高精度荧光寿命测试系统

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2… 和三重态T1… ，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的第一个( 也是*一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合最终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的最高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。显微荧光寿命成像系统FLIM参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），最小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，最高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中最多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：1.通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。2.对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2…和三重态T1…，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的*一个( 也是唯一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合*终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。FLIM 应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5 m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的*高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的不二选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统 FLIM 软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中*多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：NO.1 通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。NO.2对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：测试案例

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

产品概述时间相关单光子计数(Time Corelated Single Photon Counting, TCSPC) 以单光子的灵敏度、高信噪比的特点成为荧光寿命测试中一种非常重要的时域测试技术。TCSPC的电子部分可以看作快速秒表，这个秒表被来自光源的START信号触发后开始计时，而被检测器接收到的STOP信号脉冲终止计时。START和STOP之间的时间差，即为样品受激后发出的*一个光子与激发光之间的时间差。*终显示在柱状图上的计数相对时间的函数实际上就代表了荧光强度相对时间变化的曲线，即荧光寿命衰减曲线。TCSPC测试原理图DCS900PC-G2 时间通道数：65535 时间分辨率：2/4/.…/33554432 ps 死时间：2ns 计时抖动：＜10ps卓立汉光推出全新⼀ 代⾼ 精度时间相关单光⼦ 计数TCSPC Plus数采系统DCS900PC-G2，实现低⾄ 2ps的时间分辨率，同时死时间降低⾄ 2ns，计时抖动＜10ps，可⽀ 持⾼ 达500Mcps的瞬时饱和计数率。该数采卡使用在OmniFluo990稳态瞬态荧光光谱仪以及OmniFluo-FLIM 荧光寿命成像显微镜上，与皮秒脉冲激光器联用时，寿命测试下限可达100ps，可为分子内部快速动力学过程的探索，提供有利的研究工具。OmniFluo990OmniFluo-FLIM实测案例 TCSPC Plus在低至100ps的短荧光寿命测试中表现出色，甚至对于荧光寿命略低于100ps的样品，我们同样得到了准确性高，可与文献媲美的测试效果。以下为相关测试案例。样品为赤藓红B (Erythrosin B)水溶液，激发光源采用超连续白光激光器，频率设置为10M。激发波长为500nm。发射侧单色器带宽为0.8nm，检测器为R928P光电倍增管，探测波长为555nm。TCSPC时间分辨率为2ps，延时44ns。水中赤藓红B荧光寿命测试经过Omni-Win软件拟合可以得到水中Erythrosin B的寿命为88ps，与文献报道值几乎一致【1,2】。以下荧光标准物质的寿命测试对照表【1】，出自于由九个科研团队共同参与的一个国际合作项目，从表中可以看到，赤藓红B在水溶液中的寿命参考值为89±3ps。荧光标准物的寿命测试对照表TCSPC Plus荧光寿命升级包推荐技术参数DCS900PC-G2时间通道数65535 时间分辨率2/4/.…/33554432 ps死时间2ns计时抖动＜10psR928P PMT光谱范围185-900nm 上升时间≦2.2ns暗计数≦100CPS@-10℃ 以旧换新， 定制灵活对于已有卓立汉光荧光寿命测试系统，并且有升级需求的用户，我们也提供了灵活定制化的“以旧换新”方案，详情欢迎垂询。参考文献Fluorescence Lifetime Standards for Time and Frequency Domain Fluorescence Spectroscopy. Anal. Chem. 2007, 79, 2137-2149Measuring and Sorting Cell Populations Expressing Isospectral Fluorescent Proteins with Different Fluorescence Lifetimes. PLoS ONE 9(10): e109940.

产品简介：LifeSpec II 是一款结构紧凑，高度集成化，高性能的荧光寿命测试光谱仪，与高频闪脉冲飞秒和皮秒激光器联用。这个系统是一个全自动化的解决方案，适合基础研究和常规实验室应用。它的零时间色散光学设置对于测量超快衰减提供了强大的技术支持。技术特点：荧光寿命范围低至5ps（依赖于检测器和光源）采用先进的时间相关单光子计数技术双光栅发射单色器相减模式设计，大限度抑制杂散光，防止脉冲展宽，到达零时间色散标配紫外可见区检测，可升级到近红外可选多种激发光源 EPL脉冲激光二极管：375~670nm可选 EPLED脉冲LED：265~360nm可选 耦合超连续激光器、耦合多种型号飞秒激光器可选检测器 蓝敏光电倍增管、红敏光电倍增管、MC-PMT、NIR PMT

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）荧光光谱仪器可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 荧光寿命测试系统-DeltaPro，其高性能以及简单实用的特点，对TCSPC系统有了新的定义。 DeltaHub---DeltaPro的核心部件，超短的死时间（10ns）配合高重复频率的激光光源和高速检测器可实现无损失的光子计数，到达到快速采集数据和准确的分析结果。 DeltaPro配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源。有两种系统配置可选：DeltaPro-NL 型，配置NanoLED光源，重复频率可达1MHz；DeltaPro-DD型，配置DeltaDiode光源，重复频率可达100MHz，极端测定速度的可选光源。 DeltaPro-NL 和DeltaPro-DD都可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比，SpectraLED具有多种波长可选，实用方便和无噪音的优点。 多种光源可选，软件直接控制，因此在DeltaPro系统上无需更换控制器，即可实现25ps~1s的寿命测定。当选择NanoLED 或 DeltaDiode激光二极管光源时，系统可以测定25ps~10µ s的寿命，当选择SpectraLED，系统可以测定1µ s~1s的寿命。可选附件： · 单色仪Monochromators · 手动或电动偏振器 · 自动光学部件 · 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C) · NIR检测器（~1700nm） · 固体样品支架 · 更多光源见 技术参数： · 基于滤光片实现波长选择(可选单色仪) · PPD 光子检测模块（标配） · 可升级NIR 检测器（~1700nm） · 综合分析软件 · 标准液体样品架，加载温度传感器和搅拌装置 · 大尺寸样品仓，配置UV级光学部件 · F-link 即插即用型交互界面主要特点： · 采集速度快：1ms即可获得短寿命 · 灵敏度高：单光子计数技术 · 准确性好：计时电路无需校正 · 灵活性强：寿命响应范围25ps~1s · 模块化：根据需求选择升级 · 紧凑型：占地小 · 方便性：电脑通过USB2.0控制系统（无需PCI卡） · 性价比高

DeltaHub——DeltaFlex的关键部件 超短的死时间（10ns）：配合高重复频率的激光光源和高速检测器，可实现无损失的光子计数，达到快速采集数据和准确的分析结果。 超快寿命测试技术：真正实现了荧光寿命动力学测试，采集时间低至1ms（全球同类产品中 快），支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。新型脉冲半导体光源 DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源（四大类型，百种可选），即插即用，无需校准，而且终身免维护。 其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz，是超快寿命测试的 选择光源，同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比，SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围，以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。科研级模块化设计 在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器，即可实现11个数量级（25ps-1s）范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计，配合全新的F-Link技术，可自动识别各类部件，软件直接接入、附件即插即用，能够无限满足升级需求。尤其是其中采用了行业优先的寿命拟合软件，没有费用开放数十种主流专业拟合功能，可单独于仪器操作。 多种光谱仪可选，配合像差校正光栅，覆盖200-1600nm宽光谱范围，完美实现时间分辨发射谱功能，支持100条发射波长动态连续监测，软件自动获得衰减相关光谱参数。 荧光寿命技术是科研中强有力的工具，可广阔用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。主要应用：FRET(Forster共振能量转移)Stern-Volmer猝灭稀土发光时间分辨和磷光各向异性分子互作，蛋白结构变化太阳能材料单线态氧测试光物理技术参数：基于滤光片或单色仪实现波长选择皮秒超快集成化PPD光子检测模块（标配）可升级NIR检测器（~1700nm）综合分析受命拟合软件，开放数十种拟合功能标准液体样品架，加载温度传感器和搅拌装置大尺寸样品仓，配置高效UV级光学部件F-Link即插即用型交互界面主要特点：超宽寿命测试范围25ps-1s 超快测试时间（低至1ms），完美实现动态反应分析超微量样品测试，低至1μL综合分析软件，5指数寿命拟合高稳定性设计，使用维护简单高度自动化，一键测量分析大尺寸样品仓设计，强劲的附件兼容能力高性能荧光、磷光寿命测试功能

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。 HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。 Fluorocube将新的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供灵活和界面友好的光子计数寿命系统。 可选附件 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm） 四位光束控制反射镜（可选） 偏振器 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C) NIR检测器（~1700nm） 固体样品支架 低温附件 低荧光背景滤光片 技术参数： 寿命范围从皮秒至秒 基于滤光片实现波长选择(可选激发/发射单色仪) 外循环液体控温样品架 PPD 光子检测模块（标配） 检测器范围185nm-650nm，可升级至850nm（与样品仓盖之间配有安全锁） Fluorocub计时电子装置，皮秒到秒寿命范围（依赖于激发光源） 综合分析软件 可选偏振器测量自旋相关时间 NanoLED和SpectraLED二管激发光源覆盖全波长范围主要特点： 灵敏度高：单光子计数技术 准确性好：计时电路无需校正 灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽 模块化：可以根据需要定制模块配件 方便性：全电脑控制，易于操作 Fluorocube产品系列： FluoroCube NL：滤光片分光系统及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 FluoroCube-01-NL：发射单色器及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 FluoroCube-11-NL：带有激发/发射单色器和二管激发的寿命体系 FluoroCube-10-CF：激发单色器（滤光片检测通道）和闪光灯激发的寿命系统 FluoroCube-11-CF：激发/发射单色器和闪光灯激发（5000U）的寿命系统 PhosphoCube-10-XF：激发单色器（滤光片检测通道）和微妙氙灯闪光灯激发的磷光寿命系统 PhosphoCube-11-XF：激发/发射单色器和微秒氙灯激发的磷光寿命系统注：具体配置、价格请咨询当地销售工程师

荧光寿命测试仪（Quantaurus&mdash Tau）Quantaurus-Tau是一套测试ps至ms量级荧光寿命的系统。它的操作十分简单，只需将样品放入样品腔，在软件中输入几个测试条件即可很快得到荧光寿命及光致发光光谱。一般典型实验可在60秒内得到分析结果，最高时间分辨率可达30-50ps. 应用领域荧光寿命测试有着非常广的应用范围。典型应用包括研究有机金属化合物分子内或分子间的电荷运动机能量转移，以及在有机电子发光器件开发中材料的荧光及磷光寿命测试，荧光蛋白中的FRET（荧光共振能量转移）以及太阳能电池及LED行业中的半导体化合物的测试。参数特性利用单光子计数技术实现高灵敏度，高速度的测试时间分辨率优于50ps可以测试低温液体样品（-196℃）荧光各向异性时间分辨测试荧光至磷光寿命测试集成化设计，简便化操作，性能稳定产品原理从有机材料或荧光探针中得到的荧光光谱（峰值波长及荧光强度等）是控制和评估材料的功能及特性的重要参数。然而，荧光光谱通常显示的是时间积分的结果，因此，当材料包含多种物质及活性元素时，这些物质及元素的荧光光谱只能以累积的形式表现出来。在这种情况下进行分析的一个有效手段是通过使用时间轴参数来观察发光的动态信息。这种方法通常也被称为荧光寿命测试，其中物质被脉冲光源激发并回到基态的过程可以在ps至ms的时间尺度内进行测试，这样甚至可以得到在相同波长及浓度下的多个不同的荧光寿命。

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。l S&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l 根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l 在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l 显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/ l 变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/ l 适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。l Monovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；l 应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等MonoVista CRS+ 特点：激光器深紫外到近红外波长范围多达内置4个波长激光器，外置外接大型激光器紫外和可见光/近红外双光束路径自动控制激光选择自动对准，聚焦和校准功能超高拉曼光谱分辨率 ＜0.9cm-1 @ 633 nm低波数拉曼,可测试到 +/- 10 cm-1高波数范围: 9000cm-1（@ 532nm）热电制冷和液氮制冷探测器正置/倒置/双显微镜空间分辨率：XY 1um Z 2um步进电机和压电驱动XYZ位移台快速3D拉曼Mapping荧光寿命成像Mapping功能集成控制液氮温度冷热台集成液氦温度低温恒温器可结合拉曼成像和原子力显微镜成像自动控制的偏振光谱功能L-Crystine的超低波数拉曼（正反斯托克斯）CCL4的超高拉曼分辨率TCSPC荧光寿命测试功能2 激光波长从375纳米到810纳米2 时间通道数：65536 ,分辨精度：4ps 2 各通道采集延时调节范围 ：± 100 ns，2 寿命时间抖动误差：12ps2 最大计数率：10MHz 最大同步率：84 MHz2 多种探测器选项，探测器通道：2个2 二维寿命成像，XY扫描压电位移台2 扫描台，范围可达几厘米，XY扫描精度优于500nm 2 固有响应时间：95ns2 仪器响应函数（IRF）200ps荧光寿命测试曲线荧光寿命MappingVistaControl硬件控制界面拉曼Mapping与显微图像对比MonoVista CRS+ 定制系统应用案例Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

荧光寿命/瞬态吸收分析系统 欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！产品目录：紧凑型荧光寿命测量仪Quantaurus-Tau 紧凑单盒型荧光寿命测量系统用于操作简单而高精度地测量荧光寿命和光致发光谱。皮秒荧光寿命测量系统 采用二维光子计数法来测量多光谱荧光寿命的高灵敏度和高时间分辨率（5 ps）荧光寿命测量系统。近红外荧光寿命测量系统 具有亚纳秒到皮秒的时间分辨率的近红外（650—1700 nm）荧光寿命测量系统。紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 紧凑型近红外光致发光寿命测量仪是专门为测量近红外波段（580—1400 nm）光致发光谱（PL Spectrum）和光致发光寿命（PL Life）而设计的。

EzTime-PL 同步可调制半导体激光器-------上转换荧光寿命测试仪◆ 替代OPO，提供大功率，宽波长范围激发波长选择；◆ 波长选择范围：405nm-2200nm；◆ 可实现连续输出和脉冲输出模式；◆ 输出脉宽独立可调；◆ 闪烁频率独立可调；◆ 幅值功率独立可调；☆ 上转换荧光光谱激发；☆ 上转换荧光寿命激发；☆ 微弱样品微秒寿命激发；☆ 防伪及刑侦光源；☆ 荧光标记筛选；☆ 单态氧发光光谱及寿命； ☆ 脉宽—-颜色受控样品表征；应用一：上转换荧光光谱及寿命，980nm 激光器激发；应用二：单态氧发光光谱动态及寿命，405nm 激光器激发；可以匹配已有市场的大部分型号荧光谱仪： 配合 HORIBA 荧光寿命测试系统，EDI FLS系列荧光寿命测试系统； TCPSC 系统中的 MCS 测试模式或磷光测试模式，获得荧光衰减曲线、时间分辨发射谱TRES和延迟荧光光谱；控制器部分1. 荧光寿命测试范围： 1us -10s ；2. 受控输出信号闪烁频率（0.01 -1kHz），可以实现的完全受控同步；3. 主动信号输出：0.1Hz-100kHz；带同步输出端口；4. 独立输出信号脉宽调整 ：25ns -500ms 无级可调；5. 电信号 拖尾小于1ns（外接 50 Ω电阻） ；激光器部分6. 半导体 激光器，额定功率2W，功率可调输出，1 -5W 可选7. 激光器 连续输出稳定性，＜ 2%，依赖于不同激发波长；8. 激光器 可选开放式平行光输出或线端口；可选波长：375-2200nm（请咨询 销售工程师更新列表）

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。 显微拉曼荧光寿命成像系统，型号：MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。lS&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/l变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/l适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。 lMonovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等。 低波数性能： Stokes/Anti-Stokes spectrum from L-Cystine显微拉曼荧光寿命成像系统特点：l深紫外到近红外波长范围l多达 4 个集成多线激光器，可选配外接大型激光器端口l紫外和可见光/近红外双光束路径l自动控制激光选择l自动对准，聚焦和校准功能l超高拉曼光谱分辨率，例如 FWHM＜25px -1 @ 633 nml利用低波数拉曼附件，低波数可测试到 +/- 10 cm-1 l高波数范围可达 225000px-1（@ 532nm），适用于光致发光l热电制冷和液氮制冷探测器l正置/倒置/双显微镜l步进电机和压电驱动 XYZ 位移台l快速拉曼 mappingl集成控制加热/冷却台，液氦温度低温恒温器l可结合拉曼成像和原子力显微镜成像l自动控制的偏振光谱功能 硬件与激光选择软件自动切换 荧光扣减与背景抑制功能 同一样品不同成分的拉曼成像图显微拉曼荧光寿命成像系统定制应用案例 Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

功能：微区荧光寿命衰减曲线测量；微区PL谱激发光斑：＜1um；光学相机视场：小于0.5mm荧光寿命范围达：5ps--10s，最宽的测量区间 全集成的基于PC软件系统，确保数据质量；可选：1. 高脉冲激光光源；可选266-1030nm波长光源，可接入4个激光器；2. 可选配：液氮变温控制工作台；3. 可升级选配：自动工作台, 获得FLIM功能；4. 皮秒检测器（波长和冷冻可选）；5. 时间分辨率≤1ps；6. 时间抖动 jitter time ＜10ps；7. 计时速率＞65MHz/channel 8. 同时采集信号通道≥8 channel；9. 微区光谱波长范围：360-1100nm；10. 寿命采集波长范围：400-1050nm；（可选红外二区波段）11. 分光，可以选用扫描单色仪；也可以采用滤光片；推荐理由：深紫外和红外激发波长可兼顾；微区荧光寿命；荧光寿命动力学；TCSPC 时间相关单光子计数技术；Picosecond to millisecond TCSPC (time-correlated single-photon counting) for measuring fast fluorescence decays

产品简介滨松荧光寿命测量系统C16361Quantaurus-Tau 是一款用于测量亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命的紧凑型系统。操作非常简单，只需将样品放置到样品室，然后在测量软件上输入几个条件，即可在短时间内高精度地测量荧光寿命和 PL 光谱。在典型测量中，只需 60 秒即可获得分析结果。产品特点采用光子计数法（时间相关的单光子计数）进行高灵敏度测量；时间分辨率优于 100 ps（通过去卷积）；溶液样品的冷却功能 (-196 °C)（选项）；磷光测量（选项）；荧光光谱测量；7 种激发波长；分析不同的样品形式（薄膜、固体、溶剂和粉末）；2 种探测器选择。产品用途有机金属络合物、荧光探针、钙钛矿 PV 材料、OLED 材料、量子点、LED 磷光体产品参数型号C16361-01C16361-02样品固体（薄膜、粉末）固体（薄膜、粉末）探测器类型标准NIR波长范围300 nm 至 800 nm380 nm 到 1030 nm激发光源七种类型的 LED 光源（280 nm、340 nm、365 nm、405 nm、470 nm、590 nm、630 nm）七种类型的 LED 光源（280 nm、340 nm、365 nm、405 nm、470 nm、590 nm、630 nm）激发光源切换软件控制软件控制单色仪Czerny-Turner 单色仪Czerny-Turner 单色仪测量时间范围4 ns 到 10 s/全刻度4 ns 到 10 s/全刻度磷光测量磷光激发波长（280 nm、340 nm、365 nm、405 nm、442 nm、470 nm、589 nm、632 nm）磷光激发波长（280 nm、340 nm、365 nm、405 nm、442 nm、470 nm、589 nm、632 nm）时间轴通道512 通道、1024 通道、2048 通道、4096 通道512 通道、1024 通道、2048 通道、4096 通道总时间分辨率 1.0 ns 半宽度（带 590 nm LED 的 IRF） 1.0 ns 半宽度（带 590 nm LED 的 IRF）分析功能荧光寿命分析（通过指数函数拟合，至多可分析五种成分）和光谱分析荧光寿命分析（通过指数函数拟合，至多可分析五种成分）和光谱分析支持的操作系统Windows 10 ProWindows 10 Pro该产品全部数据来源于：http://www.hamamatsu.com.cn/本站所发布内容（含图片），版权归原出处所有（无法查证版权的或未注明出处的均来源于网络搜集）。转载内容（视频、文章、广告等）只以信息传播为目的，仅供学习参考，不代表本平台认同其观点和立场。内容的真实性、准确性和合法性由原作者负责。

近红外荧光寿命测量系统 具有亚纳秒到皮秒的时间分辨率的近红外（650—1700 nm）荧光寿命测量系统。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！产品实例：产品图像产品型号产品名称测量波长范围制冷方式探测器时间分辨率 C7990-01近红外荧光寿命测量系统650 nm 到 1400 nm液氮制冷 (制冷时间：约 2 h)约 600 ps C7990-02近红外荧光寿命测量系统650 nm 到 1700 nm液氮制冷 (制冷时间：约 2 h)约 600 ps C7990-11近红外荧光寿命测量系统950 nm 到 1400 nm热电制冷(制冷时间：约30 min)约 300 ps C7990-12近红外荧光寿命测量系统950 nm 到 1700 nm热电制冷(制冷时间：约30 min)约 300 ps C7990-21近红外荧光寿命测量系统950 nm to 1400 nm液氮制冷约 100 ps C7990-22近红外荧光寿命测量系统950 nm 到 1700 nm液氮制冷约 100 ps

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）荧光光谱仪器可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。 HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。 Fluorocube推出的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供最灵活和界面友好的光子计数寿命系统。技术参数： &bull 寿命范围从皮秒至秒 &bull 基于滤光片实现波长选择(可选激发/发射单色仪) &bull 外循环液体控温样品架 &bull PPD 光子检测模块（标配） &bull 检测器范围185nm-650nm，可升级至850nm（与样品仓盖之间配有安全锁） &bull Fluorocub计时电子装置，皮秒到秒寿命范围（依赖于激发光源） &bull 综合分析软件 &bull 可选偏振器测量自旋相关时间 &bull NanoLED和SpectraLED二极管激发光源覆盖全波长范围主要特点： &bull 灵敏度高：单光子计数技术 &bull 准确性好：计时电路无需校正 &bull 灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽 &bull 模块化：可以根据需要定制模块配件 &bull 方便性：全电脑控制，易于操作可选附件 &bull 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm） &bull 四位光束控制反射镜（可选） &bull 偏振器 &bull 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C) &bull NIR检测器（~1700nm） &bull 固体样品支架 &bull 低温附件 &bull 低荧光背景滤光片 Fluorocube产品系列： &bull FluoroCube NL：滤光片分光系统及二极管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 &bull FluoroCube-01-NL：发射单色器及二极管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 &bull FluoroCube-11-NL：带有激发/发射单色器和二极管激发的寿命体系 &bull FluoroCube-10-CF：激发单色器（滤光片检测通道）和闪光灯激发的寿命系统 &bull FluoroCube-11-CF：激发/发射单色器和闪光灯激发（5000U）的寿命系统 &bull PhosphoCube-10-XF：激发单色器（滤光片检测通道）和微妙氙灯闪光灯激发的磷光寿命系统 &bull PhosphoCube-11-XF：激发/发射单色器和微秒氙灯激发的磷光寿命系统

激光共焦多维成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下特殊需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像； 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（可以选择双光子功能）激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS），FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

激光共焦多维荧光成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像；266nm 355nm 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（单/双光子功能） 激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS）， FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2…和三重态T1…，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的*一个( 也是唯一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合*终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。FLIM 应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5 m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的*高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的不二选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统 FLIM 软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中*多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：NO.1 通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。NO.2对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：测试案例

激光共焦多维成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下特殊需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像； 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（可以选择双光子功能）激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS），FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

TPL200皮秒荧光寿命光谱仪是一款结构紧凑、高集成化、 高性能、高性价比的荧光寿命光谱仪。可根据客户需求定 制化自定义功能。可搭配任意激光器使用。时间计时精度50ps bin精度1ps激发光源：选择1：超连续白光脉冲光源，波长430-2400nm全范围可调，采用窄带滤光片选择波长选择2：单波长皮秒激光器 波长根据用户需求选配选择3：可兼容多种用户自有激光器可见光单光子检测器：时间分辨率: 40ps；死时间: 50ns光谱探测范围: 350nm to 900nm探测量子效率: 35%@500nm整体仪器响应时间（IRF）：200ps寿命检测范围：～50ps到ms（时间窗口取决于激光器重频）带通滤光片组（标配5组带通滤光片）USB即插即用；适用溶液和固态薄膜样品数据采集软件：附送荧光寿命分析软件，含单指数、多指数、幂指数等多种数据拟合模型，亦可基于用户需求添加自定义功能

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

激光扫描共聚焦显微镜（LSM）是生物化学，细胞生物学和其他相关生命科学领域中广泛使用的工具。 通过使用时间分辨技术，可以进一步增强这些显微镜的功能，并具有以下优点：基于荧光寿命的荧光共振能量转移(FRET)效率量化测量利用时间分辨成像测量环境参数(pH,离子浓度)寿命测量与荧光团浓度无关利用荧光寿命拆分发射光谱重叠的荧光分子减少所需检测器的数量——一个检测器足以根据不同荧光团的特定寿命通过模式匹配同时检测不同荧光团用荧光寿命区分荧光对弹性和拉曼散射及其他背景噪声造成的影响荧光寿命作为一个进一步的参数提高了分析测量的准确性该升级套件作为激光扫描显微镜升级部件，在增强了功能性的基础上，更使整个系统简单易用。作为交钥匙系统，它主要包含三个单元:皮秒脉冲激发源，单分子灵敏度检测器，以及时间相关单光子计数(TCSPC)模块。特点：FLIM, FRET, FCS的交钥匙系统紧凑、易用、免维护的组件，所有的升级系统各个配置都高度模块化，具有无限的灵活性最大4通道独立探测模块的高灵敏系统荧光寿命探测范围从100ps到微秒级别高端易用、匹配多种分析方式的数据收集和分析软件可用于各向异性和厚组织FLIM新功能：rapidFLIMHiRes——利用超快FLIM成像和出色的5 ps时间分辨率实现动态过程可视化应用：时间分辨荧光rapidFLIM - 重新定义动态FLIM成像标准荧光寿命成像（FLIM）磷光寿命成像（PLIM）荧光相关光谱（FCS）荧光寿命相关光谱（FLCS）荧光互相关光谱（FCCS）荧光共振能量转移（FRET）脉冲交替激发（PIE）激光切割/烧蚀模式匹配分析时间分辨光致发光（TRPL）TRPL 成像反聚束效应各向异性参数：激发系统激光耦合台，基于皮秒脉冲半导体激光器(功率/重复频率可调, 最大80MHz)375-900nm波长范围支持单通道或者多通道驱动可选：支持外接第三方激光器 (如钛蓝宝石飞秒激光器和超连续谱激光器)新品：采用LDH-D-TA-560的560 nm皮秒脉冲激发支持显微镜的厂家型号Nikon：AX，A1, C2+, C2, C1siOlympus: FluoView FV3000, FVMPE-RS, FluoView FV1200 (MPE), FluoView FV1000 (MPE)Scientifica：VivoScope, HyperScopeZeiss：LSM 980, LSM 880, LSM 780, LSM 710探测方式最多可支持4通道相互独立的探测模块共聚焦和NDD配置通过光纤与显微镜连接探测器单光子雪崩二极管(SPAD) 混合型光电倍增管(Hybrid-PMT) 光电倍增管(PMT)数据采集方式基于时间相关单光子计数(TCSPC)的TTTR测量模式 多达四个通道的同时数据采集采集和软件SymPhoTime 64支持显微镜的厂家型号：AX，A1，C2+, C2，C1siFluoView FV3000FVMPE-RSFluoView FV1200 (MPE)FluoView FV1000 (MPE)HyperScopeVivoScopeLSM 980LSM 880LSM 780LSM 710

HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球leader，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。Fluorocube将全新的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供 灵活和界面友好的光子计数寿命系统。 主要特点：灵敏度高：单光子计数技术准确性好：计时电路无需校正灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽模块化：可以根据需要定制模块配件方便性：全电脑控制，易于操作

荧光寿命成像显微镜TauMap功能介绍提供激光器系统，激光器件，光学精密仪器设备，流动可视化测量和分析设备的最新进展和前沿应用信息 荧光寿命成像显微镜TauMap荧光寿命成像显微镜（FLIM）/荧光相关光谱（FCS）/荧光能量共振转移FRTE单细胞，细胞膜和组织的时间分辨荧光成像，用于生物，制药和医学研究:活体内分子和离子动力学的成像观测活体细胞中蛋白质相互作用的可视化倍频和荧光显微镜荧光寿命成像显微镜 (FLIM)荧光能量共振转移 (FRET)

仪器简介：HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）荧光光谱仪器可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。在细胞科学、生物物理和材料科学领域，重要变化经常会发生在时间和空间的微小尺度里。时间分辨荧光显微镜是研究细胞结构和纳米材料领域中动态事件的有效工具。与传统的荧光强度成像（由荧光显微镜获得）不同，荧光寿命是荧光基团的一个内在特性，因此它的测量不受非均匀负载，光漂白，激发光不稳定和光散射的影响。更重要地是时间分辨测试通过辨别显微点在样品中的位置获得更多关于分子运动、尺寸、所处环境、相互作用和键合的信息。借助于共聚焦显微镜的力量，可以得到清晰的样品成像、测定细胞内的局部作用和细胞结构的动力学。HORIBA科学仪器部推出的DynaMyc是基于滤光片式，全自动共焦显微镜系统，可在微观尺寸下测试荧光寿命和强度。DynaMyc采用高灵敏度的时间相关单光子计数（TCSPC）技术，荧光寿命范围100ps~100&mu s。整机包括：模块光学部件和Olympus BX51显微镜。它的成像部分包含X,Y,Z自动快速扫描平台，以及共聚焦设计，可在微米级的空间分辨率条件下实现荧光寿命成像。DynaMyc是一款灵活的研究工具，针对您的不同应用需求，可选多种波长的皮秒脉冲激光二极管光源，涵盖较宽的光谱范围（270~980nm），宽重复频率可调（CW~100MHz），多种滤光片以及不同检测器可选。可配置高动态范围、低噪声、制冷型照相机和高强度荧光照明，获得宽场荧光成像。DynaMyc由DataStation软件交互控制的一款全自动系统。基于去卷积分析后，可以生成各种参数的成像图，例如，寿命，相对振幅，平均寿命和荧光强度。DynaMyc是研究蛋白动态结合或解离及FRET的理想工具。可选附件：l 物镜（60/100X可选）l 皮秒脉冲激光二极管光源（多种波长可选）l 制冷型荧光相机技术参数：l 样平台：分辨率0.5µ m，行程范围75 x 50 mml 时间相关单光子计数（TCSPC）技术，寿命范围100ps~10&mu sl 光谱检测范围：185-650 nm/300-850 nm（TBX快速检测器）l 可配置DeltaDiode 100MHz高频率激光器，连续输出CW可选l 单点、多点和荧光寿命成像三种数据采集模式l 专业DAS6寿命分析软件能够快速数据分析l 可实现宽场荧光成像（制冷型荧光相机可选） 主要特点：l 时间相关单光子计数（TCSPC）技术，寿命范围100ps~10&mu sl 全自动紧凑光学寿命模块，可自动切换滤光片，二向色滤光片和针孔l 光纤耦合不同激光二极管（370~980nm）l 共焦头单元可自动切换针孔（100~1000&mu m）l 激光二极管（DeltaDiode），高重复频率可调（~100MHz），CW或脉冲模式可调l 直观的数据采集和分析软件l 宽场荧光成像（制冷型荧光照相机可选）

OLED寿命老化测试系统简介该系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统，主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。1、 系统主要测试参数绘制OLED寿命老化曲线2、 系统特点&bull 可根据实际需要定制多通道测量（96通道、128通道）&bull 可提供恒温恒湿测试环境，模拟真实使用情况恒温恒湿箱参数：箱体尺寸具体尺寸待定温度范围-40℃~150℃，或-20℃~150℃，或0℃～+150℃多个温度范围（用户可根据实际测试需求选择）升温速率2℃～4℃/min[从常温升到最高温、非线性空载）降温速率0.7℃～1.0℃/min[从常温升到最高温、非线性空载）解析精度（显示）温度：±0.01℃解析湿度（显示）±0.1%R.H温度波动度±0.5℃温度均匀度±2.0℃湿度范围20%～98%R.H [25℃-85℃内]湿度波动度±2.0%R.H.湿度偏差±3% [湿度75%RH 时]总功率/电压5KW/380V控制功能触控显示屏，温度设定可采用定值或程式编辑，可定时；标配USB接口，电脑只可读取温度数据，不能控制温度，需通过触控显示屏操作3、测试原理

武汉东隆科技为德国PicoQuant的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！FluoTime 300“ EasyTau”是一款用于稳态，寿命和磷光测量的全自动的高性能荧光光谱仪。FluoTime 300包含测量稳态光谱和荧光衰减曲线所需的完整光学和电子元件，凭借时间相关单光子计数（TCSPC）或者多通道测量（MCS）技术，有效记录稳态光谱以及几皮秒到几秒的荧光衰减。该系统光源采用皮秒脉冲二极管激光器，LED或氙灯（连续和脉冲）。多种单光子探测器选项可实现从UV到IR范围的各种系统配置。该系统极限灵敏度水拉曼信噪比为29000：1。FluoTime 300可用于研究从几皮秒到几秒的荧光和磷光衰减过程，并且拥有丰富的升级附件可选，是大多研究和分析不可或缺的标准系统。应用领域:时间分辨荧光/磷光光谱稳态荧光光谱单线态氧荧光上转换研究荧光各向异性测试量子产率测试光化学研究LED，OLED，量子点研究特点：模块化的全自动系统设计时间分辨和稳态双工作模式简单易用的向导式软件和第三方开发工具荧光寿命时间测量范围从ps-ms灵敏度可达26000：1（水拉曼信噪比）参数：光学结构l L型工作模式l 稳态、TCSPC和MCS灵敏度l 典型信噪比优于29000:1 (PMA 175探测器)，激发和发射光路中使用双单色仪，基于水拉曼光谱，激发波长350nm，光谱带宽5nm，积分时间1s荧光寿命范围l 40ps到10μs，采用PMT探测器和TCSPC模式的计数模块；l 10 ps 至 10 µ s，配有 Hybrid 检测器、TCSPC 电子元件和合适的激光器；l 10 ps 至 10 µ s，配有 MCP-PMT 检测器、TCSPC 电子元件和合适的激光器；l 大于几百ms，采用任何探测器和MCS模式的计数模块。激发光源l 皮秒脉冲二极管激光器或LED，波长从260nm-1990nm可选，重复频率高达80MHz，共用驱动单元l 高功率和紫外激光器（VisUV、VisIR）l 亚微秒脉冲氙灯l 300W CW同轴氙灯l 支持外部激光器，如钛宝石激光器、脉冲DPSS或白光激光器单色仪l Czerny-Turner结构l 聚焦长度：300mm，单出口或者双出口；双单色仪焦距长度为2 x 300 mm，单出口或双出口（发射端的+、-模式切换）；l 1200g/mm光栅，闪耀波长为500nm；600g/mm光栅，闪耀波长为1250nm；（其他光栅可选）；l 狭缝宽度在0mm至10mm之间可调（连续可调，完全电动），色散2.7 nm / mm（单单色仪，聚焦长度300mm）l 杂散光抑制比典型值1:10-5（单单色仪），1:10-8（双单色仪）。探测器l 光电倍增管PMT系列，185~920nm可选；l 微通道光电倍增管MCP-PMT系列，185~910nm可选；l 紫外/可见光-近红外PMT波长范围为200nm至1010nm；l 近红外光电倍增管NIR-PMT系列，950~1700nm可选；l 混合式光电倍增管Hybrid-PMT系列，200~900nm可选。软件l 操作简单，功能全面，基于Windows系统的分析软件；l 在工作区数据归档，数据导出功能和数据运算；l 使用向导进行标准化测量的辅助模式；l 完全控制所有硬件参数的定制模式；l 用于常规测量自动化的脚本模式；l 远程执行脚本（将自动化扩展到第三方设备）；l 荧光寿命光谱分析基于数卷积处理，高至五阶指数的衰减函数，含杂散光校正，寿命分布曲线，各向异性测试，全局分析，严密错误分析等功能。