大面积快速扫描轮廓仪

大面积扫描开尔文探针系统配件能够在垂直方向移动开尔文探针实现电动控制开尔文探针与样品的距离。 样品安装到真空吸盘上，真空吸盘可带着样品移动150x150mm位移，从而实现开尔文扫描探针系统大面积扫描样品表面。大面积扫描开尔文探针系统配件特色: 电动控制开尔文探针与样品的距离 电动控制样品XY移动范围150 mm x 150 mm 具有编码器的主动定位定位追踪系统 Z方向步进大小: 625 nm X - and Y-方向: 5 μm / microstep 功函分辨率:: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 框架表面镀金 开尔文探针头采用纯金工艺 最大外形尺寸: 50 cm (W) x 60 cm (D) x 25 cm (H) 最大样品尺寸: 150 mm x 150 mm 真空样品吸盘 包含参考样品标准: HOPG, Au on Si, Al/Au-edge, Potential Check 可选配温度和湿度传感器

三维表面轮廓仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器，也是一款光学轮廓仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。 三维表面轮廓仪配件根据国际标准计算2D和3D参数，使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析，依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算，从而保证了国际公信力，以标准方案或定制性方案对2D轮廓或三维轮廓表面形貌和表面纹理，微米和纳米形状，圆盘，圆度，球度，台阶高度，距离，面积，角度和体积进行多范围测量，创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术，一套表面轮廓仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。 三维轮廓仪配件参数： 定位台行程范围：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动) 接触式测量范围： 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围：2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s 非接触式测量范围： 范围：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s 表面轮廓仪配件应用：测量轮廓，台阶高度，表面形貌，距离，面积，体积分析形态，粗糙度，波纹度，平整度，颗粒度 摩擦学研究，光谱分析磨料磨具，航天，汽车，化妆品，能源，医疗，微机电系统，冶金，造纸和塑料等领域。

仪器简介：大面积模拟器采用特殊的设计进行模拟日光辐射环境测试需求。 可靠的系统性能精确再现了太阳光谱（全辐射），系统基本组成：辐射单元，电源，以及控制系统。应用领域: 材料老化研究；增强紫外和日光照射下，涂料，纺织品以及塑料的颜色牢固程度和材料稳定性测试涂料，涂层长期紫外照射测试；技术参数：电源: 为了获得最好的性能，灯泡采用电子电源供电。电子电源或EPS-Modul采用方波电流对灯泡进行驱动。这样可以减少辐射调控至+/-1%以下， 即便功率输入发生变化的时候， 还可对强度进行控制和以及提供稳定的功率输出。另外，它可以提供最佳灯泡控制环境，这样就可以最大程度延长金属卤化物灯寿命。 控制系统: 系统的操作由专用计算机执行。菜单式软件用于系统的配置以及操作。系统输出以及设置可以保存，以便下次调用。保存的文件可以作为一个复杂的日光模拟测试程序一部分，顺序执行。在无缝操作界面，PC使用我们的软件可以与测试设备主控计算机相连，软件提供简单的操作以及快速测试设置，对测试设备进行最大负荷使用。 定位系统: 为了能让系统有效模拟各种自然日光条件，通常系统采用一个机械定位系统。这使得日光排列可以随轴而动，进而适应各种测试设置要求或模拟自然日光日周期变化。对于位置的控制可以采取手动按钮或者集成到软件系统进行自动控制。定位系统通常根据应用和测试设备的不同而不同。我们可以根据不同客户要求设计最合适的系统。 系统需要定制以达到客户测试目的。考虑到系统设计的机动性以及能够适应多种设置要求，系统采用模块化设计。对于不同尺寸的Radiation Unit，EPS-Moduls，以及Radiation Unit mounting systems,以及软件的灵活性，我们会设计出最经济的解决方案来满足日光模拟应用要求。 测试标准: 我们的系统设计符合多种测试方法规定, 比如：DIN 75220, “汽车部件在日光模拟环境中的老化”， Society of Automotive Engineers (SAE-汽车工程师学会) methods， MIL-STD-810， EPA 以及其他方法。作为模拟器产业的领军生产商。我们经常作为顾问参与测试标准的制定 。我们已经开发出了多种电源以及灯泡来适应多种应用要求。主要特点：采用专门的金属卤化物灯用作辐射源。金属卤化物灯可产生类似与连续光谱的高密多线光谱。与特殊的滤光片相结合，金属卤化物灯系统光谱分布非常接近自然日光（CIE85）。除了加速退化测试应用，不同特性的滤光片可以用于其他应用。结合反射镜，滤光片以及灯箱可以产生高辐射效率和高空间均匀性。

尺寸：50*50um德国2D Next主要提供机械剥离的超大尺寸二维材料，可以提供在众多基底上的转移技术，如二氧化硅，蓝宝石，CVD金刚石等，可用材料包括MoS2，MoSe2，WS2，WSe2等2D Starter Kit包括四个不同的单层材料（MoS2，MoSe2，WS2，WSe2）在一个基底上，让你在一个基底上能观察到4种大面积单层材料。

定位目标-黑色轮廓-1x500；货号：ACC-CRE-PTBC合作、共赢！徐琳达：17806282711美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系热线：0532-89070738联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海热线：15002189808上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

形创原装进口数据线，质量可靠，数据阐述稳定，不会出现数据传输延迟。17806282711合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

ACC-H3D-PS18 电源适配器 ：电源 - 18 伏 / Power Supply - 18 Volt 17806282711合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

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形创3D扫描仪数据线 ，品名 ACC-H3D-CUSB： USB 电缆 3.0，适用于 HandySCAN - 4 米 / USB cable 3.0 for HandySCAN- 4 meters 合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜，SPM显微镜， 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成，同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台，包括各种扫描位移台，以确保用户大面积扫描样品，扫描探针显微镜具有最佳的多功能性，可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察（正置和倒置）扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性： 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统： 数字控制器和模拟反馈系统，具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件，控制所有的硬件工作。

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东京精密表面粗糙度仪测针：1、标准型测针 DM438012、小孔用测针 DM438093、极小孔用测针DM438114、小孔测量用测针DM438125、齿轮面测量用测针DM438146、深沟，R沟测量用测针DM438157、细长小孔测针DM438218、低倍率长孔测量用测针DM438229、深沟倒角测量用测针DM4382710、超深沟测量用测针DM4382611、红宝石测针 010250512、细长可测量用红宝石测针 0102520东京精密表面轮廓测量仪测针：1、标准型测针DM45501，DM45502，DM455032、锥形测针 DM45504，DM45505，DM455063、棱线测量用测针DM45507，DM45508，DM455094、小孔测量用测针DM45801，DM45802，DM45803，DM45510，DM45511，DM455125、小孔锥形测针DM45084，DM45085，DM45086，DM45513，DM45514，DM455156、直齿测量用测针DM45088，DM45089，DM45516，DM45517，DM455187、斜齿测量用测针DM45090，DM45091，DM45092，DM45519，DM45520，DM455218、高精度红宝石测针DM45522，DM45523，DM45524，DM45525，DM45526，DM455279、深沟测量用测针DM45531，0102804东京精密粗糙度仪、轮廓测量仪、圆度测量仪 测针型号：DM42001、S2800、S1400、S1800、DM42011、S480A、DM42012、S590A、DM42020、DM4380、DM43801、DM43802、DM43809、DM43811、DM43812、DM43813、DM43814、DM43815、DM43821、DM43822、DM43824、DM43825、DM43826、DM43827、DM43900、DM44026、DM45081、DM45082、DM45083、DM45084、DM45085、DM45086、DM45087、DM45088、DM45089、DM45090、DM45091、DM45092、DM45500、DM45501、DM45502、DM45503、DM45504、DM45505、DM45506、DM45507、DM45508、DM45509、DM45510、DM45511、DM45512、DM45513、DM45514、DM45515DM48505 DM48507 DM40508 DM40511 DM40513 DM48515 DM47501 DM47513 DM81900010-2501 010-2502 010-2521日本东京精密ACCRETECH测针 探针，测定子有大量现货，保证日本原装正品！东京精密轮廓仪测针、检出器 调整装置、台架、记录纸、 订货 货期快。东京精密ACCRETECH型号：测定子 检出器 调整装置0194000 E-DH-R639A/E-DH-R617A E-WJ-R01C0194001 E-DH-R617A E-WJ-R104A0194002 E-DH-R149A E-WJ-R411A0194003 E-DH-R80A E-WJ-R19A0194004 E-DH-R327A E-WJ-R20A0194005 E-DH-R354A E-WJ-R10A0194006 E-DH-R348A E-WJ-R378A0194007 E-DH-R329A E-WJ-R34A0194008 E-DH-R317A E-WJ-R77A0194009 E-DH-R636A/E-DH-R603A 0194010 E-DH-R618A 台架EM49030-S361 E-DH-R613A E-DK-R56AEM49030-S381 E-DH-R678A E-VS-S13AE-DH-R665A/E-DH-R669A E-VS-S57B0194200 E-DH-R677A E-VS-S16B0194201 E-DH-R720A E-VS-S21B0194202 E-DH-R690A E-VS-R20B0194203 E-DH-R749A E-VS-R24A0194204 E-DH-R774A E-DK-R16A0194205 E-DH-R770B E-DK-R19A0194206 E-DH-R779A E-DK-R34A0194207 E-DH-R391A E-DK-S24A0194208 E-DH-R614A E-DK-S25A0194209 E-DH-R708A 0194210 E-DH-R653A 0194400 E-DH-R725A E-TF-R25AEM49201-S375 E-DH-R707A L-WF-R08AEM49201-S374 E-DH-R608A L-WF-R07AEM49201-S315 E-DH-R724A L-WF-R11AEM49201-S361 E-DH-R714A L-WF-R03BEM49201-S376 E-DT-R32A/E-DT-R272A L-WF-R27AE-DT-R74A L-WF-R24AEM46000-S300 E-DT-R37A EM46000-S301 E-DT-R76A 记录纸EM46000-S302 E-DT-R10A E-CH-R04AEM46000-S303 E-DT-R87A E-CH-R05AEM46000-S304 E-DT-R173A I-250-125EM46000-S305 E-DT-R168B E-CH-R06AEM46000-S306 0102505 E-CH-S05AEM46000-S307 0102516 E-CH-S03AEM46000-S308 E-DT-R83A KT202-AEM46000-S309 E-DT-R95A CP-192EM46000-S310 E-DT-R120A CP-092E-DT-R106A AFD20P-060ASEM46100-S300 E-DT-R141A AFM20P-060ASEM46100-S301 E-DT-R107A EM46100-S302 E-DT-R44AEM46100-S303 E-DT-R105AEM46100-S304 E-DT-R163AEM46100-S305 E-DT-R140AEM46100-S306 E-DT-R130AEM46100-S307 EM46100-S308 EM46100-S309 EM46100-S310 EM-59103-S001 合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

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匠心艺术之作70mm2 FAST SDD Amptek最新研发了一款TO-8封装的70mm2 FAST SDD探测器。它的封装和Amptek其他所有探测器封装一样。这样使得70mm2 FAST SDD成为非常方便的替代品。在同样性能下，计数率是25mm2SDD探测器的3倍。特性 l 70mm2有效面积准直到50mm2l 123ev FWHM @5.9keVl 计数率2,000,000cpsl 高峰背比-26000:1l 前置放大器上升时间60nsl 窗口：Be(0.5mil) 12.5um或C2(Si3N4)l 抗辐射l 探头晶体厚度500uml TO-8封装l 制冷ΔT 85Kl 内置多层准直器 应用l 超快台式和手持XRF光谱仪l SEM中EDS系统的样品扫描或测绘样品l 在线过程控制l X射线分拣机l OEM FASTSDD-70规格参数 通用探头类型硅漂移探头（SDD）探头大小70mm2准直到50mm2硅晶体厚度500um5.9keV处55Fe能量分辨率峰化时间4us时，分辨率为123-135eV峰背比20000:1（5.9keV与1keV计数比）探头窗口Be:0.5mil(12.5um)或C2（Si3N4）准直器内部多层准直器电荷灵敏前置放大器CMOS增益稳定性20ppm/℃外壳尺寸XR-100FastSDD-703.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm)重量XR-100FastSDD-704.4盎司（125g）总功率XR-100FastSDD-702W质保期1年使用寿命取决于实际使用情况，一般5-10年仓储和物流长期存放：干燥环境下10年以上仓储和物流：-40℃到+85℃，10%到90%湿度，无凝结工作条件-35℃到+80℃TUV 认证认证编号：CU 72101153 01检测于：UL61010-1:2009 R10.08 CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1输入前放电源 XR-100FastSDD-70 OEM 配置±8V@15mA，峰值噪声不超过50mV。 PA210/PA230或X-123：±5V探头电源 XR-100FastSDD-70-100到-180V@25uA，非常稳定，变化0.1%制冷电源电流电压 最大450mA最大3.5V，峰值噪声100mV注： XR-100FastSDD-70包含它自身的温度控制器输出前放灵敏度 极性输出上升时间反馈 典型的3.6mV/keV（不同的探头灵敏度不同）正输出信号（最大1KΩ负载）60ns复位型温度监控灵敏度根据配置不同而变化当使用PX5，DP5，或X-123时，直接通过软件读取开尔文温度 FastSDD-70 探头可用于Amptek所有的配置中

防 腐 电 热 板DBF系列防腐温控数显电热板也称：防腐电热板、特氟龙涂层电热板。表面经进口优质PFA防腐不沾涂层处理，是样品加热消解、蒸干、煮沸、赶酸的专业实验用电热板。多种系列，多种型号供用户选择，亦可根据用户要求订做，采用特殊工艺制作,克服普通电热板因长时间连续工作而易损坏的弊端。可以满足物理、化学、生物、环保、制药、食品、饮品、教学、科研等不同行业化学实验室对试剂加热的需要。技术参数 型号DBF型GWB型操作面积（mm）600*400mm、400*300mm、500*250mm 可加工其他规格加热方式电加热 PID数显工作温度室温-260℃室温-350℃温控精度±1℃加热板块表面防腐PFA特氟龙涂层无涂层温控器常规温控数显控制器、液晶显示屏加热板材质优质铸铝、优质石墨额定电压220v连续工作时间＞48h 优点1、特氟龙防腐涂层，防腐铸铝加热板升温速度快2、 多个样品同时处理无交叉污染3、 DBF型电热板支柱全部采用聚四氟乙烯材料，很大程度上减少金属零部件进入实验室4、可定制时间设定功能，分段式温控，同时也可按要求加工不同的板面5、液晶显示屏可实现蜂鸣、自动断电，报警等功能特性：1、进口PFA特氟龙涂层, 一抹即净、永不生锈,防腐铸铝加热板升温速度快；2、板面与控制盒可以做成分体式，这样在实验过程中的酸雾就不会腐蚀控制盒里的元器件，从而增加了使用时长，多个样品同时处理无交叉污染；3、可定制时间设定功能，分段式温控；4、电源线露出部分采用PFA管子包裹，进一步防止酸气对元器件的腐蚀；

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SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向，不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品，SPIP是可视化、修正，分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构，在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司，目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包，可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用，主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件：多年来，SPIP扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括： 扫描探针显微镜（SPM），原子力显微镜（AFM），扫描隧道显微镜（STM） 扫描电子显微镜（SEM），透射电子显微镜（TEM） 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜（AFM），扫描探针显微镜（SPM），干涉仪（Profilers,），共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。

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