环境样品射线荧光分析

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    奥龙集团传承60余年中国射线仪器研制历史 丹东奥龙射线仪器集团有限公司是中国射线仪器行业技术力量与综合实力雄厚的民营高科技企业。奥龙集团传承60年中国射线仪器研制历史。奥龙集团旗下拥有上海奥龙星迪、丹东奥龙电子、奥龙检测服务、丹东奥龙中科传感技术四个子公司。奥龙是专业X射线仪器和材料试验仪器的开发商和产品制造商,也是X射线检测解决方案的服务商。 丹东奥龙射线仪器集团有限公司坐落于辽宁省“五点一线”沿海经济带上的丹东临港产业园区;占地面积3万平方米,建筑面积1.7万平方米;拥有一支技术过硬、行业领先、经验丰富的科技队伍;拥有完善的企业管理系统和行业领先水平的现代化生产环境和研发、生产、检测设备;是中国射线仪器制造与应用服务行业的领跑者;是无损检测行业的全球领导厂商美国GE的合作伙伴。 奥龙集团产品的技术含量和质量居国内领先地位;连续荣获辽宁省名牌产品称号并主导国内市场;中国发射的“神舟载人飞船”有多项系统使用奥龙集团生产的X射线探伤设备实施无损检测并取得成功,奥龙人为中国航天事业发展做出了贡献。奥龙主要荣誉:国家首批高新技术企业通过ISO9001国际质量体系认证ISO14001国际环境管理体系认证ISO45001:2018职业健康安全管理体系通过欧盟CE认证承担国家重大科学仪器设备开发专项国家x射线实时成像高技术产业化示范工程基地全国模范院士专家工作站 辽宁省企业技术中心辽宁省著名商标辽宁省名牌产品辽宁省软件企业拥有百余项国家专利和计算机软件著作权辽宁省工业CT仪器专业技术创新中心工业CT获改革开放40周年机械工业杰出产品奖获国家级专精特新“小巨人”企业奥龙主导产品:● 工业CT● X射线衍射仪● X射线探伤机● X射线晶体定向仪● X射线数字成像检测系统● X射线荧光光谱仪● 管道爬行器● 硬度计● 微焦点X射线检测系统● 活体小动物2D、3D成像系统● 开放式微焦点X射线管● 生物学X射线辐照仪● 安全检查仪● X射线检测服务产品应用领域:● 航空航天、兵器、船舶● 电力、电子、管道检测● 铸件检测● 安检、防爆检查● 轮胎、轮毂检测● 珠宝、文物古董,岩心检测● 直缝、螺旋钢管、锅炉焊管● 医疗、生物检测● 材料质量检测 ● 植物、种子检测● 焊接质量检测● 辐照检疫检测● 管道检测● 小动物辐照研究●气瓶、压力容器检测 ● 药品、食品检测● 火车各部件检测● 蓝宝石、单晶硅定向● 岩心检测分析● 材料分析、物相分析   奥龙长期专注于无损检测、材料试验机等系列产品的研发与运营,产品不仅畅销国内市场,而且还远销美国、德国、英国、印度、澳大利亚、荷兰、马来西亚、印尼、泰国、南非、沙特阿拉伯、香港、台湾等世界五大洲的50多个国家和地区。 产品广泛应用于国防、航空航天、造船、汽车、压力容器、机械、冶金、石油化工、电子信息、输变电、耐火材料、食品安全、科技教育、卫生等行业领域。 奥龙,一个立足丹东,产品辐射国内外市场的集团企业,正以技术、管理、品牌和规模的企业优势,紧紧围绕“提升核心能力,打造奥龙国际品牌”的战略,积极推动企业向着更高水平的目标迅猛发展。地 址:辽宁省丹东市振兴区爱河大街66号 (原丹东临港产业园区富民大街46号) 销售热线:400-168-8858电 话:0415-6278777 3141333 网 址:www.aolongcn.cn传 真:0415-3458588 3458688 电子邮件:al@aolongcn.cn
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  • 丹东辽东射线仪器有限公司(原丹东射线仪器集团股份有限公司分析仪器厂)是设计生产射线仪器的专业公司,是射线仪器行业的骨干企业,是国内外行业中享有盛名的企业之一。公司拥有技术力量雄厚的科技队伍,及一批丰富经验的生产骨干,具有国家标准试验设备和先进生产程序。产品通过ISO9001国际质量体系认证。 辽东射线仪器有限公司设计生产的X射线探伤机、X射线分析仪器等射线产品具有较高的科学性和独特性。现已生产的便携式X射线探伤机 、移动式X射线探伤机具有国内先进水平。是国内最早生产X射线晶体定向仪、X射线晶体分析仪的集科研、生产为一体的专业公司。我公司生产的移动式探伤机为国内的烟花爆竹生产新添了一项检验方式,具有性能可靠、使用方便、清晰度高等特点。本公司与北京有色金属研究院、有研硅谷、北京京联发数控科技有限公司合作设计生产的单晶滚磨定向装置,填补了国际产品的空白,并以角度的精确性、定向的准确性,提高了产品生产效率和科学效果;公司独立开发的线切割专用定向粘接系统填补了国内空白,解决了各种晶体在加工精度上的难点,受到了中外用户的好评。 长期以来,丹东辽东射线仪器有限公司精心致力于射线仪器的开发研究,从管理的高质量、技术的高标准、产品的高精度、企业的高信誉入手,使公司产品不但在国内享有盛名和较高的知名度,并已出口日本、德国、美国、韩国、朝鲜、台湾等国家和地区 。目前我公司生产的定向仪和滚磨定向装置在国内半导体行业的市场占有率已达到90%以上,深得国内外合作科研单位、高等院校、生产企业得赞扬和首肯。同时,我公司真诚希望与各科研单位、各射线行业成员企业及广大用户互通信息、团结协作,致力于射线仪器地技术开发,使产品精益求精,以高效创新、诚信务实地管理为宗旨,将丹东射线基地建设的更加强大、繁荣。
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  • 布鲁克(北京)科技有限公司是布鲁克在中国的全资子公司。布鲁克中国的总部位于北京海淀区,在上海和广州设有分公司。布鲁克AXS公司负责中国区X射线类产品的销售和售后服务工作,主要产品有X射线多晶衍射仪、X射线单晶衍射仪、X射线荧光光谱仪和三维X射线显微镜。关注AXS微信公众号,获取更多X射线分析技术和产品介绍。
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环境样品射线荧光分析相关的仪器

  • 仪器简介:EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击:http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数:1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点:●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面,操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室,可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器,将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能,限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义
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  • 概要:对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。型号:EA1000VX测量元素:原子序数13(Al)~92(U)样品形态:固体、粉末、液体射线源:X射线管球(Rh靶材) 管电压:最大50kV 管电流:最大1000μA检测器:多阴极半导体检测器分析领域:Φ1mm,Φ3mm,Φ5mm (自动切换)样品观察:彩色CCD摄像头滤波器:5种模式自动切换样品室:370(W) ×320(D) ×120(H)mm定性分析:能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示定量分析:块体校准曲线、块体FP法有害物质测量功能:环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy 材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等数据处理:配备EXCEL、配备WORD外形尺寸:520(W)×600(D)×445(H)mm安装尺寸:1500(W)×1000(D)重量:约60kg使用电源(主机):AC100~240V±10%单相 选购项:自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质特点:1. 快速测量与之前的机器SEA1000AII相比,每个样品的测量时间*都缩短了。例如,树脂类样品测量时间缩短了约1/3,金属类则缩短了1/10。实现了处理量(每天可测样品数量)的飞跃性提高。塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr高浓度BrSb塑料中的Cd,Pb,Hg,Cr黄铜中的Cd,Pb,Hg,Br,CrEA1000VX约30秒 120秒以内200秒以内SEA1000AII 约100秒360秒以内2000秒以上 表中显示为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间(平均值)*Cd为20 ppm,除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测最 低限所必要的总共时间。(本公司推荐条件下实施)2. 高技术率检测器(Vortex)不需要液氮,使用最大15万cps的高计数率检测器(Vortex)测量高灵敏度化,实现快速测量及高精度测量等。3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能,强化了有害物质测量功能—材料判断功能测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往,在测量前需要选择分析菜单,由于装置可以自动判断材质,不会在选择分析菜单时感到迷茫。 4. 提高操作性—操作面板根据操作面板的指示器和提示音,了解测量进度。根据测量面板的进度条,把握测量进展。 5. 各种环境限制用的标准物质除RoHS指令的管理对象元素(Cd,Pb,Cr,Hg,Br)以外,我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。 6. 自动进样器(选购项)自动进样器最多可连续测量12个样品。 7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理使用精度管理软件使测量时间变短,通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理(检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成),可测量检查的效率,达到消减成本。
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  • 超高性能X射线荧光光谱仪,无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮! 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度!高速!高分辨率! 大幅提升传统产品的分析性能 软件使用简便! 同时配备简易型分析软件PCEDX-Navi与专业型软件PCEDX-Pro 彻底追求通用性的硬件! 检测元素范围C~U、可开展真空分析及氦气置换分析 元素检测范围氦气置换分析优势可测试不适用真空、适用氦气置换分析的样品:液体,潮湿固体和粉末,微细粉末(小于微孔膜孔径),多孔且内含较多气体的固体1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换根据样品尺寸的不同,照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ,少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ,根据样品的形状可以选择最适合的照射直径。自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线,从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX-8100搭载5种(含OPEN共6种)一次滤光片,可以实现软件操控自动切换准直器和一次滤光片独立驱动,无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时,所有组合均可对应FP法进行定量分析。
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环境样品射线荧光分析相关的资讯

  • 10.11直播!X射线荧光分析技术与应用新进展
    10.11直播!X射线荧光分析技术与应用新进展,大咖分享,不容错过!X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可或缺的分析仪器设备,其作为一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术,已经成熟运用多年。一般可用于分析固体、液体和粉状物,其可识别浓度范围较宽,最低可至百万分级,既可以提供被测样品的定性信息,也可以进行定量测量。具有分析速度快,可测量多种类型的元素及其在不同类型材料中的含量浓度,技术成本较低等优势。为积极推动X射线荧光光谱的快速发展,展示X射线荧光光谱最新技术及应用,仪器信息网将于10月11日举办"X射线荧光分析技术与应用新进展”网络研讨会。此次网络会议为参会者提供一个在线交流、学习平台,让大家足不出户便能聆听到精彩报告。会议日程会议时间报告题目报告人14:00-14:30X射线荧光光谱无标样定量分析方法及其应用卓尚军中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员14:30-15:00材料分析利器:赛默飞EDXRF产品+UniQuant无标分析软件居威材赛默飞世尔科技(中国)有限公司 XRF及XRD应用专家15:00-15:30X射线荧光光谱仪在地质野外现场中的应用樊兴涛国家地质实验测试中心 副研究员15:30-16:00EDXRF的多样化应用及新品介绍方瑛岛津 产品专家16:00-16:30X射线荧光准确快速分析及其在水泥生产质量控制中的最新应用刘玉兵中国国检测试控股集团股份有限公司中央研究院 总工/教授级高工16:30-17:00X射线荧光在钢铁(不锈钢)成分测定的应用及研究王化明酒钢集团不锈钢分公司 主任工程师/高级工程师演讲嘉宾(排名不分先后)会议报名点击下方链接或扫描二维码报名链接:https://insevent.instrument.com.cn/t/g5a 扫码报名赞助参会请联系扫码联系
  • 精工电子纳米科技X射线荧光分析仪全新上市
    精工电子纳米科技有限公司开发生产可在短时间内对微小区域中微量有害金属进行高灵敏度测量的能量色散型X射线荧光分析仪[SEA6000VX]于近期全新上市。 能量色散型X射线荧光分析仪 SEA6000VX  X射线荧光分析仪,因其便捷的操作性和分析的快速性,在对应RoHS指令等环境管制中被大量导入到零件及产品的入库出货检查中。除了RoHS指令以外,随着ELV指令、玩具规范以及RPF*1等等的无铅化、无卤化标准的建立,可以预见对于测量环境管制物质的需求将会日益增加。但是,为了进一步提高测量的效率,并对应复杂的测量需求,现有机型已经很难对应线路板等复合部件中无法拆解的特定微小区域的测量,以及线路板整体有害物质的管理等的需求,因此开发了这款能够满足这些需要的最新机型。   [SEA6000VX]大幅提升了灵敏度,实现了对微小区域的高速测量。由于配备了本公司自行研发设计的无需液氮高计数率检测器Vortex及全新设计的X射线源,更是得到了比以往机型高出10倍以上的灵敏度。对于原先在5mm~10mm左右比较大的分析范围内进行的微量有害物质测量,现在即使在0.5mm~1.2mm左右的微小区域内也能以相同或者更短的时间进行测量。   通过提高测量微小区域的灵敏度以及搭载高速电动平台,实现高速二维扫描。例如,对100mm x 100mm的实装线路板的高速扫描中,仅需2分钟左右就能检测出其中亚毫米大小的共晶焊锡。如果增加扫描的次数,大约花30分钟左右的时间就可以检测出RoHS指令中的规定值为1,000ppm级的铅含量,从而可以判断整个实装线路板中是否符合无铅制程的规范。   此外,[SEA6000VX]还配备了决定测量位置观测的高清晰度宽视野光学系统,以及高精度的X-Y平台,进一步提高了操作的便利性及测量的稳定性。   精工电子纳米科技有限公司针对有害物质测量所开发生产的X射线荧光分析仪中,既有的下方照射方式的SEA1000A、SEA1200VX等,加上此次全新上市的上方照射型「SEA6000VX」,可广泛对应不同的测量对象。   【SEA6000VX的主要特点】   1. 高速扫描测量   通过结合了大幅提高的微小区域X射线荧光分析灵敏度和高速电动平台,能够快速获得二维扫描图像。特别是强化了对线路板中铅的扫描,配备了铅扫描专用滤波器。让1,000ppm以下无铅焊锡中的铅扫描变成简单可行。   2. 宽视野高清晰度光学系统   可获得250mm x 200mm的20μm以下高清晰度的光学影像。从该光学影像可以直接精确指定测量位置,让操作性得到飞跃般的改善。此外,该光学影像可以和通过高速扫描获得的扫描图像进行重叠,可在大范围内进行高精度分析。   3. 微小区域中微量金属的高速测量   实现了高密度微小X射线束以及配备的高计数率检测器,加上充分考虑到X射线荧光检测效率的设计,实现了高灵敏度化。微小区域中微量金属或薄膜都可在短时间内测量。即使是1mm x 1mm左右的微小区域也可以以100秒左右的速度测量其中的有害物质。   4. 无需液氮的高计数率检测器   作为标准配置本公司独有的无需液氮的高计数率检测器,省去了繁琐的液氮补给程序。仅需数分钟的开机时间,同时电子冷却的规格具备了优异的可信性。运用的技术可以减少在液氮制造、搬运时产生的二氧化碳,以及提高测量速度后节省下的电力等,是一款考虑到环保问题的先进仪器。   5. 微小区域的镀层厚度测量   可在十秒左右的时间完成对0.2mm x 0.2mm面积中Au/Ni/Cu(金/镍/铜)等薄膜多镀层的镀层厚度测量。此外,也可对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进行分析。   【上市日期】   2008年6月17日   【后注】   *1 RPF   Refuse Paper & Plastic Fuel的简称。以难以再次回收利用的旧纸、废弃塑料等作为主要原料的固体燃料。
  • 新品发布 | 日立推出新型能量色散X射线荧光分析仪EA1280
    近年来,限制使用环境有害物质已变得普遍,且成为保护环境工作的一部分。随着RoHS/ELV指令等法规的出台,包括制造商在内的很多公司都被要求控制其产品中包含的限制物质数量。新型EA1280具有中国国家标准(GB标准)建议要求的检测器分辨率,相比于Si - PIN二极管等其他半导体检测器,其工作效率和分析准确度更高。尤其与其他分析方法相比,X射线荧光分析可提供快速、无损、简单的元素分析,因此其持续多次用于RoHS合规性筛查中。EA1280具有的特性1. 使用新型高性能半导体检测器(硅漂移检测器(SDD)),便于提高测试工作效率和获得更可靠结果。2. 采用同轴光学器件进行样品观察和辐照X射线,便于分析各种样品。3. 配备易用软件,便于操作员仅需接受简单的质量控制和过程控制培训即可使用分析仪。EA1280 技术规格型号EA1280测量元素范围13Al~ 92U准直器(分析光斑尺寸)5 mmΦ(1、3 mmΦ:可选)初级滤波器(用于优化性能)5种模式(4台滤波器+关闭)自动切换样品舱环境大气检测器高性能SDD分析仪尺寸520(宽)×600(深)×445(高)mm重量约69 kg样品舱尺寸304(宽)×304(深)×110(高)mmEA1280是加入日立 EA1000系列分析仪的最新型号,具备强大的分析能力,能满足广泛的测试要求。如需了解日立用于RoHS合规筛选的XRF分析仪系列,请点击进入日立展位了解

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  • X射线荧光光谱分析

    X射线荧光光谱分析

    X射线荧光光谱分析用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。下图是这两类仪器的原理图。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112280433_341844_1601823_3.jpg现将两种类型X射线光谱仪的主要部件及工作原理叙述如下: http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112280434_341845_1601823_3.jpg两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源。上图是X射线管的结构示意图。灯丝和靶极密封在抽成真空的金属罩内,灯丝和靶极之间加高压(一般为40KV),灯丝发射的电子经高压电场加速撞击在靶极上,产生X射线。X射线管产生的一次X射线,作为激发X射线荧光的辐射源。只有当一次X射线的波长稍短于受激元素吸收限lmin时,才能有效的激发出X射线荧光。大于lmin的一次X射线其能量不足以使受激元素激发。          X射线管的靶材和管工作电压决定了能有效激发受激元素的那部分一次X射线的强度。管工作电压升高,短波长一次X射线比例增加,故产生的荧光X射线的强度也增强。但并不是说管工作电压越高越好,因为入射X射线的荧光激发效率与其波长有关,越靠近被测元素吸收限波长,激发效率越高。   X射线管产生的X射线透过铍窗入射到样品上,激发出样品元素的特征X射线,正常工作时,X射线管所消耗功率的0.2%左右转变为X射线辐射,其余均变为热能使X射线管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。

  • X射线荧光分析技术应用误区分析

    一、选型误区  随着技术发展,X射线荧光分析仪的种类越来越多,商品名称也比较混乱,再加上用户对相关知识的了解有限,使得用户合理选择仪器的难度大大增加。  误区1:强调“荧光”,许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪,一味地强调所谓“荧光”。事实上,如前所述,无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源,只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器,都是X荧光分析仪。  源激发和管激发各有优缺点。源激发类型的仪器结构简单、紧凑,特别是放射性同位素源发出X射线是自然现象,其强度是非常稳定的。虽然有着自然衰减,但这种衰减是遵循可描述的物理规律的,也就是说是我们可以准确计算出来的,而且作为商品化仪器选用的同位素源半衰期都比较长,在短周期内这种衰减几乎反映不出来。放射源的最大弱点在于,它发出的X射线强度小,能量分布不可调。因此可分析元素种类是受限制的,光路的几何布置必须非常紧凑,分析时间相对要长一些,谱线处理和定量分析计算难度较大。  管激发型仪器的激发源是X射线管。与放射性同位素源相比,最大的优点在于其可调节性。通过调节管流和高压,可以在一定范围内改变输出X射线的强度和分布,进而有选择性地提高或减小对某些特定元素的激发效率,提高分析能力。再者,X射线管的输出强度远远高于放射性同位素源,光路的几何布置受限制小,可使用准直器、滤光片、狭缝等进一步提高性能。采用X光管的最大问题在于稳定性,给X光管提供高压的高压电源稳定性必须在万分之三以下,X光管本身还需要冷却,而且环境温度、电网波动等因素都会影响X光管输出X射线的稳定性,从而影响仪器的稳定性。因此,一般来讲,管激发仪器对使用环境及外围条件的要求要比源激发仪器高得多。  误区2:重硬件轻软件和技术。任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合的结果,三者缺一不可。毫无疑问,硬件是基础,但硬件并不能决定一切。从应用的角度来讲,硬件只有通过软件才能充分发挥作用,而分析技术涉及到仪器应用的每一个环节。一台好仪器,一定是建立在分析技术研究基础之上的,否则,它就很难适应众多用户的各种需求,这样的仪器等于没有灵魂。对于软件的考察,绝不能停留在画面的漂亮与否、花样是否齐全等表面文章上,关键要看采用的算法是否先进有效,建立在怎样的分析技术基础上,是否适应于主要被分析样品的特性,还要考虑是否适合操作人员的素质和能力。  误区3:重价格轻服务。价格当然是选购商品的重要因素,但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质量及其价格悬殊极大,并且直接决定了仪器的售价,单纯追求价格便宜,很难保证质量。对于X荧光分析仪这样的设备来说,服务往往更为重要。这里所说的服务不仅指安装调试、备品备件供应、维修服务等,更重要的是应用技术服务。对于大多数用户来讲,是不具备自行研究分析技术并用于指导应用的,这种情况下,技术服务显得尤为重要。  误区4:听别人多,看自己少。用户在设备选型时经常会开展一些调研考察,一方面了解一些各种仪器及厂家的基本情况,作一些相互比较;另一方面会去一些与自己情况类似的用户那里考察。这当然是必要的。但最重要的还是要根据自己的实际情况和具体需求来选择。比如:以全厂质量控制为主要目的,样品种类多,需要做全分析,准确度要求高,应用环境比较好,可以考虑X荧光光谱仪;以生产过程控制为主要目的,应用环境较差则可考虑多元素分析仪、钙铁仪等源激发类仪器;原料不太好、波动大,没有预均化措施或很简陋,分析仪器要配置高一些,最好考虑在线分析仪器,在线钙铁仪加多元素分析仪或小型多道X荧光光谱仪便是很好的组合,当然,有条件的可以上中子活化在线分析仪,而原料稳定、预均化很有效,分析仪器的配置则可以低一些,多元素分析仪甚至离线钙铁仪便可以解决问题;操作人员素质较高,仪器可以选择小型多道X荧光光谱仪等功能多样、灵活性较大的,反之则应考虑选择功能单一、操作简单的源激发类仪器。二、技术指标误区  评价一台仪器好坏的技术指标是多重、综合的。用户关心和看重的主要有分析元素范围,即我们通常所说的可分析元素有哪些,分析时间长短,精确度如何等。技术指标的重要性最终还是取决于应用目的。  误区1:片面追求高指标。对于工业分析而言,被分析样品的种类是确定的,甚至是单一的,对结果的要求也是确定的。对于远远高出这些要求的指标的追求实际上是一种资源的浪费。比如:大多数水泥厂的控制分析只做钙、铁,用于率值控制需要测钙、铁、硅、铝,全分析则要求增加Na、Mg、S、K等元素,几万元的钙铁仪便可满足控制要求,如追求能测硅铝则需要约十万元的多元素分析仪,多元素分析仪完全可以满足率值控制四种主要元素分析的要求,如一定要提出更高精度和速度的要求就需要约百万元的小型多道X荧光光谱仪了。由于被分析样品的确定性,经验系数法是最有效的分析方法,如果一定要追求无标样法,便达不到经验系数法的效果。本来被测元素是确定的,而且数量有限,固定道就可以解决问题,一味追求可变道,既多花了钱,还牺牲了稳定性和分析时间;就能量色散型仪器而言,ADC道数也并非越多越好。  误区2:片面追求准确度:每当谈到仪器性能,往往会自然而然地把结果是否准确作为第一判断标准,而且在日常应用中也会把大量的精力用于判断仪器“准不准”,最常见的就是与化学分析“对结果”。准确性固然重要,但作为工业分析而言,精密度决不可忽视,首先要关注的是精密度问题,也就是说,同一样品多次测量,其结果应有良好的一致性,每一测量结果与均值的差要足够小,至于测量值与真值的差,往往属于系统偏差,是可以进行数学校正的。  误区3:不重视稳定性和重现性。所谓稳定性是指同一样品连续测量多次(通常为21次)的标准偏差,而重现性则是同一样品间隔较长时间后再次测量的结果之间的一致性。这两项指标是作为工业分析仪器的关键指标,工业分析的结果主要是用于生产过程的控制和参数调整,分析结果的相对变化直接关系着过程控制和调节。而相对变化的准确测量是建立在稳定性和重复性之上的。  误区4:分析时间越短越好。X射线测量是随机事件的统计测量,是由统计规律决定的,计数的绝对量取决于测量时间,并直接决定着测量误差的大小,足够长的测量时间是测量精度的前提条件,为了保证测量精度,必须有足够的测量时间。三、分析技术误区  分析技术是获得正确结果的保证。分析技术贯穿于仪器应用的全过程。分析方法的选择必须满足仪器应用的需要。  误区1:标样制备太麻烦,最好用无标样法。X射线荧光分析事实上是一种对比分析,特别是经验系数法,测得的X射线强度与相应元素浓度的对应关系完全是建立在标准样品的基础之上的,必须制备足够数量的标准样品,标样的质量直接决定了分析结果的可靠性。基本参数法等无标样分析法一般是用于完全未知样品的初步分析的,所谓无标样也只是不需要系列标准样而已。  误区2:标准样品可以购买别人的。由于每个用户的原料情况、配比是各不相同的,而对于X荧光分析而言,标样与被测未知样越相似,测定结果越好,因此,为了取得好的分析结果,各用户应自己配制标样。标样的配置应注意几个问题:  (1)必须主要用生产用原料配制,个别少量组份可用化学试剂;  (2)标样数目应大于被分析元素个数(至少多两个);  (3)标样中被测元素的含量范围应完全覆盖未知样品相应元素的浓度变化范围;  (4)标样中各被测元素的浓度之间不应存在相关性。  误区3:工作曲线的评价。通常对工作曲线的定量评价标准主要是相关系数和标准偏差,从数学上来讲,相关系数越接近1越好,标准偏差越小越好。但必须首先检查是否符合物理意义,斜率大小是否合适。  误区4:基体校正中元素间影响因子的设定越多越好。如不考虑物理意义就数学结果而选择影响因子,就无法保证未知样分析的正确可靠。影响因子的设定应遵循相邻元素、主元素、浓度变化范围大的元素、重元素的原则,在此基础上根据经验试设。几点建议  (一)仪器选型一定要适应本企业的实际情况,根据预想的主要用途和本企业原料、工艺乃至人员素质情况选购仪器;  (二)再好的仪器也要靠人用,应当充分重视分析技术在仪器应用中的重要作用;  (三)关于在线分析:近年来,中子活化在线分析取得的成功,使在线分析成为水泥工业分析的一个亮

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    我们公司经常在同济大学的x射线荧光分析测量玻璃样品的组分含量.采用的是半定量分析.但是测量出的数据有时有明显出入.请问熟悉x射线荧光分析的大侠们,半定量分析的准确度大概多少?另外,问过硅酸盐研究所的x射线荧光分析室.他们称Na以下的元素无法用半定量分析出.为什么同济大学可以测量B的含量呢?

环境样品射线荧光分析相关的耗材

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    X射线样品台配件是X射线衍射仪高温附件适合多种应用,温度范围高达-196度(液氮)到1500摄氏度,是X射线高温样品台。X射线样品台配件特点结构紧凑,温度可变,温度可选范围高达零下196摄氏度到1500摄氏度,适合所有类型的显微镜,材料科学,光谱测量和电子研究。尺寸仅为13x13x2cm,可用于真空环境或空气以及其他气体环境。温度控制精度高达0.1摄氏度,可编程控制所有类型的时间和温 度。我们还能给X射线衍射仪高温附件提供窗口(包括光学窗口和X射线窗口),用于真空环境,从而使得样品台用于任何显微镜,傅立叶变换红外光谱仪FTIR,烂漫和X射线衍射仪装置。X射线样品台配件应用X射线衍射,拉曼光谱,材料科学,张力测量,热分析,SEM,TEM, FTIR,SAXS。X射线高温样品台配件温度范围范围1: 室温-60摄氏度范围2: -5到99摄氏度范围3:-25到120摄氏度范围4:-40到120摄氏度范围5:-196到420摄氏度范围6:-196到600摄氏度类型7:室温到1000摄氏度类型8:室温到1200摄氏度类型9:室温到1200摄氏度类型10:室温到1400摄氏度类型11:室温到1500摄氏度X射线样品台配件参数尺寸:13x13x2cm电源:115-220V, AC重量: 约800g温度分辨率:0.1摄氏度材料:铝质Felles公司专卖X射线样品台,X射线衍射仪高温附件,X射线高温样品台。
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    XRF样品测试杯规格、适用于牛津仪器、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯美国Premier XRF样品杯: 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO),或X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO SC-7332 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 规格:双开端口 特点:进动铝 配套套筒可兼容O型环地位标签Catalog NoOD (mm)ID (mm)H (mm)V (ml)SC-7332323038.518
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