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实谱便捷式射线荧光仪
仪器信息网实谱便捷式射线荧光仪专题为您提供2024年最新实谱便捷式射线荧光仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括实谱便捷式射线荧光仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的实谱便捷式射线荧光仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合实谱便捷式射线荧光仪相关的耗材配件、试剂标物,还有实谱便捷式射线荧光仪相关的最新资讯、资料,以及实谱便捷式射线荧光仪相关的解决方案。
实谱便捷式射线荧光仪相关的方案
手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳资源勘查中的应用
便携式 x 射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研 究了手持式 x 射线荧光光谱仪在富钴 结壳碎块和 浅钻岩心野外现场原位分析 中的应用 能力。
手持式X射线荧光光谱仪测定富钴结壳样品中锰铁钴镍铜锌
便携式X射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研究了手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳碎块和浅钻岩心野外现场原位分析中的应用能力。
手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳资源勘查中的应用
便携式X射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研究了手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳碎块和浅钻岩心野外现场原位分析中的应用能力。
手持式X射线荧光光谱仪测定富钴结壳样品中锰铁钴镍铜锌
便携式 x 射线荧光光谱仪可以快速进行 多元素 实时分析 ,在富钴结壳资源勘查中有广阔的应用前景,但是现有仪 器的分辨率和稳定性有待进一步提 高,特 别是现场原位分析法的应用有待研 究。本文针对富钴结壳中目标元素含量相对较 高的特点 ,采用松散 粉末法制样 ,建立了手持式 x 射线 荧光光谱仪快速测定太平洋富钴结壳样品 中M n 、Fe 、Co、N i、Cu 和 zn 的分析方法。
粉末压片-X射线荧光光谱法测定烧结矿中主次组分
将自制的烧结矿控制样品用粉末压片法制样,使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对烧结矿中主次组分的X射线荧光光谱分析。
粉末压片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁元素
本文将自制的铁矿石控制样品用粉末压片法制样,使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立TFe元素校准曲线,实现对铁矿石中铁元素的X射线荧光光谱分析。此法分析铁矿石样品,荧光分析值与化学值对比能够达到± 0.30以内,满足矿山开采过程中快速分析的需求。
奥林巴斯X射线荧光光谱仪守护食品生产线的安全
食品生产线为何需要奥林巴斯X射线荧光光谱仪的助力。因为机械并非不会出错,磨料、粘着、表面和近表面的疲劳、腐蚀等会让食品加工机器的金属部件产生“不适症”,那些细小的金属碎片可能随时会进入食品中,因此检测异物是食品工厂重中之重的安全责任。
压片制样-能量色散X射线荧光光谱仪 测定焦炭中钙元素含量
氧化钙是焦炭中的一种常见氧化物,其含量对焦炭的质量具有重要影响。首先,氧化钙含量高会导致焦炭的灰分增加,降低焦炭的热值;其次,氧化钙会降低焦炭的机械强度和耐磨性,使焦炭易碎,不利于运输和使用。钙元素的测定方法有滴定法、ICP光谱法、ICP质谱法、原子吸收光谱法、X射线荧光光谱法等分析方法,前4种分析方法都需要将焦炭样品进行酸解成液体再进行分析,整个过程需要使用危险试剂且处理过程复杂;而X射线荧光光谱法具有制样过程简单和测试过程快速等优点,用于测定焦炭中的钙元素含量具有非常大的优势。本方案采用压片制样-X射线荧光光谱法对焦炭中钙含量进行测试。
如何选择燃料用X射线荧光测硫仪
本文通过解读燃料硫浓度的强制性国家标准,比较了尽可能多的各国燃料中硫测定的X射线荧光光谱法标准,主要是比较标准中的重要指标,如:重复性r、再现性R、合并定量限(PLOD)等,及不同标准所采用的各种不同的X射线荧光光谱法,结合具体应用和市场上大部分的X射线荧光测硫仪,给出了选择X射线荧光测硫仪的方法。特别是结合本公司的X射线荧光测硫仪,给出了选择本公司的各种不同的X射线荧光测硫仪的方法。
应用S8 TIGER型X射线荧光光谱仪分析镍矿石中主次成分的含量
应用S8 TIGER型X射线荧光光谱仪分析镍矿石中主次成分的含量
X射线荧光光谱仪一“眼”识铂_助力汽车催化剂回收
汽车催化剂中的铂元素,作为一种贵金属,通过奥林巴斯X射线荧光光谱仪的分类和适当处理,分拣出汽车催化剂中的铂元素,实现资源的循环利用,使得原本被废弃的铂族金属在未来还有“发光发热”的时刻。
熔融制样X射线荧光光谱法—电石渣化学成分分析中的应用
电石渣中元素的测定方法有滴定法、ICP光谱法、ICP质谱法、原子吸收光谱法、X射线荧光光谱法等分析方法,而前面4种分析方法都需要将电石渣样品进行酸解成液体再进行分析,整个过程需要使用危险试剂以及处理过程复杂;而X射线荧光光谱法具有制样过程简单、不需要使用危险化学试剂、测试速度快、多元素同时检测等优点,在测定电石渣时具有非常大的优势。
微谱科技高频熔样机 、能量色散 X 射线荧光光谱仪在石灰岩(石灰石)成分分析中的应用
使用微谱高频熔样机对石灰石进行样品前处理,将样品与混合熔剂熔铸成试料熔片,再使用微谱能量色散 X 射线荧光光谱仪进行石灰石成分分析的方法,测试周期短,实验流程简单,样品用料少,结果准确,可用于石灰石成分的精确分析,为其生产应用及产品质量把控提供重要参考依据。
能量色散 X 射线荧光能谱仪 (EDXRF) 分析空气过滤器
美国国家环境保护局 (U.S. EPA) 承诺改善美国的空气质量,这使得愈加迫切需要监测住宅、工业和娱乐场所过滤器采集的大气颗粒物中的特定元素。X射线荧光光谱法由于其无损检测特性、超高的灵敏度而成为了分析与空气监测样品的方法。Thermo Scientific™ ARL™ QUANT’X 型能量色散X射线荧光能谱仪 (EDXRF) 是测定空气过滤器采集的多种元素浓度的理想选择。台式仪器能够分析元素周期表中从钠到镅的元素,并且需要制备的样品最少。ARL QUANT’X 型能谱仪配备了先进的硅漂移探测器 (SDD),具有出色的分辨率,可减少光谱干扰,同时具备出色的响应能力。确保达到较大的立体角,可有效收集X射线。高通量铑阳极管的设计保证了可从X射线管直接激发,或通过选择九种不同的滤波器定制激发,提高了对各种元素的灵敏度。
熔融制样X射线荧光光谱法在磷矿石化学成分分析中的应用
磷矿石中元素的测定方法有滴定法、ICP光谱法、ICP质谱法、原子吸收光谱法、X射线荧光光谱法等分析方法,而前面4种分析方法都需要将磷矿石样品进行酸解成液体再进行分析,整个过程需要使用危险试剂以及处理过程复杂;而X射线荧光光谱法具有制样过程简单、不需要使用危险化学试剂、测试速度快、多元素同时检测等优点,在测定磷矿石时具有非常大的优势。本次我们采用了熔片法-X射线荧光光谱法对磷矿石中元素进行了测定。
熔融制样能量色散 X 射线荧光光谱法 在连铸保护渣及其生产原料化学成分分析中的应用
连铸保护渣是将各种造渣原料硅石、粉煤灰、水泥熟料、方解石、镁砂、硅灰石、碳粉、萤石等混合后烧制而成,其不同配比与其他少量特殊原料的选择可生产出多种型号的保护渣基料。连铸保护渣中元素的测定方法有滴定法、ICP 光谱法、ICP 质谱法、原子吸收光谱法、X 射线荧光光谱法等分析方法,而前面 4 种分析方法都需要将连铸保护渣样品进行酸解成液体再进行分析,整个过程需要使用危险试剂以及处理过程复杂;而 X 射线荧光光谱法具有制样过程简单、不需要使用危险化学试剂、测试速度快、多元素同时检测等优点,在测定连铸保护渣及其原料时具有非常大的优势。本次实验我们采用了熔片法-能量色散X射线荧光光谱法对连铸保护渣及其原料进行了分析。
爆炸物的X射线荧光定性-定量分析
通过X射线荧光快速无损地对爆炸物进行最早期的定性-定量分析,可以帮助公安司法机关初步快速查明爆炸物的来源提高了效率。而具有高灵敏度、高分辨率且采用了新型硅漂移检测器(SDD) 的岛津EDX-7000能量色散型X射线荧光光谱仪,非常适用于对爆炸物的早期定性-定量分析,操作简单,方便快捷,无需复杂的化学前处理。
粉末压片-X射线荧光光谱法测定高炉渣中主次组分
将自制的高炉渣控制样品用粉末压片法制样,使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对高炉渣中主次组分的X射线荧光光谱分析。
奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪用于土壤重金属污染检测
奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪,可以在土壤重金属污染检测,场地评估,有害废物筛查等方面发挥极大作用。仪器可以检测多种污染元素,如Ag, As, Ba, Cd, Cr, Cu, Hg, Ni, Pb, Se等,还可以检测稀土元素(REE)及放射性元素U,Pu,检测含量为PPM到百分含量级别。
如何用X荧光射线硫分析仪检测煤炭硫含量?
X荧光射线硫分析仪是一种利用X射线荧光光谱原理进行元素分析的设备。它通过激发样品产生X射线荧光,然后通过检测荧光的能量和波长,来确定样品中各种元素的含量。 在煤炭行业中,主要用于测定煤炭中的全硫和硫酸盐硫。全硫是指煤炭中所有的硫元素,包括有机硫和无机硫;硫酸盐硫则是指煤炭中以硫酸盐形式存在的硫。这两种硫的含量直接影响到煤炭的燃烧效果和环境影响。
X射线荧光光谱仪测定浮法玻璃渗锡量
将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中,理想的情况是玻璃经平面成型抛光,从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡,成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大,且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化,形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数,通过波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃,X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息,进而算出较为通俗的厚度计量单位(ug/cm2),适用于玻璃表面的锡层厚度分析,从而达到快速控制生产的目的。
熔融制样-X射线荧光光谱法测定炉渣中主次组分
炉渣标准样品用玻璃熔片法制样,用X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对炉渣中主次组分的X射线荧光光谱分析。用此方法分析炉渣样品,分析结果与化学值在允许误差范围内,能满足此类样品分析的需要。
X射线荧光光谱法测定黏土类样品主成分
参考标准《GB/T 21114-2019耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法》,建立了黏土类样品分析方法。将试样与专用熔剂按1:10比例混合,高温熔融制备成荧光分析用玻璃片,在X射线荧光光谱仪上进行测量。对烧失量影响、共存元素影响等分析条件进行了优化,以确保分析结果的可靠性。用标样灼烧基熔融制样建立工作曲线,工作曲线线性良好,正确度符合常规分析要求。对方法的精度及准确度进行了考察,分析结果优于标准要求。
X射线荧光光谱分析法在铼金属检测中的应用
X射线荧光光谱分析法在铼金属检测中的应用
使用便携式X射线荧光光谱分析仪检测矿体的金元素和金探途元素
奥林巴斯的X射线荧光(XRF)分析仪具有很高的分析性能,可以实时提供地球化学数据,从而有助于用户快速确定土壤、岩石和矿石的多元素特性。随着XRF技术发展,增加了可测元素的数量,改进了检出限,并降低了检测时间。Vanta XRF分析仪在金矿上和金矿实验室中,可以快速方便地测量与黄金勘探相关的很多种类的样本,而且还可以对精炼黄金产品进行快速准确的分析。
X射线荧光光谱法测定工业硅中杂质元素
本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。
熔融制样-X射线荧光光谱法测定铝土矿中主次组分
样品用无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂熔融,以消除矿物效应和粒度效应,并铸成适当形状的玻璃片,用X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对铝土矿中主次组分的X射线荧光光谱分析。用此方法分析铝土矿样品,分析结果与标准值在允许误差范围内,能满足此类样品日常检测的需要。
X射线荧光光谱仪测定玻璃中的着色剂
玻璃中的着色剂(氧化钴、氧化镍、氧化铁、氧化铬、氧化锰)的含量直接影响玻璃的色度和透过率。在研究高、中、低透玻璃转换过程中,其含量对及时调整配方,使高、中、低透玻璃顺利转换都有很大的指导意义,通常所应用的化学方法须要4~6小时,这些方法对于日常的检查是不适合的。因此,及时而准确地测定玻璃中着色剂显得尤为重要。X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃中的微量元素,无需复杂的样品制备,可在3~5分钟内完成测试。
X射线荧光光谱法分析玻璃纤维及原料中的主次成分
依照国标《GB/T 43309-2023玻璃纤维及原料化学元素的测定 X射线荧光光谱法》方法,将玻璃纤维或原料高温灼烧处理后熔融制成玻璃熔片,使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立可测元素范围广、浓度范围宽的元素工作条件,不但能分析各类玻璃纤维主次成分含量,也能分析叶腊石、高岭土、石灰石、白云石、钠长石、钾长石、玄武岩、矿渣等矿物原料及配合料中的主次成分含量。实验结果表明,分析结果的准确度及重复性完全优于同类标准要求。该方法操作简单,能够很好地消除基体效应、粒度效应及矿物效应,提高了分析方法的准确度。
X射线荧光光谱法分析化探样品中的38种元素
化探即地球化学勘探,是一种探矿方法,是系统地测量和研究各类天然物质中与自然资源有关的地球化学指标,进行资源勘查或预测的方法。一般说﹐化探分析应满足下列要求﹕能适应化探测量中采样介质的多变性﹔能十分可靠地测出有关元素的地球化学背景分布特征﹐由此准确计算背景与异常下限值所必需的检出限﹔能满足不同化探工作阶段的需要﹐如要满足小比例化探扫描及普查至大比例尺详查﹐对分析灵敏度﹑精密度和准确度以及元素测定的不同要求﹔能一次测定取得多种元素信息﹐以利于提高化探本身的综合性和解释推断﹔能够适应成千上万计的大批量化探样品分析﹐并能迅速及时地提交结果。X 射线荧光光谱仪﹐可以很高的分析精密度和准确度同时测定主﹑次和微量元素。
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