必须使用科学的方法，积累大量的实验数据，经分析研究后确定。 [b]必须按照校准规程规定的周期 进行校准吗？[/b] 用户的使用情况是千差万别的，若不加区别的一律机械的按照校准规程规定的周期进行校准，很难保证所有的测量仪器在校准周期内都是合格的。因此，必须按照测量仪器的实际使用情况确定校准周期。但是，由于实际情况相当复杂，要绝对正确确定校准周期，是难以办到的，只能要求大体上正确、合理，使实际情况更加完善、科学，更加经济合理。 注意：盲目的缩短校准周期将造成社会资源的浪费，对测量仪器的寿命、准确度及生产和人力也将带来不利影响。而单纯由于资金缺乏或人员不够而延长校准周期将是十分危险的，可能由于使用不准确的测量仪器带来更大的风险甚至严重的后果。 [b]确定校准周期的依据[/b] 校准周期的确定需要各种专业知识，考虑多种因素。若超过一个周期，可能引起质量特性的恶化，那是由于机械磨损、灰尘、性能和实验频次等所致。对这些因素变化的敏感性取决于测量仪器的类型。质量好的，可能受的影响小一些；质量不好的，可能受的影响大一些。因此，各个实验室应根据实际情况，确定每种测量仪器的校准周期。 确定校准周期的依据是： [list][*] 使用的频繁程度。使用频繁的测量仪器，容易使其计量性能降低，故可以缩短校准周期来解决。当然，提高测量仪器所用的原材料性质、制造工艺和使用寿命也是重要的手段。 [*] 测量准确度的要求。要求准确度高的单位，可适当缩短校准周期。各个单位要根据自己的实际情况决定，需要什么准确度等级，就选择什么等级。该高就高，该低就低，不盲目追求高准确度，以免造成不必要的损失；但精度过低，满足不了使用要求，给工作带来损失，也是不可取的。 [*] 使用单位的维护保养能力，如果单位的维护保养比较好，则适当缩短校准周期；反之，则长一些。 [*] 测量仪器的性能，特别是长期稳定性和可靠性的水平。即使同类型的测量仪器，稳定性、可靠性差的，校准周期应短一些。 [*] 对产品质量关系较大的， 以及有特殊要求的测量仪器， 其校准周期则相对短一些；反之， 则长一些。 [/list] [b]如何科学地确定校准周期？ 统计法：[/b]根据测量仪器的结构、预期可靠性和稳定性的相似情况，将测量仪器初步分组，然后根据一般的常规知识初步确定各组仪器的校准周期。对每一组测量仪器， 统计在规定周期内超差或其他不合格的数目，计算在给定的周期内，这些仪器与该组合格仪器总数之比。在确定不合格测量仪器时，应排除明显损坏或由用户因可疑或缺陷而返回的仪器。如果不合格仪器所占的比例很高，应缩短校准周期。如果证明不合格仪器所占的比例很低，则延长校准周期可能是经济合理的。如果发现某一分组的仪器(或某一厂家制造的或某一型号)不能和组内其他仪器一样工作时，应将该组划为具有不同周期的其他组。 [b]小时时间法：[/b]这种方法是确认校准周期以实际工作的小时数表示。可以将测量仪器与计时指示器相连，当指示器达到规定值时，将该仪器送回校准。这种方法在理论上的主要优点是，进行确认的仪器数目和确认费用与使用的时间成正比，此外可自动核对仪器的使用时间。例如我们使用某公司的示波器，不用连接计时器，可以直接在示波器上查到连续使用了多长时间，很方便管理。但是，这种方法在实践中有下列缺点： (1)当测量仪器在储存、搬运或其他情况发生漂移或损坏时，则不应使用本方法； (2)提供和安装合适的计时器，起点费用高，而且由于可能受到使用者干扰而需要在监督下进行，又增加了费用。 [b]比较法：[/b]当每台测量仪器按规定的的校准周期进行校准，将校准数据和前几次的校准数据相比，如果连续几个周期的校准结果均在规定的允许范围内，则可以延长它的校准周期 如果发现超出允许的范围，则应缩短该仪器的校准周期。 [b]图表法：[/b]测量仪器在每次校准中，选择有代表性的同一校准点，将它们的校准结果按时间描点，画成曲线，根据这些曲线计算出该仪器一个或几个校准周期内的有效漂移量，从这些图表的数据中，可推算出最佳的校准周期。 [b]常见疑问解惑Q&A 1.实验室设备的校准周期可以自己规定吗？[/b] 一般设备校准后证书上都会推荐一年一校准，有人说一些设备事完全不用每年都校准的。设备的校准周期可以自己规定吗？如果按自己规定的周期校准的话评审组认可吗？ 最好是自己规定校准周期，因为校准周期是和设备的使用情况相关的。校准周期可以自己确定，但同时还要参照国内的计量法要求（如果你们申请的是CNAS认可）。其实在标准（ISO/IEC 17025）5.10.4.4中明确指明，校准证书不应该包含校准间隔的建议，但是如果与客户有协议，或被法律明确规定的除外。所以，可以调整设备校准周期，但前提是你们必须给出调整后的合理依据，否则，审核时仍然不会被接受。 [b]2.校准的问题应该问仪器设备公司吗？[/b] 校准公司不了解设备的使用频率、保养情况、使用环境等因素，他给你定的校准周期相对不合理，比如一把钢尺，保管得很好，一年就用两三次；另一把钢尺，随便放工作台上，一天8个小时都在用；校准公司给的校准周期肯定都是1年1次，这样对第一把尺子校准周期太短了，对第二把尺子校准周期又太长，三五个月可能就失准了。仅对于企业实验室，第三方实验室因为要通过资质认定，要求不一样，可能很多设备都需要检定。 [b]3.校准周期和期间核查的联系？[/b] 国家有规定在校准周期内，设备维修、跟关键换零部件、仪器迁移等要重新校准，在校准周期内还要进行设备的期间核查，来保证设备的稳态和准确性。如果设备，这里指的是设备而不是尺子、圆规等，自己定义校准周期则要小于国家规定的周期。 实验室可以根据仪器特点，使用频率等等特性，自定义校准周期，只要保证设备处于正确使用状态，能达到预期使用即可。通常需要提供期间核查等措施，来证明仪器处于良好状态。但校准周期也不是越长越好，因为时间越长，不确定度性越大。 [b]小结[/b] 计量校准是提高实验室效率的重要环节，而确定校准周期是计量工作的一项关键环节，对产品质量和服务质量方面起着十分重要的作用，在确定测量仪器的校准周期时，要对测量仪器的实际使用情况进行科学分析后评估决定。

随着生产和科学技术的发展，对电测技术提出了更高的要求，一般的电工指示仪表、已不能满足某些测量的需要。数字式仪表、晶体管电压表等电子测量仪器具有高精确度、高灵敏度、高速度以及易于实现自动化等优点，因此得到了迅速的发展和广泛的应用。数字式仪表是利用半导体脉冲数字电路自动地将被测量数值用数字形式直接显示出来的一种电子仪表。 和电工指示仪表相比，数字仪表有以下的优点： (1)准确度高，如六位数字电压表测直流电压的误差可低于10—s数量级。 (2)灵敏高度，如积分式数字电压表的分辨率可达1微伏。 (3)测量速度快，一秒内可测多次，有些数字电压表可达每秒几万次。 (4)输入阻抗高、仪表功耗小。如数字电压表的基本量程的输入阻抗提高达2500兆欧。而消耗功率只有4×10　瓦，这是一般指示仪表根本达不到的。 (5)读数方便，没有读数误差这是由于测量结果直接用数字给出，所以不会由于使用者读数时站立角度不同而产生视差。数字仪表的缺点是：由于采用了大量的电子元件和其它部件，所以结构比较复杂，成本也较高。但是由于大规模集成电路的发展，现已有可能制造出价格低廉的数字式仪表。不同数字仪表的工作原理和测试功能是各不相同的，但都是由模拟一数字变换系统(简称模／数变换或A／D变换)和计数系统两部分组成。模拟一数字变换系统的作用是将被测的模拟量，如电压、电阻等变换为数字量，即将被测信号变换成与之成比例的脉冲参量，而计数系统的作用是对转换成的数字量进行计数和显示。由于数字仪表具有以上特点，它主要应用于：精密测量；对大批生产的精密指示仪表进行刻度与校验；对大量生产的元件进行分选；远距离测量；生产过程自动检测系统和控制等方面。常用的数字仪表有计数器、数字频率表、数字电压表、数字相位表和数字功率表等。

影像测量仪（又名影像式精密测绘仪）是在测量投影仪的基础上进行的一次质的飞跃，它将工业计量方式从传统的光学投影对位提升到了依托于数位影像时代而产生的计算机屏幕测量。值得一提的是，目前市面上有一种既带数显屏又接计算机的过渡性产品。从严格意义来说，这种仅把电脑用作瞄准工具的设备不是影像测量仪，只能叫做“影像式测量投影仪”或“影像对位式投影仪”。换句话说：影像测量仪是依托于计算机屏幕测量技术和强大的空间几何运算软件而存在的。影像测量仪又分数字化影像测量仪(又名CNC影像仪)与手摇式影像测量仪两种，它们之间的区别主要表现在如下几个方面：一：数字化CNC技术实现了点哪走哪：手摇影像测量仪在测量点A、B两点之间距离的操作是：先摇X、Y方向手柄走位对准A点，在用手操作电脑并点击鼠标确定；然后摇手到B点，重复以上动作确定B点。每次点击鼠标该点的光学尺位移数值读入计算机，当所有点的数值都被读入后计算机自动进行计算并得到测量结果,一切功能与操作都是分离进行的；数字化CNC影像测量仪则不同，它建立在微米级精确数控的硬件与人性化操作软件的基础上，将各种功能彻底集成，从而成为一台真正义上的现代精密仪器。具备无级变速、柔和运动、点哪走哪、电子锁定、同步读数等基本能力；鼠标移动找到你所想要测定的A、B两点后，电脑就已帮你计算测量出结果，并显示图形供校验，图影同步，既使是初学者测量两点之间距离也只需数秒钟。二：数字化技术实现了工件随意放置：手摇式影像测量仪在进行基准测量时，需要摇动工作平台，然后通过认为判断所要求的点。而数字化影像测量仪可以利用软件技术完成空间坐标系旋转和多坐标系之间的复杂换算，被测工件可随意放置，随意建立坐标原点和基准方向并得到测量值，同时在屏幕上呈现出标记，直观地看出坐标方向和测量点，使最为常见的基准距离测量变得十分简便而直观。三： 数字化技术能进行CNC快速测量：手摇式影像测量仪在进行同一工件的批量测量时，需要人工逐一手摇走位，有时一天得摇上数以万计的圈数，仍然只能完成数十个复杂工件的有限测量，工作效率低下。数字化影像测量仪可以通过样品实测、图纸计算、CNC数据导入等方式建立CNC坐标数据，由仪器自动走向一个一个的目标点，完成各种测量操作，从而节省人力，提高效率。数十倍于手摇式影像测量仪的工作能力下，操作人员轻松而高效.如有疑问请登陆www.yr17.net

电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。1.多用电表　　模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。2.示波器　　示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。3.信号发生器　　信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器仪表时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。4.晶体管特性图示仪　　晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、自或a参数等。5.兆欧表　　兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。6.红外测试仪　　红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。7.集成电路测试仪　　该类仪器可对TI1、PM0S、CM0S数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。8.LCR参数测试仪　　电感、电容、电阻参数测量仪,不仅能自动判断元件性质,而且能将符号图形显示出来,并显示出其值。其还能测量Ｑ、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数,且显示出等效电路图形。9.频谱分析仪　　频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率,测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如:逻辑电路的控制信号、基带信号,射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。　　除以上常用的电子测量仪器外,还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

各位大侠好: 我公司现在要建一个内校室，主要有交流智能电量测量仪(数字式)，LCR数字电桥等设备，不久前智能电量测量仪外校了一次，当初他们用的设备是FLUKE 5520A ，我在网上查询了一下价格很高的，不知道还有其他设备可以校准不？还有LCR数字电桥的校准需要些什么设备？请各位大侠指点一下迷津！

电子测量仪器的分类及应用电子测量仪器按其工作原理与用途，大致划为以下几类。　　1.多用电表　　模拟式电压表、模拟多用表（即指针式万用表VOM）、数字电压表、数字多用表（即数字万用表DMM）都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。 　　2.示波器　　示波器是一种测量电压波形的电子仪器，它可以把被测电压信号随时间变化的规律，用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌，而且可以通过它显示的波形，测量电压和电流，进行频率和相位的比较，以及描绘特性曲线等。 　　3.信号发生器　　信号发生器（包括函数发生器）为检修、调试电子设备和仪器时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如：产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。 　　4.晶体管特性图示仪 　　晶体管特性图示仪是一种专用示波器，它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如：晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性；二极管的正向、反向特性；稳压管的稳压或齐纳特性；它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、β或α参数等。 　　5.兆欧表　　兆欧表（俗称摇表）是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表，通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电，故称摇表。由于它的刻度是以兆欧（MΩ）为单位，故称兆欧表。　　6.红外测试仪　　红外测试仪是一种非接触式测温仪器，它包括光学系统、电子线路，在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种，主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。 　　7.集成电路测试仪 　　该类仪器可对TTL、PMOS、CMOS数字集成电路功能和参数测试，还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。 　　 8.LCR参数测试仪　　电感、电容、电阻参数测量仪，不仅能自动判断元件性质，而且能将符号图形显示出来，并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数，且显示出等效电路图形。 　　9.频谱分析仪　　频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率，测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如：逻辑电路的控制信号、基带信号，射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。 　　除以上常用的电子测量仪器外，还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

听工程师提到[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]进样中吹扫捕集法中有一个液相闪烁测量仪，这个东西是干什么的啊？有没有大侠尽可能详细的介绍介绍啊？急啊！我在百度上查到这些： 液体闪烁测量仪原理为通过闪烁体（液体状态）将放射能转变为光子，然后将光子导入光电倍增管的光阴极，在高压作用下，将光子转变成光电子，经过光电倍增管，最后在阳极上产生一个电脉冲，通过计数装置将脉冲记录。液体闪烁测量仪解决了β粒子，尤其是低能β粒子的测量问题。由于样品均匀分散在闪烁体中，对低能β粒子（例如3H、14C）测量效率高。 在吹扫捕集法中它起什么作用呢？

”电工仪器“小版面的增加是为了更好地充实仪器信息全面性，争取能有个积极的、发展的作用。1.电子测量仪的分类 电子测量仪的分类方法按不同的要求，分类不同，如按其功能，可分为下列几类。 1.1用于电量测量的仪器： 测量电流(I)、电压(V)、电功率(P)、电能(W)、电荷强度(E)等。 如：电流表、电压表、毫伏表、功率表、电能表、电荷统计计、万用表等。 1.2用于元件参数测量的仪器： 测量电阻(R)、电感(L)、电容(C)、阻抗(Z)、品质因素(Q)、损耗角tg、电子器件参数等。 如：微欧表、阻抗表、电容表、LCR测试仪、Q表、晶体管式集成电路测试仪、图示仪等。 1.3用于仪表波形测量的仪器： 测量频率(f)、周期(T)、相位(∮)、失真仪(V)、调幅(AM)、调频(FM)、谐波等。 如：频率计、石英钟、相位计、波长计、各类示波器、失真分析仪、调制度分析仪、音频分析仪、谐波分析仪、频谱分析仪等。 1.4 用于电子产品，电子设备及模拟电路和数字电路性能测试的仪器。 测量产品或设备的漏电流特性，耐压特性，频率特性，增益(K)、增减量(A)、灵敏度(S)、噪声系数(Nf)、相位特性、电磁干扰特性等。 如：漏电流测试仪、耐压测试仪、扫频仪、噪声系数测试仪、网络分析仪、逻辑分析仪、相位特性测试仪、EMC测试仪等

引言 　　通信系统中采用的许多算法和技术都是在线性系统的前提下研究和设计的，一定频率的信号通过这些网络后，往往会产生新的频率分量，称之为该网络的线性失真。失真度分析采取的常用方法有基波抑制法和谐波分析法两种。　　基波抑制法通常用在模拟失真度测量仪中，原理是采用具有频率选择性的无源网络(如谐振电桥、双T陷波网络等)抑制基波，由信号总功率和抑制基波后的信号功率计算出失真度。理想的基波抑制器应完全滤除基波，又不衰减任何其他频率。但实际上，基波抑制器对基波衰减抑制只能达到-60 dB～-80 dB，对谐波却损耗0.5 dB～1.0 dB。这种方式的失真度仪的性能主要依赖于硬件设计，调试和校准工作烦琐，一般只能实现固定1个或几个频率的失真度测量，其测量误差随着失真度降低而加大，并且随着器件老化，电路的稳定性和可靠性降低。　　谐波分析法类似于频谱分析，通常是借助数字方式的以FFF(快速傅里叶变换)为基础的算法，或者采用模拟方式的选频测量方法，从而获得基波和各次谐波的功率，计算出失真度。模拟选频方式的失真度分析仪性能高，但硬件电路复杂。数字方式的失真度分析对硬件的设计要求降低，其性能主要决定于A／D转换的精度和数字信号处理算法。仅仅采用FFT来分析失真度是远远不够的，因为测量精度与其运算量、存储空间的大小和测量速度存在明显的矛盾。 针对以上失真度测量方法的不足，本文以数字谐波分析法为基础，提出了基于DFT(离散傅里叶变换)和过零检测法的失真度分析算法，不仅可满足高精度和任意频率的测试需求，还可降低硬件设计复杂度。　　1失真度算法研究　　1.1算法分析　　失真度定义为： http://www.vihome.com.cn/class/UploadFiles_4704/200909/2009092213540898.jpg　　式中：u1，u2，…，uM分别为被测频率的基频、二次谐波、…、M次谐波分量的幅度有效值；E1，E2，…，EM为基频和谐波分量的能量，一般M=5或7。 从失真度定义来分析，要测量信号的失真度，只须设法将被测信号的基波与谐波分离，分别测出它们各自的功率或电压有效值，代入式(1)即可。　　DFT在DSP中通常用于对平稳信号的频谱估计，在应用中，将输入信号截短，得到的行向量X=x(n)与一个相同长度的正弦信号W=w(n)相乘积分，可得到向量X中含有正弦信号W的分量。所以，如果向量W的频率等于失真度测量的各个频率分量和它们的正交分量，则可以计算出输入信号中包含第m次谐波的能量Em： http://www.vihome.com.cn/class/UploadFiles_4704/200909/2009092213540809.jpg　　将式(2)值代人式(1)就可得到失真度值。 　　在工程测量中，被测信号的频率往往未知，而DFT计算时是确定的频率，所以应给W提供准确的频率，而且W的频率预测越准确，能量计算也越精确。　　为了准确找到基频，对采样信号采用过零检测法来测量频率，为避免噪声干扰，设置零幅度带，每通过零幅度带即为过零一次。被测信号频率由fx=N／T得到，T为时间基准，N为T内过零点数。过零检测法测频虽准确度较高，但是在标准的时间基准T中如10 ms、0.1 s、1 s等，由于被测信号与门控信号不可能同步锁定，所以存在固有的±1量化误差。本系统中如果选用1 s做时间基准的话，实时性不够。因此综合考虑实时性、存储量、处理速度之间的关系，选择T=0.1 s作为时间基准。这时±1误差被扩大10倍，为±10 Hz。为解决±1量化误差，使用以过零测频为中心，固定带宽(30 Hz)内最大值能量搜索办法(二分法)寻找基频能量最大值，经过5～7次迭代可得到准确的基频。然后直接使用此基频得到各次谐波的准确频率，并将基频和谐波频率提供给W，使用DFT就可直接估计基频和各高次谐波能量，完成失真度计算。　　1.2仿真结果分析　　使用MATLAB对上述算法进行仿真。设输入信号基频为1 kHz，并在±30 Hz范围内随机变动，信噪比20 dB，采样速率为44×103次采样／s，计算到7次谐波能量，基频能量二分法搜索带宽为30 Hz。最大值搜索时，当能量变化小于0.1％时终止，序列运算长度1 024个采样点，使用平方汉宁(Hanning)窗减少频谱泄漏。按这些条件，对500次具有随机频偏和失真特性的输入信号进行算法仿真。结果如图1所示。　　仿真结果表明，采用上述条件时，频率计算误差控制在1 Hz以下(见图1(a))；失真度误差能控制在1％以下(见图1(b))。如果终止条件更严格，测量精度可以更高。通过仿真还发现，当基频搜索时能量变化小于0.01％时终止，失真度测量误差可小于0.1％(见图1(d))。为使失真度算法更有效率，本系统采用能量变化小于0.1％时终止。　　2数字失真度测量仪硬件结构　　该系统硬件结构如图2所示。测量仪主要由信号调理、低通滤波、数据采集系统、主控制器AVR单片机(Atmega64L)、DSP(数字信号处理器)等模块组成。　　2.1信号调理和低通滤波模块　　信号调理和低通滤波的功能是对信号的幅度进行调理和滤波。信号的输入范围是不定的，小信号信噪比较低，大信号会引起A／D转换器对信号进行限幅而失真，所以采用数控可变增益放大器对信号输出电压范围进行调整，将信号的幅度控制在A／D转换器的满幅度附近。保证A／D转换器采集到的波形数据最大值仅占A／D转换器不失真输入范围的80％。低通滤波为20 kHz低通滤波器，其0.1 dB带宽为18 kHz，能有效滤除高频信号，同时保证较好的带内平坦度。　　2.2数据采集模块　　作为电子测量仪器要得到高精度的测量结果，要求A／D转换器的精度必须足够高。系统采用了TI公司的24 bit工业A／D转换器ADS1271，它可以得到低的漂移、极低的量化噪声。经ADS1271采样后的数据由DOUT引脚串行输出，与TMS320C6713的多通道缓冲串口McBSP直接相连。McBSP可支持字长为24 bit的数据，可直接接收A／D转换器输出的24 bit串行数据，并自动将接收数据中的数据位调整为DSP需要的格式。A／D转换器采样速率为44×103次采样／s。A／D转换器的采样脉冲信号由DSP的定时器提供。　　2.3数据处理模块　　DSP模块以TMS320C6713芯片为核心。该芯片是TI公司推出的一款高性能浮点DSP，内核包含了8个功能单元，采用先进的VLIW(甚长指令字)结构，使得DSP在单周期内能够执行多条指令。在225 MHz的时钟频率下，其最高执行速度可以达到1350×106次浮点运算／s。它还集成了丰富的片内外设单元，本系统主要用到的有HPI、EDMA和定时器。　　主机接口为HPI，外部主机可以直接访问内部的存储器和存储器映像存储器，TMS320C6713的HPI通过EDMA控制器实现对DSP存储空间的访问，本系统中Atmega64L是主机，可以直接配置TMS320C6713的EDMA定时器，节省TMS320C6713的查询周期。ED-MA(增强型直接存储器访问)是C621x／C671x／C64x系列DSP特有的访问方式，其启动可以由内部或外部事件触发，本系统采用外部触发。　　2.4外围设备　　失真度测试系统的控制和结果显示通过标准RS-232接口完成。因此该数字失真度测量仪可以作为一个独立测量模块集合在其他综合测试仪中。　　2.5控制模块　　主控制器使用Atmega64L单片机，完成系统的控制。DSP的处理结果由主控制器通过HPI接口获得，并缓存在内存中；当外部命令读取测试结果时，再通过RS-232接口发送出去。控制模块还完成系统的低功耗控制、DSP运行模式等控制。　　3软件实现　　图3是TMS320C6713芯片的软件流程图。该芯片受Atmega64L控制。Atmega64L根据RS-232接口获得指令，然后根据指令参数来控制仪器的运行。TMS320C6713可执行两种操作：一种是自动测量，首先对采集数据使用过零法粗测频率，然后把粗测频率作为参数传递给失真度测量程序，由失真度计算程序完成测量；另一种是定频测量，把Atmega64L传递来的频率参数直接传递给失真度测量程序完成失真度的测量，而不需要事先测量频率。　　失真度测量程序设有一个入口参数fmiddle，以此参数为中心频率在带宽30 Hz内使用最大值搜索法找寻准确的基频频率并完成失真度计算，返回值是实际测量的基频频率、信号电平、失真度。　　DSP处理完数据后，把测试结果缓存在内存中，单片机根据指令通过HPI接口读取测试结果。　　4性能分析　　测量速度是决定仪器实用性的重要因素。每计算一次失真度，基频能量二分法最大值搜索时一般需要5～7次迭代，每次迭代含3次向量乘法(2次乘法，2次加法)，取10次迭代需要30次向量乘累加操作、生成30个W向量；剩余6次谐波计算需要6个W向量，合计36个W向量。　　W向量的生成如果采用直接调用库函数，运送量太大，而

[size=4][B][color=#DC143C]如何选配测量仪器[/color][/B][/size][center]重庆市计量测试学会主任 周兆丰[/center] 各单位在科研、生产、试验投入和提供用户服务前，依据需要对购入测量仪器进行策划和采购。目前，大多数单位购置测量仪器都严格遵守标准测量器具和被测量器具准确度比列关系（即三分之一原则），但在科研、生产和试验检测中使用的测量仪器大多数未进行测量、技术和经济特性评定，特别是有的单位仅仅满足测量仪器有无的问题，至于测量仪器是否满足预期使用要求，（如准确度、稳定性、量程和分辨力等）进行确认。因此，掌握测量仪器的选配原则、相关要求及评定方法是很有必要的，对确保测量质量、降低成本和提高效率都有好处。[B]一、测量仪器的选配原则[/B]选配时应坚持与本单位科研、生产、试验和经营相适应的原则，即要考虑仪器的先进性又不盲目追求高技术指标，还要注意经济实用，以达到“满足预期使用要求的目的”。选配决策时，应综合考虑企业、事业单位的规模、产品类型或服务对象、技术指标、工艺流程等特点。其具体原则是： 1.实用原则。坚持按被测对象的实际需要选配测量仪器，如：产品的结构、批量、技术性能参数；生产工艺过程中需要测量和监督的有关参数；化学分析中需要检测、控制和调节的参数；进料、出库、投入以及经销方面测量需要；能源计量、安全与环境监测的需要；建立计量标准开展量值传递的需要等进行配备。 2.选配测量仪器应从测量、技术、经济特性综合考虑。 （1） 测量特性 明确测量仪器的计量特性以及为确保计量特性的必要条件是： 1﹥测量仪器应具有预期使用要求的测量特性，包括准确度、稳定性、测量范围、分辨力和灵敏度等，保证测量结果可靠是首要条件。 2﹥测量仪器应能实现量值传递和量值溯源要求。测量仪器的检定或校准能符合现行有效检定规程或校准技术规范的要求。 3﹥接受检定或校准方法和对测量对象进行测量的方法要科学、合理、可行、简便。 4﹥具有合理的检定周期（或确认间隔）。 5﹥能对测量结果进行评价。

看到一些关于低场脉冲核磁共振的基础知识，跟大家分享一下，我还以为磁场强度越高的核磁共振检测效果越好呢，原来低场脉冲核磁共振也很有用途[em31]

中国教育装备采购网讯：据仪器仪表行业协会近日消息，国内电子量热仪市场近几年发展速度极快，2003年国内企业销售额约28亿元，年增长率为22.4%;2003年电子测量仪器进口额达10.05亿美元，年增长率达26.7%。“十五”期间，国家将发展信息产业提高到战略高度，以信息化带动工业化，成为信息产业发展的重要契机。信息产业的开发、生产、维护的基本手段是电子测量仪器量热仪，从而预测信息产品电子测量仪器将有较大发展，未来五年仍将保持20%的年增长率，到2008年国产电子测量仪器的销售额有望达到70亿元以上。　　此外，中国家用电器产品发展迅速，如数字电视、DVD、多媒体产品等的开发及大规模生产，将为家用电器的电子测量仪器带来较大的发展需求。　　电工测量仪器仪表　　电工测量煤质分析仪器仪表行业经过几十年的发展，已经形成了一定生产规模和能力，产品已达到一定水平，大宗产品基本能满足国内市场需求，其市场占有率在95%以上。“十五”期间，市场对高过载、长寿命、电子式、数字式产品需求增加，同时要求产品标准化、系列化、通用化和良好的性能价格比。其中感应式电度表的需求将逐步过渡到25~30年长寿命、6倍以上过载能力电度表，电子式电度表的需求也将进一步增加。同时，采用集中自动抄表系统对各用户实行远程抄表是一种发展趋势。2003年国内电工测量仪器仪表企业销售额达115.66亿元，年增长率为35.9%;2003年电工定硫仪测量仪器仪表进口额达2.15亿美元，年增长率达40.1%.未来3~5年内电工测量仪器仪表产品市场需求仍将有所增长，电工仪器仪表年需求量将超过6000万台(套)。其中：电度表产品需求4800万台，安装式电表700万台，便携式电表250万台，数字仪表150万台，其它仪表需求100万台。各产品的需求结构亦在变化，电度表产品中电子式电度表比重将逐步加大，到2008年电子式电度表比重将超过40%;安装式电表、便携式定硫仪、数字仪表的技术含量也将增加，产品水平不断升级。因而未来3~5年，尽管产品年需求总量不会有太大变化，但总销售额却会不断增加。预计未来3~5年，整个电工仪器仪表产品的销售额每年仍将增加10%，其中电力部门需求占90%，其它部门需求占10%。

1.电子测量仪的分类 电子测量仪的分类方法按不同的要求，分类不同，如按其功能，可分为下列几类。 1.1用于电量测量的仪器： 测量电流(I)、电压(V)、电功率(P)、电能(W)、电荷强度(E)等。 如：电流表、电压表、毫伏表、功率表、电能表、电荷统计计、万用表等。 1.2用于元件参数测量的仪器： 测量电阻(R)、电感(L)、电容(C)、阻抗(Z)、品质因素(Q)、损耗角tg、电子器件参数等。 如：微欧表、阻抗表、电容表、LCR测试仪、Q表、晶体管式集成电路测试仪、图示仪等。 1.3用于仪表波形测量的仪器： 测量频率(f)、周期(T)、相位(∮)、失真仪(V)、调幅(AM)、调频(FM)、谐波等。 如：频率计、石英钟、相位计、波长计、各类示波器、失真分析仪、调制度分析仪、音频分析仪、谐波分析仪、频谱分析仪等。 1.4 用于电子产品，电子设备及模拟电路和数字电路性能测试的仪器。 测量产品或设备的漏电流特性，耐压特性，频率特性，增益(K)、增减量(A)、灵敏度(S)、噪声系数(Nf)、相位特性、电磁干扰特性等。 如：漏电流测试仪、耐压测试仪、扫频仪、噪声系数测试仪、网络分析仪、逻辑分析仪、相位特性测试仪、EMC测试仪等。

厚度的测量方法有多种，总体上分为非接触式与接触式，非接触式包括射线，涡流，超声波，红外等多种类型，接触式行业中也称为机械式测厚，分为点接触式与面接触式。厚度测量仪的用途：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。　　在选择厚度测厚仪这样的机械设备时，往往都通过比较做出选择，知名品牌也是参考的一点，但是设备的质量也尤为重要。大成精密厚度测量仪就符合这两点的厂家，在国内来说，他们做的是相当不错的，自主研发生产，质量高，进一步确保了高精度，高效率，高稳定性的测量。得到了得到了消费者的大力认可。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170516/8bbeebc80b4b42248dbe8f8aabbea7dc_th.png[/img][/align]　　厚度测量仪又叫金属厚度测量仪、钢管厚度测量仪、钢板厚度测量仪、厚度测量仪价格、厚度测量仪厂家、金属超声测厚仪、超声厚度测量仪、超声测厚仪价格、数显超声测厚仪、便携式测厚仪、超声波测厚仪价格、超声波测厚仪品牌、数显测厚仪、电子测厚仪、精密测厚仪、超声测厚计、超声测厚仪器、高温测厚仪、不锈钢测厚仪、模具测厚仪、带钢测厚仪、钢结构测厚仪、压力容器测厚仪、压力罐测厚仪、金属管道测厚仪、无损测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。　　厚度测量仪哪个品牌比较好？不同类型的测厚仪，对应不一样的行业，适用范围也有所不同，那么大家在选购测厚仪时，就需要对特定的测厚仪有所了解。如在选择厚度测量仪上有需要提供产品和知识帮助的友们，欢迎来电大成精密公司来咨询。

全自动影像测量仪是在数字化影像测量仪基础上发展起来的人工智能型现代光学非接触测量仪器，其承续了数字化仪器优异的运动精度与运动操控性能，融合机器视觉软件的设计灵性，属于当今最前沿的光学尺寸检测设备。全自动影像测量仪能够便捷而快速进行三维坐标测量与SPC结果分类，满足现代制造业对尺寸检测日益突出的要求：更高速、更便捷、更精准的测量需要，解决制造业发展中的又一个瓶颈技术。全自动影像测量仪基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术，具有“点哪走哪”自动测量、CNC走位自动测量、自动学习批量测量，影像地图目标指引，全视场鹰眼放大等优异功能。同时，基于机器视觉与微米精确控制下的自动对焦过程，可以满足清晰造影下辅助测高需要(亦可加入触点测头完成坐标测高)。支持空间坐标旋转的优异软件性能，可在工件随意放置的情况下进行批量测量，亦可使用夹具进行大批量扫描测量与SPC 结果分类。全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段，具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意，拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能，依托数字化仪器高速而精准的微米级走位，可将测量过程的路径，对焦、选点、功能切换、人工修正、灯光匹配等操作过程自学并记忆。全自动影像测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程，结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能，可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点，具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位，频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来，成百倍地提高工件批测效率,满足工业抽检与大批量检测需要。最新推出的全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描测量、自动学习测量三种方式，并可将三种方式的模块叠加进行复合测量。可扫描生成鸟瞰影像地图，实现“点哪走哪”的全屏目标牵引，测量结果生成图形与影像地图图影同步，可点击图形自动回位、全屏鹰眼放大。可对任意被测尺寸通过标件实测修正造影成像误差，从而提高关键数据的批测精度。全自动影像测量仪人机界面友好，支持多重选择和学习修正，其优异的高速测量可达1500mm/min，重合精度： ±2μm，线性精度：±(3+L/150)μm。优秀性能使其在各种精密电子、晶圆科技、刀具、塑胶、精密零件、弹簧、冲压件、接插件、模具、军工、二维抄数、绘图、工程开发、五金塑胶、PCB板、导电橡胶、粉末冶金、螺丝、钟表零件、手机、医药工业、光纤器件、汽车工程、航天航空、高等院校、科研院所等领域具有广泛运用空间。SK全自动影像测量仪承续了SK数字化影像仪的以下技术特点：集CNC快速测量、CAD逆向测绘、图影管理于一身。运用了现代光学、计算机屏幕测量、空间几何运算和精密运动控制等前沿技术，是集光、机、电、软件为一体的高度智能化设备。具有三轴数控、点哪走哪、图影同步、实时校验、误差修正、工件随意放置、CNC快速测量等基础性能。具有极高的数字化程度，全部操作均由鼠标完成。柔和的三轴微米数控能力，实现“点哪走哪”、同步读数、人机合一；良好的人机界面将烦琐的操作过程有机集成，摆脱手摇时代的机械局限；实时非线性误差修正使其突破了传统设备中存在的精度与速度极限；便捷的CNC快速测量，通过样品实测、图纸计算、CNC 数据导入等方式建立CNC坐标数据，由仪器自动走向每一个目标点进行测量操作，数十倍于手摇式测量设备的工作能力下人员轻松高效。具有优异的高速性能，基于独有的高速位移传感技术，其±2um测量精度下的速度可达500mm/min，其工作效率是工具手摇式测量仪器的数十倍以上。位移驱动为0.1μm，位移解析度为0.4μm，重合精度达±2μm，线性精度±(3+L/150)μm，这些参数均优于传统设备和同类产品。具有空间几何运算能力，可以利用软件技术完成空间坐标系旋转和多坐标系之间的复杂换算，被测工件可随意放置，随意建立坐标原点和基准方向并得到测量值，同时在屏幕上呈现出标记，直观地看出坐标方向和测量点，使最为常见的基准测量变得十分简便而直观，也使分度盘这个机械时代的产物与摇柄一起成为历史。具有支持个性化的软件平台，具有图像保存、编辑、处理等图影管理功能。全新的测绘操作，可轻松描绘或导入CAD图形。还可根据客户需求扩充测量模块，从而满足个性化特点和综合测量的快速需要，使测量设备具有量身定做的软件灵魂。

（2006-9-1） 　　电子仪器是对物质世界的信息进行测量与控制的基本手段。它融合了微电子技术、计算机技术、通信技术、网络技术、新元器件新材料技术、现代测试技术、现代设计制造技术和现代工艺技术等，是现代工业产品中新技术应用最多、最快的产品之一。 近年来，我国电子测量仪器行业在经过一段沉寂后，慢慢开始复苏。 　　生产与销售大幅增长的主要有两个原因，一是市场的巨大需求，特别是通信、广播电视市场的巨大发展，引发了电子测量仪器市场的迅速增长，二是电子测量仪器行业近几年迅速向数字化、智能化方向发展，推出了部分数字化产品，因而在若干个门类品种上取得了较快增长。值得指出的是，示波器等一些市场较大的产品门类，由于国内在数字化、智能化水平上跟不上市场的要求，因而国内市场大量被国外产品所占据。 　　据中国电子仪器行业协会介绍，电子测量仪器新产品继续向数字化、软件化、智能化、宽带化、集成化、多功能化、电路专用化、误差分析模型化、测试系统模块化、高精度、高稳定性方向发展。 　　我国电子测量仪器市场已经成为世界上最具有潜力的电子测量仪器市场之一。展望未来几年，由于我国经济发展形成的巨大需求，电子测量仪器的国内市场仍将呈高速发展的趋势，特别是数字电视和通信市场的高速发展，使我国电子测量仪器行业面临着巨大的挑战和机遇。据预测，“十一五”我国数字电视的市场将达到1000亿～1500亿元/年，将对电子测量仪器产生较大的需求；与此同时，通信市场的发展速度仍然比较强劲，而国产通信电子测量仪器的市场占有率很低，因此，加快国产通信电子测量仪器的开发和商品化已经成为本行业的迫切任务。 　　面对我国高速发展的电子测量仪器市场，电子测量仪器有关企业将加快技术进步和市场开发的步伐，努力做好国内外市场的开拓工作，真正把中国的电子测量仪器产业做强做大，将更多、更好、更新的电子测量仪器产品提供给广大用户 摘自：北极星

[color=#333333]电子测量仪器及自动测试系统的新概念和新趋势[/color][color=#333333]进入21 世纪以来，科学技术的发展已难以用日新月异来描述。新工艺、新材料、新的制造技术催生了新的一代电子元器件，同时也促使电子测量技术和电子测量仪器产生了新概念和新发展趋势。本文拟从现代电子测量仪器发展的三个明显特点入手，进而介绍下一代自动测试系统的概念和基本技术，引入合成仪器的概念，以供读者参考。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333] 现代电子测量仪器的发展趋势[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　仪器性能更加优异[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　仪器的性能更加优异，测量功能更加强大，仪器的测量精度，测试灵敏度，测量的动态范围等都达到了前所未有的高度。例如，Agilent 公司的PSA 频谱分析仪的测量灵敏度高达—169dBm(接近物理界热噪声—174dBm) ， PNA 网络分析仪的动态范围高达143dB ， Agilent 83453A 高分辨率分光计分辨带宽=0.0001nm(亚皮米) (突破皮米分辨带宽的壁垒) ，Agilent 86107A 精密时基参考模块，对小于100ns 的时延，抖动为1.7ps RMS( 突破皮秒抖动瓶颈) ，DSO80000系列的示波 [/color][color=#333333][/color][color=#333333]器， 其单一A/D 芯片具有20GSa/s 实时高采样率，使之成为世界上采样率最快的示波器(40GSa/s 实时采样率，13GHz 带宽) 。另外，更多强大的测量功能被赋予单台仪表中，如Agilent 公司的8960系列无线综合测试仪(集移动手机和基站的射频测试与协议测试于一身) ； ESG/PSG矢量信号源可以灵活产生包括连续波/调幅/调频/调相/脉冲调制，全制式通信协议( GSM/EDGE/WCDMA/TD2SCDMA/CDMAOne/CDMA2000/CDMA20001X2EV/蓝牙/WLAN/PHS/PDC/NADC/DECT/TETRA等) ，任意波形及用于今后的其他信号；MSO 混合信号示波器(2/4 个模拟测量通道+16 个逻辑分析通道) 使单台仪器同时具备示波器和逻辑分析仪的功能； Infiniium示波器内装VSA 矢量信号分析软件后也成为世界上测量分析带宽最宽的矢量信号分析仪。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　仪器与计算机融为一体[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　仪器和计算机技术的前所未有的融合。首先，越来越多的仪器选用以Windows 软件和Intel 芯片为平台，采用Windows GUI 和基于军用标准的软件，用Windows 软件代替仪器内部操作软件，并易于与MS办公室应用软件连接，充分发挥其效能，如Agilent公司的仪器可用Word 语言捕获屏幕图像，用Excel语言绘制的波形数据，用Excel 语言捕获测量数据，易于自由地从互联网下载和升级最新的软件版本，利用Windows Help 提高了仪器操作学习的方便性；同时，触摸屏被广泛利用，话音控制可解决双手同时被占用时操作仪器的问题，通过网络控制仪器操作，并用基于MS Windows 和MS Visual Studio 实现测试自动化；另外，仪器内部的VBA 软件可有效地帮助实现生产过程中的测试自动化[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　其次，由于计算机技术被大量应用到仪器之中，使得仪器具备了更加先进的连通性，如Agilent 公司的仪器大都具备采用了USB 接口，LAN 接口，GPIB 接口。同时，也安装了标准光标指示器(鼠标、跟踪球、触摸键、操纵杆等)和其他部件(键盘、CD RW 驱动器、直接连结打印机的并行接口，用于外部监视器的VGA 输出，内部硬盘驱动器等) 。特别值得一提的是，在军工等特殊行业，测试数据的安全性和保密性要求格外重要，为此，Agilent 公司在仪器上设计了可卸出的硬盘(如PNA 矢量网络分析仪和Infiniium 示波器) ，使工作人员在实验室完成测试任务后，卸出硬盘，单独运输仪器至测试现场(如战地) ，再由操作人员取出随身携带的硬盘装入仪器，再进行现场测量，从而保证了数据的安全性和保密性。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　测试及仿真软件在仪器中广泛应用[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　随着计算机的运算速度和处理数据能力的不断增加，及计算机仿真技术的广泛应用，仪器的硬件和测试软件及仿真软件的结合越来越紧密。首先，硬件的模块化设计，使得通过不同的硬件模块组合配以不同的软件，从而形成不同功能的仪器和不同的测试解决方案，如Agilent 公司的DAC-J 宽带示波器86100C ，通过插入不同的模块并配以不同软件，该仪器可成为抖动分析仪，宽带示波器，数字通信分析仪，时域反射分析仪；此外，VXI 结构的测试仪器更加充分地解释了模块化结构仪器的灵活配置和应用。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　其次，软件无线电的概念已有了全新的解释和现实的应用，Agilent 公司的89601A 矢量分析软件是实现这一理念的最好例证，它利用计算机强大的数学运算和数据处理能力将大量的数字信号处理功能和数据分析功能充分展现在计算机软件之中，通过与不同的数据采集前端(如VXI 结构的矢量信号分析仪，频谱分析仪， Infiniium 数字示波器) 相结合，组合出不同功能的矢量信号分析仪。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　同时，其捕获的信号和数据分析的结果可以作为EDA 仿真软件(如Agilent 公司的ADS 高级设计仿真软件) 的数据输入来源，用于驱动ADS 高级设计仿真软件进行部件及系统级仿真；并且，ADS 高级设计仿真软件的仿真结果可送入Agilent 公司的ESG/PSG矢量信号源产生出信号通过VSA 矢量信号分析仪的捕获和分析，反过来可进行产品设计与真实产品之间的数据验证，即实现设计、仿真、测量和验证的有机结合。以Agilent ADS 高级设计仿真软件为代表的EDA 软件，通过与Agilent 公司测试仪器(包括:频谱分析仪，网络分析仪，信号源，示波器，逻辑分析仪等) 的动态链接，从而实现了测量域与仿真域的有机结合，在设计、仿真和验证之间架起了桥梁，从而加速设计，提高设计质量，完善系统及部件的半实物仿真手段，达到迅速拓展满足需要的测量解决方案的目的。 [/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　自动测试系统的发展历史和现状[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　随着测量仪器功能的不断提高和完善， [/color][color=#333333][/color][color=#333333]与其相关的自动测试系统(特别是军用ATS 测试系统) 的组建与发展也经历了从台式仪器ATS 系统到卡式仪器ATS 系统，从卡式仪器ATS 系统到卡式仪器与台式仪器混合的ATS 系统的发展过程。到目前为止，VXI 结构的仪器(主要对于大通道数的数字信号测量) 与GPIB 标准的台式仪器(主要对于性能要求严格的射频/微波信号测量) 相结合组建ATS 测试系统已成为军用ATS 测试系统普遍遵从的主流原则和典范。这与以美国为代表的军工用户在90年代提倡的采用COTS(Commercial Off-the-Shelf) 流行商用仪器来构建军用ATS 测试系统有很大关系，它可以极大地降低整个测试系统的组建、开发、维护、替换和升级的成本。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　但是，由于军工行业系统研制周期和认证周期相对较长，系统维护和需要支持的周期通常在10年至20年，而民用科技的发展日新月异，流行商用仪器的更新速度越来越快，一些COTS产品在军工行业被大规模全面使用之前就已废型和停产，对于已定型的测试系统的维护和支持成为军工客户面临的最大问题，特别是那些基于特定硬件而开发的测试软件(TPS) 的维护、支持和更新更是面临巨大的挑战。这一点在中国的客户群中也遇到了同样的问题。如何实现硬件的可互换性和软件的可互操作性成为保证整个系统生命力和生命周期的关键。与此同时，军用ATS 测试系统还要满足其可靠性、机动性和灵活性的要求，并尽可能地降低开发、维护的成本，节省人力资源，改进硬件的现场替换效率和维修中心替换效率，改进武器系统快速应对地区乃至全球支持的战略要求。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　下一代的自动测试系统[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　下一代测试技术及测试系统的标准[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　以美国为首的用户和仪器厂商近一年以来提出了一种新的测试仪器理念和技术以解决COTS 仪器带来的问题，并同时满足未来测试系统的发展要求。该技术称之为NxTest ，它就是基于LAN 的模块化合成仪器(Synthetic Instrument) 。安捷伦科技公司和VXI Technology 公司于2004年9 月为自动测试系统推出基于LAN 的下一代模块化平台标准化- LXI。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]LXI (仪器的LAN 扩展) 不仅提供了机架和堆叠式仪器的嵌入式测量技术和PC 标准I/O 连接能力，还实现了基于插卡式仪器的系统的模块化特点并减小了体积。对于为航空/国防、汽车、工业、医疗和消费电子市场开发电子产品的研发和制造工程师来说，LXI 紧凑灵活的封装、高速输入/输出和可靠的测量功能有效地满足了他们的需求。VXI 总线为所有高密度高速度应用提供了理想的标准，LXI 则同时融合了VXI 和以太网的优势，为用户提供了一个良好的高性能仪器平台，满足VXI 通常没有满足的应用需求。LXI 基于LAN 的结构为例，为在航空和国防行业中长寿命仪器的实现奠定了基础。LXI 没有带宽、软件或计算机底板结构限制。它可以利用日益提高的以太网吞吐量，为面临下一代自动测试系统挑战的工程师提供理想的解决方案。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]LXI 标准将由LXI 协会负责管理。LXI 协会是一家由主要测试测量公司组成的非营利机构。该集团的目标是开发、支持和推广LXI 标准。安捷伦科技公司和VXI Technology 公司利用其拥有悠久历史的模块化仪器设计，推出LXI 平台，这是测试系统使用的开放式标准仪器发展中必然的可行一步。由于几乎每台电脑中都内置了以太网(LAN) ，以太网已经成为业界广泛认同的通信接口。互联网硬件价格正不断下降，速度正不断提高，局域网提供了其它点到点接口标准中没有提供的对等通信。测试和测量工程师日益认识到使用高速局域网替代专有测试测量接口(如GPIB) 的好处，业内需要更低成本、更高带宽和更快的数据传送速率，这给专有测试测量接口提出了挑战。 [/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]LXI 测试测量模块是为用于设计检验或制造测试系统而优化的。连接局域网的能力使得各模块可以装在世界上任何地方，并从世界上任何地方访问模块。与采用昂贵电源、底板、控制器和MXI 卡和电缆的模块化组件不同，LXI 模块自带处理器、局域网连接、电源和触发输入。LXI 模块可以采用全宽或半宽，高度为一个机架单位或两个机架单位，实现了非常简便的混配功能。信号输入和输出位于正面，局域网和输入交流电源则位于每个LXI 模块的背面。LXI 模块由计算机控制， 不要求传统机架和堆叠式仪器配备的显示器、按钮和拨号装置。LXI模块采用标准网络浏览器诊断问题，使用IVI-COM驱动程序进行通信，简化了系统集成。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]LXI 仪器的特点[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333] LXI 仪器具备了以下五大特点：[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333](1) 开放式工业标准[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]LAN 和AC 电源是业界最稳定和生命周期最长的开放式工业标准，也由于其开发成本低廉，使得各厂商很容易将现有的仪器产品移植到该LAN-Based仪器平台 [/color][color=#333333][/color][color=#333333]上来。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333](2) 向后兼容性[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　因为LAN-Based 模块只占1/2 的标准机柜宽度，体积上比可扩展式(VXI/PXI) 仪器更小。同时，升级现有的ATS 不需重新配置，并允许扩展为大型卡式仪器(VXI/PXI) 系统。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333](3) 成本低廉[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　在满足军用和民用客户要求的同时，保有现存台式仪器的核心技术， 结合最新科技， 保证新的LAN-based 模块的成本低于相应的台式仪器和VXI/PXI 仪器。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333](4) 互操作性[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　作为合成仪器(Synthetic Instruments) 模块，只需30～40种左右的通用模块即可解决军用客户的主要测试需求。如此相对较少的模块种类，可以高效且灵活地组合成面向目标服务的各种测试单元，从而彻底降低ATS 系统的体积，提高系统的机动性和灵活性。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333](5) 新技术及时方便的引入 [/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　由于这些模块具备完备的I/O 定义文档(由军标定义) ，所以，模块和系统的升级仅需核实新技术是否涵盖其替代产品的全部功能。如此看来，合成仪器(Synthetic Systems) 将实现下述五大目标: ①非常长的产品和系统支持周期，应用软件将不再依赖于特定的硬件。②很小的系统体积，仪器不包含多余的显示、输入和其它美学设计部分。③应用清晰明确，仪器界面一致，升级快捷方便。④系统生命周期与产品生命周期保持一致。⑤供应商独立，测量硬件与测量技术没有直接联系。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　展望未来[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]　　综上所述，21 世纪的电子测量仪器随着芯片技术和DSP 技术的发展将达到前所未有的高性能，随着计算机技术与仪器的进一步融合， 仪器的易操作性，易升级性，测量能力，数据处理和分析能力，都得到了大幅度提高。与此同时，软件无线电正越来越多地被应用到各个领域， 仿真技术将为用户的设计和验证提供了更加强大和方便的工具。自动测试系统经历了从GPIB 系统到VXI 系统，从VXI 系统到VXI 与GPIB 混合系统的发展历程， 越来越多的军工用户希望拥有一种长寿命且高性能的系统标准体系来承担日益复杂的测试压力和维护成本的压力，面对未来的挑战，LXI 仪器将在继承现有测试技术的基础之上，为下一代测试技术和测试仪器，特别是ATS 测试系统的革新带来新的希望。[/color][color=#333333] [/color]

求助JJG (机械) 94-1992 数字温度测量仪检定规程

影像测量仪在行业内又被称为视频测量仪，前期习惯叫它二次元；它是将工件的投影和视频图像集合在一起，进行影像传送和数据测量的光、机、电、软件为一体的非接触式测量设备。适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域，机械、电子、仪表、五金、塑胶等行业广泛使用。　影像测量仪的分类如下：　　一.影像测量仪按原理分类　　A、手动型：手动移动工作台，影像测量仪具有多种数据处理、显示、输入、输出功能，特别是工件摆正功能非常实用；仪器备有RS-232接口，与电脑连接后，采用专用测量软件可对测绘图形进行处理及输出。　　B、全自动型：全自动光学影像测量仪是最新推出的一款光学测量仪器，专为高端全自动量测市场量身定制。大幅度减少阿贝误差，提高的测量准确度，有效保证各轴稳定性。同时引进日本伺服全闭环控制系统，采用我司最新开发的MCINS自动量测软体，具有CNC编程功能，能够大幅度提高了定位精准度及重复性、且测量速度快。　　　　二.影像测量仪按结构分类　　A、小型影像测量仪：工作台行程范围比较小，适合较小工件的检测。一般行程在150mm以内。　　B、普通型影像测量仪：工作台行程150mm—600mm之间，一般Y轴方向，行程在300mm范围内性价比是最好的。　　C、增强型影像测量仪：在普通型的基础上加探头，从而到达三维测量的效果，可以检测高度。　　D、大行程影像测量仪：大工作平台，根据客户的需求定制，奥秋目前可以制作1200mm左右行程，交货周期一般在3个月左右。

全自动影像测量仪是在数字化影像测量仪基础上发展起来的人工智能型现代光学非接触测量仪器，其承续了数字化仪器优异的运动精度与运动操控性能，融合机器视觉软件的设计灵性，属于当今最前沿的光学尺寸检测设备。全自动影像测量仪能够便捷而快速进行三维坐标测量与SPC结果分类，满足现代制造业对尺寸检测日益突出的要求：更高速、更便捷、更精准的测量需要，解决制造业发展中的又一个瓶颈技术。全自动影像测量仪基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术，具有“点哪走哪”自动测量、CNC走位自动测量、自动学习批量测量，影像地图目标指引，全视场鹰眼放大等优异功能。同时，基于机器视觉与微米精确控制下的自动对焦过程，可以满足清晰造影下辅助测高需要(亦可加入触点测头完成坐标测高)。支持空间坐标旋转的优异软件性能，可在工件随意放置的情况下进行批量测量，亦可使用夹具进行大批量扫描测量与SPC 结果分类。全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段，具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意，拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能，依托数字化仪器高速而精准的微米级走位，可将测量过程的路径，对焦、选点、功能切换、人工修正、灯光匹配等操作过程自学并记忆。全自动影像测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程，结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能，可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点，具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位，频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来，成百倍地提高工件批测效率,满足工业抽检与大批量检测需要。最新推出的全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描测量、自动学习测量三种方式，并可将三种方式的模块叠加进行复合测量。可扫描生成鸟瞰影像地图，实现“点哪走哪”的全屏目标牵引，测量结果生成图形与影像地图图影同步，可点击图形自动回位、全屏鹰眼放大。可对任意被测尺寸通过标件实测修正造影成像误差，并对其进行标定，从而提高关键数据的批测精度。全自动影像测量仪人机界面友好，支持多重选择和学习修正，其优异的高速测量可达1500mm/min，重合精度： ±2μm，线性精度：±(3+L/150)μm。优秀性能使其在各种精密电子、晶圆科技、刀具、塑胶、精密零件、弹簧、冲压件、接插件、模具、军工、二维抄数、绘图、工程开发、五金塑胶、PCB板、导电橡胶、粉末冶金、螺丝、钟表零件、手机、医药工业、光纤器件、汽车工程、航天航空、高等院校、科研院所等领域具有广泛运用空间。SK全自动影像测量仪承续了SK数字化影像仪的以下技术特点：集CNC快速测量、CAD逆向测绘、图影管理于一身。运用了现代光学、计算机屏幕测量、空间几何运算和精密运动控制等前沿技术，是集光、机、电、软件为一体的高度智能化设备。具有三轴数控、点哪走哪、图影同步、实时校验、误差修正、工件随意放置、CNC快速测量等基础性能。具有极高的数字化程度，全部操作均由鼠标完成。柔和的三轴微米数控能力，实现“点哪走哪”、同步读数、人机合一；良好的人机界面将烦琐的操作过程有机集成，摆脱手摇时代的机械局限；实时非线性误差修正使其突破了传统设备中存在的精度与速度极限；便捷的CNC快速测量，通过样品实测、图纸计算、CNC 数据导入等方式建立CNC坐标数据，由仪器自动走向每一个目标点进行测量操作，数十倍于手摇式测量设备的工作能力下人员轻松高效。具有优异的高速性能，基于独有的高速位移传感技术，其±2um测量精度下的速度可达500mm/min，其工作效率是工具显微镜或测量投影仪等手摇式测量仪器的数十倍以上。位移驱动为0.1μm，位移解析度为0.4μm，重合精度达±2μm，线性精度±(3+L/150)μm，这些参数均优于传统设备和同类产品。具有空间几何运算能力，可以利用软件技术完成空间坐标系旋转和多坐标系之间的复杂换算，被测工件可随意放置，随意建立坐标原点和基准方向并得到测量值，同时在屏幕上呈现出标记，直观地看出坐标方向和测量点，使最为常见的基准测量变得十分简便而直观，也使分度盘这个机械时代的产物与摇柄一起成为历史。具有支持个性化的软件平台，具有图像保存、编辑、处理等图影管理功能。全新的测绘操作，可轻松描绘或导入CAD图形。还可根据客户需求扩充测量模块，从而满足个性化特点和综合测量的快速需要，使测量设备具有量身定做的软件灵魂。

为了帮助客户更好地选用建筑声学测量仪器，我们根据相关标准要求，提出建筑声学测量仪器解决方案，主要包括以下内容：1 建筑声学测量总的仪器解决方案 适用建筑构件隔声测量、混响室吸声系数测量和室内混响时间测量。 建筑构件隔声测量根据传播途径的不同分为： 1）建筑构件的空气声隔声测量； 2）楼板撞击声隔声测量。 我公司提供的解决方案：选用AWA6290M型双通道分析仪、AWA5870B型功率放大器、AWA5510型12面体声源、AWA5560型标准撞击器，以及建筑声学测量软件。 与传统建筑声学仪器配置的比较： 1）设备少了许多，不再需要噪声发生器、滤波器、电平记录仪； 2）智能化程度高，由计算机直接计算各项测量指标，省力省时间； 3）混响时间测量既可以按中断声源法，也可按脉冲响应积分法； 4）同时测量出各个中心频率下的混响时间、隔声量和吸声系数，效率大大提高； 5）可以自动生成报表； 6）还可进行噪声的频谱分析等测量。如果用户需要对振动进行测量，只要增加振动测量通道和相应的软件。 7）当测量标准修订了，也可以通过软件升级或增加的办法，使它符合新标准的要求，而不需重新购买。2 测量混响时间简单解决方案 如果仅仅测量混响时间，只需选用AWA6291型实时信号分析仪，配置实时倍频程和1/3倍频程分析软件和混响时间测量软件。该配置的优点：1）使用设备非常简单，不再需要噪声发生器、滤波器、电平记录仪；2）按脉冲响应积分法测混响时间，准确性高，低频尤其明显；3）同时测量并直接计算所有频带的混响时间，省力省时间；4）该仪器还能进行噪声测量和实时倍频程和1/3倍频程分析。3 阻抗管法材料吸声系数测量解决方案 材料吸声系数的测量除了混响室法，还可采用阻抗管法。阻抗管法材料吸声系数的测量又分为： 1）驻波比法吸声系数测量方法 利用AWA6122A型驻波管吸声系数测试仪，测定垂直入射条件下吸声材料的吸声系数。测试仪软件根据测量到的峰声级值和谷声级值自动计算出吸声系数，并能生成吸声系数与频率的坐标曲线。 该方案的特点： ● 工作原理直观，尤适宜教学使用； ● 不另需要信号发生器、测量放大器、滤波器等设备； ●自动计算吸声材料各频率点的吸声系数，生成吸声系数频响曲线； ●只能一个一个频率点测量，而且要寻找波峰和波谷点，费时费力。 2）传递函数法测量吸声系数 选用AWA6290M型双通道分析仪或AWA6290B型四通道分析仪，相位配对的1/4″测量传声器和AWA14634E前置放大器，加上AWA8551系列阻抗管，配置信号发生软件、1/3 OCT分析软件、FFT 分析软件、传递函数吸声系数测量软件和四传声器隔声测量软件。不同测量要求选择选择不同配置。 该方案的特点： ●是一种更为方便、快捷、操作误差小、测量结果一致性好的吸声系数和声阻抗的近代测量技术； ●同时测量并计算所有频率点的吸声系数，生成吸声系数频响曲线； ●采用4传声器法还可测量材料的隔声系数； ●设备比较复杂，价格相对较高。

[align=center]2024年全球及中国电子测试测量仪器行业发展趋势和现状研究[/align][align=center]陈昕[/align][align=center](广州思林杰科技股份有限公司 市场总监)[/align]前言：电子测试测量仪器是利用电子技术来进行测量的装置，是电子制造、电子设计、电子应用等领域不可或缺的工具。随着电子技术的不断发展，电子测试测量仪器的技术水平也不断提高，应用范围也不断扩大。电子测试测量仪器的广泛应用涉及通信、半导体、医疗、能源等多个领域，其性能和技术水平直接关系到各行业的科研、生产和服务水平。在全球范围内，这一领域正经历着巨大的变革，从而催生出新的机遇和挑战。近年来，全球及中国电子测试测量仪器行业保持稳步增长态势。在全球经济发展、工业技术水平提升背景下，全球电子测试测量仪器市场规模持续增长，预计到2025年，全球电子测试测量仪器行业市场规模将增长至172.72亿美元。中国电子测试测量仪器行业市场规模近年来也保持快速增长态势，2022年中国电子测试测量仪器行业市场规模为381.6亿元人民币，预计2023年将逐步扩大至410.4亿元人民币。在我国利好政策驱动下，智能制造、5G通信、汽车电子等下游产业快速发展，电子测试测量仪器行业也实现了快速增长。未来，全球及中国电子测试测量仪器行业将呈现以下发展趋势：[b]智能化[/b]：电子测试测量仪器将向智能化方向发展，以满足工业制造智能化、自动化的需求。智能化电子测试测量仪器将具有更强的自动化、网络化、可视化等功能，能够实现更高效、更精准的测试。[b]集成化[/b]：电子测试测量仪器将向集成化方向发展，以满足工业制造小型化、轻量化的需求。集成化电子测试测量仪器将多种功能集成到一个平台上，能够实现更便捷、更灵活的测试。[b]虚拟化[/b]：电子测试测量仪器将向虚拟化方向发展，以满足工业制造虚拟化、仿真化的需求。虚拟化电子测试测量仪器将通过计算机模拟实现测试，能够实现更安全、更高效的测试。本文章将对全球及中国电子测试测量仪器行业的发展现状、发展趋势及竞争格局进行深入分析，并对行业发展趋势进行展望。[b]1. 电子测试测量技术/仪器的发展历史[/b]电子测试测量技术和仪器的发展历史可以追溯到电子产业的早期阶段，随着电子技术的不断进步和应用领域的拓展，测试测量仪器在推动科技进步和确保电子设备性能的过程中发挥了关键作用。电子测试测量技术/仪器的发展历史可以追溯到19世纪初，以下是电子测试测量技术和仪器的发展历史中一些关键阶段：1820年，德国物理学家Johann Schweigger发明了检流计，这是世界上第一台电子测试仪器。检流计可以用来测量电流强度。1887年，爱迪生发明了真空管，这是电子测试测量技术发展的一个重要里程碑。真空管可以用来放大电信号，这使得电子测试仪器的测量精度和灵敏度得到了大幅提高。20世纪初，电子测试仪器的发展进入了快速发展阶段。1920年，美国的贝尔实验室发明了示波器，这是世界上第一台能够显示电信号波形的仪器。示波器的出现，极大地提高了电子测试技术的水平。20世纪中叶，电子技术的快速发展，推动了电子测试测量仪器的进一步发展。1956年，美国的Tektronix公司发明了数字示波器，这是世界上第一台能够显示数字电信号的仪器。数字示波器的出现，使得电子测试技术更加精准和灵活。20世纪70年代，集成电路技术的出现，使得电子测试测量仪器更加小型化和低成本。1976年，美国的Agilent公司推出了世界上第一台数字存储示波器，这是世界上第一台能够存储电信号波形的仪器。数字存储示波器的出现，使得电子测试技术更加便捷和高效。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/d34b9162-414b-4296-88bc-8d2590a7b8e3.jpg[/img][/align][align=center][b]Tektronix 547型示波器[/b] （图片来源 Lazy Electrons，产品来源Tektronix）[/align]随着技术应用发展，电子测试测量技术/仪器广泛应用于电子制造、电子设计、电子应用等领域。电子测试测量技术/仪器的发展，为电子技术的进步和应用提供了重要支撑，如：[b]1. 半导体技术的崛起（1950年代 - 1960年代）：[/b]o 集成电路（IC）的出现推动了测试测量技术的发展，测试复杂度大大提高。o 数字化测试技术开始兴起，数字化示波器、逻辑分析仪等成为主流。[b]2. 微处理器和计算机时代（1970年代 - 1980年代）：[/b]o 随着微处理器的普及，测试测量设备越来越依赖于计算机控制和数据处理。o 自动测试设备（ATE）开始流行，提高了测试效率和精度。[b]3. 高性能和高频率测试（1990年代至今）：[/b]o 通信技术的迅猛发展推动了对高频、高速数字信号的测试需求，射频测试、高速数字通信测试等成为焦点。o 高性能、高灵敏度、高精度的仪器不断涌现，以满足现代电子设备复杂性的测试需求。[b]4. 物联网和5G时代（21世纪）：[/b]o 物联网和5G技术的崛起带动了对更高频率、更大带宽的测试需求，尤其是在通信和无线领域。o 智能化、云端化等技术的融入使得测试数据的处理和分析更为高效。[align=center][img=,600,355]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/d8a324a8-b670-4534-b1fb-2ac078b8eaa7.jpg[/img][/align][align=center][b]芯片测试系统[/b] (图片来源：Teradyne，产品来源：Teradyne、Litepoint)[/align]未来，电子测试测量技术/仪器的发展将继续保持快速增长态势。随着智能制造、5G通信、人工智能、量子计算、新型材料等技术的进步，电子测试测量技术/仪器将向智能化、集成化、虚拟化等方向发展。[b]2. 以思林杰的发展历程看行业的时代变迁[/b]广州思林杰科技股份有限公司（后简称“思林杰科技”）成立于2005年，是一家领先的测试测量技术与方案提供商。思林杰科技从2010年开始进入自动化测试行业；2013年推出第一代基于ARM+DSP的仪器模块应用于消费类电子产品生产测试场景；2014年推出第二代 ARM+FPGA 仪器模块平台并推向市场；2019年发布第三代嵌入式仪器平台并投入市场，得到国内外多个知名厂商的批量使用并获得好评；2021推出 Nysa 模块化仪器平台与Archon SDK平台；2022年完成IPO登陆上交所科创板；2023年聚焦在高精密、高速及射频测试测量方向发力，实现更高端测量仪器的样机研发。思林杰科技近年来获得国家第四批专精特新“小巨人”企业，广东省高新技术企业，成立院士专家工作站，并与多所高校建立联合实验室。[align=center][img=,800,376]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/8d626d5c-e1b5-47ed-bb4d-1bbaa6b179a3.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰科技发展历程[/b][/align]思林杰科技进入测试测量领域，顺应了行业发展和时代变迁。可穿戴消费类电子产品设备结构非常精密，测试测量的需求规格高，并需要多台仪器设备的组合才能完成各种信号的采集和激励，譬如传感器端的高灵敏度微弱信号，高速的数字信号，射频频段的信号录播与回放，电源的电压电流数据采集分析等。最开始，客户在研发阶段用了多台传统仪器进行测试系统搭建进行原型机验证与测试，NPI 转产时，客户寻求更高效的测试解决方案，我们和客户一起深入讨论需求和应用场景，自研了基于 FPGA 控制器架构，在自研总线上搭载了多种类型的仪器模块，FPGA控制器与仪器模块间通过底层自研总线互联，采集与激励的信号处理通过 FPGA 数字逻辑进行并行处理与算法加速。得益于选择了异构处理的 FPGA 架构，内部集成了ARM处理器，测试用例的调度、测试结果的判定都在同一颗 FPGA 芯片内完成，测试效率得到了很大的提升，同时在体积、成本上也满足了客户转产的需求。经过多个迭代，思林杰科技发布了Nysa模块化仪器平台：有基于嵌入式架构的板卡形态，体积紧凑易于集成到设备里；有基于插卡式架构的仪器形态，多类型仪器可简单插拔配置相应固件就可完成测试系统的搭建，适用于研发和NPI的原型机验证测试阶段；同时思林杰科技有强大的按需定制能力，可以为客户定制各类综合测试仪和解决方案。[align=center][img=,600,339]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/8e755e19-c44e-40df-a853-be9507d4c4f5.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 Nysa 模块化仪器与 Archon 测试系统管理软件[/b][/align]随着客户对测试测量需求的不断提升，思林杰科技继续完善Nysa仪器模块库，推出了面向高精密测量、高速数字信号测试测量与射频信号测试与处理的解决方案。测试测量解决方案覆盖从验证-试产-量产完整产品周期，与国际领先客户进行深度合作和获得高度认可，其解决方案广泛用于各消费类电子产品原型机测试、NPI、产线测试。近年来，思林杰基于FPGA搭配各类型AD/DA和传感器解决方案开始进入工业、生物医疗、芯片产业等应用场景，有的作为客户产品各阶段的测试测量解决方案，有的甚至作为关键零部件集成到客户产品内部，加深了与客户的紧密合作，对行业发展和对测量需求的提升都有了更深刻的理解。思林杰科技拥有超过200人的专业研发团队，自身具有制造与装配生产线，可保证质量与及时交付，并已通过IS09001,14001和27001等认证，运作成熟规范。[b]3. 全球及中国电子测试测量仪器市场规模及现状[/b]全球电子测试测量仪器市场规模近年来保持稳步增长态势，2022年全球电子测试测量仪器行业市场规模扩大至146.10亿美元。在全球经济发展、工业技术水平提升背景下，全球电子测试测量仪器市场规模持续增长，预计到2025年，全球电子测试测量仪器行业市场规模将增长至172.72亿美元。[align=center][img=1.png,600,351]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/83974d94-9f2f-4e46-874f-7eaa9e377867.jpg[/img][/align][align=center]数据来源：FROST&SULLIVAN[/align]从区域发展情况来看，欧美等发达国家和地区的电子测试测量仪器行业起步早，上下游产业链基础较好，市场规模较大，市场需求以产品升级换代为主，市场将保持中高速增长 而以中国和印度为代表的亚太地区，处于产业转型升级及新兴市场快速发展阶段，对电子测试仪器的需求潜力大，市场规模将以较高的增速增长。[b]中国电子测试测量仪器市场规模[/b]中国电子测试测量仪器行业市场规模近年来也保持快速增长态势，2022年中国电子测试测量仪器行业市场规模为381.6亿元人民币，预计2025年将逐步扩大至410.4亿元人民币。在我国利好政策驱动下，智能制造、5G通信、汽车电子等下游产业快速发展，电子测试测量仪器行业也实现了快速增长。[align=center][img=1.png,600,351]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/d09ecc8e-469c-4521-ac84-96ee09073dca.jpg[/img][/align][align=center]数据来源：FROST&SULLIVAN[/align][b]市场规模增长驱动力[/b]全球及中国电子测试测量仪器市场规模的增长主要由以下因素驱动：电子技术的不断发展，推动了电子产品的快速迭代，对电子测试测量仪器的需求不断增加。智能制造、5G通信、人工智能等新兴技术的快速发展，对电子测试测量仪器提出了更高的要求。政府政策的支持，鼓励企业进行技术创新和产业升级，推动了电子测试测量仪器行业的发展。[b]市场竞争格局[/b]全球电子测试测量仪器行业市场格局相对集中，CR5约为45%。其中是德科技、罗德与施瓦茨、泰克、美国国家仪器等海外厂商占据市场主导地位。我国电子测试测量仪器行业起步相对较晚，在技术上与国外优势企业仍有一定的差距。近年来，我国电子测试测量仪器行业发展迅速，涌现出一批具有竞争力的企业。[b]行业发展趋势[/b]未来，全球及中国电子测试测量仪器行业将呈现以下发展趋势：智能化：电子测试测量仪器将向智能化方向发展，以满足工业制造智能化、自动化的需求。智能化电子测试测量仪器将具有更强的自动化、网络化、可视化等功能，能够实现更高效、更精准的测试。集成化：电子测试测量仪器将向集成化方向发展，以满足工业制造小型化、轻量化的需求。集成化电子测试测量仪器将将多种功能集成到一个平台上，能够实现更便捷、更灵活的测试。虚拟化：电子测试测量仪器将向虚拟化方向发展，以满足工业制造虚拟化、仿真化的需求。虚拟化电子测试测量仪器将通过计算机模拟实现测试，能够实现更安全、更高效的测试。[b]4. 思林杰主推产品介绍思林杰科技目前产品主要方向：NYSA模块化仪器平台、高精确度测量、高速信号采集与处理、射频信号测量。[/b]NYSA 模块化仪器平台基于 FPGA 控制器， 搭配丰富灵活的仪器模块， 如万用表、示波器、 信号发生器、 数据记录仪、 音频分析仪等，涵盖了高精度信号、 高速与射频信号测试测量与处理， 提供了从验证到试产到量产的全过程测试测量技术与解决方案，同时与国际领先客户达成深度合作并获得高度认可。 其中嵌入式形态结构紧凑， 方便内嵌设备； 插卡式仪器整机不仅可用于原型开发，也可作为多功能仪器使用；独立式仪器小巧紧凑， 可作为单?功能的仪器使用； 综测仪提供了多功能完整产线测试整机形态，方便部署于产线测试。[align=center][img=,600,375]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/f17b4e21-1207-4830-85f5-bae10e05dd8a.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 NYSA 嵌入式模块化仪器平台[/b][/align]Archon 是思林杰科技自主研发的测试系统管理软件，具备图形化低代码方式开发管理运行测试用例和测试计划的功能，支持实时查看测试数据、自定义数据报表模板和可视化数据分析，并为与其他企业系统的连接提供可扩展的插件。Archon 广泛应用在消费电子、军工和芯片测试领域， 降低测试用例开发管理难度，提高生产测试效率。Nysa Toolkit 是 Archon的辅助固件生成工具。其根据不同的项目需求， 可以选择对应的仪器模块并连接到控制模块上，自动生成固件；同时也是 Nysa 系列仪器的管理工具，可以对嵌入式、 插卡式及独立式的 Nysa 仪器集中管理， 可以动态生成仪器的固件，并下载到仪器中。对于不同的仪器模块，显示相应的虚拟仪表界面，方便用户调试。[align=center][img=,800,237]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/ead5ebbb-8bf6-4191-90db-f1ac747cdb5d.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 Archon 测试系统管理软件[/b][/align]近期除了NYSA模块化仪器平台和Archon测试系统管理软件，思林杰科技基于最新的FPGA技术和各类AD/DA解决方案，推出了面向高精度测量、高速信号采集与处理、射频信号测量等解决方案。[b]在高精度测量方面，思林杰科技近期推出了SG2165 SMU和SG2350 LCR。[/b]其中，SG2165 精密型源测量单元（SMU）能够实现四象限操作，精确地输出电压或电流以及同时测量电压、电流和电阻等功能。 它集成了六位半数字万用表 (DMM) 、五位半精密电压源、电流源、电?负载和脉冲发生器的功能，具有功能丰富，体积小巧紧凑，标准测试接口等特点，非常适合集成到测试治具中。 SG2165 源测量单元平台主要用于半导体、传感器、模组等 IVR 测试测量。 其为产线测试量身定制，为产线自动化 ICT 及 FCT 提供高效、高性价比的测试测量解决方案。[align=center][img=,600,338]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/eab2fcd3-4828-4a8c-8ca1-d9d8688a3cd2.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG2165 精密型源测量单元（SMU）[/b][/align]SG2350 LCR 阻抗测试平台是?款精密型 LCR 表，其基本测量精度可达 0.1%，且支持多种测试激励模式，拥有 20 Hz 至 2 MHz 连续可调的宽范围测试频率，和 0 至 2 Vrms 或者 0 至20 mArms 连续可调的测试电平，并且具备可调最大 2 V 的直流偏置功能；使用该平台可测试多种阻抗参数，测量精准的同时，可实现最快 5 ms 的测量速度，其紧凑、模块化的设计为产线元器件，材料，半导体，MEMS 等阻抗参数测试测量提供了高性价比的选择。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/c69ee238-6349-445c-ae97-d83823bc4b09.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG2350 LCR 阻抗测试平台[/b][/align][b]在高速信号采集与处理方面，思林杰发布了一系列的DAQ数据采集方案与产品和高速总线分析解决方案。[/b]DAQ 数据采集其核心架构由模拟前端 （AFE）、模数转换器 （ADC）、现场可编程门阵列 (FPGA) 及触发(Trigger) 组成。 通过 AFE 对模拟信号进?信号调理后经过核心组件 ADC 实现对模拟信号的数字量化编码，最终通过 FPGA SoC 进行数字信号的采集、处理、分析和存储转发，并可支持内部及外部触发采样模式。其中，FPGA基于Xilinx Zynq 7000系列和UltraScale+系列，采集速率涵盖250KSPS/24bits到5GSPS/8bits等各速率和分辨率解决方案。DAQ数据采集产品有三种产品形态，如数据采集模块、数据采集卡及数据采集盒子三种数据采集系统，方便根据客户需求选择合适的产品形态和提供丰富的解决方案。DAQ 产品主要用于电气、物理、机械、声学和信号路由等应用，可以表征产品、监控过程或产品、以及控制测试过程，在科学研究、工业自动化和测试测量领域起着关键的作用。[align=center][img=,800,222]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/003d1563-4aec-481a-8d21-6c5dcbe65522.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG1227 PCIe 高速采集卡 思林杰 SG2168 高速采集盒[/b][/align]在高速总线分析方面，思林杰科技推出了MIPI D-PHY、C-PHY、RFFE、SPMI、I3C、USB-C、Displayport等高速信号采集、发生与处理解决方案，并可基于FPGA SerDes进行PRBS误码率测试，基于BERT进行高速眼图重构，为高速数据线缆测试、高速连接器测试、高速信号链路测试提供了高效高性价比的信号质量评估测试方案。[align=center][img=,1200,266]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/1fd432a0-7ec8-4cf1-8d6f-f51473f3b3a7.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG2153 MIPI Tester PRBS 眼图、误码率&抖动容限分析[/b][/align][b]在射频信号测量方面，思林杰发布了VNA矢量网络分析仪和SDR软件无线电平台。[/b]SG2163 型矢量网络分析仪（ VNA ）是?款四端口8.5GHz频段的射频测量仪器，其能够提供射频信号传输特性和反射特性的测量。本产品由主机单元和基于 Windows 系统的控制与显示界面组成，数据传输采用千兆以太网接口。其广泛应用于微波器件，材料科学，电子通信等基础行业和领域的射频研发测试与生产制造。[align=center][img=,600,316]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/7b832b75-e3f2-4536-9969-c9229591c5c6.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG2163 矢量网络分析仪（ VNA ）[/b][/align]SG2277 是?款基于软件无线电技术的射频测试平台。 该平台集主控处理器、FPGA 和射频前端于?体，最多支持 8 个通道的信号生成、8 个通道的信号采样及频谱分析功能。平台有射频直采和上下变频解决方案，覆盖到6.5 GHz频段，该功能使平台在许多场景的应用中更加灵活。[align=center][img=,600,481]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/012045ba-4e00-42a8-bf4b-b9f866cce066.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG2277 射频测试平台（ SDR ）[/b][/align][b]5. 思林杰产品主要应用场景[/b]思林杰科技NYSA模块化仪器最开始应用于消费类电子产品线测试。典型的消费类电子产品FCT测试系统需要若干台传统仪器进行系统搭建，如示波器、信号源、数字万用表、音频分析仪、时序测试仪、程控电源、电子负载、频率计、FW烧写器、数字IO逻辑分析仪、通信接口扩展器、开关与切换等，有的功能由于传统仪器没有现成解决方案或成本高，甚至需要定制化实现。因此，由于消费类电子产品更新速度快、技术应用周期短，基于传统标准仪器的解决方案不能高效满足FCT测试需求，其需要涵盖多类型仪器的测试系统搭建与调试，难度高，周期长，行业内缺乏定制化功能交钥匙解决方案，成本高、体积大、UPH效率低。为了解决消费类电子产品FCT测试这个行业痛点，思林杰科技推出了NYSA模块化仪器的FCT解决方案。其解决方案基于FPGA SOC（ARM+FPGA）控制器，通过底层自定义总线与模块化仪器并行互联。其中FPGA的数字逻辑层，可进行采集和激励信号的处理和算法加速，数字信号的测试测量和一些解决方案的逻辑层面定制，如频率计、FW烧写器、通信接口扩展、数字IO逻辑和总线分析；FPGA的ARM处理器可运行RTOS或Linux，运行Archon测试系统对仪器模块和信号的管理、进行测试序列的执行和测试结果处理和上传。同时，思林杰科技积累了丰富的仪器模块库，如示波器系列、信号源系列、数字万用表系列、音频分析仪系列和相应的IP库，可通过对现有仪器模块选择进行FCT测试系统的搭建。在同等机柜体积下，嵌入式模块化仪器相对于传统标准仪器可以实现总效率、并行通道数、读取、切换、上传效率、测试速率的提高，测试系统体积的大幅减小，总成本的大幅降低。[align=center][img=,1200,638]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/4036335b-73c0-409a-b4b0-e39e1b7b512a.jpg[/img][/align][align=center][b]基于标准仪器的传统 FCT 产线测试方案 思林杰NYSA嵌入式仪器模块FCT产线测试方案[/b][/align]近年来，NYSA模块化仪器除了在消费类电子产品测试FCT站点大规模部署和应用外，在ICT、模组测试甚至芯片测试阶段也开始用NYSA模块化仪器解决方案进行测试系统的搭建，此外也有越来越多的客户在研发阶段的原型机测试、NPI小批量转产验证测试使用此解决方案。在其他行业，如生物医疗、新能源等领域，思林杰科技也基于FPGA和最新的AD/DA解决方案，提供核心模块的研发、验证、批量生产服务，譬如基于FPGA的卷积、反卷积、积分等算法处理与加速，生物医疗传感器微弱信号的共模噪声抑制和降噪处理，高压信号与激光信号的激励与处理，AI视觉检测与成像处理系统等。这些方案与模块除了应用于产品测试领域，更广泛的应用于客户产品核心模块的测量领域，思林杰科技提供了全过程产品研发、验证、批量生产测试交付服务。[align=center][img=,1200,638]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/d341c74d-407c-4238-a89b-07796861366a.jpg[/img][/align][align=center][b]生物医疗应用：微生物质谱检测系统应用 新能源应用：激光测风雷达[/b][/align][b]6. 未来电子测试测量技术/仪器发展趋势[/b][align=center][img=,600,400]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/e6ef2360-1f51-43da-823c-9c3a51c767b6.jpg[/img][/align][align=center][b]智慧工厂[/b][/align]未来电子测试测量技术和仪器的发展趋势涉及多个方面，其中包括：[b]高集成度和多功能性[/b]： 未来的测试测量仪器很可能会越来越集成多种功能，以适应复杂系统和设备的测试需求。高度集成甚至多学科融合的仪器可以提高测试效率和减少测试成本。[b]宽频带和高速度[/b]： 随着通信和数据传输速度的不断提高，测试仪器需要具备更高的频带和速度来适应新兴技术和标准，如5G通信、物联网和高速数字总线。[b]自动化和智能化[/b]： 自动化在测试领域一直是一个重要的趋势。未来的仪器很可能会更加智能，具备自动识别、配置和执行测试任务的能力。机器学习和人工智能技术可能会应用于测试数据分析和故障诊断。[b]量子技术的应用[/b]： 随着量子技术的发展，未来的测试测量仪器可能会受益于量子传感器和量子计算的应用。这可能导致更高的精度和灵敏度。[b]更小型化和便携性[/b]： 随着设备越来越小型化，测试仪器也需要变得更小巧轻便，以适应便携性需求。这对于现场测试和移动设备的测试非常重要。[b]绿色技术[/b]： 环保和能源效率是未来技术发展的关键方向之一。测试仪器可能会采用更为节能和环保的设计，以减少对环境的影响。[b]云服务和远程访问[/b]： 云服务和远程访问技术的发展使得测试数据的存储、管理和分析更加便捷。未来的测试仪器可能会更加集成云服务，实现远程访问和协作。[align=center][img=,600,318]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/08791105-58bd-4737-8e29-c18f181414a2.jpg[/img][/align][align=center][b]AI 人工智能[/b][/align]总体而言，未来电子测试测量技术和仪器的发展趋势将在高度集成、自动化、智能化、便携性和环保方面取得进展，以适应不断变化的技术和市场需求。随着人们对生活品质需求的提升、新技术应用的产品导入，测试测量市场将保持高速发展趋势，测试测量市场规模将越来越大，各芯片厂商、仪器仪表厂家、测试测量方案集成商将在此市场拥有很好的发展空间，结合市场需求和自身产品、解决方案优势持续迭代，获得长远发展。[b]作者简介[/b]陈昕(1982)，男，2006英国约克大学获得通信工程硕士学位，毕业后分别从事基于FPGA的通信系统设计与研发、FPGA芯片系统应用、电子测试测量系统与应用设计与市场发展主管，现任思林杰科技市场总监、北美与线上营销总监。[来源：仪器信息网] 未经授权不得转载[align=right][/align]

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=113818]高精度数字失真度测量仪的设计[/url]

随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。