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多功能激光扫描成像系统

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多功能激光扫描成像系统相关的仪器

  • Sapphire FL 从分子检测到活体成像是专为应用灵活性研发的终极激光扫描成像系统。基于定制化、用户可自主更换的激光器和滤光片模块,Sapphire FL可轻松满足客户多样化、深入的科研需求。Sapphire FL具有定制化的、用户可自主更换的光学模块,5-1000μm的扫描分辨率,-1.0 至+6 mm的Z轴扫描功能,用于活体成像的5个麻醉输出端口以及化学发光检测模块等。 产品特点应用灵活,兼容多种样本类型:高分辨率成像、超大样品仓设计,支持从分子检测到活体成像样品类型。 定制化,可升级,颠覆传统设计理念:可根据需求选择合适的模块。可轻松替换激光器及滤光片,兼容更多种类的荧光染料。可升级化学发光模块配置。 超宽动态范围(EDR)模式分辨细微表达差异:可将动态范围扩展至24bit,在保证强信号不过饱和的前提下,极大提高同时获取强弱信号的能力。 高灵敏荧光检测:支持常规荧光染料的飞克级检测灵度。助力客户获取高质量的定量数据。 应用Sapphire FL激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析,如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片,活体成像等等。仪器支持近红外荧光,可见光,磷屏成像(放射性同位素自显影成像),同时可升级化学发光模块。
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  • 本设备利用激光、显微镜、精密扫描组件、时间分辨数据采集技术和图像处理技术获得样品不同位置的荧光强度及寿命。利用定点激发技术,可以观测载流子迁移。是一种高性能、高扫描速度、高灵敏度的荧光成像仪器。一、系统主要技术指标1.激光扫描振镜模块1) 激光光纤输入,配电控光阑系统2)激光扫描成像范围∶最高4096x4096像素点3)成像放大倍数(zoom)∶1-32倍4)激光扫描波长范围:400-750nm 2.TCSPC模块1) 时间精度7ps 2) Bin通道数∶40963) 时间窗口50ps-5μs 4) 仪器响应函数(IRF)∶≤:300ps 5) 时间分辨率∶≤50ps 3.高灵敏度单光子检测器模块1) 检测面直径100μm 2) 光谱检测范围400-1000nm 3) 时间分辨率∶50ps(FWHM)4) 量子效率∶45%@550nm 4.稳态光谱检测模块光谱仪(配置可根据客户需求调整)1) 焦长200mm 2) 光谱仪内置两块光栅3) 出口耦合PMT检测器或CCD相机光谱检测模式∶波长扫描采集或CCD采集波长探测范围350-900nm 5.倒置显微镜模块1) 含照明光源、双色片、滤光片等基本配置2) 物镜一套(空气镜)∶100x、60x、20x 3) 最高空间分辨率≤500nm(取决于物镜和激光/荧光波长)6.激光器(可按客户需求选配)1) 单波长皮秒半导体激光器2) 皮秒超连续白光激光器二、应用实例1、荧光强度成像、荧光寿命成像样品:MAPbI3单晶纳米片和MAPbI3纳米线实验条件∶100X objective,pinhole 40μm,Exc∶400 nm,成像模式:共聚焦扫描成像模式样品:二维 SnSe2(微弱荧光材料)实验条件:100X(油镜),激发波长:405nm成像模式:共聚焦激光扫描成像模式 参考文献:Xing Zhou ,et al.,Tianyou Zhai*,Adv. Mater. 2015, 27, 8035–80412、低温舱内的荧光成像样品:MAPbI3 纳米线实验条件:100X,空间分辨率 1μm成像模式:共聚焦激光扫描成像模式 观测到钙钛矿纳米先低温相变过程的空间分布和演化状况3、高压舱内的荧光成像样品:MAPbI3单晶纳米片和MAPbI3纳米线MAPbI3 纳米线不同压力下激光扫描荧光成像 不同压力下荧光动力学曲线 MAPbI3 纳米线不同压力下载流子迁移荧光成像 不同压力下载流子迁移动力学曲线 参考文献:YanfengYin,WenmingTian,*etal.,JimingBian,*andShengyeJin*ACS Energy Lett.2022,7,154&minus 1614、载流子迁移成像实验条件∶100× objective,pinhole 40μm,Exc∶400 nm 样品:钙钛矿纳米片成像模式∶激光定点激发,荧光扫描成像,可获得样品荧光动态演化图5、电致发光成像样品:CdSe量子点LED 6、光电流成像实验条件∶405nm连续激光器,激光强度调至最弱,60x物镜下测量结果2D(ITO/SnO2/QW/Spiro-Au)结构的太阳能电池光电流成像图
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  • Sapphire 激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统,通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器可搭载四个固态激光器作为激发光源,国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体,不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像(放射性同位素自显影成像),还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。本产品型号为Sapphire NIR,搭载有685nm和784nm两个固态激光器作为近红外波段激发光源,仪器可选配PI模块用于磷屏成像(放射性同位素自显影成像),也可选配CCD模块,用于传统化学发光成像。同时,仪器还可选配Q模块,加配520nm通道激光器,升级为Sapphire NIR-Q,用于总蛋白染色成像和绿色荧光通道成像。 产品特点● 强大的多重荧光检测,可同时扫描,也可逐通道扫描● 宽广的动态范围,动态范围≥6OD● 高分辨率,分辨率可达10微米● 化学发光成像,fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面,易于使用● 强大的分析软件,轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire NIR激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析,如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、近红外荧光EMSA、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。通过选配CCD模块、PI模块和Q模块,仪器应用范围将拓展到化学发光成像、可见光成像、磷屏成像(放射性同位素自显影成像)以及总蛋白染色成像等。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems(中国)公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光扫描成像系统相关报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • Sapphire 激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统,通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器可搭载四个固态激光器作为激发光源,国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体,不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像(放射性同位素自显影成像),还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。本产品型号为Sapphire RGB,搭载有488nm、520nm和658nm/685nm(选配)三个固态激光器作为RGB可见荧光波段激发光源,仪器可选配PI模块用于磷屏成像(放射性同位素自显影成像),也可选配CCD模块,用于传统化学发光成像。 产品特点● 强大的多重荧光检测,可同时扫描,也可逐通道扫描● 宽广的动态范围,动态范围≥6OD● 高分辨率,分辨率可达10微米● 化学发光成像,fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面,易于使用● 强大的分析软件,轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire RGB激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析,如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。仪器可搭配CCD模块,用于化学发光成像和可见光成像。通过选配PI模块,仪器可用于磷屏成像(放射性同位素自显影成像)。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems(中国)公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光成像系统相关报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • Sapphire RGBNIR激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统,通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器搭载四个固态激光器作为激发光源,国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体,不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像(放射性同位素自显影成像),还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。 产品特点● 强大的多重荧光检测,可同时进行四通道扫描● 宽广的动态范围,动态范围≥6OD● 高分辨率,分辨率可达10微米● 化学发光成像,fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面,易于使用● 强大的分析软件,轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire RGBNIR激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析,如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、近红外荧光EMSA、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。仪器可搭配CCD模块,用于化学发光成像和可见光成像。通过选配PI模块,仪器可用于磷屏成像(放射性同位素自显影成像)。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems(中国)公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光扫描成像系统相关报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • 高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧,组件灵活,可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器,实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广,快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移,使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成,实现强大的材料表征功能,不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图,还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计,适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束,输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束,这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移,因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。(a)白光成像;(b)激光扫描线性反射率测量,80 MHz激光(5 mW激光输出)调谐到GaAs带隙;(c)四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高,以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″,可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板,往往会带来样品台的不稳定性,影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元,保证了高度灵活可调的同时,也保持了严格对齐和高稳定性,可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰,对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上,光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面,使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统,可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应,在显微镜中,渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装,是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。(a)渐晕效应;(b)无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计,标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围,其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用,可拓展性强。基于LabVIEW的软件包,可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起,实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包,实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成,形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器,实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画,帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点,利用全共线多功能超快光谱仪,可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势,通过弛豫时间成像和多功能光谱成像,允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温(6K)FWM积分成像光谱(a,b)和弛豫时间成像(c) 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力,也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测,帮助制造商识别原材料品质,避免缺陷材料应用于设备。常温下,CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域(全共线多功能超快光谱显微成像系统)高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制,包括:像素分辨率,扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测,并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力,可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像,基于非线性四波混频FWM技术,可实现超高分辨的5维数据采集,其成像系统具有以下优势:1. FWM显微成像超高空间分辨本领,可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制,激光扫描成像空间分辨率在940 nm,但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱,可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像,明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态,而暗激子,是电子与空穴的动量不同,从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感,非线性四波混频,可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像,揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化,可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T,对于T>50ps的情况,可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中,PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中,不同延时FWM显微成像谱图,揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片,不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理(Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan)发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪
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  • 中图仪器激光扫描3d成像影像仪Novator系列智能化和自动化程度高,使测量变得简单。在测量一些弱边缘特征(如过渡曲线、圆角加工等)时能完成自动抓取,在保证精度的前提下,可以自动抓取产品的边界和表面,测量效率更高。中图仪器激光扫描3d成像影像仪Novator系列将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合,支持频闪照明和飞拍功能,1-2S自动聚焦速度快,处理去毛刺、弱边界等复杂边界提取能力强,可进行高速测量,并融入中图闪测仪的拼接测量功能,结合可独立升降和可更换RGB光源,可适应更多复杂工件表面,同时测量效率提升5~10倍。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台,稳定性好,精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统,超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测,实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量,进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像,可实现3D扫描成像和空间测量。 3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量,无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源,支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量,测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能,发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光,适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降,更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量,批量更快1.程序匹配工件坐标系,自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入,坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行批量测量。操作简单,轻松无忧1.具备大幅面导航相机,快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能,轻松无忧。3.一体化操作界面,任何人都能轻松设定和测量。中图仪器激光扫描3d成像影像仪Novator系列自动抓取数据点,测量点、线、圆、弧、椭圆、矩形等几何特征,自动分析测量特征的各种参数,如宽度、直径、位置、直线度、圆锥度、圆柱度等各种几何尺寸。结合专用测量软件对测绘要素数据进行处理、评价和输出。在保证精度的前提下,测量效率更高。高度尺寸测量Novator系列影像测量仪配备(1)触发式测头;(2)点激光(激光同轴位移计);(3)三角激光三种传感器配置,能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪,也就是我们说的复合式影像测量仪,在需要测量高度的地方,用探针取元素(点或者面),然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能,测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置,点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量,平面度测量,针对镜面和光滑斜面均可测量;或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能,测量得出高度,这样的测量方法可以减少人为误差,不管是谁来测量,都可以测得同样的数值,非常简单方便。平面度尺寸测量在测量平面度时,可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上,使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异,并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较,可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是,二维影像仪在测量平面度时,需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法,以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量Novator可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器(1920×1080)放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明(绿色)表面光6环8分区分割照明(白光);选配,可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配,(1)接触式探针;(2)白光共焦;(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合,实现2.5D和3D复合测量。其线激光3D扫描功能,可实现3D扫描成像和空间测量;点激光线扫描功能,可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。还支持频闪照明和飞拍功能,可进行高速测量,大幅提升测量效率;具有可独立升降和可更换RGB光源,可适应更多复杂工件表面。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台,稳定性好,精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统,超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测,实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量,进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像,可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量,无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源,支持频闪和普通双模式。 2.支持飞拍模式测量,测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能,发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光,适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降,更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量,批量更快1.程序匹配工件坐标系,自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入,坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行批量测量。操作简单,轻松无忧1.具备大幅面导航相机,快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能,轻松无忧。3.一体化操作界面,任何人都能轻松设定和测量。软件测量功能1.量测工具:扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。 2.可测几何量: 点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征:交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差:直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系:仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系;图像配准坐标系;可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具:R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。测量界面Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪具备多种测量功能,包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。高度测量Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪配备(1)触发式测头;(2)点激光(激光同轴位移计);(3)三角激光三种传感器配置,能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪,也就是我们说的复合式影像测量仪,在需要测量高度的地方,用探针取元素(点或者面),然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能,测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置,点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量,平面度测量,针对镜面和光滑斜面均可测量;或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能,测量得出高度,这样的测量方法可以减少人为误差,不管是谁来测量,都可以测得同样的数值,非常简单方便。平面度测量在测量平面度时,可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上,使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异,并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较,可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是,二维影像仪在测量平面度时,需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法,以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量3D形貌测量Novator二次元影像测量仪搭载高精度线扫激光测头,无接触扫描3D轮廓成像,抑制多重反射,能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图,可观察到产品形貌的微小特征,可实时输出2D、3D图像保存,支持2D、3D产品尺寸测量。部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器(1920×1080)放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明(绿色)表面光6环8分区分割照明(白光);选配,可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配,(1)接触式探针;(2)白光共焦;(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 高精度3D小型激光扫描系统Cobra™ 3D可提供小面积分析从而获取零件的更多信息。Cobra3D可测量X轴和Z轴的轮廓,激光扫描分辨率可达0.125微米。Cobra3D用途广泛,可置于台面或安装在定制系统上。精确的表面轮廓Cobra™ 使用低功率激光扫描零件表面并提供精确的表面高度信息。可选激光传感器DRS™ 激光器提供可选用的一系列分辨率和距离,以满足各种应用。实时成像可选摄像头,用于对被测部件进行轴上成像。在测量时查看激光光斑在零件表面路径。15×放大倍率下的同轴LED表面照明,可实现完美的图像对比度,并可通过Scan-X软件进行调节。技术参数扫描长度和Z轴调整范围标准扫描长度–X轴100毫米,Y轴50毫米Z轴调整范围–50毫米激光扫描分辨率标准0.125μm扫描速度标准5毫米/秒。在30μm间距的镜面软件Scan-X® 传感器和附件激光传感器DRSLasers
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  • 高精度便携式激光扫描系统非接触式测量Cobra™ 2D是一款便携式激光扫描仪,Cobra使用低功率高精度激光,可提供高分辨率的线性轮廓测量,因此非常适合具有关键表面轮廓尺寸测量要求的易碎或柔韧零件可的现场测量。Cobra速度快,可以轻松测量高度、长度、坡度和半径。精确的表面轮廓Cobra™ 使用低功率激光扫描零件表面并提供精确的表面高度信息。可选激光传感器DRS™ 激光器提供可选用的一系列分辨率和距离,以满足各种应用。实时成像可选摄像头,用于对被测部件进行轴上成像。在测量时查看激光光斑在零件表面路径。15×放大倍率下的同轴LED表面照明,可实现完美的图像对比度,并可通过Scan-X软件进行调节。技术参数扫描长度和Z轴调整范围标准扫描长度-X轴NA,Y轴50毫米Z轴调整范围-50毫米激光扫描分辨率标准0.125μm扫描速度标准5毫米/秒。在30μm间距的镜面软件Scan-X® 传感器和附件激光传感器DRSLasers
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  • 空区激光扫描仪ZDC3.0采用高性能测量装置与平板计算机结合,能够获得更高的成像解析度。空区激光扫描仪ZDC3.0适用于煤矿井下采掘工作面,回风巷道,机电峒室等工作环境。仪器采用了功能优越、可靠性高的芯片来实现整体的功能,可实现距离、面积、体积、角度的测量。具有体积小、重量轻、便于携带,使用简捷、维护方便,密封性能好、安全可靠等特点。测量终端和配套用的平板计算机通过蓝牙传输数据,两者协同使用,数据测量更便捷、准确、直观。结果可转为各种图纸文档保存转载查看,提供数据测量一体化解决方案。测量装置经国家指定的法定权威机构审查及检验。适用范围煤矿井下采掘工作面回风巷道。机电峒室特点1.蓝牙数据传输空区激光扫描仪ZDC3.0具有采集测量数据并通过蓝牙传输至平板计算机的功能;2.智能绘图具有根据上传数据绘制图纸的功能;3.多参数测量具有距离、面积、体积、角度测量功能;4.测量储存具有储存、查看、删除功能;5.音频功能具有摄像、录音、拍照及音视频播放功能
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  • LED综合特性测试实验装置,YTR-6302 简介YTR-6302实验系统采用模块化的结构设计,可提供电学特性、光空间分布特性、光度学、色度学特性和热特性共四个模块的测试实验,涵盖了LED的电、光、色、热及其相关的特性参数测试实验。实验过程中学生可根据需要,选择系统中的某几个部件搭建实验装置,进行LED某方面的特性测试。测试设置和控制通过专用软件操作,在人性化的人机交互软件实验界面上,可实时测绘出LED的电压—电流、光通量—电流、发光强度—电流、光空间分布的特性曲线,以及进行RGB配色实验。为使专业教学与实际生产紧密结合,系统测试参数的选择参照课程教学大纲并结合重要的工业参数,测试原理依据国内外现行权威的测试标准。特点实验内容全面涵盖LED的电学实验、光度学实验、光空间分布实验、色度学实验、颜色匹配实验和热学特性实验模块化和通用化设计,可以根据教学要求进行灵活配置基于LED行业标准进行实验仪器和内容进行设计专用分析软件:电、光、色、热四大模块独立操作界面,可直接查看每个模块的实验原理及操作步骤实验内容电学实验:拐点电压;U-I 特性曲线;工作电压;光度学实验:不同 LED 光通量、发光频率与电流关系测量;光空间分布实验:不同封装LED的光空间分布特性测量;色度学实验:不同LED色度学参数的测量;相对强度定标。颜色匹配实验:了解混色原理和相应定律以及色度学测量原理;替代律的验证;可视化验证实现补色定律,中间色定律,亮度相加定律;匹配白光;热特性实验:脉冲电源纹波系数测量;K系数的测量;结温热阻测量;Ld测量实验:电压与电流关系测量;功率与电流关系测量;发光效率测量。振镜式激光扫描实验装置,YTR-6303简介激光扫描振镜,由X-Y光学扫描头, 电子驱动放大器和光学反射镜片组成。电脑控制器提供的信号通过驱动放大电路驱动光学扫描头, 从而在X-Y平面控制激光束的转。YTR-6303型振镜式激光扫描实验系统主要由计算机、激光器、扫描振镜驱动电源、激光器电源、光路系统等组成,其工作原理是激光器发出的激光经过光路系统,再经过振镜扫描器中X轴和Y轴反射镜的两次反射后,投影到观察屏的XY平面,形成一个扫描点。任何复杂的平面轨迹都能通过控制振镜的两个镜片的偏转来实现。特点模块化结构设计,基于光学导轨的光路结构高精度的光路调节,配置多维调节架可视化光路,采用可见光波段激光器,整个实验过程清晰可见XY扫描电机工作状态可控,任一轴扫描器具有远程关断功能丰富多彩的图案演示功能,可以演示文字、图形和任意自由编辑图案实验内容光路的调整:分立的模块化设计加上可视化光路,满足学生动手能力的同时也能更深入直观的理解扫描原理扫描成像演示:可绘制长方形,圆形等单个图形或组合图形,也可以成像文字XY扫描中心偏差测定及校准:通过绘制实际成像图形计算中心偏差,修改软件参数进行校准,分析理解中心偏差产生的原因扫描图像参数设置及扫描尺寸修正:通过绘制实际成像图形计算尺寸缩放比例,修改软件参数进行修正,并分析尺寸产生缩放的原因测量F-theta透镜焦距;枕形失真和桶形失真;最大扫描范围测定颜色匹配实验,YTR-6304简介颜色是客观存在的电磁辐射作用于人的视觉器官所产生的一种心理感受,涉及到物理学、生物学、心理学等多种学科。使得准确定义和测量颜色存在着诸多困难,因此,人们一直致力于颜色科学的研究,从牛顿引入颜色环的概念到Young-Helmholtz的三原色理论再到1931CIE色度学系统的建立,为色度学的进一步发展做出了巨大贡献,为颜色测量的标准化提供了基础。YTR-6304实验装置主要由微型光谱仪、积分球、制冷钨灯光源、LED光源和电源组成。积分球上由可视化窗口,可以直观的观察到颜色变化的,而光谱仪及其专业的测量软件又可以准确测量颜色的色度坐标。特点可视化的定性观测和专业级色度测量工业等级的光谱仪和光源,既可以用于实验教学又可以用于科学实验实验内容学习和掌握如何对光谱仪和积分球组成的系统进行相对强度校准;了解混色原理和相应定律以及色度学测量原理;LED/LD的光学特性测量;光源的色度学参数测量;可视化验证替代律、补色定律、中间色定律的验证、亮度相加定律;可视化匹配白光。光谱分析实验,YTR-6305简介YTR-6305 SPECKIT光谱分析套件主要由制冷型卤钨灯光源,微型光谱仪、光纤、透过率测量模块,反射率测量模块,标准白板和样品组组成。主要用于固体和液体样品的透过率测量,浓度测量、反射率测量和色度学测量的教学实验。特点模块化和通用化的设计,可以在各个实验功能之间相互切换;工业标准的光谱仪和光源,通用性强,不但可以用于实验教学,也可以用于科学实验。实验内容测量线状谱、带状谱和连续谱光源的光谱曲线测量固体样品的透过率曲线,掌握中心波长、峰值波长和半高宽的等光学特性参数的定义和测量方法测量液体样品的透过率曲线和吸光度曲线以及浓度,掌握测量原理和方法测量样品的反射率曲线和色度学参数,掌握测量原理和方法激光雷达实验,YTR-6307简介激光雷达以激光作为信号源,由激光器发射出的脉冲激光,入射到物体表面被散射开,其中一部分激光被反射按原路返回,从而被雷达的上的接收器所接收。经过不断快速的扫描,以及经过数据成像处理,就可以绘制目标的三维立体点云图。YTR-6307实验装置综合设计采用激光雷达3D扫描技术与红外成像探测技术。实验设计测试多种不同样品以及不同维度的实验以获取距离、反射强度、空间坐标等实验数据,使学生充分掌握激光雷达的原理、特性和相关应用。特点激光雷达3D扫描技术和近红外成像技术相结合,实时观测雷达如何扫描样品丰富,实验拓展性强,帮助学生完成实验的同时可自行摸索开展拓展性实验全面的软件功能,可分析测量:目标距离、激光反射强度、垂直分辨率和水平分辨率实验内容学习和掌握激光雷达成像的基本原理目标物的三维图形识别实验学习和掌握 TOF (Time of Flight)的测量原理,目标位置(距离)和 多个目标物之间相对距离的实验雷达的垂直角分辨率实验雷达的水平角分辨率实验不同距离下雷达分辨目标物的识别能力的实验了解激光雷达计算目标空间坐标的算法研究介质对激光雷达成像影响的实验更多详情,请关注!光通与电流关系曲线量与电流关系曲线量与电流
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  • 使用进口配件 保障成像质量配置高性能Semrock滤光片、Coherent长寿命固态激光器、滨松多碱PMT,成就高图像质量。 可定制升级 加载各种功能模块如:CCD/SCOMS相机接口、电动Z轴扫描模块、适用于活细胞成像的超高灵敏度探测器等。通用性好 适用各品牌显微镜使用标准C型接口,无需额外配件即可与显微镜连接,搭建单点扫描共聚焦成像系统,获取高品质图像。 高性价比 宽场荧光显微镜升级方式一台简单的倒置荧光显微镜,即可搭配CSIM 100单点扫描模块,方便快速地升级为共聚焦成像系统,实现高分辨率共聚焦成像。进口品质、国产价格,全面的技术支持和售后服务。
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  • PSC公司成立于2004年,2年后其首款产品植物根系X-光扫描成像分析系统RootViz FS面世,并于今年6月获得2006年度美国R&D 100大奖。RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统,用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析,可以拍摄根系的立体X-光照片。是继根视系统后植物根系研究领域最激动人心的发明。美国R&D 100大奖被称为"发明界的奥斯卡奖",RootViz FS刚一面世即获此大奖,足见其影响力之大。这套系统是植物根系研究领域继根视(rhizotron)系统(如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统)后最激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后,借助扫描仪进行分析,这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分,而且属于离体分析,不能进行动态监测。而植物根系X-光扫描分析系统是非破坏性的原位分析系统,可以全方位分析植物根系所有部分(包括根尖等),并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应。根系X-光成像的特性* 高分辨率的X-光立体成像* 进行长期动态监测* 获得原位根系角度信息* 完全可控条件下的生理、病理实验* 大规模快速筛选根系突变株根系X-光扫描成像系统的主要技术参数* X-射线发生器: 25KeV@800uA* X-射线数码相机: 2002 x 2054 CMOS;GdOs Scintillator* 精确的三维调节工作台* 速度:平面图25株/h;立体图15株/h* 范围:最大根长0.6 m;最大高度2.1 m* 分辨率:2002× 2054像素
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  • 非接触式独立激光测量系统Lazer200是一种创新的非接触式测量系统,它使用激光扫描和影像同时进行表面形貌测量。DRS™ 激光器可对关键零件表面进行高质量的非接触式激光扫描。Lazer系统采用创新的“升降桥”设计,在有限的紧凑空间内打造尽可能大量程的系统。基体轴向直线度和垂直度的保证,使DRS激光在整个Z轴行程的扫描过程中保持在捕获范围内。集成的影像系统用于定位零件、设置基准、选择激光扫描起始点和一般测量。技术参数XYZ行程(MM)标准扫描长度-X轴NA,Y轴50毫米Z轴调整范围-50毫米照明标准线性白光LED表面,LED台激光扫描结果标准0.125μm软件ZONE3MeasureMind3DMeasure-X传感器和附件激光传感器DRSLasers
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  • 一、 用途:SpectraScan-R是一套专用于离体(ex-situ)根系VIS-NIR波段光谱扫描成像分析的仪器系统,完整植物根系取土后可直接进行可见光近红外高光谱扫描成像分析,还可以进一步经过洗根后扫描成像然后通过专业软件进行根系分析,可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等,还可以分析新生根系、根系水分分布、根系生化结构二维时空分布成像等,甚至可以通过高光谱技术二维成像分析根系土壤基质有机碳、水分含量等时空动态变化。功能强大,操作简单,软件可分析植物根系的形态,色彩、分级伸展分析及根系的整体结构分布等等。可广泛应用于植物根系动态、植物表型分析、植物胁迫、土壤生态修复、湿地监测等领域。 二、 原理:SpectraScan-R根系分析系统利用高质量RGB图形扫描仪及高光谱成像系统,获取高分辨率植物根系可见光图像及高分辨率光谱数据,然后通过专业分析软件对根系形态结构、光谱特征、生化组成等进行分析。扫描仪在扫描面板下方和上盖中安装有专门的双光源照明系统,并且在扫面板上预留了双光源校准区域。扫描时,扫面板下的光源和上盖板中的光源同时扫过高透明度根盘中的根系样品,这样可以避免根系扫描时容易产生的阴影和不均匀等现象的影响,有效地保证了获取的图像质量。 WinRHIZO软件可以读取TIFF,JPEG标准格式的图像。针对获取的图像,利用插入加密狗解密的软件,同时配合厂家针对扫描仪配置的Scanner.cal校准文件,对扫描获得的高质量根系图像进行分析。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度、直径、面积、体积、根尖等基本的形态学参数;利用软件的色彩等级分析功能、高光谱成像分析,还可以对根系RGB、近红外光谱进行分析,从而进行根系存活数量、水分、根系生长和营养状况、土壤基质等方面进行分析研究;利用软件的高级分析功能,还可以对完整的植物根系图像进行根系连接分析(研究根系分支角度、连通性等形态特征)、根系拓扑分析(研究根系连接数量、路径长度)和根系分级伸展分析(记录根系整体等级分布情况)。从而满足研究者针对植物根系不同类别和层次的研究。 三、 组成:1、 图像扑捉系统:经过厂家调试的标准根系扫描设备,匹配专门的光源、具有永久校正特点、根系固定装置等2、 高光谱成像分析单元,对根系及土壤基质进行高光谱成像3、 根系分析系统:基本版 /标准版 /专业版WinRHIZO分析软件4、 电脑(最低配置:Pentium III / 64 MB内存 / 17"显示器)用户自备 光谱扫描设备类型及区别见下表:STD4800LA2400**VIS-NIRNIR描述RGB高质量高速扫描仪RGB多功能、高速扫描面积大的扫描仪400-1000nm波段高光谱扫描成像900-1700nm近红外波段高光谱扫描成像可否在野外使用NNYY是否需要电脑操作YYY分辨率DPI(点/英寸)48002400512x512,或1024x,可选配更高分辨率640x扫描速度较快快330fps670fps最大扫描面积cm21.6x2830x43可局部或任意大小完整根系是否可对土壤基质扫描YY是否适合WinFoliaYY是否适合 WinRHIZOYY是否适合 WinSEEDLEYY是否适合 WinDENDROYY**WinRhizo Pro版本包括蓝色背景板 四、 基本技术指标:1、不同版本WinRhizo主要技术指标:整体参数基本版标准版专业版拟南芥版*总长YesYesYesYes平均直径YesYesYesYes总面积YesYesYesYes总体积YesYesYesYes根尖、分叉和交叠计数YesYesYesYes根直径等级分布参数长度NoYesYesYes面积NoYesYesYes体积NoYesYesYes根尖计数NoYesYesYes* 拟南芥版具有专业版所有功能,另外还可针对拟南芥类植物的细小、交叉根系进行测量 2、VIS-NIR光谱扫描成像分析:1) 高光谱扫描成像分析波段:400-1000nm(标配),可选配900-1700nm或1000-2500nm短波红外波段2) 智能一体式高光谱扫描成像技术(标配),内置自动推扫系统、取景器相机等,高度便携,集光谱成像数据采集、可视化数据处理、触摸屏与控制键等于一体,采用图形用户界面(GUI)3) 高光谱分析软件采用SAM算法及Savitzky-Golay滤波器技术,可创建类别或分级模型并建立App直接导入高光谱成像仪使用,建议同时选配ENVI软件4) 取景器相机分辨率5Mpix,高光谱成像空间分辨率512x512(标配),可选配1024x或其它分辨率高光谱成像分析5) 4.3”触摸屏、13操作键(标配)6) 光谱分辨率7nm(标配),波段数204(标配)7) 标配视野31度,成像距离15cm至无穷远,1m距离成像视野55x55cm8) 具备默认模式、自动筛选模式、客户定义APP模式及自动时间间隔记录模式9) 根系RGB颜色分析(专业版RGB扫描分析软件):根的长度、面积、体积、根尖计数、根系存活数量等研究(对根系或者根系附着菌种颜色进行分类,如健康根、浅程度受害根、重程度受害根等,软件可计算每种颜色根系的总长、总表面积、总体积、总根尖数量;每种颜色根系的平均长度、平均表面积、平均直径等)10) 根系连接(link)分析(专业版RGB扫描分析软件):用于根系分支角度、连通性等形态研究(与拓扑和发育分析最大的区别是,link分析可以针对非完整根系!软件给出的结果有分析对象的根系平均直径、平均长度、平均表面积、每个分叉角度的平均值;分叉的总数量;每个分叉的长度、表面积、平均直径、角度、级别等)11) 根系拓扑(Topology)分析(专业版RGB扫描分析软件):连接数量、路径长度等研究(需要根系完整)(必须是要完整的根系扫描图像。软件可计算主根的长度、所有次级根的总长度、平均长度、平均直径、平均表面积;每一级分叉的下级总分叉数量;每一级分叉的总数量等)12) 根系发育(Development)分析:记录根系整体等级分布情况(可通过专业版分析软件需要要完整的根系扫描图像。软件可计算每一个分级根系总长、总表面积,平均长度、平均直径、平均表面积等) 五、 产地:客户定制集成技术
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  • Ultimate多功能(拉曼光谱+荧光寿命+光电流)成像系统XperRam Ultimate多功能拉曼-荧光成像光谱系统 产品简介 XperRam Ultimate是一款多功能共聚焦拉曼/荧光/光电流/荧光寿命检测光谱成像系统,采用透射式光路设计,提高了产品的灵敏度和稳定性。独特的振镜扫描技术能够在台面固定不动的情况下实现快速二维成像扫描。该技术在联用光电流成像系统载台时优势明显,并且可扩展增加荧光寿命检测系统。可实现拉曼/PL/光电流/荧光时间寿命/荧光检测等功能。 整个系统的个构成如下图,需要测量拉曼和荧光信号时,样品激发的拉曼信号和荧光信号通过显微镜,再由光谱仪分光至CCD检测器接收,计算机软件读出拉曼和荧光的光谱信号并扫描成图像输出。需要测量荧光时间寿命时,转换器将样品激发的瞬态荧光信号分光至TCSPC(单光子计数器),通过单光子计数器记录荧光的时间寿命。需要测量光电流时,接上探针台和电流计,激光激发样品产生的光电流信号通过探针引出至电流计,再读出至电脑软件,记录整个检测面的电流分布。功能描述? 显微镜下的光学图和拉曼成像(Raman Spectrum Measurement & Raman Imaging)光学成像图 Raman mapping 拉曼成像图2 ? 拉曼成像光谱和光致发光PL(Raman Imaging &Photoluminescence Imaging ) WS2拉曼光谱图 WS2 光致发光(PL)谱图? 稳态荧光成像和瞬态荧光时间寿命(Fluorescence Lifetime Measurement &Imaging ) 稳态荧光成像图 TCSPC 瞬态荧光成像(FLIM)? 光电流成像(Photocurrent Measurement and Imaging ) 光电流系统探针台 光电流成像图和电流计数值产品特点? 激光扫描技术,具有优异的扫描分辨率和重复性 (激光扫描分辨率 0.02 um & 重复性 0.1 μm)? 体相全息光栅光谱仪(光透过率90%,比反射式光栅高30%,信号传输效率更高)? 具有Raman/PL/光电流/荧光寿命检测等多种测量模式? 结构紧凑,模块化设计? 扫描速度快,扫描范围大200μm x 200μm范围内高速成像 & 2D Mapping应用领域石墨烯,二维材料,生物样本,半导体工业,碳纳米管,碳材料,太阳能电池,储能材料,纳米纤维分布,探测器光电性能检测,晶圆体分析,制药分析,纳米材料检测,生物细胞成像,微塑料检测,金刚石微粉检测。基本参数激光器l 可配置1~3个激光器,窄线宽激光器用于拉曼光谱测试和光电流测试/皮秒激光器用于荧光寿命检测。l 波长范围: 400~ 900nm (典型的为 VIS: 405nm/532nm/633nm, NIR :785nm)l 窄线宽连续激光器功率: 100mWl 皮秒激光器(PDL800):80MHZ,脉宽 6ns,波长:266nm ~1990nm显微镜l 奥林巴斯显微镜:BX4X, BX5X, BX61 (正置)l 反射式/透射式LED照明l 物镜:标配(40X, NA=0.75) 选配:多种倍率和超长焦距物镜l 透过率:>60% (360nm~1000nm)扫描模块l 扫描面积:200um×200um l 扫描精度: 小于0.02 um(分辨率), <0.1um(重复性)l 步进:0.1uml 扫描速度:>100 谱/秒探测器l 科学级TEC制冷CCD(Andor和PI)用于测量拉曼和荧光l SPAD单光子探测器(TCSPC)用于瞬态光谱测量(FLIM)荧光时间寿命电流计l Keithley 2400探针台l 可根据客户要求定制拉曼l 光谱范围:50~5900 cm-1(标准的)l 低波数拉曼模块: 可实现< 250px-1l 分辨率:2.5 cm-1荧光l 光谱范围:400~1100nml 分辨率:0.2nm荧光寿命(FLIM)l 测量范围:100ps~ 10uml 分辨率:25ps光电流成像l 激光器波长范围:VIS: 450~700nmNIR I: 650~1050nmNIR II: 1050~1550nm典型的 532nm/633nm/785nm/1550nml 连续光源范围:450nm ~2400nm, 功率> 110mW
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  • 激光扫描共聚焦成像模块 CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块的创新之处主要体现在两点: 1)与市场同类产品相比,CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块具有更简洁的光路设计。通过光路的重新设计优化,减少了光学元件的使用数量和信号传递的步骤。信号传递环节的减少,使荧光信号的损失降到ZD,进而提高了模块的检测灵敏度。简洁的光路同时提高了模块的稳定性和可靠性,降低了维护成本; 2)与市场同类产品相比,CSIM 110共聚焦扫描成像模块优化了信号的探测类型,获得更为高效的信号采集。自主开发的信号采集电路,重新设计了信号的探测频次和和方式,显著提升了信号增益,以更低的照明强度获得了更好的信噪比和动态范围。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块,是桑尼基于多年高速光学扫描振镜和激光打标系统的开发经验,全新自主研发的产品。用户可将其搭配在原有的倒置荧光显微镜上,即可方便、快速地把倒置荧光显微镜升级为激光扫描(单点)共聚焦显微镜,获取高质量的共聚焦图像。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块通用性好,适配各品牌显微镜使用标准C型接口,无需额外配件即可与显微镜连接,搭建单点扫描共聚焦成像系统。使用进口配件 保障成像质量配置高性能Semrock滤光片、Coherent长寿命固态激光器、滨松多碱PMT,获取高分辨率图像。可定制升级 加载各种功能模块如:CCD/SCOMS相机接口、电动Z轴扫描模块、DIC(微分干涉)模块、适用于活细胞成像的超高灵敏度探测器等。光路设计简洁用最少的光学元件实现共聚焦成像功能,既减少了荧光信号的损失,提高了模块的检测灵敏度,又增强了模块的稳定性和可靠性,降低了维护成本。信号采集稳定自主设计开发的信号采集电路,优化了信号增益,提高了图像的信噪比和动态范围。激光器直调 超长使用寿命使用COHERENT OBIS 固体或半导体激光器,通过外部调节激光器功率和开关,延长激光器使用寿命,有效降低售后成本。激光器稳定性好,8小时功率变化<2%。即开即用,操作方便,可同时搭载4个激光器。高灵敏度PMT标配Hamamatsu新一代高性能多碱PMT,量子效率超过25%,相比国外前代共聚焦产品,灵敏度提高超过一倍。可升级为磷砷化镓(GaAsP),进一步提高图像的信噪比: GaAsP 的量子效率可达45%。Sunny XY描振镜高速扫镜使用本公司生产制造的XY高速扫描振镜,响应速度快、重复精度高、发热量低、温度漂移小。其他配件:共聚焦/宽场切换接口接口可同时连接共聚焦和相机,可自由选择共聚焦成像或相机成像。电动Z轴马达使手动显微镜实现自动调焦功能,实现XYZ三维扫描。 DIC功能可定制升级,加载DIC(微分干涉)模块。软件功能全中文界面,简单易用全软件控制完成多维图像采集,实现多通道扫描、时间序列和Z轴序列成像多色荧光、DIC图像叠加,添加标尺全软件控制数据记录,支持成像参数管理导出支持多种图像输出格式
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  • 仪器简介:适用行业及具体应用: 汽车研发实现整车扫描,逆向,设计,造型。 汽车零部件(内饰件,车灯,发动机及其他零部件)扫描造型。 玩具,五金家电,航空,运动器材,陶瓷等模具及产品开发。 古董,工艺品,雕塑,人像制品等快速原型制作。 机械外形设计,医学整容,人体外形制作,人体形状测量。技术参数:测头重量:小于400克 采样速度:每秒高达26000点 测量景深:100-200mm 测量精度:0.05mm(2&sigma ) 重复精度:0.02mm(3&sigma ) 使用环境:0-45℃,相对湿度70% 结构轻巧,紧密,经久耐用 用于扫描和即时目标捕获提供方便,快捷,舒适,自由的使用方法 确保在恶劣条件下和不同车间环境中的测量精度 轻便耐用可以在任何地方进行测量提供高效的单人操作 多功能性:能在封闭或拥挤车间等恶劣环境下的使用主要特点:柔性激光扫描测量系统基本系统包括Axxis的柔性三维关节臂、Scaner激光扫描测头。主要功能是对物体进行激光扫描测量。目前市场上有多种点云处理软件可与柔性测量系统匹配,如Raindrop Geomagic、Imageware Surfacer、Delcam CopyCAD等。如配以Delcam PowerINSPECT、PowerINSPECT Lite或,柔性测量系统集成了以下主要功能: (1)三坐标测量机(CMM),主要是对物体边界、特征量的测量(一般无法对复杂曲面进行准确测量) (2)三维扫描,主要是对曲面的测量(一般无法对边界进行准确测量) (3)计算机辅助检测(Computer Aided Inspection,即CAI),主要是在某些应用中替代传统检具(比传统的检测方法要快许多) 柔性激光扫描测量系统不仅功能强大、一机多用,而且测量柔性极好,对使用环境和操作技能无特别要求(几乎无测量死角),可用于生产车间和一般设计室,可对小至耳塞大至汽车的测量,可将边界测量(接触式)和复杂曲面测量(激光扫描)结果方便地结合起来,是目前市场上性能价格比最好的三坐标测量和检测系统之一。
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  • HPLK三轴动态激光扫描系统专为大幅面激光扫描加工设计主要特点:· 最高级的高速应用· 超高精度和稳定性· Z轴焦点动态控制· 快速成型· 超大面积激光加工· 柔性电路板,包装标签等切割主要技术指标:激光类型CO2HPLK1350(-9,-17)CO2HPLK1330(-9,-17)YAGHPLK2330TYH/HeCdHPLK4320DYH/Ar+HPLK5320波长10600nm10600nm1064nm325-355nm488-532nm扫描头孔径(mm)5030302020扫描范围(mmxmm)100~2000100~2000100~3000100~2500100~3000可接受光束直径(mm)9,179,1761.3-3.32.4最大功耗cw(W)200,500+100,200,500+1508080增益漂移(ppm/º C,typ.)25零漂(&mu mR/º C,typ.)3定标打标面积(mmxmm)400焦点大小(&mu m)210350401630重复性(&mu m)12
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  • 自动化高精度3D激光扫描仪ShapeGrabberAi6203D激光扫描仪是一款高精度3D激光扫描仪。可在几分钟内完成高密度数据点的采集,实现复杂形状的测量任务,后期作为塑料、金属和3D打印零件成型的数据基础。Ai620操作简单,使用高度自动化。初始扫描后,相同的扫描参数可用于后续零件,无论操作员的经验如何,都能提供一致的结果。无需编写特殊代码。ShapeGrabberAi620提供:更快的速度以最大扫描量使用时,SG198扫描头以每秒155,000个点的速度测量零件。对于仅扫描局部的部件,数据速率增加到超过150万点/秒。可选的25°倾斜机构,无需重新定向即可更快、更完整地测量零件。更好的数据质量SG198扫描头的光学装置借鉴了OGP70多年用于精密测量的光学系统的设计经验,有效降低噪声数据,远优于其他3D扫描技术。更高分辨率内置5百万像素成像器可为要求高的应用提供深度分辨率和数据密度。如此高的分辨率与相对较大的体积相结合,使得测量复杂形状零件的过程变得更快、更容易。更大的捕捉范围ShapeGrabber扫描头扫描范围大,无需表面处理即可准确测量各种材料、颜色、纹理和光洁度表面。SG198扫描头可处理绝大多数产品表面测量任务——从哑光黑色塑料到反光金属,再到粒状铸件和3D打印部件。技术参数最大扫描体积(mm)标准600Lx185?带SG198扫描头数据速率(PTS/S)标准155,000–1,500,000+软件SGCentralSGCapture(Optional)PolyWorks(Optional)Geomagic(Optional)扫描头标准扫描头SG198
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  • LabRAM XploRA INV是一款倒置显微拉曼光谱仪,专门为分析生物医学或生物样品而设计,其开放性结构适合于特殊的生物样品处理和样品测试。XploRA INV 继承了XploRA结构紧凑的优势,将强大的功能集成到小的空间里。它具有全自动功能,包括自动聚焦、自动曝光、自动自检和自动校准功能,以方便用户使用。 LabRAM XploRA INV 的开放性结构确保了倒置显微镜的所有附件或其它附加装置,如微型操控器、光镊以及细胞研究所需要的特定附件都能自由添加以及使用。 LabRAM XploRA INV系统还可以选择性集成一些特有的模块和技术,例如DuoScan技术进行超快速光谱成像,快速共焦成像(FCI)用于超快速激光扫描成像以快速定位感兴趣样品区域。 产品特点: 1、研究级倒置显微镜 2、全自动切换激发波长 3、自动校准、自检、曝光、聚焦 4、共焦测试 5、超快速拉曼、荧光、PL成像 6、AFM及其他联用可选件和附件: 1、DuoScan:激光扫描系统用于共焦拉曼成像以及CLSO(共焦激光扫描)成像 2、落射荧光:可实现拉曼光谱和落射荧光同区域成像 3、偏振附件 4、高精度三维平台 5、SWIFT 6、冷/热台或细菌培养器 7、光纤探头技术参数: 1、激光器:可内置3个激光器 — 532nm、638nm和785nm(其它波长的激光器可根据需要提供) 2、光栅:4块光栅全自动切换 — 如600gr/mm、1200gr/mm、1800gr/mm、2400gr/mm 3、光谱范围:2500px-1到100000px-1*,范围根据所选激光/光栅不同会有差别 4、激光功率控制:多级激光功率衰减片 5、QC/21CFR:自动校准/自检,GO一键式软件助手
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  • 高速激光扫描头 400-860-5168转1451
    CTI和GSI合并以来,依靠各自的传统优势技术,联合提供最优配置组合的激光扫描头子系统,包含Lighting和ProSeries两个系列的7mm,10mm,14mm的标准产品,同时也提供20mm和25mm大孔径系列,是OEM和最终用户的最佳选择。高速激光扫描头主要应用:· 高速打标· 二维码和条形码打标· 网格制造· 打孔· 激光消融和切除· 飞行打标· 雕刻· 表面处理· 快速成型类型LightingXP数字扫描头Lighting数字扫描头ProSeriesII数字扫描头ProSeries数字扫描头特点· 采用CTI高性能振镜· 最高速度· 全数字化· 自动调节· 采用CTI高性能振镜· 高速· 数字伺服· TuneMasterc· 采用CTI高性能振镜· 最高精度· 低抖动· 低零漂· 采用CTI高性能振镜· 经济型· 灵活的模块化设计· 最紧凑型设计输入孔径71014710147101471014最大激光功率WYAG100150250100150250100150250100150250CO250100200501002005010020050100200刻字速度cps*13009006001300900600800600350900650
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  • 卓越的速度、精度、分辨率及动态响应范围线激光扫描是一种非接触式、无损测量技术,它使用3D光学传感器以数字方式捕获扑捉线激光照射后的物体大小和形状。这与使用点激光传感器的OGP激光扫描技术完全不同。这两种技术都可以从物体表面创建数据“点云”,但线激光扫描仪的速度要快得多,并且通常具有更高的点密度。传统点激光扫描需要大量时间在物体表面往复移动获得物体表面的数据。然而,使用线激光扫描仪,一次就可以获得整条线的坐标点数据,通过激光线的移动,就可以将多条激光线的坐标点数据整合为物体表面点云。所有ShapeGrabber3D激光扫描仪均需要选择满足测量需求的合适扫描头。
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  • XploRA INV是一款倒置显微拉曼光谱仪,专门为分析生物医学或生物样品而设计,其开放性结构适合于特殊的生物样品处理和样品测试。XploRA INV 继承了XploRA结构紧凑的优势,将强大的功能集成到小的空间里。它具有全自动功能,包括自动聚焦、自动曝光、自动自检和自动校准功能,以方便用户使用。 XploRA INV 的开放性结构确保了倒置显微镜的所有附件或其它附加装置,如微型操控器、光镊以及细胞研究所需要的特定附件都能自由添加以及使用。 XploRA INV系统还可以选择性集成一些特有的模块和技术,例如DuoScan专利技术进行超快速光谱成像,快速共焦成像(FCI)用于超快速激光扫描成像以快速定位感兴趣样品区域。 产品特点: 1、研究级倒置显微镜 2、全自动切换激发波长 3、自动校准、自检、曝光、聚焦 4、共焦测试 5、超快速拉曼、荧光、PL成像 6、AFM及其他联用可选件和附件: 1、DuoScan:激光扫描系统用于共焦拉曼成像以及CLSO(共焦激光扫描)成像 2、落射荧光:可实现拉曼光谱和落射荧光同区域成像 3、偏振附件 4、高精度三维平台 5、SWIFT 6、冷/热台或细菌培养器 7、光纤探头技术参数: 1、激光器:可内置3个激光器 — 532nm、638nm和785nm(其它波长的激光器可根据需要提供) 2、光栅:4块光栅全自动切换 — 如600gr/mm、1200gr/mm、1800gr/mm、2400gr/mm 3、光谱范围:100cm-1到4000cm-1*,最大范围根据所选激光/光栅不同会有差别 4、激光功率控制:多级激光功率衰减片 5、QC/21CFR:自动校准/自检,GO一键式软件助手注:具体配置、价格请咨询当地销售工程师注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途
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  • 详细信息:XploRA INV是一款倒置显微拉曼光谱仪,专门为分析生物医学或生物样品而设计,其开放性结构适合于特殊的生物样品处理和样品测试。XploRA INV 继承了XploRA结构紧凑的优势,将强大的功能集成到小的空间里。它具有全自动功能,包括自动聚焦、自动曝光、自动自检和自动校准功能,以方便用户使用。 XploRA INV 的开放性结构确保了倒置显微镜的所有附件或其它附加装置,如微型操控器、光镊以及细胞研究所需要的特定附件都能自由添加以及使用。 XploRA INV系统还可以选择性集成一些特有的模块和技术,例如DuoScan技术进行超快速光谱成像,快速共焦成像(FCI)用于超快速激光扫描成像以快速定位感兴趣样品区域。 产品特点: 1、研究级倒置显微镜 2、全自动切换激发波长 3、自动校准、自检、曝光、聚焦 4、共焦测试 5、超快速拉曼、荧光、PL成像 6、AFM及其他联用可选件和附件: 1、DuoScan:激光扫描系统用于共焦拉曼成像以及CLSO(共焦激光扫描)成像 2、落射荧光:可实现拉曼光谱和落射荧光同区域成像 3、偏振附件 4、高精度三维平台 5、SWIFT 6、冷/热台或细菌培养器 7、光纤探头技术参数: 1、激光器:可内置3个激光器 &mdash 532nm、638nm和785nm(其它波长的激光器可根据需要提供) 2、光栅:4块光栅全自动切换 &mdash 如600gr/mm、1200gr/mm、1800gr/mm、2400gr/mm 3、光谱范围:100cm-1到4000cm-1*,大范围根据所选激光/光栅不同会有差别 4、激光功率控制:多级激光功率衰减片 5、QC/21CFR:自动校准/自检,GO一键式软件助手注:具体配置、价格请咨询当地销售工程师
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  • FreeScan Trak ProL跟踪式激光扫描系统,延续了FreeScan Trak Pro2高精度且重复性精度稳定、无需贴点、扫描快速等优势,并进一步扩大了测量范围,单站跟踪范围扩大至128m³ ,适用于大型工件的三维测量,在进行完整数据获取时可以减少转站次数,提高效率的同时保证数据准确性,适用于航空航天、汽车工业、轨道交通、能源领域等制造业的大型3D测量场景。产品特点:&bull 动态追踪,无需贴点系统可实时跟踪定位扫描头,扫描过程中无需粘贴标志点。&bull 智能交互,提升体验配置智能屏幕可显示自定义信息,优化算法实现孔位/边界优化功能。&bull 超大范围,高效扫描扩大单站跟踪范围(可达128m³ ),大幅减少大型工件扫描的转站次数。&bull 高精度,且高精密度扫描仪精度可达0.023mm,重复性精度稳定满足测量要求。&bull 快速扫描,高效高质50条交叉蓝色激光线快速扫描,扫描速度最高可达368万点/秒。&bull 精细扫描,还原细节7条平行蓝色激光线精细扫描,轻松获取工件的完整细节数据。&bull 实时网格,所见即所得扫描过程中,数据以实时网格呈现,节省点云封装时间,快速导出stl数据。&bull 智能色谱,简洁明了智能色谱清晰展示数据获取完整度,引导式软件简洁易用且可在线更新。
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  • NS3500L 大面积高速3D激光扫描仪 NS-3500L 是一种准确、可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构,如半导体晶片,FPD产品,MEMS设备,玻璃基板,材料表面等方面拥有无可比拟的解决方案。Features & Benefits(性能及优势):高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦Application field(应用领域):NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度,宽度,角度,面积和体积,例如-半导体:IC图形,凹凸高度,线圈高度,缺陷检测,CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测,ITO图案,LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓,表面粗糙度,MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池,太阳能电池纹理,激光图案-材料研究:模具表面检测,粗糙度,裂纹分析Specification(规格):ModelMicroscope NS-3500备注Controller NS-3500E物镜倍率10x20x50x100x150x观察/ 测量范围 水平 (H): μm140070028014093垂直 (V): μm105052521010570工作范围: mm16.53.10.540.30.2数值孔径(N.A.)0.300.460.800.950.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围精细扫描 : 400 μm (and/or) 长扫描 : 10 mm [NS-3500-S]长扫描 : 10mm [NS-3500-T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 1宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 2帧记忆像素1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长 405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元 PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg注 1 :以100×/ 0.95物镜对标准样品(步长1μm)进行100次测量 注 2 :以100×/ 0.95物镜对标准样品(5μm间距)进行100次测量。
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  • NS3500G 大型非接触式3D激光扫描仪NS-3500G 是一种准确、可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构,如半导体晶片,FPD产品,MEMS设备,玻璃基板,材料表面等方面拥有无可比拟的解决方案。 Features & Benefits(性能及优势):高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦 Application field(应用领域):NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度,宽度,角度,面积和体积,例如-半导体:IC图形,凹凸高度,线圈高度,缺陷检测,CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测,ITO图案,LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓,表面粗糙度,MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池,太阳能电池纹理,激光图案-材料研究:模具表面检测,粗糙度,裂纹分析 Specification(规格):ModelMicroscope NS-3500备注Controller NS-3500E物镜倍率10x20x50x100x150x观察/ 测量范围 水平 (H): μm140070028014093垂直 (V): μm105052521010570工作范围: mm16.53.10.540.30.2数值孔径(N.A.)0.300.460.800.950.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围长扫描 : 10mm [NS-3500-T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 1宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 2帧记忆像素1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长 405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元 PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~200 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg 注1 :以100×/ 0.95物镜对标准样品(步长1μm)进行100次测量 注 2 :以100×/ 0.95物镜对标准样品(5μm间距)进行100次测量。
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  • 详细信息: LabRAM XploRA INV是一款倒置显微拉曼光谱仪,专门为分析生物医学或生物样品而设计,其开放性结构适合于特殊的生物样品处理和样品测试。XploRA INV 继承了XploRA结构紧凑的优势,将强大的功能集成到小的空间里。它具有全自动功能,包括自动聚焦、自动曝光、自动自检和自动校准功能,以方便用户使用。 LabRAM XploRA INV 的开放性结构确保了倒置显微镜的所有附件或其它附加装置,如微型操控器、光镊以及细胞研究所需要的特定附件都能自由添加以及使用。 LabRAM XploRA INV系统还可以选择性集成一些特有的模块和技术,例如DuoScan专利技术进行超快速光谱成像,快速共焦成像(FCI)用于超快速激光扫描成像以快速定位感兴趣样品区域。 产品特点: 1、研究级倒置显微镜 2、全自动切换激发波长 3、自动校准、自检、曝光、聚焦 4、共焦测试 5、超快速拉曼、荧光、PL成像 6、AFM及其他联用可选件和附件: 1、DuoScan:激光扫描系统用于共焦拉曼成像以及CLSO(共焦激光扫描)成像 2、落射荧光:可实现拉曼光谱和落射荧光同区域成像 3、偏振附件 4、高精度三维平台 5、SWIFT 6、冷/热台或细菌培养器 7、光纤探头 技术参数: 1、激光器:可内置3个激光器 — 532nm、638nm和785nm(其它波长的激光器可根据需要提供) 2、光栅:4块光栅全自动切换 — 如600gr/mm、1200gr/mm、1800gr/mm、2400gr/mm 3、光谱范围:2500px-1到100000px-1*,最大范围根据所选激光/光栅不同会有差别 4、激光功率控制:多级激光功率衰减片 5、QC/21CFR:自动校准/自检,GO一键式软件助手
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