数字式碳化深度测试仪

多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原 FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-4～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原

HTH-180型混凝土碳化试验箱 HTH-180型混凝土碳化试验箱是进行混凝土碳化试验的专用设备，本产品符合GBJ82-85《混凝土长期耐久性试验》和DL/T5150-2001水工混凝土试验规程中碳化试验设备的要求。本机采用原装进口的二氧化碳传感器，本传感器采用红外探测原理，结合国内的先进数字式仪表，具有使用精度高、寿命长的特点；温湿度传感器是采用国内先进的极成感应模块加多通道智能仪表组成。本产品具有控制精度高，操作简单，箱内温、湿、浓度直观数显和定时打印记录的特点。 一、将经过处理的试件放入碳化箱内的铁架上，各试件经受碳化的表面之间的间距至少应不少于50毫米。二、将碳化箱盖严密封。密封可采用机械办法或油封，但不得采用水封以免影响箱内的湿度调节。开动箱内气体对流装置，徐徐充入二氧化碳，并测定箱内的二氧化碳浓度，逐步调节二氧化碳的流量，使箱内的二氧化碳浓度保持在20±3%。在整个试验期间可用去湿装置或放入硅胶，使箱内的相对湿度控制在70±5%的范围内。碳化试验应在20±5℃的温度下进行。三、每隔一定时期对箱内的二氧化碳浓度，温度及湿度作一次测定。一般在*、二天每隔两小时测定一次，以后每隔4小时测定一次。并根据所测得的二氧化碳浓度随时调节其流量。去湿用的硅胶应经常更换。四、碳化到了3、7、14及28天时，各取出试件，破型以测定其碳化深度。棱柱体试件在压力试验机上用劈裂法从一端开始破型。每次切除的厚度约为试件宽度的一半，用石腊将破型后试件的切断面封好，再放入箱内继续碳化，直到下一个试验期。如采用立方体试件，则在试件中部劈开。立方体试件只作一次检验，劈开后不再放回碳化箱重复使用。五、将切除所得的试件部份刮去断面上残存的粉末，随即喷上（或滴上）浓度为1%的酚酞酒精溶液（含20%的蒸馏水）。经30秒钟后，按原先标划的每10毫米一个测量点用钢板尺分别测出两侧面各点的碳化深度。如果测点处的碳化分界线上刚好嵌有粗骨料颗粒，则可取该颗粒两侧处碳化深度的平均值作为该点的深度值。碳化深度测量至1毫米。混凝土在各试验龄期时的平均碳化深度应按下式计算，到0.1毫米： 式中：dt——试件碳化t天后的平均碳化深度（毫米）；di——两个侧面上各测点的碳化深度（毫米）；n——两个侧面上的侧点总数。HTH-180型混凝土碳化试验箱以在标准条件下（即二氧化碳浓度为20±3%，温度为20±5℃，湿度为70±5%）的3个试件碳化28天的碳化深度平均值作为供相互对比用的混凝土碳化值，以此值来对比各种混凝土的抗碳化能力及对钢筋的保护作用。以各龄期计算所得的碳化深度绘制碳化时间与碳化深度的关系曲线，以表示在该条件下的混凝土碳化发展规律。无棱柱体试件时，也可用立方体试件代替，但其数量应相应增加。控制温度：15-30℃ 精度：0.5℃ 均匀性：≤1℃ 控制湿度：50-90% 精度：3% 均匀性：≤2%CO2 浓度：0-100 % 精度：1% 均匀性：≤1%长宽高：内：900mm×600 mm×600 mm 3层 外：1.8m×0.75m×1.2m普通混凝土长期性能和耐久性能试验方法 GBJ82—85公司主营产品：冷热冲击试验箱、恒湿恒湿试验箱、高低温试验箱、步入式温湿交变试验室、高低温湿热交变试验机、高温老化房、快速温变试验箱、高低温低气压试验箱、PCT高压加速老化试验箱、紫外线耐候老化试验箱、氙灯耐候老化试验箱、耐寒折弯试验箱、砂尘试验箱、淋雨试验箱、臭氧老化试验箱、换气老化试验箱、恒温鼓风干燥试验箱、太阳光伏组件试验箱、振动试验机、跌落试验箱、拉力试验机等可靠性试验设备以及定做非标机型。

数字式绝缘电阻测试仪 温度影响温度对不同物质的电阻值均有不同的影晌。导电体 在接近室温的温度，良导体的电阻值，通常与温度成线性关系：ρ=ρ0(1+αt)上式中的 a 称为电阻的温度系数。未经掺杂的半导体的电阻随温度升高而下降：有掺杂的半导体变化较为复杂。当温度从零度上升，半导体的电阻先是减少，到了绝大部分的带电粒子 （电子或电洞/空穴） 离开了它们的载体后，电阻会因带电粒子的活动力下降而随温度稍为上升。当温度升得更高，半导体会产生新的载体 （和未经掺杂的半导体一样） ，原有的载体 （因渗杂而产生者） 重要性下降，于是电阻会再度下降。绝缘体和电解质 绝缘体和电解质的电阻与温度的关系一般不成比例，而且不同物质有不同的变化，故不在此列出概括性的算式概述 本仪器既可测量超高电阻，又可测极微弱电流。具有精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便, 适用于防静电产品 如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外，还能直接测量电流如电子器件暗电流等。 符合标准：GB/T 1410-2006 固体绝缘材料 体积电阻率和表面电阻率试验方法GB 12014 防静电工作服GB/T 20991-2007 个体防护装备 鞋的测试方法GB 4385-1995 防静电鞋、导电鞋技术要求GB 12158-2006 防止静电事故通用导则GB 4655-2003 橡胶工业静电安全规程GB/T 12703.4-2010 纺织品 静电性能的评定 第4部分 电阻率GB/T 12703.6-2010 纺织品 静电性能的评定 第6部分 纤维泄漏电阻GB 13348-2009 液体石油产品静电安全规程GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法GB/T 18044-2008 地毯 静电习性评价法 行走试验GB/T 18864-2002 硫化橡胶 工业用抗静电和导电产品 电阻极限范围GB/T 22042-2008 服装 防静电性能 表面电阻率试验方法GB/T 22043-2008 服装 防静电性能 通过材料的电阻（垂直电阻）试验方法GB/T 24249-2009 防静电洁净织物GB 26539-2011 防静电陶瓷砖 Antistatic ceramic tilesGB/T 26825-2011 抗静电防腐胶GB 50515-2010 导（防）静电地面设计规范GB 50611-2010 电子工程防静电设计规范GJB 105-1998-Z 电子产品防静电放电控制手册GJB 3007A-2009 防静电工作区技术要求GJB 5104-2004 无线电引信风帽用防静电涂料及风帽静电性能通用要求标准配置：1,测试仪器：1台2,电源线：1条3,测量线：3根（屏蔽线,测试接线,接地线）4,使用说明书：1份5，电极：1套参数：01电阻测量范围1×104Ω ～1×1018 Ω 02电流测量范围2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ 03显 示 方 式数字液晶显示 04 测试电压（V） DC—10VDC—50VDC—100VDC—500VDC—1000V（任意切换） 05基本准确度1% (*注) 06使用环境温度：0℃～40℃，相对湿度80% 07供电形式AC 220V，50HZ，功耗约5W 08仪器尺寸285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm 09仪器质量约5KG注意事项仪器使用前请仔细阅读以下内容，否则将造成仪器损坏或电击情况。1.检查仪器后面板电压量程是否置于10V档，电流电阻量程是否置于104档。2.接通电源调零，（注意此时主机不得与屏蔽箱线路连接）在“Rx”两端开路的情况下，调零使电流表的显示为0000。然后关机。3.将待测试样平铺在不保护电极正中央，然后用保护电极压住样品，再插入被保护电极（不保护电极、保护电极、被保护电极应同轴且确认电极之间无短路）。 4.测体积电阻时测试按钮拨到Rv边，测表面电阻时测试按钮拨到Rs边，5.接好测试线，将测试线将主机与屏蔽箱连接好。量程置于104档，打开主机后面板电源开关按钮。从仪器后面板调电压按钮到所要求的测量电压。(比如：GBT 1692-2008 硫化橡胶 绝缘电阻率的测定 标准中注明要求在500V电压进行测定，那么电压就要升到500V)6.电流电阻量程按钮从低档位逐渐拨档，每拨一次停留1-2秒观察显示数字，当被测电阻大于仪器测量量程时，电阻表显示“1”，此时应继续将仪器拨到量程更高的位置。测量仪器有显示值时应停下，在1min的电化时间后测量电阻，当前的数字乘以档次即是被测电阻。7.测试完毕先将量程拨至（104）档，然后将测量电压拨至10V档， 后将测试按钮拨到中央位置后关闭电源。然后进行下一次测试。8.应在“Rx”两端开路时调零，一般一次调零后在测试过程中不需再调零。9.禁止将“RX”两端短路，以免微电流放大器受大电流冲击。10.不得在测试过程中不要随意改动测量电压。11.测量时从低次档逐渐拨往高次档。12.接通电源后，手指不能触及高压线的金属部分。13.不得测试过程中不能触摸微电流测试端。14.在测量高阻时，应采用屏蔽盒将被测物体屏蔽。15.严禁在试测过程随意改变电压量程及在通电过程中打开主机。16.严禁电流电阻量程未在104档及电压在10V档，更换试样。主要特点 电阻测量范围 1×104Ω ～1×1018 Ω； 电流测量范围 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ； 体积小、重量轻、准确度高； 独特的被测电阻、和流过电阻的电流双显示，使操作测量更加方便； 性能稳定、读数方便； 既能测电阻又能测电流； 测试电压有六种选择DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V； 使用操作简便，在任何电阻量程和测试电压下均直接读显示数字结果，免去要乘以一个系数的麻烦，使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。

SiC碳化硅功率器件动态特性测试系统 我们专业致力于功率元器件的测试仪器设备，主要致力于碳化硅器件的测试仪器设备。 我们的优势在于能够深入的进行理论运用到实践中。技术能力和实践能力的结合，才能在市场上推出使用方便，测试结果准确的高技术产品 我们的工程师具有超过20年的大功率半导体专业设计及测试评估的经验 如有任何需求，欢迎与我们联系各种电子测试的需求。 全面的测试方案：双脉冲测试 用于碳化硅二极管 和FETs检测 高压器件 1.2 kV - 1.7 kV - 3.3 kV - 4.5 kV 及更高 功率器件（包括模块） 电压可调至：50 A ( 500 A )清晰的开关波形 非常低且非常容易判断寄生现象精确 包含分析和补偿程序为模具，紧凑型包装，模块组件而设计 裸芯片, TO220, TO247, TO254, 任何碳化硅模块模块化和前瞻性 新包装和模块化的可调谐开关插头高温测试 DUT 集成化加热器- 可调谐到 250°C快速 快速部署，测试周期 短标准和具体应用 集成化或定制栅极驱动器；寄生现象可调谐高性能系统 工业等级设计及制造安全 IEC61010安全标准设计 技术规格动态特性主要针对于是碳化硅技术中的功率器件的特性，也同样应用于碳化硅技术的的各种仪器设备的特性。基于碳化硅技术的半导体功率器件动态性能测试是我们的核心技术。随着碳化硅测试设备的快速发展需要对带宽和寄生原件的测试需求。如：负载感应器和直流电等寄生元器件将会成为碳化硅功率器件的使用方案。功能：描述SiC离散变量的动力学行为配置：在相位腿配置的二极管mosfet(或IGBTs)设备等级：优化的额定电压600V到4500V 优化额定电流10A到50A包装：可与TO220,TO247,TO254包接口的装置系统接受其他包的fixture输入电压：230Vac, 50Hz，单相接地保护输入电流：8A保险丝额定值：10A，T，250V直流电压范围：100V to 4500V开关电流范围：10A to 50ADUT温度:热板温度可调至200℃

James Heal Elmatear数字式撕破强力测试仪对于各种各样的市场，如纸张、塑料、非织造布和纺织品，Elmatear软件驱动电子撕裂仪,提供1 /4A到E重锤的量程。由材料测试类型组成的20个预先编制的标准，可以从主菜单屏幕轻松选择，并添加和编辑标准。通过使用基于PC的TestWise分析软件，Elmatear 得到了进一步的增强和支持。特点：测试需要的配件：4个重锤砝码，校准砝码和试样模板(可以把量程从6400g扩大到12800g：只需另加选购重锤砝码套件)使用简单的操作界面：无需计算，测试结果自动统计，另有可选的PC软件包傻瓜式校准操作：自动水平补偿，自动检测重锤，自动归零和声光的指示内置安全设施：不会夹伤手指，必须由双手操作释放重锤和自动制动重锤装置应用-纺织品-非织布-纸张-木板-塑料Standards标准等等

James Heal Elmatear数字式撕破强力测试仪对于各种各样的市场，如纸张、塑料、非织造布和纺织品，Elmatear软件驱动电子撕裂仪,提供1 /4A到E重锤的量程。由材料测试类型组成的20个预先编制的标准，可以从主菜单屏幕轻松选择，并添加和编辑标准。通过使用基于PC的TestWise分析软件，Elmatear 得到了进一步的增强和支持。特点：测试需要的配件：4个重锤砝码，校准砝码和试样模板(可以把量程从6400g扩大到12800g：只需另加选购重锤砝码套件)使用简单的操作界面：无需计算，测试结果自动统计，另有可选的PC软件包傻瓜式校准操作：自动水平补偿，自动检测重锤，自动归零和声光的指示内置安全设施：不会夹伤手指，必须由双手操作释放重锤和自动制动重锤装置应用-纺织品-非织布-纸张-木板-塑料Standards标准ASTM ASTM D 1424、ASTM D 5734EN EN 21974ISO ISO 13937-1 、ISO1974M&S M&S P29Other TAPPI T414

GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，运输工具杆塔组立和架线设备，金属抱杆许用轴压大于100kN（容许吊重大于30kN），金属抱杆许用轴压不大于100kN（容许吊重不大于30kN）大型牵引机280kn，大型张力机180kn（4*4.5kn），中型牵引机80kn中型张力机60kn，绝缘油、气施工设备，真空滤油机净油能力6000L/H真空度小于60pa干燥空气发生器，露点小于-40度，参考流量2m3/min，SF6气体回收装置抽气速率大于等于40m3/h，SF6气体抽真空充气装置抽气速率≥45L/s，真空泵大于等于4000m3/h，线路维修施工设备，双钩15~20kN，卡线器，紧线器10~15kN，起重滑车20~50kN，放线滑车，机动绞磨机50kN，手扶绞磨机50kN，电动绞磨机50kN，放线架60kN，手动液压机240kN，断线器，油压分离式穿孔工具0~120mm，导线压接机1000-1250kN，导线压接机2000kn，导线压接机600kN，液压压接钳160kN，液压压接钳600kN，电缆压接钳200-300mm2，电缆压接钳90-200mm2，电缆压接钳16-90mm2，液压弯排机适用排宽度50-125mm，厚度5-12mm，电焊机≥400A，测量、试验及动力设备，GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，接地电阻测试仪，绝缘电阻测试仪，钳型电流表，发电机3kw8kw12kw，电缆引线器160m，电缆引线器100m，电缆输送机5kn，电缆牵引机3kn有毒、易燃、易爆气体检测仪数字式真空计0-1000pa，线缆轻质切刀，线缆软质切刀，力矩扳手，电缆剥皮工具，介质损耗测试仪，高压发生设备，直流高压发生器DC:300kV/5mA，DC:250kV/5mA，DC:200kV/3mA，DC:120kV/2mA，DC:60kV/2mA，AC：10kVA/100kV，AC：6kVA-10kVA/50kV，AC：5kVA/50kV，变频串联谐振试验成套装置4000kVA/800kV /5A 30~300Hz，2000kVA/400kV /5A 30~300Hz，500kVA/200kV /2.5A 30~300Hz，75kVA/75kV/1A 30~300Hz局部放电成套装置400kw以上，频率大于100hz电源，感应耐压试验装置15kVA/600V 150Hz电气测量仪器高压介质损耗测试仪抗干扰变频，回路电阻测试仪DC:≥100A互感器伏安特性测试仪500V/5A，地网接地电阻测试仪，电容电感测试仪三相同时测量，测量用电流互感器0.2级，变压器直流电阻测试仪DC：≤1A，变压器变比测试仪数字式，变压器有载分接开关特性测试仪I≥1A，变压器综合参数测试仪AC：500V/60A断路器特性测试仪氧化锌避雷器阻性电流测试仪，单相继电保护测试仪两相电流、两相电压，大电流发生器500A/5V，雷击计数器动作测试仪，绝缘电阻测试仪DC：0~5000V 200G（MΩ）短路电流≥3mA。电缆识别仪，油、气试验仪器，色谱仪，闭口闪点仪酸值测定仪，PH测定仪，绝缘油介电强度测试仪，常用仪器仪表，兆欧表DC：5000V，兆欧表DC：2500V，兆欧表DC: 500V，万用表单臂电桥，双臂电桥，数字式双钳相位伏安表,测量电流小于50m，相序表，钳型电流表，直流稳压稳流电源220V/110V/5A，电流互感器二次回路负载测试仪20V/5A，三相调压器15kVA。承办一级、二级、三级、四级、五级电力承装承修承试资质升级。

路博 LB-825E型数字式织物渗水性测试仪适用范围：用于测试涂层织物、无纺布、复合面料、薄膜等各种材料的抗渗水性能测试。适用标准：GB/T4744；GB19082-2009 YY/T0506-2019 FZ/T01004；FZ/T64034、ISO811；AATCC127；JISL1092等。技术指标：织物渗水性测试仪1. 测量范围：型号～5～10～20～30测量范围0～50kpa0～100kpa0～200kpa0～300kpa精度±0.2%±0.5%±0.5%±1%2. 试样夹头面积：100cm2；3. 测试单位：Pa；KPa；mmH2O；cmH2O；mbar；4. 水压上升速率：0.1Kpa--30Kpa/min；5. 水箱容量：2500ml；6. 电 源：AC220V，50HZ；7. 功 率：200W； 8. 外形尺寸：580×400×700mm；9. 净 重：75kg。仪器特点：采用彩色液晶触摸屏显示，中英文菜单，操作简单直观；一键加水、排水功能，高亮LED照明，测试更方便；内置四种测试功能，全面满足各种测试标准；内置多种单位选择，测试结果无需换算；选用高精度的压力传感器，测试结果准确稳定，重复性好；配有内置水箱，并具有缺水保护等功能。青岛路博环保创建于2003年，占地面积4万平方米，是一家集环保科研、设计、生产、维护、销售和系统运营为一体的综合型高新技术企业。 路博环保拥有烟尘治理、废气回收、有机废气吸附脱附等工业废气治理方面几十种专利技术和产品，经过多年工况考核，系统运行平稳，处理效果良好，得到用户广泛好评。多样性的产品体系、强大的技术支撑、完善的工程队伍配置和优质的售后服务，已经帮助众多企业摆脱了环境污染的诟病，同时将废弃物有效地回收利用，不仅让客户节约了能源，同时还帮助客户节省了投资与运行成本。

依据ASTM循环弯曲测试法来检测织物的硬挺度。直径为25.4 mm（1英寸）的活塞，在高度57 mm（2.25英寸）、1.7秒内将织物推进38 mm（1.5英寸）直径的测试孔中，并记录最大推力。本机配有气动活塞、控制器及电池驱动数字式推力表：50 kgf, 500 N或100 lb 或25 kgf, 250 N或50 lb（可转换）。

四探针测试仪产品名称：四探针测试仪产品型号：HCTZ-2S品牌：北京华测 一、产品介绍HCTZ-2S四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。HCTZ-2S双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器利用电流探针、电压探针的变换，采用两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析。二、四探针测试探头1、使用几何尺寸十分精确的红宝石轴承，量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内运动，持久耐磨，测量精度高、重复性好。A.探头间距1.00㎜B.探针机械游率：±0.3%C.探针直径0.5㎜ D.探针材料：碳化钨，常温不生锈E探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻大于109欧姆。 2、手动测试架手动测试架探头上下由手动操作，可以用作断面单晶棒和硅片测试，探针头可上下移动距离：120mm，测试台面200x200(mm)。 三、产品应用HCTZ-2S四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配备不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。四、产品特点 1.TVS瞬间抑制防护技术：光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理,对于闪络放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到作用。华测的TVS瞬间抑制防护技术，将起到对控制系统的jue对防护。 2.本仪器的特点是主机配置三个数字表，在测量电阻率的同时，一块数字表适时监测全程的电流变化，及时掌控测量电流，一块显示2、3探针间的测量电压，另一块是显示当前1、4探针测量使用的电压，可以适当调整测量电压避免材料耐压不够而电压击穿被测材料。 3.主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些薄层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护薄膜。采用低通滤波电流检测技术以保证采集电流的有效值，以及电流抗干扰的屏蔽。 4.探针采用碳化钨硬质合金，硬度高、常温不生锈，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配测量软件，测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均匀度，给测量带来很大方便。软件平台5.HCTZ-800系统搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流。6.仪器通过USB转RS232连接线与电脑连接，软件可对四探针电阻率测量数据进行处理并修正测量数据，特定数据存储格式，显示变化曲线，兼容性：适用于通用电脑7.测试系统的软件平台hcpro，采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求，具备强大的稳定性和安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复。兼容XP、win7、win10系统。五、软件功能具有试验电压设置功能；可选择试验标准可选择是否自定义或自动试验截止条件：时间/电压/电流 语音提示:可选择是否语音提示功能。统计报告：可自定报表格式可生出PDF、CSV、XLS文件格式分析功能：可对测试的数据进行统计。zui大/最小值、平均值等。 六、技术参数测量范围电 阻：1×10-4~2×105Ω， 分辨率：1×10-5~1×102Ω电阻率：1×10-4~2×105Ω-cm， 分辨率：1×10-5~2×102Ω-cm方 阻：5×10-4~2×105Ω/□， 分辨率：5×10-5~1×102Ω/□数字电压表量程：20.00mV~2000mV误差：±0.1%读数±2字数控恒流源量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A误差：±0.1%读数±2字四探针探头碳化钨探针：Ф0.5mm，直流探针间距1.0mm，探针压力：0~2kg可调薄膜方阻探针：Ф0.7mm，直流或方形探针间距2.0mm，探针压力：0~0.6kg可调 七、注意事项1、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作2、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量3、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象4、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针

电阻率测试仪,四探针方阻电阻率测试仪, 适用范围Widely used：1.覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等， 功能描述Description：四探针单电测量方法液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出.选配：PC软件进行数据管理和处理.提供中文或英文两种语言操作界面选择 满足标准：1.硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）.2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》. FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪,四探针测量仪,探针测试仪,导体电阻,体积电阻测试仪,四探针法测电阻,方块电阻测试仪,薄膜或涂层方块电阻测试仪

ST2258C型多功能数字式电阻率、薄膜方阻测试仪简介一、结构特征 二、概述 2.1基本功能和依据标准：ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.2仪器成套组成：由ST2258C四探针主机、选配的四探针探头、选配四探针测试台等部分组成。2.3优势特征：1：本测试仪特赠设测试结果自动分类功能，可分类10类。2：可定制USB通讯接口，便于其拓展为集成化测试系统中的测试模块。3：8档位超宽量程。 同行一般为五到六档位。4:仪器小型化、手动/自动一体化。5:仪器操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便而且免除模拟定位器的不稳定。2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》1配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜， 如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。3配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。。2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表》四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）或SZT-F型（太阳能电池片）测试台。二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。 2.6适用范围：仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试三、基本技术参数 1.测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级）电 阻：10.0×10-6～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103 Ω（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6～ 0.01×103Ω）电 阻 率：10.0×10-6～ 200.0×103Ω-cm 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103 Ω-cm（1.0×10-6～ 20.00×103Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103Ω-cm）方块电阻：50.0×10-6～ 900.0×103Ω/□ 分辨率5.0×10-6～ 0.5×103 Ω/□（5.0×10-6～ 100.0×103Ω/□ 分辨率0.5×10-6～ 0.1×103 Ω/□）2.材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)直 径： SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限长(高)度： 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.测量方位: 轴向、径向均可3.3量程划分及误差等级满度显示200.020.002.000200.020.002.000200.020.00测试电流0.1μA1.0μA10μA100μA1.0mA10mA100mA1.0A常规量程kΩ-cm/□kΩ-cm/□Ω-cm/□mΩ-cm/□基本误差±2%FSB±4LSB±1.5%FSB±4LSB±0.5%FSB±2LSB±1.0%FSB±4LSB3.4四探针探头（选配其一或加配全部）(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调3.5.电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：3.6.外形尺寸、重量：主 机： 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）， 净 重：≤2.5kg

1:便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由宽的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。对1～100&Omega &bull cm标准样片的测量瓿差不过± 3%，在此范围内达到家标准机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9&Omega &bull cm。可测方块电阻：0.1～1999&Omega /口当被测材料电阻率&ge 200&Omega &bull cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA 连续可调10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流度：各档均优于± 0.1%适合测量各种厚度的硅片（3） 直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100&mu v准确度：0.2%（± 2个字）（4） 供电电源：AC：220V ± 10% 50/60HZ 率8W（5） 使用环境：相对湿度&le 80%（6） 重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210× 100× 深240（mm）（7）KD探针头压痕直径：30/50&mu m间距：1.00mm探针合力：8± 1N针材：TC2:· 数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-100C为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照家标准GB/T1553&ldquo 硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法&rdquo 。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。 KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：1、 可测量太阳能多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管硅单晶的少子寿命。2、 可测量太阳能单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。4、配置两种波长的红外光源：a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深&ge 500&mu m，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅&asymp 30&mu m，但光强较强，有利于测量低阻太阳能硅晶体。5、测量范围宽广测试仪可直接测量：a、研磨或切割面：电阻率&ge 0.3&Omega &bull ㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。b、抛光面：电阻率在0.3～0.01&Omega &bull ㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。寿命可测范围 0.25&mu S&mdash 10ms 温馨提示：以上产品资料与图片相对应。

高温四探针测试仪 HGTZ-800型号高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电 流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导 率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度,也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 HGTZ-800型号系列采用电子护系统，设备的安全性；选用热电偶保定温度的采集有效值、采用SPWM 电子升压技术，电压输出稳定性好。配备高精度电压、电流传感器以保证试验数据的有效性。 HGTZ-800型号系統搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电 流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。高精度的输出与测量规格，保障检测结果的品质，适用于新材料数据的检测。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料，也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。针探针测试仪做了多项安全设计，测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制：当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。 应用领域： █ 多晶硅材料█ 石墨烯材料 █ 石墨功能材料 █ 半导体材料 █ 导电功能薄膜材料 █ 锗类功能材料 █ 导电玻璃（ito）材料 █ 柔性透明导电薄膜 █ 其它导电材料等 系统功能： █ 电压、电流、温度实时显示 █ 自动升压功能 █ 循环自动测试 █ 升温速度可控 █ 自动试验报表 █ 过压、过流、超温报警 █ 软件自动升级 █ 试验电压、电流可调 █ 电极方便更换 █ 在线设备诊断 系统特点： 多功能真空加热炉，一体炉膛设计、可实现、高温、真空、气氛环境下进行测试 █ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度， █ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的方块电阻、电阻率； █ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T、R-t等测量功能 █ 温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更准确； █ 仪器可自动计算试样的电阻率pv █ 10寸触摸屏设计，一体化设计机械结构，稳定、可靠； █ 程控电子升压技术，纹波低、TVS防护系统，保证仪器安 █ 99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针； █ huace pro 强大的控制分析软件。

德国WEP公司的ECV（型号为CVP21）在太阳能光伏行业的应用非常普及，市场占有率甚至达95%以上，是光伏行业电池技术研究和发展的必要工具之一，知名的光伏企业都有使用。 WEP公司的ECV设备：CVP21（见图）1. ECV又名扩散浓度测试仪，结深测试仪等，即电化学CV法测扩散后的载流子浓度分布（见图）；2. 相比其他方法如SRP，SIMS等，ECV具有测量使用方便，价格低的优点；WEP公司的ECV具有独特技术可应用于测试电池片的绒面样片，这也是其被广泛使用的原因之一；4. CVP21所能测量的深度范围是nm---10um 5. 测量的载流子浓度范围在10e12cm-3 N 10e21cm-3之内都无需校准；6. 测量扩散样片时，样片是保持“Dry in”和“Dry out”，并无需做特别处理；7. 其所用到的化学试剂本地就能买到，价格低且用量很少买一次可以用好几年；8. 从CVP21所测得的数据能带给研发或工艺人员三方面的信息：一是表面浓度，二是浓度变化曲线，三是结深（见图）；9. 表面浓度对于选择和使用适合的浆料很有帮助，如粘合性，接触电阻等的匹配问题；10. 浓度分布曲线对掌握和改进扩散工艺提供依据；11. 结深的信息对电池工艺的总体把握来说是必须的，也是扩散工艺时常需要抽测的项目之一；12. 参考：测试出的几种扩散浓度分布曲线（见图）；13. 广泛的客户群：Q-CELL, NREL, ISFH, SHELL,ECN,RWE,HMI,SISE尚德，天合，晶澳，英利，交大泰阳，BYD，海润，晶科，吉阳，南玻，格林保尔… 仪器简介：电化学ECV,掺杂浓度检测（C-V Profiling）PN结深测试 电化学ECV可以用于太阳能电池、LED等产业，是化合物半导体材料研究或开发的主要工具之一。电化学ECV主要用于半导体材料的研究及开发，其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。 本设备适用于在半导体生产中的外延过程的性能评估和过程控制，可以测试多种不同的材料，例如：硅, 锗, III-V 族和 III-N族材料等。CVP 21的模块化系统结构让测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布变得高效、准确。选用合适的电解液与材料接触、腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制 。CVP21的系统特点： *坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立． *精确的测量电路模块 *强力的控制软件，系统操作，使用简便 *完善的售后服务体系 提供免费样品测试并提供测试报告。 保修期：2年，终身维修。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。技术参数： 我们在电化学方分布测试产品方面有超过３０年的经验和世界上较为先进的电路系统。全自动，特别适用于新材料，如氮化镓，碳化硅材料等。　 有效检测: 外延材料、扩散 、离子注入 适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 　 载流子浓度测量范围: *最大 1021/cm3； 最小 1011/cm3 深度解析度: 最大无上限；最小可至1 nm （或更低） 模块化系统结构: 拓扑型结构，实时监控腐蚀过程，适于微小样品及大尺寸的晶圆，全自动化系统。主要特点：CVP21电化学ECV是半导体载流子浓度分布完美的解决方案： 1， CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 * IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 * III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 * 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 * 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 * 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 * II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 * 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 2， CVP21可用于不同形态的样品：多层结构的薄膜材料、基底没有限制(基底导电或绝缘均可)、标准样品尺寸从4*2mm ~ 8英寸晶圆(更小尺寸样品请预先咨询我们)。 3， CVP21拥有很好的分辨率范围。 * 载流子浓度分辨率范围从 1012 cm-3 ~ 1021 cm-3 * 深度分辨率范围从1nm ~ 100um (依样品类型、样品质量决定) 4， CVP21是一套完整的电化学ECV测量系统。 * 系统可靠性高(仪器的电子、机械、光学、液体传动几个主要部分均经特殊设计) * 免校准的系统(完全自校准的电子系统，电缆电容均无须用户再次校准) * 易于使用(全用户管理软件优化，在实验室环境或生产环境均易于使用) * 照相机镜头控制(过程在线由彩色照相机镜头控制；每次测量后，镜头数据均可取出。) * 实验菜单(测量菜单预定义，优先权用户可以很容易修改或改进测量菜单) * Dry-In/Dry-Out: Auto-Load/Unload/Reload (电化学样品池自动装载/卸载/再装载，优先权用户易于修改，进行样品dry-in/dry-out处理。) 全自动电化学CV分布仪 CVP21光伏太阳能领域的优质选择! 众多科研和半导体领域用户的的心仪之选!赛伦科技（Saratoga Technology International） 为中国全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域知名代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点- 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．- 精确的测量电路模块- 强力的控制软件，系统操作，使用简便- 完善的售后服务体系 全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:- 外延材料- 扩散- 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等… III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等… 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等… 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等… 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等… II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等… 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:- 最大 1021/cm3?最小 1011/cm3深度解析度:- 最大无上限- 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:- 拓扑型结构- 实时监控腐蚀过程- 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:- 精密的电路，电子系统- 强力的软件

概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… … 标准要求：该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

概述YT-530Smart数字式超声探伤仪能够快速便捷、无损伤、精确地进行工件内部多种缺陷如裂纹、焊缝、气孔、砂眼、夹杂、折叠等的检测、定位、评估及诊断，广泛应用于电力、石化、锅炉压力容器、钢结构、军工、航空航天、铁路交通、汽车、机械等领域。YT-530Smart数字式超声探伤仪主要功能l 检测范围：零界面入射0～1000；l 仪器校准自动化，可测量材料厚度和材料声速；l 菜单式操作模式，直显式操作提示，简洁明了，让操作者可快速掌握仪器操作；l 闸门报警：门位、门宽、门高任意可调，闸门可选择设置进波报警或失波报警，闸门内蜂鸣声；l 缺陷定位：实时显示缺陷水平、深度（垂直）、声程位置，方便对缺陷直接定位；l 缺陷定性：通过回波包络波形，方便人工判断；l DAC/AVG：曲线自动生成，取样点不受限制，并可进行补偿与修正。曲线随增益自动浮动。能显示任意孔径的AVG曲线；l 波形冻结：冻结屏幕上显示的波形，便于缺陷分析；l 板厚输入：输入工件厚度，二次波三次波的缺陷仪器显示缺陷实际深度，并对波形为几次波实时提示；l 焊缝图示：显示焊缝坡口形式和声速走向，直观显示缺陷位置；l 内置标准：可自由设置各行业探伤工艺标准，满足各行业探伤需求；l 探头工作方式：直探头、斜探头、双晶探头、穿透探伤；l 数据存储：16组探伤参数通道（通过回放复制存储文件，可将参数通道扩充至300个），可预先调校好各类探头和仪器的组合参数，自由设置各行业探伤标准；可存储300幅探伤回波信号及参数，实现存储、读出及通过USB接口传输。利用计算机客户端软件，可快速自动生成探伤报告 l 通讯接口：USB2.0 高速通讯传输接口，安全、稳定、可靠、快捷。特点小巧、轻便、便携，适合野外、高空作业。技术参数名称技术数据扫描范围（mm）0～1000垂直线性误差＜3%水平线性误差-＜0.1%探伤灵敏度余量≥50dB动态范围36dB分辨率36dB频率范围（MHz）0.5 ～ 10MHz增益调节（dB）0 ～ 110dB材料声速（m/s）1000～9999脉冲移位0 ～ 5000mm回波抑制0 ～90%适用探头直探头、斜探头、双晶探头、穿透探头显示方式5.0″真彩显示工作温度（℃）-25℃～ 50℃工作电压4.2V DC ~220 AC交流适配器连续工作时间12小时外形尺寸（mm）162mm(长)Χ105mm(宽)Χ40mm(高)重量（Kg）0.68Kg(含电池)标准配置名称数量超声波探伤仪主机1电源适配器1BNC电缆1直探头1斜探头1使用说明书1保修登记卡1装箱单1产品合格证1意见反馈书1仪器箱1软件1超声波探伤仪选配试块超探试块型号参数CSK-IA碳钢，选配件.NB/T47013《承压设备无损检测》标准，K值、校准CSK-IIA-1#碳钢，选配件.NB/T47013《承压设备无损检测》标准，做曲线，4个孔5.15.25.35 孔直径2mmCSK-IIA-2#碳钢，选配件.NB/T47013《承压设备无损检测》标准，做曲线，5个孔10.30.50.70.90，孔直径2mmCSK-IIA-3#碳钢，选配件.NB/T47013《承压设备无损检测》标准，做曲线，10个孔10.20.50.60.90.100.130.140.170.180，孔直径2mmCSK-IIIA碳钢，选配件.NB/T47013《承压设备无损检测》标准，做曲线，7个孔20.40.60.80.100.120.140，孔直径1mmCSK-IB（CSK-ZB）碳钢，选配件. GB/T 11345-2013《焊缝无损检测超声波检测技术、检测等级和评定》钢结构标准，K值、校准RB-1碳钢，选配件. GB/T 11345-2013《焊缝无损检测超声波检测技术、检测等级和评定》钢结构标准，做曲线，2个孔5.10，孔直径3mmRB-2碳钢，选配件. GB/T 11345-2013《焊缝无损检测超声波检测技术、检测等级和评定》钢结构标准，做曲线，5个孔40.60.80.100.110，孔直径3mmRB-3碳钢，选配件. GB/T 11345-2013《焊缝无损检测超声波检测技术、检测等级和评定》钢结构标准，做曲线，8个孔20.40.60.80.100.120.140.160.，孔直径3mmCSK-ICJ一套3块RBJ-1一套3块CSK-IDJ板-板V型焊缝试块，板-板V型。尺寸：300*300*200MM超声波探伤仪选配探头序号探头分类探头晶片尺寸mm ×mm探头弧面对应直径（mm）适用工件外径频率适合间距（mm）1JYZ-1爬波探头10 ×12×2Φ100＜Φ1002.5P＞152爬波探头10 ×12×2Φ120＞Φ1002.5P＞153爬波探头10 ×12×2Φ140＞Φ1202.5P＞154爬波探头10 ×12×2Φ160＞Φ1402.5P＞155爬波探头10 ×12×2Φ180＞Φ1602.5P＞156爬波探头10 ×12×2Φ200＞Φ1802.5P＞157爬波探头10 ×12×2Φ220＞Φ2002.5P＞158爬波探头10 ×12×2Φ240＞Φ2202.5P瓷套探伤专用9爬波探头10 ×12×2Φ260＞Φ2402.5P瓷套探伤专用10爬波探头10 ×12×2Φ280＞Φ2602.5P瓷套探伤专用11爬波探头10 ×12×2Φ300＞Φ2802.5P瓷套探伤专用12爬波探头10 ×12×2Φ400＞Φ3002.5P瓷套探伤专用13爬波探头10 ×12×2Φ500＞Φ4002.5P瓷套探伤专用14爬波探头10 ×12×2Φ600＞Φ4002.5P瓷套探伤专用15爬波探头10 ×12×2平面＞Φ5002.5P瓷套探伤专用16JYZ-2爬波探头8 ×10×2Φ100＜Φ1002.5P＞1217爬波探头8 ×10×2Φ120＞Φ1002.5P＞1218爬波探头8 ×10×2Φ140＞Φ1202.5P＞1219爬波探头8 ×10×2Φ160＞Φ1402.5P＞1220爬波探头8 ×10×2Φ180＞Φ1602.5P＞1221爬波探头8 ×10×2Φ200＞Φ1802.5P＞1222爬波探头8 ×10×2Φ220＞Φ2002.5P＞1223爬波探头8 ×10×2平 面＞Φ2202.5P＞1224JYZ-3爬波探头6 ×10×2Φ100＜Φ1002.5P＞1225爬波探头6 ×10×2Φ120＞Φ1002.5P＞1226爬波探头6 ×10×2Φ140＞Φ1202.5P＞1227爬波探头6 ×10×2Φ160＞Φ1402.5P＞1228爬波探头6 ×10×2Φ180＞Φ1602.5P＞1229爬波探头6 ×10×2Φ200＞Φ1802.5P＞1230爬波探头6 ×10×2Φ220＞Φ2002.5P＞1231爬波探头6 ×10×2平 面＞Φ2202.5P＞1232小角度纵波探头8 ×10Φ120 6°＞Φ1005P＞12内部缺陷专用33小角度纵波探头8 ×10Φ140 6°＞Φ1205P＞12内部缺陷专用34小角度纵波探头8 ×10Φ160 6°＞Φ1405P＞12内部缺陷专用35小角度纵波探头8 ×10Φ180 6°＞Φ1605P＞12内部缺陷专用36小角度纵波探头8 ×10Φ200 6°＞Φ1805P＞12内部缺陷专用37小角度纵波探头8 ×10平 面6°＞Φ2005P＞12内部缺陷专用38小角度纵波探头8 ×10Φ180 8°＞1005P＞12内部缺陷专用39小角度纵波探头8 ×10平 面8°＞Φ2005P＞12内部缺陷专用40双晶横波探头8 ×10×2Φ160＞Φ1405P瓷套探伤专用41双晶横波探头8 ×10×2Φ180＞Φ1605P瓷套探伤专用42双晶横波探头8 ×10×2Φ200＞Φ1805P瓷套探伤专用43双晶横波探头8 ×10×2Φ220＞Φ2005P瓷套探伤专用44双晶横波探头8 ×10×2Φ240＞Φ2205P瓷套探伤专用45双晶横波探头8 ×10×2Φ260＞Φ2405P瓷套探伤专用46双晶横波探头8 ×10×2Φ280＞Φ2605P瓷套探伤专用47双晶横波探头8 ×10×2Φ300＞Φ2805P瓷套探伤专用48双晶横波探头8 ×10×2Φ400＞Φ3005P瓷套探伤专用49双晶横波探头8 ×10×2Φ500＞Φ4005P瓷套探伤专用50双晶横波探头8 ×10×2Φ600＞Φ5005P瓷套探伤专用51双晶横波探头8 ×10×2平 面＞6005P瓷套探伤专用52纵波直探头Φ10平 面5P声速测定用注：超声波探伤仪试块、探头及探头线均可定制多种规格。

四探针,四探针测试仪,表面电阻测试仪,电阻率测试仪,方阻计,方阻仪,FT-361超低阻双电四探针测试仪一、概述：本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，最小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。选购：本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.二、广泛用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等 三、参数资料1.方块电阻范围：10-6～2×102Ω/□2.电阻率范围：10-7～2×103Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA.4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 2.方形探头； 3.直线形探头； 4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原

FT-346双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-2～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪四探针电阻率/方阻测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。四探针电阻率/方阻测试仪 规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻范围10-5～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-6～2×106Ω-cm10-5～2×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围0.1μA,μA,0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA,μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W 9.整机不确定性误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪

DRK141A 数字式织物厚度仪 纺织品厚度测试仪，用于各种材料包括薄膜、纸张、纺织品的厚度测定，亦可用于其它均匀薄料的厚度测定。符合标准: DRK141A 数字式织物厚度仪 纺织品厚度测试仪，产品符合GB/T3820，GB/T24218.2、FZ/T01003、ISO5084：1994、ASTMD5729：97（2004）等标准。技术参数:1、测定厚度范围：0.01～10.00mm；2、最小分度值：0.01mm；3、压脚面积：50mm2、100mm2、500mm2、1000mm2、2000mm2 4、压重砝码：25cN×2、50cN、100cN×2、200cN；5、压重时间：5s、10s；6、压脚下降速度：1.72mm/s；7、压重时间：10s±1s、30s±1s；8、外形尺寸：200×400×400mm（L×W×H）；9、仪器重量：约25Kg；配置清单: 1、主机 1 台2、压脚 5只：50mm2、、100mm2、500mm2、1000mm2、2000mm2；3、压重砝码 6只：25cN×2、50cN、100cN×2、200cN；4、产品合格证 1张5、产品使用说明书 1份6、送货单 1张7、验收单 1张8、产品画册 1份选配清单：1、压脚 1只：2500mm2、 注：因技术进步更改资料，恕不另行通知，产品以后期实物为准。

混凝土碳化试验箱本碳化试验箱适用于测定在一定浓度的二氧化碳气体介质中混凝土试件的碳化试验。设备采用不同的环境（二氧化碳、湿度、温度等）对混凝土的碳化是混凝土所受到的一种化学腐蚀。空气中的二氧化碳渗到混凝土内，与其碱性物质起化学反应后生成碳酸盐和水，使混凝土碱度降低的过程称为混凝土碳化，又称作中性化。碳化使混凝土的碱度降低，当碳化超过混凝土的保护层时，在水与空气存在的条件下，混凝土会失去对钢筋的保护作用，钢筋开始生锈。 本试验箱专门为混凝土碳化试验而设计，用于测定在一定浓度的二氧化碳气体介质中混凝土试件的碳化程度，用户可根据测试结果的不同范围评价钢筋混凝土抗腐蚀能力。1、碳化试验箱为一个密闭的箱体，试件放置在箱体内隔板上，然后通过微电脑控制按设定的温度、相对湿度、CO2 浓度进行自动控制，以保证箱内恒温、恒湿、CO2浓度恒定。碳化试验箱主要由箱体、温、湿度、二氧化碳浓度一体化控制系统等组成。2、箱体的外箱板采用冷轧钢板，静电粉末喷塑，内胆采用优质不锈钢板，保温层采用聚氨酯整体发泡制成。搁板采用塑架制成。具有良好的保温性，密封性。耐腐蚀性能。3、控温控湿系统:温度传感器测得箱内的温度低于控制值下限时，控制仪发出指令，加热元件开始工作(反之，温度高于控制值上限时，控制仪发出指令压缩机工作)，当箱内温度达到温度控制值时，加热元件或压缩机停止工作，从而达到箱内温度恒定的目的。4、控湿系统:采用冷冻干燥去湿，当箱体内温度高于控制值上限时，湿度控制仪表输出信号指令工作，达到上限控制值内回差时自动停止工作。当箱内湿度低于控制值下限时，控制仪输出指令，加湿器开启喷湿。湿度达到期下限控制值内回差时自动停止。(注:加湿器内请加注蒸馏水，以确保加湿器的工作寿命。)5、二氧化碳控制系统:二氧化碳浓度控制传感器采用进口原装红外线二氧化碳测控模块，测得被测气体浓度相对应的电信号，通过控制仪分析判断。输出控制信号给气路系统执行元件，以控制二氧化碳气体的供给系统的开启或关闭。6、试验箱门设有透明玻璃观察窗。更方便用户观察试件变化。试验过程实现全自动控制，箱内温、湿、CO2浓度直观数显。1、控制温度:20±1℃可调 分辨率:±0.1℃。均匀性≦2℃精度:0.5℃ 2、控制湿度:70±5%可调 分辨率:±1%。均匀性≦2%，精度:2%.3、CO2 浓度 20±2%可调 分辨率:±1%。均匀性≦2%，精度:2%.加热功率:500W 制冷功率:120W 加湿功率:60W 电源:220V 50±0.5HZ 外形尺寸:650×700×1650mm有效容积:500×500×1000mm公司主营产品：冷热冲击试验箱、恒湿恒湿试验箱、高低温试验箱、步入式温湿交变试验室、高低温湿热交变试验机、高温老化房、快速温变试验箱、高低温低气压试验箱、PCT高压加速老化试验箱、紫外线耐候老化试验箱、氙灯耐候老化试验箱、耐寒折弯试验箱、砂尘试验箱、淋雨试验箱、臭氧老化试验箱、换气老化试验箱、恒温鼓风干燥试验箱、太阳光伏组件试验箱、振动试验机、跌落试验箱、拉力试验机等可靠性试验设备以及定做非标机型。

Smart数字式超声探伤仪 天研TY-530能够快速便捷、无损伤、精确地进行工件内部多种缺陷如裂纹、焊缝、气孔、砂眼、夹杂、折叠等的检测、定位、评估及诊断，广泛应用于电力、石化、锅炉压力容器、钢结构、军工、航空航天、铁路交通、汽车、机械等领域。Smart数字式超声探伤仪 天研TY-530主要功能l 检测范围：零界面入射0～1000；l 仪器校准自动化，可测量材料厚度和材料声速；l 菜单式操作模式，直显式操作提示，简洁明了，让操作者可快速掌握仪器操作；l 闸门报警：门位、门宽、门高任意可调，闸门可选择设置进波报警或失波报警，闸门内蜂鸣声；l 缺陷定位：实时显示缺陷水平、深度（垂直）、声程位置，方便对缺陷直接定位；l 缺陷定性：通过回波包络波形，方便人工判断；l DAC/AVG：曲线自动生成，取样点不受限制，并可进行补偿与修正。曲线随增益自动浮动。能显示任意孔径的AVG曲线；l 波形冻结：冻结屏幕上显示的波形，便于缺陷分析；l 板厚输入：输入工件厚度，二次波三次波的缺陷仪器显示缺陷实际深度，并对波形为几次波实时提示；l 焊缝图示：显示焊缝坡口形式和声速走向，直观显示缺陷位置；l 内置标准：可自由设置各行业探伤工艺标准，满足各行业探伤需求；l 探头工作方式：直探头、斜探头、双晶探头、穿透探伤；l 数据存储：16组探伤参数通道（通过回放复制存储文件，可将参数通道扩充至300个），可预先调校好各类探头和仪器的组合参数，自由设置各行业探伤标准；可存储300幅探伤回波信号及参数，实现存储、读出及通过USB接口传输。利用计算机客户端软件，可快速自动生成探伤报告 l 通讯接口：USB2.0 高速通讯传输接口，安全、稳定、可靠、快捷。特点小巧、轻便、便携，适合野外、高空作业。技术参数名称技术数据扫描范围（mm）0～1000垂直线性误差＜3%水平线性误差＜0.1%探伤灵敏度余量≥50dB动态范围36dB分辨率36dB频率范围（MHz）0.5 ～ 10MHz增益调节（dB）0 ～ 110dB材料声速（m/s）1000～9999脉冲移位0 ～ 5000mm回波抑制0 ～90%适用探头直探头、斜探头、双晶探头、穿透探头显示方式5.0″真彩显示工作温度（℃）-25℃～ 50℃工作电压4.2V DC ~220 AC交流适配器连续工作时间12小时外形尺寸（mm）162mm(长)Χ105mm(宽)Χ40mm(高)重量（Kg）0.68Kg(含电池)标准配置名称数量超声波探伤仪主机1电源适配器1BNC电缆1直探头1斜探头1使用说明书1保修登记卡1装箱单1产品合格证1意见反馈书1仪器箱1软件1超声波探伤仪选配试块超探试块型号参数CSK-IA碳钢，选配件.NB/T47013《承压设备无损检测》标准，K值、校准CSK-IIA-1#碳钢，选配件.NB/T47013《承压设备无损检测》标准，做曲线，4个孔5.15.25.35 孔直径2mmCSK-IIA-2#碳钢，选配件.NB/T47013《承压设备无损检测》标准，做曲线，5个孔10.30.50.70.90，孔直径2mmCSK-IIA-3#碳钢，选配件.NB/T47013《承压设备无损检测》标准，做曲线，10个孔10.20.50.60.90.100.130.140.170.180，孔直径2mmCSK-IIIA碳钢，选配件.NB/T47013《承压设备无损检测》标准，做曲线，7个孔20.40.60.80.100.120.140，孔直径1mmCSK-IB（CSK-ZB）碳钢，选配件. GB/T 11345-2013《焊缝无损检测超声波检测技术、检测等级和评定》钢结构标准，K值、校准RB-1碳钢，选配件. GB/T 11345-2013《焊缝无损检测超声波检测技术、检测等级和评定》钢结构标准，做曲线，2个孔5.10，孔直径3mmRB-2碳钢，选配件. GB/T 11345-2013《焊缝无损检测超声波检测技术、检测等级和评定》钢结构标准，做曲线，5个孔40.60.80.100.110，孔直径3mmRB-3碳钢，选配件. GB/T 11345-2013《焊缝无损检测超声波检测技术、检测等级和评定》钢结构标准，做曲线，8个孔20.40.60.80.100.120.140.160.，孔直径3mmCSK-ICJ一套3块RBJ-1一套3块CSK-IDJ板-板V型焊缝试块，板-板V型。尺寸：300*300*200MM超声波探伤仪选配探头序号探头分类探头晶片尺寸mm ×mm探头弧面对应直径（mm）适用工件外径频率适合间距（mm）1JYZ-1爬波探头10 ×12×2Φ100＜Φ1002.5P＞152爬波探头10 ×12×2Φ120＞Φ1002.5P＞153爬波探头10 ×12×2Φ140＞Φ1202.5P＞154爬波探头10 ×12×2Φ160＞Φ1402.5P＞155爬波探头10 ×12×2Φ180＞Φ1602.5P＞156爬波探头10 ×12×2Φ200＞Φ1802.5P＞157爬波探头10 ×12×2Φ220＞Φ2002.5P＞158爬波探头10 ×12×2Φ240＞Φ2202.5P瓷套探伤专用9爬波探头10 ×12×2Φ260＞Φ2402.5P瓷套探伤专用10爬波探头10 ×12×2Φ280＞Φ2602.5P瓷套探伤专用11爬波探头10 ×12×2Φ300＞Φ2802.5P瓷套探伤专用12爬波探头10 ×12×2Φ400＞Φ3002.5P瓷套探伤专用13爬波探头10 ×12×2Φ500＞Φ4002.5P瓷套探伤专用14爬波探头10 ×12×2Φ600＞Φ4002.5P瓷套探伤专用15爬波探头10 ×12×2平面＞Φ5002.5P瓷套探伤专用16JYZ-2爬波探头8 ×10×2Φ100＜Φ1002.5P＞1217爬波探头8 ×10×2Φ120＞Φ1002.5P＞1218爬波探头8 ×10×2Φ140＞Φ1202.5P＞1219爬波探头8 ×10×2Φ160＞Φ1402.5P＞1220爬波探头8 ×10×2Φ180＞Φ1602.5P＞1221爬波探头8 ×10×2Φ200＞Φ1802.5P＞1222爬波探头8 ×10×2Φ220＞Φ2002.5P＞1223爬波探头8 ×10×2平 面＞Φ2202.5P＞1224JYZ-3爬波探头6 ×10×2Φ100＜Φ1002.5P＞1225爬波探头6 ×10×2Φ120＞Φ1002.5P＞1226爬波探头6 ×10×2Φ140＞Φ1202.5P＞1227爬波探头6 ×10×2Φ160＞Φ1402.5P＞1228爬波探头6 ×10×2Φ180＞Φ1602.5P＞1229爬波探头6 ×10×2Φ200＞Φ1802.5P＞1230爬波探头6 ×10×2Φ220＞Φ2002.5P＞1231爬波探头6 ×10×2平 面＞Φ2202.5P＞1232小角度纵波探头8 ×10Φ120 6°＞Φ1005P＞12内部缺陷专用33小角度纵波探头8 ×10Φ140 6°＞Φ1205P＞12内部缺陷专用34小角度纵波探头8 ×10Φ160 6°＞Φ1405P＞12内部缺陷专用35小角度纵波探头8 ×10Φ180 6°＞Φ1605P＞12内部缺陷专用36小角度纵波探头8 ×10Φ200 6°＞Φ1805P＞12内部缺陷专用37小角度纵波探头8 ×10平 面6°＞Φ2005P＞12内部缺陷专用38小角度纵波探头8 ×10Φ180 8°＞1005P＞12内部缺陷专用39小角度纵波探头8 ×10平 面8°＞Φ2005P＞12内部缺陷专用40双晶横波探头8 ×10×2Φ160＞Φ1405P瓷套探伤专用41双晶横波探头8 ×10×2Φ180＞Φ1605P瓷套探伤专用42双晶横波探头8 ×10×2Φ200＞Φ1805P瓷套探伤专用43双晶横波探头8 ×10×2Φ220＞Φ2005P瓷套探伤专用44双晶横波探头8 ×10×2Φ240＞Φ2205P瓷套探伤专用45双晶横波探头8 ×10×2Φ260＞Φ2405P瓷套探伤专用46双晶横波探头8 ×10×2Φ280＞Φ2605P瓷套探伤专用47双晶横波探头8 ×10×2Φ300＞Φ2805P瓷套探伤专用48双晶横波探头8 ×10×2Φ400＞Φ3005P瓷套探伤专用49双晶横波探头8 ×10×2Φ500＞Φ4005P瓷套探伤专用50双晶横波探头8 ×10×2Φ600＞Φ5005P瓷套探伤专用51双晶横波探头8 ×10×2平 面＞6005P瓷套探伤专用52纵波直探头Φ10平 面5P声速测定用

本测试系统具有高测试精度、高灵敏度、高可靠性、高安全性的特点，实现碳化硅二极管、MOSFET器件开通时间、关断时间、快恢复二极管反向恢复时间、反向电流及反向恢复电荷等测试，通过计算机控制，示波器采集波形，由计算机处理数据并显示测试结果。主要技术参数测试产品：SiC FRD,MOSFET（兼容Si基产品）测试能力：a，开关时间测试测试条件：ID：1A~1000A, VDS:5V~3500V, VGS:-10V~20V, Rg:手动可调，阻性，感性负载可切换。测试参数：td(on)\tr\td(off)\tf:0.1nS-200nS, Eon\Eoff:10uJ-100mJb，反向恢复特性测试测试条件：IF:1A~1000A, VR:5V~3500V,di\dt:50A\us~10000A\us测试参数：trr:0.1nS-200nS,Qc:1nC~1uC,lrm:1A~200A,Erec:0.1uJ~1mJc，短路电流测试测试条件：Pulse width:1us~100us,VDS:5V~3500V测试参数：Peak ID:10A~1000A, Delta Vds:10V~200V

一、概述该试验箱通过设置一定的CO2气体浓度，温度和相对湿度以加速混凝土试件的碳化侵蚀过程，根据试件的碳化深度来反映混凝土抗碳化能力。本试验箱由高标号不锈钢箱体、加热系统、冷却系统、加湿系统、控制系统和CO2浓度传感器、温湿度传感器等组成。CO2浓度和温湿度均可调可设定，箱体结构稳定耐用，气密性好。数据及曲线实时显示，自动存储，中断自动恢复。设备整体结构简洁大方、稳定可靠。二、执行标准：l 《普通混凝土长期性能和耐久性能试验方法》GB/T 50082l 《加气混凝土碳化试验方法》GB/T11974l 《混凝土碳化试验箱》JG/T 247l 《水工混凝土试验规程》SL352、DL/T5150l 《水运工程混凝土试验规程》JTJ270l 《公路工程水泥及水泥混凝土试验规程》JTG E30l 《铁路混凝土》TB/T3275三、性能特点l 设备整体简洁大方、运行稳定、安全可靠；l 工业级大屏幕彩色触摸屏，智能操作，简单方便；l 微机自动控制，数据及曲线动态实时显示、自动存储处理；l 压缩机、控制器等关键元器件原装进口，高精度、低能耗、稳定可靠；l 采用fluid优化设计，多风扇布置，满载运行时CO2气体、温湿度均匀性优；l 箱体采用静电喷涂工艺、美观大方；l 一体保温门设计，采用汽车专用密封条，气密性和保温性好；l 内胆采用高标号不锈钢满焊工艺，耐腐蚀；l 保温层聚氨酯一次性发泡成型，保温性能好；l 管路采用PPR热熔器焊接工艺，密封性能优越，美观明了；l 具有试验意外中断自动恢复功能；l 专用3D动画试验操作教程，辅助试验人员规范操作。 四、技术参数l CO?浓度控制范围：0～30％（可调可设定）l CO?浓度传感器精确度：±1.0％l CO?浓度显示分辨率：0.1％l 箱内CO?浓度均匀度：1.0％l 温度控制范围：5℃～50℃（可调可设定）l 温度传感器精确度：±0.3℃l 温度显示分辨率：0.1℃l 箱内温度均匀度：0.7℃l 湿度（RH）控制范围：0～90％（可调可设定）l 湿度（RH）传感器精确度：±2％l 湿度（RH）显示分辨率：0.1％l 箱内湿度（RH）均匀度：5％l 试件组数：24组（试件尺寸：100mm×100mm×400mm），72组（试件尺寸：100mm×100mm×100mm）l 制冷功率：315Wl 加热功率：900Wl 加湿功率：100W（超声雾化）l 最大运行功率：1.36kwl 工作室尺寸：900mm×590mm×1385mml 外观尺寸：1410mm×660mm×1700mml 单层试件架尺寸：900mm×500mm×160mml 密封门尺寸：1500mm×1010mm×55mml 保温层厚度：50mml 重量：150kgl 电源：220±10％～50Hzl 排水设置：排水阀l 试验操作教程：3D动画（自主开发）

TES-1336A数字式照度检测仪特征光检测器光谱符合C.I.E. V(λ)规范16000笔记录容量Lux/Fc选择读值锁住功能最大值锁住功能USB界面可测量光强度（计算机界面） TES-1336A数字式照度检测仪产品规格显示3-1/2位液晶显示器测量范围20，200，2000，20000 Lux/Fc（1Fc=10.76Lux）光谱反应符合CIE photopic（视觉函数）标准光谱准确性f’1≤6%余弦反应f’2≤2%准确度±(3%rdg ± 5dgts)重复测试±2%温度特性±0.1%/℃取样率2.5次/秒感光体光二极管记录数组最多255组记录笔数16000笔RS-232传输速率9600bps操作温湿度0~+40℃（32~104℉） 10~80%RH储存温湿度-10~+60℃（14~140℉） 10~70%RH过载显示显示“OL”电源单节9V电池，006P或IEC6F22或NEDA 1604型电池寿命连续使用约50小时（碱性电池）光检测器引线长度150cm光检测器尺寸87.5(L) x 60(W) x 29(H)mm电表尺寸146(L) x 70(W) x 39(H)mm重量300g附件使用说明书，皮套，电池，软件连接线，软件光盘，调整棒

该试验箱通过设置一定的CO2气体浓度、温度和相对湿度以加速混凝土试件的碳化侵蚀过程，根据试件的碳化深度来反映混凝土抗碳化能力。本试验箱由高标号不锈钢箱体、加热系统、冷却系统、加湿系统、控制系统和CO2浓度传感器、温湿度传感器等组成。CO2浓度和温湿度均可调可设定，箱体结构稳定耐用，气密性好。数据及曲线实时显示，自动存储，中断自动恢复。设备整体结构简洁大方、稳定可靠。性能特点 1. 设备整体简洁大方、运行稳定、安全可靠；2. 工业级大屏幕彩色触摸屏，智能操作，简单方便；3. 微机自动控制，数据及曲线动态实时显示、自动存储处理；4. 压缩机、控制器等关键元器件原装进口，高精度、低能耗、稳定可靠；5. 采用fluid优化设计，多风扇布置，满载运行时CO2气体、温湿度均匀性优；6. 箱体采用静电喷涂工艺、美观大方；7. 一体保温门设计，采用汽车专用密封条，气密性和保温性好；8. 内胆采用高标号不锈钢满焊工艺，耐腐蚀；9. 保温层聚氨酯一次性发泡成型，保温性能好；10. 具有试验意外中断自动恢复功能； 11. 专用3D动画试验操作教程，辅助试验人员规范操作12. 试验机采用重型工业可调节脚轮，支撑稳定，方便移动13. 设备升温、降温系统独立，提高效率且降低测试成本，更加节能14. 设备可通过U盘一键升级，可导出试验数据15. 具有超温报警、漏电保护、接地保护等。 技术参数1. CO₂ 浓度控制范围：（0～30±0.5）％（可调可设定）；2. CO₂ 浓度传感器精确度：±0.5％vol，CO₂ 读数的±2%；3. CO₂ 浓度显示分辨率：0.1％vol；4. 箱内CO₂ 浓度均匀度：1.0％；5. 温度控制范围：（5～50±0.5）℃（可调可设定）；6. 温度传感器精确度：±0.1℃；7. 温度显示分辨率：0.1℃；8. 箱内温度均匀度：±1℃；9. 湿度（RH）控制范围：（7～95±0.5）％（可调可设定）； 10. 湿度（RH）传感器精确度：±3%RH(60%RH,25℃)；11. 湿度（RH）显示分辨率：0.1％；12. 箱内湿度（RH）均匀度：5％；13. 试件组数：试件尺寸为100mm×100mm×400mm时18组（试块间距50mm）；试件尺寸为100mm×100mm×100mm时48组（试块间距50mm）；不按标准间距，最多可放64组（试件尺寸为100mm×100mm×100mm）；14. 制冷功率：0.4kW；15. 加热功率：1kW；16. 加湿功率：100W（超声雾化）；17. 最大运行功率：1.25kw；18. 工作室尺寸：906mm×520mm×1430mm；19. 外观尺寸：1455mm×825mm×1750mm；20. 保温层厚度：50mm；21. 重量：约300kg；22. 电源：220±10％～50Hz；排水设置：排水阀。

仪器简介：超高速30MHz - 3GHz测试接收机PMM 9030 PMM9030（30MHz~3GHz）测试接收机可在8秒钟内对全部带宽进行扫描。在实际操作中30MHz以内的频率范围主要是进行传导骚扰与低频辐射（例如，CISPR或军用标准所规定的磁场等）测试；但是一些频率高达GHz的辐射测试正变得越来越迫切，因此PMM精心设计了9030数字分析仪与PMM9010进行了完美的结合，成为结构紧凑、可实时更新、最高频率可达3 GHz的数字式测试接收机；PMM9030是一款 可接收信号并将射 频输入信号转化为 数字信号的高精度 仪器，它可以通过传 输速率超过2.5 GB/s 的高速光纤与 PMM9010相连接， 通过自行设计的数 据处理协议处理大 量信息以满足更高级 的测试需求。技术参数：标记功能（Marker: 是一个非常实用的功能，只需通过一个简单的旋钮即可实现标记符的动作，可以很轻松的读出频率/幅度值。 内置信号发生器: 它不仅作为一个简单的信号跟踪发生器，还可随频率范围变化动态输出，或在10 Hz到50 MHz任意频点输出精确的信号。当然，这个发生器对于9010方便、精确的进行自校准也有很大的帮助。对于用户来说这是另一个强大的功能。 扫频模式中可预置限值: 相关的CISPR限值直接存储在非动态存储器中，可以在测量和计算中直接下载使用 控制面板: 该接收机可以通过前面板的旋钮和按键，结合实时的人性化的界面, 可以独立控制。或通过RS232串口与计算机连接，甚至通过蓝牙（可选）进行远程控制。 并行检波器, QP-PK-AVG-RMS四个检波器可同时进行工作，也可以手动切换。 手动模式中的数据保持时间 是RMS &ndash AVG检波器的求取平均值的时间段 它表征的是 PK-QP检波器重启的时间 (如标准所示规定为1s)。 标量网络分析: 标量网络分析对用户而言是另一个强大的功能，通过它用户可以对信号及其成分进行定性分析、滤波以及更深层次的操作。 数字式内置本振: 接收机IF滤波器中的数字式本振可以产生无杂波的数字信号，该信号可以同时包含实虚两部分（参见复变函数，f（t）=x(t)+iy(t)），这一突出的成就源于数字化控制的成熟和完善。而传统的混频器的计数发生功能不能够产生虚部函数，产生的信号是不完整的。 内置预选器:可以确保对于包括脉冲信号在内的各种输入信号进行精确测量的可靠性。预选器是该接收机仅有的两个无法数字化的组件之一，其性能是对接收机后续处理的保证，也是9010区别于一般的EMC干扰接收机的地方。对输入信号的筛选和限幅可以带来更为稳定的信号, 同时9010可以作适当调整充当EMI测试中频谱分析仪。 超高速测量:借助FFT(快速傅立叶变换) 功 能 及 自 带 的 超大容量内部存储器，A-band可在1 s的时间内扫描完毕! 这意味着即便是干扰源的开启仅维持了很短的时间或这个干扰源本身的周期极其短暂，通过PMM9010，我们可以很轻松的检测出这个辐射源并对数据进行处理。 这是由PMM公司带来的绝无仅有的享受。 纯数字化QP-PK-AVG-RMS检波器: 性能非常稳定，因此可以节约校准的人力物力及费用。响应结果不再因为输入信号的特性而产生很大的差异，检波器可以完全按照工作人员的意愿工作。 自适应衰减:提供了无失真的最大的动态范围。虽然是模拟器件, 它受控于由DSP直接驱动的FPGA (现场可编程逻辑阵列)，在不同的条件下自行选择最佳的工作模式并保证射频输入信号对设备本身的安全性。 click声分析仪可选:内置1通道,外置3通道主要特点：PMM率先推出第一台数字式EMC测试接收机及分析仪PMM9010＋9030，再一次引领测试接收市场。除输入端的信号预选器（需要从物理角度上对输入的射频信号进行限幅）外，本接收机每一个电路完全实现了数字化。以自主、高效的研发能力著称于世的PMM R&D实验室再一次证明了自己。小巧的外观，精心设计的结构，还有优越的性能，表明我们没有满足于既有的成就，满足市场是我们不变的初衷。配以&ldquo 人性化，易操作&rdquo 的内嵌式操作系统，可以轻松的对设备进行操控。全新的PMM9010+ PMM9030外观已近乎完美。 测试频段10Hz～30MHz的PMM9010是一个里程碑式的产品，在延续了经济实用的传统理念的基础上，它作为测试系统的核心组件也随着客户新的需求而不断的求变并趋于完善:利用自身的可选功能（如喀呖声计），辅以不同的配件如LISN和电流电压注入探头， 还有辅助设备（如辐射功率测量中的吸收钳 ），可以完成所有的EMC传导和辐射测试，测试过程完全符合所有已知的国际标准或独立标准。超稳定的性能,免去了高昂的维护费用。PMM9010干扰接收机是那些经常性的进行EMC测试的单位和个人的绝佳选择。 PMM团队精诚团结，技术精湛，乐于接受您的咨询和帮助您解决实际需要：欢迎来电来函，加入 PMM9010的数字化新浪潮

FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪应用说明：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择，二．描述：采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响 规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω /□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流 0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA0.1μA.μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA0.1μA、1μA、10μA，100μA，1mA，10mA，100mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1% ±0.2% ±0.2% ±0.3% ±0.3% ±0.3% 5.电阻精度 ≤0.3% ≤0.3% ≤0.3% ≤0.5% ≤0.5% ≤0.5% 6.显示读数屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：30W 9.误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.111.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

Autoburst液压自动胀破强度测试仪是目前市场上功能强大的胀破强度测试仪。它的最大压力为6000kPa(871psi)，因此它成为测试多种材料的解决方案。在测试厚重织物或需要符合指定液压测试标准时，膨胀测量可高达70mm。 Autoburst是户外技术织物、厚重塑料和土工织物的理想解决方案，同时也可以为更轻薄的织物提供精度测量。 创新型可以不连接电脑单独操作，也可以连接电脑操作已预存最常见标准的测试程序软件分析可提供全面的测试结果无与伦比的性能自动流量控制确保样品在相关标准规定的时间内胀破隔膜校正计算是从测试结果中减去仅胀破隔膜时的压力，以达到真实的胀破测试结果 合理性流量调整在相关标准规定的时间内更改压力增加率以完成测试胀测量可提供传统液压测试仪所不能提供的更多的胀破点信息自动隔膜校正可减去仅隔膜充气带来的压力，从而为样品提供准确的胀破压力 多种测试杯五种测试杯尺寸涵盖所有主要的液压测试标准。 若需要订购额外的测试杯-请告知我们测试杯和夹持环无需使用任何工具轻松进行更换 安全集成安全防护罩紧急停止按钮 控制配备全彩色触摸屏控制器（英语、西班牙语、中文及土耳其语），全新设计可以方便地进行隔膜更换和维护。 胀破验证布 开发了两种织物用于检验胀破测试仪是否在ISO 17025校准之间维持正常状态。 这些验证布的标准胀破强度值是通过多台经过（UKAS）校准的胀破测试仪测试而获得的结果，来自不同制造商的气动和液压型号。