当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

倍布氏压痕测量显微镜

仪器信息网倍布氏压痕测量显微镜专题为您提供2024年最新倍布氏压痕测量显微镜价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括倍布氏压痕测量显微镜参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的倍布氏压痕测量显微镜您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合倍布氏压痕测量显微镜相关的耗材配件、试剂标物,还有倍布氏压痕测量显微镜相关的最新资讯、资料,以及倍布氏压痕测量显微镜相关的解决方案。

倍布氏压痕测量显微镜相关的耗材

  • 原子力显微镜探针/力学测量/杨氏模量/RTESPA-150
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • afm探针/原子力显微镜探针/力学测量/杨氏模量/ DNISP-HS
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/afm探针/表面电势测量/PFQNE-AL
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 多功能纳米压痕仪配件
    多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量,精确给出硬度,弹性模量,杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计,可广泛集成原子力显微镜,光学显微镜,激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器,为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪,它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量(杨氏模量),负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度,弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌,采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块,实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能,具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块,能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像,并能够全自动测量,可以批量处理分析测量结果。
  • 原子力显微镜探针/afm探针/磁力显微镜/MESP-V2
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/氮化硅探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) OBL-10UnmountedAu Coated tips 2 Cantilevers, 0.006-0.03N/m, Au Reflective Coating1030
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/导电探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020
  • 原子力显微镜探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/VTESPA-300
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/生物样品/细胞成像/DNP-10
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/OTESPA-R3
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/高分辨/智能成像探针/SNL-10
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/afm探针/生物样品/细胞成像/MLCT
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/NP-O10
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) NP-O10UnmountedTipless, 4 Cantilevers, 0.06-0.58N/m, Au Reflective Coating10 NA
  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020
  • AFM探针/原子力显微镜探针(DNISP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)DNISPUnmountedDiamond Tip, 100 - 300N/m, 35 - 65kHz140
  • ZSA302 连续变倍体视显微镜
    ZSA302 连续变倍体视显微镜产品参数:物镜连续变倍,变倍比1:7.2,物镜倍率0.7~5倍,三目,透反射照明,大视野、高眼点物镜组合,视场更加宽阔舒适、更清晰;防静电功能,确保敏感元件不受静电的危害;超长工作距离,适宜于各种标本的观察;同轴照明系统,适宜于常规无法观察的标本;宽电压适应范围符合CE标准的开关电源,对数型电位调节,亮度调节更均匀;各种大物镜、目镜齐全ZSA302 连续变倍体视显微镜
  • Park原子力显微镜AFM探针OMCL-AC160TS 10M
    AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜,如AFM(范德华力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点,在于探针位于测微悬臂的Z端,由此易于清楚确认探针与样品的位置关系,从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求,此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 具有高品质的解析度,共振频率在300 kHz与26 N/m的弹性系数, 大大的降低了破坏样品的机率; 外观设计:新产品的侧壁垂直面更便于探针的夹取; TipView设计:锋利的探头放置在后的悬臂。TipView设计便于精确探测定位; 测量环境:适用于空气中测量; 测量模式:AC(动态)模式; OMCL-AC160TS 10M的针尖适用于一般标准表面形貌量测,适用于以下sample: 1、pss蓝宝石基板的表面形貌量测; 2、太阳能板的表面形貌量测; 3、玻璃面板等各式有机材料、无机材料的表面形貌的量测 OMCL-AC160TS 10M均可直接代替以下品牌型号针尖: 1、Nanoworld 的NCHR/Arrow NCR 2、Appnano的ACTA 3、Bruker的TESPA/ORTESPA; 4、NT-MDT的NSG30 5、Budget Sensors的Tap300-G 详情请咨询:18994392037(同VX)李经理
  • 红外显微镜配件
    红外显微镜配件专门为微电子研发和制造而设计的显微镜,它是一款科研级显微热成像仪,在微米尺度给出电子器件和芯片的温度分布,能够非接触式地测量电子器件的温度分布,查找热点hotspots。红外显微镜配件对于分析和诊断半导体器件热表现非常有用,可用于探测热点和缺陷 电子元件和电路板故障诊断 测量结温 甄别芯片键合缺陷 测量热阻封装 确立热设计规则等领域,可以有效地检测微尺度半导体电路的热问题和MEMS器件的热问题。就MEMS的研发而言:空间温度分布和热响应时间这两个参数对于微反应器,微型热交换器,微驱动器,微传感器之类的MEMS器件非常重要。到目前为止,还有非接触式的办法测量MEMS器件的温度,红外成像显微镜能够给出20微米空间分辨率的热分布图像,是迄今为止测量MEMS器件热分布的有力工具。红外显微镜配件光学载物台:坚固而耐用,具有隔离振动的功能;聚焦位移台:用于相机的精密聚焦和定位;X-Y位移台:用于快速而精密地把测量区域定位到相机的视场中; 热控制台: 具有加热和制冷功能,用于精密器件的温度控制;红外显微镜配件应用*半导体IC裸芯片热检测 *探测集成电路的热点(hotspots)和短路故障*探测并找到元件和电路板上缺陷 *测量半导体结点温度(结温)*辨别固晶/焊线/点胶缺陷*测量封装热阻 *确立热设计规则 *激光二极管性能和失效分析*MEMS热成像分析*光纤光学热成像检测*半导体气体传感器的热分析*测量微交换器的热传输效率 *微反应器的热成像测量*微激励器的温度测量*生物标本温度分析 *材料的热性能检测*红外显微镜热流体分析 热分析软件红外显微镜配件分析软件。 这种软件能够帮助您非常容易而快速地获得温度信息,同时,它可以产生实时的(real time)带状图、拍摄并回放图像序列以及在图像上选择任何大小形状的区域,从而为您提供不同视角和建设性的数据分析手段。
  • 数字全息显微镜
    瑞士Lyncee Tec SA www.lynceetec.com 瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM(Digital Holographic Microscopy)是划时代性的高科技技术产品,科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。 DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种,一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo 技术参数: 测量原理: 反射式数字全相术干涉显微镜 (R1000系列) 或 穿透式数字全相术干涉显微镜(T1000 系列) 取像型式: 强化与量化的相位对比影像 光源: 单波长雷射光源 样品台: 手动3 轴, x, y, z 各可位移25毫米 选配:较大位移的样品台 选配:软件自动控制的2轴或3轴样品台 照相机: 1392 x 1040 像素, 8 bits 可选物镜: 1.25x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 63x, 100x 选配:长工作距离物镜, 油浸渍物镜 物镜安装: 单物镜安装, 双物镜的滑动块或四物镜的转盘安置 计算机: 应为DHM配置含最新的Pentium? 处理器和视窗XP 专业版个人电脑为佳, 显示则需19寸, 1280 x 1024 像素的显示屏 软件: Lyncee Tec专利的&ldquo 袋熊"经典软件, 是利用C++ 和 .NET技术,专为在视窗XP?的3维表面成型, 曲面测量, 步进高度与粗度测量写成的. 选配工作模式: 垂直扫描与频闪观测模式 性能 垂直的分辨率(*) 瞬间:0.2° (在空气中0.2奈米) 空间:0.6° (在空气中0.6奈米) 垂直数字聚焦范围 视区50倍深度(取决于物镜) 垂直测量范围: 对平滑样品, 取决於测量区域的深度 340 奈米 (用选配的垂直扫描模式, 范围可以测得更高) 横向的分辨率 (**): 取决于物镜: 用油浸渍的物镜(1.4 NA), 最低可测到300奈米, 可视区域: 取决于物镜可达到4.40毫米 横向取样: 1024 x 1024 像素 (全像照相) 撷取影像速率 实时影像:15 fps (512 x 512 像素), 4 fps (1024 x 1024像素) 离线重建:15 fps (1024 x 1024) (10000 fps速率为选配) 样品照明: 低至 1?W/cm2 最大样品尺寸: H x W:200毫米 x 123毫米 (R1000系列) 50毫米 x 150毫米 (T1000 系列) 工作距离: 取决于物镜:从 0.30毫米 至 20毫米 取样反射率 (R1000系列): 低至小於1% 撷取时间: 单一影像撷取, 低至小於 1微秒 (无扫描机械装置, 无相位移) 主要特点: 实时监测影像 获取与重建速率(标准15 fps, 大于15 fps为选配) 非常快速, 使得影像可以实时监看. 观看动态事件的过程和活细胞的相互作用现象由此变为可能. 坚固 & 稳定 非常短的取像时间 (数微秒) 使得此设备在测量时, 几乎不受外在的振动影响, 用防震台面也变得不需要. DHM? 的坚固与稳定性, 允许非常微弱, 缓慢的变形或移动, 需稳定性非常好或时间超常的测量. 高分辨率 沿着垂直 (Z) 轴的分辨率,小于1奈米. 横向的分辨率 (在XY平面) 取决于物镜的数值孔徑 (用油浸渍的物镜可测得300奈米), 像传统的光学显微镜. 非接触式 & 完全非侵入式测量 低功率可见光的样品照明 (至少低于共焦式显微镜10"000倍), 与试片表面不接触, DHM? 可以保存你样品完整的特性. 此外, 生物试片可以直接观看不需染色, 因此可以防止化学性或物理性的危害. 值得有效的解决方案 DHM? 的安装费与操作费用都非常低廉. 适应性与弹性使它们在高分辨率显微镜领域非常有竞争性. 这些特性使DHM?在研发和制程品管上, 成为非常值得, 有效的工具. 友善的操作 无须样品准备, 无须特别的环境 (温度, 真空, ...), 样品不需高精准度的位置与方向摆放, DHM? 简化技术, 让使用者可以非常容易并快速的获得准确的测量. 功能强大三维空间处理软件 可以用相同的仪器, 不同的操作模式去延伸你的应用范围. DHM-提供了无与伦比特有的数字工具, 改善了仪器使用的容易性与耐用性, 也增加了测量的准确性与稳定性. 标准和先进的量测接口, 使外在控制可在欢乐和弹性的环境中达成. 瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM(Digital Holographic Microscopy)是划时代性的高科技技术产品,科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种,一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo R1000 series&rdquo ,另一种是试料透过光与参照光进行干涉的&ldquo T1000 series&rdquo 。照射到试料上的光线与参照光产生的干涉图案使用CCD相机,作为数字数据保存下来,由此算出三维数据。计算三维数据时使用的是专用软件&ldquo Koala Software&rdquo 。 应用: 其主要应用是在MEMS研发中用于测量工作,以及在生产线用于缺陷检测。与上述用途中现在经常使用的共焦显微镜相比,在同行分辨率下能够更高速地进行测量。垂直方向的分辨率为0.6nm,水平方向为200nm~300nm(取决于物镜)。使用1.25倍率的物镜时视野为4mm× 4mm,可以15视野/秒的速度进行测量。因此,1cm见方的试料几分钟即可完成观察。使用现有共焦显微镜时,同等范围的观察则需要几个小时~10小时。 此次的产品最大可将观察速度扩展至1万视野/秒。由于摄影速度快,因此不需除震台,可用来检测流水线上的产品。 u 材料科学 u MEMS/MOEMS 微型词典系统 u Micro-optics 显微光学 u Semiconductor 半导体 u Nanotechnology纳米技术 u 生命科学 u Cellular biology 细胞生物 u Biochips生物芯片 u Bio-sensors生物传感器
  • 50倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场,25直径视场目镜 (mm) 0.5视场,20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动,欢迎来电咨询。
  • 2.5倍 尼康 显微镜 白光干涉镜头
    2.5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective2.5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率 2.5X数字孔径 NA 0.075工作距离 (mm) 10.3焦距 FL (mm) 80.0分辨能力 (μm) 3.7焦深(μm) 48.6视场,25直径视场目镜 (mm) 10视场,20直径视场目镜 (mm) 8视场, 2/3" 传感器 3.52 x 2.64mm视场, 1/2" 传感器 2.56 x 1.92mm支架 C-Mount安装螺纹 M27 x 0.75重量 (g) 440生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动,欢迎来电咨询。
  • 10倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场,25直径视场目镜 (mm) 2.5视场,20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。
  • Park原子力显微镜AFM探针OMCL-AC240TS 10M
    详情请咨询:18994392037(同VX)李经理 AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜,如AFM(范德华力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。 还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点,在于探针位于测微悬臂的Z端,由此易于清楚确认探针与样品的位置关系,从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求,此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 OMCL-AC240TS 10M 微软型(Medium-soft Silicon Cantilever) 适用于测量易受损(Soft)的样品 在轻敲模式中拥有Z微小的弹性系数2 N/m的硅悬臂,适合用来观测局部解剖的表面与柔软样品的黏弹性 Medium-soft Silicon Cantilever Spring constant of 2 N/m (norminal) is smallest of silicon cantilevers, suitable for observing surface ography and viscoelasticity of soft samples.(2n/m,70khz) AFM的测量模式:※接触式(Contact mode): 探针与材料表面间的距离为(2~3nm)。在扫描时,针尖与样品表面轻轻接触,产品微弱的排斥力使探针偏移,从而使得样品表面形貌的图像。※非接触式(Non-contact mode): 探针与材料表面总维持着一定的距离(低于20nm)。非接触式为轻敲式的衍生,一样是利用探针跳动来扫描,但是探针始终都不接触表面。 ※轻敲式(Tapping mode又称 AC mode): 介于接触式和非接触式之间,探针与材料表面间的距离为(5nm)。以探针震荡方式,探针在试片上跳动,当探针震荡至波谷时微接触样品。 Park探针选用小贴士: AC160TS:Tapping Mode,用於較硬的sample,適用半導體材料,金屬材料,Polymer,DVD… AC240TS:Tapping Mode,用於較軟的sample,適用生命科學:DNA,細胞,薄膜,蛋白質…
  • 布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air AFM探针
    布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air,是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针,仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法,对图像质量进行持续的监测,并能自动地对参数进行适当的调整。因此:- 无论用户的专业技术水平如何,图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱,调到超低力,从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除,定位调整,获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针,所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格: 延展阅读:关于布鲁克:布鲁克公司以先进的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势:*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能 在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为:扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作 指标:探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • 电动显微镜载物台配件
    电动显微镜载物台配件集成了测量系统,实现显微镜和样品的精确定位,提供75x50mm的行程范围,最小步进高达0.05微米,定位进度高达1微米,是全球领先的自动显微镜载物台品牌。电动显微镜载物台配件特点 集成高精度测量系统实现全球最高定位精度和测量精度 具有定位测量功能 德国圆角的平面人体工程学设计 显微镜载物台插入配件可更换设计,具有多种stage inserts 选配,满足显微镜应用 电机/编码器电缆前右部连接,符合操作人员习惯 集成电子位移台识别系统,自动识别扫描台及其控制器 配备高精度特定型号控制,可享受全球5年超长质保电动显微镜载物台配件参数 行程范围:100x100mm 行进速度:最大240mm/s 重复定位精度:1um 精度:+/-1um 分辨率:0.05um (最小步进) 正交性:10arcsec 驱动电机:2两相步进电机 位移台开口:160x116mm 材质:高级铝 表面处理:氧化涂层,黑漆 自重:~2.6kg电动显微镜载物台配件适合显微镜品牌和型号 Leica DM1000 Leica DM2000 Leica DM2500 Leica DM2500 M Leica DM3000 Nikon Eclipse E400 Nikon SMZ1000 Nikon SMZ1500 Nikon SMZ800 Olympus BX40 Olympus BX41 Olympus BX41M Olympus BX50 Olympus BX51 Olympus BX51M Olympus SZX10 Olympus SZX12 Olympus SZX16 Olympus SZX7 Olympus SZX9 电动显微镜载物台配件系列集成融入了测量系统,专业为显微镜自动样品定位和精密样品定位应用设计,专业为全球主流显微镜品牌配套,独具的测量系统功能是全球领先的超精密定位测量系统,极大提高测量精度,采用全球领先的德国长期润滑系统,确保长期使用而不需维护.
  • 立体显微镜配件
    立体显微镜配件由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售!孚光精仪精通光学,服务科学,更多关于立体显微镜配件欢迎咨询! 光学照明研究公司提供高品质的光纤照明系统,该系统的价格不到与其相似系统的一半。不包括聚焦透镜,当产物需要聚焦/准直时可以加上聚焦透镜从远距离使用。 光纤照明/光源的替换灯泡 分叉型鹅颈光纤光管 Tritech研究公司的高品质分叉型光纤导光管将光源分为两束定向光束。放置之后,“鹅颈”鞘保持它的形状,所以光会留在用户想要的位置。如果需要从超过几英寸处(几厘米)获得光,可以添加聚焦透镜得到。 光纤光管的聚焦透镜 这个镜头用于Tritech研究公司的高品质的光纤导光管(单,双叉)。通过放置透镜,光纤束可以聚焦,并在一定程度上准直。 立体显微镜配件的LED双鹅颈照明灯 这个21世纪的双鹅颈式照明灯是6瓦的LED,给样品提供的光量与150瓦卤素灯光纤导光管系统提供的光量相近。比传统卤素显微镜照明灯的主要改进有: 节能25倍 灯泡寿命长40倍 静音运行(不需要风扇) 不论光线水平,白色光谱保持不变 最小的额外热量 此系统包括二个23英寸(59厘米)的鹅颈照明灯,放在用户瞄准的地方不动。 立体显微镜配件 带测微计目镜(放大倍数10X,15X,20X) 此目镜内置测微计,有10X和20X两个放大倍数。购买SMT-1体视显微镜时,此目镜可能是可选三个免费配件之一,也可能需要单独购买。 SMT1的有节臂杆支架,带底座支架版 立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米的阻杆。立柱高400mm。 SMT1的有节臂杆支架,台钳版 立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米阻杆。立柱高400mm。该表钳可以打开到75mm。 立体显微镜配件 灯泡 这个6伏15瓦的钨丝灯泡有自然的视野灯体和灰镜座,适用于原始的显微镜型号。这款SMT-1立体显微镜系统的更换灯泡有100小时的寿命。 立体显微镜系统灯泡 这些12伏10瓦特卤素灯泡带有方形灯体和米色的人体工学底座,适合新的显微镜型号。这种SMT-1立体显微镜系统的新更换灯泡有2000小时的寿命。 SMT1球轴承悬臂架,底座支架版 立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32mm的阻杆。立杆高400mm。 SMT1球轴承臂支架,台钳版 立柱直径为32mm。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米的阻杆。立柱高400mm。该台钳可以打开到75mm。 SMT1C-口三目光电管和数码摄像机一起使用 包括:双光圈光桥 C口适配器。请注明您的摄像机所需的去放大的水平。例如,“1/2英寸的”芯片照相机是使用0.65倍适配器的效果最好。如果使用1倍适配器,通过相机目镜看到图像的中心放大版本。如果使用0.35倍适配器,会看到一个“小插图”(通过目镜看到整个圆形图像在一个黑色的矩形内。) SMT1系统的10X目镜(一对) 目镜放大倍数为10X,15X,20X,成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片,订购SMT1立体显微镜系统时,您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购目镜。 SMT1系统的10X测微目镜这是一个10X单目镜,内置测微计分划板,这样用户就可以测量样品的尺寸或标记样品位置,以便其他人可以精确观察到同一点。订购SMT1立体显微镜系统时,可以选择此目镜为的3个免费的配件之一,也可以单独订购。 SMT1系统的15X目镜(一对) 目镜放大倍数为10X,15X,20X,成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片,订购SMT1立体显微镜系统时,您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购目镜。 SMT1系统的20X目镜(一对) 目镜放大倍数为10X,15X,20X,成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片,订购SMT1立体显微镜系统时,您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购目镜。 立体显微镜系统的0.5X物镜 附加物镜用于SMT1立体显微镜,有0.5X,1.0X,1.5X,2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购此物镜。 立体显微镜系统的1.5X物镜 附加物镜用于SMT1立体显微镜,有0.5X,1.0X,1.5X,2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购此物镜。 立体显微镜配件的2.0X物镜 附加物镜用于SMT1立体显微镜,有0.5X,1.0X,1.5X,2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一,也可以单独订购此物镜。 用于SMT1显微镜的三目更新T-口 与数码相机一起使用 包括:双光圈光桥 3.5X单反投影镜头 摄影目镜 T-2螺纹连接光电管
  • 原子力探针/力学测量/杨氏模量/RTESPA-525
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • XTL-3系列 连续变倍体视显微镜
    XTL-3系列 连续变倍体视显微镜产品参数:载物台Φ85调焦范围大于45mm物镜变倍物镜(0.7×~3.0× 变倍比:4.28:1)④ 标准配套表XTL-3系列 连续变倍体视显微镜 XTL-3系列 序号名称配置备注XTL-3XTL-3AXTL-3B1主机XTL-3●2主机XTL-3A●3主机XTL-3B●4变倍物镜●●●0.7×~3.0× 变倍比:4.28:1510X开涅尔目镜●●●●●●WF10X-20615X开涅尔目镜○○○○○○WF15X-15710X开涅尔分划目镜○○○WF10X-2086V10W卤钨灯●●96V10W(带反光)●●●●10载物台●●φ8511眼罩○○○○○○注:●为必备件,○为可选件。 XTL-3系列 连续变倍体视显微镜
  • AFM原子力显微镜计量校准片
    问题:当原子力显微镜做样品成像时,很难知道表面是否准确的表征?也许会受针尖的顶端破碎或钝影响。破损或钝的探针针尖会使测量结果有显著差异,如粗糙度或表面结构等等。要确保用户在使用探针时要有适当的提示,必须直接扔掉旧探针或定期使用SEM电镜检测,这两种方法都非常的浪费探针或耗时。 解决方案:BudgetSensors Tipcheck介绍-一个SPM样品可以在原子力显微镜的针尖条件下快速、简便的测定。即使在一个单一的扫描线上,也使之间的差异变得明显。因此,tipcheck提供了一个快速简便的方法来比较和分类原子力显微镜探针不同的针尖、形状和清晰度。您可以很容易的检查您的AFM探针是否完好,是否已经磨损或破损,从而不需要扫描使用该探针扫描整个样品图像或做SEM电镜扫描检测。此外,该样品的完美自动提示和针尖表征软件在市场上可用。BudgetSensors Tipcheck样品是一种非常耐磨的薄膜涂层,沉积在硅芯片上。这层薄膜涂层呈颗粒状,尖锐的纳米机构使得它能在AFM探针针尖反向成像。该Tipcheck模具的尺寸为5*5mm。下面的图片显示了使用不同探针测试tipcheck样本之间的比较,扫描尺寸为1*1um,高度为100nm。根据下面的形貌图你可以找到一个具有代表性的断面图像。为什么我们需要高度校准块?原子力显微镜已经成为一个有价值的工具,不仅用于可视化,而且也可以用于进行精确的纳米和微米尺度测量。为了能使原子力显微镜最精确的测量,原子力显微镜需要正确的校准。 HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG作为budgetsensors 高度标准介绍作为增加相应,能负担原子力显微镜的高品质校准标准需求。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG是一个尺寸为5*5mm且阵列在硅基底上的二氧化硅结构。芯片结构的制造工艺保证了良好的均匀性。这将确保你的AFM系统Z轴方向校准方便可靠。 校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。校准结构的台阶高度为20nm(HS-20MG)100nm(HS-100MG)和500nm(HS-500MG)每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。 在500*500um的小区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。除了Z轴校准,这样的设计也让XY方向有了更大的校准范围(40~100um以内),而且,校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何结构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱台阶高度HS-20MG:~20nmHS-100MG:~100nmHS-500MG:~500nm注:每个校准片盒子标签上都标有明确数值为什么需要XYZ标定校准?为了使原子力显微镜更精准的测量,必须进行正确校准。因此,更精确的校准标准才能实现原子力显微镜更好的测量结果。在这方面,校准的标定标准允许原子力显微镜系统的最精确校准。 我们的解决方案:CS-20NG是一种先进的XYZ标定校准,使校准精度降低到纳米级。它的特点是在一个5*5mm的硅芯片上阵列二氧化硅结构。确保整个芯片结构有良好的均匀性。反之,又确保了方便可靠的校准原子力显微镜的XYZ三方向的精度。校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。台阶高度在20nm范围内,每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在中区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。在小区域内500nm间距的圆形孔。CS-20NG适用于横向和纵向的AFM扫描校准。校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。CS-20NG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何机构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱在100*100um平方内分布着间距为500nm的圆形孔台阶高度:20nm每个校准片盒子标签上都标有明确数值
  • 多功能显微镜配件
    多功能显微镜配件是生命科学和医学领域的最佳性价比万能显微镜,提供40X-1000X的放大倍率,特别适合实验室科研等高级应用。 多功能显微镜配件特点: 欧洲生产制造,秉承欧洲百年精密光学优势,具有突出的优势和性价比 可升级到偏光显微镜,暗场显微镜,相衬显微镜,也可添加相机组成显微成像系统。 具有6V 20W的卤素灯照明,适合220V/50Hz的中国电力标准。 并且具有LED配置供用户选择 多功能显微镜配件特色: * 观察筒:30度倾角圆弧形管,360度可旋转,缓解颈部肌肉,长时间观察也不疲劳。可以屈光度补偿地调节瞳距,调节范围48-75mm. * 目镜非常适合佩戴眼镜的人员观察。 * 四位物镜转换器方便使用不同放大倍数的物镜观测。 * 低位同轴粗调聚焦和标定级的微调聚焦控制。 * 聚焦自动终止安全防护功能。 * 双层样品台配带可更换的超硬玻璃板,防止样品台划伤,污染等. * 高级暗场显微镜克勒照明系统 20W卤素灯。 * 可升级为2人共用显微镜 可选配件: 各种高级相衬显微镜目镜, 相衬(phase contrast), 偏光,暗场,数字相机等。 多人共览配置---可配置成侧面或后面观察型,两人同时观测。 多功能显微镜配件参数 放大率:40x-1000x 显微镜镜体:坚固耐用,300mm×270mm,橡胶支点 物镜转换器:滚珠轴承四孔转换器 目镜筒:双目圆弧形观察筒,防霉设计,30度倾斜,360度可旋转,瞳距调节:48-75mm 样品载物台: 双层155x135mm载物台, X,Y位移行程范围76x30mm,超硬玻璃覆盖,防止划伤或污染。 聚焦:低位粗调和细调(步进2微米),总对焦范围20mm。具有自动聚焦停止的安全功能。 集光器: Abbe 明视野集光器, 数值孔径(n.A) 1.25,集成虹膜光阑 目镜:EW10X/20宽视场目镜 物镜:ICO Plan 4x/0.10 ICO Plan 10x/0.25 ICO Plan 40x/0.65 弹簧加载 ICO Plan 100X/1.25 浸油,弹簧加载 照明光源:内置电源20W卤素灯,电源电压110V/220V,频率50/60HZ。 标准附件:防尘罩,蓝光虑光片,浸油,用户手册,2根保险丝, 20W飞利浦卤素灯 可选附件:铝制工具箱,多型号目镜,目镜锁定工具,暗视野滤光片(中心光阑) 加热台:可选加热台,提供恒定温度,观察活细胞样品。孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括凝胶成像仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。更多关于多功能显微镜报价等诸多信息,孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来,了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取!
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制