大扫描范围原子力显微镜

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。 特点 1. 自动化功能高度集成自动化功能追求高效率检测 降低检测中的人为操作误差 4英寸自动马达台自动更换悬臂功能2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描 采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。 AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量 普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。 AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。 样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。SEM-AFM在同一视野观察实例（样品：石墨烯/SiO2）上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。 与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

仪器简介：Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的，无需制备样品。此外，机械运动平台允许批量的，预编程测量，使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域，用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单，是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜，真正非接触式原子力显微镜，横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。 ● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range ● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。 ● PZT/Voice Coil双模式技术AFM ● 全自动运动平台，马达驱动 ● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像 ● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ● 可以进行纳米压痕和划痕实验 ● 专利光学系统， XY闭环扫描技术 ● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点：● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台，马达驱动● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统， XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发

仪器简介：瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。easyScan 2原子力显微镜是瑞士Nanosurf公司在原有easyScan原子力显微镜基础上更新而来，增进了该原子力显微镜的便携性，精确性和可靠性，有更强的抗干扰能力。目前easyScan 系列原子力显微镜已经在50多个国家销售了近2000台。是工业质量控制，纳米材料研发者的完美工具。技术参数：easyScan2 AFM原子力显微镜： 1. 两种可供选择的原子力显微镜扫描头 (1) 大扫描范围 最大扫描范围：X和Y方向110um x 110um xy轴分辨率： 1.7nm 最大扫描范围： Z方向20um z轴分辨率： 0.34nm Z噪音标准（RMS）： 0.4nm(2) 高分辨率 最大扫描范围：X和Y方向10um*10um xy轴分辨率：0.15nm 最大扫描范围：Z方向1.8um z轴分辨率：0.027nm Z噪音标准（RMS）：0.07nm 扫描速度：1800个数据点/秒 传感半径： 15nm 典型负载： 10nN 扫描仪质量：350g 反馈回路宽带：3kHz 自动进场范围：5mm 没有使用危险的高电压2. 电子控制器 数据采集时，可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压：+12V 扫描速度：1-20分/框 1024样品/直线 动态频率范围：15-300KHz 动态频率分辨率：15-300KHz 外部电源 功率消耗量25VA 电子控制器质量2.5kg 3. 软件 软件在Windows 操作系统上运行 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察，点观察，三维观察 在线数学计算功能（减，平均值等等） 类似于粗糙度（Ra，Rq）、顶点剖面、厚度、距离和几何分析的数据分析 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 安装非常简便主要特点： easyScan2 AFM原子力显微镜：允许快速的、在原位无破坏性的、高分辨率的处理控制。 自动激光对准芯片技术，无需人工手动调节。设计小巧、紧凑；使用简便、舒适 。所有的功能可以在一台计算机上进行 。独立的；适合大、小形状各异的样品 。样品自动进场 。与标准计算机串行端口连接（不需要接口卡） 。特殊的扫描仪设计，确保低震动灵敏度 。

仪器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um 扫描范围：90× 90× 9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：&le 0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM，专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作，并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品，在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用，专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用，且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面（也适用于电镜）。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

Bruker原子力显微镜-Dimension FastScan扫描探针显微镜（Scanning probe microscopes，SPMs）是用于测量样品表面/界面性质的一类高分辨的探针型显微镜，根据其成像原理和操作模式的差异，主要分为原子力显微镜（atomic force microscopes，AFMs）和扫描隧道显微镜（scanning tunneling microscopes，STMs）等。SPM仪器的探针由压电陶瓷驱动，在物体表面作精确的扫描。探针距离样品表面的距离控制在一定的范围内，进行扫描工作，最终以纳米级分辨率获得样品表面的结构信息。传统的分析仪器，往往通过间接或计算的方法来推算样品的表面结构，但是SPM可以实时的获得样品表面真实的结构特征。因此SPM技术的出现，帮助人们首次获得了原子在平整表面排布的高分辨的真实图像。除此之外，AFM在常温常压大气下以及在液体环境下均可成像，实验操作中无需对样品进行任何特殊处理，就可以在微米级到埃米级的扫描范围内完成高精度表面测量，并且提供真正的三维形貌图。

【产品简介】 Nanosurf Bio原子力显微镜在倒置显微镜平台上可以提供高精度、高分辨率和成像功能，实现原位实时获取AFM图像和光学图像。可以在空气或液体环境中对DNA、蛋白质、细胞等成像和结构以及分子间作用力、细胞吸附力等生物力学进行检测，是生物/生命科学领域用户最理想的显微镜。 【仪器参数】 最大扫描范围100μm10μm 最大Z向范围10μm3μm Z向分辨率0.152nm0.046nm XY向分辨率1.525nm0.152nm

用于研发的灵活与多功能的原子力显微镜仪器简介：FlexAFM原子力显微镜是Nanosurf公司新研发的在大气环境和液体环境下都可以进行测试，并且可与倒置光学显微镜和温度样品台联用。可以满足绝大多数研究的需要。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：1，FLEXAFM原子力显微镜测量模式：接触式原子力显微镜（大气和液态环境），真正非接触式原子力显微镜（大气和液态环境），横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。2，扫描范围：100 um；10 um3，Z方向范围：10um；3 um4，XY方向驱动分辨率：0.152 nm5，Z方向驱动分辨率：0.046 nm6，最小Z方向测量噪音水平：0.15nm7，样品尺寸：直径100mm主要特点：1，FlexAFM无论是在大气环境下还是在液体环境下都可以进行测试，操作和测试的方便程度是完全一样，没有什么区别。2，灵活弯曲结构的扫描头设计，可以引用于平的或粗糙的样品表面。XY-扫描通过电磁驱动，XY平面的运动是完全线性的 。Z方向的运动是通过压电陶瓷来驱动，Z方向的运动速度很快。3，激光光束进入液体时会发生一定偏移，通常实验时需要耐心和复杂的调整。而FlexAFM 使用了专利SureAlign&trade 的激光光学系统，无论是在大气下还是在液体中根本不需要做任何调整。所以FlexAFM 的激光信号永远处于最佳状态。4，两个方向的视窗，非常方便观察和针尖逼近。并且由于特别的设计，使得无论在大气环境还是液体环境得到同样质量的视像。5，FlexAFM 使用"Liquid Ready" easyScan 2控制器, 可以扩展STM 等技术。为了材料研发上的成功,科学家们依赖专业的工具来快速地提供需要的信息,不管是否是手头的任务. 通过开发关键技术与设计, Nanosurf使得Flex-Axiom成为一款迄今为止强大多功能而且灵活的AFM, 非常方便地进行各种各样材料研发方面的应用. 配合功能强大的C3000控制器, Flex-Axiom还可以进行更多复杂的材料表征应用. 几百个研究用户，多方面应用实例Flex-Axiom是您可信赖的工具，不管是在表面形貌还是计量成像上，不管在大气中还是液体环境中. 当然Flex-Axiom不仅仅可以用于表面形貌测量, 比如还可以进行高级纳米机械性能、电学或者磁学性能表征. 该系统更能有效地用于样品的微纳米操纵功能. Topography, KPFM, and MFM images of the same area of a stainless steel sample 精确而优越的性能方便您研发上的需求Flex-Axiom使用特殊的线性电磁平板扫描器用于XY移动. 该扫描器在全范围内的平均线性度误差小于0.1%, 属于AFM市场上的顶配. Z轴由压电驱动, 带有位置传感器可以实现闭环操作. 高敏感的悬臂梁探测系统可以测量到MHz测量范围. Flex-Axiom的测量头配置的是全功能的, 带有数字反馈与两个双通道锁放的最新24位C3000控制器.Imaging of single and multiple pyrene nanosheets and height analysis with sub-nanometer accuracy. Data courtesy: Mykhailo Vybornyi, University of Berne, Switzerland 模块化设计: 让您今天的预算物有所值，让您未来有更多机会增加配置或需求Flex-Axiom带有模块化的样品台设计与各种探针底座类型, 可以满足您当前与今后的需求. 基于C3000控制器, Flex-Axiom可配置14种AFM操作功能, 甚至更多可扩展功能, 可以进行更多材料开发上面的高级测量与实验研究. ECS 204电化学样品台, 举例来说, 可以进行样品的电化学与以及样品周围的环境控制, 这样就可以开发更多新的应用. 跟一些我们的高级研发用户一起, 用于大范围纳米刻蚀、手套箱内操作、磁阻感应功能都已经被开发出来. Large-area nano-lithography (Dr. Lu Shin Wong, Manchester, UK) Flex-Axiom in glove box (Dr. Philip Kim, Harvard University, US) Magneto-resistive sensing (Dr. Jo?o Gaspar, Braga, PT) Flex-Axiom的模块化概念可以轻松地让它升级到其他FlexAFM产品线 (如用于生命科学的Flex-Bio, 用于自动纳米机械性能分析的Flex-ANA以及用于细胞与纳米操纵的Flex-FPM)， 给您的Flex-Axiom系统提供了更多的升级与扩展的可能性. Flex-Bio Flex-ANA Flex-FPM 开发所有的实践细节，有益于日常操作FlexAFM视频选件集成了两个摄像头用于顶视与侧视, 可以让您快速地找到感兴趣区域并逼近针尖到样品表面位置，然后进行全自动逼近. Camera optics Top view Side view带有定位槽结构的探针底座可使用带有定位沟槽的探针. 该探针底座提供了微米级别定位精度, 更换探针无需调节激光； 可以让您更换探针后依然方便地找到样品同样的位置. Flex-Axiom 配件与附件 Flex-Axiom系统的核心是FlexAFM测量头与C3000控制器，它们由I100电气转接盒连接. 基于标准配置, Flex-Axiom具有多个选件与附件可以供选择, 专门设计用来提高更稳定与可靠的结果, 或者提供了更多新型测量功能与实验的可信性: 各种探针底座类型 FlexAFM视频选件，顶视与侧视双光学ECS 204 电化学样品台ATS 204 自动移动台Isostage主动式防震台环境控制来进行干燥或者低氧环境操作 高级隔声罩用于保护外界噪声与其他干扰

DS 95 SPM-原子力显微镜扫描仪简介：DS 95 SPM扫描仪系列我们提供易用性和性能的最终统一。数十年在DS95 SPM扫描仪的应用和制造领域的长期经验，帮助用户在最短的时间内实现最好和最可靠的结果。作为光学显微镜或OEM集成DS95系统的纳米压头等的一个纯粹SPM替代者，DME圆顶平台是一个有价值的选择。DS 95 SPM-原子力显微镜扫描仪特点：1.DS95 SPM扫描仪的紧凑设计，保证了其出色的稳定性和扫描速率。 2.独特的即插即用悬臂切换功能确保仪器可以快捷和安全的操作。 3.一个集成的光轴为SPM扫描仪在寻找和定位目标过程中提供总体视觉控制。 4.DS95 SPM扫描仪作为基本设备提供给所有常用和先进的SPM型号。 5.集成电子元件的扫描头保证了在电性SPM模式下的最低噪音值。 6.DS95多元底座允许DS95 SPM扫描仪，纳米压痕仪和光学显微镜等安装在DME底座平台上。7.出色的稳定性和易于处理，以实惠的价格水平。8.在日常小样本测量方面进行了操作和性能方面的优化设计。9.通过对CCD总的视觉控制来实现样品的精确定位。简短的机械回路，搭配底座和扫描仪的圆形设计来保证最高的稳定性和最低的漂移值。10.其模块化设计提供了全面升级到机动化操作或大样本平台的潜力。DS 95 SPM-原子力显微镜扫描仪型号：IglooCompact GraniteProberstation 150Navigator 220样品尺寸样品厚度50mm5mm150mm60mm350mm60mm150mm60mm样品的XY方向移动量XY方向移动方式完全自动化测量自动寻找和重新寻找程序16×16mm手动否否16×16mm或50×50mm手动或机动,带有操作杆和自动表控制的否否200×150mm机动,带或带有参考坐标系统，操作杆和自动表控制的是否200×150mm机动，带有参考坐标系统的操作杆和自动表控制是是高分辨率CCD相机LED传输和反射照明是是是是有亮和暗场或DIC成像是有亮和暗场或DIC成像是扫描器SPM模式见下文所有模式见下文所有模式见下文所有模式见下文所有模式个人电脑控制器软件DiProWa （可编程数字波形分析仪）可选C26ScanTool可选可选C26ScanTool可选可选C26ScanTool可选可选C26ScanTool可选液体样品腔磁稳定性平台热稳定性平台探头装配工具可选可选可选可选可选可选可选可选可选可选可选可选可选可选可选可选 DS 95 SPM-原子力显微镜扫描仪技术参数：- 扫描体积：50×50×5mm（DS95-50）或200×200×15mm（DS95-200） - XYZ方向探针移动量：独立于样本大小！ （AFM重要的通用准则） - 最高的机械稳定性（！在Z方向的原子步进分辨率0.06 nm的有效值在HOPG） - 快速的扫描速率高达30Hz - 在Z方向的硬件线性扫描运动 - 在Z方向的噪音水平0.05 nm的有效值 - 自我调节激光/悬臂偏转系统 - 最小。在AC模式幅度设置1纳米 - 对悬臂式综合光轴 - 即插即用悬臂式插入，速度最快，目前市场上最安全的悬臂交流！ （独特） - 由压电马达高度敏感的方法步骤（独特） - SPM模式：交流，包括振幅成像和相位成像特区，包括LFM, MFM, KPFM, EFM, SCM, STM

Park NX-HDM毫无争议的最佳原子力显微镜自动缺陷检查和表面粗糙度测量更高的通量，自动的缺陷检查对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析，从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接，这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。此外，Park NX-HDM拥有精准的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内较低的本底噪声和True Non-Contac技术，Park NX-HDM是目前市面上表面粗糙度测量较为精准的原子力显微镜。 次埃米表面粗糙度测量行业对于超平媒介和基体的要求越来越高，从而满足体积不断减小的设备需求。此外，Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着行业最低的本底噪声和独特的True Non-Contact&trade 技术，Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量最精确的原子力显微镜。 媒介和基体自动缺陷检查 更高的通量，自动的缺陷检查NX-HDM的自动缺陷检查功能(Park ADR)可加速和改良识别、扫描和分析媒介和基体缺陷的流程。借助光学检查工具提供的缺陷位置图，Park ADR可自动定位这些位置并进行成像（分两步）： （1）缩小扫描成像，以准确定位缺陷。（2）放大扫描成像，以获取缺陷的细节。在真实缺陷测试中，我们可以看到相比于传统的方法，该自动功能可将缺陷检查通量提高到10倍。自动搜寻式扫描和放大扫描经过优化的扫描参数让两步式扫描更为快速： （1）快速的低分辨率搜寻式扫描，以准确定位缺陷。（2）高分辨率的放大扫描，以获取缺陷的细节。扫描尺寸和扫描速度参数可调节，从而满足用户需求。 缺陷坐标图自动传入和映射至原子力显微镜借助独有的先进映射算法，从自动光学检测(APO)工具中获取的缺陷坐标图可准确地传入和映射至Park NX-HDM。该技术让全自动高通量缺陷成像成为可能。—————————————————————————————————————————————————精确的次埃米表面粗糙度测量次埃米表面粗糙度测量行业对于超平媒介和基体的要求越来越高，从而满足体积不断减小的设备需求。此外，Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着行业最低的本底噪声和独特的True Non-Contact&trade 技术，Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量最精确的原子力显微镜。—————————————————————————————————————————————————通过真正的非接触&trade 模式进行精确的 AFM 扫描√ 探针磨损更低=高分辨率扫描更长久√ 无损式探针-样品接触=样品变化程度小√ 避免参数依赖！探针磨损更快=扫描图像模糊！破坏性探针-样品接触=样品受损变化！高参数依赖性具有低噪声 Z 探测器的精确 AFM 形貌True Sample Topography&trade 无压电蠕变误差√ 形貌使用了低噪声Z轴探测器信号√ 宽带宽下0.02 nm的低Z轴探测器噪声√ 前沿和后沿无过冲√ 只需出厂前进行一次校准全自动图形识别借助强大的高分辨率数字CCD镜头和图形识别软件，Park NX-HDM让全自动图形识别和对准成为可能。高速Z轴扫描器，扫描范围达15 μm借助高强度压电叠堆和柔性结构，标准Z轴扫描器的共振频率高达9 kHz以上（一般为10.5 kHz）且探针的Z轴移动速率不低于48 mm/秒，让信息反馈更为准确。最大Z轴扫描范围可从标准的15 μm扩展至40μm（可选购的远距离Z轴扫描器）。自动测量控制自动化软件让NX-HDM的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化，为您提供多位置分析。自动化软件会按照测量文件中预设的程序进行样品测量。Park的用户友好型软件界面让用户可灵活执行全系统功能。创建新测量文件只需要10分钟左右的时间，而修改现有的测量文件则需要不到5分钟的时间。Park NX-HDM具有： 自动、半自动和手动模式 各自动程序的可编辑测量方法 测量过程实时监测 自动分析所获取的测量数据低噪声XYZ轴位置传感器行业领先的低噪声Z轴探测器替代Z电压，作为样貌信号。此外，低噪声XY闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。行业最低的本底噪声 为了检测最小的样品特征和成像最平的表面，Park推出行业本底噪声最低（ 0.5?）的显微镜。本底噪声是在“零扫描”情况下确定的。当悬臂与样品表面接触时，在如下情况下测量系统噪声： 0 nm x 0 nm扫描范围，停在一个点0.5增益，接触模式 256 x 256像素闭环式XY轴扫描器带双轴伺服系统XY轴扫描器的各轴上配有两个对称的低噪声位置感应器，得以在最大的扫描范围和样品尺寸下保持高正交扫描。双感应器能够修正和补偿单感应器引起的非线性和非平面位置误差。—————————————————————————————————————————————————自动测量控制自动化软件让NX-HDM的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化，为您提供多位置分析。自动化软件会按照测量文件中预设的程序进行样品测量。Park的用户友好型软件界面让用户可灵活执行全系统功能。创建新测量文件只需要10分钟左右的时间，而修改现有的测量文件则需要不到5分钟的时间。Park NX-HDM具有： &bull 自动、半自动和手动模式&bull 各自动程序的可编辑测量方法&bull 测量过程实时监测&bull 自动分析所获取的测量数据电离系统离子化系统可有效地消除静电电荷。由于系统随时可生产和位置正离子和负离子之间的理想平衡，便可以稳定地离子化带电物体，且不会污染周边区域。它也可以消除样品处理过程中意外生成的静电电荷。

性价比高的紧凑型研究级原子力显微镜 紧凑化设计，具有完整的一体化的多功能与特征配置强大而且功能齐全简化设计与功能配置让您的设备最具性价比CoreAFM非常智能地联合了原子力显微镜的核心部件来实现最多功能化与用户方便使用性. 正是由于这种基础的设计, CoreAFM非常合理的实现了最优化的原子力显微镜的功能. 紧凑化与完整性融合了最新型的平板扫描器、全数字化的32位控制器、XYZ样品台,双光路辅助光学系统与隔声罩， CoreAFM成就了一套一体化的AFM系统，具备完整的AFM功能，而且有着无比紧凑的尺寸.所有的必备的现代化的AFM功能都可以集成在CoreAFM系统中 这样一来, 仅需要连接电源与USB数据线就可以来操作CoreAFM了. 功能强大与多模式最新的电路设计带有24位ADC与DAC来保证XYZ三个方向的高分辨驱动100×100×12 μm 扫描器，而且具有仅受限于探针的低噪音的力学探测. CoreAFM具备32种标准的与可选的模式与功能使得这款原子力显微镜成为了多种应用的选择，从材料科学到生命科学与电化学方面都可以适用. 基于CoreAFM最基本的功能, 所有可选模块都可以方便地得到扩展或者升级. 主动式防震台Isostage的系统集成功能反应在独特的SpikeGuard, 它可以自动消除成像过程中出现的跳线.尽管Isostage是一套主动式防震系统, 当外界干扰过大时候还是会产生跳线. SpikeGuard功能可以探测到这种异常然后重新扫描该线，自动产生没有跳线的图像.包含测量模式CoreAFM可以实现静态力、动态力成像、相位成像、磁力模式（MFM）、横向力\摩擦力、力调制成像、标准力谱曲线与标准刻蚀模式.您也可以利用CoreAFM模式工具盒来提高您的测量经验.包含的标准模式工具盒CoreAFM标准配置静态力模式工具盒, 动态力模式工具盒与相位成像模式工具盒.根据这些测量模式,每套模式工具盒都可能包含样品、适配探针、附件或者其中的组合.附加的标准模式工具盒附加的标准模式工具盒可以单独来选配，如标准力谱工具盒, 标准刻蚀工具盒, 标准磁力模式（MFM）工具盒, 标准液体模式工具盒, 横向力\摩擦力模式工具盒与力调制模式工具盒.高级功能AFM高级模块如样品加热台、环境控制腔、脚本开发或者其他高级模式都可以轻松地选配到CoreAFM系统上.更多细节与附件参考上面的图文总览，里面包括基础的选件功能与二次高级选件功能.技术参数： 扫描器 最大扫描范围(XY) 100 μm 5 nm flatness最大高度范围(Z) 12 μm closed loop探测器噪声(RMS) typ. 60 pm max. 100 pm传感器噪声(RMS) typ. 180 pm max. 250 pm动态力噪声(RMS) typ. 40 pm max. 70 pm静态力噪声(RMS) typ. 100 pm max. 200 pm控制器 Scan control and inputs 24-bit ADC/DAC 200 kHz瑞士Nanosurf公司最具性价比产品最小化与最集成化的设计方法不用您连接扫描器与控制器直接的连线, 配套附加的控制器盒、隔声罩与辅助光学系统等等,这样就使得所有的一体化元件保持了所有的功能.最简化却是更值得 — CoreAFM意味着物有所值.CoreAFM与它的附件设计成设计成一套完整系统的概念. 这样我们的CoreAFM就是一体化、优质而高性能的、多功能的AFM系统，在市场上提供最具性价比的原子力显微镜系统.而且我们的原子力显微镜操作简便、结构稳固，而且扩展方便.CoreAFM原子力显微镜带给您AFM的精华: 测量, 而不是机器!

产品详情 瑞士 Nanosurf 原子力显微镜CoreAFM 技术参数： 扫描器 : 。最大扫描范围(XY) 100 μm 5 nm flatness 。最大高度范围(Z) 12 μm closed loop 。探测器噪声(RMS) typ. 60 pm max. 100 pm 。传感器噪声(RMS) typ. 180 pm max. 250 pm 。动态力噪声(RMS) typ. 40 pm max. 70 pm 。静态力噪声(RMS) typ. 100 pm max. 200 pm控制器 ： Scan control and inputs 24-bit ADC/DAC 200 kHzCoreAFM非常智能地联合了原子力显微镜的核心部件来实现最多功能化与用户方便使用性. 正是由于这种基础的设计, CoreAFM非常合理的实现了最优化的原子力显微镜的功能. 功能强大与多模式最新的电路设计带有24位ADC与DAC来保证XYZ三个方向的高分辨驱动100×100×12 μm 扫描器，而且具有仅受限于探针的低噪音的力学探测. CoreAFM具备32种标准的与可选的模式与功能使得这款原子力显微镜成为了多种应用的选择，从材料科学到生命科学与电化学方面都可以适用. 基于CoreAFM最基本的功能, 所有可选模块都可以方便地得到扩展或者升级. 主动式防震台Isostage的系统集成功能反应在独特的SpikeGuard, 它可以自动消除成像过程中出现的跳线.尽管Isostage是一套主动式防震系统, 当外界干扰过大时候还是会产生跳线. SpikeGuard功能可以探测到这种异常然后重新扫描该线，自动产生没有跳线的图像. 包含测量模式CoreAFM可以实现静态力、动态力成像、相位成像、磁力模式（MFM）、横向力\摩擦力、力调制成像、标准力谱曲线与标准刻蚀模式.您也可以利用CoreAFM模式工具盒来提高您的测量经验. 包含的标准模式工具盒CoreAFM标准配置静态力模式工具盒, 动态力模式工具盒与相位成像模式工具盒.根据这些测量模式,每套模式工具盒都可能包含样品、适配探针、附件或者其中的组合. 瑞士Nanosurf公司最具性价比产品最小化与最集成化的设计方法不用您连接扫描器与控制器直接的连线, 配套附加的控制器盒、隔声罩与辅助光学系统等等,这样就使得所有的一体化元件保持了所有的功能. 最简化却是更值得 — CoreAFM意味着物有所值.CoreAFM与它的附件设计成设计成一套完整系统的概念. 附加的标准模式工具盒附加的标准模式工具盒可以单独来选配，如标准力谱工具盒, 标准刻蚀工具盒, 标准磁力模式（MFM）工具盒, 标准液体模式工具盒, 横向力\摩擦力模式工具盒与力调制模式工具盒. 高级功能AFM高级模块如样品加热台、环境控制腔、脚本开发或者其他高级模式都可以轻松地选配到CoreAFM系统上.更多细节与附件参考上面的图文总览，里面包括基础的选件功能与二次高级选件功能.

NTEGRA Spectra系统简介： NTEGRA Spectra - AFM / CONFOCAL RAMAN & FLUORESCENCE / SNOM / TERS 它将原子力显微镜、扫描近场光学显微镜，激光共聚焦显微镜、荧光光谱和拉曼光谱等各种分析手段完美地结合到一起。借助于针尖增强拉曼散射效应（TERS），其拉曼散射光谱和图像测量的分辨率达到了50nm！ Confocal optical microscopy/spectroscopy system NTEGRA Spectra系统将激光共聚焦显微镜、拉曼光谱、光学显微镜和扫描探针显微镜完美结合，提供了荧光光谱与Raman散射的空间3D分布测量，而扫描探针显微镜也兼备了纳米压痕、纳米操纵和纳米刻蚀加工等功能！ Scanning probe microscopy system NTEGRA Spectra在进行光学观测的同时，NTEGRA Spectra系统也可以通过多种模式对样品进行SPM表征，包括：原子力显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜、扫描隧道显微镜、扫描近场光学显微镜、力曲线等等多大40种功能。这种独有的设计将光学与探针方法联合的设备，赋予了用户对样品同时进行多种性能表征的能力，使得用户可以观测样品的光学性质、化学性能、电学性质、力学性质和磁学性质等等！ System for the investigation of optical properties beyond the diffraction limit NTEGRA Spectra系统区别于其他光学设备的性能在于它能在超过衍射极限的分辨率下，对样品光学性质进行研究。扫描近场光学显微镜与局域的针尖增强拉曼散射效应使得用户可以对光转移、光散射和光极化进行成像，其Raman散射的空间分辨率达到了50nm！ NTEGRA Spectra系统的工作模式 原子力显微镜（力学、电学、磁性质等，纳米操作等多大40种功能） 扫描近场光学显微镜（透射、反射、收集、荧光） 激光共聚焦显微镜、共聚焦拉曼成像、荧光成像、光学成像 针尖增强拉曼散射-TERS（正置+倒置）扫描近场光学显微镜 ( SNOM / NSOM ) 环境控制：温度、气氛控制、液相操作、电化学环境、外加磁场不仅能将原子力显微镜-近场光学显微镜-光学显微镜-共聚焦显微-拉曼光谱完美的联用。此外每个功能还能单独使用即提供了：独立的AFM/独立的SNOM/独立的光学显微镜/独立的共聚焦显微镜/独立的拉曼光谱，所有功能都能在同一个软件下实现联用，并且能够同时得到测量结果。为了更好的体现Ntegra 的扩展性，该系统不但能和NT-MDT 的拉曼系统联用， 也同和市场上主流的拉曼进行联用，例如Renishaw，JY 等拉曼系统联用。

【产品简介】 可以安装在正置或倒置光学显微镜或光学轮廓仪上； 装有8倍物镜，能清晰观察您的样品盒AFM探针； 利用光学显微镜的取景器和操纵器来轻松定位； 集成样品自动趋近系统，您只要将样品放到光焦点，下面就交给镜头式AFM吧； 不受学限制的影响，瞬间得到高分辨率图像，同时测量大范围样品表层的属性（所有标准AFM工作模式都可以通过EasyScan 2的控制系统操作）； 简易直观，Nanosurf著名的简易操作方法让您在短时间内学会操作。【仪器参数】 最大扫描范围：XY向：110μm Z向：22μm； 分辨率：XY向：1.7nm Z向：0.34nm XY平均线性误差：0.6%

仪器简介：在以下方面，easyScan 2扫描隧道显微镜是最理想的工具 在石墨上用易完成的原子分辨率进行非常高分辨率测量 轻松进入纳米世界 大气环境中日常的实验室工作 瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：1. 扫描隧道显微镜扫描头 最大扫描范围： X和Y方向0.5um x 0.5um（可以选择1um x 1um） xy轴分辨率： 0.015nm 最大扫描范围： Z方向200nm z轴分辨率： 0.003nm 扫描速度： 每128个数据点，60ms/line 槽压： 5 mV 阶段时，± 10 V 设定点电流： 25 pA阶段时，± 100 nA 反馈回路宽带： 3kHz 自动接近样品 没有使用危险的高电压 包括高效减幅阶段 用0.25 mm的 Pt/Ir 金属丝作为扫描尖端 2. 扫描隧道显微镜电子控制器 数据采集时，可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压：+12V 附加的独立的12位的ADC输入选件 外部电源 可以升级运行AFM扫描仪3. 扫描隧道显微镜软件 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察，点观察，3维观察 在线数学计算功能（减，平均值等等） 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 多用光谱功能 I-V和I-z曲线测量4. 扫描隧道显微镜可利用的附件和消耗品 覆盖10倍放大高质量光学镜的透明层 全部的STM工具（刀具，钳子，镊子） 提供STM原理信息手册 样品：HOPG，Gold 薄膜，MoS2 云母片上的取向薄膜Gold (111) 接触样品的银粉漆 Pt/Ir STM金属丝(直径为0.25mm)主要特点：可以在大气下进行任何STM实验设计小巧、紧凑；使用简便、舒适扫描仪配置了易接近和可视扫描端自动接近样品所有的功能可以在一台计算机上进行与标准计算机串行端口连接（不需要接界面卡）特殊的扫描仪设计，确保低震动灵敏度

一、产品简介LiteScope™ 是为不同品牌的扫描电子显微镜（SEM）设计的“即插即用”的扫描探针显微镜。根据客户需求，定制并提供适当的适配器和反馈机制，很容易通过四个螺丝将LiteScope™ 固定在电子显微镜的样品台上，通过线缆与控制器、电脑进行连接。 LiteScope™ 通过可更换探针进行多种扫描探针显微镜（SPM）成像模式。 综合分析包括：面形貌表征、机械性能、电性能、磁性能。 二、 功能主要功能LiteScope™ 提供并支持各种SPM测量方法和各种探针，其设计基础和最有价值的技术特征是通过不同的探针夹，使用不同的探针以达到测试要求。其主要测试功能：原子力显微镜（AFM）、静电力显微镜(EFM)、局部电压/电流测量、力调制模式（FMM）、开尔文探针力模式（KPFM）、磁力显微镜（MFM）、扫描隧道显微镜（STM）、纳米压痕。技术特点LiteScope™ 采用关联探针和电子显微镜技术（CPEM），该技术利用两种不同的技术对同一物体城乡的方法。CPEM能够同时对样品表面的同一个区域进行SEM和AFM表征。LiteScope™ 通常用于高真空环境，但也可根据要求适用于超高真空环境。 工作温度：+15°C至+25°C 标准工作压力：10-5Pa~105Pa 外形尺寸：129 mm x 90 mm x 45-55 mm 最大扫描面积：22 mm x 11 mm x 8 mm 扫描范围：100 um x 100 um x 100 um 分辨率：0.2nm 技术能力优势独特的关联探针和电子显微镜技术（CPEM）综合表面表征-形貌、粗糙度、磁性、导电性、电性能 在样品表面对针尖进行精确导航定位5分钟内轻松集成和安装/拆卸 即插即用 与FIB、GIS、EDX等附件兼容 无需光学探测、无需激光调节的自感应探头 商用探针，多种测量模式 可根据客户要求定制探针适配于合适的探针夹测量头可缩回LiteScope™ 的主体，以节省样品周围的空间。 倾斜操作（倾斜0°–60°），最小WD=5 mm 软件友好，无需特殊安装 远程访问结果和测量设置 三、应用生物传感用石墨烯包裹金纳米粒子杂化结构的SEM/AFM表征 金纳米粒子与石墨烯掩膜的结合是一种新的制备适用于表面增强拉曼光谱（SER）的活性基底的方法。石墨烯可以作为针孔钝化层，防止等离子体纳米结构氧化。金粒子与石墨烯的接触程度对SERS的灵敏度有重要影响。因此，了解石墨烯膜对单个纳米颗粒或此类纳米颗粒簇的遮盖方式非常重要。可使用CPEM轻松确定纳米颗粒在石墨烯膜下的分布以及表面形貌。虽然LiteScope™ SPM（AFM）可以对纳米颗粒上的石墨烯层进行表面成像，但SEM可以对石墨烯层下的纳米颗粒进行成像。 含HFO2颗粒的W-Cr固溶体退火后的降解在1000°C下退火10小时后W-10Cr-1HF（含HFO2颗粒的固溶W-Cr）的分解。孔隙形成于二氧化铪颗粒周围，同时也形成富铬部分（深色片晶或点）和富W部分（片晶之间的亮区）。利用CPEM可以快速、准确地识别扫描电镜图像中的形貌和材料对比度，很容易区分HF颗粒与孔隙。用CPEM技术研究了样品表面的腐蚀速率。胶原支架上间充质干细胞的研究 采用冷冻干燥法制备胶原支架（Ceitec-but，RG 2.3）。然后，用间充质干细胞接种支架，在标准培养条件下培养6天（马萨里克大学组织胚胎学系）。最后，用四氧化锇和醋酸铀酰对支架进行染色，以获得更好的视觉效果。由于独特的LiteScope™ 及其通过扫描电镜精确的AFM尖端导航，在不损坏支架孔中探针的情况下，才有可能对制备的细胞进行测量。利用CPEM，可以同时用电子束和探针扫描同一个细胞并获得图像，以及细胞与基质的相互作用，这意味着细胞在支架后的扩展更大——更好的粘附力和更友好的环境。 其他应用

仪器简介：扫描探针显微镜(SPM)平台是为了在纳米尺度研究样品的表面性质而设计的。它能够让我们在几微米到几个埃的尺寸下肉眼观察并定量测量样品的力学性质（硬度，弹性，粘度），电学性质（导电性，电容性，表面电荷分布）以及磁的性质。Solver 平台拥有超过40 种测量方法，并且实现在大气，气氛控制以及液体环境下进行工作。技术参数：测量模式： STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/ 静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀)扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描测量头部：AFM和SPM，可选配液相模式最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度10mm。针尖扫描：样品无限制XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um光学系统：根据客户需求配置样品温度控制：室温~130℃ 主要特点：Solver P47-PRO SPM 是一种可以在空气、液体和室温～ 130° C 的可控气氛下对不同的样品进行高精度综合分析的通用仪器。此型号不仅适合小公司或学校的试验室使用，同样适合大的研究中心使用。其现代化的设计提供了最高的测量精度和大量的SPM技术。可选配独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展到200x200um。该型号仪器现已装备到全世界600多个实验室，其中中国大陆正在使用的用户达40多个。

拉曼原子力显微镜型　号FM-NanoviewRa-AFM更新时间2022-10-17所属分类拉曼原子力显微镜产品描述：拉曼原子力显微镜FM-NanoviewRa-AFM◆ 同时集成拉曼光谱仪和原子力显微镜的功能，观测样品三维形貌的同时还可以分析样品的物质组分；◆ 内置10X复消色差光学系统，无需调焦，同时看到探针针尖和拉曼激光光斑；◆ 不移动样品可以从相同的点同时采集AFM和拉曼数据，原位检测样品的形貌信息与化学信息；◆ 激光检测头、激光耦合器和样品扫描台集成一体，稳定可靠；◆ 精密激光及探针。产品概述　　拉曼原子力显微镜技术参数 　　◆ 工作模式：接触、轻敲、F-Z力曲线测量、RMS-Z曲线测量、摩擦力/侧向力、振幅/相位、磁力和静电力 　　◆ 样品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm 　　◆ 扫描范围：XY向20um，Z向2um(可选配XY向50um，Z向5um) 　　◆ 扫描分辨率：XY向0.2nm，Z向0.05nm 　　◆ 样品移动范围：0~20mm 　　◆ 光学放大倍数10X，光学分辨率1um(可选配20X，光学分辨率0.8um) 　　◆ 扫描速率0.6Hz~4.34Hz，扫描角度0~360° 　　◆ 扫描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A 　　◆ 数据采样：14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样 　　◆ 反馈方式：DSP数字反馈 　　◆ 反馈采样速率：64.0KHz 　　◆ 通信接口：USB2.0/3.0 　　◆ 运行环境：WindowsXP/7/8/10操作系统 　　拉曼光谱仪： 　　◆ 激光波长：532±0.05nm,可选配785±0.05nm 　　◆ 激光连续输出功率：500Mw(50-600mW连续可调) 　　◆ 激光波长稳定性：0.05nm 　　◆ 激光功率稳定性：2%(两小时内) 　　◆ 激光器寿命：10000小时 　　◆ 拉曼漂移范围：50-4000cmˉ¹ 　　◆ 光谱分辨率：3cmˉ¹ 　　◆ 动态范围：8000:1 　　◆ 积分时间：17毫秒-100秒 　　◆ 线性度：99.8% 　　◆ 运行环境：WindowsXP/7/8操作系统 　　◆ 自动寻峰：支持 　　◆ 拉曼数据库：3000多种常见数据(选配)，支持升级 　　◆ 开发式拉曼数据库：支持 　　◆ 拉曼数据导入导出：支持 　　◆ 分析软件：Raman Analysis 2

alpha300 RA –在一个系统里面集成化学成分分析和纳米级别的结构成像alpha300 RA 是市场上首个高度集成的拉曼原子力显微镜系统，可以在标准的Alpha 300R共聚焦拉曼系统上通过标准模块升级即可完成拉曼原子力系统联用，获得原位的AFM和Raman图像的叠加。alpha300 RA 独特的设计理念使联用系统既保留300R强大的化学组分分析能力，同时加入微纳级别的表面形貌等特性的分析能力，使研究者能对样品进行深度完善的分析和理解。 alpha300 RA 让拉曼和原子力两种互补的技术得以在一套系统里面实现，两种技术的性能完全不受联用的影响，而且使用同一个操作软件，使得操作和分析变得简单应用。拉曼和原子力显微镜使用不同的显微镜物镜，只需要简单转动物镜转盘，成像软件即可原位完成两种技术的图像对比，叠加和分析 此外alpha300 RA可进一步升级来配合TERS (高分辨拉曼)测量 拉曼原子力显微镜系统主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 A (原子力) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析（拉曼）和微纳级别表面特征分析（原子力）的结合l 原子力和拉曼同时进行的绝佳选择l 严格原位，完全不需要在测量过程中移动样品l 只需要转动物镜转盘即可在两种测量技术之间简单切换 拉曼原子力显微镜系统应用实例 多组分高分子混合物，包含了1:1:1比例的聚苯乙烯（PS），充油丁苯橡胶（SRB）和丙烯酸乙基己酯（EHA）的原位拉曼及原子力图像对标最左边的拉曼成像: 绿色代表PS, 红色代表SRB，蓝色代表EHA.第二至第五张图像分别是样品的表面拓扑结构，相位，粘附力和粘度 金刚石压砧在单晶硅表面的压痕的应力分析，原位拉曼原子力图像左图：10x10um原子力表面拓扑结构和深度轮廓图，右图压痕周边的应力拉曼图像，紫色为未受应力影响，黄色为压力应变，灰色为张力应变 拉曼原子力显微镜系统性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪，专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 通用原子力显微镜操作模式l 接触模式l AC 模式（轻敲模式）l 数字脉冲力模式 (DPFM)l 抬高模式l 磁力显微镜模式 (MFM)l 静电力显微镜模式 (EFM)l 相位成像模式l 力曲线分析l 微纳操控及微纳印刷l 横向力模式 (LFM)l 化学力模式 (CFM)l 电流探测模式l 其他可选 基本显微镜指标l 研究级别的光学显微镜，6孔物镜转盘l 明场CCD相机，代替目镜观察样品l LED明场科勒照明l 电动XYZ样品台，25x25x20mm平移范围l 主动隔震平台 各类拉曼升级选项（如true surface等）l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台，可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选，如暗场，像差，偏光，微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR)，均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合，70%超高光通量l 优异的成像质量，光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集，处理软件

澳大利亚悉尼大学生物医学工程高级讲师，纳米健康网络传感器和诊断集群联合主席David Martinez Martin博士表示：“该系统承诺的速度和分辨率、易用性以及高达毫米范围的能力使其成为纳米医学和生物医学应用中 AFM 研究的改变者，”（Martinez Martin博士的研究重点是发现健康和疾病的新生物标志物，以及细胞生理学）“我们相信Bruker生物科学原子力显微镜 NanoWizard V 是先进的生物型AFM，它在一个系统中结合了三项重大创新：快速、定量的力学生物学测量、快速扫描 AFM 以及需要用户输入的自动化，” 布鲁克公司生物型AFM总监Heiko Haschke博士补充道，“在过去十年中，我们在使用 PeakForce Tapping 和定量成像 (QI) 模式的定量纳米力学方面积累了丰富的经验。通过在我们新的PeakForce-QI TM模式中结合两者，我们使新手和专家都能够进行高分辨率、定量的力学生物学BioAFM 实验。我们希望这个新系统能够为更全面地了解动态细胞过程和相关分子机制做出重大贡献。”关于 JPK NanoWizard V BioAFMJPK NanoWizard V是布鲁克业界领先的新一代生物型AFM。它已针对高时空分辨率进行了优化，具有大扫描区域、灵活的实验设计以及与先进光学显微镜系统的出色集成。其 PeakForce-QI 模式可实现快速灵活的定量纳米力学测量，显着扩展 AFM 在速度和分辨率方面的能力。NanoWizard V采用新颖的扫描仪和传感器技术以及先进的控制软件，包括直观的、基于工作流程的图形用户界面 (GUI)，以确保真正、易于使用的 AFM 操作。该系统包括 JPK 标志性的高速、高性能 Vortis 2 控制电子设备、先进的数字控制以及增强其多参数成像能力和数据处理程序。借助motorized mapping、 DirectOverlay、DirectTiling 和 ExperimentPlanner 功能，定位和测量可以被设置为自动运行和重新排列，确保快速的样品观察和至高的力灵敏度。结合新的自动化硬件功能和丰富的液体池和温度控制选件，JPK NanoWizard V使各种级别的用户都能够完全专注于他们的实验。因此，它是多用户环境或成像设备的理想工具。关于 JPK BioAFMJPK于2018年7月加入布鲁克公司，为布鲁克公司业务和已有的仪器开发和支持带来了活细胞成像、细胞力学、粘附力、分子力测量、光阱和生物刺激-反应表征方面的深入专业知识。JPK BioAFM充分利用两段历史的优势，为生物分子和细胞成像以及单分子、细胞和组织的力测量提供显微仪器。 关于布鲁克公司布鲁克公司使科学家能够获得突破性的发现，并开发新的应用，以改善人类的生活质量。布鲁克公司的高性能科学仪器以及高价值的分析和诊断解决方案使科学家能够在分子、细胞和微观层面探索生命和材料。通过与客户的密切合作，布鲁克公司在生命科学分子研究、制药应用、显微和纳米分析、工业应用、细胞生物学、临床前成像、临床表型组学、蛋白质组学研究和临床微生物学等领域实现了创新，提高了生产力，并使客户获得成功。NanoWizard V BioScienceNanoWizardV结合了大扫描范围内的高时空分辨率成像，机动灵活的实验设计，以及与高端光学显微镜系统无缝契合等特点。自动化的实验设置，校准，以及参数调节为长时间的自调整实验带来更多的可能。自动化的性能，更高的产出自动化的实验设置、工作流程、以及校准，为长时间、自调整的实验和复杂的实验程序带来更多可能。动态-实时可视化在400线/秒的速度下研究动态过程，如结晶，晶体的生长、熔化，以及晶畴的形成。大样品-大范围的快速扫描创新性的粗糙表面快速扫描功能，广泛适用于从聚合物到太阳能电池的各类样品。了解第五代NanoWizard NanoScience AFMBruker生物科学原子力显微镜 NanoWizard V 有望大大促进我们对动态细胞过程和分子机制的理解。它的PeakForce-QI模式实现了快速和灵活的定量纳米力学测量--极大地扩展了原子力显微镜的功能，而它的自动化、远程控制和快速扫描能力为复杂实验提供了高通量、高性能的成像。Bruker生物科学原子力显微镜 NanoWizard V 具有新颖的扫描管和传感器技术以及先进的控制软件，包括一个直观的、基于工作流程的图形用户界面（GUI），以确保真正的、易于使用的AFM操作。无与伦比的易用性可以研究动力学的快速扫描，提升产出自动化、高像素密度测绘和成像来自拥有超过25年开发生物型原子力经验的先驱者被1000多个JPK/Bruker生物原子力显微镜客户认可被8500多篇具有生物学意义的出版物所证明用于高分辨率成像和定制应用的专门探针开发支持为新的科学发现铺平道路PeakForce-QI, PeakForce Tapping, PeakForce QNM, QI单分子力谱（SMFS）单细胞力谱（SCFS）与先进光学显微镜结合的DirectOverlay 2功能新一代软件V8具备新的ExperimentPlanner以及ExperimentControl用于高NA光学和AFM、环境控制等方面的配件全新的技术，强大的效率40Hz线扫描速度下利用轻敲模式在缓冲液中获得的脂质膜上的Annexin 5蛋白的图像，显示了二维蜂窝状结构中中心三聚体的占据密度。扫描尺寸1.3µ m×1.3µ m，高度范围8.0nm。在Fast tapping模式下170Hz线速下获得的缓冲液中脂质膜上的Annexin 5蛋白图像。箭头揭示了12秒（8帧）后二维晶体结构中被溶液中的中心三聚体占据过程。扫描尺寸96 nm x 96 nm，高度范围1.0 nm左图：液体中云母的原子晶格的图像。在倒置显微镜上以闭环方式拍摄的图像，扫描尺寸为10 nm×10 nm，高度范围为210 pm。右图： DNA折纸（GATTA-AFM，德国Gattaquant公司）在TAE缓冲液中以400线/秒的速度获得的图像，扫描尺寸为96 nm x 96 nm，高度范围为3.1 nm。高性能的生物型AFM NanoWizard V具有增强的、基于工作流程的设计，在新的SPM V8软件中具有直观的用户指导，使初学者和专家都能获得高质量、可重复的数据。该系统的高度自动化提高了生产力，并使产量扩大化。先进的分析和批处理程序确保科学的准确性和统计数据的可靠性。自适应的智能扫描程序使扫描速度提高到400行/秒低噪音的扫描仪和检测系统确保了高分辨率的数据和倒置光学显微镜上无与伦比的性能PeakForce-QI是PeakForce Tapping和QI模式的共生体，为高度精细的样品提供快、先进的力控制。在倒置显微镜上对大样品进行快速的自动原子力显微镜测试 利用布鲁克公司的嵌套扫描器和新的反馈技术实现动态可视化布鲁克公司成熟的DirectDrive提高了探针激发的稳定性在大的扫描范围内提供更快的扫描速度生产力的提高和测试通量扩大化获得更加完善统计数据智能优化程序提供定量纳米力学直观的生物型原子力显微镜操作基本的易于使用的特点用户管理，适合多用户自动设置和工作流程一键式悬臂校准一键式光学图像校准为AFM设计带有拼接功能的扩展光学视场长期的、无人值守的实验程序远程操作能力优化的参数和收藏夹存储直观的数据处理程序的整合理解生物学中的力37℃下细胞培养基中获得活体NIH-3T3成纤维细胞（小鼠）细胞的PeakForce-QI和荧光相关联的数据集。蓝色AFM图： 活的成纤维细胞的PeakForce-QI图像，顶部的高度范围2.35微米，底部图的高度范围3.5微米。红色AFM图： 从PeakForce-QI提取的杨氏模量图像，顶部图片模量范围5.2-13.1千帕，底部图像模量0-30千帕，顶部图片扫描尺寸10微米×10微米，底部图片扫描范围23微米×23微米。概述： 用CellMask&trade 绿色肌动蛋白追踪染色剂标记的成纤维细胞和杨氏模量图像的叠加，样品由柏林自由大学的Wedepohl博士提供（德国）。通过为正确的实验提供正确的模型，布鲁克公司为复杂的科学问题提供简单的解决方案。自动化的测量程序使研究人员能够专注于重要的事情--他们的研究，并质疑为什么而不是如何做。研究单分子、活细胞和组织样品研究原生条件下的大起伏和精细的软的样品对粘弹性能和粘附过程详细理解通过自动对准、HybridStage或电动台、ExperimentPlanner、ExperimentControl和GUI功能实现高水平的自动化，且具备高速信号处理和低噪音水平。PeakForce-QI - 定量成像的新篇章定量生物成像的先驱，拥有PeakForce Tapping（2000多篇论文）和QI（约1000篇论文）功能，现在为您带来下一代产品：PeakForce-QI.采用新的压电和传感器技术，实现快的纳米力学成像简单、精确的批量处理真正的、实时的力曲线监测技术参数标准操作模式现在有了PeakForce-QI，包括PeakForce Tapping, QI 和 PeakForce QNM包括嵌套扫描管技术的快速的PeakForce Tapping和QI带有侧向力显微镜（LFM）的接触模式带有PhaseImaging&trade 的Tapping模式用于设计特定测量工作流程的ExperimentPlanner 静态和动态力谱分析 先进的力成像可选模式先进的光谱学模式，如各种力钳模式或ramp设计快速扫描选项，线率高达200赫兹QI高级模式可获得定量数据，是软性样品的选择ScanAsyst在PeakForce Tapping和PeakForce-QI中自动调整增益和设定值先进的交流模式，如带Q值控制和主动增益控制的FM和PMCellMech包中的微流变学开尔文探针显微镜 MFM和EFM导电AFM STM 电学谱学模式 高电压下的压电力显微镜 带温度控制和光学显微镜的电化学和扫描电化学 纳米光刻和纳米操作纳米压痕 扫描热原子力显微镜来自Cytosurge的FluidFM解决方案用于远程实验控制的ExperimentControl功能用于AFM和光学显微镜组合的DirectOverlay 2可用于CellHesion、TAO&trade 和HybridStage&trade 模块的额外的XY或Z样品移动平台

Park NX12原子力显微镜用于分析化学的全能型原子力显微镜多功能原子力显微镜平台，满足纳米级测量的需求原子力显微镜（AFM)有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描离子电导显微镜（SICM).倒置光学显微镜（IOM）便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。—————————————————————————————————————————通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台，Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明，不透明，或软或硬的样品。出众的电化测试平台电池，燃料电池，传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域，然后许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计，为快速操作提供便利，从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括：多功能易用电化学池惰性气体和湿度的环境控制选项双恒电位仪的兼容性研究人员可利用Park NX12平台实现各种电化学应用：扫描电化学显微镜(SECM)扫描电化学池显微镜(SECCM)电化学原子力显微镜（EC-AFM）和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)—————————————————————————————————————————考虑建立多用户设备Park NX12力求重新构建，以适应许多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性，难以满足该设备中用户的多重需求，很难合理控制设备成本。然而，Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像，液体扫描探针显微镜，光学和纳米光学成像，使其成为灵活的原子力显微镜之一。模块化设计Park NX12是专门针对专业电化学研究人员需求量身定制的原子力显微镜平台。它基于化学和电化学性质，气体和液体中介质的特性，为扫描探针显微镜提供了一个通用的解决方案，可用于广泛的不透明和透明材料。Park NX12基于其广泛的可视光投置到扫描探针的扫描探针显微镜技术的纳米管，易用性强。Park NX12具有高精准度，是多用户设备和职业研究人员的理想平台。多功能应用Park NX12功能广泛，包括液体中的PinPoint &trade 和纳米力学，倒置光学显微镜定位透明样品，离子电导显微镜软样品成像，以及改善透明样品光学性能的可视性。—————————————————————————————————————————综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整套餐，使其成为广泛应用中的理想选择。模块化NX12模块化设计，安装简单，兼容性强，可以满足您的多种实验需求。适合早期职业研究人员的有竞争力的价格和灵活性早期职业研究人员通常没有足够的预算购买价格高昂的原子力显微镜。Park NX12不仅是经济实惠的入门之选，同时还提供了可随着职业发展而不断壮大的模块化平台。它不同于其他价格相近的原子力显微镜，Park NX12配有先进的研究级精度和功能，可为在空气和液体中的透明和不透明材料提供其表面形态纳米级分辨率。这使得新的化学，材料科学或生物化学实验室的理想投资回报成为可能。—————————————————————————————————————————Park SmartScan&trade 自动模式下的单击成像Park NX12配备了我们的SmartScan&trade 操作系统，使其成为市场上高速易使用的原子力显微镜之一。其界面直观给力，即使是未经培训的用户也可以无需监控，快速扫描样品。这使得专业研究人员能够将他们的经验专注在解决更大的问题和开发更好的方案。易使用性共享实验室的用户通常背景各异，经验水平各异。NX12为每个用户提供简单的点击界面和自动化SmartScan&trade 模式。打开原子力显微镜系统后，具体操作如下1. 点击 “设置”系统出现一个小窗口，通过动画演示指导您如何仪器设置和放置待成像的样品。一般情况下，这一步仅需几分钟。2. 点击 “定位”系统自动对悬臂进行频率扫描，让 Z 轴扫描仪向样品靠近，并自动对焦样品，使用户看到成像目标区域后进行操作，移动到目标区域。3. 点击 “成像”系统设置实现优化设置所必要的参数，然后启用悬臂，开始扫描样品。持续扫描，直至获得完整图像。结束悬臂将从样本上移开，准备进行下一次样品成像操作。—————————————————————————————————————————Park NX12 技术参数扫描器Z 扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围 : 15 µ m (可选 30 µ m)高度信号噪声等级: 30 pm0.5 kHz bandwidth, rms (typical)XY 扫描器闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围 : 100 µ m × 100 µ m驱动台Z 位移台行程范围 : 25 mm (Motorized)聚焦样品台行程范围 : 15 mm (Motorized)XY位移台行程范围 : 10 mm x 10 mm (Motorized)样品架样品尺寸 : 开放空间 up to 50 mm x 50 mm, 厚度 up to 20 mm (建议使用 SPM 模式的样品尺寸小于 40 x 40 mm)样品重量 : 500 g光学10倍 (0.23 N.A.)超长工作距离镜头 (1µ m分辨率)样品表面和悬臂的直观同轴影像视野 : 840 × 630 µ m (带10倍物镜)CCD : 500万像素。120万像素 (可选)软件SmartScan&trade AFM系统控制和数据采集的专用软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制XEIAFM数据分析软件电子集成功能4通道数字锁相放大器弹性系数校准(热方法，可选)数据Q控制AFM 模式(*可选项)标准成像真正非接触式原子力显微镜PinPoint&trade 原子力显微镜接触式原子力显微镜横向力显微镜 (LFM)相位成像轻敲式原子力显微镜力测量力-距离(F/d)光谱力谱成像 介电/压电性能*静电力显微镜 (EFM)动态接触式静电力显微镜 (EFM-DC)压电力显微镜 (PFM)高压压电力显微镜机械性能力调制显微镜 (FMM)纳米压痕*纳米刻蚀*高压纳米刻蚀*纳米操纵*磁学特性*磁力显微镜 (MFM)可调制磁力显微镜电性能导电原子力显微镜 (C-AFM)*IV 谱线*扫描开尔文探针显微镜 (KPFM)扫描电容显微镜 (SCM)*扫描电阻显微镜 (SSRM)*扫描隧道显微镜 (STM)*光电流测绘 (PCM)*化学性能*功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜 (EC-AFM)原子力显微镜选项电化学电池电化学电池通用液体电池的电化学工具包电化学选项恒电位仪双恒电位仪 温度控制温控台 1 -25 °C to +170 °C温控台 2 Ambient to +250 °C温控台 3 Ambient to +600 °C液下探针柄专为在一般液体环境中成像而设计对大多数包括酸在内的缓冲溶液具有抗腐蚀性可在液体中进行接触式和非接触式原子力显微镜成像隔音罩独立型 AE 204Z 扫描头15 μm Z Scanner AFM head30 μm Z Scanner AFM head15 μm Z Scanner SICM module30 μm Z Scanner SICM module环境控制选项手套箱活细胞室液体池通用液体池有液体/气体灌注的开放式或封闭式液体池 温度控制范围: 0 °C to +110 °C (in air), 4 °C to +70 °C (with liquid)电化学池开放式液体池磁场发生器施加平行于样品表面的外部磁场可调磁场范围 : -300 ~ 300 gauss由纯铁芯和两个电磁线圈组成高级模式的入门套件易用于包含专用探针和样品的高级模式

Park NX10原子力显微镜简介： NX10原子力显微镜是Park原子力显微镜公司功能最强大的一款原子力显微镜，这是一款全自动的原子力显微镜系统，扫描分辨率达到了0.02nm，集成了Park公司专利技术“非接触式工作模式”“智能扫描模式”“基于压电陶瓷堆积技术的平板扫描器”，并标配快速扫描模式，变速扫描模式，加上可选功能模块，使得NX10型原子力显微镜被广泛用于物理，化学，生物，医药学，细胞学，电学，力学，半导体，磁学等方向的研究。NX10型原子力显微镜技术特色：1）采用非接触式工作模式：Park公司是目前全球唯一一家真正实现非接触测量模式的原子力显微镜厂家，在不影响测量精度的前提下，可实现样品与针尖的非接触测量，避免了由于针尖磨损带来测量重复性差与探针磨损快的缺点。下图是测量CrN样品的实例，CrN样品的硬度很高，具有三角形结构，采用非接触模式测量100幅图后，图像质量几乎无变化，针尖几乎无磨损！！！2）探测器噪声水平为全球业界最低：0.02nm Z轴探测器是全新的NX系列原子力显微镜的核心技术改进之一,它是Park独创的新型应变传感器,凭借着0.2埃的超低噪声，它一跃成为行业内噪声最低的Z轴探测器,检测原子台阶及其容易。3）采用全球最高性能平板扫描器：采用专利技术得三轴分离的平板扫描器，在整个80μm的扫描范围内误差＜1nm !!!! 4）操作极其简单： - 具有“智能扫描模式”Smart scan：这是Park公司的专利技术之一，用户只需要选择扫描速度及扫描范围，系统即可自动调整反馈,无需寻找共振峰,无需调整反馈参数gain值 - 具有中文，英文等多种操作界面 - 凭借着我们先进的预准直悬臂架，悬臂在装载时激光便已完成聚焦。并且，自上而下的同轴视角（行业独一无二）让您可以轻松地找到激光光点。由于激光垂直照射在悬臂上，您可以凭直觉旋动两个定位旋钮，将激光光点随着X轴和Y轴移动。这样，您可以在激光准直界面中，轻易地找到激光并将其定位在PSPD上。此时，您只需要稍作调整实现信号的最大化，便可开始获取数据。 5）具有全球最广泛的原子力显微镜模式：NX10原子力显微镜主要技术参数： - XY闭环扫描范围大：达100μm*100μm- Z向闭环扫描范围大：达15μm- 超高的测量分辨率：可达0.02nm- 全自动扫描范围：20mm*20mm- 具有快速扫描功能：最高达50HzNX10原子力显微镜部分测试实例：

Park NX20原子力显微镜用于失效分析的理想选择引领用于故障分析和大型样品研究的纳米计量工具作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器，其主要目的是对样品进行缺陷检测。 而仪器所提供的数据不能允许有错误的存在。 Park NX20，这款高精密的大型样品原子力显微镜，凭借着数据的准确性，在半导体和硬盘行业中大受赞扬。全面多样的分析功能Park NX20可快速帮助客户找到产品失效的原因，并帮助客户制定出更多具有创意的解决方案。 高精密度可为用户带来高分辨率数据，让用户能够更加专注于工作。 与此同时，非接触扫描模式让探针针尖更锋利、更耐用，无需为频繁更换探针而耗费大量的时间和金钱。即便是刚接触原子显微镜的工程师也易于操作Park NX20拥有业界便捷的设计和自动界面，让你在使用时无需花费大量的时间和精力，也不用为此而时时不停的指导初学者。 借助这一系列特点，您可以更加专注于解决更为重大的问题，并为客户提供及时且富有洞察力的失效分析报告。———————————————————————————————————————————为FA和研究实验室提供精准的形貌测量解决方案样品侧壁三维结构测量NX20的创新架构让您可以检测样品的侧壁和表面，并测量它们的角度。 众多的功能和用途正是您的创新性研究和敏锐洞察力所必需的。对样品和基片进行表面光洁度测量表面光洁度测量是Park NX20的关键应用之一，能够带来精准的失效分析和质量保证。高分辨率电子扫描模式QuickStep SCM超快的扫描式电容显微镜PinPoint AFM无摩擦导电原子力显微镜———————————————————————————————————————————多种创新且创新的专利技术帮助顾客减少测试时间CrN样品所做的针尖磨损实验AFM测量通过对比重复扫描情况下探针尖端的形状变化，您可以轻易看到Park的真正非接触模式的优势所在。借助真正非接触模式，探针尖端在扫描氮化铬样品（即探针检测样品）200次后仍可保持锋利的状态。 氮化铬的表面粗糙且研磨性强，会让普通的探针很快变钝。———————————————————————————————————————————低噪声Z探测器测量准确的样品表面形貌没有压电蠕变误差的真正样品表面形貌超低噪声Z探测器，噪音水平低于0.02 nm,从而达到非常精准样品形貌成像，没有边沿过冲无需校准。Park NX20在为您提供好的数据的同时也为您节省了宝贵的时间。√ 使用低噪声Z探测器信号进行台阶形貌测量。√ 在大范围扫描过程中系统Z向噪音小于0.02 nm。√ 没有前沿或后沿过冲现象√ 终身无需校准，减少设备维护成本Park NX系列原子力显微镜传统的原子力显微镜Park NX20特点 ————低噪声XYZ位置传感器低噪声XYZ闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。高速Z轴扫描器,扫描范围达15um高强度压电堆栈和挠性设计，标准Z轴扫描器的共振频率高达9kHz(一般为10.5kHz）且探针的Z轴扫描速率不低于48 mm/秒。 Z轴扫描范围可从标准的15um扩展至30um（可另选Z扫描头）。自动多点样品扫描借助驱动样品台，可编程步进扫描，多区域成像，以下是它的工作流程：1) 扫描成像2) 抬起悬臂3) 移动驱动平台到设定位置4) 进针5) 重复扫描该自动化功能可大大减少扫描过程中人工移动样品所需时间，从而缩短测试时间，提高生产率。集成編碼器的XY自动样品载台编码器可用于所有自动样品载台，并可保证更高的重复定位精度，从而可更精准地控制样品测量位置。XY马达运动工作时分辨率为1 um重复率为2um。Z马达运动的分辨率为0.1um,重复率为1um。扫描头滑动嵌入式设计您只需滑动嵌入燕尾导轨便可轻松更换原子力显微镜扫描头。 该设计可将扫描头自动锁定至预对准的位置，无需调节激光位置，激光自动投射在针尖上。 借助于四象限检测器，显微镜可精确成像并准确测定力.距离曲线。操作方便的样品台借助创新的镜头设计，用户可从侧面操作控样品和探针。 根据XY轴样品台所设定的行程范围，用户在样品台上可放置的大样品体积直径可高达200 mm。用于高级扫描模式易插槽您只需要将可选模块插入扩展槽，您便可激活高级扫描探针显微镜模式。 得益于NX系列原子力显微镜的模块化设计，其产品线的配置兼容性大大提高。同轴高功率光学集成LED照明和CCD系统定制物镜配有超长工作距离（51 mm，0.21的数值孔径，1.0um的分辨率），带来超高的镜头清晰度。同轴光源设计让用户可轻易地在样品表面寻找测试区域，物镜分辨率为0.7um。 得益于CCD的高端传感器，在获得较大视场的同时，分辨率却不受影响。 由软件控制的LED光源能为样品表面提供足够的照明，便于清晰观察样品。高速24位数字电子控制所有NX系列的原子力显微镜都是由相同的NX电子控制器进行控制和处理的。 该控制器是全数字、24位高速控制器，可确保Park 真正非接触模式下的成像精度和速度。 凭借着低噪声设计和高速处理单元，该控制器是纳米级成像和精确电压电流测量的绝佳选择。 嵌入式数字信号处理为原子力显微镜带来更为丰富的功能，更好的解决方案，是资深研究院的理想选择。XY.Z轴检测器的24位信号分辨率XY轴(50 μm)的分辨率可低至0.003 nmZ轴(15 μm)的分辨率可低至0.001 nm嵌入式数字信号处理功能三个锁相放大器探针弹簧系数校准数据Q控制集成式信号端口专用可编程信号输入/输出端口7个输入端口和3个输出端口自动Z轴移动和聚焦系统高度限行Z轴移动和聚焦系统，可以得到清晰的视野和图像，用户通过软件界面进行操作，由高精度步进电机驱动，即使液体或者透明样品也可快速找到样品表面。———————————————————————————————————————————QuickStep SCM模式√ 比传统的扫描式电容显微镜(SCM)扫描速度快十倍√ 信号灵敏度、空间分辨率和数据精准度不受影响高通量QuickStep扫描在QuickStep扫描模式下，SCM测量通量大幅提升，可达到标准SCM扫描速度的十倍，且信号灵敏度、空间分辨率和数据精准度不受影响。 在QuickStep扫描模式下，XY轴扫描器在各像素点停住，记录数据。 扫描器会在各像素点之间快速跳跃。QuickStep扫描传统扫描扫描速度1.5Hz扫描速度1Hz扫描大小: 10 µ m×3 µ m, AC Bias: 0.5 Vp-v, DC Bias: 0 V———————————————————————————————————————————Park SCM精准的掺杂形貌量测在半导体制造业，分析掺杂剂分布对于确定失效原因和进行设计改进有着重要作用。 在器件特性化方面，SCM有着优异二维量化掺杂剂分布分析能力。PinPoint导电原子力显微镜模式PinPoint导电原子力显微镜模式是针对探针和样品之间的指定电接点而开发设计的。 在电流采样过程中，XY轴扫描器会依据用户设定的接触时间停止。 PinPoint导电原子力显微镜模式能够带来更高的空间分辨率，且不受 侧向力的影响，同时在不同样品表面的电流测量也得到优化。——————PinPoint模式——————— —————Contact—————样品: ZnO nano-rods, -3 V sample bias通过对比氧化锌纳米棒在不同类型的导电原子力显微镜图像，我们可以看到相比轻敲式导电原子力显微镜，传统的接触式导电原子力显微镜有着更高精度的电流测量，但其分辨率低，原因 在于探针在接触中快速磨损。 全新的PinPoint导电原子力显微镜不但空间分辨率更高，且电流测量也得到优化。———————————————————————————————————————————高带宽低噪声导电原子力显微镜导电原子力显微镜是各类元件研究的重要工具，特别是工业的失效分析。 Park导电原子力显微镜在市场中拥有核心竞争力，不但有着全行业超低的电流噪声，且增益范围也是较大。业内超低的电流噪声(0.1 pA)业内超大的电流(10 μA)巨大的增益范围（7个数量级，103-109）———————————————————————————————————————————Park NX20先进的SPM模式表面粗糙度检测真正非接触模式 动态力模式电学性能导电原子力显微镜 (ULCA和VECA)静电力显微镜 (EFM)压电力显微镜 (PFM)扫描电容显微镜 (SCM)扫描开尔文探针显微镜 (SKPM)扫描电阻显微镜 (SSRM)扫描隧道显微镜 (STM)机械性能力调制显微镜 (FMM)力.距离(FD) 曲线力谱成像侧向力显微镜 (LFM)纳米刻蚀相位成像Park NX20技术参数————扫描器Z扫描器柔性引导高推动力扫描器扫描范围: 15 µ m (可选 30um)高度信号噪声等级: 30 pm(RMS, at 0.5 kHz带宽)XY扫描器闭环控制的柔性引导XY扫描器扫描范围: 100 um× 100 um(可选 50um× 50um)驱动台Z位移台行程范围 : 25 mm (Motorized)聚焦样品台行程范围 : 15 mm (Motorized)XY位移台行程范围 : 200 mm x 200 mm样品架样品尺寸 : 基本配置开放空间 up to 200 mm x 200 mm,厚度 up to 20 mm样品重量 : 500 g光学10倍 (0.23 N.A.)超长工作距离镜头 (1um分辨率)样品表面和悬臂的直观同轴影像视野 : 840 × 630 um (带10倍物镜)CCD : 100万像素, 500万像素 (可选)软件SmartScan&trade AFM系统控制和数据采集的专用软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制XEIAFM数据分析软件电子集成功能4通道数字锁相放大器数据Q控制信号处理ADC : 18 channels 4 high-speed ADC channels 24-bit ADCs for X, Y and Z scanner position sensorDAC : 17 channels 2 high-speed DAC channels 20-bit DACs for X, Y and Z scanner positioningMaximum data size : 4096 x 4096 pixels连接外部信号20个嵌入式输入/输出端口5个TTL输出 : EOF, EOL, EOP, 调制和交流偏压AFM模式(*可选项)标准成像真正非接触式原子力显微镜PinPoint&trade 原子力显微镜接触式原子力显微镜横向力显微镜(LFM)相位成像轻敲式原子力显微镜 力测量力-距离(F/d)光谱力谱成像 介电/压电性能静电力显微镜 (EFM)动态接触式静电力显微镜 (EFM-DC)压电力显微镜 (PFM)高压压电力显微镜* 机械性能力调制显微镜 (FMM)纳米压痕*纳米刻蚀*高压纳米刻蚀*纳米操纵*磁学性能*磁力显微镜 (MFM)可调制磁力显微镜 电性能导电原子力显微镜 (C-AFM)*IV 谱线*扫描开尔文探针显微镜 (KPFM)扫描电容显微镜 (SCM)*扫描电阻显微镜 (SSRM)*扫描隧道显微镜 (STM)*光电流测绘 (PCM)* 化学性能*功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜 (EC-AFM)———————————————————————————————————————————高级选项为用户量身定制原子力显微镜自动数据收集和分析，适合工业客户产线测量Park的自动化控制软件，可根据您的预设程序自动进行AFM测量。它可以准确地收集数据，执行模式识别，并使用它的寻边器和光学模块进行分析，不需要人工介入，从而为您节省大量宝贵时间。温度稳定的隔音罩创新的控制设计使Park NX20能够快速达到温度平衡NX20具有主动隔振功能。集成编码器的自动载台&bull XY马达运动工作时分辨率为1 µ m，重复率为2 µ m。&bull Z马达运动的分辨率为0.1 µ m，分辨率为1 µ m。倾斜样品倾角夹具，可帮助您进行样品侧壁成像。NX20的创新架构实现了对样品侧壁和表面的检测，还能够测量出相应角度。这为您提供了更多的创新研究方案和对样品更深入的理解。样品盘&bull 用于电气测量的专用小样品架&bull 用于固定晶圆的真空槽温度控制 温控台 1: -25 °C to +170 °C温控台 2: Ambient to +250 °C 温控台 3: Ambient to +600 °C

Bruker原子力显微镜-- Dimension FastScan Bruker公司的AFM具有多项zhuan li技术，以其卓yue的性能广泛应用于科研和工业界各领域Dimension FastScanTM 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon超高的分辨率和卓yue的仪器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得高质量数据的时间,是世界上扫描速度zui快的原子力显微镜。 应用：应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。原子力显微镜的工作模式是以针jian与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。 特征：u 高xiao率 l 在空气或液体中成像速度是原来速度的 100 倍，自动激光调节和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。 l 自动测量软件和高速扫描系统完mei结合，大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。 u 高分辨率 l FastScan 精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。扫描速度 20Hz 时仍能获得高质量的 TappingModeTM图像，扫描速度 6Hz 仍能获得高质量的ScanAsyst 图像。 l 低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。 u 在任何样品上均有表现 l 闭环控制的 Icon和 FastScan扫描管极大地降低了 Z方向噪音，使它们 Z 方向的噪音水平分别低于 30pm 和 40 pm，具有极低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。 l Fast Scan 可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到 100 多纳米的样品高精度无失真扫描

Park NX7原子力显微镜实惠智能理想选择灵活智能的研究级AFM，实惠来袭！Park NX7 配有Park原子力显微镜前沿技术，其设计与新型显微镜一样彰显细节品质，可以有效助您取得精准的研究成果。现在价格实惠，是您预算合理下的理想选择。——————————————————————————————————————————通过消除扫描器串扰进行准确的XY扫描√ 独立闭环XY和Z柔性扫描器√ 正交XY扫描√ 样品表面形貌信息测量精准，无需软件处理——————————————————————————————————————————全面专业的原子力显微镜解决方案√ 涵盖多种扫描探针显微镜的扫描模式√ 更智能的NX电子控制器默认启用高级纳米机械测量模式√ 拥有业界前沿的兼容性和可升级性——————————————————————————————————————————人性化设计的软件和硬件功能√ 方便样品或换针的开放式使用√ 预对准的探针夹设计，可轻易直观的进行SLD光校准√ Park SmartScanTM - 原子力显微镜操作软件可以帮助初次使用用户和专业用户进行专业的纳米级研究。——————————————————————————————————————————无扫描器弓形弯曲的平直正交XY轴扫描Park的串扰消除技术不仅改善了扫描器弓形弯曲的缺点，还能够在不同扫描位置，扫描速率和扫描尺寸条件下进行平直正交XY轴扫描。即使再平坦的样品也不会出现如光学平面,各种偏移扫描等背景曲率。因此Park能不惧艰难挑战，为您在研究中提供高精度的纳米测量。无耦合关系的XY和Z扫描器Park的核心技术在于专有的扫描器架构。基于独立XY扫描器和Z扫描器设计的挠曲结构，能让您轻松获得高精度纳米级分辨率数据。——————————————————————————————————————————行业引领的低噪声Z探测器Park AFM 配备了低噪声Z探测器，噪音水平低于0.02 nm,因而达到了样品形貌成像精准，没有边沿过冲无需校准的高效率。Park NX系列不仅为您提供高精准的数据，更为您大大节省了时间成本。由低噪声Z探测器测量准确的样品形貌√ 利用低噪声Z探测器信号进行形貌成像√ 有高宽带，Z探测器低噪声只有0.02 nm√ 边缘位置无前沿或后沿过冲现象√ 只需在原厂校准一次样品: 1.2 μm标准台阶高度(9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines) ——————————————————————————————————————————True Non-Contact&trade 模式可延长探针寿命、保护样品和精准测量True Non-Contact&trade 模式是Park原子力显微镜系统创新的扫描模式，通过在扫描过程中防止针尖和样品损坏，从而产生高分辨率和准确的数据。接触模式下，针尖在扫描过程中持续接触样品；轻敲模式下，针尖周期性地接触样品；而在非接触模式下针尖不会接触样品。因此，使用非接触模式具有几大关键优势。由于针尖锐度得以保持，在整个成像过程中会以高分辨率进行扫描。非接触模式下由于针尖和样品表面不会直接接触，从而避免损坏软样品。更快速的Z轴伺服使得真正的非接触式原子力显微镜有更精准的反馈√ 减少针尖磨损 → 长时间高分辨率扫描√ 无损式探针-样品接触 → 较大地减少样品受损度√ 可满足各种条件下，对各种样品都能够进行非接触式扫描此外，非接触模式可以感知探针与样品原子之间的作用力，甚至可以检测到探针接近样品时产生的横向力。因此，在非接触模式下使用的探针可以有效避免撞到样品表面时突然出现的高层结构。而接触模式和轻敲模式只能进行探针底端检测，很容易受到这种撞击伤害。——————————————————————————————————————————专业的 AFM 解决方案行业引领——支持多种SPM模式和选项如今，研究人员需要在不同的测量条件和样品环境下表征广泛的物理特性。 Park Systems能为您提供多种 SPM 模式、全面的 AFM 选项以及业界前沿的选项兼容性和可升级性，支持高级样品表征。——————————————————————————————————————————Park NX7 支持多种 SPM 模式形貌成像非接触模式接触模式轻巧模式介电/压电特性压电力显微镜(PFM)高压PFMPiezoresponse Spectroscopy磁学特性磁力显微镜 (MFM)电学特性导电原子力显微镜 (C-AFM)电流-电压分光镜开尔文探针力显微镜 (KPFM)高压KPFM扫描电容显微镜 (SCM)扫描扩展电阻显微镜 (SSRM)扫描隧道显微镜(STM)光电流映射 (PCM)静电力显微镜 (EFM)力学特性力调制显微镜 (FMM)纳米压痕纳米刻蚀高压纳米刻蚀纳米操纵横向力显微镜 (LFM)力距(F/d)光谱力容积成像化学特性具有功能化探针的化学力显微镜电化学显微镜 (EC-AFM)——————————————————————————————————————————Park NX7 参数ScannerZ扫描器柔性引导高推动力扫描器Z扫描范围: 15 μm (30 μm可选)XY扫描器闭环控制式单模块柔性XY扫描器扫描范围: 50 µ m × 50 µ m(可选 10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm)位移台Z位移台Z位移台行程范围: 26 mmXY位移台XY位移台行程范围: 13 mm X 13 mm样品架样品大小 : up to 50 mm样品厚度: up to 20 mm软件SmartScanTMAFM系统控制和数据采集软件智能模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制SmartAnalysisTMAFM数据分析软件独立设计—可以安装和分析AFM以外的数据能够生成采集数据的3D绘制

Bruker原子力显微镜 Bruker公司的AFM具有多项 技术，以其 性能广泛应用于科研和工业各领域Dimension Icon 系列作为布鲁克公司(Bruker AXS)原子力显微镜的产品，凝聚了多项行业的 技术，是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。 应用：应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。 原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。 特征：u 低漂移和低噪音水平u 配置有专有ScanAsys原子成像优化技术，可以简易快速稳定成像u 测试样品尺寸可达：直径210mm，厚度15mmu 温度补偿位置传感器使Z轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平，并呈现出前所未有的高分辨率。u 全新的XYZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度。u 探针和样品台的开放式设计使Icon 可胜任各种标准和非标准的实验。u 先进的布鲁克AFM的模式和技术，如高次谐波共振模式，和独有的不失真高温成像技术--采用对针尖和样品同时加热的方法， 程度减少针尖和样品之间的温差，避免造成成像失真。

世界顶级精度及强大功能Park原子力显微镜产品特性Park XE15具备多个特殊功能，是共享实验室处理各类样品、研究员进行多变量实验、失效分析师研究晶片等的不二选择。合理的价格搭配强健的性能设置，使其成为业内性价比最高的大型样品原子力显微镜。 MultiSample™ （多重采样TM）扫描器带来最便捷样品测量- 多样品一次性自动成像- 特殊设计的多样品夹头，最多可承载16个独立样品- 全自动XY样品载台，行程范围达200 mm x 200 mm。 无轴间耦合提高扫描精度- 两种独立闭环XY和Z平板式扫描- 平板式和线性XY扫描可达100μm x 100μm，且残余压弯小- 整个扫描范围内的异面移动小于2nm- 强力扫描器达25μm Z扫描范围- 精确的高度测量 Non-Contact™ （真正非接触TM）模式延长针尖使用寿命、改善样品保存及精度 - 其Z扫描频宽是压电管基础系统的10倍- 非接触式可降低针尖磨损、延长使用寿命- 成像分辨率高于同类原子力显微镜- 降低样品干扰，提高扫描精度 提供最佳用户体验- 开放式侧面接入，提高样品及针尖更换效率- 预对准的针尖安装和独一无二的轴上俯视法可简单直观地实现激光对准- 燕尾锁封片方便镜头拆卸- 界面带自动设置功能，方便用户使用 多种模式与选项- 综合性测量模式及特性设置，是我司最佳通用型原子力显微镜- 多种可选配件及更新，扩展性能优越-? 为缺陷分析提供先进电气测量 * 产品特点 100um x 100 um扫描范围的XY柔‘性导向扫描器XY扫描器含系统二维弯曲及强力压电堆叠，可使极小平面外移动形成较大的正交运动，并能快速响应，实现精确的样品纳米级扫描。 柔性导向强力Z扫描器在强力压电堆叠的驱动及弯曲结构的引导下，其硬度允许扫描器高速竖直运动，较传统原子力显微镜扫描器更加高速。最大Z型扫描范围搭配远程Z扫描器（选配）可延长12μm至25μm。 滑动连接的超亮二极管头 通过将原子力显微镜头沿楔形轨道滑动，可轻松将其插入或取出。低相干的超发光二极管头可实现高反射表面的精确成像和力-矩光谱的精确测量。超亮二极管头的波长帮助减轻干扰问题，因此用户在可见光谱实验中也可使用本产品。 多样品夹头特殊设计的多样品夹头，做多可承载16个独立样品，由多重采样扫描器自动按顺序扫描。特殊的夹头设计为接触样品针尖预留了边通道。 选配编码器的XY自动样品载台自动集成XY载台可轻松并精确控制样品的测量位置。XY样品载台的行程范围可配置为150 mm x 150 mm或200 mm x 200 mm。若搭配自动载台使用编码器，可提高样品定位的精确度和重复性。编码XY载台工作时分辨率为1 μm，重复率为2 μm。编码Z载台的分辨率为0.1 μm，重复率为1 μm。 高分辨率数码变焦感光元件摄像头高分辨率数码感光元件摄像头利用直接同轴光学，具备变焦功能，无论是否摇摄均可确保图像具有清晰的成像质量。 垂直对齐的自动Z载台及聚焦载台Z载台和聚焦载台可将悬臂啮合到样品表面上，同时确保用户视野清晰稳定。聚焦载台是由软件控制自动运行的，因此满足透明样品及液态元件应用所需精度。 弯曲基底解耦XY和Z扫描器Z扫描器与XY扫描器完全解耦。XY扫描器在水平面上移动样品，同时Z扫描器竖直移动探针。此配置以最小异面移动，实现了平板式XY扫描。此XY扫描同时还具有高正交性与线性。 业内最低本底噪声为探测最小样品的特性，帮助最快运动平面成像，Park Systems设计了业内0.5?以下的最低本底噪声标准设备。使用“零扫描”探测本地噪声数据。 真正非接触模式延长针尖使用寿命 XE系列原子力显微镜已成功搭配专利强力Z扫描系统独有的真正非接触模式。真正非接触模式下，使用的是相吸而非相排斥的内部原子力。 真正非接触模式因此成功地保持了针尖样品纳米级间距，改善了原子力显微镜图像，保持针尖的锐利，因此有效延长了针尖使用寿命。 预对准悬臂支撑预先安装在探针支撑上，因此不需要严格对齐激光束。 高分辨率的直接同轴光学元件用户可直接俯视观看样品，操控样品表面，从而很容易就能找到目标区域。高分辨率数码摄像头具备变焦功能，无论是否摇摄均可确保图像具有清晰的成像质量。 带DSP控制芯片的XE控制电子元件原子力显微镜发出的纳米级信号将由高性能Park XE电子元件控制并处理。Park XE电子元件为低噪声设计，配备高速处理单元，可成功实现真正非接触™ 模式，是纳米级成像及电压电流精准测量的理想选择。 - 600 MHz、4800 MIPS速度的高性能处理单元- 低噪声设计，适合电压电流精准测量-通用系统，各SPM技术均可得到应用- 外部信号接入模块，存取原子力显微镜输入/输出信号- 最多16个数据成像- 最大数据尺寸：4096 x 4096像素- 16位ADC/DAC，速度达500 kHz- TCP/IP连接，隔离计算机接出电噪 技术参数：扫描器： XY扫描器 Z扫描器 闭环控制的单模块挠性XY扫描器 导向强力Z扫描器 扫描范围：100 μm * 100 μm 扫描范围：12 μm 25 μm（选配）样品台： XY台工作范围：150 mm * 150 mm Z台工作范围：27.5 mm 聚焦台工作范围：20 mm影像： 1 样品基底 样品表面和悬臂的直观同轴影像 样品最大尺寸：150 mm 10倍物镜（选配20倍） 样品最大厚度：20 mm 视野： 480 μm *360 μm （10倍物镜） 摄像头：1M Pixel, 5M Pixel (选配）软件： XEP XEI 系统控制和数据采集的专用软件 AFM数据分析软件 实时调整反馈参数 通过外部程序（选项）进行脚本级控制 售后服务：为了给客户提供高效便捷的售后服务， Park公司在中国区建立有售后服务中心并配有备件仓库。

仪器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5×5um，精度5um 扫描范围：90×90×9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：≤0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM，专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作，并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品，在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用，专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用，且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面（也适用于电镜）。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

仪器简介：NTEGRA平台是一个创新性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独特的双扫描结构可以将扫描范围扩展到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5×5um，精度5um 扫描范围：90×90×9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：≤0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，不超过0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

艾博纳原子力显微镜（AFM）维持纳米研究的前沿技术，具有原子级超高分辨率，高水平的性能。可在大气和液体环境中对样品进行探测或进行纳米操控。其测试功能强大、操作简单，除配备接触模式、非接触模式、轻敲模式，也可选配用户需要的模式。我们的系统经过专业的设计，可对测试结果进行各类数据分析，更加方便、快捷完成测试需求。 艾博纳原子力显微镜（AFM）配备了高精度的电 动X、Y、Z轴平移台，具备滚珠丝杠和交叉滚柱导轨，确保了精确的样品操作和定位。此外，该设备具有研究级的顶视视频光学显微镜，提供清晰的样 品观察。它还包括多个扫描仪，以优化扫描条件， 支持系统的定制和扩展。设备的模块化设计允许用 户根据需求添加额外的功能和模式，如图像记录器 、光刻和液体扫描。简易的探头更换机制和激光杆的广泛调节范围提供了额外的操作便利。

仪器简介：NANONICS IMAGING LTD. （以色列NANONICS有限公司）是业界将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)相技术相结合的领头羊之一。公司成立于1997年，NANONICS是业界成立最久并且对此类系列产品经验最丰富的公司之一，其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统的推动下，今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统热销市场。NANONICS凭借着实力和品质，其产品涉足的领域从科研到工业，从生物学到半导体，从化学制品到无线电通讯，应用范围极其广泛。 低温NSOM/AFM拥有先进的系统设备、环境友好的样品反应室、化学药品和气体自动传送系统；还有nano-印刷术系统，给消费者提供一个空前的系统配置选择。加上有AFM/NSOM/SEM的整合与AFM/NSOM/micro-Raman的整合系统这样强大的成象结合，可以让用户拥有一个实验平台来完成多个材料表征应用。探针包括NSOM探针，micro-pipettes是检测热、电性能的，同时探针还可以提供气体和液体加样，这是Nanonics系列产品的特色功能，可以为提供用户在很小的范围内做原位反应等。NAONICS系统兼容可所有供应商提供的SPM探针。 Renishaw PLC Ltd是最主要的Raman微型光谱成像系统的供应商，第一次与Nanonics Imaging Ltd一起合作制造了Raman化学成像的扫描探针显微镜（SPM）。此发明获得2003年光子学循环的卓越奖，AFM和Raman的结合物既能运行AFM扫描也能做Raman扫描。Nanonics和Renishaw结合具有强大功能。现在，我们又将瑞典Smiths有限公司的在线红外测试仪和扫描电镜SEM与其结合在一起，使其拥有更强大的材料表征功能，同时客户可以得到更高性价比的仪器。技术参数：1、扫描范围: XY方向70um、Z方向5um，另外有10um扫描器选配 2、扫描步进：70um扫描器＜1nm，10um扫描器＜0.1nm 3、最大样品尺寸：15mm× 15mm 4、反馈机制：光束偏转 5、操作模式：接触式，非接触式，敲击式 6、探针类型：可使用Nanonics专利的玻璃探针、电学热学探针、Nanopen 等；同时也可使用通用的AFM探针 使用范围： 1、力-距离测量 2、液体样品成像 3、电学测量 4、微区热分析测量 5、热阻测量 6、与微拉曼光谱联用 7、纳米化学迁移及操控(Nano FountainPen) 8、深沟或边墙材料成像(Deep Trench and Sidewall Imaging)主要特点：1、是一款性价比很高的原子力显微镜，使用的灵活性很大 2、可使用Nanonics专利的多种玻璃探针，也可以使用常规硅原子力探针 3、独特的扫描器及探针设计确保原子力显微镜扫描与光学显微镜实时兼容 4、可升级与Renishaw激光微拉曼光谱联用 5、可升级近场光学显微镜(NSOM)功能 6、使用Labview软件包，留出一定的空间给用户编写特殊要求的软件模块